JP7422698B2 - 放射線検出器 - Google Patents

放射線検出器 Download PDF

Info

Publication number
JP7422698B2
JP7422698B2 JP2021035006A JP2021035006A JP7422698B2 JP 7422698 B2 JP7422698 B2 JP 7422698B2 JP 2021035006 A JP2021035006 A JP 2021035006A JP 2021035006 A JP2021035006 A JP 2021035006A JP 7422698 B2 JP7422698 B2 JP 7422698B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive layer
layer
conductive
electrode
area
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021035006A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022135288A (ja
JP2022135288A5 (ja
Inventor
浩平 中山
勲 高須
淳 和田
史彦 相賀
裕子 野村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2021035006A priority Critical patent/JP7422698B2/ja
Priority to US17/460,451 priority patent/US11968849B2/en
Publication of JP2022135288A publication Critical patent/JP2022135288A/ja
Publication of JP2022135288A5 publication Critical patent/JP2022135288A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7422698B2 publication Critical patent/JP7422698B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/80Constructional details
    • H10K30/81Electrodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • G01T1/241Electrode arrangements, e.g. continuous or parallel strips or the like
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
    • H10K39/30Devices controlled by radiation
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
    • H10K39/30Devices controlled by radiation
    • H10K39/36Devices specially adapted for detecting X-ray radiation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2002Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K30/00Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
    • H10K30/20Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising organic-organic junctions, e.g. donor-acceptor junctions

