JP7295523B2 - Eddy current flaw detection probe and eddy current flaw detection device - Google Patents

Eddy current flaw detection probe and eddy current flaw detection device Download PDF

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Description

特許法第３０条第２項適用 日本原子力研究開発機構 新技術説明会、平成３１年１月３１日Application of Article 30, Paragraph 2 of the Patent Law Japan Atomic Energy Agency New Technology Briefing, January 31, 2019

本発明は、渦電流探傷用プローブ及び渦電流探傷装置に関する。 The present invention relates to an eddy current flaw detection probe and an eddy current flaw detection apparatus.

従来、磁性材料で形成された配管の探傷試験において、配管内に渦電流探傷用プローブを挿入し、配管の内面及び外面に対する探傷試験を行う渦電流探傷装置が用いられている。 2. Description of the Related Art Conventionally, in a flaw detection test of a pipe made of a magnetic material, an eddy current flaw detector is used in which an eddy current flaw detection probe is inserted into the pipe to perform flaw detection tests on the inner and outer surfaces of the pipe.

例えば、特許文献１には、直接磁場を利用した渦電流探傷試験（Eddy Current Testing：ＥＣＴ）を行うＥＴプローブ７と、間接磁場を利用した渦電流探傷試験（Remote Field-Eddy Current Testing：ＲＦ－ＥＣＴ）を行うＲＦＥＴプローブ３とを備える渦電流探傷装置が開示されている。 For example, in Patent Document 1, an ET probe 7 that performs eddy current testing (Eddy Current Testing: ECT) using a direct magnetic field, and an eddy current testing (Remote Field-Eddy Current Testing: RF- An eddy current inspection apparatus is disclosed which includes an RFET probe 3 for performing ECT).

特許文献１に開示された渦電流探傷装置は、ＥＴプローブ７を構成するＥＴ励磁コイル８及びＥＴ検出コイル９と、ＲＦＥＴプローブ３を構成するＲＦＥＴ励磁コイル５及びＲＦＥＴ検出コイル６とを同軸に配置するとともに、ＥＴプローブ７とＲＦＥＴプローブ３との間に、磁場の干渉を防止するシールド材１２を設けたものである。 The eddy current flaw detection apparatus disclosed in Patent Document 1 has an ET excitation coil 8 and an ET detection coil 9 that constitute an ET probe 7, and an RFET excitation coil 5 and an RFET detection coil 6 that constitute an RFET probe 3, arranged coaxially. In addition, a shield material 12 is provided between the ET probe 7 and the RFET probe 3 to prevent magnetic field interference.

特開平１０－３１８９８７号公報JP-A-10-318987

特許文献１に開示された渦電流探傷装置では、ＥＴプローブ７とＲＦＥＴプローブ３との間にシールド材１２を設けたものであり、シールド材１２が存在する分だけＥＴプローブ７とＲＦＥＴプローブ３との間の距離を近づけることができない。したがって、ＥＴプローブ７とＲＦＥＴプローブ３とが離れて配置された状態では、配管の同一場所を同一条件で探傷試験を行うことができず、ＥＴプローブ７及びＲＦＥＴプローブ３がそれぞれ検出した信号には、軸方向のずれ量が含まれている。そのため、このずれ量を信号処理等によって補正する必要がある。しかし、ＥＴプローブ７及びＲＦＥＴプローブ３が配管内を通過するとき、両者の速度や姿勢は微妙に異なることから、上記のように補正したとしてもずれ量が僅かに存在するため、ＥＴプローブ７及びＲＦＥＴプローブ３により微小欠陥の検出や欠陥形状の評価を行うことは極めて困難である。 In the eddy current flaw detection apparatus disclosed in Patent Document 1, a shield material 12 is provided between the ET probe 7 and the RFET probe 3, and the ET probe 7 and the RFET probe 3 are separated by the amount of the shield material 12 that exists. cannot be brought closer together. Therefore, when the ET probe 7 and the RFET probe 3 are separated from each other, the flaw detection test cannot be performed on the same place of the pipe under the same conditions, and the signals detected by the ET probe 7 and RFET probe 3 are , the amount of axial misalignment is included. Therefore, it is necessary to correct this amount of deviation by signal processing or the like. However, when the ET probe 7 and the RFET probe 3 pass through the pipe, their speeds and postures are slightly different. It is extremely difficult to detect minute defects and evaluate the shape of defects using the RFET probe 3 .

また、特許文献１に開示された渦電流探傷装置では、ＥＴ検出コイル９及びＲＦＥＴ検出コイル６は、所謂、ボビンコイル型と呼ばれるものであり、１つの検出コイルで配管の全周に亘って渦電流の変化を検出するものである。しかし、ボビンコイル型では、その構造上、配管の周方向に対する検出性能を向上させるには限界があるため、ＥＴプローブ７及びＲＦＥＴプローブ３により微小欠陥の検出や欠陥形状の評価を行うことは極めて困難である。 Further, in the eddy current flaw detection apparatus disclosed in Patent Document 1, the ET detection coil 9 and the RFET detection coil 6 are of the so-called bobbin coil type. is to detect changes in However, in the bobbin coil type, due to its structure, there is a limit to improving the detection performance in the circumferential direction of the pipe. is.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、配管の内面及び外面に形成された微小欠陥の検出や欠陥形状の評価を的確に行うことができる渦電流探傷用プローブ及び渦電流探傷装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an eddy current flaw detection probe and an eddy current flaw detection probe capable of accurately detecting minute flaws formed on the inner and outer surfaces of a pipe and evaluating the shape of the flaw. An object of the present invention is to provide a current flaw detector.

本発明は、上記課題を解決するものであって、本発明の一実施形態に係る渦電流探傷用プローブは、
配管内に挿入されて前記配管と同軸に配置される本体の第１の中心軸に沿って、直接磁場を利用した第１の渦電流探傷系と、間接磁場を利用した第２の渦電流探傷系とを備える渦電流探傷用プローブであって、
前記第１の渦電流探傷系は、
前記第１の中心軸に沿って前記第１の中心軸と平行な軸方向に並列して配置されて、前記第１の中心軸をコイルの中心とする一対の励磁兼検出コイルを備え、
前記第２の渦電流探傷系は、
前記第１の中心軸に沿って前記一対の励磁兼検出コイルの前記軸方向外側にそれぞれ配置された一対の検出コイル群と、
前記第１の中心軸に沿って前記一対の検出コイル群の前記軸方向外側に配置されて、前記第１の中心軸をコイルの中心とする励磁コイルとを備え、
前記一対の検出コイル群の各々は、
前記第１の中心軸を中心として周方向に所定の間隔でそれぞれ配置されて、前記第１の中心軸に平行な複数の第２の中心軸をコイルの中心とする複数の検出コイルにより構成されている、ことを特徴する。 The present invention solves the above problems, and an eddy current flaw detection probe according to an embodiment of the present invention comprises:
A first eddy current flaw detection system using a direct magnetic field and a second eddy current flaw detection system using an indirect magnetic field along a first central axis of a main body that is inserted into a pipe and arranged coaxially with the pipe. An eddy current flaw detection probe comprising a system,
The first eddy current flaw detection system is
a pair of excitation and detection coils arranged in parallel in an axial direction parallel to the first central axis along the first central axis and having the first central axis as the center of the coil;
The second eddy current flaw detection system is
a pair of detection coil groups arranged outside the pair of excitation and detection coils in the axial direction along the first central axis;
an excitation coil arranged outside the pair of detection coil groups in the axial direction along the first central axis and centered on the first central axis;
Each of the pair of detection coil groups is
a plurality of detection coils arranged at predetermined intervals in a circumferential direction about the first central axis and centered on a plurality of second central axes parallel to the first central axis; characterized by

また、上記渦電流探傷用プローブは、
前記一対の励磁兼検出コイル及び前記一対の検出コイル群が巻回された第１の磁性体コア群をさらに備え、
前記第１の磁性体コア群は、
前記複数の第２の中心軸に沿ってそれぞれ配置されて、前記複数の検出コイルと同数の複数の第１の磁性体コアにより構成されており、
前記一対の励磁兼検出コイルの各々は、
前記複数の第１の磁性体コアに外接すように巻回されており、
前記一対の検出コイル群の各々を構成する前記複数の検出コイルの各々は、
前記複数の第１の磁性体コアにそれぞれ巻回されている、ことを特徴する。 In addition, the probe for eddy current flaw detection,
Further comprising a first magnetic core group around which the pair of excitation and detection coils and the pair of detection coil groups are wound,
The first magnetic core group is
It is arranged along each of the plurality of second central axes and is composed of a plurality of first magnetic cores that are the same in number as the plurality of detection coils,
Each of the pair of excitation and detection coils:
It is wound so as to circumscribe the plurality of first magnetic cores,
Each of the plurality of detection coils constituting each of the pair of detection coil groups,
It is characterized in that it is wound around each of the plurality of first magnetic cores.

