JP7297500B2 - 撮像装置及びその制御方法並びにプログラム - Google Patents

Description

本発明は、撮像装置及びその制御方法並びにプログラムに関し、特に撮像素子の被写体側に搭載される光学部材に対する除塵機能及び撮影画像のライブビュー表示機能を搭載する撮像装置及びその制御方法並びにプログラムに関する。

一般に、被写体の光学像を電気信号に変換して、撮像するデジタルカメラ等の撮像装置は、撮影光束を撮像素子で受光し、撮像素子から出力される光電変換信号（撮像信号）を画像データに変換してメモリカード等の記録媒体に記録する。かかる撮像素子としては、例えば、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＭＯＳセンサ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ Ｍｅｔａｌ Ｏｘｉｄｅ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）等が用いられる。

また、撮像素子の被写体側には光学ローパスフィルタや赤外線フィルタ等の光学部材が搭載されている場合がある。このような光学部材の表面に塵埃等の異物が付着すると、付着した部分が黒点となって撮影画像に写り込んでしまい、画像の画質が劣化するという問題があった。

かかる問題を回避するためにかかる光学部材を圧電素子で振動させ、塵埃等の異物を除去する除塵機能が知られている。

一方、近年のデジタルカメラには、連続的に撮像素子が露光により電荷を蓄積して撮像信号として読み出し、液晶モニタ等の表示装置がその撮像信号に基づくライブビュー画像を表示するライブビュー表示機能が搭載されている場合がある。

このようなデジタルカメラでは光学式ファインダーが搭載されていなくても、ライブビュー表示機能を使用することで撮影者が被写体を確認できる。このため、光学式ファインダーを廃止したレンズ交換式デジタルカメラ、いわゆるミラーレスカメラでは、ライブビュー表示機能が搭載されている場合が多い。

一方、除塵機能及びライブビュー表示機能が両方搭載されているカメラにおいては、除塵機能の多くは超音波振動を利用したものであるため、ライブビュー表示機能と除塵機能を並行して実行するとライブビュー表示が乱れるという問題があった。

この問題は、圧電素子に供給する電圧が高電圧のため、昇圧トランスが発生するノイズがライブビュー画像を生成する撮像信号に重畳することが原因である。

このような問題を回避するために特許文献１には、ライブビュー画像を生成する撮像信号にノイズを重畳させないようにブランキング期間中に除塵機能を実行する技術が開示されている。ここで、ブランキング期間とは、１フレーム分の撮像素子による撮像信号の読み出し時間と次の１フレーム分の撮像素子による撮像信号の読み出し時間の間の期間を指す。

一方、ブランキング期間中にのみ除塵機能を実行するようにした場合、その実行時間が短時間となってしまい、確実に塵埃等の異物を除去することができない可能性がある。そこで除塵機能の実行時間を確保するため、特許文献１ではさらに、ライブビュー画像を生成する撮像信号の読み出し時間を短くすべく、撮像素子から撮像信号を読み出す際の読み出しライン数を減らす技術が開示されている。

また、特許文献１では、撮像素子から画像信号を読み出す際、圧電素子に供給する電圧を低電圧とし、ライブビュー画像を生成する画像信号に重畳される、昇圧トランスが発生するノイズを小さくする技術が開示されている。

一方、従来の除塵機能においては、環境温度の変化、振動対象の形状の個体差などにより、振動対象を振動させる共振周波数が変動し、確実に振動対象に付着した塵埃等の異物を除去することができないという問題が生じていた。

この問題を回避するために特許文献２では、複数の周波数帯域に区分し、区分されたそれぞれの周波数帯域を組み合わせて振動対象を効率的に振動させ、効果的にその表面に付着した塵埃等の異物を除去する技術が開示されている。

更に、従来の除塵機能においては、塵埃等の異物を除去する際に用いる圧電素子の加工精度、製造工程などのばらつき発生要因により、振動対象の共振周波数が変動するという問題が生じていた。但し、圧電素子を貼り付けた光学部材の複数の共振周波数の間隔はかかるばらつき発生要因があっても変化しない。

そこで特許文献３では、振動対象の複数の共振周波数を検出し、検出された共振周波数のうち、上記間隔だけずらした周波数に検出された別の共振周波数が存在する共振周波数で振動部材を駆動する技術が開示されている。

特開２０１８－７４５６４号公報 特開２０１３－８５０２２号公報 特開２０１５－２３１１７３号公報

しかしながら、特許文献１のように、除塵機能の実行中において撮像素子から撮像信号を読み出す際の読み出しライン数を減らすと、生成されたライブビュー画像の画質が劣化することが考えられる。

また、特許文献１のように、撮像素子から画像信号を読み出す際、圧電素子に供給する電圧を低電圧にすると、圧電素子の振動する際の振幅が小さくなり、除塵機能による除塵効果が低下することが考えられる。さらに、圧電素子に供給する電圧を低電圧としても昇圧トランスが発生するノイズ等がまったくなくなるわけではない。

更に特許文献２や特許文献３に開示された除塵機能を用いた場合、効率的に塵埃等の異物を除去できるが、昇圧トランスが発生するノイズ等によるライブビュー表示の画質低下は抑制できない。

そこで、本発明は、ライブビュー表示中にその画質を確保しながら、確実且つ短時間に撮像素子の被写体側に搭載される光学部材の除塵を行うことができる撮像装置及びその制御方法並びにプログラムを提供することを目的とする。

本発明の請求項１に係る撮像装置は、被写体の光学像を光電変換して電荷を蓄積し、撮像信号として読み出す撮像素子と、前記撮像素子の被写体側に配置された光学部材と、前記光学部材に固着され、電圧の印加により伸縮する圧電素子と、表示手段と、前記撮像素子及び前記表示手段の駆動を制御し、フレームレートに応じた時間間隔で前記撮像素子から順次、撮像信号を読み出し、前記撮像信号に基づき前記フレームレートに応じた更新間隔で連続的にライブビュー画像を前記表示手段で表示するライブビュー表示機能を実行する第１の制御手段と、前記圧電素子への電圧の印加を制御し、前記圧電素子を伸縮させることにより前記光学部材を振動させ、前記光学部材の除塵を行う除塵機能を実行する第２の制御手段とを備える撮像装置であって、前記第２の制御手段は、前記第１の制御手段によるライブビュー表示機能の実行と並行して前記除塵機能を実行する第１の場合、前記撮像素子の駆動中におけるブランキング期間に前記圧電素子への電圧印加を行い、前記圧電素子への電圧の印加を制御する際のパラメータを、前記第１の制御手段によるライブビュー表示機能の実行と並行せず単独で前記除塵機能を実行する場合と、前記第１の場合とで異ならせ、前記単独で前記除塵機能を実行する場合には、ユーザの指示に応じて前記光学部材の除塵を実行する第２の場合、及び前記撮像装置に電源が投入される前に前記光学部材の除塵を実行する第３の場合が含まれることを特徴とする。

