JP7407614B2 - 基板加熱装置および基板処理システム - Google Patents
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Description
この構成によれば、基板と基板加熱部との間に遮蔽板が設けられていることで、基板からチャンバの天面及び基板加熱部へ向かう昇華物を遮蔽板で遮ることができる。したがって、チャンバの天面及び基板加熱部への昇華物の付着を抑制することができる。
加えて、チャンバの天面への昇華物の付着を抑制することにより、チャンバの天面を清掃するために基板加熱部を取り外す等の手間を省くことができる。
さらに、複数の遮蔽板が設けられていることで、単一の遮蔽板(例えばG6サイズの大型の遮蔽板)が設けられている場合と比較して、遮蔽板を交換しやすいため、メンテナンス性に優れる。
また、チャンバの天面及び基板加熱部への昇華物の付着を抑制することにより、基板に昇華物が直接落下することを抑制することができる。仮に、昇華物がチャンバの天面や基板加熱部に付着した場合でも、基板と基板加熱部との間に複数の遮蔽板が設けられていることにより、基板に昇華物が直接落下することを抑制することができる。
この構成によれば、赤外線が遮蔽板を透過することによるロスを可及的に抑えることができる。
この構成によれば、遮蔽板が矩形板状の場合と比較して、遮蔽板の剛性を高めることができる。加えて、遮蔽板が複数の横架部材によって支持される場合には、横架部材の本数を可及的に減らすことができる。
この構成によれば、遮蔽板が湾曲する部分において遮蔽板の長手方向に沿って昇華物の流れを作ることができるため、チャンバの天面及び基板加熱部への昇華物の付着をより効果的に抑制することができる。加えて、遮蔽板が湾曲する部分に昇華物が付着した場合には、昇華物を除去しやすいためメンテナンス性に優れる。さらに、隣り合う2つの遮蔽板の間に隙間があっても、隙間から昇華物が漏れにくい。
この構成によれば、基板加熱部から基板へ向かう赤外線を第一端面及び第二端面によって拡散することができるため、基板を満遍なく加熱することができる。
この構成によれば、隣り合う2つの遮蔽板が互いに接する場合と比較して、影が生じにくいため、基板の加熱ムラを抑制することができる。
この構成によれば、複数の横架部材によって遮蔽板を安定して支持することができる。
この構成によれば、第一横架部材及び第二横架部材によって遮蔽板の長手方向の両端が支持されるため、遮蔽板をより安定して支持することができる。加えて、遮蔽板の長手方向の両端のみが支持される場合には、横架部材によって遮蔽板の長手方向の中央部が支持される場合と比較して、影が生じることによる基板の加熱ムラを抑えることができる。
この構成によれば、ポリイミドの形成時において、チャンバの天面及び基板加熱部への昇華物の付着を抑制することができる。
この構成によれば、基板処理システムにおいて、チャンバの天面及び基板加熱部への昇華物の付着を抑制することができる。
図1は、実施形態に係る基板加熱装置1の斜視図である。
図1に示すように、基板加熱装置1は、チャンバ2、圧力調整部3、ガス供給部4、ヒータユニット6(基板加熱部)、ベースプレート7、温度検知部9、圧力検知部14、気体液化回収部11、冷却部17(図2参照)、遮熱部30、遮蔽部40、遮蔽支持部50及び制御部15を備える。制御部15は、基板加熱装置1の構成要素を統括制御する。
なお、図1においては、チャンバ2を二点鎖線で示している。
チャンバ2の内部には、基板10を収容可能な収容空間2Sが形成されている。基板10及びヒータユニット6は、共通のチャンバ2に収容されている。チャンバ2は、直方体の箱状に形成されている。
下部構造体22は、天板25と対向する矩形板状の底板27と、底板27の外周縁に繋がる矩形枠状の下部周壁28と、を備える。下部周壁28には、不活性ガスをチャンバ2内に供給するためのゲート29が設けられている。
圧力調整部3は、チャンバ2内の圧力を調整可能である。図1に示すように、圧力調整部3は、チャンバ2に接続された真空配管3aを含む。真空配管3aは、Z方向に延在する円筒状の配管である。例えば、真空配管3aは、X方向に間隔をあけて複数配置されている。図1においては、1つの真空配管3aのみを示している。なお、真空配管3aの設置数は限定されない。真空配管3aはチャンバ2に接続されていればよく、真空配管3aの接続部位は限定されない。図2の例では、真空引きのラインがチャンバ2の底板27に設けられている(図2中矢印Vacuum)。