また、上記渦電流探傷用プローブにおいて、
前記複数の第１の磁性体コアの各々は、
周方向に４つの周溝を有するとともに、軸方向が前記複数の第２の中心軸に沿ってそれぞれ配置された棒状部材により構成されており、
前記一対の励磁兼検出コイルの各々は、
前記４つの周溝のうち前記軸方向内側の一対の内側周溝に外接すように巻回されており、
前記一対の検出コイル群の各々を構成する前記複数の検出コイルの各々は、
前記４つの周溝のうち前記軸方向外側の一対の外側周溝にそれぞれ巻回されている、ことを特徴する。 In addition, in the eddy current flaw detection probe,
Each of the plurality of first magnetic cores,
It is composed of a rod-shaped member having four circumferential grooves in the circumferential direction and axially arranged along the plurality of second central axes,
Each of the pair of excitation and detection coils:
wound so as to circumscribe a pair of inner circumferential grooves on the inner side in the axial direction of the four circumferential grooves,
Each of the plurality of detection coils constituting each of the pair of detection coil groups,
It is characterized in that each of the four circumferential grooves is wound around a pair of outer circumferential grooves on the outer side in the axial direction.

また、上記渦電流探傷用プローブは、
前記励磁コイルとして、前記第１の中心軸に沿って前記一対の検出コイル群の前記軸方向外側にそれぞれ配置された一対の励磁コイルを備える、ことを特徴する。 In addition, the probe for eddy current flaw detection,
A pair of excitation coils are provided as the excitation coils, the excitation coils being arranged axially outside the pair of detection coil groups along the first central axis.

また、上記渦電流探傷用プローブは、
前記一対の励磁コイルがそれぞれ巻回された一対の第２の磁性体コアをさらに備える、ことを特徴する。 In addition, the probe for eddy current flaw detection,
It is characterized by further comprising a pair of second magnetic cores around which the pair of excitation coils are respectively wound.

また、本発明の一実施形態に係る渦電流探傷装置は、
上記渦電流探傷用プローブと、
前記渦電流探傷用プローブにより検出された検出信号を処理する処理装置とを備える、ことを特徴する。 Further, the eddy current flaw detector according to one embodiment of the present invention is
the eddy current flaw detection probe;
and a processing device for processing a detection signal detected by the eddy current flaw detection probe.

本発明の一実施形態に係る渦電流探傷用プローブ及び渦電流探傷装置によれば、直接磁場を利用した第１の渦電流探傷系が、第１の中心軸に平行な軸方向に並列して配置された一対の励磁兼検出コイルを備え、間接磁場を利用した第２の渦電流探傷系が、一対の励磁兼検出コイルの軸方向外側にそれぞれ配置された一対の検出コイル群を備えるので、第１の渦電流探傷系及び第２の渦電流探傷系により配管の同一の場所に対してＥＣＴ及びＲＦ－ＥＣＴを同時に行うことで、配管の内面及び外面に存在する微小欠陥の検出や欠陥形状の評価を的確に行うことができる。 According to the eddy current flaw detection probe and eddy current flaw detection apparatus according to one embodiment of the present invention, the first eddy current flaw detection system using a direct magnetic field is arranged in parallel in the axial direction parallel to the first central axis. Since the second eddy current flaw detection system that includes a pair of arranged excitation and detection coils and utilizes an indirect magnetic field includes a pair of detection coil groups that are arranged axially outside the pair of excitation and detection coils, By simultaneously performing ECT and RF-ECT on the same place of the pipe with the first eddy current flaw detection system and the second eddy current flaw detection system, it is possible to detect minute defects existing on the inner and outer surfaces of the pipe and detect the shape of the defect. can be accurately evaluated.

また、一対の検出コイル群の各々は、第１の中心軸を中心として周方向に所定の間隔で配置された複数の検出コイルにより構成されているので、配管の周方向に対する欠陥検出分解能を向上させることができ、配管Ｐの内面及び外面に存在する微小欠陥の検出や欠陥形状の評価を的確に行うことができる。 In addition, since each of the pair of detection coil groups is composed of a plurality of detection coils arranged at predetermined intervals in the circumferential direction around the first central axis, defect detection resolution in the circumferential direction of the pipe is improved. Therefore, it is possible to accurately detect minute defects existing on the inner and outer surfaces of the pipe P and evaluate the shape of the defect.

本発明の実施形態に係る渦電流探傷装置１００の全体構成の一例を示す模式図である。1 is a schematic diagram showing an example of the overall configuration of an eddy current flaw detector 100 according to an embodiment of the present invention; FIG. 本発明の実施形態に係るプローブ１の一例を示し、（ａ）はプローブ１が配管Ｐに挿入されていない状態、（ｂ）はプローブ１が配管Ｐに挿入された状態を示す模式図である。An example of the probe 1 according to the embodiment of the present invention is shown, (a) is a schematic diagram showing a state in which the probe 1 is not inserted into the pipe P, and (b) is a schematic diagram showing a state in which the probe 1 is inserted into the pipe P. . 本発明の実施形態に係るプローブ１の内部構造を示す斜視図である。1 is a perspective view showing an internal structure of a probe 1 according to an embodiment of the invention; FIG. 本発明の実施形態に係るプローブ１の内部構造を示し、（ａ）はＡ－Ａ線断面図、（ｂ）はＢ－Ｂ線断面図である。1 shows the internal structure of a probe 1 according to an embodiment of the present invention, where (a) is a sectional view taken along the line AA and (b) is a sectional view taken along the line BB. 本発明の実施形態に係る第１の磁性体コア５０の一例を示し、（ａ）は斜視図、（ｂ）は正面図である。An example of the 1st magnetic body core 50 which concerns on embodiment of this invention is shown, (a) is a perspective view, (b) is a front view. 本発明の実施形態に係るプローブ１及び処理装置１１の接続状態を示すブロック図である。2 is a block diagram showing a connection state of the probe 1 and processing device 11 according to the embodiment of the present invention; FIG. 本発明の実施形態に係る処理装置１１を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a processing device 11 according to an embodiment of the invention; FIG. 本発明の実施形態に係る渦電流探傷装置１００により配管支持構造物Ｓで支持された配管Ｐに対して渦電流探傷試験を行った検出結果（Ｘ信号及びＹ信号）を示し、（ａ）は、欠陥がない配管Ｐに対する第１の渦電流探傷系３による検出結果、（ｂ）は、欠陥がある配管Ｐに対する第１の渦電流探傷系３による検出結果、（ｃ）は、欠陥がない配管Ｐに対する第２の渦電流探傷系４による検出結果、（ｄ）は、欠陥がある配管Ｐに対する第２の渦電流探傷系４による検出結果を示す図である。Shows the detection results (X signal and Y signal) of the eddy current testing performed on the pipe P supported by the pipe support structure S by the eddy current testing device 100 according to the embodiment of the present invention, (a) , the detection result by the first eddy current flaw detection system 3 for the pipe P with no defect, (b) is the detection result by the first eddy current flaw detection system 3 for the pipe P with the defect, (c) is no defect FIG. 3D is a diagram showing detection results of the second eddy current flaw detection system 4 for the pipe P, and (d) showing detection results of the second eddy current flaw detection system 4 for the pipe P with defects.

以下、本発明の一実施形態について添付図面を参照しつつ説明する。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

図１は、本発明の実施形態に係る渦電流探傷装置１００の全体構成の一例を示す模式図である。渦電流探傷装置１００は、被検体である配管Ｐ内に挿入可能な渦電流探傷用プローブ（以下、「プローブ」という）１と、プローブ１にケーブル１２を介して接続された処理装置１１とを備える。 FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of the overall configuration of an eddy current flaw detector 100 according to an embodiment of the present invention. The eddy current flaw detection apparatus 100 includes an eddy current flaw detection probe (hereinafter referred to as "probe") 1 that can be inserted into a pipe P, which is an object, and a processing device 11 that is connected to the probe 1 via a cable 12. Prepare.

配管Ｐは、例えば、磁性材料で形成されており、原子力プラントの各種熱交換器の伝熱管や、石油プラント、化学プラント等の各種プラントの小口径配管として用いられる。配管Ｐは、例えば、二重伝熱管であり、その外径Ｒ１が、１９．０ｍｍ程度、その内径Ｒ２が、１２．８ｍｍ程度、管肉厚が、３．１ｍｍ程度である。また、配管Ｐは、所定の間隔で配管支持構造物Ｓにより支持されている。 The pipe P is made of, for example, a magnetic material, and is used as a heat transfer pipe for various heat exchangers in a nuclear power plant, or as a small-diameter pipe in various plants such as a petroleum plant and a chemical plant. The pipe P is, for example, a double heat transfer pipe having an outer diameter R1 of about 19.0 mm, an inner diameter R2 of about 12.8 mm, and a pipe thickness of about 3.1 mm. Further, the pipes P are supported by pipe support structures S at predetermined intervals.

プローブ１は、配管Ｐの内径Ｒ２よりも小径の円筒状に形成された本体２を備え、配管Ｐ内に挿入されたとき、本体２の第１の中心軸Ｏ１が、配管Ｐの配管中心軸ＯＰと同軸に配置される。また、プローブ１は、本体２の第１の中心軸Ｏ１に沿って、直接磁場を利用した自己比較方式の第１の渦電流探傷系３と、間接磁場を利用した自己比較方式の第２の渦電流探傷系４とを備える。 The probe 1 includes a main body 2 formed in a cylindrical shape with a smaller diameter than the inner diameter R2 of the pipe P, and when inserted into the pipe P, the first central axis O1 of the main body 2 is aligned with the pipe central axis of the pipe P. It is arranged coaxially with OP. In addition, the probe 1 includes, along the first central axis O1 of the main body 2, a first self-comparison eddy current inspection system 3 using a direct magnetic field and a second self-comparison inspection system 3 using an indirect magnetic field. and an eddy current flaw detection system 4 .

