JP7455604B2 - ノーマリオン型トランジスタの駆動回路及び駆動方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 20
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 101100325974 Arabidopsis thaliana BHLH95 gene Proteins 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 101100111459 Arabidopsis thaliana BHLH67 gene Proteins 0.000 description 3
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018507—Interface arrangements
- H03K19/018521—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS
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- H03K17/06—Modifications for ensuring a fully conducting state
- H03K17/063—Modifications for ensuring a fully conducting state in field-effect transistor switches
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- H03K17/14—Modifications for compensating variations of physical values, e.g. of temperature
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- H03K17/30—Modifications for providing a predetermined threshold before switching
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- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/687—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
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- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/173—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
- H03K19/177—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components arranged in matrix form
- H03K19/1778—Structural details for adapting physical parameters
- H03K19/17784—Structural details for adapting physical parameters for supply voltage
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- H03K2017/066—Maximizing the OFF-resistance instead of minimizing the ON-resistance
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y02B—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
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Description
図2は、第1の実施形態のノーマリオン型トランジスタの駆動回路を示す図である。本実施形態の駆動回路はノーマリオン型トランジスタ1を有する。ノーマリオン型トランジスタ1は、既述した図1の特性曲線100で示す特性を有する。ノーマリオン型トランジスタ1は、例えば、GaNを材料とするNチャネル型MOSトランジスタで構成される。GaNを材料とするMOSトランジスタは、ドレイン・ソース間の主電流路がGaNで構成される。以降、GaNを材料とするMOSトランジスタを、GaNトランジスタと呼ぶ場合がある。
図5は、第2の実施形態のノーマリオン型トランジスタの駆動回路を示す図である。既述した実施形態に対応する構成には、同一符号を付し、重複した記載は必要な場合にのみ行う。本実施形態は、直流の入力電圧Vinが印加される端子83にドレインが接続されたノーマリオン型トランジスタ3を有する。ノーマリオン型トランジスタ3のソースは、ノーマリオフ型トランジスタ4のドレインに接続される。ノーマリオフ型トランジスタ4のソースはノード84に接続される。ノーマリオン型トランジスタ3とノーマリオフ型トランジスタ4の主電流路であるソース・ドレイン路は直列に接続され、カスコード接続を構成する。ノーマリオン型トランジスタ3は、例えば、Nチャンネル型のGaNトランジスタであり、個別の半導体チップ3Aで構成される。ノーマリオフ型トランジスタ4は、例えば、Siを材料とするNチャネル型MOSトランジスタで構成される。
前記バッファ回路は、CMOS回路で構成されることを特徴とする請求項1に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動回路。
前記ノーマリオン型トランジスタは、個別の半導体チップで構成されることを特徴とする請求項1に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動回路。
前記第2の電圧は、前記ノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも低い電圧に設定されることを特徴とする請求項1に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動回路。
前記駆動部は、前記ノーマリオフ型トランジスタのオン/オフを制御する制御信号を、前記ノーマリオフ型トランジスタのゲートに供給することを特徴とする請求項2に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動回路。
前記GaNトランジスタはNチャンネル型MOSトランジスタであることを特徴とする請求項4に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動回路。
前記第1の電圧は、前記ノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも高い電圧に設定されることを特徴とする請求項1に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動回路。
前記ノーマリオン型トランジスタはGaNトランジスタであることを特徴とする請求項6に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動方法。
Claims (4)
- ソース、ドレイン、及びゲートを有するGaNトランジスタとして構成されたノーマリオン型トランジスタの前記ソースに接続されたドレインを有し、前記ノーマリオン型トランジスタの主電流路に直列に接続された主電流路を有するノーマリオフ型トランジスタと、
高電位側の第1の電圧と低電位側の第2の電圧でバイアスされ、駆動信号に応答して前記ノーマリオン型トランジスタのオン/オフを制御する制御信号を前記ノーマリオン型トランジスタのゲートに配線を介して供給するバッファ回路と、
前記第1の電圧と前記第2の電圧を前記バッファ回路に供給する電源部と、
を具備し、
前記ノーマリオン型トランジスタをオンさせる第1の期間において前記バッファ回路に供給される前記第1の電圧は、前記ノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも低い電圧であって、前記配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも制御信号の電圧が前記ノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも高くならない様に設定され、
前記ノーマリオン型トランジスタをオフさせる第2の期間において、前記バッファ回路に供給される前記第2の電圧は、前記ノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも低い電圧であって、前記配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも前記制御信号の電圧が前記ノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも高くならない様に設定されることを特徴とするノーマリオン型トランジスタの駆動回路。 - 前記バッファ回路に前記駆動信号を供給する駆動部を具備することを特徴とする請求項1に記載のノーマリオン型トランジスタの駆動回路。
