JP7401744B2 - 塩素要求量の測定方法及び測定装置 - Google Patents
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Description
なお、ジエチル-p-フェニレンジアミン法(以下「DPD法」という。)及び装置の測定誤差等を勘案した誤差が±0.1mg/L程度なので、遊離塩素濃度が0.1mg/Lとなったことを認めた時点を、遊離塩素を認め始めた時とすることが、測定上好ましい。
II型の場合はp点を過ぎると、注入された塩素は、遊離塩素として残留する。p点を超えて、遊離塩素が認められた時の塩素注入率は塩素消費量である。II型の場合の塩素要求量は、この塩素消費量と等しい。
この不連続点以上に塩素を注入する塩素処理を不連続点塩素処理という。不連続点塩素処理により、処理対象水のアンモニア性窒素が除去される。
なお、III 型において、q点を超えて、結合塩素を認め始めるのに必要な塩素注入率は、II型のp点を超えて遊離塩素が認められた時の塩素注入率と同様に塩素消費量である。
すなわち、アンモニア性窒素が存在する試料に塩素を添加すると下記(a)の反応により結合塩素が生成し、その後、(b)~(d)及びその他の競合的な反応が生じて結合塩素の分解が進む。そして、総ての結合塩素が分解された点が不連続点となり、その不連続点を超えて添加された塩素は遊離塩素として残るため、不連続点以降の遊離塩素濃度は上昇する。
NH2Cl+HClO→NHCl2(ジクロラミン)+H2O・・・・・(b)
NH2Cl+NHCl2→N2+3HCl・・・・・・・・・・・・・・(c)
2NH2Cl+HClO→N2+H2O+3HCl・・・・・・・・・・(d)
非特許文献2の装置では、電解により補充した塩素濃度が塩素要求量となるので、電解電流を測定することにより塩素要求量を求めことができる。
そこで、非特許文献2の装置では、反応を促進するため、予め一定の温度に加熱した試料水に塩素を添加していた。
そのため、非特許文献2の装置では、恒温槽が必要となり、装置が大型化すると共に、恒温槽を稼働させるための電力も必要とされていた。
また、添加する塩素量が塩素要求量を超え、試料水と反応後の塩素濃度が常に一定となるように、電解電流をコントロールしているため、塩素濃度の高い排液が発生してしまうという問題もあった。
[1]アンモニア性窒素を含む試料水に種々の添加濃度となるように添加量を変化させながら塩素を添加し、前記添加濃度に応じた添加後3分以内の結合塩素濃度を測定して、前記添加濃度に対する結合塩素濃度の関係を求め、
下式(1)に基づき塩素要求量Yを求める塩素要求量の測定方法。
Y=k(x2-x1)+x1 ・・・(1)
(ただし、式(1)において、x1は前記添加濃度に応じて結合塩素を検出したときの添加濃度、x2は前記添加濃度に応じて結合塩素濃度が増加しなくなったときの添加濃度で、x2>x1≧0、kは定数。)
[2]前記試料水が上水製造プロセスにおける不連続点塩素処理の対象水であり、kが2.0~4.0である、[1]に記載の塩素要求量の測定方法。
[3]前記試料水に塩素要求量を超える塩素を添加し、添加後1時間以上経過後の遊離塩素濃度を測定して、前記kの値を補正する[1]または[2]に記載の塩素要求量の測定方法。
[4]前記結合塩素濃度の測定方法が、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上である、[1]~[3]のいずれか一項に記載の塩素要求量の測定方法。
[5]前記添加濃度を、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上の方法に基づき測定する、[1]~[4]のいずれか一項に記載の塩素要求量の測定方法。
[6]アンモニア性窒素を含む試料水に種々の添加濃度となるように添加量を変化させながら塩素を添加し、前記添加濃度に応じた添加後3分以内の結合塩素濃度を測定する結合塩素測定部と、演算部とを備え、
前記演算部は、前記添加濃度に対する結合塩素濃度の関係を求め、
下式(1)に基づき塩素要求量Yを求める塩素要求量測定装置。
Y=k(x2-x1)+x1 ・・・(1)
