JP7127742B2 - イオン化装置及びイオン分析装置 - Google Patents

イオン化装置及びイオン分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7127742B2
JP7127742B2 JP2021529568A JP2021529568A JP7127742B2 JP 7127742 B2 JP7127742 B2 JP 7127742B2 JP 2021529568 A JP2021529568 A JP 2021529568A JP 2021529568 A JP2021529568 A JP 2021529568A JP 7127742 B2 JP7127742 B2 JP 7127742B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ionization
main body
section
sample
mounting surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021529568A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2021001887A1 (ja
Inventor
高宏 原田
雄一 藏谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of JPWO2021001887A1 publication Critical patent/JPWO2021001887A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7127742B2 publication Critical patent/JP7127742B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0409Sample holders or containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/161Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
    • H01J49/164Laser desorption/ionisation, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

本発明は、イオン化装置に関する。
質量分析装置において用いられる試料のイオン化法の一つにレーザイオン化(LDI: Laser Desorption/Ionization)法がある。レーザイオン化法は、試料にレーザ光を照射し、該レーザ光のエネルギーによって試料分子を励起してイオン化する方法である。LDI法により試料分子をイオン化するイオン化装置はLDI装置と呼ばれる。
また、レーザイオン化法の1つにマトリックス支援レーザ脱離イオン化(MALDI: Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization)法がある。マトリックス支援レーザ脱離イオン化法では、レーザ光を吸収しやすく、またイオン化しやすい物質(マトリックス物質)を試料に混合(あるいは試料の表面に塗布)し、そこに試料分子を取り込む。試料分子を取り込んだマトリックス物質を微結晶化し、これにレーザ光を照射することによって試料分子をイオン化する。MALDI法により試料分子をイオン化するイオン化装置はMALDI装置と呼ばれる。
LDI装置(MALDI装置を含む。以下同様。)は、レーザ光源及び該レーザ光源から発せられたレーザ光を集光して試料に照射する集光光学系等を含む光照射部、試料が載置される試料ステージ、該試料ステージを移動させる試料ステージ移動機構、試料表面の状態を確認するための観察装置を備えている。LDI装置の中には、大気圧雰囲気で(真空排気することなく)簡便に試料分子をイオン化することができるものがあり、そうしたLDI装置で生成されたイオンは、質量分析装置の本体に設けられたイオン導入口から質量分析装置の本体に導入され、質量分析される(例えば特許文献1)。
米国特許第5965884号明細書
上記質量分析装置における質量分析の測定感度は、試料表面におけるレーザ光の照射位置で発生したイオンがイオン導入口を通過する効率に左右される。試料表面におけるレーザ光の照射位置とイオン導入口の位置のずれが大きくなるほど、質量分析装置本体へのイオン導入効率が低下し、測定感度が下がる。そのため、LDI装置を質量分析装置の本体に取り付ける際には高い位置精度が求められる。質量分析装置の本体に設けられるイオン導入口は、例えば直径1mm程度の大きさであり、LDI装置の取り付けには、数百μm以下という高い位置精度が求められる。
従来、LDI装置の、質量分析装置の本体への取り付けは、作業者がイオン化装置を抱え上げて本体の取り付け面に当接させ、その取り付け位置を調整してボルト等の固定具で固定することにより行われている。しかし、より高性能/多機能なLDI装置を使用する場合、大型なレーザ照射光学系や試料ステージ、観察機構などを搭載する場合があり、LDI装置のサイズや重量が増大するため、高い位置精度で質量分析装置の本体に取り付けることが難しいという問題があった。
ここではLDI法で生成したイオンを質量分析する場合を例に説明したが、これらの方法で生成したイオンを移動度分析する場合にも上記同様の問題があった。
本発明が解決しようとする課題は、イオン分析装置の本体に簡便に、かつ高い位置精度で取り付けることができるイオン化装置を提供することである。
上記課題を解決するために成された本発明は、イオン分析装置の本体に着脱可能に取り付けられるイオン化装置であって、
試料ステージと、該試料ステージ上に載置された試料に光を照射する光照射部とを有するイオン化部と、
基体と、
前記基体に設けられ、一つ以上の軸に関して移動または回転可能に前記イオン化部を保持する可動機構と、
を備える。
本発明に係るイオン化装置は、試料ステージと該試料ステージ上に載置された試料に光を照射する光照射部を有するイオン化部を備えている。また、このイオン化装置は、基体と、該基体に設けられ、一つ以上の軸に関して移動または回転可能にイオン化部を保持する可動機構を備えている。これにより、イオン化部とイオン分析装置の本体を精緻に位置合わせすることができる。従って、本発明に係るイオン化装置は、簡便に、かつ高い位置精度でイオン分析装置に取り付けることができる。
本発明に係るイオン化装置の一実施例におけるイオン化部の構成を説明する図。 本実施例のイオン化装置の内部の構成を説明する図。 本実施例のイオン化装置の内部の構成を説明する別の図。 本実施例のイオン化装置を質量分析装置の本体に取り付ける際の粗調整について説明する図。 本実施例のイオン化装置の取り付け面の構成を説明する図。 本実施例のイオン化装置が取り付けられる質量分析装置の本体の取り付け面の構成を説明する図。 別の実施例のイオン化装置の内部の構成を説明する図。 別の実施例のイオン化装置の内部の構成を説明する別の図。
本発明に係るイオン化装置の一実施例について、以下、図1~図6を参照して説明する。本実施例のイオン化装置1は、マトリックス支援レーザ脱離イオン化(MALDI: Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization)法によりイオンを生成して質量分析するMALDI-MSの一部として、質量分析装置本体2に着脱可能に取り付けられる。MALDI-MSでは、試料ステージ上に載置した試料の表面の複数の測定点のそれぞれにおいてイオンを生成して質量分析する。質量分析装置本体2は、以下に説明する本実施例のイオン化装置1の他にも、エレクトロスプレイイオン化装置や大気圧化学イオン化装置といった他のイオン化装置を取り付けることが可能となるように構成されている。そのため、使用者は分析用途に応じて、単一の質量分析装置本体に対して、MALDIによるイオン化を行うイオン化装置1と他のイオン化装置を交換して使用することができる。以下、質量分析装置本体2に対して、MALDIによるイオン化を行うイオン化装置1を取り付ける実施例を記載する。なお、以降の説明で使用する各図面では、理解を容易にするために、構成要素の一部については全体に対する大きさを実際よりも大きく図示している。
本実施例のイオン化装置1のイオン化部10は、レーザ光源11、反射鏡12、集光レンズ13を含む照射光学系と、試料ステージ14、ステージ移動機構15、及び顕微鏡16を収容した筐体19を備えている。また、筐体19の一側面には開口17が形成されている。これらのうち、レーザ光源11、反射鏡12、ステージ移動機構15、及び顕微鏡16は、筐体19内で位置決めされている。
図1に、イオン化部10の構成を示す。レーザ光源11から発せられた光は反射鏡12で反射された後、集光レンズ13により、レーザ光照射位置(開口17の正面)に位置する試料ステージ14上に載置された試料の表面に集光される。レーザ光の照射によって試料から生成されたイオンは、筐体19の側面に設けられた開口17から筐体19の外部に出射する。なお、筐体19は、その全面が覆われたものである必要はなく、一部又は全部の面が開放されたフレーム状のものであってもよい。但し、後述する突出部18を配置するために、質量分析装置本体2との取り付け側には取り付け面(イオン化部側取り付け面)が設けられていることが好ましい。
試料ステージ14はステージ移動機構15によって互いに直交する3方向に移動可能になっている。ステージ移動機構15は、鉛直方向(z方向)に試料ステージ14を移動させるためのリニアガイド151と、試料ステージ14及びリニアガイド151を水平方向(x方向)に移動させるためのリニアガイド152と、試料ステージ14及びリニアガイド151、152を水平方向(y方向)に移動させるためのリニアガイド153と、それらを移動する駆動源であるステッピングモータ(図示略)を備えている。
また、筐体19内には試料ステージ14上に載置された試料を観察するための顕微鏡16が設けられており、試料ステージ14を観察位置(顕微鏡16の正面)に移動させて顕微鏡16により試料表面を観察することにより、試料表面の測定対象領域を決定する。
イオン化部10の筐体19は、イオン化装置1内に回転及び移動可能に保持されている。図2及び図3に示すように、イオン化装置1は、土台20、鉛直移動機構30、第1水平移動機構40、第2水平移動機構50、第1回転機構60、第2回転機構70、及び第3回転機構80を備えており、これらの各機構によってイオン化部10が各方向に回転及び移動可能に保持されている。即ち、これらの各機構は本発明における可動機構に相当する。また、土台20は本発明における基体に相当する。
イオン化装置1は、開閉可能な上面と、底面と、3つの側面を有する直方体状の筐体内に収容されており、質量分析装置本体2が取り付けられる側の側面は開放されている。図3の左図がイオン化装置1の内部構成を示す図であり、図3の右図は、質量分析装置の本体2の構成の一部を示す図である。なお、質量分析装置の本体2の内部に収容される質量分析部には、従来知られている各種の質量分析装置のうち、測定の目的に応じた適宜のものが用いられる。
土台20の底面にはキャスター21(図2では図示略)が取り付けられている。また、土台20の上面の一辺の周縁部には2枚の板状部材221、222が平行に立設されている。この板状部材221、222の間には、L字状部材23の長辺の1点が固定されている。L字状部材23の長辺の端部には錘24が取り付けられ、長辺と短辺の交点は土台20の上面に位置し、短辺の端部は鉛直移動機構30の板状部材32(後述)の下面に当接している。L字状部材23の固定点(板状部材221、222に固定された点)を支点とし、てこの原理により錘24とイオン化部10及び上記の各機構の重量と釣り合うように構成されている。これによってイオン化部10や各機構の重量に拘らず、イオン化部10の筐体19を円滑に回転及び移動することができるようになっている。
土台20の上面には鉛直方向(z方向)に延びる2本のリニアガイド31と該リニアガイド31に沿って移動する板状部材32を備えた鉛直移動機構30が設けられている。
鉛直移動機構30の板状部材32の上には、水平方向(x方向)に延びる2本のリニアガイド41と該リニアガイド41に沿って移動する板状部材42を備えた第1水平移動機構40が設けられている。
第1水平移動機構40の板状部材42の上には、水平方向(y方向)に延びる2本のリニアガイド51と該リニアガイド51に沿って移動する板状部材52を備えた第2水平移動機構50が設けられている。
第2水平移動機構50の板状部材52の上には、水平面内で回転自在な回転テーブル61が配置されている。また、回転テーブル61の上面の周縁部の、該回転テーブル61の中心を挟んだ2箇所にそれぞれ板状部材71が立設されており、該板状部材71の固定部72に枠状部材81が固定されている。枠状部材81は、筐体19の側周部を取り囲むように配置され、その固定部82に筐体19の側面が固定されている。つまり、回転テーブル61は筐体19をz軸周りに回転させる(Yaw)第1回転機構60、板状部材71及び固定部72は筐体19をx軸周りに回転させる(Pitch)第2回転機構70、枠状部材81及び固定部82は筐体19をy軸周りに回転させる(Roll)第3回転機構80を構成している。
イオン化部10の、開口17が形成された側面と反対側の側面と、イオン化装置1の内壁面の間には、イオン化部10の筐体19を質量分析装置本体2に向かって押す付勢部材(本実施例ではバネ91。図2では図示略)が取り付けられている。
土台20には、該土台20の側面(イオン化部側取り付け面の側の面)の下端から突出する板状部材92が設けられており、土台20の同じ側面の上部には、先端がテーパ状に形成された棒状部材93が取り付けられている。一方、質量分析装置本体2の、イオン化部10が取り付けられる面(本体側取り付け面)の側には、板状部材92が挿入される第1挿入口94と、棒状部材93が挿入される第2挿入口95が設けられている。図4に示すように、第1挿入口94の入口は板状部材92よりも広く形成されており、奥に向かうに従って徐々に狭くなっている。なお、本実施例では土台20に板状部材92及び棒状部材93を設けたが、これらの一方又は両方をイオン化部10のイオン化部側取り付け面に設けてもよい。その場合には、第1挿入口94及び/又は第2挿入口95が、質量分析装置本体2の本体側取り付け面に設けられる。
また、図5に示すように、イオン化部10のイオン化部側取り付け面には、開口17の外側に3つの突出部18が設けられている。一方、図6に示すように、質量分析装置本体2の本体側取り付け面には、円筒状のイオン導入部96と、該イオン導入部96を中心とする円形のV字溝97が設けられている。
次に、本実施例のイオン化装置1を質量分析装置本体2に取り付ける手順を説明する。
はじめに、分析対象試料及び較正用試料を試料ステージ14に載置し、それを筐体19内のステージ移動機構15にセットする。
次に、イオン化装置1を質量分析装置本体2に近接させ、板状部材92を第1挿入口94に差し入れる。第1挿入口94の入口は板状部材92の幅よりも広くなっているため、板状部材92を第1挿入口94に挿入する際に、イオン化装置1と質量分析装置本体2に多少の位置ずれがあっても、板状部材92を第1挿入口94に挿入することが可能である。そのままイオン化装置1を質量分析装置本体2に近接させていくと、第1挿入口94により板状部材92がガイドされ、イオン化装置1と質量分析装置本体2の位置ずれが解消していく。これにより、例えばイオン化装置1と質量分析装置本体2の取り付け位置の位置精度が数mm程度まで小さくなる。
イオン化装置1を、さらに質量分析装置本体2に近接させていくと、棒状部材93が第2挿入口95に挿入される。第2挿入口95は、イオン化装置1と質量分析装置本体2の数mm程度の位置ずれを許容するように(棒状部材93の先端が第2挿入口95に挿入されるように)構成されている。そのままイオン化装置1を質量分析装置本体2に近接させていくと、第2挿入口95により棒状部材93がガイドされ、イオン化装置1と質量分析装置本体2の位置ずれがさらに解消する。これにより、例えばイオン化装置1と質量分析装置本体2の取り付け位置の位置精度が1mm程度まで小さくなる。
イオン化装置1を、さらに質量分析装置本体2に近づけていくと、イオン化部側取り付け面に形成された開口17にイオン導入部96が挿入され、続いて突出部18の先端が、本体側取り付け面に形成されたV字溝97の入口に当接する。
さらにイオン化装置1を質量分析装置本体2に近づけていくと、突出部18がV字溝97に入り込む。これにより、イオン化部10を数百μm以下の高い位置精度で質量分析装置本体2に取り付けることができる。
上記の手順により、質量分析装置本体2にイオン化部10を取り付けた後、試料ステージ14上の較正用試料にレーザ光を照射して生成されるイオンを検出する。その際、集光レンズ13を微動させてイオンの検出強度が最大となるようにレーザ光の照射位置を微調整する。本実施例では、イオン化部10が数百μm以下という高い位置精度で質量分析装置本体2に取り付けられているため、それ以下の範囲でレーザ光の照射位置の微調整を行えばよく、簡単にレーザ光の照射位置を最適な位置に調整することができる。
従来、LDI装置などのイオン化装置を質量分析装置本体に取り付ける際には、使用者がイオン化装置を抱え上げて本体の取り付け面に当接させ、その取り付け位置を調整してボルト等の固定具で固定することにより行われている。しかし、イオン化装置の高性能化や多機能化を図るべく、本実施例のように、試料表面にレーザ光を照射するための照射光学系に加え、試料表面を観察するための顕微鏡も備えた構成のイオン化部10を使用しようとすると、筐体19の一辺が1m近くになり、またその重量が10kgに達する場合がある。使用者がこのように大型で重いイオン化部10の筐体19を抱え上げて質量分析装置本体の取り付け面に当接させ、その取り付け位置を調整してボルト等の固定具で固定するという従来の方法では、イオン化部を高い位置精度で質量分析装置本体に取り付けることが難しい。質量分析装置本体に設けられるイオン導入部の径は、通常、直径1mm程度であり、イオン化装置の取り付け位置が数百μm以上ずれていると、その位置でレーザ光を試料ステージ上の較正用試料に照射してもイオンがまったく検出されず、試行錯誤でレーザ光の照射位置を調整しなければならない。特に、単一の質量分析装置本体を使用して、エレクトロスプレイイオン化装置や大気圧化学イオン化装置といった他のイオン化装置とLDI装置をユーザー自身が交換して使用しようとする場合、従来の方法ではLDI装置を高い位置精度で取り付けることが難しいため、イオン化装置交換後に意図する分析を行うことが困難となる場合があった。
これに対し、本実施例のイオン化装置1では、イオン化部10がイオン化装置の土台20に対して回転及び移動可能に保持されているため、イオン化部10を円滑に移動及び回転することができる。そのため、大型で重量が大きいイオン化装置1を、簡便に、かつ高い位置精度で質量分析装置本体2に取り付けることが可能となる。また、イオン化装置1をキャスター21により移動させて質量分析装置本体2に近接させていくと、板状部材92、棒状部材93、及び突出部18が順番に、第1挿入口94、第2挿入口95、及びV字溝97に挿入されていくため、より簡便かつ容易に、精度よくイオン化部10を質量分析装置本体2に取り付けることができる。さらに、イオン化部10が数百μm以下の精度で質量分析装置本体2に取り付けられるため、試料ステージ14上に載置した較正用試料から生成されるイオンを確実に検出可能であり、そこからレーザ光の照射位置を微調整するのみで、レーザ光の照射位置を最適化することができる。
上記実施例では、理解を容易にするために、直交する3方向に筐体19を移動するための鉛直移動機構30、第1水平移動機構40、及び第2水平移動機構50と、直交する3軸周りにイオン化部10を回転するための第1回転機構60、第2回転機構70、及び第3回転機構80とをそれぞれ備えた構成とした。しかし、y軸周りの回転(Roll)は、イオン化部10の取り付け面(イオン化部側取り付け面)及び質量分析装置本体2の取り付け面(本体側取り付け面)の面内での回転であり、レーザ光が質量分析装置本体2のイオン導入部96の正面の位置に集光されていれば、イオン化部10のy軸周りの方向の回転(Roll)は、イオン化部10から質量分析装置本体2へのイオンの導入効率には影響しない。そのため、この回転機構を省略した構成を採ることができる。
また、上記のとおり、イオン化装置1の板状部材92を第1挿入口94に差し込みさえすれば、イオン化部10が、数mm程度の位置精度で質量分析装置本体2に取り付けられる。従って、イオン化部10の筐体19をそれほど大きく移動及び回転する必要もない。
これらの点を踏まえ、上述した実施例のイオン化装置1の構成を簡素化することができる。そのような構成を有する別の実施例のイオン化装置100について、以下、図7及び図8を参照して説明する。なお、図1により説明したイオン化部10の筐体19内の構成要素や、図5及び図6により説明したイオン化部10のイオン化部側取り付け面及び質量分析装置本体2の本体側取り付け面の構成は上記実施例と同じであるため、図示及び説明を省略する。また、他の構成要素についても、上記実施例と同様のものについては、下二桁又は下三桁が同じ符号を付して、適宜、説明を省略する。
図7及び図8に示すように、このイオン化装置100は、土台120、鉛直移動機構130、水平可動機構146、及び回転機構170を備えており、これらによってイオン化部10の筐体19を移動及び回転可能に保持している。また、上記実施例と同様に、イオン化部10の筐体19の、開口17が形成された側面と反対側の側面と、イオン化装置1の筐体の内壁面の間には、筐体19を押すバネ191(付勢部材。図7では図示略)が取り付けられている。
土台120は、下部土台125と、該下部土台の上面に立設された4本の棒状部材126により固定された上部土台127からなり、下部土台125の側面(イオン化部側取り付け面の側の面)に板状部材192と棒状部材193が設けられている。また、下部土台125の底面にはキャスター121(図7では図示略)が取り付けられている。
上部土台127の上面の周縁部には2枚の板状部材1221、1222が平行に立設されている。この板状部材1221、1222の間には、L字状部材123の長辺の1点が固定されている。L字状部材123の長辺側の端部には錘124が取り付けられ、長辺と短辺の交点は上部土台127の上面に位置し、短辺の端部は鉛直移動機構130の板状部材134(後述)の下面に当接している。
上部土台127の四つの角部には、それぞれリニアブッシュ133が取り付けられている。リニアブッシュ133は、内壁面に複数の硬球が回転自在に配列された円筒部材1331と、該円筒部材に差し込まれるシャフト1332の組み合わせにより構成される直動機構であり、スライドブッシュやボールブッシュとも呼ばれる。各リニアブッシュ133の上端部には板状部材134が固定されている。リニアブッシュ133は、板状部材134及びその上部に配置されているイオン化部10等を鉛直方向に移動する鉛直移動機構130として機能する。
板状部材134の上面の四隅には、凹状の上面を有する受け部143が固定されており、該受け部143内にボール部材(硬球)144が回転自在に収容されている。また、鉛直移動機構130の板状部材134の上方には、別の板状部材145が配置されている。この板状部材145の下面の、ボール部材144の位置の上部にあたる位置には凹部1451が形成されており、凹部1451内でボール部材が回転することにより板状部材145が水平面内に移動可能となっている。受け部143、ボール部材144、及び板状部材145によって水平可動機構146が構成されており、この水平可動機構146は、上記実施例における、第1水平移動機構40、第2水平移動機構50、及び筐体19をz軸周りに回転させる(Yaw)回転機構として機能する。
板状部材145の上面の2箇所には、それぞれ板状部材171が立設されており、該板状部材171の固定部172にイオン化部10の筐体19の側面が固定されている。これは、イオン化部10をx軸周りに回転させる(Pitch)回転機構170として機能する。
上記実施例のイオン化装置1が3つの移動機構(鉛直移動機構30、第1水平移動機構40、及び第2水平移動機構50)と3つの回転機構(第1回転機構60、第2回転機構70、及び第3回転機構80)からなる6つの可動機構を備えた構成であったのに対し、このイオン化装置100は、全体として3つの機構(鉛直移動機構130、水平可動機構146、及び回転機構170)のみを備えた構成であり、可動機構の数は上記実施例の半分である。そのため、上記実施例のイオン化装置よりも小型かつ低コストで製作することができる。
上記2つの実施例はいずれも一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜に変更することができる。
上記実施例では、イオン化装置1のイオン化部10の筐体19の取り付け面(イオン化部側取り付け面)と、質量分析装置本体2の取り付け面(本体側取り付け面)が鉛直方向の面である場合を例に説明したが、必ずしも両取り付け面が鉛直方向である必要はない。また、上記実施例における鉛直や水平といった記載は、必ずしも厳密に鉛直や水平であることに限らず、上記実施例で説明した操作が可能な程度のずれを許容し得る。
上記実施例では、イオン化装置1のイオン化部10を保持する可動機構として、移動機構と回転機構の両方を備えた場合を例に説明したが、必ずしも移動機構と回転機構の両方を備える必要はない。たとえば、回転方向の位置精度が重要でない場合は回転機構を省略してもよいし、移動方向の位置が重要でない場合は移動機構を省略してもよい。
上記実施例ではレーザ光源11、反射鏡12、集光レンズ13を含む照射光学系と、試料ステージ14、ステージ移動機構15、及び顕微鏡16を筐体19の内部に収容したイオン化部10としたが、試料へのレーザ光の照射位置と観察位置が同じであり、試料表面の1点のみを質量分析する(即ちイメージング質量分析を行わない)質量分析装置用のイオン化装置の場合にはステージ移動機構15を備える必要はない。また、顕微鏡16も必須の構成ではない。さらに、イオン化法はレーザイオン化に限定されず、他のイオン化法により試料からイオンを生成するイオン源を収容したイオン化部についても上記同様に構成することができる。
また、上記実施例ではレーザ光源11を筐体19内に収容した構成としたが、レーザ光源を筐体19の外部に配置し、光ファイバで筐体19内にレーザ光を輸送する構成を採ることもできる。ただし、光ファイバを用いると微小径への集光が困難な場合があったり、高エネルギーの光を輸送することが難しい場合があったりする。そのため、特に高分解能のイメージング質量分析等を実施する場合は、上記実施例のようにレーザ光源11を筐体19に収容した構成とすることが好ましい。レーザ光源11を筐体19に収容することにより筐体19は重くなるが、上記実施例のように、その重量に釣り合う錘を取り付けることによりイオン化部10の筐体19を円滑に移動及び回転することができる。
[態様]
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
(第1態様)
本発明の第1態様は、イオン分析装置の本体に着脱可能に取り付けられるイオン化装置であって、
試料ステージと、該試料ステージ上に載置された試料に光を照射する光照射部とを有するイオン化部と、
前記イオン化部を保持する基体と、
前記基体に対する前記イオン化部の相対位置を、一つ以上の軸に対して移動または回転できるように保持する可動機構と
を備える。
本発明の第1態様に係るイオン化装置は、試料ステージと該試料ステージ上に載置された試料に光を照射する光照射部を有するイオン化部を備えている。また、このイオン化装置は、基体と、該基体に設けられ、一つ以上の軸に関して移動または回転可能にイオン化部を保持する可動機構を備えている。これにより、イオン化部とイオン分析装置の本体を精緻に位置合わせすることができる。従って、本発明に係るイオン化装置は、簡便に、かつ高い位置精度でイオン分析装置に取り付けることができる。
(第2態様)
本発明の第2態様に係るイオン化装置は、上記第1態様のイオン化装置において、
前記可動機構が、相互に非平行であって同一面上にない三方向に移動可能に前記イオン化部を保持する移動機構を含む。
上記第2態様のイオン化装置では、可動機構により相互に非平行であって同一面上にない三方向に移動可能にイオン化部を移動させてイオン分析装置に取り付けることができる。
(第3態様)
本発明の第3態様に係るイオン化装置は、上記第1態様又は第2態様のイオン化装置において、
前記可動機構が、相互に非平行な二軸周りに回転可能に前記イオン化部を保持する回転機構を含む。
上記第3態様のイオン化装置では、可動機構により相互に非平行な二軸周りにイオン化部を回転させてイオン分析装置に取り付けることができる。
(第4態様)
本発明の第4態様に係るイオン化装置は、上記第1態様から第3態様のいずれかのイオン化装置において、
前記イオン化部が、更に、前記試料ステージを移動する試料ステージ移動機構を有する。
第4態様のイオン化装置では、試料表面の異なる複数の測定点のそれぞれにおいて試料由来のイオンを分析する、イメージング分析を行うことができる。
(第5態様)
本発明の第5態様に係るイオン化装置は、上記第1態様から第4態様のいずれかのイオン化装置において、
前記イオン化部が、更に、前記試料の表面を観察するように構成された観察装置を有する。
第5態様のイオン化装置では、試料の分析を行う前に、試料の表面を観察して測定対象領域を決定した後、その測定対象領域を正確に分析することができる。
(第6態様)
本発明の第6態様に係るイオン化装置は、上記第1態様から第5態様のいずれかのイオン化装置において、
前記イオン化部が、前記本体に取り付けられるイオン化部側取り付け面を有し、
前記可動機構が、
鉛直方向に前記イオン化部を移動する鉛直移動機構と、
前記イオン化部側取り付け面に平行かつ水平な軸周りに前記イオン化部を回転する回転機構と、
水平方向に前記イオン化部を移動及び回転する水平可動機構と
を有する。
第6態様のイオン化装置では、イオン化部を3方向に移動させ、また2軸周りに回転させるために使用する機構が3つのみであるため、装置を小型化し、また低コストで製作することができる。
(第7態様)
本発明の第7態様は、上記第1態様から第6態様のいずれかのイオン化装置と、該イオン化装置が着脱可能に取り付けられるイオン分析装置の本体と備えたイオン分析装置であって、
前記イオン化部が、前記本体に取り付けられるイオン化部側取り付け面を有し、
前記本体が、前記イオン化部が取り付けられる本体側取り付け面を有し、
前記イオン化部側取り付け面と前記本体側取り付け面のうちの一方に3つ以上の突出部が設けられ、他方に該3つ以上の突出部を収容する溝が形成されている。
第7態様のイオン分析装置では、突出部を溝に挿入することにより、イオン化装置をイオン分析装置の本体に、より高い精度で取り付けることができる。
(第8態様)
本発明の第8態様に係るイオン分析装置は、上記第7態様のイオン分析装置において、
前記イオン化装置における前記イオン化部側取り付け面の側の所定の位置と、前記本体における前記本体側取り付け面の側の所定の位置のうちの一方に、前記突出部よりも大きく突出した第2突出部が設けられ、他方に該第2突出部を挿入する挿入口が形成されている。
前記イオン化部側取り付け面の側の所定の位置は、イオン化部側取り付け面内の位置であってもよく、あるいはイオン化部を保持する基体等の、イオン化部側取り付け面の側の位置であってもよい。また、前記本体側取り付け面の側の所定の位置についても同様に、本体側取り付け面内の位置であってもよく、あるいは本体が有するチャンバや筐体などの、本体側取り付け面の側の位置であってもよい。
第8態様のイオン分析装置では、第2突出部を挿入口に挿入して、イオン化部をイオン分析装置の本体に取り付ける前に、イオン化装置と本体の位置を粗調整することができる。
1、100…イオン化装置
10…イオン化部
11…レーザ光源
12…反射鏡
13…集光レンズ
14…試料ステージ
15…ステージ移動機構
151、152、153…リニアガイド
16…顕微鏡
17…開口
18…突出部
19…筐体
20、120…土台
125…下部土台
126…棒状部材
127…上部土台
21、121…キャスター
221、222、1221、1222…板状部材
23、123…L字状部材
24、124…錘
30、130…鉛直移動機構
31…リニアガイド
32…板状部材
133…リニアブッシュ
1331…円筒部材
1332…シャフト
134…板状部材
40…第1水平移動機構
41…リニアガイド
42…板状部材
50…第2水平移動機構
51…リニアガイド
52…板状部材
146…水平可動機構
143…受け部
144…ボール部材
145…板状部材
1451…凹部
60…第1回転機構
61…回転テーブル
70…第2回転機構
170…回転機構
71、171…板状部材
72、172…固定部
80…第3回転機構
81…枠状部材
82…固定部
91、191…バネ
92、192…板状部材
93,193…棒状部材
2…質量分析装置本体
94、194…第1挿入口
95、195…第2挿入口
96…イオン導入部
97…V字溝

Claims (8)

  1. イオン分析装置の本体に着脱可能に取り付けられるイオン化装置であって、
    試料ステージと、該試料ステージ上に載置された試料に光を照射する光照射部とを有するイオン化部と、
    前記イオン化部を保持する基体と、
    前記基体に設けられ、一つ以上の軸に関して移動または回転可能に前記イオン化部を保持する可動機構と
    を備えるイオン化装置。
  2. 前記可動機構が、相互に非平行であって同一面上にない三方向に移動可能に前記イオン化部を保持する移動機構を含む、請求項1に記載のイオン化装置。
  3. 前記可動機構が、相互に非平行な二軸周りに回転可能に前記イオン化部を保持する回転機構を含む、請求項1に記載のイオン化装置。
  4. 前記イオン化部が、更に、前記試料ステージを移動する試料ステージ移動機構を有する、請求項1に記載のイオン化装置。
  5. 前記イオン化部が、更に、前記試料の表面を観察するように構成された観察装置を有する、請求項1に記載のイオン化装置。
  6. 前記イオン化部が、前記本体に取り付けられるイオン化部側取り付け面を有し、
    前記可動機構が、
    鉛直方向に前記イオン化部を移動する鉛直移動機構と、
    前記イオン化部側取り付け面に平行かつ水平な軸周りに前記イオン化部を回転する回転機構と、
    水平方向に前記イオン化部を移動及び回転する水平可動機構と
    を有する、請求項1に記載のイオン化装置。
  7. 請求項1に記載のイオン化装置と、該イオン化装置が着脱可能に取り付けられるイオン分析装置の本体と備えたイオン分析装置であって、
    前記イオン化部が、前記本体に取り付けられるイオン化部側取り付け面を有し、
    前記本体が、前記イオン化部が取り付けられる本体側取り付け面を有し、
    前記イオン化部側取り付け面と前記本体側取り付け面のうちの一方に3つ以上の突出部が設けられ、他方に該3つ以上の突出部を収容する溝が形成されている、イオン分析装置。
  8. 前記イオン化装置における前記イオン化部側取り付け面の側の所定の位置と、前記本体における前記本体側取り付け面の側の所定の位置のうちの一方に、前記突出部よりも大きく突出した第2突出部が設けられ、他方に該第2突出部を挿入する挿入口が形成されている、請求項7に記載のイオン分析装置。
JP2021529568A 2019-07-01 2019-07-01 イオン化装置及びイオン分析装置 Active JP7127742B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2019/026104 WO2021001887A1 (ja) 2019-07-01 2019-07-01 イオン化装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2021001887A1 JPWO2021001887A1 (ja) 2021-01-07
JP7127742B2 true JP7127742B2 (ja) 2022-08-30

Family

ID=74100549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021529568A Active JP7127742B2 (ja) 2019-07-01 2019-07-01 イオン化装置及びイオン分析装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US12009196B2 (ja)
JP (1) JP7127742B2 (ja)
CN (1) CN113874980B (ja)
WO (1) WO2021001887A1 (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000340168A (ja) 1999-05-28 2000-12-08 Hitachi Ltd プラズマイオン源質量分析装置及びイオン源位置調整方法
US9171708B1 (en) 2015-01-27 2015-10-27 Science And Engineering Services, Llc Ambient pressure ionization source using a laser with high spatial resolution

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3327023B2 (ja) * 1995-01-20 2002-09-24 株式会社日立製作所 試料分析装置および方法
JPH0935681A (ja) * 1995-07-14 1997-02-07 Yokogawa Analytical Syst Kk 高周波誘導結合プラズマ質量分析計
US5965884A (en) 1998-06-04 1999-10-12 The Regents Of The University Of California Atmospheric pressure matrix assisted laser desorption
JP2012003898A (ja) * 2010-06-15 2012-01-05 Kawasaki Heavy Ind Ltd 二次元イメージング装置および方法
JP5632316B2 (ja) * 2011-03-18 2014-11-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置及びそれに用いられるイオン源
JP5802566B2 (ja) * 2012-01-23 2015-10-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
JP3205635U (ja) * 2016-05-25 2016-08-04 株式会社島津製作所 サンプルプレート移動機構及びそれを備えたレーザ脱離イオン化質量分析装置
CN206774499U (zh) * 2017-04-28 2017-12-19 萨默费尼根有限公司 用于大气压离子化设备的深度引导装置及大气压离子化设备

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000340168A (ja) 1999-05-28 2000-12-08 Hitachi Ltd プラズマイオン源質量分析装置及びイオン源位置調整方法
US9171708B1 (en) 2015-01-27 2015-10-27 Science And Engineering Services, Llc Ambient pressure ionization source using a laser with high spatial resolution

Also Published As

Publication number Publication date
CN113874980B (zh) 2024-05-07
US20220310376A1 (en) 2022-09-29
CN113874980A (zh) 2021-12-31
JPWO2021001887A1 (ja) 2021-01-07
WO2021001887A1 (ja) 2021-01-07
US12009196B2 (en) 2024-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Spivey et al. Combining MALDI‐2 and transmission geometry laser optics to achieve high sensitivity for ultra‐high spatial resolution surface analysis
US7564028B2 (en) Vacuum housing system for MALDI-TOF mass spectrometry
US7180058B1 (en) LDI/MALDI source for enhanced spatial resolution
US10665444B2 (en) Sample handling systems, mass spectrometers and related methods
WO2007020862A1 (ja) 質量分析装置
JP7127742B2 (ja) イオン化装置及びイオン分析装置
US6963066B2 (en) Rod assembly in ion source
JP2007518105A (ja) 質量分光分析に用いる基板アダプタ
JP5032076B2 (ja) 質量分析装置
CN109923408B (zh) 离子分析装置
Scott et al. Highly reproducible laser beam scanning device for an internal source laser desorption microprobe Fourier transform mass spectrometer
JP2015502645A (ja) 質量分析法における、又は質量分析法に関連する改良
JP6724601B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
US20240021426A1 (en) Removable Ion Source Capable Of Axial Or Cross Beam Ionization
WO2021229772A1 (ja) 質量分析方法及び質量分析装置
WO2019138736A1 (ja) 質量分析装置及びレーザ光モニタ方法
US11605533B2 (en) Methods for aligning a light source of an instrument, and related instruments
EP4248485A2 (en) Removable ion source capable of axial or cross beam ionization
CN112243495A (zh) 基于MeV的离子射束分析设备
JP2001056308A (ja) セクタ型二次イオン質量分析方法及び試料ホルダ
JP2001004566A (ja) 表面分析装置
JPH09113696A (ja) 粒子誘起x線分析装置用イオンビームコリメータ
JPS60165034A (ja) 衝突活性化による開裂イオン分析装置
JP2011003484A (ja) 集束イオンビームを用いる微細部位解析装置および微細部位解析方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210922

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210922

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220719

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220801

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7127742

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151