JP7422698B2 - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7422698B2 JP7422698B2 JP2021035006A JP2021035006A JP7422698B2 JP 7422698 B2 JP7422698 B2 JP 7422698B2 JP 2021035006 A JP2021035006 A JP 2021035006A JP 2021035006 A JP2021035006 A JP 2021035006A JP 7422698 B2 JP7422698 B2 JP 7422698B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive layer
- layer
- conductive
- electrode
- area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 101
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 279
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 83
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 60
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 claims description 48
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims description 47
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 33
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 26
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 8
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 4
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 4
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 4
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 4
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 4
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 4
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 4
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 4
- 229920002102 polyvinyl toluene Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 3
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical compound C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 239000012994 photoredox catalyst Substances 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- PMJMHCXAGMRGBZ-UHFFFAOYSA-N subphthalocyanine Chemical compound N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(=N3)N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C3=N1 PMJMHCXAGMRGBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MCEWYIDBDVPMES-UHFFFAOYSA-N [60]pcbm Chemical compound C123C(C4=C5C6=C7C8=C9C%10=C%11C%12=C%13C%14=C%15C%16=C%17C%18=C(C=%19C=%20C%18=C%18C%16=C%13C%13=C%11C9=C9C7=C(C=%20C9=C%13%18)C(C7=%19)=C96)C6=C%11C%17=C%15C%13=C%15C%14=C%12C%12=C%10C%10=C85)=C9C7=C6C2=C%11C%13=C2C%15=C%12C%10=C4C23C1(CCCC(=O)OC)C1=CC=CC=C1 MCEWYIDBDVPMES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 229910003472 fullerene Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012860 organic pigment Substances 0.000 description 1
- 229920000301 poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/81—Electrodes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/241—Electrode arrangements, e.g. continuous or parallel strips or the like
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
- H10K39/30—Devices controlled by radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
- H10K39/30—Devices controlled by radiation
- H10K39/36—Devices specially adapted for detecting X-ray radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2002—Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/20—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising organic-organic junctions, e.g. donor-acceptor junctions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚さと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
図1(a)及び図1(b)は、第1実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。
図1(a)は、図1(b)のA1-A2線断面図である。図1(b)は、放射線検出器に含まれる一部が抜き出されて描かれた平面図である。
図2に示すように、検出部10Aは第1キャパシタンスC1とみなすことができる。伝送部10Bは、第2キャパシタンスC2とみなすことができる。第2キャパシタンスC2の電気容量は、第1キャパシタンスC1の電気容量よりも小さいことが好ましい。第1キャパシタンスC1は、第1面積S1及び第1距離d1を有する。第1キャパシタンスC1の電気容量は、S1/d1に比例する。第2キャパシタンスC2は、第2面積S2及び第2距離d2を有する。第2キャパシタンスC2の電気容量は、S2/d2に比例する。
図3の横軸は、伝送部10Bにおいて、第1導電層61と第2導電層62との間に印加される電圧Vaである。縦軸は、第1導電層61と第2導電層62との間に流れる電流の絶対値Iaである。同じ電圧Vaの絶対値のときに電流の絶対値Iaが大きい場合は、伝送部10Bの電気抵抗が低い状態に対応する。
図4の横軸は、時間tmである。縦軸は、検出信号SGである。図4には、第1試料SP1及び第2試料SP2の特性が例示されている。第1試料SP1においては、第1導電層61の材料は、第2導電層62の材料と同じである。第2試料SP2においては、第1導電層61の材料は、第2導電層62の材料と異なる。第2試料SP2において、例えば、第1電気抵抗は、第2電気抵抗よりも低い。
これらの図において、第1導電層61及び第2導電層62の平面パターンが例示されている。
これらの図において、第1導電層61及び第2導電層62の平面パターンが例示されている。
図7(a)は、図7(b)のA1-A2線断面図である。図7(b)は、放射線検出器に含まれる一部が抜き出されて描かれた平面図である。
図8(a)及び図8(b)は、第2実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。
図8(a)は、図8(b)のA1-A2線断面図である。図8(b)は、放射線検出器に含まれる一部が抜き出されて描かれた平面図である。
(構成1)
検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な検出部と、
伝送部と、
を備え、
前記伝送部は、
前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
前記第1導電層から離れた第2導電層と、
有機層と、
を含み、
前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にある、放射線検出器。
