JP7319968B2 - 管の検査 - Google Patents
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Description
概括的に、本書は管材の非破壊試験、そしてより具体的には、隣接する管材の隣接区域の電磁検査について記載する。
ら3mmないし300mmの長さの距離を縦に測定される第1の管材の一部を検査する工程を含むことができ、そして第2の部分を検査する工程は第2の先端から3mmないし300mmの長さの距離を縦に測定される第2の管材の一部を検査する工程を含む場合がある。
ートと、そして、管の欠陥信号と、管の位置信号と、そして予定された管の欠陥閾値とに基づいて管の欠陥場所を検出し、そして管の欠陥を有する管材を識別し、第1の出力ポートにおいて管の欠陥場所信号として前記の管の欠陥場所(pipe defect location)を提供するようになっているプロセッサーと、を有する制御装置とを含み、前記の管の欠陥場所は、第1の後端から300mmの縦の距離を縦に測定される第1の管材と、第1の後端に少なくとも一部隣接された第2の先端から300mmの縦の距離を縦に測定される第2の管材との一部を含む隣接区域内にある。
本書は、管材の非破壊試験を実施するためのシステムと技術を記載する。概括的に、既存の電磁式管検査システムの性能は、個々の管材の末端近位を検査するそれらの能力が限定される。以下に説明される通りに、管端の近位を検査するこれらのシステムの能力は、検査中に、前記管材が末端と末端に接触するように、2種以上の個々の管材を配列することにより改善される場合がある。
合がある。
の速度を制御する場合がある。
合がある。前記センサー信号は、センサー入力ポート206において前記制御装置202により受信され、そして処理されて、前記管材230a、230bにおける欠陥およびその他の異常を識別する。前記制御装置202は、予定された欠陥の閾値(例えば、ユーザーにより提供される補正値)に対して前記の受信されたセンサー信号を比較して、管材が、ある種の欠陥を含むことを識別する。例えば、前記検査装置40は、5vの出力が公称であると考えられる横断面250の品質とともに変化するセンサー信号として、ゼロないし10vの範囲を提供する場合がある。前記枠(window)を外れる信号(例えば、信号に、4v未満または6v超を惹起させる)が、欠陥を表わすものと決定される場合がある、+/-1vの閾値枠が、オペレーターにより提供される場合がある。
する場合があり、そして前記下流の制御装置270は、割れ目を有する管材に、割れ目をもっていると識別されなかった管材から隔離あるいは区別させることにより応答する(例えば再生、再利用または廃棄のために送られる)場合がある。このような隔離の一例は、図5Aと5Bの説明において考察されるであろう。
た不感区域361cを含む。
工程は、第1の管材を第1の速度で縦に運搬する工程と、第2の管材を、第1の速度より速い第2の速度で縦に運搬する工程と、第2の先端を第1の後端に接触させて、前記の管の隣接区域を規定する工程と、そして第1の後端と第2の先端との間の接触が維持されるように第1の管材と第2の管材とを縦に運搬する工程と、を含む場合がある。例えば、前記コンベヤー320bは、前記コンベヤー320aより遅い速度で作動する。そのため、前記管材330bは、前記管材330aに追いつき、それと接触し、そして前記コンベヤー320bは、前記の、より遅い速度で、前記の隣接された管材330a、330bを運搬するであろう。
速度で縦に運搬する工程と、第2の管材と第3の管材が前記検査装置に対して運搬されるときに、前記検査装置により第2の隣接区域を検査する工程と、そして前記検査装置により、第2の管の隣接区域内に検出される欠陥を表わす欠陥データを、前記の検査工程に基づいて提供する工程と、を含む場合がある。例えば、前記管材330cは、前記検査装置340による検査のために、前記管材330bと末端と末端を接触される場合がある。
つの実施において、前記プロセッサー710は、シングルスレッドプロセッサーである。別の実施において、前記プロセッサー710は、マルチスレッドプロセッサーである。前記プロセッサー710は、前記メモリー720中、または前記記憶装置730上に記憶された命令を処理して、前記入力/出力装置740上のユーザーインターフェイスにグラフ情報を表示することが可能である。