処理装置１１は、プローブ１により検出された検出信号を処理する装置である。具体的には、処理装置１１は、第１の渦電流探傷系３に励磁電流を出力する第１の励磁出力部１１０と、第２の渦電流探傷系４に励磁電流を出力する第２の励磁出力部１１１と、第１の渦電流探傷系３により検出された信号を入力する第１の検出入力部１１２と、第２の渦電流探傷系４により検出された信号を入力する第２の検出入力部１１３と、第１の検出入力部１１２及び第２の検出入力部１１３に入力された信号を処理する信号解析部１１４と、信号解析部１１４により処理された処理結果を各種表示形式で表示する表示部１１５とを備える。なお、処理装置１１は、第１の検出入力部１１２及び第２の検出入力部１１３に入力された信号、並びに、信号解析部１１４により処理された処理結果を記憶する記憶部を備えていてもよい。 The processing device 11 is a device that processes detection signals detected by the probe 1 . Specifically, the processing device 11 includes a first excitation output section 110 that outputs an excitation current to the first eddy current flaw detection system 3 and a second excitation output section 110 that outputs an excitation current to the second eddy current flaw detection system 4. An excitation output unit 111, a first detection input unit 112 for inputting the signal detected by the first eddy current flaw detection system 3, and a second detection input unit 112 for inputting the signal detected by the second eddy current flaw detection system 4. The detection input unit 113, the signal analysis unit 114 that processes the signals input to the first detection input unit 112 and the second detection input unit 113, and the processing results processed by the signal analysis unit 114 are displayed in various display formats. and a display unit 115 for displaying. Note that the processing device 11 may include a storage unit that stores the signals input to the first detection input unit 112 and the second detection input unit 113 and the processing results processed by the signal analysis unit 114. good.

図２は、本発明の実施形態に係るプローブ１の一例を示し、（ａ）はプローブ１が配管Ｐに挿入されていない状態、（ｂ）はプローブ１が配管Ｐに挿入された状態を示す模式図である。図３は、本発明の実施形態に係るプローブ１の内部構造を示す斜視図である。図４は、本発明の実施形態に係るプローブ１の内部構造を示し、（ａ）はＡ－Ａ線断面図、（ｂ）はＢ－Ｂ線断面図である。 FIG. 2 shows an example of the probe 1 according to the embodiment of the present invention, (a) shows a state where the probe 1 is not inserted into the pipe P, and (b) shows a state where the probe 1 is inserted into the pipe P. It is a schematic diagram. FIG. 3 is a perspective view showing the internal structure of the probe 1 according to the embodiment of the invention. FIG. 4 shows the internal structure of the probe 1 according to the embodiment of the present invention, where (a) is a sectional view taken along line AA and (b) is a sectional view taken along line BB.

プローブ１は、上記したように、本体２と、第１の渦電流探傷系３と、第２の渦電流探傷系４とを備える。 The probe 1 includes the main body 2, the first eddy current flaw detection system 3, and the second eddy current flaw detection system 4, as described above.

第１の渦電流探傷系３は、第１の励磁兼検出コイル３０Ａ及び第２の励磁兼検出コイル３０Ｂからなる一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂを備える。 The first eddy current flaw detection system 3 includes a pair of excitation/detection coils 30A and 30B consisting of a first excitation/detection coil 30A and a second excitation/detection coil 30B.

一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂは、図２（ａ）、図３に示すように、第１の中心軸Ｏ１に沿って第１の中心軸Ｏ１に平行な軸方向に並列して配置されている。また、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂは、所謂、ボビンコイル型と呼ばれるものであり、図４（ａ）に示すように、第１の中心軸Ｏ１をコイルの中心として、巻線が巻回されている。 As shown in FIGS. 2A and 3, the pair of excitation/detection coils 30A and 30B are arranged side by side along the first central axis O1 in the axial direction parallel to the first central axis O1. ing. The pair of excitation/detection coils 30A and 30B is of a so-called bobbin coil type, and as shown in FIG. It is

一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂは、ケーブル１２を介して第１の励磁出力部１１０に接続されているとともに、差動結線により第１の検出入力部１１２に接続されている。一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂの外周は、例えば、絶縁性シート等により被覆されて保護されている。 The pair of excitation/detection coils 30A and 30B are connected to the first excitation output section 110 via the cable 12 and to the first detection input section 112 by differential connection. The outer peripheries of the pair of excitation/detection coils 30A and 30B are covered and protected by, for example, an insulating sheet or the like.

第１の渦電流探傷系３では、第１の励磁出力部１１０から一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂに所定の周波数（例えば、１０ｋＨｚ～１０００ｋＨｚ程度）の交流電流が励磁電流として供給されることにより、図２（ｂ）に示すように、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂは、配管Ｐの内面領域に流れる磁束３００の流路（直接磁場）を形成する。そして、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂは、磁束３００により配管Ｐ内に発生する渦電流の変化（欠陥が存在する場合には、渦電流の流れが乱れる）を検出することにより、直接磁場を利用した渦電流探傷試験（ＥＣＴ）を行う。 In the first eddy current flaw detection system 3, an alternating current having a predetermined frequency (for example, about 10 kHz to 1000 kHz) is supplied as an exciting current from the first excitation output unit 110 to the pair of excitation and detection coils 30A and 30B. As a result, the pair of excitation/detection coils 30A and 30B form a flow path (direct magnetic field) for the magnetic flux 300 flowing in the inner surface area of the pipe P, as shown in FIG. 2(b). The pair of excitation/detection coils 30A and 30B detects changes in the eddy current generated in the pipe P by the magnetic flux 300 (the flow of the eddy current is disturbed if there is a defect), thereby generating a direct magnetic field. Conduct eddy current testing (ECT) using

第２の渦電流探傷系４は、第１の励磁コイル４０Ａ及び第２の励磁コイル４０Ｂからなる一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂと、第１の検出コイル群４１Ａ及び第２の検出コイル群４１Ｂからなる一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂとを備える。 The second eddy current flaw detection system 4 includes a pair of excitation coils 40A and 40B consisting of a first excitation coil 40A and a second excitation coil 40B, and a first detection coil group 41A and a second detection coil group 41B. and a pair of detection coil groups 41A and 41B.

一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂは、図２（ａ）、図３に示すように、第１の中心軸Ｏ１に沿って一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂの軸方向外側にそれぞれ配置されている。一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂは、図２（ａ）、図３に示すように、第１の中心軸Ｏ１に沿って一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの軸方向外側にそれぞれ配置されて、第１の中心軸Ｏ１をコイルの中心として、巻線が巻回されている。 As shown in FIGS. 2A and 3, the pair of detection coil groups 41A and 41B are arranged axially outside the pair of excitation/detection coils 30A and 30B along the first central axis O1. there is As shown in FIGS. 2A and 3, the pair of excitation coils 40A and 40B are arranged axially outside the pair of detection coil groups 41A and 41B along the first central axis O1. The winding is wound with the central axis O1 of 1 as the center of the coil.

一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂは、所謂、マルチコイル型と呼ばれるものである。すなわち、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの各々は、図４（ｂ）に示すように、第１の中心軸Ｏ１を中心とする所定の半径Ｒ３の円周上に対して周方向に所定の間隔でそれぞれ配置された複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂにより構成されている。そして、複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂの各々は、第１の中心軸Ｏ１に平行な複数の第２の中心軸Ｏ２をコイルの中心として、巻線が巻回されている。 The pair of detection coil groups 41A and 41B are of a so-called multi-coil type. That is, as shown in FIG. 4(b), each of the pair of detection coil groups 41A and 41B extends in the circumferential direction with respect to a circle having a predetermined radius R3 centered on the first central axis O1. It is composed of a plurality of detection coils 410A and 410B arranged at intervals. Each of the plurality of detection coils 410A and 410B is wound around a plurality of second central axes O2 parallel to the first central axis O1.

なお、本実施形態では、第１の検出コイル群４１Ａを構成する複数の検出コイル４１０Ａの個数は１２個、第２の検出コイル群４１Ｂを構成する複数の検出コイル４１０Ｂの個数は１２個であるものとして説明するが、検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂの個数は、８個でもよいし、９個でもよいし、これら以外の個数でもよい。 In this embodiment, the number of detection coils 410A constituting the first detection coil group 41A is 12, and the number of detection coils 410B constituting the second detection coil group 41B is 12. However, the number of detection coils 410A and 410B may be eight, nine, or any other number.

一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂは、ケーブル１２を介して第２の励磁出力部１１１に接続されている。一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂは、ケーブル１２を介して差動結線により第２の検出入力部１１３に接続されている。一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂ及び一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの外周は、例えば、絶縁性シート等により被覆されて保護されている。 A pair of excitation coils 40A and 40B are connected to the second excitation output section 111 via the cable 12 . A pair of detection coil groups 41A and 41B are connected to the second detection input section 113 via a cable 12 by differential connection. The outer peripheries of the pair of excitation coils 40A and 40B and the pair of detection coil groups 41A and 41B are covered and protected by, for example, an insulating sheet or the like.

第２の渦電流探傷系４では、第２の励磁出力部１１１から一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂに所定の周波数（例えば、１００Ｈｚ～１０００Ｈｚ程度）の交流電流が励磁電流として供給されることにより、図２（ｂ）に示すように、一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂは、配管Ｐを貫通して配管Ｐの外側に沿って流れた後に一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂが配置された位置で配管Ｐ内に流れ込む磁束４００の流路（間接磁場）を形成する。そして、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂは、磁束４００により配管Ｐ内に発生する渦電流の変化（欠陥が存在する場合には、渦電流の流れが乱れる）を検出することにより、間接磁場を利用した渦電流探傷試験（ＲＦ－ＥＣＴ）を行う。 In the second eddy current flaw detection system 4, an alternating current having a predetermined frequency (for example, about 100 Hz to 1000 Hz) is supplied as an exciting current from the second excitation output unit 111 to the pair of exciting coils 40A and 40B. As shown in FIG. 2(b), the pair of excitation coils 40A and 40B pass through the pipe P and flow along the outside of the pipe P, and then the pair of detection coil groups 41A and 41B are arranged in the pipe. A flow path (indirect magnetic field) for the magnetic flux 400 flowing into P is formed. The pair of detection coil groups 41A and 41B detect changes in the eddy current generated in the pipe P by the magnetic flux 400 (the flow of the eddy current is disturbed if there is a defect) to generate an indirect magnetic field. Conduct eddy current testing (RF-ECT) applied.

したがって、プローブ１は、第１の渦電流探傷系３と、第２の渦電流探傷系４とを併用し、配管Ｐの同一の場所に対してＥＣＴ及びＲＦ－ＥＣＴを同時に行うことにより配管Ｐの内面及び外面に対する探傷試験を行う。 Therefore, the probe 1 uses both the first eddy current flaw detection system 3 and the second eddy current flaw detection system 4 to simultaneously perform ECT and RF-ECT on the same location of the pipe P. Conduct flaw detection tests on the inner and outer surfaces of

本体２は、図２（ａ）に示すように、本体２の軸方向外側端部に取り付けられたガイド部２０Ａ、２０Ｂと、第１の励磁コイル４０Ａ及び第１の検出コイル群４１Ａの間を連結する第１の連結部２１Ａと、第２の励磁コイル４０Ｂ及び第２の検出コイル群４１Ｂの間を連結する第２の連結部２１Ｂと、ケーブル１２を挿通可能な筒状部２２とを備える。 As shown in FIG. 2(a), the main body 2 has guide portions 20A and 20B attached to the axially outer end of the main body 2, and the first excitation coil 40A and the first detection coil group 41A. A first connecting portion 21A that connects, a second connecting portion 21B that connects between the second excitation coil 40B and the second detection coil group 41B, and a tubular portion 22 through which the cable 12 can be inserted. .

ガイド部２０Ａ、２０Ｂは、配管Ｐの直径Ｒ２よりも大径であって、弾性を有する材料で形成されている。ガイド部２０Ａ、２０Ｂは、配管Ｐ内に挿入されたときに小径に弾性変形することにより、図２（ｂ）に示すように、本体２の第１の中心軸Ｏ１が、配管Ｐの配管中心軸ＯＰと同軸に配置される。 The guide portions 20A and 20B have a diameter larger than the diameter R2 of the pipe P and are made of an elastic material. When the guide portions 20A and 20B are inserted into the pipe P, the guide portions 20A and 20B are elastically deformed so that the first central axis O1 of the main body 2 is aligned with the pipe center of the pipe P as shown in FIG. 2(b). It is arranged coaxially with the axis OP.

第１の連結部２１Ａ及び第２の連結部２１Ｂは、ケーブル１２を挿通可能な円筒状であって、例えば、樹脂材料等で形成されている。筒状部２２は、第１の連結部２１Ａ及び第２の連結部２１Ｂに取り付けられることで、第１の中心軸Ｏ１に沿って配置されている。また、筒状部２２は、図４（ａ），（ｂ）に示すように、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂ及び一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの内側に配置されている。 The first connecting portion 21A and the second connecting portion 21B have a cylindrical shape through which the cable 12 can be inserted, and are made of, for example, a resin material. The cylindrical portion 22 is arranged along the first central axis O1 by being attached to the first connecting portion 21A and the second connecting portion 21B. 4A and 4B, the tubular portion 22 is arranged inside the pair of excitation and detection coils 30A and 30B and the pair of detection coil groups 41A and 41B.

また、プローブ１は、図２（ａ）、図３に示すように、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂ及び一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂが巻回された第１の磁性体コア群５と、一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂがそれぞれ巻回された一対の第２の磁性体コア６Ａ、６Ｂとをさらに備える。 2A and 3, the probe 1 includes a first magnetic core group 5 around which a pair of excitation and detection coils 30A and 30B and a pair of detection coil groups 41A and 41B are wound. and a pair of second magnetic cores 6A, 6B around which a pair of excitation coils 40A, 40B are respectively wound.

第１の磁性体コア群５及び一対の第２の磁性体コア６Ａ、６Ｂは、例えば、フェライト、パーマロイ、ケイ素鋼板等の透磁率が高い磁性材料で形成されている。本実施形態では、フェライトで形成されているものとして説明する。 The first magnetic core group 5 and the pair of second magnetic cores 6A and 6B are made of a magnetic material having high magnetic permeability, such as ferrite, permalloy, or silicon steel plate. In the present embodiment, it is assumed that it is made of ferrite.

第１の磁性体コア群５は、図４（ａ）、（ｂ）に示すように、複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂと同数（本実施形態では、１２個）の複数の第１の磁性体コア５０により構成されている。複数の第１の磁性体コア５０の各々は、第１の中心軸Ｏ１を中心とする所定の半径Ｒ３の円周上に対して周方向に所定の間隔で配置されており、本実施形態では、第１の中心軸Ｏ１を中心とする円周上において、隣接する第１の磁性体コア５０と第１の中心軸Ｏ１との間のなす角度が３０度となるように配置されている。 As shown in FIGS. 4A and 4B, the first magnetic core group 5 includes a plurality of first magnetic bodies, the same number (12 in this embodiment) as the plurality of detection coils 410A and 410B. It is composed of a core 50 . Each of the plurality of first magnetic cores 50 is arranged at predetermined intervals in the circumferential direction on a circle having a predetermined radius R3 centered on the first central axis O1. , on the circumference centered on the first central axis O1, the adjacent first magnetic cores 50 and the first central axis O1 form an angle of 30 degrees.

一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂの各々は、図４（ａ）に示すように、複数の第１の磁性体コア５０に外接すように巻回されている。一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの各々を構成する複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂの各々は、図４（ｂ）に示すように、複数の第１の磁性体コア５０にそれぞれ巻回されている。 Each of the pair of excitation/detection coils 30A and 30B is wound so as to circumscribe the plurality of first magnetic cores 50, as shown in FIG. 4(a). Each of the plurality of detection coils 410A and 410B constituting each of the pair of detection coil groups 41A and 41B is wound around the plurality of first magnetic cores 50 as shown in FIG. 4(b). .

一対の第２の磁性体コア６Ａ、６Ｂの各々は、図３に示すように、ケーブル１２を挿通可能な円筒状に形成されており、第１の中心軸Ｏ１に沿って配置されている。 As shown in FIG. 3, each of the pair of second magnetic cores 6A, 6B is formed in a cylindrical shape through which the cable 12 can be inserted, and is arranged along the first central axis O1.

図５は、本発明の実施形態に係る第１の磁性体コア５０の一例を示し、（ａ）は斜視図、（ｂ）は正面図である。複数の第１の磁性体コア５０の各々は、例えば、断面が円形状の棒状部材５００により構成されている。複数の棒状部材５００の各々は、棒状部材５００の周方向に対して全周に亘って形成された４つの周溝５０１Ａ、５０１Ｂ、５０２Ａ、５０２Ｂを有する。なお、棒状部材５００は、周溝５０１Ａ、５０１Ｂ、５０２Ａ、５０２Ｂの軸方向外側に対して鍔状に形成された鍔状部（巻線を巻くためのボビンケースとして機能する）を備えていてもよい。 FIG. 5 shows an example of the first magnetic core 50 according to the embodiment of the present invention, where (a) is a perspective view and (b) is a front view. Each of the plurality of first magnetic cores 50 is composed of, for example, a bar member 500 having a circular cross section. Each of the plurality of rod-shaped members 500 has four circumferential grooves 501A, 501B, 502A, 502B formed along the entire circumference of the rod-shaped member 500 in the circumferential direction. The rod-shaped member 500 may be provided with a brim-shaped portion (which functions as a bobbin case for winding windings) formed in a brim-like shape toward the outer side of the circumferential grooves 501A, 501B, 502A, and 502B in the axial direction. good.

また、複数の棒状部材５００の各々は、その軸方向両端部が、例えば、第１の連結部２１Ａ及び第２の連結部２１Ｂに取り付けられることで、棒状部材５００の軸方向が複数の第２の中心軸Ｏ２に沿ってそれぞれ配置されている。 Further, each of the plurality of rod-shaped members 500 is attached to, for example, the first connecting portion 21A and the second connecting portion 21B at both ends in the axial direction, so that the axial direction of the rod-shaped member 500 extends to the plurality of second connecting portions. are arranged along the central axis O2 of the .

一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂの各々は、４つの周溝５０１Ａ、５０１Ｂ、５０２Ａ、５０２Ｂのうち軸方向内側の一対の内側周溝５０１Ａ、５０１Ｂに外接するように巻回されている。 Each of the pair of excitation/detection coils 30A, 30B is wound so as to circumscribe a pair of inner circumferential grooves 501A, 501B on the inner side of the four circumferential grooves 501A, 501B, 502A, 502B.