(ただし、式(1)において、x1は前記添加濃度に応じて結合塩素を検出したときの添加濃度、x2は前記添加濃度に応じて結合塩素濃度が増加しなくなったときの添加濃度で、x2>x1≧0、kは定数。)
[7]前記試料水が上水製造プロセスにおける不連続点塩素処理の対象水であり、kが2.0~4.0である、[6]に記載の塩素要求量測定装置。
[8]さらに、前記試料水に塩素要求量を超える塩素を添加した過剰添加水を保管する保管容器と、添加後1時間以上経過後に前記過剰添加水の遊離塩素濃度を測定する遊離塩素測定部とを備え、前記演算部が、前記遊離塩素測定部の測定結果に基づき、前記kの値を補正する[6]または[7]に記載の塩素要求量測定装置。
[9]前記結合塩素測定部が、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上の方法に基づく、[6]~[8]のいずれか一項に記載の塩素要求量測定装置。
[10]さらに、前記添加濃度を、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上の方法に基づき測定する添加塩素量測定部を備える、[6]~[9]のいずれか一項に記載の塩素要求量測定装置。
また、本発明の塩素要求量の測定装置によれば、装置を大型化させることなく、迅速に塩素要求量を求めることができ、しかも、塩素濃度が高い排液の発生を抑制できる。
本発明の塩素要求量の測定方法は、アンモニア性窒素を含む試料水に種々の添加濃度で塩素を添加し、添加後3分以内の結合塩素濃度を測定して、前記添加濃度に対する結合塩素濃度の関係を求め、下式(1)に基づき塩素要求量Yを求める方法である。
Y=k(x2-x1)+x1 ・・・(1)
(ただし、式(1)において、x1は前記添加濃度に応じて結合塩素を検出したときの添加濃度、x2は前記添加濃度に応じて結合塩素濃度が増加しなくなったときの添加濃度で、x2>x1≧0、kは定数。)
また、添加後3分以内の結合塩素濃度の測定方法としては、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びDPD法から選択される1以上が挙げられるが、特にこれらに限定されるものではない。
また、「添加濃度に応じて結合塩素濃度が増加しなくなったときの添加濃度x2」は、結合塩素濃度の変化量が、添加濃度の変化量とほぼ一致した状態から、添加濃度の変化量から乖離した状態になり始めたときの添加濃度である。
一方、x2は、前記(a)の反応が総て完了するのに必要な塩素添加濃度に対応する。
本発明者は、前記(b)~(d)等の反応が完了するのには数時間以上を要するが、前記(a)の反応は瞬時に終了することに着目し、前記(a)の反応が総て完了するのに必要な塩素添加濃度から塩素要求量を予測することに想到した。
塩素添加結合塩素濃度を測定するタイミングは、添加後2分以内であることが好ましく、添加後1~2分であることがより好ましい。
したがって、x2は、前記(a)の反応が総て完了するのに必要な塩素添加濃度に対応する。
したがって、試料水の性状に応じたkの値を求めておけば、x2の値、すなわち、(a)の反応が総て完了するのに必要な塩素添加濃度と、x1の値から、式(1)に基づき塩素要求量を求めることができる。
kの値は、試料水に塩素要求量を若干超えると思われる量の塩素を添加した試料水(以下「過剰添加水」という。)について、(b)~(d)等の反応がほぼ完了したとみなせる時点、具体的には、1時間以上経過後、好ましくは2時間以上経過後、さらに好ましくは8時間以上経過後に遊離塩素を測定することにより、補正することができる。
Y=(s-t) ・・・(2)
Y=k(x2-x1)+x1なので、kは、以下の式(3)から求められる。
k={(s-t)-x1}/(x2-x1) ・・・(3)
過剰添加水の遊離塩素の測定方法は、無試薬式ポーラログラフ法でも、無試薬式吸光度測定法でもDPD法でもよい。
測定精度を高めるためには、試料水に添加する直前に測定することが好ましい。
試料水に添加する塩素濃度の測定方法に特に限定はないが、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びDPD法から選択される1以上であることが好ましい。
