JP7344846B2 - Laser processing system and liquid application method to processing pallet - Google Patents

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    • B23K26/16Removal of by-products, e.g. particles or vapours produced during treatment of a workpiece

Description

本発明は、レーザ加工システム及び加工パレットへの液体塗布方法に関する。 The present invention relates to a laser processing system and a method for applying liquid to a processing pallet.

特許文献1には、レーザ切断加工において、レーザビーム照射前の被切断部材の移動時に、その被切断部材の上面の全範囲にオイルを散布することが記載されている。
これにより、特許文献1に記載されたレーザ切断加工では、加工時に飛散するスパッタ又は溶融物が被切断部材に固着することを、加工のタクトタイムを増加させずに防止できる、とされる。
Patent Document 1 describes that in laser cutting processing, oil is sprayed over the entire upper surface of the cut member when the cut member is moved before laser beam irradiation.
As a result, the laser cutting process described in Patent Document 1 is said to be able to prevent spatter or molten material scattered during processing from sticking to the workpiece without increasing the processing takt time.

特許文献2には、レーザ切断加工において被切断部材を支持するパレットのスキッドを、作業者が手作業で清掃するための清掃装置が記載されている。また、特許文献2には、清掃後のスキッドにスパッタ付着防止剤を塗布しておくことで、清掃を容易に行うことができることが記載されている。 Patent Document 2 describes a cleaning device that allows an operator to manually clean the skid of a pallet that supports a member to be cut in laser cutting processing. Moreover, Patent Document 2 describes that cleaning can be easily performed by applying a spatter adhesion prevention agent to the skid after cleaning.

特許第4562995号公報Patent No. 4562995 特開2012-086248号公報JP2012-086248A

従来、パレットのスキッドにスパッタ付着防止剤などの液体を塗布する作業は、被切断部材をレーザ切断加工する前に、作業者が噴霧器などを用いて手作業で行っているのが一般的である。
この塗布作業は、レーザ切断加工の工程の途中で独立して行われるので、タクトタイムが増加し生産性が低下する。
また、手作業による液体の塗布は、スキッドに塗布される液体の量にむらを生じさせ、量が少ない部分には、スパッタ又はドロスが容易かつ早期に固着する虞がある。スキッドにドロスなどが固着すると、固着の程度によっては、被切断加工部材に傷が付いたり、被切断加工部材が水平に保持されず製品として必要な寸法精度が得られない、といったレーザ切断加工の品質低下が生じる。
Conventionally, the work of applying a liquid such as a spatter adhesion prevention agent to the skid of a pallet has generally been done manually by a worker using a sprayer, etc., before laser cutting the workpiece. .
Since this coating work is performed independently during the laser cutting process, takt time increases and productivity decreases.
Moreover, manual application of liquid causes unevenness in the amount of liquid applied to the skid, and spatter or dross may easily and quickly adhere to areas where the amount is small. If dross sticks to the skid, depending on the degree of adhesion, the workpiece to be cut may be damaged or the workpiece may not be held horizontally, making it impossible to obtain the dimensional accuracy required for the product. Quality deterioration occurs.

そこで、本発明が解決しようとする課題は、レーザ切断加工の生産性及び品質が低下しにくいレーザ加工システム及び加工パレットへの液体塗布方法を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide a laser processing system and a method for applying liquid to a processing pallet in which the productivity and quality of laser cutting processing are unlikely to deteriorate.

上記の課題を解決するために、本発明は次の構成を有する。
1) 素材にレーザ加工を行うレーザ加工装置と、
複数のスキッドからなるスキッド群を有する加工パレットをレーザ加工装置へ搬送するパレット搬送装置と、
前記パレット搬送装置から前記レーザ加工装置に搬送される前記加工パレットに対し、下方から液体をミストとして噴き付ける下ノズル群を含む液体塗布装置と、
を備えたレーザ加工システムである。
2) 前記下ノズル群は、複数の下ノズルを有し、前記下ノズルは扇形ノズルであることを特徴とする1)に記載のレーザ加工システムである。
3) 複数の下ノズルは、前記加工パレットの前記レーザ加工装置への搬送方向に傾いて前記ミストを噴出することを特徴とする2)に記載のレーザ加工システムである。
4) 前記複数の下ノズルは、一対の組の複数組として構成され、前記一対の組の一方の下ノズルが、前記搬送方向の進行方向前側に前記ミストを噴出し、前記一対の組の他方の下ノズルが、前記搬送方向の進行方向後側に前記ミストを噴出することを特徴とする3)に記載のレーザ加工システムである。
5) 前記スキッドは、短冊板状の基部と、前記基部の上縁部に、上方を頂点とする三角形状に突出した支持片が複数並設されて形成されて前記素材を支持する支持部とを有し、
前記素材が前記加工パレットの前記スキッド群に載っている場合に、
前記下ノズル群は、前記液体のミストを、前記素材の下面に当てると共に前記下面に当たって跳ね返った前記液体のミストによって前記支持片の端面に前記液体が塗布されるよう噴き付けることを特徴とする1)~4)のいずれか一つに記載のレーザ加工システムである。
6) 前記液体は、スパッタ付着防止剤であることを特徴とする1)~5)のいずれか一つに記載のレーザ加工システムである。
7) 前記加工パレット及び前記加工パレットに載置された前記素材に対し、上方から前記液体をミストとして噴き付ける上ノズル群を備えたことを特徴とする1)~6)のいずれか一つに記載のレーザ加工システムである。
8) 複数のスキッドからなるスキッド群を有する加工パレットを、前記スキッド群に載せた素材と共にレーザ加工装置に搬入する際に、
前記加工パレットに対し、液体を下方からミストとして噴き付けて前記素材の下面に当て、前記下面で跳ね返ったミストによって前記液体を前記スキッドの上方を向く端面に塗布する加工パレットへの液体塗布方法である。
In order to solve the above problems, the present invention has the following configuration.
1) A laser processing device that performs laser processing on a material,
a pallet transport device that transports a processing pallet having a skid group consisting of a plurality of skids to a laser processing device;
a liquid application device including a lower nozzle group that sprays liquid as a mist from below onto the processing pallet that is transported from the pallet transport device to the laser processing device;
This is a laser processing system equipped with
2) The laser processing system according to 1), wherein the lower nozzle group has a plurality of lower nozzles, and the lower nozzles are fan-shaped nozzles.
3) The laser processing system according to 2), wherein the plurality of lower nozzles eject the mist at an angle in a direction in which the processing pallet is transported to the laser processing device.
4) The plurality of lower nozzles are configured as a plurality of pairs of sets, one of the lower nozzles of the pair of sets ejects the mist to the front side in the traveling direction of the conveyance direction, and the other of the pair of sets The laser processing system according to item 3), wherein the lower nozzle ejects the mist to the rear side in the traveling direction of the conveyance direction.
5) The skid includes a base in the shape of a strip plate, and a support part that supports the material by forming a plurality of supporting pieces juxtaposed on the upper edge of the base in a triangular shape with the apex at the top. has
When the material is placed on the skid group of the processing pallet,
The lower nozzle group is characterized in that the lower nozzle group sprays the liquid mist so as to hit the lower surface of the material and apply the liquid to the end surface of the support piece by the liquid mist that bounces off the lower surface. ) to 4).
6) The laser processing system according to any one of 1) to 5), wherein the liquid is a sputter adhesion inhibitor.
7) Any one of 1) to 6), further comprising an upper nozzle group that sprays the liquid as a mist from above onto the processing pallet and the material placed on the processing pallet. This is the laser processing system described.
8) When carrying a processing pallet having a skid group consisting of a plurality of skids into a laser processing device together with the material placed on the skid group,
A method of applying a liquid to a processing pallet, in which a liquid is sprayed as a mist from below onto the processing pallet and applied to the lower surface of the material, and the liquid is applied to an upwardly facing end surface of the skid by the mist that bounces off the lower surface. be.

本発明によれば、レーザ切断加工の生産性及び品質が低下しにくい。 According to the present invention, the productivity and quality of laser cutting processing are unlikely to deteriorate.

図1は、本発明の実施の形態に係るレーザ加工システムの実施例であるレーザ加工システムSTの概略構成を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a laser processing system ST, which is an example of a laser processing system according to an embodiment of the present invention. 図2は、レーザ加工システムSTを構成するパレット搬送装置91が備える加工パレット2を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the processing pallet 2 included in the pallet transport device 91 that constitutes the laser processing system ST. 図3は、加工パレット2の部分側面図である。FIG. 3 is a partial side view of the processing pallet 2. FIG. 図4は、加工パレット2に対する上ノズル群7及び下ノズル群8の配置位置を示す模式的側面図である。FIG. 4 is a schematic side view showing the arrangement positions of the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 with respect to the processing pallet 2. 図5は、液体塗布装置6における液体塗布範囲を説明するための模式的前面図である。FIG. 5 is a schematic front view for explaining the liquid application range in the liquid application device 6. As shown in FIG. 図6は、上ノズル群7及び下ノズル群8を有する液体塗布装置6の配管系統図である。FIG. 6 is a piping system diagram of the liquid coating device 6 having the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8. 図7は、下ノズル83aによるスキッド23へのミストMLの噴霧態様を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing how the mist ML is sprayed onto the skid 23 by the lower nozzle 83a. 図8は、レーザ加工システムSTにおける液体塗布装置6の、加工パレット2に対するミストMLの噴霧動作を示す模式的前面図である。FIG. 8 is a schematic front view showing the operation of spraying mist ML onto the processing pallet 2 by the liquid coating device 6 in the laser processing system ST. 図9は、レーザ加工システムSTの変形例であるレーザ加工システムSTAの概略構成を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing a schematic configuration of a laser processing system STA that is a modification of the laser processing system ST. 図10は、レーザ加工システムSTAが有する液体塗布装置6Aの配管系統図である。FIG. 10 is a piping system diagram of the liquid coating device 6A included in the laser processing system STA. 図11は、液体塗布装置6Aに含まれる上ノズル部62Aの、加工パレット2に対するミストMLの噴霧動作を示す模式図である。FIG. 11 is a schematic diagram showing the operation of spraying the mist ML onto the processing pallet 2 by the upper nozzle section 62A included in the liquid application device 6A.

(実施例)
図1は、本発明の実施の形態に係るレーザ加工システムの実施例であるレーザ加工システムSTの概略構成を示す斜視図である。説明の便宜のため、上下左右前後の各方向を図1の矢印で示された方向に規定する。また、左右をX軸、前後をY軸、上下をZ軸とする。
(Example)
FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of a laser processing system ST, which is an example of a laser processing system according to an embodiment of the present invention. For convenience of explanation, the up, down, left, right, front and back directions are defined as the directions shown by the arrows in FIG. Also, the left and right are the X axis, the front and back are the Y axis, and the top and bottom are the Z axis.

