JP2021072337A - Manufacturing method of printed wiring board - Google Patents

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友哉 加藤
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    • H01L2224/12Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
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Abstract

To provide a manufacturing method of a printed wiring board that prevents damage such as poor appearance in a second opening forming a base layer of a component mounting pad.SOLUTION: A manufacturing method of a printed wiring board includes forming a first opening 16a that exposes a part of a conductor layer 14 in a solder resist layer, forming a mask layer 50 on the solder resist layer and the first opening 16a, forming a second opening 16b that penetrates the mask layer 50 and the solder resist layer and exposes the remaining conductor layer except the part of the conductor layer, forming a base layer made of a metal different from the conductor layer in the second opening, and removing the mask layer 50.SELECTED DRAWING: Figure 3D

Description

本発明は、めっきバンプを有するプリント配線板の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board having plated bumps.

特許文献1は、めっき法を用いたバンプ形成を開示している。 Patent Document 1 discloses bump formation using a plating method.

特開2010−129996号公報JP-A-2010-129996

図1は、本願発明の製造方法が対象とするプリント配線板の一実施形態の構成を示す断面図である。図1に示すプリント配線板10において、基部絶縁層12上のソルダーレジスト層16に形成され第1の開口16a内の第1の導体パッド14a上にCuからなるベースめっき層24を形成し、ベースめっき層24上にNiからなる中間層26を介してSnからなるトップめっき層28を形成してバンプ20を形成している。さらに、ソルダーレジスト層16に、バンプ形成用の第1の開口16a以外に第2の開口16bを形成し、第2の開口16b内の第2の導体パッド14b上にAuを含む下地層18を形成し、コンデンサなどのディスクリート部品を搭載するための部品搭載用パッド40を形成している。 FIG. 1 is a cross-sectional view showing a configuration of an embodiment of a printed wiring board targeted by the manufacturing method of the present invention. In the printed wiring board 10 shown in FIG. 1, a base plating layer 24 made of Cu is formed on a first conductor pad 14a formed in a solder resist layer 16 on a base insulating layer 12 and in a first opening 16a to form a base. A top plating layer 28 made of Sn is formed on the plating layer 24 via an intermediate layer 26 made of Ni to form bumps 20. Further, a second opening 16b is formed in the solder resist layer 16 in addition to the first opening 16a for forming bumps, and a base layer 18 containing Au is formed on the second conductor pad 14b in the second opening 16b. It is formed to form a component mounting pad 40 for mounting a discrete component such as a capacitor.

上述したプリント配線板10を製造する際、第1の導体パッド14a上には下地層18が存在せず、第2の導体パッド14b上にのみ下地層18が存在する。そのため、レーザーを用いて第2の開口16bを開口する場合、第2の開口16bの周辺のソルダーレジスト層16の表面に傷が付くなど外観不良を引き起こすリスクがある。 When the printed wiring board 10 described above is manufactured, the base layer 18 does not exist on the first conductor pad 14a, and the base layer 18 exists only on the second conductor pad 14b. Therefore, when the second opening 16b is opened by using a laser, there is a risk of causing an appearance defect such as scratches on the surface of the solder resist layer 16 around the second opening 16b.

本発明に係るプリント配線板の製造方法は、基部絶縁層を形成することと、前記基部絶縁層上に導体層を形成することと、前記基部絶縁層上および前記導体層上にソルダーレジスト層を形成することと、前記ソルダーレジスト層に一部の導体層を露出させる第1の開口を形成することと、前記ソルダーレジスト層および前記第1の開口の上に、マスク層を形成することと、前記マスク層およびソルダーレジスト層を貫通し、一部の導体層を除く残りの導体層を露出させる第2の開口を形成することと、前記第2の開口内に前記導体層と異なる金属からなる下地層を形成することと、前記マスク層を除去することと、前記第1の開口内、前記第2の開口内および前記ソルダーレジスト層の上に、シード層を形成することと、前記第1の開口内にバンプを形成することと、前記シード層を除去することと、を含み、前記バンプを形成することは、前記第1の開口内に前記導体層と同じ金属でベースめっき層を形成することと、前記ベースめっき層上に中間層を介してトップめっき層を形成することと、前記トップめっき層をリフローして略半球状にすることと、を含む。 The method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention includes forming a base insulating layer, forming a conductor layer on the base insulating layer, and forming a solder resist layer on the base insulating layer and the conductor layer. Forming, forming a first opening in the solder resist layer to expose a part of the conductor layer, and forming a mask layer on the solder resist layer and the first opening. A second opening that penetrates the mask layer and the solder resist layer and exposes the remaining conductor layer except for a part of the conductor layer is formed, and the inside of the second opening is made of a metal different from the conductor layer. Forming a base layer, removing the mask layer, forming a seed layer in the first opening, in the second opening, and on the solder resist layer, and forming the first Including forming a bump in the opening of the above and removing the seed layer, forming the bump forms a base plating layer in the first opening with the same metal as the conductor layer. This includes forming a top plating layer on the base plating layer via an intermediate layer, and reflowing the top plating layer to make it substantially hemispherical.