ディスクとを含む。コンピュータープログラムの命令とデータとを明白に具体化するのに適する記憶装置は、一例として、EPROMと、EEPROMと、そしてフラッシュメモリー装置のような半導体メモリー装置と、内部のハードディスクと取り外し可能なディスクのような磁気ディスクと、光磁気ディスクと、そしてCD-ROMおよびDVD-ROMとを含む、すべての形態の非揮発性メモリーを含む。前記プロセッサーと前記メモリーとは、ASIC(特定用途向け集積回路)により補完され、またはそれに取り込まれる場合がある。
Claims (21)
- 第1の管の胴体と、第1の先端と、そして第1の後端とを有する第1の管材(pipe section)を提供する工程と、
第2の管の胴体と、第2の先端と、そして第2の後端とを有する第2の管材を提供する工程と、
第2の先端の少なくとも一部を第1の後端の少なくとも一部に隣接させて、第1の後端から300mmの長手方向の距離をその長軸に沿って測定される第1の管材の一部と、第2の先端から300mmの長手方向の距離をその長軸に沿って測定される第2の管材の一部と、を含む、管の隣接区域を規定する工程と、
第1の管材と第2の管材とを、電磁検査を実施するようになっている検査装置に対して第1の速度で長手方向に運搬する工程と、
第1の管材と第2の管材とが、前記検査装置に対して運搬されるときに、前記第1の管材の一部の前記の管の隣接区域の第1の部分と、前記第2の管材の一部の前記の管の隣接区域の第2の部分とを前記検査装置により検査する工程と、そして
前記検査装置により、前記の管の隣接区域の第1の部分と第2の部分のうち少なくとも一方内に検出された欠陥を表わす欠陥データを、前記の検査に基づいて提供する工程と:を含み、
そして前記検査は、
管の断面(axial pipe section)の近位に磁界を形成する工程と、
前記磁界の、前記の管の断面との相互作用を検出する工程と、そして
前記の管の断面における相互作用のバリアンス(variance)を検出する工程と:
を含む、管検査法。 - 第2の先端を第1の後端に隣接させて、管の隣接区域を規定する工程は、
第1の管材を、第1の速度で長手方向に運搬する工程と、
第2の管材を、第1の速度より速い第2の速度で長手方向に運搬する工程と、
第2の先端を第1の後端に接触させて、前記の管の隣接区域を規定する工程と、そして
第1の後端と第2の先端との間の接触が維持されるように、第1の管材と第2の管材とを長手方向に運搬する工程と:
を含む、請求項1の方法。 - 更に、前記の管の隣接区域を検査後に、第1の管材を、第1の速度より速い第3の速度で、長手方向に運搬する工程を含む、請求項2の方法。
- 更に、
第3の管の胴体と、第3の先端と、そして第3の後端とを有する第3の管材を提供する工程と、
第3の先端の少なくとも一部を第2の後端の少なくとも一部に隣接させて、第2の後端から300mmの長手方向の距離を長手方向に測定される第2の管材の一部と、第3の先端から300mmの長手方向の距離を長手方向に測定される第3の管材の一部とを含む第2の管の隣接区域を規定する工程と、
第2の管材と第3の管材とを、前記の検査装置に対して第1の速度で長手方向に運搬する工程と、
第2の管材と第3の管材とが前記検査装置に対して運搬されるときに、第2の管の隣接区域を前記検査装置により検査する工程と、そして
前記検査装置により、第2の管の隣接区域内に検出された欠陥を表わす欠陥データを、前記検査に基づいて提供する工程と:
を含む、請求項3の方法。 - 更に、
第1の管材が、前記検査装置に対して運搬されるときに、第1の管の胴体の一部を、前記検査装置により検査する工程と、
第2の管材が、前記検査装置に対して運搬されるときに、第2の管の胴体の一部を前記検査装置により検査する工程と:
を含む、請求項1の方法。 - 更に、
前記バリアンスは、予定された欠陥の閾値を超えることを決定する工程と、
第1の管材または第2の管材の一方を、欠陥をもつ管材として前記バリアンスを引き起こした管の断面を有するものと識別する工程と、そして
前記の欠陥をもつ管材を、欠陥をもつ管材と識別されなかった別の管材から隔離する工程と、を含み、そして
前記の管の断面は、第1の後端または第2の先端から300mm未満離れている、
請求項1の方法。 - 更に、
前記バリアンスが、予定された欠陥の閾値を超えることを決定する工程と、
第1の管材と第2の管材との少なくとも一方の位置情報(position information)を受信する工程と、
第1の管材または第2の管材の一方を、欠陥をもつ管材として前記バリアンスを惹起した管の断面を有するものと識別する工程と、そして
