JP7241493B2 - IMPRINT APPARATUS, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND ARTICLE MANUFACTURING METHOD - Google Patents

IMPRINT APPARATUS, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND ARTICLE MANUFACTURING METHOD Download PDF

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Description

本発明は、インプリント装置、情報処理装置、及び物品の製造方法に関する。 The present invention relates to an imprint apparatus, an information processing apparatus, and an article manufacturing method.

インプリント技術は、ナノスケールの微細なパターンの転写を可能にする技術であり、半導体デバイスや磁気記憶媒体の量産用ナノリソグラフィ技術の1つとして注目されている。インプリント技術を用いたインプリント装置は、パターンが形成されたモールドと基板上のインプリント材とを接触させた状態でインプリント材を硬化させ、硬化したインプリント材からモールドを引き離すことで基板上にパターンを形成する。 Imprint technology is a technology that enables the transfer of nanoscale fine patterns, and is attracting attention as one of the nanolithography technologies for mass production of semiconductor devices and magnetic storage media. An imprinting apparatus using imprinting technology hardens the imprinting material in a state in which the mold on which the pattern is formed and the imprinting material on the substrate are in contact with each other, and separates the mold from the hardened imprinting material. Form a pattern on top.

インプリント装置では、基板の上方に配置された撮像部からの撮像情報(画像)に基づいて、基板に形成されたパターンの良否、即ち、インプリント処理の良否を判定することが有効である(特許文献1参照)。特許文献1には、インプリント処理の特定のタイミングにおいて撮像部で得られる画像と、予め用意された基準画像(正常な状態において撮像部で得られる画像)とを比較することで、インプリント処理の良否を判定する技術が開示されている。 In the imprint apparatus, it is effective to determine the quality of the pattern formed on the substrate, that is, the quality of the imprint process, based on the imaging information (image) from the imaging unit arranged above the substrate ( See Patent Document 1). In Patent Document 1, an image obtained by an imaging unit at a specific timing of imprint processing is compared with a prepared reference image (an image obtained by the imaging unit in a normal state) to perform imprint processing. is disclosed.

特開2016-111335号公報JP 2016-111335 A

しかしながら、インプリント処理の性能検証や精度維持のためには、インプリント処理の特定のタイミングのみでインプリント処理の良否を判定するのではなく、インプリント処理の状況を把握(検討)してインプリント処理の良否を判定する必要がある。インプリント処理の状況を正しく把握するためには、基板全体のインプリント処理の比較、基板上のショット領域間のインプリント処理の比較、及び、基板間のインプリント処理の比較を容易に行うことが必要となる。 However, in order to verify the performance of imprint processing and maintain accuracy, it is necessary to grasp (examine) the status of imprint processing and perform imprint processing, instead of judging the quality of imprint processing only at specific timings of imprint processing. It is necessary to judge the quality of print processing. In order to correctly grasp the state of imprint processing, it is necessary to easily compare imprint processing of the entire substrate, comparison of imprint processing between shot regions on the substrate, and comparison of imprint processing between substrates. Is required.

本発明は、このような従来技術の課題に鑑みてなされ、インプリント処理の状況を容易に把握するのに有利なインプリント装置を提供することを例示的目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION It is an exemplary object of the present invention to provide an imprint apparatus that is advantageous for easily grasping the status of imprint processing.

上記目的を達成するために、本発明の一側面としてのインプリント装置は、モールドを用いて基板上のショット領域にインプリント材のパターンを形成するインプリント処理を行うインプリント装置であって、前記基板上のインプリント材と前記モールドとが接触している部分を含むショット領域を撮像して該ショット領域に対応する画像を取得する撮像部と、前記基板の複数のショット領域の配列を示すショットレイアウトに、前記撮像部で取得された前記複数のショット領域に対応する前記画像を重畳して表示するように表示部を制御する制御部と、を有し、重畳して表示される、前記複数のショット領域に対応する前記画像は、前記複数のショット領域のそれぞれに対する前記インプリント処理を開始してからの経過時間が互いに同じ静止画像、又は、前記経過時間が互いに同期した動画像であることを特徴とする。 To achieve the above object, an imprinting apparatus as one aspect of the present invention is an imprinting apparatus that performs an imprinting process of forming a pattern of an imprinting material in a shot region on a substrate using a mold, 3 shows an imaging unit that captures an image of a shot area including a portion where the imprint material on the substrate and the mold are in contact with each other and acquires an image corresponding to the shot area, and an arrangement of a plurality of shot areas on the substrate; a control unit that controls a display unit to superimpose and display the images corresponding to the plurality of shot areas acquired by the imaging unit in a shot layout, and the superimposed display is performed; The images corresponding to the plurality of shot areas are still images with the same elapsed time from the start of the imprint processing for each of the plurality of shot areas, or moving images with the same elapsed time. It is characterized by

本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。 Further objects or other aspects of the present invention will be made clear by preferred embodiments described below with reference to the accompanying drawings.

本発明によれば、例えば、インプリント処理の状況を容易に把握するのに有利なインプリント装置を提供することができる。 According to the present invention, for example, it is possible to provide an imprint apparatus that is advantageous for easily grasping the status of imprint processing.

本発明の一側面としてのインプリント装置の構成を示す概略図である。1 is a schematic diagram showing the configuration of an imprint apparatus as one aspect of the present invention; FIG. 図1に示すインプリント装置の観察部で観察される干渉縞の一例を示す図である。2 is a diagram showing an example of interference fringes observed by an observation unit of the imprint apparatus shown in FIG. 1; FIG. 一般的なインプリント処理を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining general imprint processing; 一般的なインプリント処理を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining general imprint processing; 図1に示すインプリント装置の表示部に表示される表示画面の一例を示す図である。2 is a diagram showing an example of a display screen displayed on a display unit of the imprint apparatus shown in FIG. 1; FIG. 図1に示すインプリント装置の表示部に表示される表示画面の一例を示す図である。2 is a diagram showing an example of a display screen displayed on a display unit of the imprint apparatus shown in FIG. 1; FIG. 図1に示すインプリント装置の表示部に表示される表示画面の一例を示す図である。2 is a diagram showing an example of a display screen displayed on a display unit of the imprint apparatus shown in FIG. 1; FIG. 図1に示すインプリント装置の表示部に表示される表示画面の一例を示す図である。2 is a diagram showing an example of a display screen displayed on a display unit of the imprint apparatus shown in FIG. 1; FIG. 図1に示すインプリント装置の表示部に表示される表示画面の一例を示す図である。2 is a diagram showing an example of a display screen displayed on a display unit of the imprint apparatus shown in FIG. 1; FIG. 物品の製造方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the manufacturing method of articles|goods.

以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。 Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In addition, in each figure, the same reference numerals are given to the same members, and redundant explanations are omitted.