本発明のプリント配線板の製造方法が対象とするプリント配線板の一実施形態を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating one Embodiment of the printed wiring board which is the object of the manufacturing method of the printed wiring board of this invention. 本発明のプリント配線板の製造方法が対象とするプリント配線板の他の実施形態を説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating another embodiment of the printed wiring board which is the object of the manufacturing method of the printed wiring board of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention.

<本発明のプリント配線板の製造方法によって製造されたプリント配線板について>
本発明のプリント配線板の製造方法に従って製造されたプリント配線板の一実施形態が、図面を参照して説明される。図1には、実施形態のプリント配線板10の一部が拡大して示されている。プリント配線板10は、コア基板(図示せず)の片面または両面に所定の回路パターンを有する導体層と樹脂絶縁層とを交互に積層してなるコア付き基板であってよい。コア基板の両面に導体層を形成する場合には、コア基板を介して対向する導体層同士は、スルーホール導体(図示せず)を介して接続されていてもよい。あるいは、プリント配線板10は、コア基板の代わりに支持板(図示せず)上で導体層と樹脂絶縁層とを交互に積層した後、支持板を除去してなるコアレス基板であってもよい。いずれにせよ、プリント配線板10は、図1に示すように、少なくとも1層の樹脂絶縁層のうち最外に配置されたものである基部絶縁層12と、基部絶縁層12上に形成された、所定の回路パターンを有する導体層14と、基部絶縁層12および導体層14上に形成されたソルダーレジスト層16とを備えている。基部絶縁層12の下層には他の複数の導体層および樹脂絶縁層が交互に設けられている場合が多いが、図では省略されている。しかし、プリント配線板10は、1層の基部絶縁層12と1層の導体層14とからなるものでもよい。
<About the printed wiring board manufactured by the method for manufacturing the printed wiring board of the present invention>
An embodiment of a printed wiring board manufactured according to the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 1, a part of the printed wiring board 10 of the embodiment is shown in an enlarged manner. The printed wiring board 10 may be a board with a core formed by alternately laminating conductor layers and resin insulating layers having a predetermined circuit pattern on one side or both sides of a core board (not shown). When the conductor layers are formed on both sides of the core substrate, the conductor layers facing each other via the core substrate may be connected to each other via a through-hole conductor (not shown). Alternatively, the printed wiring board 10 may be a coreless substrate obtained by alternately laminating conductor layers and resin insulating layers on a support plate (not shown) instead of the core substrate, and then removing the support plate. .. In any case, as shown in FIG. 1, the printed wiring board 10 is formed on the base insulating layer 12 which is the outermost one of at least one resin insulating layer and the base insulating layer 12. A conductor layer 14 having a predetermined circuit pattern, and a solder resist layer 16 formed on the base insulating layer 12 and the conductor layer 14 are provided. In many cases, a plurality of other conductor layers and a resin insulating layer are alternately provided in the lower layer of the base insulating layer 12, but they are omitted in the drawing. However, the printed wiring board 10 may be composed of one layer of the base insulating layer 12 and one layer of the conductor layer 14.

基部絶縁層12は、例えばシリカやアルミナ等の無機フィラーとエポキシ系樹脂とを含む樹脂組成物等で構成することができる。導体層14は導電性金属、例えば銅を主成分とする金属で形成される。 The base insulating layer 12 can be made of, for example, a resin composition containing an inorganic filler such as silica or alumina and an epoxy resin. The conductor layer 14 is formed of a conductive metal, for example, a metal containing copper as a main component.