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

本発明の実施形態は、放射線検出器に関する。
放射線検出器において、感度の向上が望まれる。
特開2018-85387号公報
本発明の実施形態は、感度の向上が可能な放射線検出器を提供する。
本発明の実施形態によれば、放射線検出器は、検出部及び伝送部を含む。前記検出部は前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能である。前記伝送部は、前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、前記第1導電層から離れた第2導層と、有機層と、を含む。前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にある。
図1(a)及び図1(b)は、第1実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。 図2は、第1実施形態に係る放射線検出器に対応する回路図である。 図3は、第1実施形態に係る放射線検出器の一部の特性を例示する模式図である。 図4は、第1実施形態に係る放射線検出器の特性を例示する模式図である。 図5(a)~図5(c)は、第1実施形態に係る放射線検出器の一部を例示する模式的平面図である。 図6は、第1実施形態に係る放射線検出器の一部を例示する模式的平面図である。 図7(a)及び図7(b)は、第1実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。 図8(a)及び図8(b)は、第2実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。
以下に、本発明の各実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚さと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
(第1実施形態)
図1(a)及び図1(b)は、第1実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。
図1(a)は、図1(b)のA1-A2線断面図である。図1(b)は、放射線検出器に含まれる一部が抜き出されて描かれた平面図である。
図1(a)に示すように、実施形態に係る放射線検出器110は、検出部10A及び伝送部10Bを含む。検出部10Aは、検出部10Aに入射する放射線81に応じた信号Sig1を出力可能である。信号Sig1は、伝送部10Bを介して外部に取り出される。
伝送部10Bは、第1導電層61、第2導電層62及び有機層35を含む。第1導電層61は、検出部10Aと電気的に接続される。第1導電層61は、信号Sig1を伝送可能である。第2導電層62は、第1導電層61から離れる。有機層35の少なくとも一部は、第1導電層61と第2導電層62との間にある。伝送部10Bは、例えば、キャパシタンスとして機能する。
この例では、第2導電層62と電気的に接続された第3導電層63が設けられる。第3導電層63は、例えば、端子部として機能する。第3導電層63は必要に応じて設けられ、省略されても良い。
この例では、第1導電層61は、第1導電部61aと第2導電部61bとを含む。これらの導電部は、互いに連続して良い。第1導電部61aは、第1導電層61の1つの領域である。第2導電部61bは、第1導電層61の別の領域である。
この例では、検出部10Aは、第1電極51及び半導体層31を含む。例えば、半導体層31は、有機半導体層で良い。半導体層31は、第1方向において、第1導電部61aと第1電極51との間にある。
第1方向をZ軸方向とする。Z軸方向に対して垂直な1つの方向をX軸方向とする。Z軸方向及びX軸方向に対して垂直な方向をY軸方向とする。Z軸方向は、第1導電部61a、半導体層31及び第1電極51における積層方向に対応する。
第2方向において、有機層35の少なくとも一部は、第2導電部61b(第1導電層61)と第2導電層62との間にある。第2方向は、第1方向(Z軸方向)と交差する。第2方向は、例えば、X-Y平面に沿う任意の方向である。この例では、有機層35の一部は、X軸方向において、第2導電部61b(第1導電層61)と第2導電層62との間にある。
この例では、基体12が設けられる。基体12は、例えば、基板で良い。基体12は、例えば有機材料を含んで良い。基体12は、例えば樹脂基板または樹脂フィルムなどで良い。基体12は、例えばガラス基板などでも良い。
基体12は、第1基体領域12a及び第2基体領域12bを含む。第2基体領域12bは、第1基体領域12aと連続して良い。第1基体領域12aは、基体12の1つの領域である。第2基体領域12bは、基体12の別の領域である。第1電極51の少なくとも一部は、第1方向(Z軸方向)において、半導体層31と第1基体領域12aとの間にある。有機層35の少なくとも一部から第2基体領域12bへの方向は、第1方向(Z軸方向)に沿う。
実施形態において、Z軸方向において、伝送部10Bは、検出部10Aと重ならない。例えば、検出部10Aに入射する放射線が伝送部10Bには入射しないようにすることが可能である。例えば、筐体75(図1(a)参照)などにより、伝送部10Bは容易に遮蔽されることが可能である。
例えば、検出部10Aにおいて放射線81に応じて、第1導電部61aに電荷+Qが誘起される。電荷+Qに応じて、第2導電部61bに電荷-Qが誘起される。これにより、第2導電層62において、電荷+Qが誘起され、電圧が生じる第2導電層62に生じる電圧を検出することで、放射線81を検出できる。例えば、伝送部10Bに放射線81が入射しないことで、伝送部10Bの特性はより安定である。実施形態においては、伝送部10Bが設けられない場合に比べて、安定して高い感度の検出が可能である。
例えば、第1電極51及び有機層35は、基体12の第1面12fに設けられて良い。
図1(a)に示すように、検出部10Aは、シンチレータ層11をさらに含んでも良い。図1(b)においては、シンチレータ層11は省略されている。基体12が設けられる場合、第1電極51は、半導体層31とシンチレータ層11との間にある。第1基体領域12aは、第1電極51とシンチレータ層11との間にある。基体12の第1基体領域12aが省略される場合、第1電極51は、シンチレータ層11と接しても良い。
例えば、検出対象の放射線81が、シンチレータ層11に入射する。シンチレータ層11において、放射線81が光に変換される。生じた光は、半導体層31に入射する。入射した光に基づいて、半導体層31において、移動可能な電荷が生じる。電源71により、第1電極51にバイアス電圧Vbが印加される。これにより、生じた電荷が第1電極51または第1導電部61aに向けて移動する。移動した電荷により信号Sig1が生じる。1つの例において、バイアス電圧Vbは負である。