本発明によれば、ライブビュー表示中にその画質を確保しながら、確実且つ短時間に撮像素子の被写体側に搭載される光学部材の除塵を行うことができる。

本発明の実施例１に係る撮像装置の主要な電気的構成を示すブロック図である。 従来のライブビュー（ＬＶ）表示の際の撮像素子からの撮像信号の読み出しタイミングと圧電素子への電圧印加タイミングとの関係を示すタイミングチャートである。 本発明の実施例１に係る、撮像素子、液晶モニタ、及び圧電素子の動作タイミングの関係を示すタイミングチャートである。 図３における動作タイミングで圧電素子が振動する際の振幅を説明するための図である。 図３における動作タイミングで圧電素子に印加する電圧の周波数の掃引時間を説明するための図である。 本発明の実施例１に係るＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理のフローチャートである。 本発明の実施例２に係る撮像装置の主要な電気的構成を示すブロック図である。 本発明の実施例２に係る、撮像素子、液晶モニタ、画像解析回路、及び圧電素子の動作タイミングの関係を示すタイミングチャートである。 図８における動作タイミングで圧電素子に印加する電圧の周波数の掃引時間を説明するための図である。 本発明の実施例２に係るＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理のフローチャートである。 本発明の実施例３に係る、撮像素子、液晶モニタ、及び圧電素子の動作タイミングの関係を示すタイミングチャートである。 図１１における動作タイミングで圧電素子に印加する電圧の周波数の掃引時間を説明するための図である。 本発明の実施例３に係るＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理のフローチャートである。

（実施例１）
図１は、本実施例に係る撮像装置１の主要な電気的構成を示すブロック図である。ここで、本実施例において撮像装置１は、デジタルカメラであるが、撮像素子より被写体側に配置された光学部材から異物を除去するための振動部材を有する装置であればよい。具体的には、ビデオカメラ、スマートフォン等のカメラ部であってもよい。

撮像装置１は、マウント接点１０６、シャッタ１０７、シャッタ駆動回路１０８、撮像ユニット１０９、圧電素子駆動回路１１４、撮像制御回路１１８、映像信号処理回路１１９、ＭＰＵ１２０、液晶駆動回路１２３、及び電力供給回路１２８を備える。ここで撮像ユニット１０９は、詳細は後述するが、赤外線カットフィルタ１１０、圧電素子１１１、光学ローパスフィルタ１１２、及び撮像素子１１３が後述する他の部品と共にユニット化された部品である。

また、マウント接点１０６を介して撮像装置１に脱着可能な撮影レンズユニット２は、撮影レンズ１０１、絞り１０２、ＡＦ駆動回路１０３、絞り駆動回路１０４、及びレンズ制御回路１０５を備える。

ＭＰＵ１２０は、撮像装置１の本体に内蔵されたマイクロコンピュータから構成される中央処理装置である。ＭＰＵ１２０は、撮像装置１の動作全体を制御するものであり、各要素に対して様々な処理や指示を実行する。

ＭＰＵ１２０には、シャッタ駆動回路１０８、映像信号処理回路１１９が接続されている。また、液晶駆動回路１２３、電力供給回路１２８、圧電素子駆動回路１１４、撮像制御回路１１８もＭＰＵ１２０に接続されている。これらの回路はＭＰＵ１２０の制御により動作する。

また、ＭＰＵ１２０は、撮影レンズユニット２内に配置されたレンズ制御回路１０５と、マウント接点１０６を介して通信を行う。

マウント接点１０６は、撮影レンズユニット２が接続されるとＭＰＵ１２０へ信号を送信する機能も備えている。

これにより、レンズ制御回路１０５は、ＭＰＵ１２０との間で通信を行い、撮影レンズユニット２内の撮影レンズ１０１および絞り１０２の駆動を、ＡＦ駆動回路１０３および絞り駆動回路１０４を介して行うことが可能となる。

尚、本実施形態では撮影レンズ１０１を便宜上１枚の撮影レンズで示しているが、実際はフォーカスレンズを含む多数のレンズ群により構成されている。

ＡＦ駆動回路１０３は、ステッピングモータによって構成され、レンズ制御回路１０５の制御によって撮影レンズ１０１内のフォーカスレンズの位置を変化させることにより、被写体にフォーカスが合うように調整する。

ＭＰＵ１２０は撮像素子１１３が受光した撮影光束から、デフォーカス量およびデフォーカス方向を求める。

求められた情報に基づきレンズ制御回路１０５およびＡＦ駆動回路１０３を介して、撮影レンズ１０１内のフォーカスレンズを合焦位置まで駆動する。

絞り駆動回路１０４は、たとえばオートアイリスなどによって構成され、レンズ制御回路１０５によって絞り１０２を変化させ、光学的な絞り値を得るように構成されている。

シャッタ１０７は、機械フォーカルプレーンシャッタであり、ライブビュー（以下、ＬＶ）表示中は開放状態となり、撮影光軸１００を有する撮影光束を撮像素子１１３へ導く。また、撮像時にはレリーズ信号に応じて、不図示の先羽根群と後羽根群の走行する時間差により所望の露光時間を得るように構成されている。

シャッタ１０７は、ＭＰＵ１２０の指令を受けたシャッタ駆動回路１０８によって制御される。

撮像素子１１３は、本実施例においては撮像デバイスであるＣＭＯＳが用いられる。尚、撮像素子１１３は撮影光束を光電変換可能な２次元に配列される複数の画素からなる撮像デバイスであれば他の撮像デバイス、例えばＣＣＤ、ＣＩＤなどであってもよい。

撮像素子１１３は、水平ライン毎に時間をずらしながら順次電荷の蓄積し、撮像信号として読み出す。

撮像装置１は、さらに、クランプ／ＣＤＳ（相関二重サンプリング）回路１１５、ＡＧＣ（自動利得調整装置）１１６、Ａ／Ｄ変換器１１７、メモリコントローラ１２１、バッファメモリ１２２、液晶モニタ（表示部）１２４、及び電源部１２９を備える。なお、メモリ１２５は、撮像装置１に対して着脱可能なフラッシュメモリなどであり、動画像・静止画像データを格納する。

