JP7257273B2 - Printed wiring board and manufacturing method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、めっきバンプを有するプリント配線板およびその製造方法に関する。 The present invention relates to a printed wiring board having plated bumps and a manufacturing method thereof.

特許文献1は、めっき法を用いたバンプ形成を開示している。 Patent Literature 1 discloses bump formation using a plating method.

特開2010-129996号公報JP 2010-129996 A

しかしながら、図5および図6に示すように、ソルダーレジスト層16’に形成された大きさの異なる開口16a’、16b’内の導体パッド14a’、14b’上にベースめっき層24’、30’を形成し、該ベースめっき層24’、30’上にトップめっき層28’、32’を形成して大きさの異なる大径バンプ20’と小径バンプ22’を形成した場合、基板の中央部の大径バンプ20’と外周部の大径バンプ20’において、トップめっき層28’のリフロー後に中央部のバンプ高さBH3と外周部のバンプ高さBH1との間でバンプの高さが揃わない場合があった。 However, as shown in FIGS. 5 and 6, base plating layers 24' and 30' are formed on conductor pads 14a' and 14b' in openings 16a' and 16b' of different sizes formed in solder resist layer 16'. are formed, and top plating layers 28' and 32' are formed on the base plating layers 24' and 30' to form large diameter bumps 20' and small diameter bumps 22' having different sizes. In the large-diameter bumps 20' and the large-diameter bumps 20' in the outer peripheral portion, the heights of the bumps are aligned between the bump height BH3 in the central portion and the bump height BH1 in the outer peripheral portion after the reflow of the top plating layer 28'. sometimes not.

本発明に係るプリント配線板は、プリント配線板であって、基部絶縁層と、前記基部絶縁層上に形成された導体層と、前記基部絶縁層上および前記導体層上に形成され、かつ、前記導体層の一部を第1の導体パッドとして露出させる第1の開口、および該第1の開口よりも径が小さく前記導体層の他の一部を第2の導体パッドとして露出させる第2の開口を有するソルダーレジスト層と、前記第1の導体パッド上に形成された第1のバンプと、前記第2の導体パッド上に形成され、前記第1のバンプよりも小径の第2のバンプと、を備え、前記第1のバンプは、前記第1の開口内に形成された第1のベースめっき層と、該第1のベースめっき層上に形成された第1のトップめっき層とを有し、前記第2のバンプは、前記第2の開口内に形成された第2のベースめっき層と、該第2のベースめっき層上に形成された第2のトップめっき層とを有し、複数の前記第1のバンプにおいて、第1のバンプの径がプリント配線板の中央に向かって大きく、複数の前記第1のバンプの最上位置が略同一である。 A printed wiring board according to the present invention is a printed wiring board comprising a base insulating layer, a conductor layer formed on the base insulating layer, formed on the base insulating layer and the conductor layer, and a first opening exposing a portion of the conductor layer as a first conductor pad; and a second opening having a smaller diameter than the first opening exposing another portion of the conductor layer as a second conductor pad. a solder resist layer having an opening of , a first bump formed on the first conductor pad, and a second bump formed on the second conductor pad and having a smaller diameter than the first bump and the first bump includes a first base plating layer formed in the first opening and a first top plating layer formed on the first base plating layer. and the second bump has a second base plating layer formed in the second opening and a second top plating layer formed on the second base plating layer. In the plurality of first bumps, the diameter of the first bumps increases toward the center of the printed wiring board, and the highest positions of the plurality of first bumps are substantially the same.

また、本発明のプリント配線板の製造方法は、プリント配線板の製造方法であって、基部絶縁層を形成することと、前記基部絶縁層上に導体層を形成することと、前記基部絶縁層上および前記導体層上にソルダーレジスト層を形成することと、前記ソルダーレジスト層に、前記導体層の一部を第1の導体パッドとして露出させる第1の開口を形成することと、前記ソルダーレジスト層に、前記第1の開口よりも径が小さく前記導体層の他の一部を第2の導体パッドとして露出させる第2の開口を形成することと、前記第1の導体パッド上に第1のバンプを形成することと、前記第2の導体パッド上に、前記第1のバンプよりも小径の第2のバンプを形成することと、を含み、前記第1のバンプを形成することは、前記第1の開口内に第1のベースめっき層を形成することと、前記第1のベースめっき層上に第1のトップめっき層を形成することと、第1のトップめっき層をリフローして、複数の前記第1のバンプの径を、複数の前記第1のベースめっき層の径をプリント配線板の中央に向かって大きくすることで、プリント配線板の中央に向かって大きくすることと、を含み、前記第2のバンプを形成することは、前記第2の開口内に第2のベースめっき層を形成することと、前記第2のベースめっき層上に、前記第1のトップめっき層の上面の最上位置より上にある上面を有する第2のトップめっき層を形成することと、第2のトップめっき層をリフローすることと、を含む。 Further, a method for manufacturing a printed wiring board of the present invention is a method for manufacturing a printed wiring board, comprising: forming a base insulating layer; forming a conductor layer on the base insulating layer; forming a solder resist layer on the top and the conductor layer; forming a first opening in the solder resist layer to expose a part of the conductor layer as a first conductor pad; forming a second opening in the layer having a smaller diameter than the first opening and exposing another part of the conductor layer as a second conductor pad; and forming a second bump having a smaller diameter than the first bump on the second conductor pad, wherein forming the first bump comprises: forming a first base plating layer in the first opening; forming a first top plating layer on the first base plating layer; reflowing the first top plating layer; increasing the diameter of the plurality of first bumps toward the center of the printed wiring board by increasing the diameter of the plurality of first base plating layers toward the center of the printed wiring board; forming the second bump includes forming a second base plating layer within the second opening; and forming the first top plating layer on the second base plating layer. forming a second top plating layer having a top surface that is above the top of the top surface of the substrate; and reflowing the second top plating layer.