前記検出部は、第1電極及び半導体層を含み、
前記第1導電層は、第1導電部と第2導電部とを含み、
前記半導体層は、第1方向において、前記第1導電部と前記第1電極との間にあり、
前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第2導電部と前記第2導電層との間にある、
構成1記載の放射線検出器。
前記検出部は、前記第1導電部及び前記第1電極が第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第1導電部と前記第1電極との間の前記第1方向のおける第1距離と、を有し、
前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
前記第2面積は、前記第2導電部及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
前記第2距離は、前記第2導電部と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、構成2記載の放射線検出器。
前記第2導電層の材料は、前記第2導電部の材料とは異なる、構成2または3に記載の放射線検出器。
前記検出部は、第1電極、第2電極及び半導体層を含み、
前記半導体層は、第1方向において、前記第2電極と前記第1電極との間にあり、
前記第2電極は、前記第1導電層と電気的に接続され、
前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にある、構成1記載の放射線検出器。
前記検出部は、前記第2電極及び前記第1電極が第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第2電極と前記第1電極との間の前記第1方向のおける第1距離と、を有し、
前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
前記第2面積は、前記第1導電層及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
前記第2距離は、前記第1導電層と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、構成5記載の放射線検出器。
前記第2導電層の材料は、前記第1導電層の材料とは異なる、構成5または6に記載の放射線検出器。
第1基体領域及び第2基体領域を含む基体をさらに備え、
前記第1電極の少なくとも一部は、前記第1方向において、前記半導体層と前記第1基体領域との間にある、
前記有機層の前記少なくとも一部から前記第2基体領域への方向は、前記第1方向に沿う、構成2~7のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記検出部は、シンチレータ層をさらに含み、
前記第1電極は、前記半導体層と前記シンチレータ層との間にあり、
前記第1基体領域は、前記第1電極と前記シンチレータ層との間にある、構成8記載の放射線検出器。
第1光吸収層をさらに備え、
前記第1光吸収層は、前記有機層と前記基体との間にあり、
前記第1光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の吸収率よりも高い、構成8または9に記載の放射線検出器。
第2光吸収層をさらに備え、
前記有機層は、前記第2光吸収層と前記第1光吸収層との間にあり、
前記第2光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の前記吸収率よりも高い、構成10記載の放射線検出器。
第1光吸収層及第2光吸収層をさらに備え、
前記有機層は、前記第2光吸収層と前記第1光吸収層との間にあり、
前記第1光吸収層における光の吸収率、及び、前記第2光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の吸収率よりも高い、構成2~7のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記第1光吸収層は、絶縁性である、構成10~12のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記検出部は、シンチレータ層をさらに含み、
前記第1電極は、前記半導体層と前記シンチレータ層との間にある、構成2~7のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記有機層は、前記半導体層に含まれる材料と同じ材料を含む、構成2~14のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記第2導電層は、前記第1電極に含まれる材料と同じ材料を含む、構成2~15のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記第1電極は、In、Sn及び酸素を含む、構成2~16のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記第1導電層は、Al、Mg、B及びCよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、構成2~17のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記第2導電層から前記第1導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗は、前記第1導電層から前記第2導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗よりも低い、構成1~18のいずれか1つに記載の放射線検出器。
前記有機層の一部は、前記第1導電層から前記第2導電層への方向と交差する方向において、第1導電層及び第2導電層と重なる、構成1~19のいずれか1つに記載の放射線検出器。
Claims (10)
- 検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な前記検出部と、
伝送部と、
を備え、
前記伝送部は、
前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
前記第1導電層から離れた第2導電層と、
有機層と、
を含み、
前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にあり、
前記検出部は、第1電極及び半導体層を含み、
前記第1導電層は、第1導電部と第2導電部とを含み、
前記半導体層は、第1方向において、前記第1導電部と前記第1電極との間にあり、
前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第2導電部と前記第2導電層との間にある、放射線検出器。 - 前記検出部は、前記第1導電部及び前記第1電極が前記第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第1導電部と前記第1電極との間の前記第1方向における第1距離と、を有し、
前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
前記第2面積は、前記第2導電部及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
前記第2距離は、前記第2導電部と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、請求項1記載の放射線検出器。 - 検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な前記検出部と、
伝送部と、
を備え、
前記伝送部は、
前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
前記第1導電層から離れた第2導電層と、
有機層と、
を含み、
前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にあり、
前記検出部は、第1電極、第2電極及び半導体層を含み、
前記半導体層は、第1方向において、前記第2電極と前記第1電極との間にあり、
前記第2電極は、前記第1導電層と電気的に接続され、
前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にある、放射線検出器。 - 前記検出部は、前記第2電極及び前記第1電極が前記第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第2電極と前記第1電極との間の前記第1方向における第1距離と、を有し、
前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
前記第2面積は、前記第1導電層及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
前記第2距離は、前記第1導電層と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、請求項3記載の放射線検出器。 - 第1光吸収層及び第2光吸収層をさらに備え、
前記有機層は、前記第2光吸収層と前記第1光吸収層との間にあり、
前記第1光吸収層における光の吸収率、及び、前記第2光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の吸収率よりも高い、請求項1~4のいずれか1つに記載の放射線検出器。 - 前記検出部は、シンチレータ層をさらに含み、
前記第1電極は、前記半導体層と前記シンチレータ層との間にある、請求項1~5のいずれか1つに記載の放射線検出器。 - 前記有機層は、前記半導体層に含まれる材料と同じ材料を含む、請求項1~6のいずれか1つに記載の放射線検出器。
- 前記第2導電層は、前記第1電極に含まれる材料と同じ材料を含む、請求項1~7のいずれか1つに記載の放射線検出器。
- 前記第2導電層から前記第1導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗は、前記第1導電層から前記第2導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗よりも低い、請求項1~8のいずれか1つに記載の放射線検出器。
- 検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な前記検出部と、
伝送部と、
を備え、
前記伝送部は、
前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
前記第1導電層から離れた第2導電層と、
有機層と、
を含み、
前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にあり、
前記第2導電層から前記第1導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗は、前記第1導電層から前記第2導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗よりも低い、放射線検出器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021035006A JP7422698B2 (ja) | 2021-03-05 | 2021-03-05 | 放射線検出器 |
US17/460,451 US11968849B2 (en) | 2021-03-05 | 2021-08-30 | Radiation detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021035006A JP7422698B2 (ja) | 2021-03-05 | 2021-03-05 | 放射線検出器 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022135288A JP2022135288A (ja) | 2022-09-15 |
JP2022135288A5 JP2022135288A5 (ja) | 2023-05-01 |
JP7422698B2 true JP7422698B2 (ja) | 2024-01-26 |
Family
ID=83116400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021035006A Active JP7422698B2 (ja) | 2021-03-05 | 2021-03-05 | 放射線検出器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11968849B2 (ja) |
JP (1) | JP7422698B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009074817A (ja) | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Hitachi Ltd | 半導体検出器モジュール、および該半導体検出器モジュールを用いた放射線検出装置または核医学診断装置 |
JP2009094465A (ja) | 2007-09-21 | 2009-04-30 | Fujifilm Corp | 放射線撮像素子 |
US20120181440A1 (en) | 2011-01-19 | 2012-07-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Pastes For Photoelectric Conversion Layers Of X-Ray Detectors, X-Ray Detectors And Methods Of Manufacturing The Same |
JP2012199551A (ja) | 2005-08-31 | 2012-10-18 | Canon Inc | 放射線検出装置、放射線撮像装置および放射線撮像システム |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8008627B2 (en) * | 2007-09-21 | 2011-08-30 | Fujifilm Corporation | Radiation imaging element |
JP6735215B2 (ja) | 2016-11-21 | 2020-08-05 | 株式会社東芝 | 放射線検出器 |
-
2021
- 2021-03-05 JP JP2021035006A patent/JP7422698B2/ja active Active
- 2021-08-30 US US17/460,451 patent/US11968849B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012199551A (ja) | 2005-08-31 | 2012-10-18 | Canon Inc | 放射線検出装置、放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP2009074817A (ja) | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Hitachi Ltd | 半導体検出器モジュール、および該半導体検出器モジュールを用いた放射線検出装置または核医学診断装置 |
JP2009094465A (ja) | 2007-09-21 | 2009-04-30 | Fujifilm Corp | 放射線撮像素子 |
US20120181440A1 (en) | 2011-01-19 | 2012-07-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Pastes For Photoelectric Conversion Layers Of X-Ray Detectors, X-Ray Detectors And Methods Of Manufacturing The Same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2022135288A (ja) | 2022-09-15 |
US20220285441A1 (en) | 2022-09-08 |
US11968849B2 (en) | 2024-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11226421B2 (en) | Radiation detector | |
JP6670785B2 (ja) | 放射線検出器 | |
KR20180090319A (ko) | 퀀텀닷 광 검출기 장치 및 관련 방법들 | |
US20180277779A1 (en) | Radiation detector | |
JP2018085387A (ja) | 放射線検出器 | |
US20110074283A1 (en) | Silicon photomultiplier tube | |
JP7422698B2 (ja) | 放射線検出器 | |
US10761222B2 (en) | Detection element and detector | |
US11947057B2 (en) | Photodetector and radiation detector | |
JP6788568B2 (ja) | 光電変換素子及び放射線検出器 | |
US10714699B2 (en) | Detecting element and detector | |
JP2024025930A (ja) | 放射線検出器 | |
US12092775B2 (en) | Radiation detector | |
US20220140244A1 (en) | Radiation detector | |
JP6790008B2 (ja) | 検出素子および検出器 | |
JP6952148B2 (ja) | 光検出器 | |
US20230292535A1 (en) | Detector | |
US11650336B2 (en) | Radiation detector | |
JP3532958B2 (ja) | 光電変換素子 | |
KR20220037230A (ko) | 엑스선 검출기 | |
JP2019054161A (ja) | 光電変換素子及び放射線検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20230214 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230421 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20230616 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20231019 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20231020 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20231109 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20231218 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240116 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7422698 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |