JP7289262B2 - ペン座標とポインタの表示位置との間のズレを補正する方法 - Google Patents

Description

本発明は、ペン座標とポインタの表示位置との間のズレを補正する方法に関する。

近年、タブレット端末などの電子機器上で手書き入力するためのツールとして、様々な方式のスタイラスが利用可能になっている。中でもアクティブスタイラスと呼ばれるスタイラスは、電源部と信号処理回路とを備え、信号処理回路の生成する信号に応じた電荷をスタイラスの先端付近に設けられた電極（ペン電極）に供給することにより、電子機器内のセンサコントローラに向けてペン信号を送信可能に構成される。ペン信号には、自身の位置を知らせるためのバースト信号である位置信号と、スタイラスが検出した筆圧の値を示す筆圧データ、スタイラスの側面や末端に設けられる操作ボタンのオンオフ状態を示すデータ、及び、スタイラスに予め書き込まれた固有ＩＤなどの各種データを含むデータ信号とが含まれる。

電子機器は、上述したセンサコントローラの他、液晶表示装置と、タッチセンサと、ホストプロセッサと、記憶装置とを有して構成される。タッチセンサはマトリクス状に配設された複数の電極からなる電極群を有する装置であり、液晶表示装置の画面上に配置される。アクティブスタイラスがペン信号を送信するためにペン電極に電荷を供給すると、アクティブスタイラスの指示位置付近の空間に電界が発生し、それによってタッチセンサを構成する電極群に電荷が誘導される。センサコントローラは、こうして誘導される電荷の変化を電極ごとに検出することによってスタイラスが送信したペン信号の検出を行い、その結果に基づき、アクティブスタイラスの位置検出と、アクティブスタイラスが送信したデータの受信とを行う。

センサコントローラは、検出した位置を示す座標（ペン座標）と、受信したデータとを、ホストプロセッサに出力するよう構成される。ホストプロセッサは、こうして供給されたペン座標及びデータに基づいてインクデータを生成し、液晶表示装置の画面上に表示する。これにより、ユーザがスタイラスを用いてタッチセンサ上に描いた文字や図形を、リアルタイムに液晶表示装置上に表示することが可能になる。ホストプロセッサはまた、生成したインクデータを記憶装置に格納する処理も行う。

センサコントローラは、電極群に指が接触することで生じる静電容量の変化を検出することにより、指タッチの位置検出も行う。特に、アクティブスタイラスの検出と指タッチの検出とは、同じ電極群を利用して時分割で実行される。センサコントローラは、こうして検出した指タッチの位置を示す座標もホストプロセッサに対して出力し、これを受けたホストプロセッサは、スタイラスの場合と同様にしてインクデータを生成し、生成したインクデータを液晶表示装置上に表示するとともに記憶装置に格納する。

特許文献１には、ＣＲＴディスプレイ上に超音波式の座標検出器を設ける場合に関して、ＣＲＴディスプレイに複数の基準点を表示してユーザにタッチさせ、その結果として得られた座標に基づいて、座標検出器から出力される座標を補正する技術が開示されている。

また、特許文献２には、スタイラスに３つのペン電極を設け、これらのそれぞれから送信されるペン信号を利用して、電子機器側でスタイラスの傾きを算出する技術が開示されている。

特公平５－３１７６６号公報 特許第６０２１１７４号公報

ところで、上記のような電子機器においては、ユーザがスタイラスでタッチした位置（ペン座標）と、タッチの結果として画面上に表示される線の位置（ポインタの表示位置）との間にズレが発生する場合がある。ズレの発生原因としては、タッチセンサと液晶表示装置とを組み立てる際の機構上の位置ズレの他、タッチセンサとスタイラスの組み合わせの違い、利き手、スタイラスの持ち方、表示視点位置、筆記速度などユーザごとの違いなど各種のものが考えられるが、いずれにしても、この種のズレが発生するとユーザに違和感を感じさせてしまうので、ズレの低減が求められている。

特許文献１に開示される技術はこの種のズレを補正する一つの方法であるが、タッチセンサ全体に線形変換による一様な補正をかけることしかできない。実際に発生するズレは、より細かい単位（例えば、領域単位、画素単位）で大きさや方向が異なり、また、線形変換では表現できない変換が必要になる場合があるので、特許文献１に開示される技術では不十分である。

したがって、本発明の目的の一つは、ペン座標とポインタの表示位置との間のズレを、従来技術に比べて正確に補正できる方法を提供することにある。

本発明の一側面によるペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを補正する方法は、表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、ホストプロセッサから所定パターンの前記表示部上における表示位置に関連するフィードバック情報を受信する受信ステップと、受信した前記フィードバック情報に基づき、前記操作面上に配置された複数の位置ごとに位置較正値を記憶する補正テーブルに記憶される複数の前記位置較正値のうちの少なくとも一部を更新するフィードバックステップと、前記スタイラスの暫定指示位置を検出する暫定指示位置検出ステップと、前記補正テーブルから前記暫定指示位置に対応する位置較正値を読み出し、該位置較正値に基づいて前記暫定指示位置を補正することにより出力位置を導出する補正ステップと、前記出力位置を前記ホストプロセッサに対してレポートする出力ステップと、を含む。

また、本発明の他の一側面によるペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを補正する方法は、表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、前記スタイラスがペン先の近傍に設けられた第１の電極を通じて送信したペン信号に基づいて前記スタイラスの指示位置である第１の値を取得する第１の値取得ステップと、前記スタイラスに関連する第２の値を取得する第２の値取得ステップと、前記第２の値に基づいて取得される前記第１の値の較正値に基づいて前記第１の値を補正することにより、出力位置を導出する補正ステップと、前記出力位置をホストプロセッサに対してレポートする出力ステップと、を含む方法である。

また、本発明のさらに他の一側面によるペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを補正する方法は、表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、前記スタイラスがペン先の近傍に設けられた第１の電極を通じて送信したペン信号に基づいて、前記スタイラスの指示位置である第１の値を取得する第１の値取得ステップと、前記操作面内に配置された複数の電極と、前記第１の電極との間に生ずる静電容量の変化に基づいて、前記スタイラスの指示位置である前記第２の値を取得する第２の値取得ステップと、前記第１及び第２の値に基づいて、前記スタイラスのチルトを導出するチルト導出ステップと、を含む。

本発明の一側面によれば、表示部に所定パターンが表示されているときの操作面上におけるスタイラスの指示位置と、この所定パターンの表示部上における表示位置とに基づいて、補正テーブル内の位置較正値を更新することができる。したがって、ペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを正確に補正することが可能になる。

また、本発明の他の一側面によれば、スタイラスに関連する第２の値に基づいてスタイラスの指示位置を補正することができるので、ペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを正確に補正することが可能になる。

また、本発明のさらに他の一側面によれば、第１及び第２の値に基づいてスタイラスのチルトを導出することができるので、ペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを正確に補正することが可能になる。