ソルダーレジスト層16は、導体層14の一部を第1の導体パッド14aとして露出させる第1の開口16aと、導体層14のさらに他の一部を第2の導体パッド14bとして露出させる第2の開口16bとを有している。 The solder resist layer 16 has a first opening 16a that exposes a part of the conductor layer 14 as a first conductor pad 14a, and a second opening 16a that exposes a further part of the conductor layer 14 as a second conductor pad 14b. It has an opening 16b of.

第1の導体パッド14a上には第1のバンプ20が形成されている。第1のバンプ20は第1の導体パッド14a上に下地層を介さず直接形成されている。第1のバンプ20は、第1の開口16a内に形成された例えば銅からなるシード層36と、シード層36の上に形成されたベースめっき層24と、ベースめっき層24上に例えばニッケルからなる中間層26を介して形成された略半球状のトップめっき層28とを有する。 A first bump 20 is formed on the first conductor pad 14a. The first bump 20 is formed directly on the first conductor pad 14a without a base layer. The first bump 20 is formed of a seed layer 36 made of copper, for example, formed in the first opening 16a, a base plating layer 24 formed on the seed layer 36, and nickel, for example, on the base plating layer 24. It has a substantially hemispherical top plating layer 28 formed via an intermediate layer 26.

ベースめっき層24は、導体層14と同種の導電性金属、例えば銅を主成分とする金属から形成されている。ベースめっき層24は、ソルダーレジスト層16の表面(基部絶縁層12とは反対側の面)を超える高さまで形成する。これにより第1のバンプ20が第1の開口16a内に安定して保持される。ソルダーレジスト層16の表面からベースめっき層24の上端面24aまでの高さB1は3μm〜15μmの範囲内とすることが好ましい。 The base plating layer 24 is formed of a conductive metal of the same type as the conductor layer 14, for example, a metal containing copper as a main component. The base plating layer 24 is formed to a height exceeding the surface of the solder resist layer 16 (the surface opposite to the base insulating layer 12). As a result, the first bump 20 is stably held in the first opening 16a. The height B1 from the surface of the solder resist layer 16 to the upper end surface 24a of the base plating layer 24 is preferably in the range of 3 μm to 15 μm.

トップめっき層28は、ベースめっき層24よりも融点が低く、リフロー処理により溶融して図1示すような略半球状に整形される金属、例えばスズを主成分とする金属からなる。トップめっき層28の厚み(第1のバンプ20の外周面においてトップめっき層28の下端からトップめっき層の頂部までの垂直方向の距離A1)は20μm〜40μmの範囲とすることが好ましい。トップめっき層28の厚みをこの範囲とすることで、第1のバンプ20と、プリント配線板10に実装される半導体チップやメモリなど電子部品の接続パッド(図示せず)との間で良好な接続信頼性が得られる。 The top plating layer 28 has a melting point lower than that of the base plating layer 24, and is made of a metal that is melted by a reflow treatment and shaped into a substantially hemispherical shape as shown in FIG. 1, for example, a metal containing tin as a main component. The thickness of the top plating layer 28 (the vertical distance A1 from the lower end of the top plating layer 28 to the top of the top plating layer on the outer peripheral surface of the first bump 20) is preferably in the range of 20 μm to 40 μm. By setting the thickness of the top plating layer 28 within this range, it is good between the first bump 20 and the connection pad (not shown) of an electronic component such as a semiconductor chip or memory mounted on the printed wiring board 10. Connection reliability is obtained.

第2の導体パッド14b上には下地層18が形成されている。下地層18としては、例えば、第2の導体パッド14bの表面に形成されたニッケル層とニッケル層上に形成されたパラジウム層とパラジウム層上に形成された金層とを例示することができる。その他、ニッケル層とニッケル層上に形成された金層とを例示することができる。第2の開口16b内の第2の導体パッド14b上に下地層18を形成し、コンデンサなどのディスクリート部品を搭載するための部品搭載用パッド40を形成している。 A base layer 18 is formed on the second conductor pad 14b. Examples of the base layer 18 include a nickel layer formed on the surface of the second conductor pad 14b, a palladium layer formed on the nickel layer, and a gold layer formed on the palladium layer. In addition, a nickel layer and a gold layer formed on the nickel layer can be exemplified. The base layer 18 is formed on the second conductor pad 14b in the second opening 16b, and the component mounting pad 40 for mounting a discrete component such as a capacitor is formed.