図1は、本発明の一側面としてのインプリント装置100の構成を示す概略図である。インプリント装置100は、物品としての半導体デバイスなどの製造に使用され、モールドを用いて基板上にインプリント材のパターンを形成するリソグラフィ装置である。本実施形態では、インプリント装置100は、基板上に供給されたインプリント材とモールドとを接触させ、インプリント材に硬化用のエネルギーを与えることにより、モールドの凹凸パターンが転写された硬化物のパターンを形成する。 FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of an imprint apparatus 100 as one aspect of the present invention. The imprint apparatus 100 is a lithography apparatus that is used for manufacturing semiconductor devices as articles and forms a pattern of imprint material on a substrate using a mold. In the present embodiment, the imprinting apparatus 100 brings the imprinting material supplied onto the substrate into contact with the mold, and applies energy for curing to the imprinting material, thereby obtaining a cured product having the concave-convex pattern of the mold transferred thereto. form a pattern of

インプリント材には、硬化用のエネルギーが与えられることによって硬化する硬化性組成物(未硬化状態の樹脂と呼ぶこともある)が用いられる。硬化用のエネルギーとしては、電磁波、熱などが用いられる。電磁波としては、例えば、その波長が10nm以上1mm以下の範囲から選択される、赤外線、可視光線、紫外線などの光を用いる。 A curable composition (also referred to as an uncured resin) that cures when energy for curing is applied is used for the imprint material. Electromagnetic waves, heat, and the like are used as energy for curing. As the electromagnetic wave, for example, light such as infrared rays, visible rays, and ultraviolet rays having a wavelength selected from a range of 10 nm or more and 1 mm or less is used.

硬化性組成物は、光の照射によって、或いは、加熱によって硬化する組成物である。光の照射によって硬化する光硬化性組成物は、重合性化合物と光重合開始剤とを少なくとも含有し、必要に応じて、非重合性化合物又は溶剤を含有してもよい。非重合性化合物は、増感剤、水素供与体、内添型離型剤、界面活性剤、酸化防止剤、ポリマー成分などの群から選択される少なくとも一種である。 A curable composition is a composition that is cured by irradiation with light or by heating. A photocurable composition that is cured by light irradiation contains at least a polymerizable compound and a photopolymerization initiator, and may contain a non-polymerizable compound or a solvent, if necessary. The non-polymerizable compound is at least one selected from the group consisting of sensitizers, hydrogen donors, internal release agents, surfactants, antioxidants, polymer components and the like.

インプリント材は、スピンコーターやスリットコーターによって基板上に膜状に付与されてもよい。また、インプリント材は、液体噴射ヘッドによって、液滴状、或いは、複数の液滴が繋がって形成された島状又は膜状で基板上に付与されてもよい。インプリント材の粘度(25℃における粘度)は、例えば、1mPa・s以上100mPa・s以下である。 The imprint material may be applied to the substrate in the form of a film by a spin coater or a slit coater. Alternatively, the imprint material may be applied onto the substrate in the form of droplets, or in the form of islands or films formed by connecting a plurality of droplets, by the liquid jet head. The viscosity of the imprint material (viscosity at 25° C.) is, for example, 1 mPa·s or more and 100 mPa·s or less.

基板には、ガラス、セラミックス、金属、半導体、樹脂などが用いられ、必要に応じて、その表面に基板とは別の材料からなる部材が形成されていてもよい。具体的には、基板は、シリコンウエハ、化合物半導体ウエハ、石英ガラスなどを含む。 Glass, ceramics, metal, semiconductor, resin, or the like is used for the substrate, and if necessary, a member made of a material different from that of the substrate may be formed on the surface thereof. Specifically, the substrate includes silicon wafers, compound semiconductor wafers, quartz glass, and the like.

インプリント装置100は、本実施形態では、インプリント材の硬化法として光硬化法を採用している。但し、インプリント材の硬化法は、光硬化法に限定するものではなく、例えば、熱硬化法を採用してもよい。なお、図1では、互いに直交する3軸方向に、X軸、Y軸及びZ軸を定義している。 In the present embodiment, the imprint apparatus 100 employs a photo-curing method as a method for curing the imprint material. However, the method for curing the imprint material is not limited to the photo-curing method, and for example, a heat-curing method may be employed. In addition, in FIG. 1, the X-axis, the Y-axis, and the Z-axis are defined in three axial directions orthogonal to each other.

インプリント装置100は、基板Wを保持する基板チャック1と、基板チャック1を支持して移動する基板ステージ2と、パターンPが形成されたモールドMを保持するモールドチャック3とを有する。また、インプリント装置100は、モールドチャック3を支持して移動するモールドステージ4とを有する。また、インプリント装置100は、基板上にインプリント材Rを供給する供給部(ディスペンサ)8と、インプリント装置100の全体を制御する制御部9とを有する。更に、インプリント装置100は、ユーザインタフェースとして機能する表示画面を管理するコンソール部10と、表示画面を表示する表示部11と、キーボードやマウスなどの入力部12と、記憶部13とを有する。なお、インプリント装置100とは異なる外部の装置でインプリント材Rを供給した基板Wをインプリント装置100に搬入する場合には、インプリント装置100は、供給部8を有していなくてもよい。 The imprint apparatus 100 has a substrate chuck 1 that holds a substrate W, a substrate stage 2 that supports and moves the substrate chuck 1, and a mold chuck 3 that holds a mold M on which a pattern P is formed. The imprint apparatus 100 also has a mold stage 4 that supports and moves the mold chuck 3 . The imprint apparatus 100 also includes a supply unit (dispenser) 8 that supplies the imprint material R onto the substrate, and a control unit 9 that controls the imprint apparatus 100 as a whole. Further, the imprint apparatus 100 includes a console unit 10 that manages a display screen that functions as a user interface, a display unit 11 that displays the display screen, an input unit 12 such as a keyboard and mouse, and a storage unit 13 . Note that when the imprinting material R is supplied by an external device different from the imprinting apparatus 100 and the substrate W is carried into the imprinting apparatus 100, the imprinting apparatus 100 does not have to have the supply unit 8. good.

インプリント装置100は、基板上のショット領域に供給部8からインプリント材Rを供給させ(供給処理)、基板上のショット領域に供給されたインプリント材RとモールドMとを接触させる(押印処理)。そして、インプリント装置100は、インプリント材RとモールドMとを接触させた状態でインプリント材Rを硬化させ(硬化処理)、硬化したインプリント材RからモールドMを引き離す(離型処理)ことで基板上にパターンを形成する。ここで、インプリント処理は、供給処理と、押印処理と、硬化処理と、離型処理とを含む。供給処理は、基板上のショット領域にインプリント材Rを供給する処理である。押印処理は、モールドMと基板上のインプリント材Rとを接触させる処理である。モールドMと基板上のインプリント材Rとを接触させる、即ち、モールドMをインプリント材Rに押し付けることによって、インプリント材RがモールドMのパターンPに充填される。硬化処理は、モールドMと基板上のインプリント材Rとを接触させた状態でインプリント材Rを硬化させる処理である。離型処理は、基板上の硬化したインプリント材RからモールドMを引き離す処理である。 The imprint apparatus 100 supplies the imprint material R from the supply unit 8 to the shot area on the substrate (supplying process), and brings the imprint material R supplied to the shot area on the substrate into contact with the mold M (imprinting process). process). Then, the imprint apparatus 100 cures the imprint material R (curing process) while the imprint material R and the mold M are in contact with each other, and separates the mold M from the cured imprint material R (release process). This forms a pattern on the substrate. Here, the imprinting process includes a supply process, a stamping process, a curing process, and a release process. The supply process is a process of supplying the imprint material R to the shot area on the substrate. The imprinting process is a process of bringing the mold M into contact with the imprint material R on the substrate. The pattern P of the mold M is filled with the imprint material R by bringing the mold M into contact with the imprint material R on the substrate, that is, by pressing the mold M against the imprint material R. The curing process is a process of curing the imprint material R while the mold M and the imprint material R on the substrate are in contact with each other. The mold release process is a process of separating the mold M from the cured imprint material R on the substrate.