一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの各々を構成する複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂの各々は、４つの周溝５０１Ａ、５０１Ｂ、５０２Ａ、５０２Ｂのうち軸方向外側の一対の外側周溝５０２Ａ、５０２Ｂにそれぞれ巻回されている。 Each of the plurality of detection coils 410A and 410B constituting each of the pair of detection coil groups 41A and 41B is formed in a pair of outer circumferential grooves 502A and 502B on the outer side in the axial direction among the four circumferential grooves 501A, 501B, 502A and 502B. Each is wound.

ここで、プローブ１Ａの外形、特に軸方向の長さについて、図２（ａ）、図５（ｂ）を参照しつつ説明する。まず、図２（ａ）に示すように、励磁コイル４０Ａ、４０Ｂのコイル長さＬ２は、例えば、３０ｍｍ～１００ｍｍ程度であり、コイル直径は、配管Ｐの内径Ｒ２よりも小さく、例えば、６ｍｍ～１０ｍｍ程度である。第２の磁性体コア６Ａ、６Ｂは、励磁コイル４０Ａ、４０Ｂの軸方向両側に対して第２のコア長さＬ１、Ｌ３だけ長く配置されており、第２の磁性体コア６Ａ、６Ｂの第２のコア長さＬ１、Ｌ３は、例えば、１ｍｍ～５ｍｍ程度である。第１の連結部２１Ａ及び第２の連結部２１Ｂの長さ、すなわち、第１の磁性体コア群５と第２の磁性体コア６Ａ、６Ｂとの間のコア間長さＬ４は、例えば、２０ｍｍ～５０ｍｍ程度である。 Here, the outer shape of the probe 1A, particularly the length in the axial direction, will be described with reference to FIGS. 2(a) and 5(b). First, as shown in FIG. 2A, the coil length L2 of the excitation coils 40A and 40B is, for example, about 30 mm to 100 mm, and the coil diameter is smaller than the inner diameter R2 of the pipe P, for example, 6 mm to 100 mm. It is about 10 mm. The second magnetic cores 6A, 6B are arranged to be longer than the excitation coils 40A, 40B in the axial direction by the second core lengths L1, L3. 2 core lengths L1 and L3 are, for example, about 1 mm to 5 mm. The length of the first connecting portion 21A and the second connecting portion 21B, that is, the core-to-core length L4 between the first magnetic core group 5 and the second magnetic cores 6A and 6B is, for example, It is about 20 mm to 50 mm.

図５（ｂ）に示すように、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂを構成する検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂのコイル長さＬ６は、０．５ｍｍ～３ｍｍ程度であり、コイル直径は、例えば、１ｍｍ～２ｍｍ程度である。励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂのコイル長さＬ８は、０．５ｍｍ～３ｍｍ程度であり、コイル直径は、例えば、配管Ｐの内径Ｒ２よりも小さく、例えば、６ｍｍ～１０ｍｍ程度である。 As shown in FIG. 5B, the coil length L6 of the detection coils 410A and 410B constituting the pair of detection coil groups 41A and 41B is approximately 0.5 mm to 3 mm, and the coil diameter is, for example, 1 mm to 1 mm. It is about 2 mm. The coil length L8 of the excitation/detection coils 30A and 30B is approximately 0.5 mm to 3 mm, and the coil diameter is smaller than the inner diameter R2 of the pipe P, for example, approximately 6 mm to 10 mm.

第１の検出コイル群４１Ａを構成する検出コイル４１０Ａと第１の励磁兼検出コイル３０Ａとの間のコイル間長さＬ７、及び、第２の検出コイル群４１Ｂを構成する検出コイル４１０Ｂと第２の励磁兼検出コイル３０Ｂとの間のコイル間長さＬ７は、例えば、０．５ｍｍ～３ｍｍ程度である。第１の励磁兼検出コイル３０Ａと第２の励磁兼検出コイル３０Ｂとの間のコイル間長さＬ９は、例えば、０．５ｍｍ～３ｍｍ程度である。 A coil-to-coil length L7 between the detection coil 410A forming the first detection coil group 41A and the first excitation/detection coil 30A, and a length L7 between the detection coil 410B forming the second detection coil group 41B and the second detection coil 410B. A coil-to-coil length L7 with the excitation/detection coil 30B is, for example, about 0.5 mm to 3 mm. A coil-to-coil length L9 between the first excitation/detection coil 30A and the second excitation/detection coil 30B is, for example, about 0.5 mm to 3 mm.

第１の磁性体コア群５を構成する第１の磁性体コア５０は、検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂの軸方向外側に第１のコア長さＬ５だけ長く配置されており、第１の磁性体コア５０の第１のコア長さＬ５は、例えば、１ｍｍ～１０ｍｍ程度である。したがって、棒状部材５００において、一対の外側周溝５０２Ａ、５０２Ｂは、軸方向両端部５０３Ａ、５０３Ｂから第１のコア長さＬ５だけ軸方向内側の位置にそれぞれ形成されている。 The first magnetic core 50 constituting the first magnetic core group 5 is arranged axially outside the detection coils 410A and 410B longer by a first core length L5. The fifty first core length L5 is, for example, on the order of 1 mm to 10 mm. Therefore, in the rod-like member 500, the pair of outer peripheral grooves 502A and 502B are formed at axially inner positions from the axial ends 503A and 503B by the first core length L5.

図６は、本発明の実施形態に係るプローブ１及び処理装置１１の接続状態を示すブロック図である。 FIG. 6 is a block diagram showing the connection state of the probe 1 and the processing device 11 according to the embodiment of the present invention.

第１の渦電流探傷系３において、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂは、芯線１２０ａ及びシールド線１２０ｂを介して第１の励磁出力部１１０に接続されるとともに、芯線１２２ａ及びシールド線１２２ｂを介して差動結線により第１の検出入力部１１２に接続される。 In the first eddy current flaw detection system 3, the pair of excitation/detection coils 30A and 30B are connected to the first excitation output section 110 via the core wire 120a and the shield wire 120b, and the core wire 122a and the shield wire 122b are connected to the first excitation output section 110. It is connected to the first detection input section 112 by a differential connection through.

第１の励磁出力部１１０は、励磁電流を一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂに出力すると、この励磁電流が一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂを流れることにより直接磁場を生成する。この直接磁場による電磁誘導作用によって配管Ｐ内に渦電流が発生し、この渦電流により発生する磁束が、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂに電圧を誘起することにより検出電流を発生する。この検出電流が、第１の検出信号として第１の検出入力部１１２に入力される。なお、配管Ｐに欠陥が存在する場合には、第１の検出信号に乱れ（欠陥による渦電流の乱れ）が発生する。 When the first excitation output unit 110 outputs an excitation current to the pair of excitation/detection coils 30A and 30B, the excitation current flows through the pair of excitation/detection coils 30A and 30B to directly generate a magnetic field. An eddy current is generated in the pipe P by the electromagnetic induction effect of this direct magnetic field, and the magnetic flux generated by this eddy current induces a voltage in the pair of excitation/detection coils 30A and 30B, thereby generating a detection current. This detected current is input to the first detection input section 112 as a first detection signal. If there is a defect in the pipe P, the first detection signal is disturbed (eddy current disturbance due to the defect).

第２の渦電流探傷系４において、一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂは、芯線１２１ａ及びシールド線１２１ｂを介して第２の励磁出力部１１１に接続される。また、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂは、芯線１２３ａ及びシールド線１２３ｂを介して差動結線により第２の検出入力部１１３に接続される。 In the second eddy current flaw detection system 4, the pair of excitation coils 40A and 40B are connected to the second excitation output section 111 via a core wire 121a and a shield wire 121b. Also, the pair of detection coil groups 41A and 41B are connected to the second detection input section 113 by differential connection via core wires 123a and shield wires 123b.

第２の励磁出力部１１１は、励磁電流を一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂに出力すると、この励磁電流が一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂを流れることにより生成された間接磁場を生成する。この間接磁場による電磁誘導作用によって配管Ｐ内に渦電流が発生し、この渦電流により発生する磁束が、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂに電圧を誘起することにより検出電流を発生する。この検出電流が、第２の検出信号として第２の検出入力部１１３に入力される。配管Ｐに欠陥が存在する場合には、第２の検出信号に乱れ（欠陥による渦電流の乱れ）が発生する。 When the second excitation output section 111 outputs an excitation current to the pair of excitation coils 40A and 40B, the excitation current flows through the pair of excitation coils 40A and 40B to generate an indirect magnetic field. An eddy current is generated in the pipe P by the electromagnetic induction effect of this indirect magnetic field, and the magnetic flux generated by this eddy current induces a voltage in the pair of detection coil groups 41A and 41B, thereby generating a detection current. This detected current is input to the second detection input section 113 as a second detection signal. If there is a defect in the pipe P, disturbance (disturbance of eddy current due to the defect) occurs in the second detection signal.

なお、芯線１２０ａ～１２３ａ及びシールド線１２０ｂ～１２３ｂは、ケーブル１２を構成する。また、図６では図示していないが、第２の検出入力部１１３は、合計２４個の入力チャンネル（１個の入力チャンネルは、芯線４２ｂ及びシールド線４３ｂが接続可能な１組の入力端子で構成される）を備え、各入力チャンネルには、第１の検出コイル群４１Ａを構成する１２個の検出コイル４１０Ａと、第２の検出コイル群４１Ｂを構成する１２個の検出コイル４１０Ｂとが独立に接続されて、合計２４個の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂの各々から検出信号が独立して入力される。 The core wires 120a to 123a and the shield wires 120b to 123b constitute the cable 12. As shown in FIG. Although not shown in FIG. 6, the second detection input unit 113 has a total of 24 input channels (one input channel is a set of input terminals to which the core wire 42b and the shield wire 43b can be connected). ), and each input channel has 12 detection coils 410A forming the first detection coil group 41A and 12 detection coils 410B forming the second detection coil group 41B. , and detection signals are independently input from each of a total of 24 detection coils 410A and 410B.