クランプ／ＣＤＳ回路１１５は、Ａ／Ｄ変換する前の基本的なアナログ処理を行うとともに、クランプレベルの変更も可能である。

ＡＧＣ１１６は、Ａ／Ｄ変換する前の基本的なアナログ処理を行うとともに、ＡＧＣ基本レベルの変更も可能である。

Ａ／Ｄ変換器１１７は、撮像素子１１３から出力された撮像信号をデジタル化する。

赤外線カットフィルタ１１０は、撮影光束から高い空間周波数、具体的には赤外線の領域の波長の光を取り除く矩形のフィルタであり、後述するように異物の付着を防止するために、表面に導電性のコーティングがなされている。

光学ローパスフィルタ１１２は、水晶からなる複屈折板および位相板を複数枚貼り合わせて積層されている。光学ローパスフィルタ１１２は、撮像素子１１３に入射される撮影光束を複数に分離し、偽解像信号や偽色信号の発生を効果的に低減させる。

圧電素子駆動回路１１４は、赤外線カットフィルタ１１０に固着された圧電素子１１１を屈曲振動させる回路である。圧電素子駆動回路１１４は、ＭＰＵ１２０の指示に従って、圧電素子１１１を振動させ赤外線カットフィルタ１１０に振動する際の振幅を発生させる。

尚、本実施例では、圧電素子１１１で屈曲振動を励起する光学部材を赤外線カットフィルタ１１０としたが、撮像ユニット１０９内にあって、撮像素子１１３より被写体側に配置された光学部材であればこれに限定されない。例えば、複屈折板、位相板の貼り合わせによって構成される光学ローパスフィルタ１１２や、光学ローパスフィルタ１１２を構成する複屈折板もしくは位相板の一方を圧電素子１１１で屈曲振動を励起する光学部材としてもよい。

尚、圧電素子１１１の駆動の仕方については後述する。

撮像制御回路１１８は、ＭＰＵ１２０の指示に従って、撮像素子１１３の電荷の蓄積と撮像信号の読み出しを制御する。

映像信号処理回路１１９は、Ａ／Ｄ変換器１１７によりデジタル化された撮像信号に対してガンマ／ニー処理、フィルタ処理、モニタ表示用の情報合成処理など、ハードウェアによる画像処理全般を実行する。これにより、映像信号処理回路１１９において、液晶モニタ１２４に表示されるモニタ表示用の動画像・静止画像データや、メモリ１２５に格納される動画像・静止画像データが生成され、出力される。

バッファメモリ１２２は、映像信号処理回路１１９からのモニタ表示用の動画像・静止画像データを一時格納したのち、液晶駆動回路１２３を介して液晶モニタ１２４に出力する。

液晶駆動回路１２３は、ＭＰＵ１２０の指示に従って、液晶モニタ１２４を駆動する。

ＬＶ表示機能は、以下の動作を撮像装置１において行う機能である。まず、ＭＰＵ１２０の指示に従って、撮像制御回路１１８が撮像素子１１３に対しフレームレートに応じた時間間隔で順次被写体の光学像を光電変換して連続的に電荷を蓄積し、アナログの撮像信号として読み出すよう制御する。そして、クランプ／ＣＤＳ回路１１５、ＡＧＣ１１６、Ａ／Ｄ変換器１１７、及び映像信号処理回路１１９によりこの連続的に読み出された撮像信号からデジタルの動画像データが生成され、バッファメモリ１２２に一次保存される。その後、液晶駆動回路１２３は、バッファメモリ１２２から読み出した動画像データをフレームレートに応じた更新間隔で連続的にＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示する。

また、映像信号処理回路１１９は、ＪＰＥＧなどの画像データ圧縮処理を行う機能も有している。

連写撮影など連続して撮影が行われる場合は、一旦バッファメモリ１２２に画像データを格納し、メモリコントローラ１２１を通して未処理の画像データを順次読み出すことも可能である。これにより映像信号処理回路１１９は、Ａ／Ｄ変換器１１７から入力されてくる画像データの速度に関わらず、画像処理や圧縮処理を順次行うことが可能となる。

電力供給回路１２８は、クリーニングモード等の各種モードに応じた必要な電力をＭＰＵ１２０に供給すると共に、電源部１２９を介して図１に示す撮像装置１の各部へ必要な電力を供給する。

ＭＰＵ１２０は、クリーニングモード開始の信号を受け取ると、シャッタ駆動回路１０８を介してシャッタ１０７を撮影光束から退避する位置へ駆動する。

このクリーニングモードにおいて使用者は、綿棒、シルボン紙、ゴムなどを用いて赤外線カットフィルタ１１０上の異物を直接クリーニングすることが可能となる。

また、撮像装置１は、ＳＷ１２６、及びモード設定部１２７を備える。

モード設定部１２７は、不図示の操作部からのユーザ指示をうけて、撮影モードや上記クリーニングモード等の各種モードを設定する。

ＳＷ１２６は、レリーズスイッチであり、ユーザによる半押し操作を受けて、ＡＦ指示をＭＰＵ１２０に送信し、ユーザによる全押し操作を受けて、撮影開始の指示をＭＰＵ１２０に送信する。

次に、撮像装置１における除塵機能について説明する。

除塵機能の実行を開始すると、ＭＰＵ１２０はまず、赤外線カットフィルタ１１０に固着された圧電素子１１１に所定の周波数の電圧を印加するよう圧電素子駆動回路１１４に指示する。圧電素子１１１はかかる電圧が印加されると光軸と直角方向に伸縮し、赤外線カットフィルタ１１０を屈曲振動させる。これにより、赤外線カットフィルタ１１０上の異物の除去が行われる。以下、かかる電圧印加による圧電素子１１１の伸縮動作を異物除去動作という。

尚、赤外線カットフィルタ１１０の固有モードの共振周波数の近傍帯で圧電素子１１１に印加する電圧の周波数の掃引を行うと振動効率をよくすることができる。

但し、図２（ｂ）に示す様に、撮像素子１１３が撮像信号を読み出している間に異物除去動作を行うと、撮像信号にノイズが重畳してしまい、ＬＶ画像の画質が低下する。

これは、撮像素子１１３の撮像信号の読み出しと、圧電素子１１１への電圧印加が同時に起こるためである。

そして、圧電素子１１１への電圧印加によって発生した高圧トランスノイズが撮像素子１１３から映像信号処理回路１１９を通る画像データの信号に重畳してしまうためである。

上述の高圧トランスノイズの重畳を防ぐには、図２（ａ）に示す様に、異物除去動作を、撮像素子１１３が撮像信号の読み出しを開始する前に完了させることが望ましい。

しかし、この場合、図２（ｂ）の場合と比べて、液晶モニタ１２４にＬＶ画像が送信されるまでに時間を要し、ＬＶ表示に遅延が発生する。

特に、撮像装置１が光学式ファインダーを廃止したミラーレスカメラの場合、撮影前にＬＶ表示を見て被写体の確認やＳＷ１２６の半押しによる合焦状態の確認をするため、ＬＶ表示に遅延が発生すると、シャッターチャンスを逃す場合がある。