モールドチャック3には、モールドMのパターン面(パターンPが形成された面)と反対側の面に、パターンPの面積よりも大きな面積を有する凹部が形成されている。かかる凹部は、モールドMとシールガラス(不図示)によって密閉されて密閉空間(キャビティ)を規定する。キャビティには圧力制御部(不図示)が接続されており、キャビティの圧力を制御することが可能である。モールドMと基板上のインプリント材Rとを接触させる際には、キャビティの圧力を上げてモールドMを基板側に凸形状に変形させることで、モールドMと基板上のインプリント材Rとの間に気泡が挟まれることを抑制する。そして、モールドMと基板上のインプリント材Rとが接触したら、キャビティの圧力を戻してモールドMが基板Wと平行になる(基板上のインプリント材Rと完全に接触する)ようにする。 The mold chuck 3 has a concave portion having an area larger than the area of the pattern P on the surface opposite to the pattern surface of the mold M (the surface on which the pattern P is formed). The recess is sealed by the mold M and sealing glass (not shown) to define a closed space (cavity). A pressure control unit (not shown) is connected to the cavity, and the pressure in the cavity can be controlled. When the mold M and the imprint material R on the substrate are brought into contact with each other, the pressure in the cavity is increased to deform the mold M into a convex shape toward the substrate side, thereby causing the mold M and the imprint material R on the substrate to contact each other. To prevent air bubbles from being caught between them. When the mold M and the imprint material R on the substrate come into contact with each other, the pressure in the cavity is returned so that the mold M becomes parallel to the substrate W (in complete contact with the imprint material R on the substrate).

インプリント装置100は、紫外線光(硬化光)を放射する光源5と、モールドM及び基板Wの少なくとも一方を観察する観察部6と、ミラー7とを更に有する。ミラー7は、ダイクロイックミラーを含み、光源5からの硬化光を反射し、観察部6からの光(観察光)を透過する特性を有する。光源5からの硬化光をミラー7で反射し、モールドMを介して基板上のインプリント材Rに照射してインプリント材Rを硬化させることで、基板上にモールドMのパターンPに対応するインプリント材のパターンが形成される。 The imprint apparatus 100 further includes a light source 5 that emits ultraviolet light (curing light), an observation unit 6 that observes at least one of the mold M and the substrate W, and a mirror 7 . The mirror 7 includes a dichroic mirror and has characteristics of reflecting the curing light from the light source 5 and transmitting the light (observation light) from the observation section 6 . Curing light from a light source 5 is reflected by a mirror 7 and irradiated onto the imprint material R on the substrate through the mold M to cure the imprint material R, thereby corresponding to the pattern P of the mold M on the substrate. A pattern of imprint material is formed.

観察部6は、観察光源6aと、撮像素子6bとを含み、インプリント処理においてモールドM及び基板Wの少なくとも一方を撮像して画像、具体的には、インプリント処理の状況を示す画像を取得する撮像部として機能する。観察部6は、インプリント処理の状況を示す画像として、動画像や静止画像を取得する。観察部6で取得された画像、即ち、動画像や静止画像は、記憶部13に記憶される。記憶部13は、例えば、ハードディスク(HD)、コンパクトディスク(CD)、マグネットオプティカルディスク(MO)、メモリカードなどで構成される。 The observation unit 6 includes an observation light source 6a and an imaging element 6b, and acquires an image by imaging at least one of the mold M and the substrate W in the imprint process, specifically, an image showing the status of the imprint process. function as an image pickup unit. The observation unit 6 acquires a moving image or a still image as an image showing the status of imprint processing. Images acquired by the observation unit 6 , that is, moving images and still images are stored in the storage unit 13 . The storage unit 13 is composed of, for example, a hard disk (HD), a compact disk (CD), a magnet optical disk (MO), a memory card, or the like.

観察光源6aからの観察光は、ミラー7及びモールドMを透過して、基板W(ショット領域)を照明する。撮像素子6bは、基板Wの表面で反射された光及びモールドMのパターン面で反射された光を観察光として検出する。上述したように、モールドMと基板上のインプリント材Rとを接触させる際には、モールドMを基板側に凸形状に変形させている。そのため、モールドMと基板上のインプリント材Rとが接触した部分から、モールドMと基板Wとの間のギャップ(距離)が連続的に変化する。従って、撮像素子6bでは、基板Wの表面で反射された光とモールドMのパターン面で反射された光との干渉縞、所謂、ニュートンリングが撮像される。図2は、観察部6で観察される干渉縞の一例を示す図であって、図2(a)は、モールドMと基板Wとの間のギャップを示し、図2(b)は、撮像素子6bで撮像される画像を示している。つまり、この画像は、インプリント処理の状況を示す画像であり、モールドMと基板Wとの間の距離に応じて変化する画像である。 Observation light from the observation light source 6a passes through the mirror 7 and the mold M and illuminates the substrate W (shot area). The imaging element 6b detects the light reflected by the surface of the substrate W and the light reflected by the pattern surface of the mold M as observation light. As described above, when the mold M and the imprint material R on the substrate are brought into contact with each other, the mold M is deformed into a convex shape toward the substrate. Therefore, the gap (distance) between the mold M and the substrate W continuously changes from the contact point between the mold M and the imprint material R on the substrate. Therefore, the imaging element 6b captures an image of interference fringes between the light reflected by the surface of the substrate W and the light reflected by the pattern surface of the mold M, that is, Newton's rings. 2A and 2B are diagrams showing an example of interference fringes observed by the observation unit 6. FIG. 2A shows the gap between the mold M and the substrate W, and FIG. An image captured by the element 6b is shown. That is, this image is an image showing the state of imprint processing, and is an image that changes according to the distance between the mold M and the substrate W. FIG.

制御部9は、例えば、CPUやメモリなどを含む情報処理装置で構成され、インプリント装置100の各部を制御してインプリント処理を行う。制御部9は、観察部6で取得された画像(動画像や静止画像)を管理する。例えば、制御部9は、観察部6で取得された画像を、基板Wのショット領域ごとに(即ち、各ショット領域に関連付けて)、及び/又は、基板Wごとに(即ち、各基板に関連付けて)、記憶部13に記憶させる。また、制御部9は、基板Wの複数のショット領域の配列を示すショットレイアウトに、複数のショット領域のそれぞれに対応する、観察部6で取得されたインプリント処理の状況を示す画像を重畳して表示する表示画面を生成する。そして、制御部9は、かかる表示画面を、表示部11を介して、ユーザインタフェースとして提供する。 The control unit 9 is composed of, for example, an information processing device including a CPU, a memory, and the like, and controls each unit of the imprint apparatus 100 to perform imprint processing. The control unit 9 manages images (moving images and still images) acquired by the observation unit 6 . For example, the control unit 9 associates the image acquired by the observation unit 6 with each shot area of the substrate W (that is, with each shot area) and/or with each substrate W (that is, with each substrate). ) and stored in the storage unit 13 . Further, the control unit 9 superimposes an image indicating the imprint processing status obtained by the observation unit 6 corresponding to each of the plurality of shot regions on the shot layout indicating the arrangement of the plurality of shot regions on the substrate W. Generates a display screen to be displayed by Then, the control section 9 provides such a display screen as a user interface via the display section 11 .

コンソール部10は、制御部9と同様に、CPUやメモリなどを含み、制御部9で生成された表示画面を管理するとともに、表示部11に表示させる。なお、コンソール部10は、制御部9に組み込まれていてもよい。 Like the control unit 9 , the console unit 10 includes a CPU, a memory, and the like, manages display screens generated by the control unit 9 , and displays them on the display unit 11 . Note that the console section 10 may be incorporated in the control section 9 .

図3及び図4(a)乃至図4(f)を参照して、一般的なインプリント処理について説明する。インプリント処理は、図3に示すように、供給処理(S101)と、押印処理(S102)と、硬化処理(S103)と、離型処理(S104)とを含む。図4(a)乃至図4(f)は、インプリント処理における基板Wの状態の変化を示す図である。 General imprint processing will be described with reference to FIGS. 3 and 4(a) to 4(f). The imprint process, as shown in FIG. 3, includes a supply process (S101), a stamping process (S102), a curing process (S103), and a release process (S104). FIGS. 4A to 4F are diagrams showing changes in the state of the substrate W during imprint processing.

図4(a)は、インプリント処理を開始する前の基板Wの状態を示している。図4(a)に示すように、基板Wは未処理の状態である。 FIG. 4(a) shows the state of the substrate W before imprint processing is started. As shown in FIG. 4(a), the substrate W is in an unprocessed state.

図4(b)は、供給処理が行われた基板Wの状態を示している。供給処理では、供給部8から基板上にインプリント材Rの液滴を吐出することで基板Wにインプリント材Rを供給する。図4(b)に示すように、予め決められた基板上の位置にインプリント材Rの液滴が供給され、インプリント材Rの液滴の配列が基板上に形成されている。 FIG. 4(b) shows the state of the substrate W after the supply process has been performed. In the supply process, the imprint material R is supplied to the substrate W by ejecting droplets of the imprint material R onto the substrate from the supply unit 8 . As shown in FIG. 4B, droplets of the imprint material R are supplied to predetermined positions on the substrate, and an array of droplets of the imprint material R is formed on the substrate.

図4(c)は、押印処理における基板Wの状態を示している。押印処理では、図4(c)に示すように、モールドMを基板側に凸形状に変形させた状態でモールドMを基板Wに近づけることで、モールドMの中心部から周辺部に向けて徐々に基板上のインプリント材Rと接触させる。従って、押印処理では、モールドMと基板Wとの間でギャップが生じ、図2(b)に示すような干渉縞が観察される。 FIG. 4(c) shows the state of the substrate W during the stamping process. In the imprinting process, as shown in FIG. 4(c), the mold M is brought closer to the substrate W while being deformed into a convex shape toward the substrate, so that the mold M is gradually pressed from the center toward the periphery. is brought into contact with the imprint material R on the substrate. Therefore, in the imprinting process, a gap is generated between the mold M and the substrate W, and interference fringes as shown in FIG. 2(b) are observed.

図4(d)は、硬化処理における基板Wの状態を示している。硬化工程では、モールドMと基板上のインプリント材Rとを接触させた状態で光源5からの硬化光をインプリント材Rに照射して、インプリント材Rを硬化させる。図4(d)に示すように、硬化工程では、モールドMと基板上のインプリント材Rとは完全に接触し、モールドMのパターンPにインプリント材Rが充填されている。 FIG. 4(d) shows the state of the substrate W during the curing process. In the curing step, the imprint material R is cured by irradiating the imprint material R with curing light from the light source 5 while the mold M and the imprint material R on the substrate are in contact with each other. As shown in FIG. 4D, in the curing step, the mold M and the imprint material R on the substrate are in complete contact, and the pattern P of the mold M is filled with the imprint material R. As shown in FIG.

図4(e)は、離型処理における基板Wの状態を示している。離型処理では、基板上の硬化したインプリント材RからモールドMを引き離すための力である離型力を低減するために、図4(e)に示すように、モールドMを基板側に凸形状に変形させながらモールドMを基板Wから離している。従って、離型処理では、押印処理と同様に、モールドMと基板Wとの間でギャップが生じ、図2(b)に示すような干渉縞が観察される。 FIG. 4(e) shows the state of the substrate W during the mold release process. In the mold release process, the mold M is projected toward the substrate as shown in FIG. The mold M is separated from the substrate W while being deformed into a shape. Therefore, in the release process, as in the imprint process, a gap is generated between the mold M and the substrate W, and interference fringes as shown in FIG. 2(b) are observed.

図4(f)は、インプリント処理の終了時における基板Wの状態を示している。図4(f)に示すように、基板Wには、モールドMのパターンPに対応するインプリント材Rのパターンが形成されている。 FIG. 4(f) shows the state of the substrate W at the end of imprint processing. As shown in FIG. 4F, the substrate W is formed with a pattern of the imprint material R corresponding to the pattern P of the mold M. As shown in FIG.

このように、インプリント処理の間の基板Wの状態は、インプリント処理の各処理(各状況)に応じて変化する。従来技術では、インプリント処理の各処理(特定のタイミング)に応じて、インプリント処理の良否を判定するための基準を変更しながら、インプリント処理の良否を判定している。但し、従来技術では、インプリント処理の良否を判定するための基準として静止画像を用いているため、インプリント処理の特定のタイミングのみでしかインプリント処理の良否を判定することができない。 Thus, the state of the substrate W during the imprinting process changes according to each process (each situation) of the imprinting process. In the conventional technology, the quality of imprint processing is determined while changing the criteria for determining the quality of imprint processing according to each process (specific timing) of imprint processing. However, in the related art, since a still image is used as a reference for judging the quality of imprint processing, it is possible to judge the quality of imprint processing only at a specific timing of imprint processing.

そこで、本実施形態では、インプリント処理の状況を把握するのに有利な技術を提供する。具体的には、図5に示すように、基板Wの複数のショット領域SRの配列を示すショットレイアウトSLに、インプリント処理の状況を示す画像IMを重畳して表示する表示画面DWをユーザインタフェースとして表示部11に表示する。また、図5に示す表示画面DWを表示するためのデータを1つのファイルとして外部の表示装置に出力し、かかる表示装置において、表示画面DWをユーザインタフェースとして表示してもよい。 Therefore, the present embodiment provides a technology that is advantageous for grasping the status of imprint processing. Specifically, as shown in FIG. 5, a display screen DW that displays an image IM indicating the status of imprint processing superimposed on a shot layout SL indicating the arrangement of a plurality of shot regions SR on the substrate W is displayed as a user interface. is displayed on the display unit 11 as . Alternatively, data for displaying the display screen DW shown in FIG. 5 may be output as one file to an external display device, and the display screen DW may be displayed as a user interface on the display device.

表示画面DWは、インプリントレシピから得られるショットレイアウトと、観察部6で取得された画像(記憶部13に記憶された画像)とに基づいて制御部9で生成され、コンソール部10を介して、表示部11に提供される。本実施形態では、インプリント処理の状況を示す画像IMとして、インプリント処理の間に観察部6で取得された動画像を表示する。かかる動画像は、例えば、基板上にインプリント材Rを供給する供給工程から基板上の硬化したインプリント材RからモールドMを引き離す離型工程までの期間の動画像を含む。この際、各ショット領域において、複数のショット領域SRのそれぞれに対するインプリント処理を開始してからの経過時間が同期するように、動画像を表示する。このように、複数のショット領域SRの配列に応じて、インプリント処理の状況を示す動画像(画像IM)を並べて表示することで、各ショット領域のインプリント処理の状況を容易に、且つ、迅速に把握することができる。また、各ショット領域のインプリント処理の状況を示す動画像を比較することで、インプリント処理に異常が発生したショット領域を検知することができる。換言すれば、図3に示す供給処理(S101)、押印処理(S102)、硬化処理(S103)及び離型処理(S104)のそれぞれの処理の変化のタイミングや処理の異常を容易に検知することができる。 The display screen DW is generated by the control unit 9 based on the shot layout obtained from the imprint recipe and the image acquired by the observation unit 6 (image stored in the storage unit 13), and is displayed via the console unit 10. , is provided to the display unit 11 . In this embodiment, a moving image acquired by the observation unit 6 during imprint processing is displayed as the image IM indicating the imprint processing status. Such moving images include, for example, moving images during a period from the supply step of supplying the imprint material R onto the substrate to the release step of separating the mold M from the hardened imprint material R on the substrate. At this time, in each shot area, the moving image is displayed so that the elapsed time after the start of imprint processing for each of the plurality of shot areas SR is synchronized. In this manner, by displaying moving images (images IM) showing the imprint processing status side by side according to the arrangement of the plurality of shot areas SR, the imprint process status of each shot area can be easily and can be grasped quickly. In addition, by comparing the moving images showing the imprint processing status of each shot region, it is possible to detect a shot region in which an abnormality has occurred in the imprint processing. In other words, it is possible to easily detect the timing of changes in the supply process (S101), the stamping process (S102), the curing process (S103), and the release process (S104) shown in FIG. can be done.

ここで、インプリント処理に異常が発生したショット領域を検知する方法について説明する。制御部9は、各ショット領域のインプリント処理の状況を示す動画像の画像特徴を求める。そして、制御部9は、求めた画像特徴から正常なインプリント処理が行われた画像(標準画像)と比較対象の画像とが互いに相違する度合い(相違度)を求める。そして、制御部9は、求めた相違度が予め定めた許容範囲内にあるか否かで異常が発生したショット領域を検知する。例えば、制御部9は、標準画像及び比較対象の画像から画素値を求め、画素値の差分の二乗和や絶対値の和から相違度を求めることができる。また、標準画像及び比較対象の画像の画素値から正規化相互相関を求めて相違度としてもよい。また、複数の画像特徴の特徴量を正規化して求めたマハラノビス距離を相違度としてもよい。この場合、画像特徴として、例えば、画像に含まれる画素値の最大値、平均値、分散値、尖度、歪度、及び相乗平均のうち少なくとも1つを用いることができる。また、全画素値のマクロな画像特徴だけでなく、フィルタリング処理によって算出された局所的な画素値のミクロな画像特徴を用いてもよい。 Here, a method for detecting a shot area in which an abnormality has occurred in imprint processing will be described. The control unit 9 obtains the image characteristics of the moving image indicating the imprint processing status of each shot area. Then, the control unit 9 obtains the degree of difference (degree of difference) between the image (standard image) on which normal imprint processing has been performed and the image to be compared from the obtained image features. Then, the control unit 9 detects a shot area in which an abnormality has occurred based on whether or not the obtained degree of difference is within a predetermined allowable range. For example, the control unit 9 can obtain the pixel values from the standard image and the image to be compared, and obtain the degree of difference from the sum of the squares of the differences of the pixel values and the sum of the absolute values. Alternatively, a normalized cross-correlation may be obtained from the pixel values of the standard image and the image to be compared and used as the dissimilarity. Moreover, the Mahalanobis distance obtained by normalizing the feature amount of a plurality of image features may be used as the dissimilarity. In this case, for example, at least one of the maximum value, average value, variance value, kurtosis, skewness, and geometric mean of pixel values included in the image can be used as the image feature. Further, not only macroscopic image features of all pixel values, but also microscopic image features of local pixel values calculated by filtering processing may be used.

そして、制御部9は、求めた相違度が予め定めた許容範囲内である場合は正常にインプリント処理が行われたショット領域として、求めた相違度が予め定めた許容範囲外である場合は異常が発生したショット領域として検知する。 Then, if the obtained degree of difference is within the predetermined allowable range, the control unit 9 determines that the shot area has been normally imprinted, and if the obtained degree of difference is outside the predetermined allowable range, It is detected as a shot area in which an abnormality has occurred.

なお、本実施形態では、インプリント処理の状況を示す画像IMとして、インプリント処理の間に観察部6で取得された動画像を表示しているが、これに限定されるものではない。例えば、インプリント処理の状況を示す画像IMとして、インプリント処理の間に観察部6で取得された静止画像を連続的に表示してもよいし、1枚の静止画像だけを表示してもよい。この際、各ショット領域において、複数のショット領域SRのそれぞれに対するインプリント処理を開始してからの経過時間が同じ静止画像を表示することで、各ショットのインプリント処理の状況を把握することができる。 Note that in the present embodiment, a moving image acquired by the observation unit 6 during imprint processing is displayed as the image IM indicating the status of imprint processing, but the present invention is not limited to this. For example, as the image IM indicating the status of the imprint process, the still images acquired by the observation unit 6 during the imprint process may be continuously displayed, or only one still image may be displayed. good. At this time, in each shot area, by displaying a still image with the same elapsed time after starting the imprinting process for each of the plurality of shot areas SR, the status of the imprinting process for each shot can be grasped. can.

また、インプリント処理の状況を示す動画像は、基板上のインプリント材RとモールドMとを接触させる押印工程から基板上のインプリント材RとモールドMとを接触させた状態でインプリント材Rを硬化させる硬化工程までの期間の動画像であってもよい。押印工程から硬化工程までの期間、即ち、インプリント材RをモールドMのパターンPに充填している充填期間の動画像を表示することによって、各ショット領域でのインプリント材Rの充填状態(充填遅延など)を把握することができる。例えば、図5では、ショット領域SR1でのインプリント材Rの充填が他のショット領域でのインプリント材Rの充填よりも遅れていること、即ち、ショット領域SR1でインプリント処理の異常が発生していることを検知することができる。また、図6に示すように、複数のショット領域SRのうち、インプリント処理に異常が発生したショット領域SR1に対応する画像IMを、ハイライトするなどして識別可能に(特徴付けて)表示してもよい。このように、本実施形態では、従来技術では把握することが困難であるインプリント材Rの充填遅延などのインプリント処理の良否を判定できない状況に対して、容易に良否を判定することが可能となる。 In addition, a moving image showing the state of imprint processing is shown from the imprinting step of bringing the imprint material R on the substrate and the mold M into contact with each other to the imprint material R in the state where the imprint material R on the substrate and the mold M are in contact with each other. It may be a moving image of the period up to the curing step of curing R. By displaying a moving image during the period from the imprinting process to the curing process, that is, the filling period in which the pattern P of the mold M is filled with the imprint material R, the filling state of the imprint material R in each shot region ( filling delay, etc.) can be grasped. For example, in FIG. 5, the filling of the imprint material R in the shot region SR1 is delayed from the filling of the imprint material R in the other shot regions, that is, the imprint processing abnormality occurs in the shot region SR1. You can detect what is happening. Further, as shown in FIG. 6, among the plurality of shot areas SR, an image IM corresponding to a shot area SR1 in which an abnormality has occurred in imprint processing is displayed in a identifiable (characteristic) manner, for example, by highlighting. You may As described above, according to the present embodiment, it is possible to easily determine the quality of the imprinting process, such as the filling delay of the imprint material R, which is difficult to determine with the conventional technology. becomes.

また、各ショット領域のインプリント処理を更に詳細に比較するために、表示画像DWに表示される動画像をユーザが指定する再生速度で再生してもよいし、任意のタイミングで動画像を停止させてもよい。このようなユーザによる再生速度の指定や動画像の停止の指示は、入力部12を介して行われる。但し、表示部11がタッチパネルで構成されている場合には、タッチパネルを介して、再生速度の指定や動画像の停止の指示を行ってもよい。 In addition, in order to compare the imprint processing of each shot area in more detail, the moving image displayed in the display image DW may be reproduced at a playback speed specified by the user, or the moving image may be stopped at an arbitrary timing. You may let The user's designation of the playback speed and the instruction to stop moving images are performed via the input unit 12 . However, if the display unit 11 is composed of a touch panel, designation of the playback speed or instruction to stop moving images may be given via the touch panel.

図5や図6に示す表示画面DWは、ショットレイアウトSLに対してインプリント処理の状況を示す画像IMを重畳して表示しているため、基板全体のインプリント処理の状況を把握するのに有利である。但し、各ショット領域のインプリント処理を詳細に比較するために、図7に示すように、任意のショット領域に対応するインプリント処理の状況を示す画像IMのみを表示してもよい。具体的には、表示画面DWに表示された複数のショット領域SRから、入力部12を介して、少なくとも1つのショット領域が選択されると、かかるショット領域に対応するインプリント処理の状況を示す画像IMを表示する。なお、入力部12は、ユーザが複数のショット領域SRから少なくとも1つのショット領域を選択するための選択部として機能する。例えば、図7に示すように、ショット領域SR2及びSR3が選択されると、ショット領域SR2に対応する画像IM2及びショット領域SR3に対応する画像IM3を拡大して並べて表示する。これにより、任意のショット領域のインプリント処理の状況を詳細に比較することが可能となる。 The display screen DW shown in FIGS. 5 and 6 displays an image IM indicating the imprint processing status superimposed on the shot layout SL. Advantageous. However, in order to compare the imprint processing of each shot area in detail, as shown in FIG. 7, only the image IM showing the status of imprint processing corresponding to an arbitrary shot area may be displayed. Specifically, when at least one shot area is selected from the plurality of shot areas SR displayed on the display screen DW via the input unit 12, the status of imprint processing corresponding to the selected shot area is displayed. Display the image IM. Note that the input unit 12 functions as a selection unit for the user to select at least one shot area from a plurality of shot areas SR. For example, as shown in FIG. 7, when shot areas SR2 and SR3 are selected, an image IM2 corresponding to the shot area SR2 and an image IM3 corresponding to the shot area SR3 are enlarged and displayed side by side. This makes it possible to compare the imprint processing statuses of arbitrary shot areas in detail.

入力部12を介して選択するショット領域は、図7に示すように、同一基板のショット領域に限定されるものではなく、図8に示すように、複数の基板(異なる基板)のショット領域であってもよい。例えば、図7に示すように、第1基板のショット領域SR4及び第2基板のショット領域SR5が選択されると、ショット領域SR4に対応する画像IM4及びショット領域SR5に対応する画像IM5を拡大して並べて表示する。また、図8に示すように、複数の基板間で同一位置のショット領域に対する、インプリント処理の状況を示す画像を表示することで、基板間の同一位置のショット領域のインプリント処理の状況を把握することができる。 The shot areas selected via the input section 12 are not limited to the shot areas of the same substrate as shown in FIG. There may be. For example, as shown in FIG. 7, when the shot region SR4 of the first substrate and the shot region SR5 of the second substrate are selected, the image IM4 corresponding to the shot region SR4 and the image IM5 corresponding to the shot region SR5 are enlarged. displayed side by side. In addition, as shown in FIG. 8, by displaying an image showing the status of imprint processing for shot regions at the same position between a plurality of substrates, the status of imprint processing for shot regions at the same position between substrates can be displayed. can grasp.

なお、図7では、1つの基板の複数のショット領域から2つのショット領域を選択し、図8では、2つの基板のそれぞれから1つのショット領域を選択しているが、これに限定されるものではない。1つの基板の複数のショット領域から選択するショット領域の数や複数の基板のそれぞれから選択するショット領域の数は任意である。 In FIG. 7, two shot areas are selected from a plurality of shot areas on one substrate, and in FIG. 8, one shot area is selected from each of the two substrates. isn't it. The number of shot areas selected from a plurality of shot areas on one substrate and the number of shot areas selected from each of a plurality of substrates are arbitrary.

また、図9に示すように、ユーザインタフェースとして記憶部13に画像IMが記憶されている複数の基板(基板A、基板B、基板C、基板D)のリストLTを表示してもよい。そして、リストLTに表示された複数の基板から、入力部12を介して、少なくとも2つの基板が指定されると、かかる少なくとも2つの基板のショット領域の配列を示すショットレイアウトのそれぞれに、それぞれに対応する画像IMを重畳して表示する。なお、入力部12は、ユーザがリストLTから少なくとも2つの基板を指定するための指定部として機能する。例えば、図9に示すように、リストLTから基板A及びCが指定されたとする。この場合、基板Aのショット領域の配列を示すショットレイアウトSLAに、基板Aの複数のショット領域に対応する画像IMAが重畳して表示される。同様にして、基板Bのショット領域の配列を示すショットレイアウトSLBに、基板Bの複数のショット領域に対応する画像IMBが重畳して表示される。また、これらは並べて表示される。このように、複数の基板間でインプリント処理の状況を比較することで、基板ごとに発生する異常であるのか、インプリント処理ごとに発生する異常であるのかを把握することが可能となる。 Further, as shown in FIG. 9, a list LT of a plurality of boards (board A, board B, board C, board D) whose images IM are stored in the storage unit 13 may be displayed as a user interface. Then, when at least two substrates are specified from the plurality of substrates displayed in the list LT through the input unit 12, each of the shot layouts showing the arrangement of the shot areas of the at least two substrates is displayed. The corresponding image IM is superimposed and displayed. Note that the input unit 12 functions as a designation unit for the user to designate at least two substrates from the list LT. For example, as shown in FIG. 9, assume that substrates A and C are specified from the list LT. In this case, the image IMA corresponding to the plurality of shot areas of the substrate A is superimposed on the shot layout SLA showing the arrangement of the shot areas of the substrate A and displayed. Similarly, an image IMB corresponding to a plurality of shot areas of the substrate B is superimposed on the shot layout SLB showing the arrangement of the shot areas of the substrate B and displayed. Also, they are displayed side by side. In this way, by comparing the imprint processing states among a plurality of substrates, it is possible to grasp whether an abnormality occurs for each substrate or for each imprint processing.

