JP7233332B2 - Chip placement device and semiconductor package manufacturing method - Google Patents
Chip placement device and semiconductor package manufacturing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP7233332B2 JP7233332B2 JP2019135615A JP2019135615A JP7233332B2 JP 7233332 B2 JP7233332 B2 JP 7233332B2 JP 2019135615 A JP2019135615 A JP 2019135615A JP 2019135615 A JP2019135615 A JP 2019135615A JP 7233332 B2 JP7233332 B2 JP 7233332B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chip
- chips
- dummy
- placement
- chip placement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/93—Batch processes
- H01L2224/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L2224/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Description
本明細書に開示する技術は、基板上に配置されたチップをモールドしてモールド体を成形し、モールド体をチップ毎に分割することで半導体パッケージを製造する技術に関する。詳細には、半導体パッケージを製造するときに、基板上の複数のチップ配置位置にチップを配置する技術に関する。 The technology disclosed in this specification relates to a technology for manufacturing a semiconductor package by molding chips arranged on a substrate to form a mold body and dividing the mold body for each chip. More particularly, the present invention relates to a technique for arranging chips at a plurality of chip arranging positions on a substrate when manufacturing a semiconductor package.
チップを備えるパッケージを製造する際には、チップの周囲をモールド材で被覆することによってパッケージ内にチップを封止することがある。この種のパッケージを製造する際には、基板上に複数のチップを配置するチップ配置工程が実行された後、基板上に配置されたチップをモールド材で封止するモールド工程が実行される。このとき、基板上の全てのチップ配置位置にチップが配置されていない状態でモールド工程が行われることがある。例えば、チップ自体に不具合が生じた場合やチップを配置する工程に何らかの不具合が生じた場合には、そのチップを配置する予定だった位置にチップが配置されない状態となることがある。また、1枚の基板上の全てのチップ配置位置より配置すべきチップの数のほうが少ないことがある。このような状態でモールド工程を行うと、基板上のチップが正確にモールド材で封止されず、モールド不良が生じることがある。 2. Description of the Related Art When manufacturing a package including a chip, the chip is sometimes sealed within the package by covering the periphery of the chip with a molding material. When manufacturing this type of package, after a chip placement process of placing a plurality of chips on a substrate is performed, a molding process of sealing the chips placed on the substrate with a molding material is performed. At this time, the molding process may be performed in a state where chips are not arranged at all chip arrangement positions on the substrate. For example, if a defect occurs in the chip itself or in the process of placing the chip, the chip may not be placed at the intended position. Also, the number of chips to be arranged may be smaller than all the chip arrangement positions on one substrate. If the molding process is performed in such a state, the chips on the substrate may not be accurately sealed with the molding material, resulting in defective molding.
例えば、特許文献1には、基板上の全てのチップ配置位置にチップが配置されていないときに、モールド不良の発生を抑制する技術が開示されている。特許文献1では、まず、チップ配置装置によって基板上にチップが配置される。次いで、チップが配置されていない欠損箇所を特定する。次いで、モールド材を基板上に配置する際に、まず、欠損箇所と対応する位置にダミーチップを配置したシート状モールド材を用意する。すなわち、シート状モールド材は、離型フィルムと、離型フィルムの前面に配置されたモールド材と、離型フィルムの裏面に配置されたダミーチップから構成される。モールド材は、チップが配置された箇所に対応する位置に配置され、ダミーチップは、チップが配置されていない欠損箇所に対応する位置に配置される。このシート状モールド材を用いて基板上のチップをモールドすることによって、基板上に配置された全てのチップがモールド材で封止され、モールド不良の発生が抑制される。 For example, Patent Literature 1 discloses a technique for suppressing the occurrence of mold defects when chips are not arranged at all chip arrangement positions on a substrate. In Patent Document 1, first, a chip is placed on a substrate by a chip placement device. Next, a defective portion where no chip is arranged is identified. Next, when placing the molding material on the substrate, first, a sheet-like molding material having dummy chips arranged at positions corresponding to the defective portions is prepared. That is, the sheet-shaped mold material is composed of a release film, a mold material placed on the front surface of the release film, and a dummy chip placed on the back surface of the release film. The mold material is arranged at a position corresponding to the chip-arranged portion, and the dummy chip is arranged at a position corresponding to the defective portion where no chip is arranged. By molding the chips on the substrate using this sheet-like molding material, all the chips arranged on the substrate are sealed with the molding material, and the occurrence of molding defects is suppressed.
特許文献1の技術では、チップ配置装置で基板上にチップが配置された後、チップが配置されなかった欠損位置にダミーチップを配置し、その後モールド工程が行われる。このため、基板上にチップを配置する工程とモールド工程との間に、離型フィルムの裏面にダミーチップを配置する工程が必要となり、半導体パッケージを製造する工程が複雑になるという問題があった。 In the technique disclosed in Patent Document 1, after chips are placed on a substrate by a chip placement device, dummy chips are placed in defective positions where no chips were placed, and then a molding process is performed. For this reason, a process of arranging the dummy chip on the back surface of the release film is required between the process of arranging the chip on the substrate and the molding process, which complicates the process of manufacturing the semiconductor package. .
本明細書は、半導体パッケージの製造において、基板上にチップを配置する工程からモールド工程までの生産効率を向上させる技術を開示する。 This specification discloses a technique for improving production efficiency from the step of arranging a chip on a substrate to the molding step in manufacturing a semiconductor package.
本明細書に開示するチップ配置装置は、基板上に配置されたチップをモールドしてモールド体を成形し、モールド体をチップ毎に分割することで半導体パッケージを製造するときに、基板上の複数のチップ配置位置にチップを配置する。チップ配置装置は、チップを基板上に移動させる移動部と、移動部を制御する制御部であって、基板上のチップ配置位置にチップを配置するチップ配置処理と、複数のチップ配置位置のうちチップ配置処理によってチップが配置されていないチップ配置位置にダミーチップを配置するダミーチップ配置処理と、を実行可能に構成されている、制御部と、を備える。 The chip placement apparatus disclosed in the present specification molds chips placed on a substrate to form a mold body, and divides the mold body into chips to manufacture a semiconductor package. Place the chip in the chip placement position of The chip placement device includes a moving unit that moves the chip onto the substrate and a control unit that controls the moving unit, and includes a chip placement process for placing the chip at a chip placement position on the substrate, and a chip placement process among the plurality of chip placement positions. a control unit configured to be able to execute dummy chip placement processing for placing dummy chips at chip placement positions where chips are not placed by the chip placement processing.
上記のチップ配置装置では、チップ配置装置によって、基板上のチップ配置位置にチップが配置されると共に、基板上のチップが配置されていないチップ配置位置にダミーチップが配置される。このため、チップ配置装置を用いてチップが配置されていないチップ配置位置にダミーチップを配置することができ、ダミーチップを配置する工程が複雑化することを回避することができる。このチップ配置装置を用いることで、チップを配置してからモールドするまでの間に行われるダミーチップの配置を簡便に行うことができ、モールド工程の前工程の生産効率を向上させることができる。 In the above-described chip placement apparatus, the chips are placed at the chip placement positions on the substrate, and the dummy chips are placed at the chip placement positions on the substrate where no chips are placed. Therefore, a dummy chip can be placed at a chip placement position where no chip is placed using a chip placement device, and complication of the step of placing a dummy chip can be avoided. By using this chip placement device, it is possible to easily place the dummy chips between the placement of the chips and the molding, thereby improving the production efficiency of the process before the molding process.