このような状況を回避するためにＬＶ表示を遅延させることなく、かつＬＶ画像の画質低下を抑制し、異物除去動作を完了させ、ＬＶ表示機能と除塵機能を両立させる必要がある。

ここで、ＬＶ画像の画質低下を抑制するには、撮像素子１１３による撮像信号の読み出しのタイミングを避けて圧電素子１１１への電圧印加を実行する必要がある。その上で、ＬＶ表示するまでの時間遅延を抑制するには、圧電素子１１１への電圧印加を短時間で完了させ、かつ塵埃等の異物除去を確実に行う必要がある。

そこで本実施例においては、圧電素子１１１への電圧印加を、撮像素子１１３が撮像信号の読み出しを行っている時間以外、すなわちブランキング期間に実行する。ここで、ブランキング期間とは、１フレーム分の撮像素子１１３による撮像信号の読み出し時間と次の１フレーム分の撮像素子１１３による撮像信号の読み出し時間の間の期間を指す。

図３は、本実施例に係る、撮像素子１１３、液晶モニタ１２４、及び圧電素子１１１の動作タイミングの関係を示すタイミングチャートである。

図３において、垂直同期信号Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３は、撮像素子１１３による電荷の蓄積と撮像信号の読み出しの動作タイミングとなる基準信号である。

本実施例においては、撮像素子１１３は、電荷の蓄積と撮像信号の読み出しをフレームレート（Ｖ周期）に応じたタイミングで繰り返し実行する。

また、液晶モニタ１２４は、そのフレームレートに応じた更新間隔で、各Ｖ周期で読み出された撮像信号に基づくＬＶ画像を液晶モニタ１２４に表示する。

さらに、圧電素子１１１は、ブランキング期間、すなわち図３の点線部の期間（撮像素子１１３による撮像信号の読み出し期間）以外の期間に異物除去動作を行う。具体的には、本実施例では、圧電素子１１１は、撮像素子１１３による電荷の蓄積期間に異物除去動作を行う。尚、本実施例では１フレーム分の撮像信号の読み出しが終了してから次の垂直同期信号のタイミングまでの間に撮像素子１１３が動作していない期間が存在していないが、存在する場合は、その期間もブランキング期間に含まれる。

すなわち、本実施例では、撮像素子１１３、液晶モニタ１２４、圧電素子１１１は以下のようなタイミングで動作を行う。

蓄積Ａ、Ｂ、Ｃは、垂直同期信号Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２のタイミングでそれぞれ開始する撮像素子１１３による電荷の蓄積期間を示す。また、読出Ａ，Ｂ，Ｃは、蓄積Ａ、Ｂ、Ｃの夫々の終了時に開始する撮像素子１１３による撮像信号の読み出し期間を示す。

ＬＶ表示Ａ、Ｂ、Ｃは、垂直同期信号Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２に同期して、液晶モニタ１２４にフレームレートに応じた更新間隔で連続的に液晶モニタ１２４により表示されるＬＶ画像の表示期間を示す。

異物除去１、２、３は、蓄積Ａ、Ｂ、Ｃの期間において圧電素子１１１により実行される異物除去動作の実行期間を示す。

以上、図３に示すように、異物除去動作が行われる異物除去１、２、３の期間は、撮像素子１１３による撮像信号の読み出しが行われる読出Ａ，Ｂ，Ｃの期間に重複しない。すなわち、圧電素子１１１への電圧印加によって発生した高圧トランスノイズが撮像素子１１３から映像信号処理回路１１９を通る撮像信号に重畳しない。従って、本実施例においては、ＬＶ表示Ａ、Ｂ、Ｃの期間に表示されるＬＶ画像の画質が、かかる高圧トランスノイズにより低下することを防止できる。

このように、図３に示す異物除去１、２、３の期間で異物除去動作を行った場合、ＬＶ表示Ａ、Ｂ、Ｃの期間に表示されるＬＶ画像の画質低下は防止できる。しかしながら、ブランキング期間という短い期間での異物除去動作により赤外線カットフィルタ１１０の除塵をしなくてはならない。

そこで、本実施例では、ＬＶ表示機能の実行と並行して除塵機能を実行する場合、除塵機能を単独で実行する場合よりも異物除去動作中に圧電素子１１１へ印加する電圧レベルを高くする。こうすることで圧電素子１１１の振動する際の振幅（腹部の振幅）が大きくなり、赤外線カットフィルタ１１０上の塵埃等の異物を除去しやすくなる。

更に、異物除去動作中に、圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引させる際の掃引時間を変更する。具体的には、図５に示すように、ＬＶ表示機能と並行して除塵機能を実行する場合は、除塵機能を単独で実行する場合（図５中、太線）よりも図４の期間ｔａ、ｔｂ、ｔｃにおけるその掃引時間を小さくする（図中、細線）。

次に本実施例の撮像装置１における、ＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理の手順を図６のフローチャートを用いて説明する。本処理はＭＰＵ１２０により実行される。

まず、撮像装置１の不図示の電源ＳＷがユーザによりＯＮにされ、撮像装置１に電源が投入された場合（ステップＳ６００でＹＥＳ）、ステップＳ６０１に進む。

ステップ６０１では、電力の供給により撮像素子１１３の駆動が開始したか、すなわち、ＬＶ表示機能の動作が開始したか否かを判定する。この判定の結果、撮像素子１１３がまだ駆動していない場合はステップＳ６１１へ進み、撮像素子１１３の駆動が開始した場合はステップＳ６０２へ進む。

ステップＳ６１１では、ユーザから異物除去指示があった場合（ステップＳ６１１でＹＥＳ）、この指示をうけてモード設定部１２７がクリーニングモードを設定すると、ＭＰＵ１２０は除塵機能を単独で実行すべく、ステップＳ６１２に進む。一方、かかる指示がなかった場合はステップＳ６００に戻る。尚、本フローチャートにおいては、ステップＳ６１１の判定はＬＶ表示機能の動作の開始前にのみ行われているが、ＬＶ表示機能の動作が開始した後においても、ユーザから異物除去指示があった場合は、ステップＳ６１２に進む。

