JP2021173729A - 試験システム、試験方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】イミュニティ試験において、エラーが発生している試験対象の位置を判別するには、人による固有情報の入力及び人の監視が必要である。【解決手段】試験システムは、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する撮像手段と、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、試験システム、試験方法及びプログラムに関する。

特許文献１には、運転室における画像を撮像して通常時の画像と比較し、閾値以上の相違があれば異常と判定することにより、イミュニティ試験の不具合検出漏れを減少させ、且つ省力化する技術が開示されている。

特許文献２には、アンテナ及び画像カメラで機器から発生する電磁波の放射源の位置を提示することにより、ＵＨＦ（Ｕｌｔｒａ Ｈｉｇｈ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）を含む電磁波の発生源の有無を評価し、その位置を可視化する技術が開示されている。

特開２００８−２０９１２２号公報 特開２０１１−０５３０５５号公報

イミュニティ試験において、エラーが発生している試験対象の位置を判別するには、人による固有情報の入力及び人の監視が必要である。
本発明の目的は、上述した課題を解決する試験システム、試験方法及びプログラムを提供することにある。

本発明に係る試験システムは、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する撮像手段と、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段を備える。

本発明に係る試験方法は、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムにおいて、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行うことを含む。

本発明に係るプログラムは、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムのコンピュータを、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行うこととして実行させる。

上記態様のうち少なくとも１つの態様によれば、イミュニティ試験においてエラーが発生している試験対象の位置の判別を行うことができる。

一実施形態に係る試験システムの構成を示す図である。 一実施形態に係る監視カメラが撮像する画像の一例である。 一実施形態に係る監視カメラが撮像する画像の一例である。 一実施形態に係るＰＣの構成を示す概略ブロック図である。 一実施形態に係る表示領域の一例である。 一実施形態に係る表示領域の一例である。 一実施形態に係る表示領域の一例である。 一実施形態に係る試験システムの動作を示すフローチャートである。 一実施形態に係る判別部の動作を示すフローチャートである。 一実施形態に係る測定範囲の一例を示す図である。 一実施形態に係る生成部に係る動作を示すフローチャートである。 一実施形態に係る表示部が表示する画像の一例である。 基本構成に係る試験システムの構成を示す図である。 少なくとも１つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図である。

〈第１の実施形態〉
《試験システムの構成》
以下、図面を参照しながら実施形態に係る試験システム１００の構成ついて詳しく説明する。
試験システム１００は試験対象に電磁波の印加を行うイミュニティ試験を行い、エラーが発生している位置を判別する。試験システム１００は、インパルスノイズを用いたインパルスノイズ試験である。

図１は、第１の実施形態に係る試験システム１００の構成を示す図である。
試験システム１００は、ＰＣ１と、測定用スキャナ２と、スキャナ制御装置３と、インパルス試験機４と、監視カメラ５、対向装置９と、対向装置１０を備える。

《測定用スキャナの構成》
以下、測定用スキャナ２の構成について説明する。
測定用スキャナ２は、スキャナ制御装置３の制御で、試験対象に電磁波の印加によりイミュニティ試験を行う装置である。
測定用スキャナ２は、プローブ６と、監視カメラ７を備える。また、測定用スキャナ２の内部には、供試装置８が設けられる。測定用スキャナ２は印加手段の一例である。
供試装置８は試験対象の一例である。供試装置８は、特定の仕様や特定の態様に限定されるものでなく、測定用スキャナ２によりイミュニティ試験が可能な物であれば、どのような物であっても良い。

プローブ６は供試装置８に対して電磁波を印加する。プローブ６は印加用ケーブル１３によりインパルス試験機４と接続している。プローブ６はインパルス試験機４から出力された試験波（電磁波の一例）を、供試装置８と対向する端部から印加する。プローブ６が印加する試験波の波形と、印加の持続時間と、印加のタイミングと、印加電圧は、インパルス試験機４により決まる。
プローブ６の印可位置は手動又はスキャナ制御装置３により変更できる。

監視カメラ７は測定用スキャナ２の内部で供試装置８を撮像する。監視カメラ７は監視ケーブル１５を介して、供試装置８を撮像した画像をＰＣ１に送信する。

スキャナ制御装置３はＰＣ１から信号を受信して、測定用スキャナ２が備えるモータ（図示しない）を制御するため、独自信号を測定用スキャナ２に送信する。スキャナ制御装置３は、制御ケーブル１１によりＰＣ１と接続する。また、スキャナ制御装置３は、制御ケーブル１２により測定用スキャナ２と接続する。制御ケーブル１１及び制御ケーブル１２の例としては、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）ケーブルと、ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）ケーブルが挙げられる。