試料水に添加する塩素濃度の測定方法は、無試薬式ポーラログラフ法でも、無試薬式吸光度測定法でもDPD法でもよい。
本発明の第1実施形態に係る塩素要求量測定装置について図2を用いて説明する。本実施形態の塩素要求量測定装置は、無試薬式ポーラログラフ法による測定装置である。本実施形態の塩素要求量測定装置は、分析流路F1と、分析流路F1に設けられた第1フローセルA1及び第2フローセルA2と、分析流路F1の第1フローセルA1と第2フローセルA2の間に設けられた反応槽Rを備えている。
塩素供給源としては、食塩溶液を電解して下記の式(e)、(f)により、塩素を発生させる塩素発生装置が、電解電流をコントロールすることにより、容易に試料水に対する塩素の添加量を変化させることができるので好ましい。
2NaCl+2H2O→2NaOH+H2+Cl2・・・・・・・・・ (e)
H2O+Cl2→HOCl+HCl・・・・・・・・・・・・・・・・(f)
なお、塩素供給源は、塩素剤を収容したタンクであってもよい。
また、第2フローセルA2には、第2検出電極B2が挿入されており、第2フローセルA2内に導入された塩素添加後の試料水の結合塩素濃度に応じた酸化還元電流を検出するようになっている。
制御部Mは、第1検出電極B1と第2検出電極B2の各々に所定の印加電圧を付与する加電圧機構と、第1検出電極B1と第2検出電極B2から各々得られる電流値を測定する電流計と、得られた電流値から反応槽Rにおける遊離塩素濃度及び結合塩素濃度を求め、本発明の測定方法に従って、塩素要求量を演算する演算部を有している。
具体的には、検知極が金、対極が銀/塩化銀である電極を用いることができる。その場合、-200~200mVの印加電圧、例えば-100mVの印加電圧を印加することにより、第1フローセルA1内の塩素剤の遊離塩素濃度を測定できる検出電極となる。
第1検出電極B1としては、検知極が金、対極が白金である電極を用いてもよい。その場合、700~900mVの印加電圧、例えば800mVの印加電圧を印加することにより、第1フローセルA1内の塩素剤の遊離塩素濃度を測定できる検出電極となる。
具体的には、検知極が金、対極が白金である電極を用いることができる。その場合、700~900mVの範囲内で、2種類の印加電圧(第1印加電圧と第2印加電圧)、例えば750mVと850mVの印加電圧を印加した時の出力の差を検出することにより、第2フローセルA2内に導入された塩素添加後の試料水の結合塩素濃度を測定できる検出電極となる。
本実施形態において、本発明における結合塩素測定部は、第2フローセルA2、第2検出電極B2、及び制御部Mとで構成されている。
本実施形態において、本発明における過剰添加濃度を測定する遊離塩素測定部は、第1フローセルA1、第1検出電極B1、及び制御部Mとで構成されている。
塩素添加用ポンプP1と試料水用ポンプP2の流量は、反応槽Rで試料水に塩素剤が混合されてから、塩素が添加された試料水が第2フローセルA2に到達するまでの時間が3分以内となるように設定される。
また、制御部Mの演算部は、例えば、第1印加電圧と第2印加電圧における第2検出電極B2で得られる電流値の差から、第2フローセルA2内に導入された塩素添加後の試料水の結合塩素濃度を求める。
そして、塩素添加後の試料水の結合塩素濃度を、前記計算により求めた塩素の添加濃度と紐付けて記憶する。
試料水に対する塩素の添加量は、塩素供給源から供給される塩素剤の濃度を変化させることにより行うことが好ましい。
塩素供給源が、食塩溶液を電解して塩素を発生させる塩素発生装置であれば、電解電流をコントロールすることにより、容易に試料水に対する塩素の添加量を変化させることができる。
試料水に対する塩素の添加量は、塩素添加用ポンプP1の流量を変更することにより行ってもよい。
試料水に対する塩素の添加量は、添加濃度x1を検出する前後では、精度を高めるため、少しずつ増して行くことが好ましい。例えば、前回の添加濃度よりも、添加濃度が0.1mg/Lまたは0.05mg/L高くなるように増して行くことが好ましい。
