JP7228111B2 - 紫外線照射装置及び紫外線硬化樹脂の硬化方法 - Google Patents

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Description

実施形態は、紫外線照射装置及び紫外線硬化樹脂の硬化方法に関する。
集積回路装置の製造等に際して、紫外線を照射することにより硬化する紫外線硬化樹脂が使用されている。紫外線硬化樹脂を短時間・小電力で効率的に硬化させることが望まれている。
特開2009-042302号公報
実施形態は、紫外線硬化樹脂を効率的に硬化させることができる紫外線照射装置及び紫外線硬化樹脂の硬化方法を提供する。
実施形態に係る紫外線照射装置は、紫外線を出射可能な発光素子と、前記発光素子の温度を制御する温度制御手段と、前記発光素子の電圧に基づいて前記温度制御手段を制御することにより、前記紫外線のピーク波長を制御する制御回路と、を備える。
実施形態に係る紫外線照射装置は、ピーク波長が相互に異なる紫外線を出射可能な複数の発光素子と、前記複数の発光素子の温度を制御する温度制御手段と、前記複数の発光素子のうちの1つから紫外線を出射させると共に、前記温度制御手段を制御することにより、前記紫外線のピーク波長を制御する制御回路と、を備える。
実施形態に係る紫外線硬化樹脂の硬化方法は、紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長を取得する工程と、発光素子の電圧または温度と前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長との関係を取得する工程と、前記関係に基づいて前記発光素子を載せた温度制御素子を制御することにより、前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長が前記紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長に近づくように、前記発光素子の温度を制御する工程と、前記発光素子にパルス幅が10ミリ秒以下の定電流パルスを印加する工程と、を備える。
実施形態に係る紫外線硬化樹脂の硬化方法は、紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長及び放射束を取得する工程と、発光素子の電圧または温度と前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長との第1関係を取得する工程と、前記紫外線の放射束と前記発光素子に流す電流との第2関係を取得する工程と、前記第1関係に基づいて前記発光素子を載せた温度制御素子を制御することにより、前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長が前記紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長に近づくように、前記発光素子の温度を制御すると共に、前記第2関係に基づいて、前記紫外線の放射束が前記紫外線硬化樹脂を硬化させる放射束になるような電流を前記発光素子に印加する工程と、を備える。
実施形態によれば、紫外線硬化樹脂を効率的に硬化させることができる紫外線照射装置及び紫外線硬化樹脂の硬化方法を実現できる。
第1の実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。 横軸に紫外線のピーク波長をとり、縦軸に一定量の紫外線硬化樹脂の硬化に必要な紫外線の最小照射電力をとって、紫外線硬化樹脂の硬化特性を示すグラフである。 横軸にジャンクション温度Tjをとり、縦軸に発光素子が出射する紫外線のピーク波長λpをとって、室温におけるピーク波長が365nmである発光素子の温度特性を示すグラフである。 横軸にジャンクション温度Tjをとり、縦軸に発光素子が出射する紫外線のピーク波長λpをとって、室温におけるピーク波長が385nmである発光素子の温度特性を示すグラフである。 横軸にジャンクション温度Tjをとり、縦軸に発光素子が出射する紫外線のピーク波長λpをとって、複数の発光素子の温度特性を示すグラフである。 第1の実施形態に係る紫外線照射装置の動作を示すフローチャートである。 横軸に時間をとり、縦軸に電流Ifをとって、パルス電流の波形を示すグラフである。 第2の実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。 第2の実施形態の具体例に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。 横軸にピーク波長λpをとり、縦軸にジャンクション温度Tjをとって、第2の実施形態の具体例におけるピーク波長λpとジャンクション温度Tjの相関関係を示すグラフである。 第2の実施形態の具体例におけるジャンクション温度Tj、放射束φe及び電流Ifの相関関係を示すグラフである。 第2の実施形態の具体例に係る紫外線照射装置の動作を示すフローチャートである。 第3の実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。 第3の実施形態の具体例に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。 第3の実施形態の具体例に係る紫外線照射装置の動作を示すフローチャートである。 第3の実施形態の具体例に係る紫外線照射装置の動作を示すフローチャートである。 第4の実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。 横軸に波長をとり、縦軸に強度をとって、UVLEDから出射される紫外線の強度分布の一例を示すグラフである。
<第1の実施形態>
図1は、本実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。
図1において、実線の矢印は発光素子を発光させるための駆動電流の流れを表し、二点鎖線の矢印は信号電流の流れを表す。後述する他のブロック図においても同様である。
図1に示すように、本実施形態に係る紫外線照射装置1は、紫外線硬化樹脂100に対して紫外線を照射することにより、紫外線硬化樹脂100を硬化させる。
紫外線照射装置1においては、実装基板10が設けられており、実装基板10の表面10aには、複数個、例えば6個の発光素子12a~12f(以下、総称して「発光素子12」ともいう)が実装されている。また、紫外線照射装置1には、温度検出素子13、温度制御素子14、温度制御素子コントローラ15、定電流ドライバ16、及び、コントローラ17が設けられている。紫外線照射装置1には結露対策が施されている。
