JP7230036B2 - ランダムピン配列式カテーテル - Google Patents

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Description

本開示は、広義には医療用装置に関するものであり、より具体的には、ランダムピン配列式カテーテルに関するものである。
心臓カテーテル法は、様々な循環器系の状態を診断及び治療するために使用される医療処置である。心臓カテーテル法の間、患者の静脈又は動脈を通してカテーテルが患者の心臓に挿入される。カテーテルは、一方の端部に電極を有し、他方の端部にハンドルとコネクタとを有する細い管であり得る。電極は、管に沿って延在するワイヤのセットを介してコネクタ内の種々のピンに接続されてもよい。コネクタが診断装置に接続されて、診断装置は電極から受信された信号を処理して、医師及び他の医療専門家に有用な診断情報を提供することができる。
カテーテルが製造されるとき、ワイヤをコネクタに接続することは、非常に手間のかかる労働となり得る。ワイヤは、非常に細い(例えば、80マイクロメートル)ため、工場作業者がワイヤを互いに区別することを可能にするような方式で色分けされ得ない。これにより、工場作業者は、ワイヤが属するコネクタピンを決定するために、連続性ツール(例えば、マルチメータ)を使用して、各ワイヤに接続された電極を識別することが必要となる。このようにすることにより、製造プロセスに約1時間が加えられることになり、結果として製造コストが増加する。
したがって、カテーテルコネクタが電極ワイヤに接続される方式を簡略化する新規な製造技術及びカテーテル設計に対する必要性が存在する。
本開示はこのニーズに対処するものである。本開示の態様によれば、複数の第1の接点と1つ又は2つ以上の第2の接点とを含むコネクタと、複数の電極を含むシャフトであって、各電極が複数の第1の接点のうちの異なる1つに連結されている、シャフトと、第2の接点のうちの少なくとも1つに連結されたメモリであって、複数の電極が複数の第1の接点に連結される順序を識別するピン配列マップを記憶し、かつコネクタが外部デバイスに連結された後に、第2の接点のうちの1つ又は2つ以上を介して、ピン配列マップを外部デバイスに提供するように構成されている、メモリと、を備える、カテーテルが開示される。
本開示の態様によれば、複数の入力チャネルと複数の出力チャネルとを含むスイッチと、複数の接点を含むコネクタであって、接点のそれぞれが、スイッチの出力チャネルのうちの異なる1つに連結されている、コネクタと、複数の電極を含むシャフトであって、各電極は、スイッチの複数の入力チャネルのうちの異なる1つに連結されている、シャフトと、複数の電極がスイッチの複数の入力チャネルに連結される第1の順序を識別する第1のピン配列マップを記憶するように構成されたメモリと、メモリ及びスイッチに連結されたプロセッサであって、第1のピン配列マップに基づいてスイッチを第1の状態から第2の状態に遷移させるように構成されており、第2の状態は、少なくとも1つの外部デバイスに対応する第2の順序で複数の電極を複数の接点に連結するようにスイッチが配置される状態である、プロセッサと、を備える、カテーテルが開示される。
本開示の態様によれば、カテーテルを構成するための方法が開示され、この方法は、カテーテルのシャフトを配備位置に挿入することであって、シャフトは、シャフト上に線形順序で配設された複数の電極を含む、ことと、配備位置にカテーテルを挿入する間に発生する複数の信号変化を検出することであって、各信号変化は、電極のうちの1つから複数のチャネルのうちの対応する1つにおいて受信される異なる信号の値の変化である、ことと、信号変化が検出される時間的な順序に基づいて、電極のそれぞれを複数のチャネルのうちの異なる1つと関連付けるピン配列マップを生成することと、を含む。
以下に説明する図面は、例示のみを目的としたものである。それらの図は、本開示の範囲を限定することを意図したものではない。図に示される同様の参照記号は、様々な実施形態における同じ部分を示す。
本開示の態様による、カテーテルを含むシステムの一例の略図である。 本開示の態様による、カテーテルを含むシステムの一例の略図である。 本開示の態様による、カテーテルアセンブリの一例の略図である。 本開示の態様による、コネクタの一例の略図である。 本開示の態様による、図3のカテーテルアセンブリと図4のコネクタとを含むカテーテルの一例の略図である。 本開示の態様による、コンフィギュレーションデバイスを使用することによって図5のカテーテルをプログラミングするためのプロセスの一例を示す略図である。 本開示の態様による、図6のプロセスを実行した結果として生成されるピン配列マップの一例の略図である。 本開示の態様による、コンフィギュレーションデバイスの一例の略図である。 本開示の態様による、図8のコンフィギュレーションデバイスに組み込まれ得るシャフトレセプタクルの一例の略図である。 本開示の態様による、図9のシャフトレセプタクルを使用して図5のカテーテルを構成するためのプロセスの一例のフローチャートである。 本開示の態様による、図8のコンフィギュレーションデバイスに組み込まれ得るシャフトレセプタクルの一例の略図である。 本開示の態様による、図11のシャフトレセプタクルを使用して図5のカテーテルを構成するためのプロセスの一例のフローチャートである。 本開示の態様によるシステムの一例の略図である。 本開示の態様による、図13Aのシステムによって使用される複数のデータ構造の一例の略図である。 本開示の態様による、図13Aのシステムによって使用されるデータ構造の一例の略図である。 本開示の態様による、図13Aのシステム内の1つ又は2つ以上の装置によって実行されるプロセスの一例のフローチャートである。 本開示の態様によるシステムの一例の略図である。 本開示の態様による、図15Aのシステムによって使用される複数のデータ構造の一例の略図である。 本開示の態様による、図15Aのシステムによって使用されるデータ構造の一例の略図である。 本開示の態様による、図15Aのシステム内の1つ又は2つ以上の装置によって実行されるプロセスの一例のフローチャートである。 本開示の態様による、カテーテルを構成するためのプロセスの一例を示す略図である。 本開示の態様による、カテーテルを構成するためのプロセスの一例のフローチャートである。 本開示の態様による、カテーテルを構成するためのプロセスの別の例のフローチャートである。
診断用カテーテルは、シャフトの一方の端部上に配設された複数の電極を有するシャフトを含んでもよい。電極は、シャフトに沿って延在しかつシャフトのもう一方の端部から出現してコネクタに連結されるワイヤに接続されてもよい。診断用カテーテルが製造されるとき、施設作業者は、コネクタの正しい接点にワイヤをはんだ付けし得るようにするために、どのワイヤがどの電極に属するかを決定する必要がある。しかしながら、これは時間を費やすプロセスとなり得る。例えば、22個の電極を含むカテーテルに配線することは、カテーテルを製造するのに要する時間に1時間加えることになり得る。この時間の大部分は、作業者が、各電極が接続されている特定のワイヤを追跡し、その電極用に指定されたコネクタにワイヤをはんだ付けすることによって費やされる。
本開示の態様によれば、従来技術のカテーテルよりも短い時間で製造され得る改良型のカテーテルが開示される。この改良型のカテーテルにおいて、異なる電極は、コネクタ(又は別の構成要素)の接点にランダムに接続されるが、電極が接続される順序を示すピン配列マップは、カテーテルに組み込まれたメモリデバイスに格納される。電極をランダムに接続することにより、カテーテルを製造するのに要する時間が30分、短縮され、結果として製造量が増大され得る。この時間の短縮の大部分は、作業者によって、所与のコネクタ接点(又は別の構成要素)にワイヤを連結する前に、各電極が接続されている特定のワイヤを識別する必要がないことに起因している。
本開示の態様によれば、カテーテルと一体化されたメモリデバイス(例えば、EEPROM)と、電極がカテーテルのコネクタの異なる接点にランダムに接続されたシャフトとを含む、改良型のカテーテルが開示される。電極は、コネクタ接点にランダムに接続されるため、各電極が接続されている接点を識別するために、メモリデバイスに格納されたピン配列マップなしでカテーテルを使用することはできない。したがって、カテーテルが外部デバイスに接続されると、ピン配列マップは外部デバイスによって取り出され、カテーテルの異なる電極から受信された信号を解釈するために使用される。
本開示の別の態様によれば、改良型のカテーテルのピン配列マップを生成するためのコンフィギュレーションデバイスが開示される。コンフィギュレーションデバイスは、改良型のカテーテルの製造中に使用されてもよく、第1のレセプタクルと第2のレセプタクルとを含んでもよい。第1のレセプタクルは、電極を取り付けられた改良型のカテーテルのシャフトを受容するように配置されてもよい。第2のレセプタクルは、カテーテルのコネクタを受容するように配置されてもよい。カテーテルのシャフトが第1のレセプタクルに挿入され、カテーテルのコネクタが第2のレセプタクルに挿入されると、コンフィギュレーションデバイスは、各電極が接続されているコネクタ接点を判定し、各電極が接続されているコネクタ接点を識別するピン配列マップを生成し、カテーテルに組み込まれたメモリデバイスにそのピン配列マップを格納する。
本開示の態様によれば、改良型のカテーテルと共に使用するためのインターフェースアダプタが開示される。そのインターフェースアダプタは、改良型のカテーテルと診断装置との間に挿入されるように設計されている。動作中、インターフェースアダプタは、カテーテルの電極から受信された信号を診断装置でサポートされる次元に切り替え、その切り替えられた信号を診断装置に供給してもよい。この切り替えは、改良型のカテーテルに格納されたピン配列マップに基づいて実行されてもよい。インターフェースデバイスは、カテーテルのピン配列マップをそれ自体で取得及び解釈する能力を欠く旧式の診断装置と共に、改良型のカテーテルを使用すること可能にし得る。
本開示の態様によれば、カテーテルが患者の体内に挿入されている間に、改良型のカテーテルから受信された信号をカテーテル内の特定の電極と動的に関連付けるための方法が開示される。この方法は、改良型のカテーテルの電極がカテーテルのコネクタにランダムに接続されており、したがって、どの信号がどの電極から受信されたかが不明である場合にも実行され得る。この方法の利点は、カテーテルを有用にするために、メモリデバイス又は他の追加のハードウェアがカテーテルに組み込まれる必要がないことである。
より具体的には、本方法によれば、カテーテルが患者の体内に挿入されるとき、カテーテルはシース内に収容されてもよい。シースは、疼痛を制限し精度を高めるために使用されるカテーテルよりも直径の大きいプラスチック管であってもよい。カテーテルは、カテーテルを配備することが必要となる場所(例えば、患者の心臓)に到達するまで、シース内に滞在してもよい。この時点で、電極を収容したカテーテルの端部が、その場所に進入するように、シースから摺動されてもよい。電極はカテーテルの端部上に一列に配置されているため、それらは次々にシースから退出する。各電極がシースから退出すると、電極によって生成される信号は、電極が患者の組織と接触する結果として変化する。信号の変化が発生する順序を監視することにより、各信号の発生源である電極が識別され得る。例えば、1番目に変化する信号は、カテーテル上の第1の電極と関連付けられてもよく(先端から数える)、3番目に変化する信号は、カテーテル上の第3の電極と関連付けられてもよい(先端から数える)。
