JP7354326B2 - 漏れ試験を行うためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Description
-電気部品と結合するように構成されているカバーと、
-プラグアセンブリとを備え、
カバーは、電気部品の漏れ試験中に空気を注入するための貫通孔と、プラグアセンブリをカバーに固定するための係合要素とを有し、プラグアセンブリは、貫通孔を封止するためのシングルワイヤシールと、係合要素に可逆的に係合するロック要素とを含み、プラグアセンブリが貫通孔に挿入されると、カバーは、電気部品の開口部を気密に封止するように構成されている、シーリングアセンブリが提供される。
-前述したシーリングアセンブリと、
-複数の電気端子を含む端子箱とを備え、
端子箱が開口部を有し、カバーが、開口部を閉じて端子箱を気密に封止するように構成されている、封止システムが提供される。
-前述したシーリングアセンブリと、
-電気部品とを備え、
電気部品は開口部を有し、カバーは、開口部を閉じて電気部品を気密に封止するように構成されている、封止システムが提供される。
a)空気を注入するための貫通孔を含むカバーを電気部品に取り付けることと、
b)電気部品の空気漏れを検出することと、
c)貫通孔を通して空気を直接注入することとを含む方法が提供される。
a)前述したシーリングアセンブリを電気部品に取り付けることと、
b)プラグアセンブリを取り外すことと、
c)貫通孔を通して空気を直接注入することと、
d)電気部品の空気漏れを検出することとを含む方法が提供される。
一方、プラグアセンブリ100が貫通孔220から取り外されると、空気がカバー200を通過して電気部品に到達することができる。
言い換えると、突出要素420は、フラップ部124bを押圧して、ロックタブ124aを係合先端部230から離れるように摺動させることにより、2つの要素を係脱する。
プラグアセンブリ100が貫通孔220に挿入されるときの初期構成において、封止システム2000は気密に封止されているため、カバー200内、したがって電線300、301、302、303および/または端子箱600内への水または埃の侵入が防止されることを理解されたい。
このようにして、端子箱600に漏れがある場合、例えば、カバー200と端子箱600との境界面に漏れが発生した場合に、適切な手段を用いて漏れを容易に検出することができる。例えば、水で満たされた容器にアセンブリを浸漬し、潜在的な気泡の形成を検出することによって、漏れ試験を行うことができる。
110 シングルワイヤシール(SWS)
111 シングルワイヤシールの凹部
112 シングルワイヤシールのリップ
120 プラグ本体
121 フランジ
122 中空体
123 ピン
124 ロック要素
124a ロックタブ
124b ロック要素のフラップ
200 カバー
201 第1の面
202 側面
210 ケーブル入口
220 プラグ挿入のための貫通孔
230 係合要素
300、301、302、303 ケーブル
400 係脱要素
500 パイプ
600 端子箱
601 端子箱の第1の面
602 端子箱の側面
1000 シーリングアセンブリ
2000 封止システム
Claims (16)
- 開口部を有する電気部品を封止するためのシーリングアセンブリ(1000)であって、
-前記電気部品と結合するように構成されているカバー(200)と、
-プラグアセンブリ(100)とを備え、
前記カバー(200)は、前記電気部品の漏れ試験中に空気を注入するための貫通孔(220)と、前記プラグアセンブリ(100)を前記カバー(200)に固定するための係合要素(230)とを有し、
前記プラグアセンブリ(100)は、前記貫通孔(220)を封止するためのシングルワイヤシール(110)と、前記係合要素(230)に可逆的に係合するロック要素(124)とを含み、
前記プラグアセンブリ(100)が前記貫通孔(220)に挿入されると、前記カバー(200)は、前記電気部品の前記開口部を気密に封止するように構成されており、
前記プラグアセンブリ(100)は、前記シングルワイヤシール(110)が装着されるピン(123)と、前記ピン(123)における前記シングルワイヤシール(110)の位置を固定するために前記ピン(123)の基部に形成された保持要素(125)とを含む、シーリングアセンブリ。