また、本明細書に開示する半導体パッケージの製造方法は、基板上に配置されたチップをモールドしてモールド体を成形し、モールド体をチップ毎に分割することで半導体パッケージを製造する。半導体パッケージの製造方法は、チップを基板上に移動させる移動部を備えるチップ配置装置を用いて基板上の複数のチップ配置位置にチップを配置するチップ配置工程であって、移動部が、基板上のチップ配置位置にチップを配置するチップ配置工程と、移動部が、複数のチップ配置位置のうち、チップ配置工程によってチップが配置されていないチップ配置位置にダミーチップを配置するダミーチップ配置工程と、を備える、チップ配置工程と、基板上に配置されたチップ及びダミーチップをモールドするモールド工程と、を備える。 In addition, the method of manufacturing a semiconductor package disclosed in this specification manufactures a semiconductor package by molding a chip arranged on a substrate to form a mold body, and dividing the mold body for each chip. A method of manufacturing a semiconductor package includes a chip placement step of placing chips at a plurality of chip placement positions on a substrate using a chip placement apparatus having a moving unit for moving the chips onto the substrate, wherein the moving unit moves on the substrate. and a dummy chip placement step in which the moving unit places a dummy chip in a chip placement position where no chip is placed by the chip placement step, among the plurality of chip placement positions. and a molding step of molding the chips and dummy chips arranged on the substrate.
上記の半導体パッケージの製造方法は、移動部を備えるチップ配置装置により、基板上にチップ及びダミーチップを配置する。このため、上記のチップ配置装置と同様の作用効果を奏することができる。 In the method of manufacturing a semiconductor package described above, the chips and the dummy chips are placed on the substrate by a chip placement device having a moving part. Therefore, it is possible to obtain the same effects as those of the chip placement device described above.
以下に説明する実施例の主要な特徴を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項に記載の組合せに限定されるものではない。 The main features of the embodiments described below are listed. It should be noted that the technical elements described below are independent technical elements, and exhibit technical usefulness alone or in various combinations, and are limited to the combinations described in the claims as filed. not a thing
(特徴1)本明細書に開示するチップ配置装置では、ダミーチップ配置処理では、チップ配置処理において基板上にチップが配置されていないチップ配置位置のうち、チップが配置されているチップ配置位置と隣接するチップ配置位置にダミーチップを配置してもよい。隣接するチップ配置位置にチップが配置されていないと、モールドしたときにそのチップ全体(例えば、隣にチップが配置されていない面)がモールド材によって被覆されないことがある。隣接するチップ配置位置にチップが配置されていないときに代わりにダミーチップを配置することによって、隣接するチップ配置位置にチップが配置されているときと同様にチップ全体をモールドすることができる。なお、基板上にチップが配置されていないチップ配置位置のうち、チップが配置されているチップ配置位置と隣接しないチップ配置位置には、ダミーチップを配置しなくてもよい。ダミーチップを配置しなくても、そのチップ配置位置に隣接するチップ位置にはチップが配置されていないため、当該チップがモールド材で封止されないという事態は生じない。また、一部のチップ配置位置に何も配置されていない状態であっても、モールド材の種類等によってはモールド工程に支障が生じない。このため、ダミーチップを配置する必要がない位置にダミーチップを配置することを回避することができ、ダミーチップの消費を低減することができる。 (Feature 1) In the chip placement apparatus disclosed in this specification, in the dummy chip placement process, among the chip placement positions where no chips are placed on the substrate in the chip placement process, A dummy chip may be arranged at an adjacent chip arrangement position. If a chip is not placed at an adjacent chip placement position, the entire chip (for example, the surface where no adjacent chip is placed) may not be covered with the molding material when molded. By arranging the dummy chip instead when no chip is arranged at the adjacent chip arrangement position, the entire chip can be molded in the same manner as when the chip is arranged at the adjacent chip arrangement position. Of the chip placement positions where no chips are placed on the substrate, it is not necessary to place dummy chips at chip placement positions that are not adjacent to chip placement positions where chips are placed. Even if the dummy chip is not arranged, since no chip is arranged at the chip position adjacent to the chip arrangement position, the situation that the chip is not sealed with the molding material does not occur. Also, even if nothing is placed at some chip placement positions, the molding process will not be hindered depending on the type of molding material. Therefore, it is possible to avoid arranging a dummy chip in a position where it is not necessary to arrange a dummy chip, and it is possible to reduce the consumption of dummy chips.
(特徴2)本明細書に開示するチップ配置装置では、基板上の複数のチップ配置位置のそれぞれには、予め順番が設定されていてもよい。制御部は、チップ又はダミーチップを予め設定された順番に従ってチップ配置位置に配置するように移動部を制御してもよい。制御部は、チップ配置処理を実行した後、ダミーチップ配置処理を実行してもよい。ダミーチップ配置処理では、予め設定された数のダミーチップをチップ配置位置に配置してもよい。基板上に設定されたチップ配置位置の全てにチップ又はダミーチップを配置することとすると、ダミーチップを配置する必要がないチップ配置位置までダミーチップが配置される場合がある。このため、必要なチップ配置位置にのみダミーチップを配置できれば、無駄なダミーチップは発生しない。このチップ配置装置では、ダミーチップを配置する数を予め設定した数とすることで、無駄なダミーチップの発生を抑制する。例えば、n行×m列のマトリックス状にチップを基板上に配置する場合を考える。このような場合において、例えば、座標(1,1)の位置から列方向に順に1行目からn行目まで順にチップを配置してゆく場合を考える。このような場合、ダミーチップを配置する数を予めm個とすることで、チップが配置されたチップ配置位置に隣接するチップ配置位置にダミーチップが配置されない事態が生じることを防止することができる。あるいは、座標(1,1)の位置から行方向に順に1列目からm列目まで順にチップを配置してゆく場合は、ダミーチップを配置する数を予めn個とすることで、チップが配置されたチップ配置位置に隣接するチップ配置位置にダミーチップが配置されない事態が生じることを抑制することができる。
すなわち、上記の構成によると、チップ又はダミーチップを予め設定された順番に従ってチップ配置位置に配置するため、チップを基板上に配置した後、続けて次の順番のチップ配置位置から順にダミーチップが配置される。また、ダミーチップが予め設定された数だけ配置するようにすることで、チップからダミーチップに切り替わるチップ配置位置がどのような位置であっても、チップに隣接する位置にダミーチップが配置されるように設定できる。すなわち、チップ配置処理中に廃棄される不良チップの数により基板上に配置可能なチップの数が決定されるため、チップが基板上のどの位置まで配置されるかを予め設定することはできない。ダミーチップを配置する数を事前に設定することによって、基板上のどの位置までチップが配置されたとしても隣接する位置にダミーチップを配置することが可能となる。このため、チップ配置処理後にダミーチップを配置する位置を決定する処理が不要となり、チップ及びダミーチップを効率よく配置することができる。
(Feature 2) In the chip placement apparatus disclosed in this specification, the order may be set in advance for each of the plurality of chip placement positions on the substrate. The control unit may control the moving unit to place the chips or the dummy chips at the chip placement positions according to a preset order. The control unit may execute the dummy chip placement process after executing the chip placement process. In the dummy chip placement process, a preset number of dummy chips may be placed at the chip placement positions. If chips or dummy chips are arranged at all the chip arrangement positions set on the substrate, dummy chips may be arranged up to chip arrangement positions where dummy chips do not need to be arranged. Therefore, if dummy chips can be arranged only at necessary chip arrangement positions, no dummy chips are generated. In this chip placement apparatus, the number of dummy chips to be placed is set to a preset number, thereby suppressing the generation of useless dummy chips. For example, consider a case where chips are arranged on a substrate in a matrix of n rows×m columns. In such a case, for example, consider a case where chips are arranged in order from the first row to the n-th row in the column direction from the position of coordinates (1, 1). In such a case, by setting the number of dummy chips to be m in advance, it is possible to prevent a situation in which dummy chips are not arranged at a chip arrangement position adjacent to a chip arrangement position where a chip is arranged. . Alternatively, when chips are arranged in order from the 1st column to the m-th column in the row direction from the position of the coordinates (1, 1), by setting the number of dummy chips to be n in advance, the chips can be It is possible to prevent a situation in which a dummy chip is not placed at a chip placement position adjacent to the placed chip placement position.