図1に示されるように、レーザ加工システムSTは、パレット搬送装置91,レーザ加工装置92,及び制御装置93を備えている。
パレット搬送装置91は、レーザ加工装置92に隣接して配置されている。この例では、パレット搬送装置91はレーザ加工装置92の右側に配置されている。
レーザ加工装置92は、被加工部材である素材Waに対しレーザ加工を施す。パレット搬送装置91は、素材Waを載せた加工パレット2をレーザ加工装置92に対し搬出入する。
制御装置93は、パレット搬送装置91及びレーザ加工装置92の動作を制御する。制御装置93は、図1に示されるような別体であることに限定されず、パレット搬送装置91及びレーザ加工装置92のいずれかと同体であってもよい。
As shown in FIG. 1, the laser processing system ST includes a pallet transport device 91, a laser processing device 92, and a control device 93.
The pallet transport device 91 is arranged adjacent to the laser processing device 92. In this example, the pallet transport device 91 is placed on the right side of the laser processing device 92.
The laser processing device 92 performs laser processing on a material Wa, which is a workpiece. The pallet transport device 91 transports the processing pallet 2 carrying the material Wa into and out of the laser processing device 92 .
The control device 93 controls the operations of the pallet transport device 91 and the laser processing device 92. The control device 93 is not limited to being a separate unit as shown in FIG. 1, but may be integrated with either the pallet conveying device 91 or the laser processing device 92.

パレット搬送装置91及びレーザ加工装置92の概略の構造及び動作を説明する。パレット搬送装置91及びレーザ加工装置92の動作は、それぞれが有する不図示の駆動部の動作を、制御装置93が制御することで実行される。 The general structure and operation of the pallet transport device 91 and the laser processing device 92 will be explained. The operations of the pallet conveyance device 91 and the laser processing device 92 are executed by the control device 93 controlling the operations of unillustrated drive units each has.

パレット搬送装置91は、格納部911,搬送本体部912,及びリフタ部913を備えている。
また、パレット搬送装置91は、素材パレット1,加工パレット2,及び一枚取ユニット3を含んで構成されている。この例において、パレット搬送装置91には、加工パレット2が二個含まれている。以下、必要に応じて、二個の加工パレット2を加工パレット2A,2Bとして区別する。
The pallet transport device 91 includes a storage section 911, a transport main body section 912, and a lifter section 913.
Further, the pallet conveying device 91 is configured to include a material pallet 1, a processing pallet 2, and a single-piece picking unit 3. In this example, the pallet transport device 91 includes two processing pallets 2. Hereinafter, the two processing pallets 2 will be distinguished as processing pallets 2A and 2B as necessary.

パレット搬送装置91の搬送本体部912は、レーザ加工装置92の右端部に連結して配置されている。
格納部911は、搬送本体部912の後端部に連結して配置されている。
リフタ部913は、搬送本体部912の前部に設置され、下部位置及び下部位置よりも上方の中央位置との間を、矢印D1に示されるように昇降するリフタトレイ5を有する。図1において下部位置にあるリフタトレイ5は実線で示され、中央位置にあるリフタトレイ5は一点鎖線で示されている。
リフタトレイ5は、加工パレット2を載せて昇降可能である。
A conveyance main body portion 912 of the pallet conveyance device 91 is connected to the right end portion of the laser processing device 92 and arranged.
The storage section 911 is arranged to be connected to the rear end portion of the transport main body section 912.
The lifter section 913 is installed in the front part of the conveyance main body section 912, and has a lifter tray 5 that moves up and down between a lower position and a central position above the lower position as shown by an arrow D1. In FIG. 1, the lifter tray 5 in the lower position is shown with a solid line, and the lifter tray 5 in the middle position is shown with a dashed line.
The lifter tray 5 can be moved up and down with the processing pallet 2 placed thereon.

パレット搬送装置91は、液体塗布装置6を備えている。液体塗布装置6は、加工パレット2及び加工パレット2に載置された素材Waに対し、液体Mを噴霧して塗布する装置である。液体塗布装置6は、液体Mを収容したタンク61aを有する本体部61,上ノズル部62,及び下ノズル部63を有する。上ノズル部62は上ノズル群7を含み、下ノズル部63は下ノズル群8を含む。
液体塗布装置6の詳細は後述する。
The pallet conveyance device 91 includes a liquid application device 6. The liquid coating device 6 is a device that sprays and coats the liquid M onto the processing pallet 2 and the material Wa placed on the processing pallet 2. The liquid coating device 6 includes a main body portion 61 having a tank 61a containing liquid M, an upper nozzle portion 62, and a lower nozzle portion 63. The upper nozzle section 62 includes the upper nozzle group 7 , and the lower nozzle section 63 includes the lower nozzle group 8 .
Details of the liquid application device 6 will be described later.

搬送本体部912は、格納部911から素材パレット1に載せられて供給された素材Waを、レーザ加工装置92に出入りする加工パレット2に乗せ換える。
搬送本体部912は、レーザ加工装置92と対向する部分に、加工パレット2が出入りする出入口914を有する。搬送本体部912は、加工パレット2を、出入口914を通してレーザ加工装置92との間で搬送する。
リフタ部913は、二つの加工パレット2A,2Bを搬送本体部912とレーザ加工装置92との間で同時に運用するために、搬送本体部912の外側に一時退避させると共に搬送本体部912における上下2段の位置替えを可能とする。
The conveyance main body section 912 transfers the material Wa loaded on the material pallet 1 and supplied from the storage section 911 to the processing pallet 2 that enters and exits the laser processing device 92 .
The conveyance main body portion 912 has an entrance/exit 914 in a portion facing the laser processing device 92 through which the processing pallet 2 enters and exits. The transport main body section 912 transports the processing pallet 2 to and from the laser processing device 92 through an entrance/exit 914 .
In order to simultaneously operate the two processing pallets 2A and 2B between the transport main body 912 and the laser processing device 92, the lifter section 913 temporarily retracts the two processing pallets 2A and 2B to the outside of the transport main body 912. Allows for repositioning of stages.

レーザ加工装置92は、レーザ加工ヘッド921を有する。
レーザ加工ヘッド921は、X軸,Y軸,及びZ軸の各方向にそれぞれに独立移動し、加工パレット2に載置された素材Waに対しレーザビームLsを照射して切断又は孔開けなどの加工を施す。
レーザ加工ヘッド921は、レーザ加工の際にアシストガスを加工部位に向け噴出する。
The laser processing device 92 has a laser processing head 921.
The laser processing head 921 moves independently in each direction of the X-axis, Y-axis, and Z-axis, and irradiates the material Wa placed on the processing pallet 2 with a laser beam Ls to perform cutting, drilling, etc. Perform processing.
The laser processing head 921 blows out assist gas toward the processing area during laser processing.

加工パレット2は、素材Waを載置した状態で、パレット搬送装置91の搬送本体部912から出入口914を通って左方に移動しレーザ加工装置92に搬入される。加工パレット2に載置されてレーザ加工装置92に供給された素材Waは、レーザ加工ヘッド921によってレーザ加工され加工済材Wbとなる。
レーザ加工後、加工パレット2は、加工済材Wbを載置した状態で右方に移動し、出入口914を通ってパレット搬送装置91の搬送本体部912に移動する。
The processing pallet 2, with the material Wa placed thereon, is moved to the left from the transport body section 912 of the pallet transport device 91 through the entrance/exit 914, and is carried into the laser processing device 92. The material Wa placed on the processing pallet 2 and supplied to the laser processing device 92 is laser processed by the laser processing head 921 to become a processed material Wb.
After the laser processing, the processing pallet 2 moves to the right with the processed material Wb placed thereon, passes through the entrance/exit 914, and moves to the transport main body section 912 of the pallet transport device 91.

これらの概略構成により、レーザ加工システムSTは、一つの加工パレット2Aに載せた一つの素材Waをレーザ加工装置92で加工している間に、別の加工パレット2Bに対し、次に加工する素材Waを素材パレット1から別の加工パレット2Bに転載させておくことができる。
そのため、レーザ加工システムSTは、加工パレット2Aの素材Waの加工が終了し、加工パレット2Aを出入口914を通して搬送本体部912に戻したら、加工パレット2Aと加工パレット2Bとの位置替えを行って直ちに次の素材Waを載せた加工パレット2Bをレーザ加工装置92に投入可能である。これにより、レーザ加工システムSTは、高い生産性を有する。
With these schematic configurations, the laser processing system ST allows the laser processing device 92 to process one material Wa placed on one processing pallet 2A while processing the next material to be processed on another processing pallet 2B. Wa can be transferred from the material pallet 1 to another processing pallet 2B.
Therefore, when the processing of the material Wa on the processing pallet 2A is completed and the processing pallet 2A is returned to the conveyance main body section 912 through the entrance/exit 914, the laser processing system ST immediately changes the positions of the processing pallet 2A and the processing pallet 2B. The processing pallet 2B carrying the next material Wa can be loaded into the laser processing device 92. Thereby, the laser processing system ST has high productivity.

次に、各部材及び装置について具体的に説明する。
搬送本体部912は、六面体の枠状体を呈しレーザ加工装置92に連結して配置されている。格納部911は搬送本体部912の後部に連結して配置されている。
格納部911及び搬送本体部912は、搬送本体部912の上下方向の中央よりも上方の位置P1において、素材パレット1を搬送本体部912との間で矢印D2のように往復移動可能に支持する。素材パレット1は、レーザ加工装置92で加工する例えば板材なる素材Waを載置可能な大きさを有し、格納部911と搬送本体部912との間を往復移動する。
格納部911において、素材パレット1には、格納部911に連接された自動倉庫などから、ロボットなどにより複数枚の素材Waが積層される。積層された複数枚の素材Waを積層体Wtとする。
Next, each member and device will be specifically explained.
The transport main body 912 has a hexahedral frame shape and is connected to the laser processing device 92 . The storage section 911 is connected to the rear part of the transport main body section 912 and arranged.
The storage section 911 and the conveyance body section 912 support the material pallet 1 so as to be able to reciprocate as shown by the arrow D2 between the material pallet 1 and the conveyance body section 912 at a position P1 above the vertical center of the conveyance body section 912. . The material pallet 1 has a size on which a material Wa, for example, a plate material, to be processed by the laser processing device 92 can be placed thereon, and moves back and forth between the storage section 911 and the transport main body section 912.
In the storage section 911, a plurality of materials Wa are stacked on the material pallet 1 by a robot or the like from an automated warehouse connected to the storage section 911. A plurality of laminated materials Wa are referred to as a laminate Wt.

搬送本体部912の内部の上部には、一枚取ユニット3が備えられている。
一枚取ユニット3は、水平姿勢の板材を上方から吸着して保持する複数の吸着部3aを有する。複数の吸着部3aは、矢印D3に示されるように、吸着位置P2に対して上方の上方位置P3と、搬送本体部912の下部に位置する下方位置P4との間を一体的に移動する。
A single-sheet pick-up unit 3 is provided in the upper part of the inside of the transport main body section 912 .
The single-sheet pick-up unit 3 has a plurality of suction parts 3a that suction and hold horizontally-oriented plate materials from above. The plurality of suction parts 3a move integrally between an upper position P3 above the suction position P2 and a lower position P4 located at the lower part of the transport main body part 912, as shown by an arrow D3.