様々なカテーテル及びカテーテルシステムの例について、添付の図面を参照して以下でより詳細に説明されることになる。これらの実施例は相互に排他的ではなく、また、一例で見られる特徴は、付加的な実現形態を達成するために、1つ又は2つ以上の他の例に見られる特徴と組み合わされてもよい。したがって、添付の図面に示される例は、単に説明の目的で提示されたものであり、それらはいかなる様式でも本開示を限定することを意図するものではないことが理解されるであろう。同様の符号は、全体を通して同様の要素を指す。
第1、第2などの用語が、本明細書において、様々な要素を説明するために使用され得るが、これらの要素がそれらの用語によって限定されるべきではないことが理解されるであろう。これらの用語は、1つの要素を別の要素と区別するためにのみ使用される。例えば、本発明の範囲から逸脱することなく、第1の要素が第2の要素と称されてもよく、同様に、第2の要素が第1の要素と称されてもよい。本明細書で使用するとき、「及び/又は」という用語は、関連する列挙された項目のうちの1つ又は2つ以上の任意の組み合わせ及び全ての組み合わせを含む。
層、領域、又は基材などのある要素が、別の要素の「上に」あるか又は別の要素の「上へと」延在すると言及されるとき、その要素は他の要素の直接上にあるか又は他の要素の直接上へと延在してもよく、あるいは介在する要素が更に存在してもよいことが理解されよう。対照的に、ある要素が別の要素の「直接上に」あるか又は別の要素の「直接上へと」延在すると言及されるとき、介在する要素は存在しない。また、ある要素が別の要素に「接続される」又は「連結される」と言及されるとき、その要素は他の要素に直接、接続又は連結されてもよく、あるいは介在する要素が存在してもよいことが理解されよう。対照的に、ある要素が別の要素に「直接、接続されるか」又は「直接、連結される」と言及されるとき、介在する要素は存在しない。これらの用語は、図面に示された任意の向きに加えて、要素の異なる向きを包含するように意図されていることが理解されよう。
「下方」若しくは「上方」、又は「上部」若しくは「下部」、又は「水平」若しくは「垂直」などの相対的な用語は、図に示されるように、1つの要素、層、又は領域と別の要素、層、又は領域との関係を説明するために用いられ得る。これらの用語は、図面に示された向きに加えて、装置の異なる向きを包含するように意図されていることが理解されよう。
図1は、本開示の態様によるシステム100の一例の略図である。システムは、診断装置110と、コネクタ122を介して診断装置に接続するように配置されたカテーテル120と、を含む。診断装置110は、ECGモニタ及び/又はカテーテル120からの信号を受信及び解釈するように配置された任意の他の好適な装置であってよい。カテーテル120は、例えば心臓カテーテルなどの任意の好適なタイプのカテーテルであってよい。カテーテル120は、ハンドル124と、その中に複数の電極を有するシャフト126と、を含んでもよい。操作の際、ハンドル124は、心腔など、カテーテルで検査することが望まれる目的点へと、患者の動脈又は静脈にシャフト126を通すために使用されてもよい。目的点に到達すると、カテーテル内の電極のそれぞれは、後に患者を診断するために用いられる異なる信号を電子デバイスに提供してもよい。信号は、コネクタ122を介して診断装置に送達されてもよい。
診断装置110とカテーテル120が相互運用するためには、それらは両方とも同じインターフェース規格に準拠しなければならない。本開示全体を通して用いられるとき、「インターフェース規格」という用語は、カテーテル上の異なる電極とコネクタ上の異なる接点(例えば、ピン)との間のマッピングの仕様として定義されるものである。換言すれば、コネクタ規格は、異なる電極が接続インターフェース(例えば、コネクタ、コネクタを受容するように配置されたレセプタクルなど)の異なる接点に接続される順序を指定するものであってもよい。例えば、3ピンコネクタのインターフェース規格は、ピン[1]が電極[1]によって生成された信号を搬送し、ピン[2]は電極[2]によって生成された信号を搬送し、ピン[3]は電極[3]によって生成された信号を搬送するものとして指定し得る。容易に理解され得るように、診断装置110とカテーテル120との間の良好な相互運用性のために、同じインターフェース規格への準拠が必須である。図1の例では、カテーテル120は、診断装置110によってサポートされるインターフェース規格に準拠するが、この規格は、カテーテル120が診断装置110のレセプタクル115内に直接プラグ接続されることを可能にするものである。
図2は、本開示の態様によるシステム200の一例の略図である。システム200は、診断装置210とカテーテル220とを含む。カテーテル220は、コネクタ222と、ハンドル224と、シャフト226とを含む。この例におけるカテーテル220は、診断装置210によってサポートされるインターフェース規格には準拠しない。したがって、カテーテル220は、診断装置のレセプタクル215内に直接プラグ接続され得ず、インターフェースアダプタ230の使用を必要とする。
インターフェースアダプタ230は、入力インターフェース232と、出力インターフェース234とを含む。入力インターフェース232は、カテーテル220のコネクタ222を受容するように配置され、出力インターフェース234は、診断装置210のレセプタクル215内にプラグ接続されるように配置される。診断装置210と、カテーテル220と、インターフェースアダプタ230とがこのように接続されると、インターフェースアダプタ230は、カテーテル220と診断装置210とを互いに対応させるために、カテーテル220から受信した信号を、診断装置210によってサポートされるインターフェース標準に適合させる。
図3は、本開示の態様による、カテーテルシャフト310とカテーテルハンドル320とを含むアセンブリ300の略図である。電極312は、図示のように、シャフト310の遠位端部Dの付近に配置されている。電極312のそれぞれは、シャフトを通って延在しかつハンドルの近位端部Pを通ってアセンブリ300から抜け出す、異なる電極ワイヤ322に接続されている。図示されていないが、ハンドルに、ピン配列マップを記憶するためのメモリデバイスが内蔵されてもよい。加えて、いくつかの実施形態では、ハンドルに、コントローラ、スイッチ、及び/又は任意の他の好適な電子構成要素が内蔵されてよい。
図4は、アセンブリ300に接続されるように設計されたコネクタ400の一例の略図である。コネクタ400は、複数の第1の接点410と、1つ又は2つ以上の第2の接点420とを含む。第1の接点410のそれぞれは、異なる電極ワイヤ322に接続されてもよく、第2の接点のいずれかは、ハンドル320に内蔵されたメモリデバイスのうちの少なくとも1つに接続されてもよい。追加的に又は代替的に、いくつかの実施形態では、第2の接点のうちの1つ又は2つ以上が、カテーテルに内蔵されたコントローラ、ハンドル320に内蔵された通信インターフェース(例えば、シリアルインターフェース)などに接続されてもよい。
完成したカテーテルを生産するために、コネクタ400がアセンブリ300に結合されるとき、電極ワイヤ322は、コネクタ400の第1の接点410にはんだ付けされる必要がある。しかしながら、正しい接点にはんだ付けするために、どのワイヤがどのワイヤに由来しているかを発見することは、時間を要するプロセスとなり得る。電極ワイヤ322は非常に細くてもよく(例えば、80マイクロメートル又は40-AWG)、これにより、施設作業者が互いにワイヤを区別することを可能にする方式でそれらを色分けすることが困難となる。これにより、施設作業者は、ワイヤに対する正しい第1の接点410を決定するために、連続性ツールを使用して、各ワイヤが接続されている電極312を識別することが必要となる。場合によっては、電極ワイヤ322を第1の接点410に接続することは、1時間近くを要することがあり、それによって製造コストが増加する。
図5は、カテーテルを製造するための改善されたプロセスに従って生産されるカテーテル500の一例の略図である。このプロセスによれば、電極ワイヤ322のそれぞれは、異なる接点410にランダムに接続されてカテーテル500を形成する。その後、カテーテル500は、各接点410に接続されたそれぞれの電極312を識別するピン配列マップを記憶するために、コンフィギュレーションデバイス600(図6に示される)を使用してプログラムされる。ピン配列マップは、コンフィギュレーションデバイス600によって、カテーテル500のハンドル320内に配設されたメモリデバイスに記憶され、後に、カテーテル500が特定の診断装置に接続されたときに使用され得る。特筆すべきことに、カテーテルのバッチがこのプロセスを使用して製造されるとき、カテーテル電極がカテーテルコネクタの接点に接続される順序は、バッチにわたって異なってもよい。この点に関して、ピン配列マップは、この変動を補償し、バッチ内のカテーテルの正常な動作を確実にする。
いくつかの態様では、コネクタ400(又は別の要素)の接点410に電極をランダムに接続することは、カテーテル500に対していくつかの構造的影響を及ぼし得る。まず、電極をランダムに接続することにより、結果として、電極はコネクタ400(又は別の要素)に非標準的な順序で接続されることになり得る。例えば、非標準的な順序とは、カテーテルを利用することを意図された診断装置によってサポートされ得る任意の特定のインターフェース規格に準拠しない順序であり得る。別の例として、非標準的な順序とは、任意の特定の業界全体の及び/又は製造業者特有のインターフェース規格に準拠しない順序であり得る。上述したように、任意のインターフェース規格により、特定の電極からの信号が診断装置の入力チャネル上に配されることが必要となる順序が指定される。信号がその順に配されない限り、装置は、この信号の識別情報を知ることができず、正しく動作することができない。したがって、電極がコネクタの接点(及び/又はスイッチなどの別の構成要素)にランダムに接続されたカテーテルは、カテーテルに追加の特徴部が設けられない限り、適切に機能することができない場合がある。第2に、電極をランダムに接続することは、カテーテルのピン配列マップを記憶するメモリデバイスをカテーテル上に設けることを必要とし得る。上記のように、ピン配列マップは、各電極が接続されている接点を識別し、それによってカテーテルを標準的な医療機器と共に使用することを可能にし得るものである。
図6は、コンフィギュレーションデバイス600を使用することによってカテーテル500をプログラミングするためのプロセスを示す略図である。このプロセスによれば、シャフト310の遠位端部Dは、レセプタクル610の中へと挿入され、コネクタ400はレセプタクル620の中へと挿入される。その後、コンフィギュレーションデバイスは、電極312と接点410との間の接続性を判定するために、カテーテル上で一連の試験を実行する。一連の試験が完了すると、発光ダイオード(LED)630は緑色に変化して、コンフィギュレーションデバイス600を操作しているプラント作業者に、試験シーケンスが完了したことを知らせる。その後、ボタン640が押されると、ピン配列マップが生成され、カテーテル500内(例えば、カテーテルのハンドル内など)に組み込まれたメモリデバイスに記憶される。