図７は、本発明の実施形態に係る処理装置１１を示すブロック図である。処理装置１１は、信号解析部１１４として、第１の渦電流探傷系３に対する第１の処理回路１１４０と、第２の渦電流探傷系４に対する第２の処理回路１１４１と、判定回路１１４２とを備える。 FIG. 7 is a block diagram showing processing device 11 according to an embodiment of the present invention. The processing device 11 includes, as the signal analysis unit 114, a first processing circuit 1140 for the first eddy current flaw detection system 3, a second processing circuit 1141 for the second eddy current flaw detection system 4, and a determination circuit 1142. Prepare.

第１の処理回路１１４０は、励磁信号発振器１１４０ａ、位相器１１４０ｂ、ブリッジ回路１１４０ｃ、増幅回路１１４０ｄ、位相検波回路１１４０ｅ、フィルタ１１４０ｆ、及び、ＸＹ処理回路１１４０ｇを備える。第２の処理回路１１４１は、励磁信号発振器１１４１ａ、位相器１１４１ｂ、ブリッジ回路１１４１ｃ、増幅回路１１４１ｄ、位相検波回路１１４１ｅ、フィルタ１１４１ｆ、及び、ＸＹ処理回路１１４１ｇを備える。 The first processing circuit 1140 includes an excitation signal oscillator 1140a, a phase shifter 1140b, a bridge circuit 1140c, an amplifier circuit 1140d, a phase detection circuit 1140e, a filter 1140f, and an XY processing circuit 1140g. The second processing circuit 1141 includes an excitation signal oscillator 1141a, a phase shifter 1141b, a bridge circuit 1141c, an amplifier circuit 1141d, a phase detection circuit 1141e, a filter 1141f, and an XY processing circuit 1141g.

第１の処理回路１１４０では、励磁信号発振器１１４０ａの発振出力を、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂと、位相器１１４０ｂに分配して入力する。一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂに入力された励磁信号は、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂに励磁電流を流して直接磁場を発生させる。 In the first processing circuit 1140, the oscillation output of the excitation signal oscillator 1140a is distributed and input to the pair of excitation/detection coils 30A and 30B and the phase shifter 1140b. The excitation signal input to the pair of excitation/detection coils 30A and 30B causes an excitation current to flow through the pair of excitation/detection coils 30A and 30B to directly generate a magnetic field.

位相器１１４０ｂは、励磁信号発振器１１４０ａから入力された励磁信号をシフトして位相検波用の基準信号を生成する。ブリッジ回路１１４０ｃは、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂと、可変抵抗器で構成し、可変抵抗器を変化させることで配管Ｐの系全体でバランスが取れるように調整されており、配管Ｐに欠陥が存在する場所では、ブリッジ回路１１４０ｃのバランスが崩れ、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂのインピーダンス変化に応じた電圧（第１の検出信号）が得られるように構成する。この第１の検出信号（電圧）は、非常に小さいことから、増幅回路１１４０ｄにより増幅する。 Phase shifter 1140b shifts the excitation signal input from excitation signal oscillator 1140a to generate a reference signal for phase detection. The bridge circuit 1140c is composed of a pair of excitation/detection coils 30A and 30B and a variable resistor. At a location where a defect exists, the balance of the bridge circuit 1140c is lost, and a voltage (first detection signal) corresponding to the impedance change of the pair of excitation/detection coils 30A and 30B is obtained. Since this first detection signal (voltage) is very small, it is amplified by the amplifier circuit 1140d.

位相検波回路１１４０ｅは、位相器１１４０ｂの出力信号と、増幅回路１１４０ｄの出力信号の位相を比較して検出信号として出力し、フィルタ１１４０ｆで直接磁場に基づく検出信号成分のみを抽出し、ＸＹ処理回路１１４１ｇにより検出信号の位相のずれを処理して、Ｘ信号及びＹ信号として出力する。 A phase detector circuit 1140e compares the phases of the output signal of the phase shifter 1140b and the output signal of the amplifier circuit 1140d and outputs it as a detection signal. 1141g processes the phase shift of the detection signal and outputs it as an X signal and a Y signal.

第２の処理回路１１４１では、励磁信号発振器１１４１ａの発振出力を一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂと、位相器１１４１ｂに分配して入力する。一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂに入力された励磁信号は、一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂに励磁電流を流して間接磁場を発生させる。 In the second processing circuit 1141, the oscillation output of the excitation signal oscillator 1141a is distributed and input to the pair of excitation coils 40A and 40B and the phase shifter 1141b. The excitation signal input to the pair of excitation coils 40A and 40B causes an excitation current to flow through the pair of excitation coils 40A and 40B to generate an indirect magnetic field.

位相器１１４１ｂは、励磁信号発振器１１４１ａから入力された励磁信号をシフトして位相検波用の基準信号を生成する。ブリッジ回路１１４１ｃは、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂと可変抵抗器で構成し、可変抵抗器を変化させることで配管Ｐの系全体でバランスが取れるように調整しておくことにより、配管Ｐに欠陥が存在する場所ではブリッジ回路１１４１ｃのバランスが崩れ、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂのインピーダンス変化に応じた電圧（第２の検出信号）が得られるように構成する。この第２の検出信号（電圧）は、非常に小さいことから、増幅回路１１４１ｄにより増幅する。 The phase shifter 1141b shifts the excitation signal input from the excitation signal oscillator 1141a to generate a reference signal for phase detection. The bridge circuit 1141c is composed of a pair of detection coil groups 41A and 41B and a variable resistor. The balance of the bridge circuit 1141c is lost at a location where a defect exists, and a voltage (second detection signal) corresponding to the impedance change of the pair of detection coil groups 41A and 41B is obtained. Since this second detection signal (voltage) is very small, it is amplified by the amplifier circuit 1141d.

位相検波回路１１４１ｅは、位相器１１４１ｂの出力信号と、増幅回路１１４１ｄの出力信号の位相を比較して検出信号として出力し、フィルタ１１４１ｆで間接磁場に基づく検出信号成分のみを抽出し、ＸＹ処理回路１１４１ｇにより検出信号の位相のずれを処理して、Ｘ信号及びＹ信号として出力する。 The phase detection circuit 1141e compares the phases of the output signal of the phase shifter 1141b and the output signal of the amplifier circuit 1141d and outputs it as a detection signal. 1141g processes the phase shift of the detection signal and outputs it as an X signal and a Y signal.

判定回路１１４２は、第１の処理回路１１４０から出力されたＸ信号及びＹ信号と、第２の処理回路１１４１から出力されたＸ信号及びＹ信号とを、平滑化して評価することにより、配管Ｐに欠陥があるか否かを判定する。そして、判定回路１１４２は、欠陥があると判定した場合には、その欠陥が、配管Ｐにおける外面の傷か内面の傷かを判定する。具体的には、判定回路１１４２は、第１の渦電流探傷系３と第２の渦電流探傷系４の双方により欠陥が検出されたときには、内面の傷と判定し、第２の渦電流探傷系４のみにより欠陥が検出されたときには、外面の傷と判定する。 The determination circuit 1142 smoothes and evaluates the X signal and the Y signal output from the first processing circuit 1140 and the X signal and the Y signal output from the second processing circuit 1141, thereby determining the pipe P determine whether there is a defect in Then, when determining that there is a defect, the determination circuit 1142 determines whether the defect is a flaw on the outer surface of the pipe P or a flaw on the inner surface. Specifically, when a defect is detected by both the first eddy current flaw detection system 3 and the second eddy current flaw detection system 4, the determination circuit 1142 determines that it is an inner surface flaw, and performs the second eddy current flaw detection. When a defect is detected only by the system 4, it is judged as a flaw on the outer surface.

図８は、本発明の実施形態に係る渦電流探傷装置１００により配管支持構造物Ｓで支持された配管Ｐに対して渦電流探傷試験を行った検出結果（Ｘ信号及びＹ信号）を示し、（ａ）は、欠陥がない配管Ｐに対する第１の渦電流探傷系３による検出結果、（ｂ）は、欠陥がある配管Ｐに対する第１の渦電流探傷系３による検出結果、（ｃ）は、欠陥がない配管Ｐに対する第２の渦電流探傷系４による検出結果、（ｄ）は、欠陥がある配管Ｐに対する第２の渦電流探傷系４による検出結果を示す図である。なお、図８（ａ）～（ｄ）に示すグラフは、表示部１１５に表示される。 FIG. 8 shows the detection results (X signal and Y signal) of the eddy current testing performed on the pipe P supported by the pipe support structure S by the eddy current testing device 100 according to the embodiment of the present invention, (a) is the detection result by the first eddy current flaw detection system 3 for the pipe P with no defect, (b) is the detection result by the first eddy current flaw detection system 3 for the pipe P with the defect, and (c) is , the detection result of the second eddy current flaw detection system 4 for the pipe P without defects, and (d) the detection result of the second eddy current flaw detection system 4 for the pipe P with the defect. Graphs shown in FIGS. 8A to 8D are displayed on the display unit 115. FIG.

