JP7433498B2 - 画像合成装置 - Google Patents

Description

本開示は、基板構成物の適正撮像条件を取得する際に用いられる画像合成装置に関する。

特許文献１のバンプ付電子部品搭載装置においては、電子部品のバンプに対するフラックスの転写状態が検査される。当該フラックスなどの基板構成物の検査においては、予め設定された検査データと、基板構成物の実際の画像と、が比較される。当該検査データの作成においては、基板構成物の画像から、検査目的に応じたデータ（例えば、基板構成物のサイズ、色、コントラストなど）を取得する必要がある。基板構成物の撮像条件が適切であれば、画像が鮮明になるので、所望のデータを精度よく取得することができる。このため、高精度の検査データを作成することができる。このように、検査データの精度は、基板構成物を撮像する際の撮像条件に依存している。

特開２０１８－５６２１８号公報

適正な撮像条件を取得するためには、作業者は、「基板構成物を撮像する際の撮像条件を設定し、当該撮像条件で基板構成物を撮像し、取得された画像が検査データの作成に適しているか否かを検証する」という一連の作業を、適正な撮像条件が見つかるまで、何回も繰り返す必要がある。しかしながら、当該作業は、非常に煩雑である。また、当該作業は、作業者の熟練度に依存する。そこで、本開示は、基板構成物の適正撮像条件を簡単に取得可能な画像合成装置を提供することを目的とする。

本開示の画像合成装置は、異なる撮像条件で撮像された同一の基板構成物に関する複数の合成用画像から合成画像を作成し、前記合成画像の作成に用いた複数の前記合成用画像の前記撮像条件から、適正撮像条件を取得する画像合成装置であって、前記異なる撮像条件とは、照明装置の点灯色が異なることをいう。

本開示の画像合成装置によると、複数の合成用画像から、画像の使用目的に適した合成画像を作成することができる。また、当該合成画像と同様の画像を実際に撮像することなく、当該合成画像を取得するための適正撮像条件を、簡単に取得することができる。

図１は、画像処理システムの模式図である。 図２は、電子部品実装機の部分上面図である。 図３は、図２の枠ＩＩＩ内の拡大図である。 図４は、図３のＩＶ－ＩＶ方向断面図である。 図５は、画像取得ステップにおける撮像条件の模式図である。 図６は、条件取得ステップにおける撮像条件、合成用画像、適正撮像条件、合成画像の模式図である。

以下、本開示の画像合成装置の実施の形態について説明する。

（画像処理システム）
まず、本実施形態の画像処理システムの構成について説明する。図１に、画像処理システムの模式図を示す。図１に示すように、画像処理システム１は、画像合成装置２と、生産ライン３と、カメラスタンド４と、を備えている。カメラスタンド４は、生産ライン３外に配置されている。

画像合成装置２は、制御装置２０と、入力装置（例えばキーボード、タッチパネルなど）２１と、表示装置（例えばディスプレイ、入力装置２１兼用のタッチパネルなど）２２と、を備えている。制御装置２０は、演算部（例えばＣＰＵなど）２００と、記憶部（例えばＲＯＭ、ＲＡＭなど）２０１と、を備えている。生産ライン３は、はんだ印刷機３０と、はんだ印刷検査機３１と、複数の電子部品実装機３２と、リフロー前基板外観検査機３３と、リフロー炉３４と、リフロー後基板外観検査機３５と、を備えている。画像合成装置２と各画像取得装置（はんだ印刷機３０、はんだ印刷検査機３１、電子部品実装機３２、リフロー前基板外観検査機３３、リフロー後基板外観検査機３５、カメラスタンド４）とは、双方向に通信可能である。基板は、生産ライン３を、上流側（はんだ印刷機３０側）から下流側（リフロー後基板外観検査機３５側）に向かって、搬送される。