インパルス試験機４は試験用ケーブル１４を介してＰＣ１からコマンドを受信する。上記コマンドの例としては、プローブ６が印加を行う試験波の波形と、印加の持続時間と、印加のタイミングと、印加電圧を示す制御コマンドが挙げられる。ＰＣ１からコマンドを受信したインパルス試験機４は、印加用ケーブル１３を介してプローブ６に試験波を出力する。

対向装置９は供試装置８と動作用ケーブル１８で接続する。対向装置９は動作用ケーブル１８を介して供試装置８を動作させるための信号を送信し、供試装置８にエラーは発生しているか否かを示す表示領域２０及び表示領域２１を備える。

対向装置１０は供試装置８と動作用ケーブル１７で接続する。対向装置１０は動作用ケーブル１７を介して供試装置８を動作させるための信号を送信し、供試装置８にエラーは発生しているか否かを示す表示領域２２を備える。

第１の実施形態に係る試験システム１００は、２つの対向装置を備える。しかし、試験システム１００が備える対向装置の数は２つに限定されるものでなく、試験システム１００は、異なる数の対向装置を備えても良い。

監視カメラ５は対向装置９又は対向装置１０を撮像して、供試装置８にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する。監視カメラ５は撮像手段の一例である。第１の実施形態に係る試験システム１００は、監視カメラ５−１と、監視カメラ５−２を備える。試験システム１００が備える監視カメラ５の数は２台に限るものでない。監視カメラ５は監視ケーブル１６を介してＰＣ１と接続し、ＰＣ１に画像を示す信号を送信する。

図２は、監視カメラ５−１が撮像する画像の一例である。図２に示すように、監視カメラ５−１は表示領域２０及び表示領域２１の画像を撮像する。撮像された画像は、ＰＣ１を介してＰＣ１と接続するディスプレイ装置１９に表示される。
図３は、監視カメラ５−２が撮像する画像の一例である。図３に示すように、監視カメラ５−２は表示領域２２の画像を撮像する。撮像された画像は、ＰＣ１を介してＰＣ１と接続するディスプレイ装置１９に表示される。

《ＰＣの構成》
以下、ＰＣの構成について説明する。
図４は、ＰＣ１の構成を示す概略ブロック図である。
ＰＣ１は、判別部１０１と、学習部１０２と、記憶部１０３と、受入部１０４と、更新部１０５と、生成部１０６と、表示部１０７を備える。

判別部１０１は、印加位置ごとに、監視カメラ５が撮像した画像を、学習済みモデルに入力して、エラーが発生しているか否かの判別を行う。判別部１０１は判別手段の一例である。判別部１０１の具体的な動作については後述する。

学習部１０２は、供試装置８にエラーが発生している場合の、監視カメラ５が撮像した画像の特徴量を学習して学習済みモデルを生成する。学習部１０２の具体的な動作について、以下にて説明する。
図５は表示領域２０を示す一例である。例えば、試験システム１００のユーザは、表示領域２０の動作判定Ａの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ａ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。特徴量の例としては、画像のピクセル単位でのＲＧＢ値が挙げられる。また、試験システム１００のユーザは、表示領域２０の動作判定Ｂの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ｂ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。また、試験システム１００のユーザは、表示領域２０の動作判定Ｃの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ｃ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。学習部１０２は上記説明変数を重み付けして目的変数を算出する学習済みモデルを生成する。例えば、動作Ａはエラーの無い動作である。動作Ｂはエラーが発生している動作である。動作Ｃはエラーが発生している動作である。動作Ｂと動作Ｃが示すエラーレベルは異なる。例えば、動作Ｂが示すエラーレベルが「低」とすると、動作Ｃが示すエラーレベルを「高」とする。