これにより、一枚取ユニット3は、格納部911から搬送本体部912に移動した素材パレット1に載置されている積層体Wtから、最上の一枚の素材Waを吸着部3aによって吸着保持し、吸着した素材Waを上方位置P3と下方位置P4との間で移動させることができる。 As a result, the single-sheet picking unit 3 suction-holds the topmost sheet Wa from the stacked body Wt placed on the material pallet 1 that has been moved from the storage section 911 to the transport main body section 912 using the suction section 3a. , the adsorbed material Wa can be moved between the upper position P3 and the lower position P4.

搬送本体部912の内部の下部には、スイッチラック4が設置されている。
スイッチラック4は、概ね箱状を呈し上下2段の上保持部4c及び下保持部4dを有する。上保持部4c及び下保持部4dは、それぞれ加工パレット2を載せて保持できる。
スイッチラック4は、左方に開放してレーザ加工装置92に繋がる左開口部4aと、前方に開放されリフタトレイ5に繋がる前開口部4bとを有する。
The switch rack 4 is installed in the lower part of the inside of the transport main body part 912.
The switch rack 4 has a generally box-like shape and includes an upper and lower holding section 4c and a lower holding section 4d. The upper holding part 4c and the lower holding part 4d can respectively place and hold the processing pallet 2.
The switch rack 4 has a left opening 4a that opens to the left and is connected to the laser processing device 92, and a front opening 4b that opens to the front and connects to the lifter tray 5.

スイッチラック4は、図1において実線で示された下位置と、一点鎖線で示された上位置との間で矢印D6で示されるように上下動する。
下位置において、上保持部4c上下方向における位置P5にある。上位置において、上保持部4cは、位置P5よりも上方の位置P6にある。
The switch rack 4 moves up and down as shown by an arrow D6 between a lower position shown by a solid line in FIG. 1 and an upper position shown by a chain line.
In the lower position, the upper holding part 4c is at position P5 in the vertical direction. In the upper position, the upper holding part 4c is located at a position P6 above position P5.

スイッチラック4が下位置にあるときに、上保持部4cとレーザ加工装置92とは連結され、上保持部4cに載せられた加工パレット2は、レーザ加工装置92との間で、矢印D4に示されるように移動可能である。
スイッチラック4が上位置にあるときに、下保持部4dとレーザ加工装置92とは連結され、下保持部4dに載せられた加工パレット2は、左開口部4aを通してレーザ加工装置92との間を矢印D4に示されるように移動可能である。
When the switch rack 4 is in the lower position, the upper holding part 4c and the laser processing device 92 are connected, and the processing pallet 2 placed on the upper holding part 4c moves in the direction of arrow D4 between the processing pallet 2 and the laser processing device 92. Movable as shown.
When the switch rack 4 is in the upper position, the lower holding part 4d and the laser processing device 92 are connected, and the processing pallet 2 placed on the lower holding part 4d is connected to the laser processing device 92 through the left opening 4a. can be moved as shown by arrow D4.

スイッチラック4が下位置にあるときに、下保持部4dに載せられた加工パレット2は、前開口部4bを通して、下部位置にあるリフタトレイ5に対し矢印D5に示されるように出入り可能である。
加工パレット2がスイッチラック4から下部位置にあるリフタトレイ5に移動し、リフタトレイ5が加工パレット2を載せて中央位置に上昇すると、リフタトレイ5は、下位置にあるスイッチラック4の上保持部4cと連結して加工パレット2を上保持部4cとの間で移動可能となる。
このように、加工パレット2は、リフタトレイ5を介してスイッチラック4の上保持部4cと下保持部4dとの間で移動可能となっている。
When the switch rack 4 is in the lower position, the processing pallet 2 placed on the lower holding part 4d can go in and out of the lifter tray 5 in the lower position through the front opening 4b as shown by arrow D5.
When the processing pallet 2 moves from the switch rack 4 to the lifter tray 5 at the lower position, and when the lifter tray 5 places the processing pallet 2 on it and rises to the center position, the lifter tray 5 engages the upper holding part 4c of the switch rack 4 at the lower position. When connected, the processing pallet 2 can be moved between it and the upper holding part 4c.
In this way, the processing pallet 2 is movable between the upper holding part 4c and the lower holding part 4d of the switch rack 4 via the lifter tray 5.

スイッチラック4が上位置にあるときに、上保持部4cにある加工パレット2には、一枚取ユニット3が下方位置P4に下降してアクセス可能となっている。
すなわち、一枚取ユニット3は、吸着している素材Waを加工パレット2に載置できる。また、加工パレット2に載置された加工済材Wbを吸着し、加工パレット2から離れた上方位置P3まで持ち上げることができる。
When the switch rack 4 is in the upper position, the processing pallet 2 in the upper holding part 4c can be accessed by the single-piece processing unit 3 being lowered to the lower position P4.
That is, the single-piece unit 3 can place the adsorbed material Wa on the processing pallet 2. Further, the processed material Wb placed on the processing pallet 2 can be sucked and lifted to an upper position P3 away from the processing pallet 2.

格納部911と搬送本体部912との間には、不図示の製品パレットが素材パレット1と同様に往復移動可能となっている。
これにより、一枚取ユニット3は、加工パレット2から吸着した加工済材Wbを上方位置P3まで持ち上げた後、格納部911から搬送本体部912に移動してきた製品パレット上に、加工済材Wbを載置できる。
その後、加工済材Wbを載せた製品パレットは格納部911に移動し、加工済材Wbは、ロボットなどによって所定の場所に搬出される。
Between the storage section 911 and the transport main body section 912, a product pallet (not shown) is movable back and forth like the material pallet 1.
As a result, the single-sheet picking unit 3 lifts the processed material Wb sucked from the processing pallet 2 to the upper position P3, and then transfers the processed material Wb onto the product pallet that has been moved from the storage section 911 to the transport main body section 912. can be placed.
Thereafter, the product pallet carrying the processed material Wb is moved to the storage section 911, and the processed material Wb is carried out to a predetermined location by a robot or the like.

図2に示されるように、加工パレット2は、枠状のベース部21及び複数の薄板のスキッド23を有する。複数のスキッド23をスキッド群23Gと称する。
ベース部21は、平面視で長方形の枠体である。
スキッド23は、ベース部21の短手方向であるY軸方向に延在する姿勢で、長手方向であるX軸方向に所定の間隔で複数枚が並設されている。スキッド23は、例えば厚さ12mmの一般構造用圧延鋼板で形成されている。
ベース部21は、短手方向の中央に支持フレーム22を有する。支持フレーム22は、長手方向に延在し、スキッド23を、その中央部位に係合して支持している。
As shown in FIG. 2, the processing pallet 2 has a frame-shaped base portion 21 and a plurality of thin skids 23. The plurality of skids 23 are referred to as a skid group 23G.
The base portion 21 is a rectangular frame in plan view.
A plurality of skids 23 are arranged in parallel at predetermined intervals in the X-axis direction, which is the longitudinal direction, and extend in the Y-axis direction, which is the transverse direction of the base portion 21 . The skid 23 is made of a general structural rolled steel plate having a thickness of 12 mm, for example.
The base portion 21 has a support frame 22 at the center in the lateral direction. The support frame 22 extends in the longitudinal direction and engages and supports the skid 23 at its central portion.

図2及び図3に示されるように、スキッド23は、短冊板状の基部233と、基部233の上縁部に形成された支持部234とを有する。
支持部234は、所定ピッチで繰り返し形成された複数の溝部232を有する。各溝部232は、支持部234の上端部から下方を頂点とする逆二等辺三角形状で切り込まれて形成されている。支持部234は、側面視において幅の狭い二等辺三角形状の支持片236が、複数並設して突出形成され略鋸刃状を呈する。
As shown in FIGS. 2 and 3, the skid 23 has a base 233 in the shape of a rectangular plate and a support portion 234 formed at the upper edge of the base 233. As shown in FIGS.
The support portion 234 has a plurality of groove portions 232 repeatedly formed at a predetermined pitch. Each groove portion 232 is formed by cutting from the upper end of the support portion 234 in the shape of an inverted isosceles triangle with the apex pointing downward. The support portion 234 has a substantially sawtooth shape in which a plurality of narrow isosceles triangular support pieces 236 are juxtaposed and protruded in side view.

支持部234における複数の支持片236それぞれの頂部231は、高さ位置が一定であり、スキッド群23Gは、載せられた板材を歪みなく支持する。
図3に示されるように、加工パレット2において、複数のスキッド23は、側面視において、隣接するスキッド23の頂部231のY方向の位置が半ピッチずれるように取り付けられている。
すなわち、スキッド23として、ベース部21に取り付けた状態で頂部231の位置がずれる2種類のスキッド23a及びスキッド23bが交互に設置され、全体として複数のスキッド23の群であるスキッド群23Gが構成されている。
The top portion 231 of each of the plurality of support pieces 236 in the support portion 234 has a constant height position, and the skid group 23G supports the plate material placed thereon without distortion.
As shown in FIG. 3, in the processing pallet 2, the plurality of skids 23 are attached such that the positions of the tops 231 of adjacent skids 23 in the Y direction are shifted by half a pitch when viewed from the side.
That is, as the skids 23, two types of skids 23a and skids 23b, in which the position of the top part 231 is shifted when attached to the base part 21, are installed alternately, and a skid group 23G, which is a group of a plurality of skids 23, is configured as a whole. ing.

以上の構成により、レーザ加工装置92で加工される素材Waは、格納部911において素材パレット1に載置され、その後、素材パレット1と共に搬送本体部912に移動する。
搬送本体部912に移動した素材Waは、一枚取ユニット3によって持ち上げられ、上位置にあるスイッチラック4の上保持部4cで待機している加工パレット2Aに転載される。
その後、スイッチラック4は、上位置から下位置に下降し、上保持部4cの加工パレット2Aは、素材Waを載せてレーザ加工装置92に投入される。
With the above configuration, the material Wa to be processed by the laser processing device 92 is placed on the material pallet 1 in the storage section 911, and then moved to the transport main body section 912 together with the material pallet 1.
The material Wa that has been moved to the transport main body section 912 is lifted by the single-sheet pick-up unit 3 and transferred to the processing pallet 2A waiting at the upper holding section 4c of the switch rack 4 located at the upper position.
Thereafter, the switch rack 4 is lowered from the upper position to the lower position, and the processing pallet 2A of the upper holding part 4c is loaded with the workpiece Wa into the laser processing apparatus 92.

レーザ加工装置92が加工パレット2Aに載せられた素材Waを加工している間に、スイッチラック4の下保持部4dに保持されていた加工パレット2Bは、スイッチラック4の前開口部4bを通って下部位置にあるリフタトレイ5に移動する。
リフタトレイ5は、加工パレット2Bが移動してきたら、加工パレット2Bと共に中央位置に上昇する。リフタトレイ5が中央位置に達したら、加工パレット2Bは、スイッチラック4の空いている上保持部4cに移動し、一枚取ユニット3から次の素材Waが載置されるのを待つ。
While the laser processing device 92 is processing the material Wa placed on the processing pallet 2A, the processing pallet 2B held by the lower holding part 4d of the switch rack 4 passes through the front opening 4b of the switch rack 4. and move to the lifter tray 5 in the lower position.
When the processing pallet 2B moves, the lifter tray 5 rises to the central position together with the processing pallet 2B. When the lifter tray 5 reaches the center position, the processing pallet 2B moves to the vacant upper holding part 4c of the switch rack 4 and waits for the next workpiece Wa to be placed thereon from the single-piece unit 3.