図7は、コンフィギュレーションデバイス600によって生成されるピン配列マップ700の一例の略図である。図示のように、ピン配列マップ700は、複数のマッピング710を含む。各マッピング710は、電極312のうちの異なる1つと関連付けられている。更に、各マッピング710は、そのマッピングのそれぞれの電極に接続されたコネクタ400上の接点410を識別する。本例では、ピン配列マップ700は表の形式で表されているが、ピン配列マップ700は、電極312のうちのそれぞれ1つに接続されているそれぞれの接点410を識別することが可能な任意の好適な種類のデータ構造であってもよいことが理解されるであろう。更に、図7の例では、各マッピング710は表の行として表されているが、マッピング710のいずれもが、番号、文字、特殊文字、英数字の文字列、並びに/又は、電極及びその電極が接続されている接点を識別することが可能な任意の他の好適な種類のデータ構造を含んでもよいことが理解されるであろう。
図8は、カテーテル500にプログラミングするために使用され得るコンフィギュレーションデバイス800の概略図である。コンフィギュレーションデバイス800は、コンフィギュレーションデバイス600と同じか又は同様であってもよい。コンフィギュレーションデバイス800は、プロセッサ810と、シャフトレセプタクル820と、コネクタレセプタクル830と、入力デバイス840と、出力デバイス850と、を含み得る。プロセッサ810は、例えば、汎用プロセッサ(例えば、ARMベースのプロセッサ)、特定用途向け集積回路(ASIC)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、複合プログラマブル論理デバイス(CPLD)、又はマイクロコントローラのうちの1つ又は2つ以上などの任意の好適な種類の処理回路を含んでよい。シャフトレセプタクル820は、カテーテルシャフト310の遠位端部Dを受容するように配置された任意の好適な種類のレセプタクルであってよい。コネクタレセプタクル830は、コネクタ400に連結されるように配置された任意の好適な種類のコネクタであってよい。入力デバイス840は、ボタン、マイクロフォン、キーボード、タッチスクリーン、及び/又は任意の他の好適な種類の入力デバイスのうちの1つ又は2つ以上を含んでよい。出力デバイス850は、ディスプレイ、スピーカ、プリンタ、及び/又は任意の他の好適な種類の出力デバイスのうちの1つ又は2つ以上を含んでよい。
図9は、本開示の態様による、シャフトレセプタクル900の一例を示す概略図である。この例によれば、シャフトレセプタクル900は、複数のばね荷重式接点912を有する接点コーム910を含む。ばね荷重式接点912は、図示のように、シャフト310がシャフトレセプタクル900内に挿入されると、電極312と接触するように配置される。スイッチ920は、プロセッサ810によって少なくとも部分的に生成される制御信号CTRLを介して、プロセッサ810によって選択された接点912のうちの1つに電圧信号Vをルーティングするように構成されている。例えば、第1の制御信号がプロセッサ810によってスイッチ920に供給されると、スイッチ920は信号Vを第1の接点912にルーティングしてもよい。別の例として、第2の制御信号がプロセッサ810によってスイッチ920に供給されると、スイッチ920は信号Vを第2の接点912にルーティングしてもよい。更に別の例として、第3の制御信号がプロセッサ810によってスイッチ920に供給されると、スイッチ920は信号Vを第3の接点912にルーティングしてもよい。この点に関して言えば、スイッチ920を使用することによって、プロセッサ810は、電極312のそれぞれに個別に信号を印加して、その電極に接続された電極ワイヤ322を識別してもよい。
図10は、シャフトレセプタクル900を使用することによってカテーテル500のピン配列マップを生成するためのプロセス1000の一例のフローチャートである。このプロセスは、シャフトレセプタクル900が配備されるコンフィギュレーションデバイス600及び800のうちの1つなど、任意の好適なコンフィギュレーションデバイスによって実行されてよい。
工程1005において、カテーテル500は、シャフト310をシャフトレセプタクル900の中へと挿入し、コンフィギュレーションデバイス内に存在するコネクタレセプタクル内にカテーテル500のコネクタ400をプラグ接続することによって、コンフィギュレーションデバイスに接続される。
工程1010において、まだ選択されていないカテーテル500の電極312が選択される。工程1015において、試験信号が、試験されていない電極に印加される。信号は、例えば、電圧信号又は電流信号など、任意の好適な種類の信号であってもよい。
工程1020において、選択された電極に接続されているワイヤ322が、別のワイヤと切断及び/又は短絡されているかどうかを判定するために、エラーチェックが実行される。エラーチェックを実行することは、試験信号がコネクタ400の接点410のうちの2つ以上に出力されているかどうかを検出することを含み得る。追加的に又は代替的に、エラーチェックを実行することは、印加された信号が接点410のうちのいずれにも出力されていないかどうかを検出することを含んでもよい。
工程1025において、エラーが検出されたことに応じて、エラーの指示が出力デバイスを介して出力される。例えば、出力デバイスがLEDである場合、出力デバイスは赤色光を発することができる。しかしながら、エラーメッセージを出力することが、音を出力すること、テキストメッセージを出力すること、画像を出力することなどを含む、代替的な実現形態も考えられる。エラーが検出されない場合、プロセスは工程1030に進む。
工程1030において、ワイヤ322のうちの1つを介して選択された電極312に接続されたそれぞれの接点410が識別される。それぞれの接点410は、それぞれの接点上で試験信号が出力されたことを検出することに基づいて識別されてもよい。例えば、試験信号が電圧信号である場合、接点410は、試験信号が選択された電極に印加されている間に接点410のそれぞれにおける電圧を決定し、その電圧が選択された電極に印加された電圧と実質的に同じ(又は所定の距離内)である接点410を識別することによって選択されてもよい。
工程1035において、選択された電極を、その電極が接続される接点410と関連付けるマッピング710が生成される。上記のように、マッピングは、選択された電極が工程1025で特定された接点に接続されていることを示す任意の好適な種類の番号、英数字の文字列、データプリミティブ、及び/又はデータ構造を含んでもよい。
工程1040において、まだ試験されていない電極312がカテーテル500内に残存しているかどうかが判定される。残存する場合、工程1010~1035が残りの電極のそれぞれに対して繰り返される。そうでない場合、プロセスは工程1045に進む。
工程1045において、工程1010~1035の1回又は2回以上の前の繰り返しの間に生成されたマッピングのそれぞれを含むピン配列マップが生成される。いくつかの実現形態では、ピン配列マップを生成することは、ステップ1035で生成された各マッピングを同じデータ構造内にカプセル化することを含み得る。
工程1050において、生成されたピン配列マップは、カテーテル500に組み込まれたメモリデバイスに記憶される。
本例では、電極が接続されている接点410を決定するために各電極312が個別に試験されるが、そのプロセスが反転される代替的な実現形態も考えられる。そのような例では、信号が出力されるそれぞれの電極を決定するために、各接点410に1つずつ信号が印加されてもよい。同様に、接点が2つ以上の電極312に(短絡によって)接続されているか、あるいは(断線によって)どの電極312にも接続されていないかを判定するために、信号が所与の接点に印加されるたびに、エラーチェックが実行されてもよい。エラーチェックを実行することは、印加された信号が複数の電極312に出現するかどうかを判定すること、又は印加された信号が電極312のうちのいずれにも出現しないかを判定することのうちの少なくとも一方を含んでもよい。
図11は、本開示の態様による、シャフトレセプタクル1100の一例を示す概略図である。この例では、接点コーム910は、図示のように抵抗構造体1110で置き換えられている。いくつかの実現形態では、抵抗構造体1110は、グラファイト、ポリアニリン、又はPEDOTなどの材料から作製された長い抵抗器であってもよい。シャフト310がシャフトレセプタクル820に挿入されると、各電極312は、異なる位置で抵抗構造体1110と接触し得る。結果として、各電極312に印加される電圧は、電極と、電圧が印加される抵抗構造体1110の端部との間の距離に比例し得る。具体的に言えば、最も高い電圧は、端部に最も近い電極312に印加され得るのに対し、最も低い電圧は、端部から最も遠い電極に印加され得る。本例において抵抗構造体1110は単一の抵抗器を含んでいるが、複数の抵抗器が使用される代替的な実現形態も考えられる。例えば、いくつかの実現形態では、抵抗構造体は、一連の抵抗器であってもよく、それにより、シャフト310がレセプタクル1100内に挿入されるとき、各電極312が、接合部に設置されたレセプタクル接点を介して、直列の2つの隣接する抵抗器間の異なる接合部に結合される。
図12は、本開示の態様による、シャフトレセプタクル1100を使用することによって、カテーテル500のピン配列マップを生成するためのプロセス1200の一例のフローチャートである。このプロセス1200は、シャフトレセプタクル1100が配備されるコンフィギュレーションデバイス600及び800のうちの1つなどのコンフィギュレーションデバイスによって実行されてよい。
工程1210において、カテーテル500は、シャフト310をシャフトレセプタクル1100の中へと挿入し、コンフィギュレーションデバイス内に存在するコネクタレセプタクル内にカテーテル500のコネクタ400をプラグ接続することによって、コンフィギュレーションデバイスに接続される。
工程1220において、電極312がカテーテル500のシャフト310上に配置される順序の指示が取得される。いくつかの実現形態では、指示を取得することは、コンフィギュレーションデバイスのメモリから指示を取り出すことを含み得る。追加的に又は代替的に、指示を取得することは、カテーテル500又は別のデバイスから指示を取り出すことを含み得る。
いくつかの実現形態において、この指示は、識別子のセットを含んでもよい。図11に示すように、各識別子は、異なる数を含んでもよい。更に、図11に示すように、各識別子は、異なる電極に対応してもよい。所与の電極の識別子よりも小さい識別子を有する全ての電極は、所与の電極と比べて、シャフト310の遠位端部により近接して配置されてもよい。同様に、所与の電極よりも大きい識別子を有する全ての電極は、所与の電極と比べて、シャフト310の遠位端部Dから更に離れて配置されてもよい。簡潔に述べると、いくつかの実現形態において、シャフト310上の所与の電極312の位置は、電極を参照するために使用される識別子に暗黙的に又は明示的に指定されてよい。
追加的に又は代替的に、いくつかの実現形態において、この指示は、電極識別子の順序付けられたリストを含んでもよい。リスト内の各識別子は、異なる電極に対応してもよい。リスト内の各識別子の位置は、シャフト310上の識別子の電極312の位置に対応し得る。例えば、所与の電極312がシャフト310の遠位端部Dに近くなるほど、電極の識別子はリストの先頭により近くなり得る。