一方、試料水の性状が安定していて、添加濃度x1の凡その値が予測できる場合は、添加濃度x1までにある程度近づく以前は、試料水に対する塩素の添加量の変化幅を大きくすることが可能である。例えば、前回の添加濃度よりも、添加濃度が1.0mg/Lまたは1.5mg/L高くなるように増して行くことも可能である。
制御部Mの演算部は、塩素の添加濃度とその添加濃度に紐付けられた塩素添加後の試料水の結合塩素濃度との複数の組み合わせから、添加濃度x1と添加濃度x2とを求め、予め求めたkの値を用いて、式(1)に基づき、塩素要求量を計算する。
過剰添加水の遊離塩素濃度を用いたkの補正方法は、塩素要求量の測定方法の項で説明したとおりである。
また、遊離塩素測定部の測定結果に基づきkの補正ができることから、試料水の性状が多少変動しても、塩素要求量を正確に求めることができる。
本発明の第2実施形態に係る塩素要求量測定装置について図3を用いて説明する。本実施形態の塩素要求量測定装置は、無試薬式吸光度測定法による測定装置である。本実施形態の塩素要求量測定装置は、分析流路F1と、分析流路F1に設けられた第1測定セルC1及び第2測定セルC2を備えている。
塩素供給源としては、第1実施形態と同様のものを使用できる。
分析流路F1では、試料水と塩素剤が混合されるようになっている。すなわち、試料水に塩素が添加されるようになっている。
また、第2測定セルC2を挟んで、第2光源L2と第2検出器D2が配置されており、第2測定セルC2内に導入された塩素添加後の試料水の結合塩素濃度に応じた吸光度を測定するようになっている。
制御部Mは、第1検出器D1と第2検出器D2から各々得られる吸光度から遊離塩素濃度及び結合塩素濃度を求め、本発明の測定方法に従って、塩素要求量を演算する演算部を有している。
第1光源L1としては、例えばキセノンランプ、LEDを使用できる。
第1検出器D1としては、例えばフォトダイオード、イメージセンサを使用できる。
第1光源L1と第1検出器D1との間には、バンドパスフィルタ、回折格子等の適宜の光学素子を配置してもよい。
第2光源L2としては、例えばキセノンランプ、LEDを使用できる。
第2検出器D2としては、例えばフォトダイオード、イメージセンサを使用できる。
第2光源L2と第2検出器D2との間には、バンドパスフィルタ、回折格子等の適宜の光学素子を配置してもよい。
本実施形態において、本発明における結合塩素測定部は、第2測定セルC2、第2光源L2、第2検出器D2と制御部Mとで構成されている。
本実施形態において、本発明における過剰添加濃度を測定する遊離塩素測定部は、第1測定セルC1、第1光源L1、第1検出器D1、及び制御部Mで構成されている。
塩素添加用ポンプP1と試料水用ポンプP2の流量は、分析流路F1で試料水に塩素剤が混合されてから、塩素が添加された試料水が第2測定セルC2に到達するまでの時間が3分以内となるように設定される。
また、制御部Mの演算部は第2測定セルC2内に導入された塩素添加後の試料水の結合塩素濃度を、第2検出器D2で測定した吸光度に基づいて求める。
そして、塩素添加後の試料水の結合塩素濃度を、前記計算により求めた塩素の添加濃度と紐付けて記憶する。
試料水に対する塩素の添加量を変化させる方法と、変化の程度や間隔等は、第1実施形態と同様である。
制御部Mの演算部は、塩素の添加濃度とその添加濃度に紐付けられた塩素添加後の試料水の結合塩素濃度との複数の組み合わせから、添加濃度x1と添加濃度x2とを求め、予め求めたkの値を用いて、式(1)に基づき、塩素要求量を計算する。
過剰添加水の遊離塩素濃度を用いたkの補正方法は、塩素要求量の測定方法の項で説明したとおりである。
pH調整剤としては、例えば、水酸化ナトリウム、硫酸が挙げられる。
pH調整せずに、測定したpH値で次亜塩素酸の測定値を補正することも可能である。
また、遊離塩素測定部の測定結果に基づきkの補正ができることから、試料水の性状が多少変動しても、塩素要求量を正確に求めることができる。
上記第1実施形態では、総ての塩素濃度測定を無試薬式ポーラログラフ法で行う装置とし、第2実施形態では、総ての塩素濃度測定を無試薬式吸光度測定法で行う装置としたが、異なる方式の測定方法を組み合わせた装置であってもよい。