- 前記保持要素(125)は、前記シングルワイヤシール(110)に形成された嵌合凹部(111)に係合するように構成されている突出要素である、請求項1に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 前記保持要素(125)は、前記ピン(123)の周囲に対称に形成された少なくとも3つの突出要素を含む、請求項2に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 前記貫通孔(220)は、前記ピン(123)に取り付けられた前記シングルワイヤシール(110)を挿入するための挿通チャネル(221)を含む、請求項1から3のいずれか一項に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 前記ロック要素(124)は対応するフラップ(124b)を含み、前記貫通孔(220)は、前記挿通チャネル(221)を囲み、かつ前記プラグアセンブリ(100)の前記ロック要素(124)の前記フラップ(124b)を受け入れるように構成されているキャビティ(222)をさらに含む、請求項4に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 前記カバー(200)は、前記貫通孔(220)を含む少なくとも1つの第1の面(201)と、前記第1の面(201)に垂直な4つの側面(202)とを含むことにより、前記電気部品の一部を収容するためのハウジングを画定する、請求項1から5のいずれか一項に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 前記電気部品は、複数の電気端子を含む端子箱(600)を含む、請求項1から6のいずれか一項に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 前記カバー(200)は、1本以上の電線(300、301、302、303)をそれぞれ挿入するための1つ以上の入口を備える、請求項1から7のいずれか一項に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 前記カバー(200)は、1本以上の電線(300、301、302、303)をそれぞれ挿入するための1つ以上の入口を備え、少なくとも1本の前記電線(300、301、302、303)は前記端子箱(600)の少なくとも1つの端子に接続される、請求項7に記載のシーリングアセンブリ(1000)。
- 封止システム(2000)であって、
請求項1から9のいずれか一項に記載の前記シーリングアセンブリ(1000)と、
複数の電気端子を含む端子箱(600)とを備え、
前記端子箱(600)は開口部を有し、前記カバー(200)は、前記開口部を閉じて前記端子箱(600)を気密に封止するように構成されている、封止システム。
- 前記カバー(200)は、複数の電線(300、301、302、303)を気密に挿入するための複数の入口(210)をさらに含み、前記封止システム(2000)は、前記封止システム(2000)が組み立てられ、前記電線(300、301、302、303)が前記入口(210)に挿入されたときに、前記封止システム(2000)が気密に封止されるように構成されている、請求項10に記載の封止システム(2000)。
- 前記ロック要素(124)を前記係合要素(230)から係脱し、請求項1から9のいずれか一項に記載の前記シーリングアセンブリ(1000)の前記カバー(200)から前記プラグアセンブリ(100)を取り外すための係脱要素(400)であって、
把持部(410)と、前記ロック要素(124)を前記係合要素(230)から係脱するために前記ロック要素(124)に挿入される2つの突出要素(420)とを備える、係脱要素。
- 開口部を有する電気部品の漏れ試験を行うための方法であって、
a)請求項1から9のいずれか一項に記載の前記シーリングアセンブリ(1000)の、空気を注入するための前記貫通孔(220)を含む前記カバー(200)を前記電気部品に取り付けることと、
b)前記電気部品の空気漏れを検出することとを含む、方法において
c)前記貫通孔(220)を通して空気を直接注入することをさらに含むことを特徴とする、方法。
- 開口部を有する電気部品で漏れ試験を行うための方法であって、
a)請求項1から9のいずれか一項に記載の前記シーリングアセンブリ(1000)を前記電気部品に取り付けることと、
b)前記プラグアセンブリ(100)を取り外すことと、
c)前記貫通孔(220)を通して空気を直接注入することと、
d)前記電気部品の空気漏れを検出することとを含む、方法。
- e)前記プラグアセンブリ(100)によって前記貫通孔(220)を可逆的に閉じるステップをさらに含む、請求項14に記載の方法。
- 前記b)のステップは、請求項12に記載の前記係脱要素(400)によって行われる、請求項14または15に記載の方法。
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