発光素子12は紫外線を出射可能な素子であり、例えば、UVLED(Ultra Violet Light Emitting Diode:紫外線発光ダイオード)である。発光素子12a~12fが出射する紫外線のピーク波長は相互に異なっている。例えば、室温(25℃)において、発光素子12aのピーク波長は367nm(ナノメートル)であり、発光素子12bのピーク波長は374mであり、発光素子12cのピーク波長は381nmであり、発光素子12dのピーク波長は388nmであり、発光素子12eのピーク波長は395nmであり、発光素子12fのピーク波長は401nmである。
温度検出素子13は、実装基板10の表面10aに実装されており、発光素子12のジャンクション温度Tjを検出し、その結果を温度制御素子コントローラ15及びコントローラ17に対して出力する。
温度制御素子14は、例えば、1個又は複数個のペルチェ素子を含み、実装基板10の裏面10bに熱的に接続されている。温度制御素子14は、実装基板10を介して、発光素子12を加熱及び冷却する。
温度制御素子コントローラ15は、コントローラ17からの制御信号を受けて、温度制御素子14を制御する。温度制御素子コントローラ15は、温度制御素子14を駆動することにより、発光素子12の仕様温度の範囲内で発光素子12の温度を制御し、例えば、発光素子12のジャンクション温度Tjを、-10℃~150℃の範囲で制御する。
定電流ドライバ16は、外部から直流電力が入力されると共に、コントローラ17からの制御信号を受けて、実装基板10に対してパルス電流を出力する。パルス電流の1パルスの時間幅は、例えば、10ms(ミリ秒)以下であり、パルス電流のデューティ比は、例えば、0.01以下である。例えば、1パルスの時間幅が10msである場合、パルス間のインターバルの時間幅は1s(秒)以上である。発光素子12に対して供給する電流Ifをパルス電流とすることにより、通電に伴う発光素子12の温度上昇を抑制し、発光素子12のピーク波長が長波長側にシフトすることを抑制することができる。
コントローラ17には、外部から、紫外線硬化樹脂100の種類に関する情報が入力され、内部メモリに、紫外線硬化樹脂100を効率よく硬化させる紫外線の波長に関する情報、及び、紫外線硬化樹脂100を効率よく硬化させる波長の紫外線を出射させるために適した発光素子12及びそのジャンクション温度Tjに関する情報が記憶されている。
又は、コントローラ17には、外部から、紫外線硬化樹脂100を効率よく硬化させる紫外線の波長に関する情報が入力され、内部メモリに、紫外線硬化樹脂100を効率よく硬化させる波長の紫外線を出射させるために適した発光素子12及びそのジャンクション温度Tjに関する情報が記憶されている。
又は、コントローラ17には、外部から、紫外線硬化樹脂100を効率よく硬化させる波長の紫外線を出射させるために適した発光素子12及びそのジャンクション温度Tjに関する情報が入力される。
コントローラ17は、発光素子12のジャンクション温度Tjの目標温度を設定し、温度検出素子13からの出力信号に基づいて、温度制御素子コントローラ15を制御する。また、コントローラ17は、実装基板10に対して選択信号を出力し、発光素子12a~12fのうちの1つをオン状態とし、残りをオフ状態とする。更に、コントローラ17は、定電流ドライバ16にパルス電流を出力させる。
次に、本実施形態に係る紫外線硬化樹脂の硬化方法について説明する。
図2は、横軸に紫外線のピーク波長をとり、縦軸に一定量の紫外線硬化樹脂の硬化に必要な紫外線の最小照射電力をとって、紫外線硬化樹脂の硬化特性を示すグラフである。
図3A及び図3Bは、横軸にジャンクション温度Tjをとり、縦軸に発光素子が出射する紫外線のピーク波長λpをとって、発光素子の温度特性を示すグラフである。
図4は、横軸にジャンクション温度Tjをとり、縦軸に発光素子が出射する紫外線のピーク波長λpをとって、複数の発光素子の温度特性を示すグラフである。
紫外線硬化樹脂(以下、単に「樹脂」ともいう)は紫外線が照射されることにより硬化するが、硬化の効率は紫外線の波長に依存し、最小の照射電力で硬化する波長が存在する。以下、このような波長を「最大効率波長」という。そして、この最大効率波長は樹脂の種類によって異なる。
図2に示す例では、樹脂100Aは、ピーク波長が360nmの紫外線が照射されたときに最も効率よく硬化し、ピーク波長が360nmより長くても短くても硬化の効率は低下する。すなわち、樹脂100Aの最大効率波長は360nmである。一方、樹脂100Bは、ピーク波長が380nmの紫外線が照射されたときに最も効率よく硬化し、ピーク波長が380nmより長くても短くても硬化の効率は低下する。すなわち、樹脂100Bの最大効率波長は380nmである。
本実施形態においては、例えば予備実験を行い、紫外線硬化樹脂の種類毎に最大効率波長を求める。樹脂毎の最大効率波長は、コントローラ17に記憶していてもよく、外部のコンピュータ等から入力してもよい。
図3Aは、室温(25℃)におけるピーク波長が365nmである発光素子の温度特性を示し、図3Bは、室温におけるピーク波長が385nmである発光素子の温度特性を示す。図3A及び図3Bに示すように、発光素子12が出射する紫外線のピーク波長は、発光素子12のジャンクション温度Tjに依存して変化し、発光素子12のジャンクション温度Tjが高いほど、ピーク波長は長くなる。ジャンクション温度Tjとピーク波長との関係は略直線的である。また、ピーク波長の発光素子12に流れる電流Ifに対する依存性はほとんど認められない。
以下、図4を参照して、発光素子12a~12fのピーク波長範囲の一例を示す。
発光素子12aは、室温(25℃)におけるピーク波長は約367nmであるが、-10℃におけるピーク波長は約365nmであり、+150℃におけるピーク波長は約374nmである。すなわち、発光素子12aのピーク波長は、365~374nmの範囲Ra内で選択可能である。範囲Raの幅は約9nmである。
発光素子12bは、室温におけるピーク波長は約374nmであるが、-10℃におけるピーク波長は約372nmであり、+150℃におけるピーク波長は約381nmである。すなわち、発光素子12bのピーク波長は、372~381nmの範囲Rb内で選択可能である。範囲Rbの幅は約9nmである。発光素子12aのピーク範囲Raと発光素子12bのピーク範囲Rbは、372~374nmの範囲Rabで相互に重なっている。範囲Rabの幅は約2nmである。
発光素子12cは、室温におけるピーク波長は約381nmであるが、-10℃におけるピーク波長は約379nmであり、+150℃におけるピーク波長は約388nmである。すなわち、発光素子12cのピーク波長は、379~388nmの範囲Rc内で選択可能である。範囲Rcの幅は約9nmである。発光素子12bのピーク範囲Rbと発光素子12cのピーク範囲Rcは、379~381nmの範囲Rbcで相互に重なっている。範囲Rbcの幅は約2nmである。
発光素子12dは、室温におけるピーク波長は約388nmであるが、-10℃におけるピーク波長は約386nmであり、+150℃におけるピーク波長は約395nmである。すなわち、発光素子12dのピーク波長は、386~395nmの範囲Rd内で選択可能である。範囲Rdの幅は約9nmである。発光素子12cのピーク範囲Rcと発光素子12dのピーク範囲Rdは、386~388nmの範囲Rcdで相互に重なっている。範囲Rcdの幅は約2nmである。
発光素子12eは、室温におけるピーク波長は約395nmであるが、-10℃におけるピーク波長は約393nmであり、+150℃におけるピーク波長は約402nmである。すなわち、発光素子12eのピーク波長は、395~402nmの範囲Re内で選択可能である。範囲Reの幅は約9nmである。発光素子12dのピーク範囲Rdと発光素子12eのピーク範囲Reは、393~395nmの範囲Rdeで相互に重なっている。範囲Rdeの幅は約2nmである。
発光素子12fは、室温におけるピーク波長は約401nmであるが、-10℃におけるピーク波長は約400nmであり、+150℃におけるピーク波長は約405nmである。すなわち、発光素子12fのピーク波長は、400~405nmの範囲Rf内で選択可能である。範囲Rfの幅は約5nmである。発光素子12eのピーク範囲Reと発光素子12fのピーク範囲Rfは、400~402nmの範囲Refで相互に重なっている。範囲Refの幅は約2nmである。
このように、例えば、各発光素子12はそれぞれ幅が約9nm又は約5nmのピーク波長の制御範囲を有し、発光素子12の制御範囲の一部は相互に重なり、重なる範囲の幅は約2nmである。そして、6個の発光素子12a~12fにより、365~405nmの範囲でピーク波長を選択することができる。
なお、ピーク波長の範囲は上述の例には限定されず、発光素子12の組み合わせを選択することにより、ピーク範囲の波長も選択することができる。また、発光素子12の数も6個には限定されず、5個以下又は7個以上でもよい。発光素子12の制御範囲の一部は相互に重なることが好ましい。重なり範囲の幅は2nmには限定されないが、5nm以下であることが好ましい。
上述のような各発光素子12におけるジャンクション温度Tjとピーク波長との関係は、例えば、予備実験を行って予め取得しておく。この関係は、数式又は表の形式でコントローラ17に記憶されていてもよく、外部のコンピュータ等に記憶されたものを利用してもよい。
本実施形態においては、コントローラ17内の内部メモリに、各種類の紫外線硬化樹脂の最大効率波長に関する情報と、各発光素子12におけるジャンクション温度Tjとピーク波長との関係を表す情報が記憶されているものとする。
以下、紫外線照射装置1の動作について説明する。
図5は、本実施形態に係る紫外線照射装置の動作を示すフローチャートである。
図6は、横軸に時間をとり、縦軸に電流Ifをとって、パルス電流の波形を示すグラフである。
先ず、図5のステップS1に示すように、紫外線照射装置1のコントローラ17に、硬化させようとする紫外線硬化樹脂100の種類に関する情報を入力する。
次に、ステップS2に示すように、コントローラ17は、紫外線硬化樹脂100の最大効率波長を内部メモリから取得する。
次に、ステップS3に示すように、コントローラ17は、図4に示すような各発光素子12のジャンクション温度Tjとピーク波長との関係に基づいて、紫外線を出射させる発光素子12を選択すると共に、この発光素子12のジャンクション温度Tjの目標温度を取得する。
次に、ステップS4に示すように、コントローラ17は、温度制御素子コントローラ15を制御することによって温度制御素子14を駆動させ、発光素子12のジャンクション温度Tjを目標温度に近づくように制御する。発光素子12のジャンクション温度Tjは、温度検出素子13によってコントローラ17及び温度制御素子コントローラ15にフィードバックされる。
次に、ステップS5に示すように、発光素子12のジャンクション温度Tjが目標温度に到達したら、コントローラ17は定電流ドライバ16を制御して、パルス電流を出力させる。
図6に示すように、パルス電流における1パルスの時間幅Tpは10ms以下であり、デューティ比は0.01以下である。
このパルス電流は、実装基板10を介して、選択された発光素子12に供給される。これにより、選択された発光素子12は、ステップS2において取得された最大効率波長に近いピーク波長の紫外線を出射する。このとき、選択されていない発光素子12にはパルス電流が供給されず、紫外線を出射しない。
この結果、紫外線照射装置1から紫外線硬化樹脂100に対して、紫外線硬化樹脂100の最大効率波長に相当するピーク波長の紫外線がパルス照射されて、紫外線硬化樹脂100が硬化する。このパルス照射のパルス幅は10ms以下であり、デューティ比は0.01以下である。
次に、本実施形態の効果について説明する。
本実施形態においては、発光素子12のジャンクション温度Tjを制御することにより、所定の範囲内でピーク波長を選択することができる。これにより、紫外線硬化樹脂100の種類に応じて、最大効率波長の成分を含む紫外線を出射し、紫外線硬化樹脂100を効率よく硬化させることができる。
また、本実施形態においては、ピーク波長が相互に異なる複数の発光素子12を設け、必要とされるピーク波長に応じて、1つの発光素子12を選択し、且つ、そのジャンクション温度Tjを制御して紫外線を出射させている。これにより、ピーク波長を広い範囲から選択することができる。また、異なる発光素子12のピーク波長の制御範囲の一部が相互に重なっていることにより、シームレスな制御が可能となる。さらに、ピーク波長の重なり範囲を5nm以下とすることにより、無駄な重複を回避し、広い波長範囲をカバーすることができる。
更に、本実施形態においては、発光素子12に供給する電流Ifをパルス電流としている。これにより、電流Ifの通電により発光素子12のジャンクション温度Tjが上昇することを防ぎ、ピーク波長が変動することを抑制できる。パルス電流のパルス幅を10ミリ秒以下とし、デューティ比を0.01以下とすることにより、ピーク波長の変動をより確実に防止することができる。なお、仮に発光素子12に電流Ifを長時間供給すると、適切なフィードバック制御を行わなければ、発光素子12のジャンクション温度Tjが上昇し、ピーク波長が長波長側にシフトし、最大効率波長から外れてしまう場合がある。
なお、本実施形態においては、各種類の紫外線硬化樹脂の最大効率波長に関する情報と、各発光素子12におけるジャンクション温度Tjとピーク波長との関係を表す情報が、コントローラ17に記憶されている例を示したが、これには限定されない。