図2は、本発明のプリント配線板の製造方法が対象とするプリント配線板の他の実施形態を説明するための断面図である。図2に示す例において、図1に示す例と異なる点は、バンプとして、大径の第1のバンプ20の他に、小径の第2のバンプ22を形成した点である。第2のバンプ22は、第3の導体パッド14c上に下地層を介さずに直接形成されている。第2のバンプ22は、第3の開口16c内に形成されたベースめっき層30と、ベースめっき層30上に例えばニッケルからなる中間層32を介して形成された略半球状のトップめっき層34とを有する。 FIG. 2 is a cross-sectional view for explaining another embodiment of the printed wiring board targeted by the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention. In the example shown in FIG. 2, the difference from the example shown in FIG. 1 is that a second bump 22 having a small diameter is formed in addition to the first bump 20 having a large diameter as a bump. The second bump 22 is formed directly on the third conductor pad 14c without a base layer. The second bump 22 is a substantially hemispherical top plating layer 34 formed on the base plating layer 30 via an intermediate layer 32 made of, for example, nickel, and a base plating layer 30 formed in the third opening 16c. And have.

トップめっき層34は、ベースめっき層30よりも融点が低く、リフロー処理により溶融して図2に示すような略半球状に整形される金属、例えばスズを主成分とする金属からなる。トップめっき層34の厚み(第2のバンプ22の外周面においてトップめっき層34の下端からトップめっき層34の頂部までの垂直方向の距離A2)は20μm〜40μmの範囲とすることが好ましい。トップめっき層34の厚みをこの範囲とすることで、第2のバンプ22と、プリント配線板10に実装される半導体チップやメモリなど電子部品の接続パッド(図示せず)との間で良好な接続信頼性が得られる。 The top plating layer 34 has a melting point lower than that of the base plating layer 30, and is made of a metal that is melted by a reflow treatment and shaped into a substantially hemispherical shape as shown in FIG. 2, for example, a metal containing tin as a main component. The thickness of the top plating layer 34 (the vertical distance A2 from the lower end of the top plating layer 34 to the top of the top plating layer 34 on the outer peripheral surface of the second bump 22) is preferably in the range of 20 μm to 40 μm. By setting the thickness of the top plating layer 34 in this range, it is good between the second bump 22 and the connection pad (not shown) of an electronic component such as a semiconductor chip or memory mounted on the printed wiring board 10. Connection reliability is obtained.

図2に示す実施形態のプリント配線板10では、ベースめっき層24とベースめっき層30とは一緒に形成されて、ベースめっき層24の上端面24aとベースめっき層30の上端面30aとは互いに同一の高さにされている。また、中間層26と中間層32とは一緒に形成されて、互いに同一の厚み(高さ)にされている。そして、トップめっき層28とトップめっき層34とは一緒に形成されるとともにそれぞれ金属めっき量を調節されて、リフロー処理による溶融後の厚み(高さ)が互いに同一にされている。 In the printed wiring board 10 of the embodiment shown in FIG. 2, the base plating layer 24 and the base plating layer 30 are formed together, and the upper end surface 24a of the base plating layer 24 and the upper end surface 30a of the base plating layer 30 are mutually formed. It is the same height. Further, the intermediate layer 26 and the intermediate layer 32 are formed together and have the same thickness (height) as each other. The top plating layer 28 and the top plating layer 34 are formed together and the amount of metal plating is adjusted to make the thickness (height) after melting by the reflow treatment the same.

図2に示す例において、第1のバンプ20は電源もしくはグランド線との接続に用いることができる。第1のバンプ20よりも径の小さい第2のバンプ22は信号線との接続に用いることができる。 In the example shown in FIG. 2, the first bump 20 can be used for connection with a power supply or a ground wire. The second bump 22 having a diameter smaller than that of the first bump 20 can be used for connection with the signal line.