本発明の第１の実施の形態による電子機器１及びスタイラス１０の構成を示す図である。 本発明の第１の実施の形態による補正テーブルを示す図である。 補正テーブルが必要とされる理由を説明する図である。 本発明の第１の実施の形態による電子機器１の動作を示すシーケンス図である。 本発明の第１の実施の形態によるスタイラス１０の構成、並びに、暫定指示位置ＰＩ、指示位置ＰＯ、及び較正値Ｃ（ＰＩ）の説明図である。 本発明の第１の実施の形態による補正テーブル更新処理を示すフロー図である。 図６のステップＳ１０で表示される所定パターンの一例を示す図である。 図６のステップＳ２２で実施される処理の一例を説明する図である。 本発明の第１の実施の形態の変形例による補正テーブルを示す図である。 本発明の第１の実施の形態の変形例による電子機器１の動作を示すシーケンス図である。 本発明の第１の実施の形態の変形例による補正テーブル更新処理を示すフロー図である。 本発明の第２の実施の形態によるスタイラス１０の構成、並びに、第１の指示位置ＰＩ１、第２の指示位置ＰＩ２、指示位置ＰＯ、及び較正値Ｃ（ＰＩ）の説明図である。 本発明の第２の実施の形態による出力位置レポート処理を示すフロー図である。 図１３のステップＳ６２で実施される処理の説明図である。 本発明の第２の実施の形態の第１の変形例の説明図である。 本発明の第２の実施の形態の第１の変形例による出力位置レポート処理を示すフロー図である。 本発明の第２の実施の形態の第２の変形例によるスタイラス１０の構成、並びに、第１の指示位置ＰＩ１、第２の指示位置ＰＩ２、指示位置ＰＯ、及び較正値Ｃ（ＰＩ）の説明図である。

以下、添付図面を参照しながら、本発明の実施の形態について詳細に説明する。

図１は、本発明の第１の実施の形態による電子機器１及びスタイラス１０の構成を示す図である。本実施の形態による電子機器１は例えばタブレット型のコンピュータであり、同図に示すように、ホストプロセッサ２、液晶表示装置３、センサコントローラ４（デバイス）、及びタッチセンサ５を有して構成される。スタイラス１０は、上述したアクティブスタイラスである。

ホストプロセッサ２は、プロセッサ２ａとメモリ２ｂとを有するコンピュータであり、プロセッサ２ａがメモリ２ｂに記憶されるプログラムを読み出して実行することにより、図示した液晶表示装置３及びセンサコントローラ４を含む電子機器１の各部の制御、描画用のアプリを含む各種のアプリの実行などの各種処理を行う。メモリ２ｂには、ＤＲＡＭ(Dynamic Random Access Memory)などのメインメモリと、フラッシュメモリなどの補助記憶装置とが含まれる。

液晶表示装置３は、マトリクス状に配置された複数の画素を有する液晶パネル３ａ（表示部）と、この液晶パネル３ａを駆動することにより任意の表示を行う駆動回路（図示せず）とを有する装置である。駆動回路は、ホストプロセッサ２の制御を受けて、液晶パネル３ａの各画素を駆動するように構成される。

センサコントローラ４及びタッチセンサ５は、ホストプロセッサ２に対する入力装置である。具体的に説明すると、まずタッチセンサ５は、スタイラス１０又はユーザの指でタッチするための平面であるタッチ面５ａ（操作面）と、タッチ面５ａの直下に配置された各複数の線状電極５ｘ，５ｙとを有して構成される。タッチ面５ａは液晶表示装置３の液晶パネル３ａと重畳して設けられており、複数の線状電極５ｘ，５ｙはタッチ面５ａと液晶パネル３ａの間に配置される。複数の線状電極５ｘは、それぞれ図示したｙ方向（タッチ面５ａ内の方向）に延在しており、図示したｘ方向（タッチ面５ａ内でｙ方向と直交する方向）に等間隔で配置される。また、複数の線状電極５ｙは、それぞれ図示したｘ方向に延在しており、図示したｙ方向に等間隔で配置される。複数の線状電極５ｘ，５ｙの一方を液晶パネル３ａ内の共通電極（図示せず）と共用してもよい。

センサコントローラ４は、プロセッサ４ａとメモリ４ｂとを有するカスタムＬＳＩ（集積回路）であり、プロセッサ４ａがメモリ４ｂに記憶されるプログラムを読み出して実行することにより、タッチ面５ａ上におけるスタイラス１０及びユーザの指の指示位置を検出するとともに、スタイラス１０が送信したデータ信号を受信可能に構成される。スタイラス１０の指示位置の検出は、静電容量方式又はアクティブ静電方式により実行される。また、ユーザの指の位置の検出は、静電容量方式により実行される。

静電容量方式は、複数の線状電極５ｘ，５ｙと、スタイラス１０のペン先の近傍に設けられたペン電極１０ａ（図５を参照）又はユーザの指との間に生ずる静電容量の変化に基づいて、それぞれの指示位置を取得する方式である。静電容量方式による位置検出を行う場合、センサコントローラ４は、所定の検出用信号を複数の線状電極５ｘのそれぞれに供給し、複数の線状電極５ｙそれぞれの電位を測定する。ある線状電極５ｘと線状電極５ｙの交点にペン電極１０ａ又はユーザの指が接近している場合、その線状電極５ｘからその線状電極５ｙに向かって流れる電荷の一部がユーザの人体に向かって流れ出るため、その線状電極５ｙについて測定される電流あるいは電位が小さくなる。センサコントローラ４は、この変化を利用してスタイラス１０又はユーザの指の指示位置の検出を行う。

アクティブ静電方式は、スタイラス１０が送信したペン信号をタッチセンサ５により受信し、その結果に基づいてスタイラス１０の指示位置を検出する方式である。ペン信号には、上述したように、無変調のバースト信号である位置信号と、スタイラス１０に関連する各種データを示すデータ信号とが含まれる。各種データには、スタイラス１０のペン先にかかる圧力を示す筆圧データ、スタイラス１０のサイドスイッチ（図示せず）のオンオフを示すサイドスイッチ情報、スタイラス１０に予め割り当てられる固有ＩＤなどが含まれる。

アクティブ静電方式による指示位置の検出を行う場合、センサコントローラ４は、複数の線状電極５ｘ，５ｙのそれぞれで位置信号を受信し、その結果に基づいてスタイラス１０の指示位置を検出する。また、センサコントローラ４は、複数の線状電極５ｘ，５ｙのうち検出した指示位置に最も近いものを用いて、スタイラス１０が検出したデータ信号の受信を行う。

センサコントローラ４は、以上のようにして検出したスタイラス１０及びユーザの指の指示位置を示す座標と、スタイラス１０から受信したデータ信号に含まれる各種データとを、ホストプロセッサ２に対してレポートするよう構成される。ただし、スタイラス１０の指示位置については、後述する補正テーブル（メモリ４ｂに記憶されるもの）によって補正した後の座標をレポートの対象とする。この点の詳細については、後述する。また、センサコントローラ４は、スタイラス１０から受信される筆圧データに基づいて、スタイラス１０がタッチ面５ａに接触したことを示すペンダウン情報と、スタイラス１０がタッチ面５ａから離れたことを示すペンアップ情報との取得を行い、それぞれのタイミングでホストプロセッサ２に対してレポートするよう構成される。

ホストプロセッサ２は、センサコントローラ４から座標が入力されたことを受けて、座標位置で動作しているオペレーティングシステムのデスクトップあるいはフロントで動作しているアプリケーションの状況に基づいてポインタの表示を行う。このうちポインタの表示は、液晶表示装置３のパネル面上の入力された座標と対応するペン先の位置に、所定のポインタ画像を表示することによって行う。