また、表示画面DWには、記憶部13に記憶した画像(過去のデータ)を表示するのではなく、インプリント処理の間に観察部6で取得される動画像(現在のデータ)をリアルタイムで表示してもよい。観察部6が動画像を取得した時点で、かかる動画像をショットレイアウトの対応するショット領域に表示する。これにより、各ショット領域間のインプリント処理の状況を容易に把握するだけではなく、対象ショット領域のインプリント処理(現在のインプリント処理)の状況も容易に把握することができる。この場合、特別な指定がなければ、各ショット領域の現在のインプリント処理の状況を示す動画像を最後まで表示するが、ユーザの指定に応じて、任意のタイミングで動画像の表示を停止してもよい。 In addition, instead of displaying images (past data) stored in the storage unit 13 on the display screen DW, moving images (current data) acquired by the observation unit 6 during imprint processing are displayed in real time. may be displayed. When the observation unit 6 acquires the moving image, the moving image is displayed in the corresponding shot area of the shot layout. This makes it possible not only to easily grasp the status of imprint processing between shot areas, but also to easily grasp the status of imprint processing (current imprint processing) of the target shot area. In this case, unless otherwise specified, the moving image showing the current imprint processing status of each shot area is displayed to the end. may

インプリント装置100を用いて形成した硬化物のパターンは、各種物品の少なくとも一部に恒久的に、或いは、各種物品を製造する際に一時的に、用いられる。物品とは、電気回路素子、光学素子、MEMS、記録素子、センサ、或いは、型などである。電気回路素子としては、DRAM、SRAM、フラッシュメモリ、MRAMなどの揮発性又は不揮発性の半導体メモリや、LSI、CCD、イメージセンサ、FPGAなどの半導体素子などが挙げられる。型としては、インプリント用のモールドなどが挙げられる。 A pattern of a cured product formed using the imprint apparatus 100 is used permanently on at least a part of various articles, or temporarily used when manufacturing various articles. Articles include electric circuit elements, optical elements, MEMS, recording elements, sensors, molds, and the like. Electric circuit elements include volatile or nonvolatile semiconductor memories such as DRAM, SRAM, flash memory and MRAM, and semiconductor elements such as LSI, CCD, image sensors and FPGA. Examples of the mold include an imprint mold and the like.

硬化物のパターンは、上述の物品の少なくとも一部の構成部材として、そのまま用いられるか、或いは、レジストマスクとして一時的に用いられる。基板の加工工程においてエッチング又はイオン注入などが行われた後、レジストマスクは除去される。 The pattern of the cured product is used as it is or temporarily used as a resist mask as at least a part of the above article. After etching, ion implantation, or the like is performed in the substrate processing step, the resist mask is removed.

次に、物品の具体的な製造方法について説明する。図10(a)に示すように、絶縁体などの被加工材が表面に形成されたシリコンウエハなどの基板Wを用意し、続いて、インクジェット法などにより、被加工材の表面にインプリント材Rを付与する。ここでは、複数の液滴状になったインプリント材Rが基板上に付与された様子を示している。 Next, a specific manufacturing method for the article will be described. As shown in FIG. 10A, a substrate W such as a silicon wafer having a work material such as an insulator formed on its surface is prepared. Give R. Here, a state is shown in which a plurality of droplets of the imprint material R are applied onto the substrate.

図10(b)に示すように、インプリント用のモールドMを、その凹凸パターンが形成された側を基板上のインプリント材Rに向け、対向させる。図10(c)に示すように、インプリント材Rが付与された基板WとモールドMとを接触させ、圧力を加える。インプリント材Rは、モールドMと被加工材との隙間に充填される。この状態で硬化用のエネルギーとして光をモールドMを介して照射すると、インプリント材Rは硬化する。 As shown in FIG. 10(b), the imprint mold M is placed so that the side on which the uneven pattern is formed faces the imprint material R on the substrate. As shown in FIG. 10(c), the substrate W to which the imprint material R is applied is brought into contact with the mold M, and pressure is applied. The imprint material R is filled in the gap between the mold M and the workpiece. When light is irradiated through the mold M as energy for curing in this state, the imprint material R is cured.

図10(d)に示すように、インプリント材Rを硬化させた後、モールドMと基板Wを引き離すと、基板上にインプリント材Rの硬化物のパターンが形成される。この硬化物のパターンは、モールドMの凹部が硬化物の凸部に、モールドMの凸部が硬化物の凹部に対応した形状になっており、即ち、インプリント材RにモールドMの凹凸パターンが転写されたことになる。 As shown in FIG. 10D, after curing the imprint material R, when the mold M and the substrate W are separated, a pattern of the cured imprint material R is formed on the substrate. The pattern of this cured product has a shape in which the concave portions of the mold M correspond to the convex portions of the cured product, and the convex portions of the mold M correspond to the concave portions of the cured product. is transcribed.

図10(e)に示すように、硬化物のパターンを耐エッチングマスクとしてエッチングを行うと、被加工材の表面のうち、硬化物がない、或いは、薄く残存した部分が除去され、溝となる。図10(f)に示すように、硬化物のパターンを除去すると、被加工材の表面に溝が形成された物品を得ることができる。ここでは、硬化物のパターンを除去したが、加工後も除去せずに、例えば、半導体素子などに含まれる層間絶縁用の膜、即ち、物品の構成部材として利用してもよい。 As shown in FIG. 10(e), when etching is performed using the pattern of the cured product as an anti-etching mask, portions of the surface of the material to be processed where there is no cured product or where the cured product remains thinly are removed to form grooves. . As shown in FIG. 10(f), by removing the pattern of the cured product, an article having grooves formed on the surface of the workpiece can be obtained. Although the pattern of the cured product is removed here, it may be used as an interlayer insulating film included in a semiconductor element or the like, that is, as a constituent member of an article, without being removed after processing.

以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。 Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, it goes without saying that the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and changes are possible within the scope of the gist.

100:インプリント装置 6:観察部 9:制御部 11:表示部 M:モールド W:基板 100: imprint apparatus 6: observation unit 9: control unit 11: display unit M: mold W: substrate

Claims (18)

