JP7361030B2 - 表示パネルのための補償技術 - Google Patents

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Description

本願は、２０１７年１１月１６日に出願された仮出願第62/587,355号の利益を主張するものであり、その開示は、参照することにより、その全てが本願に組み込まれる。
本開示は、全体としては、表示パネルと表示装置のための補償技術に関する。
表示装置は、例えば有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）表示パネル、液晶表示（ＬＣＤ）パネル、プラズマ表示パネルのような表示パネルを備えることがある。表示パネルは、表示ドライバによって駆動されることがある。表示パネルを備える表示装置はテストシステムによってテストされることがあり、該表示ドライバのパラメータ設定は、テスト結果に基づいて調整されることがある。
一以上の実施形態において、表示ドライバが、対象画素の画像データに基づいて電圧データを生成するように構成されたデジタルガンマ回路と、表示パネルの総電流を算出するように構成された補償回路部と、前記電圧データを算出された前記総電流に基づいて補正する補正回路部とを備えている。
一以上の実施形態において、表示装置が、表示パネルと表示ドライバとを備えている。表示ドライバは、対象画素の画像データに基づいて電圧データを生成し、表示パネルの総電流を算出し、算出された前記総電流に基づいて前記電圧データを補正するように構成されている。
一以上の実施形態において、方法が、対象画素の画像データに基づいて電圧データを生成することと、表示パネルの総電流を算出することと、算出された前記総電流に基づいて前記電圧データを補正することと、を含む。
本開示の上記された特徴が詳細に理解され得る態様で、上記に簡潔に要約された本開示の具体的な記述が、実施形態を参照してなされることがある。その実施形態のいくつかは、添付図面に図示されている。しかしながら、添付図面は、本開示のいくつかの実施形態を図示しているにすぎず、したがって、その範囲を限定するものとして考えてはならない。よって、開示は、等しく有効な他の実施形態を認め得るものである。
図１は、一以上の実施形態による、表示装置の例示的な構成を図示している。
図２は、一以上の実施形態による、表示ドライバの例示的な構成を図示している。
図３Ａは、一以上の実施形態による、階調レベル、電圧及び輝度レベルの間の関係を図示している。
図３Ｂは、一以上の実施形態による、階調レベル、電圧及び輝度レベルの間の関係を図示している。
図４は、一以上の実施形態による、補償回路部の例示的な構成を図示している。
図５は、一以上の実施形態による、表示ドライバの例示的な動作を図示するフローチャートである。
図６Ａは、一以上の実施形態による、表示ドライバの例示的な構成を図示している。
図６Ｂは、一以上の実施形態による、図６Ａに図示されている表示ドライバの例示的な動作を図示している。
図７は、一以上の実施形態による、図６Ａに図示されている表示ドライバの例示的な動作を図示している。
図８Ａは、一以上の実施形態による、表示ドライバの例示的な構成を図示している。
図８Ｂは、一以上の実施形態による、図８Ａに図示されている表示ドライバの例示的な動作を図示している。
図９は、一以上の実施形態による、表示パネルにおけるセグメントの例示的な配置を図示している。
図１０は、一以上の実施形態による、補償回路部の例示的な構成を図示している。
図１１は、一以上の実施形態による、図１０に図示されている補償回路部の例示的な動作を図示している。
図１２は、一以上の実施形態による、図１０に図示されている補償回路部の例示的な動作を図示している。
図１３は、一以上の実施形態による、表示ドライバの例示的な動作を図示しているフローチャートである。
図１４は、一以上の実施形態による、例示的なテストシステムを図示している。
図１５Ａは、一以上の実施形態による、例示的なテストシステムを図示している。 図１５Ｂは、一以上の実施形態による、例示的なテストシステムを図示している。
図１６は、一以上の実施形態による、表示ドライバの例示的な構成を図示している。
図１７は、一以上の実施形態による、例示的なテスト画像を図示している。
図１８は、一以上の実施形態による、テスト画像の例示的な使用を図示している。
図１９は、一以上の実施形態による、テスト画像を生成する例示的なプロセスを図示するフローチャートである。
図２０Ａは、一以上の実施形態による、表示装置のテストの例示的なプロセスを図示している。 図２０Ｂは、一以上の実施形態による、表示装置のテストの例示的なプロセスを図示している。
図２１は、一以上の実施形態による、電圧降下の例示的なテスト結果を図示している。
図２２は、一以上の実施形態による、電圧降下補償の例示的な結果を図示している。
図２３は、一以上の実施形態による、電圧降下補償の他の例示的な結果を図示している。
一以上の実施形態では、図１に図示されているように、表示装置１０が、表示パネル１００と、表示パネル１００に電気的に接続された表示ドライバ２００とを備えている。表示ドライバ２００は、表示ドライバ集積回路（ＩＣ）を備えていてもよい。一以上の実施形態において、表示ドライバ２００は、処理装置２０から受け取った画像データ及び／又は制御コマンドに基づいて表示パネル１００を駆動するように構成されている。一以上の実施形態において、処理装置２０は、中央演算装置（ＣＰＵ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、及び、インターフェースユニット２１を備えることがある。
一以上の実施形態において、表示パネル１００は、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）表示パネルのような自発光表示パネルを含み得る。一以上の実施形態において、表示パネル１００は、データ線、ゲート線及び行列に配置された画素を備えている。一以上の実施形態において、各画素は、異なる色の光を発するように構成された複数の副画素を備えている。一以上の実施形態において、各画素は、これに限定されないが、赤色の光を発するように構成されたＲ副画素と、緑色の光を発するように構成されたＧ副画素と、青色の光を発するように構成されたＢ副画素とを備えている。各画素は、異なる色の光を発するように構成された副画素を追加的に備えていてもよい。
一以上の実施形態では、各副画素は、駆動電流が印加されると光を発するＯＬＥＤ素子を備えている。一以上の実施形態では、各副画素は、対応するゲート線及び対応するデータ線に接続される。一以上の実施形態では、副画素は、対応するゲート線が選択されると、対応するデータ線を介して表示ドライバ２００から受け取った駆動信号に基づいてＯＬＥＤ素子が光を発するように構成されている。一以上の実施形態では、表示パネル１００は、各副画素に電源電圧を供給するように構成された電源線を備えており、副画素は、それぞれ、受け取った電源電圧で動作して赤、緑又は青の光を発するように構成されている。
一以上の実施形態では、表示ドライバ２００が、命令制御回路部２１０と、タイミング制御回路部２２０と、ゲート線駆動回路部２３０と、データ線駆動回路部２４０と、デジタルガンマ回路部２５０と、補償回路部２６０と、電圧データ補正回路部２８０とを備えている。
一以上の実施形態では、命令制御回路部２１０は、処理装置２０から受け取った画像データをデジタルガンマ回路部２５０に転送するように構成されている。一以上の実施形態では、命令制御回路部２１０は、更に、タイミング制御回路部２２０を動作させてゲート線駆動回路部２３０によるゲート線の駆動タイミングとデータ線駆動回路部２４０によるデータ線の駆動タイミングとを制御するように構成されている。