本発明の塩素要求量測定装置における添加塩素量測定部、結合塩素測定部としては、種々の方式の物を採用でき、例えば、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びDPD法から選択される1以上の方式を採用できる。
また、第1実施形態及び第2実施形態において、サンプリング容器T内にサンプリングされた過剰添加水を分析流路F1に戻すサンプリング用ポンプP3を設けず、サンプリングされた過剰添加水は、測定装置外において、DPD法により測定するようにしてもよい。
各実験例で求めたDPD値(DPD法による測定値)は、水道法施行規則第十七条第二項の規定に従い、以下の試薬を用い、以下の方法により求めた。
(a)DPD試薬
関東化学(株)製DPD指示薬(cat.No10466)。N,N-ジエチル-p-フェニレンジアミン(硫酸塩)の1.0gと無水硫酸ナトリウムの24gを混合した試薬。
関東化学(株)製りん酸緩衝液DPD法用(cat.No33050)。0.2mol/Lりん酸二水素カリウム溶液の100mL、及び0.2mol/L水酸化ナトリウム溶液の35.4mLを混合した後、これに、1,2-シクロヘキサンジアミン四酢酸(1水塩)の0.13gを溶解させた溶液。
りん酸緩衝液2.5mlを、容量50mLの共栓付き比色管に採り、これにDPD試薬0.5gを加える。次に、試料水を加えて50mLとし、混和後、呈色を残留塩素標準比色列と側面から比色して、試料水中の遊離塩素濃度を求める。
上記(c)で発色させた溶液にヨウ化カリウム約0.5gを加えて溶かし、約3分間静置後の呈色を遊離塩素標準比色列と側面から比色して、試料水中の全塩素濃度を求める。
(e)結合塩素濃度の測定
全塩素濃度と遊離塩素濃度との差から、試料水中の結合塩素濃度を算定する。
有効塩素濃度約12%の次亜塩素酸ナトリウム溶液を塩素剤原液として用いた。
<脱塩素水>
脱塩素水は、水道水を活性炭で処理して、塩素を除去した水を用いた。
<塩化アンモニウム溶液>
塩化アンモニウムを、脱塩素水に溶解して調製した。なお、以下の実験例における塩化アンモニウム溶液の濃度は、アンモニア性窒素としての濃度である。
0.24mg/Lの塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を、添加後の濃度(HClO添加濃度)が異なるように種々の量で添加し、HClO添加濃度毎に、添加後20時間経過後の全塩素濃度、結合塩素濃度、遊離塩素濃度を、DPD法により測定した。結果を図4に示す。
図4において、「a」で示した領域では、全塩素濃度とHClO添加濃度がほぼ一致していた。この領域では、前記(a)の反応が進行しており、前記(b)~(d)等の反応は、実質的に進行していないと考えられる。
また、「e」で示した領域では、全塩素濃度が添加濃度に応じて増加した。また、全塩素の大部分は遊離塩素であった。この領域では、前記(a)~(d)の反応は実質的に完了し、結合塩素濃度が実質的にゼロになっていると考えられる。
0.24mg/Lの塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を、添加後の濃度(HClO添加濃度)が異なるように種々の量で添加し、HClO添加濃度毎に、添加後1~2分後の結合塩素濃度を、DPD法により測定した。結果を図5において「結合塩素(DPD)」として示す(図5の右目盛参照)。
なお、変異点X以降では、前記(b)~(d)等の反応が生じ得るが、添加後短時間(3分以内)では、実質的にこれらの反応は進行していないと思われる。
検知極としては直径2mmの金電極を用い、線速度で約100cm/sが得られる程度の回転を与えた。対極は白金電極とした。この検知極と対極を用いて、印加電圧を650mV、750mV、又は850mVとした場合の酸化還元電流を測定し、印加電圧と酸化還元電流との関係(V/I特性)を調べた。
試料としては、ほぼ総ての塩素が遊離塩素である試料と、ほぼ総ての塩素が結合塩素である試料を用いた。結果を図6に示す。
