JP7320803B2 - サイレージ発酵品質評価方法及び装置 - Google Patents
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Description
ここで、前記サイレージから発生したガスの組成に基づく前記サイレージの発酵品質の評価は、少なくとも前記ガス中の有機酸及び窒素含有化合物の一方の量に基づく評価であってよい。
また、前記発酵品質の評価は、前記シグナルの時間変化のパターンに基づいて行ってよい。
また、前記サイレージから発生したガス中の酪酸の量による時間変化のパターンへの影響の評価に基づいて前記発酵品質の評価を行ってよい。
また、前記サイレージから発生したガス中の酢酸の量による時間変化のパターンへの影響の評価に基づいて前記発酵品質の評価を行ってよい。
また、評価対象のサイレージを収容した容器に、発酵品質の評価に影響を与える成分を実質的に含有していないガスを通すことにより得られたガスを前記サイレージから発生したガスとして前記表面応力センサに供給してよい。
また、前記表面応力センサに前記サイレージから発生したガスの供給を開始した以降の前記シグナルを使用して前記サイレージの発酵品質の評価を行ってよい。
また、前記表面応力センサは膜型表面応力センサであってよい。
また、前記表面応力センサの感応膜の材料としてPoly(methyl vinyl ether-alt-maleic anhydride)、Poly(2,6-diphenyl-p-phenylene oxide)及びPoly(4-methylstyrene)からなる群から選択された少なくとも一を使用してよい。
また、前記表面応力センサの感応膜の材料としてPolymethyl methacrylate、Poly(4-methylstyrene)、フェニル基修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子、オクタデシル基修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子、Poly(2,6-diphenyl-p-phenylene oxide)、Polyvinyl fluoride、Polystyrene、Polycaprolactone、Cellulose acetate butyrate、Polyethyleneimine、及びテトラエトキシシラン修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子からなる群から選択された少なくとも一を使用してよい。
また、前記表面応力センサとして、前記群から選択された一の材料を感応膜に使用した第1の表面応力センサと、前記群から選択された他の材料を感応膜として使用した第2の表面応力センサとを少なくとも使用してよい。
また、前記サイレージから発生したガスとパージガスとを前記表面応力センサに交互に与え、前記サイレージから発生したガスに対応する前記シグナルと前記パージガスに対応する前記シグナルとを使用して前記サイレージの発酵品質の評価を行ってよい。
また、前記サイレージから発生したガスを前記表面応力センサに供給する時間区間と前記パージガスを前記表面応力センサに与える時間区間とに加えて、所定の標準ガスを前記表面応力センサに与える時間区間を設け、前記サイレージの発酵品質の評価にあたって前記標準ガスに対応する前記シグナルを更に使用してよい。
また、前記標準ガスは液体または固体から発生するガスであってよい。
また、前記サイレージから発生したガスを追加のガスセンサに供給し、前記表面応力センサからのシグナルと前記追加のガスセンサからのシグナルとに基づいて前記サイレージの発酵品質の評価を行ってよい。
本発明の他の側面によれば、少なくとも一つの表面応力センサと、測定対象のサイレージから発生した試料ガスを供給する第1のガス流路と、測定すべきガス成分を含有しないパージガスを供給する第2のガス流路とを設け、前記第1のガス流路から供給される試料ガスと前記第2のガス流路から供給されるパージガスとを交互に切り替えて前記少なくとも一つの表面応力センサに供給して前記少なくとも一つの表面応力センサからシグナルを発生させることにより、上記何れかのサイレージ発酵品質評価方法を行う、サイレージ発酵品質評価装置が与えられる。
ここで、追加のガスセンサと前記試料ガスを前記追加のガスセンサに供給する追加のガス流路とを設け、前記少なくとも一つの表面応力センサからの前記シグナルと前記追加のガスセンサからのシグナルとに基づいて前記サイレージの発酵品質の評価を行ってよい。
本発明のさらに他の側面によれば、少なくとも一つの表面応力センサと、測定対象のサイレージから発生した試料ガスを供給する第1のガス流路と、測定すべきガス成分を含有しないパージガスを供給する第2のガス流路と、所定の成分組成を有する標準ガスを供給する第3のガス流路とを設け、前記第1のガス流路から供給される試料ガスと前記第2のガス流路から供給されるパージガスと前記第3のガス流路から供給される標準ガスとを所定の順序で切り替えて前記少なくとも一つの表面応力センサに供給して前記少なくとも一つの表面応力センサからシグナルを発生させることにより、上記何れかのサイレージ発酵品質評価方法を行う、サイレージ発酵品質評価装置が与えられる。