一以上の実施形態では、図２に図示されているように、デジタルガンマ回路部２５０は、命令制御回路部２１０から受け取った画像データを表示パネル１００の各画素の各副画素に供給される駆動信号の電圧レベルを指定する電圧データに変換するように構成されている。一以上の実施形態では、デジタルガンマ回路部２５０は、該電圧データを電圧データ補正回路部２８０に出力するように構成されている。一以上の実施形態では、画像データは、対象画素のＲ副画素、Ｇ副画素及びＢ副画素の階調値を記述するＲＧＢ階調データを備えていてもよく、デジタルガンマ回路部２５０は、ＲＧＢ階調データを、該対象画素のＲ副画素、Ｇ副画素及びＢ副画素に供給されるべき駆動信号の電圧レベルを指定するＲＧＢ電圧データに変換するように構成されていてもよい。
一以上の実施形態では、デジタルガンマ回路部２５０は、命令制御回路部２１０から受け取った画像データに対してデジタルガンマ補正を行って電圧データを生成するように構成される。一以上の実施形態では、デジタルガンマ回路部２５０は、フレキシブルに、又は、プログラム可能にデジタルガンマ補正を制御するように構成される。これは、滑らかなガンマ特性を提供することがある。ここで、ガンマ特性とは、画像データに指定されている階調値と副画素の輝度レベルとの間の関係をいう。
一以上の実施形態では、補償回路部２６０と電圧データ補正回路部２８０とが、表示パネル１００の各副画素に電源電圧を分配する電源線で発生する電圧降下を補償するように構成されている。表示パネル１００の電源線での電圧降下は、表示パネル１００に表示されるフレーム画像にムラ又は表示輝度の不均一性を生じさせ得る。一以上の実施形態では、ムラの生成が、この電圧降下補償によって抑制される。
一以上の実施形態では、電圧降下補償は、表示パネル１００の算出された総電流に基づいて行われる。一以上の実施形態では、総電流は、各画素に流れる画素電流の和に基づいて算出される。表示パネル１００の電源線での電圧降下は、表示パネル１００の総電流に依存することがあり、よって、算出した総電流を用いることは、電圧降下補償を向上させることがある。
一以上の実施形態では、総電流は、表示パネル１００の総輝度レベルに基づいて算出され、電圧降下が、表示パネル１００の総輝度レベルに基づいて補償される。一以上の実施形態では、総輝度レベルは、表示パネル１００の各画素の画素輝度レベルの和に基づいて算出される。各画素の画素輝度レベルは、各画素において流れる画素電流に対応していることがあり、よって、表示パネル１００の総輝度レベルは、表示パネル１００の総電流に対応していることがある。よって、表示パネル１００全体の総輝度レベルを用いることで、電圧降下補償を向上できることがある。
一以上の実施形態では、補償回路部２６０は、対象画素について、表示パネルの総電流又は総輝度レベルに基づいてゲインデータを生成するように構成され、電圧データ補正回路部２８０は、補償回路部２６０から受け取ったゲインデータに基づいて、デジタルガンマ回路部２５０から受け取った電圧データを補正するように構成される。
一以上の実施形態では、補償回路部２６０は、表示パネル１００の画素の画像データと命令制御回路部２１０によって指定されたディスプレイ輝度値（ＤＢＶ）とに基づいて、表示パネル１００の総電流又は総輝度レベルを算出するように構成される。ＤＢＶは、表示パネルに表示されるフレーム画像の全体の輝度レベルを指示することがある。一以上の実施形態では、ＤＢＶは、処理装置２０からの指示に基づいて調整されることがある。一以上の実施形態では、処理装置２０は、インターフェースユニット２１への入力に基づいてＤＢＶを調整するように構成されることがある。一以上の実施形態では、インターフェースユニット２１の入力は、表示パネル１００に表示されたボタンやスクロールバーのようなグラフィカルユーザーインターフェースの操作に基づいていてもよい。
一以上の実施形態では、電圧データ補正回路部２８０は、補償回路部２６０から受け取ったゲインデータに基づいて対象画素の電圧データを補正するように構成される。一以上の実施形態では、電圧データ補正回路部２８０が、補正後の電圧データをデータ線駆動回路部２４０に供給するように構成され、データ線駆動回路部２４０は、補正後の電圧データに基づいて対象画素の副画素に駆動信号を供給するように構成される。一以上の実施形態では、データ線駆動回路部２４０は、デジタル－アナログコンバータ（ＤＡＣ）を備えている。
一以上の実施形態では、電圧データ補正回路部２８０は、デジタルガンマ回路部２５０から受け取った電圧データを補償回路部２６０から受け取ったゲインデータで乗算するように構成された乗算器を備えていてもよい。一以上の実施形態では、補正後の電圧データは、デジタルガンマ回路部２５０から受け取った電圧データの値を補償回路部２６０から受け取ったゲインデータに反映されている補正係数で乗算することで生成されてもよい。このような実施形態では、補正後電圧データは、電圧データの補正に対してガンマカーブが不変であることに寄与する。
画像データに記述された階調値が補正係数で乗算される場合、図３Ａに図示されているように、副画素の輝度レベルは、階調値に比例していないので、ガンマカーブは、ガンマカーブの変曲点が例えば右方向にシフトするように変化され得る。図３Ｂに図示されているように、ゲインデータで電圧データを乗じる場合には、ガンマカーブが有効に維持されることがある。なぜなら、副画素の輝度レベルが副画素に組み込まれているＯＬＥＤ素子に供給される駆動電流に比例しており、駆動電流が電圧データで決定されるからである。
一以上の実施形態では、図４に図示されているように、補償回路部２６０が、画素輝度算出回路部４００と、積算器２６７と、エリアゲインルックアップテーブル（ＬＵＴ）回路部２６８と、位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９と、乗算器２７０とを備えている。
一以上の実施形態では、画素輝度算出回路部４００は、対象画素の画素輝度レベルを算出するように構成されている。いくつかの実施形態では、画素輝度レベルは、該画素を流れる画素電流に対応しており、画素輝度レベルが画素電流に基づいて算出される。画素輝度算出回路部４００は、対象画素の画素電流を算出するように構成されてもよい。
一実施形態では、画像データが、対象画素のＲ、Ｇ、Ｂ副画素の階調値を記述するＲＧＢ階調データを備えている場合、画素輝度算出回路部４００は、該ＲＧＢ階調データに基づいて画素輝度レベルを算出するように構成されてもよい。
一以上の実施形態では、画素輝度算出回路部４００は、ガンマＬＵＴ回路部２６１と、加算器２６２と、位置降下２次元（２Ｄ）ＬＵＴ回路２６３と、第１乗算器２６４と、ＤＢＶ ＬＵＴ回路部２６５と、第２乗算器２６６とを備えている。
一以上の実施形態では、ガンマＬＵＴ回路部２６１は、対象画素のＲＧＢ階調データに記述されているＲ、Ｇ及びＢ階調値を、それぞれ、所定のＤＢＶ、例えば許容される最大ＤＢＶに対応するＲ、Ｇ及びＢ輝度レベルに変換する。一以上の実施形態では、ガンマＬＵＴ回路部２６１は、ＲガンマＬＵＴ ２６１Ｒと、ＧガンマＬＵＴ ２６１Ｇと、ＢガンマＬＵＴ ２６１Ｂとを備えている。一以上の実施形態では、ＲガンマＬＵＴ ２６１Ｒが、許容されるＲ階調値にそれぞれ対応するＲ副画素の輝度レベルを格納している。同様に、一以上の実施形態では、ＧガンマＬＵＴ ２６１Ｇが、許容されるＧ階調値にそれぞれ対応するＧ副画素の輝度レベルを格納しており、ＢガンマＬＵＴ ２６１Ｂが、許容されるＢ階調値にそれぞれ対応するＢ副画素の輝度レベルを格納している。一以上の実施形態では、Ｒ、Ｇ、ＢガンマＬＵＴ ２６１Ｒ、２６１Ｇ、２６１Ｂは、テーブルルックアップ技法により、対象画素のＲ、Ｇ、Ｂ副画素の輝度レベルを得るように構成されている。いくつかの実施形態では、得られたＲ、Ｇ、Ｂ副画素の輝度レベルが、それぞれ、対象画素のＲ、Ｇ、Ｂ副画素に流れる副画素電流に対応している。