That is, according to the above configuration, since the chips or dummy chips are arranged at the chip arrangement positions according to the order set in advance, after the chips are arranged on the substrate, the dummy chips are sequentially arranged from the next chip arrangement position. placed. In addition, by arranging a predetermined number of dummy chips, the dummy chip is arranged at a position adjacent to the chip regardless of the chip arrangement position where the chip is switched to the dummy chip. can be set as That is, since the number of chips that can be placed on the board is determined by the number of defective chips that are discarded during the chip placement process, it is not possible to set in advance to which position the chips are placed on the board. By setting the number of dummy chips to be arranged in advance, dummy chips can be arranged at adjacent positions regardless of the positions on the substrate where the chips are arranged. Therefore, it is not necessary to determine the positions of the dummy chips after the chip placement process, and the chips and the dummy chips can be efficiently placed.
(特徴3)本明細書に開示するチップ配置装置では、ダミーチップの大きさは、チップの大きさと異なっていてもよい。チップ配置処理では、チップと当該チップに隣接する位置に配置されているチップとの間に所定の間隔を空けてチップを配置してもよい。ダミーチップ配置処理では、ダミーチップと当該ダミーチップに隣接する位置に配置されているチップとの間に所定の間隔を空けてダミーチップを配置してもよい。このような構成によると、ダミーチップの大きさがチップの大きさと異なっていても(例えば、ダミーチップがチップより小さくても)、チップとダミーチップとの間の間隔を、チップとチップとの間の間隔と略同一にすることができる。これにより、ダミーチップの大きさがチップの大きさと異なっていても、モールド不良を低減することができる。 (Feature 3) In the chip placement apparatus disclosed in this specification, the size of the dummy chip may differ from the size of the chip. In the chip placement process, the chips may be placed with a predetermined gap between the chip and a chip placed adjacent to the chip. In the dummy chip placement process, the dummy chip may be placed with a predetermined gap between the dummy chip and a chip placed adjacent to the dummy chip. According to such a configuration, even if the size of the dummy chip is different from the size of the chip (for example, even if the dummy chip is smaller than the chip), the distance between the chips can be adjusted to the distance between the chips. It can be made substantially the same as the interval between. As a result, even if the size of the dummy chip differs from the size of the chip, it is possible to reduce mold defects.
(実施例1)
以下、実施例に係るチップ配置装置10について説明する。チップ配置装置10は、パッケージ50を製造する際に用いられる装置である。まず、本実施例のチップ配置装置10を用いて製造されるパッケージ50について説明する。
(Example 1)
A
図1は、パッケージ50の構成を模式的に示している。図1に示すように、パッケージ50は、チップ52と、モールド材54と、配線層56を備えている。本実施例では、パッケージ50は、ファンアウト型のウエハレベルパッケージ(FOWLP:Fan-Out Wafer Level Package)又はファンアウト型のパネルレベルパッケージ(FOPLP:Fan-Out Panel Level Package)である。
FIG. 1 schematically shows the configuration of the
チップ52は、平板状であり、一方の面に複数の電極パッド53を備えている。チップ52において、電極パッド53が形成されている面は、配線層56に当接しており、それ以外の面は、モールド材54に被覆されている。配線層56には、各電極パッド53と電気的に接続するように、図示しない配線やバンプ等が形成されている。パッケージ50を回路基板等に実装する際には、配線層56が回路基板等に当接するように配置される。
The
次に、パッケージ50を製造するパッケージ製造装置100について説明する。図2に示すように、パッケージ製造装置100は、チップ配置装置10と、モールド装置20と、ダイシング装置30を備えている。
Next, the
チップ配置装置10は、支持体62上にチップ52を配置する。チップ配置装置10は、支持体62上にチップ52を移動させるチップ移動部12と、チップ移動部12を制御する制御部14と、チップ52を供給するチップ供給部16と、ダミーチップ70を供給するダミーチップ供給部18を備えている。なお、チップ配置装置10の各部12、14、16、18の動作については、後に詳述する。チップ配置装置10としては、支持体62上にチップ52を配置するための専用の装置であってもよいし、回路基板に電子部品を実装する部品実装機を用いてもよい。部品実装機を用いる場合には、電子部品を回路基板上に移動させるヘッドがチップ移動部12に相当し、ヘッドを制御する制御装置が制御部14に相当し、部品フィーダがチップ供給部16に相当する。また、部品フィーダにダミーチップ70を収容することによって、部品フィーダをダミーチップ供給部18としても用いることができる。なお、チップ配置装置10として部品実装機を用いる場合には、公知の部品実装機を用いることができるため、その詳細な構成については省略する。また、支持体62は、「基板」の一例であり、チップ移動部12は、「移動部」の一例である。
モールド装置20は、支持体62上に配置されたチップ52をモールドする。ダイシング装置30は、チップ52を封止したモールド体60を分割する。なお、モールド装置20及びダイシング装置30は、公知のものを用いることができるため、その詳細な構成については省略する。
次に、図3~図5を参照して、パッケージ製造装置100を用いてパッケージ50を製造する方法について説明する。図3(a)に示すように、まず、チップ配置装置10を用いて、支持体62上に複数のチップ52を配置する(チップ配置工程)。支持体62は、ガラス板64と、ガラス板64の表面に貼り付けられる粘着テープ66で構成されている。粘着テープ66は、両面に接着剤が塗布されており、一方の面がガラス板64の表面に貼り付けられると共に、他方の面にチップ52が貼り付けられる。チップ52は、支持体62(すなわち、粘着テープ66)上に配置されると、粘着テープ66によって配置された位置で固定される。1つの支持体62上には、複数のチップ52がそれぞれ所定の位置に固定される。図3(a)に示すチップ配置工程では、大型の支持体62上に多数のチップ52を配置することによって、製造コストを低減させることができる。なお、支持体62の寸法は特に限定されるものではなく、製造するパッケージ50の数や種類に合わせて適宜選択することができる。
Next, a method of manufacturing the
