JP7268097B2 - オンセルタッチディスプレイの製造方法 - Google Patents
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Description
本評価では、実施例及び比較例の導電性薄膜を作製するために、銀ナノワイヤを基板上にスピンコートした後、焼成温度を100℃未満、焼成時間を0.5、1、2、5、10、20、30分として焼成した。次に、実施例及び比較例の銀ナノワイヤの表面抵抗値及び均一性値(uniformity value)を試験した。
不均一性(%)=(Rsmax-Rsmin)/2×Rsaverage
10%未満の不均一性値を有する導電性薄膜は大きな均一性を有する。
本評価では、第1の導電性薄膜23及び第2の導電性薄膜25の線抵抗を、本開示の製造プロセスにおける4つの期間にわたって評価し、異なる製造ステップ後に第1の導電性薄膜23又は第2の導電性薄膜25の線抵抗が影響を受けるか否かを調べた。具体的には、本製造方法のステップ(A)~ステップ(C)を第1の製造ステップ(PEP1)とした。PEP1中の第1の導電性薄膜23の5本の導電線(Tx1~Tx5)の線抵抗を測定した。ステップ(D)~ステップ(E)を本製造方法の第2の製造ステップ(PEP2)とし、PEP2における第1の導電性薄膜23の5本の導電線(Tx1~Tx5)の線抵抗を測定した。第2の導電性薄膜25を形成するステップ(F)を本製造方法の第3の製造ステップ(PEP3)とし、第1の導電性薄膜23の5本の導電線(Tx1~Tx5)とPEP3の5本の導電線(Rx1~Rx5)の線抵抗を測定した。最後に、保護膜形成ステップ(G)を本製造方法の第4の製造ステップ(PEP4)とし、第1の導電性薄膜23の5本の導電線(Tx1~Tx5)とPEP4の5本の導電線(Rx1~Rx5)の線抵抗を測定した。結果を表2に示す。
Claims (5)
- (A)表示パネルを提供するステップ;
(B)以下を備える前記表示パネル上に第1の銀ナノワイヤ層を形成するステップ;
(B-1)前記表示パネル上に前記銀ナノワイヤを含む第1のインクを被覆するステップと、
(B-2)低温焼成処理を行うステップであって、前記低温焼成処理の焼成温度が100℃未満であり、前記低温焼成処理の焼成時間が5分以上であることを特徴とする、前記第1の銀ナノワイヤ層の形成ステップと、
(C)第1の導電性薄膜を形成するために前記第1の銀ナノワイヤ層をパターニングするステップ;
(D)前記第1の導電性薄膜上に絶縁材料を被覆し、前記絶縁材料をパターニングして絶縁層を形成するステップ;
(E)以下を備える前記絶縁層上に第2の銀ナノワイヤ層を形成するステップ;
(E-1)前記絶縁層上に前記銀ナノワイヤを含む第2のインクを被覆するステップと、
(E-2)低温焼成処理を行うステップであって、前記低温焼成処理の焼成温度が100℃未満であり、前記低温焼成処理の焼成時間が5分以上であることを特徴とする、前記第2の銀ナノワイヤ層の形成ステップと、
(F)前記第2の銀ナノワイヤ層をパターニングして第2の導電性薄膜を形成するステップ;及び
(G)前記第2の導電性薄膜上に、オンセルタッチディスプレイを実現するための保護膜を形成するステップ、
を備え、
前記第1の導電性薄膜の不均一性値及び前記第2の導電性薄膜の不均一性値がそれぞれ15%未満であり、
前記ステップ(B)における前記第1の銀ナノワイヤ層の表面抵抗値、及び前記ステップ(E)における前記第2の銀ナノワイヤ層の表面抵抗値が、それぞれ50~100Ω/sqである、
オンセルタッチディスプレイの製造方法。 - 前記ステップ(B)における前記第1の銀ナノワイヤ層の表面抵抗値、及び前記ステップ(E)における前記第2の銀ナノワイヤ層の表面抵抗値が、それぞれ50~80Ω/sqであることを特徴とする、請求項1に記載の製造方法。
- 前記ステップ(B)が、前記ステップ(B-1)と前記ステップ(B-2)との間に、
(B-1')前記銀ナノワイヤ層上にハードコート層を形成するステップ
を備える、請求項1に記載の製造方法。 - 前記ステップ(E)が、前記ステップ(E-1)と前記ステップ(E-2)との間に、
(E-1')前記銀ナノワイヤ層上にハードコート層を形成するステップ
を備える、請求項1に記載の製造方法。 - 前記ステップ(A)の前記表示パネルは、フリープラズマディスプレイパネル(PDP)、液晶表示パネル(LCD)、薄膜トランジスタ液晶表示パネル(TFT-LCD)、有機発光ダイオード表示パネル(OLED)、発光ダイオード表示パネル(LED)、電気エレクトロルミネッセンスディスプレイパネル(ELD)、表面伝導電子放出表示パネル(SED)、及び電界放出表示パネル(FED)からなる群より選択される、請求項1~4の何れか一項に記載の製造方法。
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