JP7266434B2 - 眼科装置及びその作動方法 - Google Patents

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Description

本発明は、被検眼に対して光を照射する眼科装置及びその作動方法に関する。
眼科には、例えば細隙灯顕微鏡（スリットランプともいう）、ＯＣＴ（Optical Coherence Tomography）装置、眼底カメラ、及びＳＬＯ（Scanning Laser Ophthalmoscope）などのように、被検眼に対して照明光（観察光）又は検査光などの各種の光を照射する眼科装置が設けられている。
このような眼科装置には、被検眼に対する光照射の安全性に関する要求事項が規定された規格、例えば、光ハザードからの保護に関する規格が適用される。この規格については、例えばＩＳＯ（International Organization For Standardization） １５００４－２：２００７（Ophthalmic Instruments - Fundamental Requirements And Test Methods - Part2：light hazard protection）（ＪＩＳ Ｔ １５００４－２：２０１３）に規定されている。
特許文献１には、照明光源から出射されるスリット光の光度を測定し、この光度が所定の最大光度値よりも大きくならないように照明光源の制御を行う、或いは光度が最大光度値よりも大きくなる場合に警告表示等を行う細隙灯顕微鏡が記載されている。
また、特許文献２には、被検眼に照明光を照射する眼科用顕微鏡と被検眼に測定光を照射するＯＣＴ装置とを組み合わせた複合機が記載されている。この特許文献２に記載の複合機は、例えば測定光の光量を検出する光量検出部の検出結果に基づき、照明光及び測定光の合成光の光量が既定値以下となるように動作モードに応じて照明光又は測定光の光量制御を行う。
特開２０１８－１８７０６４号公報 特開２０１７－０１２４３２号公報
被検眼を光ハザードから保護するためには、被検眼に照射される光の照射光量（露光量ともいう）を上記ＩＳＯ規格等で定められている最大許容量以下に抑えることが望ましい。ここで、光の照射光量とは、被検眼に照射される光の強度（単位面積における単位時間当たりの光量）を時間積分することで得られる物理量である。そして、この照射光量は、被検眼に照射される光の強度の大きさに応じて増減する以外に、被検眼に対する光の積算照射時間の長さに応じて増減する。このため、上記特許文献１に記載されているように照明光源から出射されるスリット光の光度だけを制御又は監視したとしても、被検眼に対するスリット光の積算照射時間が長くなると、被検眼に対するスリット光の照射光量が著しく増加するおそれがある。
また、特許文献２では、光の「光量」と「強度」とを同一視しており、合成光の光量検出として実質的には合成光の強度検出のみを行っている（段落［００１７］参照）。このため、特許文献２に記載の装置においても被検眼に対する合成光の積算照射時間が長くなると、被検眼に対する合成光の照射光量が著しく増加するおそれがある。
このように特許文献１及び特許文献２に記載の各種眼科装置は、被検眼に対して照射される光の積算照射時間を考慮していないので、被検眼に対する光の照射光量を正確に求めることができない。このため、被検眼を光ハザードから確実に保護することができる眼科装置の開発が望まれていた。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、被検眼を光ハザードから確実に保護することができる眼科装置及びその作動方法を提供することを目的とする。
本発明の目的を達成するための眼科装置は、光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系と、光源から出射された光の少なくとも一部を受光して光の強度を検出する光強度検出系であって、且つ光源が光の強度を変更可能である場合には少なくとも光の強度が変更されるごとに光の強度の検出を行う光強度検出系と、被検眼に対する光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定部と、光強度検出系の検出結果と照射時間測定部の測定結果とに基づき、被検眼に照射される光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定部と、を備える。
この眼科装置によれば、被検眼に照射される光の積算照射時間を考慮して、被検眼に対する光の照射光量を推定することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、照射光量推定部が推定した照射光量が予め定めた上限値よりも大きくなる場合に警告情報を報知する警告情報報知部を備える。これにより、被検眼の光ハザードの警告情報を検者に報知することができるので、被検眼を光ハザードから確実に保護することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、照射光量推定部が推定した照射光量を報知する照射光量報知部を備える。これにより、被検眼に対する光の照射光量を検者に報知することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、光強度検出系が、偏向光学素子と、光の光路外に配置された受光素子と、偏向光学素子を、光の少なくとも一部を受光素子にて受光可能な方向に偏向させる偏向状態と、光を通過させる通過状態とに切り替える切替機構と、を備え、受光素子が、偏向状態の偏向光学素子により偏向された光を受光する。これにより、受光素子から出力される光の受光信号に基づき、光の強度を検出することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、光源のオンオフを検出する動作検出部を備え、照射時間測定部が、動作検出部の検出結果に基づき、光源がオンされている時間を積算照射時間として測定する。これにより、積算照射時間を正確に測定することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、被検眼に対して照射系を相対移動自在に支持する支持機構と、照射系の位置を検出する位置検出部と、を備え、照射時間測定部が、位置検出部の検出結果に基づき、照射系の位置が予め定められた被検眼に対する光の照射位置範囲内にセットされている時間を積算照射時間として測定する。これにより、積算照射時間を正確に測定することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、被検者の顔を支持する顎受けと、顎受けによる顔の支持の有無を検出する顔検出部と、を備え、照射時間測定部が、顔検出部の検出結果に基づき、顎受けが顔を支持している時間を積算照射時間として測定する。これにより、積算照射時間を正確に測定することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、被検眼の前眼部を継続的に撮影する撮影系と、撮影系により撮影された前眼部の撮影画像ごとに、撮影画像に基づいて前眼部に対して光が照射されている否かを検出する光照射検出部と、を備え、照射時間測定部が、撮影画像ごとの光照射検出部の検出結果に基づき、積算照射時間を測定する。これにより、積算照射時間を正確に測定することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、光照射検出部の検出結果に基づき、光が照射されている前眼部の撮影画像ごとに、撮影画像内での光の照射位置を検出する照射位置検出部を備え、照射時間測定部が、照射位置検出部の検出結果に基づき、撮影画像内の複数の領域ごとの積算照射時間を継続的に測定し、照射光量推定部が、光強度検出系の検出結果と複数の領域ごとの照射時間測定部の測定結果とに基づき、複数の領域ごとの照射光量を継続的に推定する。これにより、検者が複数の領域ごとの照射光量を容易に把握することができるので、被検眼の前眼部の全ての領域を光ハザードから確実に保護することができる。
本発明の他の態様に係る眼科装置において、被検眼に対して照射される光の波長域を検出する波長域検出部と、波長域検出部の検出結果に基づき、照射光量推定部が推定した照射光量に対して、波長域ごとに予め定められた係数を乗ずる乗算部と、を備える。これにより、被検眼に照射される光の波長域に関係なく被検眼を光ハザードから確実に保護することができる。
本発明の目的を達成するための眼科装置の作動方法は、光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系を備える眼科装置の作動方法において、光源から出射された光の少なくとも一部を受光して光の強度を検出する光強度検出ステップであって、且つ光源が光の強度を変更可能である場合には少なくとも光の強度が変更されるごとに光の強度の検出を行う光強度検出ステップと、被検眼に対する光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定ステップと、光強度検出ステップの検出結果と照射時間測定ステップの測定結果とに基づき、被検眼に照射される光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定ステップと、を有する。
本発明の他の態様に係る眼科装置の作動方法において、照射光量推定ステップで推定した照射光量が予め定めた上限値よりも大きくなる場合に警告情報を報知する警告情報報知ステップを有する。
本発明は、被検眼を光ハザードから確実に保護することができる。
細隙灯顕微鏡の側面図である。 照明系、観察系、及び撮影系の各光学系の構成を示した概略図である。 細隙形成部が細隙形成状態に切り替えられている受光系の概略図である。 細隙形成部が閉じ状態に切り替えられている受光系５５の概略図である。 第１実施形態の制御部の機能ブロック図である。 検出部の第１例を説明するための説明図である。 検出部の第２例を説明するための説明図である。 検出部の第３例を説明するための説明図である。 細隙光の照射光量の報知を説明するための説明図である。 光ハザードの警告情報の報知を説明するための説明図である。 細隙灯顕微鏡による細隙光の照射光量の推定及び光ハザードの警告情報の報知の流れを示すフローチャートである。 第２実施形態の細隙灯顕微鏡の制御部の機能ブロック図である。 光照射検出部の機能を説明するための説明図である。 第２実施形態の照射時間測定部による細隙光の積算照射時間の測定を説明するための説明図である。 第３実施形態の細隙灯顕微鏡の制御部の機能ブロック図である。 第３実施形態の制御部により生成される積算マップ画像の一例を示した説明図である。 第４実施形態の細隙灯顕微鏡の制御部の機能ブロック図である。 第５実施形態の細隙灯顕微鏡の照明系及び受光系の概略図である。 表示部の一例を説明するための説明図である 細隙灯顕微鏡とは異なる本発明の眼科装置の装置本体の概略図である。
［第１実施形態］
＜細隙灯顕微鏡の構成＞
図１は、テーブル９上に載置された細隙灯顕微鏡１０の側面図である。この細隙灯顕微鏡１０は、本発明の眼科装置に相当するものであり、被検眼Ｅの角膜観察、眼底観察、及び水晶体観察等の各種観察に用いられる。
