JP7445835B2 - 検査用治具およびテープフィーダの検査方法 - Google Patents
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Description
21 フレーム
23 テープ通路
24 テープ入口
31 フィードスプロケット(スプロケット)
31P フィードスプロケット係合ピン(係合ピン)
42 処理部
50 テープ検出器
50L 光
51 第1検出器
52 第2検出器
60 検査用治具
61 係合孔
61R 係合孔列(係合孔の列)
62 係合回避部
63 ストッパ部
S1 第1のテープ検出位置
S2 第2のテープ検出位置
W 幅方向寸法
CT キャリアテープ
SH 送り孔
BH 部品
Claims (4)
- 部品を収納したキャリアテープの通路であるテープ通路を備えたフレームと、前記フレームの後端部に位置するテープ入口から前記テープ通路内に挿入されたキャリアテープの送り孔に係合ピンを係合させて回転することにより前記キャリアテープを前方に向けて搬送するスプロケットと、前記テープ通路内を搬送される前記キャリアテープに所定の処理を施す処理部と、前記テープ通路内を搬送される前記キャリアテープによって光が遮断されることで前記キャリアテープを検出するテープ検出器と、を備えたテープフィーダの検査に用いられるテープ状の検査用治具であって、
前記スプロケットの前記係合ピンと係合する係合孔の列と、
前記係合孔の列と同一の並びに設けられて前記係合ピンとの係合を回避する係合回避部とを有し、
前記係合孔の列は前記テープ入口に挿入される先頭部から設けられ、
前記係合回避部は、前記係合孔の列が形成された前記先頭部から所定長さの領域が前記スプロケットによって前方に向けて搬送されて前記テープ検出器の光を遮断した後、前記先頭部が前記処理部に到達する前に前記スプロケットに到達する位置に設けられた、検査用治具。 - 前記係合回避部は前記係合孔の列の延びる方向に延びて形成された長孔もしくは切り欠きから成る、請求項1に記載の検査用治具。
- 前記係合回避部よりも後尾部側の部分に、前記テープ入口の幅方向の寸法よりも幅方向寸法が大きいストッパ部が形成された、請求項1または2に記載の検査用治具。
- 部品を収納したキャリアテープの通路であるテープ通路を備えたフレームと、前記フレームの後端部に位置するテープ入口から前記テープ通路内に挿入されたキャリアテープの送り孔に係合ピンを係合させて回転することにより前記キャリアテープを前方に向けて搬送するスプロケットと、前記テープ通路内を搬送される前記キャリアテープに所定の処理を施す処理部と、前記テープ通路内を搬送される前記キャリアテープによって光が遮断されることで前記キャリアテープを検出するテープ検出器と、を備えたテープフィーダの検査方法であって、
請求項1~3のいずれかに記載の検査用治具を前記テープ入口から挿入されたことを検知する挿入検知工程と、
前記挿入検知工程の後、前記スプロケットを回転させて前記検査用治具を前方に向けて搬送しつつ、前記検査用治具が前記テープ検出器の光を遮断するか否かに基づいて前記テープ検出器の動作を検査する検査工程と、
前記検査用治具の前記係合回避部が前記スプロケットに到達し、前記テープ通路内での前記検査用治具の進行が停止したら前記スプロケットによる前記検査用治具の搬送を停止する搬送停止工程と、
を含むテープフィーダの検査方法。
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- 2020-09-25 JP JP2020160515A patent/JP7445835B2/ja active Active
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