信号Sig1は、伝送部10B及び第3導電層63を介して、増幅器72に入力される。例えば、増幅器72で増幅された信号がAD変換器73でデジタル信号に変換されても良い。AD変換器73から得られる信号が、検出結果信号Sig2として利用される。これらの電気的な接続は、例えば、配線71L及び72Lなどにより行われて良い。
実施形態において、シンチレータ層11が設けられず、放射線81が半導体層31において電気信号に変換されても良い。
検出部10Aにおいて、第1電極51、第1導電部61a及び半導体層31により、第1キャパシタンスが形成される。一方、伝送部10Bにおいて、第1導電層61、第2導電層62及び有機層35により、第2キャパシタンスが形成される。
例えば、第1電極51と第1導電部61aとが互いに対向する領域の面積が、検出部10Aの面積に対応する。検出部10Aの面積を大きくすることで、放射線81または放射線81基づく光が入射する面積が増大する。これにより、高い検出効率が得られる。例えば、高い感度が得られる。検出部10Aの面積を大きくすると、第1キャパシタンスの電気容量が大きくなる。第1キャパシタンスの電気容量は、第1電極51と第1導電部61aとの間の電気容量に対応する。
例えば、検出部10Aにおいて放射線81に応じた光に応じた電荷により、第1導電部61aに電荷+Qが誘起される。第1導電部61aに誘起された電荷+Qにより、第1導電部61aに電圧V1が生じる。検出部10Aの電気容量が大きくなると、電圧V1の値は小さくなる。伝送部10Bが設けられず電圧V1が検出される参考例においては、検出感度が低い。
実施形態においては、検出部10Aに加えて伝送部10Bが設けられる。伝送部10Bにおいて、第1導電部61aに誘起された電荷+Qに応じて、第2導電部61bに電荷-Qが誘起される。これにより、第2導電層62において、電荷+Qが誘起される。伝送部10Bの第2キャパシタンスを小さくすることで、第2導電層62に生じる電圧V2の値は大きくなる。実施形態においては、伝送部10Bが設けられない場合に比べて、得られる電圧が高くなる。これにより、検出感度を向上できる。実施形態によれば、感度の向上が可能な放射線検出器を提供できる。
さらに伝送部10Bが設けられない参考例では、第1キャパシタンスが増幅器72に接続される。この参考例において、検出部10Aの面積を大きくすると検出信号においてノイズが大きくなりやすいことが分かった。検出部10Aの面積が大きくなり第1キャパシタンスの電気容量が大きくなると、増幅器72におけるノイズが大きくなると考えられる。増幅器72に接続されるキャパシタンスの電気容量が大きくなると、増幅器72のノイズが大きくなることが原因であると考えられる。
実施形態においては、上記の伝送部10Bが設けられる。これにより、増幅器72は、伝送部10Bの第2キャパシタンスに接続されることが可能である。これにより、検出部10Aの面積を大きくした場合でも、増幅器72が接続されるキャパシタンスの電気容量を小さくできる。実施形態においては、検出部10Aの面積を大きくした場合でも、ノイズを抑制できる。
実施形態においては、ノイズを抑制しつつ検出部10Aの面積を大きくできる。実施形態においては、ノイズが生じ易い増幅器72と組み合わせた場合でも、ノイズの発生を抑制できる。ノイズを抑制され、高い感度が得られる実用的な放射線検出器が提供できる。
例えば、増幅器72に供給される信号には、0.1kHz~1GHzの種々の周波数成分が含まれる。放射線81の検出のための周波数範囲は、1kHz~10kHz程度である。参考例において、増幅器72に接続されるキャパシタンスが大きくなると、0.1kHz~1GHzの広い周波数範囲で増幅器72のノイズ強度が高くなる。放射線81の検出のための1kHz~10kHzの周波数範囲においても、増幅器72におけるノイズ強度が高くなる。
増幅器72に接続されるキャパシタンスの電気容量を小さくすることで、増幅器72におけるノイズ強度を低くすることができる。特に、放射線81の検出のための1kHz~10kHzの周波数範囲においては、増幅器72におけるノイズ強度を非常に小さく維持できる。
図2は、第1実施形態に係る放射線検出器に対応する回路図である。
図2に示すように、検出部10Aは第1キャパシタンスC1とみなすことができる。伝送部10Bは、第2キャパシタンスC2とみなすことができる。第2キャパシタンスC2の電気容量は、第1キャパシタンスC1の電気容量よりも小さいことが好ましい。第1キャパシタンスC1は、第1面積S1及び第1距離d1を有する。第1キャパシタンスC1の電気容量は、S1/d1に比例する。第2キャパシタンスC2は、第2面積S2及び第2距離d2を有する。第2キャパシタンスC2の電気容量は、S2/d2に比例する。
例えば、S2/d2は、S1/d1よりも小さい。例えば、S2は、S1よりも小さい。例えば、d2は、d1よりも大きい。
図2に示すように、検出部10Aは、第1面積S1及び第1距離d1を有する。第1面積S1は、第1導電部61a及び第1電極が第1方向で対向する領域の面積である。第1距離d1は、第1導電部61aと第1電極51との間の第1方向(Z軸方向)のおける距離である(図1(a)参照)。図1(b)に示すように、第1面積S1は、第1導電部61a及び第1電極が第1方向で対向する領域の第1長さL1と第1幅w1との積に対応する。
図2に示すように、伝送部10Bは、第2面積S2及び第2距離d2を有する。第2面積S2は、第2導電部61b及び第2導電層62が第2方向(例えばZ軸方向)で対向する領域の面積である。第2距離d2は、第2導電部61bと第2導電層62との間の第2方向(例えばX軸方向)における距離である(図1(a)参照)。図1(a)及び図2(b)に示すように、第2面積S2は、第2導電部61b及び第2導電層62が第2方向(例えばZ軸方向)で対向する領域の第2長さL2と第2幅w2との積である。
例えば、伝送部10Bは、第2面積S2及び第2距離d2の少なくともいずれかを有しても良い。第2面積S2は、第1面積S1よりも小さい。第2距離d2は、第1距離d1よりも長い。
実施形態において、第2導電層62の材料は、第1導電層61の材料とは異なっても良い。例えば、第2導電層62の材料は、第2導電部61bの材料とは異なっても良い。これにより、例えば、伝送部10Bにおいて、電流の向き(または電子の流れる向き)に応じて、抵抗が変化する。
図3は、第1実施形態に係る放射線検出器の一部の特性を例示する模式図である。
図3の横軸は、伝送部10Bにおいて、第1導電層61と第2導電層62との間に印加される電圧Vaである。縦軸は、第1導電層61と第2導電層62との間に流れる電流の絶対値Iaである。同じ電圧Vaの絶対値のときに電流の絶対値Iaが大きい場合は、伝送部10Bの電気抵抗が低い状態に対応する。
例えば、第2導電層62から第1導電層61へ電流が流れるときの第1導電層61と第2導電層62との間の第1電気抵抗は、第1導電層61から第2導電層62へ電流が流れるときの第1導電層61と第2導電層62との間の第2電気抵抗とは異なる。例えば、第1電気抵抗は、第2電気抵抗よりも低い。