次に、本実施形態の画像取得装置の一例である、電子部品実装機３２の構成について説明する。図２に、本実施形態の電子部品実装機の部分上面図を示す。図３に、図２の枠ＩＩＩ内の拡大図を示す。図４に、図３のＩＶ－ＩＶ方向断面図を示す。電子部品実装機３２は、電子部品９１の実際の画像と、予め設定された検査データと、を比較することにより、吸着ノズル３２６に対する電子部品９１の吸着状態の検査を行う。

図１～図４に示すように、電子部品実装機３２は、制御装置３２０と、入力装置３２１と、画像処理装置３２２と、カメラユニット（パーツカメラ）３２３と、部品供給部３２４と、基板搬送部（ベルトコンベア）３２５と、吸着ノズル３２６と、を備えている。制御装置３２０は、演算部３２０ａと、記憶部３２０ｂと、を備えている。記憶部３２０ｂには、電子部品９１の撮像プログラム、検査データが格納されている。撮像プログラムは、後述の画像処理方法の画像取得ステップで実行される。検査データには、電子部品９１の寸法データ（例えばサイズ、色など）が含まれている。電子部品９１の寸法データは、後述の画像処理方法で取得される適正撮像条件を用いて電子部品９１を撮像することにより、取得される。また、後述するように、当該適正撮像条件は、電子部品実装機３２が電子部品９１を検査する際にも使用される。

図２にハッチングで示すように、基板搬送部３２５の一対のベルト３２５ａ間には、基板９が架設されている。基板９は、左側（上流側）から右側（下流側）に向かって、基板搬送部３２５を搬送される。図３～図４に示す吸着ノズル３２６は、電子部品９１を吸着した状態で、ＸＹロボット（図略）により、図２に示す部品供給部３２４と基板９との間を、前後左右方向（水平方向）に移動可能である。

図２に示すように、カメラユニット３２３は、部品供給部３２４と、基板搬送部３２５（つまり基板９）と、の間に配置されている。図３～図４に示すように、カメラユニット３２３は、部品供給部３２４から基板９に搬送される途中の電子部品９１を、下側から撮像する。カメラユニット３２３は、撮像装置（例えばＣＣＤカメラ、ＣＭＯＳカメラなど）３２３ａと、照明装置３２３ｂと、レンズなどの光学系（図略）と、を備えている。

照明装置３２３ｂは、側射照明部５０と、同軸落斜照明部５１と、ハーフミラー５２と、を備えている。ハーフミラー５２は、所定の透過率を有する反射鏡である。ハーフミラー５２は、撮像装置３２３ａの上側に配置されている。撮像装置３２３ａから上側に延在する垂線Ｌに対して、ハーフミラー５２は、４５°傾斜して配置されている。同軸落斜照明部５１は、ハーフミラー５２の左側（水平方向隣り）に配置されている。同軸落斜照明部５１の照明光は、ハーフミラー５２で９０°反射され、下側から電子部品９１に照射される。側射照明部５０は、ハーフミラー５２の上側に配置されている。側射照明部５０は、下底部に開口５００を有する、上向きのカップ状を呈している。側射照明部５０は、下段部５０ａと、中段部５０ｂと、上段部５０ｃと、を備えている。下段部５０ａ、中段部５０ｂ、上段部５０ｃは、各々、環状を呈している。下段部５０ａ、中段部５０ｂ、上段部５０ｃは、各々、複数の光源セルＣが周方向に連なることにより、構成されている。下段部５０ａの上側には中段部５０ｂが、中段部５０ｂの上側には上段部５０ｃが、各々、配置されている。下段部５０ａ、中段部５０ｂ、上段部５０ｃの照明光は、互いに異なる角度（垂線Ｌに対する角度）から、電子部品９１に照射される。撮像装置３２３ａは、電子部品９１を下側から撮像する。画像処理装置３２２は、撮像装置３２３ａが撮像した画像に所定の画像処理を施す。なお、はんだ印刷機３０、はんだ印刷検査機３１、リフロー前基板外観検査機３３、リフロー後基板外観検査機３５、カメラスタンド４は、各々、上述のカメラユニット３２３、画像処理装置３２２同様のカメラユニット、画像処理装置を備えている。