図１に示すように、細隙灯顕微鏡１０は、本体ベース１１と、顎受け台１２と、電動駆動部１３と、移動ステージ１４と、操作レバー１５と、支持部１６と、照明系１８と、観察系１９と、制御部２０と、を備える。
本体ベース１１は、テーブル９上に載置されている。この本体ベース１１の被検者側の端部には顎受け台１２が設けられている。また、本体ベース１１の上面には、電動駆動部１３及び移動ステージ１４が設けられている。
顎受け台１２は、図中上下方向に位置調整可能な顎受け１２ａ及び額当て１２ｂを有しており、細隙灯顕微鏡１０による被検眼Ｅの観察時に被検者の顔を支持する。
電動駆動部１３は、本体ベース１１上において移動ステージ１４を水平方向（前後方向及び左右方向）に移動自在に保持している。また、移動ステージ１４の上面には、操作レバー１５及び支持部１６が設けられている。なお、前後方向は被検者に近づく前方向と被検者から遠ざかる後方向であり、左右方向は被検者の眼幅方向である。
電動駆動部１３は、不図示のモータと、このモータの回転を水平方向の駆動力に変換する不図示の駆動伝達機構と、を備えている。この電動駆動部１３は、後述の制御部２０の制御の下、操作レバー１５の操作に応じて移動ステージ１４を水平方向に移動させる。これにより、被検眼Ｅに対する支持部１６（照明系１８及び観察系１９）の位置調整が可能となり、照明系１８等が被検眼Ｅに対して相対移動自在となる。なお、移動ステージ１４、後述の支持部１６及び支持アーム２３と共に本発明の支持機構を構成する。
操作レバー１５は、移動ステージ１４の上面における検者側の端部に設けられている。この操作レバー１５は、支持部１６（照明系１８及び観察系１９）を前後方向及び左右方向に移動操作するための操作部材である。例えば、操作レバー１５を前後方向又は左右方向に傾倒操作することで、後述の制御部２０の制御の下、電動駆動部１３が移動ステージ１４を前後方向又は左右方向に移動させる。なお、図示は省略するが、操作レバー１５の頂部には、被検眼Ｅの撮影等に用いるスイッチが設けられている。
支持部１６は、照明系１８及び観察系１９をそれぞれ支持している。この支持部１６には、観察系１９を支持する支持アーム２２が左右方向に回動自在（上下方向に平行な軸周りに回動自在）に取り付けられている。支持アーム２２は、図中前後方向に延びた水平部と、この水平部の後方向側の基端部から上方向に延びた垂直部と、を有している。支持アーム２２の水平部の上面には、照明系１８を支持する支持アーム２３が左右方向に回動自在に取り付けられている。また、支持アーム２２の垂直部の上面には、観察系１９の鏡筒本体２４が取り付けられている。
支持アーム２２及び支持アーム２３は、それぞれ独立に同軸で回動可能とされている。これにより、検者が支持アーム２２を手動で回動させることで観察系１９が支持アーム２２の回転軸を中心として左右方向に揺動されると共に、支持アーム２３を手動で回動させることで照明系１８が支持アーム２３の回転軸を中心として左右方向に揺動される。なお、各支持アーム２２，２３を、モータ及び駆動伝達機構により構成される駆動部により回動させてもよい。
照明系１８は、本発明の照射系に相当するものであり、細隙光Ｌ１（本発明の光に相当、図２参照）を含む各種の光を被検眼Ｅに対して照射する。この照明系１８を、既述の通り支持アーム２３の回転軸を中心して手動操作で左右方向に揺動させることにより、被検眼Ｅに対する細隙光Ｌ１の入射位置（照射位置）を任意に変更可能である。なお、被検眼Ｅに入射する細隙光Ｌ１の俯角及び仰角を調整するために照明系１８を上下方向にも揺動可能な構成としてもよい。
照明系１８の下方位置には、照明系１８から出力される細隙光Ｌ１などを被検眼Ｅに向け反射するミラー２５が配置されている。なお、本実施形態の細隙灯顕微鏡１０はＺｅｉｓｓ式（Ｌｉｔｔｍａｎ式）であるので、照明系１８の下方にミラー２５が配置されているが、細隙灯顕微鏡１０がＨａａｇ式（Ｇｏｌｄｍａｎｎ式）の場合には、照明系１８の上方にミラー２５が配置されていてもよい。
観察系１９は、被検眼Ｅへの細隙光Ｌ１（図２参照）などの入射に応じて被検眼Ｅにて反射された反射光Ｌ２（図２参照）を、後述の接眼部２４ａ内の接眼レンズ４８（図２参照）まで導く左右一対の光学系を有する。なお、反射光Ｌ２には、例えば散乱光のように被検眼Ｅを経由した各種の光が含まれる。
観察系１９は鏡筒本体２４内に収納されている。鏡筒本体２４の終端は双眼型の接眼部２４ａである。検者は、接眼部２４ａを通して被検眼Ｅの前眼部像２７（図２参照）を両眼視する。この観察系１９を、既述の通り支持アーム２２の回転軸を中心して手動操作で左右方向に揺動させることにより、観察系１９による被検眼Ｅの観察方向を変更できる。
鏡筒本体２４の側面には、被検眼Ｅの観察倍率を変更操作するための観察倍率操作ノブ２８が配置されている。また、鏡筒本体２４には、観察系１９を通して被検眼Ｅの前眼部を撮影する撮影系２９が設けられている。
制御部２０は、細隙灯顕微鏡１０の各部に接続されたコンピュータ等の演算装置であり、細隙灯顕微鏡１０の各部の動作を統括的に制御する。なお、図中では制御部２０が細隙灯顕微鏡１０の筐体外に設けられているが、この筐体内に設けられていてもよい。
図２は、照明系１８、観察系１９、及び撮影系２９の各光学系の構成を示した概略図である。なお、符号Ｅｏは検者の観察眼を示し、符号Ｏ１は照明系１８における照明光Ｌ０及び細隙光Ｌ１の光軸を示し、符号Ｏ２は観察系１９における反射光Ｌ２の光軸を示す。
＜照明系の構成＞
照明系１８は、光源３１、リレーレンズ３２、照明絞り３３、集光レンズ３４、視野絞り３５、細隙形成部３６、及び集光レンズ３７を有する。また、照明系１８には、細隙形成部３６と集光レンズ３７との間に光学フィルタ３８が挿脱自在に配置される。さらに、照明系１８には、詳しくは後述する受光系５５が設けられている。
光源３１は、白色光である照明光Ｌ０をリレーレンズ３２に向けて出射する。この光源３１としては、ハロゲンランプ及びＬＥＤ（light emitting diode）光源、及びレーザ光源等の白色光を出射する公知の白色光源が用いられる。なお、光源３１として、フラッシュ光源、及び角膜観察用或いは眼底観察用の専用光源などを別途設けてもよい。
リレーレンズ３２は、光源３１から入射した照明光Ｌ０を照明絞り３３に向けて出射する。
照明絞り３３は、光源３１から入射した照明光Ｌ０を透光する透光部を有し、この透光部のサイズ（絞り径）を変更可能に構成されている。この照明絞り３３は、その絞り径を調整することで、照明系１８から被検眼Ｅに照射される照明光Ｌ０（細隙光Ｌ１等）の光量、すなわち明るさを調整する光学部材である。また、照明絞り３３には、被検眼Ｅの角膜及び水晶体による照明光Ｌ０の反射を低減させる機能、及び照明光Ｌ０の明るさを調整する機能等もある。照明絞り３３を通過した照明光Ｌ０は集光レンズ３４に入射する。
集光レンズ３４は、照明絞り３３から入射した照明光Ｌ０を視野絞り３５に集光させる。
視野絞り３５は、集光レンズ３４から入射した照明光Ｌ０を透光する透光部を有し、この透光部のサイズ（絞り径）を変更可能に構成されている。この視野絞り３５は、その絞り径を調整することで、光源３１により出力された照明光Ｌ０（細隙光Ｌ１等）の被検眼Ｅに対する照射野を調整する。視野絞り３５を通過した照明光Ｌ０は細隙形成部３６に入射する。
細隙形成部３６は、視野絞り３５から入射した照明光Ｌ０から細隙光Ｌ１を生成し、この細隙光Ｌ１を集光レンズ３７に向けて出射する。この細隙形成部３６は、一対のスリット刃を有しており、これらスリット刃の間隔（スリット幅）を変更することにより細隙光Ｌ１の幅を調整する。なお、細隙形成部３６は、後述の被検眼Ｅの蛍光観察時及びマイボーム腺の観察時などには、スリット刃の間隔を広げることにより光源３１からの照明光Ｌ０をそのまま通過させる。
また、細隙形成部３６は、被検眼Ｅと共役の位置に設けられている。そして、細隙形成部３６は、後述の受光系５５の一部を構成し、制御部２０の制御の下で細隙形成部３６の一対のスリット刃を閉じ状態（一対のスリット刃の間隔をゼロにした状態）にすることで、照明光Ｌ０の一部をその光路外に偏向（反射）する（図３及び図４参照）。
光学フィルタ３８は、細隙形成部３６と集光レンズ３７との間において、照明系１８の光路に挿脱自在に配置される。光学フィルタ３８としては、例えばブルーフィルタ、無赤色フィルタ、ＮＤ（Neutral Density）フィルタ、色温度変化フィルタ、ＩＲ（Infrared）カットフィルタ、及びＩＲ透過フィルタ等が例として挙げられる。なお、これら以外の光学フィルタ３８を使用してもよい。また、照明系１８の光路中には、照明光Ｌ０又は細隙光Ｌ１に含まれている紫外光をカットするＵＶ（ultraviolet）カットフィルタが常時挿入されている。
ブルーフィルタは、蛍光造影剤（フルオレセイン）が投与された被検眼Ｅの蛍光観察に用いられるフィルタであり、青色の波長域の光を透過させる。無赤色フィルタは、視神経繊維の異常を検査する際等に使用するフィルタであり、赤色の波長域の光をカットする光学フィルタ（グリーンフィルタ等）である。ＮＤフィルタは、照明光Ｌ０又は細隙光Ｌ１の透過率を変更（減少）するための光学フィルタである。
色温度変換フィルタは、照明光Ｌ０又は細隙光Ｌ１の色温度を低下させて暖色系の光に変換する光学フィルタである。この色温度変換フィルタを用いる場合には、上述の光源３１として寒色系白色光源が用いられる。ＩＲカットフィルタは照明光Ｌ０又は細隙光Ｌ１に含まれている赤外光をカットする。ＩＲ透過フィルタは赤外光を透過させる。このＩＲ透過フィルタは、被検眼Ｅを赤外光（近赤外光を含む）で照明して被検眼Ｅのマイボーム腺を観察する際に用いられる。
各光学フィルタ３８は、光軸Ｏ１に平行な軸を中心としてその軸周り方向に配列された状態でフィルタターレット３９（図５参照）に嵌め込まれている。そして、制御部２０の制御の下、フィルタターレット３９を回転させることで、各光学フィルタ３８が照明系１８の光路中に選択的に挿入される。また、フィルタターレット３９を複数設けることにより、複数種類の光学フィルタ３８を同時に照明系１８の光路中に挿入可能である。
ミラー２５は、集光レンズ３７から入射した細隙光Ｌ１又は照明光Ｌ０の一部を被検眼Ｅに向けて反射（偏向）する。なお、ミラー２５の代わりに、プリズム或いはビームスプリッタ（ハーフミラー、ダイクロイックミラー、及び偏光ビームスプリッタを含む）等を用いてもよい。以下、説明の煩雑化を防止するため、特に言及する場合を除き、照明系１８から被検眼Ｅに対しては細隙光Ｌ１が照射されるものとする。
＜観察系及び撮影系の構成＞
観察系１９は、被検眼Ｅの両眼に対応したガリレオタイプ又はグリーノタイプ等の左右一対の光学系を備えている。左右の光学系はほぼ同様の構成を有する。検者は、この左右の光学系により被検眼Ｅの前眼部を双眼で観察する。なお、図２には、観察系１９の左右の光学系の一方のみが示されている。
観察系１９の光学系は、対物レンズ４１、変倍光学系４２、絞り４３、バリアフィルタ４４、ビームスプリッタ４５、リレーレンズ４６、プリズム４７、及び接眼レンズ４８を有する。
対物レンズ４１は、被検眼Ｅからの反射光Ｌ２を変倍光学系４２に向けて出射する。