図6における「Free0.65mg/L+NH30.24mg/L」は、0.24mg/Lの塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を添加後の塩素濃度が0.65mg/Lとなる量で添加した試料(ほぼ総ての塩素が結合塩素、特にモノクロラミンである試料)についてのデータである。
一方、ほぼ総ての塩素が結合塩素(モノクロラミン)である場合は、ほぼ総ての塩素が遊離塩素である場合と比較して、酸化還元電流は小さくなり、かつ、印加電圧750mV~850mVの範囲で、大きく変化した。
このことから、印加電圧850mVにおける酸化還元電流と印加電圧750mVにおける酸化還元電流の差を求めることにより、遊離塩素濃度の影響をあまり受けずに、結合塩素濃度、特にモノクロラミン濃度を求められることがわかった。
0.24mg/Lの塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を、添加後の濃度(HClO添加濃度)が異なるように種々の量で添加し、HClO添加濃度毎に、添加後1~2分後の電極出力を調べた。検知極としては直径2mmの金電極を用い、線速度で約100cm/sが得られる程度の回転を与えた。対極は白金電極とした。
この検知極と対極を用いて得た、印加電圧が850mVのときの酸化還元電流から、印加電圧が750mVのときの酸化還元電流を引いた値を、図5において「電極出力(850-750)」として示す(図5の左目盛参照)。
なお、変異点X以降の領域で「電極出力(850-750)」がやや減少するのは、前記(b)の反応が若干進行し、結合塩素が減少したためと考えられる。
HClO添加濃度毎に、添加後1~2分後における印加電圧850mVにおける酸化還元電流と印加電圧750mVにおける酸化還元電流の差(「電極出力(850-750)」)を測定した。検知極としては直径2mmの金電極を用い、線速度で約100cm/sが得られる程度の回転を与えた。対極は白金電極とした。
試料としては、水道水に、塩素剤原液を添加後の濃度(HClO添加濃度)が異なるように種々の量で添加した試料と、種々の濃度の塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を添加後の濃度(HClO添加濃度)が異なるように種々の量で添加した試料を用いた。結果を図7に示す。
図7における「NH30.06mg/L」は、0.06mg/Lの塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を添加後の塩素濃度が図7の左目盛の濃度となる量で添加した試料についてのデータである。
図7における「NH30.12mg/L」は、0.12mg/Lの塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を添加後の塩素濃度が図7の左目盛の濃度となる量で添加した試料についてのデータである。
図7における「NH30.24mg/L」は、0.24mg/Lの塩化アンモニウム溶液に、塩素剤原液を添加後の塩素濃度が図7の左目盛の濃度となる量で添加した試料についてのデータである。
「NH30.24mg/L」の試料について、表1に実測データを示す。
種々の濃度で遊離塩素と結合塩素を含む試料について、吸光度スペクトルを得た。結果を図9に示す。なお、吸光度スペクトルは、各試料調製後1~2分後に測定した。
また、「1:4 F0.08 C0.73」で示す試料は、次亜塩素酸とアンモニアとを、モル比1:4で混合して得た試料であり、そのDPD法で測定した遊離塩素濃度は、0.08mg/L、DPD法で測定した結合塩素濃度は、0.73mg/Lである。
また、「1:8 F0.32 C0.30」で示す試料は、次亜塩素酸とアンモニアとを、モル比1:8で混合して得た試料であり、そのDPD法で測定した遊離塩素濃度は、0.32mg/L、DPD法で測定した結合塩素濃度は、0.30mg/Lである。
また、「1:10 F0.45 C0.16」で示す試料は、次亜塩素酸とアンモニアとを、モル比1:10で混合して得た試料であり、そのDPD法で測定した遊離塩素濃度は、0.45mg/L、DPD法で測定した結合塩素濃度は、0.16mg/Lである。