（画像処理方法）
次に、本実施形態の画像処理方法について説明する。上述したように、電子部品実装機３２の記憶部３２０ｂには、検査データが格納されている。検査データには、電子部品９１の寸法データが含まれている。本実施形態の画像処理方法は、当該寸法データの作成に最適な画像を撮像可能な適正撮像条件を取得するために、実行される。並びに、本実施形態の画像処理方法は、実際の基板９の生産時に、電子部品９１の検査に最適な画像を撮像可能な適正撮像条件を取得するために、実行される。本実施形態の画像処理方法は、画像取得ステップと、条件取得ステップと、を有する。画像取得ステップは、電子部品実装機３２により実行される。条件取得ステップは、画像合成装置２により実行される。

画像取得ステップにおいては、電子部品実装機３２が、カメラユニット３２３を用いて電子部品９１の撮像を行う。カメラユニット３２３は、同一の電子部品９１に対して、全ての撮像条件の合成用画像を取得する。図５に、画像取得ステップにおける撮像条件の模式図を示す。図５に示すように、照明装置３２３ｂの点灯部位（同軸落斜照明部５１、下段部５０ａ、中段部５０ｂ、上段部５０ｃ）は４箇所である。また、各点灯部位の点灯色は、各々、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）に切替可能である。また、各点灯部位の露光時間（点灯時間）は、各々、独立して１０パターンに切替可能である。また、各点灯部位の点灯強度は、各々、独立して５パターンに切替可能である。図５に示す例の場合、撮像条件の数は、合計６００（＝４（点灯部位）×３（Ｒ、Ｇ、Ｂ）×１０（露光時間）×５（点灯強度））である。このように、本開示における「異なる撮像条件」とは、複数の撮像条件間において、撮像条件に採用される撮像装置３２３ａや照明装置３２３ｂなどの要因（点灯部位、点灯色、露光時間、点灯強度など）のうち、少なくとも一つが異なることをいう。

作業者が図１に示す入力装置３２１を介して撮像指示を入力すると、演算部３２０ａは、記憶部３２０ｂの撮像プログラムを実行する。具体的には、演算部３２０ａは、図３～図４に示すように、まず、電子部品９１付きの吸着ノズル３２６を、撮像装置３２３ａの撮像エリアＥまで移動させる。次に、演算部３２０ａは、図５に示す撮像条件を、♯１から♯６００まで全て実行する。演算部３２０ａは、電子部品９１の合成用画像Ａ１～Ａ６００を取得する。演算部３２０ａは、記憶部３２０ｂに、合成用データ（撮像条件♯１～♯６００に関連付けられた状態の合成用画像Ａ１～Ａ６００のデータ）を格納する。例えば、合成用画像Ａ１は撮像条件♯１に、合成用画像Ａ２は撮像条件♯２に、各々関連付けられた状態で記憶部３２０ｂに格納される。演算部３２０ａは、合成用データを、画像合成装置２に送信する。

条件取得ステップにおいては、画像合成装置２が、受信した合成用データを用いて、合成画像を作成し、検査データ作成用の適正撮像条件を取得する。以下、一例として、作業者が、撮像条件♯１～♯４を組み合わせると最適な合成画像（鮮明な合成画像）が得られると考えた場合を想定する。図６に、条件取得ステップにおける撮像条件、合成用画像、適正撮像条件、合成画像の模式図を示す。なお、図６においては、点灯している点灯部位（同軸落斜照明部５１、下段部５０ａ、中段部５０ｂ、上段部５０ｃ）、電子部品９１の下面のうち明るい部分に点線ハッチングを施す。