- 入力電圧供給端に接続されたドレインと、ソースと、ゲートを有するGaNトランジスタとして構成された第1のノーマリオン型トランジスタのソースに接続されたドレインと、出力ノードに接続されたソースと、ゲートを有する第1のノーマリオフ型トランジスタと、
高電位側の第1の電圧と低電位側の第2の電圧でバイアスされ、前記第1のノーマリオン型トランジスタのゲートに供給される第1の制御信号を第1の配線を介して出力する第1のバッファ回路と、
前記出力ノードに接続されたドレインと、ソースと、ゲートを有するGaNトランジスタとして構成された第2のノーマリオン型トランジスタのソースに接続されたドレインと、接地端子に接続されたソースと、ゲートを有する第2のノーマリオフ型トランジスタと、
高電位側の第3の電圧と低電位側の第4の電圧でバイアスされ、前記第2のノーマリオン型トランジスタのゲートに印加される第2の制御信号を第2の配線を介して出力する第2のバッファ回路と、
前記第1の電圧と前記第2の電圧を前記第1のバッファ回路に供給し、前記第3の電圧と前記第4の電圧を前記第2のバッファ回路に供給する電源部と、
を具備し、
前記第1のノーマリオン型トランジスタをオンさせる第1の期間において、前記第1のバッファ回路に供給される前記第1の電圧は、前記第1のノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも低い電圧であって、前記第1の配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも前記第1の制御信号の電圧が前記第1のノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも高くならない様に設定され、
前記第1のノーマリオン型トランジスタをオフさせる第2の期間において、前記第1のバッファ回路に供給される前記第2の電圧は、前記第1のノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも低い電圧であって、前記第1の配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも前記第1の制御信号の電圧が前記第1のノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも高くならない様に設定され
前記第2のノーマリオン型トランジスタをオンさせる第3の期間において、前記第2のバッファ回路に供給される前記第3の電圧は、前記第2のノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも低い電圧であって、前記第2の配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも前記第2の制御信号の電圧が前記第2のノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも高くならない様に設定され、
前記第2のノーマリオン型トランジスタをオフさせる第4の期間において、前記第2のバッファ回路に供給される前記第4の電圧は、前記第2のノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも低い電圧であって、前記第2の配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも前記第2の制御信号の電圧が前記第2のノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも高くならない様に設定されることを特徴とするノーマリオン型トランジスタの駆動回路。 - ソース、ドレイン、及びゲートを有するGaNトランジスタとして構成されたノーマリオン型トランジスタの前記ソースに接続されたドレインを有し、前記ノーマリオン型トランジスタの主電流路に直列に接続された主電流路を有するノーマリオフ型トランジスタと、
入力された駆動信号に応答して制御信号を生成し、ノードから配線を介して前記ゲートに供給するバッファ回路と、を備え、前記配線を介して供給される前記制御信号によって前記ノーマリオン型トランジスタのオン/オフを制御するノーマリオン型トランジスタの駆動方法であって、
前記ノーマリオン型トランジスタをオンさせる時に前記ノーマリオン型トランジスタのゲート電圧が前記ノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも低くなり、前記配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも前記制御信号の電圧が前記ノーマリオフ型トランジスタのソース電圧よりも高くならない様に前記バッファ回路の高電位側のバイアス電圧を設定し、
前記ノーマリオン型トランジスタをオフさせる時に前記ノーマリオン型トランジスタのゲート・ソース間電圧が前記ノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも低くなり、前記配線のインダクタンスに起因するリンギングが生じた場合でも前記制御信号の電圧が前記ノーマリオン型トランジスタのしきい値電圧よりも高くならない様に前記バッファ回路の低電位側のバイアス電圧を設定する
ことを特徴とするノーマリオン型トランジスタの駆動方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020023314A JP7455604B2 (ja) | 2020-02-14 | 2020-02-14 | ノーマリオン型トランジスタの駆動回路及び駆動方法 |
CN202010875170.XA CN113271088B (en) | 2020-02-14 | 2020-08-27 | Driving circuit and driving method for normally-on transistor |
US17/016,449 US11171648B2 (en) | 2020-02-14 | 2020-09-10 | Drive circuit and drive method of normally-on transistor |
US17/365,690 US11483001B2 (en) | 2020-02-14 | 2021-07-01 | Drive circuit and drive method of normally-on transistor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020023314A JP7455604B2 (ja) | 2020-02-14 | 2020-02-14 | ノーマリオン型トランジスタの駆動回路及び駆動方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021129442A JP2021129442A (ja) | 2021-09-02 |
JP7455604B2 true JP7455604B2 (ja) | 2024-03-26 |
Family
ID=77227754
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020023314A Active JP7455604B2 (ja) | 2020-02-14 | 2020-02-14 | ノーマリオン型トランジスタの駆動回路及び駆動方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11171648B2 (ja) |
JP (1) | JP7455604B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2020
- 2020-02-14 JP JP2020023314A patent/JP7455604B2/ja active Active
- 2020-09-10 US US17/016,449 patent/US11171648B2/en active Active
-
2021
- 2021-07-01 US US17/365,690 patent/US11483001B2/en active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021129442A (ja) | 2021-09-02 |
CN113271088A (zh) | 2021-08-17 |
US20210328588A1 (en) | 2021-10-21 |
US11483001B2 (en) | 2022-10-25 |
US20210258011A1 (en) | 2021-08-19 |
US11171648B2 (en) | 2021-11-09 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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