<本発明の一実施形態のプリント配線板の製造方法について>
以下、図1に示すプリント配線板10を製造するための、本発明の一実施形態に係るプリント配線板の製造方法を、図3A〜図3Hを参照して説明する。なお、図2に示すプリント配線板10も第1のバンプ形成時に第2のバンプも形成することで、同様の製造方法で製造される。
<About the manufacturing method of the printed wiring board of one Embodiment of this invention>
Hereinafter, a method for manufacturing a printed wiring board according to an embodiment of the present invention for manufacturing the printed wiring board 10 shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS. 3A to 3H. The printed wiring board 10 shown in FIG. 2 is also manufactured by the same manufacturing method by forming the second bump at the time of forming the first bump.

図3Aには、公知の方法を用いて、基部絶縁層12上に所定の回路パターンを有する導体層14およびソルダーレジスト層16が形成された中間体が示されている。基部絶縁層12の下層には他の複数の導体層および樹脂絶縁層が交互に形成されている場合が多いが、図では省略されている。複数の導体層および樹脂絶縁層はコア基板上もしくは後に除去可能な支持板上で積層することができる。しかし、プリント配線板10は、基部絶縁層12としての1層の樹脂絶縁層と1層の導体層14とからなるものでもよく、この場合この樹脂絶縁層が基部絶縁層12に相当する。基部絶縁層12には、シリカやアルミナ等の無機フィラーとエポキシ系樹脂とを含むビルドアップ用絶縁樹脂フィルムを用いることができる。 FIG. 3A shows an intermediate in which a conductor layer 14 and a solder resist layer 16 having a predetermined circuit pattern are formed on a base insulating layer 12 by a known method. In many cases, a plurality of other conductor layers and a resin insulating layer are alternately formed in the lower layer of the base insulating layer 12, but they are omitted in the drawing. The plurality of conductor layers and the resin insulating layer can be laminated on the core substrate or on a support plate that can be removed later. However, the printed wiring board 10 may be composed of one resin insulating layer as the base insulating layer 12 and one conductor layer 14, and in this case, the resin insulating layer corresponds to the base insulating layer 12. For the base insulating layer 12, a build-up insulating resin film containing an inorganic filler such as silica or alumina and an epoxy resin can be used.

図3Bに示すように、ソルダーレジスト層16に導体層14の一部の導体パッド14aを露出させる第1の開口16aを形成する。第1の開口16aの形成は、従来から公知の方法、例えばマスクを介してリソグラフィーを用いて開口する方法、炭酸ガスレーザーまたはUV−YAGレーザー等を用いて開口する方法、をとることができる。 As shown in FIG. 3B, the solder resist layer 16 is formed with a first opening 16a that exposes a part of the conductor pads 14a of the conductor layer 14. The first opening 16a can be formed by a conventionally known method, for example, a method of opening using a lithography through a mask, a method of opening using a carbon dioxide gas laser, a UV-YAG laser, or the like.

図3Cに示すように、ソルダーレジスト層16および第1の開口16aの上に、マスク層50を形成する。マスク層50としては、例えばPETフィルムを用いることができる。 As shown in FIG. 3C, the mask layer 50 is formed on the solder resist layer 16 and the first opening 16a. As the mask layer 50, for example, a PET film can be used.

図3Dに示すように、マスク層50およびソルダーレジスト層16を貫通し、導体層14の導体パッド14bを露出させる第2の開口16bを形成する。第2の開口16bの形成は、従来から公知の方法、例えば炭酸ガスレーザーまたはUV−YAGレーザー等を用いて開口する方法、をとることができる。また、第2の開口16b上には、めっきにより例えばニッケル層、パラジウム層、金層がこの順に積層された下地層18が形成される。このように、導体層14と下地層18とは異なる金属から構成される。 As shown in FIG. 3D, a second opening 16b is formed which penetrates the mask layer 50 and the solder resist layer 16 and exposes the conductor pad 14b of the conductor layer 14. The second opening 16b can be formed by a conventionally known method, for example, a method of opening using a carbon dioxide gas laser, a UV-YAG laser, or the like. Further, on the second opening 16b, for example, a base layer 18 in which a nickel layer, a palladium layer, and a gold layer are laminated in this order is formed by plating. As described above, the conductor layer 14 and the base layer 18 are made of different metals.