作業者は、入力装置２１を介して、撮像条件♯１～♯４を入力する。演算部２００は、記憶部２０１から、撮像条件♯１～♯４に関連付けられた合成用画像Ａ１～Ａ４を読み出す。演算部２００は、合成用画像Ａ１～Ａ４を合成し、合成画像Ｂを作成する。演算部２００は、表示装置２２に合成画像Ｂを表示する。作業者は、表示装置２２の合成画像Ｂを確認する。作業者は、表示装置２２の合成画像Ｂが鮮明であり電子部品９１の寸法データの取得に適していると判断した場合、入力装置２１を介して、検査用画像として合成画像Ｂを承認する。演算部２００は、撮像条件♯１～♯４を合成し、適正撮像条件を作成する。演算部２００は、記憶部２０１に、適正撮像条件および合成画像Ｂを格納する。また、演算部２００は、適正データ（合成画像Ｂ、適正撮像条件）を、電子部品実装機３２に送信する。なお、条件取得ステップにおいて、作業者が検査用画像として合成画像Ｂを承認しない場合（合成画像Ｂが好適でない場合）、作業者は、合成用画像Ａ１～Ａ４に新たな合成用画像Ａ５～Ａ６００を追加したり、合成用画像Ａ１～Ａ４のうち少なくとも一部を交換したりして、表示装置２２上において、好適な合成画像Ｂを作成する。

基板９の生産に先立って、電子部品実装機３２の演算部３２０ａは、カメラユニット３２３を駆動して、受信した適正撮像条件を用いて電子部品９１を撮像し、電子部品９１の寸法データを取得する。そして、検査データを完成させる。実際の基板９の生産時に、演算部３２０ａは、カメラユニット３２３を駆動して、当該適正撮像条件を用いて、実際の電子部品９１を撮像する。そして、検査データと電子部品９１の実際の画像とを比較し、吸着ノズル３２６に対する電子部品９１の吸着状態を検査する。

（作用効果）
次に、本実施形態の画像合成装置２の作用効果について説明する。図６に示すように、本実施形態の画像合成装置２によると、複数の合成用画像Ａ１～Ａ４から、検査データの設定に適した合成画像Ｂを作成することができる。また、当該合成画像Ｂと同様の画像を実際に撮像することなく、当該合成画像Ｂを取得するための適正撮像条件を、簡単に取得することができる。

図５に示すように、本実施形態の電子部品実装機３２によると、複数の合成用画像Ａ１～Ａ６００を、撮像条件♯１～♯６００に関連付けられた状態で、自動的に取得することができる。このため、図６に示すように、合成画像Ｂ作成時に、簡単に適正撮像条件を取得することができる。

図５～図６に示すように、本実施形態の画像処理システム１および画像処理方法によると、画像取得ステップで、電子部品実装機３２が自動的に取得した複数の合成用画像Ａ１～Ａ４を、条件取得ステップで、画像合成装置２が合成することにより、合成画像Ｂを作成することができる。また、条件取得ステップで、画像合成装置２が合成用画像Ａ１～Ａ４に関連付けられた撮像条件♯１～♯４を合成することにより、適正撮像条件を取得することができる。

図１に示す画像合成装置２は、条件取得ステップにおいて、電子部品実装機３２に、適正データ（合成画像Ｂ、適正撮像条件）を送信する。電子部品実装機３２は、適正撮像条件で電子部品９１を撮像し、電子部品９１の寸法データを取得することができる。そして、電子部品実装機３２は、電子部品９１の検査データを完成させることができる。また、電子部品実装機３２は、基板９の生産時に、電子部品９１を検査する際に、適正撮像条件を用いて電子部品９１を撮像することができる。適正撮像条件を用いると、合成画像Ｂ（電子部品９１の形状、色などを判別しやすい画像）と同様の画像を取得することができる。このため、電子部品９１の検査精度（合否判定精度）を向上させることができる。

（その他）
以上、本開示の画像合成装置の実施の形態について説明した。しかしながら、実施の形態は上記形態に特に限定されるものではない。当業者が行いうる種々の変形的形態、改良的形態で実施することも可能である。