上述のように、レーザ加工システムSTでは、レーザ加工装置92による加工の開始直前に、素材Waが載った第1の加工パレット2が搬送本体部912からレーザ加工装置92に移動する。また、スイッチラック4とリフタトレイ5との間で、何も載置されていない空の第2の加工パレット2が出入りする。 As described above, in the laser processing system ST, immediately before the laser processing device 92 starts processing, the first processing pallet 2 on which the workpiece Wa is placed is moved from the transport main body 912 to the laser processing device 92. Further, an empty second processing pallet 2 on which nothing is placed moves in and out between the switch rack 4 and the lifter tray 5.

次に、液体塗布装置6について、図1及び図4~図6を参照して詳述する。
図4は、加工パレット2に対する上ノズル群7及び下ノズル群8の配置位置を示す模式的側面図であり、図5は、液体塗布装置6における液体塗布範囲を説明するための模式的前面図である。図6は、液体塗布装置6の配管系統図である。
Next, the liquid application device 6 will be described in detail with reference to FIG. 1 and FIGS. 4 to 6.
4 is a schematic side view showing the arrangement positions of the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 with respect to the processing pallet 2, and FIG. 5 is a schematic front view for explaining the liquid application range in the liquid application device 6. It is. FIG. 6 is a piping system diagram of the liquid application device 6.

図1に示されるように、液体塗布装置6の上ノズル群7及び下ノズル群8は、パレット搬送装置91の搬送本体部912の出入口914のそれぞれ上部及び下部に前後方向に配設されている。
図4及び図5に示されるように、液体塗布装置6は、素材Waを載せた加工パレット2が搬送本体部912からレーザ加工装置92に移動する際に、出入口914を通過する加工パレット2のスキッド群23G及び素材Waに対して液体MのミストMLを噴霧して塗布する。
As shown in FIG. 1, the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 of the liquid application device 6 are arranged in the front-rear direction at the upper and lower parts of the entrance and exit port 914 of the conveyance main body 912 of the pallet conveyance device 91, respectively. .
As shown in FIGS. 4 and 5, when the processing pallet 2 carrying the material Wa is moved from the conveyance main body 912 to the laser processing device 92, the liquid application device 6 is configured to control the processing pallet 2 passing through the entrance/exit 914. A mist ML of liquid M is sprayed and applied to the skid group 23G and the material Wa.

図1及び図6に示されるように、液体塗布装置6は、タンク61aを含む本体部61,上供給路64,上ノズル群7,下供給路65,及び下ノズル群8を有する。
タンク61aは、素材Wa及びスキッド群23Gなどに塗布する液体Mを収容し、高圧のエアー源ARと接続されている。液体Mは、例えば、スパッタ又はドロスのスキッド23への付着を防止するスパッタ付着防止剤である。
As shown in FIGS. 1 and 6, the liquid coating device 6 includes a main body 61 including a tank 61a, an upper supply path 64, an upper nozzle group 7, a lower supply path 65, and a lower nozzle group 8.
The tank 61a contains a liquid M to be applied to the material Wa and the skid group 23G, and is connected to a high-pressure air source AR. The liquid M is, for example, a sputter adhesion prevention agent that prevents spatter or dross from adhering to the skid 23 .

図6に示されるように、上ノズル群7は、5個の上ノズル71~75を含む。
上供給路64は、第1端側がタンク61aに接続され、第1端の反対側となる第2端側は減圧器764を経て三系統の分路641~643に分岐している。
As shown in FIG. 6, the upper nozzle group 7 includes five upper nozzles 71 to 75.
A first end of the upper supply path 64 is connected to the tank 61a, and a second end opposite to the first end branches into three branch paths 641 to 643 via a pressure reducer 764.

分路641は、電磁開閉弁761を経て3経路に分岐し、それぞれ上ノズル71~73に接続されている。
分路642は、電磁開閉弁762を経て上ノズル74に接続されている。
分路643は、電磁開閉弁763を経て上ノズル75に接続されている。
The shunt 641 branches into three paths via an electromagnetic on-off valve 761, and is connected to the upper nozzles 71 to 73, respectively.
The shunt 642 is connected to the upper nozzle 74 via an electromagnetic on-off valve 762.
The shunt 643 is connected to the upper nozzle 75 via an electromagnetic on-off valve 763.

下ノズル群8は、ノズル組81~88を有する。ノズル組81~88は、それぞれ符号の末尾がa,bで区別される一対の下ノズルで構成されている。例えば、ノズル組81は、下ノズル81aと下ノズル81bとの組である。
図5に示されるように、下ノズル群8の各ノズル組において、一対の下ノズルは、前面視において、真上方向に対して加工パレット2の搬送方向に傾いた、左上方向又は右上方向にミストMLを噴射する。図5では、複数のノズル組を代表してノズル組81の下ノズル81aと下ノズル81bが真上方向に対してそれぞれ角度θだけ傾いた、左上方向又は右上方向にミストMLを噴射している状態を示している。角度θは15°以下とされ、例えば5°である。
より詳しくは、ノズル組81の一対の下ノズル81a,81bは、前面視において、一方の下ノズル81aが左上方向にミストMLを噴出し、他方の下ノズル81bが右上方向にミストMLを噴出する。他のノズル組82~88についても同様である。
ここで、左方向は、矢印D4で示されるように、加工パレット2がレーザ加工装置92に向け搬送される進行方向であり、右方向は、加工パレット2がレーザ加工装置92に向け搬送される進行方向の反対方向である。
The lower nozzle group 8 has nozzle sets 81 to 88. The nozzle sets 81 to 88 are each composed of a pair of lower nozzles whose numerals end with a and b. For example, the nozzle set 81 is a set of a lower nozzle 81a and a lower nozzle 81b.
As shown in FIG. 5, in each nozzle group of the lower nozzle group 8, the pair of lower nozzles are arranged in the upper left direction or the upper right direction, which is inclined toward the conveyance direction of the processing pallet 2 with respect to the directly upward direction, when viewed from the front. Spray mist ML. In FIG. 5, the lower nozzle 81a and the lower nozzle 81b of the nozzle set 81, representing a plurality of nozzle sets, spray the mist ML in the upper left direction or the upper right direction, which is tilted by an angle θ with respect to the directly upward direction. Indicates the condition. The angle θ is 15° or less, and is, for example, 5°.
More specifically, in the front view of the pair of lower nozzles 81a and 81b of the nozzle set 81, one lower nozzle 81a spouts mist ML in the upper left direction, and the other lower nozzle 81b spouts mist ML in the upper right direction. . The same applies to the other nozzle sets 82 to 88.
Here, the left direction is the advancing direction in which the processing pallet 2 is transported toward the laser processing device 92, and the right direction is the advancing direction in which the processing pallet 2 is transported toward the laser processing device 92. The direction is opposite to the direction of travel.

下供給路65は、供給路65a及び供給路65bの二系統の供給路を含む。
供給路65aは、第1端側がタンク61aに接続され、第1端の反対側となる第2端側は、電磁開閉弁891を経てノズル組81~84の合計8個の下ノズル81a~84a,81b~84bに、並列接続されている。
The lower supply passage 65 includes two supply passages: a supply passage 65a and a supply passage 65b.
The supply path 65a has a first end connected to the tank 61a, and a second end opposite to the first end connected to a total of eight lower nozzles 81a to 84a, nozzle sets 81 to 84, via an electromagnetic on-off valve 891. , 81b to 84b are connected in parallel.

供給路65bは、第1端側がタンク61aに接続され、第1端の反対側となる第2端側は、二系統の分路65b1,65b2に分岐している。
分路65b1における第1端とは反対側となる第2端側は、電磁開閉弁892を経てノズル組85,86の4個の下ノズル85a,85b,86a,86bに並列接続されている。
分路65b2における第1端とは反対側となる第2端側は、電磁開閉弁893を経てノズル組87,88の4個の下ノズル87a,87b,88a,88bに並列接続されている。
A first end of the supply path 65b is connected to the tank 61a, and a second end opposite to the first end is branched into two shunt paths 65b1 and 65b2.
A second end of the shunt 65b1 opposite to the first end is connected in parallel to four lower nozzles 85a, 85b, 86a, 86b of the nozzle sets 85, 86 via an electromagnetic on-off valve 892.
A second end of the shunt 65b2 opposite to the first end is connected in parallel to four lower nozzles 87a, 87b, 88a, and 88b of the nozzle sets 87 and 88 via an electromagnetic on-off valve 893.

上ノズル群7に対応した電磁開閉弁761~763及び下ノズル群8に対応した電磁開閉弁891~893の開閉動作は、制御装置93によって制御される。
これにより、制御装置93によって開状態とされた電磁開閉弁に接続したノズルから、液体MがミストMLとして噴出する。
例えば、制御装置93によって電磁開閉弁892が開状態とされたら、タンク61aに収容された液体Mが分路65b1を通り、下ノズル85a,85b,86a,86bからミストMLとして噴出する。
The opening and closing operations of the electromagnetic on-off valves 761 to 763 corresponding to the upper nozzle group 7 and the electromagnetic on-off valves 891 to 893 corresponding to the lower nozzle group 8 are controlled by a control device 93.
As a result, the liquid M is ejected as mist ML from the nozzle connected to the electromagnetic on-off valve that is opened by the control device 93.
For example, when the electromagnetic on-off valve 892 is opened by the control device 93, the liquid M contained in the tank 61a passes through the shunt 65b1 and is ejected as mist ML from the lower nozzles 85a, 85b, 86a, and 86b.

上ノズル群7の上ノズル71~75、及び下ノズル群8の下ノズル81a~88a,81b~88bは、扇形ノズルである。
扇形ノズルは、ミストMLを、一方向を長手とする細長い形状の範囲に噴出するノズルである。細長い形状は、例えば、細長い長方形、細長い楕円形、などである。この細長い形状の幅は一定でなくてもよく、長手方向の中央が最大幅でなくてもよい。
上ノズル71~75及び下ノズル81a~88a,81b~88bは、噴出範囲の長手方向がY軸方向となる姿勢で配置されている。
The upper nozzles 71 to 75 of the upper nozzle group 7 and the lower nozzles 81a to 88a and 81b to 88b of the lower nozzle group 8 are fan-shaped nozzles.
The fan-shaped nozzle is a nozzle that ejects the mist ML into an elongated range whose length is in one direction. The elongated shape is, for example, an elongated rectangle, an elongated oval, or the like. The width of this elongated shape may not be constant, and the width may not be the maximum width at the center in the longitudinal direction.
The upper nozzles 71 to 75 and the lower nozzles 81a to 88a, 81b to 88b are arranged such that the longitudinal direction of the ejection range is in the Y-axis direction.