第１の渦電流探傷系３は、配管Ｐの内面領域を通る直接磁場を利用するものであるため、図８（ａ）に示すように、第１の処理回路１１４０から出力されたＸ信号及びＹ信号において、配管支持構造物Ｓや配管Ｐの外面に付着するナトリウムによる影響は小さい。そのため、配管Ｐに欠陥がある場合には、図８（ｂ）に示すように、欠陥によるＸ信号及びＹ信号の変化が相対的に大きくなる。 Since the first eddy current flaw detection system 3 utilizes a direct magnetic field passing through the inner surface region of the pipe P, as shown in FIG. In the Y signal, the effect of sodium adhering to the pipe support structure S and the outer surface of the pipe P is small. Therefore, when there is a defect in the pipe P, as shown in FIG. 8B, changes in the X signal and the Y signal due to the defect are relatively large.

第２の渦電流探傷系４は、配管Ｐの外側を通る間接磁場を利用するものであり、図８（ｃ）に示すように、第２の処理回路１１４１から出力されたＸ信号及びＹ信号において、配管支持構造物Ｓや配管Ｐの外面に付着するナトリウムによる影響は大きい。そのため、配管Ｐに欠陥がある場合には、図８（ｄ）に示すように、欠陥によるＸ信号及びＹ信号の変化が相対的に小さくなる。 The second eddy current flaw detection system 4 utilizes an indirect magnetic field passing through the outside of the pipe P, and as shown in FIG. , the effect of sodium adhering to the outer surface of the piping support structure S and the piping P is large. Therefore, when there is a defect in the pipe P, as shown in FIG. 8(d), changes in the X signal and the Y signal due to the defect are relatively small.

したがって、処理装置１１は、配管支持構造物Ｓで支持されていない場所では、第１の処理回路１１４０から出力されたＸ信号及びＹ信号の変化と、第２の処理回路１１４１から出力されたＸ信号及びＹ信号の変化とに基づいて欠陥の有無を判定し、配管支持構造物Ｓで支持された場所では、処理装置１１は、第１の処理回路１１４０から出力されたＸ信号及びＹ信号の変化に基づいて欠陥の有無を判定することが可能である。 Therefore, at a location not supported by the pipe support structure S, the processing device 11 changes the X signal and Y signal output from the first processing circuit 1140 and the X signal output from the second processing circuit 1141 . The presence or absence of a defect is determined based on changes in the signal and the Y signal. It is possible to determine the presence or absence of defects based on the change.

以上のように、本発明の実施形態に係るプローブ１及びプローブ１を備える渦電流探傷装置１００によれば、直接磁場を利用した第１の渦電流探傷系３が、第１の中心軸Ｏ１に平行な軸方向に並列して配置された一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂを備え、間接磁場を利用した第２の渦電流探傷系４が、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂの軸方向外側にそれぞれ配置された一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂを備えるので、第１の渦電流探傷系３及び第２の渦電流探傷系４により配管Ｐの同一の場所に対してＥＣＴ及びＲＦ－ＥＣＴを同時に行うことで、配管Ｐの内面及び外面に存在する微小欠陥の検出や欠陥形状の評価を的確に行うことができる。 As described above, according to the probe 1 and the eddy current testing apparatus 100 including the probe 1 according to the embodiment of the present invention, the first eddy current testing system 3 using a direct magnetic field is positioned on the first central axis O1. A second eddy current flaw detection system 4 that includes a pair of excitation and detection coils 30A and 30B arranged side by side in parallel axial directions and that utilizes an indirect magnetic field is arranged in the axial direction of the pair of excitation and detection coils 30A and 30B. Since a pair of detection coil groups 41A and 41B are arranged on the outside, respectively, ECT and RF-ECT can be performed on the same location of the pipe P by the first eddy current flaw detection system 3 and the second eddy current flaw detection system 4. are performed at the same time, it is possible to accurately detect minute defects existing on the inner and outer surfaces of the pipe P and evaluate the shape of the defect.

また、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの各々は、第１の中心軸Ｏ１を中心として周方向に所定の間隔で配置された複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂにより構成されているので、配管Ｐの周方向に対する欠陥検出分解能を向上させることができ、配管Ｐの内面及び外面に存在する微小欠陥の検出や欠陥形状の評価を的確に行うことができる。 Further, each of the pair of detection coil groups 41A and 41B is composed of a plurality of detection coils 410A and 410B arranged at predetermined intervals in the circumferential direction around the first central axis O1. Defect detection resolution in the circumferential direction can be improved, and minute defects existing on the inner and outer surfaces of the pipe P can be detected and the shape of the defect can be accurately evaluated.

また、直接磁場を利用した第１の渦電流探傷系３（一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂ）は、軸方向内側に配置されており、間接磁場を利用した第２の渦電流探傷系４（一対の励磁コイル群４０Ａ、４０Ｂ及び一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂ）は、軸方向外側に配置されているので、第１の渦電流探傷系３及び第２の渦電流探傷系４による双方の磁場が互いに悪影響を与えることなく、ＥＣＴ及びＲＦ－ＥＣＴを行うことができる。 The first eddy current flaw detection system 3 (a pair of excitation and detection coils 30A and 30B) using a direct magnetic field is arranged inside in the axial direction, and the second eddy current flaw detection system 4 using an indirect magnetic field. Since (the pair of excitation coil groups 40A and 40B and the pair of detection coil groups 41A and 41B) are arranged axially outside, both the first eddy current flaw detection system 3 and the second eddy current flaw detection system 4 ECT and RF-ECT can be performed without the magnetic fields of the two adversely affecting each other.

また、プローブ１は、第１の磁性体コア群５をさらに備え、第１の磁性体コア群５は、複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂと同数の複数の第１の磁性体コア５０により構成されており、一対の励磁兼検出コイル３０Ａ、３０Ｂの各々は、図４（ａ）に示すように、複数の第１の磁性体コア５０に外接すように巻回されており、一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの各々を構成する複数の検出コイル４１０Ａ、４１０Ｂの各々は、図４（ｂ）に示すように、複数の第１の磁性体コア５０にそれぞれ巻回されているので、磁性体により磁化力を高めることにより、Ｓ／Ｎ比を向上させることができるとともに、軸方向に並列して配置された複数のコイル間でコアを共通化して複数のコイルを一体化することにより、複数の第１の磁性体コア５０の内側にケーブル１２を配置する空間を確保しつつ、渦電流を検出する検出部分の構造の簡素化及び小型化を図ることできる。 In addition, the probe 1 further includes a first magnetic core group 5, and the first magnetic core group 5 is composed of the same number of first magnetic cores 50 as the plurality of detection coils 410A and 410B. As shown in FIG. 4(a), each of the pair of excitation/detection coils 30A and 30B is wound around the plurality of first magnetic cores 50 so as to be in contact therewith. Each of the plurality of detection coils 410A and 410B constituting each of the groups 41A and 41B is wound around the plurality of first magnetic cores 50 as shown in FIG. By increasing the magnetizing force, the S/N ratio can be improved, and by integrating a plurality of coils by sharing a core among a plurality of coils arranged in parallel in the axial direction, a plurality of While securing a space for arranging the cable 12 inside the first magnetic core 50, simplification and miniaturization of the structure of the detection portion for detecting the eddy current can be achieved.

例えば、上記実施形態では、第１の励磁兼検出コイル３０Ａが１個、第２の励磁兼検出コイル３０Ｂが１個、第１の検出コイル群４１Ａを構成する検出コイル４１０Ａが１２個、第２の検出コイル群４１Ｂを構成する検出コイル４１０Ｂが１２個であるから、渦電流の検出部分には、全部で２６個のコイルが配置されているが、複数のコイル間でコアを共通化して複数のコイルを一体化することにより、第１の磁性体コア群５は、１２個の第１の磁性体コア５０により構成されている。また、１２個の第１の磁性体コア５０の内側には、ケーブル１２が配置する空間が確保されている。 For example, in the above embodiment, there is one first excitation/detection coil 30A, one second excitation/detection coil 30B, 12 detection coils 410A constituting the first detection coil group 41A, and a second detection coil group 41A. Since there are 12 detection coils 410B constituting the detection coil group 41B, a total of 26 coils are arranged in the eddy current detection portion. The first magnetic core group 5 is composed of 12 first magnetic cores 50 by integrating the coils. A space for arranging the cables 12 is secured inside the twelve first magnetic cores 50 .

また、複数の第１の磁性体コア５０の各々は、周方向に４つの周溝を有する棒状部材５００により構成されているので、簡単な加工で製造することができる。 Moreover, since each of the plurality of first magnetic cores 50 is composed of the rod-shaped member 500 having four circumferential grooves in the circumferential direction, it can be manufactured by simple processing.

また、プローブ１は、一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂがそれぞれ巻回された一対の第２の磁性体コア６Ａ、６Ｂをさらに備えるので、磁性体により磁化力を高めることにより、Ｓ／Ｎ比を向上させることができる。 In addition, since the probe 1 further includes a pair of second magnetic cores 6A and 6B around which a pair of exciting coils 40A and 40B are respectively wound, the S/N ratio is improved by increasing the magnetizing force of the magnetic material. can be improved.

（他の実施形態）
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。 (Other embodiments)
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments, and can be modified as appropriate without departing from the technical idea of the present invention.