図５に示す撮像条件に採用される撮像装置３２３ａや照明装置３２３ｂなどの要因（点灯部位、点灯色、露光時間、点灯強度など）は特に限定しない。また、各点灯部位（同軸落斜照明部５１、下段部５０ａ、中段部５０ｂ、上段部５０ｃ）の点灯パターンは特に限定しない。図３に示す光源セルＣ単位で、各点灯部位を点灯させてもよい。図３に枠Ｄで示すように、径方向に隣り合う複数の光源セルＣ単位で、各点灯部位を点灯させてもよい。勿論、周方向に隣り合う複数の光源セルＣ単位で、各点灯部位を点灯させてもよい。また、露光時間のパターン数、点灯強度のパターン数は特に限定しない。点灯部位の配置数は特に限定しない。３箇所以下や５箇所以上であってもよい。図３に示す下段部５０ａ、中段部５０ｂ、上段部５０ｃの配置形状、配置段数は特に限定しない。配置形状は、多角形（四角形、六角形、八角形など）環状、円環状であってもよい。配置段数は、２段以下、４段以上であってもよい。

電子部品実装機３２は、画像取得ステップにおいて、４箇所の点灯部位が全て消灯している状態の画像を、差分用画像として取得してもよい。画像合成装置２は、条件取得ステップにおいて、図６に示す合成画像Ｂから差分用画像を除去してもよい。こうすると、全消灯時の画像に起因するノイズを、合成画像Ｂから排除することができる。このため、より鮮明な合成画像Ｂを取得することができる。

図１に示す画像合成装置２と、画像取得装置（はんだ印刷機３０、はんだ印刷検査機３１、電子部品実装機３２、リフロー前基板外観検査機３３、リフロー後基板外観検査機３５、カメラスタンド４）と、の通信方法は特に限定しない。有線でも無線でもよい。また、画像合成装置２と、画像取得装置と、は通信不可能でもよい。この場合、データ（例えば、合成用データ（図５に示す撮像条件♯１～♯６００に関連付けられた状態の合成用画像Ａ１～Ａ６００のデータ）、適正データ（合成画像Ｂ、適正撮像条件）など）の送受は、搬送可能な記憶媒体（フラッシュメモリ（ＳＳＤ、ＵＳＢフラッシュ、ＳＤカードなど）、ハードディスク、光ディスク（ＣＤ、ＤＶＤ、ブルーレイディスクなど）を介して行えばよい。また、データの送受を、クラウドストレージ（オンラインストレージ）を介して行ってもよい。

画像合成装置２と画像取得装置とは、同一の場所に配置されていても、異なる場所に配置されていてもよい。例えば、画像合成装置２と画像取得装置とは、同一の工場に配置されていてもよい。また、画像合成装置２と画像取得装置とは、画像合成装置２または画像取得装置として、一体化されていてもよい。また、画像合成装置２と画像取得装置とは、同一のユーザー（画像合成装置２、画像取得装置のユーザー）内において、異なる場所（例えば事務所と工場）に分かれて配置されていてもよい。また、画像合成装置２と画像取得装置とは、画像取得装置のユーザーとメーカーとに分かれて配置されていてもよい。すなわち、ユーザー所有の画像取得装置の適正撮像条件や合成画像Ｂを、メーカー所有の画像合成装置２で、提供してもよい。この場合、ユーザー数は単数であっても複数であってもよい。