ここで、追加のガスセンサと前記試料ガスを前記追加のガスセンサに供給する追加のガス流路とを設け、前記少なくとも一つの表面応力センサからの前記シグナルと前記追加のガスセンサからのシグナルとに基づいて前記サイレージの発酵品質の評価を行ってよい。
〇基準1. 分子中の炭素個数が4個以上の有機酸(以下、C4と称する)の量と炭素個数2個または3個の有機酸(以下、それぞれC2、C3と称する)の量との比の値が大きいサイレージは品質が悪い(この観点での評価をC4評価ともいう)。また
〇基準2. 炭素個数が2個または3個の有機酸の量が大きいサイレージも品質が悪い(この観点での評価をC2+C3評価ともいう)
とされる。本願発明者はこのようなサイレージ中の各種の有機酸の量を表面応力センサで検出することでサイレージ品質を評価するという着想を得て、研究を進めた結果、本発明を完成させるに至った。
A.パージガスを供給する→[試料ガスと標準ガスの一方を供給する→パージガスを供給する→試料ガスと標準ガスの他方を供給する→パージガスを供給する](あるいは[]内を繰り返す)
B.パージガスを供給する→[試料ガスと標準ガスを交互に供給する→パージガスを供給する](あるいは[]内を繰り返す)
C.パージガスを供給する→[試料ガスと標準ガスの一方とパージガスとの交互供給を繰り返す→パージガスを供給する→試料ガスと標準ガスの他方とパージガスとの交互供給を繰り返す](あるいは[]内を繰り返す)
これ以外にもガス供給時間区間の各種のガス供給シーケンスが考えられる。何れのガス供給シーケンスでも、一連の測定シーケンス中は温度、ガス圧力・流量、センサ特性の経時変化などの測定条件はシーケンス内で大きく変化しないと考えられるので、試料ガスと標準ガスとの比較により、両ガス間の微量な組成の違いを精密に測定でき、また測定結果への外乱の影響が低減できるなど、測定の安定性の向上を図ることもできる。
本実施例では図1に概略の構成を示した測定システムをインキュベータ内に収容したものを使用し、測定対象の試料として、サイレージ中に多く含まれる有機酸の水溶液、及び各種の品質のサイレージをバイアル瓶に収容して測定を行った。インキュベータの温度は20℃、30℃及び45℃の三通りに設定して測定を行ったが、30℃の場合が最も判別性(試料の相違がMSS応答信号波形の相違として現れる程度)が良好だったので、以下ではこの温度設定で測定を行った結果を示す。また、試料ガス及びパージガスの流量は10sccm及び30sccmの二通りで測定を行ったが、10sccmの方が判別性が良好であった。ただし、ここで注意しておくが、判別性は、試料ガスの発散速度、感応膜の吸着速度、流量のいずれにも大きく影響を受けるものと考えられる。したがって、上記判別性への言及は、あくまでも現在の測定系において、10sccmは30sccmより判別性が高かったという結論であり、例えば感応膜の厚さや採取する試料の量が変われば、最適流量は変化する可能性がある。また、ガス温度に影響するガス流路温度の経時的な変化を回避する上で、ポンプからの発熱を抑制できる10sccmには大きなメリットがある。本実施例で使用した測定系では冷却ファンの取り付け等、ガス流路に対する熱対策を行っていないが、上記流量はそのような測定構成に好適な測定条件であるということができる。また、サンプリング時間(各測定サイクルにおいて試料ガスインジェクションを行う時間)として30秒及び120秒の二通りで測定を行ったが、判別性には差がなかった。以下ではサンプリング時間を120秒とした場合のデータを示す。ここで、サンプリング時間とパージ時間(各測定サイクルにおいてパージガスをMSSに与えてそのパージを行う時間)との比を1:2として測定を行った。本願発明者の実験では、サンプリング時間とパージ時間との比を1:1とするなどパージ時間を短くすると、パージ、すなわち試料ガスインジェクション中にMSS上の感応膜に吸着された成分の脱着が不十分となってベースラインの変動が大きくなることが確認された。このことから、短時間のパージしか行わない場合には判別精度に悪影響が出る可能性がある。現実の測定では測定時間が長くなることは、それ自体測定のスループットを低下させるなどの不都合があるだけではなく、測定系内外の環境の各種のパラメータ(流速、ガス圧力、温度等)を長時間安定させることがしばしば困難であったり、測定系の大型化、高価格化を招くという問題がある。さらに、測定系は通常はポンプ等の能動部品を含むことからこれからの発熱による長時間にわたる温度変化も精度に悪影響を与える恐れがある。従って、本発明においては、測定サイクル時間の配分を、サンプリング時間には有効なシグナル値を得ることが可能な範囲内で極力短く配分し、パージ時間をできるだけ長くすることが望ましい。あるいは、ベースライン変動が問題となる場合の対策として、品質に影響を与える成分の量があらかじめ規定された値である標準サイレージを準備しておき、測定毎に標準サイレージを測定してキャリブレーションを行う等により、短時間のパージによる悪影響を除去あるいは軽減することもできる。