描画アプリケーションなどアプリケーションによっては、ポインタの位置はインクデータとしてセンサコントローラ４から順次供給される複数の座標のそれぞれによって形成される一連の軌跡のように表示される。ホストプロセッサ２は、ユーザの指については、座標の入力が開始されたことを契機としてインクデータの生成を開始し、座標の入力が終了したことを契機としてインクデータの生成を終了する。一方、スタイラス１０については、ペンダウン情報が入力されたことを契機としてインクデータの生成を開始し、ペンアップ情報が入力されたことを契機としてインクデータの生成を終了する。なお、スタイラス１０についてインクデータを生成する際には、ホストプロセッサ２は、スタイラス１０から受信される筆圧データ、サイドスイッチ情報、固有ＩＤなどに基づき、インクデータを構成する曲線データの幅及び／又は透明度の制御も行う。ホストプロセッサ２は、生成したインクデータのレンダリングを行って液晶表示装置３に表示させるとともに、生成したインクデータをメモリ２ｂに記憶させる。

図２は、メモリ４ｂに記憶される補正テーブルを示す図である。補正テーブルは、タッチ面５ａ上に配置された複数の位置ごとに較正値（位置較正値）を記憶するテーブルであり、工場出荷時の段階でメモリ４ｂ内に格納される。同図に示すように、較正値は、対応する位置（ｘｉ，ｙｉ）（ｉは０以上の整数）からの方向（Ａｉ）及び距離（Ｄｉ）によって表現される。補正テーブルに格納される複数の位置の選び方は特に限定されず、例えば、液晶パネル３ａの各画素に対応する位置を利用してもよいし、複数の線状電極５ｘ，５ｙの各交点に対応する位置を利用してもよい。また、補正テーブルは、位置（ｘｉ）及び位置（ｙｉ）のそれぞれに対する較正値を有していてもよし、絶対的な位置に代えて最寄りの線状電極あるいは交点からの相対的位置（Δｘｉ，Δｙｉ）を利用することとしてもよい。

図３は、補正テーブルが必要とされる理由を説明する図である。同図には、線状電極５ｘ，５ｙをそれぞれ２本ずつ図示している。同図に示すように、実際の線状電極５ｘ，５ｙは、単純な長方形ではなく、それぞれ複数の菱形が数珠つなぎされた形状を有している場合がある。各菱形のサイズ及び配置は、線状電極５ｘ，５ｙが菱形の接続部分で交わるように設定される。また、図示していないが、菱形の内部は、均一な導体ではなくメッシュ状の導線によって埋められている。

スタイラス１０が送信したペン信号のセンサコントローラ４における受信レベルは、スタイラス１０と線状電極５ｘ，５ｙの相対的な位置関係によって変化する。図３のように線状電極５ｘ，５ｙを菱形に形成した場合には、線状電極５ｘ，５ｙのエッジに近いほどペン信号の受信レベルが大きくなるので、大まかに言えば、図示した領域５ｘａ，５ｙａでは受信レベルが比較的大きくなり、図示した領域５ｘｂ，５ｙｂでは受信レベルが比較的小さくなる。また、線状導体５ｘ，５ｙをストライプ状に形成した場合であっても、スタイラス１０の指示位置と線状電極５ｘ，５ｙとの位置関係により、同様にペン信号の受信レベルが変化する。このように、ペン信号の受信レベルがタッチ面５ａ内の位置によって変化することの結果として、位置信号に基づいて検出される指示位置が本来の指示位置（ペン先とタッチ面５ａの接触位置）から少しずれてしまう。補正テーブルは、このようなズレを補正するために用意される。

図４は、補正テーブルを用いた検出位置の補正処理を含む電子機器１の動作を示すシーケンス図である。同図に示すように、センサコントローラ４は、スタイラス１０の指示位置を検出する（ステップＳ１。暫定指示位置検出ステップ）と、検出した指示位置に対応する較正値を補正テーブルから読み出し、読み出した較正値に基づいて指示位置を補正することにより、出力位置を導出する（ステップＳ２。補正ステップ）。そして、導出した出力位置をホストプロセッサ２に対してレポートする（ステップＳ３。出力ステップ）。

出力位置のレポートを受けたホストプロセッサ２は、入力された出力位置に基づいて上述したインクデータを生成する（ステップＳ５）。そして、生成したインクデータのレンダリングを実行し（ステップＳ６）、その結果として得られる描画データにより液晶表示装置３の表示を制御する（ステップＳ７）。これにより、ユーザがスタイラス１０を用いてタッチ面５ａ上に描いた線が液晶パネル３ａ上に表示されることになる。

本実施の形態による電子機器１は、以上の処理に加え、ユーザがスタイラス１０をタッチ面５ａに対して斜めに保持することによって生ずるペン座標とインクデータの表示位置のズレを補正テーブルに反映させる処理を行う点に特徴を有する。以下、この点について詳しく説明する。

図５は、本実施の形態によるスタイラス１０の構成、並びに、暫定指示位置ＰＩ、指示位置ＰＯ、及び較正値Ｃ（ＰＩ）の説明図である。暫定指示位置ＰＩは、図３のステップＳ４でセンサコントローラ４が検出する指示位置であり、指示位置ＰＯは、スタイラス１０とタッチ面５ａが実際に接触している位置である。

図５に示すように、スタイラス１０の内部には、ペン信号の送信アンテナとして機能するペン電極１０ａが設けられる。ペン電極１０ａは、具体的にはスタイラス１０の軸方向に沿って一定の長さを有する導体であることから、ユーザがスタイラス１０をタッチ面５ａに対して斜めに保持すると、図５に示すように、暫定指示位置ＰＩと指示位置ＰＯの間にズレが生ずる。電子機器１は、このズレを補正するため、液晶パネル３ａ上に所定パターンを表示してユーザになぞらせ、その結果に基づいて、暫定指示位置ＰＩと指示位置ＰＯの間のズレの量に相当する較正値Ｃ（ＰＩ）を補正テーブルに記憶される位置ごとに導出し、導出した較正値Ｃ（ＰＩ）により補正テーブルを更新する。こうすることで、ユーザが同じ持ち方を続ける限り、暫定指示位置ＰＩと指示位置ＰＯの間のズレを解消することが可能になる。また、この方法により補正された後の座標は、表示面と表示面を覆うガラスの厚み等により生じる視差誤差をも吸収した位置とすることができる。

図６は、本実施の形態による補正テーブル更新処理を示すフロー図である。補正テーブル更新処理はホストプロセッサ２及びセンサコントローラ４が協働して実行する処理であり、同図（ａ）にはホストプロセッサ２側の処理を、同図（ｂ）にはセンサコントローラ４側の処理をそれぞれ示している。

まず図６（ａ）を参照すると、ホストプロセッサ２は、スタイラス１０を用いてタッチ面５ａを所定の連続区間にわたってなぞる操作の実施をユーザに対して促すための所定パターンを液晶パネル３ａ上に表示する処理（ステップＳ１０）と、この所定パターンの表示位置及び表示期間を示すフィードバック情報をセンサコントローラ４に送信する処理（ステップＳ１１）とを実行するよう構成される。

図７は、図６のステップＳ１０で表示される所定パターンの一例を示す図である。この例によるホストプロセッサ２は、所定パターンとして、液晶パネル３ａの画面の対角線に相当する線分Ｐを表示する。ただし、所定パターンの具体的な形状はこの線分Ｐに限られない。例えば、液晶パネル３ａの画面の一辺に相当する線分を所定パターンとして用いてもよい。また、曲線や折れ線を所定パターンとして用いることも可能である。