例えば、上記実施形態では、第２の渦電流探傷系４は、第１の中心軸Ｏ１に沿って一対の検出コイル群４１Ａ、４１Ｂの軸方向外側にそれぞれ配置された一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂを備えるものとして説明したが、第２の渦電流探傷系４は、一対の励磁コイル４０Ａ、４０Ｂのうち、いずれか一方の励磁コイルを備えるようにしてもよい。 For example, in the above embodiment, the second eddy current flaw detection system 4 includes a pair of excitation coils 40A and 40B arranged axially outside the pair of detection coil groups 41A and 41B along the first central axis O1. , the second eddy current flaw detection system 4 may include either one of the pair of excitation coils 40A and 40B.

１…渦電流探傷用プローブ、２…本体、３…第１の渦電流探傷系、
４…第２の渦電流探傷系、５…第１の磁性体コア群、６Ａ、６Ｂ…第２の磁性体コア、
１１…処理装置、１２…ケーブル、２０Ａ、２０Ｂ…ガイド部、
２１Ａ…第１の連結部、２１Ｂ…第２の連結部、２２…筒状部、
３０Ａ…第１の励磁兼検出コイル、３０Ｂ…第２の励磁兼検出コイル、
４０Ａ…第１の励磁コイル、４０Ｂ…第２の励磁コイル、
４１Ａ…第１の検出コイル群、４１Ｂ…第２の検出コイル群、
５０…第１の磁性体コア、１００…渦電流探傷装置、
１１０…第１の励磁出力部、１１１…第２の励磁出力部、１１２…第１の検出入力部、
１１３…第２の検出入力部、１１４…信号解析部、１１５…表示部、
１２０ａ～１２３ａ…芯線、１２０ｂ～１２３ｂ…シールド線、
３００…磁束、４００…磁束、４１０Ａ、４１０Ｂ…検出コイル、５００…棒状部材、
５０１Ａ、５０１Ｂ…内側周溝、５０２Ａ、５０２Ｂ…外側周溝、
５０３Ａ、５０３Ｂ…端部、
１１４０…第１の処理回路、１１４０ａ…励磁信号発振器、１１４０ｂ…位相器、
１１４０ｃ…ブリッジ回路、１１４０ｄ…増幅回路、１１４０ｅ…位相検波回路、
１１４０ｆ…フィルタ、１１４０ｇ…ＸＹ処理回路、
１１４１…第２の処理回路、１１４１ａ…励磁信号発振器、１１４１ｂ…位相器、
１１４１ｃ…ブリッジ回路、１１４１ｄ…増幅回路、１１４１ｅ…位相検波回路、
１１４１ｆ…フィルタ、１１４１ｇ…ＸＹ処理回路、１１４２…判定回路、
Ｏ１…第１の中心軸、Ｏ２…第２の中心軸、ＯＰ…配管中心軸、
Ｐ…配管、Ｓ…配管支持構造物 1... eddy current flaw detection probe, 2... body, 3... first eddy current flaw detection system,
4... second eddy current testing system, 5... first magnetic core group, 6A, 6B... second magnetic core,
11... processing device, 12... cable, 20A, 20B... guide part,
21A... First connecting part, 21B... Second connecting part, 22... Cylindrical part,
30A... first excitation and detection coil, 30B... second excitation and detection coil,
40A... first exciting coil, 40B... second exciting coil,
41A... First detection coil group, 41B... Second detection coil group,
50... First magnetic core, 100... Eddy current flaw detector,
110... First excitation output section, 111... Second excitation output section, 112... First detection input section,
113... second detection input section, 114... signal analysis section, 115... display section,
120a to 123a... core wire, 120b to 123b... shield wire,
300... magnetic flux, 400... magnetic flux, 410A, 410B... detection coil, 500... rod-shaped member,
501A, 501B... inner peripheral grooves, 502A, 502B... outer peripheral grooves,
503A, 503B... ends,
1140... First processing circuit, 1140a... Excitation signal oscillator, 1140b... Phase shifter,
1140c...bridge circuit, 1140d...amplifier circuit, 1140e...phase detection circuit,
1140f... filter, 1140g... XY processing circuit,
1141... second processing circuit, 1141a... excitation signal oscillator, 1141b... phase shifter,
1141c...bridge circuit, 1141d...amplifier circuit, 1141e...phase detection circuit,
1141f... Filter, 1141g... XY processing circuit, 1142... Determination circuit,
O1... first central axis, O2... second central axis, OP... piping central axis,
P... Piping, S... Piping support structure

Claims (5)

配管内に挿入されて前記配管と同軸に配置される本体の第１の中心軸に沿って、直接磁場を利用した第１の渦電流探傷系と、間接磁場を利用した第２の渦電流探傷系とを備える渦電流探傷用プローブであって、
前記第１の渦電流探傷系は、
前記第１の中心軸に沿って前記第１の中心軸と平行な軸方向に並列して配置されて、前記第１の中心軸をコイルの中心とする一対の励磁兼検出コイルを備え、
前記第２の渦電流探傷系は、
前記第１の中心軸に沿って前記一対の励磁兼検出コイルの前記軸方向外側にそれぞれ配置された一対の検出コイル群と、
前記第１の中心軸に沿って前記一対の検出コイル群の前記軸方向外側に配置されて、前記第１の中心軸をコイルの中心とする励磁コイルとを備え、
前記一対の検出コイル群の各々は、
前記第１の中心軸を中心として周方向に所定の間隔でそれぞれ配置されて、前記第１の中心軸に平行な複数の第２の中心軸をコイルの中心とする複数の検出コイルにより構成されており、
前記一対の励磁兼検出コイル及び前記一対の検出コイル群が巻回された第１の磁性体コア群をさらに備え、
前記第１の磁性体コア群は、
前記複数の第２の中心軸に沿ってそれぞれ配置されて、前記複数の検出コイルと同数の複数の第１の磁性体コアにより構成されており、
前記一対の励磁兼検出コイルの各々は、
前記複数の第１の磁性体コアに外接すように巻回されており、
前記一対の検出コイル群の各々を構成する前記複数の検出コイルの各々は、
前記複数の第１の磁性体コアにそれぞれ巻回されている、
ことを特徴する渦電流探傷用プローブ。 A first eddy current flaw detection system using a direct magnetic field and a second eddy current flaw detection system using an indirect magnetic field along a first central axis of a main body that is inserted into a pipe and arranged coaxially with the pipe. An eddy current flaw detection probe comprising a system,
The first eddy current flaw detection system is
a pair of excitation and detection coils arranged in parallel in an axial direction parallel to the first central axis along the first central axis and having the first central axis as the center of the coil;
The second eddy current flaw detection system is
a pair of detection coil groups arranged outside the pair of excitation and detection coils in the axial direction along the first central axis;
an excitation coil arranged outside the pair of detection coil groups in the axial direction along the first central axis and centered on the first central axis;
Each of the pair of detection coil groups,
a plurality of detection coils arranged at predetermined intervals in a circumferential direction about the first central axis and centered on a plurality of second central axes parallel to the first central axis; and
Further comprising a first magnetic core group around which the pair of excitation and detection coils and the pair of detection coil groups are wound,
The first magnetic core group is
It is arranged along each of the plurality of second central axes and is composed of a plurality of first magnetic cores that are the same in number as the plurality of detection coils,
Each of the pair of excitation and detection coils:
It is wound so as to circumscribe the plurality of first magnetic cores,
Each of the plurality of detection coils constituting each of the pair of detection coil groups,
wound around each of the plurality of first magnetic cores,
An eddy current flaw detection probe characterized by: 前記複数の第１の磁性体コアの各々は、
周方向に４つの周溝を有するとともに、軸方向が前記複数の第２の中心軸に沿ってそれぞれ配置された棒状部材により構成されており、
前記一対の励磁兼検出コイルの各々は、
前記４つの周溝のうち前記軸方向内側の一対の内側周溝に外接すように巻回されており、
前記一対の検出コイル群の各々を構成する前記複数の検出コイルの各々は、
前記４つの周溝のうち前記軸方向外側の一対の外側周溝にそれぞれ巻回されている、
ことを特徴する請求項１に記載の渦電流探傷用プローブ。 Each of the plurality of first magnetic cores,
It is composed of a rod-shaped member having four circumferential grooves in the circumferential direction and axially arranged along the plurality of second central axes,
Each of the pair of excitation and detection coils:
wound so as to circumscribe a pair of inner circumferential grooves on the inner side in the axial direction of the four circumferential grooves,
Each of the plurality of detection coils constituting each of the pair of detection coil groups,
wound around a pair of outer circumferential grooves on the outer side in the axial direction of the four circumferential grooves,
The eddy current flaw detection probe according to claim 1 , characterized in that: 前記励磁コイルとして、前記第１の中心軸に沿って前記一対の検出コイル群の前記軸方向外側にそれぞれ配置された一対の励磁コイルを備える、
ことを特徴する請求項１又は請求項２に記載の渦電流探傷用プローブ。 As the excitation coils, a pair of excitation coils arranged along the first central axis and outside the pair of detection coil groups in the axial direction,
The eddy current flaw detection probe according to claim 1 or 2 , characterized in that: 前記励磁コイルが巻回された第２の磁性体コアをさらに備える、
ことを特徴する請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の渦電流探傷用プローブ。 Further comprising a second magnetic core around which the excitation coil is wound,
The eddy current flaw detection probe according to any one of claims 1 to 3 , characterized in that: 請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の渦電流探傷用プローブと、
前記渦電流探傷用プローブにより検出された検出信号を処理する処理装置とを備える、
ことを特徴する渦電流探傷装置。 The eddy current flaw detection probe according to any one of claims 1 to 4 ;
A processing device for processing a detection signal detected by the eddy current flaw detection probe,
An eddy current flaw detector characterized by:
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