JP7182782B2 - 発光素子パッケージ及び光源装置 - Google Patents

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Description

実施例は、半導体素子パッケージ及び半導体素子パッケージの製造方法、光源装置に関するものである。
GaN、AlGaN等の化合物を含む半導体素子は、広くて調整が容易なバンドギャップエネルギーを有する等の多様な長所を有することから、発光素子、受光素子及び各種ダイオード等に多様に用いられている。
特に、III族-V族またはII族-VI族化合物半導体物質を利用した発光ダイオード(Light Emitting Diode)やレーザダイオード(Laser Diode)のような発光素子は、薄膜成長技術及び素子材料の開発により赤色、緑色、青色及び紫外線等多様な波長帯域の光を具現できる長所がある。また、III族-V族またはII族-VI族化合物半導体物質を利用した発光ダイオードやレーザダイオードのような発光素子は、蛍光物質を利用したり色を組合わせることで、効率の良い白色光源も具現可能である。このような発光素子は、蛍光灯、白熱灯等既存の光源に比べて、低消費電力、半永久的な寿命、速い応答速度、安全性、環境親和性の長所を有する。
さらに、光検出器や太陽電池のような受光素子も、III族-V族またはII族-VI族化合物半導体物質を利用して製作する場合、素子材料の開発により多様な波長領域の光を吸収して光電流を生成することで、ガンマ線からラジオ波長領域まで多様な波長領域の光を利用することができる。また、このような受光素子は、速い応答速度、安全性、環境親和性及び素子材料の容易な調節といった長所を有することで、電力制御または超高周波回路や通信用モジュールにも容易に利用することができる。
従って、半導体素子は、光通信手段の送信モジュール、LCD(Liquid Crystal Display)表示装置のバックライトを構成する冷陰極管(CCFL:Cold Cathode Fluorescence Lamp)を代替できる発光ダイオードバックライト、蛍光灯や白熱電球を代替できる白色発光ダイオード照明装置、自動車ヘッドライト及び信号灯及びガスや火災を感知するセンサ等にまで応用が拡散している。また、半導体素子は、高周波応用回路やその他電力制御装置、通信用モジュールにまで応用が拡大されつつある。
発光素子(Light Emitting Device)は、例えば周期律表上のIII族-V族元素またはII族-VI族元素を利用して電気エネルギーが光エネルギーに変換される特性のp-n接合ダイオードとして提供され、化合物半導体の組成比を調節することで、多様な波長を具現することができる。
例えば、窒化物半導体は、高い熱的安定性と幅広いバンドギャップエネルギーによって、光素子及び高出力電子素子の開発分野で大きな注目を浴びている。特に、窒化物半導体を利用した青色(Blue)発光素子、緑色(Green)発光素子、紫外線(UV)発光素子、赤色(RED)発光素子等は、商用化されて広く用いられている。
例えば、紫外線発光素子の場合、200nm~400nmの波長帯に分布している光を発生する発光ダイオードとして、前記波長帯域において、短波長の場合、殺菌、浄化等に用いられ、長波長の場合、露光装置または硬化装置等に用いられる。
紫外線は、波長が長い順にUV-A(315nm~400nm)、UV-B(280nm~315nm)、UV-C(200nm~280nm)の3種類に分けられる。UV-A(315nm~400nm)領域は産業用UV硬化、印刷インク硬化、露光装置、偽札鑑別、光触媒殺菌、特殊照明(水族館/農業用等)等の多様な分野に応用されており、UV-B(280nm~315nm)領域は医療用として用いられ、UV-C(200nm~280nm)領域は空気浄化、浄水、殺菌製品等に適用されている。
一方、高出力を提供できる半導体素子が求められており、高電源を印加して出力を高めることができる半導体素子に対する研究が行われている。
また、半導体素子パッケージにおいて、半導体素子の光抽出効率を向上させ、パッケージ端における光度を向上させることができる方案に対する研究が行われている。また、半導体素子パッケージにおいて、パッケージ電極と半導体素子の間のボンディング結合力を向上させることができる方案に対する研究が行われている。
また、半導体素子パッケージにおいて、工程効率の向上及び構造変更により、製造コストを減らし製造収率を向上させることができる方案に対する研究が行われている。
実施例は、光抽出効率及び電気的特性を向上させることができる半導体素子パッケージ及び半導体素子パッケージの製造方法、光源装置を提供することを目的とする。
また、実施例は、工程効率を向上させ新たなパッケージ構造を提示して、製造コストを減らし製造収率を向上させることができる半導体素子パッケージ及び半導体素子パッケージの製造方法、光源装置を提供することを目的とする。
また、実施例は、半導体素子パッケージが基板等に再ボンディングされる過程で、半導体素子パッケージのボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生することを防止できる半導体素子パッケージ及び半導体素子パッケージの製造方法を提供することを目的とする。
実施例に係る発光素子パッケージは、相互離隔して配置された第1及び第2フレームと、前記第1及び第2フレームの間に配置された本体と、第1及び第2電極を含む発光素子と、前記本体と前記発光素子の間に配置される接着剤と、を含み、前記第1及び第2フレームのそれぞれは、上面と下面を貫通する第1及び第2開口部を含み、前記本体は上面から下面に凹んだリセスを含み、前記接着剤は前記リセスに配置され、前記第1電極は前記第1開口部の上に配置され、前記第2電極は前記第2開口部の上に配置される。
実施例によれば、前記接着剤は、前記本体の上面及び前記発光素子の下面と直接接触して配置される。
実施例に係る発光素子パッケージは、前記第1開口部に提供され、前記第1電極の下面と直接接触して配置された第1導電層と、前記第2開口部に提供され、前記第2電極の下面と直接接触して配置された第2導電層を含むことができる。
実施例によれば、前記第1導電層は、前記第1開口部の上部領域に提供された第1上部導電層と、前記第1開口部の下部領域に提供された第1下部導電層を含み、前記第1上部導電層と、前記第1下部導電層は、相互異なる物質を含むことができる。
実施例によれば、前記第1フレームと前記第2フレームは、導電性フレームとして提供される。
実施例によれば、前記第1フレームと前記第2フレームは、絶縁性フレームとして提供される。
実施例に係る発光素子パッケージは、前記第1フレームの上面に提供され、前記第1開口部から離隔して配置された第1上部リセスと、前記第2フレームの上面に提供され、前記第2開口部から離隔して配置された第2上部リセスを含むことができる。
実施例に係る発光素子パッケージは、前記第1上部リセスに提供された第1樹脂部と、前記第2上部リセスに提供された第2樹脂部を含み、前記第1樹脂部と、前記第2樹脂部は、ホワイトシリコーンを含むことができる。
実施例に係る発光素子パッケージは、前記第1フレームの下面に提供され、前記第1開口部から離隔して配置された第1下部リセスと、前記第2フレームの下面に提供され、前記第2開口部から離隔して配置された第2下部リセスを含むことができる。
実施例に係る発光素子パッケージは、前記第1下部リセスに提供された第1樹脂部と、前記第2下部リセスに提供された第2樹脂部を含み、前記第1樹脂部と前記第2樹脂部は、前記本体と同一物質を含むことができる。
実施例によれば、前記第1及び第2下部リセスには、前記第1及び第2導電層と同一物質及び/または前記本体と同一物質が提供される。
実施例に係る半導体素子パッケージ及び半導体素子パッケージの製造方法によれば、光抽出効率及び電気的特性と信頼性を向上させることができる。
実施例に係る半導体素子パッケージ及び半導体素子パッケージの製造方法によれば、工程効率を向上させ新たなパッケージ構造を提示して、製造コストを減らし製造収率を向上させることができる。
実施例に係る半導体素子パッケージは、反射率が高い本体を提供することで、反射体が変色しないように防止することができ、半導体素子パッケージの信頼性を改善できる長所がある。
実施例に係る半導体素子パッケージ及び半導体素子の製造方法によれば、半導体素子パッケージが基板等に再ボンディングされる過程で、半導体素子パッケージのボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生することを防止できる長所がある。
本発明の実施例に係る発光素子パッケージの平面図である。 図1に示された発光素子パッケージの底面図である。 図1に示された発光素子パッケージのD-D線断面図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の別の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の別の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の別の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体のさらに別の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体のさらに別の変形例の説明図である。 図3に示された発光素子パッケージに適用された本体のさらに別の変形例の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージの別の例を示した図面である。 図18に示された発光素子パッケージに適用された第1フレーム、第2フレーム、本体の配置関係を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を示した図面である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を示した図面である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を示した図面である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を示した図面である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を示した図面である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージに適用された開口部の変形例の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージに適用された開口部の変形例の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージに適用された開口部の変形例の説明図である。 本発明の実施例に係る発光素子パッケージに適用された発光素子の例を示した平面図である。 図28に示された発光素子のA-A線断面図である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって半導体層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって半導体層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によってオーミック接触層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によってオーミック接触層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって反射層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって反射層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって第1サブ電極と第2サブ電極が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって第1サブ電極と第2サブ電極が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって保護層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって保護層が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって第1電極と第2電極が形成される段階を説明する図面である。 本発明の実施例に係る発光素子の製造方法によって第1電極と第2電極が形成される段階を説明する図面である。
以下、添付された図面を参照して実施例を説明する。実施例の説明において、各層(膜)、領域、パターンまたは構造物が基板、各層(膜)、領域、パッドまたはパターンの「上」または「下」に形成されると記載される場合、「上」と「下」は「直接」または「他の層を介して」形成されるものも含む。また、各階の上または下に対する基準は、図面を基準に説明するが、実施例がこれに限定されるものではない。
以下、添付された図面を参照して、本発明の実施例に係る半導体素子パッケージ及び半導体素子パッケージの製造方法に対して詳しく説明する。以下では、半導体素子の例として、発光素子が適用された場合を基に説明する。
先ず、図1~図3を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージを説明する。
図1は本発明の実施例に係る発光素子パッケージの平面図であり、図2は本発明の実施例に係る発光素子パッケージの底面図であり、図3は図1に示された発光素子パッケージのD-D線断面図である。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、図1~図3に示されたように、パッケージ本体110、発光素子120を含むことができる。
前記パッケージ本体110は、第1フレーム111と第2フレーム112を含むことができる。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は相互離隔して配置される。
前記パッケージ本体110は、本体113を含むことができる。前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の間に配置される。前記本体113は一種の電極分離線の機能をすることができる。前記本体113は、絶縁部材と称することができる。
前記本体113は、前記第1フレーム111の上に配置される。また、前記本体113は、前記第2フレーム112の上に配置される。
前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置された傾斜面を提供することができる。前記本体113の傾斜面によって前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上にキャビティCが提供される。
実施例によれば、前記パッケージ本体110は、キャビティCがある構造で提供されてもよく、キャビティCなしに上面が平坦な構造で提供されてもよい。
例えば、前記本体113は、PPA(Polyphthalamide)、PCT(Polychloro Tri phenyl)、LCP(Liquid Crystal Polymer)、PA9T(Polyamide9T)、シリコーン、EMC(Epoxy molding compound)、シリコーンモールディングコンパウンド(SMC)、セラミック、PSG(photo sensitive glass)、サファイア(Al2O3)等を含む群から選択された少なくとも1つから形成される。また、前記本体110は、TiO2とSiO2のような高屈折フィラーを含むことができる。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、絶縁性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができる。
また、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、導電性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができ、前記発光素子120に電気的に連結される。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112が絶縁性フレームで形成される場合と導電性フレームで形成される場合の差異点に対しては、後で詳述する。
実施例によれば、前記発光素子120は、第1電極121、第2電極122、半導体層123を含むことができる。
前記半導体層123は、第1導電型半導体層、第2導電型半導体層、第1導電型半導体層と第2導電型半導体層の間に配置された活性層を含むことができる。前記第1電極121は、前記第1導電型半導体層と電気的に連結される。また、前記第2電極122は、前記第2導電型半導体層と電気的に連結される。
前記発光素子120は、前記パッケージ本体110の上に配置される。前記発光素子120は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記発光素子120は、前記パッケージ本体110によって提供される前記キャビティC内に配置される。
前記第1電極121は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第1電極121と前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面で相互離隔して配置される。
前記第1電極121は、前記第1フレーム111の上に配置される。前記第2電極122は、前記第2フレーム112の上に配置される。
前記第1電極121は、前記半導体層123と前記第1フレーム111の間に配置される。前記第2電極122は、前記半導体層123と前記第2フレーム112の間に配置される。
前記第1電極121と前記第2電極122は、Ti、Al、In、Ir、Ta、Pd、Co、Cr、Mg、Zn、Ni、Si、Ge、Ag、Ag alloy、Au、Hf、Pt、Ru、Rh、ZnO、IrOx、RuOx、NiO、RuOx/ITO、Ni/IrOx/Au、Ni/IrOx/Au/ITOを含む群から選択された1つ以上の物質または合金を利用して単層または多層に形成される。
一方、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図1~図3に示されたように、第1開口部TH1と第2開口部TH2を含むことができる。前記第1フレーム111は前記第1開口部TH1を含むことができる。前記第1フレーム112は前記第2開口部TH2を含むことができる。
前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111に提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111を貫通して提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121の下に配置される。前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。
前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112に提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112を貫通して提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122の下に配置される。前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。
前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は、相互離隔して配置される。前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の下部面の下で相互離隔して配置される。
実施例によれば、前記第1開口部TH1の上部領域の幅W1が前記第1電極121の幅より小さくまたは同一に提供される。また、前記第2開口部TH2の上部領域の幅が前記第2電極122の幅より小さくまたは同一に提供される。
よって、前記発光素子120の前記第1電極121と前記第1フレーム111がより堅固に付着される。また、前記発光素子120の前記第2電極122と前記第2フレーム112がより堅固に付着される。
前記第2開口部TH2の上部領域から前記第2電極122の側面終端までの距離W6は数十μmに提供される。例えば、前記第2開口部TH2の上部領域から前記第2電極122の側面終端までの距離W6は40μm~60μmに提供される。
前記距離W6が40μm以上であるとき、前記第2電極122が前記第2開口部TH2の底面で露出しないようにするための工程マージンを確保することができる。また、前記距離W6が60μm以下であるとき、前記第2開口部TH2に露出する前記第2電極122の面積を確保することができ、前記第2開口部TH2によって露出する第2電極122の抵抗を下げることができ、前記第2開口部TH2によって露出する前記第2電極122に電流注入を円滑にすることができる。
また、前記第1開口部TH1の上部領域の幅W1が前記第1開口部TH1の下部領域の幅W2より小さくまたは同一に提供される。また、前記第2開口部TH2の上部領域の幅が前記第2開口部TH2の下部領域の幅より小さくまたは同一に提供される。
前記第1開口部TH1は、下部領域から上部領域に行くほど幅が漸減する傾斜した形態で提供される。前記第2開口部TH2は、下部領域から上部領域に行くほど幅が漸減する傾斜した形態で提供される。
ただし、これに限定されるものではなく、前記第1及び第2開口部TH1、TH2の上部領域と下部領域の間の傾斜面は、傾きが相互異なる複数の傾斜面を有することができ、前記傾斜面は曲率を持って配置される。
前記第1フレーム111及び前記第2フレーム112の下面領域で、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間の幅W3は数百μmに提供される。前記第1フレーム111及び前記第2フレーム112の下面領域で、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間の幅W3は、例えば100μm~150μmに提供される。
前記第1フレーム111及び前記第2フレーム112の下面領域で、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間の幅W3は、実施例に係る発光素子パッケージ100が以後回路基板、サブマウント等に実装される場合に、パッド間の電気的な短絡(short)が発生することを防止するために、一定距離以上で提供されるように選択される。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、接着剤130を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間に配置される。前記接着剤130は、前記本体113の上面と前記発光素子120の下面の間に配置される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図1~図3に示されたように、リセスRを含むことができる。
前記リセスRは、前記本体113に提供される。前記リセスRは、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間に提供される。前記リセスRは、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記リセスRは、前記発光素子120の下に配置される。前記リセスRは、前記発光素子120と前記第1方向において重なって提供される。
例えば、前記接着剤130は、前記リセスRに配置される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
例えば、前記接着剤130は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。また、例えば、前記接着剤130が反射機能を含む場合、前記接着剤はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間の安定した固定力を提供することができ、前記発光素子120の下面に光が放出される場合、前記発光素子120と前記本体113の間で光拡散機能を提供することができる。前記発光素子120から前記発光素子120の下面に光が放出されるとき、前記接着剤130は光拡散機能を提供することで、前記発光素子パッケージ100の光抽出効率を改善することができる。また、前記接着剤130は、前記発光素子120から放出する光を反射することができる。前記接着剤130が反射機能を含む場合、前記接着剤130は、TiO、シリコーン等を含む物質からなることができる。
実施例によれば、前記リセスRの深さT1は、前記第1開口部TH1の深さT2または前記第2開口部TH2の深さT2より小さく提供される。
前記リセスRの深さT1は、前記接着剤130の接着力を考慮して決定することができる。また、前記リセスRが深さT1は、前記本体113の安定した強度を考慮したり及び/または前記発光素子120から放出される熱によって前記発光素子パッケージ100にクラック(crack)が発生しないように決定される。
前記リセスRは、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。ここで、前記アンダーフィル(under fill)工程は、発光素子120をパッケージ本体110に実装した後、前記接着剤130を前記発光素子120の下部に配置する工程であり、前記発光素子120をパッケージ本体110に実装する工程で、前記接着剤130を通じて実装するために前記接着剤130を前記リセスRに配置した後、前記発光素子120を配置する工程である。前記リセスRは、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間に前記接着剤130が十分に提供されるように、第1深さ以上に提供される。また、前記リセスRは、前記本体113の安定した強度を提供するために第2深さ以下に提供される。
前記リセスRの深さT1と幅W4は、前記接着剤130の形成位置及び固定力に影響を及ぼす。前記リセスRの深さT1と幅W4は、前記本体113と前記発光素子120の間に配置される前記接着剤130によって十分な固定力が提供されるように決定される。
例えば、前記リセスRの深さT1は数十μmに提供される。前記リセスRの深さT1は40μm~60μmに提供される。
また、前記リセスRの幅W4は数十μm~数百μmに提供される。ここで、前記リセスRの幅W4は、前記発光素子120の長軸方向に提供される。
前記リセスRの幅W4は、前記第1電極121と前記第2電極122の間の間隔より狭く提供される。前記リセスRの幅W4は140μm~160μmに提供される。例えば、前記リセスRの幅W4は150μmに提供される。
前記第1開口部TH1の深さT2は、前記第1フレーム111の厚さに対応して提供される。前記第1開口部TH1の深さT2は、前記第1フレーム111の安定した強度を維持できる厚さで提供される。
前記第2開口部TH2の深さT2は、前記第2フレーム112の厚さに対応して提供される。前記第2開口部TH2の深さT2は、前記第2フレーム112の安定した強度を維持できる厚さで提供される。
前記第1開口部TH1の深さT2及び前記第2開口部TH2の深さT2は、前記本体113の厚さに対応して提供される。前記第1開口部TH1の深さT2及び前記第2開口部TH2の深さT2は、前記本体113の安定した強度を維持できる厚さで提供される。
例えば、前記第1開口部TH1の深さT2は数百μmに提供される。前記第1開口部TH1の深さT2は180μm~220μmに提供される。例えば、前記第1開口部TH1の深さT2は200μmに提供される。
例えば、前記T2、T1の厚さは少なくとも100μm以上に選択される。これは、前記本体113のクラックフリー(crack free)を提供できる射出工程の厚さが考慮されたものである。
実施例によれば、T1厚さとT2厚さの比(T2/T1)は2~10で提供される。例えば、T2の厚さが200μmに提供される場合、T1の厚さは20μm~100μmに提供される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図1~図3に示されたように、モールディング部140を含むことができる。
前記モールディング部140は、前記発光素子120の上に提供される。前記モールディング部140は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記モールディング部140は、前記パッケージ本体110によって提供されたキャビティCに配置される。
前記モールディング部140は絶縁物質を含むことができる。また、前記モールディング部140は、前記発光素子120から放出される光を受けて、波長変換された光を提供する波長変換手段を含むことができる。例えば、前記モールディング部140は、蛍光体、量子ドット等を含む群から選択された少なくとも1つを含むことができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図1~図3に示されたように、第1導電層321と第2導電層322を含むことができる。前記第1導電層321は、前記第2導電層322と離隔して配置される。
前記第1導電層321は、前記第1開口部TH1に提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下に配置される。前記第1導電層321の幅は、前記第1電極121の幅より小さく提供される。
前記第1電極121は、前記第1開口部TH1が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第1電極121の幅は、前記第1開口部TH1の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第1導電層321は、前記第1電極121の下面と直接接触して配置される。前記第1導電層321は、前記第1電極121と電気的に連結される。前記第1導電層321は、前記第1フレーム111によって取囲まれるように配置される。
前記第2導電層322は、前記第2開口部TH2に提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下に配置される。前記第2導電層322の幅は、前記第2電極122の幅より小さく提供される。
前記第2電極122は、前記第2開口部TH2が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第2電極122の幅は、前記第2開口部TH2の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第2導電層322は、前記第2電極122の下面と直接接触して配置される。前記第2導電層322は、前記第2電極122と電気的に連結される。前記第2導電層322は、前記第2フレーム112によって取囲まれるように配置される。
前記第1導電層321と前記第2導電層322は、Ag、Au、Pt等を含む群から選択された1つの物質またはその合金を含むことができるが、これに限定されるものではなく、前記第1導電層321と前記第2導電層322として導電性機能を確保できる物質を用いることができる。
例えば、前記第1導電層321と前記第2導電層322は導電性ペーストを利用して形成される。前記導電性ペーストは、ソルダペースト(solder paste)、銀ペースト(silver paste)等を含むことができ、相互異なる物質から構成される多層または合金で構成された多層または単層に構成される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図1~図3に示されたように、第1下部リセスR10と第2下部リセスR20を含むことができる。前記第1下部リセスR10と前記第2下部リセスR20は相互離隔して配置される。
前記第1下部リセスR10は、前記第1フレーム111の下面に提供される。前記第1下部リセスR10は、前記第1フレーム111の下面から上面方向に凹むように提供される。前記第1下部リセスR10は、前記第1開口部TH1から離隔して配置される。
前記第1下部リセスR10は数μm~数十μmの幅で提供される。前記第1下部リセスR10に樹脂部が提供される。前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、例えば前記本体113と同一物質で提供される。
ただし、これに限定されるものではなく、前記樹脂部は、前記第1及び第2導電層321、322と接着力、濡れ性が良くない物質から選択されて提供される。または、前記樹脂部は、前記第1及び第2導電層321、322との表面張力が低い物質から選択されて提供される。
例えば、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、前記第1フレーム111、前記第2フレーム112、前記本体113が射出工程等によって形成される過程で提供される。
前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域の周囲に配置される。前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域は一種の島(island)形状に周囲の前記第1フレーム111をなす下面から分離して配置される。
例えば、図2に示されたように、前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域は、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部と前記本体113によって、周辺の前記第1フレーム111からアイソレーション(isolation)される。
よって、前記樹脂部が前記第1及び第2導電層321、322と接着力、濡れ性が良くない物質または前記樹脂部と前記第1及び第2導電層321、322の間の表面張力が低い物質で配置される場合、前記第1開口部TH1に提供された前記第1導電層321が前記第1開口部TH1から外れ、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部または前記本体113を越えて拡散することが防止される。
これは、前記第1導電層321と前記樹脂部及び前記本体113の接着関係または前記樹脂部と前記第1及び第2導電層321、322の間の濡れ性、表面張力等が良くない点を利用したものである。即ち、前記第1導電層321をなす物質が前記第1フレーム111と良い接着特性を有するように選択される。そして、前記第1導電層321をなす物質が前記樹脂部及び前記本体113と良くない接着特性を有するように選択される。
これによって、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1から前記樹脂部または前記本体113が提供された領域方向に溢れて、前記樹脂部または前記本体113が提供された領域外部に溢れたり拡散することが防止され、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1が提供された領域に安定的に配置されることになる。よって、前記第1開口部TH1に配置される第1導電層321が溢れる場合、前記樹脂部または前記本体113が提供された第1下部リセスR10の外側領域に前記第1導電層321が拡張することを防止することができる。また、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1内で前記第1電極121の下面に安定的に連結される。よって、前記発光素子パッケージが回路基板に実装される場合、第1導電層321と第2導電層322が相互接触して短絡する問題を防止することができ、前記第1及び第2導電層321、322を配置する工程において、前記第1及び第2導電層321、322の量を制御し易くなる。
また、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1から前記第1下部リセスR10に延長配置される。よって、前記第1下部リセスR10内には、前記第1導電層321及び/または前記樹脂部が配置される。
また、前記第2下部リセスR20は、前記第2フレーム112の下面に提供される。前記第2下部リセスR20は、前記第2フレーム112の下面から上面方向に凹むように提供される。前記第2下部リセスR20は、前記第2開口部TH2から離隔して配置される。
前記第2下部リセスR20は数μm~数十μmの幅で提供される。前記第2下部リセスR20に樹脂部が提供される。前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、例えば前記本体113と同一物質で提供される。
ただし、これに限定されるものではなく、前記樹脂部は、前記第1及び第2導電層321、322と接着力、濡れ性が良くない物質から選択されて提供される。または、前記樹脂部は、前記第1及び第2導電層321、322との表面張力が低い物質から選択されて提供される。
例えば、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、前記第1フレーム111、前記第2フレーム112、前記本体113が射出工程等によって形成される過程で提供される。
前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域の周囲に配置される。前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域は一種の島(island)形状に周囲の前記第2フレーム112をなす下面から分離して配置される。
例えば、図2に示されたように、前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域は、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部と前記本体113によって、周辺の前記第2フレーム112からアイソレーション(isolation)される。
よって、前記樹脂部が前記第1及び第2導電層321、322と接着力、濡れ性が良くない物質または前記樹脂部と前記第1及び第2導電層321、322の間の表面張力が低い物質で配置される場合、前記第2開口部TH2に提供された前記第2導電層322が前記第2開口部TH2から外れ、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部または前記本体113を越えて拡散することが防止される。
これは、前記第2導電層322と前記樹脂部及び前記本体113の接着関係または前記樹脂部と前記第1及び第2導電層321、322の間の濡れ性、表面張力等が良くない点を利用したものである。即ち、前記第2導電層322をなす物質が前記第2フレーム112と良い接着特性を有するように選択される。そして、前記第2導電層322をなす物質が前記樹脂部及び前記本体113と良くない接着特性を有するように選択される。
これによって、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2から前記樹脂部または前記本体113が提供された領域方向に溢れて、前記樹脂部または前記本体113が提供された領域外部に溢れたり拡散することが防止され、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2が提供された領域に安定的に配置されることになる。よって、前記第2開口部TH2に配置される第2導電層322が溢れる場合、前記樹脂部または前記本体113が提供された第2下部リセスR20の外側領域に前記第2導電層322が拡張することを防止することができる。また、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2内で前記第2電極122の下面に安定的に連結される。
よって、前記発光素子パッケージが回路基板に実装される場合、第1導電層321と第2導電層322が相互接触して短絡する問題を防止することができ、前記第1及び第2導電層321、322を配置する工程において、前記第1及び第2導電層321、322の量を制御し易くなる。
また、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2から前記第2下部リセスR20に延長配置される。よって、前記第2下部リセスR20内には、前記第2導電層321及び/または前記樹脂部が配置される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図3に示されたように、樹脂部135を含むことができる。
参考的に、図1の図示において、前記第1フレーム111、前記第2フレーム112、前記本体113の配置関係がよく現れるように、前記樹脂部135と前記モールディング部140は図示していない。
前記樹脂部135は、前記第1フレーム111と前記発光素子120の間に配置される。前記樹脂部135は、前記第2フレーム112と前記発光素子120の間に配置される。前記樹脂部135は、前記パッケージ本体110に提供されたキャビティCの底面に提供される。
前記樹脂部135は、前記第1電極121の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記第2電極122の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記半導体層123の下に配置される。
例えば、前記樹脂部135は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。また、前記樹脂部135は、前記発光素子120から放出される光を反射する反射部となることができ、例えばTiO等の反射物質を含む樹脂からなることができ、またはホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記発光素子120の下に配置されてシーリング(sealing)機能をすることができる。また、前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第1フレーム111の間の接着力を向上させることができる。前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第2フレーム112の間の接着力を向上させることができる。
前記樹脂部135は、前記第1電極121と前記第2電極122の周囲を密封することができる。前記樹脂部135は、前記第1導電層321と前記第2導電層322が前記第1開口部TH1領域と前記第2開口部TH2領域を超えて前記発光素子120の外側面方向に拡散して移動することを防止することができる。前記第1及び第2導電層321、322が前記発光素子120の外側面方向に拡散して移動する場合、前記第1及び第2導電層321、322が前記発光素子120の活性層と接して短絡による不良を誘発することがある。よって、前記樹脂部135が配置される場合、前記第1及び第2導電層321、322と活性層による短絡を防止することができ、実施例に係る発光素子パッケージの信頼性を向上させることができる。
また、前記樹脂部135がホワイトシリコーンのような反射特性がある物質を含む場合、前記樹脂部135は、前記発光素子120から提供される光を前記パッケージ本体110の上部方向に反射させ、発光素子パッケージ100の光抽出効率を向上させることができる。
一方、本発明の実施例に係る発光素子パッケージの別の例によれば、前記樹脂部135が別途に提供されず、前記モールディング部140が前記第1フレーム111と前記第2フレーム112に直接接触するように配置される。
また、実施例によれば、前記半導体層123は化合物半導体として提供される。前記半導体層123は、例えばII族-VI族またはIII族-V族化合物半導体として提供される。例えば、前記半導体層123は、アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)、インジウム(In)、リン(P)、ヒ素(As)、窒素(N)から選択された少なくとも2以上の元素を含んで提供される。
前記半導体層123は、第1導電型半導体層、活性層、第2導電型半導体層を含むことができる。
前記第1及び第2導電型半導体層は、III族-V族またはII族-VI族の化合物半導体のうち少なくとも1つによって具現することができる。前記第1及び第2導電型半導体層は、例えばInxAlyGa1-x-yN(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1)の組成式を有する半導体材料から形成される。例えば、前記第1及び第2導電型半導体層は、GaN、AlN、AlGaN、InGaN、InN、InAlGaN、AlInN、AlGaAs、GaP、GaAs、GaAsP、AlGaInP等を含む群から選択された少なくとも1つを含むことができる。前記第1導電型半導体層は、Si、Ge、Sn、Se、Te等のn型ドーパントがドーピングされたn型半導体層からなることができる。前記第2導電型半導体層は、Mg、Zn、Ca、Sr、Ba等のp型ドーパントがドーピングされたp型半導体層からなることができる。
前記活性層は、化合物半導体から具現することができる。前記活性層は、例えばIII族-V族またはII族-VI族の化合物半導体のうち少なくとも1つによって具現することができる。前記活性層が多重井戸構造で具現された場合、前記活性層は、交互に配置された複数の井戸層と複数の障壁層を含むことができ、InxAlyGa1-x-yN(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦x+y≦1)の組成式を有する半導体材料で配置される。例えば、前記活性層は、InGaN/GaN、GaN/AlGaN、AlGaN/AlGaN、InGaN/AlGaN、InGaN/InGaN、AlGaAs/GaAs、InGaAs/GaAs、InGaP/GaP、AlInGaP/InGaP、InP/GaAsを含む群から選択された少なくとも1つを含むことができる。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、前記第1開口部TH1領域を通じて前記第1電極121に電源が連結され、前記第2開口部TH2領域を通じて前記第2電極122に電源が連結される。
これによって、前記第1電極121及び前記第2電極122を通じて供給される駆動電源によって前記発光素子120が駆動される。そして、前記発光素子120から発光された光は、前記パッケージ本体110の上部方向に提供されることになる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージ100は、サブマウントまたは回路基板等に実装されて供給されてもよい。
ところで、従来、発光素子パッケージがサブマウントまたは回路基板等に実装される際に、リフロー(reflow)等の高温工程が適用されることがある。このとき、リフロー工程で、発光素子パッケージに提供されたリードフレームと発光素子の間のボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生して、電気的連結及び物理的結合の安定性が弱まることがある。
しかし、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージ100は、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
次に、図4~図8を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法を説明する。
図4~図8を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法を説明することにおいて、図1~図3を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
先ず、本発明の実施例に係る発光素子パッケージの製造方法によれば、図4に示されたように、パッケージ本体110が提供される。
前記パッケージ本体110は、第1フレーム111と第2フレーム112を含むことができる。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は相互離隔して配置される。
前記パッケージ本体110は本体113を含むことができる。前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の間に配置される。
前記本体113は前記第1フレーム111の上に配置される。また、前記本体113は前記第2フレーム112の上に配置される。
前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置された傾斜面を提供することができる。前記本体113の傾斜面によって前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上にキャビティCが提供される。
また、前記第1フレーム111は第1開口部TH1を含むことができる。前記第2フレーム112は第2開口部TH2を含むことができる。
前記第1開口部TH1は前記第1フレーム111に提供される。前記第1開口部TH1は前記第1フレーム111を貫通して提供される。前記第1開口部TH1は前記第1フレーム111の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第2開口部TH2は前記第2フレーム112に提供される。前記第2開口部TH2は前記第2フレーム112を貫通して提供される。前記第2開口部TH2は前記第2フレーム112の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記パッケージ本体110は前記本体113に提供されたリセスRを含むことができる。
前記リセスRは前記本体113に提供される。前記リセスRは前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間に提供される。前記リセスRは前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。
実施例によれば、前記リセスRの長さL2が前記第1開口部TH1の長さL1または前記第2開口部TH2の長さL1より大きく提供される。
次に、実施例に係る発光素子パッケージの製造方法によれば、図4に示されたように、前記リセスRに接着剤130が提供される。
前記接着剤130は、前記リセスR領域にDOTING方式等により提供される。例えば、前記接着剤130は、前記リセスRが形成された領域に一定量提供され、前記リセスRを溢れるように提供される。
また、実施例によれば、図4に示されたように、前記リセスRの長さL2は、前記第2開口部TH2の長さL1より大きく提供される。前記第2開口部TH2の長さL1は、前記発光素子120の短軸方向の長さより小さく提供される。また、前記リセスRの長さL2は、前記発光素子120の短軸方向の長さより大きく提供される。
実施例に係る発光素子パッケージの製造工程で、前記発光素子120の下部に提供される前記接着剤130の量が多い場合、前記リセスRに提供された前記接着剤130が前記発光素子120の下部に接着されながら溢れる部分は、前記リセスRの長さL2方向に移動できるようになる。これによって、前記接着剤130の量が設計より多く塗布される場合にも、前記発光素子120が前記本体113から浮き上がることなく安定的に固定される。
そして、実施例に係る発光素子パッケージの製造方法によれば、図5に示されたように、前記パッケージ本体110の上に発光素子120が提供される。
実施例によれば、前記発光素子120が前記パッケージ本体110の上に配置される過程で、前記リセスRは一種のアラインキー(align key)の役割をするように活用される。
前記発光素子120は、前記接着剤130によって前記本体113に固定される。前記リセスRに提供された前記接着剤130の一部は、前記発光素子120の第1電極121及び第2電極122方向に移動して硬化する。
これによって、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間の広い領域に前記接着剤130が提供され、前記発光素子120と前記本体113の間の固定力が向上される。
実施例によれば、図3を参照して説明されたように、前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121の下に配置される。前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。
前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122の下に配置される。前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。
次に、実施例に係る発光素子パッケージの製造方法によれば、図6に示されたように、第1導電層321と第2導電層322が形成される。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、図3及び図6に示されたように、前記第1開口部TH1を通じて前記第1電極121の下面が露出される。また、前記第2開口部TH2を通じて前記第2電極122の下面が露出される。
実施例によれば、前記第1開口部TH1に前記第1導電層321が形成される。また、前記第2開口部TH2に前記第2導電層322が形成される。
前記第1導電層321は、前記第1開口部TH1に提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下に配置される。前記第1導電層321の幅は、前記第1電極121の幅より小さく提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下面と直接接触して配置される。前記第1導電層321は、前記第1電極121と電気的に連結される。前記第1導電層321は、前記第1フレーム111によって取囲まれるように配置される。
前記第2導電層322は、前記第2開口部TH2に提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下に配置される。前記第2導電層322の幅は、前記第2電極122の幅より小さく提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下面と直接接触して配置される。前記第2導電層322は、前記第2電極122と電気的に連結される。前記第2導電層322は、前記第2フレーム112によって取囲まれるように配置される。
例えば、前記第1導電層321と前記第2導電層322は導電性ペーストを利用して形成される。前記第1導電層321と前記第2導電層322は、ソルダペースト(solder paste)または銀ペースト(silver paste)等によって形成される。
そして、実施例に係る発光素子パッケージの製造方法によれば、図7に示されたように、樹脂部135が形成される。
前記樹脂部135は、図3を参照して説明されたように、前記第1フレーム111と前記発光素子120の間に配置される。前記樹脂部135は、前記第2フレーム112と前記発光素子120の間に配置される。
前記樹脂部135は、前記第1電極121の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記第2電極122の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記半導体層123の下に配置される。
例えば、前記樹脂部135は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記樹脂部135は、前記発光素子120から放出される光を反射する反射部となることができ、例えばTiO等の反射物質を含む樹脂からなることができる。前記樹脂部135はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記発光素子120の下に配置されてシーリング(sealing)機能をすることができる。また、前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第1フレーム111の間の接着力を向上させることができる。前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第2フレーム112の間の接着力を向上させることができる。
また、前記樹脂部135がホワイトシリコーンのような反射特性がある物質を含む場合、前記樹脂部135は、前記発光素子120から提供される光を前記パッケージ本体110の上部方向に反射させ、発光素子パッケージ100の光抽出効率を向上させることができる。
次に、実施例に係る発光素子パッケージの製造方法によれば、図8に示されたように、前記発光素子120の上にモールディング部140が提供される。
前記モールディング部140は、前記発光素子120の上に提供される。前記モールディング部140は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記モールディング部140は、前記パッケージ本体110によって提供されたキャビティCに配置される。前記モールディング部140は、前記樹脂部135の上に配置される。
前記モールディング部140は絶縁物質を含むことができる。また、前記モールディング部140は、前記発光素子120から放出される光を受けて、波長変換された光を提供する波長変換手段を含むことができる。例えば、前記モールディング部140は、蛍光体、量子ドット等を含む群から選択された少なくとも1つを含むことができる。
一方、以上の説明では、図6に示されたように、前記第1導電層321と前記第2導電層322が先に形成され、図7及び図8に示されたように、前記樹脂部135と前記モールディング部140が形成される場合を基準に説明された。
しかし、実施例に係る発光素子パッケージの製造方法の別の例によれば、前記樹脂部135と前記モールディング部140が先に形成され、前記第1導電層321と前記第2導電層322が後に形成されてもよい。
また、実施例に係る発光素子パッケージの製造方法のさらに別の例によれば、前記樹脂部135が形成されず、前記パッケージ本体110のキャビティ内に前記モールディング部140のみが形成されてもよい。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、前記第1開口部TH1領域を通じて前記第1電極121に電源が連結され、前記第2開口部TH2領域を通じて前記第2電極122に電源が連結される。
これによって、前記第1電極121及び前記第2電極122を通じて供給される駆動電源によって前記発光素子120が駆動される。そして、前記発光素子120から発光された光は、前記パッケージ本体110の上部方向に提供されることになる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージ100は、サブマウントまたは回路基板等に実装されて供給されてもよい。
ところで、従来、発光素子パッケージがサブマウントまたは回路基板等に実装される際に、リフロー(reflow)等の高温工程が適用されることがある。このとき、リフロー工程で、発光素子パッケージに提供されたフレームと発光素子の間のボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生して、電気的連結及び物理的結合の安定性が弱まることがあり、これによって前記発光素子の位置が変わることがあるので、前記発光素子パッケージの光学的、電気的特性及び信頼性が低下することがある。
しかし、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージ100は、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージは、多様な変形例を含むことができる。
先ず、図9~図17を参照して実施例に係る発光素子パッケージに適用された本体の変形例に対して説明する。図9~図17を参照して実施例に係る発光素子パッケージを説明することにおいて、図1~図8を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
図9~図11は図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の変形例の説明図である。
実施例に係る発光素子パッケージ100によれば、図9に示されたように、本体113は、上面に提供された少なくとも2つのリセスを含むことができる。
例えば、前記本体113は、上面中央領域から前記第1フレーム111の側に配置された第1リセスR11を含むことができる。前記第1リセスR11は、前記第1フレーム111の終端に接して提供される。
また、前記本体113は、上面中央領域から前記第2フレーム112の側に配置された第2リセスR12を含むことができる。前記第2リセスR12は、前記第2フレーム112の終端に接して提供される。
前記第1リセスR11は、前記本体113の上面と前記第1フレーム111の上面から下方に凹むように提供される。前記第2リセスR12は、前記本体113の上面と前記第2フレーム112の上面から下方に凹むように提供される。
実施例に係る発光素子パッケージ100によれば、接着剤130が前記第1リセスR11と前記第2リセスR12に提供される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記第1リセスR11と前記第2リセスR12は、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。
前記第1リセスR11と前記第2リセスR12は、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間に前記接着剤130が十分に提供されるように第1深さ以上に提供される。また、前記第1リセスR11と前記第2リセスR12は、前記本体113の安定した強度を提供するために第2深さ以下に提供される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
また、前記第1リセスR11及び前記接着剤130は、前記第1開口部TH1に提供された前記第1導電層321が前記発光素子120の下部領域に移動することを防止することができる。また、前記第2リセスR12及び前記接着剤130は、前記第2開口部TH2に提供された前記第2導電層322が前記発光素子120の下部領域に移動することを防止することができる。これによって、前記第1導電層321の移動または前記第2導電層322の移動によって前記発光素子120が電気的に短絡(short)したり劣化することを防止することができる。
一方、図9は実施例に係る発光素子パッケージに適用された本体113の断面図であり、図10及び図11は図9に示された前記本体113の平面図である。
例えば、図10に示されたように、前記第1リセスR11と前記第2リセスR12は、前記本体113の中央領域を挟んで相互離隔して配置される。前記第1リセスR11と前記第2リセスR12は、前記本体113の中央領域を挟んで相互平行するように配置される。
また、図11に示されたように、前記第1リセスR11と前記第2リセスR12は、前記本体113の中央領域を挟んで相互離隔して配置される。一方、前記第1リセスR11と前記第2リセスR12は、前記本体113の中央領域を真中に置いて、その周りで閉ループ状に相互連結されて配置されてもよい。
一方、図12~図14は図3に示された発光素子パッケージに適用された本体の別の変形例の説明図である。
実施例に係る発光素子パッケージ100によれば、図12に示されたように、本体113は、上面に提供された少なくとも3つのリセスを含むことができる。
例えば、前記本体113は、上面中央領域から前記第1フレーム111の側に配置された第1リセスR21を含むことができる。前記第1リセスR21は、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。
また、前記本体113は、上面中央領域から前記第2フレーム112の側に配置された第3リセスR23を含むことができる。前記第3リセスR23は、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。
また、前記本体113は、上面中央領域に配置された第2リセスR22を含むことができる。前記第2リセスR22は、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記第2リセスR22は、前記第1リセスR21と前記第3リセスR23の間に配置される。
実施例に係る発光素子パッケージ100によれば、接着剤130が前記第1リセスR21、前記第2リセスR22、前記第3リセスR23に提供される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記第1リセスR21、前記第2リセスR22、前記第3リセスR23は、前記発光素子120を前記パッケージ本体に付着するために、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。
前記第1リセスR21、前記第2リセスR22、前記第3リセスR23は、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間に前記接着剤130が十分に提供されるように第1深さ以上に提供される。また、前記第1リセスR21、前記第2リセスR22、前記第3リセスR23は、前記本体113の安定した強度を提供するために第2深さ以下に提供される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
また、前記第1リセスR21及び前記接着剤130は、前記第1開口部TH1に提供された前記第1導電層321が前記発光素子120の下部領域に移動することを防止することができる。また、前記第3リセスR23及び前記接着剤130は、前記第2開口部TH2に提供された前記第2導電層322が前記発光素子120の下部領域に移動することを防止することができる。これによって、前記第1導電層321の移動または前記第2導電層322の移動によって前記発光素子120が電気的に短絡(short)したり劣化することを防止することができる。
一方、図12は実施例に係る発光素子パッケージに適用された本体113の断面図であり、図13及び図14は図12に示された前記本体113の平面図である。
例えば、図13に示されたように、前記第1リセスR21、前記第2リセスR22、前記第3リセスR23は、前記本体113の上面で相互離隔して一方向に平行するように配置される。前記第1リセスR21、前記第2リセスR22、前記第3リセスR23は、前記本体113の上面で一方向に延長配置される。
また、図14に示されたように、前記第1リセスR21と前記第3リセスR23は、前記本体113の中央領域を挟んで相互離隔して配置される。一方、前記第1リセスR21と前記第3リセスR23は、前記本体113の中央領域を真中に置いて、その周りで閉ループ状に相互連結されて配置されてもよい。また、前記第2リセスR22は、前記本体113の中央領域に配置される。前記第2リセスR22は、前記第1リセスR21と前記第3リセスR23によって取囲まれた空間内に配置される。
一方、図15~図17は図3に示された発光素子パッケージに適用された本体のさらに別の変形例の説明図である。
実施例に係る発光素子パッケージ100によれば、図15に示されたように、本体113は、上面に提供された少なくとも2つのリセスを含むことができる。
例えば、前記本体113は、上面中央領域から前記第1フレーム111の側に配置された第1リセスR31を含むことができる。前記第1リセスR31は、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記第1リセスR31は、前記第1フレーム111の終端から離隔して配置される。
また、前記本体113は、上面中央領域から前記第2フレーム112の側に配置された第2リセスR32を含むことができる。前記第2リセスR32は、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記第2リセスR32は、前記第2フレーム112の終端から離隔して配置される。
実施例に係る発光素子パッケージ100によれば、接着剤130が前記第1リセスR31、前記第2リセスR32に提供される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記第1リセスR31と前記第2リセスR32は、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。
前記第1リセスR31と前記第2リセスR32は、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間に前記接着剤130が十分に提供されるように第1深さ以上に提供される。また、前記第1リセスR31と前記第2リセスR32は、前記本体113の安定した強度を提供するために第2深さ以下に提供される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
また、前記第1リセスR31及び前記接着剤130は、前記第1開口部TH1に提供された前記第1導電層321が前記発光素子120の下部領域に移動することを防止することができる。また、前記第2リセスR32及び前記接着剤130は、前記第2開口部TH2に提供された前記第2導電層322が前記発光素子120の下部領域に移動することを防止することができる。これによって、前記第1導電層321の移動または前記第2導電層322の移動によって前記発光素子120が電気的に短絡(short)したり劣化することを防止することができる。
一方、図15は実施例に係る発光素子パッケージに適用された本体113の断面図であり、図16及び図17は図15に示された前記本体113の平面図である。
例えば、図16に示されたように、前記第1リセスR31と前記第2リセスR32は、前記本体113の上面で相互離隔して一方向に平行するように配置される。前記第1リセスR31と前記第2リセスR32は、前記本体113の上面で一方向に延長配置される。
また、図17に示されたように、前記第1リセスR31と前記第2リセスR32は、前記本体113の中央領域を挟んで相互離隔して配置される。一方、前記第1リセスR31と前記第2リセスR32は、前記本体113の中央領域を真中に置いて、その周りで閉ループ状に相互連結されて配置されてもよい。
次に、図18及び図19を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージの別の例を説明する。
図18は本発明の実施例に係る発光素子パッケージの別の例を示した図面であり、図19は図18に示された発光素子パッケージに適用された第1フレーム、第2フレーム、本体の配置関係を説明する図面である。
図18及び図19を参照して実施例に係る発光素子パッケージを説明することにおいて、図1~図17を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
実施例に係る発光素子パッケージは、図18及び図19に示されたように、パッケージ本体110、発光素子120を含むことができる。
前記パッケージ本体110は、第1フレーム111と第2フレーム112を含むことができる。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は相互離隔して配置される。
前記パッケージ本体110は本体113を含むことができる。前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の間に配置される。前記本体113は一種の電極分離線の機能をすることができる。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は絶縁性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができる。
また、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は導電性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができ、前記発光素子120に電気的に連結される。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112が絶縁性フレームで形成される場合と導電性フレームで形成される場合の差異点に対しては、後で詳述する。
例えば、前記本体113は、PPA(Polyphthalamide)、PCT(Polychloro Tri phenyl)、LCP(Liquid Crystal Polymer)、PA9T(Polyamide9T)、シリコーン、EMC(Epoxy molding compound)、シリコーンモールディングコンパウンド(SMC)、セラミック、PSG(photo sensitive glass)、サファイア(AlO)等を含む群から選択された少なくとも1つから形成される。また、前記本体113は、TiOとSiOのような高屈折フィラーを含むことができる。
実施例によれば、前記発光素子120は、第1電極121、第2電極122、半導体層123を含むことができる。
前記発光素子120は、前記パッケージ本体110の上に配置される。前記発光素子120は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記発光素子120は、前記パッケージ本体110によって提供される前記キャビティC内に配置される。
前記第1電極121は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第1電極121と前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面で相互離隔して配置される。
前記第1電極121は、前記第1フレーム111の上に配置される。前記第2電極122は、前記第2フレーム112の上に配置される。
前記第1電極121は、前記半導体層123と前記第1フレーム111の間に配置される。前記第2電極122は、前記半導体層123と前記第2フレーム112の間に配置される。
一方、実施例に係る発光素子パッケージは、図18及び図19に示されたように、第1開口部TH1と第2開口部TH2を含むことができる。前記第1フレーム111は、前記第1開口部TH1を含むことができる。前記第2フレーム112は、前記第2開口部TH2を含むことができる。
前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111に提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111を貫通して提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121の下に配置される。前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。
前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112に提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112を貫通して提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122の下に配置される。前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。
前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は相互離隔して配置される。前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の下部面の下で相互離隔して配置される。
実施例に係る発光素子パッケージは接着剤130を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間に配置される。前記接着剤130は、前記本体113の上面と前記発光素子120の下面の間に配置される。
実施例に係る発光素子パッケージは、図18及び図19に示されたように、リセスRを含むことができる。
前記リセスRは、前記本体113に提供される。前記リセスRは、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間に提供される。前記リセスRは、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記リセスRは、前記発光素子120の下に配置される。前記リセスRは、前記発光素子120と前記第1方向において重なって提供される。
例えば、前記接着剤130は、前記リセスRに配置される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
例えば、前記接着剤130は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記接着剤130はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間の安定した固定力を提供することができ、前記発光素子120の下面に光が放出される場合、前記発光素子120と前記本体113の間で光拡散機能を提供することができる。前記発光素子120から前記発光素子120の下面に光が放出されるとき、前記接着剤130は光拡散機能を提供することで、前記発光素子パッケージ100の光抽出効率を改善することができる。
前記リセスRは、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。前記リセスRは、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間に前記接着剤130が十分に提供されるように第1深さ以上に提供される。また、前記リセスRは、前記本体113の安定した強度を提供するために第2深さ以下に提供される。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、第1導電層321と第2導電層322を含むことができる。前記第1導電層321は、前記第2導電層322と離隔して配置される。
前記第1導電層321は、前記第1開口部TH1に提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下に配置される。前記第1導電層321の幅は、前記第1電極121の幅より小さく提供される。
前記第1電極121は、前記第1開口部TH1が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第1電極121の幅は、前記第1開口部TH1の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第1導電層321は、前記第1電極121の下面と直接接触して配置される。前記第1導電層321は、前記第1電極121と電気的に連結される。前記第1導電層321は、前記第1フレーム111によって取囲まれるように配置される。
前記第2導電層322は、前記第2開口部TH2に提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下に配置される。前記第2導電層322の幅は、前記第2電極122の幅より小さく提供される。
前記第2電極122は、前記第2開口部TH2が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第2電極122の幅は、前記第2開口部TH2の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第2導電層322は、前記第2電極122の下面と直接接触して配置される。前記第2導電層322は、前記第2電極122と電気的に連結される。前記第2導電層322は、前記第2フレーム112によって取囲まれるように配置される。
前記第1導電層321と前記第2導電層322は、Ag、Au、Pt等を含む群から選択された1つの物質またはその合金を含むことができるが、これに限定されるものではなく、前記第1導電層321と前記第2導電層322として導電性機能を確保できる物質を用いることができる。
例えば、前記第1導電層321と前記第2導電層322は導電性ペーストを利用して形成される。前記導電性ペーストは、ソルダペースト(solder paste)、銀ペースト(silver paste)等を含むことができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、図18及び図19に示されたように、第1下部リセスR10と第2下部リセスR20を含むことができる。前記第1下部リセスR10と前記第2下部リセスR20は相互離隔して配置される。
前記第1下部リセスR10は、前記第1フレーム111の下面に提供される。前記第1下部リセスR10は、前記第1フレーム111の下面から上面方向に凹むように提供される。前記第1下部リセスR10は、前記第1開口部TH1から離隔して配置される。
前記第1下部リセスR10は数μm~数十μmの幅で提供される。前記第1下部リセスR10に樹脂部が提供される。前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、例えば前記本体113と同一物質で提供される。
例えば、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、前記第1フレーム111、前記第2フレーム112、前記本体113が射出工程等によって形成される過程で提供される。
前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、図2を参照して説明されたように、前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域の周囲に配置される。前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域は一種の島(island)形状に周囲の前記第1フレーム111をなす下面から分離して配置される。
例えば、図2を参照して説明されたように、前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域は、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部と前記本体113によって、周辺の前記第1フレーム111からアイソレーション(isolation)される。
よって、前記第1開口部TH1に提供された前記第1導電層321が前記第1開口部TH1から外れ、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部または前記本体113を越えて拡散することが防止される。
これによって、前記第1導電層321が前記樹脂部または前記本体113が提供された領域に溢れることが防止され、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1が提供された領域に安定的に配置されることになる。また、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1内で前記第1電極121の下面に安定的に連結される。
また、前記第2下部リセスR20は、前記第2フレーム112の下面に提供される。前記第2下部リセスR20は、前記第2フレーム112の下面から上面方向に凹むように提供される。前記第2下部リセスR20は、前記第2開口部TH2から離隔して配置される。
前記第2下部リセスR20は数μm~数十μmの幅で提供される。前記第2下部リセスR20に樹脂部が提供される。前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、例えば前記本体113と同一物質で提供される。
例えば、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、前記第1フレーム111、前記第2フレーム112、前記本体113が射出工程等によって形成される過程で提供される。
前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、図2を参照して説明されたように、前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域の周囲に配置される。前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域は一種の島(island)形状に周囲の前記第2フレーム112をなす下面から分離して配置される。
例えば、図2を参照して説明されたように、前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域は、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部と前記本体113によって、周辺の前記第2フレーム112からアイソレーション(isolation)される。
よって、前記第2開口部TH2に提供された前記第2導電層322が前記第2開口部TH2から外れ、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部または前記本体113を越えて拡散することが防止される。
これによって、前記第2導電層322が前記樹脂部または前記本体113が提供された領域に溢れることが防止され、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2が提供された領域に安定的に配置されることになる。また、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2内で前記第2電極122の下面に安定的に連結される。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、図18及び図19に示されたように、第1上部リセスR3と第2上部リセスR4を含むことができる。
前記第1上部リセスR3は、前記第1フレーム111の上面に提供される。前記第1上部リセスR3は、前記第1フレーム111の上面から下面方向に凹むように提供される。前記第1上部リセスR3は、前記第1開口部TH1から離隔して配置される。
前記第1上部リセスR3は、図19に示されたように、上部方向から見たとき、前記第1電極121の3辺に隣接するように提供される。例えば、前記第1上部リセスR3は、前記第1電極121の周辺に「[」状に提供される。
実施例によれば、前記第1上部リセスR3は、前記第1下部リセスR10と垂直方向において重ならないように提供される。前記第1上部リセスR3と前記第1下部リセスR10が垂直方向において重なると、その間に配置された前記第1フレーム111の厚さが過剰に薄く提供される場合に、前記第1フレーム111の強度が弱まることを考慮したものである。
別の実施例によれば、前記第1フレーム111の厚さが充分に提供される場合、前記第1上部リセスR3と前記第1下部リセスR10が垂直方向において相互重なるように提供される。
前記第2上部リセスR4は、前記第2フレーム112の上面に提供される。前記第2上部リセスR4は、前記第2フレーム112の上面から下面方向に凹むように提供される。前記第2上部リセスR4は、前記第2開口部TH2から離隔して配置される。
実施例によれば、前記第2上部リセスR4は、前記第2下部リセスR20と垂直方向において重ならないように提供される。前記第2上部リセスR4と前記第2下部リセスR20が垂直方向において重なると、その間に配置された前記第2フレーム112の厚さが過剰に薄く提供される場合に、前記第2フレーム112の強度が弱まることを考慮したものである。
別の実施例によれば、前記第2フレーム112の厚さが充分に提供される場合、前記第2上部リセスR4と前記第2下部リセスR20が垂直方向において相互重なるように提供される。
前記第2上部リセスR4は、図19に示されたように、上部方向から見たとき、前記第2電極122の3辺に隣接するように提供される。例えば、前記第2上部リセスR4は、前記第2電極122の周辺に「]」状に提供される。
例えば、前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4は数十μm~数百μmの幅で提供される。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、図18に示されたように、樹脂部135を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4に提供される。
前記樹脂部135は、前記第1電極121の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記第1上部リセスR3に提供され、前記第1電極121が配置された領域まで延長される。前記樹脂部135は、前記半導体層123の下に配置される。
前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は数百μm以下に提供される。例えば、前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は200μmまたは200μmより小さく提供される。
前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は、前記第1上部リセスR3に満たされる前記樹脂部135の粘性等によって決定される。
前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は、前記第1上部リセスR3に塗布された前記樹脂部135が前記第1電極121が配置された領域まで延長されて形成される距離で選択される。
また、前記樹脂部135は、前記第2電極122の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記第2上部リセスR4に提供され、前記第2電極122が配置された領域まで延長される。前記樹脂部135は、前記半導体層123の下に配置される。
また、前記樹脂部135は、前記半導体層123の側面にも提供される。前記樹脂部135が前記半導体層123の側面に配置されることで、前記第1及び第2導電層321、322が前記半導体層123の側面に移動することを効果的に防止することができる。また、前記樹脂部135が前記半導体層123の側面に配置されるとき、前記半導体層123の活性層の下に配置されるようにすることができ、これによって前記発光素子120の光抽出効率を向上させることができる。
前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4は、前記樹脂部135が提供される十分な空間を提供することができる。
例えば、前記樹脂部135は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。また、前記樹脂部135は反射性物質を含むことができ、例えばTiO及び/またはシリコーンを含むホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記発光素子120の下に配置されてシーリング(sealing)機能をすることができる。また、前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第1フレーム111の間の接着力を向上させることができる。前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第2フレーム112の間の接着力を向上させることができる。
前記樹脂部135は、前記第1電極121と前記第2電極122の周囲を密封することができる。前記樹脂部135は、前記第1導電層321と前記第2導電層322が前記第1開口部TH1領域と前記第2開口部TH2領域を超えて前記発光素子120の方向に拡散して移動することを防止することができる。
また、前記樹脂部135がホワイトシリコーンのような反射特性がある物質を含む場合、前記樹脂部135は、前記発光素子120から提供される光を前記パッケージ本体110の上部方向に反射させ、発光素子パッケージ100の光抽出効率を向上させることができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージはモールディング部140を含むことができる。
前記モールディング部140は、前記発光素子120の上に提供される。前記モールディング部140は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記モールディング部140は、前記パッケージ本体110によって提供されたキャビティCに配置される。前記モールディング部140は、前記樹脂部135の上に配置される。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、前記第1開口部TH1領域を通じて前記第1電極121に電源が連結され、前記第2開口部TH2領域を通じて前記第2電極122に電源が連結される。
これによって、前記第1電極121及び前記第2電極122を通じて供給される駆動電源によって前記発光素子120が駆動される。そして、前記発光素子120から発光された光は、前記パッケージ本体110の上部方向に提供されることになる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージ100は、サブマウントまたは回路基板等に実装されて供給されてもよい。
ところで、従来、発光素子パッケージがサブマウントまたは回路基板等に実装される際に、リフロー(reflow)等の高温工程が適用されることがある。このとき、リフロー工程で、発光素子パッケージに提供されたリードフレームと発光素子の間のボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生して、電気的連結及び物理的結合の安定性が弱まることがある。
しかし、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージ100は、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
次に、図20を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を説明する。
図20を参照して実施例に係る発光素子パッケージを説明することにおいて、図1~図19を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
実施例に係る発光素子パッケージは、図20に示されたように、パッケージ本体110、発光素子120を含むことができる。
前記パッケージ本体110は、第1フレーム111と第2フレーム112を含むことができる。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は相互離隔して配置される。
前記パッケージ本体110は本体113を含むことができる。前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の間に配置される。前記本体113は一種の電極分離線の機能をすることができる。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は絶縁性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができる。
また、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は導電性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができ、前記発光素子120に電気的に連結される。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112が絶縁性フレームで形成される場合と導電性フレームで形成される場合の差異点に対しては、後で詳述する。
例えば、前記本体113は、PPA(Polyphthalamide)、PCT(Polychloro Tri phenyl)、LCP(Liquid Crystal Polymer)、PA9T(Polyamide9T)、シリコーン、EMC(Epoxy molding compound)、シリコーンモールディングコンパウンド(SMC)、セラミック、PSG(photo sensitive glass)、サファイア(AlO)等を含む群から選択された少なくとも1つから形成される。また、前記本体113は、TiOとSiOのような高屈折フィラーを含むことができる。
実施例によれば、前記発光素子120は、第1電極121、第2電極122、半導体層123を含むことができる。
前記発光素子120は、前記パッケージ本体110の上に配置される。前記発光素子120は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記発光素子120は、前記パッケージ本体110によって提供される前記キャビティC内に配置される。
前記第1電極121は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第1電極121と前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面で相互離隔して配置される。
前記第1電極121は、前記第1フレーム111の上に配置される。前記第2電極122は、前記第2フレーム112の上に配置される。
前記第1電極121は、前記半導体層123と前記第1フレーム111の間に配置される。前記第2電極122は、前記半導体層123と前記第2フレーム112の間に配置される。
一方、実施例に係る発光素子パッケージは、図20に示されたように、第1開口部TH1と第2開口部TH2を含むことができる。前記第1フレーム111は、前記第1開口部TH1を含むことができる。前記第2フレーム112は、前記第2開口部TH2を含むことができる。
前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111に提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111を貫通して提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121の下に配置される。前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。
前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112に提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112を貫通して提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122の下に配置される。前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。
前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は相互離隔して配置される。前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の下部面の下で相互離隔して配置される。
実施例に係る発光素子パッケージは接着剤130を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間に配置される。前記接着剤130は、前記本体113の上面と前記発光素子120の下面の間に配置される。
実施例に係る発光素子パッケージは、図20に示されたように、リセスRを含むことができる。
前記リセスRは、前記本体113に提供される。前記リセスRは、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間に提供される。前記リセスRは、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記リセスRは、前記発光素子120の下に配置される。前記リセスRは、前記発光素子120と前記第1方向において重なって提供される。
例えば、前記接着剤130は、前記リセスRに配置される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
例えば、前記接着剤130は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記接着剤130はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間の安定した固定力を提供することができ、前記発光素子120の下面に光が放出される場合、前記発光素子120と前記本体113の間で光拡散機能を提供することができる。前記発光素子120から前記発光素子120の下面に光が放出されるとき、前記接着剤130は光拡散機能を提供することで、前記発光素子パッケージ100の光抽出効率を改善することができる。
前記リセスRは、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。前記リセスRは、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間に前記接着剤130が十分に提供されるように第1深さ以上に提供される。また、前記リセスRは、前記本体113の安定した強度を提供するために第2深さ以下に提供される。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、第1導電層321と第2導電層322を含むことができる。前記第1導電層321は、前記第2導電層322と離隔して配置される。
前記第1導電層321は、前記第1開口部TH1に提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下に配置される。前記第1導電層321の幅は、前記第1電極121の幅より小さく提供される。
前記第1電極121は、前記第1開口部TH1が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第1電極121の幅は、前記第1開口部TH1の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第1導電層321は、前記第1電極121の下面と直接接触して配置される。前記第1導電層321は、前記第1電極121と電気的に連結される。前記第1導電層321は、前記第1フレーム111によって取囲まれるように配置される。
前記第2導電層322は、前記第2開口部TH2に提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下に配置される。前記第2導電層322の幅は、前記第2電極122の幅より小さく提供される。
前記第2電極122は、前記第2開口部TH2が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第2電極122の幅は、前記第2開口部TH2の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第2導電層322は、前記第2電極122の下面と直接接触して配置される。前記第2導電層322は、前記第2電極122と電気的に連結される。前記第2導電層322は、前記第2フレーム112によって取囲まれるように配置される。
前記第1導電層321と前記第2導電層322は、Ag、Au、Pt等を含む群から選択された1つの物質またはその合金を含むことができるが、これに限定されるものではなく、前記第1導電層321と前記第2導電層322として導電性機能を確保できる物質を用いることができる。
例えば、前記第1導電層321と前記第2導電層322は導電性ペーストを利用して形成される。前記導電性ペーストは、ソルダペースト(solder paste)、銀ペースト(silver paste)等を含む群から少なくとも1つが選択される。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、図20に示されたように、第1上部リセスR3と第2上部リセスR4を含むことができる。
前記第1上部リセスR3は、前記第1フレーム111の上面に提供される。前記第1上部リセスR3は、前記第1フレーム111の上面から下面方向に凹むように提供される。前記第1上部リセスR3は、前記第1開口部TH1から離隔して配置される。
前記第1上部リセスR3は、図19に示されたように、上部方向から見たとき、前記第1電極121の3辺に隣接するように提供される。例えば、前記第1上部リセスR3は、前記第1電極121の周辺に「[」状に提供される。
前記第2上部リセスR4は、前記第2フレーム112の上面に提供される。前記第2上部リセスR4は、前記第2フレーム112の上面から下面方向に凹むように提供される。前記第2上部リセスR4は、前記第2開口部TH2から離隔して配置される。
前記第2上部リセスR4は、図19に示されたように、上部方向から見たとき、前記第2電極122の3辺に隣接するように提供される。例えば、前記第2上部リセスR4は、前記第2電極122の周辺に「]」状に提供される。
例えば、前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4は数十μm~数百μmの幅で提供される。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、図20に示されたように、樹脂部135を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4に提供される。
前記樹脂部135は、前記第1電極121の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記第1上部リセスR3に提供され、前記第1電極121が配置された領域まで延長される。前記樹脂部135は、前記半導体層123の下に配置される。
前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は数百μm以下に提供される。例えば、前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は200μmまたは200μmより小さく提供される。
前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は、前記第1上部リセスR3に満たされる前記樹脂部135の粘性等によって決定される。
前記第1上部リセスR3の終端から前記発光素子120の隣接した終端までの距離L11は、前記第1上部リセスR3に塗布された前記樹脂部135が前記第1電極121が配置された領域まで延長されて形成される距離で選択される。
また、前記樹脂部135は、前記第2電極122の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記第2上部リセスR4に提供され、前記第2電極122が配置された領域まで延長される。前記樹脂部135は、前記半導体層123の下に配置される。
また、前記樹脂部135は、前記半導体層123の側面にも提供される。前記樹脂部135が前記半導体層123の側面に配置されることで、前記第1及び第2導電層321、322が前記半導体層123の側面に移動することを効果的に防止することができる。また、前記樹脂部135が前記半導体層123の側面に配置されるとき、前記半導体層123の活性層の下に配置されるようにすることができ、これによって前記発光素子120の光抽出効率を向上させることができる。
前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4は、前記樹脂部135が提供される十分な空間を提供することができる。
例えば、前記樹脂部135は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。また、前記樹脂部135は反射性物質を含むことができ、例えばTiO及び/またはシリコーンを含むホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記発光素子120の下に配置されてシーリング(sealing)機能をすることができる。また、前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第1フレーム111の間の接着力を向上させることができる。前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第2フレーム112の間の接着力を向上させることができる。
前記樹脂部135は、前記第1電極121と前記第2電極122の周囲を密封することができる。前記樹脂部135は、前記第1導電層321と前記第2導電層322が前記第1開口部TH1領域と前記第2開口部TH2領域を超えて前記発光素子120の方向に拡散して移動することを防止することができる。
また、前記樹脂部135がホワイトシリコーンのような反射特性がある物質を含む場合、前記樹脂部135は、前記発光素子120から提供される光を前記パッケージ本体110の上部方向に反射させ、発光素子パッケージ100の光抽出効率を向上させることができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージはモールディング部140を含むことができる。
前記モールディング部140は、前記発光素子120の上に提供される。前記モールディング部140は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記モールディング部140は、前記パッケージ本体110によって提供されたキャビティCに配置される。前記モールディング部140は、前記樹脂部135の上に配置される。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、前記第1開口部TH1領域を通じて前記第1電極121に電源が連結され、前記第2開口部TH2領域を通じて前記第2電極122に電源が連結される。
これによって、前記第1電極121及び前記第2電極122を通じて供給される駆動電源によって前記発光素子120が駆動される。そして、前記発光素子120から発光された光は、前記パッケージ本体110の上部方向に提供されることになる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージ100は、サブマウントまたは回路基板等に実装されて供給されてもよい。
ところで、従来、発光素子パッケージがサブマウントまたは回路基板等に実装される際に、リフロー(reflow)等の高温工程が適用されることがある。このとき、リフロー工程で、発光素子パッケージに提供されたリードフレームと発光素子の間のボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生して、電気的連結及び物理的結合の安定性が弱まることがある。
しかし、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージ100は、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
次に、図21を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を説明する。
図21を参照して実施例に係る発光素子パッケージを説明することにおいて、図1~図20を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
図21に示された発光素子パッケージは、図18~図20を参照して説明された発光素子パッケージに比べて、第1上部リセスR3と第2上部リセスR4の形成位置に差がある。
実施例に係る発光素子パッケージは、図21に示されたように、上部方向から見たとき、前記第1上部リセスR3の一部領域が半導体層123と垂直方向において重なるように提供される。例えば、前記第1電極121に隣接した前記第1上部リセスR3の側面領域が前記半導体層123に下に延長されて提供される。
また、実施例に係る発光素子パッケージは、図21に示されたように、上部方向から見たとき、前記第2上部リセスR4の一部領域が前記半導体層123と垂直方向において重なるように提供される。例えば、前記第2電極122に隣接した前記第2上部リセスR4の側面領域が前記半導体層123に下に延長されて提供される。
これによって、前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4に満たされた前記樹脂部135が前記第1電極121と前記第2電極122の周辺を効果的に密封することができる。
また、前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4が前記発光素子120の下に前記樹脂部135が提供される十分な空間を提供することができる。前記第1上部リセスR3と前記第2上部リセスR4は、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。
例えば、前記樹脂部135は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記樹脂部135は、前記発光素子120から放出される光を反射する反射部となることができ、例えばTiO等の反射物質を含む樹脂からなることができる。前記樹脂部135はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記発光素子120の下に配置されてシーリング(sealing)機能をすることができる。また、前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第1フレーム111の間の接着力を向上させることができる。前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第2フレーム112の間の接着力を向上させることができる。
前記樹脂部135は、前記第1電極121と前記第2電極122の周囲を密封することができる。前記樹脂部135は、前記第1導電層321と前記第2導電層322が前記第1開口部TH1領域と前記第2開口部TH2領域を超えて前記発光素子120の方向に拡散して移動することを防止することができる。
また、前記樹脂部135がホワイトシリコーンのような反射特性がある物質を含む場合、前記樹脂部135は、前記発光素子120から提供される光を前記パッケージ本体110の上部方向に反射させ、発光素子パッケージ100の光抽出効率を向上させることができる。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、前記第1開口部TH1領域を通じて前記第1電極121に電源が連結され、前記第2開口部TH2領域を通じて前記第2電極122に電源が連結される。
これによって、前記第1電極121及び前記第2電極122を通じて供給される駆動電源によって前記発光素子120が駆動される。そして、前記発光素子120から発光された光は、前記パッケージ本体110の上部方向に提供されることになる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージ100は、サブマウントまたは回路基板等に実装されて供給されてもよい。
ところで、従来、発光素子パッケージがサブマウントまたは回路基板等に実装される際に、リフロー(reflow)等の高温工程が適用されることがある。このとき、リフロー工程で、発光素子パッケージに提供されたリードフレームと発光素子の間のボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生して、電気的連結及び物理的結合の安定性が弱まることがある。
しかし、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージ100は、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
次に、図22を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を説明する。
図22を参照して実施例に係る発光素子パッケージを説明することにおいて、図1~図21を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
実施例に係る発光素子パッケージは、図22に示されたように、パッケージ本体110、発光素子120を含むことができる。
前記パッケージ本体110は、第1フレーム111と第2フレーム112を含むことができる。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は相互離隔して配置される。
前記パッケージ本体110は本体113を含むことができる。前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の間に配置される。前記本体113は一種の電極分離線の機能をすることができる。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は絶縁性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができる。
また、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は導電性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができ、前記発光素子120に電気的に連結される。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112が絶縁性フレームで形成される場合と導電性フレームで形成される場合の差異点に対しては、後で詳述する。
実施例によれば、前記発光素子120は第1電極121、第2電極122、半導体層123を含むことができる。
前記第1電極121は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面に配置される。前記第1電極121と前記第2電極122は、前記発光素子120の下部面で相互離隔して配置される。
前記第1電極121は、前記第1フレーム111の上に配置される。前記第2電極122は、前記第2フレーム112の上に配置される。
一方、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図22に示されたように、第1開口部TH1と第2開口部TH2を含むことができる。前記第1フレーム111は、前記第1開口部TH1を含むことができる。前記第2フレーム112は、前記第2開口部TH2を含むことができる。
前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111に提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111を貫通して提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121の下に配置される。前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。
前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112に提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112を貫通して提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122の下に配置される。前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。
前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は相互離隔して配置される。前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の下部面の下で相互離隔して配置される。
実施例によれば、前記第1開口部TH1の上部領域の幅W1が前記第1電極121の幅より小さくまたは同一に提供される。また、前記第2開口部TH2の上部領域の幅が前記第2電極122の幅より小さくまたは同一に提供される。
よって、前記発光素子120の前記第1電極121と前記第1フレーム111がより堅固に付着される。また、前記発光素子120の前記第2電極122と前記第2フレーム112がより堅固に付着される。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、図22に示されたように、接着剤130を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間に配置される。前記接着剤130は、前記本体113の上面と前記発光素子120の下面の間に配置される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図22に示されたように、リセスRを含むことができる。
前記リセスRは、前記本体113に提供される。前記リセスRは、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間に提供される。前記リセスRは、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記リセスRは、前記発光素子120の下に配置される。前記リセスRは、前記発光素子120と前記第1方向において重なって提供される。
例えば、前記接着剤130は、前記リセスRに配置される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
例えば、前記接着剤130は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記接着剤130はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間の安定した固定力を提供することができ、前記発光素子120の下面に光が放出される場合、前記発光素子120と前記本体113の間で光拡散機能を提供することができる。前記発光素子120から前記発光素子120の下面に光が放出されるとき、前記接着剤130は光拡散機能を提供することで、前記発光素子パッケージ100の光抽出効率を改善することができる。
前記リセスRは、前記発光素子120の下部に一種のアンダーフィル(under fill)工程を実行できる適正空間を提供することができる。前記リセスRは、前記発光素子120の下面と前記本体113の上面の間に前記接着剤130が十分に提供されるように第1深さ以上に提供される。また、前記リセスRは、前記本体113の安定した強度を提供するために第2深さ以下に提供される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図22に示されたように、第1導電層321と第2導電層322を含むことができる。前記第1導電層321は、前記第2導電層322と離隔して配置される。
前記第1導電層321は、前記第1開口部TH1に提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下に配置される。前記第1導電層321の幅は、前記第1電極121の幅より小さく提供される。
前記第1電極121は、前記第1開口部TH1が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第1電極121の幅は、前記第1開口部TH1の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第1導電層321は、前記第1電極121の下面と直接接触して配置される。前記第1導電層321は、前記第1電極121と電気的に連結される。前記第1導電層321は、前記第1フレーム111によって取囲まれるように配置される。
前記第2導電層322は、前記第2開口部TH2に提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下に配置される。前記第2導電層322の幅は、前記第2電極122の幅より小さく提供される。
前記第2電極122は、前記第2開口部TH2が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第2電極122の幅は、前記第2開口部TH2の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第2導電層322は、前記第2電極122の下面と直接接触して配置される。前記第2導電層322は、前記第2電極122と電気的に連結される。前記第2導電層322は、前記第2フレーム112によって取囲まれるように配置される。
前記第1導電層321と前記第2導電層322は、Ag、Au、Pt等を含む群から選択された1つの物質またはその合金を含むことができるが、これに限定されるものではなく、前記第1導電層321と前記第2導電層322として導電性機能を確保できる物質を用いることができる。
例えば、前記第1導電層321と前記第2導電層322は導電性ペーストを利用して形成される。前記導電性ペーストは、ソルダペースト(solder paste)、銀ペースト(silver paste)等を含むことができる。
一方、実施例に係る前記第1導電層321と前記第2導電層322は、図22に示されたように、複数の層で提供されてもよい。
例えば、前記第1導電層321は、第1上部導電層321aと第1下部導電層321bを含むことができる。前記第1上部導電層321aは、前記第1開口部TH1の上部領域に提供される。前記第1下部導電層321bは、前記第1開口部TH1の下部領域に提供される。
また、前記第2導電層322は、第2上部導電層322aと第2下部導電層322bを含むことができる。前記第2上部導電層322aは、前記第2開口部TH2の上部領域に提供される。前記第2下部導電層322bは、前記第2開口部TH2の下部領域に提供される。
実施例によれば、前記第1上部導電層321aと前記第1下部導電層321bは、相互異なる物質を含むことができる。前記第1上部導電層321aと前記第1下部導電層321bは、相互異なる溶融点を有することができる。例えば、前記第1上部導電層321aの溶融点が前記第1下部導電層321bの溶融点より高く選択される。
例えば、前記第1上部導電層321aを形成する導電性ペーストと前記第1下部導電層321bを形成する導電性ペーストが相互異なるように提供されてもよい。実施例によれば、前記第1上部導電層321aは、例えば銀ペーストを利用して形成し、前記第1下部導電層321bは、例えばソルダペーストを利用して形成することができる。
実施例によれば、前記第1上部導電層321aが銀ペーストで形成される場合に、前記第1開口部TH1に提供された銀ペーストが前記第1電極121と前記第1フレーム111の間に拡散して浸透する程度が弱いか無くなることが検出された。
よって、前記第1上部導電層321aが銀ペーストで形成される場合、前記発光素子120が電気的に短絡したり劣化することを防止することができる。
また、前記第1上部導電層321aは銀ペーストで形成し、前記第1下部導電層321bはソルダペーストで形成すると、第1導電層321全体を銀ペーストで形成する場合に比べて製造費用が節減される長所もある。
また、前記第2上部導電層322aを形成する導電性ペーストと前記第2下部導電層322bを形成する導電性ペーストが相互異なるように提供されてもよい。実施例によれば、前記第2上部導電層322aは、例えば銀ペーストを利用して形成し、前記第2下部導電層322bは、例えばソルダペーストを利用して形成することができる。
実施例によれば、前記第2上部導電層322aが銀ペーストで形成される場合に、前記第2開口部TH2に提供された銀ペーストが前記第2電極122と前記第2フレーム112の間に拡散して浸透する程度が弱いか無くなることが検出された。
よって、前記第2上部導電層322aが銀ペーストで形成される場合、前記発光素子120が電気的に短絡したり劣化することを防止することができる。
また、前記第2上部導電層322aは銀ペーストで形成し、前記第2下部導電層321bはソルダペーストで形成すると、第2導電層322全体を銀ペーストで形成する場合に比べて製造費用が節減される長所もある。
一方、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図22に示されたように、第1下部リセスR10と第2下部リセスR20を含むことができる。前記第1下部リセスR10と前記第2下部リセスR20は相互離隔して配置される。
前記第1下部リセスR10は、前記第1フレーム111の下面に提供される。前記第1下部リセスR10は、前記第1フレーム111の下面から上面方向に凹むように提供される。前記第1下部リセスR10は、前記第1開口部TH1から離隔して配置される。
前記第1下部リセスR10は数μm~数十μmの幅で提供される。前記第1下部リセスR10に樹脂部が提供される。前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、例えば前記本体113と同一物質で提供される。
例えば、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、前記第1フレーム111、前記第2フレーム112、前記本体113が射出工程等によって形成される過程で提供される。
前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部は、前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域の周囲に配置される。前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域は一種の島(island)形状に周囲の前記第1フレーム111をなす下面から分離して配置される。
例えば、図2に示されたように、前記第1開口部TH1を提供する前記第1フレーム111の下面領域は、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部と前記本体113によって、周辺の前記第1フレーム111からアイソレーション(isolation)される。
よって、前記第1開口部TH1に提供された前記第1導電層321が前記第1開口部TH1から外れ、前記第1下部リセスR10に満たされた樹脂部または前記本体113を越えて拡散することが防止される。
これによって、前記第1導電層321が前記樹脂部または前記本体113が提供された領域に溢れることが防止され、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1が提供された領域に安定的に配置されることになる。また、前記第1導電層321が前記第1開口部TH1内で前記第1電極121の下面に安定的に連結される。
また、前記第2下部リセスR20は、前記第2フレーム112の下面に提供される。前記第2下部リセスR20は、前記第2フレーム112の下面から上面方向に凹むように提供される。前記第2下部リセスR20は、前記第2開口部TH2から離隔して配置される。
前記第2下部リセスR20は数μm~数十μmの幅で提供される。前記第2下部リセスR20に樹脂部が提供される。前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、例えば前記本体113と同一物質で提供される。
例えば、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、前記第1フレーム111、前記第2フレーム112、前記本体113が射出工程等によって形成される過程で提供される。
前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部は、前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域の周囲に配置される。前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域は一種の島(island)形状に周囲の前記第2フレーム112をなす下面から分離して配置される。
例えば、図2に示されたように、前記第2開口部TH2を提供する前記第2フレーム112の下面領域は、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部と前記本体113によって、周辺の前記第2フレーム112からアイソレーション(isolation)される。
よって、前記第2開口部TH2に提供された前記第2導電層322が前記第2開口部TH2から外れ、前記第2下部リセスR20に満たされた樹脂部または前記本体113を越えて拡散することが防止される。
これによって、前記第2導電層322が前記樹脂部または前記本体113が提供された領域に溢れることが防止され、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2が提供された領域に安定的に配置されることになる。また、前記第2導電層322が前記第2開口部TH2内で前記第2電極122の下面に安定的に連結される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図22に示されたように樹脂部135を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記第1フレーム111と前記発光素子120の間に配置される。前記樹脂部135は、前記第2フレーム112と前記発光素子120の間に配置される。前記樹脂部135は、前記パッケージ本体110に提供されたキャビティCの底面に提供される。
前記樹脂部135は、前記第1電極121の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記第2電極122の側面に配置される。前記樹脂部135は、前記半導体層123の下に配置される。
例えば、前記樹脂部135は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記樹脂部135は、前記発光素子120から放出される光を反射する反射部となることができ、例えばTiO等の反射物質を含む樹脂からなることができる。前記樹脂部135はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記樹脂部135は、前記発光素子120の下に配置されてシーリング(sealing)機能をすることができる。また、前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第1フレーム111の間の接着力を向上させることができる。前記樹脂部135は、前記発光素子120と前記第2フレーム112の間の接着力を向上させることができる。
前記樹脂部135は、前記第1電極121と前記第2電極122の周囲を密封することができる。前記樹脂部135は、前記第1導電層321と前記第2導電層322が前記第1開口部TH1領域と前記第2開口部TH2領域を超えて前記発光素子120の方向に拡散して移動することを防止することができる。
また、前記樹脂部135がホワイトシリコーンのような反射特性がある物質を含む場合、前記樹脂部135は、前記発光素子120から提供される光を前記パッケージ本体110の上部方向に反射させ、発光素子パッケージ100の光抽出効率を向上させることができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100は、図22に示されたように、モールディング部140を含むことができる。
前記モールディング部140は、前記発光素子120の上に提供される。前記モールディング部140は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の上に配置される。前記モールディング部140は、前記パッケージ本体110によって提供されたキャビティCに配置される。前記モールディング部140は、前記樹脂部135の上に配置される。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージ100によれば、前記第1フレーム111は下面に提供された下部リセスと上面に提供された上部リセスを含むことができる。例えば、前記第1フレーム111は下面に提供された少なくとも1つの下部リセスを含むことができる。また、前記第1フレーム111は、上面に提供された少なくとも1つの上部リセスを含むことができる。また、前記第1フレーム111は上面に提供された少なくとも1つの上部リセスと下面に提供された少なくとも1つの下部リセスを含むこともできる。また、前記第1フレーム111は上面と下面のいずれにもリセスが形成されていない構造で提供されてもよい。
同様に、前記第2フレーム112は下面に提供された少なくとも1つの下部リセスを含むことができる。また、前記第2フレーム112は、上面に提供された少なくとも1つの上部リセスを含むことができる。また、前記第2フレーム112は上面に提供された少なくとも1つの上部リセスと下面に提供された少なくとも1つの下部リセスを含むこともできる。また、前記第2フレーム112は上面と下面のいずれにもリセスが形成されていない構造で提供されてもよい。
実施例に係る発光素子パッケージ100は、前記第1開口部TH1領域を通じて前記第1電極121に電源が連結され、前記第2開口部TH2領域を通じて前記第2電極122に電源が連結される。
これによって、前記第1電極121及び前記第2電極122を通じて供給される駆動電源によって前記発光素子120が駆動される。そして、前記発光素子120から発光された光は、前記パッケージ本体110の上部方向に提供されることになる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージ100は、サブマウントまたは回路基板等に実装されて供給されてもよい。
ところで、従来、発光素子パッケージがサブマウントまたは回路基板等に実装される際に、リフロー(reflow)等の高温工程が適用されることがある。このとき、リフロー工程で、発光素子パッケージに提供されたリードフレームと発光素子の間のボンディング領域で再溶解(re-melting)現象が発生して、電気的連結及び物理的結合の安定性が弱まることがある。
しかし、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージ100は、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ100及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
一方、図1~図22を参照して説明された実施例に係る発光素子パッケージ100は、サブマウントまたは回路基板等に実装されて供給されてもよい。
次に、図23を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージのさらに別の例を説明する。
図23に示された本発明の実施例に係る発光素子パッケージ300は、図1~図22を参照して説明された発光素子パッケージ100が回路基板310に実装されて供給される例を示したものである。
図23を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージ300を説明することにおいて、図1~図22を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
実施例に係る発光素子パッケージ300は、図23に示されたように、回路基板310、パッケージ本体110、発光素子120を含むことができる。
前記回路基板310は、第1パッド311、第2パッド312、基板313を含むことができる。前記基板313に前記発光素子120の駆動を制御する電源供給回路が提供される。
前記パッケージ本体110は、前記回路基板310の上に配置される。前記第1パッド311と前記第1電極121が電気的に連結される。前記第2パッド312と前記第2電極122が電気的に連結される。
前記第1パッド311と前記第2パッド312は導電性物質を含むことができる。例えば、前記第1パッド311と前記第2パッド312は、Ti、Cu、Ni、Au、Cr、Ta、Pt、Sn、Ag、P、Fe、Sn、Zn、Alを含む群から選択された少なくとも1つの物質またはその合金を含むことができる。前記第1パッド311と前記第2パッド312は単層または多層で提供される。
前記パッケージ本体110は、第1フレーム111と第2フレーム112を含むことができる。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は相互離隔して配置される。
前記パッケージ本体110は本体113を含むことができる。前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の間に配置される。前記本体113は一種の電極分離線の機能をすることができる。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は絶縁性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができる。
また、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は導電性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができ、前記発光素子120に電気的に連結される。
前記パッケージ本体110は上面から下面まで第1方向に貫通する第1開口部TH1と第2開口部TH2を含むことができる。前記第1フレーム111は、前記第1開口部TH1を含むことができる。前記第2フレーム112は、前記第2開口部TH2を含むことができる。
前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111に提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111を貫通して提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121の下に配置される。前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。
前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112に提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112を貫通して提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122の下に配置される。前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。
前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は相互離隔して配置される。前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の下部面の下で相互離隔して配置される。
実施例に係る発光素子パッケージ300は、図23に示されたように、接着剤130を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間に配置される。前記接着剤130は、前記本体113の上面と前記発光素子120の下面の間に配置される。
また、実施例に係る発光素子パッケージ300は、図23に示されたように、リセスRを含むことができる。
前記リセスRは、前記本体113に提供される。前記リセスRは、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間に提供される。前記リセスRは、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記リセスRは、前記発光素子120の下に配置される。前記リセスRは、前記発光素子120と前記第1方向において重なって提供される。
例えば、前記接着剤130は、前記リセスRに配置される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
例えば、前記接着剤130は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記接着剤130はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間の安定した固定力を提供することができ、前記発光素子120の下面に光が放出される場合、前記発光素子120と前記本体113の間で光拡散機能を提供することができる。前記発光素子120から前記発光素子120の下面に光が放出されるとき、前記接着剤130は光拡散機能を提供することで、前記発光素子パッケージ300の光抽出効率を改善することができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージ300は、図23に示されたように、第1導電層321と第2導電層322を含むことができる。前記第1導電層321は、前記第2導電層322と離隔して配置される。
前記第1導電層321は、前記第1開口部TH1に提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下に配置される。前記第1導電層321の幅は、前記第1電極121の幅より小さく提供される。
前記第1電極121は、前記第1開口部TH1が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第1電極121の幅は、前記第1開口部TH1の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第1導電層321は、前記第1電極121の下面と直接接触して配置される。前記第1導電層321は、前記第1電極121と電気的に連結される。前記第1導電層321は、前記第1フレーム111によって取囲まれるように配置される。
前記第2導電層322は、前記第2開口部TH2に提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下に配置される。前記第2導電層322の幅は、前記第2電極122の幅より小さく提供される。
前記第2電極122は、前記第2開口部TH2が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第2電極122の幅は、前記第2開口部TH2の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第2導電層322は、前記第2電極122の下面と直接接触して配置される。前記第2導電層322は、前記第2電極122と電気的に連結される。前記第2導電層322は、前記第2フレーム112によって取囲まれるように配置される。
前記第1導電層321と前記第2導電層322は、Ag、Au、Pt等を含む群から選択された1つの物質またはその合金を含むことができるが、これに限定されるものではなく、前記第1導電層321と前記第2導電層322として導電性機能を確保できる物質を用いることができる。
実施例によれば、前記回路基板310の前記第1パッド311と前記第1導電層321が電気的に連結される。また、前記回路基板310の前記第2パッド312と前記第2導電層322が電気的に連結される。
一方、実施例によれば、前記第1パッド311と前記第1導電層321の間に別途のボンディング層が追加提供されてもよい。また、前記第2パッド312と前記第2導電層322の間に別途のボンディング層が追加提供されてもよい。
また、別の実施例によれば、前記第1導電層321と前記第2導電層322は、共晶ボンディングによって前記回路基板310に実装されてもよい。
図23を参照して説明された実施例に係る発光素子パッケージ300は、前記回路基板310から供給される電源が、前記第1導電層321と前記第2導電層322を通じて前記第1電極121と前記第2電極122にそれぞれ伝達される。このとき、前記回路基板310の前記第1パッド311と前記第1導電層321が直接接触し、前記回路基板310の前記第2パッド312と前記第2導電層322が直接接触する。
よって、図23に示された実施例に係る発光素子パッケージ300によれば、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112が絶縁性フレームで形成される。また、図23に示された実施例に係る発光素子パッケージ300によれば、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112が伝導性フレームで形成される。
以上で説明されたように、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージは、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
一方、図24に示された本発明の実施例に係る発光素子パッケージ400は、図1~図22を参照して説明された発光素子パッケージ100が回路基板410に実装されて供給される別の例を示したものである。
図24を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージ400を説明することにおいて、図1~図23を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
実施例に係る発光素子パッケージ400は、図24に示されたように、回路基板410、パッケージ本体110、発光素子120を含むことができる。
前記回路基板410は、第1パッド411、第2パッド412、基板413を含むことができる。前記基板313に前記発光素子120の駆動を制御する電源供給回路が提供される。
前記パッケージ本体110は、前記回路基板410の上に配置される。前記第1パッド411と前記第1電極121が電気的に連結される。前記第2パッド412と前記第2電極122が電気的に連結される。
前記第1パッド411と前記第2パッド412は導電性物質を含むことができる。例えば、前記第1パッド411と前記第2パッド412は、Ti、Cu、Ni、Au、Cr、Ta、Pt、Sn、Ag、P、Fe、Sn、Zn、Alを含む群から選択された少なくとも1つの物質またはその合金を含むことができる。前記第1パッド411と前記第2パッド412は単層または多層で提供される。
前記パッケージ本体110は、第1フレーム111と第2フレーム112を含むことができる。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は相互離隔して配置される。
前記パッケージ本体110は本体113を含むことができる。前記本体113は、前記第1フレーム111と前記第2フレーム112の間に配置される。前記本体113は一種の電極分離線の機能をすることができる。
前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は導電性フレームとして提供される。前記第1フレーム111と前記第2フレーム112は、前記パッケージ本体110の構造的な強度を安定的に提供することができ、前記発光素子120に電気的に連結される。
前記パッケージ本体110は、上面から下面まで第1方向に貫通する第1開口部TH1と第2開口部TH2を含むことができる。前記第1フレーム111は、前記第1開口部TH1を含むことができる。前記第2フレーム112は、前記第2開口部TH2を含むことができる。
前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111に提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111を貫通して提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121の下に配置される。前記第1開口部TH1は、前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。前記第1開口部TH1は、前記第1フレーム111の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第1電極121と重なって提供される。
前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112に提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112を貫通して提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面と下面を第1方向に貫通して提供される。
前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122の下に配置される。前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。前記第2開口部TH2は、前記第2フレーム112の上面から下面に向かう第1方向に前記発光素子120の前記第2電極122と重なって提供される。
前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は相互離隔して配置される。前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2は、前記発光素子120の下部面の下で相互離隔して配置される。
実施例に係る発光素子パッケージ400は、図24に示されたように、接着剤130を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間に配置される。前記接着剤130は、前記本体113の上面と前記発光素子120の下面の間に配置されることができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージ400は、図24に示されたように、リセスRを含むことができる。
前記リセスRは、前記本体113に提供される。前記リセスRは、前記第1開口部TH1と前記第2開口部TH2の間に提供される。前記リセスRは、前記本体113の上面から下面方向に凹むように提供される。前記リセスRは、前記発光素子120の下に配置される。前記リセスRは、前記発光素子120と前記第1方向において重なって提供される。
例えば、前記接着剤130は、前記リセスRに配置される。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間に配置される。前記接着剤130は、前記第1電極121と前記第2電極122の間に配置される。例えば、前記接着剤130は、前記第1電極121の側面と前記第2電極122の側面に接触して配置される。
前記接着剤130は、前記発光素子120と前記パッケージ本体110の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、前記発光素子120と前記本体113の間の安定した固定力を提供することができる。前記接着剤130は、例えば前記本体113の上面に直接接触して配置される。また、前記接着剤130は、前記発光素子120の下部面に直接接触して配置される。
例えば、前記接着剤130は、エポキシ(epoxy)系の物質、シリコーン(silicone)系の物質、エポキシ系の物質とシリコーン系の物質を含むハイブリッド(hybrid)物質のうち少なくとも1つを含むことができる。例えば、前記接着剤130はホワイトシリコーン(white silicone)を含むことができる。
前記接着剤130は、前記本体113と前記発光素子120の間の安定した固定力を提供することができ、前記発光素子120の下面に光が放出される場合、前記発光素子120と前記本体113の間で光拡散機能を提供することができる。前記発光素子120から前記発光素子120の下面に光が放出されるとき、前記接着剤130は光拡散機能を提供することで、前記発光素子パッケージ300の光抽出効率を改善することができる。
また、実施例に係る発光素子パッケージ400は、図24に示されたように、第1導電層321と第2導電層322を含むことができる。前記第1導電層321は、前記第2導電層322と離隔して配置される。
前記第1導電層321は、前記第1開口部TH1に提供される。前記第1導電層321は、前記第1電極121の下に配置される。前記第1導電層321の幅は、前記第1電極121の幅より小さく提供される。
前記第1電極121は、前記第1開口部TH1が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第1電極121の幅は、前記第1開口部TH1の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第1導電層321は、前記第1電極121の下面と直接接触して配置される。前記第1導電層321は、前記第1電極121と電気的に連結される。前記第1導電層321は、前記第1フレーム111によって取囲まれるように配置される。
前記第2導電層322は、前記第2開口部TH2に提供される。前記第2導電層322は、前記第2電極122の下に配置される。前記第2導電層322の幅は、前記第2電極122の幅より小さく提供される。
前記第2電極122は、前記第2開口部TH2が形成された第1方向と垂直な第2方向の幅を有することができる。前記第2電極122の幅は、前記第2開口部TH2の前記第2方向の幅より大きく提供される。
前記第2導電層322は、前記第2電極122の下面と直接接触して配置される。前記第2導電層322は、前記第2電極122と電気的に連結される。前記第2導電層322は、前記第2フレーム112によって取囲まれるように配置される。
前記第1導電層321と前記第2導電層322は、Ag、Au、Pt等を含む群から選択された1つの物質またはその合金を含むことができるが、これに限定されるものではなく、前記第1導電層321と前記第2導電層322として導電性機能を確保できる物質を用いることができる。
実施例によれば、前記回路基板410の前記第1パッド411と前記第1導電層321が電気的に連結される。また、前記回路基板410の前記第2パッド412と前記第2導電層322が電気的に連結される。
前記第1パッド411が前記第1フレーム111に電気的に連結される。また、前記第2パッド412が前記第2フレーム112に電気的に連結される。
一方、実施例によれば、前記第1パッド411と前記第1フレーム111の間に別途のボンディング層が追加提供されてもよい。また、前記第2パッド412と前記第2フレーム112の間に別途のボンディング層が追加提供されてもよい。
図24を参照して説明された実施例に係る発光素子パッケージ400は、前記回路基板410から供給される電源が、前記第1導電層321と前記第2導電層322を通じて前記第1電極121と前記第2電極122にそれぞれ伝達される。このとき、前記回路基板410の前記第1パッド411と前記第1フレーム111が直接接触し、前記回路基板410の前記第2パッド412と前記第2フレーム112が直接接触する。
以上で説明されたように、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、実施例に係る発光素子の第1電極と第2電極は、開口部に配置された導電層を通じて駆動電源が提供される。そして、開口部に配置された導電層の溶融点が、一般的なボンディング物質の溶融点より高い値を有するように選択される。
よって、実施例に係る発光素子パッケージは、メイン基板等にリフロー(reflow)工程を通じてボンディングされる場合にも、再溶解(re-melting)現象が発生しないので、電気的連結及び物理的ボンディング力が劣化しない長所がある。
また、実施例に係る発光素子パッケージ及び発光素子パッケージの製造方法によれば、発光素子パッケージを製造する工程でパッケージ本体110が高温に露出する必要がなくなる。よって、実施例によれば、パッケージ本体110が高温に露出して損傷したり変色が発生することを防止することができる。
これによって、本体113を構成する物質に対する選択幅が広くなる。実施例によれば、前記本体113は、セラミック等の高価の物質だけでなく、相対的に安価の樹脂物質を利用して提供することもできる。
例えば、前記本体113は、PPA(PolyPhtalAmide)樹脂、PCT(PolyCyclohexylenedimethylene Terephthalate)樹脂、EMC(Epoxy Molding Compound)樹脂、SMC(Silicone Molding Compound)樹脂を含む群から選択された少なくとも1つの物質を含むことができる。
一方、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージの場合、各電極パッドの下に1つの開口部が提供された場合を基準に説明された。
しかし、別の実施例に係る発光素子パッケージによれば、各電極パッドの下に複数の開口部が提供されてもよい。また、複数の開口部は相互異なる幅を有する開口部として提供されてもよい。
また、実施例に係る開口部の形状は、図25~図27に示されたように、多様な形状を有することができる。
例えば、図25に示されたように、実施例に係る開口部TH3は上部領域から下部領域まで同じ幅で提供されてもよい。
また、図26に示されたように、実施例に係る開口部TH4は、多端構造の形状を有することができる。例えば、開口部TH4は、2段構造の相互異なる傾斜角を有する形状を有することができる。また、開口部TH4は、3段以上の相互異なる傾斜角を有する形状を有することができる。
また、図27に示されたように、開口部TH5は上部領域から下部領域に行きながら幅が変わる形状を有することができる。例えば、開口部TH5は、上部領域から下部領域に行きながら曲率を有する形状を有することができる。
また、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージによれば、パッケージ本体110は上面が平坦な支持部材113のみを含み、傾斜するように配置された反射部を含まないように提供されてもよい。
即ち、実施例に係る発光素子パッケージによれば、前記パッケージ本体110は、キャビティCを提供する構造で提供されてもよい。また、前記パッケージ本体110は、キャビティCなしに上面が平坦な構造で提供されてもよい。
また、以上で説明された実施例に係る発光素子パッケージによれば、前記パッケージ本体110の第1及び第2フレーム111、112に第1及び第2開口部TH1、TH2が提供される場合を基に説明されたが、前記第1及び第2開口部TH1、TH2が前記パッケージ本体110の本体113に提供されてもよい。
このように、前記パッケージ本体110の本体113に前記第1及び第2開口部TH1、TH2が提供される場合に、前記発光素子120の長軸方向に沿った前記本体113の上面の長さは、前記発光素子120の第1電極121と第2電極122の間の長さより大きく提供される。
また、前記パッケージ本体110の本体113に前記第1及び第2開口部TH1、TH2が提供される場合に、実施例に係る発光素子パッケージは第1及び第2フレーム111、112を含まなくてもよい。
一方、以上で説明された発光素子パッケージには、例えばフリップチップ発光素子が提供される。
例えば、フリップチップ発光素子は、6面方向に光が放出される透過型フリップチップ発光素子として提供されてもよく、5面方向に光が放出される反射型フリップチップ発光素子として提供されてもよい。
前記5面方向に光が放出される反射型フリップチップ発光素子は、前記パッケージ本体110に近い方向に反射層が配置された構造を有することができる。例えば、前記反射型フリップチップ発光素子は、第1及び第2電極パッドと発光構造物の間に絶縁性反射層(例えば、Distributed Bragg Reflector、Omni Directional Reflector等)及び/または導電性反射層(例えば、Ag、Al、Ni、Au等)を含むことができる。
また、前記6面方向に光が放出されるフリップチップ発光素子は、第1導電型半導体層と電気的に連結される第1電極、第2導電型半導体層と電気的に連結される第2電極を有し、前記第1電極と前記第2電極の間から光が放出される一般的な水平型発光素子として提供される。
また、前記6面方向に光が放出されるフリップチップ発光素子は、前記第1及び第2電極パッドの間に反射層が配置された反射領域と、光が放出される透過領域を両方とも含む透過型フリップチップ発光素子として提供される。
ここで、透過型フリップチップ発光素子は、上部面、4つの側面、下部面の6面から光が放出される素子を意味する。また、反射型フリップチップ発光素子は、上部面、4つの側面の5面から光が放出される素子を意味する。
以下、添付された図面を参照して、本発明の実施例に係る発光素子パッケージに適用されたフリップチップ発光素子の例を説明する。
まず、図28及び図29を参照して、本発明の実施例に係る発光素子を説明する。図28は本発明の実施例に係る発光素子を示した平面図であり、図29は図28に示された発光素子のA-A線断面図である。
一方、理解し易いように、図28において、第1電極1171と第2電極1172の下に配置されるが、前記第1電極1171に電気的に連結された第1サブ電極1141と前記第2電極1172に電気的に連結された第2サブ電極1142が見えるように示されている。
実施例に係る発光素子1100は、図28及び図29に示されたように、基板1105の上に配置された発光構造物1110を含むことができる。
前記基板1105は、サファイア基板(Al2O3)、SiC、GaAs、GaN、ZnO、Si、GaP、InP、Geを含む群から選択される。例えば、前記基板1105は、上部面に凹凸パターンが形成されたPSS(Patterned Sapphire Substrate)として提供される。
前記発光構造物1110は、第1導電型半導体層1111、活性層1112、第2導電型半導体層1113を含むことができる。前記活性層1112は、前記第1導電型半導体層1111と前記第2導電型半導体層1113の間に配置される。例えば、前記第1導電型半導体層1111の上に前記活性層1112が配置され、前記活性層1112の上に前記第2導電型半導体層1113が配置される。
実施例によれば、前記第1導電型半導体層1111はn型半導体層として提供され、前記第2導電型半導体層1113はp型半導体層として提供される。もちろん、別の実施例によれば、前記第1導電型半導体層1111がp型半導体層として提供され、前記第2導電型半導体層1113がn型半導体層として提供されてもよい。
以下では説明の便宜を図り、前記第1導電型半導体層1111がn型半導体層として提供され、前記第2導電型半導体層1113がp型半導体層として提供された場合を基準に説明する。
実施例に係る発光素子1100は、図29に示されたように、オーミック接触層1130を含むことができる。前記オーミック接触層1130は、電流拡散を向上させて光出力を増加させることができる。前記オーミック接触層1130の配置位置及び形状に対しては、実施例に係る発光素子の製造方法を説明する際により詳しく説明する。
例えば、前記オーミック接触層1130は、金属、金属酸化物、金属窒化物を含む群から選択された少なくとも1つを含むことができる。前記オーミック接触層1130は、透光性の物質を含むことができる。
前記オーミック接触層1130は、例えばITO(indium tin oxide)、IZO(indium zinc oxide)、IZON(IZO nitride)、IZTO(indium zinc tin oxide)、IAZO(indium aluminum zinc oxide)、IGZO(indium gallium zinc oxide)、IGTO(indium gallium tin oxide)、AZO(aluminum zinc oxide)、ATO(antimony tin oxide)、GZO(gallium zinc oxide)、IrOx、RuOx、RuOx/ITO、Ni/IrOx/Au、Ni/IrOx/Au/ITO、Pt、Ni、Au、Rh、Pdを含む群から選択された少なくとも1つを含むことができる。
実施例に係る発光素子1100は、図28及び図29に示されたように、反射層1160を含むことができる。前記反射層1160は、第1反射層1161、第2反射層1162、第3反射層1163を含むことができる。前記反射層1160は、前記オーミック接触層1130の上に配置される。
前記第2反射層1162は、前記オーミック接触層1130を露出させる第1開口部h1を含むことができる。前記第2反射層1162は、前記オーミック接触層1130の上に配置された複数の第1開口部h1を含むことができる。
前記第1反射層1161は、前記第1導電型半導体層1111の上部面を露出させる複数の第2開口部h2を含むことができる。
前記第3反射層1163は、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162の間に配置される。例えば、前記第3反射層1163は、前記第1反射層1161と連結される。また、前記第3反射層1163は、前記第2反射層1162と連結される。前記第3反射層1163は、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162に物理的に直接接触して配置される。
例えば、前記第3反射層1163の幅W5は、図1~図24を参照して説明された前記リセスRの幅W4より小さく提供される。
これによって、前記第1反射層1161と前記第3反射層1163の間から放出される光が前記リセスR領域に配置された前記接着剤130に入射することができる。前記発光素子の下部方向に放出された光が前記接着剤130によって拡散され、光抽出効率が向上される。
また、前記第2反射層1162と前記第3反射層1163の間から放出される光が前記リセスR領域に配置された前記接着剤130に入射することができる。前記発光素子の下部方向に放出された光が前記接着剤130によって拡散され、光抽出効率が向上される。
実施例に係る前記反射層1160は、前記オーミック接触層1130に提供された複数のコンタクトホールを介して前記第2導電型半導体層1113に接触する。前記反射層1160は、前記オーミック接触層1130に提供された複数のコンタクトホールを介して前記第2導電型半導体層1113の上部面に物理的に接触する。
実施例に係るオーミック接触層1130の形状及び前記反射層1160の形状は、実施例に係る発光素子の製造方法を説明する際により詳しく説明する。
前記反射層1160は、絶縁性反射層として提供される。例えば、前記反射層1160は、DBR(Distributed Bragg Reflector)層として提供される。また、前記反射層1160は、ODR(Omni Directional Reflector)層として提供される。また、前記反射層1160は、DBR層とODR層が積層されて提供されてもよい。
実施例に係る発光素子1100は、図28及び図29に示されたように、第1サブ電極1141と第2サブ電極1142を含むことができる。
前記第1サブ電極1141は、前記第2開口部h2内部で前記第1導電型半導体層1111と電気的に連結される。前記第1サブ電極1141は、前記第1導電型半導体層1111の上に配置される。例えば、実施例に係る発光素子1100によれば、前記第1サブ電極1141は、前記第2導電型半導体層1113、前記活性層1112を貫通して第1導電型半導体層1111の一部領域まで配置されるリセス内で前記第1導電型半導体層1111の上面に配置される。
前記第1サブ電極1141は、前記第1反射層1161に提供された第2開口部h2を介して前記第1導電型半導体層1111の上面に電気的に連結される。前記第2開口部h2と前記リセスは垂直に重なり、例えば前記第1サブ電極1141は、図28及び図29に示されたように、複数のリセス領域で前記第1導電型半導体層1111の上面に直接接触する。
前記第2サブ電極1142は、前記第2導電型半導体層1113に電気的に連結される。前記第2サブ電極1142は、前記第2導電型半導体層1113の上に配置される。実施例によれば、前記第2サブ電極1142と前記第2導電型半導体層1113の間に前記オーミック接触層1130が配置される。
前記第2サブ電極1142は、前記第2反射層1162に提供された第1開口部h1を介して前記第2導電型半導体層1113と電気的に連結される。例えば、前記第2サブ電極1142は、図28及び図29に示されたように、複数のP領域で前記オーミック接触層1130を介して前記第2導電型半導体層1113に電気的に連結される。
前記第2サブ電極1142は、図28及び図29に示されたように、複数のP領域で前記第2反射層1162に提供された複数の第1開口部h1を介して前記オーミック接触層1130の上面に直接接触する。
実施例によれば、図28及び図29に示されたように、前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142は相互極性を有することができ、相互離隔して配置される。
前記第1サブ電極1141は、例えば複数のライン形状に提供される。また、前記第2サブ電極1142は、例えば複数のライン形状に提供される。前記第1サブ電極1141は、隣接した複数の第2サブ電極1142の間に配置される。前記第2サブ電極1142は、隣接した複数の第1サブ電極1141の間に配置される。
前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142が相互異なる極性で構成される場合、相互異なる個数の電極で配置される。例えば前記第1サブ電極1141がn電極で、前記第2サブ電極1142がp電極で構成される場合、前記第1サブ電極1141より前記第2サブ電極1142の個数が多い。前記第2導電型半導体層1113と前記第1導電型半導体層1111の電気伝導度及び/または抵抗が相互異なる場合、前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142により前記発光構造物1110で注入される電子と正孔のバランスを合わせることができ、よって前記発光素子の光学的特性が改善される。
前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142は、単層または多層構造で形成される。例えば、前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142はオーミック電極からなることができる。例えば、前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142は、ZnO、IrOx、RuOx、NiO、RuOx/ITO、Ni/IrOx/Au、及びNi/IrOx/Au/ITO、Ag、Ni、Cr、Ti、Al、Rh、Pd、Ir、Ru、Mg、Zn、Pt、Au、Hfのうちの少なくとも1つまたは2つ以上の物質の合金からなることができる。
実施例に係る発光素子1100は、図28及び図29に示されたように、保護層1150を含むことができる。
前記保護層1150は、前記第2サブ電極1142を露出させる複数の第3開口部h3を含むことができる。前記複数の第3開口部h3は、前記第2サブ電極1142に提供された複数のPB領域に対応して配置される。
また、前記保護層1150は、前記第1サブ電極1141を露出させる複数の第4開口部h4を含むことができる。前記複数の第4開口部h4は、前記第1サブ電極1141に提供された複数のNB領域に対応して配置される。
前記保護層1150は、前記反射層1160の上に配置される。前記保護層1150は、前記第1反射層1161、前記第2反射層1162、前記第3反射層1163の上に配置される。
例えば、前記保護層1150は絶縁物質にて提供される。例えば、前記保護層1150は、SixOy、SiOxNy、SixNy、AlxOyを含む群から選択された少なくとも1つの物質から形成される。
実施例に係る発光素子1100は、図28及び図29に示されたように、前記保護層1150の上に配置された第1電極1171と第2電極1172を含むことができる。
前記第1電極1171は、前記第1反射層1161の上に配置される。また、前記第2電極1172は、前記第2反射層1162の上に配置される。前記第2電極1172は、前記第1電極1171と離隔して配置される。
前記第1電極1171は、複数のNB領域で前記保護層1150に提供された複数の前記第4開口部h4を介して前記第1サブ電極1141の上部面に接触する。前記複数のNB領域は、前記第2開口部h2と垂直にずれるように配置される。前記複数のNB領域と前記第2開口部h2が垂直にずれる場合、前記第1電極1171から注入される電流が前記第1サブ電極1141の水平方向に均一に拡散し、よって前記複数のNB領域で電流が均一に注入される。
また、前記第2電極1172は、複数のPB領域で前記保護層1150に提供された複数の前記第3開口部h3を介して前記第2サブ電極1142の上部面に接触する。前記複数のPB領域と前記複数の第1開口部h1が垂直に重ならないようにする場合、前記第2電極1172から注入される電流が前記第2サブ電極1142の水平方向に均一に拡散し、よって前記複数のPB領域で電流が均一に注入される。
このように、実施例に係る発光素子1100によれば、前記第1電極1171と前記第1サブ電極1141は、前記複数の第4開口部h4領域で接触する。また、前記第2電極1172と前記第2サブ電極1142が複数の領域で接触する。これによって、実施例によれば、複数の領域を通じて電源が供給されるので、接触面積の増加及び接触領域の分散により電流の分散効果が発生し、動作電圧が減少する効果がある。
また、実施例に係る発光素子1100によれば、図29に示されたように、前記第1反射層1161が前記第1サブ電極1141の下に配置され、前記第2反射層1162が前記第2サブ電極1142の下に配置される。これによって、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、前記発光構造物1110の活性層1112から発光される光を反射させ、第1サブ電極1141と第2サブ電極1142で光吸収が発生することを最小化して光度(Po)を向上させることができる。
例えば、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、絶縁性材料からなり、かつ前記活性層1112から放出された光の反射のために反射率が高い材料、例えばDBR構造をなすことができる。
前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、屈折率が異なる物質が交互に配置されたDBR構造をなすことができる。例えば、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、TiO、SiO、TaO、HfOのうち少なくとも1つ以上を含む単層または積層構造で配置される。
また、別の実施例によれば、これに限定されるものではなく、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、前記活性層1112から発光する光の波長に応じて前記活性層1112から発光する光に対する反射度を調節できるように自在に選択される。
また、別の実施例によれば、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、ODR層として提供されてもよい。また、別の実施例によれば、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、DBR層とODR層が積層された一種のハイブリッド(hybrid)形態で提供されてもよい。
実施例に係る発光素子が、フリップチップボンディング方式で実装されて発光素子パッケージとして具現される場合、前記発光構造物1110から提供される光は、前記基板1105を介して放出される。前記発光構造物1110から放出される光は、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162で反射されて前記基板1105方向に放出される。
また、前記発光構造物1110から放出される光は、前記発光構造物1110の側面方向にも放出される。また、前記発光構造物1110から放出される光は、前記第1電極1171と前記第2電極1172が配置された面のうち、前記第1電極1171と前記第2電極1172が提供されていない領域を通じて外部に放出される。
具体的に、前記発光構造物1110から放出される光は、前記第1電極1171と前記第2電極1172が配置された面のうち、前記第1反射層1161、前記第2反射層1162、前記第3反射層1163が提供されていない領域を通じて外部に放出される。
これによって、実施例に係る発光素子1100は、前記発光構造物1110を取囲んだ6面方向に光を放出することができるようになり、光度を著しく向上させることができる。
一方、実施例に係る発光素子によれば、発光素子1100の上方向から見たとき、前記第1電極1171と前記第2電極1172の面積の合計は、前記第1電極1171と前記第2電極1172が配置された前記発光素子1100の上部面の全体面積の60%またはより小さく提供される。
例えば、前記発光素子1100の上部面の全体面積は、前記発光構造物1110の第1導電型半導体層1111の下部面の横長及び縦長によって定義される面積に対応する。また、前記発光素子1100の上部面の全体面積は、前記基板1105の上部面または下部面の面積に対応する。
このように、前記第1電極1171と前記第2電極1172の面積の合計が前記発光素子1100の全体面積の60%またはより小さく提供されるようにすることで、前記第1電極1171と前記第2電極1172が配置された面に放出される光の量が増加する。これによって、実施例によれば、前記発光素子1100の6面方向に放出される光の量が増加するので、光抽出効率が向上して光度(Po)が増加する。
また、前記発光素子の上方向から見たとき、前記第1電極1171の面積と前記第2電極1172の面積の合計は、前記発光素子1100の全体面積の30%またはより大きく提供される。
このように、前記第1電極1171と前記第2電極1172の面積の合計が前記発光素子1100の全体面積の30%またはより大きく提供されるようにすることで、前記第1電極1171と前記第2電極1172を介して安定した実装が行われ、前記発光素子1100の電気的な特性を確保できることになる。
実施例に係る発光素子1100は、光抽出効率及びボンディングの安定性確保を考慮して、前記第1電極1171と前記第2電極1172の面積の合計が前記発光素子1100の全体面積の30%以上60%以下に選択される。
即ち、前記第1電極1171と前記第2電極1172の面積の合計が前記発光素子1100の全体面積の30%以上100%以下である場合、前記発光素子1100の電気的特性を確保し、発光素子パッケージに実装されるボンディング力を確保して安定した実装が可能となる。
また、前記第1電極1171と前記第2電極1172の面積の合計が前記発光素子1100の全体面積の0%以上60%以下である場合、前記第1電極1171と前記第2電極1172が配置された面に放出される光量が増加して前記発光素子1100の光抽出効率が向上し、光度(Po)が増加する。
実施例では、前記発光素子1100の電気的特性と発光素子パッケージに実装されるボンディング力を確保し、光度を増加させるために、前記第1電極1171と前記第2電極1172の面積の合計が前記発光素子1100の全体面積の30%以上60%以下に選択した。
また、実施例に係る発光素子1100によれば、前記第3反射層1163が前記第1電極1171と前記第2電極1172の間に配置される。例えば、前記第3反射層1163の前記発光素子1100の長軸方向の長さW5は、前記第1電極1171と前記第2電極1172の間の間隔に対応して配置される。また、前記第3反射層1163の面積は、例えば前記発光素子1100の上部面全体の10%以上25%以下に提供される。
前記第3反射層1163の面積が前記発光素子1100の上部面全体の10%以上である時、前記発光素子の下部に配置されるパッケージ本体が変色したり亀裂が発生することを防止することができ、25%以下の場合、前記発光素子の6面に発光するようにする光抽出効率を確保し易くなる。
また、別の実施例ではこれに限定されず、前記光抽出効率をより大きく確保するために、前記第3反射層1163の面積を前記発光素子1100の上部面全体の0%以上10%未満に配置することができ、前記パッケージ本体に変色または亀裂の発生を防止するために、前記第3反射層1163の面積を前記発光素子1100の上部面全体の25%以上100%未満に配置することができる。
また、前記発光素子1100の長軸方向に配置された側面と隣接する前記第1電極1171または前記第2電極1172の間に提供された第2領域で前記発光構造物1110から生成された光が透過して放出される。
また、前記発光素子1100の短軸方向に配置された側面と隣接する前記第1電極1171または前記第2電極1172の間に提供された第3領域に前記発光構造物から生成された光が透過して放出される。
実施例によれば、前記第1反射層1161の大きさは、前記第1電極1171の大きさに比べて数μm大きく提供される。例えば、前記第1反射層1161の面積は、前記第1電極1171の面積を完全に覆うことができる大きさで提供される。工程誤差を考慮して、前記第1反射層1161の1辺の長さは、前記第1電極1171の1辺の長さに比べて、例えば4μm~10μm程度大きく提供される。
また、前記第2反射層1162の大きさは、前記第2電極1172の大きさに比べて数μm大きく提供される。例えば、前記第2反射層1162の面積は、前記第2電極1172の面積を完全に覆うことができる大きさで提供される。工程誤差を考慮して、前記第2反射層1162の1辺の長さは、前記第2電極1172の1辺の長さに比べて、例えば4μm~10μm程度大きく提供される。
実施例によれば、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162によって、前記発光構造物1110から放出される光が前記第1電極1171と前記第2電極1172に入射することなく反射されることになる。これによって、実施例によれば、前記発光構造物1110から生成されて放出される光が前記第1電極1171と前記第2電極1172に入射して失われることを最小化することができる。
また、実施例に係る発光素子1100によれば、前記第3反射層1163が前記第1電極1171と前記第2電極1172の間に配置されるので、前記第1電極1171と前記第2電極1172の間から放出される光の量を調節できることになる。
上述したように、実施例に係る発光素子1100は、例えばフリップチップボンディング方式で実装されて発光素子パッケージ形態で提供される。このとき、発光素子1100が実装されるパッケージ本体が樹脂等で提供される場合、前記発光素子1100の下部領域で、前記発光素子1100から放出される短波長の強い光によってパッケージ本体が変色したり亀裂が発生する場合がある。
しかし、実施例に係る発光素子1100によれば、前記第1電極1171と前記第2電極1172が配置された領域の間から放出される光の量を調節できるので、前記発光素子1100の下部領域に配置されたパッケージ本体が変色したり亀裂が発生することを防止することができる。
実施例によれば、前記第1電極1171、前記第2電極1172、前記第3反射層1163が配置された前記発光素子1100の上部面の20%以上面積で前記発光構造物1110から生成された光が透過して放出される。
これによって、実施例によれば、前記発光素子1100の6面方向に放出される光の量が増加するので、光抽出効率が向上して光度(Po)が増加する。また、前記発光素子1100の下部面に近接するように配置されたパッケージ本体が変色したり亀裂が発生することを防止できる。
また、実施例に係る発光素子1100によれば、前記オーミック接触層1130に複数のコンタクトホールC1、C2、C3が提供される。前記オーミック接触層1130に提供された複数のコンタクトホールC1、C2、C3を介して、前記第2導電型半導体層1113と前記反射層1160が接着される。前記反射層1160が前記第2導電型半導体層1113に直接接触するので、前記反射層1160が前記オーミック接触層1130に接触することに比べて接着力が向上される。
前記反射層1160が前記オーミック接触層1130のみに直接接触する場合、前記反射層1160と前記オーミック接触層1130の間の結合力または接着力が弱くなることがある。例えば、絶縁層と金属層が結合される場合、物質相互間の結合力または接着力が弱くなることがある。
例えば、前記反射層1160と前記オーミック接触層1130の間の結合力または接着力が弱い場合、両層の間に剥離が発生する場合がある。このように、前記反射層1160と前記オーミック接触層1130の間に剥離が発生すると、発光素子1100の特性が劣化し、また発光素子1100の信頼性を確保できなくなる。
しかし、実施例によれば、前記反射層1160が前記第2導電型半導体層1113に直接接触するので、前記反射層1160、前記オーミック接触層1130、前記第2導電型半導体層1113の間の結合力及び接着力が安定的に提供される。
よって、実施例によれば、前記反射層1160と前記第2導電型半導体層1113の間の結合力が安定的に提供されるので、前記反射層1160が前記オーミック接触層1130から剥離することを防止することができる。また、前記反射層1160と前記第2導電型半導体層1113の間の結合力が安定的に提供されるので、発光素子1100の信頼性を向上させることができる。
一方、以上で説明されたように、前記オーミック接触層1130に複数のコンタクトホールC1、C2、C3が提供される。前記活性層1112から発光された光は、前記オーミック接触層1130に提供された複数のコンタクトホールC1、C2、C3を介して前記反射層1160に入射して反射される。これによって、前記活性層1112から生成された光が前記オーミック接触層1130に入射して失われることを減少させることができ、光抽出効率が向上される。よって、実施例に係る発光素子1100によれば光度が向上される。
以下、添付された図面を参照して実施例に係る発光素子の製造方法を説明する。実施例に係る発光素子の製造方法を説明することにおいて、図28及び図29を参照して説明された内容と重なる事項に対しては、説明を省略する場合もある。
まず、実施例に係る発光素子の製造方法によれば、図30a及び図30bに示されたように、基板1105の上に発光構造物1110が形成される。図30aは実施例に係る発光素子の製造方法によって形成された発光構造物1110の形状を示した平面図であり、図30bは図30aに示された発光素子のA-A線工程断面図である。
実施例によれば、前記基板1105の上に発光構造物1110が形成される。例えば、前記基板1105の上に第1導電型半導体層1111、活性層1112、第2導電型半導体層1113が形成される。
実施例によれば、メサエッチング工程によって、前記第1導電型半導体層1111の一部領域が露出するように形成される。前記発光構造物1110は、メサエッチングによって前記第1導電型半導体層1111を露出させる複数のメサ開口部Mを含むことができる。例えば、前記メサ開口部Mは、複数の円形状で提供される。また、前記メサ開口部Mは、リセスと称することもできる。前記メサ開口部Mは、円形状だけでなく、楕円形または多角形等の多様な形状を有することができる。
次に、図31a及び図31bに示されたように、オーミック接触層1130が形成される。図31aは実施例に係る発光素子の製造方法によって形成されたオーミック接触層1130の形状を示した平面図であり、図31bは図31aに示された発光素子のA-A線工程断面図である。
実施例によれば、前記第2導電型半導体層1113の上に前記オーミック接触層1130が形成される。前記オーミック接触層1130は、前記メサ開口部Mに対応する領域に提供された複数の開口部M1を含むことができる。
例えば、前記開口部M1は複数の円形状で提供される。前記開口部M1は、円形状だけでなく、楕円形または多角形等の多様な形状を有することができる。
前記オーミック接触層1130は、第1領域R1、第2領域R2、第3領域R3を含むことができる。前記第1領域R1と前記第2領域R2は、相互離隔して配置される。また、前記第3領域R3は、前記第1領域R1と前記第2領域R2の間に配置される。
前記第1領域R1は、前記発光構造物1110のメサ開口部Mに対応する領域に提供された複数の開口部M1を含むことができる。また、前記第1領域R1は複数の第1コンタクトホールC1を含むことができる。例えば、前記第1コンタクトホールC1は、前記開口部M1の周辺に複数提供される。
前記第2領域R2は、前記発光構造物1110のメサ開口部Mに対応する領域に提供された複数の開口部M1を含むことができる。また、前記第2領域R2は複数の第2コンタクトホールC2を含むことができる。例えば、前記第2コンタクトホールC2は、前記開口部M1の周辺に複数提供される。
前記第3領域R3は、前記発光構造物1110のメサ開口部Mに対応する領域に提供された複数の開口部M1を含むことができる。また、前記第1領域R1は複数の第1コンタクトホールC1を含むことができる。例えば、前記第1コンタクトホールC1は、前記開口部M1の周辺に複数提供される。
実施例によれば、前記第1コンタクトホールC1、前記第2コンタクトホールC2、前記第3コンタクトホールC3は、数μm~数十μmの直径で提供される。前記第1コンタクトホールC1、前記第2コンタクトホールC2、前記第3コンタクトホールC3は、例えば7μm~20μmの直径で提供される。
前記第1コンタクトホールC1、前記第2コンタクトホールC2、前記第3コンタクトホールC3は、円形状だけでなく、楕円形または多角形等の多様な形状を有することができる。
実施例によれば、前記第1コンタクトホールC1、前記第2コンタクトホールC2、前記第3コンタクトホールC3によって、前記オーミック接触層1130の下に配置された前記第2導電型半導体層1113が露出する。
前記開口部M1、前記第1コンタクトホールC1、前記第2コンタクトホールC2、前記第3コンタクトホールC3の機能に対しては、後続工程を説明しながらさらに詳述する。
次に、図32a及び図32bに示されたように、反射層1160が形成される。図32aは実施例に係る発光素子の製造方法によって形成された反射層1160の形状を示した平面図であり、図32bは図32aに示された発光素子のA-A線工程断面図である。
前記反射層1160は、第1反射層1161、第2反射層1162、第3反射層1163を含むことができる。前記反射層1160は、前記オーミック接触層1130の上に配置される。前記反射層1160は、前記第1導電型半導体層1111と前記第2導電型半導体層1113の上に配置される。
前記第1反射層1161と前記第2反射層1162は、相互離隔して配置される。前記第3反射層1163は、前記第1反射層1161と前記第2反射層1162の間に配置される。
前記第1反射層1161は、前記オーミック接触層1130の第1領域R1の上に配置される。前記第1反射層1161は、前記オーミック接触層1130に提供された複数の第1コンタクトホールC1の上に配置される。
前記第2反射層1162は、前記オーミック接触層1130の第2領域R2の上に配置される。前記第2反射層1162は、前記オーミック接触層1130に提供された複数の第2コンタクトホールC2の上に配置される。
前記第3反射層1163は、前記オーミック接触層1130の第3領域R3の上に配置される。前記第3反射層1163は、前記オーミック接触層1130に提供された複数の第3コンタクトホールC3の上に配置される。
前記第2反射層1162は、複数の開口部を含むことができる。例えば、前記第2反射層1162は、複数の第1開口部h1を含むことができる。前記複数の第1開口部h1を介して前記オーミック接触層1130が露出する。
また、前記第1反射層1161は、複数の第2開口部h2を含むことができる。前記複数の第2開口部h2を介して前記第1導電型半導体層1111の上部面が露出する。前記複数の第2開口部h2は、前記発光構造物1110に形成された前記複数のメサ開口部M領域に対応して提供される。また、前記複数の第2開口部h2は、前記オーミック接触層1130に提供された複数の開口部M1領域に対応して提供される。
一方、実施例によれば、前記第1反射層1161は、前記オーミック接触層1130の第1領域R1の上に提供される。また、前記第1反射層1161は、前記オーミック接触層1130に提供された前記第1コンタクトホールC1を介して前記第2導電型半導体層1113に接触する。これによって、前記第1反射層1161と前記第2導電型半導体層1113の間の接着力が向上し、前記第1反射層1161が前記オーミック接触層1130から剥離することを防止することができる。
また、実施例によれば、前記第2反射層1162は、前記オーミック接触層1130の第2領域R2の上に提供される。前記第2反射層1162は、前記オーミック接触層1130に提供された前記第2コンタクトホールC2を介して前記第2導電型半導体層1113に接触する。これによって、前記第2反射層1162と前記第2導電型半導体層1113の間の接着力が向上し、前記第2反射層1162が前記オーミック接触層1130から剥離することを防止することができる。
また、実施例によれば、前記第3反射層1163は、前記オーミック接触層1130の第3領域R3の上に提供される。前記第3反射層1163は、前記オーミック接触層1130に提供された前記第3コンタクトホールC3を介して前記第2導電型半導体層1113に接触する。これによって、前記第3反射層1163と前記第2導電型半導体層1113の間の接着力が向上し、前記第3反射層1163が前記オーミック接触層1130から剥離することを防止することができる。
続いて、図33a及び図33bに示されたように、第1サブ電極1141と第2サブ電極1142が形成される。図33aは実施例に係る発光素子の製造方法によって形成された第1サブ電極1141と第2サブ電極1142の形状を示した平面図であり、図33bは図33aに示された発光素子のA-A線工程断面図である。
実施例によれば、前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142は、相互離隔して配置される。
前記第1サブ電極1141は、前記第1導電型半導体層1111に電気的に連結される。前記第1サブ電極1141は、前記第1導電型半導体層1111の上に配置される。例えば、実施例に係る発光素子1100によれば、前記第1サブ電極1141は、前記第2導電型半導体層1113の一部と前記活性層1112の一部が除去されて露出した第1導電型半導体層1111の上面に配置される。
前記第1サブ電極1141は、例えば線形状に形成される。また、前記第1サブ電極1141は、線形状の他の領域に比べて相対的に面積が広いN領域を含むことができる。前記第1サブ電極1141のN領域は、後で形成される第1電極1171と電気的に連結される。
前記第1サブ電極1141は、前記第1反射層1161に提供された第2開口部h2を介して前記第1導電型半導体層1111の上面に電気的に連結される。例えば、前記第1サブ電極1141は、複数のN領域で前記第1導電型半導体層1111の上面に直接接触する。
前記第2サブ電極1142は、前記第2導電型半導体層1113に電気的に連結される。前記第2サブ電極1142は、前記第2導電型半導体層1113の上に配置される。実施例によれば、前記第2サブ電極1142と前記第2導電型半導体層1113の間に前記オーミック接触層1130が配置される。
前記第2サブ電極1142は、例えば線形状に形成される。また、前記第2サブ電極1142は、線形状の他の領域に比べて相対的に面積が広いP領域を含むことができる。前記第2サブ電極1142のP領域は、後で形成される第2電極1172と電気的に連結される。
前記第2サブ電極1142は、前記第2反射層1162に提供された第1開口部h1を介して前記第2導電型半導体層1113の上面に電気的に連結される。例えば、前記第2サブ電極1142は、複数のP領域で前記オーミック接触層1130を介して前記第2導電型半導体層1113に電気的に連結される。前記第2サブ電極1142は、複数のP領域で前記オーミック接触層1130の上部面に直接接触する。
次に、図34a及び図34bに示されたように、保護層1150が形成される。図34aは実施例に係る発光素子の製造方法によって形成された保護層1150の形状を示した平面図であり、図34bは図34aに示された発光素子のA-A線工程断面図である。
前記保護層1150は、前記第1サブ電極1141と前記第2サブ電極1142の上に配置される。前記保護層1150は、前記反射層1160の上に配置される。
前記保護層1150は、前記第1サブ電極1141の上部面を露出させる第4開口部h4を含むことができる。前記保護層1150は、前記第1サブ電極1141の複数のNB領域を露出させる複数の第4開口部h4を含むことができる。
前記第4開口部h4は、前記第1反射層1161が配置された領域の上に提供される。また、前記第4開口部h4は、前記オーミック接触層1130の第1領域R1の上に提供される。
前記保護層1150は、前記第2サブ電極1142の上部面を露出させる第3開口部h3を含むことができる。前記保護層1150は、前記第2サブ電極1142の複数のPB領域を露出させる複数の第3開口部h3を含むことができる。
前記第3開口部h3は、前記第2反射層1162が配置された領域の上に提供される。また、前記第3開口部h3は、前記オーミック接触層1130の第2領域R2の上に提供される。
続いて、図35a及び図35bに示されたように、第1電極1171と第2電極1172が形成される。図35aは実施例に係る発光素子の製造方法によって形成された前記第1電極1171と前記第2電極1172の形状を示した平面図であり、図35bは図35aに示された発光素子のA-A線工程断面図である。
実施例によれば、図35aに示された形状で前記第1電極1171と前記第2電極1172が形成される。前記第1電極1171と前記第2電極1172は、前記保護層1150の上に配置される。
前記第1電極1171は、前記第1反射層1161の上に配置される。前記第2電極1172は、前記第2反射層1162の上に配置される。前記第2電極1172は、前記第1電極1171と離隔して配置される。
前記第1電極1171は、複数のNB領域で前記保護層1150に提供された前記第4開口部h4を介して前記第1サブ電極1141の上部面に接触する。前記第2電極1172は、複数のPB領域で前記保護層1150に提供された前記第3開口部h3を介して前記第2サブ電極1142の上部面に接触する。
実施例によれば、前記第1電極1171と前記第2電極パッド172に電源が印加されことで、前記発光構造物1110が発光さする。
このように実施例に係る発光素子1100によれば、前記第1電極1171と前記第1サブ電極1141が複数の領域で接触する。また、前記第2電極1172と前記第2サブ電極1142が複数の領域で接触する。これによって、実施例によれば、複数の領域を通じて電源が供給されるので、接触面積の増加及び接触領域の分散により電流の分散効果が発生し、動作電圧が減少する効果がある。
実施例に係る発光素子パッケージは、光源装置に適用することができる。
また、光源装置は、産業分野によって、表示装置、照明装置、ヘッドランプ等を含むことができる。
光源装置の例として、表示装置は、ボトムカバーと、ボトムカバーの上に配置される反射板と、光を放出し発光素子を含む発光モジュールと、反射板の前方に配置され、発光モジュールから発される光を前方に案内する導光板と、導光板の前方に配置されるプリズムシートを含む光学シートと、光学シートの前方に配置されるディスプレイパネルと、ディスプレイパネルと連結され、ディスプレイパネルに画像信号を供給する画像信号出力回路と、ディスプレイパネルの前方に配置されるカラーフィルターを含むことができる。ここで、ボトムカバー、反射板、発光モジュール、導光板及び光学シートは、バックライトユニット(Backlight Unit)を構成することができる。また、表示装置は、カラーフィルターを含まず、赤色(Red)、緑色(Green)、青色(Blue)の光を放出する発光素子がそれぞれ配置される構造を有することもできる。
光源装置の別の例として、ヘッドランプは、基板の上に配置される発光素子パッケージを含む発光モジュール、発光モジュールから照射される光を一定方向、例えば前方に反射させるリフレクター(reflector)、リフレクターによって反射される光を前方に屈折させるレンズ、及びリフレクターによって反射されてレンズに向かう光の一部分を遮断または反射して、設計者が所望する配光パターンをなすようにするシェード(shade)を含むことができる。
光源装置の他の例である照明装置は、カバー、光源モジュール、放熱体、電源提供部、内部ケース、ソケットを含むことができる。また、実施例に係る光源装置は、部材とホルダーのうちいずれか1つ以上をさらに含むことができる。前記光源モジュールは、実施例に係る発光素子パッケージを含むことができる。
以上の実施例で説明された特徴、構造、効果等は少なくとも1つの実施例に含まれ、必ず1つの実施例のみに限定されるものではない。さらに、各実施例で例示された特徴、構造、効果等は、実施例が属する分野で通常の知識を有する者によって別の実施例に組合せまたは変形して実施可能である。従って、そのような組合せと変形に係る内容は、実施例の範囲に含まれると解釈されるべきである。
以上、実施例を中心に説明したが、これは単なる例示にすぎず、実施例を限定するものではなく、実施例が属する分野の通常の知識を有する者であれば、本実施例の本質的な特性を逸脱しない範囲内で、以上に例示されていない多様な変形と応用が可能であろう。例えば、実施例に具体的に示された各構成要素は変形して実施可能であり、そしてそのような変形と応用に係る差異点は、添付された特許請求の範囲で設定する実施例の範囲に含まれると解釈されるべきである。
110 パッケージ本体、111 第1フレーム、112 第2フレーム、113 本体、120 発光素子、121 第1電極、122 第2電極、123 半導体層、130 接着剤、135 樹脂部、140 モールディング部、310 回路基板、311 第1パッド、312 第2パッド、313 基板、321 第1導電層、321a 第1上部導電層、321b 第1下部導電層、322 第2導電層、322a 第2上部導電層、322b 第2下部導電層、R リセス、TH1 第1開口部、TH2 第2開口部。

Claims (7)

  1. 相互離隔して配置された第1及び第2フレームと、
    前記第1及び第2フレームの間に配置された本体を含むパッケージ本体と、
    第1及び第2電極を含む発光素子と、
    前記第1フレームに提供された第1開口部と、
    前記第2フレームに提供された第2開口部と、
    前記パッケージ本体の前記本体と前記発光素子との間に配置された第1樹脂と、
    前記第1及び第2開口部内に配置された導電層と、
    前記第1フレームと前記第2フレームとの間に配置された第1リセスと、
    前記第1及び第2フレームに配置された第2リセスと、
    前記第2リセスに配置された第2樹脂と、
    を含み、
    前記第1リセスは、前記本体の上面に提供され、
    前記第1樹脂は、前記第1リセスに配置され、
    前記発光素子の前記第1電極は、前記第1フレームの前記第1開口部と重なり、
    前記発光素子の前記第2電極は、前記第2フレームの前記第2開口部と重なり、
    前記第1電極と前記第2電極は、相互離隔して配置され、
    前記第1及び第2開口部内に配置された前記導電層は、前記第1及び第2電極にそれぞれ接触し、
    前記第1電極の第1側面と、前記第1側面と対向する前記第2電極の第2側面は、全て前記第1樹脂に接触し、
    前記第2リセスは、前記第1フレームの前記第1開口部及び前記第2フレームの前記第2開口部を少なくとも部分的に取り囲む、
    発光素子パッケージ。
  2. 前記第2リセスは、前記第1フレームに提供された第1部分と前記第2フレームに提供された第2部分とを含む、請求項1に記載の発光素子パッケージ。
  3. 前記第1リセスは、前記第2リセスから離隔した、請求項1に記載の発光素子パッケージ。
  4. 前記第2リセスは、前記第1リセスを取り囲む、請求項1に記載の発光素子パッケージ。
  5. 前記第1リセスの第1深さは、前記第2リセスの第2深さと同一である、請求項1に記載の発光素子パッケージ。
  6. 前記第1リセスの第1深さは、前記第2リセスの第2深さと異なる、請求項1に記載の発光素子パッケージ。
  7. 前記第1フレームの前記第1開口部の上面は、四角形状であり、
    前記第2フレームの前記第2開口部の上面は、四角形状である、請求項1に記載の発光素子パッケージ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7335574B2 (ja) 2017-07-11 2023-08-30 スージョウ レキン セミコンダクター カンパニー リミテッド 発光素子パッケージ

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10672954B2 (en) * 2017-09-01 2020-06-02 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device package
WO2019045506A1 (ko) * 2017-09-01 2019-03-07 엘지이노텍 주식회사 발광소자 패키지 및 광원 장치
KR102455086B1 (ko) * 2017-09-12 2022-10-17 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광소자 패키지 및 광원장치
KR102392013B1 (ko) 2017-09-15 2022-04-28 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 발광소자 패키지
WO2020003789A1 (ja) * 2018-06-29 2020-01-02 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法および発光装置
DE102018125138A1 (de) * 2018-10-11 2020-04-16 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungsemittierendes bauteil und verfahren zur herstellung eines strahlungsemittierenden bauteils
CN111384228A (zh) 2018-12-28 2020-07-07 日亚化学工业株式会社 发光装置以及发光装置的制造方法
JP7368965B2 (ja) * 2019-07-10 2023-10-25 株式会社ジャパンディスプレイ Ledモジュール及びledモジュールを含む表示装置
CN110707198A (zh) 2019-09-20 2020-01-17 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 阵列基板及其制备方法
JP7389363B2 (ja) * 2021-05-26 2023-11-30 日亜化学工業株式会社 発光装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120181555A1 (en) 2011-01-17 2012-07-19 Yoo Cheol-Jun Light-emitting device package and method of manufacturing the same
JP2014197674A (ja) 2013-03-05 2014-10-16 日亜化学工業株式会社 リードフレーム及び半導体装置
JP2015012206A (ja) 2013-07-01 2015-01-19 日亜化学工業株式会社 発光装置
US20150228873A1 (en) 2012-09-05 2015-08-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Housing for an Optical Component, Assembly, Method for Producing a Housing and Method for Producing an Assembly
JP2015226056A (ja) 2014-05-28 2015-12-14 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 発光素子
US20170162755A1 (en) 2015-12-02 2017-06-08 KAISTAR Lighting (Xiamen) Co., Ltd Package substrate and led flip chip package structure
CN106856218A (zh) 2016-12-20 2017-06-16 创维液晶器件(深圳)有限公司 一种免封装led结构及其制作方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101265642B1 (ko) * 2007-07-23 2013-05-22 엘지전자 주식회사 발광 소자 패키지 및 그 제조방법
TW201011936A (en) * 2008-09-05 2010-03-16 Advanced Optoelectronic Tech Light emitting device and fabrication thereof
JP2011044593A (ja) * 2009-08-21 2011-03-03 Hitachi Chem Co Ltd Led基板及びledパッケージ
KR101056903B1 (ko) * 2009-12-17 2011-08-12 주식회사 두산 발광소자 패키지용 기판 및 이를 이용한 발광소자 패키지
KR20110111173A (ko) * 2010-04-02 2011-10-10 김경동 Led 조명용 리드 프레임 및 그 제조방법
KR101020963B1 (ko) 2010-04-23 2011-03-09 엘지이노텍 주식회사 발광 소자, 발광 소자 제조방법 및 발광 소자 패키지
KR20120084553A (ko) * 2011-01-20 2012-07-30 삼성엘이디 주식회사 발광소자의 패키지 및 그 제조방법과 리드 프레임
KR101873585B1 (ko) * 2011-08-10 2018-07-02 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 패키지 및 이를 구비한 조명 시스템
KR101443870B1 (ko) 2014-03-05 2014-09-23 주식회사 루멘스 발광 소자 패키지, 백라이트 유닛, 조명 장치 및 발광 소자 패키지의 제조 방법
KR20160003429A (ko) * 2014-07-01 2016-01-11 현대자동차주식회사 발광 소자 패키지, 발광 소자 패키지 모듈, 백라이트 유닛, 조명 장치 및 발광 소자 패키지의 제조 방법

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120181555A1 (en) 2011-01-17 2012-07-19 Yoo Cheol-Jun Light-emitting device package and method of manufacturing the same
US20150228873A1 (en) 2012-09-05 2015-08-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Housing for an Optical Component, Assembly, Method for Producing a Housing and Method for Producing an Assembly
JP2014197674A (ja) 2013-03-05 2014-10-16 日亜化学工業株式会社 リードフレーム及び半導体装置
JP2015012206A (ja) 2013-07-01 2015-01-19 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP2015226056A (ja) 2014-05-28 2015-12-14 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 発光素子
US20170162755A1 (en) 2015-12-02 2017-06-08 KAISTAR Lighting (Xiamen) Co., Ltd Package substrate and led flip chip package structure
CN106856218A (zh) 2016-12-20 2017-06-16 创维液晶器件(深圳)有限公司 一种免封装led结构及其制作方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7335574B2 (ja) 2017-07-11 2023-08-30 スージョウ レキン セミコンダクター カンパニー リミテッド 発光素子パッケージ

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