図６は表示領域２１を示す一例である。例えば、試験システム１００のユーザは、表示領域２１の動作判定Ａの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ａ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。特徴量の例としては、アナログメータ２３及びメータ指針２４を示す画像のピクセル単位でのＲＧＢ値が挙げられる。また、試験システム１００のユーザは、表示領域２１の動作判定Ｂの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ｂ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。また、試験システム１００のユーザは、表示領域２１の動作判定Ｃの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ｃ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。学習部１０２は上記説明変数を重み付けして目的変数を算出する学習済みモデルを生成する。例えば、動作Ａはエラーの無い動作である。動作Ｂはエラーが発生している動作である。動作Ｃはエラーが発生している動作である。動作Ｂと動作Ｃが示すエラーレベルは異なる。例えば、動作Ｂが示すエラーレベルが「低」とすると、動作Ｃが示すエラーレベルを「高」とする。

図７は表示領域２２を示す一例である。例えば、試験システム１００のユーザは、表示領域２２の動作判定Ａの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ａ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。特徴量の例としては、画像のピクセル単位でのＲＧＢ値が挙げられる。また、試験システム１００のユーザは、表示領域２２の動作判定Ｂの画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ｂ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。また、試験システム１００のユーザは、表示領域２２の動作判定Ａ及び動作判定Ｂの何れにも属しない画像の特徴量を説明変数とし、当該特徴量に関連付けて「動作Ｃ」を目的変数として関連付けてＰＣ１に入力する。学習部１０２は上記説明変数を重み付けして目的変数を算出する学習済みモデルを生成する。例えば、動作Ａはエラーの無い動作である。動作Ｂはエラーが発生している動作である。動作Ｃはエラーが発生している動作である。動作Ｂと動作Ｃが示すエラーレベルは異なる。例えば、動作Ｂが示すエラーレベルが「低」とすると、動作Ｃが示すエラーレベルを「高」とする。

学習部１０２が生成する学習済みモデルを用いると、エラーが発生しているか否かの判別、又はエラーレベルの判別ができる。
また、学習部１０２は生成した学習済みモデルを記憶部１０３に記録する。

記憶部１０３は学習済みモデルを記憶する。記憶部１０３の例としてはハードディスクが挙げられる。記憶部１０３は記憶手段の一例である。

受入部１０４は判別手段が判別を行うことができない画像が存在する場合、当該画像に対するユーザの判別結果の入力を受け入れる。受入部１０４は受入手段の一例である。
更新部１０５はユーザの判別結果の入力に基づいて、学習済みモデルを更新する。更新部１０５は更新手段の一例である。
受入部１０４及び更新部１０５の動作の一例については、以下に説明する。

例えば、まだ監視カメラ５により１回も撮像されていない画像については、学習部１０２により学習できていない。そのため、判別部１０１は当該画像を学習済みモデルに入力しても判別を行うことができない場合がある。その場合、試験システム１００のユーザは説明変数である特徴量と目的変数（判別結果）を関連付けて受入部１０４に入力するか、若しくは、説明変数である特徴量と重み付けと、目的変数（判別結果）を関連付けて受入部１０４に入力する。ユーザが受入部１０４に入力した内容に基づいて、更新部１０５は記憶部１０３が記憶している学習済みモデルを更新する。例えば、更新部１０５は既存の特徴量の重み付けを変更するか、特徴量を変更するか、目的変数を変更することにより、学習済みモデルを更新する。

生成部１０６は印加位置と判別の内容を関連付けたエラー情報を生成する。生成部１０６は生成手段の一例である。エラー情報及び生成部１０６の動作については後述する。
表示部１０７は試験対象における試験範囲を示す画像に対してエラー情報を重畳して、ディスプレイ装置１９を介して、ユーザに表示する。表示部１０７は表示手段の一例である。表示部１０７の動作については後述する。

《試験システムの動作》
以下、試験システム１００の動作について説明する。
図８は、試験システム１００が学習済みモデルを生成する動作を示すフローチャートである。

ユーザがＰＣ１を操作してインパルス試験機４から試験波を出力させて、プローブ６により電磁波の印加が行われる（ステップＳ１）。
監視カメラ５は、対向装置９及び対向装置１０の表示領域を撮像する（ステップＳ２）。

ユーザは、監視カメラ５が撮像した画像をディスプレイ装置１９から確認して、目的変数を入力する（ステップＳ３）。
学習部１０２は、ステップＳ３で撮像した画像の特徴量を説明変数とし、ステップＳ４で入力された目的変数を関連付けて学習済みモデルを生成する（ステップＳ４）。
学習部１０２はステップＳ４で生成した学習済みモデルを記憶部１０３に記録する（ステップＳ５）。