なお、基板10への塗布物(被処理物)は、ポリイミド形成用液に限定されず、基板10に所定の膜を形成するためのものであればよい。
また、後述するガス供給部4のように、圧力調整部3とは別に不活性ガス供給機構が設けられていてもよい。
ガス供給部4は、チャンバ2の内部雰囲気の状態を調整可能である。ガス供給部4は、チャンバ2に接続されたガス供給配管4aを含む。ガス供給配管4aは、Z方向に延在する円筒状の配管である。例えば、ガス供給配管4aは、X方向に間隔をあけて複数配置されている。図1においては、1つのガス供給配管4aのみを示している。なお、ガス供給配管4aの設置数は限定されない。真空配管3aは、チャンバ2に接続されていればよく、ガス供給配管4aの接続部位は限定されない。
例えば、基板10に塗布されたポリイミド形成用液を硬化するときの雰囲気において、このように酸素濃度を好ましい上限以下とすることにより、ポリイミド形成用液の硬化を進行しやすくすることができる。
なお、図2中矢印EXHは、チャンバ2内の気体をチャンバ2外に排出するために下部周壁28に設けられた排気ラインを示す。
図1に示すように、ヒータユニット6は、チャンバ2内の上方に配置されている。図2に示すように、ヒータユニット6は、天板25に支持されている。ヒータユニット6と天板25との間には、ヒータユニット6を支持する支持部材19が設けられている。ヒータユニット6は、チャンバ2内の天板25寄りで定位置に固定されている。ヒータユニット6の赤外線ヒータ140は、支持部材19によって天板25に吊り下げられている。
図3に示すように、ヒータユニット6は、複数(例えば本実施形態では20台)の赤外線ヒータ140を備える。複数の赤外線ヒータ140は、個別に制御可能とされている。制御部15(図1参照)は、複数の赤外線ヒータ140を個別に制御可能である。
第一カバー部143は、4つのベンド部142b,142d,142f,142hを第一方向V1の一方側から覆っている。
第二カバー部144は、4つのベンド部142a,142c,142e,142gを第一方向V1の他方側から覆っている。
ヒータユニット6は、一対の第一赤外線ヒータ群140Aと、一対の第二赤外線ヒータ群140Bと、を備える。第一赤外線ヒータ群140Aと第二赤外線ヒータ群140Bとは、第二方向V2に交互に敷き詰めて配置されている。
図1に示すように、ベースプレート7は、チャンバ2内の下方に配置されている。ベースプレート7は、基板10の第一面10aとは反対側の第二面10b(下面)の側に配置されている。図2に示すように、ベースプレート7は、チャンバ2の底板27の側に配置されている。ベースプレート7は、矩形板状をなしている。ベースプレート7には、基板10を下方から支持する支持ピン8が設けられている。
温度検知部9は、収容空間2Sに配置されている。温度検知部9は、基板10の温度を検知可能である。例えば、温度検知部9は、熱電対である。温度検知部9は、支持ピン8に取り付けられている。温度検知部9は、実質的に水平方向に延在している。温度検知部9の先端は、基板10の第二面10bに対向している。
また、温度検知部9は、熱電対に限らない。例えば、温度検知部9は、放射温度計等の非接触温度センサであってもよい。例えば、温度検知部9は、非接触温度センサに限らず、接触式温度センサであってもよい。
圧力検知部14(図1参照)は、収容空間2Sの圧力(以下「チャンバ内圧力」ともいう。)を検知可能である。例えば、圧力検知部14の本体部(センサ)は、チャンバ2内に配置されている。例えば、圧力検知部14の表示部(圧力表示器)は、チャンバ2外に配置されている。例えば、圧力検知部14は、デジタル圧力センサである。なお、図1では圧力検知部14を1つのみ図示しているが、圧力検知部14の数は1つに限らず、複数であってもよい。
図1に示すように、気体液化回収部11は、圧力調整部3(真空ポンプ13)のラインに接続されている。気体液化回収部11は、圧力調整部3のラインにおいて真空ポンプ13よりも下流側に配置されている。気体液化回収部11は、真空配管3aを通る気体を液化するとともに、基板10に塗布されたポリイミド形成用液から揮発した溶媒を回収可能である。