このような電気抵抗の違いにより、伝送部10Bに蓄積された電荷を速やかに排出できる。例えば、高い応答速度が得易くなる。
例えば、第1導電層61の材料と、第2導電層62の材料と、を互いに異ならせることで得られる。例えば、材料の差により異なる仕事関数が得られる。これにより、電流の極性による電気抵抗の差が得られる。
例えば、第1導電層61は、Al、Mg、B及びCよりなる群から選択された少なくとも1つを含む。1つの例において、第1導電層61は、Al層を含む。例えば、第2導電層62は、In、Sn及び酸素を含む。1つの例において、第2導電層62は、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)層を含む。材料の違いにより、電流の極性による電気抵抗の差が得られる。
第2導電層62は、第1電極51に含まれる材料と同じ材料を含んでも良い。同じ材料により、第1電極51及び第2導電層62が形成されても良い。これにより、高い生産性が得られる。例えば、検出部10Aにおける第1電極51と第1導電部61aとにおける材料の仕事関数の大小関係は、伝送部10Bにおける第2導電層62と第2導電部61bとにおける材料の仕事関数の大小関係と逆である。
図4は、第1実施形態に係る放射線検出器の特性を例示する模式図である。
図4の横軸は、時間tmである。縦軸は、検出信号SGである。図4には、第1試料SP1及び第2試料SP2の特性が例示されている。第1試料SP1においては、第1導電層61の材料は、第2導電層62の材料と同じである。第2試料SP2においては、第1導電層61の材料は、第2導電層62の材料と異なる。第2試料SP2において、例えば、第1電気抵抗は、第2電気抵抗よりも低い。
図4に示すように、第2試料SP2においては、第1試料SP1よりも高い応答速度の検出信号SGが得られる。第2試料SP2においては、第1試料SP1よりも大きい振幅の検出信号SGが得られる。
図5(a)~図5(c)は、第1実施形態に係る放射線検出器の一部を例示する模式的平面図である。
これらの図において、第1導電層61及び第2導電層62の平面パターンが例示されている。
図5(a)に示すように、実施形態に係る放射線検出器111においては、複数の第1導電層61(複数の第2導電部61b)と、複数の第2導電層62と、が設けられる。この例では、複数の第2導電部61bと複数の第2導電層62とは、X軸方向に沿って交互に並ぶ。
図5(b)に示すように、実施形態に係る放射線検出器112においては、第1導電層61の第2導電部61bと、第2導電層62と、は、Y軸方向において対向する。この場合、第2方向は、Y軸方向に対応する。
図5(c)に示すように、実施形態に係る放射線検出器113においては、複数の第1導電層61(複数の第2導電部61b)と、複数の第2導電層62と、が設けられる。この例では、複数の第2導電部61bと複数の第2導電層62とは、Y軸方向に沿って交互に並ぶ。
複数の第2導電部61bと、複数の第2導電層62と、が設けられる場合、第2キャパシタンスの電気容量は、複数の第2導電部61bと、複数の第2導電層62と、がそれぞれ対向する領域の電気容量に基づく。
図6は、第1実施形態に係る放射線検出器の一部を例示する模式的平面図である。
これらの図において、第1導電層61及び第2導電層62の平面パターンが例示されている。
図6に示すように、実施形態に係る放射線検出器114においては、複数の伝送部10Bが設けられる。複数の伝送部10Bにおいて、例えば、第2導電部61bと第2導電層62とを含む構造の数が違いに異なる。例えば異なる電気容量が得られる。複数の伝送部10Bを選択することで、検出信号の時定数を調整できる。
図7(a)及び図7(b)は、第1実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。
図7(a)は、図7(b)のA1-A2線断面図である。図7(b)は、放射線検出器に含まれる一部が抜き出されて描かれた平面図である。
図7(a)に示すように、実施形態に係る放射線検出器115においても、検出部10A及び伝送部10Bが設けられる。放射線検出器115においては、伝送部10Bは、第1導電層61、第2導電層62及び有機層35に加えて、第1光吸収層41をさらに含む。伝送部10Bは、第2光吸収層42をさらに含んでも良い。放射線検出器115におけるこれを除く構成は、放射線検出器110~113と同様でよい。
第1光吸収層41は、有機層35と基体12との間にある。第1光吸収層41における光の吸収率は、有機層35における光の吸収率よりも高い。光の波長は、例えば可視光の波長である。可視光の波長は、例えば、480nm以上680nm以下で良い。
このような第1光吸収層41が設けられることで、光が有機層35に入射することが抑制できる。例えば、シンチレータ層11で生じた光が基体12を通過して伝送部10Bに伝搬する可能性がある。第1光吸収層41が設けられることで、光が有機層35に入射することが抑制できる。伝送部10Bにおいてリークが抑制できる。例えば、ノイズをより抑制できる。適正な信号が得易くなる。
有機層35は、第2光吸収層42と第1光吸収層41との間に設けられても良い。これにより、基体12とは逆の方向から光が有機層35に入射することが抑制できる。伝送部10Bにおいてリークが抑制できる。適正な信号が得易くなる。第2光吸収層42における光の吸収率は、有機層35における光の吸収率よりも高い。
第1光吸収層41及び第2光吸収層42は、例えば絶縁性である。第1光吸収層41及び第2光吸収層42は、例えば、光吸収剤などを含む有機材料を含んで良い。光吸収剤は、例えば、顔料を含む。顔料は、例えばカーボンブラックを含んで良い。顔料は、例えば、金属酸化物(例えば光吸収性の酸化チタンなど)を含んでも良い。光吸収剤は、有機顔料を含んでも良い。上記の有機材料は、例えば、PET(polyethylene terephthalate)、PEN(polyethylene naphthalate)、Polyimide、及び、PC(polycarbonate)よりなる群から選択された少なくとも1つを含んで良い。上記の有機材料は、例えば、PVT(Polyvinyl toluene)、PVK(Polyvinylcarbazole)、及び、PMMA(Polymethyl methacrylate)よりなる群から選択された少なくとも1つを含んでも良い。光吸収層に含まれる上記の有機材料は、例えば、シンチレータ層11に含まれる有機材料を同じ材料を含んで良い。
(第2実施形態)
図8(a)及び図8(b)は、第2実施形態に係る放射線検出器を例示する模式図である。
図8(a)は、図8(b)のA1-A2線断面図である。図8(b)は、放射線検出器に含まれる一部が抜き出されて描かれた平面図である。
図8(a)に示すように、実施形態に係る放射線検出器120は、検出部10A及び伝送部10Bを含む。検出部10Aは、検出部10Aに入射する放射線81に応じた信号Sig1を出力可能である。伝送部10Bは、第1導電層61、第2導電層62及び有機層35を含む。第1導電層61は、検出部10Aと電気的に接続される。
