JP7207012B2 - 発光装置の製造方法、発光装置、およびプロジェクター - Google Patents

発光装置の製造方法、発光装置、およびプロジェクター Download PDF

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Description

本発明は、発光装置の製造方法、発光装置、およびプロジェクターに関する。
近年、複数のナノコラムを光源として備えた小型のプロジェクターの開発が進んでいる。このような小型のプロジェクターは、従来のLED(Light Emitting Diode)光源に比べて、高効率・高輝度かつ長寿命な光源を備えることができ、環境にやさしい省エネルギーのプロジェクターとして注目されている。
例えば特許文献1には、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法やMBE(Molecular Beam Epitaxy)法などにより、半導体基板から複数の開口を介してマスクパターンの上方に向けてナノコラムを成長させることが記載されている。
特開2013-239718号公報
特許文献1のような発光装置では、ナノコラムを成長させる際に、マスクパターン上に付着したナノコラムの原材料が、マスクパターン上を移動して開口に集まってナノコラムが形成される。しかしながら、マスクパターン上を移動する原材料が多いと、ナノコラムの原材料が過多となって、ナノコラムが巨大化する場合があった。これにより、隣り合うナノコラムが接触し、発光効率および最大光出力の大幅な低下を招くことがあった。さらには、所望の波長が発光しない場合もあった。
本発明に係る発光装置の製造方法一態様は、
基板にマスク層を形成する工程と、
前記マスク層に、複数の第1開口と、少なくとも1つの第2開口と、を形成する工程と、
複数の前記第1開口から発光部を有する柱状部を成長させ、前記第2開口から構造体を成長させる工程と、
を有する。
前記発光装置の製造方法の一態様において、
前記第1開口および前記第2開口を形成する工程では、
前記基板の厚さ方向からみて、前記第2開口の形状を環状にし、前記第2開口の内側に、複数の前記第1開口を形成してもよい。
前記発光装置の製造方法の一態様において、
前記第1開口および前記第2開口を形成する工程では、
前記マスク層に、第1部分と、前記基板の厚さ方向からみて前記第1部分の外側に第2部分と、を形成し、
前記第1部分に、複数の前記第1開口と、前記第2開口と、を形成し、
前記第2部分を平坦にしてもよい。
前記発光装置の製造方法の一態様において、
前記第1開口および前記第2開口を形成する工程では、
前記第2開口を、複数形成し、
前記基板の厚さ方向からみて、
複数の前記第2開口を、複数の前記第1開口を囲んで形成し、
前記第2開口を、前記第1開口と同じ形状に形成し、
前記第2開口を、前記第1開口と同じ大きさに形成してもよい。
前記発光装置の製造方法の一態様において、
前記第1開口および前記第2開口を形成する工程では、
前記マスク層に、第1部分と、前記基板の厚さ方向からみて前記第1部分の外側に第2部分と、を形成し、
前記第1部分に、複数の前記第1開口と、前記基板の厚さ方向からみて複数の前記第1開口を囲む複数の前記第2開口を形成し、
前記第2部分を平坦にしてもよい。
本発明に係る発光装置一態様は、
基板と、
前記基板に設けられた複数の柱状部と、
前記基板に設けられ、前記柱状部と同じ層構造を有する少なくとも1つの構造体と、
を有し、
前記柱状部は、発光部を有し、
前記柱状部には、電流が注入され、
前記構造体には、電流が注入されない。
前記発光装置の一態様において、
前記基板の厚さ方向からみて、前記構造体の形状は、環状であり、
前記構造体の内側に、複数の前記柱状部が設けられていてもよい。
前記発光装置の一態様において、
前記基板に設けられた被覆層を有し、
前記被覆層には、複数の第1開口と、第2開口とが設けられ、
前記柱状部は、前記第1開口に設けられ、
前記構造体は、前記第2開口に設けられ、
前記被覆層は、
複数の前記第1開口と、前記第2開口とが設けられた第1部分と、
前記基板の厚さ方向からみて前記第1部分の外側に設けられた、平坦な第2部分と、
を有してもよい。
前記発光装置の一態様において、
前記構造体は、複数設けられ、
前記基板の厚さ方向からみて、
複数の前記構造体は、複数の前記柱状部を囲んで設けられ、
前記構造体の形状は、前記柱状部の形状と同じであり、
前記構造体の大きさは、前記柱状部の大きさと同じであってもよい。
前記発光装置の一態様において、
前記基板に設けられた被覆層を有し、
前記被覆層には、複数の第1開口と、複数の第2開口とが設けられ、
前記柱状部は、前記第1開口に設けられ、
前記構造体は、前記第2開口に設けられ、
前記被覆層は、
複数の前記第1開口と、前記基板の厚さ方向からみて複数の前記第1開口を囲む複数の前記第2開口とが設けられた第1部分と、
前記基板の厚さ方向からみて前記第1部分の外側に設けられた、平坦な第2部分と、
を有してもよい。
本発明に係るプロジェクターの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
第1実施形態に係る発光装置を模式的に示す平面図。 第1実施形態に係る発光装置を模式的に示す断面図。 MOCVD法による柱状部の成長について説明するための図。 MBE法による柱状部の成長について説明するための図。 第1実施形態に係る発光装置の製造方法を説明するためのフローチャート。 第1実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。 第1実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。 第1実施形態に係る発光装置の製造工程を模式的に示す断面図。 第1実施形態の第1変形例に係る発光装置を模式的に示す断面図。 第1実施形態の第2変形例に係る発光装置を模式的に示す断面図。 第2実施形態に係る発光装置を模式的に示す断面図。 第3実施形態に係るプロジェクターを模式的に示す図。 第3実施形態に係るプロジェクターを模式的に示す図。 実施例1の金属顕微鏡像。 実施例1のSEM像。 実施例1のSEM像。 実施例1のSEM像。 比較例1の金属顕微鏡像。 比較例1のSEM像。 比較例1のSEM像。 比較例1のSEM像。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
1. 第1実施形態
1.1. 発光装置
まず、第1実施形態に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態に係る発光装置100を模式的に示す平面図である。図2は、第1実施形態に係る発光装置100を模式的に示す図1のI-I線断面図である。なお、図1および図2では、互いに直交する3軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を図示している。
発光装置100は、図1および図2に示すように、例えば、基板10と、柱状部20と、構造体30と、マスク層40と、絶縁層50と、第1電極60と、第2電極62と、を有している。なお、便宜上、図1では、絶縁層50の図示を省略している。
基板10は、例えば、支持基板12と、バッファー層14と、を有している。支持基板12は、例えば、GaN基板、サファイア基板、Si基板などである。バッファー層14は、支持基板12上に設けられている。バッファー層14は、例えば、Siがドープされたn型のGaN層などである。図1に示す例では、バッファー層14の形状は、Y軸方向に長手方向を有する長方形であり、X軸方向に複数配列されている。
なお、「上」とは、柱状部20の第1半導体層22とMQW層24との積層方向(以下、単に「積層方向」ともいう)において、MQW層24からみて基板10から遠ざかる方向のことであり、「下」とは、積層方向において、MQW層24からみて基板10に近づく方向のことである。また、以下では、積層方向と直交する方向を、「基板10の面内方向」ともいう。
柱状部20は、基板10に設けられている。図2に示す例では、柱状部20は、バッファー層14上に設けられている。柱状部20の平面形状は、正六角形等の多角形、円などである。柱状部20の径は、例えば、nmオーダーであり、具体的には50nm以上500nm以下である。柱状部20の積層方向の大きさは、例えば、0.5μm以上3μm以下である。
なお、「径」とは、柱状部20の平面形状が円の場合は、直径であり、柱状部20の平面形状が円ではない形状の場合は、最小包含円の直径である。例えば、柱状部20の平面形状が多角形の場合は、該多角形を内部に含む最小の円であり、柱状部20の平面形状が楕円の場合は、該楕円を内部に含む最小の円である。また、「平面形状」とは、積層方向からみた形状のことである。また、「柱状部の中心」とは柱状部20の平面形状が円の場合は、円の中心であり、平面形状が円以外の場合は、最小包含円の中心である。構造体の中心についても同様である。
柱状部20は、複数設けられている。柱状部20は、所定の方向に所定のピッチで周期的に配置されている。複数の柱状部20のピッチは、例えば、0.2μm以上1μm以下である。複数の柱状部20は、積層方向からみて、例えば、三角格子状、四角格子状、などに規則的に配置されている。
柱状部20は、柱状部集合体21を構成している。柱状部集合体21は、例えば、数百本~数千本の柱状部20を有している。柱状部集合体21は、複数設けられている。柱状部集合体21は、図1に示すように、X軸方向およびY軸方向に複数配列されている。すなわち、柱状部集合体21は、マトリックス状に配列されている。発光装置100をプロジェクターに用いた場合、1つの柱状部集合体21は、1つの画素として機能してもよい。なお、便宜上、図1では、柱状部集合体21を簡略化して図示している。
図示の例では、X軸方向において隣り合う柱状部集合体21が設けられたバッファー層14は、互いに離間している。Y軸方向において隣り合う柱状部集合体21が設けられたバッファー層14は、互いに連続している。
柱状部20は、図2に示すように、例えば、第1半導体層22と、MQW(Multi Quantum Well)層24と、第2半導体層26と、を有している。
第1半導体層22は、バッファー層14上に設けられている。半導体層22は、例えば、Siがドープされたn型のGaN層である。
MQW層24は、第1半導体層22上に設けられている。MQW層24は、第1半導体層22と第2半導体層26との間に設けられている。MQW層24は、例えば、GaN層
とInGaN層とから構成された量子井戸構造を有している。MQW層24には、電流が注入される。MQW層24は、電流が注入されることで光を発することが可能な発光部である。
第2半導体層26は、MQW層24上に設けられている。第2半導体層26は、第1半導体層22と導電型の異なる層である。第2半導体層26は、例えば、Mgがドープされたp型のGaN層である。第1半導体層22および第2半導体層26は、MQW層24よりもバンドギャップが大きい層である。第1半導体層22および第2半導体層26は、MQW層24に光を閉じ込める機能を有するクラッド層である。
発光装置100では、p型の第2半導体層26、不純物がドーピングされていないMQW層24、およびn型の第1半導体層22により、pinダイオードが構成される。発光装置100では、第1電極60と第2電極62との間に、pinダイオードの順バイアス電圧を印加して電流を注入すると、MQW層24において電子と正孔との再結合が起こる。この再結合により発光が生じる。MQW層24において発生した光は、半導体層22,26により基板10の面内方向に絶縁層50を通って伝搬して、複数の柱状部20によるフォトニック結晶の効果により定在波を形成し、基板10の面内方向に閉じ込められる。閉じ込められた光は、MQW層24において利得を受けてレーザー発振する。そして、発光装置100は、+1次回折光および-1次回折光を、レーザー光として積層方向に出射する。
なお、隣り合う柱状部集合体21は、一方の柱状部集合体21の柱状部20おいて発生した光が絶縁層50を通って他方の柱状部集合体21に至らない程度に、離れている。
また、図示はしないが、支持基板12とバッファー層14との間、または支持基板12の下に反射層が設けられていてもよい。該反射層は、例えば、DBR(Distributed Bragg Reflector)層である。該反射層によって、MQW層24において発生した光を反射させることができ、発光装置100は、第2電極62側からのみ光を出射することができる。
構造体30は、基板10に設けられている。構造体30は、少なくとも1つ設けられている。図示の例では、構造体30は、1つ設けられている。構造体30は、例えば、バッファー層14上に設けられている。構造体30が設けられたバッファー層14と、柱状部20が設けられたバッファー層14とは、離間している。そのため、構造体30には、電流が注入されない。
構造体30の形状は、図1に示すように、基板10の厚さ方向からみて、環状である。ここで、「環状」とは、所定の領域を囲む形状であり、第1円形から第2円形を除いた形状であってもよいし、四角形などの第1多角形から第2多角形を除いた形状であってもよい。構造体30は、図1に示すように、基板10の厚さ方向からみて、外縁30aと内縁30bと、を有している。図示の例では、構造体30は、第1四角形から第2四角形を除いた形状を有している。ここで、第1四角形の中心の位置と第2四角形の中心の位置とは、同じであり、第1四角形の形状と第2四角形の形状とは、同じであり、第2四角形の面積は第1四角形の面積よりも小さい。基板10の厚さ方向からみて、構造体30の内縁30bの内側に、複数の柱状部20が設けられている。なお、基板10の厚さ方向は、積層方向と同じ方向である。また、積層方向からみて、構造体30の形状は、環状ではなく、例えば、Cの字状であってもよい。
構造体30は、柱状部20と同じ層構造を有している。具体的には、柱状部20を構成する層の数と、構造体30を構成する層の数とは、同じであり、構造体30を構成する各
層の材質は、柱状部20を構成する各層の材質と同じである。図示の例では、柱状部20および構造体30ともに、3つの層から構成されている。構造体30は、例えば、第1半導体層32と、MQW層34と、第2半導体層36と、を有している。
第1半導体層32は、バッファー層14上に設けられている。第1半導体層32は、柱状部20の第1半導体層22と同じ工程で成長される。第1半導体層32の材質は、第1半導体層22の材質と同じである。第1半導体層32の厚さは、例えば、第1半導体層22の厚さと同じである。
MQW層34は、第1半導体層32上に設けられている。MQW層34は、柱状部20のMQW層24と同じ工程で成長される。MQW層34の材質は、MQW層24の材質と同じである。MQW層34の厚さは、例えば、MQW層24の厚さと同じである。MQW層34には、電流が注入されない。そのため、MQW層34は、発光せず、構造体30は、発光部を有していない。
第2半導体層36は、MQW層34上に設けられている。第2半導体層36は、柱状部20の第2半導体層26と同じ工程で成長される。第2半導体層36の材質は、第2半導体層26の材質と同じである。第2半導体層36の厚さは、例えば、第2半導体層26の厚さと同じである。
マスク層40は、基板10に設けられている。図示の例では、マスク層40は、基板10上に設けられている。マスク層40は、基板10を被覆する被覆層である。図示の例では、マスク層40は、支持基板12上およびバッファー層14上に設けられている。マスク層40は、例えば、酸化シリコン層、窒化シリコン層、チタン層などである。マスク層40は、基板10上に、柱状部20および構造体30を成長させるためのマスクである。
マスク層40には、第1開口42と、第2開口44と、が設けられている。第1開口42および第2開口44は、マスク層40を、積層方向に貫通している。
第1開口42は、柱状部20を成長させるための開口である。第1開口42には、柱状部20が設けられている。第1開口42は、複数の柱状部20に対応して、複数設けられている。
第2開口44は、構造体30を成長させるための開口である。第2開口44には、構造体30が設けられている。第2開口44は、少なくとも1つ設けられている。図示の例では、第2開口44は、1つ設けられている。
第2開口44の形状は、図1に示すように、積層方向からみて、環状の形状である。第2開口44は、外縁44aと内縁44bと、を有している。図示の例では、第2開口44は、第3四角形から第4四角形を除いた形状を有している。ここで、第3四角形の中心の位置と第4四角形の中心の位置とは、同じであり、第3四角形の形状と第4四角形の形状とは同じであり、第四角形の面積は第四角形の面積よりも小さい。積層方向からみて、第2開口44の内縁44bの内側に、複数の開口42が設けられている。なお、積層方向からみて、第2開口44の形状は、環状ではなく、例えば、Cの字状であってもよい。
第2開口44と、第2開口44に最も近い第1開口42と、の間の距離Dは、図2に示すように、例えば、1μm以上である。距離Dを1μm以上とすることで、柱状部20および構造体30を成長させる工程において、マスク層40の部分40a上に付着した原材料が、第2開口44側に移動することにより、柱状部20側に移動する原材料が少なくなり、柱状部20の成長が遅くなってしまうことを低減できる。また、距離Dは、1cm以
下であることが望ましい。距離Dを1cm以下とすることで、マスク層40の部分40a上に付着した原材料が、第1開口42側に移動し過ぎて柱状部20が巨大化してしまうことを低減できる。なお、部分40aは、積層方向からみて、マスク層40の、第1開口42と第2開口44との間の部分である。
第2開口44の幅W1は、例えば、柱状部集合体21の幅W2の1/10以上、1cm以下である。幅W1が幅W2より小さいと、第2開口44によって露出された基板10によって原材料を十分にトラップすることができない場合がある。幅W1が1cmより大きいと、原材料をトラップし過ぎて、柱状部20の成長が遅くなってしまう場合がある。
マスク層40は、第1部分46と、第2部分48と、を有している。第1部分46には、複数の第1開口42と、第2開口44とが設けられている。図示の例では、第1部分46は、第2開口44の外縁44aの内側の部分である。第2部分48は、積層方向からみて、第1部分46の外側に設けられている。具体的には、第2部分48は、積層方向からみて、第2開口44の外縁44aの外側の部分である。第2部分48には、第1開口42および第2開口44は、設けられていない。第2部分48の上面は、平坦な面であり、第2部分48は、平坦な部分である。
絶縁層50は、図2に示すように、マスク層40上に設けられている。図示の例では、絶縁層50は、隣り合う柱状部20の間、隣り合う柱状部集合体21の間、および柱状部集合体21と構造体30との間に設けられている。絶縁層50の屈折率は、例えば、MQW層24の屈折率よりも低い。絶縁層50は、例えば、酸化シリコン層、酸化アルミニウム層、酸化チタン層などである。絶縁層50は、MQW層24で生じた光を、基板10の面内方向に伝搬させることができる。
第1電極60は、バッファー層14上に設けられている。バッファー層14は、第1電極60とオーミックコンタクトしていてもよい。図示の例では、第1電極60は、バッファー層14を介して、第1半導体層22と電気的に接続されている。第1電極60は、MQW層24に電流を注入するための一方の電極である。第1電極60としては、例えば、バッファー層14側から、Ti層、Al層、Au層の順序で積層したものなどを用いる。
第1電極60は、複数設けられている。図示の例では、第1電極60は、Y軸方向に延在する形状を有し、複数の第1電極60は、X軸方向に並んでいる。第1電極60は、第1パッド61に接続されている。第1パッド61のX軸方向の大きさは、第1電極60のX軸方向の大きさよりも大きい。
第2電極62は、第2半導体層26上に設けられている。図示の例では、第2電極62は、さらに、第2半導体層36上および絶縁層50上に設けられている。第2半導体層26は、第2電極62とオーミックコンタクトしていてもよい。第2電極62は、第2半導体層26と電気的に接続されている。第2電極62は、MQW層24に電流を注入するための他方の電極である。第2電極62としては、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)を用いる。なお、図示はしないが、第2電極62と構造体30との間に絶縁層が設けられていてもよい。
第2電極62は、複数設けられている。図示の例では、第2電極62は、X軸方向に延在する形状を有し、複数の第2電極62は、Y軸方向に並んでいる。第2電極62は、第2パッド63に接続されている。第2パッド63のY軸方向の大きさは、第2電極62のY軸方向の大きさよりも大きい。第1電極60および第2電極62は、複数の柱状部集合体21に対して、独立に電流を注入することができるように構成されている。
発光装置100は、例えば、以下の特徴を有する。
発光装置100では、基板10と、基板10に設けられた複数の柱状部20と、基板10に設けられ、柱状部20と同じ層構造を有する少なくとも1つの構造体30と、を有し、柱状部20は、発光部を有し、柱状部20には、電流が注入され、構造体30には、電流が注入されない。そのため、発光装置100では、柱状部20の巨大化を抑えることができる。これにより、隣り合う柱状部20の接触を抑え、歩留まりを向上させることができる。また、複数の柱状部集合体21において、均一性よく発光することができる。以下、柱状部20の巨大化を抑えることができる理由について説明する。
図3は、MOCVD法による柱状部20の成長について説明するための図である。図3に示すように、MOCVD法で柱状部20を成長させる場合、柱状部20の原材料2は、直接、成長して柱状部20となる柱状部20aの先端に付着するものと、マスク層40上に付着した後、マスク層40上を柱状部20a側に移動し、柱状部20aを駆け上って柱状部20aの先端に至るものがある。マスク層40上に付着した原材料2は、マスク層40と格子定数が大きく異なるので、マスク層40上を移動する。
仮に、マスク層40に、構造体30を設けるための第2開口44が設けられていないと、マスク層40上を移動して柱状部20aに集まる原材料2が過多となり、柱状部20が巨大化する場合がある。具体的には、多くの原材料2がマスク層40の第2部分48上を移動して柱状部20aに集まり、柱状部20が巨大化する。第2部分48は、原材料2をトラップするような開口が設けられていない部分である。
発光装置100では、構造体30を設けるための第2開口44が設けられているため、第2開口44によって露出した基板10が、マスク層40の例えば第2部分48上を移動して柱状部20aに向かう原材料2をトラップすることができる。さらに、第2開口44によって露出した基板10上において成長された構造体によって、原材料2をトラップすることができる。該構造体は、成長して構造体30となる。そのため、柱状部20の巨大化を抑えることができる。
なお、図3において、原材料2は、例えば、GaNである。ただし、原材料2は、GaNに限定されず、柱状部20の材質によっては、InN、AlN、InGaN、AlGaN、InGaAlNなどの半導体材料であってもよい。
また、図3において、第1供給源70は、Nを供給する。第2供給源72は、Ga(CHを供給する。第3供給源74は、NHを供給する。第4供給源76は、Hを供給する。特に、MOCVD法では、原材料2を、柱状部20の横方向から供給するため、マスク層40上に付着した原材料2が横方向に移動し易い。ただし、図4に示すように、MBE法で柱状部20を形成する場合でも、マスク層40上に付着した原材料2は、横方向へ移動する。なお、横方向は、基板10の面内方向と同じ方向である。また、図4において、第5供給源78は、Gaを供給する。
発光装置100では、積層方向からみて、構造体30の形状は、環状であり、構造体30の内側に、複数の柱状部20が設けられている。そのため、発光装置100では、柱状部20を成長させる工程において、マスク層40上を様々な方向から移動して来る原材料2を、トラップすることができる。
発光装置100では、基板10に設けられたマスク層40を有し、前記マスク層40には、複数の第1開口42と、第2開口44とが設けられ、柱状部20は、第1開口42に設けられ、構造体30は、第2開口44に設けられ、マスク層40は、複数の第1開口4
2と、第2開口44とが設けられた第1部分46と、積層方向からみて第1部分46の外側に設けられた、平坦な第2部分48と、を有する。発光装置100では、柱状部20を成長させる工程において、マスク層40の第2部分48上を移動して柱状部20aに向かう原材料2をトラップすることができる。
なお、上記では、InGaN系のMQW層24について説明したが、MQW層24としては、出射される光の波長に応じて、電流が注入されることで発光可能なあらゆる材料系を用いることができる。例えば、AlGaN系、AlGaAs系、InGaAs系、InGaAsP系、InP系、GaP系、AlGaP系などの半導体材料を用いることができる。
また、上記では、第2開口44によってバッファー層14が露出される例について説明したが、第2開口44によって露出させる層の材質は、原材料2をトラップすることができれば限定されない。例えば、第2開口44によって露出される層の材質を調整することにより、トラップされる原材料2の量を調整することができる。ただし、第2開口44によってバッファー層14が露出される例の方が、製造方法を簡素化することができる。
また、上記では、発光装置100がレーザーである場合について説明したが、発光装置100は、LEDであってもよい。
1.2. 発光装置の製造方法
次に、第1実施形態に係る発光装置100の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図5は、第1実施形態に係る発光装置100の製造方法を説明するためのフローチャートである。図6~図8は、第1実施形態に係る発光装置100の製造方法を模式的に示す断面図である。
図6に示すように、基板10を準備する(ステップS1)。具体的には、支持基板12を準備し、支持基板12上にバッファー層14をエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD法、MBE法などが挙げられる。次に、バッファー層14を、例えば、フォトリソグラフィーおよびエッチングによってパターニングする。以上により、基板10を準備することができる。
図7に示すように、基板10にマスク層40を形成する(ステップS2)。具体的には、スパッタ法、MOCVD法、MBE法などにより、基板10上にマスク層40を形成する。
次に、マスク層40に、複数の第1開口42と、第2開口44と、を形成する(ステップS3)。具体的には、マスク層40を、例えば、フォトリソグラィーおよびエッチングによってパターニングして、マスク層40に、複数の第1開口42と、第2開口44と、を形成する。
第1開口42および第2開口44を形成する工程(ステップS3)では、積層方向からみて、第2開口44の形状を環状にし、第2開口44の内側に、複数の第1開口42を形成する。さらに、マスク層40に、第1部分46と、積層方向からみて第1部分46の外側に第2部分48と、を形成し、第1部分46に、複数の第1開口42と、第2開口44と、を形成し、第2部分48を平坦にする。
図8に示すように、複数の第1開口42から柱状部20を成長させ、第2開口44から構造体30を成長させる(ステップS4)。具体的には、マスク層40をマスクとして、バッファー層14上に、第1半導体層22、MQW層24、および第2半導体層26を、この順でエピタキシャル成長させて柱状部20を形成する。さらに、マスク層40をマスクとして、バッファー層14上に、第1半導体層32、MQW層34、および第2半導体層36を、この順でエピタキシャル成長させて構造体30を形成する。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD法、MBE法などが挙げられる。
柱状部20および構造体30を成長させる工程(ステップS4)では、第1半導体層22,32を同じ工程で成長させる。さらに、MQW層24,34を同じ工程で成長させる。第2半導体層26,36を同じ工程で成長させる。これにより、構造体30は、柱状部20と同じ層構造を有する。
図2に示すように、次に、バッファー層14の一部を露出させた後、露出されたバッファー層14上に、第1電極60を形成する。第1電極60は、例えば、真空蒸着法などにより形成される(ステップS5)。
次に、マスク層40上および第1電極60上に、絶縁層50を形成する。絶縁層50は、例えば、スピンコート法などにより形成される(ステップS6)。
次に、柱状部20上、構造体30上、および絶縁層50上に、第2電極62を形成する。第2電極62は、例えば、真空蒸着法などにより形成される(ステップS7)。
以上の工程により、発光装置100を製造することができる。
発光装置100の製造方法は、例えば、以下の特徴を有する。
発光装置100の製造方法では、基板10にマスク層40を形成する工程と、マスク層40に、複数の第1開口42と、少なくとも1つの第2開口44と、を形成する工程と、複数の第1開口42から発光部を有する柱状部20を成長させ、第2開口44から構造体30を成長させる工程と、を有する。そのため、発光装置100の製造方法では、上記のとおり、第2開口44によって露出した基板10、および露出した基板10上において成長された構造体により、マスク層40を移動して柱状部20に向かう原材料2をトラップすることができる。これにより、柱状部20の巨大化を抑えることができる。
発光装置100の製造方法では、第1開口42および第2開口44を形成する工程において、積層方向からみて、第2開口44の形状を環状にし、第2開口44の内側に、複数の第1開口42を形成する。そのため、マスク層40上を様々な方向から移動して来る原材料2を、トラップすることができる。
発光装置100の製造方法では、第1開口42および第2開口44を形成する工程において、マスク層40に、第1部分46と、積層方向からみて第1部分46の外側に第2部分48と、を形成し、第1部分46に、複数の第1開口42と、第2開口44と、を形成し、第2部分48を平坦にする。発光装置100の製造方法では、マスク層40の第2部分48上を移動して柱状部20に向かう原材料2をトラップすることができる。
1.3. 発光装置の変形例
1.3.1. 第1変形例
次に、第1実施形態の第1変形例に係る発光装置110について、図面を参照しながら説明する。図9は、第1実施形態の第1変形例に係る発光装置110を模式的に示す断面図である。
以下、第1実施形態の第1変形例に係る発光装置110において、上述した第1実施形
態に係る発光装置100の例と異なる点について説明し、同様の点については説明を省略する。このことは、以下に示す第1実施形態の第2変形例に係る発光装置において、同様である。
上述した発光装置100では、図2に示すように、構造体30が設けられたバッファー層14と、構造体30に最も近い柱状部集合体21が設けられたバッファー層14とは、互いに離間していた。
これに対し、発光装置110では、図9に示すように、構造体30が設けられたバッファー層14と、構造体30に最も近い柱状部集合体21が設けられたバッファー層14とは、互いに接続されて一体に設けられている。
発光装置110では、例えば、第2電極62と構造体30との間に絶縁層80が設けられている。これにより、構造体30には、第1電極60および第2電極62によって電流が注入されない。絶縁層80は、例えば、酸化シリコン層、窒化シリコン層などである。
なお、図示はしないが、柱状部20上に設けられた第2電極62に電流を流すことができれば、構造体30上には、絶縁層80および第2電極62が設けられていなくてもよい。
1.3.2. 第2変形例
次に、第1実施形態の第2変形例に係る発光装置120について、図面を参照しながら説明する。図10は、第1実施形態の第変形例に係る発光装置120を模式的に示す断面図である。
上述した発光装置100では、図2に示すように、マスク層40には、第2開口44が設けられていた。
これに対し、発光装置120では、図10に示すように、マスク層40には、第2開口44が設けられていない。
発光装置120では、マスク層40上にトラップ層90が設けられている。トラップ層90は、柱状部20を成長させる工程において、原材料2をトラップする層である。トラップ層90の材質は、例えば、バッファー層14の材質と同じである。なお、トラップ層90は、原材料2をトラップすることができれば、その材質は、特に限定されない。例えば、トラップ層90の材質を調整することによって、トラップされる原材料2の量を調整することができる。構造体30は、トラップ層90上に設けられている。
2. 第2実施形態
2.1. 発光装置
次に、第2実施形態に係る発光装置200について、図面を参照しながら説明する。図11は、第2実施形態に係る発光装置200を模式的に示す断面図である。以下、第2実施形態に係る発光装置200において、上述した第1実施形態に係る発光装置100の例と異なる点について説明し、同様の点については説明を省略する。
上述した発光装置100では、図1および図2に示すように、構造体30は、1つ設けられて、第2開口44は、1つ設けられていた。
これに対し、発光装置200では、図11に示すように、構造体30は、複数設けられ、第2開口44は、設けられている。
構造体30の形状は、柱状部20と同じ柱状である。構造体30の形状は、積層方向からみて、柱状部20の形状と同じである。構造体30の大きさは、積層方向からみて、柱状部20の大きさと同じである。隣り合う構造体30の間の距離は、例えば、隣り合う柱状部20の間の距離と同じである。複数の構造体30は、積層方向からみて、複数の柱状部20を囲んで設けられている。複数の構造体30は、積層方向からみて、複数の柱状部20と同様に、規則的に配置されている。隣り合う構造体30の間の距離とは、隣り合う構造体30の各々の中心間の距離であり、隣り合う柱状部20の間の距離とは、隣り合う柱状部20の各々の中心間の距離である。
マスク層40の第1部分46には、複数の第1開口42と、積層方向からみて複数の第1開口42を囲む複数の第2開口44とが設けられている。第1部分46は、積層方向からみて、複数の第1開口42を囲んで設けられた複数の第2開口44のうち、最外周に位置する第2開口44を繋いで形成される図形よりも、内側の部分である。
発光装置200では、例えば、以下の特徴を有する。
発光装置200では、構造体30は、複数設けられ、積層方向からみて、複数の構造体30は、複数の柱状部20を囲んで設けられ、構造体30の形状は、柱状部20の形状と同じであり、構造体30の大きさは、柱状部20の大きさと同じである。これにより、発光装置200では、発光装置100の場合に比べて、柱状部20を成長させる工程において、例えば第2開口44によって露出させた基板10上において成長された構造体が、原材料2を過剰にトラップしないようにすることができる。原材料2が過剰にトラップされると、柱状部20が十分に、成長できない場合がある。このように、発光装置200では、マスク層40上を移動して柱状部20aに至る原材料2の量を、調整することができる。
第2開口44と第1開口42との間の最短距離Dは、例えば、隣り合う第1開口42の間の距離以上である。距離Dを、隣り合う第1開口42の間の距離以上とすることで、柱状部20と構造体30とが接触することを低減できる。また、第2開口44と、第2開口44に最も近い第1開口42と、の間の距離Dは、1μm以上であることが望ましい。距離Dを1μm以上とすることで、柱状部20および構造体30を成長させる工程において、マスク層40の部分40a上に付着した原材料が、第2開口44側に移動することにより、柱状部20側に移動する原材料が少なくなり、柱状部20の成長が遅くなってしまうことを低減できる。また、距離Dは、1cm以下であることが望ましい。距離Dを1cm以下とすることで、マスク層40の部分40a上に付着した原材料が、第1開口42側に移動し過ぎて柱状部20が巨大化してしまうことを低減できる。なお、部分40aは、積層方向からみて、マスク層40の、第1開口42と第2開口44との間の部分である。
なお、積層方向からみて、複数の第2開口44の形状は、特に限定されず、線状などであってもよい。
2.2. 発光装置の製造方法
次に、第2実施形態に係る発光装置200の製造方法について、図面を参照しながら説明する。以下、第2実施形態に係る発光装置200の製造方法において、上述した第1実施形態に係る発光装置100の製造方法の例と異なる点について説明し、同様の点については説明を省略する。
発光装置200の製造方法では、図11に示すように、第1開口42および第2開口44を形成する工程において、第2開口44を、複数形成する。さらに、複数の第2開口4
4を、積層方向からみて、複数の第1開口42を囲んで形成する。さらに、積層方向からみて、第2開口44を、第1開口42と同じ形状に形成する。積層方向からみて、第1開口42および第2開口44の形状は、例えば、円である。さらに、積層方向からみて、第2開口44を、第1開口42と同じ大きさに形成する。さらに、マスク層40の第1部分46に、複数の第1開口42と、積層方向からみて複数の第1開口42を囲む複数の第2開口44を形成し、マスク層40の第2部分48を平坦にする。
発光装置200の製造方法では、例えば、以下の特徴を有する。
発光装置200の製造方法では、第1開口42および第2開口44を形成する工程において、第2開口44は、複数形成され、積層方向からみて、複数の第2開口44は、複数の第1開口42を囲んで形成され、第2開口44は、第1開口42と同じ形状に形成され、第2開口44は、第1開口42と同じ大きさに形成される。そのため、上記のように、原材料2を過剰にトラップしないようにすることができる。
3. 第3実施形態
次に、第3実施形態に係るプロジェクターについて、図面を参照しながら説明する。図12は、第3実施形態に係るプロジェクター300を模式的に示す図である。
プロジェクター300は、図12に示すように、赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ出射する赤色光源100R、緑色光源100G、青色光源100Bと、を有している。赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bの各々は、例えば、発光装置100によって構成されている。さらに、プロジェクター300は、投射レンズ302を有する。なお、便宜上、図12では、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bを簡略化して図示している。
赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bは、柱状部集合体21を映像の画素として画像情報に応じて変調することで、例えば液晶ライトバルブなどの光変調装置を用いずに、直接的に映像を形成することができる。そして、投射レンズ302は、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bによって形成された映像を、拡大して図示しないスクリーンに投射する。
さらに、プロジェクター300は、例えば、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bから出射された光を合成して投射レンズ302に導くクロスダイクロイックプリズム304を有する。
赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bから出射された色光は、クロスダイクロイックプリズム304に入射する。クロスダイクロイックプリズム304は、4つの直角プリズムを貼り合わせて形成され、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜とが十字状に配置されている。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成され、カラー画像を表す光が形成される。そして、合成された光は、投射レンズ302によりスクリーン上に投射され、拡大された画像が表示される。
プロジェクター300では、柱状部集合体21を制御することで直接的に映像を形成することができ、小型化を図ることができる。
なお、複数の柱状部集合体21を構成する柱状部20の径の大きさやピッチを変えることにより、1つの発光装置100が赤色光、緑色光、および青色光を出射することができる場合は、図13に示すように、クロスダイクロイックプリズムは、設けられていない。
この場合、発光装置100から出射された光は、直接、投射レンズ302に入射する。このようなプロジェクターでは、より小型化を図ることができる。
4. 実施例および比較例
以下に、実施例および比較例を示し、本発明をより具体的に説明する。なお、本発明は、以下の実施例および比較例によって何ら限定されるものではない。
実施例1として、上述した発光装置100に対応する発光装置を作製した。バッファー層、柱状部、および構造体は、MOCVD法により成長させた。なお、実施例1では、絶縁層50、第1電極60、第1パッド61、第2電極62、第2パッド63に対応する部材を形成していない。
比較例は、マスク層に第2開口が設けられておらず、構造体を有していないこと以外は、実施例1と同様である。
図14は、実施例1の金属顕微鏡像である。図15~図17は、実施例1のSEM(Scanning Electron Microscope)像である。図18は、比較例1の金属顕微鏡像である。図19~図21は、比較例1のSEM像である。
なお、図14および図18において、「T」は、柱状部集合体を示している。また、図14において、「K」は、構造体を示している。また、図15および図19は、マトリックス状に設けられた柱状部集合体のうち、外周部に位置する柱状部集合体の像である。また、図16および図20は、マトリックス状に設けられた柱状部集合体のうち、中心部に位置する柱状部集合体の像である。また、図17および図21は、マトリックス状に設けられた柱状部集合体のうち、中心部に位置する柱状部集合体を斜め上方から観察した場合の像である。
図18および図19に示すように、比較例1では、柱状部が巨大化し、複数の柱状部が接触していることが観察された。これに対し、図15および図16に示すように、実施例1では、複数の柱状部の接触は確認されなかった。これは、実施例1では、第2開口によって露出した基板、および構造体によって、マスク層上を移動する原材料をトラップしたため、柱状部の巨大化が抑えられたためである。なお、図19および図20において、「E」は、接触した柱状部を示している。
図19と図20とを比較することにより、複数の柱状部の接触は、複数の柱状部集合体のうち、中心部に位置する柱状部集合体よりも、周辺部に位置する柱状部集合体において、より顕著に観察された。これは、積層方向からみて、複数の柱状部集合体がマスク層に囲まれており、周辺部の方がより原材料過多となったためである。
図16および図20に示すように、実施例1では、複数の柱状部集合体のうちの中心部においても、比較例1に比べて、複数の柱状部の接触を抑えることができた。図15~図16に示すように、実施例1では、複数の柱状部集合体のうちの中心部でも外周部でも複数の柱状部の接触を抑えることでき、中心部と外周部とにおける柱状部の成長条件の差を小さくできることがわかった。
なお、図21より、比較例1でも柱状部が巨大化せずに成長している部分があることがわかった。
本発明は、本願に記載の特徴や効果を有する範囲で一部の構成を省略したり、各実施形態や変形例を組み合わせたりしてもよい。
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、さらに種々の変形が可能である。例えば、本発明は、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成を含む。実質的に同一の構成とは、例えば、機能、方法、および結果が同一の構成、あるいは目的および効果が同一の構成である。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成または同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
2…原材料、10…基板、12…支持基板、14…バッファー層、20,20a…柱状部、21…柱状部集合体、22…第1半導体層、24…MQW層、26…第2半導体層、30…構造体、32…第1半導体層、34…MQW層、36…第2半導体層、40…マスク層、40a…部分、42…第1開口、44…第2開口、46…第1部分、48…第2部分、50…絶縁層、60…第1電極、61…第1パッド、62…第2電極、63…第2パッド、70…第1供給源、72…第2供給源、74…第3供給源、76…第4供給源、78…第5供給源、80…絶縁層、90…トラップ層、100,110,120…発光装置、100R…赤色光源、100G…緑色光源、100B…青色光源、200…発光装置、300…プロジェクター、302…投射レンズ、304…クロスダイクロイックプリズム

Claims (5)

  1. 基板にマスク層を形成する工程と、
    前記マスク層に、複数の第1開口と、少なくとも1つの第2開口と、を形成する工程と、
    複数の前記第1開口から発光部を有する柱状部を成長させ、前記第2開口から構造体を成長させる工程と、
    を有し、
    前記第1開口および前記第2開口を形成する工程では、
    前記基板の厚さ方向からみて、前記第2開口の形状を環状にし、前記第2開口の内側に、複数の前記第1開口を形成し、
    前記第1開口および前記第2開口を形成する工程では、
    前記マスク層に、第1部分と、前記基板の厚さ方向からみて前記第1部分の外側に第2部分と、を形成し、
    前記第1部分に、複数の前記第1開口と、前記第2開口と、を形成し、
    前記第2部分を平坦にする、発光装置の製造方法。
  2. 基板と、
    前記基板に設けられた複数の柱状部と、
    前記基板に設けられ、前記柱状部と同じ層構造を有する少なくとも1つの構造体と、
    を有し、
    前記柱状部は、発光部を有し、
    前記柱状部には、電流が注入され、
    前記構造体には、電流が注入されず、
    前記基板の厚さ方向からみて、前記構造体の形状は、環状であり、
    前記構造体の内側に、複数の前記柱状部が設けられている、発光装置。
  3. 請求項において、
    前記基板に設けられた被覆層を有し、
    前記被覆層には、複数の第1開口と、第2開口とが設けられ、
    前記柱状部は、前記第1開口に設けられ、
    前記構造体は、前記第2開口に設けられ、
    前記被覆層は、
    複数の前記第1開口と、前記第2開口とが設けられた第1部分と、
    前記基板の厚さ方向からみて前記第1部分の外側に設けられた、平坦な第2部分と、
    を有する、発光装置。
  4. 基板と、
    前記基板に設けられた複数の柱状部と、
    前記基板に設けられ、前記柱状部と同じ層構造を有する少なくとも1つの構造体と、
    を有し、
    前記柱状部は、発光部を有し、
    前記柱状部には、電流が注入され、
    前記構造体には、電流が注入されず、
    前記構造体は、複数設けられ、
    前記基板の厚さ方向からみて、
    複数の前記構造体は、複数の前記柱状部を囲んで設けられ、
    前記構造体の形状は、前記柱状部の形状と同じであり、
    前記構造体の大きさは、前記柱状部の大きさと同じであり、
    前記基板に設けられた被覆層を有し、
    前記被覆層には、複数の第1開口と、複数の第2開口とが設けられ、
    前記柱状部は、前記第1開口に設けられ、
    前記構造体は、前記第2開口に設けられ、
    前記被覆層は、
    複数の前記第1開口と、前記基板の厚さ方向からみて複数の前記第1開口を囲む複数の前記第2開口とが設けられた第1部分と、
    前記基板の厚さ方向からみて前記第1部分の外側に設けられた、平坦な第2部分と、
    を有する、発光装置。
  5. 請求項ないしのいずれか1項に記載の発光装置を有する、プロジェクター。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000114656A (ja) 1998-10-05 2000-04-21 Fuji Xerox Co Ltd 面発光レーザアレイ装置
JP2003309331A (ja) 1995-09-18 2003-10-31 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2005142182A (ja) 2003-11-04 2005-06-02 Nec Corp 光半導体素子およびその製造方法
US20140246647A1 (en) 2013-01-29 2014-09-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Nanostructure light emitting device and method of manufacturing the same
JP2016506076A (ja) 2012-12-21 2016-02-25 アレディア Ledワイヤを備える隣接した領域の製造方法およびその製造方法により得られる装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100809235B1 (ko) * 2006-08-21 2008-03-05 삼성전기주식회사 질화물 반도체 발광소자 제조방법
JP4995053B2 (ja) 2007-12-04 2012-08-08 パナソニック株式会社 半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに半導体発光素子の製造方法
JP5145120B2 (ja) 2008-05-26 2013-02-13 パナソニック株式会社 化合物半導体発光素子およびそれを用いる照明装置ならびに化合物半導体発光素子の製造方法
JP5547076B2 (ja) 2008-09-01 2014-07-09 学校法人上智学院 半導体光素子アレイおよびその製造方法
JP2013148677A (ja) 2012-01-18 2013-08-01 Nikon Corp プロジェクタ
JP2014154673A (ja) 2013-02-07 2014-08-25 Seiko Epson Corp 映像表示デバイスおよびプロジェクター

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003309331A (ja) 1995-09-18 2003-10-31 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2000114656A (ja) 1998-10-05 2000-04-21 Fuji Xerox Co Ltd 面発光レーザアレイ装置
JP2005142182A (ja) 2003-11-04 2005-06-02 Nec Corp 光半導体素子およびその製造方法
JP2016506076A (ja) 2012-12-21 2016-02-25 アレディア Ledワイヤを備える隣接した領域の製造方法およびその製造方法により得られる装置
US20140246647A1 (en) 2013-01-29 2014-09-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Nanostructure light emitting device and method of manufacturing the same

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