例えば、各樹脂の最大効率波長に関する情報は、外部からコントローラ17に入力されてもよい。この場合は、ステップS1に示す手順は不要となり、ステップS2において、コントローラ17は最大効率波長に関する情報を外部から取得する。
また、各樹脂の最大効率波長に関する情報、及び、各発光素子12におけるジャンクション温度Tjとピーク波長との関係を表す情報は、いずれも外部からコントローラ17に入力されてもよい。この場合は、ステップS1及びS2に示す手順は不要となり、ステップS3において、コントローラ17は、選択すべき発光素子12を表す情報、及び、発光素子12のジャンクション温度Tjの目標温度を表す情報を外部から取得する。
<第2の実施形態>
図7は、本実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。
図7に示すように、本実施形態に係る紫外線照射装置2は、前述の第1の実施形態に係る紫外線照射装置1(図1参照)と比較して、温度検出素子13が設けられておらず、電圧・電流測定回路18が設けられている点が異なっている。
電圧・電流測定回路18は、定電流ドライバ16から実装基板10に向かうパルス状の電流Ifを測定すると共に、発光素子12のアノード-カソード間に印加される電圧Vfを測定し、その測定結果をコントローラ17に対して出力する。コントローラ17は、電流If及び電圧Vfに基づいて、発光素子12のジャンクション温度Tjを推定する。発光素子12のジャンクション温度Tjが高いほど、電圧Vfは低くなる。発光素子12のジャンクション温度Tj、電流If、電圧Vfの関係は、予め取得し、コントローラ17の内部メモリに記憶させておく。なお、電圧Vfのみに基づいて、発光素子12のジャンクション温度Tjを推定してもよい。このようにして、発光素子12のジャンクション温度Tjを目標温度に近づける。なお、コントローラ17は、発光素子12のジャンクション温度Tjの推定値に基づいて、温度制御素子コントローラ15を制御してフィードバックをかけてもよい。これにより、より精密な制御が可能となる。
本実施形態によっても、発光素子12のジャンクション温度Tjを精度よく制御し、所望の波長の紫外線をパルス照射させることができる。本実施形態における上記以外の構成、動作及び効果は、第1の実施形態と同様である。
<第2の実施形態の具体例>
図8は、本具体例に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。
図9は、横軸にピーク波長λpをとり、縦軸にジャンクション温度Tjをとって、本具体例におけるピーク波長λpとジャンクション温度Tjの相関関係を示すグラフである。
図10は、本具体例におけるジャンクション温度Tj、放射束φe及び電流Ifの相関関係を示すグラフである。
図8に示すように、本具体例に係る紫外線照射装置3には、実装基板30、発光素子としてのUVLED32a~32f(以下、総称して「UVLED32」ともいう)、温度制御素子としてのペルチェ素子34、温度制御素子コントローラとしてのペルチェコントローラ35、定電流ドライバ36、コントローラ37、電圧・電流測定回路38が設けられている。これらの各構成要素の概略的な機能は、前述の第2の実施形態における同名の構成要素の機能と同様である。
また、紫外線照射装置3には、5V定電圧回路41、内部メモリとしてのEEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)42及びマイクロSDカード43、通信回路44、スイッチング素子45a~45f(以下、総称して「スイッチング素子45」ともいう)が設けられている。定電流ドライバ36、コントローラ37、電圧・電流測定回路38、5V定電圧回路41、EEPROM42、マイクロSDカード43及び通信回路44は、コントローラ基板40に実装されている。スイッチング素子45a~45fは、それぞれ、UVLED32a~32fと接地電位との間に接続されている。
定電流ドライバ36及び5V定電圧回路41は、例えば12V(ボルト)の外部直流電源101に接続されている。また、通信回路44は外部のパーソナルコンピュータ102に接続されている。
5V定電圧回路41は、外部直流電源101から供給された12Vの直流電流を例えば5Vの定電圧電流に変換して、コントローラ37、電圧・電流測定回路38、ペルチェ素子34及びペルチェコントローラ35等の制御系に供給する。なお、外部直流電源101から供給される電圧は12Vには限定されず、定電圧回路によって内部の制御系に供給される電圧も5Vには限定されない。内部の制御系に供給される電圧は、例えば、1.2~12Vの範囲であってもよく、例えば、3.3V又は5Vであってもよい。
EEPROM42又はマイクロSDカード43は、UVLED32のジャンクション温度Tjとピーク波長λpとの関係を表す情報を、例えば、数式又は表の形式で記憶している。例えば、図9に示すような相関関係を、数式の形式で記憶している。また、EEPROM42又はマイクロSDカード43は、UVLED32のジャンクション温度Tj、放射束φe及び電流Ifとの関係を表す情報も記憶している。例えば、図10に示すような相関関係を、数式の形式で記憶している。なお、これらの情報はパーソナルコンピュータ102に記憶されていてもよい。
通信回路44は、USBケーブル等の通信ケーブルにより、外部のパーソナルコンピュータ102に接続されている。通信回路44には、パーソナルコンピュータ102からピーク波長λpの設定値及び放射束φeの設定値が入力され、これらをコントローラ37に対して出力する。
コントローラ37には、補償用ピーク波長演算回路51、ジャンクション温度演算回路52、UVLEDセレクタ53、パルス発生回路54、UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)55及び56が設けられている。
補償用ピーク波長演算回路51は、If用サンプルホールド付差動アンプ62の出力信号に基づいてパルス状の電流Ifを測定する。また、電圧Vf及び電流Ifに基づいて、UVLED32のジャンクション温度Tjを検出し、このジャンクション温度Tjに対応するピーク波長λpを演算する。そして、ジャンクション温度Tjの検出結果及びピーク波長λpの演算結果をジャンクション温度演算回路52に対して出力する。
ジャンクション温度演算回路52は、通信回路44及びUART55を介して入力されたピーク波長λpの設定値に基づいて、ジャンクション温度Tjを取得する。このとき、ピーク波長λpからジャンクション温度Tjへの変換は、EEPROM42及びマイクロSDカード43に記憶された情報を参照する。そして、取得したジャンクション温度TjをUART56を介してペルチェコントローラ35に対して出力する。UART56とペルチェコントローラ35は、USBケーブル等の通信ケーブルにより接続されている。