以下、判別部１０１が判別を行う動作について説明する。
図９は、試験システム１００の判別部１０１の動作を示すフローチャートである。

測定用スキャナ２に供試装置８が設けられる。監視カメラ７は供試装置８を示す画像を撮像してＰＣ１を介してディスプレイ装置１９で、ユーザに測定範囲を示す。測定範囲とはプローブ６により電磁波の印加が行われる位置を示す範囲である。
図９は測定範囲の一例を示す図である。例えば、測定範囲の例としては、供試装置８の基盤全体と、供試装置８の基盤内部の指定範囲と、供試装置８の基盤内部の複数範囲と、供試装置８の基盤端部の部分範囲などが挙げられる。
ユーザは測定範囲を示すディスプレイ装置１９を見て供試装置８の測定範囲を指定する。すなわち、ユーザはプローブ６により供試装置８の印加位置を指定する（ステップＳ１１）。

ユーザがＰＣ１を操作してインパルス試験機４から試験波を出力させて、プローブ６により電磁波の印加が行われる（ステップＳ１２）。
監視カメラ５は、対向装置９及び対向装置１０の表示領域を撮像する（ステップＳ１３）。

判別部１０１は、ステップＳ１３で撮像された画像の特徴量を、学習済みモデルに入力して、エラーが発生しているか否かの判別を行う（ステップＳ１４）。すなわち、判別部１０１は、表示領域２０、表示領域２１及び表示領域２２の画像の特徴量を、学習済みモデルに入力して目的変数を算出する。目的変数はエラーが発生しているか否かを示す値及びエラーレベルを示す値などである。そのため、判別部１０１はエラーが発生しているか否かの判別を行うことができる。また、判別部１０１により判別は人手ではなく、学習済みモデルへの入力により素早く行われるため、ユーザは判別のタイミングを正確に把握することができる。すなわち、印加によるエラーの発生のタイミングと、判別のタイミングの時差が少ないため、ユーザはエラーが発生したタイミングを把握することができる。また、ユーザはステップＳ１１により印加位置を指定しているため、印加位置ごとに、エラーが発生しているか否かを把握することができる。

以下、エラー情報の生成に係る動作について説明する。
図１１は、エラー情報の生成に係る動作を示すフローチャートである。

図１０に示す判別部１０１の動作が複数回、繰り返して行われる。これにより、ステップＳ１１で指定された印加位置と判別部１０１による判別の内容が蓄積される（ステップＳ２１）。

生成部１０６は、印加位置と判別の内容を関連付けたエラー情報を生成する（ステップＳ２２）。例えば、生成部１０６は図７のような印加位置（測定範囲）ごとに、判定の内容を関連付けて、印加位置ごとの判定の内容を関連付けたエラー情報を生成する。

表示部１０７は、供試装置８における試験範囲（測定範囲）を示す画像に対してエラー情報を重畳して、ディスプレイ装置１９を介して、ユーザに表示する（ステップＳ２３）。図１２は、表示部１０７がディスプレイ装置１９に表示する画像の一例である。例えば、図１２は、供試装置８の試験範囲を縦１０個、横１０個の単位に分けて、当該単位ごとに判別部１０１による判定内容を色により示す。これにより、ユーザは供試装置８においてエラーが発生している位置を把握することができ、また、当該位置ごとのエラーレベルを把握することができる。

《作用・効果》
本発明に係る試験システム１００は、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する撮像手段と、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段を備える。

試験システム１００は、試験対象に電磁波の印加を行う試験においてエラーが発生している試験対象の位置の判別を行うことができる。

また、試験システム１００は、試験対象にエラーが発生している場合の画像の特徴量を学習した学習済みモデルを記憶する記憶手段と、を備え、判別手段は、画像を学習済みモデルに入力して判別を行う。

試験システム１００は、学習済みモデルに画像を入力して、試験対象に電磁波の印加を行う試験においてエラーが発生している試験対象の位置の判別を行うことができる。

また、試験システム１００は、判別手段が判別を行うことができない画像が存在する場合、当該画像に対するユーザの判別結果の入力を受け入れる受入手段と、ユーザの判別結果の入力に基づいて、学習済みモデルを更新する更新手段を備える。

試験システム１００は、学習済みモデルに画像を入力して判別ができない場合であっても、ユーザからの入力を受け入れて学習済みモデルを更新することで、エラーが発生している試験対象の位置の判別を行うことができる。

