JP7378850B2 - 窒化物系多波長発光ダイオードシステム及びその制御方法 - Google Patents

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Description

特許法第30条第2項適用 令和3年8月18日に第61回韓国真空協会の夏季年次会議にて発表
本発明は、窒化物系多波長発光ダイオードシステム及びその制御方法に関する。
窒化物系半導体は、紫外線領域から可視光を含む赤外線領域に該当するバンドギャップを有し、発光ダイオードでフルカラーディスプレイシステムに主に用いられている。このとき、フルカラーを具現するための可視光線領域をカバーするために、発光ダイオードは各色を発光する種々の物質から構成されてもよい。例えば、赤色にはAlGaInP、緑色にはAlGaAs、青色にはInGaNが代表的な窒化物系発光ダイオード物質として用いられている。このうち、InGaNは、インジウム(In)の組成によって赤外線(0.7eV)から紫外線(3.4eV)までの可視光線領域をカバーすることができ、フルカラーディスプレイの具現に適しい。
これによって、最近、InGaN活性層に基づく発光ダイオードにおいて、インジウム組成率による固まり現象、及び圧電特性による青方偏移現象を用いることで、単一の素子で広い範囲の可視光放出を達成した事例が報告されている。特に、InGaN活性層に基づく発光ダイオードは、注入電流の強度の増加によってバンド充填現象による短波長化が生じるため、印加されるバイアスによって発光波長を調節可能であり、フルカラーディスプレイに応用することができる。
具体的に、InGaN活性層に基づく発光ダイオードは、インジウムの組成が高くなるほど、固まり現象によってバンドギャップの組成変動(fluctuation)が発生するようになる。これによって、電流注入時にキャリアが局所的に形成された低いエネルギーのバンドギャップを充填することで長波長の発光が優先的に始まり、注入電流の強度の増加によって高いエネルギーのバンドギャップを充填するようになることで短波長化が生じる。また、圧電現象を有する分極窒化物系半導体においても、低い電流密度下では少ないキャリア数に起因して圧電現象によるバンド曲がりによって、低いバンドギャップの長波長で発光するようになり、高い電流注入による圧電相殺現象によってバンドが平たく広がることによって、高いエネルギーのバンドギャップを充填することで短波長化が生じる。
また、窒化物系発光ダイオードを製造するにあたって、インジウムの組成の差、成長速度の差などによって発生することで、青方偏移現象が発生し、これに基づいた窒化物系発光ダイオードの多波長発光特性に対して研究が活発に進行されている。
本発明の目的は、注入電流の強度が一定であっても互いに異なる波長の光を放出することができる窒化物系多波長発光ダイオードシステムを提供することである。
本発明の目的は、単一の発光ダイオードでフルカラーディスプレイの具現が可能な窒化物系多波長発光ダイオードシステムを提供することである。
本発明の一実施例によると、 発光ダイオードシステムは、n型にドーピングされた第1半導体層、p型にドーピングされた第2半導体層、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に配置され、InGaNに基づく量子井戸構造の活性層を含む窒化物系多波長発光ダイオード;及び前記窒化物系多波長発光ダイオードに注入電流のパルス幅及びデューティ比のうち少なくとも一方を調節して印加する制御部を含む。
前記制御部は、前記注入電流の強度が同一に維持されるように制御してもよい。
前記制御部は、前記注入電流の強度を調節して印加してもよい。
前記窒化物系多波長発光ダイオードが放出する光の波長は、前記注入電流のパルス幅が増加するにつれ低くなる。
前記窒化物系多波長発光ダイオードが放出する光の波長は、前記注入電流のデューティ比が増加するにつれ低くなる。
前記制御部は、前記窒化物系多波長発光ダイオードが2以上の波長の光を放出するように互いに異なるパルス幅及びデューティ比を有する2以上の注入電流を印加してもよい。
本発明の一実施例によると、発光ダイオードシステムの制御方法は、n型にドーピングされた第1半導体層、p型にドーピングされた第2半導体層、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に配置され、InGaNに基づく量子井戸構造の活性層を含む窒化物系多波長発光ダイオードに注入電流のパルス幅及びデューティ比のうち少なくとも一方を調節して印加するステップを含む。
前記印加するステップは、前記注入電流の強度が同一に維持されるように制御するステップを含んでもよい。