ステップＳ６１２にて圧電素子１１１へ印加する電圧レベルＶｘを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する。

次にステップＳ６１３にて圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引させる際の掃引時間ｔｘを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する。

次に、ステップＳ６０５にて圧電素子駆動回路１１４に対し、ステップＳ６１２で設定された電圧レベル及びステップＳ６１３で設定された掃引時間で圧電素子１１１に電圧を印加するよう指示し、異物除去動作を開始する。

その後、異物除去動作が完了すると（ステップＳ６０６でＹＥＳ）、ユーザの撮影指示を待つ撮影待機状態に移行し、本処理を終了する（ステップＳ６０７）。

一方、撮像装置１の電源が投入されていない場合（ステップＳ６００でＮＯ）、ＭＰＵ１２０は除塵機能を単独で実行すべく、ステップＳ６１４に進む。ここで、撮像装置１の電源が投入されていない場合とは、電源ＳＷをＯＦＦにするユーザ操作があり、撮像装置１への電源が遮断された場合や、電源ＳＷはユーザによりＯＮにされたが、撮像装置１への電源の投入前である場合を指す。

ステップＳ６１４にて圧電素子１１１へ印加する電圧レベルＶｘを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する。

次にステップＳ６１５にて圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引させる際の掃引時間ｔｘを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する。

次に、ステップＳ６１６にて圧電素子駆動回路１１４に対し、ステップＳ６１４で設定された電圧レベル及びステップＳ６１５で設定された掃引時間で圧電素子１１１に電圧を印加するよう指示し、異物除去動作を開始する。

その後、異物除去動作が完了すると（ステップＳ６１７でＹＥＳ）、ステップＳ６００に戻り、撮像装置１の電源が投入されるのを待つ。

また、ステップＳ６００で撮像装置１の電源の投入が完了した後（ステップＳ６００でＹＥＳ）、撮像素子１１３の駆動が開始した場合（ステップＳ６０１でＹＥＳ）、ブランキング期間か否かを判定する（ステップＳ６０２）。ブランキング期間でないと判定した場合（ステップＳ６０２でＮＯ）、撮像素子１１３による撮像信号の読み出し動作を行う（ステップＳ６０８）。その後、映像信号処理回路１１９にて、その読み出された撮像信号から、ＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示される、各種画像処理を施されたデジタル化された動画像データを生成する（ステップＳ６０９）。その後、液晶駆動回路１２３を介してその生成された動画像データをＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示すると（ステップＳ６１０）、撮影待機状態に移行し、本処理を終了する（ステップＳ６０７）。

一方、ブランキング期間であると判定した場合（ステップＳ６０２でＹＥＳ）、ステップＳ６０３で圧電素子１１１に印加する電圧レベルＶｙを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する。ここで設定される電圧レベルＶｙは、ステップＳ６１２，Ｓ６１４にて設定される電圧レベルＶｘより大きい。すなわち、Ｖｙ＞Ｖｘとなるように圧電素子１１１に印加する電圧レベルを設定する。

次に、ステップＳ６０４にて、ステップＳ６１３又はステップＳ６１５において設定された圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引させる際の掃引時間ｔｙを設定する。ここで設定される掃引時間ｔｙは、ステップＳ６１３，Ｓ６１５にて設定される掃引時間ｔｘより小さい。すなわち、ｔｘ＞ｔｙとなるように設定する。

次に、ステップＳ６０５にて圧電素子駆動回路１１４に対し、ステップＳ６０３で設定された電圧レベル及びステップＳ６０４で設定された掃引時間で圧電素子１１１に電圧を印加するよう指示し、異物除去動作を開始する。

その後、異物除去動作が完了すると（ステップＳ６０６でＹＥＳ）、撮影待機状態に移行し、本処理を終了する（ステップＳ６０７）。尚、ここでの異物除去動作の完了は、ＳＷ１２６のユーザによる半押し又は全押し操作があった時点である。すなわち、ＳＷ１２６のユーザによる半押し又は全押し操作があるまで、図３に示す様に、ブランキング期間における異物除去動作が繰り返し実行される。

以上、本実施例では、撮像素子１１３の駆動中において、そのブランキング期間に圧電素子１１１へ印加する電圧レベルを高くし、更に圧電素子１１１へ印加する電圧の掃引時間を小さくする。これにより、電源ＳＷがＯＮとなってからのＬＶ表示に遅延が生じることなく、ＬＶ画像の画質の低下を防ぎ、且つ、ブランキング期間という限られた時間の中で効率よく、赤外線カットフィルタ１１０上の塵埃等の異物を除去することできる。

（実施例２）
次に、図７～１０を用いて、実施例２に係る撮像装置１ａにおけるＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理を説明する。

図７は、本実施例に係る撮像装置１ａの主要な電気的構成を示すブロック図である。

本実施例の撮像装置１ａは、画像解析回路７００を有する点で実施例１の撮像装置１と異なる。尚、前述の図１のブロック図と共通する構成は同じ付番で示し、重複した説明は省略する。

図７において、画像解析回路７００は、液晶モニタ１２４において表示されるＬＶ画像に映りこんだ、赤外線カットフィルタ１１０上に存在する塵埃等の異物の位置を検出する。具体的には、画像解析回路７００は、ＬＶ表示機能の動作中に撮像信号から生成された動画像データに基づき、ｘ座標、ｙ座標の２次元座標で赤外線カットフィルタ１１０上の異物の位置情報を取得し、その位置情報をＭＰＵ１２０に供給する。

ＭＰＵ１２０はその供給された位置情報に基づき、圧電素子駆動回路１１４に対し、異物除去動作時のパラメータを変更する。

図８は、本実施例に係る撮像素子１１３、液晶モニタ１２４、画像解析回路７００、及び圧電素子１１１の動作タイミングの関係を示すタイミングチャートである。

図８に示すように、ＬＶ表示Ａ，Ｂ，Ｃの開始と同一のタイミングに、画像解析回路７００が異物位置検出動作を行う異物位置検出Ａ，Ｂ，Ｃを開始するタイミングを設定する。

異物位置検出Ａの期間において、画像解析回路７００はＬＶ表示Ａの期間にＬＶ画像として表示される動画像データから異物の位置情報を取得し、その位置情報をＭＰＵ１２０に供給する。

ＭＰＵ１２０は、その供給された位置情報に基づき、次の垂直同期信号Ｖ２に同期して開始する異物除去３の期間に圧電素子駆動回路１１４に対して設定する異物除去動作時のパラメータを変更する。

同様に、異物位置検出Ｂの期間において、画像解析回路７００はＬＶ表示Ｂの期間にＬＶ画像として表示される動画像データから異物の位置情報を取得し、その位置情報をＭＰＵ１２０に供給する。

ＭＰＵ１２０は、その供給された位置情報に基づき、次の垂直同期信号Ｖ３に同期して開始する異物除去４（不図示）の期間に圧電素子駆動回路１１４に対して設定する異物除去動作時のパラメータを変更する。

例えば、図９に示す様に、異物除去１、２の期間（ｔａ、ｔｂ期間）は圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を図５に示す細線の掃引時間と同様の掃引時間で掃引させながら異物除去動作を行う。一方、ｔｂ期間での異物除去動作と並行してＬＶ表示Ａの期間にＬＶ画像として表示される動画像データ中に存在する塵埃等の異物の位置を画像解析回路７００にて異物位置検出Ａの期間に検出する。

ここで、画像解析回路７００による異物位置検出Ａの期間に検出された異物を最も効率的に除去できる電圧の周波数がｔｂ期間中に掃引された周波数ｆ１であった場合を考える。また、垂直同期信号Ｖ３及び次の垂直同期信号Ｖ４における異物除去動作の実行期間をそれぞれ期間ｔｄ、ｔｅとする。

この場合、ＭＰＵ１２０は次の異物除去２の期間（期間ｔｃ）以降における圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数の掃引を、図９に示す様に図５とは異なる掃引時間で行うよう変更する。具体的には、周波数ｆ１が含まれるｔｂ期間の次の期間ｔｃおよびその次の期間ｔｄでは圧電素子１１１へは一定の周波数ｆ１の電圧を印加するようにする。その後の期間ｔｅ以降は、図５の細線で示す掃引時間と同様の掃引時間で圧電素子１１１の電圧の周波数を周波数ｆ１から順次低周波数側に掃引させる。

すなわち、本実施例では、ＬＶ画像中に映り込んだ、赤外線カットフィルタ１１０上の塵埃等の異物の位置を画像解析回路７００にて検出し、その検出された位置にある異物の除去効果が最も高くなるようにパラメータを設定する。

次に本実施例の撮像装置１ａにおける、ＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理の手順を図１０のフローチャートを用いて説明する。本処理はＭＰＵ１２０により実行される。尚、本処理は、図６と同一のステップについては同一の符号を付し、重複した説明は省略する。また、ステップＳ６００，Ｓ６０１、Ｓ６１１～Ｓ６１７までのステップは図６と同一であるため、これらのステップについての説明は省略すると共に、図１０において不図示とする。

撮像素子１１３の駆動が開始した後（ステップＳ６０１でＹＥＳ）、ブランキング期間でないと判定した場合（ステップＳ６０２でＮＯ）、撮像素子１１３による撮像信号の読み出し動作を行う（ステップＳ６０８）。その後、映像信号処理回路１１９にて、その読み出された撮像信号から、ＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示される、各種画像処理を施されたデジタル化された動画像データを生成する（ステップＳ６０９）。その後、液晶駆動回路１２３を介してその生成された動画像データをＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示すると（ステップＳ６１０）、撮影待機状態に移行し、本処理を終了する（ステップＳ６０７）。このとき並行して、映像信号処理回路１１９から直接、ステップＳ６０９で生成された動画像データを画像解析回路７００に供給し、画像解析回路７００にてＬＶ画像中の塵埃等の異物の位置を検出し（ステップＳ１００１）、ステップＳ１００２に進む。一方、ブランキング期間と判定した場合も（ステップＳ６０２でＹＥＳ）、ステップＳ１００２に進む。

ステップＳ１００２では、ステップＳ１００１における異物の位置検出結果に基づき、圧電素子駆動回路１１４に対する異物除去動作時のパラメータを変更する。尚、ステップＳ１００２にて変更するパラメータは、圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数、あるいは該印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引する際の各周波数帯での掃引時間である。

その後、ステップＳ６０５で異物除去動作を実行する。具体的には、図６の期間ｔｃの異物除去動作は、異物位置検出Ａの期間における異物の位置検出結果に基づき変更されたパラメータで実行される。一方、図６の期間ｔａ、ｔｂの異物除去動作は、その前又は同時に画像解析回路７００による異物位置検出が行われるため、実施例１と同様にステップＳ６０３，Ｓ６０４で設定されるパラメータで実行される。

尚、図１０においては不図示であるが、異物除去動作が完了する（ステップＳ６０６でＹＥＳ）までの間にステップＳ６０５で開始した異物除去動作がブランキング期間の終了に伴い中断した場合、ステップＳ６０２に戻る。

また、ステップＳ１００２で変更された掃引時間に関するパラメータでステップＳ６０５における異物除去動作を実行しても、ステップＳ１００１で検出された塵埃等の異物の位置が変化しない場合がある。この場合、次のタイミングで実行されるステップＳ１００２では、圧電素子１１１へ印加する電圧のレベルを上げるようパラメータを変更してもよい。

また、ステップＳ１００１で塵埃等の異物の位置が複数検出される場合、すなわち、赤外線カットフィルタ１１０上に異物が複数付着している場合がある。この場合、ＬＶ画像に映り込んでいる異物のうち、ＬＶ画像における被写体により近い位置にある異物が優先的に除去されるようにステップＳ１００２にてパラメータを変更する。また、この場合、ＬＶ画像に映り込んでいる異物のうち、ＬＶ画像における合焦位置により近い位置にある異物が優先的に除去されるようにステップＳ１００２にてパラメータを変更する。

以上、本実施例では、ＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示される動画像データから塵埃等の異物の位置情報を検出し、その検出結果に基づきブランキング期間に圧電素子１１１を駆動する際のパラメータを変更する。これにより、ＬＶ表示の遅延を生じさせず、ＬＶ画像の画質を確保しながら、確実且つ短時間に除塵機能による除塵を行うことができる。

（実施例３）
次に、図１１～１３を用いて、実施例３に係る撮像装置１におけるＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理を説明する。尚、本実施例は、図１に示す撮像装置１により実行される。

図１１、１２に示すように、本実施例では、撮像装置１の電源ＳＷがＯＮとなり、撮像装置１に電源が投入されてから期間ｔ０が経過した後、電源部１２９を介して撮像素子１１３への電力供給が開始する。また、かかる撮像素子１１３への電力供給の開始と同時に、フレームレート（Ｖ周期）に応じた撮像素子１１３による電荷の蓄積と撮像信号の読み出しが開始する。