放射線検出器120においては、検出部10Aは、第1電極51、第2電極52及び半導体層31を含む。半導体層31は、第1方向(Z軸方向)において、第2電極52と第1電極51との間にある。第2電極52は、第1導電層61と電気的に接続される。例えば、第1導電層61の第1導電部61aが、第2電極52と電気的に接続される。
第1方向(Z軸方向)と交差する第2方向において、有機層35の少なくとも一部は、第1導電層61と第2導電層62との間にある。
このように、第1導電層61の第1導電部61aとは別に第2電極52が設けられても良い。このような放射線検出器120においても、検出部10Aの面積を大きくした場合でも、高い強度の信号出力が得られる。例えば、増幅器72と組み合わせることにより、微弱な信号検出を可能になる。例えば、増幅器72と組み合わせた場合において、ノイズの発生を抑制できる。感度の向上が可能な放射線検出器を提供できる。
放射線検出器120においても、伝送部10Bの電気容量は、検出部10Aの電気容量よりも小さいことが好ましい。例えば、検出部10Aは、第2電極52及び第1電極51が第1方向(Z軸方向)で対向する領域の第1面積S1と、第2電極52と第1電極51との間の第1方向のおける第1距離d1と、を有する(図8(a)参照)。伝送部10Bは、第2面積S2及び第2距離d2の少なくともいずれかを有する。第2面積S2は、第1導電層61及び第2導電層62が第2方向で対向する領域の面積である。第2面積S2は、第1面積S1よりも小さい。第2距離d2は、第1導電層61と第2導電層62との間の第2方向における距離である(図8(a)参照)。第2距離d2は、第1距離d1よりも長い。例えば、S2/d2は、S1/d1よりも小さい。例えば、S2は、S1よりも小さい。例えば、d2は、d1よりも大きい。
第1面積S1は、第2電極52及び第1電極が第1方向で対向する領域の第1長さL1と第1幅w1との積に対応する。第2面積S2は、第1導電層61(第2導電部61bでも良い)及び第2導電層62が第2方向(例えばZ軸方向)で対向する領域の第2長さL2と第2幅w2との積である。
放射線検出器120においても、第2導電層62の材料は、第1導電層61の材料とは異なることが好ましい。例えば、伝送部10Bの電気抵抗は、極性に対して非対称で良い。例えば、第2導電層62から第1導電層61へ電流が流れるときの第1導電層61と第2導電層62との間の電気抵抗は、第1導電層61から第2導電層62へ電流が流れるときの第1導電層61と第2導電層62との間の電気抵抗よりも低い。例えば、伝送部10Bに蓄積された電荷を速やかに排出できる。例えば、高い応答速度が得易くなる。
放射線検出器110~115及び120において、有機層35は、半導体層31に含まれる材料と同じ材料を含んでも良い。有機層35において、適度な絶縁性が得られる。蓄積された電界を適度な速度で排出できる。
放射線検出器110~115及び120において、有機層35の一部は、第1導電層61から第2導電層62への方向と交差する方向(例えば第1方向であるZ軸方向)において、第1導電層61及び第2導電層62と重なっても良い。これにより、伝送部10Bの特性が安定化し易くなる。
実施形態において、半導体層31は、例えば、p形領域及びn形領域を含む。p形領域は、例えば、ポリチオフェン及びポリチオフェンの誘導体の少なくともいずれかを含む。n形領域は、例えば、フラーレン及びフラーレン誘導体よりなる群から選択された少なくとも1つを含んで良い。1つの例において、半導体層31は、例えば、Poly(3-hexylthiophene)と、[6,6]-phenyl C61 butyric acid methyl esterと、を含む。p形領域は、例えば、サブフタロシアニンまたはサブフタロシアニンの誘導体を含んで良い。p形領域は、例えば、ポリチオフェンまたはポリチオフェンの誘導体を含んで良い。
シンチレータ層11は、例えば、PVT(Polyvinyl toluene)、PVK(Polyvinylcarbazole)、及び、PMMA(Polymethyl methacrylate)よりなる群から選択された少なくとも1つを含む。
基体12は、例えば、樹脂を含む。樹脂は、例えば、PET(polyethylene terephthalate)、PEN(polyethylene naphthalate)、Polyimide、及び、PC(polycarbonate)よりなる群から選択された少なくとも1つを含む。
実施形態において、放射線検出器における感度はβ線において高く、他の放射線において低くても良い。例えば、ベータ線が検出部10Aに入射したときに検出部10Aに生じる第1信号の感度は、ガンマ線、中性子線及びX線の少なくともいずれかが検出部10Aに入射したときに検出部10Aに生じる第2信号の感度よりも高い。有機のシンチレータ層11と半導体層31との組み合わせにより、β線の検出において、高い選択性が得られる。
実施形態は、以下の構成(例えば技術案)を含んでも良い。
(構成1)
検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な検出部と、
伝送部と、
を備え、
前記伝送部は、
前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
前記第1導電層から離れた第2導層と、
有機層と、
を含み、
前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にある、放射線検出器。
(構成2)
前記検出部は、第1電極及び半導体層を含み、
前記第1導電層は、第1導電部と第2導電部とを含み、
前記半導体層は、第1方向において、前記第1導電部と前記第1電極との間にあり、
前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第2導電部と前記第2導電層との間にある、
構成1記載の放射線検出器。
(構成3)
前記検出部は、前記第1導電部及び前記第1電極が第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第1導電部と前記第1電極との間の前記第1方向のおける第1距離と、を有し、
前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
前記第2面積は、前記第2導電部及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
前記第2距離は、前記第2導電部と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、構成2記載の放射線検出器。
(構成4)
前記第2導電層の材料は、前記第2導電部の材料とは異なる、構成2または3に記載の放射線検出器。
(構成5)
前記検出部は、第1電極、第2電極及び半導体層を含み、
前記半導体層は、第1方向において、前記第2電極と前記第1電極との間にあり、
前記第2電極は、前記第1導電層と電気的に接続され、