本発明の一実施形態のプリント配線板を示す断面図である。1 is a cross-sectional view showing a printed wiring board according to one embodiment of the present invention; FIG. 本発明の一実施形態のプリント配線板において、バンプ径の関係を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining the relationship between bump diameters in the printed wiring board of one embodiment of the present invention; 本発明の一実施形態のプリント配線板において、バンプ径を変えるプリント配線板のゾーンを説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining zones of a printed wiring board in which bump diameters are changed in the printed wiring board according to one embodiment of the present invention; 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is a sectional view showing a manufacturing method of a printed wired board of one embodiment of the present invention. 従来技術に従うプリント配線板において、バンプの構造を説明するための断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining the structure of bumps in a printed wiring board according to the prior art; 従来技術に従うプリント配線板において、大径バンプの高さが揃わない様子を説明するための断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view for explaining how the heights of large-diameter bumps are not uniform in a printed wiring board according to the prior art;

<本発明のプリント配線板について>
本発明のプリント配線板の一実施形態が、図面を参照して説明される。図1には、実施形態の製造方法により作製されたプリント配線板10の一部が拡大して示されている。プリント配線板10は、コア基板(図示せず)の片面または両面に所定の回路パターンを有する導体層と樹脂絶縁層とを交互に積層してなるコア付き基板であってよい。コア基板の両面に導体層を形成する場合には、コア基板を介して対向する導体層同士は、スルーホール導体(図示せず)を介して接続されていてもよい。あるいは、プリント配線板10は、コア基板の代わりに支持板(図示せず)上で導体層と樹脂絶縁層とを交互に積層した後、支持板を除去してなるコアレス基板であってもよい。いずれにせよ、プリント配線板10は、図1に示すように、少なくとも1層の樹脂絶縁層のうち最外に配置されたものである基部絶縁層12と、基部絶縁層12上に形成された、所定の回路パターンを有する導体層14と、基部絶縁層12および導体層14上に形成されたソルダーレジスト層16とを備えている。基部絶縁層12の下層には他の複数の導体層および樹脂絶縁層が交互に設けられている場合が多いが、図では省略されている。しかし、プリント配線板10は、1層の基部絶縁層12と1層の導体層14とからなるものでもよい。
<About the printed wiring board of the present invention>
One embodiment of the printed wiring board of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an enlarged part of a printed wiring board 10 manufactured by the manufacturing method of the embodiment. Printed wiring board 10 may be a substrate with a core formed by alternately laminating conductor layers and resin insulation layers having predetermined circuit patterns on one or both sides of a core substrate (not shown). When conductor layers are formed on both sides of the core substrate, the conductor layers facing each other via the core substrate may be connected via through-hole conductors (not shown). Alternatively, printed wiring board 10 may be a coreless substrate obtained by alternately laminating conductor layers and resin insulating layers on a support plate (not shown) instead of the core substrate, and then removing the support plate. . In any case, as shown in FIG. 1, the printed wiring board 10 includes a base insulating layer 12 which is the outermost layer of at least one resin insulating layer, and a base insulating layer 12 formed on the base insulating layer 12. , a conductor layer 14 having a predetermined circuit pattern, and a solder resist layer 16 formed on the base insulating layer 12 and the conductor layer 14 . In many cases, a plurality of other conductor layers and resin insulation layers are alternately provided under the base insulation layer 12, but they are omitted in the drawing. However, the printed wiring board 10 may consist of one layer of the base insulating layer 12 and one layer of the conductor layer 14 .

基部絶縁層12は、例えばシリカやアルミナ等の無機フィラーとエポキシ系樹脂とを含む樹脂組成物等で構成することができる。導体層14は導電性金属、例えば銅を主成分とする金属で形成される。 The base insulating layer 12 can be made of, for example, a resin composition containing an inorganic filler such as silica or alumina and an epoxy resin. The conductor layer 14 is made of a conductive metal such as a metal containing copper as a main component.

ソルダーレジスト層16は、導体層14の一部を第1の導体パッド14aとして露出させる第1の開口16aと、第1の開口16aよりも径が小さく導体層14の他の一部を第2の導体パッド14bとして露出させる第2の開口16bとを有している。第1の開口16aのアスペクト比、つまり底部の口径に対する深さの比は0.5以下とすることができる。第2の開口16bのアスペクト比、つまり底部の口径に対する深さの比0.6以上とすることができる。 The solder resist layer 16 includes first openings 16a that expose portions of the conductor layer 14 as first conductor pads 14a, and second openings 16a that are smaller in diameter than the first openings 16a and expose other portions of the conductor layer 14 as second openings 14a. and a second opening 16b exposed as a second contact pad 14b. The aspect ratio of the first opening 16a, ie, the ratio of the depth to the diameter of the bottom, can be 0.5 or less. The aspect ratio of the second opening 16b, that is, the ratio of the depth to the diameter of the bottom can be 0.6 or more.