ここで、チップ配置装置10によるチップ配置工程の処理について説明する。図4に示すように、まず、制御部14は、チップ52を支持体62上のチップ配置位置に配置する(S12)。チップ52は、チップ供給部16から供給される。支持体62上には、パッケージ50内に封止されるチップ52の種類に応じて複数のチップ配置位置が設定されている。また、支持体62上の複数のチップ配置位置には、予めチップ52を配置する順番(以下、チップ配置順ともいう)が設定されている。
Here, processing of the chip placement process by the
ここで、図5を参照して、7行×20列のチップ配置位置に設定されるチップ配置順の一例について説明する。図5では、右上のチップ配置位置を「位置1-1」とし、同一の行の右から左に向かって順に数字を増加させ、同一の列の上から下に向かって数字を増加させて表す。したがって、位置1-1の左隣のチップ配置位置は「位置1-2」と表され、位置1-1の下方向の隣のチップ配置位置は「位置2-1」と表されることになる。図5に示すように、例えば、チップ配置順は、図5の矢印で示す順となる。すなわち、チップ配置順は、位置1-1を最初のチップ配置位置とし、順に左隣のチップ配置位置に移行する。すなわち、チップ配置順は、位置1-1、1-2・・・1-20の順となる。そして、チップ配置順は、位置1-20の次に、その下の位置2-20となり、順に右隣のチップ配置位置2-19、2-18・・・2-1に移行する(以下、このようなチップ配置順を「S字状のチップ配置順」ともいう)。制御部14は、このように予め設定されているチップ配置順に従い、まず、位置1-1にチップ52を配置する。
Here, an example of the chip placement order set to the chip placement positions of 7 rows×20 columns will be described with reference to FIG. In FIG. 5, the upper right chip placement position is designated as "Position 1-1", and the numbers are increased from right to left in the same row, and the numbers are increased from top to bottom in the same column. . Therefore, the chip placement position to the left of position 1-1 is represented as "position 1-2", and the chip placement position to the bottom of position 1-1 is represented as "position 2-1". Become. As shown in FIG. 5, for example, the chip placement order is the order indicated by the arrows in FIG. In other words, the order of chip placement is such that position 1-1 is the first chip placement position, and the chip placement positions on the left are sequentially shifted to. That is, the order of chip placement is the order of positions 1-1, 1-2 . . . 1-20. Then, the order of chip placement is position 2-20 next to position 1-20, and then shifts to chip placement positions 2-19, 2-18, . . . Such a chip arrangement order is also called an "S-shaped chip arrangement order"). The
なお、本実施例では、チップ配置順は、S字状となるように設定されているが、チップ配置順は予め設定されていればよく、その順序は特に限定されない。例えば、チップ配置順は、同一の行について常に同一の方向に向かって(例えば、右から左に向かって)移行するように設定してもよい。具体的には、チップ配置順は、位置1-1、1-2・・・1-20の順と移行し、その次に、位置2-1、2-2・・・2-20の順で移行するようで設定してもよい(以下、このようなチップ配置順を「同一方向のチップ配置順」ともいう)。 In this embodiment, the chip arrangement order is set to form an S-shape, but the chip arrangement order may be set in advance, and the order is not particularly limited. For example, the chip placement order may be set such that the same row always moves in the same direction (eg, from right to left). Specifically, the order of chip placement is the order of positions 1-1, 1-2, . (Such a chip placement order is also referred to as "chip placement order in the same direction" below).
次に、制御部14は、支持体62上に配置するチップ52が残っているか否かを判定する(S14)。すなわち、制御部14は、チップ供給部16にチップ52が残っているか否かを判定する。チップ供給部16にチップ52が残っている場合(ステップS14でYES)、ステップS12に戻り、ステップS12及びステップS14の処理を繰り返す。ステップS12の処理を繰り返す際には、制御部14は、チップ配置順に従い、前回のステップS12の処理によりチップ52が配置されたチップ配置位置の次に設定されているチップ配置位置にチップ52を配置する。例えば、前回のステップS12の処理により位置1-1にチップ52が配置された場合には、チップ配置順により次に設定されているチップ配置位置である位置1-2にチップ52を配置する。
Next, the
チップ供給部16にチップ52が残っていない場合(ステップS14でNO)、制御部14は、チップ移動部12を制御してダミーチップ70を支持体62上のチップ配置位置に配置させる(S20)。ダミーチップ70は、ダミーチップ供給部18から供給される。本実施例では、ダミーチップ70の外形は、チップ52と外形と同一の形状をしている。なお、ダミーチップ70は、外形がチップ52と同一であればよく、例えば、材質等は特に限定されない。このとき、ダミーチップ70は、最後のチップ52が配置されたチップ配置位置(すなわち、最後のステップS12の処理によりチップ52が配置されたチップ配置位置)の次に設定されているチップ配置位置に配置される。したがって、支持体62上に配置される部品がチップ52からダミーチップ70に切り替わっても、チップ52に続いてダミーチップ70も予め設定されたチップ配置順に従いチップ配置位置に配置される。例えば、図5では、最後のチップ52は、位置4-14に配置されている。このため、ダミーチップ70は、位置4-14の次に設定されているチップ配置位置である位置4-13に配置される。
If no
次に、制御部14は、支持体62上の全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されたか否かを判定する(S18)。支持体62上の全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されていない場合(ステップS18でNO)、制御部14は、ステップS16に戻り、ステップS16及びステップS18の処理を繰り返す。このとき、ダミーチップ70についてもチップ52と同様に、予め設定されたチップ配置順に従ったチップ配置位置に配置される。支持体62上の全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されると(ステップS18でYES)、チップ配置工程を終了する。
Next, the
チップ配置工程が終了すると、図3(b)に示すように、モールド装置20を用いて、チップ52の周囲をモールド材54で被覆する(モールド工程)。次いで、図2(c)に示すように、モールド体60から支持体62が剥離される(剥離工程)。すると、チップ52(詳細には、チップ52の電極パッド53が形成されている面)が露出した状態となる。次いで、図2(d)に示すように、チップ52が露出している面に配線層56が形成される(配線層形成工程)。そして、図2(e)に示すように、ダイシング装置30を用いて、個々のチップ52を包含するように、チップ52、モールド材54及び配線層56から構成される構造体が分割(個片化)される(分割工程)。このようにして、複数のパッケージ50が一括で製造される。