上ノズル群7及び下ノズル群8における各ノズルのY軸方向の配置位置は、加工パレット2のスキッド群23Gに載せられる素材Waが板材の場合の定尺板のサイズに対応している。
制御装置93は、加工パレット2のスキッド群23Gに対し、X軸及びY軸を基準軸とするXY座標系を設定している。XY座標系には、加工パレット2に載置される素材Waなどの基準位置として、座標(Px0,Py0)が設定されている。
すなわち、定尺板の素材Waをスキッド群23Gに載せる場合は、素材Waの一つの角部を座標(Px0,Py0)に位置決めし、一対の長辺及び短辺を、それぞれX軸及びY軸に対し平行にする。
The arrangement position of each nozzle in the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 in the Y-axis direction corresponds to the size of a regular plate when the material Wa placed on the skid group 23G of the processing pallet 2 is a plate material.
The control device 93 sets an XY coordinate system for the skid group 23G of the processing pallet 2, with the X-axis and the Y-axis as reference axes. In the XY coordinate system, coordinates (Px0, Py0) are set as a reference position of the workpiece Wa etc. placed on the processing pallet 2.
That is, when placing the material Wa of the standard length plate on the skid group 23G, one corner of the material Wa is positioned at the coordinates (Px0, Py0), and a pair of long sides and short sides are aligned with the X axis and Y axis, respectively. parallel to.

基準位置は、X軸方向については、図5に示されるように加工パレット2の左端に近い位置に設定されており、Y軸方向については、図4に示されるように加工パレット2の前端に近い位置に設定されている。
加工パレット2のスキッド群23Gに載せられる定尺板の主な種類は、次の3種である。
すなわち、通称サブロク板(サイズ:3尺×6尺、914mm×1829mm)と、通称シハチ板(サイズ:4尺×8尺、1219mm×2438mm)、及び通称ゴットウ板(サイズ:5尺×10尺、1524mm×3048mm)である。
The reference position is set near the left end of the processing pallet 2 in the X-axis direction, as shown in FIG. 5, and is set near the front end of the processing pallet 2 in the Y-axis direction, as shown in FIG. set in a nearby location.
There are three main types of standard size plates placed on the skid group 23G of the processing pallet 2:
Namely, commonly known as Saburoku board (size: 3 shaku x 6 shaku, 914 mm x 1829 mm), commonly known as Shihachi board (size: 4 shaku x 8 shaku, 1219 mm x 2438 mm), and commonly known as Gotto board (size: 5 shaku x 10 shaku, 1524mm x 3048mm).

加工パレット2に対し、各定尺板の一つの角部を座標(Px0,Py0)の基準位置に位置させると共に、直交2辺をそれぞれX軸,Y軸に平行となる姿勢にして載置する。この場合、図4において、サブロク板,シハチ板,及びゴットウ板のY軸方向の幅は、スキッド群23GにおけるY座標がPy0の位置Pyからそれぞれ、位置Py1,位置Py2,及び位置Py3までの幅で示される。
同様に、図5において、サブロク板,シハチ板,及びゴットウ板のX軸方向の長さは、X座標がPx0の位置Pxからそれぞれ位置Px1,位置Px2,及び位置Px3までの長さで示される。
On the processing pallet 2, place one corner of each standard-sized plate at the reference position of coordinates (Px0, Py0), and place the two orthogonal sides parallel to the X-axis and Y-axis, respectively. . In this case, in FIG. 4, the widths in the Y-axis direction of the Saburoku board, the Shihachi board, and the Gotto board are the widths from the position Py where the Y coordinate is Py0 in the skid group 23G to the positions Py1, Py2, and Py3, respectively. It is indicated by.
Similarly, in FIG. 5, the lengths of the Saburoku board, Shihachi board, and Gotto board in the X-axis direction are shown as the lengths from position Px where the X coordinate is Px0 to position Px1, position Px2, and position Px3, respectively. .

図4に示されるように、サブロク板の幅に対応した範囲である位置Py~位置Py1の範囲の上方には、前方側から後方側にかけて上ノズル71~73が概ね等間隔で配置されている。上ノズル71~73それぞれから噴出したミストMLであるミストML71~ML73は、一部重複して少なくとも加工パレット2のスキッド群23Gの位置Py~位置Py1の範囲に満遍なく噴き付けられる。 As shown in FIG. 4, upper nozzles 71 to 73 are arranged at approximately equal intervals from the front side to the rear side above the range from position Py to position Py1, which is the range corresponding to the width of the subrok board. . The mist ML71 to ML73, which are the mist ML ejected from the upper nozzles 71 to 73, are sprayed evenly over at least the range of the skid group 23G of the processing pallet 2 from the position Py to the position Py1, with some overlap.

図4に示されるように、シハチ板の幅の、サブロク板よりも大きい部分に対応した範囲である位置Py1~位置Py2の範囲の上方には、上ノズル74が配置されている。上ノズル74から噴出したミストML74は、加工パレット2のスキッド群23Gの位置Py1~位置Py2の範囲に満遍なく噴き付けられる。 As shown in FIG. 4, the upper nozzle 74 is disposed above the range from position Py1 to position Py2, which corresponds to the width of the shihachi board that is larger than the subrok board. The mist ML74 ejected from the upper nozzle 74 is evenly sprayed onto the skid group 23G of the processing pallet 2 in the range from position Py1 to position Py2.

図4に示されるように、ゴットウ板の幅の、シハチ板よりも大きい部分に対応した範囲である位置Py2~位置Py3の範囲の上方には、上ノズル75が配置されている。上ノズル75から噴出したミストML75は、加工パレット2のスキッド群23Gの位置Py2~位置Py3の範囲に満遍なく噴き付けられる。 As shown in FIG. 4, the upper nozzle 75 is arranged above the range from position Py2 to position Py3, which corresponds to the width of the Gotto board that is larger than the Shihachi board. The mist ML75 ejected from the upper nozzle 75 is evenly sprayed over the range of positions Py2 to Py3 of the skid group 23G of the processing pallet 2.

このように、パレット搬送装置91は、液体塗布装置6の電磁開閉弁761を開状態にすることで、加工パレット2におけるスキッド23の、サブロク板に対応した位置Py~位置Py1の範囲に液体Mを噴霧して塗布できる。また、スキッド群23Gの所定の位置にサブロク板を載せた場合にはそのサブロク板の上面の全幅範囲に、液体を噴霧して塗布できる。 In this way, the pallet conveyance device 91 opens the electromagnetic on-off valve 761 of the liquid application device 6, thereby transferring the liquid M to the range of the position Py to the position Py1 corresponding to the sub-block plate of the skid 23 on the processing pallet 2. Can be applied by spraying. Further, when a sub-rotating board is placed on a predetermined position of the skid group 23G, the liquid can be sprayed and applied over the entire width range of the upper surface of the sub-roku board.

また、パレット搬送装置91は、液体塗布装置6の電磁開閉弁761及び電磁開閉弁762を開状態にすることで、シハチ板に対応した位置Py~位置Py2の範囲に液体Mを噴霧して塗布できる。また、スキッド群23Gの所定の位置にシハチ板を載せた場合にはそのシハチ板の上面の全幅範囲に、液体を噴霧して塗布できる。 In addition, by opening the electromagnetic on-off valve 761 and the electromagnetic on-off valve 762 of the liquid coating device 6, the pallet conveying device 91 sprays and applies the liquid M to the range from position Py to position Py2 corresponding to the top plate. can. In addition, when a top plate is placed on a predetermined position of the skid group 23G, the liquid can be sprayed and applied over the entire width range of the top surface of the top plate.

また、パレット搬送装置91は、液体塗布装置6の電磁開閉弁761~763を開状態にすることで、ゴットウ板に対応した位置Py~位置Py3の範囲に液体Mを噴霧して塗布できる。また、スキッド群23Gの所定の位置にゴットウ板を載せた場合にはそのゴットウ板の上面の全幅範囲に、液体Mを噴霧して塗布できる。 Furthermore, by opening the electromagnetic on-off valves 761 to 763 of the liquid coating device 6, the pallet conveying device 91 can spray and apply the liquid M to the range from position Py to position Py3 corresponding to the Gotto plate. Further, when a Gotto plate is placed on a predetermined position of the skid group 23G, the liquid M can be sprayed and applied over the entire width range of the upper surface of the Gotto plate.

図4に示されるように、スキッド群23Gにおける、サブロク板の幅に対応した範囲である位置Py~位置Py1の範囲の下方には、前方側から後方側にかけてノズル組81~84がこの順で配置されている。
ノズル組81~84それぞれから上方に向け噴出したミストML81~ML84は、加工パレット2のスキッド群23Gの少なくとも位置Py~位置Py1の範囲に噴き付けられる。
すなわち、ノズル組81~84から噴出したミストML81~ML86によって、スキッド群23Gの所定位置に載置されたサブロク板の下面の全幅範囲に満遍なく噴き付けられる。
As shown in FIG. 4, in the skid group 23G, below the range from position Py to position Py1, which is the range corresponding to the width of the sub-rock plate, nozzle sets 81 to 84 are arranged in this order from the front side to the rear side. It is located.
The mist ML81 to ML84 ejected upward from each of the nozzle sets 81 to 84 is sprayed onto the skid group 23G of the processing pallet 2 at least in the range from position Py to position Py1.
That is, the mist ML81 to ML86 ejected from the nozzle sets 81 to 84 are evenly sprayed over the entire width range of the lower surface of the subrok board placed at a predetermined position of the skid group 23G.

図4に示されるように、スキッド群23Gにおける、シハチ板の幅の、サブロク板よりも大きい部分に対応した範囲である位置Py1~位置Py2の範囲の下方には、ノズル組85,86が配置されている。
ノズル組85,86それぞれから上方に向け噴出したミストML85,ML86は、加工パレット2のスキッド群23Gの少なくとも位置Py1~位置Py2の範囲に噴き付けられる。
すなわち、ノズル組81~86から噴出したミストML81~ML86によって、スキッド群23Gの所定位置に載置されたシハチ板の下面の全幅範囲に液体Mが満遍なく塗布される。
As shown in FIG. 4, in the skid group 23G, nozzle sets 85 and 86 are arranged below the range from position Py1 to position Py2, which corresponds to the part of the width of the Shihachi board that is larger than the subrok board. has been done.
Mists ML85 and ML86 ejected upward from the nozzle sets 85 and 86, respectively, are sprayed onto at least the range of positions Py1 to Py2 of the skid group 23G of the processing pallet 2.
That is, the mist ML81 to ML86 ejected from the nozzle sets 81 to 86 evenly applies the liquid M to the entire width range of the lower surface of the top plate placed at a predetermined position of the skid group 23G.