また、試験システム１００は、印加位置と判別の内容を関連付けたエラー情報を生成する生成手段を備える。

試験システム１００は、印加位置ごとに、判別の内容を関連付けたエラー情報を生成する。これにより、ユーザは印加位置ごとの判別の内容を容易に把握することができる。

また、試験システム１００は、試験対象における試験範囲を示す画像に対してエラー情報を重畳して表示する表示手段を備える。

試験システム１００は、試験範囲を示す画像にエラー情報を重畳して表示する。そのため、ユーザは試験対象の試験範囲における判別の内容を容易に把握することができる。

本発明に係る試験方法は、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システム１００において、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行うことを含む。

ユーザは試験方法を用いると、試験対象に電磁波の印加を行う試験においてエラーが発生している試験対象の位置の判別を行うことができる。

本発明に係るプログラムは、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システム１００のコンピュータを、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行うこととして実行させる。

ユーザはプログラムを実行させると、試験対象に電磁波の印加を行う試験においてエラーが発生している試験対象の位置の判別を行うことができる。

〈他の実施形態〉
試験システム１００は、上記の第１の実施形態により実施することができるが、以下の形態においても実施することができる。

試験システム１００はインパルス試験機４の代わりに、放射イミュニティ試験機及びパワーアンプを備えても良い。この場合、試験システム１００はインパルスノイズ試験ではく、無線周波数ノイズ試験を行うことができる。

また、試験システム１００は、測定用スキャナ２及びスキャナ制御装置３を備えなくても良い。例えば、試験システム１００は電波暗室において電磁波を放射するアンテナを用いて、試験対象に印加を行っても良い。

〈基本構成〉
以下、基本構成に係る試験システム１００の構成について説明する。
図１３は、基本構成に係る試験システム１００の構成を示す概略ブロック図である。
基本構成に係る試験システム１００のＰＣ１は、判別部１０１と、記憶部１０３を備える。

基本構成に係る試験システム１００は学習部１０２を備えない。この場合、判別部１０１は、監視カメラ５が撮像した画像を、記憶部１０３が記憶しているエラーが発生している画像に照らし合わせて、両画像の類似度が閾値を超えるか否かにより判別を行っても良い。

基本構成に係る試験システム１００は、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、試験対象に対して電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する撮像手段と、印加位置ごとに、画像に基づいてエラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段を備える。

試験システム１００は、試験対象に電磁波の印加を行う試験においてエラーが発生している試験対象の位置の判別を行うことができる。

〈コンピュータ構成〉
図１４は、少なくとも１つの実施形態に係るコンピュータの構成を示す概略ブロック図である。
コンピュータ１１００は、プロセッサ１１１０、メインメモリ１１２０、ストレージ１１３０、インタフェース１１４０を備える。
上述のＰＣ１は、コンピュータ１１００に実装される。そして、上述した各処理部の動作は、プログラムの形式でストレージ１１３０に記憶されている。プロセッサ１１１０は、プログラムをストレージ１１３０から読み出してメインメモリ１１２０に展開し、当該プログラムに従って上記処理を実行する。また、プロセッサ１１１０は、プログラムに従って、上述した各記憶部に対応する記憶領域をメインメモリ１１２０に確保する。

プログラムは、コンピュータ１１００に発揮させる機能の一部を実現するためのものであってもよい。例えば、プログラムは、ストレージ１１３０に既に記憶されている他のプログラムとの組み合わせ、または他の装置に実装された他のプログラムとの組み合わせによって機能を発揮させるものであってもよい。なお、他の実施形態においては、コンピュータ１１００は、上記構成に加えて、または上記構成に代えてＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）などのカスタムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）を備えてもよい。ＰＬＤの例としては、ＰＡＬ(Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ａｒｒａｙ Ｌｏｇｉｃ)、ＧＡＬ(Ｇｅｎｅｒｉｃ Ａｒｒａｙ Ｌｏｇｉｃ)、ＣＰＬＤ(Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ)、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）が挙げられる。この場合、プロセッサ１１１０によって実現される機能の一部または全部が当該集積回路によって実現されてよい。

ストレージ１１３０の例としては、磁気ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ等が挙げられる。ストレージ１１３０は、コンピュータ１１００のバスに直接接続された内部メディアであってもよいし、インタフェース１１４０または通信回線を介してコンピュータに接続される外部メディアであってもよい。また、このプログラムが通信回線によってコンピュータ１１００に配信される場合、配信を受けたコンピュータ１１００が当該プログラムをメインメモリ１１２０に展開し、上記処理を実行してもよい。少なくとも１つの実施形態において、ストレージ１１３０は、一時的でない有形の記憶媒体である。

また、当該プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、当該プログラムは、前述した機能をストレージ１１３０に既に記憶されている他のプログラムとの組み合わせで実現するもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。

１ ＰＣ
２ 測定用スキャナ
３ スキャナ制御装置
４ インパルス試験機
５ 監視カメラ
６ プローブ
７ 監視カメラ
８ 供試装置
９ 対向装置
１０ 対向装置
１１ 制御ケーブル
１２ 制御ケーブル
１３ 印加用ケーブル
１４ 試験用ケーブル
１５ 監視ケーブル
１６ 監視ケーブル
１７ 動作用ケーブル
１８ 動作用ケーブル
１９ ディスプレイ装置
２０ 表示領域
２１ 表示領域
２２ 表示領域
２３ アナログメータ
２４ メータ指針
１００ 試験システム
１０１ 判別部
１０２ 学習部
１０３ 記憶部
１０４ 受入部
１０５ 更新部
１０６ 生成部
１０７ 表示部
１１００ コンピュータ
１１１０ プロセッサ
１１２０ メインメモリ
１１３０ ストレージ
１１４０ インタフェース

本発明に係る試験システムは、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する撮像手段と、前記エラーの無い動作、第１のエラーレベルの前記エラーが発生している動作、および前記第１のエラーレベルよりも高い第２のエラーレベルの前記エラーが発生している動作に基づいて、重み付けした学習済みモデルを生成する生成手段と、前記印加位置ごとに、前記画像および前記学習済みモデルに基づいて前記エラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段と、を備える。

本発明に係る試験方法は、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムにおいて、前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、前記エラーの無い動作、第１のエラーレベルの前記エラーが発生している動作、および前記第１のエラーレベルよりも高い第２のエラーレベルの前記エラーが発生している動作に基づいて、重み付けした学習済みモデルを生成することと、前記印加位置ごとに、前記画像および前記学習済みモデルに基づいて前記エラーが発生しているか否かの判別を行うことと、を含む。

本発明に係るプログラムは、試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムのコンピュータを、前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、前記エラーの無い動作、第１のエラーレベルの前記エラーが発生している動作、および前記第１のエラーレベルよりも高い第２のエラーレベルの前記エラーが発生している動作に基づいて、重み付けした学習済みモデルを生成することと、前記印加位置ごとに、前記画像および前記学習済みモデルに基づいて前記エラーが発生しているか否かの判別を行うことと、として実行させる。

Claims (7)

1. 試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段と、
   前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像する撮像手段と、
   前記印加位置ごとに、前記画像に基づいて前記エラーが発生しているか否かの判別を行う判別手段と、
   を備える試験システム。
2. 前記試験対象に前記エラーが発生している場合の前記画像の特徴量を学習した学習済みモデルを記憶する記憶手段と、を備え、
   前記判別手段は、前記画像を前記学習済みモデルに入力して前記判別を行う
   請求項１に記載の試験システム。
3. 前記判別手段が前記判別を行うことができない前記画像が存在する場合、当該画像に対するユーザの判別結果の入力を受け入れる受入手段と、
   前記ユーザの判別結果の入力に基づいて、前記学習済みモデルを更新する更新手段と、
   を備える請求項２に記載の試験システム。
4. 前記印加位置と前記判別の内容を関連付けたエラー情報を生成する生成手段と、
   を備える請求項１から請求項３の何れか１項に記載の試験システム。
5. 前記試験対象における試験範囲を示す画像に対して前記エラー情報を重畳して表示する表示手段と、
   を備える請求項４に記載の試験システム。
6. 試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムにおいて、
   前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、
   前記印加位置ごとに、前記画像に基づいて前記エラーが発生しているか否かの判別を行うことと、
   を含む試験方法。
7. 試験対象に対する電磁波の印加位置を変更可能な印加手段を備える試験システムのコンピュータを、
   前記試験対象に対して前記電磁波が印加された場合、当該試験対象にエラーが発生しているか否かを示す画像を撮像することと、
   前記印加位置ごとに、前記画像に基づいて前記エラーが発生しているか否かの判別を行うことと、
   として実行させるプログラム。

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