When the chip placement process is completed, the periphery of the
本実施例では、チップ配置工程において、チップ配置装置10を用いて支持体62上の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置される。すなわち、支持体62上にチップ52を全て配置したときに支持体62上にチップ52が配置されないチップ配置位置があっても、そのチップ配置位置にはチップ52の代わりにダミーチップ70が配置される。支持体62上の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置されていると、図6(a)に示すように、チップ配置工程後のモールド工程において、チップ52及びダミーチップ70に均等に圧力がかかり、全てのチップ52を正常にモールドすることができる。一方、図6(b)に示すように、支持体62上にチップ52が配置されていないチップ配置位置があると、モールドする際の圧力が均等にかからず、モールド不良が発生することがある。また、図6(c)に示すように、隣接するチップ配置位置にチップ52が配置されていないと、チップ52が配置されていない方向にモールド材54が流動してしまい、チップ52全体がモールドされないことがある(図6(c)の破線部分参照)。支持体62上の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70を配置することによって、チップ配置工程の後のモールド工程の際に、全てのチップ配置位置にチップ52が配置されている場合と同様に均等に圧力をかけることができ、モールド不良の発生を抑制することができる。
In this embodiment, the
また、本実施例では、チップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置される順番が予め設定されており、チップ52の配置に続いてその順番に従ってダミーチップ70が配置される。このため、ダミーチップ70を配置するためのプログラムを作成することなく、ダミーチップ70を支持体62上に配置することができる。支持体62上に配置されるチップ52の数は、チップ配置工程前には正確に把握できない。これは、チップ52を支持体62上に配置する際に、チップ52に欠陥や欠損等の不具合が発見されるとそのチップ52は支持体62上に配置されることなく廃棄されるためである。このため、事前にチップ供給部16に収容されているチップ52の全てが支持体62上に配置されるとは限らず、チップ配置工程後に実際に支持体62上に配置されるチップ52の総数は、全てのチップ52を支持体62上に配置し終えるまで決定されない。ダミーチップ70は、支持体62上のチップ52が配置されなかったチップ配置位置に配置される。このため、ダミーチップ70を配置するためのプログラムを作成する場合には、全てのチップ52を支持体62上に配置する工程が終了するまで当該プログラムを作成できないことになる。本実施例では、予め設定された順番に従いダミーチップ70を配置することにより、ダミーチップ70を配置するためのプログラムを作成する必要がない。このため、チップ52及びダミーチップ70を配置する工程を迅速に実行することができ、生産効率を向上させることができる。
Also, in this embodiment, the order in which the
また、本実施例では、チップ配置工程において、チップ52の配置に続いてダミーチップ70を配置している。このため、例えば、特開2017-224722号公報に開示される技術のように、ダミーチップ70を配置するためにチップ配置工程とは異なる工程を追加する必要がない。このため、パッケージ50の製造において、チップ52を配置してからモールドするまでの間に行われるダミーチップ70の配置を簡便に行うことができ、モールド工程の前工程の生産効率を向上させることができる。
In addition, in this embodiment, the
また、本実施例では、チップ配置装置10を用いて、チップ52だけでなくダミーチップ70も支持体62上に配置している。例えば、ダミーチップ70は、全てのチップ52を配置した後、作業者によって配置することも可能である。本実施例では、チップ配置装置10によりダミーチップ70の配置を自動化することによって、チップ52及びダミーチップ70を配置する工程にかかる時間を短縮することができ、生産効率を向上させることができる。
In addition, in this embodiment, not only the
なお、本実施例では、支持体62上に配置するチップ52が残っていないと制御部14が判断したとき(上述のステップS14でNO)、続いてダミーチップ70を配置しているが、このような構成に限定されない。例えば、チップ52の配置からダミーチップ70の配置への切り替えは、作業者の指示によって実行されてもよい。具体的には、全てのチップ52が支持体62上に配置されると、制御部14は、その旨をチップ配置装置10の図示しないインターフェース装置に表示させる。そして、作業者がインターフェース装置を介してダミーチップ70を配置するよう指示することによって、制御部14は、ダミーチップ70を配置する処理を開始してもよい。
In this embodiment, when the
(実施例2)
上記の実施例1では、支持体62上の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置されたが、このような構成に限定されない。例えば、図7に示すように、支持体62上のチップ配置位置は、複数のブロック(図7ではブロックB1、B2)に区分されていてもよい。このような場合には、ブロック単位で全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置されるように、チップ52及びダミーチップ70を配置してもよい。具体的には、支持体62上のチップ配置位置にチップ52を配置する順番は、ブロックB1内の全てのチップ配置位置にチップ52が配置された後、ブロックB2内のチップ配置位置にチップ52が配置されるように設定される。そして、最後のチップ52がブロックB1内のチップ配置位置に配置された場合には、ダミーチップ70をブロックB1内の残りのチップ配置位置に配置したときに、ダミーチップ70の配置を終了(すなわち、チップ配置工程を終了)する。すると、支持体62上において、ブロックB1内の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置され、ブロックB2内のチップ配置位置にはチップ52もダミーチップ70も配置されていない状態となる。支持体62上のチップ配置位置を複数のブロックで区分したときには、後のモールド工程もブロック毎に実行される。このため、チップ52が配置されているブロックB1の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置されていれば、チップ52のモールド不良を抑制できる。このため、ダミーチップ70を配置する必要のないブロックB2にダミーチップ70を配置しないことによって、ダミーチップ70の消耗を低減することができる。
(Example 2)
In the first embodiment described above, the
(実施例3)
上述の実施例1、2では、支持体62上の全てのチップ配置位置又はブロック内の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置されていたが、このような構成に限定されない。例えば、チップ52が配置されているチップ配置位置に隣接するチップ配置位置にダミーチップ70を配置し、その他のチップ配置位置にはチップ52もダミーチップ70も配置されていなくてもよい。モールド工程では、支持体62上の全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置されていなくても、モールド材54の種類によってはモールドする際の圧力が支持体62上に配置されたチップ52にほぼ均等にかかることがある。このような場合には、チップ52が配置されなかった全てのチップ配置位置にダミーチップ70を配置する必要はない。しかしながら、隣接するチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置されていないと、チップ52全体がモールドされないことがある。すなわち、モールド材54の種類によっては、図6(b)に示すようなモールド不良は発生しないが、図6(c)に示すようなモールド不良は発生してしまう。このようなモールド不良の発生を抑制するために、チップ52が配置されているチップ配置位置に隣接するチップ配置位置にダミーチップ70を配置する。なお、本実施例では、チップ配置工程が上記の実施例1、2と異なるため、チップ配置工程以外の工程については、説明を省略する。
(Example 3)
In Embodiments 1 and 2 described above, the
図8に示すように、本実施例のチップ配置工程では、まず、制御部14は、チップ52を支持体62上のチップ配置位置に配置する(S32)。次に、制御部14は、支持体62上に配置するチップ52が残っているか否かを判定し(S34)、チップ供給部16にチップ52が残っている場合(ステップS34でYES)、ステップS32に戻り、ステップS32及びステップS34の処理を繰り返す。チップ供給部16にチップ52が残っていない場合(ステップS34でNO)、制御部14は、予め設定されたチップ配置順に従い、チップ移動部12を制御してダミーチップ70を支持体62上のチップ配置位置に配置させる(S36)。なお、ステップS32~ステップS36の処理は、実施例1のステップS12~ステップS16の処理と同様であるため、詳細な説明は省略する。
