JP7469976B2 - 光源装置及び光パルス試験器 - Google Patents
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Description
本発明の実施形態は、光源装置の中心波長を容易に所定範囲内に収めることができるようにするものである。光パルス試験器(OTDR)で用いられる光源装置の中心波長は、JIS規格(JIS C 6823)において、規定値(例えば、1310nm又は1550nm)の15nm以内と定められている。光パルス試験器で一般的に用いられるファブリペロー型半導体レーザは、個体間で中心波長のばらつきがある。このため、光源装置の中心波長を上記のJIS規格で規定された範囲に収めるには、中心波長が既定値に近い個体を選別する必要があり、コストが上昇する。
〈光パルス試験器〉
図1は、本発明の第1実施形態による光パルス試験器の要部構成を示すブロック図である。図1に示す通り、本実施形態の光パルス試験器1は、双方向モジュール11、LD駆動部12、サンプリング部13、信号処理部14、表示部15、及びコネクタ16を備える。このような光パルス試験器1は、光ファイバFUTに光パルスを入射させて得られる戻り光に基づいて光ファイバFUTの特性を試験又は測定する。尚、光パルス試験器1は、OTDRとも呼ばれる。
図2は、本発明の第1実施形態における双方向モジュールの要部構成を示す図である。図2に示す通り、本実施形態における双方向モジュール11は、光源装置21,22、合分波フィルタ23、ビームスプリッタ24、レンズ25、及び受光装置26を備える。このような双方向モジュール11は、JIS規格(JIS C 6823)において規定されている中心波長を有する光パルスを出力可能である。例えば、双方向モジュール11は、1550nmを中心とする±15nm以内の中心波長を有する光パルス(以下、「第1光パルス」という場合がある)と、1310nmを中心とする±15nm以内の中心波長を有する光パルス(以下、「第2光パルス」という場合がある)とを出力可能である。
図3は、本発明の第1実施形態による光源装置の要部構成を示す図である。図3に示す通り、光源装置21は、パルス光源21aから射出される光パルスの光路上に、コリメートレンズ21bとノッチフィルタ21cとが順に配置された構成である。尚、図3では、光源装置21を図示しているが、光源装置22も同様の構成である。つまり、図3に示された、光源装置21、パルス光源21a、コリメートレンズ21b、及びノッチフィルタ21cをそれぞれ、光源装置22、パルス光源22a、コリメートレンズ22b、及びノッチフィルタ22cと読み替えれば光源装置22の構成になる。但し、光源装置22の中心波長は1310nmである。
光パルス試験器1の動作が開始されると、まず、図1に示す信号処理部14によってLD駆動部12が制御され、LD駆動部12から駆動信号DSが出力される。LD駆動部12から出力された駆動信号DSは、例えば、双方向モジュール11の光源装置21(図2参照)に供給される。駆動信号DSが光源装置21に供給されると、パルス光源21aに設けられている半導体レーザLD(図3に示す通り、共振器RS1が形成されている半導体レーザLD)でレーザ発振が生じ、半導体レーザLDの第1端面E1からは光パルス(レーザ光)が射出される。
〈光パルス試験器、双方向モジュール〉
本実施形態の光パルス試験器の要部構成は、図1に示す光パルス試験器1の要部構成と同様の構成である。また、本実施形態の光パルス試験器が備える双方向モジュールの要部構成は、図2に示す双方向モジュール11の光源装置21,22を、図5に示すものに代えた構成である。このため、本実施形態の光パルス試験器及び双方向モジュールの構成の説明は省略する。
図5は、本発明の第2実施形態による光源装置の要部構成を示す図である。尚、図5では、図3に示す光源装置21に代えて設けられる光源装置21Bを図示しているが、図3に示す光源装置22に代えて設けられる光源装置22B(図示省略)も同様の構成である。但し、光源装置22Bの中心波長は1310nmである。
〈光パルス試験器、双方向モジュール〉
本実施形態の光パルス試験器の要部構成は、図1に示す光パルス試験器1の要部構成と同様の構成である。また、本実施形態の光パルス試験器が備える双方向モジュールの要部構成は、図2に示す双方向モジュール11の光源装置21,22を、図7に示すものに代えた構成である。このため、本実施形態の光パルス試験器及び双方向モジュールの構成の説明は省略する。
図7は、本発明の第3実施形態による光源装置の要部構成を示す図である。尚、図7では、図3に示す光源装置21に代えて設けられる光源装置21Cを図示しているが、図3に示す光源装置22に代えて設けられる光源装置22C(図示省略)も同様の構成である。但し、光源装置22Cの中心波長は1310nmである。
11 双方向モジュール
14 信号処理部
21 光源装置
21B 光源装置
21C 光源装置
21a パルス光源
21b コリメートレンズ
21c ノッチフィルタ
21d ノッチフィルタ
21e バンドパスフィルタ
21f ハーフミラー
21g 集光レンズ
21h 反射部材
22 光源装置
26 受光装置
E1 第1端面
E2 第2端面
FUT 光ファイバ
GR グレーティング
LD 半導体レーザ
PL1 第1面
PL2 第2面
RS1 第1共振器
RS2 第2共振器
Claims (3)
- 第1共振器を形成する互いに平行な第1端面と第2端面とを有し、前記第1端面からレーザ光を射出する半導体レーザと、
前記半導体レーザから射出されるレーザ光の光路上に配置され、前記半導体レーザの前記第2端面と第2共振器を形成し、前記半導体レーザの規定の中心波長を中心とする予め規定された波長幅の光に対する反射率が前記第1端面の反射率よりも高い反射特性を有する光学系と、
を備え、
前記光学系は、前記反射特性を有する反射膜が設けられた第1面と、前記半導体レーザから射出されるレーザ光に対する反射防止膜が設けられた第2面と、を有し、ガラス材料によって形成されている光学素子を備える、
光源装置。 - 前記半導体レーザと前記光学系との間におけるレーザ光の光路上に設けられ、前記半導体レーザから射出されるレーザ光をコリメートするコリメート光学系を備える、請求項1記載の光源装置。
- 光ファイバに光パルスを入射させて得られる戻り光に基づいて、前記光ファイバの特性を試験する光パルス試験器において、
前記光パルスを射出する請求項1又は請求項2記載の光源装置と、前記戻り光を受光する受光装置とを有する双方向モジュールと、
前記受光装置の受光結果に基づいて前記光ファイバの特性を求める処理を行う信号処理部と、
を備える光パルス試験器。
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