JP7476818B2 - 半導体接触器、半導体接触器用状態監視装置及び半導体接触器の状態監視方法 - Google Patents
半導体接触器、半導体接触器用状態監視装置及び半導体接触器の状態監視方法 Download PDFInfo
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Description
第1端子と、
第2端子と、
前記第1端子と前記第2端子との間の電流経路に直列に挿入され、相互に逆並列に接続された複数のサイリスタと、
前記複数のサイリスタをオン又はオフさせる制御回路と、
前記第1端子と前記第2端子との間の電圧を測定する電圧測定回路と、
前記電圧測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電圧が所定の電圧範囲の上限値を超えた場合、前記複数のサイリスタの劣化と判定する処理部と、を備える、半導体接触器が提供される。
13,14 制御端子
20 主回路
21,22 サイリスタ
23 電流経路
30 制御回路
40 電圧測定回路
50 処理部
60 メモリ
70 電流測定回路
81,82 配線
101,102,103,104 半導体接触器
201 状態監視装置
Claims (6)
- 第1端子と、
第2端子と、
前記第1端子と前記第2端子との間の電流経路に直列に挿入され、相互に逆並列に接続された複数のサイリスタと、
前記複数のサイリスタをオン又はオフさせる制御回路と、
前記第1端子と前記第2端子との間の電圧を測定する電圧測定回路と、
前記電圧測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電圧が所定の電圧範囲の上限値を超えた場合、前記複数のサイリスタの劣化と判定する処理部と、を備える、半導体接触器。 - 前記処理部は、前記電圧測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電圧が前記電圧範囲の下限値よりも低下した場合、前記複数のサイリスタの短絡故障又は温度の異常上昇と判定する、請求項1に記載の半導体接触器。
- 前記電流経路に流れる電流を測定する電流測定回路を更に備え、
前記処理部は、前記電流測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電流が所定の電流範囲にあり、且つ、前記電圧測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電圧が前記電圧範囲の上限値を超えた場合、前記複数のサイリスタの劣化と判定する、請求項1又は2に記載の半導体接触器。 - 前記処理部は、前記電流測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電流が前記電流範囲の上限値を超え、且つ、前記電圧測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電圧が前記電圧範囲の上限値を超えた場合、前記複数のサイリスタの過電流異常と判定する、請求項3に記載の半導体接触器。
- 第1端子と第2端子との間の電流経路に直列に挿入され、相互に逆並列に接続された複数のサイリスタと、前記複数のサイリスタをオン又はオフさせる制御回路とを有する半導体接触器の状態を監視する半導体接触器用状態監視装置であって、
前記第1端子と前記第2端子との間の電圧を測定する電圧測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電圧が所定の電圧範囲の上限値を超えた場合、前記複数のサイリスタの劣化と判定する処理部を備える、半導体接触器用状態監視装置。 - 第1端子と第2端子との間の電流経路に直列に挿入され、相互に逆並列に接続された複数のサイリスタと、前記複数のサイリスタをオン又はオフさせる制御回路とを有する半導体接触器の状態を監視する方法であって、
電圧測定回路は、前記第1端子と前記第2端子との間の電圧を測定し、
処理部は、前記電圧測定回路により前記複数のサイリスタのオン状態で測定された前記電圧が所定の電圧範囲の上限値を超えた場合、前記複数のサイリスタの劣化と判定する、半導体接触器の状態監視方法。
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