本実施例では図1に概略の構成を示した測定システムをインキュベータ内に収容したものを使用し、測定対象の試料として、実施例1で用いたものとは別の、3種類のサイレージをバイアル瓶に収容して測定を行った。各サイレージは特に水等を添加することなく、所定重量のサイレージをそのままバイアル瓶に収容して測定を行った。インキュベータの温度は30℃とし、試料ガス及びパージガスの流量は10sccmとした。また、サンプリング時間は120秒とし、サンプリング時間とパージ時間との比は1:2とした。
ChE:Poly(4-methylstyrene)
ChF:フェニル基修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子(以下、「Phenyl-STNPs」とも称する。)
ChG:オクタデシル基修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子(以下、「C18-STNPs」とも称する。)
ChH:Poly(2,6-diphenyl-p-phenylene oxide)(Tenax TA(Mesh:60/80))
ChI:Polyvinyl fluoride
ChJ:Polystyrene
ChK:Polycaprolactone
ChL:Cellulose acetate butyrate
ChM:Polyethyleneimine
ChN:テトラエトキシシラン修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子(以下、「TEOS-STNPs」とも称する。)
ChG(感応膜材料:C18-STNPs)を用いた測定では、試料ガスインジェクション期間において、試料7と試料8の間のシグナル変化の違いよりも、試料7、8と試料9の間のシグナル変化の違いが大きい傾向が見られた。また、試料ガスインジェクション期間終了後のパージ期間においては、試料8と試料7、9の間のシグナルの立ち下りの飽和の速度に違いが見られ、化学分析により品質の優劣が識別された試料間の差が識別可能であることが示唆された(図16)。
ChK(感応膜材料:Polycaprolactone)を用いた測定では、本実施例の測定で用いたそのほかのMSSとの比較では顕著な差ではないものの、試料ガスインジェクション期間において、試料7、試料8及び試料9の間でシグナル変化に違いが見られた。一方、試料ガスインジェクション期間終了後のパージ期間においては、試料7、試料8及び試料9の間でシグナルの立ち下りの飽和の速度にほとんど違いは見られなかった(図20)。
ChN(感応膜材料:TEOS-STNPs)を用いた測定では、ChKの場合と同様に、本実施例の測定で用いたそのほかのMSSとの比較では顕著な差ではないものの、試料ガスインジェクション期間において、試料7、試料8及び試料9の間でシグナル変化に違いが見られた。また、試料ガスインジェクション期間終了後のパージ期間においては、ChGの場合と同様に、試料8と試料7、9の間のシグナルの立ち下りの飽和の速度に違いが見られ、化学分析により品質の優劣が識別された試料間の差が識別可能であることが示唆された(図23)。
Claims (19)
- サイレージから発生したガスを表面応力センサに与え、
前記サイレージから発生したガスに応答して前記表面応力センサから出力されるシグナルを使用して、前記サイレージから発生したガス中の有機酸の量に基づく前記サイレージの発酵品質の評価を行う、
サイレージ発酵品質評価方法。 - 前記サイレージから発生したガス中の有機酸及び窒素含有化合物の両方の量に基づく前記サイレージの発酵品質の評価を行う、請求項1に記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記発酵品質の評価は、前記シグナルの時間変化のパターンに基づいて行う、請求項1または2に記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記サイレージから発生したガス中の酪酸の量による時間変化のパターンへの影響の評価に基づいて前記発酵品質の評価を行う、請求項3に記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記サイレージから発生したガス中の酢酸の量による時間変化のパターンへの影響の評価に基づいて前記発酵品質の評価を行う、請求項3または4に記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 評価対象のサイレージを収容した容器に、発酵品質の評価に影響を与える成分を実質的に含有していないガスを通すことにより得られたガスを前記サイレージから発生したガスとして前記表面応力センサに供給する、請求項1から5の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記表面応力センサに前記サイレージから発生したガスの供給を開始した以降の前記シグナルを使用して前記サイレージの発酵品質の評価を行う、請求項1から6の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記表面応力センサは膜型表面応力センサである、請求項1から7の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記表面応力センサの感応膜の材料としてPoly(methyl