前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にある、構成1記載の放射線検出器。
(構成6)
前記検出部は、前記第2電極及び前記第1電極が第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第2電極と前記第1電極との間の前記第1方向のおける第1距離と、を有し、
前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
前記第2面積は、前記第1導電層及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
前記第2距離は、前記第1導電層と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、構成5記載の放射線検出器。
(構成7)
前記第2導電層の材料は、前記第1導電層の材料とは異なる、構成5または6に記載の放射線検出器。
(構成8)
第1基体領域及び第2基体領域を含む基体をさらに備え、
前記第1電極の少なくとも一部は、前記第1方向において、前記半導体層と前記第1基体領域との間にある、
前記有機層の前記少なくとも一部から前記第2基体領域への方向は、前記第1方向に沿う、構成2~7のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成9)
前記検出部は、シンチレータ層をさらに含み、
前記第1電極は、前記半導体層と前記シンチレータ層との間にあり、
前記第1基体領域は、前記第1電極と前記シンチレータ層との間にある、構成8記載の放射線検出器。
(構成10)
第1光吸収層をさらに備え、
前記第1光吸収層は、前記有機層と前記基体との間にあり、
前記第1光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の吸収率よりも高い、構成8または9に記載の放射線検出器。
(構成11)
第2光吸収層をさらに備え、
前記有機層は、前記第2光吸収層と前記第1光吸収層との間にあり、
前記第2光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の前記吸収率よりも高い、構成10記載の放射線検出器。
(構成12)
第1光吸収層及第2光吸収層をさらに備え、
前記有機層は、前記第2光吸収層と前記第1光吸収層との間にあり、
前記第1光吸収層における光の吸収率、及び、前記第2光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の吸収率よりも高い、構成2~7のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成13)
前記第1光吸収層は、絶縁性である、構成10~12のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成14)
前記検出部は、シンチレータ層をさらに含み、
前記第1電極は、前記半導体層と前記シンチレータ層との間にある、構成2~7のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成15)
前記有機層は、前記半導体層に含まれる材料と同じ材料を含む、構成2~14のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成16)
前記第2導電層は、前記第1電極に含まれる材料と同じ材料を含む、構成2~15のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成17)
前記第1電極は、In、Sn及び酸素を含む、構成2~16のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成18)
前記第1導電層は、Al、Mg、B及びCよりなる群から選択された少なくとも1つを含む、構成2~17のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成19)
前記第2導電層から前記第1導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗は、前記第1導電層から前記第2導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗よりも低い、構成1~18のいずれか1つに記載の放射線検出器。
(構成20)
前記有機層の一部は、前記第1導電層から前記第2導電層への方向と交差する方向において、第1導電層及び第2導電層と重なる、構成1~19のいずれか1つに記載の放射線検出器。
実施形態によれば、感度の向上が可能な放射線検出器が提供できる。
本願明細書において、「電気的に接続される状態」は、複数の導電体が物理的に接してこれら複数の導電体の間に電流が流れる状態を含む。「電気的に接続される状態」は、複数の導電体の間に、別の導電体が挿入されて、これらの複数の導電体の間に電流が流れる状態を含む。
本願明細書において、「垂直」及び「平行」は、厳密な垂直及び厳密な平行だけではなく、例えば製造工程におけるばらつきなどを含むものであり、実質的に垂直及び実質的に平行であれば良い。
以上、例を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの例に限定されるものではない。例えば、放射線検出器に含まれる検出部、伝送部、導電層、有機層、シンチレータ層、電極、半導体層及び基体などの各要素の具体的な構成に関しては、当業者が公知の範囲から適宜選択することにより本発明を同様に実施し、同様の効果を得ることができる限り、本発明の範囲に包含される。
各例のいずれか2つ以上の要素を技術的に可能な範囲で組み合わせたものも、本発明の要旨を包含する限り本発明の範囲に含まれる。
本発明の実施の形態として上述した放射線検出器を基にして、当業者が適宜設計変更して実施し得る全ての放射線検出器も、本発明の要旨を包含する限り、本発明の範囲に属する。
本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10A…検出部、 10B…伝送部、 11…シンチレータ層、 12…基体、 12a、12b…第1、第2基体領域、 12f…第1面、 31…半導体層、 35…有機層、 41、42…第1、第2光吸収層、 51、52…第1、第2電極、 61~63…第1~第3導電層、 61a、61b…第1、第2導電部、 71…電源、 71L、72L…配線、 72…増幅器、 73…A/D変換器、 75…筐体、 81…放射線、 110~115、120…放射線検出器、 C1、C2…第1、第2キャパシタンス、 Ia…絶対値、 L1、L2…第1、第2長さ、 S1、S2…第1、第2面積、 SG…検出信号、 SP1、SP2…第1、第2試料、 Sig1…信号、 Sig2…検出結果信号、 Va…電圧、 Vb…バイアス電圧、 d1、d2…第1、第2距離、 tm…時間、 w1、w2…第1、第2幅