また、ジャンクション温度演算回路52は、パルス発生回路54を介して、パルス信号を定電流ドライバ36に対して出力する。定電流ドライバ36は、このパルス信号に基づいて、パルス電流を出力する。
更に、ジャンクション温度演算回路52は、UVLEDセレクタ53を制御し、UVLEDセレクタ53にスイッチング素子45a~45fのうち、選択した1つのスイッチング素子45をオン状態とし、他のスイッチング素子45をオフ状態とする。
更にまた、ジャンクション温度演算回路52は、補償用ピーク波長演算回路51から入力されたピーク波長λpの演算値を参照して、ピーク波長の設定値と演算値の誤差を検出する。また、ジャンクション温度演算回路52は、補償用ピーク波長演算回路51から入力されたジャンクション温度Tjの検出結果に基づいて、放射束φeを算出する。この算出に際しては、EEPROM42又はマイクロSDカード43に記憶されたジャンクション温度Tjと放射束φeの関係を示す情報を参照する。
電圧・電流測定回路38には、電流検出抵抗61、If用サンプルホールド付差動アンプ62、Vf用サンプルホールド付差動アンプ63が設けられている。電流検出抵抗61は、定電流ドライバ36とUVLED32との間に接続されている。If用サンプルホールド付差動アンプ62は、電流検出抵抗61の両端部間の電位差を検出し、その結果を補償用ピーク波長演算回路51に対して出力する。Vf用サンプルホールド付差動アンプ63は、UVLED32と同数、例えば、6個設けられている。Vf用サンプルホールド付差動アンプ63は、各UVLED32のアノード-カソード間電圧Vfを測定し、その結果を補償用ピーク波長演算回路51に対して出力する。
次に、本具体例に係る紫外線照射装置3の動作について説明する。
図11は、本具体例に係る紫外線照射装置の動作を示すフローチャートである。
予め、各UVLED32について、図9に示すようなピーク波長λpとジャンクション温度Tjとの相関関係を求めておき、EEPROM42又はマイクロSDカード43に例えば数式の形式で記憶させておく。また、予め、各UVLED32について、図10に示すようなジャンクション温度Tj、放射束φe及び電流Ifの相関関係を求めておき、EEPROM42又はマイクロSDカード43に例えば数式の形式記憶させておく。
外部直流電源101から、紫外線照射装置3の定電流ドライバ36及び5V定電圧回路41に対して、例えば12Vの直流電流が供給される。5V定電圧回路41はこの12Vの直流電流を5Vの直流電流に変換して、紫外線照射装置3の制御系を構成する各回路、例えば、コントローラ37に供給する。これにより、紫外線照射装置3内の制御系が動作可能となる。
この状態で、硬化させる紫外線硬化樹脂100(図7参照)の種類を表す情報を、外部のパーソナルコンピュータ102に入力する。パーソナルコンピュータ102には、各種類の樹脂の最大効率波長λmax及び放射束φeに関する情報が記憶されている。パーソナルコンピュータ102は、硬化させる樹脂の種類に応じて、最大効率波長λmax及び放射束φeを設定する。
図11のステップS11に示すように、パーソナルコンピュータ102は、紫外線硬化樹脂100の最大効率波長λmaxと放射束φeの設定値を、紫外線照射装置3の通信回路44に対して送信する。通信回路44は、これらの情報を、UART55を介して、ジャンクション温度演算回路52に対して出力する。
ステップS12に示すように、ジャンクション温度演算回路52は、EEPROM42又はマイクロSDカード43に記憶されたピーク波長λpとジャンクション温度Tjとの関係を参照し、最大効率波長λmaxに基づいて、発光させるべきUVLED32を選択する。そして、ジャンクション温度演算回路52は、UVLEDセレクタ53を制御して、選択するUVLED32に接続されたスイッチング素子45をオン状態とし、他のスイッチング素子45をオフ状態とする。
次に、ステップS13に示すように、ジャンクション温度演算回路52は、図9に示すような関数Tj=f(λp)を参照して、最大効率波長λmaxから、選択されたUVLED32のジャンクション温度Tjの目標値を算出する。図9に示す関数は、例えば、ジャンクション温度Tjの二次関数である。図9に示す例では、最大効率波長λmaxが370nmである場合に、ジャンクション温度Tjの目標値は112℃となる。
また、ステップS14に示すように、ジャンクション温度演算回路52は、図10に示すような関数If=f(Tj、φe)に基づいて、ステップS11において入力された放射束φeの設定値及びステップS13において算出されたジャンクション温度Tjの目標値から、電流Ifを算出する。図10に示す関数は、例えば、ジャンクション温度Tj及び放射束φeの三次関数である。
次に、ステップS15に示すように、ジャンクション温度演算回路52は、UART56を介してペルチェコントローラ35に対してUVLED32のジャンクション温度Tjの目標値を表す信号を送信する。ペルチェコントローラ35はこの信号に基づいてペルチェ素子34を駆動し、実装基板30を介してUVLED32の温度を制御する。
その後、ステップS16に示すように、ジャンクション温度演算回路52は、ステップS14において算出された電流Ifの計算値に基づいて、パルス発生回路54に対して制御信号を出力する。パルス発生回路54は、この制御信号に基づいて定電流ドライバ36を駆動する。
これにより、ステップS17に示すように、定電流ドライバ36がパルス電流を出力する。図6に示すように、このパルス電流の1パルスの時間幅は10ms以下であり、デューティ比は0.01以下である。パルス電流は、選択された1個のUVLED32、すなわち、オン状態とされたスイッチング素子45に接続されたUVLED32内を流れる。このとき、このUVLED32のジャンクション温度Tjは所定の温度とされている。これにより、このUVLED32から所定のピーク波長の紫外線がパルス照射される。この結果、紫外線硬化樹脂100が硬化する。
このとき、パルス電流は電流検出抵抗61を通過することにより、電圧が降下する。If用サンプルホールド付差動アンプ62がこの電圧降下量を検出して、補償用ピーク波長演算回路51に対して出力する。また、Vf用サンプルホールド付差動アンプ63のうち、選択されたUVLED32に接続されたアンプ63が、選択されたUVLED32のアノード-カソード間電圧Vfを検出して、補償用ピーク波長演算回路51に対して出力する。