As shown in FIG. 8, in the chip placement process of this embodiment, first, the
最初のダミーチップ70が支持体62上のチップ配置位置に配置されると、制御部14は、支持体62上の全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されたか否かを判定する(S38)。支持体62上の全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置された場合(ステップS38でYES)、チップ配置工程を終了する。後に詳述するが、本実施例では、ダミーチップ70は予め設定された所定数のみ支持体62上に配置される。しかしながら、全てのチップ52が配置されたときに、支持体62上のチップ52が配置されていないチップ配置位置が、予め設定されたダミーチップ70を配置する所定数より少ないときは、予め設定された所定数のダミーチップ70の全てを支持体62上に配置することができない。したがって、支持体62上の全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されたときには、予め設定された所定数のダミーチップ70を支持体62上に配置していなくても、チップ配置工程を終了する。
When the
支持体62上の全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されていない場合(ステップS38でNO)、制御部14は、予め設定された所定数のダミーチップ70が支持体62上に配置されたか否かを判定する(S40)。ダミーチップ70を配置する所定数(以下、「ダミーチップ70の配置数」ともいう)は、チップ52が配置されたチップ配置位置と隣接する全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されるように、予め設定する。図9に示すように、本実施例では、1行に7箇所のチップ配置位置が設定されており、チップ52及びダミーチップ70が同一方向のチップ配置順で配置されるとする。この場合には、チップ配置順に従い、チップ52の配置に続いて1行分のダミーチップ70を配置すれば、全てのチップ52と隣接するチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置された状態となる。このため、ダミーチップ70の配置数は、1行分である7個と設定する。
If the dummy chips 70 are not placed at all the chip placement positions on the support 62 (NO in step S38), the
予め設定された所定数(本実施例では、7個)のダミーチップ70が支持体62上に配置されていない場合(ステップS40でNO)、ステップS36に戻り、ステップS36~ステップS40の処理を繰り返す。一方、予め設定された所定数(本実施例では、7個)のダミーチップ70が支持体62上に配置された場合(ステップS40でYES)、チップ配置工程を終了する。すると、支持体62上の全てのチップ52と隣接するチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70が配置された状態となるため、次のモールド工程において、チップ52にモールド不良が発生することを抑制できる。
If a predetermined number (in this embodiment, seven) of
本実施例では、チップ52と隣接するチップ配置位置にのみダミーチップ70を配置している。これにより、ダミーチップ70を配置する必要のない位置にダミーチップ70を配置することを回避することができ、支持体62上に配置するダミーチップ70の数を低減することができる。このため、モールド工程においてチップ52のモールド不良の発生を抑制できると共に、ダミーチップ70の消費を低減することができる。
In this embodiment, the
(実施例4)
上述の実施例3では、ダミーチップ70の配置数をチップ配置位置の1行分として予め設定していたが、このような構成に限定されない。チップ配置順に合わせて、ダミーチップ70の配置数をチップ配置位置の1行分より多い数で設定してもよい。
(Example 4)
In the third embodiment described above, the number of
図10に示すように、本実施例では、実施例3と同様に1行に7箇所のチップ配置位置が設定されており、実施例3と異なりチップ52及びダミーチップ70がS字状のチップ配置順で配置されるとする。この場合、実施例3と同様にダミーチップ70の配置数を1行分の7個とすると、隣接するチップ配置位置にチップ52もダミーチップ70も配置されないチップ52が存在することになる。例えば、位置3-1までチップ52が配置されたとする。このとき、チップ配置順に従い、位置3-1に続いて7個のダミーチップ70を配置しても、位置3-2から位置4-7までしかダミーチップ70が配置されない。このため、位置3-1に配置されるチップ52の下側に隣接する位置4-1にダミーチップ70が配置されない。したがって、ダミーチップ70の配置数は、チップ52がどの列まで配置されたとしても、チップ52と隣接するチップ配置位置にチップ52が配置されていない全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されるように設定する。したがって、S字状のチップ配置順の場合、ダミーチップ70の配置数は、2列分-1個(本実施例では、13個)と設定する。
As shown in FIG. 10, in this embodiment, seven chip placement positions are set in one row as in the third embodiment. Assume that they are arranged in order of arrangement. In this case, if the number of
本実施例では、ダミーチップ70は、チップ52に隣接する位置だけでなく、チップ52に隣接しない位置にも配置される(例えば、図10の位置3-3、4-2~4-7)。しかしながら、上記のようにダミーチップ70の配置数を予め設定すると共に、ダミーチップ70についてもチップ配置順に従い配置することにより、ダミーチップ70を配置するプログラムを作成することなく、チップ52に隣接する全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70を配置することができる。このため、生産効率を向上させることができると共に、ダミーチップ70の消費を最小限に抑えることができる。
In this embodiment, the dummy chips 70 are arranged not only at positions adjacent to the
(実施例5)
また、ダミーチップ70の配置数は、チップ配置装置10の仕様に合わせて、実施例4よりさらに多く設定してもよい。例えば、チップ移動部12が複数のノズルを備えている場合を例にして説明する。チップ移動部12が、例えば、4個のノズルを備えているとする。この4個のノズルを便宜上、ノズルA~Dとする。この場合、チップ供給部16から4個のノズルA~Dのそれぞれにチップ52が供給され、その状態でチップ移動部12は支持体62上に移動する。そして、チップ配置順に従い4箇所にチップ52を配置する。このとき、ノズルA~Dの順でチップ52をチップ配置位置に配置する。具体的には、ノズルAにより位置1-1にチップ52が配置され、ノズルBにより位置1-2にチップ52が配置され、ノズルCにより位置1-3にチップ52が配置され、ノズルDにより位置1-4にチップ52が配置される(図11参照)。チップ52を配置すると、チップ移動部12は再びチップ供給部16に戻る。これを繰り返して、チップ移動部12はチップ52をチップ配置位置に移動させる。このように、チップ移動部12は、4個のノズルA~Dにより、4個のチップ52を1組として同時に支持体62上に移動させる。このとき、チップ移動部12に供給された4個のチップ52のいずれかに不具合があると、その不具合のあるチップ52が廃棄され、残った正常なチップ52のみが同時に支持体62上に移動される。例えば、ノズルBに供給されたチップ52に不具合が発見されると、ノズルBに供給されたチップ52は廃棄され、ノズルA、C、Dに供給されたチップ52のみがチップ配置位置に配置される。このため、例えば、ノズルA、C、Dにより位置1-1、1-3、1-4にはチップ52が配置される一方、ノズルBに供給されたチップ52を配置する予定だった位置1-2にはチップ52が配置されない。そして、位置1-2には、次の組でチップ移動部12により支持体62に運ばれたチップ52(例えば、ノズルAに供給されたチップ52)が配置される。
(Example 5)
Also, the number of