図3Eに示すように、マスク層50を除去したのち、例えば無電解銅めっき処理等の無電解めっき処理が行われ、中間体のソルダーレジスト層16の表面および第1、第2の開口16a、16bの側面上と、導体パッド14a上と、下地層18上に、シード層36が形成される。 As shown in FIG. 3E, after the mask layer 50 is removed, an electroless plating treatment such as an electroless copper plating treatment is performed, and the surface of the solder resist layer 16 as an intermediate and the first and second openings 16a, The seed layer 36 is formed on the side surface of the 16b, on the conductor pad 14a, and on the base layer 18.

図3Fに示されるように、シード層36上に、例えばドライフィルムレジストからなり、第1のバンプ20(図1)の形成予定部位に開口38aを有する所定パターンのめっきレジスト38が形成される。 As shown in FIG. 3F, a plating resist 38 having a predetermined pattern, which is made of, for example, a dry film resist and has an opening 38a at a site where the first bump 20 (FIG. 1) is to be formed is formed on the seed layer 36.

図3Gに示されるように、電解めっき処理が行われ、シード層36の、めっきレジスト38の開口38a内に露出する部分のうち、ソルダーレジスト層16の第1の開口16a内の部分上および、シード層36の、めっきレジスト38の開口38a内に露出する部分のうち残りの部分上に、第1の導体パッド14aを形成する導体層14と同種の導電性金属、例えば銅を主成分とするベースめっき層24が形成される。 As shown in FIG. 3G, among the portions of the seed layer 36 exposed in the opening 38a of the plating resist 38 after the electrolytic plating treatment, on the portion of the solder resist layer 16 in the first opening 16a and The main component is a conductive metal of the same type as the conductor layer 14 forming the first conductor pad 14a, for example, copper, on the remaining portion of the seed layer 36 exposed in the opening 38a of the plating resist 38. The base plating layer 24 is formed.

図3Gに示されるように、さらに、例えば電解めっき処理が行われ、めっきレジスト38の開口38a内でベースめっき層24の上端面24a上に、ニッケル層からなる中間層26が形成される。中間層26の厚みは、好ましくは7μm以下とされる。 As shown in FIG. 3G, for example, an electrolytic plating process is further performed to form an intermediate layer 26 made of a nickel layer on the upper end surface 24a of the base plating layer 24 in the opening 38a of the plating resist 38. The thickness of the intermediate layer 26 is preferably 7 μm or less.

図3Gに示されるように、さらに、例えば電解めっき処理が行われ、めっきレジスト38の開口38a内でベースめっき層24の上端面24a上に、中間層26を介在させてトップめっき層28が形成される。トップめっき層28は、ベースめっき層24よりも融点が低くリフロー処理により溶融して略半球状に整形される金属、例えばスズを主成分とする金属からなる。トップめっき層28の厚みは、好ましくは20μm〜40μmの範囲内とされる。 As shown in FIG. 3G, for example, an electrolytic plating process is further performed to form a top plating layer 28 on the upper end surface 24a of the base plating layer 24 in the opening 38a of the plating resist 38 with an intermediate layer 26 interposed therebetween. Will be done. The top plating layer 28 has a melting point lower than that of the base plating layer 24 and is made of a metal that is melted by a reflow treatment and shaped into a substantially hemispherical shape, for example, a metal containing tin as a main component. The thickness of the top plating layer 28 is preferably in the range of 20 μm to 40 μm.

図3Hに示されるように、めっきレジスト38が剥離される。また、めっきレジスト38の除去により露出したシード層36の部分がエッチングにより除去される。これにより、コンデンサなどのディスクリート部品搭載用の部品搭載用パッド40を形成している。その後、リフロー処理が行われ、図1に示されるように、トップめっき層28が略半球状に整形され、プリント配線板10を得ることができる。 As shown in FIG. 3H, the plating resist 38 is peeled off. Further, the portion of the seed layer 36 exposed by removing the plating resist 38 is removed by etching. As a result, a component mounting pad 40 for mounting a discrete component such as a capacitor is formed. After that, a reflow process is performed, and as shown in FIG. 1, the top plating layer 28 is shaped into a substantially hemispherical shape, and a printed wiring board 10 can be obtained.

上述した本発明のプリント配線板の製造方法によれば、部品搭載用パッド40を形成するための第2の開口16bを、図3Dに示すように、マスク層50およびソルダーレジスト層16を貫通して形成するため、下地層18を形成する第2の開口16bにおいて、外観不良などの発生を防止することができる。 According to the method for manufacturing a printed wiring board of the present invention described above, the second opening 16b for forming the component mounting pad 40 penetrates the mask layer 50 and the solder resist layer 16 as shown in FIG. 3D. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of poor appearance or the like in the second opening 16b forming the base layer 18.