補償用ピーク波長演算回路51は、If用サンプルホールド付差動アンプ62の出力信号に基づいて電流Ifを算出する。次に、この電流IfとVf用サンプルホールド付差動アンプ63から入力された電圧Vfに基づいて、UVLED32のジャンクション温度Tjを推定する。次に、このジャンクション温度Tjに基づいて、ピーク波長λpを算出する。そして、ジャンクション温度Tjの推定値及びピーク波長λpの算出値をジャンクション温度演算回路52に対して出力する。
ジャンクション温度演算回路52は、ジャンクション温度Tjの推定値に基づき、EEPROM42又はマイクロSDカード43に記憶されたジャンクション温度Tjと放射束φeとの関係を参照して、放射束φeを算出する。そして、この放射束φeの演算値、及び、補償用ピーク波長演算回路51から入力されたピーク波長λpの算出値を用いて、ペルチェコントローラ35及びパルス発生回路54に対してフィードバックをかける。このようにして、UVLED32のジャンクション温度Tj及び放射束φeを目標値に近づけていく。
本具体例によれば、選択されたUVLED32のアノード-カソード間電圧Vf及び電流Ifに基づいて、UVLED32のジャンクション温度Tjを推定することができる。
本具体例における上記以外の構成、動作及び効果は、第2の実施形態と同様である。
なお、具体例において、放射束φeを増加させるために、1つのスイッチング素子45に対して複数のUVLED32を直列に接続してもよい。
<第3の実施形態>
図12は、本実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。
図12に示すように、本実施形態に係る紫外線照射装置4は、前述の第2の実施形態に係る紫外線照射装置2(図7参照)と比較して、定電流ドライバ16の替わりに定電流ドライバ26が設けられている点、及び、実装基板10の表面10aに温度検出素子13が設けられている点が異なっている。第2の実施形態の定電流ドライバ16はパルス電流を出力するが、本実施形態の定電流ドライバ26は連続した直流電流を出力する。なお、定電流ドライバ26は、任意の時間幅のパルス電流を出力することもできる。
本実施形態においては、コントローラ17が、発光素子12から紫外線を連続的に出射させながら、電圧・電流測定回路18が定電流ドライバ26から出力される電流Ifを測定すると共に、発光素子12のアノード-カソード間に印加される電圧Vfを測定する。電圧・電流測定回路18は、電流If及び電圧Vfの測定結果をコントローラ17に対して出力する。
コントローラ17は、電圧Vfに基づいて、発光素子12のジャンクション温度Tjを推定し、ジャンクション温度Tjが設定値に近づくように、温度制御素子コントローラ15を制御する。温度制御素子コントローラ15は、温度制御素子14を駆動し、実装基板10を介して、発光素子12のジャンクション温度Tjを制御する。
なお、実際には、ジャンクション温度Tjを直接測定することは困難であるため、温度検出素子13の温度Tsを制御する。第1及び第2の実施形態においては、発光素子12に供給する電流はパルス電流であるため、発光素子12に通電してもジャンクション温度Tjは殆ど上昇しない。このため、ジャンクション温度Tjは温度検出素子13の温度Tsと等しいとみなすことができる。
これに対して、本実施形態においては、発光素子12に連続した電流を供給するため、発光素子12のジャンクション温度Tjが無視できない程度に上昇する。このため、通電時にジャンクション温度Tjが設定値に近づくように、温度検出素子13の温度Tsはジャンクション温度Tjよりも低く設定しておく。すなわち、Ts<Tjとする。これにより、温度制御素子コントローラ15は、温度Tsを介して、ジャンクション温度Tjを間接的に制御する。このようにして、発光素子12が紫外線を出射している期間中に、ジャンクション温度Tjにフィードバックをかける。
また、コントローラ17は、ジャンクション温度Tjの推定値及び放射束φeの設定値に基づいて、電流Ifの設定値を決定する。そして、電圧・電流測定回路18から入力される電流Ifの測定値が、電流Ifの設定値に近づくように、電圧・電流測定回路18を制御する。このようにして、発光素子12が紫外線を出射している期間中に、放射束φeにフィードバックをかける。
本実施形態によれば、発光素子12に、所定のピーク波長λpの紫外線を連続して出射させることができる。これにより、紫外線硬化樹脂100に最大効率波長λmaxの紫外線を連続して照射できるため、より短い時間で紫外線硬化樹脂100を硬化させることができる。本実施形態における上記以外の構成、動作及び効果は、第2の実施形態と同様である。
<第3の実施形態の具体例>
図13は、本具体例に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。
図13に示すように、本具体例に係る紫外線照射装置5は、第2の実施形態の具体例に係る紫外線照射装置3(図8参照)と比較して、パルス発生回路54の替わりに電流設定回路74が設けられている点、及び、実装基板30に温度検出素子73が取り付けられている点が異なっている。
電流設定回路74は、連続した直流電流Ifを設定する。これにより、定電流ドライバ36に、所定の大きさに設定された直流電流Ifを連続して出力させることができる。なお、電流設定回路74は、必要に応じて、任意の時間幅のパルスを発生することもできる。この場合は、第2の実施形態の具体例と同様に、定電流ドライバ36はパルス電流を出力する。また、ジャンクション温度演算回路52は、温度検出素子73の温度Tsを制御することにより、間接的に、UVLED32のジャンクション温度Tjを制御する。
次に、本具体例に係る紫外線照射装置5の動作について説明する。
本具体例においては、UVLED32に紫外線を連続的に出射させる。このため、UVLED32が発熱する。そこで、UVLED32の温度が一定範囲内に維持されるように、積極的にフィードバックをかけて、温度Ts及び電流Ifを制御する。
図14及び図15は、本具体例に係る紫外線照射装置の動作を示すフローチャートである。
先ず、図14のステップS11~S15に示す工程を実施する。これらの工程の内容は、前述の第2の実施形態の具体例(図8~図11参照)と同様であるため、概略的に説明する。
先ず、ステップS11に示すように、紫外線硬化樹脂100の硬化に適した紫外線の最大効率波長λmax及び放射束φeを取得する。このとき、紫外線の照射時間も取得してもよい。紫外線の照射時間は、紫外線のピーク波長λp、放射束φe、並びに、硬化させようとする紫外線硬化樹脂100の種類及び量等に依存し、予め決定されている。
次に、ステップS12に示すように、最大効率波長λmaxに基づいて、発光させるUVLED32を選択する。