変倍光学系４２は、例えば公知のドラム式変倍機構が用いられる。この変倍光学系４２は、変倍レンズ４２ａ，４２ｂを含む。各変倍レンズ４２ａ，４２ｂは、既述の観察倍率操作ノブ２８の操作に応じて、光軸Ｏ２に沿って移動する。これにより、反射光Ｌ２によって形成される被検眼Ｅの前眼部の前眼部像２７（観察像ともいう）の倍率（画角）を多段階で変更することができる。変倍光学系４２を透過した反射光Ｌ２はバリアフィルタ４４又はビームスプリッタ４５に向けて出射される。
なお、変倍光学系４２として、不図示のスイッチ等及びレンズ駆動部を用いて電動で各変倍レンズ４２ａ，４２ｂを光軸Ｏ２に沿って移動させることにより、前眼部像２７の倍率を多段階で調整可能にしてもよい。
変倍レンズ４２ａ，４２ｂの間には絞り４３が配置されている。絞り４３は、変倍レンズ４２ａから入射した反射光Ｌ２を透光する透光部を有し、この透光部のサイズ（絞り径）を変更可能である。絞り４３は、その絞り径を調整することで、観察眼Ｅｏ及び撮像素子５３に入射する反射光Ｌ２の光量を調整する光学部材である。
バリアフィルタ４４は、変倍光学系４２とビームスプリッタ４５との間において、観察系１９の光路に対し挿脱自在に配置される。バリアフィルタ４４は、被検眼Ｅの蛍光観察時に反射光Ｌ２の光路に挿入される光学フィルタであって、且つ被検眼Ｅに投与された蛍光剤が発する蛍光に相当する波長成分を透過させるバンドパスフィルタ等の光学フィルタである。このバリアフィルタ４４は、後述のフィルタ駆動部６７（図５参照）により保持されており、制御部２０の制御の下、観察系１９の光路に対して挿脱される。
ビームスプリッタ４５は、観察系１９の左右の光学系の一方又は双方に設けられる。このビームスプリッタ４５は、変倍光学系４２又はバリアフィルタ４４から入射した反射光Ｌ２を２分割する。そして、ビームスプリッタ４５は、２分割した反射光Ｌ２の一方をリレーレンズ４６に向けて出射し、反射光Ｌ２の他方を撮影系２９に向けて出射する。
リレーレンズ４６は、ビームスプリッタ４５から入射した反射光Ｌ２をプリズム４７に向けて出射する。
プリズム４７は、２つの光学素子４７ａ，４７ｂを含み、リレーレンズ４６から入射した反射光Ｌ２の進行方向を上方に平行移動させると共に、この反射光Ｌ２を結像位置Ｐで結像させる。
接眼レンズ４８は接眼部２４ａ内に設けられている。これにより、観察眼Ｅｏは、接眼レンズ４８を通して、プリズム４７により結像位置Ｐで結像された反射光Ｌ２により形成される被検眼Ｅの前眼部像２７（その拡大像）を観察できる。
撮影系２９は、リレーレンズ５１とミラー５２と撮像素子５３とを有する。リレーレンズ５１は、ビームスプリッタ４５から入射した反射光Ｌ２をミラー５２に向けて出射する。ミラー５２は、リレーレンズ５１から入射した反射光Ｌ２を撮像素子５３に向けて反射する。ミラー５２で反射された反射光Ｌ２は、不図示の結像レンズを介して撮像素子５３の撮像面に結像される。
撮像素子５３は、例えばＣＭＯＳ（complementary metal oxide semiconductor）型又はＣＣＤ（Charge Coupled Device）型のイメージセンサが用いられる。撮像素子５３は、撮像面に結像された反射光Ｌ２を撮像して前眼部像２７の撮影画像データ２７Ｄを制御部２０へ出力する。この撮像素子５３による反射光Ｌ２の撮像は所定のフレームレートで継続的に実行され、撮像素子５３から制御部２０に対して撮影画像データ２７Ｄ（前眼部のライブ画像データ）が逐次入力される。なお、既述の操作レバー１５の操作スイッチ（不図示）が押下操作されると、制御部２０は、撮像素子５３から入力された撮影画像データ２７Ｄに各種画像処理を施して被検眼Ｅの前眼部の静止画像データを生成する。
＜受光系の構成＞
図３は、細隙形成部３６が細隙形成状態に切り替えられている受光系５５の概略図である。図４は、細隙形成部３６が閉じ状態に切り替えられている受光系５５の概略図である。図３及び図４に示すように、受光系５５は、本発明の光強度検出系の一部を構成するものであり、光源３１から出射される照明光Ｌ０の偏向光Ｌ３（反射光ともいう）を受光する。この受光系５５は、照明系１８に設けられており、細隙形成部３６と、スリット駆動部６５と、受光素子５６と、マスク５７と、を備える。
細隙形成部３６は、既述の通り、一対のスリット刃により構成されており且つ被検眼Ｅと共役の位置に配置されている。この細隙形成部３６の上面（照明光Ｌ０が入射する側の面）は、照明光Ｌ０を偏向（反射）可能な鏡面状の傾斜面３６ａに形成されている。このため、細隙形成部３６は本発明の偏向光学素子に相当する。
傾斜面３６ａは、視野絞り３５から入射した照明光Ｌ０を偏向（反射）する。この際に、傾斜面３６ａは光軸Ｏ１（図２参照）に対して傾斜しているので、照明光Ｌ０の偏向光Ｌ３は傾斜面３６ａによって照明光Ｌ０の光路外に偏向される。なお、図面の煩雑化を防止するため、図３及び図４では、傾斜面３６ａにより偏向される偏向光Ｌ３の中で後述の受光素子５６に向けて偏向される偏向光Ｌ３のみを図示している。さらに図４では、傾斜面３６ａに入射する照明光Ｌ０の図示を一部省略している。
スリット駆動部６５は、本発明の切替機構に相当するものであり、例えば、各種のアクチュエータ（不図示）と、このアクチュエータの駆動力を伝達する伝達機構（不図示）と、を備える。このスリット駆動部６５は、制御部２０の制御の下、細隙形成部３６の一対のスリット刃の間隔、すなわち細隙光Ｌ１の幅を調整する。
具体的には、スリット駆動部６５は、細隙光Ｌ１を用いた被検眼Ｅの観察時には、図３に示すように細隙形成部３６の一対のスリット刃を細隙光Ｌ１の幅に対応した間隔を有する細隙形成状態に切り替える。また、スリット駆動部６５は、既述の被検眼Ｅの蛍光観察時及びマイボーム腺の観察時などには、細隙形成部３６の一対のスリット刃を照明光Ｌ０がそのまま通過可能な間隔を有する開放状態に切り替える。スリット駆動部６５は、後述の細隙光Ｌ１の強度検出時（受光素子５６による偏向光Ｌ３の受光時）には、細隙形成部３６の一対のスリット刃を閉じ状態（一対のスリット刃の間隔をゼロ）に切り替える。
受光素子５６は、例えばシリコンフォトダイオード、ＩｎＧａＡｓ（インジウムガリウム砒素）フォトダイオード、光電管、及び光電子倍増管等の光検出器（光電変換素子）が用いられる。なお、受光素子５６として既述の撮像素子５３のようなイメージセンサを用いてもよい。
受光素子５６は、閉じ状態の細隙形成部３６の傾斜面３６ａにより偏向された偏向光Ｌ３の一部を受光可能な位置に配置されている。この受光素子５６は、その受光面にて受光した偏向光Ｌ３を光電変換して、偏向光Ｌ３（すなわち照明光Ｌ０）の強度を示す受光信号を制御部２０へ出力する。
マスク５７は、受光素子５６の受光面に対向する位置に配置されている。このマスク５７は、細隙形状状態又は開放状態の細隙形成部３６の傾斜面３６ａにより偏向された偏向光Ｌ３を全て遮断し（図３参照）、且つ閉じ状態の細隙形成部３６の傾斜面３６ａにより偏向された偏向光Ｌ３の一部の受光素子５６への入射を許容する（図４参照）。これにより、受光素子５６は、細隙形成部３６が閉じ状態に切り替えられた場合にのみ偏向光Ｌ３を受光する。換言すると、傾斜面３６ａは、細隙形成部３６が閉じ状態に切り替えられた場合のみ、偏向光Ｌ３を受光素子５６にて受光可能な方向に偏向する。従って、細隙形成部３６の閉じ状態は本発明の偏向状態に相当し、照明光Ｌ０を通過させる細隙形成状態及び開放状態が本発明の通過状態に相当する。
このように受光系５５は、スリット駆動部６５により細隙形成部３６が閉じ状態に切り替えられた場合のみ、照明光Ｌ０の偏向光Ｌ３の一部を受光素子５６で受光して、この受光素子５６から制御部２０に対して受光信号を出力する。
＜制御部の機能＞
図５は、第１実施形態の制御部２０の機能ブロック図である。図５に示すように、制御部２０は、各種のプロセッサ（Processor）及びメモリ等から構成された演算回路を備える。各種のプロセッサには、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、及びプログラマブル論理デバイス［例えばＳＰＬＤ（Simple Programmable Logic Devices）、ＣＰＬＤ（Complex Programmable Logic Device）、及びＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Arrays）］等が含まれる。なお、制御部２０の各種機能は、１つのプロセッサにより実現されてもよいし、同種または異種の複数のプロセッサで実現されてもよい。
制御部２０は、検者による操作部６８の操作に応じて、細隙灯顕微鏡１０の各部の動作、具体的には電動駆動部１３、照明系１８、観察系１９、撮影系２９、及び受光系５５等の動作制御を行う。また、制御部２０は、詳しくは後述するが、被検眼Ｅを光ハザードから保護するために、被検眼Ｅに対する細隙光Ｌ１の照射光量を推定（測定）し、この照射光量が予め定めた上限値よりも大きくなる場合には後述の表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂを介して検者に対して警告情報９４（図１０参照）を報知する。
制御部２０には、既述の電動駆動部１３と光源３１と撮像素子５３とスリット駆動部６５と受光素子５６との他に、記憶部６１、表示部６２Ａ、スピーカ６２Ｂ、照明絞り駆動部６３、視野絞り駆動部６４、フィルタ駆動部６６、フィルタ駆動部６７、操作部６８、及び検出部７０等が接続されている。なお、図中では、顎受け１２ａ及び額当て１２ｂの位置を調整する位置調整部、及び観察系１９内の絞り４３の絞り径を調整する絞り駆動部については図示を省略している。
記憶部６１は、電動駆動部１３、照明系１８、観察系１９、及び撮影系２９等の動作制御と、光ハザードの警告情報９４（図１０参照）の報知制御と、を制御部２０に実行させるための制御プログラム（不図示）を記憶している。また、記憶部６１には、既述の被検眼Ｅの前眼部の静止画像データなどの各種情報も記憶される。
表示部６２Ａは、例えば液晶ディスプレイ（タッチパネル式の液晶ディスプレイでも可）のなど公知のモニタであり、細隙灯顕微鏡１０の筐体表面又は筐体外に設けられている。この表示部６２Ａは、制御部２０の制御の下、各種の情報を表示する。例えば表示部６２Ａは、細隙灯顕微鏡１０の各部の操作を行うための操作画面を表示したり、既述の撮影画像データ２７Ｄ（ライブ画像、静止画像）に基づく画像表示を行ったりする。また、表示部６２Ａは、光ハザードの警告情報９４（図１０参照）の表示も行う。
スピーカ６２Ｂは、細隙灯顕微鏡１０の筐体表面又は筐体外に設けられている。このスピーカ６２Ｂは、制御部２０の制御の下、各種の情報を音声出力する。また、スピーカ６２Ｂは、光ハザードの警告情報９４（図１０参照）を音声出力する。
照明絞り駆動部６３、視野絞り駆動部６４、フィルタ駆動部６６、及びフィルタ駆動部６７等の各駆動部は、既述のスリット駆動部６５と同様に、不図示のアクチュエータ及び伝達機構を備える。
照明絞り駆動部６３は、照明絞り３３を駆動してその絞り径を調整する。視野絞り駆動部６４は、視野絞り３５を駆動してその絞り径を調整する。
フィルタ駆動部６６は、既述のフィルタターレット３９を回転駆動して、各光学フィルタ３８を選択的に照明系１８の光路内に挿入する。フィルタ駆動部６７は、バリアフィルタ４４を光軸Ｏ２に対して垂直方向に移動させることにより、観察系１９の光路に対してバリアフィルタ４４を挿脱させる。