図4に示されるように、スキッド群23Gにおける、ゴットウ板の幅の、シハチ板よりも大きい部分に対応した範囲である位置Py2~位置Py3の範囲の下方には、ノズル組87,88が配置されている。
ノズル組87,88それぞれから上方に向け噴出したミストML87,ML88は、加工パレット2のスキッド群23Gの少なくとも位置Py2~位置Py3の範囲に噴き付けられる。
すなわち、ノズル組81~88から噴出したミストML81~ML88によって、スキッド群23Gの所定位置に載置されたゴットウ板の下面の全幅範囲に液体Mが満遍なく噴き付けられる。
As shown in FIG. 4, in the skid group 23G, nozzle sets 87 and 88 are arranged below the range from position Py2 to position Py3, which corresponds to the part of the width of the Gotto board that is larger than the Shihachi board. has been done.
Mists ML87 and ML88 spouted upward from the nozzle sets 87 and 88, respectively, are sprayed onto at least the range of positions Py2 to Py3 of the skid group 23G of the processing pallet 2.
That is, the mist ML81 to ML88 ejected from the nozzle sets 81 to 88 evenly sprays the liquid M over the entire width range of the lower surface of the Gotto plate placed at a predetermined position of the skid group 23G.

各スキッド23に対し、スパッタ又はドロスなどの付着物が固着するのを防止するために、液体Mとしてスパッタ付着防止剤を塗布する場合は、スキッド23における基部233の表面及び溝部232の端面235に、満遍なくスパッタ付着防止剤を塗布する必要がある。溝部232の端面235は、支持片236の端面235と同じ部位である。
溝部232の端面235は上方を向いているため、スキッド23の上方に位置する上ノズル部62からスパッタ付着防止剤をミストMLとして噴き付けることで、端面235にスパッタ付着防止剤を塗布することができる。
When applying a sputter adhesion prevention agent as liquid M to each skid 23 in order to prevent adhering matter such as spatter or dross from adhering to it, the surface of the base 233 of the skid 23 and the end surface 235 of the groove 232 are coated with the anti-spatter agent. , it is necessary to apply spatter adhesion prevention agent evenly. The end surface 235 of the groove portion 232 is the same portion as the end surface 235 of the support piece 236.
Since the end face 235 of the groove portion 232 faces upward, the sputter adhesion preventive agent can be applied to the end face 235 by spraying the spatter adhesion preventive agent as mist ML from the upper nozzle portion 62 located above the skid 23. can.

これに対し、パレット搬送装置91は、上ノズル部62は加工パレット2に載置した素材Waの上面Wa1へのスパッタ付着防止剤の塗布を担い、溝部232の端面へのスパッタ付着防止剤の塗布は、下ノズル部63が担っている。 On the other hand, in the pallet conveying device 91, the upper nozzle part 62 is responsible for applying the sputter adhesion prevention agent to the upper surface Wa1 of the workpiece Wa placed on the processing pallet 2, and applies the spatter adhesion prevention agent to the end face of the groove part 232. is carried out by the lower nozzle section 63.

図7は、下ノズル部63のうちの、下ノズル83aによる溝部232へのスパッタ付着防止剤の塗布態様を示した側面図である。
素材Waは、複数のスキッド23の頂部231によって支持されている。
図7に示されるように、下ノズル83aは、上述のように扇形ノズルである。下ノズル83aから上方に噴出したスパッタ付着防止剤のミストMLは、Y軸方向に長い、長手方向の長さPR1の長方形範囲で、素材Waの下面Wa2に噴き付けられる。
FIG. 7 is a side view showing how the sputter adhesion prevention agent is applied to the groove portion 232 by the lower nozzle 83a of the lower nozzle portion 63. As shown in FIG.
The material Wa is supported by the tops 231 of the plurality of skids 23.
As shown in FIG. 7, the lower nozzle 83a is a fan-shaped nozzle as described above. The spatter adhesion prevention agent mist ML ejected upward from the lower nozzle 83a is ejected onto the lower surface Wa2 of the material Wa in a rectangular range having a length PR1 in the longitudinal direction and extending in the Y-axis direction.

加工パレット2は、スキッド群23Gを支える枠体のベース部21と、ベース部21の短手方向中央に配置された長手方向に延びる支持フレーム22以外、スキッド群23Gの下方は開放されている。従って、加工パレット2の下方から上方に向け噴出したミストMLは、ほぼ全量がスキッド群23Gに載せられた素材Waの下面Wa2に到達する。 The processing pallet 2 is open below the skid group 23G, except for a base portion 21 of a frame supporting the skid group 23G and a support frame 22 extending in the longitudinal direction and arranged at the center of the base portion 21 in the lateral direction. Therefore, almost the entire amount of the mist ML ejected upward from the bottom of the processing pallet 2 reaches the lower surface Wa2 of the material Wa placed on the skid group 23G.

下面Wa2に噴き付けられたスパッタ付着防止剤は、下面Wa2当たってランダムに跳ね返り、跳ね返った一部がスキッド23の溝部232の端面235に達する。
そのため、端面235には、下面Wa2でランダムに跳ね返ったスパッタ付着防止剤が様々な角度から到達する。同様に、溝部232及び基部233の側面にも、スパッタ付着防止剤が様々な角度から到達する。
これにより、スパッタ付着防止剤は、スキッド23の基部233及び溝部232の側面と溝部232の端面235とに満遍なく、かつむらなく塗布される。
また、下ノズル群8の複数のノズル組81~88は、それぞれ一対の下ノズルを有する。そして、代表としてノズル組81を説明すると、既述のように、ノズル組81は、一対の下ノズル81a,81bを有し、下ノズル81aと下ノズル81bのミストMLの上方への噴出方向が、真上ではなく、レーザ加工装置92に搬入される加工パレット2の移動方向(X軸方向)の前方側と後方側とに傾いている。これは他のノズル組82~88についても同様である。
そのため、スキッド23の基部233及び溝部232の側面には、X軸方向の左側と右側との両側からミストMLが噴き付けられ、ミストMLが素材Waの下面Wa2で跳ねってより広い範囲に拡散する。
これにより、スパッタ付着防止剤は、スキッド23の基部233及び溝部232の側面と溝部232の端面235とに、より満遍なく、かつ、よりむらなく塗布される。
The anti-spatter adhesion agent sprayed onto the lower surface Wa2 randomly bounces off the lower surface Wa2, and a portion of the rebound reaches the end surface 235 of the groove 232 of the skid 23.
Therefore, the sputter adhesion prevention agent that has randomly bounced off the lower surface Wa2 reaches the end surface 235 from various angles. Similarly, the sputter adhesion prevention agent also reaches the side surfaces of the groove portion 232 and the base portion 233 from various angles.
As a result, the sputter adhesion prevention agent is evenly and uniformly applied to the base 233 of the skid 23, the side surfaces of the groove 232, and the end surfaces 235 of the groove 232.
Further, each of the plurality of nozzle sets 81 to 88 of the lower nozzle group 8 has a pair of lower nozzles. To explain the nozzle set 81 as a representative, as described above, the nozzle set 81 has a pair of lower nozzles 81a and 81b, and the upward spouting direction of the mist ML of the lower nozzle 81a and the lower nozzle 81b is , not directly above, but tilted toward the front and back in the moving direction (X-axis direction) of the processing pallet 2 carried into the laser processing device 92. This also applies to the other nozzle sets 82-88.
Therefore, the mist ML is sprayed onto the side surfaces of the base 233 and the groove 232 of the skid 23 from both the left and right sides in the X-axis direction, and the mist ML bounces off the lower surface Wa2 of the material Wa and spreads over a wider area. do.
As a result, the sputter adhesion prevention agent is more evenly applied to the base 233 of the skid 23, the side surfaces of the groove 232, and the end surfaces 235 of the groove 232.

制御装置93は、上ノズル群7及び下ノズル群8からのミストMLの噴射時期を制御する。
具体的には、加工パレット2に載置された素材Waの大きさに応じて噴射時期を制御する。より詳しくは、制御装置93は、加工パレット2の素材Waが上ノズル群7の直下を通過中に、上ノズル群7からミストMLを素材Waに向け噴出させ、加工パレット2の素材Waが下ノズル群8の直上を通過中に、下ノズル群8からミストMLを素材Waに向け噴出させる。
The control device 93 controls the injection timing of the mist ML from the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8.
Specifically, the injection timing is controlled according to the size of the material Wa placed on the processing pallet 2. More specifically, while the material Wa of the processing pallet 2 is passing directly under the upper nozzle group 7, the control device 93 causes the upper nozzle group 7 to eject mist ML toward the material Wa, so that the material Wa of the processing pallet 2 is lowered. While passing directly above the nozzle group 8, the mist ML is ejected from the lower nozzle group 8 toward the material Wa.

図5に示されるように、上ノズル群7と下ノズル群8とは、X軸方向における同じ位置P78において対向するよう配置されている。
加工パレット2が、搬送本体部912からレーザ加工装置92に向け、図1にも示される矢印D4の左方向に移動しているときに上ノズル群7と下ノズル群8からミストMLが噴出する。制御装置93は、加工パレット2の移動を制御すると共に、加工パレット2のスキッド群23Gに載置されている素材Waが、サブロク板、シハチ板、ゴットウ板の場合、それぞれに応じてミストMLの噴出動作を制御する。
As shown in FIG. 5, the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 are arranged to face each other at the same position P78 in the X-axis direction.
Mist ML is ejected from the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 while the processing pallet 2 is moving from the transport main body 912 toward the laser processing device 92 in the left direction of the arrow D4 also shown in FIG. . The control device 93 controls the movement of the processing pallet 2, and when the material Wa placed on the skid group 23G of the processing pallet 2 is a Saburoku board, a Shihachi board, or a Gotto board, the control device 93 controls the mist ML accordingly. Controls the ejection action.

制御装置93は、スキッド群23Gに素材Waが載置されているか否か、及び載置されている素材Waの大きさを、それらの情報を含んで予め外部から供給される加工情報を参照して把握する。
素材Waの載置有無及び大きさは、パレット搬送装置91に、加工パレット2のスキッド群23Gに金属部材が載置されているか否か及び載置されている場合の大きさを検出する複数のセンサを設け、制御装置93がこのセンサの検出情報に基づいて取得するよう構成してもよい。
The control device 93 determines whether or not a material Wa is placed on the skid group 23G and the size of the material Wa placed thereon by referring to processing information supplied in advance from the outside including these information. Understand.
The presence or absence and size of the material Wa are determined by a plurality of sensors in the pallet conveying device 91 that detect whether or not a metal member is placed on the skid group 23G of the processing pallet 2 and the size of the metal member when placed. A sensor may be provided and the control device 93 may be configured to acquire information based on detection information from the sensor.

スキッド群23Gに載置されている素材Waがサブロク板の場合、制御装置93は、上ノズル群7及び下ノズル群8が設置されている位置P78を、少なくとも加工パレット2における位置Pxから位置Px1が通過している間にミストMLを噴出させる。
シハチ板の場合、制御装置93は、上ノズル群7及び下ノズル群8が設置されている位置P78を、少なくとも位置Pxから位置Px2が通過している間にミストMLを噴出させる。
ゴットウ板の場合、制御装置93は、上ノズル群7及び下ノズル群8が設置されている位置P78を、少なくとも位置Pxから位置Px3が通過している間にミストMLを噴出させる。
When the material Wa placed on the skid group 23G is a sub-rock plate, the control device 93 changes the position P78 where the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 are installed from at least the position Px on the processing pallet 2 to the position Px1. Mist ML is ejected while passing.
In the case of the Shihachi plate, the control device 93 spouts the mist ML while at least the position Px2 passes through the position P78 where the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 are installed.
In the case of the Gotto plate, the control device 93 spouts the mist ML while at least the position Px3 passes through the position P78 where the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 are installed.