前記印加するステップは、前記注入電流の強度を調節して印加するステップを含んでもよい。
前記印加するステップは、前記窒化物系多波長発光ダイオードが2以上の波長の光を放出するように互いに異なるパルス幅及びデューティ比を有する2以上の注入電流を印加するステップを含んでもよい。
本発明の一実施例によると、注入電流のパルス条件の変化による波長変化を通じて様々な色を発光する窒化物系発光ダイオードを提供することができる。
本発明の一実施例によると、注入電流のパルス条件及び電流強度を制御することで、単一の発光ダイオードでフルカラーディスプレイの具現が可能であると期待される。
本発明の一実施例によると、2以上のパルス条件を用いて様々な混合色を作成できるのみならず、青色-緑色-赤色の発光を通じて白色光源も可能であると期待される。
本発明の一実施例による窒化物系多波長発光ダイオードシステムを示す概略図である。 本発明の一実施例による注入電流のパルス条件による波長変化を示す図である。 本発明の一実施例によるキャリアの挙動メカニズムを示すグラフである。 実施例1による注入電流のデューティ比の調節によって現れる変化を測定したグラフを示す。 実施例2による注入電流のデューティ比の調節によって現れる変化を測定したグラフを示す。 実施例3による注入電流のパルス幅の調節によって現れる変化を測定したグラフを示す。 実施例4による注入電流の条件によって変わる光を放出する発光ダイオードを撮影した写真である。 互いに異なる波長を発生させる注入電流を示すグラフである。 2以上の異なる注入電流条件による二色性及び三色性モノリシック発光ダイオードの発光スペクトルを示すグラフである。
以下、本発明による好ましい実施形態を添付の図面を参照して詳しく説明する。添付の図面と共に以下に開示される詳細な説明は、本発明の例示的な実施形態を説明しようとするものであり、本発明が実施できる唯一の実施形態を意味しようとするものではない。図面で本発明を明確に説明するために説明と関係ない部分は省省略することができ、明細書全体を通じて同一又は類似の構成要素に対しては同一の参照符号を使用できる。
図1は、本発明の一実施例による窒化物系多波長発光ダイオードシステムを示す概略図である。
本発明の一実施例による窒化物系多波長発光ダイオードシステム(1)(以下、システム(1)という)は、窒化物系多波長発光ダイオード(100)(以下、発光ダイオード(100)という)及び制御部(200)を含む。
本発明の一実施例によると、発光ダイオード(100)は、第1半導体層(110)、第2半導体層(120)、及び第1半導体層(110)と第2半導体層(120)との間に配置される活性層(130)を含み、第1半導体層(110)上に第1電極(141)、第2半導体層(120)上に第2電極(142)がそれぞれ配置される。
本発明の一実施例によると、第1半導体層(110)、第2半導体層(120)、及び活性層(130)は、それぞれ窒化物半導体を含むものであってもよい。例えば、GaN、InGaN、InAlGaN、AlGaN、BAlGaN及びBInAlGaNからなる群より選択される少なくともいずれか1つを含むものであってもよい。このとき、発光ダイオード(100)は、成長方法及び製造方法によって、分極、無分極及び半分極の窒化物系発光ダイオードのいずれかであってもよい。
本発明の一実施例によると、第1半導体層(110)がn型物質にドーピングされた場合、第2半導体層(120)はp型物質にドーピングされてもよい。また、活性層(130)は、電子-正孔の再結合によって光を発光する層であり、単一又は多重の量子井戸(Quantum well)層を含む。量子井戸層については図2に関して具体的に説明する。
また、第1電極(141)はn型伝導性物質から形成され、第2電極(142)はp型伝導性物質とから形成されてもよい。
例えば、第1電極(141)及び第2電極(142)は、Pt、Al、Pb、Sn、Au、Ge、Cu、Bi、Cd、Zn、Ag、Ni及びTiからなる群より選択される少なくともいずれか1つを含むものであってもよい。
本発明の一実施例による制御部(200)は、発光ダイオード(100)を駆動する駆動回路を含み、その構成及び構造に限定されない。制御部(200)は、発光ダイオード(100)に注入電流のパルス条件、電流条件などを調節して印加することで、発光ダイオード(100)で発光する光の波長を調節する役割をする。
本発明の一実施例によると、発光ダイオード(100)はウエハ(150)上で成長する。このとき、ウエハ(150)は、絶縁性基板又は導電性基板であってもよい。ウエハ(150)は、例えば、サファイア基板、ガラス基板、シリコンカーバイド基板、シリコン基板、金属基板及びセラミック基板からなる群より選択される少なくともいずれか1つを含むものであってもよい。
本発明の一実施例によると、発光ダイオード(100)は、メサ構造を含むフラット構造として示されているが、これらに限定されず、ウエハ(150)にn-GaN又はn-Siなどの伝導性基板を用いることで、第1電極(141)をウエハ(150)の下部に配置するメサ構造を含んでいないフラット構造、あるいは第1電極(141)を降伏伝導性チャネルを形成させたp*電極で具現することで、第2半導体層(120)の上部に第1電極(141)及び第2電極(142)の両方が配置させるメサ構造を含んでいないフラット構造も具現可能であろう。
また、図1には示されていないが、本発明の一実施例による発光ダイオード(100)は、別のウエハに転写されてディスプレイで具現されてもよい。
図2は、本発明の一実施例による注入電流のパルス条件による波長変化を示す図である。
前述したように、発光ダイオード(100)は、成長方法及び製造方法によって、分極、無分極及び半分極の窒化物系発光ダイオードであってもよい。このうち、半分極(11-22)面のGaN薄膜は、無分極(10-10)面のGaN薄膜に比べ、インジウムの注入効率が高く、長波長化、発光効率の向上に有利である。
半分極(11-22)面のGaN薄膜は、異種基板であるm-サファイア(m-sapphire)の上で成長すると高い欠陥が発生し、欠陥を減少するためにELO(epitaxial lateral overgrowth)工程が用いられる。
そのうちでも、六角パターン(Hexagonal pattern)のELOを用いると、六角パターン内における6方向のそれぞれ異なる側面成長速度によって様々な形態が現れ、このような成長速度の差により、矢じり状の構造が現れる。
本発明の一実施例による発光ダイオード(100)は、矢じり状の構造を有することで、矢じり構造の結晶成長面による位置毎のインジウムの組成に差があり得る。例えば、矢じり状の頂点部分である(20-21)面が最も高いインジウム組成率を有し、側面である(10-11)面、上段平面である(11-22)面の順にインジウム組成率が減少し得る。インジウムの組成が結晶面ごとに変わることによって強い青方偏移現象が発生する。
本発明の一実施例による活性層(130)は、図2に示されているように、青方偏移現象が大きく形成できる厚い量子井戸層構造を含む。例えば、2.5nm以上の量子井戸層を含んでもよい。
本発明の一実施例による発光ダイオード(100)は、インジウムの局所化を増加させ、赤色発光効率を高めるためにインジウム含量が高くてもよい。例えば、全体組成比のうち、インジウム含量が20%以上であってもよい。また、インジウムのモル分率を増加させることができる結晶面、V状欠陥を含む構造を有してもよい。
本発明の一実施例によると、発光ダイオード(100)は、図2に示されているように、インジウムの組成が高くなるほど、固まり現象によってバンドギャップの組成変動(fluctuation)が発生するようになる。図2の左側(210)、中間(220)、右側(230)に行くほど、キャリアが局所的に形成された低いエネルギーのバンドギャップを充填することで長波長の発光が優先的に始まり、注入されるキャリアの量が増加するにつれ、高いエネルギーのバンドギャップを充填することで短波長化が生じる。
本発明の一実施例によると、量子井戸層構造を有する発光ダイオード(100)において、注入されるキャリアの量を注入電流のパルス条件に基づいて制御して波長を調節する方法を提案する。このとき、パルス条件はパルス幅及びデューティ比を含む。本発明の一実施例によると、パルス幅が増加し、デューティ比が増加するにつれキャリアの量が増加し、短波長化が生じられる。
図3は、本発明の一実施例によるキャリアの挙動メカニズムを示すグラフである。
より具体的に、発光ダイオードに注入されるキャリアの量を制御するために一定の電流で互いに異なるパルス条件を有する注入電流を印加するときにおけるキャリアの挙動メカニズムを図3に示した。
図3を参照すると、同時間内、同一のパルス幅の条件下におけるデューティ比の増加は、平均注入キャリア量の増加を意味する。また、同時間内、同一のデューティの比条件下におけるパルス幅の増加は、注入されるキャリアの速度の減少を意味する。したがって、同一の注入電流下でパルス幅及びデューティ比が増加した場合、バンド充填現象によって短波長化が生じるようになる。このように注入電流印加時におけるパルス条件の変更を通じて、電流量を変化することなく発光ダイオードにおける波長の変化を達成することができる。
本発明では、図3に示す方式でInGaN活性層に基づく窒化物系発光ダイオードに同一の電流を印加するとき、印加される注入電流のパルス幅とデューティ比を調節して発光波長を制御する方法を開発した。
以下、下記実施例及び比較例を参照して本発明を詳しく説明する。しかし、本発明の技術的思想がそれによって制限又は限定されるのではない。また、電流印加の主体は、前述したように制御部(200)によって行われるであろう。
[実施例1]
実施例1では、注入電流のデューティ比の調節によって互いに異なる波長の光を放出することを実験した。
実施例1では、本発明の一実施例による発光ダイオード(100)に注入電流の強度を1mA、及びパルス幅(pulse width)を0.1μsに固定し、デューティ比(duty ratio)を0.1%から10%まで調節して印加した。
図4は、実施例1による注入電流のデューティ比の調節によって現れるエレクトロルミネッセンスのピーク波長(EL peak wavelength)の変化を測定したグラフ(410)と、相対的な発光強度(Relative EL intensity)の変化を測定したグラフ(420)を示す。
図4のグラフ(410)を参照すると、デューティ比が増加するにつれエレクトロルミネッセンスのピーク波長が586nmから557nmに約30nm短波長化することが確認され、グラフ(420)を参照すると、デューティ比が増加するにつれ発光強度が増加することが確認される。
これは、前述したように、同時間下におけるデューティ比の増加が平均注入キャリア量の増加をもたらし、放出される光の波長が短い方に変化することが分かる。波長の変化によって放出される光の色が変わる。例えば、波長が短いほど青色光が現れ、波長が長いほど赤色光が現れる。
[実施例2]
実施例2では、本発明の一実施例による発光ダイオードに注入電流の強度を1mA、及びパルス幅を0.1μsから1μsに変更し、デューティ比を1%から100%まで増加させた場合について説明する。
図5は、実施例2による注入電流のデューティ比の調節によって現れるエレクトロルミネッセンスのピーク波長(EL peak wavelength)の変化を測定したグラフ(510)と、相対的な発光強度(Relative EL intensity)の変化を測定したグラフ(520)を示す。
図5のグラフ(510)を参照すると、デューティ比の増加によってエレクトロルミネッセンスのピーク波長が562nmから522nmに約30nm短波長化することが確認され、グラフ(520)を参照すると、発光強度が増加することが確認される。
このとき、実施例1と実施例2を比較すると、実施例2で用いた注入電流のパルス幅が1μsと高い。
パルス幅が0.1μsから1μsに増加することは、注入されるキャリア量の増加を示す。したがって、パルス幅が0.1μsの場合より1μsの場合の方が、注入されたキャリアの蓄積量が増加し、より短い波長領域で短波長化が達成される。
これは、実施例2でデューティ比が実施例1と同様に10%まで増加した場合と比較すると、実施例1は586nmから557nmに波長が変化し、実施例2は562nmから544nmに波長が変化したことを通じて確認することができる。
各実施例1と実施例2を通じては、注入電流のデューティ比の制御により発光ダイオードに注入されるキャリア量を調節することで波長変化を生じさせることが確認される。また、実施例1と実施例2を比較することで、注入電流のパルス幅の制御によっても波長変化を生じさせることが確認される。
[実施例3]
実施例3では、注入電流のデューティ比だけでなく、パルス幅の調節によっても発光ダイオードから放出される光の波長変化が可能であることを実験した。
実施例3では、本発明の一実施例による発光ダイオードに注入電流の強度を1mA、及びデューティ比(duty ratio)を1%に固定し、パルス幅(pulse width)を0.1μsから100μsに調節して印加した場合と、注入電流の強度を1mA、及びデューティ比(duty ratio)を5%に固定し、パルス幅(pulse width)を0.1μsから300μsまで調節して印加した場合を説明する。
図6は、実施例3によるデューティ比(duty ratio)が1%の場合、注入電流のパルス幅の調節によって現れるエレクトロルミネッセンスのピーク波長(EL peak wavelength)の変化を測定したグラフ(610)と、デューティ比(duty ratio)が5%の場合、注入電流のパルス幅の調節によって現れるエレクトロルミネッセンスのピーク波長(EL peak wavelength)の変化を測定したグラフ(620)を示す。
図6のグラフ(610)を参照すると、パルス幅が0.1μsから100μsまで増加するにつれ、エレクトロルミネッセンスのピーク波長が576nmから534nmに約40nm短波長化し、グラフ(620)を参照すると、パルス幅が0.1μsから300μsまで増加するにつれ、エレクトロルミネッセンスのピーク波長が566nmから524nmに約40nm短波長化することが確認される。
本発明の一実施例によると、同時間、同一のデューティ比下におけるパルス幅の増加は、注入されるキャリアの量が増加することから、バンド充填現象による青方偏移現象であると判断される。
また、グラフ(610)とグラフ(620)は同一の傾向を現しており、単にデューティ比が1%から5%に増加することは、前述したように同時間内に注入されるキャリア量の増加を意味する。したがって、高いデューティ比を有するグラフ(620)においてより短い波長領域で短波長化が達成されることが分かり、これは、パルス幅とデューティ比の変化だけで波長が変化できることを示す。
[実施例4]
実施例4では、実施例1、実施例2、実施例3で実験したように、互いに異なるデューティ比、パルス幅、電流強度の条件を有する注入電流を発光ダイオードに印加した場合、発光する色を観測した。
図7は、実施例4による注入電流の条件によって変わる光を放出する発光ダイオードを撮影した写真である。
図7の写真(710)と写真(720)に示されたように、0.2mAの電流、1μsのパルス幅、及び1%のデューティ比を有する注入電流を印加すると、発光ダイオードは橙色光を発光し、0.2mAの同一の電流で100μsのパルス幅、及び50%のデューティ比に増加した注入電流を印加すると、発光ダイオードは緑色光を発光する。これは、同一の発光ダイオードで橙色から緑色まで波長を制御できることを意味する。
また、図7の写真(730)と写真(740)に示されたように、注入電流の電流強度を5mAに増加させる場合、1μsのパルス幅、及び1%のデューティ比を有する注入電流を印加すると、発光ダイオードは緑色光を発光し、5mAの同一の電流で100μsのパルス幅、及び50%のデューティ比に増加した注入電流を印加すると、発光ダイオードは青色に対応する波長まで発光波長が減少することが確認される。
さらに、図7の写真(750)と写真(760)に示されたように、注入電流の電流強度をより高く維持してパルス条件を制御すると、青緑色、濃い青色まで発光できることを示す。これに基づき、パルス条件だけでも発光波長を制御できるが、電流量、パルス幅、及びデューティ比を制御すると、橙色から濃い青色まで様々な色を具現できることを示す。
図8は、互いに異なる波長を発生させる注入電流を示すグラフである。
前述した実施例1、実施例2、実施例3、実施例4より分かるように、注入電流のデューティ比、パルス幅及び電流をそれぞれ変化させると互いに異なる波長が発生するであろう。よって、注入電流の注入条件を組み合わせると、2以上の波長の光が生じられることが分かる。
グラフ(810)は、デューティ比が互いに異なる注入電流の波形を示す。この場合、デューティ比が低い区間では短波長の光が発生し、デューティ比が高い区間では長波長の光が発生するであろう。
グラフ(820)は、パルス幅が互いに異なる注入電流の波形を示す。この場合、パルス幅が狭い区間では長波長の光が、パルス幅が広い区間では短波長の光が交互に発生するであろう。
最後に、グラフ(830)は、パルス幅と電流の強度が互いに異なる注入電流の波形を示す。この場合、パルス幅が狭く電流の強度が低い区間では長波長の光が発生し、パルス幅が広く電流の強度が高い区間では短波長の光が発生するであろう。
また、グラフ(810、820、830)に示された互いに異なるパルス幅、デューティ比及び注入電流の強度を有する注入電流を印加すると、2つ以上の発光スペクトルが同時に発生する二色性及び三色性モノリシック発光ダイオードを具現できるであろう。これについては、図9を参照してより具体的に説明する。
図9は、2以上の異なる注入電流条件による二色性及び三色性モノリシック発光ダイオードの発光スペクトルを示すグラフである。
図9のグラフ(910)は、同一の発光ダイオードに電流の強度3mA、パルス幅5μs、及びデューティ比0.5%の注入電流を印加したとき、約550nmで緑色光が得られ、電流の強度50mA、パルス幅0.1μs、及びデューティ比0.01%の注入電流を印加したとき、約450nmで青色光が得られる。
2つのスペクトルの注入電流の強度及びパルス条件の調節によって同一の発光強度が得られ、2つのパルス条件を同時に用いた場合に青色と緑色が同時に発光する二色性発光ダイオードが得られた。
また図9のグラフ(920)は、赤色光を得るために電流強度が0.05mAの注入電流を連続して注入し、電流の強度3mA、パルス幅5μs、及びデューティ比0.5%の注入電流を印加したときに緑色光が得られた。
このように、連続注入とパルス条件の調節を同時に用いることで、2つの色がすべて発生する橙色が得られた。
図9のグラフ(930)は、赤色光を得るために電流強度が0.05mAの注入電流を連続して注入し、電流の強度50mA、パルス幅0.1μs、及びデューティ比0.01%の注入電流を印加したときに青色光が得られた。これも、連続注入とパルス条件の調節を同時に用いると紫色の発光が得られることを示した。
赤色長波長スペクトルは、低いバンドギャップで発光を示さなければならないため、注入キャリアの量が少ないように注入電流の強度が低い。よって、連続注入を通じて赤色発光を得て、青色-緑色スペクトルの発光強度と赤色スペクトルの発光強度を合わせのために、緑色から青色に行くほど、より低いパルス幅とデューティ比を用いることで緑色と青色を得ることができる。
図9のグラフ(940)のように、パルス注入条件を3つにすることにより3つの発光スペクトルを得ることができる。発光ダイオードに連続注入条件で0.05mAと、パルス条件で電流の強度3mA、パルス幅5μs、デューティ比0.5%及び電流の強度50mA、パルス幅0.1μs、デューティ比0.01%の3つの条件で注入電流を印加すると、それぞれ赤色、緑色及び青色光が得られ、これは、スペクトルを示すグラフ(940)のように白色光を得ることができることを示す。
このようにそれぞれの青色-緑色-赤色の発光ダイオードは、フルカラーLEDディスプレイの光源として使用できると期待される。
1:窒化物系多波長発光ダイオードシステム
100:窒化物系多波長発光ダイオード
110:第1半導体層
120:第2半導体層
130:活性層
200:制御部

Claims (8)

  1. n型にドーピングされた第1半導体層、p型にドーピングされた第2半導体層、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に配置され、InGaNに基づく量子井戸構造の活性層であって、結晶成長面による位置毎のインジウム(In)の組成に差を有する前記活性層を含む窒化物系多波長発光ダイオード;及び
    前記活性層内のインジウムの組成の差により形成された互いに異なる大きさのエネルギーのバンドギャップを充填しながら波長の変化を発生させるように、前記窒化物系多波長発光ダイオードに注入電流の強度を同一に制御しながら前記注入電流のパルス幅及びデューティ比のうち少なくとも一方を調節して印加する制御部を含む、発光ダイオードシステム。
  2. 記窒化物系多波長発光ダイオードが放出する光の波長は、前記注入電流のパルス幅が増加するにつれ低くなることを特徴とする、請求項1に記載の発光ダイオードシステム。
  3. 記窒化物系多波長発光ダイオードが放出する光の波長は、前記注入電流のデューティ比が増加するにつれ低くなることを特徴とする、請求項1に記載の発光ダイオードシステム。
  4. 記制御部は、前記窒化物系多波長発光ダイオードが2以上の波長の光を放出するように互いに異なるパルス幅及びデューティ比を有する2以上の注入電流を印加する、請求項1に記載の発光ダイオードシステム。
  5. n型にドーピングされた第1半導体層、p型にドーピングされた第2半導体層、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に配置され、InGaNに基づく量子井戸構造の活性層であって、結晶成長面による位置毎のインジウム(In)の組成に差を有する前記活性層を含む窒化物系多波長発光ダイオードに前記活性層内のインジウムの組成の差により形成された互いに異なる大きさのエネルギーのバンドギャップを充填しながら波長の変化を発生させるように、注入電流の強度を同一に制御しながら前記注入電流のパルス幅及びデューティ比のうち少なくとも一方を調節して印加するステップを含む、発光ダイオードシステムの制御方法。
  6. 記窒化物系多波長発光ダイオードが放出する光の波長は、前記注入電流のパルス幅が増加するにつれ低くなることを特徴とする、請求項5に記載の発光ダイオードシステムの制御方法。
  7. 記窒化物系多波長発光ダイオードが放出する光の波長は、前記注入電流のデューティ比が増加するにつれ低くなることを特徴とする、請求項5に記載の発光ダイオードシステムの制御方法。
  8. 記印加するステップは、
    前記窒化物系多波長発光ダイオードが2以上の波長の光を放出するように互いに異なるパルス幅及びデューティ比を有する2以上の注入電流を印加するステップを含む、請求項5に記載の発光ダイオードシステムの制御方法。
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Patent Citations (1)

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