次に図６（ｂ）を参照すると、センサコントローラ４は、ホストプロセッサ２がステップＳ１１で送信したフィードバック情報を受信する（ステップＳ２０。受信ステップ）とともに、フィードバック情報により示される表示期間内におけるスタイラス１０の一連の指示位置を取得する（ステップＳ２１）。ここで取得する指示位置は、図４のステップＳ１で検出される指示位置（補正テーブルによる補正前の指示位置）である。そして、取得した一連の指示位置と、フィードバック情報により示される所定パターンの表示位置とに基づいて、補正テーブルを更新する処理を行う（ステップＳ２２。フィードバックステップ）。この処理では、補正テーブルに記憶される複数の較正値のうちの少なくとも一部が更新されることになる。このように、フィードバック情報によりホストプロセッサ２が現在どのような表示を行っているのかの情報が得られれば、センサコントローラ４は、ユーザがスタイラス１０をその表示に従ったなぞり操作をしているという前提の下で、較正値を得ることができる。

図８は、ステップＳ２２で実行される処理の一例を説明する図である。この例によるセンサコントローラ４は、一連の指示位置ＰＩのそれぞれを線分Ｐ上に投影する処理を行う。このとき、ペンダウンを検出したときの指示位置ＰＩを線分Ｐの始点に、ペンアップを検出したときの指示位置ＰＩを線分Ｐの終点に、途中の指示位置ＰＩを線分Ｐの途中の点にそれぞれ対応付ける。そして、各指示位置ＰＩを始点とし、対応する投影点を終点とするベクトルの向き及び長さを、較正値Ｃ（ＰＩ）として導出する。そして、こうして導出した較正値Ｃ（ＰＩ）により、補正テーブルを更新する。

ここで、ステップＳ２１で取得される指示位置ＰＩは、補正テーブルに格納される複数の位置のいずれとも一致しない場合があり得る。また、所定パターンをなぞらせることによって得られる一連の指示位置ＰＩだけでは、補正テーブルに格納される複数の位置を網羅することは困難である。そこでセンサコントローラ４は、所定パターンをなぞらせることによって得られた一連の指示位置ＰＩについて導出した較正値Ｃ（ＰＩ）を外挿することにより、他の位置についての較正値Ｃ（ＰＩ）を導出することとしてもよい。具体的には、例えば、検出された一連の座標を直線近似した場合の直線の切片に対応するバイアス量を求め、このバイアス量を、所定パターンが表示されたなぞり位置付近の較正値とすることができる。こうすることにより、所定パターンをなぞらせることによって得られた一連の指示位置ＰＩに含まれない位置に関しても、補正テーブルを更新することが可能になる。

以上説明したように、本実施の形態によれば、液晶パネル３ａに所定パターンが表示されているときのタッチ面５ａ上におけるスタイラス１０の指示位置と、この所定パターンの液晶パネル３ａ上における表示位置とに基づいて、補正テーブル内の較正値を更新することができる。したがって、ペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを正確に補正することが可能になる。

なお、本実施の形態では、所定パターンとして図７に示すように１つの線分Ｐのみを使用する場合を取り上げたが、複数のパターンを使用することとしてもよい。この場合、図６（ａ）（ｂ）に示した処理は、パターンごとに実行されることが好ましい。すなわち、複数のパターンを液晶パネル３ａに順次表示するようにホストプロセッサ２を構成し、ホストプロセッサ２による複数のパターンそれぞれの表示の都度、センサコントローラ４により図６（ｂ）に示した各処理を実行することが好ましい。

また、フィードバック情報は、ホストプロセッサ２が現在表示している表示パターンをセンサコントローラ４に伝えることができる情報であれば足り、短縮されたデータであってかまわない。例えば、センサコントローラ４とホストプロセッサ２（で動作する所定のプログラム）との間で事前に定められている限り、なぞり位置やなぞりの形状等の表示パターンを識別するＩＤのようなデータであってもよい。

また、ホストプロセッサ２は、図６のステップＳ１０で所定パターンを表示する際に、ユーザに対して所定パターンの表示中におけるスタイラスの把持角度を指定するための把持角度指定情報も液晶パネル３ａに表示することとしてもよい。こうすることで、スタイラス１０が指定の角度で把持された状態で、補正テーブルの更新を行うことが可能になる。把持角度の指定は「パネル面に対して垂直に把持してください」等の角度を値を指定することであってもよいし「普段ペンを持っている角度で把持してください」等の普段の使用状況の角度指定であってもよい。更に、普段スタイラスを使って描く視点の位置を指定するものであってもよい。このようにすることで、ユーザが普段自然に描画を行う視点位置自然にアクティブスタイラス１０を把持する状態における較正量を導出することが可能となる。

また、ホストプロセッサ２は、同じパターンを複数回にわたって液晶パネル３ａに表示させ、その都度、センサコントローラ４から一連の指示位置を取得し、これらに基づく統計処理を行うことにより、補正テーブルに設定すべき較正値を取得することとしてもよい。この場合における統計処理は、一連の指示位置を所定の関数に近似することによって得られる近似式と、液晶パネル３ａに表示したパターンとの誤差の導出処理を含むことが好ましく、導出した誤差に基づき、タッチ面５ａ上に配置された複数の位置のそれぞれに適した位置較正値を機械学習する処理であるとすることがさらに好ましい。また、この場合におけるフィードバック情報は、統計処理の結果を示す情報（より具体的には、導出した誤差を小さくする方向に較正値を変更するための情報）を含むことが好ましく、センサコントローラ４は、このフィードバック情報に基づいて補正テーブルを更新することが好ましい。

また、本実施の形態では補正テーブルをセンサコントローラ４のメモリ４ｂに格納しておき、指示位置の補正処理及び補正テーブルの更新処理をいずれもセンサコントローラ４が行うこととしたが、補正テーブルをホストプロセッサ２のメモリ２ｂに格納しておき、指示位置の補正処理及び補正テーブルの更新処理をいずれもホストプロセッサ２が行うこととしてもよい。

また、本実施の形態では、指示位置の較正値を記憶する補正テーブルを更新する例を説明したが、本発明は、スタイラス１０のチルト角（傾き角）やアジマス（方位角）など、位置以外の物理量の較正値を記憶する補正テーブルを更新する場合にも適用することができる。以下、チルト角に関して、図９～図１１を参照しながら詳しく説明する。詳しい説明は省略するが、アジマスについても同様である。

図９は、本実施の形態の変形例による補正テーブルを示す図である。この補正テーブルは、スタイラス１０のチルト角に対する較正値（チルト角較正値）を記憶している。チルト角較正値は、角度の差分（Δθ）によって表される。図示しないが、チルト角の較正値を保持する補正テーブルは、位置の較正値を保持する補正テーブルと同様に、部分領域ごとに１次元あるいは２次元位置、あるいは相対位置ごとに応じた較正値を有していてもよいし、あるいは、位置に加えて傾き値を加えた３次元の補正テーブルを用いてもよい。

図１０は、本変形例による補正テーブルを用いたチルトの補正処理を含む電子機器１の動作を示すシーケンス図である。なお、同図では省略しているが、以下で説明するステップＳ３１～Ｓ３３は、図４に示したステップＳ１～Ｓ３と平行して実行される。