操作部６８は、細隙灯顕微鏡１０の各部の操作に用いられる。この操作部６８は、既述の操作レバー１５及び観察倍率操作ノブ２８の他に、手元操作部７２を含む。なお、顎受け台１２及び絞り４３の操作を行う構成については図示を省略している。
操作レバー１５には不図示の直動型ポテンショメータが設けられており、この直動型ポテンショメータは操作レバー１５の前後方向及び左右方向の傾倒操作を検出する。制御部２０は、直動型ポテンショメータの検出結果に基づき、電動駆動部１３を駆動して、移動ステージ１４を前後方向又は左右方向に移動させる。
観察倍率操作ノブ２８は、前眼部像２７の倍率を選択する倍率選択操作に用いられる。この倍率選択操作に応じて、変倍光学系４２は前眼部像２７の倍率を変更する。
手元操作部７２は、スイッチ、レバー、ハンドル、及びキーなどの物理的な操作部材、又は表示部６２Ａに表示される操作画面中のアイコン等の仮想的な操作入力部である。この手元操作部７２は、照明絞り３３及び視野絞り３５の各々の絞り径を選択する２つの絞り径選択操作と、細隙形成部３６の一対のスリット刃の間隔（細隙光Ｌ１の幅）を調整する間隔調整操作と、照明系１８の光路内に挿入する光学フィルタ３８を選択するフィルタ選択操作と、バリアフィルタ４４の挿脱を選択するフィルタ挿脱操作と、に用いられる。
制御部２０は、手元操作部７２での各絞り径選択操作に応じて、照明絞り駆動部６３を駆動して照明絞り３３の絞り径を調整したり、視野絞り駆動部６４を駆動して視野絞り３５の絞り径を調整したりする。また、制御部２０は、手元操作部７２での間隔調整操作に応じて、スリット駆動部６５を駆動して一対のスリット刃の間隔を調整する。さらに、制御部２０は、手元操作部７２でのフィルタ選択操作に応じて、フィルタ駆動部６６を駆動してフィルタターレット３９を回転させる。さらにまた、制御部２０は、手元操作部７２でのフィルタ挿脱操作に応じて、フィルタ駆動部６７を駆動して観察系１９の光路に対するバリアフィルタ４４の挿脱を実行する。
検出部７０は、後述の照射時間測定部８２による被検眼Ｅへの細隙光Ｌ１の積算照射時間の測定に用いられる。この検出部７０としては以下の第１例から第３例が挙げられる。
図６は、検出部７０の第１例を説明するための説明図である。図６に示すように、第１例の検出部７０（本発明の動作検出部に相当）は、例えば光源３１又はこの光源３１の電源（図示は省略）からの信号に基づき、光源３１のオンオフを検出する検出センサである。なお、第１例の検出部７０は、光源３１内に設けられていてもよい。この第１例の検出部７０は、光源３１のオンオフを継続的（連続的）に検出すると共に、この検出結果を照射時間測定部８２へ継続的に出力する。なお、本明細書における継続的（連続的）には「一定間隔」の他に「不定間隔」も含まれる。
図７は、検出部７０の第２例を説明するための説明図である。図７に示すように、第２例の検出部７０（本発明の位置検出部に相当）は、電動駆動部１３により移動ステージ１４等を介して水平方向に移動される照明系１８等の位置を検出する例えばリニアスケール等の公知の位置検出センサである。この第２例の検出部７０の検出結果に基づき、例えば、被検眼Ｅと照明系１８等との間の作動距離ＷＤ（ワークディスタンス）が細隙灯顕微鏡１０による被検眼Ｅの観察時に想定される一定範囲内に収まっているか否かを確認することができる。そして、第２例の検出部７０は、照明系１８等の位置を継続的に検出すると共に、この検出結果を照射時間測定部８２へ継続的に出力する。
図８は、検出部７０の第３例を説明するための説明図である。図８に示すように、第３例の検出部７０（本発明の顔検出部に相当）は、例えば顎受け１２ａに設けられた接触式或いは非接触式の検出センサであり、この顎受け１２ａによる被検者の顔の支持の有無を検出する。この第３例の検出部７０は、顎受け１２ａによる被検者の顔の支持の有無を継続的に検出すると共に、この検出結果を照射時間測定部８２へ継続的に出力する。
図５に戻って、制御部２０は、記憶部６１内の不図示の制御プログラムを実行することで、光強度検出制御部８１、照射時間測定部８２、照射光量推定部８４、第１報知制御部８６、及び第２報知制御部８８として機能する。なお、図５中では、制御部２０の各種機能の中で、特に光ハザードの警告情報９４（図１０参照）の報知に係る機能のみを図示し、他の機能については公知技術であるので図示は省略している。
なお、制御部２０の光強度検出制御部８１、照射時間測定部８２、照射光量推定部８４、第１報知制御部８６、及び第２報知制御部８８は、例えば、検者が操作部６８に入力した所定の開始操作（細隙灯顕微鏡１０の電源オン操作でも可）に応じて作動する。この場合には、検者は、被検者の左右の被検眼Ｅごとに操作部６８に対して開始操作を入力する。
光強度検出制御部８１は、既述の受光系５５と共に本発明の光強度検出系を構成する。この光強度検出制御部８１は、既述の受光系５５のスリット駆動部６５及び受光素子５６を制御して、光源３１から出射される照明光Ｌ０の強度、すなわち照明系１８から被検眼Ｅへ照射される細隙光Ｌ１の強度を検出する。ここでいう強度とは、既述の通り単位面積における単位時間当たりの光量（例えばＪ・ｃｍ－２・ｓ－１）であり、放射照度ともいう。
具体的には、光強度検出制御部８１は、スリット駆動部６５を駆動して細隙形成部３６の一対のスリット刃を閉じ状態に切り替えると共に、受光素子５６を作動させて偏向光Ｌ３の受光、光電変換、及び受光信号の出力を実行させる。
次いで、光強度検出制御部８１は、受光素子５６から入力された受光信号に基づき、被検眼Ｅへ照射される細隙光Ｌ１の強度を検出（推定）する。この推定には記憶部６１内の対応情報９１が用いられる。対応情報９１は、受光信号の信号強度と、被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１の強度との対応関係を記憶したものであり、実験又はシミュレーション等により求められる。これにより、光強度検出制御部８１は、受光素子５６から入力される受光信号に基づき、記憶部６１内の対応情報９１を参照することで、被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１の強度を検出することができる。
光強度検出制御部８１は、光源３１から出射される照明光Ｌ０の強度が固定である場合には、細隙光Ｌ１の強度の検出を所定のタイミング（例えば起動時等）で１回行い、細隙光Ｌ１の強度検出結果を照射光量推定部８４へ出力する。また、光強度検出制御部８１は、光源３１から出射される照明光Ｌ０の強度が可変可能である場合には、少なくとも光源３１から出射される照明光Ｌ０の強度が変更されるごとにこの強度の検出を繰り返し行うと共に、細隙光Ｌ１の強度検出結果を照射光量推定部８４へ逐次出力する。また、この場合には、光強度検出制御部８１は、前述の継続的（定期間隔、不定期間隔）な細隙光Ｌ１の強度検出を行ってもよい。
なお、光強度検出制御部８１は、被検眼Ｅの観察時にはスリット駆動部６５を駆動して細隙形成部３６を開放状態に切り替えると共に、受光素子５６の作動を停止する。
照射時間測定部８２は、既述の図６から図８に示した各例のいずれかの検出部７０の検出結果に基づき、被検眼Ｅに対する細隙光Ｌ１の積算照射時間を継続的に測定する。
既述の図６に示したように照射時間測定部８２は、第１例の検出部７０の検出結果を継続的に取得する場合には、この検出結果に基づき光源３１がオンされている時間を、細隙光Ｌ１の積算照射時間として継続的に測定（カウント）する。これにより、光源３１がオフされている時間、すなわち実際には被検眼Ｅに対して細隙光Ｌ１が照射されていない時間を積算照射時間にカウントすることが防止される。
既述の図７に示したように照射時間測定部８２は、第２例の検出部７０の検出結果を継続的に取得する場合には、この位置検出結果に基づき、照明系１８の位置が予め定められた照射位置範囲内にセットされているか否かを継続的に判定する。この照射位置範囲は、例えば、水平方向の前後方向においては既述の作動距離ＷＤの想定範囲に基づき定められ、水平方向の左右方向においては顎受け台１２の位置範囲に基づき定められている。すなわち、照射位置範囲は、水平方向において照明系１８が被検眼Ｅに対して粗アライメントされるような照明系１８の位置範囲である。
そして、照射時間測定部８２は、照明系１８の位置が既述の照射位置範囲内にセットされている時間を、細隙光Ｌ１の積算照射時間として継続的に測定する。これにより、光源３１のオンオフに関係なく照明系１８と被検眼Ｅとが水平方向において大きく位置ずれしている時間、すなわち実際には被検眼Ｅに対して細隙光Ｌ１が照射されていない時間を積算照射時間にカウントすることが防止される。
既述の図８に示したように照射時間測定部８２は、第３例の検出部７０の検出結果を継続的に取得する場合には、この検出結果に基づき顎受け１２ａが被検者の顔を支持している時間を、細隙光Ｌ１の積算照射時間として継続的に測定する。これにより、光源３１がオンオフに関係なく顎受け１２ａに被検者の顔が支持されていない時間、すなわち実際には被検眼Ｅに対して細隙光Ｌ１が照射されていない時間を積算照射時間にカウントすることが防止される。
図５に戻って、照射時間測定部８２は、被検眼Ｅに対する細隙光Ｌ１の積算照射時間を継続的に測定すると共に、この測定結果を照射光量推定部８４に対して逐次出力する。なお、照射時間測定部８２は、各例の検出部７０の検出結果を２以上組み合わせた結果に基づき、細隙光Ｌ１の積算照射時間を継続的に測定してもよい。これにより、各例の検出部７０の単独の検出結果に基づき積算照射時間を測定する場合よりも高精度に積算照射時間を測定することができる。
照射光量推定部８４は、光強度検出制御部８１から１回又は繰り返し入力される細隙光Ｌ１の強度検出結果と、照射時間測定部８２から継続的に入力される積算照射時間と、に基づき、被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１の照射光量を継続的に推定する。なお、ここでいう照射光量とは、既述の通り光の強度を時間積分することで得られる物理量であり、換言すると単位面積当たりの照射光量（例えばＪ・ｃｍ－２）である。
具体的には、照射光量推定部８４は、光強度検出制御部８１から入力された細隙光Ｌ１の強度検出結果を、照射時間測定部８２から入力された積算照射時間に基づき時間積分することにより、被検眼Ｅへの細隙光Ｌ１の照射光量を推定する。そして、照射光量推定部８４は、光強度検出制御部８１から１回又は繰り返し入力される細隙光Ｌ１の強度検出結果と、照射時間測定部８２から継続的に入力される積算照射時間と、に基づき、被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１の照射光量を継続的に推定し、新たな推定結果を第１報知制御部８６及び第２報知制御部８８の双方に逐次出力する。