次に、ステップS13に示すように、UVLED32の電圧Vf又はジャンクション温度TjとUVLED32が出射する紫外線のピーク波長λpとの第1関係、例えば、図9に示す関数を取得する。そして、この関数に基づいて、最大効率波長λmaxからジャンクション温度Tjの目標値を算出する。
次に、ステップS14に示すように、紫外線の放射束φeとUVLED32に流す電流Ifとの第2関係、例えば、図10に示す関数を取得する。そして、この関数に基づいて、放射束φe及びジャンクション温度Tjから、電流Ifの設定値を算出する。
次に、ステップS15に示すように、温度Tjの目標値に基づいて、UVLED32の温度を制御する。
以後の工程は、第2の実施形態の具体例とは異なる。
図14のステップS21に示すように、ジャンクション温度演算回路52は、ステップS14において算出された電流Ifの設定値に基づいて、電流設定回路74に対して制御信号を出力する。電流設定回路74は、この制御信号に基づいて定電流ドライバ36を駆動する。
これにより、ステップS22に示すように、定電流ドライバ36が連続した直流電流を出力する。この直流電流は、選択された1個のUVLED32に供給される。これにより、このUVLED32は紫外線の照射を開始する。これに伴い、UVLED32は発熱する。
次に、図15のステップS23に示すように、ジャンクション温度演算回路52が、紫外線の照射を継続するか否かを判断する。この判断は、例えば、紫外線の照射開始から経過した時間が、ステップS11において入力された所定の照射時間に達しているか否かによって行うことができる。照射開始からの経過時間が所定の照射時間に達していなければ、ステップS24に進む。
ステップS24においては、電圧Vfを測定し、この測定結果、及び、第1関係である関数Tj=f(Vf)に基づいて、ジャンクション温度Tjを推定する。具体的には、アンプ63がUVLED32のアノード-カソード間電圧Vfを測定して、補償用ピーク波長演算回路51に対して出力する。補償用ピーク波長演算回路51は、この電圧Vfの測定値を関数Tj=f(Vf)に代入して、UVLED32のジャンクション温度Tjを推定する。そして、このジャンクション温度Tjの推定値をジャンクション温度演算回路52に対して出力する。
次に、ステップS25に示すように、ジャンクション温度演算回路52が、ステップS24において推定されたジャンクション温度Tjの推定値が、ステップS13において算出されたジャンクション温度Tjの目標値に近いか否かを判定する。例えば、温度Tjの推定値が(目標値-a℃)以上(目標値+b℃)以下の範囲にあれば、目標値に近いと判定し、上記範囲外にあれば、近くないと判定する。値a及び値bは任意である。ジャンクション温度Tjの推定値が目標値に近ければ、ステップS23に戻る。ジャンクション温度Tjの推定値が目標値に近くなければ、ステップS26に進む。
ステップS26においては、ジャンクション温度Tjの推定値が目標値に近づくように、温度Tsを制御する。具体的には、ジャンクション温度演算回路52が、UART56を介してペルチェコントローラ35に対して温度Tsの目標値を表す信号を送信する。ペルチェコントローラ35はこの信号に基づいてペルチェ素子34を駆動し、実装基板30に取り付けられた温度検出素子73の温度Tsを目標値に近づける。これにより、UVLED32のジャンクション温度Tjを間接的に制御する。このようにして、ジャンクション温度Tjがフィードバック制御される。
また、このとき、ジャンクション温度演算回路52は、第2関係、例えば、図10に示す関数If=f(Tj、φe)に基づいて、変動したジャンクション温度Tjに応じて電流Ifを修正する。そして、電流設定回路74を介して定電流ドライバ36を駆動し、電流Ifを制御する。このようにして、電流Ifがフィードバック制御される。その後、ステップS23に戻る。
ステップS23において、ジャンクション温度演算回路52が、紫外線の照射開始から経過した時間が所定の照射時間に達していないと判断した場合は、再び、ステップS24に進み、上述のフィードバック制御を繰り返す。一方、紫外線の照射開始から経過した時間が所定の照射時間に達したと判断した場合は、ステップS27に進む。
ステップS27においては、ジャンクション温度演算回路52が電流設定回路74に対して制御信号を出力し、電流設定回路74が定電流ドライバ36の駆動を停止する。これにより、UVLED32に対する電流の供給を停止する。この結果、UVLED32は紫外線の照射を停止する。これに伴い、UVLED32の発熱も停止する。
次に、ステップS28に示すように、ジャンクション温度演算回路52が、UART56を介してペルチェコントローラ35に対して制御信号を出力し、ペルチェコントローラ35がペルチェ素子34の駆動を停止する。これにより、UVLED32の温度制御が停止する。このようにして、一連の紫外線照射が終了する。
本具体例によれば、UVLED32のジャンクション温度Tj及び電流Ifをフィードバック制御することができる。これにより、UVLED32に連続的に紫外線を照射させても、ジャンクション温度Tjが変動し、ピーク波長λpが変動することを抑制できる。
本具体例における上記以外の構成、動作及び効果は、第2の実施形態の具体例と同様である。
<第4の実施形態>
図16は、本実施形態に係る紫外線照射装置を示すブロック図である。
図17は、横軸に波長をとり、縦軸に強度をとって、UVLEDから出射される紫外線の強度分布の一例を示すグラフである。
図16に示すように,本実施形態に係る紫外線照射装置6においては、第3の実施形態に係る紫外線照射装置4の構成に加えて、分光器27が設けられている。分光器27は、紫外線の強度を波長毎に測定する。分光器27は、UVLED32から出射した紫外線が照射される位置に配置されており、コントローラ17に接続されている。なお、分光器27の替わりに、フォトダイオード又は紫外線センサが設けられていてもよい。
分光器27により、例えば図17に示す波長分布が得られる。分光器27は、この波長分布をコントローラ17に対して出力する。コントローラ17は、この波長分布からピーク波長λp及び放射束φeを算出し、ピーク波長λp及び放射束φeのフィードバック制御に利用する。
このように、本実施形態によれば、ピーク波長λp及び放射束φeを直接測定してフィードバック制御に利用することができるため、ピーク波長λp及び放射束φeの精度が向上する。
本実施形態における上記以外の構成、動作及び効果は、第3の実施形態と同様である。
上述の各実施形態及びその具体例においては、紫外線照射装置の用途として、紫外線硬化樹脂を硬化させる例を説明したが、紫外線照射装置の用途はこれには限定されない。例えば、インクジェットプリンタ又はスクリーン印刷において、紫外線硬化インクを硬化させてもよい。また、紫外線接着法において、紫外線硬化接着剤を硬化させてもよい。更に、検査装置の紫外線光源として利用することも可能である。検査の例としては、紙幣識別、金属表面の傷の検出、エッジ検査、製品検査等が挙げられる。これらの用途以外にも、本発明に係る紫外線照射装置は、ピーク波長が制御された紫外線の光源として好適に用いることができる。