Claims (10)

  1. 検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な前記検出部と、
    伝送部と、
    を備え、
    前記伝送部は、
    前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
    前記第1導電層から離れた第2導電層と、
    有機層と、
    を含み、
    前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にあ
    前記検出部は、第1電極及び半導体層を含み、
    前記第1導電層は、第1導電部と第2導電部とを含み、
    前記半導体層は、第1方向において、前記第1導電部と前記第1電極との間にあり、
    前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第2導電部と前記第2導電層との間にある、放射線検出器。
  2. 前記検出部は、前記第1導電部及び前記第1電極が前記第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第1導電部と前記第1電極との間の前記第1方向おける第1距離と、を有し、
    前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
    前記第2面積は、前記第2導電部及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
    前記第2距離は、前記第2導電部と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、請求項記載の放射線検出器。
  3. 検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な前記検出部と、
    伝送部と、
    を備え、
    前記伝送部は、
    前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
    前記第1導電層から離れた第2導電層と、
    有機層と、
    を含み、
    前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にあり、
    前記検出部は、第1電極、第2電極及び半導体層を含み、
    前記半導体層は、第1方向において、前記第2電極と前記第1電極との間にあり、
    前記第2電極は、前記第1導電層と電気的に接続され、
    前記第1方向と交差する第2方向において、前記有機層の前記少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にある、放射線検出器。
  4. 前記検出部は、前記第2電極及び前記第1電極が前記第1方向で対向する領域の第1面積と、前記第2電極と前記第1電極との間の前記第1方向おける第1距離と、を有し、
    前記伝送部は、第2面積及び第2距離の少なくともいずれかを有し、
    前記第2面積は、前記第1導電層及び前記第2導電層が前記第2方向で対向する領域の面積であり、前記第2面積は、前記第1面積よりも小さく、
    前記第2距離は、前記第1導電層と前記第2導電層との間の前記第2方向における距離であり、前記第2距離は、前記第1距離よりも長い、請求項記載の放射線検出器。
  5. 第1光吸収層及第2光吸収層をさらに備え、
    前記有機層は、前記第2光吸収層と前記第1光吸収層との間にあり、
    前記第1光吸収層における光の吸収率、及び、前記第2光吸収層における光の吸収率は、前記有機層における前記光の吸収率よりも高い、請求項のいずれか1つに記載の放射線検出器。
  6. 前記検出部は、シンチレータ層をさらに含み、
    前記第1電極は、前記半導体層と前記シンチレータ層との間にある、請求項のいずれか1つに記載の放射線検出器。
  7. 前記有機層は、前記半導体層に含まれる材料と同じ材料を含む、請求項のいずれか1つに記載の放射線検出器。
  8. 前記第2導電層は、前記第1電極に含まれる材料と同じ材料を含む、請求項のいずれか1つに記載の放射線検出器。
  9. 前記第2導電層から前記第1導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗は、前記第1導電層から前記第2導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗よりも低い、請求項1~のいずれか1つに記載の放射線検出器。
  10. 検出部であって、前記検出部に入射する放射線に応じた信号を出力可能な前記検出部と、
    伝送部と、
    を備え、
    前記伝送部は、
    前記検出部と電気的に接続され前記信号を伝送可能な第1導電層と、
    前記第1導電層から離れた第2導電層と、
    有機層と、
    を含み、
    前記有機層の少なくとも一部は、前記第1導電層と前記第2導電層との間にあ
    前記第2導電層から前記第1導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗は、前記第1導電層から前記第2導電層へ電流が流れるときの前記第1導電層と前記第2導電層との間の電気抵抗よりも低い、放射線検出器。
JP2021035006A 2021-03-05 2021-03-05 放射線検出器 Active JP7422698B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021035006A JP7422698B2 (ja) 2021-03-05 2021-03-05 放射線検出器
US17/460,451 US11968849B2 (en) 2021-03-05 2021-08-30 Radiation detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021035006A JP7422698B2 (ja) 2021-03-05 2021-03-05 放射線検出器