冷却部17は、チャンバ2を冷却可能である。図2に示すように、冷却部17は、チャンバ2の構成部材の内部に配置されるとともに、冷媒を通過可能とする冷媒通過部18を備える。例えば、冷媒は、水等の液体である。冷媒通過部18には、不図示のポンプによって冷媒が流れるようになっている。図示はしないが、冷媒通過部18には冷媒の供給口及び排出口が設けられている。なお、冷媒は、水等の液体に限定されない。例えば、冷媒は、空気等の気体であってもよい。
なお、冷媒通過部18は、上部周壁26には設けられていない。上部周壁26には、チャンバ固定用のボルト(不図示)が設けられるためである。
遮熱部30は、ヒータユニット6とチャンバ2との間に配置されている。これにより、ヒータユニット6からの赤外線がチャンバ2に直に照射されることを防ぐことができる。遮熱部30は、複数の遮熱板31を備える。遮熱部30は、複数の遮熱板31をその厚み方向に間隔をあけて配置した構造体である。本実施形態では、遮熱部30は、3枚の遮熱板31を備える。例えば、遮熱板31は、ステンレス鋼(SUS)等の金属で形成されている。なお、遮熱板31は、金属に限らず、要求仕様に応じて種々の材料で形成することができる。
遮蔽部40は、基板10とヒータユニット6との間に設けられている。遮蔽部40は、基板10を上方から覆うように配置されている。図5に示すように、遮蔽部40は、赤外線を透過し、かつ、基板加熱時の昇華物を遮る複数の遮蔽板41を備える。複数の遮蔽板41は、それぞれ共通である。複数の遮蔽板41は、それぞれ略同じ高さに設置されている。
図2に示すように、遮蔽支持部50は、基板10とヒータユニット6との間に設けられている。遮蔽支持部50は、遮蔽板41を支持する複数の横架部材51,52を備える。複数の横架部材51,52は、それぞれ共通である。
図7は、実施形態に係る遮蔽板41の作用を説明するための図である。
上述した通り、遮蔽板41は、基板10とヒータユニット6との間に設けられている。そのため、基板10からチャンバ2の天面(天板25の下面)及びヒータユニット6へ向かう昇華物(図7中矢印W1方向に流れる昇華物)を遮蔽板41で遮ることができる。
以上のように、本実施形態によれば、基板加熱装置1は、基板10を収容可能な収容空間2Sが内部に形成されたチャンバ2と、基板10の第一面10a側に配置されるとともに、基板10を赤外線によって加熱可能なヒータユニット6と、基板10とヒータユニット6との間に設けられ、赤外線を透過し、かつ、基板加熱時の昇華物を遮る複数の遮蔽板41と、を含む。
この構成によれば、基板10とヒータユニット6との間に遮蔽板41が設けられていることで、基板10からチャンバ2の天面及びヒータユニット6へ向かう昇華物を遮蔽板41で遮ることができる。したがって、チャンバ2の天面及びヒータユニット6への昇華物の付着を抑制することができる。
加えて、チャンバ2の天面への昇華物の付着を抑制することにより、チャンバ2の天面を清掃するためにヒータユニット6を取り外す等の手間を省くことができる。
さらに、複数の遮蔽板41が設けられていることで、単一の遮蔽板(例えばG6サイズの大型の遮蔽板)が設けられている場合と比較して、遮蔽板41を交換しやすいため、メンテナンス性に優れる。
また、チャンバ2の天面及びヒータユニット6への昇華物の付着を抑制することにより、基板10に昇華物が落下することを抑制することができる。仮に、昇華物がチャンバ2の天面やヒータユニット6に付着した場合でも、基板10とヒータユニット6との間に複数の遮蔽板41が設けられていることにより、基板10に昇華物が直接落下することを抑制することができる。
赤外線が遮蔽板41を透過することによるロスを可及的に抑えることができる。
遮蔽板41が矩形板状の場合と比較して、遮蔽板41の剛性を高めることができる。加えて、遮蔽板41が複数の横架部材51,52によって支持される場合には、横架部材51,52の本数を可及的に減らすことができる。
遮蔽板41が湾曲する部分において遮蔽板41の長手方向に沿って昇華物の流れを作ることができるため、チャンバ2の天面及びヒータユニット6への昇華物の付着をより効果的に抑制することができる。加えて、遮蔽板41が湾曲する部分に昇華物が付着した場合には、昇華物を除去しやすいためメンテナンス性に優れる。さらに、隣り合う2つの遮蔽板41の間に隙間42があっても、隙間42から昇華物が漏れにくい。
ヒータユニット6から基板10へ向かう赤外線を第一端面41a及び第二端面41bによって拡散することができるため、基板10を満遍なく加熱することができる。