一以上の実施形態では、加算器２６２は、Ｒ、Ｇ、Ｂ輝度レベルを加算して、対象画素の該所定のＤＢＶ（例えば、最大ＤＢＶ）に対応する画素輝度レベルを得るように構成されている。いくつかの実施形態では、得られた画素輝度レベルが、該所定のＤＢＶに対応する対象画素の画素電流に対応している。
一以上の実施形態では、位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３は、対象画素の位置に基づいて第１補正係数を出力するように構成されている。第１補正係数は、対象画素について発生する電圧降下を、その位置に応じて補償するために用いられる。一以上の実施形態では、位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３は、命令制御回路部２１０から対象画素の座標（Ｘ，Ｙ）を受け取り、該対象画素の座標（Ｘ，Ｙ）に基づいて第１補正係数を出力するように構成されている。一以上の実施形態では、位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３は、対象画素の様々な位置について補正係数を格納するように構成されている。このような実施形態では、位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３は、対象画素の座標（Ｘ，Ｙ）に基づいて格納された補正係数から２以上の補正係数を選択し、座標（Ｘ，Ｙ）に基づいて選択された補正係数の内挿によって位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３から出力されるべき第１補正係数を算出するように構成されてもよい。
一以上の実施形態では、ＤＢＶ ＬＵＴ回路部２６５は、命令制御回路部２１０によって指定されたＤＢＶに基づいて第２補正係数を出力するように構成されている。いくつかの実施形態では、第２補正係数は、対象画素の、指定されたＤＢＶに対応する画素輝度レベルを算出するために用いられる。一以上の実施形態では、ＤＢＶ ＬＵＴ回路部２６５は、許容されるＤＢＶそれぞれについて補正係数を格納し、命令制御回路部２１０から受け取ったＤＢＶに基づいて格納している補正係数のうちから第２補正係数を選択するように構成される。
いくつかの実施形態では、第１乗算器２６４と第２乗算器２６６とが、所定のＤＢＶに対応する画素輝度レベルと第１及び第２補正係数とに基づいて、命令制御回路部２１０によって指定されたＤＢＶに対応する画素輝度レベルを算出するために用いられる。一以上の実施形態では、第１乗算器２６４が、加算器２６２から受け取った画素輝度レベルを位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３から受け取った第１補正係数で乗算し、第２乗算器２６６が、第１乗算器２６４の出力をＤＢＶ ＬＵＴ回路部２６５から受け取った第２補正係数で乗算して指定されたＤＢＶに対応する画素輝度レベルを得るように構成されている。いくつかの実施形態では、得られた画素輝度レベルは、対象画素の、指定されたＤＢＶに対応する画素電流に対応している。
一以上の実施形態では、積算器２６７が、画素輝度算出回路部４００から逐次に受け取った画素輝度レベルを積算又は累積して表示パネル１００全体の総輝度レベルを算出するように構成されている。
一以上の実施形態では、エリアゲインＬＵＴ回路部２６８が、積算器２６７によって算出された総輝度レベルに対応するエリアゲインを出力するように構成されている。いくつかの実施形態では、電源線における電圧降下は、表示パネル１００の総電流又は総輝度レベルが増加すると増加する。一実施形態では、表示パネル１００の総電流が大きい場合、表示パネル１００の各画素の実際の輝度レベルが電圧降下が発生しても維持されるようにエリアゲインが生成され得る。
一以上の実施形態では、位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９は、対象画素の位置に基づいて位置ゲインを出力し、対象画素について該画素の位置に依存して発生し得る電圧降下を補償するように構成されている。一以上の実施形態では、位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９は、命令制御回路部２１０から対象画素の座標（Ｘ，Ｙ）を受け取り、対象画素の座標（Ｘ，Ｙ）に基づいて位置ゲインを出力するように構成されている。一以上の実施形態では、位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９は、画素の様々な位置について位置ゲインを格納するように構成されている。このような実施形態では、位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９は、対象画素の座標（Ｘ，Ｙ）に基づいて格納された位置ゲインのうちから２以上の位置ゲインを選択し、座標（Ｘ，Ｙ）に基づいて選択された位置ゲインの内挿により、位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９から出力されるべき位置ゲインを算出するように構成されてもよい。
一以上の実施形態では、乗算器２７０は、対象画素に対応するエリアゲインと位置ゲインとに基づいてゲインデータを取得し、該ゲインデータを電圧データ補正回路部２８０に供給するように構成されている。いくつかの実施形態では、乗算器２７０は、エリアゲインを位置ゲインで乗算することでゲインデータを得るように構成されている。
一以上の実施形態では、表示ドライバ２００が、図５に図示されるように動作するように構成されている。ステップＳ１０１において、デジタルガンマ回路部２５０は、命令制御回路部２１０から対象画素に対応するＲＧＢ階調データを受け取ると、該ＲＧＢ階調データを電圧データに変換し、該電圧データを電圧データ補正回路部２８０に出力することがある。ステップＳ１０２において、ガンマＬＵＴ回路部２６１は、命令制御回路部２１０からＲＧＢ階調データを受け取ると、該ＲＧＢ階調データに対応するＲ、Ｇ及びＢ輝度レベルを出力することがある。ステップＳ１０３では、加算器２６２は、Ｒ、Ｇ及びＢ輝度レベルを加算して所定のＤＢＶに対応する画素輝度レベルを得ることがある。ステップＳ１０４では、対象画素の位置に基づく電圧降下補償を実現するために、位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３が、対象画素の位置に基づいて第１補正係数を出力してもよく、第１乗算器２６４は、画素輝度レベルに第１補正係数を乗算する。ステップＳ１０５では、ＤＢＶ ＬＵＴ回路部２６５が、ＤＢＶに基づいて第２補正係数を出力することがあり、第２乗算器２６６が、第１乗算器２６４の出力に第２補正係数を乗算して指定されたＤＢＶに対応する画素輝度レベルを得ることがある。ステップＳ１０１～Ｓ１０５は、表示パネル１００の各画素について繰り返し行われ得る。ステップＳ１０６において、積算器２６７は、表示パネル１００全体について各画素の画素輝度レベルを累積して総輝度レベルを得る。ステップＳ１０７において、エリアゲインＬＵＴ回路部２６８が総輝度レベルに対応するエリアゲインを出力することがあり、ステップＳ１０８において、位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９が対象画素の位置に基づいて位置ゲインを出力することがある。これに続き、エリアゲインを位置ゲインで乗算して対象画素のゲインデータを生成する。ステップＳ１０９では、電圧データ補正回路部２８０が、補償回路部２６０から受け取ったゲインデータに基づいてデジタルガンマ回路部２５０から受け取った電圧データを補正することで、補正後電圧データを得ることがある。データ線駆動回路部２４０は、このようにして生成された補正後電圧データに基づいて駆動信号を生成してもよい。一以上の実施形態では、電圧データ補正回路部２８０は、デジタルガンマ回路部２５０から受け取った電圧データをゲインデータで乗算して補正後電圧データを生成してもよい。