図９は、細隙光Ｌ１の照射光量の報知を説明するための説明図である。図９に示すように、第１報知制御部８６は、既述の表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂと共に本発明の照射光量報知部を構成する。この第１報知制御部８６は、照射光量推定部８４から入力された照射光量の推定結果に基づき、この照射光量を示す照射光量情報９２を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる。そして、第１報知制御部８６は、照射光量推定部８４から新たな細隙光Ｌ１の照射光量の推定結果が入力されるごとに、最新の照射光量情報９２を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる。これにより、検者は、被検眼Ｅに対する細隙光Ｌ１の最新の照射光量を認識することができる。
図１０は、光ハザードの警告情報９４の報知を説明するための説明図である。図１０に示すように、第２報知制御部８８は、既述の表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂと共に本発明の警告情報報知部を構成する。この第２報知制御部８８は、照射光量推定部８４から新たな照射光量の推定結果が継続的に入力されるごとに、この照射光量が予め定められた上限値よりも大きくなるか否かを判定する。なお、この上限値は、被検眼Ｅを光ハザードから保護するために既述のＩＳＯ規格等に基づいて予め定められており、例えば照射光量の最大許容量よりも所定のマージン分だけ小さい値である。
そして、第２報知制御部８８は、細隙光Ｌ１の照射光量が上限値よりも大きくなった場合には、光ハザードの警告情報９４（注意情報）を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる。これにより、表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂを用いて、警告情報９４を検者に報知することができる。なお、スピーカ６２Ｂから警告情報９４を音声出力することで、検者の観察眼Ｅｏが接眼部２４ａを通して前眼部像２７を観察している状態でも、検者に対して警告情報９４を確実に報知することができる。
［細隙灯顕微鏡の作用］
図１１は、上記構成の細隙灯顕微鏡１０による細隙光Ｌ１の照射光量の推定及び光ハザードの警告情報９４の報知の流れを示すフローチャートである（本発明の眼科装置の作動方法に相当）。
図１１に示すように、検者が細隙灯顕微鏡１０を用いた被検眼Ｅの観察を行う際に操作部６８に対して所定の開始操作を入力すると（ステップＳ１）、制御部２０が、光強度検出制御部８１、照射時間測定部８２、照射光量推定部８４、第１報知制御部８６、及び第２報知制御部８８として機能する。
次いで、光強度検出制御部８１が、スリット駆動部６５を駆動して細隙形成部３６の一対のスリット刃を閉じ状態に切り替えると共に、受光素子５６を作動させる（ステップＳ２Ａ）。これにより、既述の図４に示したように、この細隙形成部３６の傾斜面３６ａにより偏向された偏向光Ｌ３の一部が受光素子５６の受光面で受光されると共に、受光素子５６から光強度検出制御部８１に対して偏向光Ｌ３の受光信号が出力される（ステップＳ２Ｂ）。
そして、光強度検出制御部８１は、受光素子５６から入力される受光信号に基づき、記憶部６１内の対応情報９１を参照して被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１の強度を検出し、この細隙光Ｌ１の強度検出結果を照射光量推定部８４へ出力する（ステップＳ２Ｃ）。なお、ステップＳ２ＡからステップＳ２Ｃまでが本発明の光強度検出ステップに相当する。
また、光強度検出制御部８１は、細隙光Ｌ１の強度検出が完了すると、スリット駆動部６５を駆動して、細隙形成部３６の一対のスリット刃を細隙形成状態に切り替える（ステップ２Ｄ）。これにより、細隙形成部３６により細隙光Ｌ１が形成されるため、照明系１８から被検眼Ｅに対して細隙光Ｌ１を照射することができる。
一方、細隙光Ｌ１の強度検出と同時或いは前後して、照射時間測定部８２が、既述の図６から図８に示した各例のいずれかの検出部７０から検出結果を取得し（ステップＳ３）、この検出結果に基づき被検眼Ｅに対する細隙光Ｌ１の積算照射時間を測定する（ステップＳ４、本発明の積算照射時間測定ステップに相当）。これにより、光源３１がオンされている時間、照明系１８の位置が既述の照射位置範囲内にセットされている時間、又は顎受け１２ａに被検者の顔が支持されている時間が、積算照射時間となる。その結果、被検眼Ｅに対して細隙光Ｌ１が照射されていない時間を積算照射時間にカウントすることが防止されるので、積算照射時間を正確に測定することができる。そして、照射時間測定部８２は、積算照射時間の測定結果を照射光量推定部８４へ出力する。
細隙光Ｌ１の強度検出結果及び積算照射時間の測定結果の入力を受けた照射光量推定部８４は、細隙光Ｌ１の強度検出結果を積分照射時間に基づき時間積分することにより、被検眼Ｅへの細隙光Ｌ１の照射光量を推定する（ステップＳ５、本発明の照射光量推定ステップに相当）。そして、照射光量推定部８４は、照射光量の推定結果を第１報知制御部８６及び第２報知制御部８８へそれぞれ出力する。
細隙光Ｌ１の照射光量の推定結果の入力を受けた第１報知制御部８６は、この照射光量を示す照射光量情報９２を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる（ステップＳ６）。これにより、表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂから検者に対して照射光量情報９２が報知される。
また、細隙光Ｌ１の照射光量の推定結果の入力を受けた第２報知制御部８８は、この照射光量が既述の上限値よりも大きくなるか否かを判定する（ステップＳ７）。そして、第２報知制御部８８は、照射光量が上限値以下である場合には待機状態となる（ステップＳ７でＮＯ）。
一方、第２報知制御部８８は、照射光量が上限値よりも大きい場合には、光ハザードの警告情報９４を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる（ステップＳ７でＹＥＳ、ステップＳ８、本発明の警告情報報知ステップに相当）。これにより、表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂから検者に対して警告情報９４が報知される。
以下、細隙灯顕微鏡１０を用いた被検眼Ｅの観察が完了するまで、既述のステップＳ１からステップＳ８までの処理が繰り返し実行される（ステップＳ９）。これにより、細隙灯顕微鏡１０により、細隙形成部３６の閉じ状態への切替と、偏向光Ｌ３の受光と、細隙光Ｌ１の光強度検出と、積算照射時間の測定と、照射光量の推定及び報知とが継続的に実行されると共に、照射光量が上限値よりも大きくなる場合には検者に対する警告情報９４の報知が実行される。なお、２回目以降のステップＳ２Ａ～Ｓ２Ｄの処理は、光源３１から出射される照明光Ｌ０の強度の変更に応じて実行してもよい。また、光源３１から出射される照明光Ｌ０の強度が固定されている場合には、ステップＳ２Ａ～Ｓ２Ｄの処理は１回でもよい。
［本実施形態の効果］
以上のように本実施形態では、被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１（照明光Ｌ０）の強度の他に被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１の積算照射時間を考慮して、被検眼Ｅに対する細隙光Ｌ１の照射光量を推定しているので、この照射光量を従来よりも正確に求めることができる。その結果、被検眼Ｅを光ハザードからより確実に保護することができる。
［第２実施形態］
図１２は、第２実施形態の細隙灯顕微鏡１０の制御部２０の機能ブロック図である。なお、図１２以降では、光ハザードの保護と直接関係のない構成については適宜図示を省略している。上記第１実施形態の照射時間測定部８２は、各例の検出部７０の検出結果に基づき細隙光Ｌ１の積算照射時間を測定しているが、第２実施形態の照射時間測定部８２は、撮影系２９の撮像素子５３から継続的に入力される撮影画像データ２７Ｄの解析結果に基づき細隙光Ｌ１の積算照射時間を測定する。
図１２に示すように、第２実施形態の細隙灯顕微鏡１０は、制御部２０が第１実施形態の各部の他に光照射検出部１００として機能し且つ照射時間測定部８２による細隙光Ｌ１の積算照射時間の測定方法が異なる点を除けば上記第１実施形態と基本的に同じ構成である。このため、上記第１実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。
図１３は、光照射検出部１００の機能を説明するための説明図である。図１３の符号XIIIA及び既述の図１２に示すように、光照射検出部１００は、撮像素子５３から連続的に入力される撮影画像データ２７Ｄごとに画像解析を行って、被検眼Ｅの前眼部に対して細隙光Ｌ１が照射されているか否かを検出する。具体的には、光照射検出部１００は、撮影画像データ２７Ｄごとに、被検眼Ｅの前眼部に照射された細隙光Ｌ１を示す光画像１０２が撮影画像データ２７Ｄに基づく前眼部像２７内に含まれているか否かを検出する。
ここで、撮影画像データ２７Ｄ内から前眼部像２７を検出（抽出）する方法は公知技術である。また、光画像１０２を構成する画素の画素値は撮影画像データ２７Ｄの他の画素の画素値よりも高くなる。このため、撮影画像データ２７Ｄの前眼部像２７を構成する各画素の中で画素値が所定の閾値以上となる画素を光画像１０２の画素として識別することができる。従って、光照射検出部１００は、撮像素子５３から新たな撮影画像データ２７Ｄが入力されるごとに、この撮影画像データ２７Ｄを画像解析することで、光画像１０２が前眼部像２７内に含まれている否か、すなわち被検眼Ｅの前眼部に対して細隙光Ｌ１が照射されているか否かを検出することができる。
なお、上述の光画像１０２の検出方法によれば、図１３の符号XIIIBに示すように、被検眼Ｅに照射される光の形状に関係なく、前眼部像２７内に光画像１０２が含まれている否かを検出することができる。すなわち、被検眼Ｅの前眼部に対して細隙光Ｌ１以外の各種照明光Ｌ０が照射されているか否かを検出することができる。
このように光照射検出部１００は、撮像素子５３から新たな撮影画像データ２７Ｄが入力されるごとに、撮影画像データ２７Ｄに基づく前眼部像２７内の光画像１０２の有無（被検眼Ｅの前眼部に対する細隙光Ｌ１の照射の有無）を検出し、その検出結果を照射時間測定部８２へ逐次出力する。
図１４は、第２実施形態の照射時間測定部８２による細隙光Ｌ１の積算照射時間の測定を説明するための説明図である。図１４及び既述の図１２に示すように、第２実施形態の照射時間測定部８２は、光照射検出部１００から逐次入力される撮影画像データ２７Ｄごとの検出結果に基づき、細隙光Ｌ１の積算照射時間を継続的に測定する。
例えば照射時間測定部８２は、光画像１０２が含まれている撮影画像データ２７Ｄ（細隙光Ｌ１が照射されている前眼部の撮影画像データ２７Ｄ）の数と、撮像素子５３の既知のフレームレートとに基づき、細隙光Ｌ１の積算照射時間を演算する。また、例えば撮影画像データ２７Ｄにその撮影時間に関する情報が含まれている場合には、照射時間測定部８２は、光画像１０２が含まれている撮影画像データ２７Ｄの撮影時間に基づき、細隙光Ｌ１の積算照射時間を演算する。
