JP7306709B2 - 試験システム、試験方法及びプログラム - Google Patents
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Description
本発明の目的は、上述した課題を解決する試験システム、試験方法及びプログラムを提供することにある。
《試験システムの構成》
以下、図面を参照しながら実施形態に係る試験システム100の構成ついて詳しく説明する。
試験システム100は試験対象に電磁波の印加を行うイミュニティ試験を行い、エラーが発生している位置を判別する。試験システム100は、インパルスノイズを用いたインパルスノイズ試験である。
試験システム100は、PC1と、測定用スキャナ2と、スキャナ制御装置3と、インパルス試験機4と、監視カメラ5、対向装置9と、対向装置10を備える。
以下、測定用スキャナ2の構成について説明する。
測定用スキャナ2は、スキャナ制御装置3の制御で、試験対象に電磁波の印加によりイミュニティ試験を行う装置である。
測定用スキャナ2は、プローブ6と、監視カメラ7を備える。また、測定用スキャナ2の内部には、供試装置8が設けられる。測定用スキャナ2は印加手段の一例である。
供試装置8は試験対象の一例である。供試装置8は、特定の仕様や特定の態様に限定されるものでなく、測定用スキャナ2によりイミュニティ試験が可能な物であれば、どのような物であっても良い。
プローブ6の印可位置は手動又はスキャナ制御装置3により変更できる。
図3は、監視カメラ5-2が撮像する画像の一例である。図3に示すように、監視カメラ5-2は表示領域22の画像を撮像する。撮像された画像は、PC1を介してPC1と接続するディスプレイ装置19に表示される。
以下、PCの構成について説明する。
図4は、PC1の構成を示す概略ブロック図である。
PC1は、判別部101と、学習部102と、記憶部103と、受入部104と、更新部105と、生成部106と、表示部107を備える。
図5は表示領域20を示す一例である。例えば、試験システム100のユーザは、表示領域20の動作判定Aの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作A」を目的変数として関連付けてPC1に入力する。特徴量の例としては、画像のピクセル単位でのRGB値が挙げられる。また、試験システム100のユーザは、表示領域20の動作判定Bの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作B」を目的変数として関連付けてPC1に入力する。また、試験システム100のユーザは、表示領域20の動作判定Cの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作C」を目的変数として関連付けてPC1に入力する。学習部102は上記説明変数を重み付けして目的変数を算出する学習済みモデルを生成する。例えば、動作Aはエラーの無い動作である。動作Bはエラーが発生している動作である。動作Cはエラーが発生している動作である。動作Bと動作Cが示すエラーレベルは異なる。例えば、動作Bが示すエラーレベルが「低」とすると、動作Cが示すエラーレベルを「高」とする。
また、学習部102は生成した学習済みモデルを記憶部103に記録する。
更新部105はユーザの判別結果の入力に基づいて、学習済みモデルを更新する。更新部105は更新手段の一例である。
受入部104及び更新部105の動作の一例については、以下に説明する。
表示部107は試験対象における試験範囲を示す画像に対してエラー情報を重畳して、ディスプレイ装置19を介して、ユーザに表示する。表示部107は表示手段の一例である。表示部107の動作については後述する。
以下、試験システム100の動作について説明する。
図8は、試験システム100が学習済みモデルを生成する動作を示すフローチャートである。
監視カメラ5は、対向装置9及び対向装置10の表示領域を撮像する(ステップS2)。
学習部102は、ステップS3で撮像した画像の特徴量を説明変数とし、ステップS4で入力された目的変数を関連付けて学習済みモデルを生成する(ステップS4)。
学習部102はステップS4で生成した学習済みモデルを記憶部103に記録する(ステップS5)。
図9は、試験システム100の判別部101の動作を示すフローチャートである。
図9は測定範囲の一例を示す図である。例えば、測定範囲の例としては、供試装置8の基盤全体と、供試装置8の基盤内部の指定範囲と、供試装置8の基盤内部の複数範囲と、供試装置8の基盤端部の部分範囲などが挙げられる。
ユーザは測定範囲を示すディスプレイ装置19を見て供試装置8の測定範囲を指定する。すなわち、ユーザはプローブ6により供試装置8の印加位置を指定する(ステップS11)。
監視カメラ5は、対向装置9及び対向装置10の表示領域を撮像する(ステップS13)。
図11は、エラー情報の生成に係る動作を示すフローチャートである。
本発明に係る試験システム100は、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する撮像手段と、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段を備える。
試験システム100は、上記の第1の実施形態により実施することができるが、以下の形態においても実施することができる。
以下、基本構成に係る試験システム100の構成について説明する。
図13は、基本構成に係る試験システム100の構成を示す概略ブロック図である。
基本構成に係る試験システム100のPC1は、判別部101と、記憶部103を備える。
図14は、少なくとも1つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図である。
コンピュータ1100は、プロセッサ1110、メインメモリ1120、ストレージ1130、インタフェース1140を備える。
上述のPC1は、コンピュータ1100に実装される。そして、上述した各処理部の動作は、プログラムの形式でストレージ1130に記憶されている。プロセッサ1110は、プログラムをストレージ1130から読み出してメインメモリ1120に展開し、当該プログラムに従って上記処理を実行する。また、プロセッサ1110は、プログラムに従って、上述した各記憶部に対応する記憶領域をメインメモリ1120に確保する。
2 測定用スキャナ
3 スキャナ制御装置
4 インパルス試験機
5 監視カメラ
6 プローブ
7 監視カメラ
8 供試装置
9 対向装置
10 対向装置
11 制御ケーブル
12 制御ケーブル
13 印加用ケーブル
14 試験用ケーブル
15 監視ケーブル
16 監視ケーブル
17 動作用ケーブル
18 動作用ケーブル
19 ディスプレイ装置
20 表示領域
21 表示領域
22 表示領域
23 アナログメータ
24 メータ指針
100 試験システム
101 判別部
102 学習部
103 記憶部
104 受入部
105 更新部
106 生成部
107 表示部
1100 コンピュータ
1110 プロセッサ
1120 メインメモリ
1130 ストレージ
1140 インタフェース
Claims (7)
- 試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、
前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象のエラーの有無の判断に必要な特徴量を含む画像を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された画像のうち、前記試験対象の動作がエラーの無い動作である場合の特徴量を含む画像、前記試験対象の動作が第1のエラーレベルのエラーが発生している動作である場合の特徴量を含む画像、および前記試験対象の動作が前記第1のエラーレベルよりも高い第2のエラーレベルのエラーが発生している動作である場合の特徴量を含む画像それぞれの特徴量を説明変数とし、それぞれの特徴量に対応する画像が示す動作を目的変数とし、前記説明変数それぞれが入力された場合に、前記目的変数のうち入力された説明変数に対応する目的変数を出力するように、前記説明変数に対して重み付けした学習済みモデルを生成する第1生成手段と、
前記印加位置ごとに、前記撮像手段により撮像された画像および前記学習済みモデルに基づいて前記試験対象にエラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段と、
を備える試験システム。 - 前記学習済みモデルを記憶する記憶手段と、を備え、
前記判別手段は、前記撮像手段により撮像された画像を前記学習済みモデルに入力して前記判別を行う
請求項1に記載の試験システム。 - 前記判別手段が前記判別を行うことができない前記撮像手段により撮像された画像が存在する場合、当該画像に対するユーザの判別結果の入力を受け入れる受入手段と、
前記ユーザの判別結果の入力に基づいて、前記学習済みモデルを更新する更新手段と、
を備える請求項2に記載の試験システム。 - 前記印加位置と前記判別の内容を関連付けたエラー情報を生成する第2生成手段と、
を備える請求項1から請求項3の何れか1項に記載の試験システム。 - 前記試験対象における試験範囲を示す画像に対して前記エラー情報を重畳して表示する表示手段と、
を備える請求項4に記載の試験システム。 - 試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムにおいて、
前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象のエラーの有無の判断に必要な特徴量を含む画像を撮像することと、
撮像された画像のうち、前記試験対象の動作がエラーの無い動作である場合の特徴量を含む画像、前記試験対象の動作が第1のエラーレベルのエラーが発生している動作である場合の特徴量を含む画像、および前記試験対象の動作が前記第1のエラーレベルよりも高い第2のエラーレベルのエラーが発生している動作である場合の特徴量を含む画像それぞれの特徴量を説明変数とし、それぞれの特徴量に対応する画像が示す動作を目的変数とし、前記説明変数それぞれが入力された場合に、前記目的変数のうち入力された説明変数に対応する目的変数を出力するように、前記説明変数に対して重み付けした学習済みモデルを生成することと、
前記印加位置ごとに、前記撮像された画像および前記学習済みモデルに基づいて前記試験対象にエラーが発生しているか否かの判別を行うことと、
を含む試験方法。 - 試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムのコンピュータを、
前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象のエラーの有無の判断に必要な特徴量を含む画像を撮像することと、
撮像された画像のうち、前記試験対象の動作がエラーの無い動作である場合の特徴量を含む画像、前記試験対象の動作が第1のエラーレベルのエラーが発生している動作である場合の特徴量を含む画像、および前記試験対象の動作が前記第1のエラーレベルよりも高い第2のエラーレベルのエラーが発生している動作である場合の特徴量を含む画像それぞれの特徴量を説明変数とし、それぞれの特徴量に対応する画像が示す動作を目的変数とし、前記説明変数それぞれが入力された場合に、前記目的変数のうち入力された説明変数に対応する目的変数を出力するように、前記説明変数に対して重み付けした学習済みモデルを生成することと、
前記印加位置ごとに、前記撮像された画像および前記学習済みモデルに基づいて前記試験対象にエラーが発生しているか否かの判別を行うことと、
として実行させるプログラム。
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