そこで、本実施例では、期間ｔ０において圧電素子１１１を駆動する際のパラメータと、期間ｔ０が経過し、撮像素子１１３への電力供給の開始後のブランキング期間（期間ｔａ、ｔｂ）において圧電素子１１１を駆動する際のパラメータを変更する。

具体的には、期間ｔ０における圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を、期間ｔａ、ｔｂにおける場合より圧電素子１１１の振動の腹部が粗くなるようにパラメータを設定する。これにより、期間ｔ０においては赤外線カットフィルタ１１０全体に対し、万遍なく塵埃等の異物が除去することができる。

また、図１２に示す様に、圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引させる際、期間ｔ０におけるステップ間での周波数の差分が、期間ｔａ、ｔｂにおける差分より大きくなるよう設定される。

尚、撮像装置１への電源投入から撮像素子１１３への電源供給開始までの時間が早ければ（期間ｔ０が短ければ）、図１２の（２）に示す周波数掃引を実行しなくてもよい。

一方、期間ｔ０で設定した圧電素子１１１へ印加する電圧のレベルより期間ｔａ、ｔｂにおける電圧レベルが大きくなるようにパラメータを設定する。また、期間ｔａ、ｔｂにおける圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引させる際の掃引時間を、期間ｔ０における場合より短く設定する。これにより、撮像素子１１３への電力供給開始後、ブランキング期間においてのみ除塵機能を実行しても、短時間で効率よく異物除去動作を完了させることができる。

次に本実施例の撮像装置１における、ＬＶ表示機能と除塵機能の並行実行処理の手順を図１３のフローチャートを用いて説明する。本処理はＭＰＵ１２０により実行される。尚、本処理は、図６と同一のステップについては同一の符号を付し、重複した説明は省略する。

まず、撮像装置１の不図示の電源ＳＷがユーザによりＯＮにされ、撮像装置１に電源が投入された後（ステップＳ１３００でＹＥＳ）、撮像素子１１３への電力供給が開始されたか否かを判定する（ステップＳ１３０１）。

この判定の結果、撮像素子１１３への電力供給が開始されていない場合（ステップＳ１３０１でＮＯ）、圧電素子１１１へ印加する電圧レベルＶｘを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する（ステップＳ１３１２）。また、ステップＳ１３１３にて圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引させる際の掃引時間ｔｘを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する。

次に、ステップＳ１３１４にて圧電素子駆動回路１１４に対し、ステップＳ１３１２で設定された電圧レベル及びステップＳ１３１３で設定された掃引時間で圧電素子１１１に電圧を印加するよう指示し、異物除去動作を開始する。

その後、異物除去動作が完了すると（ステップＳ１３１５でＹＥＳ）、ステップＳ１３０１に戻り、撮像素子１１３への電力供給が開始されるのを待つ。

一方、撮像素子１１３への電力供給が開始され（ステップＳ１３０１でＹＥＳ）、撮像素子１１３の駆動が開始した場合（ステップＳ１３０２）、ブランキング期間か否かを判定する（ステップＳ６０２）。ブランキング期間でないと判定した場合（ステップＳ６０２でＮＯ）、撮像素子１１３による撮像信号の読み出し動作を行う（ステップＳ６０８）。その後、映像信号処理回路１１９にて、その読み出された撮像信号から、ＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示される、各種画像処理を施されたデジタル化された動画像データを生成する（ステップＳ６０９）。その後、液晶駆動回路１２３を介してその生成された動画像データをＬＶ画像として液晶モニタ１２４に表示すると（ステップＳ６１０）、撮影待機状態に移行し、本処理を終了する（ステップＳ６０７）。

一方、ブランキング期間であると判定した場合（ステップＳ１３０３でＹＥＳ）、ステップＳ１３０４で圧電素子１１１に印加する電圧レベルＶｙを圧電素子駆動回路１１４に対して設定する。ここで設定される電圧レベルＶｙは、ステップＳ１３１２にて設定された電圧レベルＶｘより大きい。すなわち、Ｖｙ＞Ｖｘとなるように設定する。

また、ステップＳ１３０５にて圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数を高周波数側から低周波数側へと掃引する掃引時間ｔｙを設定する。ここで設定される掃引時間ｔｙは、ステップＳ１３１３にて設定された掃引時間ｔｘよりも小さい、すなわち、ｔｘ＞ｔｙとなるように設定する。

次に、ステップＳ６０５にて圧電素子駆動回路１１４に対し、ステップＳ１３１２で設定された電圧レベル及びステップＳ１３１３で設定された掃引時間で圧電素子１１１に電圧を印加するよう指示し、異物除去動作を開始する。

その後、異物除去動作が完了すると（ステップＳ６０６でＹＥＳ）、撮影待機状態に移行し、本処理を終了する（ステップＳ６０７）。尚、ここでの異物除去動作の完了は、ＳＷ１２６のユーザによる半押し操作があった時点である。すなわち、ＳＷ１２６のユーザによる半押し操作があるまで、図１１に示す様に、各Ｖ周期におけるブランキング期間での異物除去動作が繰り返し実行される。

以上、本実施例では、撮像装置１への電源投入後、撮像素子１１３への電力供給の開始までの期間ｔ０での異物除去動作が、ブランキング期間（期間ｔａ，ｔｂ）における場合より圧電素子１１１による振動の腹部が粗くなるようにパラメータを設定する。

また、ブランキング期間である期間ｔａ，ｔｂに対するパラメータは、期間ｔ０の場合より、圧電素子１１１へ印加する電圧のレベルを高くなり、かつ圧電素子１１１へ印加する電圧の周波数の掃引時間が短くなるように設定する。

これにより、ＬＶ表示の遅延を生じさせず、ＬＶ画像の画質低下を抑制し、且つブランキング期間という限られた時間の中で効率よく、塵埃等の異物を除去することが可能となる。また、圧電素子１１１へ印加する電圧のレベルを適宜切り替えるため、電力供給回路１２８内の不図示のバッテリーの消費を抑制することも可能となる。

尚、実施例２と同様に、上記各種パラメータを設定する際にＬＶ画像の情報を用いてもよい。

［その他の実施例］
本発明の目的は、前述した実施例の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、装置に供給することによっても、達成されることは言うまでもない。このとき、供給された装置の制御部を含むコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）は、記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。

この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施例の機能を実現することになり、プログラムコード自体及びそのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。

プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ－ＲＯＭ、ＣＤ－Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。