モールドを用いて基板上のショット領域にインプリント材のパターンを形成するインプリント処理を行うインプリント装置であって、
前記基板上のインプリント材と前記モールドとが接触している部分を含むショット領域を撮像して該ショット領域に対応する画像を取得する撮像部と、
前記基板の複数のショット領域の配列を示すショットレイアウトに、前記撮像部で取得された前記複数のショット領域に対応する前記画像を重畳して表示するように表示部を制御する制御部と、
を有し、
重畳して表示される、前記複数のショット領域に対応する前記画像は、前記複数のショット領域のそれぞれに対する前記インプリント処理を開始してからの経過時間が互いに同じ静止画像、又は、前記経過時間が互いに同期した動画像であることを特徴とするインプリント装置。
An imprinting apparatus that performs an imprinting process of forming a pattern of an imprinting material in a shot region on a substrate using a mold,
an imaging unit that captures an image of a shot region including a portion where the imprint material on the substrate and the mold are in contact with each other, and acquires an image corresponding to the shot region;
a control unit for controlling a display unit to superimpose and display the images corresponding to the plurality of shot areas acquired by the imaging unit on a shot layout showing the arrangement of the plurality of shot areas of the substrate;
has
The images corresponding to the plurality of shot areas, which are superimposed and displayed, are still images having the same elapsed time from the start of the imprint processing for each of the plurality of shot areas, or the elapsed time. are moving images synchronized with each other .
前記制御部は、前記インプリント処理の状況を示す画像を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1に記載のインプリント装置。 2. The imprint apparatus according to claim 1, wherein the control unit controls the display unit to display an image showing the status of the imprint processing. 前記制御部は、前記基板上のインプリント材と前記モールドとが接触した状態で前記基板と前記モールドとの間の距離に応じて変化する画像を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1又は2に記載のインプリント装置。 The control unit controls the display unit to display an image that changes according to a distance between the substrate and the mold while the imprint material on the substrate and the mold are in contact with each other. 3. An imprinting device according to claim 1 or 2, characterized in that. 前記制御部は、前記基板で反射された光と前記モールドで反射された光との干渉により生じる干渉縞を含む画像を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載のインプリント装置。 2. The control unit controls the display unit so as to display an image including interference fringes generated by interference between the light reflected by the substrate and the light reflected by the mold. 4. The imprinting apparatus according to any one of items 1 to 3. 前記制御部は、同一の基板上の前記複数のショット領域に対応する複数の前記画像を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載のインプリント装置。 5. Any one of claims 1 to 4, wherein the control section controls the display section to display a plurality of the images corresponding to the plurality of shot areas on the same substrate. The imprinting apparatus according to . 前記制御部は、異なる基板上の前記複数のショット領域に対応する複数の前記画像を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載のインプリント装置。 5. The apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein said control unit controls said display unit to display a plurality of said images corresponding to said plurality of shot areas on different substrates. The imprinting device described. 前記制御部は、異なる基板間で同一位置のショット領域に対応する複数の前記画像を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載のインプリント装置。 5. The apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the control unit controls the display unit so as to display a plurality of the images corresponding to shot areas at the same position on different substrates. The imprinting device described. 前記表示部を介してユーザが前記複数のショット領域から少なくとも1つのショット領域を選択するための選択部を更に有し、
前記制御部は、前記選択部で選択された前記少なくとも1つのショット領域に対応する、前記撮像部で取得された前記画像を表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1乃至のうちいずれか1項に記載のインプリント装置。
a selection unit for a user to select at least one shot area from the plurality of shot areas via the display unit;
3. The control unit controls the display unit so as to display the image acquired by the imaging unit corresponding to the at least one shot area selected by the selection unit. 8. The imprint apparatus according to any one of 1 to 7 .
前記制御部は、
前記撮像部で取得された前記画像に基づいて、前記インプリント処理に異常が発生したショット領域を検知し、
前記複数のショット領域のうち、前記異常が発生したショット領域に対応する、前記撮像部で取得された前記インプリント処理の状況を示す画像を識別可能に表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項1乃至のうちいずれか1項に記載のインプリント装置。
The control unit
detecting a shot region in which an abnormality has occurred in the imprint processing based on the image acquired by the imaging unit;
controlling the display unit to identifiably display an image indicating the imprint processing status obtained by the imaging unit and corresponding to the shot region in which the abnormality has occurred among the plurality of shot regions; The imprint apparatus according to any one of claims 1 to 8 , characterized by:
前記基板ごとに、前記複数のショット領域のそれぞれに対応する、前記撮像部で取得された画像を記憶する記憶部を更に有し、
前記制御部は、前記記憶部に画像が記憶されている複数の基板のリストを前記表示部に表示するように制御することを特徴とする、請求項1乃至のうちいずれか1項に記載のインプリント装置。
further comprising a storage unit for storing an image acquired by the imaging unit and corresponding to each of the plurality of shot areas for each of the substrates;
10. The apparatus according to any one of claims 1 to 9 , wherein the control unit performs control so that a list of a plurality of substrates whose images are stored in the storage unit is displayed on the display unit. imprinting device.
前記表示部を介してユーザが前記複数の基板から少なくとも2つの基板を指定するための指定部を更に有し、
前記制御部は、前記指定部で指定された前記少なくとも2つの基板のショット領域の配列を示すショットレイアウトのそれぞれに、前記2つの基板のそれぞれに対応する、前記記憶部に記憶された画像を並べて表示するように前記表示部を制御することを特徴とする、請求項10に記載のインプリント装置。
further comprising a designation unit for a user to designate at least two substrates from the plurality of substrates via the display unit;
The control unit arranges the images stored in the storage unit corresponding to each of the two substrates in each of the shot layouts indicating the arrangement of the shot areas of the at least two substrates designated by the designation unit. 11. The imprinting apparatus according to claim 10 , wherein the display unit is controlled to display.
前記表示部に表示される前記動画像の再生速度を入力する入力部を更に有し、
前記制御部は、前記表示部に表示される前記動画像を前記入力部に入力された再生速度で再生することを特徴とする、請求項に記載のインプリント装置。
further comprising an input unit for inputting a playback speed of the moving image displayed on the display unit;
The imprint apparatus according to claim 1 , wherein the control unit reproduces the moving image displayed on the display unit at a reproduction speed input to the input unit.
前記制御部は、前記画像として、前記インプリント処理の間に前記撮像部で取得される動画像を前記表示部にリアルタイムで表示するように制御することを特徴とする、請求項1に記載のインプリント装置。 2. The method according to claim 1, wherein the control unit performs control to display, as the image, a moving image acquired by the imaging unit during the imprint process on the display unit in real time. Imprint device. 前記動画像は、前記基板上にインプリント材を供給する工程から前記基板上の硬化したインプリント材から前記モールドを引き離す工程までの期間の動画像を含むことを特徴とする、請求項に記載のインプリント装置。 2. The method according to claim 1 , wherein the moving image includes a moving image during a period from the step of supplying the imprint material onto the substrate to the step of separating the mold from the hardened imprint material on the substrate. The imprinting device described. 前記動画像は、前記基板上のインプリント材と前記モールドとを接触させる工程から前記基板上のインプリント材と前記モールドとを接触させた状態で前記インプリント材を硬化させる工程までの期間の動画像を含むことを特徴とする、請求項に記載のインプリント装置。 The moving image is a period from the step of contacting the imprint material on the substrate and the mold to the step of curing the imprint material while the imprint material on the substrate and the mold are in contact. 2. The imprinting apparatus according to claim 1 , wherein the imprinting apparatus includes moving images. 前記静止画像は、前記インプリント処理の間に前記撮像部で取得された静止画像であることを特徴とする、請求項1に記載のインプリント装置。 2. The imprinting apparatus according to claim 1, wherein the still image is a still image acquired by the imaging unit during the imprinting process. モールドを用いて基板上のショット領域にインプリント材のパターンを形成するインプリント処理を行う際に前記基板上のインプリント材と前記モールドとが接触している領域を含むショット領域を撮像して該ショット領域に対応する画像を取得する撮像部で取得された複数のショット領域に対応する前記画像を、前記基板の前記複数のショット領域の配列を示すショットレイアウトに重畳して表示するように表示部を制御し、
重畳して表示される、前記複数のショット領域に対応する前記画像は、前記複数のショット領域のそれぞれに対する前記インプリント処理を開始してからの経過時間が互いに同じ静止画像、又は、前記経過時間が互いに同期した動画像であることを特徴とする情報処理装置。
A shot region including a region where the imprint material on the substrate and the mold are in contact is imaged when performing imprint processing for forming a pattern of the imprint material on the shot region on the substrate using the mold. The images corresponding to the plurality of shot areas acquired by the imaging unit that acquires the images corresponding to the shot areas are displayed so as to be superimposed on a shot layout showing the arrangement of the plurality of shot areas of the substrate. control the department ,
The images corresponding to the plurality of shot areas, which are superimposed and displayed, are still images having the same elapsed time from the start of the imprint processing for each of the plurality of shot areas, or the elapsed time. are moving images synchronized with each other .
請求項1乃至16のうちいずれか1項に記載のインプリント装置を用いてパターンを基板に形成する工程と、
前記工程で前記パターンが形成された前記基板を処理する工程と、
処理された前記基板から物品を製造する工程と、
を有することを特徴とする物品の製造方法。
forming a pattern on a substrate using the imprint apparatus according to any one of claims 1 to 16 ;
a step of processing the substrate on which the pattern is formed in the step;
manufacturing an article from the treated substrate;
A method for manufacturing an article, comprising:
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