画像合成装置２および画像取得装置のうち少なくとも一方と、合成画像Ｂや適正撮像条件を実際に使用する装置（実行装置）と、は同一であっても異なっていてもよい。また、適正データ（合成画像Ｂ、適正撮像条件）は、合成画像Ｂ、適正撮像条件のうち、少なくとも一方を備えていればよい。例えば、適正データは、合成画像Ｂのみであっても、適正撮像条件のみであってもよい。適正データが適正撮像条件を備える場合、当該適正撮像条件の使用目的（用途）は特に限定しない。例えば、電子部品実装機３２が実行装置である場合は、基板９の生産時に、電子部品９１を撮像し、検査用の画像を取得する際に、適正撮像条件を使用すればよい。また、電子部品９１の検査データを作成する際に（電子部品９１の寸法データを取得する際に）、適正撮像条件を使用すればよい。ただし、電子部品９１の寸法データは、実際に電子部品９１を撮像しなくても、電子部品９１のＣＡＤデータなどから取得することができる。このため、電子部品実装機３２は、少なくとも、基板９の生産時に、電子部品９１を撮像し、検査用の画像を取得する際に、適正撮像条件を使用すればよい。また、はんだ印刷機３０が実行装置である場合は、基板９のマークの検査用として、合成画像（基板本体と、基板本体の位置決めマークと、を判別しやすい画像）と同様の画像を取得するために、適正撮像条件を用いればよい。また、はんだ印刷検査機３１が実行装置である場合は、はんだの検査用として、合成画像（例えば、基板本体と、はんだと、を判別しやすい画像）と同様の画像を取得するために、適正撮像条件を用いればよい。また、リフロー前基板外観検査機３３やリフロー後基板外観検査機３５が実行装置である場合は、基板９の外観の検査用として、合成画像（例えば、基板本体と、パッド（ランド）と、はんだと、電子部品と、を判別しやすい画像）と同様の画像を取得するために、適正撮像条件を用いればよい。カメラスタンド４が実行装置である場合は、当該カメラスタンド４の用途（例えば、はんだ印刷機３０、はんだ印刷検査機３１、電子部品実装機３２、リフロー前基板外観検査機３３、リフロー後基板外観検査機３５などのカメラユニット３２３の代用など）に応じて、適正撮像条件を用いればよい。

画像取得ステップにおける合成用画像Ａ１～Ａ６００の取得数は、２枚以上であればよい。条件取得ステップにおいては、同一の合成用画像を複数枚合成してもよい。例えば、図５の合成用画像Ａ１を２枚合成すると、点灯強度２（＝１＋１）の合成画像を取得することができる。条件取得ステップにおける、合成画像Ｂや適正撮像条件の送信先は、画像取得装置でなくてもよい。例えば、送信先は、画像取得装置以外の通信端末（ＰＣ、スマートフォン、タブレット型ＰＣなど）であってもよい。

図１に示す画像処理システム１の用途は限定しない。例えば、基板９の生産開始前に、基板９の生産プログラムを作成する際に用いることができる。また、基板９の生産途中で、基板構成物が変更される場合も、画像処理システム１を用いることができる。例えば、基板９の生産途中で、任意の電子部品９１が、当該電子部品９１と同種かつ異メーカーの電子部品９１に、変更される場合がある。この場合、変更前後で電子部品９１の色などが変わってしまう場合がある。このような場合であっても、画像処理システム１を用いると、変更後の電子部品９１に応じた合成画像Ｂや適正撮像条件を取得することができる。