第1および第2の導体パッド14a、14b上には下地層18がそれぞれ形成されていてよい。下地層18としては、第1および第2の導体パッド14a、14bの表面に形成されたニッケル層とニッケル層上に形成されたパラジウム層とパラジウム層上に形成された金層とを例示することができる。その他、ニッケル層とニッケル層上に形成された金層とを例示することができる。下地層18は形成しなくてもよい。 Underlayers 18 may be formed on the first and second conductor pads 14a, 14b, respectively. Examples of the underlying layer 18 include a nickel layer formed on the surfaces of the first and second conductor pads 14a and 14b, a palladium layer formed on the nickel layer, and a gold layer formed on the palladium layer. can be done. In addition, a nickel layer and a gold layer formed on the nickel layer can be exemplified. The underlying layer 18 may not be formed.

プリント配線板10はさらに、第1の導体パッド14a上に下地層18を介して形成された第1のバンプ20と、第2の導体パッド14b上に下地層18を介して形成され、第1のバンプ20よりも小径の第2のバンプ22とを備えている。下地層18を形成しない場合、第1および第2のバンプ20、22は第1および第2の導体パッド14a、14b上に直接形成することができる。第1のバンプ20は電源もしくはグランド線との接続に用いることができる。第1のバンプ20よりも径の小さい第2のバンプ22は信号線との接続に用いることができる。 The printed wiring board 10 further includes a first bump 20 formed on the first conductor pad 14a through the underlying layer 18 and a first bump 20 formed on the second conductor pad 14b through the underlying layer 18 to form the first bump 20 on the second conductor pad 14b. and a second bump 22 having a smaller diameter than the bump 20 of the first. If the underlying layer 18 is not formed, the first and second bumps 20, 22 can be formed directly on the first and second contact pads 14a, 14b. The first bump 20 can be used for connection to a power supply or ground line. A second bump 22 having a diameter smaller than that of the first bump 20 can be used for connection with a signal line.

本発明のプリント配線板10において大径バンプを構成する第1のバンプ20は、第1の開口16a内に形成された第1のベースめっき層24と、第1のベースめっき層24上に例えばニッケルを主成分とする中間層26を介して形成された第1のトップめっき層28とを有する。中間層26の厚みは7μm以下とすることが好ましい。中間層26は形成しなくてもよい。中間層26を形成しない場合、第1のトップめっき層28は第1のベースめっき層24上に直接形成することができる。 The first bump 20 constituting the large-diameter bump in the printed wiring board 10 of the present invention includes a first base plating layer 24 formed in the first opening 16a and, for example, a and a first top plated layer 28 formed via an intermediate layer 26 containing nickel as a main component. The thickness of the intermediate layer 26 is preferably 7 μm or less. The intermediate layer 26 may not be formed. If the intermediate layer 26 is not formed, the first top plating layer 28 can be formed directly on the first base plating layer 24 .

第1のベースめっき層24は、導電性金属、好ましくは銅を主成分とする金属から形成されている。第1のベースめっき層24はソルダーレジスト層16の表面(基部絶縁層12とは反対側の面)を超える高さまで形成する。これにより第1のバンプ20が第1の開口16a内に安定して保持される。ソルダーレジスト層16の表面からの第1のベースめっき層24の厚みB1は3μm~20μmの範囲内とすることが好ましい。 The first base plating layer 24 is made of a conductive metal, preferably a copper-based metal. The first base plating layer 24 is formed up to a height exceeding the surface of the solder resist layer 16 (the surface opposite to the base insulating layer 12). Thereby, the first bump 20 is stably held in the first opening 16a. The thickness B1 of the first base plating layer 24 from the surface of the solder resist layer 16 is preferably within the range of 3 μm to 20 μm.

第1のトップめっき層28は、第1のベースめっき層24よりも融点が低くリフロー処理により溶融して図1に示すような略半球状に整形される金属、例えばスズを主成分とする金属からなる。第1のトップめっき層28の厚み(第1のバンプ20の外周面において第1のトップめっき層28の下端から第1のトップめっき層の頂部までの垂直方向の距離)A1は5μm~45μmの範囲とすることが好ましい。第1のトップめっき層28の厚みA1をこの範囲とすることで、第1のバンプ20と、プリント配線板10に実装される半導体チップやメモリなど電子部品の接続パッド(図示せず)との間で良好な接続信頼性が得られる。 The first top plating layer 28 is a metal having a melting point lower than that of the first base plating layer 24 and melted by reflow treatment and shaped into a substantially hemispherical shape as shown in FIG. consists of The thickness of the first top plating layer 28 (vertical distance from the lower end of the first top plating layer 28 to the top of the first top plating layer on the outer peripheral surface of the first bump 20) A1 is 5 μm to 45 μm. A range is preferred. By setting the thickness A1 of the first top plating layer 28 within this range, the first bumps 20 and connection pads (not shown) of electronic components such as semiconductor chips and memories mounted on the printed wiring board 10 Good connection reliability can be obtained between