波長245nmの吸光度と、結合塩素濃度との関係をプロットすると、図10に示すように、良好な直線関係が得られた。
また、波長290nmの吸光度と、遊離塩素濃度との関係をプロットすると、図11に示すように、良好な直線関係が得られた。
以上の結果から、波長245nm付近の吸光度から結合塩素濃度を、波長290nm付近の吸光度から遊離塩素濃度を求められることが確認できた。
図12に示すように、245nmの吸光度のデータは、DPD法による結合塩素濃度と同様に変化するので、塩素添加後3分以内の245nmにおける吸光度のデータによって、変異点Xを検出できることが確認できた。
F2 サンプリング流路
A1 第1フローセル
A2 第2フローセル
B1 第1検出電極
B2 第2検出電極
R 反応槽
T サンプリング容器
P1 塩素添加用ポンプ
P2 試料水用ポンプ
P3 サンプリング用ポンプ
M 制御部
C1 第1測定セル
C2 第2測定セル
L1 第1光源
L2 第2光源
D1 第1検出器
D2 第2検出器
Claims (10)
- アンモニア性窒素を含む試料水に種々の添加濃度となるように添加量を変化させながら塩素を添加し、前記添加濃度に応じた添加後3分以内の結合塩素濃度を測定して、前記添加濃度と結合塩素濃度の関係を求め、
下式(1)に基づき塩素要求量Yを求める塩素要求量の測定方法。
Y=k(x2-x1)+x1 ・・・(1)
(ただし、式(1)において、x1は前記添加濃度に応じて結合塩素を検出したときの添加濃度、x2は前記添加濃度に応じて結合塩素濃度が増加しなくなったときの添加濃度で、x2>x1≧0、kは定数。) - 前記試料水が上水製造プロセスにおける不連続点塩素処理の対象水であり、kが2.0~4.0である、請求項1に記載の塩素要求量の測定方法。
- さらに、前記試料水に塩素要求量を超える塩素を添加し、添加後1時間以上経過後の遊離塩素濃度を測定することにより、前記kの値が補正される請求項1または2に記載の塩素要求量の測定方法。
- 前記結合塩素濃度の測定方法が、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上である、請求項1~3のいずれか一項に記載の塩素要求量の測定方法。
- 前記添加濃度を、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上の方法に基づき測定する、請求項1~4のいずれか一項に記載の塩素要求量の測定方法。
- アンモニア性窒素を含む試料水に種々の添加濃度となるように添加量を変化させながら塩素を添加し、前記添加濃度に応じた添加後3分以内の結合塩素濃度を測定する結合塩素測定部と、演算部とを備え、
前記演算部は、前記添加濃度に対する結合塩素濃度の関係を求め、
下式(1)に基づき塩素要求量Yを求める塩素要求量測定装置。
Y=k(x2-x1)+x1 ・・・(1)
(ただし、式(1)において、x1は前記添加濃度に応じて結合塩素を検出したときの添加濃度、x2は前記添加濃度に応じて結合塩素濃度が増加しなくなったときの添加濃度で、x2>x1≧0、kは定数。) - 前記試料水が上水製造プロセスにおける不連続点塩素処理の対象水であり、kが2.0~4.0である、請求項6に記載の塩素要求量測定装置。
- さらに、前記試料水に塩素要求量を超える塩素を添加した過剰添加水を保管する保管容器と、添加後1時間以上経過後に前記過剰添加水の遊離塩素濃度を測定する遊離塩素測定部とを備え、前記演算部が、前記遊離塩素測定部の測定結果に基づき、前記kの値を補正する請求項6または7に記載の塩素要求量測定装置。
- 前記結合塩素測定部が、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上の方法に基づく、請求項6~8のいずれか一項に記載の塩素要求量測定装置。
- さらに、前記添加濃度を、無試薬式ポーラログラフ法、無試薬式吸光度測定法、及びジエチル-p-フェニレンジアミン法から選択される1以上の方法に基づき測定する添加塩素量測定部を備える、請求項6~9のいずれか一項に記載の塩素要求量測定装置。
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