本変形例によるセンサコントローラ４は、まず初めに、スタイラス１０のチルト角を検出する（ステップＳ３１）。チルト角の具体的な検出方法については、後述する第２の実施の形態で詳しく説明する。続いてセンサコントローラ４は、チルト角較正値を補正テーブルから読み出し、読み出したチルト角較正値に基づいてチルト角を補正することにより、出力用のチルト角を導出する（ステップＳ３２）。そして、導出した出力用のチルト角をホストプロセッサ２に対してレポートする（ステップＳ３）。チルト角のレポートを受けたホストプロセッサ２の処理は、図４に示したステップＳ５～Ｓ７の処理と同様である。ただしこの場合、ステップＳ５におけるインクデータの生成は、チルト角にも基づいて実行される。

図１１は、本変形例による補正テーブル更新処理を示すフロー図である。図６の場合と同様に、この場合の補正テーブル更新処理もホストプロセッサ２及びセンサコントローラ４が協働して実行する処理であり、同図（ａ）にはホストプロセッサ２側の処理を、同図（ｂ）にはセンサコントローラ４側の処理をそれぞれ示している。なお、同図では省略しているが、図１１（ｂ）に示すステップＳ５１，Ｓ５２は、図６（ｂ）に示したステップＳ２１，Ｓ２２と平行して実行される。

まず図１１（ａ）を参照すると、ホストプロセッサ２は、図６（ａ）の場合と同様の所定のパターンとともに、上述した把持角度指定情報を液晶パネル３ａ上に表示する（ステップＳ４０）。そして、所定パターンの表示位置及び表示期間並びに把持角度指定情報を示すフィードバック情報を、センサコントローラ４に送信する（ステップＳ４１）。

次に図１１（ｂ）を参照すると、センサコントローラ４は、ホストプロセッサ２がステップＳ１１で送信したフィードバック情報を受信する（ステップＳ５０）とともに、フィードバック情報により示される表示期間内におけるスタイラス１０のチルト角を取得する（ステップＳ５１）。ここで取得するチルト角は、図１０のステップＳ３１で検出されるチルト角（補正テーブルによる補正前のチルト角）の上記表示期間内における平均値とすることが好ましい。そして、取得したチルト角と、フィードバック情報に含まれる把持角度指定情報とに基づいて、補正テーブルを更新する処理を行う（ステップＳ５２）。具体的には、図１０のステップＳ３２で導出される補正後のチルト角が把持角度指定情報により示されるチルト角に近づくように、チルト角較正値を更新する。こうすることで、ホストプロセッサ２に供給されるチルト角を、実際のチルト角の値に近づけることが可能になる。

次に、本発明の第２の実施の形態について説明する。本実施の形態による電子機器１の基本的な構成及び機能は、第１の実施の形で説明した電子機器１と同様である。本実施の形態の特徴は、センサコントローラ４がスタイラス１０のチルト角に基づいてリアルタイムで、スタイラス１０の指示位置を補正する点にある。以下、この特徴を中心に、詳しく説明する。

図１２は、本実施の形態によるスタイラス１０の構成、並びに、第１の指示位置ＰＩ１、第２の指示位置ＰＩ２、指示位置ＰＯ、及び較正値Ｃ（ＰＩ）の説明図である。同図に示すように、本実施の形態によるスタイラス１０は、ペン先の近傍に、図５に示したペン電極１０ａ（第１の電極）に加え、チルト角を検出するための追加電極１０ｂ（第２の電極）を有している。追加電極１０ｂは、ペン先側の端部と反対側のペン電極１０ａの端部近傍に設けられる。

第１の指示位置ＰＩ１は、ペン電極１０ａを用いて検出される位置（第１の値）であり、第２の指示位置ＰＩ２は、追加電極１０ｂを用いて検出される位置（第２の値）である。センサコントローラ４が第１の指示位置ＰＩ１及び第２の指示位置ＰＩ２の検出に用いる具体的な方式は任意であるが、例えば、第１の指示位置ＰＩ１を静電容量方式により検出し、第２の指示位置ＰＩ２をアクティブ静電方式により検出することとしてもよい。この場合、静電容量方式による第１の指示位置ＰＩ１の検出は、図１に示した複数の線状電極５ｘ，５ｙと、ペン電極１０ａとの間に生ずる静電容量の変化に基づいて実行される。また、アクティブ静電方式による第２の指示位置ＰＩ２の検出は、追加電極１０ｂを通じてスタイラス１０が送信したペン信号（より具体的には、上述した位置信号）に基づいて実行される。それぞれのより詳細な検出方法は、上述したとおりである。静電容量方式により第１の指示位置ＰＩ１の検出を行う際には、ユーザの指による指示位置と、ペン電極１０ａによる指示位置との識別を行う必要があるが、例えば、検出された指示位置が直前に検出された第２の指示位置ＰＩ２から所定範囲内にあればペン電極１０ａによる指示位置と判定し、そうでなければユーザの指による指示位置と判定することによって、識別することとすればよい。

センサコントローラ４は、第１の指示位置ＰＩ１及び第２の指示位置ＰＩ２の両方を、アクティブ静電方式により検出することとしてもよい。この場合、スタイラス１０は、ペン電極１０ａをアンテナとして用いるペン信号の送信と、追加電極１０ｂをアンテナとして用いるペン信号の送信とを時分割で行う。また、各ペン信号に、送信用のアンテナとして用いた電極を示す１ビットの情報を含める。こうすることで、センサコントローラ４は、ペン信号がペン電極１０ａ及び追加電極１０ｂのいずれから送信されたものかを識別しつつ、両方を順次受信することができる。そして、ペン電極１０ａから送信されたペン信号に基づいて検出された指示位置を第１の指示位置ＰＩ１として取得し、追加電極１０ｂから送信されたペン信号に基づいて検出された指示位置を第２の指示位置ＰＩ２として取得することが可能になる。

第１の指示位置ＰＩ１、第２の指示位置ＰＩ２、及び指示位置ＰＯは、スタイラス１０がタッチ面５ａに対して傾いていなければ、同じ値になる。一方、図１２から理解されるように、スタイラス１０がタッチ面５ａに対して傾いていると、互いに異なる値になる。この場合、第２の指示位置ＰＩ２、第１の指示位置ＰＩ１、及び指示位置ＰＯは、この順で直線上に整列し、第１の指示位置ＰＩ１と指示位置ＰＯの間の距離Ｄ１、及び、第２の指示位置ＰＩ２と第１の指示位置ＰＩ１の間の距離Ｄ２はともに、スタイラス１０の傾きが大きくなるほど大きな値となる。また、距離Ｄ１は、距離Ｄ２が大きくなるほど大きな値となる。

取得すべき第１の指示位置ＰＩ１の較正値Ｃ（ＰＩ）は、図１２に示すように、距離Ｄ１と同じ大きさの値になる。本実施の形態によるセンサコントローラ４は、第２の指示位置ＰＩ２に基づいてこの較正値Ｃ（ＰＩ）を取得し、取得した較正値Ｃ（ＰＩ）に基づいて第１の指示位置ＰＩ１を補正することにより、出力位置を導出するよう構成される。こうして導出された指示位置は、指示位置ＰＯに等しくなる。以下、センサコントローラ４が行う出力位置レポート処理のフロー図を参照しながら、この補正及び出力位置の導出について詳しく説明する。