また、上述のプログラムコードの指示に基づき、装置上で稼動しているＯＳ（基本システムやオペレーティングシステム）などが処理の一部又は全部を行い、その処理によって前述した実施例の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。

さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、装置に挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれ、前述した実施例の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。このとき、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部又は全部を行う。

１，１ａ 撮像装置
１１０ 赤外線カットフィルタ（光学部材）
１１１ 圧電素子
１１３ 撮像素子
１１４ 圧電素子駆動回路
１１８ 撮像制御回路
１１９ 映像信号処理回路
１２０ ＭＰＵ
１２４ 液晶モニタ
７００ 画像解析回路

Claims (14)

1. 被写体の光学像を光電変換して電荷を蓄積し、撮像信号として読み出す撮像素子と、
   前記撮像素子の被写体側に配置された光学部材と、
   前記光学部材に固着され、電圧の印加により伸縮する圧電素子と、
   表示手段と、
   前記撮像素子及び前記表示手段の駆動を制御し、フレームレートに応じた時間間隔で前記撮像素子から順次、撮像信号を読み出し、前記撮像信号に基づき前記フレームレートに応じた更新間隔で連続的にライブビュー画像を前記表示手段で表示するライブビュー表示機能を実行する第１の制御手段と、
   前記圧電素子への電圧の印加を制御し、前記圧電素子を伸縮させることにより前記光学部材を振動させ、前記光学部材の除塵を行う除塵機能を実行する第２の制御手段とを備える撮像装置であって、
   前記第２の制御手段は、前記第１の制御手段によるライブビュー表示機能の実行と並行して前記除塵機能を実行する第１の場合、前記撮像素子の駆動中におけるブランキング期間に前記圧電素子への電圧印加を行い、前記圧電素子への電圧の印加を制御する際のパラメータを、前記第１の制御手段によるライブビュー表示機能の実行と並行せず単独で前記除塵機能を実行する場合と、前記第１の場合とで異ならせ、
   前記単独で前記除塵機能を実行する場合には、ユーザの指示に応じて前記光学部材の除塵を実行する第２の場合、及び前記撮像装置に電源が投入される前に前記光学部材の除塵を実行する第３の場合が含まれることを特徴とする撮像装置。
2. 前記ブランキング期間には、前記撮像素子により前記電荷を蓄積する期間が含まれることを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
3. 前記第１の制御手段によるライブビュー表示機能の実行中に、前記光学部材の除塵を実行するユーザの指示があった場合、前記圧電素子への電圧の印加を制御する際のパラメータを前記単独で前記除塵機能を実行する場合と同様とすることを特徴とする請求項１又は２記載の撮像装置。
4. 前記第２の制御手段は、前記第１の場合に前記光学部材を振動させる場合の振幅を、前記単独で前記除塵機能を実行する場合より大きくなるように前記パラメータを設定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
5. 前記第２の制御手段は、前記第１の場合に前記圧電素子に印加する電圧の周波数を掃引する際の掃引時間を、前記単独で前記除塵機能を実行する場合より短くなるように前記パラメータを設定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
6. 前記撮像素子から読み出された撮像信号に基づき、前記光学部材に付着した異物の位置を検出する検出手段を更に備え、
   前記第２の制御手段は、前記検出手段にて検出された前記異物の位置に基づき、前記圧電素子による前記光学部材の振動を制御することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
7. 前記検出手段により複数の異物が前記光学部材に付着していることが検出された場合、前記複数の異物の夫々の前記光学部材における位置に応じて前記圧電素子による前記光学部材の振動を制御することを特徴とする請求項６記載の撮像装置。
8. 前記検出手段にて検出された異物の前記光学部材における位置と前記ライブビュー画像における合焦位置とに基づいて前記圧電素子による前記光学部材の振動を制御することを特徴とする請求項６又は７記載の撮像装置。
9. 前記単独で前記除塵機能を実行する場合には、前記圧電素子への電圧の印加を制御する際のパラメータを、前記撮像装置に電源が投入されてから前記撮像素子への電力供給が開始するまでの間に前記光学部材の除塵を実行する第４の場合がさらに含まれることを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の撮像装置。
10. 前記第２の制御手段は、前記第４の場合に前記光学部材を振動させる場合の振動の腹部が、前記第１の場合より粗くなるように前記パラメータを設定することを特徴とする請求項９記載の撮像装置。
11. 前記第２の制御手段は、前記第１の場合に前記光学部材を振動させる場合の振幅を、前記第４の場合より大きくなるように前記パラメータを設定することを特徴とする請求項９又は１０記載の撮像装置。
12. 前記第２の制御手段は、前記第１の場合に前記圧電素子に印加する電圧の周波数を掃引する際の掃引時間を、前記第４の場合より短くなるように前記パラメータを設定することを特徴とする請求項９乃至１１のいずれか１項に記載の撮像装置。
13. 被写体の光学像を光電変換して電荷を蓄積し、撮像信号として読み出す撮像素子と、前記撮像素子の被写体側に配置された光学部材と、前記光学部材に固着され、電圧の印加により伸縮する圧電素子と、表示部とを備える撮像装置の制御方法であって、
    前記撮像素子及び前記表示部の駆動を制御し、フレームレートに応じた時間間隔で前記撮像素子から順次、撮像信号を読み出し、前記撮像信号に基づき前記フレームレートに応じた更新間隔で連続的にライブビュー画像を前記表示部で表示するライブビュー表示機能を実行する第１の制御ステップと、
    前記圧電素子への電圧の印加を制御し、前記圧電素子を伸縮させることにより前記光学部材を振動させ、前記光学部材の除塵を行う除塵機能を実行する第２の制御ステップとを有し、
    前記第２の制御ステップは、前記第１の制御ステップにおけるライブビュー表示機能の実行と並行して前記除塵機能を実行する第１の場合、前記撮像素子の駆動中におけるブランキング期間に前記圧電素子への電圧印加を行い、前記圧電素子への電圧の印加を制御する際のパラメータを、前記第１の制御ステップでのライブビュー表示機能の実行と並行せず単独で前記除塵機能を実行する場合と、前記第１の場合とで異ならせ、
    前記単独で前記除塵機能を実行する場合には、ユーザの指示に応じて前記光学部材の除塵を実行する第２の場合、及び前記撮像装置に電源が投入される前に前記光学部材の除塵を実行する第３の場合が含まれることを特徴とする制御方法。
14. コンピュータを、請求項１乃至１２のいずれか１項に記載された撮像装置の各手段として機能させるためのプログラム。

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