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2022135288A JP2022135288A (ja) 2022-09-15
JP2022135288A5 JP2022135288A5 (ja) 2023-05-01
JP7422698B2 true JP7422698B2 (ja) 2024-01-26

Family

ID=83116400

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021035006A Active JP7422698B2 (ja) 2021-03-05 2021-03-05 放射線検出器

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11968849B2 (ja)
JP (1) JP7422698B2 (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009074817A (ja) 2007-09-19 2009-04-09 Hitachi Ltd 半導体検出器モジュール、および該半導体検出器モジュールを用いた放射線検出装置または核医学診断装置
JP2009094465A (ja) 2007-09-21 2009-04-30 Fujifilm Corp 放射線撮像素子
US20120181440A1 (en) 2011-01-19 2012-07-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Pastes For Photoelectric Conversion Layers Of X-Ray Detectors, X-Ray Detectors And Methods Of Manufacturing The Same
JP2012199551A (ja) 2005-08-31 2012-10-18 Canon Inc 放射線検出装置、放射線撮像装置および放射線撮像システム

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8008627B2 (en) * 2007-09-21 2011-08-30 Fujifilm Corporation Radiation imaging element
JP6735215B2 (ja) 2016-11-21 2020-08-05 株式会社東芝 放射線検出器

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012199551A (ja) 2005-08-31 2012-10-18 Canon Inc 放射線検出装置、放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP2009074817A (ja) 2007-09-19 2009-04-09 Hitachi Ltd 半導体検出器モジュール、および該半導体検出器モジュールを用いた放射線検出装置または核医学診断装置
JP2009094465A (ja) 2007-09-21 2009-04-30 Fujifilm Corp 放射線撮像素子
US20120181440A1 (en) 2011-01-19 2012-07-19 Samsung Electronics Co., Ltd. Pastes For Photoelectric Conversion Layers Of X-Ray Detectors, X-Ray Detectors And Methods Of Manufacturing The Same

Also Published As

Publication number Publication date
JP2022135288A (ja) 2022-09-15
US20220285441A1 (en) 2022-09-08
US11968849B2 (en) 2024-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11226421B2 (en) Radiation detector
JP6670785B2 (ja) 放射線検出器
KR20180090319A (ko) 퀀텀닷 광 검출기 장치 및 관련 방법들
US20180277779A1 (en) Radiation detector
JP2018085387A (ja) 放射線検出器
US20110074283A1 (en) Silicon photomultiplier tube
JP7422698B2 (ja) 放射線検出器
US10761222B2 (en) Detection element and detector
US11947057B2 (en) Photodetector and radiation detector
JP6788568B2 (ja) 光電変換素子及び放射線検出器
US10714699B2 (en) Detecting element and detector
JP2024025930A (ja) 放射線検出器
US12092775B2 (en) Radiation detector
US20220140244A1 (en) Radiation detector
JP6790008B2 (ja) 検出素子および検出器
JP6952148B2 (ja) 光検出器
US20230292535A1 (en) Detector
US11650336B2 (en) Radiation detector
JP3532958B2 (ja) 光電変換素子
KR20220037230A (ko) 엑스선 검출기
JP2019054161A (ja) 光電変換素子及び放射線検出器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230214

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230421

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20230616

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20231019

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231020

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231218

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240116

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7422698

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150