図１３は、本実施の形態によるセンサコントローラ４が行う出力位置レポート処理を示すフロー図である。同図に示すように、センサコントローラ４はまず、アクティブ静電方式により、スタイラス１０の第２の指示位置ＰＩ２を取得する（ステップＳ６０。第２の値取得ステップ）。続いてセンサコントローラ４は、アクティブ静電方式又は静電容量方式により、スタイラス１０の第１の指示位置ＰＩ１を取得する（ステップＳ６１。第１の値取得ステップ）。そして、最新の第１の指示位置ＰＩ１及び第２の指示位置ＰＩ２に基づいて、第１の指示位置ＰＩ１の較正値を取得する（ステップＳ６２）。

図１４は、ステップＳ６２で実施される処理の説明図である。同図に示す距離Ｄ３，Ｄ４はそれぞれ、ペン電極１０ａの中心と追加電極１０ｂの中心の間の距離、及び、スタイラス１０のペン先と追加電極１０ｂの中心の間の距離であり、ともに既知の値である。したがって、図１４から理解されるように、次の式（１）を較正値Ｃ（ＰＩ）について解くことにより、較正値Ｃ（ＰＩ）を導出することができる。
Ｃ（ＰＩ）＋Ｄ２：Ｄ４＝Ｃ（ＰＩ）：Ｄ４－Ｄ３ ・・・（１）

式（２）は、式（１）を較正値Ｃ（ＰＩ）について解いた結果を示している。ステップＳ６２では、この式（２）を用いて、第１の指示位置ＰＩ１の較正値Ｃ（ＰＩ）が導出される。
Ｃ（ＰＩ）＝（Ｄ４－Ｄ３）×Ｄ２／Ｄ３ ・・・（２）

ここで、式（２）内に現れるＤ２／Ｄ３は、図１４に示したスタイラス１０のチルト角θを用いると、次の式（３）のように表すことができる。
Ｄ２／Ｄ３＝ｃｏｓθ ・・・（３）

したがって、上記した式（２）は、次の式（４）のように書き直すことができる。ステップＳ６２の処理では、初めに式（３）を用いて距離Ｄ２，Ｄ３からチルト角θ（又はその余弦）を求め、その結果を式（４）に代入することにより、第１の指示位置ＰＩ１の較正値Ｃ（ＰＩ）を導出することとしてもよい。
Ｃ（ＰＩ）＝（Ｄ４－Ｄ３）×ｃｏｓθ ・・・（４）

なお、較正値の導出は、ＰＩ２とＰＩ１との間の距離に応じた較正量Ｃ（Ｉ）を事前に記憶したメモリから読みだすことによって行うこととしてもよい。他、チルトθはパネル面の法線方向を０°と定義してもよい。

図１３に戻り、較正値Ｃ（ＰＩ）を取得したセンサコントローラ４は、次に、取得した較正値Ｃ（ＰＩ）に基づいて第１の指示位置ＰＩ１を補正することにより、出力位置を導出する（ステップＳ６３。補正ステップ）。図１４から明らかなように、こうして導出される出力位置は、第１の指示位置ＰＩ１と第２の指示位置ＰＩ２を結ぶ線分の外分点となる。

センサコントローラ４は、こうして導出した出力位置を、ホストプロセッサ２に対してレポートする（ステップＳ６４。出力ステップ）。これにより、第２の指示位置ＰＩ２に基づいて取得された較正値Ｃ（ＰＩ）に基づいて補正された第１の指示位置ＰＩ１（＝指示位置ＰＯ）がレポートされることになる。

出力位置をレポートした後、センサコントローラ４は、第１の指示位置ＰＩ１の取得を所定回数繰り返したか否かを判定する（ステップＳ６５）。図示していないが、この判定処理は、スタイラス１０においても同様に実施される。そして、まだ所定回数繰り返していないと判定した場合にはステップＳ６１に戻り、所定回数繰り返したと判定した場合にはステップＳ６０に戻る。これにより、第２の指示位置ＰＩ２の取得は、第１の指示位置ＰＩ１の取得が複数回実行される都度１回実行される頻度で、実行されることになる。こうすることにより、第１の指示位置ＰＩ１の取得頻度を上げることが可能になる。

以上説明したように、本実施の形態によれば、第２の指示位置ＰＩ２に基づいてスタイラス１０の指示位置を補正することができるので、ペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを正確に補正することが可能になる。

なお、本実施の形態では、第２の指示位置ＰＩ２に基づいてスタイラス１０の指示位置を補正することとしたが、第２の指示位置ＰＩ２以外のスタイラス１０に関連する値（第２の値）に基づいて、スタイラス１０の指示位置を補正することとしてもよい。例えば、スタイラス１０がジャイロを搭載するものである場合には、このジャイロの出力からスタイラス１０のチルト角θを取得し、上記した式（４）により較正値Ｃ（ＰＩ）を求め、その結果を用いてスタイラス１０の指示位置を補正することとしてもよい。

また、図１３のステップＳ６０において第２の指示位置ＰＩ２を取得する際、取得した第２の指示位置ＰＩ２が液晶パネル３ａの画面外の領域（いわゆるベゼル領域）に位置していた場合には、その第２の指示位置ＰＩ２を使用せず、それまでに取得していた最新のチルト角θを使用して、指示位置の補正を行うこととしてもよい。以下、図１５及び図１６を参照しながら、この点について詳しく説明する。

図１５は、本実施の形態の第１の変形例の説明図である。同図に示すように、液晶表示装置３の液晶パネル３ａは、表示領域３ａａの周囲にベゼル領域３ａｂが設けられた構成を有している。ベゼル領域３ａｂ内には、表示領域３ａａ内の電極等と液晶表示装置３の駆動回路（図示せず）とを接続するために必要となる各種の配線が配置される。タッチ面５ａは、図１５に示すように表示領域３ａａよりも少し大きく形成されており、これによりセンサコントローラ４は、表示領域３ａａの周辺においてもスタイラス１０の指示位置を検出可能に構成される。

ここで、スタイラス１０がタッチ面５ａの縁部近傍に位置している場合、ペン電極１０ａはタッチ面５ａの内側に位置しているが追加電極１０ｂはタッチ面５ａの外側に位置している、という状態が発生し得る。そうすると、センサコントローラ４は、図１３のステップＳ６０で第２の指示位置ＰＩ２の取得に失敗してしまうので、ステップＳ６２で較正値を取得することができなくなってしまう。

そこで本変形例においては、まず前提として、ステップＳ６２の処理を実行する前にチルト角θ（又はその余弦）を導出し、ステップＳ６２では、このチルト角θを上述した式（４）に代入することにより第１の指示位置ＰＩ１の較正値Ｃ（ＰＩ）を導出するようにセンサコントローラ４を構成する。そして、第２の指示位置ＰＩ２が正常に取得できなかった場合には、それまでに導出していた最新のチルト角θを使用して較正値の導出を実行するようにセンサコントローラ４を構成する。こうすることで、第２の指示位置ＰＩ２の取得に失敗した場合であっても、引き続き較正値Ｃ（ＰＩ）を導出することが可能になる。以下、本変形例によるセンサコントローラ４が行う出力位置レポート処理のフロー図を参照しながら、この処理について詳しく説明する。