隣り合う2つの遮蔽板41が互いに接する場合と比較して、影が生じにくいため、基板10の加熱ムラを抑制することができる。
複数の横架部材51,52によって遮蔽板41を安定して支持することができる。
第一横架部材51及び第二横架部材52によって遮蔽板41の長手方向の両端が支持されるため、遮蔽板41をより安定して支持することができる。加えて、遮蔽板41の長手方向の両端のみが支持される場合には、横架部材によって遮蔽板41の長手方向の中央部が支持される場合と比較して、影が生じることによる基板10の加熱ムラを抑えることができる。
ポリイミドの形成時において、チャンバ2の天面及びヒータユニット6への昇華物の付着を抑制することができる。
なお、上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、設計要求等に基づき種々変更可能である。
上記実施形態においては、基板加熱部は、複数の赤外線ヒータを備えるヒータユニットであるが、これに限らない。例えば、基板加熱部は、単一の赤外線ヒータであってもよい。
この構成によれば、上記基板加熱装置を含むことで、基板処理システムにおいて、チャンバの天面及び基板加熱部への昇華物の付着を抑制することができる。
Claims (10)
- 基板を収容可能な収容空間が内部に形成されたチャンバと、
前記基板の一方面側に配置されるとともに、前記基板を赤外線によって加熱可能な基板加熱部と、
前記基板と前記基板加熱部との間に設けられ、前記赤外線を透過し、かつ、基板加熱時の昇華物を遮る複数の遮蔽板と、を含み、
前記遮蔽板は、前記赤外線の照射方向に対して交差するように延びており、
前記遮蔽板は、前記遮蔽板の長手方向から見て弧状に湾曲している
基板加熱装置。 - 前記遮蔽板は、前記基板加熱部に向かって凸をなすように湾曲している
請求項1に記載の基板加熱装置。 - 前記遮蔽板は、
前記遮蔽板の短手方向の一端に形成された第一端面と、
前記遮蔽板の前記短手方向の他端に形成された第二端面と、を備え、
前記第一端面及び前記第二端面は、前記遮蔽板の前記長手方向から見て互いに直交するように配置されている
請求項2に記載の基板加熱装置。 - 隣り合う2つの前記遮蔽板の間には、隙間が設けられている
請求項1から3のいずれか一項に記載の基板加熱装置。 - 前記基板と前記基板加熱部との間に設けられ、前記赤外線の照射方向に対して交差するように延びる複数の横架部材を更に備え、
前記遮蔽板は、前記複数の横架部材に支持されている
請求項1から4のいずれか一項に記載の基板加熱装置。 - 前記遮蔽板は、前記横架部材の長手方向に対して交差するように延びており、
前記複数の横架部材は、
前記遮蔽板の長手方向の一端に設けられた第一横架部材と、
前記遮蔽板の長手方向の他端に設けられた第二横架部材と、である
請求項5に記載の基板加熱装置。 - 基板を収容可能な収容空間が内部に形成されたチャンバと、
前記基板の一方面側に配置されるとともに、前記基板を赤外線によって加熱可能な基板加熱部と、
前記基板と前記基板加熱部との間に設けられ、前記赤外線を透過し、かつ、基板加熱時の昇華物を遮る複数の遮蔽板と、を含み、
隣り合う2つの前記遮蔽板の間には、隙間が設けられている
基板加熱装置。 - 基板を収容可能な収容空間が内部に形成されたチャンバと、
前記基板の一方面側に配置されるとともに、前記基板を赤外線によって加熱可能な基板加熱部と、
前記基板と前記基板加熱部との間に設けられ、前記赤外線を透過し、かつ、基板加熱時の昇華物を遮る複数の遮蔽板と、
前記基板と前記基板加熱部との間に設けられ、前記赤外線の照射方向に対して交差するように延びる複数の横架部材と、を含み、
前記遮蔽板は、前記複数の横架部材に支持されている
基板加熱装置。 - 前記基板の一方面には、ポリイミドを形成するための溶液が塗布されている
請求項1から8のいずれか一項に記載の基板加熱装置。 - 請求項1から9の何れか一項に記載の基板加熱装置を含む基板処理システム。
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WO2006003798A1 (ja) | 2004-07-01 | 2006-01-12 | Ulvac, Inc. | 基板温度測定装置及び処理装置 |
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