本開示の「基板構成物」には、基板９を構成するあらゆる物が含まれる。例えば、基板本体、パッド、電子部品９１、はんだ、フラックス、位置決めマークなどが含まれる。本開示の「適正撮像条件」は、最適撮像条件でなくてもよい。個々の合成用画像の撮像条件に対して、画像の使用目的を達成しやすい撮像条件であればよい。例えば、図６に示す合成画像Ｂ用の適正撮像条件は、最適撮像条件でなくてもよい。図５に示す個々の合成用画像Ａ１～Ａ６００の撮像条件♯１～♯６００に対して、画像の使用目的（寸法データの取得、電子部品９１の検査）を達成しやすい撮像条件であればよい。少なくとも、適正撮像条件を用いて、画像の使用目的を達成できればよい。
本開示の画像合成装置は、異なる撮像条件で撮像された同一の基板構成物に関する複数の合成用画像から合成画像を作成し、前記合成画像の作成に用いた複数の前記合成用画像の前記撮像条件から、適正撮像条件を取得する形態で実施してもよい。こうすると、複数の合成用画像から、画像の使用目的に適した合成画像を作成することができる。また、当該合成画像と同様の画像を実際に撮像することなく、当該合成画像を取得するための適正撮像条件を、簡単に取得することができる。
本開示の画像取得装置は、異なる撮像条件で同一の基板構成物を撮像し、前記撮像条件に関連付けられた前記基板構成物の複数の合成用画像を、自動的に取得する形態で実施してもよい。こうすると、複数の合成用画像を、撮像条件に関連付けられた状態で、自動的に取得することができる。このため、合成画像作成時に、簡単に適正撮像条件を取得することができる。
本開示の画像処理システムは、前記画像合成装置と、前記画像取得装置と、を備える画像処理システムであって、前記画像取得装置は、前記画像合成装置に、撮像条件に関連付けられた基板構成物の複数の合成用画像を送信し、前記画像合成装置は、受信した複数の前記合成用画像を用いて合成画像を作成し、前記合成画像の作成に用いた複数の前記合成用画像の前記撮像条件から、適正撮像条件を取得する形態で実施してもよい。こうすると、画像取得装置が自動的に取得した複数の合成用画像を基に、画像合成装置が合成画像を作成することができる。また、合成用画像に関連付けられた撮像条件を基に、画像合成装置が適正撮像条件を取得することができる。
本開示の画像処理方法は、異なる撮像条件で同一の基板構成物を撮像し、前記撮像条件に関連付けられた前記基板構成物の複数の合成用画像を、自動的に取得する画像取得ステップと、取得された複数の前記合成用画像を用いて合成画像を作成し、前記合成画像の作成に用いた複数の前記合成用画像の前記撮像条件から、適正撮像条件を取得する条件取得ステップと、を有する形態で実施してもよい。こうすると、画像取得ステップで自動的に取得した複数の合成用画像を基に、条件取得ステップで合成画像を作成することができる。また、合成用画像に関連付けられた撮像条件を基に、条件取得ステップで適正撮像条件を取得することができる。

１：画像処理システム、２：画像合成装置、３：生産ライン、４：カメラスタンド（画像取得装置）、９：基板、２０：制御装置、２１：入力装置、２２：表示装置、３０：はんだ印刷機（画像取得装置）、３１：はんだ印刷検査機（画像取得装置）、３２：電子部品実装機（画像取得装置）、３３：リフロー前基板外観検査機（画像取得装置）、３４：リフロー炉、３５：リフロー後基板外観検査機（画像取得装置）、５０：側射照明部、５０ａ：下段部、５０ｂ：中段部、５０ｃ：上段部、５１：同軸落斜照明部、５２：ハーフミラー、９１：電子部品（基板構成物）、２００：演算部、２０１：記憶部、３２０：制御装置、３２０ａ：演算部、３２０ｂ：記憶部、３２１：入力装置、３２２：画像処理装置、３２３：カメラユニット、３２３ａ：撮像装置、３２３ｂ：照明装置、３２４：部品供給部、３２５：基板搬送部、３２５ａ：ベルト、３２６：吸着ノズル、５００：開口、Ａ１～Ａ６００：合成用画像、Ｂ：合成画像、Ｃ：光源セル、Ｅ：撮像エリア、♯１～♯６００：撮像条件

Claims (3)

1. 異なる撮像条件で撮像された同一の基板構成物に関する複数の合成用画像から合成画像を作成し、
   前記合成画像の作成に用いた複数の前記合成用画像の前記撮像条件から、適正撮像条件を取得する画像合成装置であって、
   前記異なる撮像条件とは、照明装置の点灯色が異なることをいう画像合成装置。
2. 前記異なる撮像条件に各々関連付けられた状態の複数の前記合成用画像を格納する記憶部と、
   前記撮像条件が入力される入力装置と、
   前記入力装置に入力された前記撮像条件に関連付けられた前記合成用画像を、前記記憶部から読み出し、前記合成用画像を合成して、前記合成画像を作成する演算部と、
   前記演算部が合成した前記合成画像を表示する表示装置と、
   を備えた請求項１に記載の画像合成装置。
3. 前記入力装置には、前記表示装置に表示された前記合成画像を承認するか否かが入力される請求項２に記載の画像合成装置。

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