図１６は、本変形例によるセンサコントローラ４が行う出力位置レポート処理を示すフロー図である。図１３と比較すると理解されるように、このフロー図は、ステップＳ６２をステップＳ６２ａ～Ｓ６２ｄに分解したものとなっている。以下、図１３のフロー図との相違点に着目して説明する。

ステップＳ６１で第１の指示位置ＰＩ１を取得したセンサコントローラ４は、ステップＳ６０において第２の指示位置ＰＩ２が正常に取得されていたか否かを判定する（ステップＳ６２ａ）。そして、正常に取得されていたと判定した場合には、第１の指示位置ＰＩ１及び第２の指示位置ＰＩ２に基づいてスタイラスのチルト角θ（又はその余弦）を導出し、メモリ４ｂ（図１を参照）に保持する（ステップＳ６２ｂ）。この導出は、具体的には、上述した式（３）によって行えばよい。

一方、ステップＳ６２ａにおいて正常に取得されていなかったと判定した場合には、メモリ４ｂからスタイラスのチルト角θを読み出す（ステップＳ６２ｃ）。これにより、それまでに導出していた最新のチルト角θが読み出されることになる。

ステップＳ６２ｂ又はステップＳ６２ｃが終了した後、センサコントローラ４は、ステップＳ６２ｂで導出したチルト角θ、又は、ステップＳ６２ｃで読み出したチルト角θに基づいて、第１の指示位置ＰＩ１の較正値Ｃ（ＰＩ）を取得する（ステップＳ６２ｄ）。この取得は、具体的には、上述した式（４）によって行えばよい。

このように本変形例によれば、スタイラス１０がタッチ面５ａの縁部近傍に位置しているために第２の指示位置ＰＩ２が正常に取得できなくなっている場合においても、それまでに取得されていたチルト角θを用いて、第１の指示位置ＰＩ１の較正値Ｃ（ＰＩ）を導出することが可能になる。なお、スタイラス１０が図１５に示したベゼル領域３ａｂ内に位置するのは、通常、筆記の勢いでスタイラス１０が表示領域３ａａの外へ飛び出した場合であると考えられ、そのような場合にはチルト角θは一定値を維持すると考えられることから、本変形例のように過去に導出したチルト角θを用いるとしても、描画結果が不自然となることはほとんどないと考えられる。

また、本実施の形態では、第２の指示位置ＰＩ２を取得するために追加電極１０ｂを用いたが、その他の方法で第２の指示位置ＰＩ２を取得することとしてもよい。以下、図１７を参照しながら、その一例について説明する。

図１７は、本実施の形態の第２の変形例によるスタイラス１０の構成、並びに、第１の指示位置ＰＩ１、第２の指示位置ＰＩ２、指示位置ＰＯ、及び較正値Ｃ（ＰＩ）の説明図である。同図に示すように、本変形例によるスタイラス１０には、追加電極１０ｂは設けられない。

本変形例によるセンサコントローラ４は、スタイラス１０がペン電極１０ａを通じて送信したペン信号に基づいて第１の指示位置ＰＩ１を取得する一方、複数の線状電極５ｘ，５ｙ（図１を参照）とペン電極１０ａとの間に生ずる静電容量の変化に基づいて第２の指示位置ＰＩ２を取得するよう構成される。つまり、本変形例では、同じペン電極１０ａを静電容量方式とアクティブ静電方式の両方で検出し、それぞれで検出された指示位置を第１の指示位置ＰＩ１及び第２の指示位置ＰＩ２として取得する。

メモリ４ｂ内には、予め、本変形例による距離Ｄ２（第２の指示位置ＰＩ２と第１の指示位置ＰＩ１の間の距離）と、スタイラス１０のチルト角θとの関係を示す関数がスタイラス１０の特性のひとつとして格納される。センサコントローラ４は、スタイラス１０から受信された固有ＩＤに応じてメモリ４ｂからこの関数を読み出し、式（３）に代えて読み出した関数を用いることにより、チルト角θを導出する。このように、本変形例においてもチルト角θを導出することができるので、センサコントローラ４はこの後、図１３又は図１６を参照して説明した処理と同様にして、較正値Ｃ（ＰＩ）を取得し、取得した較正値Ｃ（ＰＩ）に基づいて第１の指示位置ＰＩ１を補正することができる。したがって、本変形例においても、ペン座標とインクデータの表示位置との間のズレを正確に補正することが可能になる。

なお、第２の実施の形態で説明したチルト角θに応じて、補正前の第１の指示位置ＰＩ１ではなく、補正された後の第１の指示位置ＰＩ１に対して実施の形態１の座標較正を行うとしてもよい。この構成によれば、第２の実施の形態に示した比較的に計算負荷の少ない演算により大きな誤差を導出し、その後演算結果に対して補正テーブルを保持あるいは更新することが可能となり、第１の実施の形態のテーブルをより小さいメモリで構成することが可能となる可能性がある。

また、補正テーブルは、データ構造として必ずしもテーブルの形状で保持されていなくてもよい。例えば、位置に応じて較正量が得られるように対応付けられた補正データであれば足り、リスト、配列、ＬＵＴ、アドレス対応、所定の関数近似、ニューラルネットワーク、あるいはそれを再生する係数行列のようなデータ構造でも構わない。

以上、本発明の好ましい実施の形態について説明したが、本発明はこうした実施の形態に何等限定されるものではなく、本発明が、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施され得ることは勿論である。

１ 電子機器
２ ホストプロセッサ
２ａ プロセッサ
２ｂ メモリ
３ 液晶表示装置
３ａ 液晶パネル
３ａａ 表示領域
３ａｂ ベゼル領域
４ センサコントローラ
４ａ プロセッサ
４ｂ メモリ
５ タッチセンサ
５ａ タッチ面
５ｘ，５ｙ 線状電極
１０ スタイラス
１０ａ ペン電極
１０ｂ 追加電極

Claims (24)