以下、照射時間測定部８２は、光照射検出部１００からの検出結果が入力されるごとに、細隙光Ｌ１の積算照射時間の演算を繰り返し実行する。これにより、上記第１実施形態と同様に照射時間測定部８２による積算照射時間の測定が継続的に行われる。そして、照射時間測定部８２は、細隙光Ｌ１の積算照射時間を演算するごとに、新たな演算結果を、積算照射時間の測定結果として照射光量推定部８４へ出力する。
なお、他の処理（細隙光Ｌ１の強度検出、細隙光Ｌ１の照射光量の推定、照射光量情報９２の報知、及び警告情報９４の報知）は、上記第１実施形態と同じであるので、説明は省略する。
以上のように第２実施形態では、撮影系２９の撮像素子５３から継続的に入力される撮影画像データ２７Ｄの解析結果に基づき細隙光Ｌ１の積算照射時間を測定するので、被検眼Ｅに対して細隙光Ｌ１が照射されていない時間を積算照射時間にカウントすることを上記第１実施形態よりも確実に防止することができる。その結果、上記第１実施形態よりも高精度に積算照射時間を測定することができる。
［第３実施形態］
図１５は、第３実施形態の細隙灯顕微鏡１０の制御部２０の機能ブロック図である。図１６は、第３実施形態の制御部２０により生成される積算マップ画像１０６の一例を示した説明図である。上記第２実施形態では、各撮影画像データ２７Ｄの解析結果に基づき細隙光Ｌ１の積算照射時間を測定しているが、第３実施形態では、各撮影画像データ２７Ｄの解析結果に基づき、前眼部像２７の複数の領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量を示す積算マップ画像１０６を生成する。
図１５及び図１６に示すように、第３実施形態の細隙灯顕微鏡１０は、制御部２０が第２実施形態の各部の他に照射位置検出部１０４として機能し且つ積算マップ画像１０６を生成する点を除けば上記第２実施形態と基本的に同じ構成である。このため、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する
第３実施形態の光照射検出部１００は、撮影画像データ２７Ｄごとの光画像１０２の有無の検出結果を照射位置検出部１０４へ逐次出力する。
照射位置検出部１０４は、光照射検出部１００の検出結果に基づき、細隙光Ｌ１が照射されている被検眼Ｅの前眼部の撮影画像データ２７Ｄごとに、撮影画像データ２７Ｄに基づく前眼部像２７内での細隙光Ｌ１の照射位置を検出する。
具体的には、照射位置検出部１０４は、光照射検出部１００から逐次入力される撮影画像データ２７Ｄごとの光画像１０２の有無の検出結果に基づき、光画像１０２を前眼部像２７内に含む撮影画像データ２７Ｄ（以下、特定の撮影画像データ２７Ｄという）ごとに、前眼部像２７内での光画像１０２の位置を逐次検出する。ここで、前眼部像２７内での光画像１０２の位置とは、例えば、光画像１０２を構成する各画素の撮影画像データ２７Ｄ内における位置座標であり、前眼部像２７内での細隙光Ｌ１の照射位置に相当する。そして、照射位置検出部１０４は、特定の撮影画像データ２７Ｄのごとの光画像１０２の位置検出結果を照射時間測定部８２へ逐次出力する。
第３実施形態の照射時間測定部８２は、照射位置検出部１０４から逐次入力される特定の撮影画像データ２７Ｄのごとの位置検出結果に基づき、前眼部像２７を複数に分割した複数の領域２７Ｒごとに細隙光Ｌ１の積算照射時間を経時的に測定（演算）する。なお、個々の領域２７Ｒの大きさは特に限定されず、個々の領域２７Ｒが１画素で構成されていてもよいし或いは複数画素で構成されていてもよい。
領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の積算照射時間は、上記第２実施形態で説明した細隙光Ｌ１の積算照射時間の演算を領域２７Ｒごとに個別に実行することで求められる。以下、照射時間測定部８２は、照射位置検出部１０４から新たな位置検出結果が入力されるごとに、領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の積算照射時間の演算を繰り返し実行する。これにより、照射時間測定部８２による領域２７Ｒごとの積算照射時間の測定が継続的に行われる。そして、照射時間測定部８２は、領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の積算照射時間を演算するごとに、新たな演算結果を、領域２７Ｒごとの積算照射時間の測定結果として照射光量推定部８４へ逐次出力する。
第３実施形態の照射光量推定部８４は、照射時間測定部８２から逐次入力される領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の積算照射時間の測定結果と、光強度検出制御部８１から入力される細隙光Ｌ１の強度検出結果と、に基づき、領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量を継続的に推定する。なお、領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量は、上記第１実施形態で説明した細隙光Ｌ１の照射光量の演算を領域２７Ｒごとに実行することで求められる。そして、照射光量推定部８４は、領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量を推定するごとに、新たな推定結果を第１報知制御部８６及び第２報知制御部８８へ逐次出力する。
第３実施形態の第１報知制御部８６は、照射光量推定部８４から領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量の推定結果が入力されるごとに、領域２７Ｒごとの最新の細隙光Ｌ１の照射光量を表わした積算マップ画像１０６を生成し、この積算マップ画像１０６を表示部６２Ａに表示されている前眼部像２７に重畳表示させる。これにより、表示部６２Ａに表示される積算マップ画像１０６が逐次更新される。その結果、検者は、被検眼Ｅの前眼部の領域２７Ｒごとの照射光量をリアルタイムで把握することができる。
なお、図１６に示した積算マップ画像１０６では、領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量の大小を画像の濃淡（色分布）で表現しているが、領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量の大小を判別可能であれば積算マップ画像１０６の表示態様は特に限定されるものではない。
第３実施形態の第２報知制御部８８は、照射光量推定部８４から逐次入力される領域２７Ｒごとの細隙光Ｌ１の照射光量の推定結果に基づき、領域２７Ｒごとに細隙光Ｌ１の照射光量が予め定められた上限値よりも大きくなるか否かを判定する。そして、第２報知制御部８８は、各領域２７Ｒのいずれかにおいて細隙光Ｌ１の照射光量が上限値よりも大きくなった場合には、上記各実施形態と同様に、光ハザードの警告情報９４を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる。
以上のように第３実施形態では、被検眼Ｅの前眼部の領域２７Ｒごとに細隙光Ｌ１の照射光量を推定することができるので、検者が領域２７Ｒごとの照射光量（すなわち照射光量分布）を容易に把握することができる。その結果、被検眼Ｅの前眼部の全ての領域２７Ｒを光ハザードからより確実に保護することができる。
［第４実施形態］
図１７は、第４実施形態の細隙灯顕微鏡１０の制御部２０の機能ブロック図である。上記各実施形態では照明系１８から被検眼Ｅに対して細隙光Ｌ１（白色光）を照射しているが、照明系１８は、既述の通り、フィルタターレット３９を回転させて各光学フィルタ３８を照明系１８の光路中に選択的に挿入することで各種の光を被検眼Ｅに照射することができる。
例えば、照明系１８は、被検眼Ｅの蛍光観察時にはブルーフィルタを照明光Ｌ０の光路中に挿入することで被検眼Ｅに対して青色光（励起光）を照射し、被検眼Ｅのマイボーム腺観察時にはＩＲ透過フィルタを照明光Ｌ０の光路中に挿入することで被検眼Ｅに対して赤外光を照射する。従って、照明系１８は、互いに異なる複数の波長域の光を選択的に被検眼Ｅに照射する。
この際に、低波長域側の青色光のエネルギーは長波長域側の赤外光のエネルギーよりも高いので、被検眼Ｅに対して青色光及び赤外光をそれぞれ同じ照射光量分だけ照射したとしても被検眼Ｅに対する影響は青色光の方が赤外光よりも大きい。このため、被検眼Ｅを光ハザードから保護するためには、照明系１８から被検眼Ｅに照射される光の波長域を考慮して照射光量の推定及び警告情報９４の報知等を行うことが好ましい。
そこで、図１７に示すように第４実施形態では、照明系１８から被検眼Ｅに照射される光の波長域を考慮して照射光量の推定及び警告情報９４の報知等を行う。なお、第４実施形態の細隙灯顕微鏡１０は、制御部２０が既述の各部の他に波長域検出部１１０及び乗算部１１２として機能し、且つ記憶部６１内に係数情報１１４が記憶されている点を除けば、上記各実施形態と基本的に同じ構成である。このため、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。
波長域検出部１１０は、照明系１８から被検眼Ｅに対して照射される光の波長域を検出する。例えば、波長域検出部１１０は、フィルタターレット３９からその設定情報、すなわち照明系１８の光路中に挿入されている光学フィルタ３８の種類に関する情報を取得することで、被検眼Ｅに対して照射される光の波長域を検出する。
また、被検眼Ｅに対して照射される光の波長域に応じて既述の撮影画像データ２７Ｄに基づく前眼部像２７及びその背景画像の色が変化する。例えば、蛍光観察時には前眼部像２７及びその背景画像が緑色画像となり、赤外光観察時には前眼部像２７及びその背景画像がモノクロ画像となる。このため、波長域検出部１１０は、撮像素子５３から逐次出力される撮影画像データ２７Ｄを画像解析（色解析）することで、照明系１８から被検眼Ｅに照射される光の波長域を検出することができる。
そして、波長域検出部１１０は、照明系１８から被検眼Ｅに照射される光の波長域を継続的に検出すると共に、その検出結果を乗算部１１２に対して逐次出力する。
第４実施形態の光強度検出制御部８１及び照射時間測定部８２は、上記各実施形態と基本的に同じである。なお、上記第２実施形態及び第３実施形態で説明した方法で積算照射時間の測定を行う場合には、既述の光照射検出部１００が、撮影画像データ２７Ｄごとに、撮影画像データ２７Ｄの画像解析（色解析等）を行って被検眼Ｅの前眼部に対する光の照射の有無を検出する。これにより、照射時間測定部８２は上記第２実施形態及び第３実施形態と同様に積算照射時間を求めることができる。
第４実施形態の照射光量推定部８４は、上記各実施形態と同様の方法で被検眼Ｅに照射される各種光の照射光量を継続的に推定すると共に、この照射光量の推定結果を乗算部１１２に逐次出力する。
乗算部１１２は、照射光量推定部８４から被検眼Ｅに対する新たな光の照射光量の推定結果が入力されるごとに、この光の照射光量に対して、その光の波長域に対応した係数（重み付け関数ともいう）を乗算する所謂重み付けを行う。
最初に乗算部１１２は、被検眼Ｅに照射されている光の波長域に対応した係数を決定する。この決定には記憶部６１内の係数情報１１４が用いられる。係数情報１１４は、被検眼Ｅに照射される光の波長域と、照射光量推定部８４により推定された光の照射光量に乗ずる係数との対応関係を記憶したものであり、例えば既述のＩＳＯ規格等に基づいて予め定められている。これにより、乗算部１１２は、波長域検出部１１０から新たに光の波長域の検出結果が入力されるごとに、記憶部６１内の係数情報１１４を参照することで、被検眼Ｅに照射されている光の波長域に対応した係数を決定することができる。
次いで、乗算部１１２は、決定した係数を、照射光量推定部８４から新たに入力された光の照射光量に乗算し、乗算後の照射光量を第１報知制御部８６及び第２報知制御部８８の双方に出力する。以下、乗算部１１２は、波長域検出部１１０から逐次入力される光の波長域の検出結果と、照射光量推定部８４から逐次入力される光の照射光量と、係数情報１１４とに基づいて、係数の決定と、照射光量への係数の乗算と、乗算後の照射光量の出力とを継続的に実行する。
第４実施形態の第１報知制御部８６は、乗算部１１２から新たな乗算後の照射光量が入力されるごとに、最新の照射光量情報９２を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる。また、第４実施形態の第２報知制御部８８は、乗算部１１２から新たな乗算後の照射光量が入力されるごとに、最新の乗算後の照射光量が予め定められた上限値よりも大きくなるか否かを判定して、この照射光量が上限値よりも大きくなる場合には警告情報９４を表示部６２Ａに表示させると共にスピーカ６２Ｂから音声出力させる。
以上のように第４実施形態では、照明系１８から被検眼Ｅに照射される光の波長域を考慮して照射光量の推定及び警告情報９４の報知等を行うので、被検眼Ｅに照射される光の波長域に関係なく被検眼Ｅを光ハザードから確実に保護することができる。
［第５実施形態］
図１８は、第５実施形態の細隙灯顕微鏡１０の照明系１８及び受光系１５０の概略図である。上記各実施形態の受光系５５は細隙形成部３６の傾斜面３６ａにより照明光Ｌ０を偏向しているが、第５実施形態ではビームスプリッタ１５２を用いて照明光Ｌ０を偏向する。なお、第５実施形態の細隙灯顕微鏡１０は、受光系１５０を備える点を除けば、上記各実施形態と基本的に同じ構成である。このため、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。
受光系１５０は、既述の光強度検出制御部８１と共に本発明の光強度検出系を構成するものであり、ビームスプリッタ１５２とシフト機構１５４と受光素子５６とを備える。
ビームスプリッタ１５２は、本発明の偏向光学素子に相当するものであり、例えば、ハーフミラー、ダイクロイックミラー、又は偏光ビームスプリッタなどが用いられる。このビームスプリッタ１５２は、後述のシフト機構１５４により照明光Ｌ０の光路上の位置である偏向位置に配置された場合に照明光Ｌ０の一部をその光路外に偏向（反射）、具体的には光路に対して垂直方向（斜め方向でも可）に偏向する。
シフト機構１５４は、本発明の切替機構に相当するものであり、不図示のアクチュエータ及び伝達機構により構成されている。このシフト機構１５４は、光強度検出制御部８１の制御の下、ビームスプリッタ１５２を、偏向位置（反射位置ともいう）と退避位置とに選択的に移動させる。偏向位置は、ビームスプリッタ１５２が照明光Ｌ０をその光路外に偏向可能な位置、すなわち照明光Ｌ０の光路上の位置である。なお、偏向位置は、被検眼Ｅと共役の位置である。一方、退避位置は、照明光Ｌ０の光路外に退避した位置である。偏向位置にセットされたビームスプリッタ１５２は、照明光Ｌ０の一部を受光素子５６にて受光可能な方向に偏向する。また、退避位置にセットされたビームスプリッタ１５２は、照明光Ｌ０をそのまま通過させる。従って、上述の偏向位置が本発明の偏向状態（反射状態ともいう）に相当し、上述の退避位置が本発明の通過状態に相当する。
受光素子５６は、偏向位置にセットされたビームスプリッタ１５２によって偏向された偏向光Ｌ３の一部を受光可能な位置に配置されている。この受光素子５６は、その受光面に受光した偏向光Ｌ３を光電変換して受光信号を光強度検出制御部８１へ出力する。
第５実施形態の光強度検出制御部８１は、上記各実施形態と同様の細隙光Ｌ１の強度検出のタイミングで、シフト機構１５４を駆動してビームスプリッタ１５２を偏向位置に移動させると共に受光素子５６を作動させる。これにより、ビームスプリッタ１５２により偏向された偏向光Ｌ３が受光素子５６の受光面で受光されると共に、受光素子５６から光強度検出制御部８１に対して偏向光Ｌ３の受光信号が出力される。その結果、光強度検出制御部８１は、受光素子５６から入力される受光信号に基づき、対応情報９１を参照して被検眼Ｅに照射される細隙光Ｌ１の強度を検出することができる。また、光強度検出制御部８１は、被検眼Ｅの観察時にはシフト機構１５４を駆動してビームスプリッタ１５２を退避位置に移動させると共に受光素子５６の作動を停止させる。
なお、他の処理（細隙光Ｌ１の積算照射時間の測定、細隙光Ｌ１の照射光量の推定、照射光量情報９２の報知、及び警告情報９４の報知）は、上記各実施形態と同じであるので、説明は省略する。
以上のように第５実施形態では、光源３１から出射された照明光Ｌ０の一部をビームスプリッタ１５２により受光素子５６に向けて偏向することで、上記各実施形態と同様に、受光素子５６による偏向光Ｌ３の受光と光強度検出制御部８１による細隙光Ｌ１の強度検出とを実行することができる。
なお、第５実施形態ではビームスプリッタ１５２を用いて照明光Ｌ０の一部を受光素子５６に向けて偏向しているが、ビームスプリッタ１５２の代わりに本発明の偏向光学素子として反射ミラーを用いてもよい。この場合には、反射ミラーに入射した照明光Ｌ０の全て（ほぼ全てを含む）を受光素子５６に向けて反射（偏向）させることができる。また、本発明の偏向光学素子としてプリズムを用いてもよい。
［その他］
図１９は、表示部６２Ａの一例を説明するための説明図である。上記各実施形態では、警告情報９４を表示する表示部６２Ａとして液晶ディスプレイ等の外部モニタを例に挙げて説明したが、この表示部６２Ａとして例えば鏡筒本体２４内に設けられたマイクロディスプレイ（マイクロディスプレイプロジェクタともいう）を用いてもよい。
図１９に示すようにマイクロディスプレイ型の表示部６２Ａは、接眼レンズ４８を通して前眼部像２７を観察する観察眼Ｅｏの焦点位置（焦点位置の近傍を含む）であって、且つ結像位置Ｐに結像される前眼部像２７に隣接する位置（観察眼Ｅｏによる前眼部像２７の観察を妨げない位置）に設けられている。このような表示部６２Ａとしては、例えば反射型液晶パネル（Liquid crystal on silicon）、ＤＭＤ（Digital Micro mirror Device）、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）、ＥＬディスプレイ（electroluminescence display）、透過型液晶ディスプレイ、及び画像生成用のマイクロスキャナなどが用いられる。
マイクロディスプレイ型の表示部６２Ａは、制御部２０（第１報知制御部８６及び第２報知制御部８８）の制御の下、既述の照射光量情報９２及び警告情報９４を表示する。これにより、検者は接眼部２４ａから観察眼Ｅｏを離すことなく、前眼部像２７を観察しながら照射光量情報９２及び警告情報９４を確認することができる。
上記各実施形態では、表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂの双方を用いて検者に対して照射光量情報９２及び警告情報９４を報知しているが、表示部６２Ａ及びスピーカ６２Ｂの一方のみで報知を行ってもよい。
上記各実施形態では、表示部６２Ａとして外部モニタ及びマイクロディスプレイを例に挙げて説明したが、例えば、メータパネル及び複数色のランプ（照射光量の増加に応じて発光色が変わり、光ハザードの警告の場合には赤色発光）などのように照射光量情報９２及び警告情報９４を報知可能な各種の報知部材（本発明の警告情報報知部及び照射光量報知部に相当）を用いてよい。
上記第１実施形態では、閉じ状態の細隙形成部３６の傾斜面３６ａにより偏向された偏向光Ｌ３のみを受光可能な位置に受光素子５６を配置しているが、細隙形成部３６の傾斜面３６ａの位置に関係なく偏向光Ｌ３を受光可能な位置に受光素子５６を配置してもよい。これにより、受光素子５６により偏向光Ｌ３を常時受光することができるので、光強度検出制御部８１による細隙光Ｌ１の光強度の検出を常時行うことができる。なお、第５実施形態の受光系１５０ではビームスプリッタ１５２を偏向位置に固定することで、受光素子５６による偏向光Ｌ３の受光と、光強度検出制御部８１による細隙光Ｌ１の光強度の検出と、を常時行うことができる。このように本発明の光強度検出系は、光の強度検出を常時行ってもよい。
図２０は、細隙灯顕微鏡１０とは異なる本発明の眼科装置の装置本体２００の概略図である。上記各実施形態では本発明の眼科装置として細隙灯顕微鏡１０を例に挙げて説明したが、本発明は細隙灯顕微鏡１０に限定されるものではない。例えば、図２０に示すような装置本体２００を有する各種眼科装置にも本発明を適用することができる。
装置本体２００は、照射系２０２と、ビームスプリッタ２０４と、光学素子２０６と、撮影系２０８（受光系）と、受光系２１０と、を備える。照射系２０２は、各種光を出射する光源２０２ａを備える。ビームスプリッタ２０４は、例えば、ハーフミラー、ダイクロイックミラー、又は偏光ビームスプリッタであり、照射系２０２から入射する光を光学素子２０６に向けて出射すると共に、光学素子２０６から入射した光を撮影系２０８に向けて偏向する。光学素子２０６は、例えば対物レンズを備えており、ビームスプリッタ２０４から入射した光を被検眼Ｅへ照射すると共に、被検眼Ｅにて反射された光をビームスプリッタ２０４に入射させる。撮影系２０８は、ビームスプリッタ２０４にて偏向された被検眼Ｅからの光を撮像（受光）する撮像素子２０８ａ（受光素子）を備える。
受光系２１０は、第５実施形態の受光系１５０と基本的には同じ構成であり、本発明の偏向光学素子に相当するビームスプリッタ２１２と、本発明の切替機構に相当し且つビームスプリッタ２１２を偏向位置及び退避位置に選択的に移動させるシフト機構２１４と、ビームスプリッタ２１２により偏向された光を受光する受光素子２１６と、を備える。これにより、装置本体２００の不図示の制御部は受光素子２１６から出力される受光信号に基づき被検眼Ｅに照射される光の強度を検出することができる。
このような装置本体２００を有する各種眼科装置にも本発明を適用することで、上記各実施形態と同様に、被検眼Ｅを光ハザードから保護することができる。なお、このような眼科装置としては、被検眼Ｅに対して照明光（観察光）又は検査光などの各種の光を照射するＯＣＴ装置、眼底カメラ、及びＳＬＯなどが例として挙げられる。
１０…細隙灯顕微鏡
１２…顎受け台
１２ａ…顎受け
１８…照明系
１９…観察系
２０…制御部
２７…前眼部像
２７Ｄ…撮影画像データ
２７Ｒ…領域
２９…撮影系
３１…光源
３６…細隙形成部
３６ａ…傾斜面
５３…撮像素子
５５…受光系
５６…受光素子
６１…記憶部
６２Ａ…表示部
６２Ｂ…スピーカ
６５…スリット駆動部
６８…操作部
７０…検出部
８１…光強度検出制御部
８２…照射時間測定部
８４…照射光量推定部
８６…第１報知制御部
８８…第２報知制御部
９１…対応情報
９２…照射光量情報
９４…警告情報
１００…光照射検出部
１０２…光画像
１０４…照射位置検出部
１０６…積算マップ画像
１１０…波長域検出部
１１２…乗算部
１１４…係数情報
１５０…受光系
１５２…ビームスプリッタ
１５４…シフト機構
２００…装置本体
２０２…照射系
２０２ａ…光源
２０８…撮影系
２１０…受光系
２１２…ビームスプリッタ
２１４…シフト機構
２１６…受光素子

Claims (16)

  1. 光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系と、
    前記光源から出射された前記光の少なくとも一部を受光して前記光の強度を検出する光強度検出系であって、且つ前記光源が前記光の強度を変更可能である場合には少なくとも前記光の強度が変更されるごとに前記光の強度の検出を行う光強度検出系と、
    前記被検眼に対する前記光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定部と、
    前記光強度検出系の検出結果と前記照射時間測定部の測定結果とに基づき、前記被検眼に照射される前記光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定部と、
    を備え、
    前記光強度検出系が、
    偏向光学素子と、
    前記光の光路外に配置された受光素子と、
    前記偏向光学素子を、前記光の少なくとも一部を前記受光素子にて受光可能な方向に偏向させる偏向状態と、前記光を通過させる通過状態とに切り替える切替機構と、
    を備え、
    前記受光素子が、前記偏向状態の前記偏向光学素子により偏向された前記光を受光する眼科装置。
  2. 前記光源のオンオフを検出する動作検出部を備え、
    前記照射時間測定部が、前記動作検出部の検出結果に基づき、前記光源がオンされている時間を前記積算照射時間として測定する請求項１に記載の眼科装置。
  3. 前記被検眼に対して前記照射系を相対移動自在に支持する支持機構と、
    前記照射系の位置を検出する位置検出部と、
    を備え、
    前記照射時間測定部が、前記位置検出部の検出結果に基づき、前記照射系の位置が予め定められた前記被検眼に対する前記光の照射位置範囲内にセットされている時間を前記積算照射時間として測定する請求項１に記載の眼科装置。
  4. 被検者の顔を支持する顎受けと、
    前記顎受けによる前記顔の支持の有無を検出する顔検出部と、
    を備え、
    前記照射時間測定部が、前記顔検出部の検出結果に基づき、前記顎受けが前記顔を支持している時間を前記積算照射時間として測定する請求項１に記載の眼科装置。
  5. 前記被検眼の前眼部を継続的に撮影する撮影系と、
    前記撮影系により撮影された前記前眼部の撮影画像ごとに、前記撮影画像に基づいて前記前眼部に対して前記光が照射されている否かを検出する光照射検出部と、
    を備え、
    前記照射時間測定部が、前記撮影画像ごとの前記光照射検出部の検出結果に基づき、前記積算照射時間を測定する請求項１に記載の眼科装置。
  6. 前記光照射検出部の検出結果に基づき、前記光が照射されている前記前眼部の前記撮影画像ごとに、前記撮影画像内での前記光の照射位置を検出する照射位置検出部を備え、
    前記照射時間測定部が、前記照射位置検出部の検出結果に基づき、前記撮影画像内の複数の領域ごとの前記積算照射時間を継続的に測定し、
    前記照射光量推定部が、前記光強度検出系の検出結果と前記複数の領域ごとの前記照射時間測定部の測定結果とに基づき、前記複数の領域ごとの前記照射光量を継続的に推定する請求項５に記載の眼科装置。
  7. 光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系と、
    前記光源から出射された前記光の少なくとも一部を受光して前記光の強度を検出する光強度検出系であって、且つ前記光源が前記光の強度を変更可能である場合には少なくとも前記光の強度が変更されるごとに前記光の強度の検出を行う光強度検出系と、
    前記被検眼に対する前記光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定部と、
    前記光強度検出系の検出結果と前記照射時間測定部の測定結果とに基づき、前記被検眼に照射される前記光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定部と、
    前記被検眼に対して前記照射系を相対移動自在に支持する支持機構と、
    前記照射系の位置を検出する位置検出部と、
    を備え、
    前記照射時間測定部が、前記位置検出部の検出結果に基づき、前記照射系の位置が予め定められた前記被検眼に対する前記光の照射位置範囲内にセットされている時間を前記積算照射時間として測定する眼科装置。
  8. 光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系と、
    前記光源から出射された前記光の少なくとも一部を受光して前記光の強度を検出する光強度検出系であって、且つ前記光源が前記光の強度を変更可能である場合には少なくとも前記光の強度が変更されるごとに前記光の強度の検出を行う光強度検出系と、
    前記被検眼に対する前記光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定部と、
    前記光強度検出系の検出結果と前記照射時間測定部の測定結果とに基づき、前記被検眼に照射される前記光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定部と、
    被検者の顔を支持する顎受けと、
    前記顎受けによる前記顔の支持の有無を検出する顔検出部と、
    を備え、
    前記照射時間測定部が、前記顔検出部の検出結果に基づき、前記顎受けが前記顔を支持している時間を前記積算照射時間として測定する眼科装置。
  9. 光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系と、
    前記光源から出射された前記光の少なくとも一部を受光して前記光の強度を検出する光強度検出系であって、且つ前記光源が前記光の強度を変更可能である場合には少なくとも前記光の強度が変更されるごとに前記光の強度の検出を行う光強度検出系と、
    前記被検眼に対する前記光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定部と、
    前記光強度検出系の検出結果と前記照射時間測定部の測定結果とに基づき、前記被検眼に照射される前記光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定部と、
    前記被検眼の前眼部を継続的に撮影する撮影系と、
    前記撮影系により撮影された前記前眼部の撮影画像ごとに、前記撮影画像に基づいて前記前眼部に対して前記光が照射されている否かを検出する光照射検出部と、
    を備え、
    前記照射時間測定部が、前記撮影画像ごとの前記光照射検出部の検出結果に基づき、前記積算照射時間を測定する眼科装置。
  10. 前記光照射検出部の検出結果に基づき、前記光が照射されている前記前眼部の前記撮影画像ごとに、前記撮影画像内での前記光の照射位置を検出する照射位置検出部を備え、
    前記照射時間測定部が、前記照射位置検出部の検出結果に基づき、前記撮影画像内の複数の領域ごとの前記積算照射時間を継続的に測定し、
    前記照射光量推定部が、前記光強度検出系の検出結果と前記複数の領域ごとの前記照射時間測定部の測定結果とに基づき、前記複数の領域ごとの前記照射光量を継続的に推定する請求項９に記載の眼科装置。
  11. 前記被検眼に対して照射される前記光の波長域を検出する波長域検出部と、
    前記波長域検出部の検出結果に基づき、前記照射光量推定部が推定した前記照射光量に対して、前記波長域ごとに予め定められた係数を乗ずる乗算部と、
    を備える請求項１から１０のいずれか１項に記載の眼科装置。
  12. 光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系と、
    前記光源から出射された前記光の少なくとも一部を受光して前記光の強度を検出する光強度検出系であって、且つ前記光源が前記光の強度を変更可能である場合には少なくとも前記光の強度が変更されるごとに前記光の強度の検出を行う光強度検出系と、
    前記被検眼に対する前記光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定部と、
    前記光強度検出系の検出結果と前記照射時間測定部の測定結果とに基づき、前記被検眼に照射される前記光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定部と、
    前記被検眼に対して照射される前記光の波長域を検出する波長域検出部と、
    前記波長域検出部の検出結果に基づき、前記照射光量推定部が推定した前記照射光量に対して、前記波長域ごとに予め定められた係数を乗ずる乗算部と、
    を備える眼科装置。
  13. 前記照射光量推定部が推定した前記照射光量が予め定めた上限値よりも大きくなる場合に警告情報を報知する警告情報報知部を備える請求項１から１２のいずれか１項に記載の眼科装置。
  14. 前記照射光量推定部が推定した前記照射光量を報知する照射光量報知部を備える請求項１から１３のいずれか１項に記載の眼科装置。
  15. 光源から出射された光を被検眼へ照射する照射系と、前記被検眼に対して前記照射系を相対移動自在に支持する支持機構と、を備える眼科装置の作動方法において、
    前記光源から出射された前記光の少なくとも一部を受光して前記光の強度を検出する光強度検出ステップであって、且つ前記光源が前記光の強度を変更可能である場合には少なくとも前記光の強度が変更されるごとに前記光の強度の検出を行う光強度検出ステップと、
    前記被検眼に対する前記光の積算照射時間を継続的に測定する照射時間測定ステップと、
    前記光強度検出ステップの検出結果と前記照射時間測定ステップの測定結果とに基づき、前記被検眼に照射される前記光の照射光量を継続的に推定する照射光量推定ステップと、
    前記照射系の位置を検出する位置検出ステップと、
    を有し、
    前記照射時間測定ステップでは、前記位置検出ステップの検出結果に基づき、前記照射系の位置が予め定められた前記被検眼に対する前記光の照射位置範囲内にセットされている時間を前記積算照射時間として測定する眼科装置の作動方法。
  16. 前記照射光量推定ステップで推定した前記照射光量が予め定めた上限値よりも大きくなる場合に警告情報を報知する警告情報報知ステップを有する請求項１５に記載の眼科装置の作動方法。
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