他の実施形態では、図６Ａに図示されているように、表示ドライバ２００が画像データを補正し、補正された画像データに基づいて駆動信号を生成するように構成される。このような実施形態では、表示ドライバ２００が、フレームメモリ４１０と、総電流算出回路部４２０と、補正項算出回路部４３０と、補正回路部４４０とを備えていてもよい。一以上の実施形態では、フレームメモリ４１０が、少なくとも一のフレーム画像に対応する画像データを格納するように構成される。一以上の実施形態では、総電流算出回路部４２０が、各フレーム画像について表示パネル１００の総電流を算出するように構成される。一以上の実施形態では、補正項算出回路部４３０が、総電流に基づいて補正項を算出する。一以上の実施形態では、補正回路部４４０が、補正項算出回路部４３０から受け取った補正項に基づいてフレームメモリ４１０から受け取った画像データを補正する。
一以上の実施形態では、図６Ｂに図示されているように、表示ドライバ２００が、各フレーム画像に対応する画像データを、同じフレーム画像の画像データに基づいて算出された総電流に基づいて補正する。例えば、フレーム画像＃１の画像データ＃１からフレーム画像＃１に対応する総電流＃１が算出され、算出された総電流＃１に基づいて画像データ＃１が補正されて補正後画像データ＃１が得られる。このような実施形態では、表示画像が更新されつつあるときに、表示画像の更新が完了した時点で表示パネル１００に流れると予期される総電流に基づいて表示フレーム画像に対応する画像データが補正される。
一以上の実施形態では、図７に図示されているように、全白画像が表示パネル１００に現在表示されており、左上の１／９の領域が白で残りが黒である、ほぼ黒の画像が、次に表示される。このような実施形態では、該ほぼ黒の画像に対し、該ほぼ黒の画像について得られた総電流に基づく電圧降下補償が行われ得る。一実施形態では、表示装置１０が一ラインずつ画像を表示するように構成され、該ほぼ黒の画像の１／９の白の部分が更新しつつあるときに、この瞬間では、該全白画像が表示パネル１００に表示され、ほぼ黒の画像の画像データが該ほぼ黒の画像について算出された総電流に基づいて補正されるにもかかわらず、全白画像に対応する電圧降下が発生し得る。
他の実施形態では、図８Ａに図示されているように、表示ドライバ２００がフレームメモリ４１０を備えていないことがある。このような実施形態では、図８Ｂに示すように、あるフレーム画像について算出された総電流が、次のフレーム画像に反映されることがある。算出された総電流は、フレーム期間の前部分に表示パネル１００に流れる総電流に対応し得るので、電圧降下補償は、フレーム期間の前部分に更新されるフレーム画像の部分については適切に行われ得る。
一以上の実施形態では、フレーム画像を更新している間にその時点で表示パネル１００を流れる総電流に基づいて電圧降下が補償される。一以上の実施形態では、図９に図示されているように、表示パネル１００が複数のセグメント、例えば、１６のセグメント＃０～＃１５に区分される。一以上の実施形態では、各セグメントが、複数の画素のラインを備えている。ここで、画素の「ライン」は、表示パネル１００の「水平」方向に並ぶ、１列の画素を意味していることがある。「水平」方向は、表示パネル１００のスキャン線が延伸されている方向を意味していることがある。一以上の実施形態では、表示ドライバ２００が各セグメントについて画素輝度レベル又は画素電流の小計を算出し、該小計を加えて表示パネル１００全体の総輝度レベル又は総電流を得るように構成される。他の実施形態では、該セグメントは、水平方向と垂直な垂直方向に並んでいる。
一以上の実施形態では、図１０に図示されているように、積算器２６７が各セグメントについて画素輝度レベル又は画素電流の小計を算出し、算出した総計を格納するように構成される。このような構成では、積算器２６７は、算出された小計を加算して表示パネル１００全体の総輝度レベル又は総電流を得るように更に構成される。表示パネル１００が１６のセグメント＃０～＃１５に区分される場合、一以上の実施形態では、現在更新されつつある画像の１つのセグメントに対応する小計が、前の画像フレームに対応する画像データに基づいて算出され、残りの１５のセグメントに対応する小計が、現在、表示パネル１００に表示されている画像データに基づいて算出される。結果として、少なくとも１５セグメントに対応する小計が、正しく計算される。
図１１を参照して、一以上の実施形態では、セグメント＃０～＃１５が、この順番で、現フレーム期間において第１フレーム画像から第２フレーム画像に逐次に更新される。凡例“so[0]”から“so[15]”は、それぞれ、表示パネル１００に初期的に表示されている第１フレーム画像に対応するセグメント＃０～＃１５について算出された画素輝度レベル又は画素電流の小計を示しており、凡例“sn[0]”から“sn[15]”は、それぞれ、表示パネル１００に次に表示されるべき第２フレーム画像に対応するセグメント＃０～＃１５について算出された小計を示している。
一以上の実施形態では、図１１の最も左の部分に図示されているように、セグメント＃０が第１フレーム画像から第２フレーム画像に更新されつつある場合、ゲインデータは、第１フレーム画像について算出された小計so[0]～so[15]の総和として下記の式（１）によって表されるように算出された総輝度レベル又は総電流に基づいて、セグメント＃０の画素について算出される：
Figure 0007361030000001
 ここで、式（１）の“sum”は、表示パネル１００全体に対応する総輝度レベル又は総電流である。
セグメント＃ｉが第１フレーム画像から第２フレーム画像に更新されつつある場合、一以上の実施形態では、ゲインデータが、第２フレーム画像について算出された小計sn[0]～sn[i-1]と第１フレーム画像について算出された小計so[i]～so[15]との総和として下記式（２）で表されるように算出された総輝度レベル又は総電流に基づいて、セグメント＃ｉの画素について算出される。
Figure 0007361030000002
例えば、一以上の実施形態では、セグメント＃１が更新されつつあるとき、セグメント＃０が既に更新されているので、ゲインデータは、第２フレーム画像について算出された小計sn[0]と第１フレーム画像について算出された小計so[1]～so[15]の総和として下記式（３）で表されるように算出された総輝度レベル又は総電流に基づいて、セグメント＃１の画素について算出される。
Figure 0007361030000003
一以上の実施形態では、セグメント＃１４が更新されつつあるとき、セグメント＃０～＃１３は既に更新されているので、ゲインデータは、第２フレーム画像について算出された小計sn[0]～sn[13]と第１フレーム画像について算出された小計so[14]～so[15]の総和として下記式（４）で表されるように算出された総輝度レベル又は総電流に基づいて、セグメント＃１４の画素について算出される。
Figure 0007361030000004
一以上の実施形態では、セグメント＃１５が最後に更新されつつあるとき、セグメント＃０～＃１４は既に更新されているので、ゲインデータは、第２フレーム画像について算出された小計sn[0]～sn[14]と第１フレーム画像について算出された小計so[15]の総和として下記式（５）で表されるように算出された総輝度レベル又は総電流に基づいて、セグメント＃１５の画素について算出される。
Figure 0007361030000005
この手法によれば、１６のセグメントのうち少なくとも１５について、実際に表示される画像に対応する画素輝度レベル又は画素電流の小計に基づいて総輝度レベル又は総電流を算出することができ、これは、適切な電圧降下補償を提供することがある。もし、残りの１セグメントの画像に大きな変化がない場合、総輝度レベル又は総電流は、実質的に適切に算出される。これは、ゲインデータが少なくとも１５の信頼できる小計に基づいて算出されることを意味していることがある。一以上の実施形態では、算出されたゲインデータの相対誤差は、多くとも６．２５％（１／１６）に低減される。
隣接するセグメントの間でのエリアゲインの急変を抑制するために、一以上の実施形態では、補償回路部２６０が、更に、エリアゲインＬＵＴ回路部２６８によって算出されたエリアゲインに内挿演算を行うように構成された内挿算出器２６８Ａを備えている。一以上の実施形態では、内挿算出器２６８Ａが、現エリアゲインと前エリアゲインの内挿を行ってゲインデータを得るために最終的に用いられるエリアゲインを得るように構成される。現エリアゲインは、現在更新されつつあるセグメントについてエリアゲインＬＵＴ回路部２６８によって得られるエリアゲインであってもよく、前エリアゲインは、ちょうど更新されたばかりの前セグメントについて得られたエリアゲインであってもよい。例えば、図１２に図示されているようにセグメント＃１が更新されつつあるとき、現エリアゲインは、セグメント＃１についてsn[0]とso[1]～so[15]に基づいて算出されることがあり、前エリアゲインは、セグメント＃０についてso[0]～so[15]に基づいて算出されていることがある。前エリアゲインと現エリアゲインは、静止画が表示される場合を除き、多くの場合、互いに異なった値をとり得る。一実施形態では、前エリアゲインと現エリアゲインとの差が大きいと、セグメント＃０と＃１との間の明るさの差が大きくなり、不適切なフレーム画像を表示する結果となることがある。現エリアゲインと前エリアゲインとの内挿を行うことで、ゲインデータを算出するために用いられるエリアゲインを滑らかに変化させることができる。
一以上の実施形態では、各セグメントがＭラインの画素を備えているとき、内挿算出器２６８Ａが、更新されつつあるセグメントのｊ番目のラインに位置する画素について、下記式（６）に従って内挿されたエリアゲインを算出するように構成される：
Figure 0007361030000006
 ここで、KAREAはゲインエリアを算出するために最終的に用いられる内挿されたエリアゲインであり、KAREA_Pは前エリアゲインであり、KAREA_Cは現エリアゲインである。
一以上の実施形態では、表示パネル１００が１９２０ラインの画素を備えており、１６個のセグメントが表示パネル１００に規定される。このような実施形態では、各セグメントが１２０ラインの画素を備えており、内挿算出器２６８Ａは、下記式（７）に従って内挿されたエリアゲインを算出してもよい：
Figure 0007361030000007
一以上の実施形態では、表示ドライバ２００が図１３に図示されているように動作するように構成される。ステップＳ２０１～Ｓ２０５では、図５のステップＳ１０１～Ｓ１０５の処理と類似した処理が行われる。ステップＳ２０６Ａでは、積算器２６７が、更新されつつあるセグメントについて画素輝度レベル又は画素電流を積算して該セグメントについて画素輝度レベルの小計を得ることがある。ステップＳ２０６Ｂでは、積算器２６７が、上述の式（１）及び（２）に従って、エリアゲインの算出に用いられる総輝度レベル又は総電流を得ることがある。ステップＳ２０７～Ｓ２０９では、図５のステップＳ１０７～Ｓ１０９の処理と類似した処理が行われる。
このような実施形態では、電圧降下補償は、フレームメモリを用いずに達成される。セグメントの数がＮである場合、Ｎ個のセグメントのうちの少なくともＮ－１個について、表示パネル１００に現在表示されているフレーム画像に基づいて画素輝度レベル又は画素電流の小計が算出され、これにより、適切な電圧降下補償を達成し得る。言い換えれば、エリアゲインの相対誤差は、多くとも１／Ｎ×１００％に低減され得る。
一以上の実施形態では、図１４に図示されているように、表示装置１０が、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）５００のような処理装置と輝度計のような測定装置３０とを備えるテストシステム１０００によってテストされる。一以上の実施形態では、テストシステム１０００は、出荷検査の間に、表示装置１０をテストして表示ドライバ２００のパラメータ設定を調整するように構成されている。
一以上の実施形態では、ＰＣ ５００は、表示装置１０をテストしているとき、テスト画像データとＭＩＰＩコマンドを表示装置１０の表示ドライバ２００に送信するように構成される。一以上の実施形態では、表示ドライバ２００は、テスト画像データとＭＩＰＩコマンドとに基づいてテスト画像を表示するように構成される。一以上の実施形態では、ＰＣ ５００は、測定装置３０を制御して表示パネル１００に表示されたテスト画像の所望の位置における輝度座標を測定するように構成される。一以上の実施形態では、ＰＣ ５００は、測定された輝度座標を測定装置３０から受け取り、測定された輝度座標に基づいて表示ドライバ２００のパラメータ設定を調整するように構成される。
このアーキテクチャでは、テストの間、大量のテスト画像データが表示ドライバ２００に転送され得る。これを避けるために、テスト画像データは、データ転送量を低減するように転送前に圧縮されることがある。しかしながら、これでは、テスト画像データの圧縮誤差により表示装置１０のテストが失敗することになり得る。
一以上の実施形態では、図１５Ａ、図１５Ｂに図示されているように、表示ドライバ２００がＰＣ ５００からテスト画像データを受け取らずにテスト画像を表示するように構成される。一以上の実施形態では、表示されるテスト画像は、表示パネル１００の電源線における電圧降下を補償するために用いられるものを含む。表示パネル１００における電圧降下によって生じる輝度変化を正確に測定するために、テスト画像は、異なる面積、サイズ、色及び階調レベルの正面画像要素を含むことがあり、正面画像要素は、テスト画像の異なる位置に位置していることがある。一以上の実施形態では、測定装置３０は、テスト画像が表示されたときに表示パネル１００の所望の位置の輝度レベルを測定するように構成される。測定装置３０は、図１５Ａ、図１５Ｂの間で表示パネル１００における位置を変更する。
一以上の実施形態では、図１６に図示されているように、表示ドライバ２００が、更に、テスト画像生成回路部２９０とメモリ３００とを備えている。一以上の実施形態では、テスト画像生成回路部２９０は、命令制御回路部２１０を介してＰＣ ５００から送信されたコマンドを受け取ると様々なテスト画像を生成するように構成される。一以上の実施形態では、メモリ３００は、命令制御回路部２１０に接続されており、様々なパラメータを格納するように構成されている。
一以上の実施形態では、ＰＣ ５００は、ユーザ入力を受け取るように構成された入力ユニット５１０を備えている。一以上の実施形態では、ユーザは、ユーザ入力を用いてテスト画像に組み込まれている正面画像要素の色、サイズ及び／又は座標を指定することができる。一以上の実施形態では、測定装置３０は、表示パネル１００に表示されたテスト画像の特性を測定し、測定結果をＰＣ ５００に出力するように構成されている。測定装置３０は、表示パネル１００に表示されたテスト画像の様々な位置において輝度レベルを測定するように構成された輝度計を備えていてもよい。
図１７は、電圧降下補償に用いられる例示的なテスト画像を図示している。表示パネル１００における電圧降下を正確に補償するために、一以上の実施形態では、テスト画像生成回路部２９０が、様々なサイズの単色の正面画像要素を、背景の様々な位置に設けているテスト画像を生成するように構成される。図１７において、正面画像要素は、符号６００によって参照されている。一以上の実施形態では、テスト画像の正面画像要素６００は長方形である。
図１８は、一以上の実施形態による、テスト画像生成回路部２９０によって生成されるテスト画像の例示的な仕様を図示している。一以上の実施形態では、テスト画像生成回路部２９０は、次の少なくとも一に基づいてテスト画像を生成するように構成される：（１）背景の色及び／又は階調レベルを指定するパラメータ、（２）テスト画像に含まれる正面画像要素の左上の角の座標(FX, FY)を指定するパラメータ、（３）正面画像要素の幅及び／又は垂直方向のサイズを指定するパラメータ、及び、（４）正面画像要素の色及び／又は階調レベルを指定するパラメータ。一以上の実施形態では、これらのパラメータがＰＣ ５００によって生成され、ＰＣ ５００から命令制御回路部２１０にＭＩＰＩコマンドを用いて送信される。
一以上の実施形態では、テスト画像は、図１９に図示された処理において生成される。一以上の実施形態では、ステップＳ３０１において、命令制御回路部２１０がＰＣ ５００からコマンドを受信する。一以上の実施形態では、ステップＳ３０２において、命令制御回路部２１０が、該コマンドがテスト画像の背景の色及び／又は階調を指定しているかを判断する。該コマンドが背景の色及び／又は階調を指定している場合、一以上の実施形態では、ステップＳ３０３において、命令制御回路部２１０が、メモリ３００の、背景の色及び／又は階調を指定するパラメータを、受信したコマンドによって指定されているとおりに更新する。そうでなければ、処理はステップＳ３０４に進む。一以上の実施形態では、ステップＳ３０４において、命令制御回路部２１０が、該コマンドが、テスト画像の正面画像要素の左上の角の座標を指定しているかを判断する。該コマンドがテスト画像の正面画像要素の左上の角の座標を指定している場合、一以上の実施形態では、ステップＳ３０５において、命令制御回路部２１０が、メモリ３００の、正面画像要素の左上の角の座標を指定するパラメータを更新する。そうでなければ、処理はステップＳ３０６に進む。
一以上の実施形態では、ステップＳ３０６において、命令制御回路部２１０が、該コマンドがテスト画像の正面画像要素の幅及び／又は垂直方向のサイズを指定しているかを判断する。該コマンドがテスト画像の正面画像要素の幅及び／又は垂直方向のサイズを指定している場合、一以上の実施形態では、ステップＳ３０７において、命令制御回路部２１０が、メモリ３００の、テスト画像の正面画像要素の幅及び／又は垂直方向のサイズを指定しているパラメータを更新する。そうでなければ、処理はステップＳ３０８に進む。一以上の実施形態では、ステップＳ３０８において、命令制御回路部２１０が、該コマンドがテスト画像の正面画像要素の色及び／又は階調を指定しているかを判断する。該コマンドがテスト画像の正面画像要素の色及び／又は階調を指定している場合、一以上の実施形態では、ステップＳ３０９において、命令制御回路部２１０が、メモリ３００の、正面画像要素の色及び／又は階調を指定しているパラメータを更新する。そうでなければ、処理がステップＳ３１０に進む。ステップＳ３０２－Ｓ３０３、ステップＳ３０４－Ｓ３０５、ステップＳ３０６－Ｓ３０７、ステップＳ３０８－Ｓ３０９の実行順序は特に限定されない。例えば、命令制御回路部２１０は、ステップＳ３０８－Ｓ３０９、ステップＳ３０６－Ｓ３０７、ステップＳ３０４－Ｓ３０５及びステップＳ３０２－Ｓ３０３を、この順で行ってもよい。
一以上の実施形態では、ステップＳ３１０において、命令制御回路部２１０がテスト画像生成回路部２９０を活性化し、テスト画像生成回路部２９０が、メモリ３００に格納されたパラメータに基づいて様々なテスト画像を生成する。
一以上の実施形態では、表示装置１０が、図２０Ａ、図２０Ｂに図示されている処理でテストシステム１０００によってテストされる。一以上の実施形態では、ステップＳ４０１において、ＰＣ ５００による制御の下、テスト画像が表示パネル１００に表示される。一以上の実施形態では、ステップＳ４０２において、測定装置３０が、マニピュレータ（図示されない）によってテスト画像の所望の測定位置に移動される。マニピュレータは、測定装置３０が所望の位置及び／又はタイミングで輝度レベルを測定するようにプログラミングされてもよい。その代わりに、ＰＣ ５００が、ＰＣ ５００に格納されたプログラムに従ってマニピュレータを制御してもよい。他の実施形態では、表示パネル１００が測定装置３０に対して移動されてもよい。一以上の実施形態では、ステップＳ４０３において、測定装置３０が、テスト画像の所望の位置の輝度レベルを測定し、ＰＣ ５００が、測定装置３０から測定結果を取得する。一以上の実施形態では、ステップＳ４０４において、ＰＣ ５００が、テスト画像の所定の位置の測定が完了したかを判断する。
所定の位置の測定が完了した場合、処理はＳ４０５に進む。そうでない場合、処理はステップＳ４０２に戻る。一以上の実施形態では、ステップＳ４０５において、ＰＣ ５００は、入力ユニット５１０からのユーザによる入力またはＲＯＭに格納されたデータに基づいて、異なるテスト画像について輝度測定を行うべきかを判断する。
一以上の実施形態では、もしそうなら、ステップＳ４０６において、テスト画像生成回路部２９０が、他のテスト画像を生成し、生成したテスト画像を表示パネル１００に表示する。一以上の実施形態では、ステップＳ４０２～Ｓ４０５の処理が、生成されたテスト画像について繰り返される。所望のテスト画像についての輝度測定が完了すると、処理は、図２０ＢのステップＳ４０７に進む。一以上の実施形態では、ステップＳ４０７において、ＰＣ ５００が、測定結果に基づいて補償回路部２６０に設定すべき適切な補正パラメータを生成し、該補正パラメータをＭＩＰＩコマンドによって命令制御回路部２１０に送信する。一以上の実施形態では、補正パラメータが、位置降下２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６３に格納されるべき第１補正係数及び／又は位置ゲイン２Ｄ－ＬＵＴ回路部２６９に格納されるべき位置ゲインを備えている。そして、補正パラメータが補償回路部２６０に設定され、補償回路部２６０が電圧降下補償のための補正パラメータに基づいてゲインデータを生成することができるようになる。
一以上の実施形態では、ステップＳ４０８において、補正後テスト画像が表示パネル１００に表示される。一以上の実施形態では、補正後テスト画像は、デジタルガンマ回路部２５０によってテスト画像に対応するテスト画像データにガンマ補正を行い、更に、補償回路部２６０によって生成されたゲインデータに基づいてガンマ補正後画像データを電圧データ補正回路部２８０によって補正することで生成される。
一以上の実施形態では、ステップＳ４０２～Ｓ４０６に類似の処理が、ステップＳ４０９～Ｓ４１３において補正後テスト画像について行われる。一以上の実施形態では、ステップＳ４１２において、ＰＣ ５００が、入力ユニット５１０からのユーザの入力またはＲＯＭに格納されているデータに基づいて、異なる補正後テスト画像について輝度測定を行うべきかを判断する。一以上の実施形態では、もしそうなら、ステップＳ４１３においてテスト画像生成回路部２９０が他の補正後テスト画像を表示するために他のテスト画像を生成し、ステップＳ４０９～Ｓ４１２の処理が繰り返される。
所望の補正後テスト画像の輝度測定が完了すると、処理はステップＳ４１４に進む。一以上の実施形態では、ステップＳ４１４において、ＰＣ ５００が、更に、測定装置３０から受け取った測定結果に基づいて所望の表示特性が得られたかを判断する。ＰＣ ５００が所望の表示特性が得られたと判断した場合、処理は完了する。そうでなければ、処理はステップＳ４０１に戻る。テスト画像の所望の測定が完了した後、生成された電圧降下補償のための補正パラメータは、表示ドライバ２００のメモリ３００に転送され、メモリ３００に格納される。
図２１は、一以上の実施形態による、電圧降下の例示的なテスト結果を図示している。この例示的なテスト結果では、テスト画像は、上の１／５の領域にＲ、Ｇ及びＢの階調レベルが“２５５”と指定された白の正面画像要素を備えている。テスト画像の背景、即ち、下の４／５の領域の色は、白（Ｗ）、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）及び黄（Ｙ）から選択されている。測定装置３０は、下の４／５の領域の色を変化させながら、上の１／５の領域の輝度レベルを測定する。上の１／５の領域の色は白に固定されているが、上の１／５の領域の輝度レベルは、下の４／５の領域における色に依存して変化する。上の１／５の領域の輝度レベルの低減は、下の４／５の領域の階調レベルが増大すると顕著になる。上の１／５の領域の輝度レベルは、下の４／５の領域の色が純粋な赤（Ｒ）、緑（Ｇ）及び青（Ｂ）のいずれかであるときと比べて、下の４／５の領域の色が補色シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、黄（Ｙ）のいずれかである場合に、より大きく減少する。上の１／５の領域の輝度レベルは、下の４／５の領域の色が灰又は白（Ｗ）である場合に、更に減少する。一以上の実施形態では、上述されているように、背景の色及び／又は階調レベルを逐次に変化させながら正面画像要素の色及び階調レベルを不変にして表示装置１０がテストされる。
図２２は、一以上の実施形態による、電圧降下補償の例示的な結果を図示している。この結果は、全白画像が表示パネル１００に表示され、表示パネル１００が３行３列に配置された９つの等しいエリアに区分された場合について得られている。図２２のグラフは、９つのエリアの輝度レベルの測定結果及び電圧降下補償の結果を示している。グラフは、電圧降下補償が行われる前では、輝度レベルが表示パネル１００における位置に依存して変化することを図示しており、電圧降下補償が行われたときには輝度の均一性が向上する。
図２３は、一以上の実施形態による電圧降下補償の他の例示的な結果を図示している。この結果は、テスト画像が、その中央に長方形の正面画像要素を備えており、該正面画像要素の面積が１／９、４／９及び９／９から選択され、正面画像要素の色及び階調レベルが様々に変化されたときについて得られている。背景画像の階調レベルはゼロに設定され、よって、背景の色は黒である。面積、色及び／又は階調レベルを変化させながら、長方形の正面画像要素の階調レベルが測定装置３０によって測定されている。図２３のグラフは、電圧降下補償の前では、正面画像要素の輝度レベルが正面画像要素の面積に依存して変化することを示している。一方、電圧降下補償が行われる場合、正面画像要素の輝度レベルは正面画像要素の面積に対して不変に維持されている。
正面画像要素の輝度レベルは、電圧降下により、正面画像要素の色、位置、階調レベル及び／又は大きさ、及び、背景の色及び／又は階調レベルに依存して変化し得る。これに対応するために、一以上の実施形態では、テスト画像が、様々な色、階調レベル、大きさ及び／又は位置の正面画像要素と、様々な色及び／又は階調レベルの背景を備えている。一以上の実施形態では、テスト画像の輝度座標が、表示パネル１００の様々な位置で測定される。一以上の実施形態では、表示ドライバ２００のテスト画像生成回路部２９０は、様々な色及び階調レベルの背景画像に、様々な面積、色及び階調レベルの長方形の正面画像要素を様々な位置に表示するように構成される。一以上の実施形態では、テストシステム１０００は、様々な面積、色及び階調値の長方形の正面画像要素を表示している間に、様々な位置でテスト画像の測定を行うように構成される。一以上の実施形態では、表示ドライバ２００がテスト画像生成回路部２９０を備えているので、表示装置１０は、テストされるときにＰＣ ５００からテスト画像データを受け取らない。これは、コストを低減しながら、電圧降下補償のためのテスト画像の生成及び測定を素早く行うことに貢献する。
下記は、本開示の例示的な実施形態である。
一以上の実施形態では、表示ドライバが、
対象画素の画像データに基づいて電圧データを生成するように構成されたデジタルガンマ回路部と、
表示パネルの、それぞれが複数の画素を備える複数のセグメントそれぞれに対応する画素電流の小計に基づいて総電流を算出するように構成された補償回路部と、
前記総電流に基づいて前記電圧データを補正するように構成された補正回路部と
を備えている。
前記表示パネルの前記複数のセグメントは、フレーム期間において逐次に第１フレーム画像から第２フレーム画像に更新されることがある。前記総電流を算出することは、前記フレーム期間において前記複数のセグメントのうちの一のセグメントが更新されつつあるときに、前記複数のセグメントのうちの、前記フレーム期間においてまだ更新されていない第１セグメントに対応する第１小計に基づいて前記総電流を算出することを含んでいてもよく、ここで、前記第１小計は、前記第１フレーム画像に対応する第１画像データに基づいて算出される。
前記総電流を算出することは、更に、
前記フレーム期間において前記複数のセグメントのうちの前記一のセグメントが更新されつつあるときに、前記複数のセグメントのうち前記フレーム期間において既に更新された第２セグメントに対応する第２小計に基づいて前記総電流を算出することを含んでいてもよく、ここで、前記第２小計は、前記第２フレーム画像に対応する第２画像データに基づいて算出される。
前記総電流を算出することは、
前記フレーム期間において前記複数のセグメントのうちの前記一のセグメントが更新されつつあるときに、前記複数のセグメントのうちの前記一のセグメントに対応する第３小計に基づいて前記総電流を算出することを含んでいてもよく、ここで、前記第３小計は、前記第１フレーム画像に対応する前記第１画像データに基づいて算出される。
前記補償回路部は、更に、前記総電流に基づいて、前記対象画素について第１エリアゲインを算出するように構成されてもよい。前記電圧データを補正することは、前記第１エリアゲインに基づいて前記電圧データを補正して前記補正後電圧データを生成することを備えていてもよい。
前記表示パネルの前記複数のセグメントは、フレーム期間において逐次に第１フレーム画像から第２フレーム画像に更新されることがある。
前記対象画素について前記第１エリアゲインを算出することは、
前記複数のセグメントの第１セグメントが更新されつつあるときに算出された前記総電流に基づいて前記第２エリアゲインを算出することと、
前記複数のセグメントの前記対象画素を備える第２セグメントが更新されつつあるときに算出された前記総電流に基づいて第３エリアゲインを算出することと、
前記第２エリアゲインと前記第３エリアゲインとに基づいて前記第１エリアゲインを算出することを含んでいてもよい。
一以上の実施形態では、表示ドライバが、
テストシステムからコマンドを受け取るように構成された回路部と、
受け取った前記コマンドに基づいて表示パネルの電圧降下補償のためのテスト画像を生成するように構成されたテスト画像生成回路部とを備えている。
テスト画像は、背景に配置された矩形の正面画像要素を備えていてもよい。
前記背景の、色と階調レベルのうちの少なくとも一が、メモリに格納された第１パラメータに基づいて指定されてもよい。前記背景における正面画像要素の位置は、メモリに格納された第２パラメータに基づいて指定されてもよい。前記正面画像要素の幅と垂直方向のサイズのうちの少なくとも一が、メモリに格納された第３パラメータに基づいて指定されてもよい。前記正面画像要素の、色及び階調レベルのうちの少なくとも一が、メモリに格納された第４パラメータによって指定されてもよい。
一以上の実施形態では、テストシステムが、
表示パネルを駆動する表示ドライバにコマンドを供給して前記表示ドライバのテスト画像生成回路部に前記表示パネルの電圧降下補償に対応するテスト画像を生成させるように構成された処理装置と、
前記表示パネルに表示されたテスト画像における輝度レベルを測定するように構成された測定装置と
を備えている。
前記処理装置は、測定された前記輝度レベルに基づいて、前記電圧降下補償のために前記表示ドライバにおいて用いられる補正パラメータを前記表示ドライバに供給するように構成されてもよい。
前記表示ドライバは、画像データに基づいて電圧データを生成し、前記処理装置によって供給された前記補正パラメータに基づいて前記電圧データを補正するように構成されてもよい。
一以上の実施形態では、方法が、
表示パネルを駆動するように構成された表示ドライバによって前記表示パネルの電圧補償のためのテスト画像を生成することを含む。
当該方法が、更に、
前記表示パネルに表示されたテスト画像の輝度レベルを測定することと、
測定された前記輝度レベルに基づいて、前記表示ドライバにおいて前記電圧降下補償のために用いられる補正パラメータを前記表示ドライバに供給することと
を含んでいてもよい。
当該方法が、更に、
前記表示ドライバにより、前記表示ドライバにおいて画像データに基づいて電圧データを生成することと、
前記表示ドライバにより、前記補正パラメータに基づいて前記電圧データを補正することと
を含んでいてもよい。
上記には本開示の様々な実施形態が具体的に説明されているが、当業者は、この開示に開示されている技術が、様々な変更と共に実施されてもよいと理解するであろう。

Claims (10)

  1. 対象画素の画像データに基づいて電圧データを生成するように構成されたデジタルガンマ回路部と、
    有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）表示パネルの、それぞれが複数の画素を備える複数のセグメントについての画素電流の小計の和に基づいて、前記ＯＬＥＤ表示パネルに画像が表示されるときの前記ＯＬＥＤ表示パネルの総電流を算出するように構成された補償回路部と、
    前記総電流に基づいて前記電圧データを補正するように構成された補正回路部と、
    を備え、
    前記補償回路部が、前記ＯＬＥＤ表示パネルが前フレーム画像から現フレーム画像に更新されるフレーム期間の、前記複数のセグメントのうちの第１セグメントにおいて前記ＯＬＥＤ表示パネルが前記現フレーム画像に更新されており、前記複数のセグメントのうちの第２セグメントにおいて前記ＯＬＥＤ表示パネルが前記前フレーム画像から前記現フレーム画像に更新されていない時点における前記複数のセグメントについての前記画素電流の前記小計の前記和の算出において、前記第１セグメントについての画素電流の第１小計を前記現フレーム画像に基づいて算出し、前記第２セグメントについての画素電流の第２小計が前記前フレーム画像に基づいて算出するように構成された
    表示ドライバ。
  2. 前記ＯＬＥＤ表示パネルの前記総電流が、前記ＯＬＥＤ表示パネルの画素の画像データと、指定されたディスプレイ輝度値（ＤＢＶ）とに基づいて算出される
    請求項１に記載の表示ドライバ。
  3. 前記電圧データが、前記対象画素の位置に更に基づいて補正される
    請求項１に記載の表示ドライバ。
  4. 前記補償回路部が、更に、前記総電流と前記対象画素の位置とに基づいて前記対象画素についてゲインデータを算出するように構成され、
    前記電圧データが、前記ゲインデータに基づいて補正される
    請求項３に記載の表示ドライバ。
  5. 前記ゲインデータを算出することが、
    前記総電流に基づいてエリアゲインを得ることと、
    前記対象画素の位置に基づいて位置ゲインを得ることと、
    前記エリアゲインと前記位置ゲインとを乗算することと
    を含む
    請求項４に記載の表示ドライバ。
  6. 前記電圧データが、前記電圧データを前記ゲインデータで乗算することで補正される
    請求項４に記載の表示ドライバ。
  7. ＯＬＥＤ表示パネルと、
    対象画素に対応する画像データに基づいて電圧データを生成し、
    前記ＯＬＥＤ表示パネルの、それぞれが複数の画素を備える複数のセグメントについての画素電流の小計の和に基づいて、前記ＯＬＥＤ表示パネルに画像が表示されるときの前記ＯＬＥＤ表示パネルの総電流を算出し、
    前記総電流に基づいて前記電圧データを補正する
    ように構成された表示ドライバと、
    を備え、
    前記表示ドライバが、前記ＯＬＥＤ表示パネルが前フレーム画像から現フレーム画像に更新されるフレーム期間の、前記複数のセグメントのうちの第１セグメントにおいて前記ＯＬＥＤ表示パネルが前記現フレーム画像に更新されており、前記複数のセグメントのうちの第２セグメントにおいて前記ＯＬＥＤ表示パネルが前記前フレーム画像から前記現フレーム画像に更新されていない時点における前記複数のセグメントについての前記画素電流の前記小計の前記和の算出において、前記第１セグメントについての画素電流の第１小計を前記現フレーム画像に基づいて算出し、前記第２セグメントについての画素電流の第２小計を前記前フレーム画像に基づいて算出するように構成された
    表示装置。
  8. 前記ＯＬＥＤ表示パネルの前記総電流が、前記ＯＬＥＤ表示パネルの画素に対応する画像データと、指定されたＤＢＶとに基づいて算出される
    請求項７に記載の表示装置。
  9. 対象画素の画像データに基づいて電圧データを生成することと、
    ＯＬＥＤ表示パネルの、それぞれが複数の画素を備える複数のセグメントについての画素電流の小計の和に基づいて、前記ＯＬＥＤ表示パネルに画像が表示されるときの前記ＯＬＥＤ表示パネルの総電流を算出することと、
    前記総電流に基づいて前記電圧データを補正することと
    を含み、
    前記ＯＬＥＤ表示パネルが前フレーム画像から現フレーム画像に更新されるフレーム期間の、前記複数のセグメントのうちの第１セグメントにおいて前記ＯＬＥＤ表示パネルが前記現フレーム画像に更新されており、前記複数のセグメントのうちの第２セグメントにおいて前記ＯＬＥＤ表示パネルが前記前フレーム画像から前記現フレーム画像に更新されていない時点における前記複数のセグメントについての前記画素電流の前記小計の前記和の算出において、前記第１セグメントについての画素電流の第１小計が前記現フレーム画像に基づいて算出され、前記第２セグメントについての画素電流の第２小計が前記前フレーム画像に基づいて算出される
    方法。
  10. 前記総電流を算出することが、前記ＯＬＥＤ表示パネルの画素に対応する画像データと、指定されたＤＢＶとに基づいている
    請求項９に記載の方法。
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