前述の各実施形態及びその具体例は、本発明を具現化した例であり、本発明はこれらの実施形態及び具体例には限定されない。例えば、前述の各実施形態及び具体例において、いくつかの構成要素又は工程を追加、削除又は変更したものも本発明に含まれる。また、前述の各実施形態及び具体例は、相互に組み合わせて実施することができる。
本発明は、例えば、集積回路装置の製造装置等に利用することができる。
1、2、3、4、5、6:紫外線照射装置
10:実装基板
10a:表面
10b:裏面
12、12a、12b、12c、12d、12e、12f:発光素子
13:温度検出素子
14:温度制御素子
15:温度制御素子コントローラ
16:定電流ドライバ
17:コントローラ
18:電圧・電流測定回路
26:定電流ドライバ
27:分光器
30:実装基板
32、32a、32b、32c、32d、32e、32f:UVLED
34:ペルチェ素子
35:ペルチェコントローラ
36:定電流ドライバ
37:コントローラ
38:電圧・電流測定回路
40:コントローラ基板
41:5V定電圧回路
42:EEPROM
43:マイクロSDカード
44:通信回路
45、45a、45b、45c、45d、45e、45f:スイッチング素子
51:補償用ピーク波長演算回路
52:ジャンクション温度演算回路
53:UVLEDセレクタ
54:パルス発生回路
55、56:UART
61:電流検出抵抗
62:If用サンプルホールド付差動アンプ
63:Vf用サンプルホールド付差動アンプ
73:温度検出素子
74:電流設定回路
100、100A、100B:紫外線硬化樹脂
101:外部直流電源
102:パーソナルコンピュータ
If:電流
Ra、Rb、Rc、Rd、Re、Rf、Rab、Rbc、Rcd、Rde、Ref:範囲
Tj:ジャンクション温度
Tp:1パルスの時間幅
Ts:温度
Vf:電圧
λmax:最大効率波長
λp:ピーク波長
φe:放射束

Claims (12)

  1. 紫外線を出射可能な発光素子と、
    前記発光素子の温度を制御する温度制御手段と、
    前記発光素子の電圧に基づいて前記温度制御手段を制御することにより、前記紫外線のピーク波長を制御する制御回路と、
    を備え
    前記制御回路は、複数種類の紫外線硬化樹脂について、各前記紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長を記憶している紫外線照射装置。
  2. 前記制御回路は、前記電圧に基づいて前記発光素子の温度を推定し、前記発光素子の温度と前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長との関係に基づいて前記温度制御手段を制御する請求項1記載の紫外線照射装置。
  3. ピーク波長が相互に異なる紫外線を出射可能な複数の発光素子と、
    前記複数の発光素子の温度を制御する温度制御手段と、
    前記複数の発光素子のうちの1つから紫外線を出射させると共に、前記温度制御手段を制御することにより、前記紫外線のピーク波長を制御する制御回路と、
    を備え
    前記制御回路は、複数種類の紫外線硬化樹脂について、各前記紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長を記憶している紫外線照射装置。
  4. 前記複数の発光素子が出射可能な紫外線のピーク波長は、365nm以上405nm以下である請求項3記載の紫外線照射装置。
  5. 前記複数の発光素子のそれぞれは、温度を制御することにより、前記ピーク波長を所定の範囲内で制御可能であり、
    前記複数の発光素子の前記範囲の一部が相互に重なっている請求項3または4に記載の紫外線照射装置。
  6. 前記範囲の一部が相互に重なっている重なり範囲の幅は、5nm以下である請求項5記載の紫外線照射装置。
  7. 前記制御回路は、前記発光素子の電圧に基づいて前記温度制御手段を制御する請求項3~6のいずれか1つに記載の紫外線照射装置。
  8. 前記制御回路は、前記発光素子から前記紫外線を出射させながら、前記発光素子の電圧に基づいて前記温度制御手段を制御する請求項1~7のいずれか1つに記載の紫外線照射装置。
  9. 前記制御回路は、前記発光素子に前記紫外線をパルス照射させる請求項1~7のいずれか1つに記載の紫外線照射装置。
  10. 前記パルス照射のパルス幅は10ミリ秒以下であり、前記パルス照射のデューティ比は0.01以下である請求項9記載の紫外線照射装置。
  11. 紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長を取得する工程と、
    発光素子の電圧または温度と前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長との関係を取得する工程と、
    前記関係に基づいて前記発光素子を載せた温度制御素子を制御することにより、前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長が前記紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長に近づくように、前記発光素子の温度を制御する工程と、
    前記発光素子にパルス幅が10ミリ秒以下の定電流パルスを印加する工程と、
    を備えた紫外線硬化樹脂の硬化方法。
  12. 紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長及び放射束を取得する工程と、
    発光素子の電圧または温度と前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長との第1関係を取得する工程と、
    前記紫外線の放射束と前記発光素子に流す電流との第2関係を取得する工程と、
    前記第1関係に基づいて前記発光素子を載せた温度制御素子を制御することにより、前記発光素子が出射する紫外線のピーク波長が前記紫外線硬化樹脂の硬化に適した紫外線のピーク波長に近づくように、前記発光素子の温度を制御すると共に、前記第2関係に基づいて、前記紫外線の放射束が前記紫外線硬化樹脂を硬化させる放射束になるような電流を前記発光素子に印加する工程と、
    を備えた紫外線硬化樹脂の硬化方法。
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