工程1230において、シャフトレセプタクル1100の一部である抵抗構造体1110に電圧が印加される。工程1240において、接点410のそれぞれにおけるそれぞれの信号出力が検出される。より具体的には、いくつかの実現形態では、工程1230~1240において、接点410のそれぞれにおける電圧が測定されている間に、抵抗要素1110に電圧が印加されてもよい。容易に理解され得るように、工程1230~1240は、電極312のそれぞれが接続されているそれぞれの接点410を識別するために実行されてもよい。
工程1250において、電極312のそれぞれは、電極がシャフト310上に配置されている順序の指示、及び各接点410で測定された出力信号の相対的な大きさに基づいて、異なる接点410と関連付けられる。その結果、各電極312は、電極312がワイヤ322のうちの1つを介して接続されるそれぞれの接点410と関連付けられてもよい。いくつかの実現形態では、工程1250において、各電極312に対し、電極312が接続されているそれぞれの接点410を識別する異なるマッピングが生成されてもよい。
いくつかの実現形態では、各電極312は、異なる接点410と関連付けられてもよい。追加的に又は代替的に、各電極312は、シャフト310上のその電極312の位置と相応する電圧が測定される接点410と関連付けられてもよい。その結果、シャフト310の遠位端部Dにn番目に近い各電極312は、n番目に低い電圧が測定される接点410と関連付けられてもよく、ここでnは正の整数である。したがって、遠位端部Dに最も近い電極312は、工程1240において最低の電圧が測定される電極と関連付けられてもよく、遠位端部Dから最も遠い電極312は、最も高い電圧が測定される接点410と関連付けられてもよい。
工程1260において、電極312の各々(又は少なくとも一部)のそれぞれのマッピングを含むピン配列マップが生成される。工程1270において、ピン配列マップは、カテーテル500に組み込まれたメモリデバイスに記憶される。
図13Aは、本開示の態様によるシステム1300の一例の略図である。システム1300は、図2に示されるシステム200と同じか又は同様であってもよい。より具体的には、システム1300は、インターフェースアダプタ1330を介してカテーテル1320に接続される診断装置1310を含んでもよい。
診断装置1310は、診断カテーテルを使用して生成される1つ又は2つ以上の信号を受信及び/又は解釈するように配置された任意の好適な種類の装置を含み得る。診断装置1310は、例えば、カテーテル位置のX、Y、又はZ座標を計算するECGモニタ又は3Dナビゲーションシステムを含んでもよい。カテーテル1320は、Biosense Webster NAVISTAR(登録商標)THERMOCOOL(登録商標)、Biosense Webster LASSO(登録商標)、Biosense DECARAY(登録商標)カテーテルなどの任意の好適な種類の診断カテーテルであってよい。インターフェースアダプタ1330は、カテーテルから受信された信号が診断装置1310の異なる入力チャネル上に提供される順序を変更することにより、カテーテル1320の異なる電極(及び他の特徴部)へのアクセスを可能にするために、診断装置1310と共に容易に機能するプラグアンドプレイアダプタを含んでもよい。
いくつかの実現形態では、カテーテル1320は、図5に示されるカテーテル500と同じか又は同様であってよい。カテーテル1320は、コネクタ1322と、複数の電極1324と、メモリ1326と、を含んでもよい。コネクタ1322は、複数の接点を含んでもよい。各接点は、異なるワイヤ(図示せず)を介して複数の電極1324のうちの異なる1つにランダムに結合されてよい。メモリ1326は、例えば、EEPROM、フラッシュドライブ、又はソリッドステートドライブなどの任意の好適な種類の不揮発性メモリを含んでよい。メモリ1335は、カテーテル1320のハンドル(図示せず)内に配設されても、カテーテル1320の任意の他の部分内に配設されてもよい。メモリ1335には、各接点が接続されているそれぞれの電極を識別するピン配列マップ1328が記憶されてもよい。
いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1328は、図7に示すピン配列マップ700と同じか又は同様であってもよい。いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1328は、コネクタ1322を介して(診断装置1310によって)メモリ1326から取り出し可能であってもよい。そのような例では、診断装置にピン配列マップ1328を提供するだけでなく、診断装置1310に電極1324からの信号を供給するためにも、同じインターフェース(例えば、コネクタ1322)が使用され得る。追加的に又は代替的に、いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1328は、コネクタ1322とは別個のインターフェースを介してメモリ1326から取り出し可能であってもよい。追加的に又は代替的に、いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1328は、図8~図12のいずれかに関して論じられた方式で生成されてもよい。
インターフェースアダプタ1330は、スイッチ1331と、入力インターフェース1332と、出力インターフェース1333と、プロセッサ1334と、メモリ1335と、を含んでもよい。プロセッサ1334は、スイッチ1331、入力インターフェース1332、出力インターフェース1333、及びメモリ1335のいずれかに動作可能に連結されてもよい。
スイッチ1331は、複数の電気経路のそれぞれを開閉することが可能である電子部品及び/又は回路であってもよい。本例では、スイッチ1331は、複数の入力チャネルと、複数の出力チャネルとを含む。入力チャネルのそれぞれは、スイッチ1331によってプロセッサ1334から受信される1つ又は2つ以上の制御信号に基づいて、スイッチ1331によって、出力チャネルのいずれかに選択的に接続され得る。
入力インターフェース1332は、任意の好適な種類のコネクタ又はコネクタレセプタクルであってもよい。本例では、入力インターフェース1332は、コネクタ1322と嵌合するように配置されたコネクタレセプタクルであってもよい。入力インターフェース1332は、複数の接点を含んでもよい。これらの接点のそれぞれは、コネクタ1322が入力インターフェース1332内に挿入されると、コネクタ1322内の接点の異なる1つに接続し得る。更に、入力インターフェース1332内の接点のそれぞれは、スイッチ1331の異なる入力チャネルに接続されてもよい。
出力インターフェース1333は、任意の好適な種類のコネクタ又はコネクタレセプタクルであってもよい。本例では、出力インターフェース1333は、診断装置1310上のコネクタレセプタクルと嵌合するように配置されたコネクタを含む。出力インターフェース1333は、複数の接点を含んでもよい。これらの接点のそれぞれは、インターフェースアダプタ1330が診断装置1310に接続されているときに診断装置1310(図示せず)の入力インターフェースの異なる接点に接続してもよい。更に、出力インターフェース1333内の接点のそれぞれは、スイッチ1331の異なる出力チャネルに接続されてもよい。
プロセッサ1334は、汎用プロセッサ(例えば、ARMベースのプロセッサ)、特定用途向け集積回路(ASIC)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、複合プログラマブル論理デバイス(CPLD)、及び/又はその入力チャネルのうちの異なる1つとそれぞれの出力チャネルとの間の複数の電気経路をスイッチが閉鎖するようにさせることが可能な任意の他の回路のうちの1つ又は2つ以上を含んでもよい。
メモリ1335は、任意の好適な種類の揮発性及び/又は不揮発性記憶装置を含み得る。本開示の態様によれば、メモリ1335は、例えば、EEPROMメモリ、ランダムアクセスメモリ(RAM)、フラッシュメモリ、及び読み出し専用メモリのうちの1つ又は2つ以上を含み得る。システム1300の動作中、メモリ1335は、ピン配列マップ1328、ピン配列マップ1336、及びスイッチコンフィギュレーションマップ1337のうちの1つ又は2つ以上を記憶してもよい。いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1328は、例えば、インターフェースアダプタ1330へのカテーテル1320の接続に続いてカテーテル1320から取り出された後に、メモリ1335内に配置され得る。
図13B~図13Cは、本開示の態様による、ピン配列マップ1328、ピン配列マップ1336、及びスイッチコンフィギュレーションマップ1337の例を示す略図である。本実施例では、マップ1328、1336、及び1337のそれぞれは表をなす。しかしながら、マップ1328、1336、及び1337のそれぞれが別の種類のデータ構造として実装され得る代替的な実現形態も考えられる。
ピン配列マップ1328は、電極1324がコネクタ1322の接点に接続される順序を指定する。ピン配列マップ1328は、複数のマッピング1328aを含む。各マッピング1328aは、電極1324のうちの1つの識別子と、電極が接続されるコネクタ1322内のそれぞれの接点の識別子と、を含む。いくつかの実現形態では、電極1324のうちのいずれかの識別子は、その電極の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、電極のうちのいずれかの識別子は、電極によって生成される信号の種類の指示、電極の種類の指示、カテーテル1320のシャフト上の電極の位置の指示などを含み得る。いくつかの実現形態では、コネクタ1322の接点のうちのいずれかの識別子は、特定の接点の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、接点のうちのいずれかの識別子は、その接点と関連付けられた出力チャネルの指示、ピン番号などを含み得る。ピン配列マップ1328が、ピン配列マップ1336及びスイッチコンフィギュレーションマップ1337にどのように関連するかを、図13Bにおいて、コネクタ1322内の各接点の識別子によって、括弧内に示すために、カテーテル1320がインターフェースデバイス1330に連結されたときに、コネクタ1322の接点に接続されている入力インターフェース1332の接点が識別される。
ピン配列マップ1336は、診断装置1310によってサポートされるインターフェース規格を指定する。より具体的には、ピン配列マップは、診断装置1310が診断の目的で信号を用いることが可能となるように、インターフェースアダプタ1330の出力インターフェース1333に連結される、診断装置1310の入力インターフェース(図示せず)の異なる接点に、電極1324からの信号が印加されることが必要となる順序を指定し得る。本例では、ピン配列マップ1336は複数のマッピング1336aを含む。各マッピング1336aは、電極1324のうちの1つの識別子と、インターフェースアダプタ1330が診断装置1310によってサポートされるインターフェース規格に準拠するために電極が接続される必要がある、出力インターフェース1333内のそれぞれの接点の識別子とを含む。ピン配列マップ1336が、ピン配列マップ1328及びスイッチコンフィギュレーションマップ1337にどのように関連するかを、図13Bにおいて、診断装置1310の入力インターフェース内の各接点の識別子の下で、括弧内で示すために、インターフェースデバイス1330が診断装置1310に連結されているときに、診断装置1310の接点に連結されている出力インターフェース1333の接点が識別される。
いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1336の各マッピング1336aにおける電極1324のうちのいずれかの識別子は、その電極の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、電極のうちのいずれかの識別子は、電極によって生成される信号の種類、電極の種類の指示、カテーテル1320のシャフト上の電極の位置の指示などを含み得る。いくつかの実現形態では、診断装置1310の接点の各々の識別子は、その接点の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、接点のうちのいずれかの識別子は、接点と関連付けられる診断装置1310の入力チャネル、接点と関連付けられる出力チャネル(例えば、カテーテル又はインターフェースアダプタ)、インターフェースアダプタ1330の出力インターフェース1333内の接点の指示、診断装置1310の第1の入力ピンに対応するピン番号、インターフェースアダプタ1330が診断装置1310に接続されたときに、第1の入力ピンと接触する出力インターフェース1333の第2の出力ピンに対応するピン番号などを含み得る。
スイッチコンフィギュレーションマップ1337は、ピン配列マップ1336によって指定された順序で、電極1324からの信号が出力インターフェース1333上に出力されるためにスイッチ1331が移行する必要がある状態を指定する。より具体的には、スイッチコンフィギュレーションマップ1337は、ピン配列マップ1336によって電極に対して(暗黙的又は明示的に)指定される出力インターフェース1333内の異なる接点へと、電極1324の各々からの信号をルーティングするようにスイッチが動作可能である、スイッチ1331の状態を指定する。
スイッチコンフィギュレーションマップ1337は、複数のマッピング1337aを含む。各マッピング1337aは、スイッチ1331の入力チャネルの識別子と、入力チャネルがスイッチ1331によって接続される必要があるスイッチ1331の出力チャネルの識別子とを含む。以下で更に説明するように、スイッチコンフィギュレーションマップ1337は、ピン配列マップ1328及びピン配列マップ1336のうちの少なくとも一方に基づいて、プロセッサ1334によって生成されてもよい。プロセッサ1334は、ピン配列マップ1336によって電極に対して(暗黙的又は明示的に)指定される出力インターフェース1333内の接点へと各電極1324からの信号をルーティングするために、スイッチコンフィギュレーションマップ1337に従ってスイッチ1331を構成してもよい。より具体的には、プロセッサ1334は、スイッチコンフィギュレーションマップ1337に基づいて、スイッチ1331に1つ又は2つ以上の制御信号を生成及び提供することができ、このスイッチコンフィギュレーションマップは、スイッチ1331によって受信されたとき、スイッチが入力チャネルの各々を、スイッチコンフィギュレーションマップ1337によって識別されたそれぞれの出力チャネルと接続させるようにするものである。
図14は、本開示の態様による、インターフェースアダプタ1330によって実行されるプロセス1400の一例のフローチャートである。
工程1410において、プロセッサ1334は、インターフェースアダプタ1330が入力インターフェース1332を介してカテーテル1320に接続されていることを検出する。工程1420において、カテーテル1320との接続を検出したことに応答して、プロセッサ1334は、メモリ1326からピン配列マップ1336を取り出す。ピン配列マップ1336は、カテーテル1320のコネクタ1322を使用して取り出され得る。しかしながら、ピン配列マップ1336が無線インターフェース又は別の有線インターフェースを介して取り出される代替的な実現形態も考えられる。
工程1430において、プロセッサ1334は、インターフェースアダプタ1330が出力インターフェース1333を介して診断装置に接続されていることを検出する。工程1440において、インターフェースアダプタ1330は、診断装置1310からピン配列マップ1336を取り出す。本例では、ピン配列マップ1336は診断装置1310から取り出されるが、ピン配列マップ1336がメモリ1335に予め記憶されている代替的な実現形態も考えられる。
工程1450において、プロセッサ1334は、ピン配列マップ1328及びピン配列マップ1336のうちの少なくとも一方に基づいて、スイッチコンフィギュレーションマップ1337を生成する。いくつかの実現形態では、スイッチコンフィギュレーションマップ1337は、ピン配列マップ1328をピン配列マップ1336と相互参照することによって生成されてもよい。いくつかの実現形態では、この相互参照は、インターフェースアダプタ1330が診断装置1310に連結されているときに診断装置1310の入力接点がスイッチ1331の出力チャネルに接続される順序を示す付加的なデータ構造を使用することによって実行されてもよい。より具体的には、いくつかの実現形態において、ピン配列マップを生成することは、カテーテル1320内の各電極1324に対して以下のタスク、すなわち、(a)電極が接続されているコネクタ1322内の第1の接点を識別すること、(b)第1の接点が接続されているスイッチ1331の入力チャネルを識別すること、(c)電極が接続される必要がある出力インターフェース1333内の第2の接点を識別すること、(d)出力インターフェース1333内の第2の接点に接続されているスイッチ1331の出力チャネルを識別すること、(e)スイッチ1331の識別された入力チャネルをスイッチ1331の識別された出力チャネルと関連付けるマッピング1337aを作成すること、及び(f)そのマッピングをスイッチコンフィギュレーションマップ1337に含めること、を実行することを含んでもよい。
工程1460において、プロセッサ1334は、スイッチコンフィギュレーションマップ1337に従ってスイッチ1331を構成する。より具体的には、インターフェースアダプタ1330は、スイッチ1331が、スイッチ1331内の各出力チャネルを、スイッチコンフィギュレーションマップ1337によって識別されるスイッチ1331の異なる入力チャネルに接続するようにさせる。いくつかの実現形態では、スイッチを構成することは、スイッチコンフィギュレーションマップ1337内のマッピング1337aのそれぞれ1つに対して一度、以下のタスク、すなわち、(a)マッピングによって指示された入力チャネルを識別すること、(b)マッピングによって指示された出力チャネルを識別すること、及び(c)スイッチが識別された出力チャネルを識別された入力チャネルに接続するようにさせる制御信号をスイッチ1331に送信すること、を実行することを含んでもよい。
プロセス1400は、単に例として提示されたものである。本例では、スイッチコンフィギュレーションマップはスイッチを再構成するために使用されるが、スイッチコンフィギュレーションマップが生成されないか又は使用されない代替的な実現形態も考えられる。そのような例では、スイッチ1331の入力チャネルは、ピン配列マップ1328及びピン配列マップ1336のうちの少なくとも一方に基づいて、対応する出力チャネルに1対1で接続されてもよい。
図15Aは、本開示の態様によるシステム1500の一例の略図である。システム1500は、診断装置1510とカテーテル1520とを含んでもよい。診断装置1510は、診断カテーテルを使用して生成される1つ又は2つ以上の信号を受信及び/又は解釈するように配置された任意の好適な種類の装置を含み得る。診断装置1510は、ECGモニタ、又はカテーテル位置のX、Y、若しくはZ座標を計算する3Dナビゲーションシステムを含んでもよい。カテーテル1520は、Biosense Webster NAVISTAR(登録商標)THERMOCOOL(登録商標)、Biosense Webster LASSO(登録商標)、Biosense DECARAY(登録商標)カテーテルなどの任意の好適な種類の診断カテーテルであってよい。いくつかの実現形態では、カテーテル1320は、図5に示されるカテーテル500と同じか又は同様であってよい。
カテーテル1520は、スイッチ1521と、複数の電極1522と、コネクタ1523と、プロセッサ1524と、メモリ1525と、を含んでもよい。プロセッサ1524は、スイッチ1521、コネクタ1523、及びメモリ1525のいずれかに動作可能に連結されてもよい。
スイッチ1521は、複数の電気経路のそれぞれを開閉することが可能である電子部品及び/又は回路であってもよい。本例では、スイッチ1521は、複数の入力チャネルと、複数の出力チャネルとを含む。入力チャネルのそれぞれは、1本又は2本以上のワイヤ(図示せず)を介して異なる電極1522に接続されてもよい。更に、入力チャネルのそれぞれは、プロセッサ1524から受信される1つ又は2つ以上の制御信号に基づいて、スイッチ1521によって、出力チャネルのいずれかに選択的に接続され得る。
コネクタ1523は、任意の好適な種類のコネクタを含んでよい。いくつかの実現形態では、コネクタ1523は、図4に関して論じられるコネクタ400と同じか又は同様であってもよい。追加的に又は代替的に、コネクタ1523は、複数の接点を含んでもよい。接点は、コネクタ400の接点410と同じか又は同様であってもよい。接点のそれぞれは、スイッチ1521の異なる出力チャネルに接続されてもよい。本例では、コネクタがカテーテル1520の出力インターフェースとして使用されるが、レセプタクル又は無線出力インターフェースなどの別の種類の出力インターフェースが使用される代替的な実現形態も考えられる。
プロセッサ1524は、汎用プロセッサ(例えば、ARMベースのプロセッサ)、特定用途向け集積回路(ASIC)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、複合プログラマブル論理デバイス(CPLD)、及び/又はその入力チャネルのうちの異なる1つとそれぞれの出力チャネルとの間の複数の電気経路をスイッチが閉鎖するようにさせることが可能な任意の他の回路のうちの1つ又は2つ以上を含んでもよい。
メモリ1525は、任意の好適な種類の揮発性及び/又は不揮発性記憶装置を含み得る。本開示の態様によれば、メモリ1525は、例えば、EEPROMメモリ、ランダムアクセスメモリ(RAM)、フラッシュメモリ、及び読み出し専用メモリのうちの1つ又は2つ以上を含み得る。いくつかの実現形態において、メモリ1525は、ピン配列マップ1526、ピン配列マップ1527、及びスイッチコンフィギュレーションマップ1528のうちの1つ又は2つ以上を記憶してもよい。
図15B~図15Cは、ピン配列マップ1526、ピン配列マップ1527、及びスイッチコンフィギュレーションマップ1528の例を示す。本実施例では、マップ1526、1527、及び1528のそれぞれは表をなす。しかしながら、マップ1526、1527、及び1528のそれぞれが別の種類のデータ構造として実装され得る代替的な実現形態も考えられる。
ピン配列マップ1526は、電極1324がスイッチ1521の入力チャネルに接続される順序を指定してもよい。ピン配列マップ1526は、複数のマッピング1526aを含んでもよい。各マッピング1526aは、電極1522のうちの1つを識別し、電極が接続されているスイッチ1521(又はカテーテル1520の別の要素)の入力チャネルを指示し得る。いくつかの実現形態では、電極1522のうちのいずれかの識別子は、その電極の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、電極のうちのいずれかの識別子は、電極によって生成される信号の種類の指示、電極の種類の指示、カテーテル1520のシャフト上の電極の位置の指示などを含み得る。いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1526は、図1~図12に関連して議論された方式で、生成されメモリ1525に記憶され得る。
ピン配列マップ1527は、診断装置1510によってサポートされるインターフェース規格を指定する。より具体的には、ピン配列マップ1527は、診断装置1510が診断の目的で信号を用いることが可能となるように、コネクタ1523に連結される、診断装置1510の入力インターフェース(図示せず)の異なる接点に、電極1522からの信号が印加されることが必要となる順序を指定し得る。本例では、ピン配列マップ1527は複数のマッピング1527aを含む。各マッピング1527aは、電極1522のうちの1つを識別し、電極からの信号を出力する必要がある診断装置1510(図示せず)の入力インターフェース内の接点のうちの1つを指示し得る。ピン配列マップ1527が、ピン配列マップ1526及びスイッチコンフィギュレーションマップ1528にどのように関連するかを、図15Cにおいて、診断装置1510の入力インターフェース内の各接点の識別子の下で、括弧内で示すために、カテーテル1520が診断装置1510に連結されているときに、診断装置1510の接点に連結されているカテーテル1520のコネクタ1523の接点が識別される。
いくつかの実現形態では、ピン配列マップ1527の各マッピング1527aにおける電極1522の各々の識別子は、その電極の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、電極のいずれかの識別子は、電極によって生成される信号の種類の指示、電極の種類の指示、カテーテル1520のシャフト上の電極の位置の指示などを含み得る。いくつかの実現形態では、診断装置1510の接点入力インターフェースのいずれかの識別子は、接点の識別情報を暗黙的又は明示的に示す1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、接点のうちのいずれかの識別子は、接点と関連付けられるカテーテル1520の出力チャネルの指示、診断装置1310の入力チャネルの指示、診断装置1310の入力チャネルの指示、診断装置1510の第1の入力ピンに対応するピン番号、コネクタ1523が診断装置1510に接続されたときに第1の入力ピンと接触するコネクタ1523の第2の出力ピンに対応するピン番号などを含み得る。
スイッチコンフィギュレーションマップ1528は、ピン配列マップ1527によって指定された順序で、電極からの信号がコネクタ1523によって出力されるためにスイッチ1521が移行する必要がある状態を指定する。より具体的には、スイッチコンフィギュレーションマップ1528は、ピン配列マップ1527によって指定されるコネクタ1523内の異なる接点へと、電極1522の各々からの信号をルーティングするようにスイッチが動作可能である、スイッチ1521の状態を指定する。本例では、スイッチコンフィギュレーションマップ1528は複数のマッピング1528aを含む。各マッピング1528aは、スイッチ1531の入力チャネル、及びその入力チャネルが接続される必要があるスイッチ1531のそれぞれの出力チャネルを識別する。
図16は、本開示の態様による、カテーテル1520によって実行されるプロセス1600の一例のフローチャートである。
工程1610において、プロセッサ1524は、カテーテル1520と診断装置1510との間に接続が確立されていることを検出する。いくつかの実現形態において、接続は、コネクタ1523が診断装置1510にプラグ接続された結果として確立されてもよい。
工程1620において、プロセッサ1524は、診断装置1510からピン配列マップ1527を取り出す。本例では、ピン配列マップ1527は診断装置1510から取り出されるが、ピン配列マップ1527がメモリ1525に予め記憶されている代替的な実現形態も考えられる。
工程1630において、プロセッサ1524は、ピン配列マップ1526及びピン配列マップ1527のうちの少なくとも一方に基づいて、スイッチコンフィギュレーションマップ1528を生成する。いくつかの実現形態では、スイッチコンフィギュレーションマップ1528は、ピン配列マップ1526をピン配列マップ1527と相互参照することによって生成されてもよい。いくつかの実現形態では、この相互参照は、カテーテル1520が診断装置1510に連結されているときに診断装置1510の入力接点がスイッチ1521の出力チャネルに接続される順序を示す付加的なデータ構造を使用することによって実行されてもよい。より具体的には、いくつかの実現形態において、ピン配列マップを生成することは、カテーテル1520内の各電極1522に対して一度、以下のタスク、すなわち、(a)電極が接続されているスイッチ1521の入力チャネルを識別すること、(b)電極が接続される必要があるコネクタ1523内の接点を識別すること、(d)第2の接点に接続されているスイッチ1521の出力チャネルを識別すること、(e)スイッチ1521の識別された入力チャネルをスイッチ1521の識別された出力チャネルと関連付けるマッピング1528aを作成すること、及び(f)そのマッピングをスイッチコンフィギュレーションマップ1528に含めることと、を実行することを含んでもよい。
工程1640において、プロセッサ1524は、スイッチコンフィギュレーションマップ1528に従ってスイッチ1521を構成する。より具体的には、プロセッサ1524は、スイッチ1521が、その各出力チャネルを、スイッチコンフィギュレーションマップ1528によって識別されるスイッチ1521の異なる入力チャネルに接続するようにさせてもよい。いくつかの実現形態では、スイッチを構成することは、スイッチコンフィギュレーションマップ1528内の各マッピング1528aに対して一度、以下のタスク、すなわち、(a)マッピングによって指示されたスイッチ1521の入力チャネルを識別すること、(b)マッピングによって指示された出力チャネルを識別すること、及び(c)スイッチ1521が識別された出力チャネルを識別された入力チャネルに接続するようにさせる制御信号をスイッチ1521に送信すること、を実行することを含んでもよい。
プロセス1600は、単に例として提示されたものである。本例では、スイッチコンフィギュレーションマップはスイッチを再構成するために使用されるが、スイッチコンフィギュレーションマップが生成されない代替的な実現形態も考えられる。そのような例では、スイッチ1521の入力チャネルは、少なくとも、ピン配列マップ1526及びピン配列マップ1527のうちの少なくとも一方に基づいて、対応する出力チャネルに1対1で接続されてもよい。
図17は、診断装置において電極(又は信号)を異なる入力チャネルと関連付けるための別の技術を示す略図である。この技術は、診断装置が患者を検査するためにカテーテルと共に使用されている間に、任意の診断装置によって実行され得る。
いくつかの態様では、カテーテルが患者の体内に挿入されると、カテーテルはシース内に収容される。シースは、疼痛を制限しかつ精度を高めるために使用されるカテーテルよりも直径の大きいプラスチック管である。カテーテルは、カテーテルを配備することが必要となる場所(例えば、患者の心臓)に到達するまで、シース内に滞在する。この時点で、電極を収容したカテーテルの端部が、その場所に進入するように、シースから摺動される。電極はカテーテルの端部上に一列に配置されているため、それらは次々にシースから退出する。各電極がシースから退出すると、その電極によって提供される信号の値が変化する。したがって、電極によって提供される信号が変化する順序は、電極がカテーテル上に配置されている順序と一致する。したがって、信号が変化する順序を監視することにより、各信号を生成した電極を特定することが可能である。
図17に、最初はシース1720内に完全に収容されているカテーテル1710が示されている。この実施例の目的のために、シース1720は、カテーテルを配備する必要がある場所(例えば、心腔)まで挿入されている。カテーテル1710は、シャフト上に配設された複数の電極1712を含む。シャフトがシース1720から外に摺動されると、電極1712は、シースを次々に抜け出す。
時間t=0において、全ての電極1712がシース1720内に位置し、診断装置は電極1712のそれぞれからそれぞれの信号を受信する。各信号は、診断装置の異なる入力チャネル上で受信される。電極から受信された信号がプロットP0に示されている。
時間t=1において、第1の電極1712がシース1720から抜け出し、シース1720を取り囲む環境(例えば、患者の組織など)と接触する。結果として、この電極によって提供される信号が変化する(例えば、その値が増加する)。その変化がプロットP1に示されている。診断装置は、これがシース1720からカテーテル1710が抜け出す間に発生する第1の信号変化であることを検出し、信号が受信された入力チャネルをカテーテル1710上の第1の電極(例えば、カテーテルの遠位端部Dに最も近い電極)と関連付ける。
時間t=2において、第2の電極1712がシース1720から抜け出し、シース1720を取り囲む環境(例えば、患者の組織など)と接触する。結果として、この電極によって提供される信号が変化する(例えば、その値が増加する)。その変化がプロットP2に示されている。診断装置は、これがシース1720からカテーテル1710が抜け出す間に発生する第2の信号変化であることを検出し、変化した信号が受信された入力チャネルをカテーテル1710上の第2の電極1712(例えば、カテーテルの遠位端部Dに2番目に近い電極)と関連付ける。
時間t=3において、第3の電極1712がシース1720から抜け出し、シース1720を取り囲む環境(例えば、患者の組織など)と接触する。その変化がプロットP3に示されている。診断装置は、これがシース1720からカテーテル1710が抜け出す間に発生する第3の信号変化であることを検出し、変化した信号が受信された入力チャネルをカテーテル1710上の第3の電極1712(例えば、カテーテルの遠位端部Dに3番目に近い電極)と関連付ける。
時間t=4において、第4の電極1712がシース1720から抜け出し、シース1720を取り囲む環境(例えば、患者の組織など)と接触する。結果として、第4の電極によって提供される信号が変化する(例えば、その値が増加する)。その変化がプロットP4に示されている。診断装置は、これがシース1720からカテーテル1710が抜け出す間に発生する第2の信号変化であることを検出し、変化した信号が受信された入力チャネルをカテーテル1710上の第4の電極1712(例えば、カテーテルの遠位端部Dに4番目に近い電極)と関連付ける。
図18は、本開示の態様によるプロセス1800の一例のフローチャートである。プロセス1800は、図17に関して上述した技術を実現するものであり、カテーテル1710に接続された診断装置によって実行され得る。