本発明のプリント配線板10において小径バンプを構成する第2のバンプ22は、第2の開口16b内に形成された第2のベースめっき層30と、第2のベースめっき層30上に例えばニッケルを主成分とする中間層26を介して形成された第2のトップめっき層32とを有する。中間層26の厚みは7μm以下とすることが好ましい。中間層26は形成しなくてもよい。中間層26を形成しない場合、第2のトップめっき層32は第2のベースめっき層30上に直接形成することができる。 The second bumps 22 constituting the small-diameter bumps in the printed wiring board 10 of the present invention are composed of a second base plating layer 30 formed in the second opening 16b, and nickel, for example, on the second base plating layer 30. and a second top plated layer 32 formed via an intermediate layer 26 containing as a main component. The thickness of the intermediate layer 26 is preferably 7 μm or less. The intermediate layer 26 may not be formed. If the intermediate layer 26 is not formed, the second top plated layer 32 can be formed directly on the second base plated layer 30 .

第2のベースめっき層30は、導電性金属、好ましくは銅を主成分とする金属から形成されている。第2のベースめっき層30はソルダーレジスト層16の表面(基部絶縁層12とは反対側の面)を超える高さまで形成することが好ましい。これにより第2のバンプ22が第2の開口16b内に安定して保持される。ソルダーレジスト層16の表面からの第2のベースめっき層30の厚みB2は3μm~20μmの範囲内とすることが好ましい。第2のベースめっき層30は上面中央部分に第2の窪み30aを有する。すなわち、第2のベースめっき層30の上面中央部分は上面外周部分よりも低い位置に形成されている。 The second base plating layer 30 is made of a conductive metal, preferably a copper-based metal. The second base plating layer 30 is preferably formed to a height exceeding the surface of the solder resist layer 16 (the surface opposite to the base insulating layer 12). Thereby, the second bump 22 is stably held in the second opening 16b. The thickness B2 of the second base plating layer 30 from the surface of the solder resist layer 16 is preferably within the range of 3 μm to 20 μm. The second base plating layer 30 has a second depression 30a in the central portion of its upper surface. That is, the central portion of the upper surface of the second base plating layer 30 is formed at a position lower than the peripheral portion of the upper surface.

第2のトップめっき層32は、第2のベースめっき層30よりも融点が低くリフロー処理により溶融して図1に示すような略半球状に整形される金属、例えばスズを主成分とする金属からなる。第2のトップめっき層32の厚み(第2のバンプ22の外周面において第2のトップめっき層32の下端から第2のトップめっき層32の頂部までの垂直方向の距離)A2は5μm~45μmの範囲とすることが好ましい。第2のトップめっき層32の厚みA2をこの範囲とすることで、第2のバンプ22と、プリント配線板10に実装される半導体チップやメモリなど電子部品の接続パッド(図示せず)との間で良好な接続信頼性が得られる。 The second top plating layer 32 is a metal that has a melting point lower than that of the second base plating layer 30 and can be melted by reflow processing and shaped into a substantially hemispherical shape as shown in FIG. consists of The thickness of the second top plating layer 32 (vertical distance from the lower end of the second top plating layer 32 to the top of the second top plating layer 32 on the outer peripheral surface of the second bump 22) A2 is 5 μm to 45 μm is preferably in the range of By setting the thickness A2 of the second top plating layer 32 within this range, the second bumps 22 and connection pads (not shown) of electronic components such as semiconductor chips and memories mounted on the printed wiring board 10 Good connection reliability can be obtained between

本発明に係るプリント配線板では、大径バンプを構成する複数の第1のバンプ20において、第1のバンプ20の径が、プリント配線板の中央に向かって大きく、複数の第1のバンプ20の最上位置が略同一である。 In the printed wiring board according to the present invention, in the plurality of first bumps 20 constituting the large-diameter bumps, the diameter of the first bumps 20 increases toward the center of the printed wiring board, and the diameter of the plurality of first bumps 20 increases toward the center of the printed wiring board. are substantially the same.

具体的な態様の一例として、図2に示すように、第1のトップめっき層28のリフロー前において、プリント配線板の外周部に位置する外周部バンプの第1のベースめっき層24の径をR1とし、プリント配線板の中央部に位置する中央部バンプの第1のベースめっき層24の径をR3とすると、第1のトップめっき層28のリフロー後における第1のバンプ20の径は、外形部バンプにおいてR1となり、中央部バンプにおいてR3となる。この外周部バンプと中央部バンプとの関係を、R3>R1とする。この際、第1のベースめっき層24の下地層18と接触する部分の径をR11とすると、R11は外周部バンプおよび中央部バンプにおいて同じであり、R1およびR3との関係はR3>R1>R11となる。また、第1のバンプ20のバンプ高さを、外周部バンプでBH1、中央部バンプでBH3とすると、略BH1=BH3の関係となる。 As an example of a specific mode, as shown in FIG. 2, before the reflow of the first top plating layer 28, the diameter of the first base plating layer 24 of the outer peripheral bump located on the outer periphery of the printed wiring board is Assuming that R1 is the diameter of the first base plating layer 24 of the center bump located in the center of the printed wiring board and R3 is the diameter of the first base plating layer 24, the diameter of the first bump 20 after the reflow of the first top plating layer 28 is: It becomes R1 at the outline portion bumps and R3 at the central portion bumps. The relationship between the peripheral bumps and the central bumps is defined as R3>R1. At this time, assuming that the diameter of the portion of the first base plating layer 24 in contact with the underlying layer 18 is R11, R11 is the same for the peripheral bumps and the central bumps, and the relationship between R1 and R3 is R3>R1> becomes R11. Further, if the bump height of the first bump 20 is BH1 for the peripheral bump and BH3 for the central bump, the relationship is approximately BH1=BH3.