上述の液体塗布方法により、パレット搬送装置91では、スキッド群23Gのうち、少なくとも加工に供される部分にスパッタ付着防止剤が塗布される、そのため、スパッタ付着防止剤の無駄な消費を抑制できる。 By the above-mentioned liquid application method, in the pallet conveying device 91, the sputter adhesion preventive agent is applied to at least the portion of the skid group 23G that is to be processed, so that wasteful consumption of the spatter adhesion preventive agent can be suppressed.

上述の液体塗布装置6を備えていることにより、パレット搬送装置91は、加工パレット2の各スキッド23の溝部232の端面235を含む表面全体に、満遍なく自動的にスパッタ付着防止剤を塗布できる。
具体的には、図8に示されるように、パレット搬送装置91は、加工パレット2がレーザ加工装置92に対して出入りする出入口914の近傍に、上下方向に離隔配置された上ノズル群7及び下ノズル群8を含むノズル部66を有する。
By being equipped with the above-mentioned liquid coating device 6, the pallet transport device 91 can automatically and evenly coat the entire surface of each skid 23 of the processing pallet 2, including the end surface 235 of the groove portion 232, with the sputter adhesion prevention agent.
Specifically, as shown in FIG. 8, the pallet conveyance device 91 includes an upper nozzle group 7 and It has a nozzle section 66 including a lower nozzle group 8.

制御装置93は、上ノズル群7と下ノズル群8との間を、パレット搬送装置91からレーザ加工装置92に向けて素材Waを載せた加工パレット2を通過させ、その際に、上ノズル群7及び下ノズル群8から素材Waに向け液体MのミストMLを噴出させる。
これにより、加工パレット2のスキッド群23Gに載置された素材Waの上面Wa1には、上ノズル群7から噴き付けられたスパッタ付着防止剤の塗膜MT7が付着する。それと共に、素材Waの下面Wa2及び素材Waに対応した範囲の各スキッド23の溝部232の端面235を含む全表面には、下ノズル群8から噴き付けられたスパッタ付着防止剤の塗膜MT8が付着する。
The control device 93 causes the processing pallet 2 carrying the material Wa to pass between the upper nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 from the pallet transport device 91 toward the laser processing device 92, and at this time, A mist ML of the liquid M is ejected from the lower nozzle group 7 and the lower nozzle group 8 toward the material Wa.
As a result, the coating film MT7 of the sputter adhesion prevention agent sprayed from the upper nozzle group 7 adheres to the upper surface Wa1 of the material Wa placed on the skid group 23G of the processing pallet 2. At the same time, the entire surface including the lower surface Wa2 of the material Wa and the end surface 235 of the groove portion 232 of each skid 23 in the range corresponding to the material Wa is coated with a coating film MT8 of a sputter adhesion prevention agent sprayed from the lower nozzle group 8. adhere to.

上述のように、下ノズル群8から上方に噴出したスパッタ付着防止剤のミストMLは、加工パレット2に載置された素材Waの下面Wa2及びスキッド23の素材Waに対応した範囲の、溝部232の端面235を含む全表面に液膜として付着する。
これにより、各スキッド23にスパッタ又はドロスが付着しにくく、スキッド23の清掃頻度を少なくできる。また、各スキッド23にスパッタ又はドロスが固着しにくいので、スキッド群23Gに載置された素材Waに傷が付きにくく、素材Waが安定して水平に保持され、レーザ切断加工の品質が高度に維持される。
As described above, the spatter adhesion prevention agent mist ML ejected upward from the lower nozzle group 8 is applied to the groove portion 232 in the range corresponding to the lower surface Wa2 of the workpiece Wa placed on the processing pallet 2 and the workpiece Wa of the skid 23. It adheres as a liquid film to the entire surface including the end surface 235.
As a result, spatter or dross is less likely to adhere to each skid 23, and the frequency of cleaning the skids 23 can be reduced. In addition, since spatter or dross is less likely to adhere to each skid 23, the material Wa placed on the skid group 23G is less likely to be scratched, the material Wa is stably held horizontally, and the quality of laser cutting processing is improved. maintained.

一方、上ノズル群7から下方に噴出したスパッタ付着防止剤のミストMLは、加工パレット2に載置された素材Waの上面Wa1に噴き付けられて塗布される。
これにより、素材Waがレーザ加工される際に生じる溶融物は、加工部位に対し噴き付けられるアシストガスによって容易に素材Waから分離して下方に排出され、ドロスが切断部位又はスキッド23などに付着しにくくなる。
On the other hand, the spatter adhesion prevention agent mist ML ejected downward from the upper nozzle group 7 is sprayed and applied onto the upper surface Wa1 of the material Wa placed on the processing pallet 2.
As a result, the molten material generated when the material Wa is laser-processed is easily separated from the material Wa by the assist gas sprayed to the processing area and discharged downward, and dross adheres to the cutting area or skid 23, etc. It becomes difficult to do.

スパッタ付着防止剤の、スキッド群23G及び素材Waの上面Wa1への塗布は、加工パレット2の搬送本体部912からレーザ加工装置92への投入動作に伴い実行される。そのため、工程及びタクトタイムは増加せず、生産性は低下することなく高度に維持される。 Application of the spatter adhesion prevention agent to the skid group 23G and the upper surface Wa1 of the material Wa is performed in conjunction with the operation of loading the processing pallet 2 from the conveyance body section 912 to the laser processing device 92. Therefore, the process and takt time do not increase, and productivity is maintained at a high level without decreasing.

本発明の実施例は、上述した構成に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において変形例としてもよい。 The embodiments of the present invention are not limited to the configurations described above, and modifications may be made without departing from the gist of the present invention.

図9~図11は、レーザ加工システムSTの変形例であるレーザ加工システムSTAを示す図である。レーザ加工システムSTAは、レーザ加工システムSTのパレット搬送装置91を、パレット搬送装置91Aに置き換えたものである。
パレット搬送装置91Aは、パレット搬送装置91に対し、液体塗布装置6に対し、上ノズル群7Aを含む上ノズル部62Aを追加した液体塗布装置6Aを有する。
図9は、レーザ加工システムSTAの概略構成を示す斜視図であり、図10は、液体塗布装置6Aの配管系統図であり、図11は、液体塗布装置6Aの加工パレット2に対するミストMLの噴霧動作を示す模式的側面図である。
9 to 11 are diagrams showing a laser processing system STA that is a modification of the laser processing system ST. In the laser processing system STA, the pallet transport device 91 of the laser processing system ST is replaced with a pallet transport device 91A.
The pallet conveying device 91A has a liquid coating device 6A, which is the pallet conveying device 91 and the liquid coating device 6, in which an upper nozzle section 62A including an upper nozzle group 7A is added.
FIG. 9 is a perspective view showing a schematic configuration of the laser processing system STA, FIG. 10 is a piping system diagram of the liquid coating device 6A, and FIG. 11 is a spraying of mist ML onto the processing pallet 2 of the liquid coating device 6A. FIG. 3 is a schematic side view showing the operation.

図9に示されるように、液体塗布装置6Aの上ノズル部62Aは、スイッチラック4の上保持部4cと中央位置のリフタトレイ5との間を移動する加工パレット2のスキッド群23Gに対し、上方からミストMLを噴き付け可能な位置に配置されている。
図10に示されるように、液体塗布装置6Aは、液体塗布装置6の構成に対し、上供給路64の途中に配置された二方向電磁切換弁67と、二方向電磁切換弁67から分岐し上ノズル群7Aに繋がる上供給分路64Aとを有している。
As shown in FIG. 9, the upper nozzle portion 62A of the liquid coating device 6A is directed upwardly with respect to the skid group 23G of the processing pallet 2 that moves between the upper holding portion 4c of the switch rack 4 and the lifter tray 5 at the center position. It is arranged at a position where the mist ML can be sprayed from.
As shown in FIG. 10, the liquid coating device 6A has a two-way electromagnetic switching valve 67 disposed in the middle of the upper supply path 64, and a two-way electromagnetic switching valve 67 that branches off from the liquid coating device 6. It has an upper supply branch 64A connected to the upper nozzle group 7A.

上ノズル群7Aは、例えば同様の構成とされ、上ノズル71A~75Aと、上ノズル71A~75Aを三つの系統で開閉制御するそれぞれ電磁開閉弁761A~763Aとを有している。
二方向電磁切換弁67及び電磁開閉弁761A~763Aの動作は、制御装置93によって制御される。
The upper nozzle group 7A has, for example, a similar configuration, and includes upper nozzles 71A to 75A and electromagnetic on-off valves 761A to 763A that control opening and closing of the upper nozzles 71A to 75A in three systems, respectively.
The operations of the two-way electromagnetic switching valve 67 and the electromagnetic on-off valves 761A to 763A are controlled by a control device 93.

図11に示されるように、パレット搬送装置91Aは、何も載置されていない加工パレット2を、スイッチラック4の上保持部4cとリフタトレイ5との間で移動させる際に、上ノズル群7Aによってスキッド群23Gに対し上方からスパッタ付着防止剤のミストMLを噴き付けることができる。
パレット搬送装置の動作態様によっては、加工パレット2の搬送工程において、スイッチラック4とリフタトレイ5との間を往復させて不図示のブラシによりスキッド群23Gの清掃工程を含む場合がある。制御装置93は、ブラシによる清掃を実行後の加工パレット2の移動時に、二方向電磁切換弁67によって上供給分路64Aのみを開状態として液体塗布装置6Aを動作させ、スキッド群23Gに対しスパッタ付着防止剤を塗布するよう動作制御する。
これにより、スキッド群23Gへのスパッタ付着防止剤の塗布を自動化し、生産性の低下を防止できる。
As shown in FIG. 11, when the pallet transport device 91A moves the processing pallet 2 on which nothing is placed between the upper holding part 4c of the switch rack 4 and the lifter tray 5, the upper nozzle group 7A Accordingly, the mist ML of the sputter adhesion prevention agent can be sprayed from above onto the skid group 23G.
Depending on the operation mode of the pallet transport device, the process of transporting the processing pallet 2 may include a process of cleaning the skid group 23G with a brush (not shown) by reciprocating between the switch rack 4 and the lifter tray 5. When the processing pallet 2 is moved after cleaning with the brush, the control device 93 operates the liquid coating device 6A by opening only the upper supply branch 64A using the two-way electromagnetic switching valve 67, and prevents spatter from being applied to the skid group 23G. The operation is controlled to apply the anti-adhesive agent.
Thereby, the application of the sputter adhesion prevention agent to the skid group 23G can be automated and a decrease in productivity can be prevented.