10 プリント配線板
12 基部絶縁層
14 導体層
14a 第1の導体パッド
14b 第2の導体パッド
14c 第3の導体パッド
16 ソルダーレジスト層
16a 第1の開口
16b 第2の開口
16c 第3の開口
20 第1のバンプ
22 第2のバンプ
24、30 ベースめっき層
28、34 トップめっき層
36 シード層
38 めっきレジスト
38a 開口
40 部品搭載用パッド
50 マスク層
10 Printed wiring board 12 Base insulating layer 14 Conductor layer 14a First conductor pad 14b Second conductor pad 14c Third conductor pad 16 Solder resist layer 16a First opening 16b Second opening 16c Third opening 20th 1 bump 22 2nd bump 24, 30 Base plating layer 28, 34 Top plating layer 36 Seed layer 38 Plating resist 38a Opening 40 Parts mounting pad 50 Mask layer

Claims (6)

プリント配線板の製造方法であって、
基部絶縁層を形成することと、
前記基部絶縁層上に導体層を形成することと、
前記基部絶縁層上および前記導体層上にソルダーレジスト層を形成することと、
前記ソルダーレジスト層に一部の導体層を露出させる第1の開口を形成することと、
前記ソルダーレジスト層および前記第1の開口の上に、マスク層を形成することと、
前記マスク層およびソルダーレジスト層を貫通し、一部の導体層を除く残りの導体層を露出させる第2の開口を形成することと、
前記第2の開口内に前記導体層と異なる金属からなる下地層を形成することと、
前記マスク層を除去することと、
前記第1の開口内、前記第2の開口内および前記ソルダーレジスト層の上に、シード層を形成することと、
前記第1の開口内にバンプを形成することと、
前記シード層を除去することと、を含み
前記バンプを形成することは、前記第1の開口内に前記導体層と同じ金属でベースめっき層を形成することと、前記ベースめっき層上に中間層を介してトップめっき層を形成することと、前記トップめっき層をリフローして略半球状にすることと、を含む。
It is a manufacturing method of printed wiring boards.
Forming the base insulation layer and
Forming a conductor layer on the base insulating layer and
Forming a solder resist layer on the base insulating layer and the conductor layer,
To form a first opening in the solder resist layer that exposes a part of the conductor layer,
Forming a mask layer on the solder resist layer and the first opening,
To form a second opening that penetrates the mask layer and the solder resist layer and exposes the remaining conductor layers except for some conductor layers.
Forming a base layer made of a metal different from the conductor layer in the second opening, and
Removing the mask layer and
To form a seed layer in the first opening, in the second opening, and on the solder resist layer.
Forming a bump in the first opening and
Removing the seed layer and forming the bumps, including forming the base plating layer in the first opening with the same metal as the conductor layer, and forming an intermediate layer on the base plating layer. It includes forming a top plating layer through the above and reflowing the top plating layer to make it substantially hemispherical.
請求項1に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記バンプを形成することが、第1のバンプと、前記第1のバンプよりも小径の第2のバンプとを形成することを含む。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein forming the bump includes forming a first bump and a second bump having a diameter smaller than that of the first bump. .. 請求項1に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記導体層および前記ベースめっき層を、銅を主成分とする金属からそれぞれ形成する。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein the conductor layer and the base plating layer are each formed from a metal containing copper as a main component. 請求項1に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記下地層を、順次積層されたニッケル層、パラジウム層および金層から形成する。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein the base layer is formed from a nickel layer, a palladium layer, and a gold layer which are sequentially laminated. 請求項1に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記中間層を、ニッケルを主成分とする金属から形成する。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein the intermediate layer is formed of a metal containing nickel as a main component. 請求項1に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第2の開口を、前記マスク層としてPETフィルムを用いるとともに、炭酸ガスレーザーを用いて前記マスク層と前記ソルダーレジスト層を貫通して開口する。 The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein a PET film is used as the mask layer and a carbon dioxide gas laser is used to penetrate the mask layer and the solder resist layer through the second opening. To open.
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