工程1810において、電極1712がカテーテル1710のシャフト上に配置される順序の指示が取得される。いくつかの実現形態において、この指示は、識別子のセットを含んでもよい。図17に示すように、各識別子は、異なる数を含んでもよい。所与の電極の識別子よりも小さい識別子を有する全ての電極は、所与の電極と比べて、カテーテル1710のシャフトの遠位端部により近接して配置されてもよい。同様に、所与の電極の識別子よりも大きい識別子を有する全ての電極は、所与の電極と比べて、カテーテル1710の遠位端部Dからより遠くに配置されてもよい。追加的に又は代替的に、いくつかの実現形態において、この指示は、電極識別子の順序付けられたリストを含んでもよい。リスト内の各識別子は、異なる電極に対応してもよい。リスト内の各識別子の位置は、カテーテル1710のシャフト上の識別子の電極1712の位置に対応し得る。例えば、所与の電極1712がカテーテル1710のシャフトの遠位端部Dに近くなるほど、電極の識別子はリストの先頭により近くなり得る。
工程1820において、診断装置のそれぞれの入力チャネルにまだ関連付けられていないカテーテル1710の遠位端部Dに最も近い電極1712が識別される。工程1830において、診断装置の入力チャネルのうちの1つにおいて受信された信号の値の変化が検出される。この変化は、信号の値の増加又は減少のいずれかを含み得る。追加的に又は代替的に、いくつかの実現形態において、この変化は、信号の値が閾値を交差したこと及び/又は所定の時間期間にわたって安定であることに応答して検出されてもよい。
工程1840において、信号の変化が検出された入力チャネルが、工程1820で識別された電極1712と関連付けられる。いくつかの実現形態では、電極1712を入力チャネルと関連付けることは、電極1712が入力チャネルに接続されていることを示すマッピングを生成することを含み得る。このマッピングは、任意の好適な種類の番号、文字列、及び/又はデータ構造を含み得る。いくつかの実現形態において、このマッピングは、工程1820で識別された電極1712の第1の識別子と、信号の変化が検出されるプロセス1800を実行する装置の入力チャネルの第2の識別子とを含んでもよい。
いくつかの実現形態では、電極1712のうちのいずれかの識別子は、その電極の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、電極のうちのいずれかの識別子は、電極によって生成される信号の種類の指示、電極の種類の指示、カテーテル1710のシャフト上の電極の位置の指示などを含み得る。いくつかの実現形態では、診断装置の入力チャネルのうちのいずれかの識別子は、特定の接点の識別情報を暗黙的又は明示的に指示する1つ又は2つ以上の番号及び/又は記号を含んでもよい。例えば、入力チャネルのうちのいずれかの識別子は、入力チャネル番号の指示、カテーテル1710が診断装置にプラグ接続されるときに入力チャネルに接続されるカテーテル1710の出力チャネルの指示、診断装置の第1の入力ピンに対応するピン番号、カテーテル1710が診断装置に接続されたときに、第1の入力ピンと接触するカテーテル1710の第2の出力ピンに対応するピン番号などを含み得る。
工程1850において、それぞれの入力チャネルとまだ関連付けられていない電極1712が残存しているかどうかが判定される。このような電極が残存する場合、工程1820~1840が別の電極に対して再び繰り返される。このような電極が残存しない場合、工程1860において、工程1820~1840で生成された各マッピングをカプセル化するピン配列表が生成される。工程1870において、ピン配列表は、カテーテル1710に組み込まれたメモリデバイスに記憶される。
本開示の態様によれば、図17~図18に関連して議論された技術は、カテーテル1710が一体型メモリデバイスを含むことを必要としないため、有利となり得る。むしろ、必要に応じて、この技術は、患者を診断するためにカテーテル1710が診断装置と共に使用されるたびに、ピン配列マップが診断装置によって動的に生成されることを可能にする。したがって、図17~図18のプロセスに関して議論された技術は、電極がランダムに接続されたカテーテル(例えば、ランダムピン配列式カテーテル)が、例えば、集積メモリデバイス、集積コントローラ、及び/又は集積スイッチなど、それらのカテーテル内に追加のハードウェアを組み込むことなしに使用されることを可能にする。
追加的に又は代替的に、いくつかの実現形態では、コンフィギュレーションデバイス800などのコンフィギュレーションデバイスが、図17~図18に関連して議論された技術を用いて、カテーテルのためのピン配列マップを生成し、カテーテルに組み込まれたメモリデバイスにそのピン配列マップを記憶するように適合されてもよい。より具体的には、コンフィギュレーションデバイスは、エンクロージャと、カテーテルレセプタクル(例えば、ホール)と、カテーテルのコネクタ用のレセプタクルと、本開示で配設される無線送信機と、を含み得る。カテーテルの電極がランダムに接続された後、カテーテルはシース内に配置され、シースと共にシャフトレセプタクルに挿入され得る。シース及びカテーテルが、レセプタクルを通じてコンフィギュレーションデバイスのエンクロージャ内に挿入された後、電極を収容するカテーテルの端部がシースから外に摺動され得る。電極はカテーテルの端部上に一列に配置されているため、それらは次々にシースから退出し得る。各電極がシースから退出すると、その電極はアンテナとして機能し、無線送信機によって送信されている無線信号をピックアップすることができる。その結果、コネクタレセプタクルにおいてその電極によって提供される信号の値が変化し得る。その後、電極によって提供される信号が変化する順序を監視することによって、コンフィギュレーションデバイスは、図18のプロセスで論じられた方式でピン配列マップを生成し、カテーテルに組み込まれたメモリデバイス内にそのピン配列マップを記憶してもよい。追加的に又は代替的に、いくつかの実現形態において、カテーテルは、シースなしにコンフィギュレーションデバイス内に挿入されてもよい。
図19は、本開示の態様によるプロセス1900の別の例のフローチャートである。プロセス1900は、カテーテル及び/又は任意の他の好適な種類の装置に接続された診断装置によって実行され得る。
工程1905において、診断装置は、カテーテルがその診断装置に接続されていることを検出する。工程1910において、診断装置は、カテーテルの識別子を取り出す。工程1915において、カテーテルがランダムピン配列式カテーテルであるかどうかが識別子に基づいて判定される。本開示の態様によれば、ランダムピン配列式カテーテルとは、その電極が、プロセス1900を実行する装置(及び/又はカテーテルの使用が意図される別の装置)によってサポートされているインターフェース規格に準拠しないコネクタ及び/又はカテーテルの異なる接点にランダムに接続されているカテーテルである。カテーテルがランダムなピン配列式カテーテルではない場合、プロセス1900は終了され、その後、診断装置は、カテーテルを周知の様式で使用し始める。カテーテルがランダムピン配列式カテーテルである場合、プロセスは工程1920に進む。
工程1920において、カテーテルに組み込まれたメモリデバイスから、カテーテル内の複数の電極のそれぞれをカテーテルのそれぞれの出力チャネル(例えば、カテーテルのコネクタ内の接点)と関連付けるピン配列マップを取り出す試行が診断装置によって行われる。試行が成功した場合、プロセス1900は終了され、その後、診断装置は、ピン配列表と併せてカテーテルを使用し始める。試行が成功しない場合、プロセスは工程1925に進む。
工程1925において、診断装置は、複数の電極から受信した信号を監視し始め、カテーテルのピン配列マップを生成する。上述のように、ピン配列マップは、複数のマッピングを含み得る。各マッピングは、診断装置上の異なる入力チャネル、及びそのチャネルに接続されたカテーテルの電極を識別し得る。ピン配列マップは、図18に関して上述されたプロセス1800に従って生成されてもよい。
工程1930において、ピン配列表は、カテーテルに組み込まれたメモリデバイスに記憶される。その結果、次回にカテーテルが診断装置にプラグ接続されると、カテーテルは、工程1925を再び実行する必要なく使用され得る。更に、ピン配列表がカテーテルに記憶された後、カテーテルは、工程1925及び/又はプロセス1800をそれ自体で実行する能力を潜在的に欠く、より安価な診断装置上で使用されてもよい。
図1~図19は、あくまで一例として提示されたものである。本開示全体を通じた様々な実施例において、ランダムピン配列式カテーテルはコネクタを介して診断装置に接続されているが、任意の好適な種類の接続インターフェースが、代わりにランダムピン配列式カテーテルによって使用され得ることが理解されるであろう。したがって、上述のランダムピン配列式カテーテルは、任意の好適な種類の接続インターフェース(例えば、有線又は無線、雄型、又は雌型など)を使用してインターフェースデバイス及び/又は診断装置に接続することができる。無線接続インターフェースが使用される場合、上述のピン配列マップは、コネクタ接点の代わりに無線チャネル及び/又は仮想チャネルを識別することができる。更に、ピン配列マップは任意の好適な様式で実装され得る。本開示全体にわたる実施例において、複数のマッピングが同じデータ構造にカプセル化されているが、各マッピングが残りの部分とは別個に記憶される代替的な実現形態も考えられる。例えば、各マッピングは、同じファイルシステムディレクトリ内に別々のファイルとして記憶されてもよい。更に、本開示は、マッピングによって表される情報を符号化するための任意の特定の技術に限定されない。上記の例では、各マッピングは2つの識別子を含んでいるが、各マッピングが、2つの識別子が符号化されている単一の番号及び/又は文字列からなる代替的な実現形態も考えられる。これらの図に関して論じられた要素の少なくとも一部は、異なる順序で配列され、組み合わされ、かつ/又は完全に省略されてもよい。本明細書に記載される実施例の提供、並びに「例えば、「例えば~のような」、「例えば」、「を含む」、「いくつかの態様では」、「いくつかの実現形態では」などのように表現された項目の提供は、開示される主題を特定の実施例に限定するものとして解釈されるべきではないことが理解されるであろう。
本発明を詳細に説明してきたが、当業者は、本開示を考慮すると、本明細書に記載される発明概念の趣旨から逸脱することなく、本発明に修正を加えることができることを理解するであろう。したがって、本発明の範囲は、例示及び説明された特定の実施形態に限定されることを意図しない。
〔実施の態様〕
(1) カテーテルであって、
複数の第1の接点と1つ又は2つ以上の第2の接点とを含むコネクタと、
複数の電極を含むシャフトであって、各電極が前記複数の第1の接点のうちの異なる1つに連結されている、シャフトと、
前記第2の接点のうちの少なくとも1つに連結されたメモリであって、
前記複数の電極が前記複数の第1の接点に連結される順序を識別するピン配列マップを記憶し、かつ
前記コネクタが外部デバイスに連結された後に、前記第2の接点のうちの1つ又は2つ以上を介して、前記ピン配列マップを前記外部デバイスに提供するように構成されている、メモリと、を備える、カテーテル。
(2) 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記ピン配列マップによって識別されるランダムな順序で前記複数の第1の接点に連結されている、実施態様1に記載のカテーテル。
(3) 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記ピン配列マップによって識別される非標準的な順序で前記複数の第1の接点に連結されている、実施態様1に記載のカテーテル。