具体的な態様の他の例として、図3に示すように、プリント配線板10を中央部Z3、中間部Z2および外周部Z1と分け、中央部Z3に存在する第1のバンプ20の径をR3、中間部Z2に存在する第1のバンプ20の径をR2、外周部Z1に存在する第1のバンプ20の径をR3としたとき、R3>R2>R1とすることができる。 As another example of a specific embodiment, as shown in FIG. 3, the printed wiring board 10 is divided into a central portion Z3, an intermediate portion Z2, and an outer peripheral portion Z1, and the diameter of the first bumps 20 present in the central portion Z3 is When R3 is the diameter of the first bump 20 present in the middle portion Z2 and R3 is the diameter of the first bump 20 present in the outer peripheral portion Z1, R3>R2>R1 can be established.

<本発明のプリント配線板の製造方法について>
以下、本発明に係る図1に示すプリント配線板10の製造方法を、図4A~図4Hを参照して説明する。
<About the method for manufacturing the printed wiring board of the present invention>
A method of manufacturing printed wiring board 10 shown in FIG. 1 according to the present invention will be described below with reference to FIGS. 4A to 4H.

図4Aには、公知の方法を用いて、基部絶縁層12上に所定の回路パターンを有する導体層14およびソルダーレジスト層16が形成された中間体が示されている。基部絶縁層12の下層には他の複数の導体層および樹脂絶縁層が交互に形成されている場合が多いが、図では省略されている。複数の導体層および樹脂絶縁層はコア基板上もしくは後に除去可能な支持板上で積層することができる。しかし、プリント配線板10は、基部絶縁層12としての1層の樹脂絶縁層と1層の導体層14とからなるものでもよく、この場合この樹脂絶縁層が基部絶縁層12に相当する。基部絶縁層12には、シリカやアルミナ等の無機フィラーとエポキシ系樹脂とを含むビルドアップ用絶縁樹脂フィルムを用いることができる。ソルダーレジスト層16には、例えば炭酸ガスレーザまたはUV-YAGレーザ等により、導体層14の一部を第1の導体パッド14aとして露出させる第1の開口16aと導体層14の他の一部を第2の導体パッド14bとして露出させる第2の開口16bが形成される。第1の開口16aのアスペクト比は0.5以下とし、第2の開口16bのアスペクト比は0.6以上とするのが好ましい。第1および第2の導体パッド14a、14b上には、めっきにより例えばニッケル層、パラジウム層、金層がこの順に積層されて下地層18が形成される。下地層18は形成しなくてもよい。 FIG. 4A shows an intermediate body in which a conductor layer 14 having a predetermined circuit pattern and a solder resist layer 16 are formed on a base insulating layer 12 using a known method. In many cases, a plurality of other conductor layers and resin insulation layers are alternately formed under the base insulation layer 12, but they are omitted in the drawing. A plurality of conductor layers and resin insulation layers can be laminated on a core substrate or a support plate that can be removed later. However, printed wiring board 10 may be composed of one resin insulation layer as base insulation layer 12 and one conductor layer 14 , in which case this resin insulation layer corresponds to base insulation layer 12 . A build-up insulating resin film containing an inorganic filler such as silica or alumina and an epoxy resin can be used for the base insulating layer 12 . The solder resist layer 16 is formed with first openings 16a for exposing part of the conductor layer 14 as first conductor pads 14a and other parts of the conductor layer 14 by, for example, a carbon dioxide laser or UV-YAG laser. A second opening 16b is formed exposing two contact pads 14b. Preferably, the aspect ratio of the first opening 16a is 0.5 or less, and the aspect ratio of the second opening 16b is 0.6 or more. A base layer 18 is formed on the first and second conductor pads 14a, 14b by plating, for example, a nickel layer, a palladium layer, and a gold layer in this order. The underlying layer 18 may not be formed.

図4Bに示されるように、例えば、無電解銅めっき処理等の無電解めっき処理が行われ、中間体の表面(ソルダーレジスト層16の表面および第1および第2の開口16a、16bの側面)上と、下地層18上(下地層18が形成されない場合には導体パッド14a、14b上)にシード層34が形成される。 As shown in FIG. 4B, for example, electroless plating such as electroless copper plating is performed, and the surface of the intermediate (the surface of the solder resist layer 16 and the side surfaces of the first and second openings 16a and 16b) is A seed layer 34 is formed on top and on the underlayer 18 (on the contact pads 14a, 14b if the underlayer 18 is not formed).

図4Cに示されるように、シード層34上に、第1および第2のバンプ20、22(図1)の形成予定部位に開口36aを有する所定パターンのめっきレジスト36が形成される。 As shown in FIG. 4C, a plating resist 36 having a predetermined pattern is formed on the seed layer 34 and has openings 36a at the positions where the first and second bumps 20 and 22 (FIG. 1) are to be formed.