前記の欠陥をもつ管材に沿った前記の管の断面の識別位置を、前記の位置情報に基づいて識別する工程と、そして
前記の欠陥をもつ管材を識別する欠陥情報と、そして前記バリアンスが前記の予定された欠陥の閾値を超えた管の断面の識別された位置と、を提供する工程と:
を含み、前記識別された位置は、第1の管材と第2の管材との管の隣接区域内にある、請求項1の方法。 - 更に、
第1の管材と第2の管材との位置情報を受信する工程と、
前記バリアンスが、予定された隣接物の閾値を超えることを決定する工程と、
前記バリアンスが、前記の予定された隣接物の閾値を超えた前記の管の断面の識別位置を、前記位置情報に基づいて識別する工程と、
第1の後端の場所(location)を表わす第1の位置情報として前記の識別位置を提供する工程と、そして
第2の先端の場所を表わす第2の位置情報として前記識別位置を提供する工程と:
を含む、請求項1の方法。 - 前記の管の隣接区域の第1の部分を検査する工程は、第1の後端から3mmないし300mmの長手方向の距離を長手方向に測定される第1の管材の一部を検査する工程を含み、そして前記隣接区域の第2の部分を検査する工程は、第2の先端から、3mmないし300mmの長手方向の距離を縦に測定される第2の管材の一部を検査する工程を含む、請求項1の方法。
- 前記管の隣接区域における磁界は安定であり、そして第1および第2の管の胴体における磁界と同様な特徴を有する、請求項1の方法。
- コンピューター読み取り可能な記憶装置内に記憶されたコンピュータープログラムであって、前記コンピュータープログラムは、コンピューターシステムにより実行されるときに、前記コンピューターシステムに、第1の管の胴体と第1の先端とそして第1の後端とを有する第1の管材と、第2の先端と第2の後端とを有する第2の管の胴体と少なくとも一部隣接する第2の管材と、の上で、電磁式検査のオペレーションを実施させる命令(instructions)を含み、前記検査のオペレーションは、
電磁式管検査装置から、管の欠陥信号を受信する工程と、
管の位置標定装置(position location device)から管の位置信号を受信する工程と、
第1の管材と第2の管材とが前記検査装置に対して運搬されるときに、前記検査装置が、前記管の隣接区域の第1の部分と前記管の隣接区域の第2の部分とを検査するように、第1の後端から300mmの長手方向の距離をその長軸に沿って測定される第1の管材の一部と、第2の先端から300mmの長手方向の距離をその長軸に沿って測定される第2の管材の一部とを含む管の隣接区域を規定するように、第2の先端の少なくとも一部を第1の後端の少なくとも一部に隣接させるように管のコンベヤーを制御するためのコンベヤー制御信号を提供する工程と、
前記の受信された管の欠陥信号と、受信された管の位置信号と、そして予定された管の欠陥閾値とに基づいて、前記隣接区域内の管の欠陥の場所を検出する工程と、
前記の管の欠陥の場所に基づいて、欠陥をもつ管材を識別する工程と、そして、
前記の欠陥をもつ管材を識別する欠陥情報を提供する工程と:を含む、
コンピュータープログラム。 - 前記オペレーションは更に、
受信された管の欠陥信号と、受信された管の位置信号と、そして予定された管の欠陥の閾値と異なる前記の予定された管隣接物の閾値とに基づいて、管の隣接場所(abutment location)を検出する工程と、
管材の先端と管材の後端との間の隣接物(abutment)の場所を表わす、管の隣接物の場所に基づいて、管端の位置信号(position signal)を提供する工程と:
を含む、請求項11のコンピュータープログラム。 - 前記オペレーションは更に、
前記の管のコンベヤーの第1の部分(section)に第1の速度で作動させる、コンベヤ
ー制御信号を提供する工程と、
前記の管のコンベヤーの第1の部分から、操作上、下流の前記の管のコンベヤーの第2の部分に、第1の速度より遅い第2の速度で作動させるコンベヤー信号を提供する工程と:を含み、
前記の管検査装置は、管のコンベヤーの第2の部分に沿って配置されている、
請求項11のコンピュータープログラム。 - 前記オペレーションは更に、
前記の管のコンベヤーの第1の部分上の第1の管材が、管のコンベヤーの第2の部分上の第2の管材に隣接したことを、管の位置信号に基づいて決定する工程と、
前記管のコンベヤーの第1の部分に、第2の速度で作動させる、第2のコンベヤー制御信号を提供する工程と:
を含む、請求項13のコンピュータープログラム。 - 受信された管の欠陥信号と、受信された管の位置信号と、そして予定された欠陥の閾値とに基づいて管の欠陥場所(defect location)を検出する工程は更に、
後端を有する第1の管材と、前記の後端に長手方向に隣接する先端を有する第2の管材との少なくとも一方の位置情報を受信する工程と、そして
第1の後端または第2の先端から300mm未満だけ離れて検出される、前記の管の欠陥信号におけるバリアンスが、前記の予定された管の欠陥の閾値を超えることを決定する工程と、
を含み、そして
前記の管の欠陥場所に基づいて欠陥をもつ管材を識別する工程は更に、第1の管材または第2の管材のうちの一つを、前記バリアンスを誘発させたものと識別する工程を含む、請求項11のコンピュータープログラム。 - 管の隣接場所(abutment location)を検出する工程は更に、
後端を有する第1の管材と、前記後端に少なくとも一部は長手方向に隣接する先端を有する第2の管材とのうちの少なくとも一方の位置情報を受信する工程と、
第1の後端または第2の先端から約3mm未満離れて検出される、前記の管の欠陥信号におけるバリアンスが、予定された管隣接物の閾値を超えることを決定する工程と、そして
前記バリアンスが、前記の予定された隣接物の閾値を超えた識別位置(identifying position)を、前記位置情報に基づいて識別する工程と:
を含み、そして
前記管端の位置信号を提供する工程は更に、管端の位置として前記の識別された位置を提供する工程を含む、
請求項12のコンピュータープログラム。 - 電磁式管検査装置と、
前記検査装置に対して第1の管材と第2の管材とを長手方向に運ぶようになっているコンベヤーと、ただし、第1の管材は第1の管の胴体と、第1の先端と、そして第1の後端とを有し、そして第2の管材は、第2の管の胴体と、第2の先端と、そして第2の後端とを有する、
管の位置標定装置(position location device)と、そして
前記の管検査装置から管の欠陥信号を受信するようになっている欠陥信号入力
ポートと、
前記の管位置標定装置から管の位置信号を受信するようになっている位置入力ポートと、
第1の管材と第2の管材が前記の検査装置に対して運搬されるときに、前記検査装置が前記の管の隣接区域の第1の部分と前記の管の隣接区域の第2の部分とを検査するように、第1の後端から300mmの長手方向の距離をその長軸に沿って測定される第1の管材の一部と、第2の先端から300mmの長手方向の距離をその長軸に沿って測定される第2の管材の一部とを含む管の隣接区域を規定するために、第2の先端の少なくとも一部を、第1の後端の少なくとも一部に隣接させるように前記コンベヤーを制御するためのコンベヤー制御信号を提供し、そして
管の欠陥信号と、管の位置信号と、そして予定された管の欠陥閾値とに基づいて管の欠陥場所を検出し、そして管の欠陥を有する管材を識別する、管の欠陥場所の信号として前記の管の欠陥場所を、第1の出力ポートにおいて提供する:
ようになっているプロセッサーと:
を含む制御装置と:
を含む、管検査システム。 - 前記プロセッサーは更に、
管の欠陥信号と、管の位置信号と、そして予定された管隣接物の閾値とに基づいて管の隣接場所を検出し、そして管材の先端と管材の後端のうちの少なくとも一方の場所を識別する管端の位置信号を、第2の出力ポートにおいて提供するようになっている、
請求項17のシステム。 - 前記のコンベヤーは、第1の速度で前記コンベヤーの上流部分に沿って管材を運搬するようになっている第1のモーターと、第1の速度より遅い第2の速度で、前記コンベヤーの下流部分に沿って管材を運搬するようになっている第2のモーターとを含む、請求項17のシステム。
- 第1のモーターと第2のモーターのうちの少なくとも一方は、前記制御装置のモーター制御出力ポートから受信される速度信号に基づいて、管材を運搬するようになっており、そして前記プロセッサーは更に、第2の速度が第1の速度より遅くなるように前記速度信号を提供するようになっている、請求項19のシステム。
- 前記コンベヤーは更に、第2の速度より速い第3の速度で、前記コンベヤーの押出し部分(output section)に沿って管材を運搬するようになっている第3のモーターを含む、請求項20のシステム。
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