(4) 前記シャフトに連結されたハンドルを更に備え、前記メモリは前記ハンドルの内側に配設されている、実施態様1に記載のカテーテル。
(5) 前記メモリは、前記第2の接点のうちの1つ又は2つ以上を介して前記ピン配列マップを受信するように更に構成されている、実施態様1に記載のカテーテル。
(6) 前記ピン配列マップは複数のマッピングを含み、各マッピングは、前記複数の電極のうちの異なる1つと、前記電極が連結されている前記第1の接点とを識別する、実施態様1に記載のカテーテル。
(7) カテーテルであって、
複数の入力チャネルと複数の出力チャネルとを含むスイッチと、
複数の接点を含むコネクタであって、前記接点のそれぞれが、前記スイッチの前記出力チャネルのうちの異なる1つに連結されている、コネクタと、
複数の電極を含むシャフトであって、各電極は、前記スイッチの前記複数の入力チャネルのうちの異なる1つに連結されている、シャフトと、
前記複数の電極が前記スイッチの前記複数の入力チャネルに連結される第1の順序を識別する第1のピン配列マップを記憶するように構成されたメモリと、
前記メモリ及び前記スイッチに連結されたプロセッサであって、前記第1のピン配列マップに基づいて前記スイッチを第1の状態から第2の状態に遷移させるように構成されており、前記第2の状態は、少なくとも1つの外部デバイスに対応する第2の順序で前記複数の電極を前記複数の接点に連結するように前記スイッチが配置される状態である、プロセッサと、を備える、カテーテル。
(8) 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記第1のピン配列マップによって識別されるランダムな順序で前記複数の入力チャネルに連結されている、実施態様7に記載のカテーテル。
(9) 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記第1のピン配列マップによって識別される非標準的な順序で前記複数の接点に連結されている、実施態様7に記載のカテーテル。
(10) 前記第1のピン配列マップは複数の部分を含み、各部分は、異なる電極、及び前記電極が連結されている前記入力チャネルを識別する、実施態様7に記載のカテーテル。
(11) 前記スイッチを前記第1の状態から前記第2の状態に遷移させることは、
外部デバイスによってサポートされるインターフェース規格を指示する第2のピン配列マップを取得することと、
前記第1のピン配列マップ及び前記第2のピン配列マップに基づいて、前記スイッチの前記第2の状態を表すデータ構造を生成することであって、前記データ構造は複数の部分を含み、各部分は、前記スイッチの異なる入力チャネル、及び前記スイッチが前記第2の状態へと遷移されるときに前記入力チャネルに接続されるそれぞれの出力チャネルを識別する、ことと、
前記スイッチによって受信されたときに前記スイッチを前記第2の状態に遷移させる1つ又は2つ以上の制御信号を、前記データ構造に基づいて前記スイッチに提供することと、を含む、実施態様7に記載のカテーテル。
(12) 前記第2のピン配列マップを取得することは、前記メモリから前記第2のピン配列マップを取り出すことを含む、実施態様11に記載のカテーテル。
(13) 前記第2のピン配列マップを取得することは、前記コネクタが前記外部デバイスに連結されているときに、前記外部デバイスから前記第2のピン配列マップを取り出すことを含む、実施態様11に記載のカテーテル。
(14) カテーテルを構成するための方法であって、
前記カテーテルのシャフトを配備位置に挿入することであって、前記シャフトは、前記シャフト上に線形順序で配設された複数の電極を含む、ことと、
前記配備位置に前記カテーテルを挿入する間に発生する複数の信号変化を検出することであって、各信号変化は、前記電極のうちの1つから複数のチャネルのうちの対応する1つにおいて受信される異なる信号の値の変化である、ことと、
前記信号変化が検出される時間的な順序に基づいて、前記電極のそれぞれを前記複数のチャネルのうちの異なる1つと関連付けるピン配列マップを生成することと、を含む、方法。
(15) 前記電極が前記シャフト上に配置される前記順序の指示を受信することを更に含み、前記ピン配列マップは更に、前記電極が前記シャフト上に配置される前記順序に基づいて生成される、実施態様14に記載の方法。
(16) 前記ピン配列マップは複数の部分を含み、各部分は、異なる電極、及び前記電極によって生成された前記信号が受信される、前記複数のチャネルのうちの前記対応する1つを識別する、実施態様14に記載の方法。
(17) 前記ピン配列マップは複数の部分を含み、各部分は、異なる電極、及び前記電極が連結されているそれぞれの接点を識別する、実施態様14に記載の方法。
(18) 前記カテーテルに組み込まれているメモリに前記ピン配列マップを記憶することを更に含む、実施態様14に記載の方法。
(19) 前記配備位置は、患者の身体の内側にあり、
各信号変化は、異なる電極が前記患者の組織と接触することに応答して引き起こされる、実施態様14に記載の方法。
(20) 前記ピン配列マップに基づいて、前記患者の状態の指示を出力することを更に含む、実施態様19に記載の方法。

Claims (18)

  1. カテーテルであって、
    複数の第1の接点と1つ又は2つ以上の第2の接点とを含むコネクタと、
    複数の電極を含むシャフトであって、各電極が前記複数の第1の接点のうちの異なる1つに連結されている、シャフトと、
    前記第2の接点のうちの少なくとも1つに連結されたメモリであって、
    前記複数の電極が前記複数の第1の接点に連結される順序を識別するピン配列マップを記憶し、かつ
    前記コネクタが外部デバイスに連結された後に、前記第2の接点のうちの1つ又は2つ以上を介して、前記ピン配列マップを前記外部デバイスに提供するように構成されている、メモリと、を備える、カテーテル。
  2. 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記ピン配列マップによって識別されるランダムな順序で前記複数の第1の接点に連結されている、請求項1に記載のカテーテル。
  3. 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記ピン配列マップによって識別される非標準的な順序で前記複数の第1の接点に連結されている、請求項1に記載のカテーテル。
  4. 前記シャフトに連結されたハンドルを更に備え、前記メモリは前記ハンドルの内側に配設されている、請求項1に記載のカテーテル。
  5. 前記メモリは、前記第2の接点のうちの1つ又は2つ以上を介して前記ピン配列マップを受信するように更に構成されている、請求項1に記載のカテーテル。
  6. 前記ピン配列マップは複数のマッピングを含み、各マッピングは、前記複数の電極のうちの異なる1つと、前記電極が連結されている前記第1の接点とを識別する、請求項1に記載のカテーテル。
  7. カテーテルであって、
    複数の入力チャネルと複数の出力チャネルとを含むスイッチと、
    複数の接点を含むコネクタであって、前記接点のそれぞれが、前記スイッチの前記出力チャネルのうちの異なる1つに連結されている、コネクタと、
    複数の電極を含むシャフトであって、各電極は、前記スイッチの前記複数の入力チャネルのうちの異なる1つに連結されている、シャフトと、
    前記複数の電極が前記スイッチの前記複数の入力チャネルに連結される第1の順序を識別する第1のピン配列マップを記憶するように構成されたメモリと、
    前記メモリ及び前記スイッチに連結されたプロセッサであって、前記第1のピン配列マップに基づいて前記スイッチを第1の状態から第2の状態に遷移させるように構成されており、前記第2の状態は、少なくとも1つの外部デバイスに対応する第2の順序で前記複数の電極を前記複数の接点に連結するように前記スイッチが配置される状態である、プロセッサと、を備える、カテーテル。
  8. 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記第1のピン配列マップによって識別されるランダムな順序で前記複数の入力チャネルに連結されている、請求項7に記載のカテーテル。
  9. 前記複数の電極は、前記カテーテルの使用性を確保するために、前記第1のピン配列マップによって識別される非標準的な順序で前記複数の接点に連結されている、請求項7に記載のカテーテル。
  10. 前記第1のピン配列マップは複数の部分を含み、各部分は、異なる電極、及び前記電極が連結されている前記入力チャネルを識別する、請求項7に記載のカテーテル。
  11. 前記スイッチを前記第1の状態から前記第2の状態に遷移させることは、
    外部デバイスによってサポートされるインターフェース規格を指示する第2のピン配列マップを取得することと、
    前記第1のピン配列マップ及び前記第2のピン配列マップに基づいて、前記スイッチの前記第2の状態を表すデータ構造を生成することであって、前記データ構造は複数の部分を含み、各部分は、前記スイッチの異なる入力チャネル、及び前記スイッチが前記第2の状態へと遷移されるときに前記入力チャネルに接続されるそれぞれの出力チャネルを識別する、ことと、
    前記スイッチによって受信されたときに前記スイッチを前記第2の状態に遷移させる1つ又は2つ以上の制御信号を、前記データ構造に基づいて前記スイッチに提供することと、を含む、請求項7に記載のカテーテル。
  12. 前記第2のピン配列マップを取得することは、前記メモリから前記第2のピン配列マップを取り出すことを含む、請求項11に記載のカテーテル。
  13. 前記第2のピン配列マップを取得することは、前記コネクタが前記外部デバイスに連結されているときに、前記外部デバイスから前記第2のピン配列マップを取り出すことを含む、請求項11に記載のカテーテル。
  14. カテーテルを構成するための方法であって、
    前記カテーテルのシャフトをシャフトレセプタクルに挿入することであって、前記シャフトは、前記シャフト上に線形順序で配設された複数の電極を含む、ことと、
    前記シャフトレセプタクルに前記カテーテルを挿入する間に発生する複数の信号変化を検出することであって、各信号変化は、前記電極のうちの1つから複数のチャネルのうちの対応する1つにおいて受信される異なる信号の値の変化である、ことと、
    前記信号変化が検出される時間的な順序に基づいて、前記電極のそれぞれを前記複数のチャネルのうちの異なる1つと関連付けるピン配列マップを生成することと、を含む、方法。
  15. 前記電極が前記シャフト上に配置される前記順序の指示を受信することを更に含み、前記ピン配列マップは更に、前記電極が前記シャフト上に配置される前記順序に基づいて生成される、請求項14に記載の方法。
  16. 前記ピン配列マップは複数の部分を含み、各部分は、異なる電極、及び前記電極によって生成された前記信号が受信される、前記複数のチャネルのうちの前記対応する1つを識別する、請求項14に記載の方法。
  17. 前記ピン配列マップは複数の部分を含み、各部分は、異なる電極、及び前記電極が連結されているそれぞれの接点を識別する、請求項14に記載の方法。
  18. 前記カテーテルに組み込まれているメモリに前記ピン配列マップを記憶することを更に含む、請求項14に記載の方法。
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