vinyl ether-alt-maleic anhydride)、Poly(2,6-diphenyl-p-phenylene oxide)及びPoly(4-methylstyrene)からなる群から選択された少なくとも一を使用する、請求項1から8の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記表面応力センサの感応膜の材料としてPolymethyl methacrylate、Poly(4-methylstyrene)、フェニル基修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子、オクタデシル基修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子、Poly(2,6-diphenyl-p-phenylene oxide)、Polyvinyl fluoride、Polystyrene、Polycaprolactone、Cellulose acetate butyrate、Polyethyleneimine、及びテトラエトキシシラン修飾シリカ/チタニア複合ナノ粒子からなる群から選択された少なくとも一を使用する、請求項1から8の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記表面応力センサとして、前記群から選択された一の材料を感応膜に使用した第1の表面応力センサと、前記群から選択された他の材料を感応膜として使用した第2の表面応力センサとを少なくとも使用する、請求項9または10に記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記サイレージから発生したガスとパージガスとを前記表面応力センサに交互に与え、前記サイレージから発生したガスに対応する前記シグナルと前記パージガスに対応する前記シグナルとを使用して前記サイレージの発酵品質の評価を行う、請求項1から11の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記サイレージから発生したガスを前記表面応力センサに供給する時間区間と前記パージガスを前記表面応力センサに与える時間区間とに加えて、所定の標準ガスを前記表面応力センサに与える時間区間を設け、前記サイレージの発酵品質の評価にあたって前記標準ガスに対応する前記シグナルを更に使用する、請求項12に記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記標準ガスは液体または固体から発生するガスである、請求項13に記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 前記サイレージから発生したガスを追加のガスセンサに供給し、前記表面応力センサからのシグナルと前記追加のガスセンサからのシグナルとに基づいて前記サイレージの発酵品質の評価を行う、請求項1から14の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法。
- 少なくとも一つの表面応力センサと、
測定対象のサイレージから発生した試料ガスを供給する第1のガス流路と、
測定すべきガス成分を含有しないパージガスを供給する第2のガス流路と
を設け、
前記第1のガス流路から供給される試料ガスと前記第2のガス流路から供給されるパージガスとを交互に切り替えて前記少なくとも一つの表面応力センサに供給して前記少なくとも一つの表面応力センサからシグナルを発生させることにより、請求項1から12の何れかに記載のサイレージ発酵品質評価方法を行う、サイレージ発酵品質評価装置。 - 追加のガスセンサと前記試料ガスを前記追加のガスセンサに供給する追加のガス流路とを設け、
前記少なくとも一つの表面応力センサからの前記シグナルと前記追加のガスセンサからのシグナルとに基づいて前記サイレージの発酵品質の評価を行う、請求項16に記載のサイレージ発酵品質評価装置。 - 少なくとも一つの表面応力センサと、
測定対象のサイレージから発生した試料ガスを供給する第1のガス流路と、
測定すべきガス成分を含有しないパージガスを供給する第2のガス流路と、
所定の成分組成を有する標準ガスを供給する第3のガス流路と
を設け、
前記第1のガス流路から供給される試料ガスと前記第2のガス流路から供給されるパージガスと前記第3のガス流路から供給される標準ガスとを所定の順序で切り替えて前記少なくとも一つの表面応力センサに供給して前記少なくとも一つの表面応力センサからシグナルを発生させることにより、請求項13または14に記載のサイレージ発酵品質評価方法を行う、サイレージ発酵品質評価装置。 - 追加のガスセンサと前記試料ガスを前記追加のガスセンサに供給する追加のガス流路とを設け、
前記少なくとも一つの表面応力センサからの前記シグナルと前記追加のガスセンサからのシグナルとに基づいて前記サイレージの発酵品質の評価を行う、請求項18に記載のサイレージ発酵品質評価装置。
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