1. 表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、
   所定パターンの前記表示部上における表示位置を示すフィードバック情報をホストプロセッサから受信する受信ステップと、
   前記スタイラスの一連の指示位置を検出するステップと、
   受信した前記フィードバック情報により示される前記表示位置、及び、検出した前記一連の指示位置に基づき、前記操作面上に配置された複数の位置ごとに位置較正値を記憶する補正テーブルに記憶される複数の前記位置較正値のうちの少なくとも一部を更新するフィードバックステップと、
   前記スタイラスの暫定指示位置を検出する暫定指示位置検出ステップと、
   前記補正テーブルから前記暫定指示位置に対応する位置較正値を読み出し、該位置較正値に基づいて前記暫定指示位置を補正することにより出力位置を導出する補正ステップと、
   前記出力位置を前記ホストプロセッサに対してレポートする出力ステップと、
   を含む方法。
2. 前記所定パターンは、前記スタイラスを用いて前記操作面を所定の連続区間にわたってなぞる操作の実施をユーザに対して促すためのパターンを含み、
   前記フィードバック情報は、前記ホストプロセッサによる前記所定パターンの表示期間を示す情報を含む、
   請求項１に記載の方法。
3. 前記フィードバックステップは、前記フィードバック情報により示される前記表示期間内における前記スタイラスの一連の指示位置に基づいて、前記補正テーブルに記憶される複数の位置較正値のうちの少なくとも一部を更新する、
   請求項２に記載の方法。
4. 前記ホストプロセッサは、前記所定パターンを含む複数のパターンを前記表示部に順次表示するよう構成され、
   前記フィードバックステップは、前記ホストプロセッサによる前記複数のパターンそれぞれの表示の都度、実行される、
   請求項３に記載の方法。
5. 前記所定パターンは線分である、
   請求項１乃至４のいずれか一項に記載の方法。
6. 前記所定パターンは前記表示部の画面の対角線に相当する線分である、
   請求項５に記載の方法。
7. 前記所定パターンは前記表示部の画面の一辺に相当する線分である、
   請求項５に記載の方法。
8. 前記ホストプロセッサは、ユーザに対して前記所定パターンの表示中におけるスタイラスの把持角度を指定するための把持角度指定情報を前記表示部に表示するよう構成される、
   請求項１乃至７のいずれか一項に記載の方法。
9. 前記補正テーブルは、前記スタイラスのチルト角を補正するためのチルト角較正値をさらに記憶し、
   前記フィードバック情報は前記把持角度指定情報を含み、
   前記フィードバックステップは、受信した前記フィードバック情報に含まれる前記把持角度指定情報と、前記表示部に前記所定パターンが表示されているときに取得された前記スタイラスのチルト角とに基づき、前記補正テーブルに記憶される前記チルト角較正値を更新する、
   請求項８に記載の方法。
10. 前記ホストプロセッサは、前記所定パターンを複数回にわたり前記表示部に表示し、該表示に対応して前記デバイスによって検出された前記複数回分の前記スタイラスの指示位置に対して所定の統計処理を行うよう構成され、
    前記フィードバック情報は、前記統計処理の結果を示す情報を含む、
    請求項１に記載の方法。
11. 前記所定パターンは、前記スタイラスを用いて前記操作面を所定の連続区間にわたってなぞる操作の実施をユーザに対して促すためのパターンを含み、
    前記所定の統計処理は、前記所定パターンと、該所定パターンが前記表示部に表示されているときに前記デバイスが検出した一連の指示位置との関係に基づく統計処理である、
    請求項１０に記載の方法。
12. 前記所定の統計処理は、前記一連の指示位置を所定の関数に近似することによって得られる近似式と、前記所定パターンとの誤差の導出処理を含み、
    前記フィードバック情報は、前記誤差を小さくする方向に前記位置較正値を変更するための情報を含む、
    請求項１１に記載の方法。
13. 前記所定の統計処理は、前記誤差に基づき、前記操作面上に配置された複数の位置のそれぞれに適した位置較正値を機械学習する処理である、
    請求項１２に記載の方法。
14. 表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、
    静電容量方式により前記スタイラスの指示位置である第１の値を取得する第１の値取得ステップと、
    前記スタイラスが送信したペン信号に基づいて前記スタイラスに関連する第２の値を取得する第２の値取得ステップと、
    前記第２の値に基づいて取得される前記第１の値の較正値に基づいて前記第１の値を補正することにより、出力位置を導出する補正ステップと、
    前記出力位置をホストプロセッサに対してレポートする出力ステップと、
    を含む方法。
15. 前記第２の値は、前記第１の値とは異なる前記スタイラスの指示位置であり、
    前記出力位置は、前記第１の値と前記第２の値を結ぶ線分の外分点である、
    請求項１４に記載の方法。
16. 前記較正値は、前記出力位置と前記第１の値との間の距離に相当する値であり、
    前記較正値は、前記第１の値と前記第２の値との間の距離が大きくなるほど大きくなる、
    請求項１４に記載の方法。
17. 表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、
    前記スタイラスの指示位置である第１の値を取得する第１の値取得ステップと、
    前記スタイラスに関連する第２の値を取得する第２の値取得ステップと、
    前記第２の値に基づいて取得される前記第１の値の較正値に基づいて前記第１の値を補正することにより、出力位置を導出する補正ステップと、
    前記出力位置をホストプロセッサに対してレポートする出力ステップと、
    を含み、
    前記第１の値取得ステップと前記第２の値取得ステップとは、時分割で実行され、
    前記第２の値取得ステップは、前記第１の値取得ステップが複数回実行される都度１回実行される頻度で実行され、
    前記補正ステップは、前記第１の値取得ステップが実行される都度、最新の前記第１及び第２の値を用いて、前記較正値の取得及び前記出力位置の導出を行う、
    方法。
18. 前記第１の値取得ステップは、前記操作面内に配置された複数の電極と、前記スタイラスのペン先の近傍に設けられた第１の電極との間に生ずる静電容量の変化に基づいて前記第１の値を取得する、
    請求項１４に記載の方法。
19. 前記第２の値取得ステップは、前記スタイラスのペン先の近傍に設けられかつ前記第１の電極とは異なる第２の電極を通じて前記スタイラスが送信したペン信号に基づいて前記第２の値を取得する、
    請求項１８に記載の方法。
20. 表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、
    前記スタイラスの指示位置である第１の値を取得する第１の値取得ステップと、
    前記スタイラスに関連する第２の値を取得する第２の値取得ステップと、
    前記第２の値に基づいて取得される前記第１の値の較正値に基づいて前記第１の値を補正することにより、出力位置を導出する補正ステップと、
    前記出力位置をホストプロセッサに対してレポートする出力ステップと、
    を含み、
    前記第１の値取得ステップは、前記スタイラスのペン先の近傍に設けられた第１の電極を通じて前記スタイラスが送信したペン信号に基づいて前記第１の値を取得し、
    前記第２の値取得ステップは、前記スタイラスのペン先の近傍に設けられかつ前記第１の電極とは異なる第２の電極を通じて前記スタイラスが送信したペン信号に基づいて前記第２の値を取得する、
    方法。
21. 表示部と重畳して設けられた操作面上におけるスタイラスの指示位置を検出可能に構成されたデバイスによって実行される方法であって、
    前記スタイラスがペン先の近傍に設けられた第１の電極を通じて送信したペン信号に基づいて、前記スタイラスの第１の指示位置を取得する第１の指示位置取得ステップと、
    前記操作面内に配置された複数の電極と、前記第１の電極との間に生ずる静電容量の変化に基づいて、前記スタイラスの第２の指示位置を取得する第２の指示位置取得ステップと、
    前記第１及び第２の指示位置に基づいて、前記スタイラスのチルト角を導出するチルト角導出ステップと、
    を含む方法。
22. 前記傾チルト角導出ステップは、前記第１の指示位置と前記第２の指示位置の間の距離に応じて前記チルト角を導出する、
    請求項２１に記載の方法。
23. 前記チルト角に基づいて前記第１の指示位置の較正値を取得し、取得した前記較正値に基づいて前記第１の指示位置を補正することにより、出力位置を導出する補正ステップと、
    前記出力位置をホストプロセッサに対してレポートする出力ステップと、
    を含む請求項２１又は２２に記載の方法。
24. 前記チルト角導出ステップは、導出したチルト角をメモリに保持するよう構成され、
    前記方法は、
    前記第２の指示位置取得ステップにおいて、前記第２の指示位置が正常に取得されたか否かを判定するステップと、
    前記第２の指示位置取得ステップにおいて前記第２の指示位置が正常に取得されていなかったと判定した場合に、前記メモリからチルト角を読み出すステップと、
    をさらに含む請求項２１に記載の方法。

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