しかしながら、最後の組において不具合が発見されると、チップ52がチップ配置順通りに連続して配置されなくなる。例えば、図11に示すように、最後の組において、ノズルAにより位置2-3にチップ52が配置され、ノズルBにより位置2-2にチップ52が配置され、ノズルCにより位置2-1にチップ52が配置され、ノズルDにより位置3-1にチップ52が配置される予定であったとする。この場合に、ノズルA~Cに供給されたチップ52に不具合が発見されると、ノズルDにより位置3-1にチップ52が配置される一方、位置2-3、2-2、2-1にはチップ52が配置されない。そして、チップ配置順に従い、次の組において、ダミーチップ70が位置2-3、2-2、2-1と、位置3-1の次のチップ配置順の位置3-2に配置される。この場合、上述の実施例4と同様に、ダミーチップ70の配置数を、S字状のチップ配置順の際に適用する2列分-1個である13個と設定すると、位置4-4までしかダミーチップ70が配置されない。このため、位置3-1に配置されるチップ52の下側に隣接する位置4-1にダミーチップ70が配置されない。このように、チップ52と隣接するチップ配置位置にチップ52が配置されていない全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されないことがある。
However, if a defect is found in the last set, the
そこで、ダミーチップ70の配置数は、チップ52がどの列まで配置されたとしても、チップ52と隣接するチップ配置位置にチップ52が配置されていない全てのチップ配置位置にダミーチップ70が配置されるように設定する。したがって、本実施例では、チップ配置装置10の仕様に合わせて、ダミーチップ70の配置数は、S字状のチップ配置順の場合の配置数(本実施例では、13個)に、チップ移動部12が同時に支持体62上に移動できるチップ52の数-1(すなわち、ヘッドの数-1、本実施例では、3個)を加えた数(本実施例では、16個)とする。このようにチップ配置装置10の仕様に合わせてダミーチップ70の配置数を設定することによって、チップ52に隣接する全てのチップ配置位置にチップ52又はダミーチップ70を確実に配置することができると共に、支持体62上に配置するダミーチップ70の数を低減することができる。
Therefore, the dummy chips 70 are placed at all chip placement positions where no
(実施例6)
上記の実施例1~5では、ダミーチップ70の外形は、チップ52の外形と同一であったが、このような構成に限定されない。例えば、ダミーチップ170の外形は、チップ52の外形と異なっていてもよい。本実施例では、矩形のダミーチップ170において、その横の寸法はチップ52と同一である一方、その縦の寸法はチップ52より小さい場合を例にして説明する。
(Example 6)
In Examples 1 to 5 described above, the external shape of the
図12に示すように、チップ配置位置は支持体62上に均等に配置されており、チップ52が配置されていると、チップ52間には均等な距離d1が生じる。ダミーチップ170をチップ配置位置に配置する際には、ダミーチップ170とチップ52との間の距離d2が、チップ52間の距離d1と同一となるように、チップ配置位置の中心から上方にオフセットした位置にダミーチップ170を配置する。例えば、ダミーチップ170をチップ配置位置の中心に配置すると、ダミーチップ170とチップ52の間の距離が、チップ52間の距離d1より大きくなる。すると、モールド工程において、チップ52の下端部分まで適切にモールドされず、図6(c)に示すようなモールド不良が発生することがある。上記のようにダミーチップ170をオフセットして配置することによって、チップ52と異なる大きさのダミーチップ170を配置した場合であっても、モールド不良の発生を低減することができる。
As shown in FIG. 12, the chip arrangement positions are evenly arranged on the
(実施例7)
上記の実施例1~6では、製造されるパッケージ50内にチップ52が1個封止されていたが、このような構成に限定されない。例えば、パッケージ内に封止されるチップ52は複数であってもよい。このような場合であっても、1つのパッケージ内に封止される複数のチップ52をひとまとまりの単位として、支持体62上にチップ52を配置することができる。例えば、図13に示すように、2種類のチップ52a、52bをひとまとまりの単位とするチップユニット152を支持体62上に配置する場合であっても、チップユニット152が配置されないチップ配置位置にダミーチップ70を配置することができる。この場合、チップユニット152を構成する1種類のチップ(例えば、チップ52a)を全て配置した後に続けてダミーチップ70を配置し、その後、チップユニット152を構成する他のチップ(例えば、チップ52b)を配置してもよい。また、チップユニット152を構成する全てのチップ(すなわち、チップ52aとチップ52b)を配置した後に、続けてダミーチップ70を配置してもよい。支持体62上にチップユニット152を配置する場合であっても、ダミーチップ70を配置することによって、後のモールド工程においてチップユニット152にモールド不良が発生することを抑制することができる。なお、本実施例では、ダミーチップ70は、支持体62上のチップユニット152が配置されていない全てチップ配置位置に配置されているが、モールド工程時に用いるモールド材54の種類等によっては、ダミーチップ70は、チップユニット152に隣接するチップ配置位置に配置されるように配置されてもよい。
(Example 7)
In Examples 1 to 6 described above, one
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。 The technical elements described in this specification or in the drawings exhibit technical usefulness alone or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims as of the filing. In addition, the techniques exemplified in this specification or drawings achieve multiple purposes at the same time, and achieving one of them has technical utility in itself.
10:チップ配置装置
12:チップ移動部
14:制御部
16:チップ供給部
18:ダミーチップ供給部
20:モールド装置
30:ダイシング装置
50:パッケージ
52:チップ
54:モールド材
56:配線層
62:支持体
70、170:ダミーチップ
100:パッケージ製造装置
152:チップユニット
10: Chip placement device 12: Chip moving unit 14: Control unit 16: Chip supply unit 18: Dummy chip supply unit 20: Molding device 30: Dicing device 50: Package 52: Chip 54: Mold material 56: Wiring layer 62:
Claims (5)
前記チップを前記基板上に移動させる移動部と、
前記移動部を制御する制御部であって、
前記基板上の前記チップ配置位置にチップを配置するチップ配置処理と、
前記複数のチップ配置位置のうち、前記チップ配置処理によってチップが配置されていないチップ配置位置にダミーチップを配置するダミーチップ配置処理と、を実行可能に構成されている、制御部と、を備える、チップ配置装置。 A chip arranged at a plurality of chip arrangement positions on a substrate when a semiconductor package is manufactured by molding chips arranged on a substrate to form a mold body and dividing the mold body for each chip. a placement device,
a moving unit that moves the chip onto the substrate;
A control unit that controls the moving unit,
a chip placement process for placing a chip at the chip placement position on the substrate;
a control unit configured to be able to execute a dummy chip placement process of placing dummy chips at chip placement positions where no chips have been placed by the chip placement process among the plurality of chip placement positions. , a chip placement device.