図4Dに示されるように、電解めっき処理が行われ、シード層34上の、めっきレジスト36から露出する部分に、例えば銅を主成分とする第1のベースめっき層24および第2のベースめっき層30が形成される。本発明では、この段階で、複数の第1のベースめっき層24の径をプリント配線板の中央に向かって大きくすることで、最終形状の第1のバンプ20の径をプリント配線板の中央に向かって大きくすることができる。 As shown in FIG. 4D, an electroplating process is performed to form a first base plating layer 24 and a second base plating layer 24 mainly composed of copper, for example, on the seed layer 34 exposed from the plating resist 36 . A layer 30 is formed. In the present invention, at this stage, by increasing the diameter of the plurality of first base plating layers 24 toward the center of the printed wiring board, the diameter of the first bumps 20 in the final shape is made toward the center of the printed wiring board. You can grow towards it.

また、第1および第2のベースめっき層24、30を形成する際には、ソルダーレジスト層16の表面からの第1のベースめっき層24の厚みおよび第2のベースめっき層30の厚みが3μm~20μmの範囲内となるよう、第1および第2のベースめっき層24、30のめっき厚を調整するのが好ましい。 Further, when forming the first and second base plating layers 24 and 30, the thickness of the first base plating layer 24 and the thickness of the second base plating layer 30 from the surface of the solder resist layer 16 are 3 μm. It is preferable to adjust the plating thickness of the first and second base plating layers 24, 30 so as to be within the range of 20 μm.

図4Eに示されるように、例えば電解めっき処理が行われ、第1および第2のベースめっき層24,30上に例えばニッケルを主成分とする中間層26が形成される。中間層26の厚みは好ましくは7μm以下とする。中間層26は形成しなくてもよい。 As shown in FIG. 4E, for example, an electrolytic plating process is performed to form an intermediate layer 26 containing, for example, nickel as a main component on the first and second base plating layers 24, 30. As shown in FIG. The thickness of the intermediate layer 26 is preferably 7 μm or less. The intermediate layer 26 may not be formed.

図4Fに示されるように、電解めっき処理が行われ、第1および第2のベースめっき層24,30上に中間層26を介在して第1および第2のトップめっき層28,32が形成される。第1および第2のトップめっき層28,32は、第1および第2のベースめっき層24,30よりも融点が低くリフロー処理により溶融して略半球状に整形される金属、例えばスズを主成分とする金属からなる。第1および第2のトップめっき層28,32の厚みは5μm~45μmの範囲とすることが好ましい。 As shown in FIG. 4F, an electrolytic plating process is performed to form first and second top plating layers 28, 32 on the first and second base plating layers 24, 30 with an intermediate layer 26 therebetween. be done. The first and second top plating layers 28, 32 are mainly made of a metal, such as tin, which has a melting point lower than that of the first and second base plating layers 24, 30 and can be melted and formed into a substantially hemispherical shape by reflow processing. Consists of metal as a component. The thickness of the first and second top plating layers 28, 32 is preferably in the range of 5 μm to 45 μm.

図4Gに示されるように、めっきレジスト36が剥離される。また、めっきレジスト36の除去により露出したシード層34の部分がエッチングにより除去される。 As shown in FIG. 4G, the plating resist 36 is removed. Also, the portion of the seed layer 34 exposed by removing the plating resist 36 is removed by etching.

図4Hに示されるように、リフロー処理が行われ、第1のトップめっき層28および第2のトップめっき層32が略半球状に整形される。リフロー処理により、第1および第2の導体パッド14a、14bに近い側から銅層、銅/ニッケル合金層、ニッケル層、ニッケル/スズ合金層、スズ層からなる第1のバンプ20および第2のバンプ22が形成される。中間層26が形成されていない場合には、第1および第2の導体パッド14a,14bに近い側から銅層、銅/スズ合金層、スズ層からなる第1のバンプ20および第2のバンプ22が形成される。 As shown in FIG. 4H, a reflow process is performed to shape the first top plating layer 28 and the second top plating layer 32 into substantially hemispherical shapes. A first bump 20 and a second bump 20 made of a copper layer, a copper/nickel alloy layer, a nickel layer, a nickel/tin alloy layer and a tin layer are formed by reflow treatment from the side closer to the first and second conductor pads 14a and 14b. A bump 22 is formed. If the intermediate layer 26 is not formed, the first and second bumps 20 and 20 are formed from a copper layer, a copper/tin alloy layer, and a tin layer from the side closer to the first and second conductor pads 14a and 14b. 22 are formed.

10 プリント配線板
12 基部絶縁層
14 導体層
14a 第1の導体パッド
14b 第2の導体パッド
16 ソルダーレジスト層
16a 第1の開口
16b 第2の開口
18 下地層
20 第1のバンプ
22 第2のバンプ
24 第1のベースめっき層
24a 第1の窪み
26 中間層
28 第1のトップめっき層
30 第2のベースめっき層
30a 第2の窪み
30b 隆起部
32 第2のトップめっき層
34 シード層
36 めっきレジスト
REFERENCE SIGNS LIST 10 printed wiring board 12 base insulating layer 14 conductor layer 14a first conductor pad 14b second conductor pad 16 solder resist layer 16a first opening 16b second opening 18 base layer 20 first bump 22 second bump 24 first base plating layer 24a first depression 26 intermediate layer 28 first top plating layer 30 second base plating layer 30a second depression 30b raised portion 32 second top plating layer 34 seed layer 36 plating resist

Claims (20)

プリント配線板であって、
基部絶縁層と、
前記基部絶縁層上に形成された導体層と、
前記基部絶縁層上および前記導体層上に形成され、かつ、前記導体層の一部を第1の導体パッドとして露出させる第1の開口、および該第1の開口よりも径が小さく前記導体層の他の一部を第2の導体パッドとして露出させる第2の開口を有するソルダーレジスト層と、
前記第1の導体パッド上に形成された第1のバンプと、
前記第2の導体パッド上に形成され、前記第1のバンプよりも小径の第2のバンプと、
を備え、
前記第1のバンプは、前記第1の開口内に形成された第1のベースめっき層と、該第1のベースめっき層上に形成された第1のトップめっき層とを有し、
前記第2のバンプは、前記第2の開口内に形成された第2のベースめっき層と、該第2のベースめっき層上に形成された第2のトップめっき層とを有し、
複数の前記第1のバンプにおいて、第1のバンプの径がプリント配線板の中央に向かって大きく、複数の前記第1のバンプの最上位置が略同一である。
A printed wiring board,
a base insulating layer;
a conductor layer formed on the base insulating layer;
a first opening formed on the base insulating layer and the conductor layer and exposing a portion of the conductor layer as a first conductor pad; and the conductor layer having a smaller diameter than the first opening. A solder resist layer having a second opening that exposes another part of as a second contact pad;
a first bump formed on the first conductor pad;
a second bump formed on the second conductor pad and having a smaller diameter than the first bump;
with
The first bump has a first base plating layer formed in the first opening and a first top plating layer formed on the first base plating layer,
The second bump has a second base plating layer formed in the second opening and a second top plating layer formed on the second base plating layer,
Among the plurality of first bumps, the diameter of the first bumps increases toward the center of the printed wiring board, and the highest positions of the plurality of first bumps are substantially the same.
請求項1に記載のプリント配線板であって、前記プリント配線板を中央部、中間部および外周部に分け、中央部に存在する前記第1のバンプの径をR3、中間部に存在する前記第1のバンプの径をR2、外周部に存在する前記第1のバンプの径をR1としたとき、R3>R2>R1である。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the printed wiring board is divided into a central portion, an intermediate portion, and an outer peripheral portion, the diameter of the first bump present in the central portion is R3, and the diameter of the first bump present in the intermediate portion is R3. When the diameter of the first bump is R2, and the diameter of the first bump present in the outer peripheral portion is R1, R3>R2>R1. 請求項1に記載のプリント配線板であって、前記第1のトップめっき層および前記第2のトップめっき層の厚みは、5μm~45μmである。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the thickness of said first top plating layer and said second top plating layer is 5 μm to 45 μm. 請求項1に記載のプリント配線板であって、前記第1のベースめっき層および前記第2のベースめっき層は、銅を主成分とする金属からそれぞれ形成されている。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein said first base plating layer and said second base plating layer are each formed of a metal containing copper as a main component. 請求項1に記載のプリント配線板であって、第1のトップめっき層および前記第2のトップめっき層は、スズを主成分とする金属からそれぞれ形成されている。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the first top plating layer and the second top plating layer are each made of metal containing tin as a main component. 請求項1に記載のプリント配線板であって、前記第1のベースめっき層と前記第1の導体パッドとの間、および前記第2のベースめっき層と前記第1の導体パッド層との間に、ニッケル層、パラジウム層及び金層からなる下地層をそれぞれ有する。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein said first base plating layer and said first conductor pad and between said second base plating layer and said first conductor pad layer Each layer has a base layer consisting of a nickel layer, a palladium layer and a gold layer. 請求項1に記載のプリント配線板であって、前記第1のベースめっき層と前記第1のトップめっき層との間、および前記第2のベースめっき層と前記第2のトップめっき層との間にニッケルを主成分とする中間層をそれぞれ有する。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein: between the first base plating layer and the first top plating layer and between the second base plating layer and the second top plating layer Each has an intermediate layer mainly composed of nickel between them. 請求項7に記載のプリント配線板であって、前記中間層の厚みは7μm以下である。 8. The printed wiring board according to claim 7, wherein the intermediate layer has a thickness of 7 [mu]m or less. 請求項1に記載のプリント配線板であって、前記第1および第2のベースめっき層は前記ソルダーレジスト層の表面を超える高さまで形成され、前記ソルダーレジスト層の表面からの前記第1のベースめっき層の厚みおよび前記第2のベースめっき層の厚みはそれぞれ3μm~20μmの範囲内にある。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the first and second base plating layers are formed to a height exceeding the surface of the solder-resist layer, and the first base plating layer extends from the surface of the solder-resist layer. The thickness of the plating layer and the thickness of the second base plating layer are each in the range of 3 μm to 20 μm. 請求項1に記載のプリント配線板であって、前記第1の開口のアスペクト比は0.5以下であり、前記第2の開口のアスペクト比は0.6以上である。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the aspect ratio of said first opening is 0.5 or less, and the aspect ratio of said second opening is 0.6 or more. プリント配線板の製造方法であって、
基部絶縁層を形成することと、
前記基部絶縁層上に導体層を形成することと、
前記基部絶縁層上および前記導体層上にソルダーレジスト層を形成することと、
前記ソルダーレジスト層に、前記導体層の一部を第1の導体パッドとして露出させる第1の開口を形成することと、
前記ソルダーレジスト層に、前記第1の開口よりも径が小さく前記導体層の他の一部を第2の導体パッドとして露出させる第2の開口を形成することと、
前記第1の導体パッド上に第1のバンプを形成することと、
前記第2の導体パッド上に、前記第1のバンプよりも小径の第2のバンプを形成することと、を含み、
前記第1のバンプを形成することは、前記第1の開口内に第1のベースめっき層を形成することと、前記第1のベースめっき層上に第1のトップめっき層を形成することと、第1のトップめっき層をリフローして、複数の前記第1のバンプの径を、複数の前記第1のベースめっき層の径をプリント配線板の中央に向かって大きくすることで、プリント配線板の中央に向かって大きくすることと、を含み、
前記第2のバンプを形成することは、前記第2の開口内に第2のベースめっき層を形成することと、前記第2のベースめっき層上に、前記第1のトップめっき層の上面の最上位置より上にある上面を有する第2のトップめっき層を形成することと、第2のトップめっき層をリフローすることと、を含む。
A method for manufacturing a printed wiring board,
forming a base insulating layer;
forming a conductor layer on the base insulating layer;
forming a solder resist layer on the base insulating layer and the conductor layer;
forming a first opening in the solder resist layer to expose a portion of the conductor layer as a first conductor pad;
forming in the solder resist layer a second opening having a diameter smaller than that of the first opening and exposing another part of the conductor layer as a second conductor pad;
forming a first bump on the first contact pad;
forming a second bump having a smaller diameter than the first bump on the second contact pad;
Forming the first bump includes forming a first base plating layer in the first opening and forming a first top plating layer on the first base plating layer. and reflowing the first top plating layer to increase the diameter of the plurality of first bumps and the diameter of the plurality of first base plating layers toward the center of the printed wiring board, thereby forming a printed wiring. increasing toward the center of the board;
Forming the second bump includes forming a second base plating layer in the second opening, and forming an upper surface of the first top plating layer on the second base plating layer. Forming a second top plating layer having a top surface that is above the top and reflowing the second top plating layer.
請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記プリント配線板を中央部、中間部および外周部に分け、中央部に存在する前記第1のバンプの径をR3、中間部に存在する前記第1のバンプの径をR2、外周部に存在する前記第1のバンプの径をR1としたとき、R3>R2>R1とする。 12. The printed wiring board manufacturing method according to claim 11, wherein the printed wiring board is divided into a central portion, an intermediate portion, and an outer peripheral portion, and the diameter of the first bump present in the central portion is R3, and When the diameter of the existing first bump is R2 and the diameter of the first bump existing in the outer peripheral portion is R1, R3>R2>R1. 請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1のトップめっき層および前記第2のトップめっき層の厚みを5μm~45μmの範囲内とする。 12. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 11, wherein the thickness of said first top plating layer and said second top plating layer is within the range of 5 μm to 45 μm. 請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1のベースめっき層および前記第2のベースめっき層を、銅を主成分とする金属からそれぞれ形成する。 12. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 11, wherein said first base plating layer and said second base plating layer are each formed of a metal containing copper as a main component. 請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、第1のトップめっき層および前記第2のトップめっき層を、スズを主成分とする金属からそれぞれ形成する。 12. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 11, wherein the first top plating layer and the second top plating layer are each formed from a metal containing tin as a main component. 請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1のベースめっき層と前記第1の導体パッドとの間、および前記第2のベースめっき層と前記第1の導体パッド層との間に、ニッケル層、パラジウム層及び金層からなる下地層をそれぞれ形成することをさらに含む。 12. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 11, wherein: between said first base plating layer and said first conductor pad, and between said second base plating layer and said first conductor pad layer. forming underlayers each comprising a nickel layer, a palladium layer, and a gold layer, respectively. 請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1のベースめっき層と前記第1のトップめっき層との間、および前記第2のベースめっき層と前記第2のトップめっき層との間にニッケルを主成分とする中間層をそれぞれ形成することをさらに含む。 12. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 11, wherein the thickness between said first base plating layer and said first top plating layer and between said second base plating layer and said second top plating layer forming an intermediate layer containing nickel as a main component between the layers. 請求項17に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記中間層の厚みを7μm以下とする。 18. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 17, wherein the intermediate layer has a thickness of 7 [mu]m or less. 請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1および第2のベースめっき層を前記ソルダーレジスト層の表面を超える高さまで形成し、前記ソルダーレジスト層の表面からの前記第1のベースめっき層の厚みおよび前記第2のベースめっき層の厚みをそれぞれ3μm~20μmの範囲内とする。 12. The printed wiring board manufacturing method according to claim 11, wherein the first and second base plating layers are formed to a height exceeding the surface of the solder-resist layer, and the first base plating layer extends from the surface of the solder-resist layer. The thickness of the first base plating layer and the thickness of the second base plating layer are each within the range of 3 μm to 20 μm. 請求項11に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1の開口のアスペクト比は0.5以下であり、前記第2の開口のアスペクト比は0.6以上である。 12. The printed wiring board manufacturing method according to claim 11, wherein the aspect ratio of the first opening is 0.5 or less, and the aspect ratio of the second opening is 0.6 or more.
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