JP2007518105A - 質量分光分析に用いる基板アダプタ - Google Patents
質量分光分析に用いる基板アダプタ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007518105A JP2007518105A JP2006549431A JP2006549431A JP2007518105A JP 2007518105 A JP2007518105 A JP 2007518105A JP 2006549431 A JP2006549431 A JP 2006549431A JP 2006549431 A JP2006549431 A JP 2006549431A JP 2007518105 A JP2007518105 A JP 2007518105A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- receiving
- edge
- finger
- receiving plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0409—Sample holders or containers
- H01J49/0418—Sample holders or containers for laser desorption, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI] plates or surface enhanced laser desorption/ionisation [SELDI] plates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/62—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode
- G01N27/64—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating the ionisation of gases, e.g. aerosols; by investigating electric discharges, e.g. emission of cathode using wave or particle radiation to ionise a gas, e.g. in an ionisation chamber
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/161—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission using photoionisation, e.g. by laser
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
- B01L9/00—Supporting devices; Holding devices
- B01L9/52—Supports specially adapted for flat sample carriers, e.g. for plates, slides, chips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
- G01N2035/1027—General features of the devices
- G01N2035/1034—Transferring microquantities of liquid
- G01N2035/1046—Levitated, suspended drops
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Description
当業者であれば、通常の実験だけで、本明細書に記載される、特定の手順、実施形態、特許請求の範囲、および例に対する多くの均等物を認識し、または確認できるであろう。このような均等物も、本発明の範囲内にあり、本発明の特許請求の範囲に包含されるものとする。本出願全体を通して引用されたすべての参照資料、交付済の特許、および公表特許出願の内容は、参照により本明細書に組み込まれる。本発明の装置の利点は、以下の例により説明される。
Claims (50)
- 1つ以上の基板を保持する装置であって、前記各基板が、光エネルギー源でサンプルをイオン化する位置に1つ以上のサンプルを有し、前記各基板が、1つ以上のサンプルを収容する前面と背面とを有し、前記背面が、前記背面に沿って長さおよび幅を画定する1つ以上の背面縁部を有し、前記前面が、前記前面に沿って長さおよび幅を画定する1つ以上の前面縁部を有し、前記各基板が、厚みを有し、前記装置が、
収容板を備え、前記受容板が、背面、厚み、外形輪郭を画定する少なくとも1つの縁部、および少なくとも1つの収容表面とを有し、前記各収容表面が、基板の前記背面を収容し、前記各収容表面が、前記基板の少なくとも1つの縁部を収容するために、前記各収容表面から突き出る1つ以上の収容リップを有し、前記装置がさらに、
少なくとも1つの基板クリップを備え、各前記基板クリップが、少なくとも1つの前面フィンガと少なくとも1つの背面フィンガとを有し、前記前面フィンガが、幅、および前記基板および前記収容板の前記厚みを超えて延在する長さを有し、前記背面フィンガが、前記収容板の前記背面上に1つの位置を取るように前面フィンガから延在し、
前記収容板が、前記1つ以上の基板を収容し、前記各基板が、前記複数の収容表面の1つ上にあり、前記光エネルギー源によってサンプルをイオン化する位置に前記基板を位置合わせするために前記1つ以上の収容リップに当接し、前記各基板が、少なくとも1つの基板クリップにより、前記基板の前記前面縁部で係合され、前記少なくとも1つの基板クリップが、さらに前記基板を前記位置に保持するために前記収容板の前記背面を係合する、装置。 - 前記各収容表面が、前記収容板の前記少なくとも1つの縁部の一部で形成される少なくとも1つの縁部を有する、請求項1に記載の装置。
- 前記装置が、1つの前記基板を収容するために1つの前記収容表面を有する、請求項2に記載の装置。
- 前記収容板が導電性である、請求項1に記載の装置。
- 前記収容板が金属である、請求項4に記載の装置。
- 前記基板が半導体である、請求項1に記載の装置。
- 前記基板がシリコンまたはゲルマニウムである、請求項6に記載の装置。
- 前記基板と前記収容板との間が電気接続されている、請求項4に記載の装置。
- 前記収容板が、マトリックス支援レーザ脱離イオン化質量分析計で使用する1つ以上の金属板の空間内で協働するように構成および配置されている、請求項1に記載の装置。
- 前記基板が、シリコン上の脱離/イオン化チップである、請求項9に記載の装置。
- 前記シリコン上の脱離/イオン化チップが、前記マトリックス支援レーザ脱離イオン化質量分析計のターゲットのパターンに配置された多孔質半導体領域を有する、請求項10に記載の装置。
- 前記収容板が、前記外形輪郭に少なくとも1つのインデントを有し、該インデントが、前記基板クリップが前記インデントを横切る前記外形輪郭の投影内に留まる一方、前記前面フィンガが前記基板の前記前面に接触できる領域を提供する、請求項1に記載の装置。
- 前記基板クリップが、前面フィンガと前記1つ以上の収容リップとの間の前記基板に圧縮力を加えることにより前記基板を保持している、請求項1に記載の装置。
- 少なくとも1つの収容リップが、基板接触表面を有し、前記基板接触表面が、平坦であり、前記基板接触表面が、前記収容表面に対してある角度を形成している、請求項1に記載の装置。
- 前記角度は90°以下である、請求項14に記載の装置。
- 前記角度は75°から85°である、請求項15に記載の装置。
- 前記収容リップが、前記収容表面の上方に、前記基板の前記厚みの約2倍の距離で延在する、請求項1に記載の装置。
- 前記収容板が、前記背面に少なくとも1つのくぼみを有し、前記少なくとも1つのくぼみが、幅、ベース表面、および少なくとも1つの側壁を有し、前記少なくとも1つのくぼみが、前記少なくとも1つの基板クリップの前記背面フィンガを収容するためのものである、請求項1に記載の装置。
- 前記少なくとも1つの側壁が、側壁平面を画定し、前記ベース表面が、ベース平面を画定し、ベース平面および側壁平面が、ある角度を画定している、請求項18に記載の装置。
- 前記角度が40°から50°である、請求項19に記載の装置。
- 前記少なくとも1つのくぼみが、前記背面フィンガとスライド可能に係合している、請求項18に記載の装置。
- 前記少なくとも1つのくぼみが、前記収容板の前記少なくとも1つの縁部と交差している、請求項18に記載の装置。
- 前記収容板が、前記外形輪郭に少なくとも1つのインデントを有し、該インデントが、前記基板クリップが前記インデントを横切る前記外形輪郭の投影内に留まる一方、前記前面フィンガが前記基板の前記前面に接触できる領域を提供し、前記インデントが、前記くぼみに中心合わせされ、前記くぼみの前記幅以上の幅を有する、請求項22に記載の装置。
- 前記基板クリップが、弾性材料で形成されている、請求項13に記載の装置。
- 前記基板クリップが、金属材料で形成され、前記基板クリップと前記基板との間が電気接続されている、請求項24に記載の装置。
- 前記基板クリップの前記背面フィンガが、第1の面、第2の面、少なくとも1つの縁部、幅、および前記基板クリップを前記くぼみ内に保持する張力手段を有する、平面部材を備えている、請求項18に記載の装置。
- 前記背面フィンガが、前記くぼみに収容されて、前記第1の面が、前記くぼみの前記ベース表面に接して配置されると、前記第2の面が、前記収容板の前記背面の下に引き込まれる、請求項26に記載の装置。
- 背面フィンガが、前記少なくとも1つの側壁に係合するための少なくとも1つのばね要素を有する、請求項26に記載の装置。
- 前記ばね要素が、前記背面フィンガの前記縁部から突き出ている、請求項28に記載の装置。
- 前記背面フィンガが、前記側壁に係合するための2つのばね要素を有する、請求項29に記載の装置。
- 前記前面フィンガが、第1の面、第2の面、および先端を有する平面ブレードを備え、前記第1の面が、背面フィンガとある角度を形成している、請求項24に記載の装置。
- 前記角度が75°から85°である、請求項31に記載の装置。
- 前記クリップが前記基板の前記前縁部に係合すると、前記前面フィンガの前記第1の面が、前記基板を前記収容表面に押し付ける、請求項31に記載の装置。
- 前記前面フィンガが、前記基板の前記前面に係合するために、前記先端で厚くされる、請求項31に記載の装置。
- 前記収容板が、4つの縁部を備える矩形形状を有し、第1の縁部が、第3の縁部とは反対側にあり、第2の縁部が、第4の縁部とは反対側にあり、前記第2および第4の縁部が、前記第1および第3の縁部に対して直角である、請求項9に記載の装置。
- 前記1つ以上の収容リップが、
前記収容表面の前記第1の縁部に沿って配置された少なくとも1つの第1の収容リップと、
前記収容表面の前記第2の縁部に沿って配置された少なくとも1つの第2の収容リップとを備える、請求項35に記載の装置。 - 前記第1の収容リップが、基板接触表面を有し、前記基板接触表面が、平坦であり、前記基板接触表面が、前記収容表面に対してある角度を形成している、請求項36に記載の装置。
- 前記角度が90°以下である、請求項37に記載の装置。
- 前記角度が75°から85°である、請求項33に記載の装置。
- 前記収容板が、前記第3の縁部および前記第4の縁部から選択される縁部に少なくとも1つのインデントを有し、該インデントが、前記基板クリップが前記インデントを横切る前記縁部の投影内に留まる一方、前記前面フィンガが前記基板の前記前面に接触できる領域を提供する、請求項35に記載の装置。
- 1つ以上のサンプルを有する基板を、前記サンプルを光エネルギー源でイオン化する位置に保持する方法であって、前記基板が、1つ以上のサンプルを収容する前面と背面とを有し、前記背面が、前記背面に沿って長さおよび幅を画定する1つ以上の背面縁部を有し、前記前面が、前記前面に沿って長さおよび幅を画定する1つ以上の前面縁部を有し、前記基板が、厚みを有し、前記方法が、
収容板を提供することを含み、前記収容板が、背面、厚み、外形輪郭を画定する少なくとも1つの縁部、および少なくとも1つの収容表面とを有し、前記各収容表面が、基板の前記背面を収容するためのものであり、前記各収容表面が、前記各収容表面から突き出る、前記基板の少なくとも1つの縁部を収容するために、前記収容表面から突き出る1つ以上の収容リップを有し、前記方法がさらに、
少なくとも1つの基板クリップを提供することを含み、各基板クリップが、少なくとも1つの前面フィンガと少なくとも1つの背面フィンガとを有し、前記前面フィンガが、幅、および前記基板および前記収容板の厚みを超えて延在する長さを有し、前記背面フィンガが、前記収容板の前記背面上に1つの位置を取るように前面フィンガから延在し、前記方法がさらに、
前記基板を前記収容表面の1つの上に配置することを含み、少なくとも1つの前面縁部が、光エネルギー源によってサンプルをイオン化する位置に前記基板を位置合わせするために、1つ以上の収容リップに当接し、
前記少なくとも1つの基板クリップにより、前記基板を前記位置に保持するために前記基板の前記前面の縁部と前記収容板の前記背面とを係合することを含む、方法。 - 前記収容板が、マトリックス支援レーザ脱離イオン化質量分析計で使用する1つ以上の金属板の空間内で協働するように構成および配置され、前記方法がさらに、前記マトリックス支援レーザ脱離イオン化質量分析計で使用する1つ以上の金属板の空間内に、前記装置を配置することを含む、請求項41に記載の方法。
- 前記収容板が導電性である、請求項41に記載の方法。
- 前記基板が半導体である、請求項41に記載の方法。
- 前記収容板が、前記外形輪郭に少なくとも1つのインデントを有し、該インデントが、前記基板クリップが前記インデントを横切る前記外形輪郭の投影内に留まる一方、前記前面フィンガが前記基板の前記前面に接触できる領域を提供する、請求項41に記載の方法。
- 前記収容板の前記背面が、前記基板クリップの前記背面フィンガを収容するための少なくとも1つのくぼみを有し、前記方法がさらに、前記少なくとも1つのくぼみで前記背面フィンガがスライド可能に係合することを含む、請求項41に記載の方法。
- 前記基板クリップが、金属材料で形成され、前記基板クリップと前記基板との間が電気接続される、請求項41に記載の方法。
- 前記基板クリップの前記背面フィンガが、第1の面、第2の面、少なくとも1つの縁部、幅、および前記基板クリップを前記くぼみ内に保持する張力手段を有する、平面部材を備える、請求項47に記載の方法。
- 前記背面フィンガを前記くぼみに収容して、前記第1の面が、前記くぼみの前記ベース表面に接触するように配置することをさらに含み、これにより、前記第2の面が、前記収容板の前記背面の下に引き込まれる、請求項48に記載の方法。
- 1つ以上の基板を保持する方法であって、前記各基板が、光エネルギー源でサンプルをイオン化する位置に1つ以上のサンプルを有し、前記各基板が、1つ以上のサンプルを収容する前面と背面とを有し、前記背面が、前記背面に沿って長さおよび幅を画定する1つ以上の背面縁部を有し、前記前面が、前記前面に沿って長さおよび幅を画定する1つ以上の前面縁部を有し、前記基板が、厚みを有し、前記方法が、
収容板を提供することを含み、前記収容板が、背面、厚み、外形輪郭を画定する少なくとも1つの縁部、および少なくとも1つの収容表面とを有し、前記各収容表面が、基板の前記背面を収容するためのものであり、前記各収容表面が、前記基板の少なくとも1つの縁部を収容するために前記各収容表面から突き出る1つ以上の収容リップを有し、前記方法がさらに、
少なくとも1つの基板クリップを提供することを含み、各基板クリップが、少なくとも1つの前面フィンガと少なくとも1つの背面フィンガとを有し、前記前面フィンガが、幅、および前記基板および前記収容板の厚みを超えて延在する長さを有し、前記背面フィンガが、前記収容板の前記背面上に1つの位置を取るように前記前面フィンガから延在し、前記方法がさらに、
前記各基板を前記収容表面の1つの上に配置することを含み、少なくとも1つの前面縁部が、光エネルギー源によってサンプルをイオン化する位置に前記基板を位置合わせするために、1つ以上の収容リップに当接することを含み、前記方法がさらに、
前記少なくとも1つの基板クリップにより、前記基板を前記位置に保持するために前記各基板の前記前面の縁部と前記収容板の前記背面とを係合することを含む、方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US53604304P | 2004-01-13 | 2004-01-13 | |
PCT/US2005/000492 WO2005070089A2 (en) | 2004-01-13 | 2005-01-07 | Substrate adapter for use in mass spectroscopy analysis |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007518105A true JP2007518105A (ja) | 2007-07-05 |
JP2007518105A5 JP2007518105A5 (ja) | 2008-02-14 |
Family
ID=34806982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006549431A Pending JP2007518105A (ja) | 2004-01-13 | 2005-01-07 | 質量分光分析に用いる基板アダプタ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7238937B2 (ja) |
JP (1) | JP2007518105A (ja) |
DE (1) | DE112005000150B4 (ja) |
GB (1) | GB2427916B (ja) |
WO (1) | WO2005070089A2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8084734B2 (en) * | 2006-05-26 | 2011-12-27 | The George Washington University | Laser desorption ionization and peptide sequencing on laser induced silicon microcolumn arrays |
CZ304648B6 (cs) * | 2007-12-03 | 2014-08-20 | Masarykova Univerzita | Způsob přípravy vzorků pro atomové spektrometrické techniky |
US8110796B2 (en) | 2009-01-17 | 2012-02-07 | The George Washington University | Nanophotonic production, modulation and switching of ions by silicon microcolumn arrays |
US9490113B2 (en) | 2009-04-07 | 2016-11-08 | The George Washington University | Tailored nanopost arrays (NAPA) for laser desorption ionization in mass spectrometry |
CZ302899B6 (cs) * | 2010-04-19 | 2012-01-11 | Masarykova Univerzita | Zpusob tvorby aerosolu vzorku pro atomové spektrometrické techniky |
JP7278894B2 (ja) * | 2019-07-05 | 2023-05-22 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料支持体、アダプタ、イオン化法及び質量分析方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0361231U (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-17 | ||
JP2001183317A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Nec Corp | 2次イオン質量分析装置用試料ホルダ及びその位置調整方法 |
JP2003510776A (ja) * | 1999-09-27 | 2003-03-18 | ルドウイッヒ インスティテュート フォア キャンサー リサーチ | 液体maldimsで使用される改良イオン源ターゲット |
JP2003248001A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Inst Of Physical & Chemical Res | リガンドとの分子間相互作用を有するタンパク質のスクリーニング方法 |
JP2003247983A (ja) * | 2002-02-25 | 2003-09-05 | Nippon Laser & Electronics Lab | 標的物質質量分析システム |
WO2003087410A1 (en) * | 2002-04-11 | 2003-10-23 | Sequenom, Inc. | Methods and devices for performing chemical reactions on a solid support |
JP2003534634A (ja) * | 2000-05-23 | 2003-11-18 | エピゲノミクス アーゲー | 質量分析計の試料支持台 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5882496A (en) * | 1997-02-27 | 1999-03-16 | The Regents Of The University Of California | Porous silicon structures with high surface area/specific pore size |
US6527866B1 (en) * | 2000-02-09 | 2003-03-04 | Conductus, Inc. | Apparatus and method for deposition of thin films |
CN1253238C (zh) * | 2001-01-26 | 2006-04-26 | 阿德维昂生物科学公司 | 用于微射流芯片的自动电喷射的机器人自动取样机 |
SE0302074D0 (sv) * | 2003-07-15 | 2003-07-15 | Simon Ekstroem | Device and method for analysis of samples using a combined sample treatment and sample carrier device |
-
2005
- 2005-01-07 GB GB0615265A patent/GB2427916B/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-01-07 DE DE112005000150.4T patent/DE112005000150B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2005-01-07 WO PCT/US2005/000492 patent/WO2005070089A2/en active Application Filing
- 2005-01-07 JP JP2006549431A patent/JP2007518105A/ja active Pending
-
2006
- 2006-06-19 US US11/471,168 patent/US7238937B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0361231U (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-17 | ||
JP2003510776A (ja) * | 1999-09-27 | 2003-03-18 | ルドウイッヒ インスティテュート フォア キャンサー リサーチ | 液体maldimsで使用される改良イオン源ターゲット |
JP2001183317A (ja) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Nec Corp | 2次イオン質量分析装置用試料ホルダ及びその位置調整方法 |
JP2003534634A (ja) * | 2000-05-23 | 2003-11-18 | エピゲノミクス アーゲー | 質量分析計の試料支持台 |
JP2003248001A (ja) * | 2002-02-22 | 2003-09-05 | Inst Of Physical & Chemical Res | リガンドとの分子間相互作用を有するタンパク質のスクリーニング方法 |
JP2003247983A (ja) * | 2002-02-25 | 2003-09-05 | Nippon Laser & Electronics Lab | 標的物質質量分析システム |
WO2003087410A1 (en) * | 2002-04-11 | 2003-10-23 | Sequenom, Inc. | Methods and devices for performing chemical reactions on a solid support |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE112005000150T5 (de) | 2006-12-14 |
WO2005070089A2 (en) | 2005-08-04 |
GB2427916A (en) | 2007-01-10 |
GB0615265D0 (en) | 2006-09-06 |
GB2427916B (en) | 2008-08-06 |
WO2005070089A3 (en) | 2006-03-02 |
US7238937B2 (en) | 2007-07-03 |
US20070023682A1 (en) | 2007-02-01 |
DE112005000150B4 (de) | 2015-03-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1741120B1 (en) | Method and system for desorption electrospray ionization | |
US7193206B2 (en) | Ambient pressure matrix-assisted laser desorption ionization (MALDI) apparatus and method of analysis | |
US20080128608A1 (en) | Nanostructure-initiator mass spectrometry | |
US6617575B1 (en) | Modified ion source targets for use in liquid maldi MS | |
US6342393B1 (en) | Methods and apparatus for external accumulation and photodissociation of ions prior to mass spectrometric analysis | |
US7109478B2 (en) | Method and apparatus for automating an atmospheric pressure ionization (API) source for mass spectrometry | |
US20030138823A1 (en) | Sample preparation methods for maldi mass spectrometry | |
US6822230B2 (en) | Matrix-assisted laser desorption/ionization sample holders and methods of using the same | |
JP2007514956A (ja) | 格子を備えるmaldiプレート構築物 | |
JP2007518105A (ja) | 質量分光分析に用いる基板アダプタ | |
US6787764B2 (en) | Method and apparatus for automating a matrix-assisted laser desorption/ionization (MALDI) mass spectrometer | |
Gross et al. | Protein and peptide mass spectrometry in drug discovery | |
Zhang et al. | Surface desorption dielectric-barrier discharge ionization mass spectrometry | |
JP2001013110A (ja) | 微細で均一な結晶を形成するためのカーボン製支持板及びその応用 | |
JP2007518105A5 (ja) | ||
US8110795B2 (en) | Laser system for MALDI mass spectrometry | |
Gross et al. | Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization | |
GB2468394A (en) | Pulsed laser system for MALDI mass spectrometry | |
JP3107464U (ja) | Maldi−tofms用スライドホルダ | |
Credo et al. | Development of a porous silicon product for small molecule mass spectrometry | |
WO2009061313A1 (en) | Nanostructure-initiator mass spectrometry |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071220 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071220 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20090721 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101116 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110426 |