レーザ加工システムST,STAは、スキッド群23Gの各スキッド23への液体Mの塗布を、スキッド群23Gに素材Waを載せた状態で下方からミストMLを上方に向け噴き付けて行うことができる。これにより、スキッド23の端面を含む表面全体に十分に液膜が形成される。これは、下面Wa2でさまざまな方向に跳ね返ったミストML及び下面Wa2から垂れ落ちた液滴がスキッド23の表面に付着することによる。レーザ加工システムST,STAは、液体Mの塗布で形成される液膜は、スキッド群23Gに何も載せずに上方からミストMLを噴き付けた場合よりもむらがなく厚い。
また、レーザ加工システムST,STAは、下ノズル群8の一対の下ノズル81a~88a,81b~88bの一部(例えば半数)が、レーザ加工装置92へ搬入される加工パレット2の進行方向前側の前斜め上方にミストMLを噴出し、残りが進行方向後側の後斜め上方にミストMLを噴出する。これにより、スキッド23の端面を含む全表面に、よりむらなく均一な液膜を形成できる。
The laser processing systems ST and STA can apply the liquid M to each skid 23 of the skid group 23G by spraying the mist ML upward from below while the material Wa is placed on the skid group 23G. As a result, a liquid film is sufficiently formed on the entire surface of the skid 23 including the end surface. This is because the mist ML that has bounced off the lower surface Wa2 in various directions and the droplets that have dripped down from the lower surface Wa2 adhere to the surface of the skid 23. In the laser processing systems ST and STA, the liquid film formed by applying the liquid M is more even and thicker than when the mist ML is sprayed from above without placing anything on the skid group 23G.
Further, in the laser processing systems ST and STA, a part (for example, half) of the pair of lower nozzles 81a to 88a and 81b to 88b of the lower nozzle group 8 is located at the front side in the traveling direction of the processing pallet 2 that is carried into the laser processing device 92. The mist ML is ejected obliquely upward in front of the vehicle, and the remaining mist ML is ejected obliquely upward rearward on the rear side in the traveling direction. Thereby, a more even and uniform liquid film can be formed on the entire surface of the skid 23 including the end surfaces.

パレット搬送装置91,91Aにおいて同時に搬送する加工パレット2の数及び素材パレット1からの転載手順などは、上述の内容に限定されない。
少なくとも、パレット搬送装置91,91Aは、パレット搬送装置91,91Aからレーザ加工装置92へ加工前の素材Waを載置した加工パレット2を移動させる際に液体塗布動作を実行可能であればよい。
また、パレット搬送装置91Aは、さらに、加工パレット2を搬送本体部912からリフタトレイ5に一時的に退避させる出入り動作において、液体塗布動作が実行可能であればよい。
The number of processing pallets 2 to be simultaneously conveyed in the pallet conveying devices 91, 91A, the procedure for reloading from the material pallet 1, etc. are not limited to the above-mentioned contents.
At least, the pallet transport devices 91 and 91A need only be able to perform a liquid application operation when moving the processing pallet 2 on which the material Wa to be processed is mounted from the pallet transport devices 91 and 91A to the laser processing device 92.
Furthermore, the pallet transport device 91A may be capable of performing a liquid application operation in the in/out operation for temporarily retracting the processing pallet 2 from the transport main body portion 912 to the lifter tray 5.

スキッド群23G及び素材Waに向け噴き付ける液体Mは、スパッタ付着防止剤に限定されない。 The liquid M sprayed toward the skid group 23G and the material Wa is not limited to a sputter adhesion prevention agent.

1 素材パレット
2,2A,2B 加工パレット
21 ベース部
22 支持フレーム
23,23a,23b スキッド
231 頂部
232 溝部
233 基部
234 支持部
235 端面
236 支持片
23G スキッド群
3 一枚取ユニット
3a 吸着部
4 スイッチラック
4a 左開口部
4b 前開口部
4c 上保持部
4d 下保持部
5 リフタトレイ
6,6A 液体塗布装置
61 本体部
61a タンク
62,62A 上ノズル部
63 下ノズル部
64 上供給路
64A 上供給分路
641~643 分路
65 下供給路
65a,65b 供給路
65b1,65b2 分路
66 ノズル部
67 二方向電磁切換弁
7,7A 上ノズル群
71~75 上ノズル
761~763,891~893,761A~763A 電磁開閉弁
764減圧器
8 下ノズル群
81~88 ノズル組
81a~88a,81b~88b 下ノズル
91,91A パレット搬送装置
911 格納部
912 搬送本体部
913 リフタ部
914 出入口
92 レーザ加工装置
921 レーザ加工ヘッド
93 制御装置
AR エアー源
Ls レーザビーム
M 液体
ML,ML71~ML75,ML81~ML86 ミスト
MT7,MT8 塗膜
PR1 長さ
Px,Px1~Px3,Py,Py1~Py3 位置
P1,P5,P6,P78 位置
P2 吸着位置
P3 上方位置
P4 下方位置
ST,STA レーザ加工システム
Wa 素材
Wa1 上面
Wa2 下面
Wb 加工済材
Wt 積層体
θ 角度
1 Material pallet 2, 2A, 2B Processing pallet 21 Base part 22 Support frame 23, 23a, 23b Skid 231 Top part 232 Groove part 233 Base part 234 Support part 235 End face 236 Support piece 23G Skid group 3 Single sheet unit 3a Adsorption part 4 Switch rack 4a Left opening 4b Front opening 4c Upper holding part 4d Lower holding part 5 Lifter trays 6, 6A Liquid application device 61 Main body part 61a Tanks 62, 62A Upper nozzle part 63 Lower nozzle part 64 Upper supply path 64A Upper supply branch 641~ 643 Shunt 65 Lower supply path 65a, 65b Supply path 65b1, 65b2 Shunt 66 Nozzle section 67 Two-way electromagnetic switching valve 7, 7A Upper nozzle group 71-75 Upper nozzle 761-763, 891-893, 761A-763A Solenoid opening/closing Valve 764 Pressure reducer 8 Lower nozzle group 81-88 Nozzle group 81a-88a, 81b-88b Lower nozzle 91, 91A Pallet transport device 911 Storage section 912 Transport main body section 913 Lifter section 914 Entrance/exit 92 Laser processing device 921 Laser processing head 93 Control Device AR Air source Ls Laser beam M Liquid ML, ML71~ML75, ML81~ML86 Mist MT7, MT8 Paint film PR1 Length Px, Px1~Px3, Py, Py1~Py3 Position P1, P5, P6, P78 Position P2 Adsorption position P3 Upper position P4 Lower position ST, STA Laser processing system Wa Material Wa1 Upper surface Wa2 Lower surface Wb Processed material Wt Laminated body θ Angle

Claims (8)

素材にレーザ加工を行うレーザ加工装置と、
複数のスキッドからなるスキッド群を有する加工パレットをレーザ加工装置へ搬送するパレット搬送装置と、
前記パレット搬送装置から前記レーザ加工装置に搬送される前記加工パレットに対し、下方から液体をミストとして噴き付ける下ノズル群を含む液体塗布装置と、
を備えたレーザ加工システム。
A laser processing device that performs laser processing on a material,
a pallet transport device that transports a processing pallet having a skid group consisting of a plurality of skids to a laser processing device;
a liquid application device including a lower nozzle group that sprays liquid as a mist from below onto the processing pallet that is transported from the pallet transport device to the laser processing device;
Laser processing system equipped with
前記下ノズル群は、複数の下ノズルを有し、前記下ノズルは扇形ノズルであることを特徴とする請求項1記載のレーザ加工システム。 2. The laser processing system according to claim 1, wherein the lower nozzle group includes a plurality of lower nozzles, and the lower nozzles are fan-shaped nozzles. 複数の下ノズルは、前記加工パレットの前記レーザ加工装置への搬送方向に傾いて前記ミストを噴出することを特徴とする請求項2記載のレーザ加工システム。 3. The laser processing system according to claim 2, wherein the plurality of lower nozzles eject the mist at an angle in a direction in which the processing pallet is transported to the laser processing device. 前記複数の下ノズルは、一対の組の複数組として構成され、前記一対の組の一方の下ノズルが、前記搬送方向の進行方向前側に前記ミストを噴出し、前記一対の組の他方の下ノズルが、前記搬送方向の進行方向後側に前記ミストを噴出することを特徴とする請求項3記載のレーザ加工システム。 The plurality of lower nozzles are configured as a plurality of pairs of sets, and one of the lower nozzles of the pair of sets spouts the mist to the front side in the traveling direction of the conveyance direction, and the lower nozzles of one of the pair of sets eject the mist to the front side of the traveling direction of the conveyance direction, and 4. The laser processing system according to claim 3, wherein the nozzle ejects the mist to the rear side in the transport direction. 前記スキッドは、短冊板状の基部と、前記基部の上縁部に、上方を頂点とする三角形状に突出した支持片が複数並設されて形成されて前記素材を支持する支持部とを有し、
前記素材が前記加工パレットの前記スキッド群に載っている場合に、
前記下ノズル群は、前記液体のミストを、前記素材の下面に当てると共に前記下面に当たって跳ね返った前記液体のミストによって前記支持片の端面に前記液体が塗布されるよう噴き付けることを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載のレーザ加工システム。
The skid has a base in the shape of a rectangular plate, and a support part that is formed by juxtaposing a plurality of support pieces protruding in a triangular shape with an apex at the top on an upper edge of the base to support the material. death,
When the material is placed on the skid group of the processing pallet,
The lower nozzle group sprays the liquid mist against the lower surface of the material and the liquid mist that bounces off the lower surface so that the liquid is applied to the end surface of the support piece. The laser processing system according to any one of items 1 to 4.
前記液体は、スパッタ付着防止剤であることを特徴とする請求項1~5のいずれか1項に記載のレーザ加工システム。 The laser processing system according to any one of claims 1 to 5, wherein the liquid is a sputter adhesion prevention agent. 前記加工パレット及び前記加工パレットに載置された前記素材に対し、上方から前記液体をミストとして噴き付ける上ノズル群を備えたことを特徴とする請求項1~6のいずれか1項に記載のレーザ加工システム。 7. The processing apparatus according to claim 1, further comprising an upper nozzle group that sprays the liquid as a mist from above onto the processing pallet and the material placed on the processing pallet. Laser processing system. 複数のスキッドからなるスキッド群を有する加工パレットを、前記スキッド群に載せた素材と共にレーザ加工装置に搬入する際に、
前記加工パレットに対し、液体を下方からミストとして噴き付けて前記素材の下面に当て、前記下面で跳ね返ったミストによって前記液体を前記スキッドの上方を向く端面に塗布する加工パレットへの液体塗布方法。
When carrying a processing pallet having a skid group consisting of a plurality of skids into a laser processing device together with the material placed on the skid group,
A method for applying a liquid to a processing pallet, in which the liquid is sprayed as a mist from below onto the processing pallet and applied to the lower surface of the material, and the liquid is applied to the upwardly facing end surface of the skid by the mist that bounces off the lower surface.
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