前記制御部は、前記チップ又は前記ダミーチップを予め設定された前記順番に従って前記チップ配置位置に配置するように前記移動部を制御し、
前記制御部は、前記チップ配置処理を実行した後、前記ダミーチップ配置処理を実行し、
前記ダミーチップ配置処理では、予め設定された数の前記ダミーチップを前記チップ配置位置に配置する、請求項2に記載のチップ配置装置。 An order is set in advance for each of a plurality of chip placement positions on the substrate,
the control unit controls the moving unit so as to place the chips or the dummy chips at the chip placement positions according to the preset order;
After executing the chip placement process, the control unit executes the dummy chip placement process,
3. The chip placement apparatus according to claim 2, wherein in said dummy chip placement processing, a preset number of said dummy chips are placed at said chip placement position.
前記チップ配置処理では、前記チップと当該チップに隣接する位置に配置されているチップとの間に所定の間隔を空けて前記チップを配置し、
前記ダミーチップ配置処理では、前記ダミーチップと当該ダミーチップに隣接する位置に配置されている前記チップとの間に前記所定の間隔を空けて前記ダミーチップを配置する、請求項1~3のいずれか一項に記載のチップ配置装置。 the size of the dummy chip is different from the size of the chip,
In the chip placement process, the chips are placed with a predetermined gap between the chips and chips placed adjacent to the chips,
4. The dummy chip arrangement process according to any one of claims 1 to 3, wherein said dummy chip is arranged with said predetermined space between said dummy chip and said chip arranged at a position adjacent to said dummy chip. 1. The chip placement device according to claim 1.
チップを基板上に移動させる移動部を備えるチップ配置装置を用いて基板上の複数のチップ配置位置にチップを配置するチップ配置工程であって、
前記移動部が、前記基板上のチップ配置位置にチップを配置するチップ配置工程と、
前記移動部が、複数のチップ配置位置のうち、前記チップ配置工程によってチップが配置されていないチップ配置位置にダミーチップを配置するダミーチップ配置工程と、を備える、チップ配置工程と、
前記基板上に配置された前記チップ及び前記ダミーチップをモールドするモールド工程と、を備える、半導体パッケージの製造方法。 A semiconductor package manufacturing method for manufacturing a semiconductor package by molding a chip arranged on a substrate to form a mold body and dividing the mold body for each chip,
A chip placement step of placing chips at a plurality of chip placement positions on a substrate using a chip placement device having a moving unit for moving the chips onto the substrate,
a chip placement step in which the moving unit places the chip at a chip placement position on the substrate;
a dummy chip placement step in which the moving unit places a dummy chip in a chip placement position where no chip has been placed by the chip placement step among a plurality of chip placement positions;
and a molding step of molding the chip and the dummy chip arranged on the substrate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019135615A JP7233332B2 (en) | 2019-07-23 | 2019-07-23 | Chip placement device and semiconductor package manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019135615A JP7233332B2 (en) | 2019-07-23 | 2019-07-23 | Chip placement device and semiconductor package manufacturing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021019159A JP2021019159A (en) | 2021-02-15 |
JP7233332B2 true JP7233332B2 (en) | 2023-03-06 |
Family
ID=74566237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019135615A Active JP7233332B2 (en) | 2019-07-23 | 2019-07-23 | Chip placement device and semiconductor package manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7233332B2 (en) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001291727A (en) | 2000-04-10 | 2001-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Die bonding method |
JP2002368019A (en) | 2001-06-08 | 2002-12-20 | Hitachi Ltd | Manufacturing method of semiconductor device |
JP2009164333A (en) | 2008-01-07 | 2009-07-23 | Epson Toyocom Corp | Electronic component unit base material, electronic component unit, and manufacturing method for the same |
JP2010263199A (en) | 2009-04-07 | 2010-11-18 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Manufacturing method of semiconductor device, and semiconductor device |
JP2013232667A (en) | 2013-06-27 | 2013-11-14 | Toray Eng Co Ltd | Mounting device and mounting method |
JP2014204082A (en) | 2013-04-09 | 2014-10-27 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | Semiconductor device manufacturing method |
-
2019
- 2019-07-23 JP JP2019135615A patent/JP7233332B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001291727A (en) | 2000-04-10 | 2001-10-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Die bonding method |
JP2002368019A (en) | 2001-06-08 | 2002-12-20 | Hitachi Ltd | Manufacturing method of semiconductor device |
JP2009164333A (en) | 2008-01-07 | 2009-07-23 | Epson Toyocom Corp | Electronic component unit base material, electronic component unit, and manufacturing method for the same |
JP2010263199A (en) | 2009-04-07 | 2010-11-18 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Manufacturing method of semiconductor device, and semiconductor device |
JP2014204082A (en) | 2013-04-09 | 2014-10-27 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | Semiconductor device manufacturing method |
JP2013232667A (en) | 2013-06-27 | 2013-11-14 | Toray Eng Co Ltd | Mounting device and mounting method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021019159A (en) | 2021-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10217729B2 (en) | Apparatus for micro pick and bond | |
KR101665249B1 (en) | Die bonder and bonding method | |
US11217471B2 (en) | Multi-axis movement for transfer of semiconductor devices | |
TW201810445A (en) | Apparatus for manufacturing semiconductor and method of manufacturing semiconductor device | |
KR102003130B1 (en) | Semiconductor manufacturing device and manufacturing method of semiconductor device | |
KR20210058941A (en) | Variable pitch multi-needle head for transfer of semiconductor devices | |
KR20190032180A (en) | Apparatus for manufacturing semiconductor, method of manufacturing semiconductor device and collet | |
JP7233332B2 (en) | Chip placement device and semiconductor package manufacturing method | |
TWI527147B (en) | Method and apparatus for mounting semiconductor chips | |
JP2015076409A (en) | Die bonder and adhesive coating method | |
WO2007010714A1 (en) | Liquid crystal dripping device and liquid crystal dripping method using such device | |
JP7068460B2 (en) | Determining device and chip mounting device equipped with it | |
JP2013016771A (en) | Nondefective board array module and method of manufacturing the same | |
KR102267950B1 (en) | Die bonding method | |
JP2540954B2 (en) | Bonding method and apparatus | |
US20230290666A1 (en) | Semiconductor manufacturing apparatus, carrier jig, and manufacturing method of semiconductor device | |
JP2021027207A (en) | Ball loading apparatus and ball loading method | |
JP7462207B2 (en) | Crimping device and crimping method | |
US11011505B2 (en) | Semiconductor memory and manufacturing method thereof | |
JPWO2019167258A1 (en) | Surface mounter | |
KR101197846B1 (en) | An array for manufacturing a printed circuit board and method of manufacturing flip chip on printed circuit board by using the same | |
WO2015162751A1 (en) | Optimization program and mounting operation system | |
JP2016022671A (en) | Resin molding method | |
CN111029264A (en) | Method for semiconductor manufacturing and packaging and apparatus for use in the method | |
KR20210046511A (en) | Apparatus of transferring a plurality of chips adn method of transferring a plurality of chips |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220328 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230210 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230214 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230221 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7233332 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |