JP7127720B2 - 積層セラミック電子部品の製造方法 - Google Patents

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本発明は、積層セラミック電子部品の製造方法に関する。
積層セラミック電子部品の一例として、積層セラミックコンデンサが挙げられる。積層セラミックコンデンサを製造するためには、例えば、内部電極が形成されたセラミックグリーンシートを積層し、得られた未焼成の部品本体を焼成した後、焼結した部品本体の相対向する端面に外部電極を形成する。これによって、両側の端面に引き出された内部電極が外部電極と電気的に接続された積層セラミックコンデンサが得られる。
近年、電子部品の小型化及び高機能化に伴い、積層セラミックコンデンサには、小型化及び高容量化が求められている。積層セラミックコンデンサの小型化及び高容量化を実現するためには、セラミックグリーンシート上を占有する内部電極の有効面積、つまり、互いに対向する内部電極の面積を大きくすることが有効である。
例えば、特許文献1には、積層された複数のセラミックグリーンシートと、上記セラミックグリーンシート間の複数の界面に沿ってそれぞれ配置された内部電極パターンとを含む、マザーブロックを作製する工程と、上記マザーブロックを互いに直交する第1方向の切断線及び第2方向の切断線に沿って切断することによって、未焼成の状態にある複数のセラミック層と複数の内部電極とをもって構成された積層構造を有し、かつ上記第1方向の切断線に沿う切断によって現れた切断側面に上記内部電極が露出した状態にある、複数のグリーンチップを得る切断工程と、上記切断側面にセラミックペーストを塗布して、未焼成のセラミック保護層を形成することによって、未焼成の部品本体を得る塗布工程と、上記未焼成の部品本体を焼成する工程とを備える積層セラミック電子部品の製造方法が開示されている。
特許文献1に記載の積層セラミック電子部品の製造方法では、行及び列方向に配列された複数のグリーンチップの互いの間隔を広げた状態で、複数のグリーンチップを転動させることによって、複数のグリーンチップの各々の切断側面を揃って開放面とする転動工程をさらに行い、上記塗布工程では、上記転動工程の結果、開放面とされた複数のグリーンチップの切断側面にセラミックペーストを同時に塗布することが好ましいとされている。
図23(a)、図23(b)及び図23(c)は、複数のグリーンチップを転動させる転動工程の一例を説明するためにグリーンチップの端面方向から示した図である。
図23(a)に示すように、粘着シート38上に貼り付けられた複数のグリーンチップ19が、粘着シート38とともに支持台60上に置かれ、他方、転動作用板61がグリーンチップ19に対して上から作用し得る状態に置かれる。支持台60及び転動作用板61は、好ましくは、シリコーンゴムから構成される。
支持台60を転動作用板61に対して矢印の方向へ移動させることによって、図23(b)及び図23(c)に示すように、複数のグリーンチップ19が90度回転し、一方の切断側面20を上方へ向けた状態とされる。この状態で転動作用板61を除去すれば、切断側面20が開放面となる。そして、開放面とされたグリーンチップ19の切断側面20に未焼成のセラミック保護層を形成する。
図24(a)、図24(b)、図24(c)、図24(d)及び図24(e)は、未焼成のセラミック保護層が形成された複数のグリーンチップを再び転動させる転動工程を説明するためにグリーンチップの端面方向から示した図である。
図24(a)に示すように、切断側面20に未焼成のセラミック保護層22が形成された複数のグリーンチップ19は、粘着シート38を介して支持台60によって支持され、複数のグリーンチップ19に対して、転動作用板61が上から作用し得る状態に置かれる。
支持台60を転動作用板61に対して矢印の方向へ移動させることによって、図24(b)、図24(c)、図24(d)及び図24(e)に示すように、複数のグリーンチップ19が90度回転することを2回繰り返し、他方の切断側面21を上方へ向けた状態とされる。この状態で転動作用板61を除去すれば、切断側面21が開放面となる。そして、開放面とされたグリーンチップ19の切断側面21に未焼成のセラミック保護層を形成する。以上により、未焼成の部品本体が得られる。
続いて、複数の未焼成の部品本体を粘着シートとともに支持台から外し、未焼成の部品本体から粘着シートを剥離した後、未焼成の部品本体が焼成される。
特開2012-209538号公報
特許文献1に記載されているように、複数のグリーンチップを転動させる転動工程を行うことにより、未焼成のセラミック保護層を効率的に形成することができる。
しかし、積層セラミックコンデンサの小型化、特に薄型化(低背化)が進む中では、薄いグリーンチップを転動させる工程、及び、開放面とされたグリーンチップの切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成する工程が困難になることが判明した。
なお、上記の問題は、積層セラミックコンデンサを製造する場合に限らず、積層セラミックコンデンサ以外の積層セラミック電子部品を製造する場合に共通する問題である。
本発明は上記の問題を解決するためになされたものであり、薄型の積層セラミック電子部品を製造する場合においても、切断側面に内部電極が露出したグリーンチップを転動させる工程、及び、開放面とされたグリーンチップの切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成する工程を容易に行うことができる積層セラミック電子部品の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の積層セラミック電子部品の製造方法は、第1の態様において、積層された複数のセラミックグリーンシートと、上記セラミックグリーンシート間の複数の界面に沿ってそれぞれ配置された内部電極パターンとを含むマザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面にダミー部を形成する工程と、上記ダミー部が形成された上記マザーブロックを互いに直交する第1方向の切断線及び第2方向の切断線に沿って切断することによって、未焼成の状態にある複数のセラミック層と複数の内部電極とをもって構成された積層構造を有し、かつ上記第1方向の切断線に沿う切断によって現れた切断側面に上記内部電極が露出した、複数のダミー部付きグリーンチップを得る工程と、行及び列方向に配列された上記複数のダミー部付きグリーンチップの互いの間隔を広げた状態で、上記複数のダミー部付きグリーンチップを転動させることによって、上記複数のダミー部付きグリーンチップの各々の上記切断側面を揃って開放面とする工程と、上記開放面とされた上記切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成することによって、未焼成の部品本体を得る工程と、上記ダミー部を除去する工程と、を備えることを特徴とする。
特許文献1に記載の方法を用いて薄型の積層セラミック電子部品を製造する場合、マザーブロックを切断して得られるグリーンチップの形状は、端面方向から見て、幅Wに対する厚み(高さ)Tの比率が小さい長方形となる。そのため、端面方向から見たグリーンチップの形状が正方形に近い場合に比べて、転動工程においてグリーンチップを転動させて起き上がらせることが難しくなる。また、このような薄いグリーンチップを起き上がらせることができた場合であっても、起き上がった後のグリーンチップが粘着テープに接着する部分の面積が少ないため、グリーンチップが粘着テープから外れたり、粘着テープに対して傾いたりするといった不具合が生じる。さらに、グリーンチップが粘着テープに接着する部分の面積が少ないと、切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成する際にも上記と同様の不具合が生じる。以上のような理由から、薄型の積層セラミック電子部品を安定的に製造することは困難である。
本発明の第1の態様においては、マザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面にダミー部を形成することによって、ダミー部が形成されたマザーブロックを切断して得られるダミー部付きグリーンチップの形状を、端面方向から見て、正方形に近い形状にすることができる。その結果、従来と同様に、ダミー部付きグリーンチップの転動、及び、未焼成のセラミック保護層の形成を容易に行うことができる。未焼成のセラミック保護層を形成した後、ダミー部を除去することにより、薄型の積層セラミック電子部品を製造することができる。
本発明の積層セラミック電子部品の製造方法は、第2の態様において、積層された複数のセラミックグリーンシートと、上記セラミックグリーンシート間の複数の界面に沿ってそれぞれ配置された内部電極パターンとを含むマザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面にダミー部を形成する工程と、上記ダミー部が形成された上記マザーブロックを第1方向の切断線に沿って切断することによって、未焼成の状態にある複数のセラミック層と複数の内部電極とをもって構成された積層構造を有し、かつ上記第1方向の切断線に沿う切断によって現れた切断側面に上記内部電極が露出した、複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体を得る工程と、所定方向に配列された上記複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体の互いの間隔を広げた状態で、上記複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体を転動させることによって、上記複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体の各々の上記切断側面を揃って開放面とする工程と、上記開放面とされた上記切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成する工程と、上記未焼成のセラミック保護層が形成された上記棒状のダミー部付きグリーンブロック体を、上記第1方向に直交する第2方向の切断線に沿って切断することによって、複数の未焼成の部品本体を得る工程と、上記ダミー部を除去する工程と、を備えることを特徴とする。
本発明の第2の態様においては、マザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面にダミー部を形成することによって、ダミー部が形成されたマザーブロックを切断して得られる棒状のダミー部付きグリーンブロック体の形状を、端面方向から見て、正方形に近い形状にすることができる。その結果、本発明の第1の態様と同様、ダミー部付きグリーンブロック体の転動、及び、未焼成のセラミック保護層の形成を容易に行うことができる。未焼成のセラミック保護層を形成した後、ダミー部を除去することにより、薄型の積層セラミック電子部品を製造することができる。
以下、本発明の第1の態様及び第2の態様を特に区別しない場合、単に「本発明の積層セラミック電子部品の製造方法」という。
本発明の積層セラミック電子部品の製造方法においては、上記セラミックグリーンシートを用いて上記ダミー部を形成してもよいし、樹脂を用いて上記ダミー部を形成してもよい。セラミックグリーンシート又は樹脂を用いてダミー部を形成する場合、上記未焼成のセラミック保護層が形成された上記未焼成の部品本体、又は、上記未焼成のセラミック保護層が形成された上記棒状のダミー部付きグリーンブロック体から上記ダミー部を除去することが好ましい。
また、本発明の積層セラミック電子部品の製造方法においては、ジルコニアシートを用いて上記ダミー部を形成してもよい。ジルコニアシートを用いてダミー部を形成する場合、上記セラミック保護層が形成された上記部品本体から上記ダミー部を除去することが好ましい。
本発明の積層セラミック電子部品の製造方法において、上記ダミー部を含む上記ダミー部付きグリーンチップ、又は、上記ダミー部を含む上記棒状のダミー部付きグリーンブロック体の厚みをT、幅をWとしたとき、T/Wの値は、0.6以上、1.7以下であることが好ましい。T/Wの値が上記範囲である場合、グリーンチップ又はグリーンブロック体の転動、及び、未焼成のセラミック保護層の形成を容易に行うことができる。
本発明によれば、薄型の積層セラミック電子部品を製造する場合においても、切断側面に内部電極が露出したグリーンチップを転動させる工程、及び、開放面とされたグリーンチップの切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成する工程を容易に行うことができる積層セラミック電子部品の製造方法を提供することができる。
図1は、本発明の積層セラミック電子部品の製造方法によって得られる積層セラミックコンデンサの一例を模式的に示す斜視図である。 図2は、図1に示す積層セラミックコンデンサを構成する部品本体の一例を模式的に示す斜視図である。 図3は、図2に示す部品本体を作製するために準備されるグリーンチップの一例を模式的に示す斜視図である。 図4は、図3に示すグリーンチップを作製するために準備される内部電極パターンが形成されたセラミックグリーンシートの一例を模式的に示す平面図である。 図5(a)は、図4に示すセラミックグリーンシートを積層する工程を説明するための斜視図である。図5(b)及び図5(c)は、図4に示すセラミックグリーンシートを積層する工程を説明するための平面図である。 図6は、マザーブロックの一例を模式的に示す斜視図である。 図7は、ダミー部を形成する工程を説明するための斜視図である。 図8は、ダミー部が形成されたマザーブロックを切断する工程を説明するための斜視図である。 図9は、行及び列方向に配列された複数のダミー部付きグリーンチップの互いの間隔を広げた状態を示す斜視図である。 図10は、第1実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの一例を端面方向から示す模式図である。 図11は、第1実施形態に係る未焼成の部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。 図12(a)、図12(b)及び図12(c)は、第1実施形態においてダミー部を除去する工程の一例を説明するための図である。 図13は、第1実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの別の一例を端面方向から示す模式図である。 図14は、第1実施形態に係る未焼成の部品本体の別の一例を端面方向から示す模式図である。 図15(a)、図15(b)、図15(c)、図15(d)及び図15(e)は、第1実施形態においてダミー部を除去する工程の別の一例を説明するための図である。 図16(a)は、従来の製造方法により得られる積層セラミックコンデンサの一例を模式的に示すLT断面図であり、図16(b)は、本発明の第1実施形態に係る製造方法により得られる積層セラミックコンデンサの一例を模式的に示すLT断面図である。 図17は、第3実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの一例を端面方向から示す模式図である。 図18は、第3実施形態に係る未焼成の部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。 図19(a)及び図19(b)は、焼成後に得られる部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。 図20は、第3実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの別の一例を端面方向から示す模式図である。 図21は、第3実施形態に係る未焼成の部品本体の別の一例を端面方向から示す模式図である。 図22(a)及び図22(b)は、焼成後に得られる部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。 図23(a)、図23(b)及び図23(c)は、複数のグリーンチップを転動させる転動工程の一例を説明するためにグリーンチップの端面方向から示した図である。 図24(a)、図24(b)、図24(c)、図24(d)及び図24(e)は、未焼成のセラミック保護層が形成された複数のグリーンチップを再び転動させる転動工程を説明するためにグリーンチップの端面方向から示した図である。
以下、本発明の積層セラミック電子部品の製造方法について説明する。
しかしながら、本発明は、以下の構成に限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲において適宜変更して適用することができる。なお、以下において記載する個々の望ましい構成を2つ以上組み合わせたものもまた本発明である。
本発明の積層セラミック電子部品の製造方法の一実施形態として、積層セラミックコンデンサの製造方法を例にとって説明する。なお、本発明の製造方法は、積層セラミックコンデンサ以外の積層セラミック電子部品にも適用することができる。
まず、本発明の積層セラミック電子部品の製造方法によって得られる積層セラミックコンデンサについて説明する。
図1は、本発明の積層セラミック電子部品の製造方法によって得られる積層セラミックコンデンサの一例を模式的に示す斜視図である。図2は、図1に示す積層セラミックコンデンサを構成する部品本体の一例を模式的に示す斜視図である。
本明細書においては、積層セラミックコンデンサ及び部品本体の積層方向、幅方向、長さ方向を、図1に示す積層セラミックコンデンサ11及び図2に示す部品本体12においてそれぞれ矢印T、W、Lで定める方向とする。ここで、積層方向と幅方向と長さ方向とは互いに直交する。積層方向は、複数のセラミック層25と複数対の内部電極26及び27とが積み上げられていく方向である。
なお、部品本体の厚みとは、積層方向の寸法(図2中、Tで示される長さ)であり、部品本体の幅とは、側面方向の寸法(図2中、Wで示される長さ)である。
図1に示す積層セラミックコンデンサ11は、部品本体12を備えている。図2に示すように、部品本体12は、直方体状又は略直方体状をなしており、積層方向Tに相対する1対の主面13及び14と、積層方向Tに直交する幅方向Wに相対する1対の側面15及び16と、積層方向T及び幅方向Wに直交する長さ方向Lに相対する1対の端面17及び18とを有している。
本明細書においては、1対の端面17及び端面18に交差し、かつ、積層方向Tに沿う積層セラミックコンデンサ11又は部品本体12の断面をLT断面という。また、側面15又は側面16に交差し、かつ、積層方向Tに沿う積層セラミックコンデンサ11又は部品本体12の断面をWT断面という。また、側面15、側面16、端面17又は端面18に交差し、かつ、積層方向Tに直交する積層セラミックコンデンサ11又は部品本体12の断面をLW断面という。
図3は、図2に示す部品本体を作製するために準備されるグリーンチップの一例を模式的に示す斜視図である。
後述するように、図2に示す部品本体12は、図3に示すグリーンチップ19の互いに対向する1対の側面(以下、切断側面という)20及び21上に、未焼成のセラミック保護層22及び23をそれぞれ形成したものを焼成することにより得られる。以後の説明において、焼成後の部品本体12におけるグリーンチップ19に由来する部分を積層部24と呼ぶことにする。
図2及び図3に示すように、部品本体12における積層部24は、主面13及び14の方向に延びかつ主面13及び14に直交する方向に積層された複数のセラミック層25と、セラミック層25間の界面に沿って形成された複数対の内部電極26及び27とをもって構成された積層構造を有している。部品本体12は、その側面15及び16をそれぞれ与えるように積層部24の切断側面20及び21上に配置される1対のセラミック保護層22及び23を有している。セラミック保護層22及び23の厚みは、互いに同じであることが好ましい。
なお、図1及び図2においては、説明の便宜のために、積層部24とセラミック保護層22及び23の各々との境界が明瞭に図示されているが、このような境界は明瞭に現れなくてもよい。
図2及び図3に示すように、内部電極26と内部電極27とは、セラミック層25を介して互いに対向する。内部電極26と内部電極27とが対向することによって、電気的特性が発現する。すなわち、図1に示す積層セラミックコンデンサ11においては、静電容量が形成される。
内部電極26は、部品本体12の端面17に露出する露出端を持ち、内部電極27は、部品本体12の端面18に露出する露出端を持っている。一方、上述したセラミック保護層22及び23が配置されているため、内部電極26及び27は、部品本体12の側面15及び16には露出しない。
図1に示すように、積層セラミックコンデンサ11は、さらに、内部電極26及び27の各々の露出端にそれぞれ電気的に接続されるように、部品本体12の少なくとも1対の端面17及び18上にそれぞれ形成された、外部電極28及び29を備えている。
外部電極28及び29は、部品本体12の少なくとも1対の端面17及び18上にそれぞれ形成されており、図1では、主面13及び14並びに側面15及び16の各一部にまで回り込んだ部分を有している。
上述のとおり、本発明の製造方法は、積層セラミックコンデンサ以外の積層セラミック電子部品にも適用することができる。例えば、積層セラミック電子部品が圧電部品の場合には、PZT系セラミック等の圧電体セラミック、サーミスタの場合には、スピネル系セラミック等の半導体セラミックが用いられる。
内部電極を構成する導電材料としては、例えば、Ni、Cu、Ag、Pd、Ag-Pd合金、Au等の金属材料を用いることができる。
セラミック層及びセラミック保護層を構成するセラミック材料としては、例えば、BaTiO、CaTiO、SrTiO、CaZrO等を主成分とする誘電体セラミックを用いることができる。
セラミック保護層を構成するセラミック材料は、セラミック層を構成するセラミック材料と少なくとも主成分が同じであることが好ましい。この場合、同じ組成のセラミック材料がセラミック層とセラミック保護層との双方に用いられることが特に好ましい。
外部電極は、下地層と下地層上に形成されるめっき層とで構成されることが好ましい。下地層を構成する導電材料としては、例えば、Cu、Ni、Ag、Pd、Ag-Pd合金、Au等を用いることができる。下地層は、導電性ペーストを未焼成の部品本体上に塗布して部品本体と同時焼成するコファイア法を適用することによって形成されてもよく、導電性ペーストを焼成後の部品本体上に塗布して焼き付けるポストファイア法を適用することによって形成されてもよい。あるいは、下地層は、直接めっきにより形成されてもよく、熱硬化性樹脂を含む導電性樹脂を硬化させることにより形成されてもよい。
下地層上に形成されるめっき層は、Niめっき、及び、その上のSnめっきの2層構造であることが好ましい。
次に、本発明の積層セラミック電子部品の製造方法の一例として、図1に示す積層セラミックコンデンサ11の製造方法について説明する。
以下に示す各実施形態は例示であり、異なる実施形態で示した構成の部分的な置換又は組み合わせが可能であることは言うまでもない。第2実施形態以降では、第1実施形態と共通の事項についての記述は省略し、異なる点についてのみ説明する。特に、同様の構成による同様の作用効果については、実施形態毎には逐次言及しない。
(第1実施形態)
まず、セラミック層となるべきセラミックグリーンシートが準備される。セラミックグリーンシートには、上述した誘電体セラミックを含むセラミック原料の他、バインダ及び溶剤等が含まれる。セラミックグリーンシートは、例えば、キャリアフィルム上で、ダイコータ、グラビアコータ、マイクログラビアコータ等を用いて成形される。
セラミックグリーンシートの厚みは、通常3μm以下であり、1μm以下であることが好ましく、0.6μm以下であることがより好ましい。
次に、セラミックグリーンシート上に、所定のパターンをもって導電性ペーストが印刷される。導電性ペーストには、上述した金属材料の他、バインダ及び溶剤等が含まれる。
図4は、図3に示すグリーンチップを作製するために準備される内部電極パターンが形成されたセラミックグリーンシートの一例を模式的に示す平面図である。
図4に示すように、セラミック層25となるべきセラミックグリーンシート31上に、所定のパターンをもって導電性ペーストが印刷されることによって、内部電極26及び27の各々となるべき内部電極パターン32が形成される。具体的には、セラミックグリーンシート31上に、帯状の内部電極パターン32が複数列形成される。
内部電極パターンの厚みは特に限定されないが、1.5μm以下であることが好ましい。
その後、内部電極パターンが形成されたセラミックグリーンシートをずらしながら所定枚数積層し、その上下に内部電極パターンが形成されていないセラミックグリーンシートを所定枚数積層する積層工程が行われる。
図5(a)は、図4に示すセラミックグリーンシートを積層する工程を説明するための斜視図である。
図5(a)に示すように、内部電極パターン32が形成されたセラミックグリーンシート31を、内部電極パターン32の幅方向に沿って所定間隔、すなわち内部電極パターン32の幅方向寸法の半分ずつずらしながら所定枚数積層する。さらに、その上下に内部電極パターンが印刷されていないセラミックグリーンシートを所定枚数積層する。
図5(b)及び図5(c)は、図4に示すセラミックグリーンシートを積層する工程を説明するための平面図である。図5(b)及び図5(c)は、それぞれ1層目及び2層目のセラミックグリーンシートが拡大して示されている。
図5(b)及び図5(c)には、帯状の内部電極パターン32が延びる方向と直交する第1方向(図5(b)及び図5(c)における上下方向)の切断線33、及び、これに対して直交する第2方向(図5(b)及び図5(c)における左右方向)の切断線34の各一部が示されている。帯状の内部電極パターン32は、2つ分の内部電極26及び27が各々の引出し部同士で連結されたものが、第2方向に沿って連なった形状を有している。図5(b)及び図5(c)では、切断線33及び34が共通して示されている。
積層工程の結果、積層された複数のセラミックグリーンシートと、セラミックグリーンシート間の複数の界面に沿ってそれぞれ配置された内部電極パターンとを含む、マザーブロックが得られる。得られたマザーブロックは、静水圧プレス等の手段により積層方向にプレスされる。
図6は、マザーブロックの一例を模式的に示す斜視図である。
図6に示すマザーブロック35はあくまでも一例であり、実際には、セラミックグリーンシート31及び内部電極パターン32を積層する枚数、及び、帯状の内部電極パターン32を形成する列の個数はより多くなる。
続いて、マザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面にダミー部が形成される。なお、マザーブロックを作製した後にダミー部を形成してもよいし、マザーブロックを作製する前にダミー部を形成してもよい。第1実施形態では、セラミックグリーンシートを用いてダミー部が形成される。必要に応じて、ダミー部が形成されたマザーブロックは、静水圧プレス等の手段により積層方向にプレスされる。
図7は、ダミー部を形成する工程を説明するための斜視図である。
図7では、プレスされた後のマザーブロック35の積層方向における一方の主面(図7では上面)にダミー部40が形成される。
第1実施形態において、マザーブロックの積層方向における一方の主面にダミー部を形成する場合、マザーブロックの積層方向における上面にダミー部を形成してもよいし、マザーブロックの積層方向における下面にダミー部を形成してもよい。
第1実施形態において、セラミックグリーンシートを用いてダミー部を形成する方法は特に限定されず、マザーブロックの積層方向における上面にダミー部を形成する場合には、例えば、プレスされたマザーブロックの上面にダミー部となるセラミックグリーンシートを置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよいし、プレスされる前のマザーブロックの上面にダミー部となるセラミックグリーンシートを置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよい。一方、マザーブロックの積層方向における下面にダミー部を形成する場合には、例えば、プレスされたマザーブロックをダミー部となるセラミックグリーンシートの上に置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよいし、ダミー部となるセラミックグリーンシートの上にマザーブロックとなるセラミックグリーンシート及び内部電極パターンを積層した後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよい。なお、ダミー部となるセラミックグリーンシートは、1枚であってもよいし、複数枚が積層されてもよい。
第1実施形態において、ダミー部を形成するためのセラミックグリーンシートには、マザーブロックを作製するためのセラミックグリーンシートと同じセラミック原料が主成分として含有されていることが好ましい。
第1実施形態において、ダミー部の厚みは特に限定されないが、ダミー部が形成されたマザーブロックを切断することにより得られるダミー部付きグリーンチップの厚みをT、幅をWとしたとき、T/Wの値が後述する範囲になる厚みであることが好ましい。
ダミー部が形成されたマザーブロックを互いに直交する第1方向の切断線及び第2方向の切断線に沿って切断することによって、複数のダミー部付きグリーンチップが得られる。この切断には、例えば、ダイシング、押切り、レーザカット等の方法が適用される。
図8は、ダミー部が形成されたマザーブロックを切断する工程を説明するための斜視図である。
図8において、ダミー部が形成されたマザーブロックは、互いに直交する第1方向の切断線33及び第2方向の切断線34に沿って切断され、行及び列方向に配列された複数のダミー部付きグリーンチップ42が得られる。ダミー部付きグリーンチップ42は、グリーンチップ19にダミー部41が形成されたものである。なお、図8では、1個のマザーブロック35から6個のダミー部付きグリーンチップ42が取り出されているが、実際には、より多数のダミー部付きグリーンチップ42が取り出される。
図3に示したように、各グリーンチップ19は、未焼成の状態にある複数のセラミック層25と複数の内部電極26及び27とをもって構成された積層構造を有している。グリーンチップ19の切断側面20及び21は、第1方向の切断線33に沿う切断によって現れた面であり、切断端面36及び37は第2方向の切断線34の切断によって現れた面である。切断側面20及び21には、内部電極26及び27のすべてが露出している。また、一方の切断端面36には、内部電極26のみが露出し、他方の切断端面37には、内部電極27のみが露出している。
なお、図8に示すように、複数のダミー部付きグリーンチップ42が行及び列方向に配列されるように、ダミー部が形成されたマザーブロックが拡張性のある粘着シート38上に貼り付けられた状態で切断されることが好ましい。この場合、図示しないエキスパンド装置によって、粘着シート38を拡張することができる。
図9は、行及び列方向に配列された複数のダミー部付きグリーンチップの互いの間隔を広げた状態を示す斜視図である。
図8に示す粘着シート38を拡張することによって、図9に示すように、行及び列方向に配列された複数のダミー部付きグリーンチップ42は、互いの間隔を広げた状態とされる。
図10は、第1実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの一例を端面方向から示す模式図である。
図10に示すダミー部付きグリーンチップ42では、グリーンチップ19の積層方向における一方の主面(上面)にダミー部41が形成されている。
第1実施形態において、ダミー部を含むダミー部付きグリーンチップの厚みをT、幅をWとしたとき、T=Wであってもよいし、T<Wであってもよいし、T>Wであってもよい。T/Wの値は、0.6以上であることが好ましい。また、T/Wの値は、1.7以下であることが好ましい。
なお、ダミー部付きグリーンチップの厚みとは、図10中、Tで示される長さであり、ダミー部付きグリーンチップの幅とは、図10中、Wで示される長さである。
続いて、複数のダミー部付きグリーンチップを転動させることによって、複数のダミー部付きグリーンチップの各々の切断側面を揃って開放面とする転動工程が行われる。
具体的には、図23(a)、図23(b)及び図23(c)に示した方法を用いて転動工程を行うことができる。すなわち、粘着シート上に貼り付けられた複数のダミー部付きグリーンチップが、粘着シートとともに支持台上に置かれ、他方、転動作用板がダミー部付きグリーンチップに対して上から作用し得る状態に置かれる。支持台及び転動作用板は、好ましくは、シリコーンゴムから構成される。支持台を転動作用板に対して移動させることによって、複数のダミー部付きグリーンチップが90度回転し、一方の切断側面を上方へ向けた状態とされる。この状態で転動作用板を除去すれば、当該切断側面が開放面となる。
次に、開放面とされた切断側面に未焼成のセラミック保護層が形成される。未焼成のセラミック保護層は、例えば、セラミック保護層用グリーンシートを貼り付けるか、又は、セラミック保護層用ペーストを塗布することにより形成される。
セラミック保護層用グリーンシート又はセラミック保護層用ペーストには、マザーブロックを作製するためのセラミックグリーンシートと同じセラミック原料が主成分として含有されていることが好ましい。
未焼成のセラミック保護層を形成した後、必要に応じて、乾燥工程が行われる。乾燥工程では、未焼成のセラミック保護層が形成されたダミー部付きグリーンチップが、例えば、120℃に設定されたオーブンに5分間入れられる。
その後、未焼成のセラミック保護層が形成された複数のダミー部付きグリーンチップを再び転動させる転動工程が行われる。
具体的には、図24(a)、図24(b)、図24(c)、図24(d)及び図24(e)に示した方法を用いて転動工程を行うことができる。すなわち、一方の切断側面に未焼成のセラミック保護層が形成された複数のダミー部付きグリーンチップは、粘着シートを介して支持台によって支持され、複数のダミー部付きグリーンチップに対して、転動作用板が上から作用し得る状態に置かれる。支持台を転動作用板に対して移動させることによって、複数のダミー部付きグリーンチップが90度回転することを2回繰り返し、他方の切断側面を上方へ向けた状態とされる。この状態で転動作用板を除去すれば、当該切断側面が開放面となる。
開放面とされた反対側の切断側面にも、上記と同様に、未焼成のセラミック保護層が形成される。また、未焼成のセラミック保護層を形成した後、必要に応じて、乾燥工程が行われる。以上により、未焼成の部品本体が得られる。
図11は、第1実施形態に係る未焼成の部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。
図11には、積層方向における一方の主面にダミー部41が形成されたグリーンチップ19の一方の切断側面20に未焼成のセラミック保護層22を形成し、他方の切断側面21に未焼成のセラミック保護層23を形成した未焼成の部品本体51が示されている。未焼成の部品本体51は、未焼成のセラミック保護層23を上方へ向けた状態で、粘着シート38上に貼り付けられている。
第1実施形態では、未焼成のセラミック保護層が形成された未焼成の部品本体からダミー部が除去されることが好ましい。
図12(a)、図12(b)及び図12(c)は、第1実施形態においてダミー部を除去する工程の一例を説明するための図である。
図12(a)に示すように、未焼成の部品本体51を90度回転させ、ダミー部41を上方へ向けた状態とする。この状態で、図12(b)及び図12(c)に示すように、ダミー部41を除去する。
ダミー部を除去する方法は特に限定されないが、例えば、グラインダー等を用いてダミー部を研削する方法等が挙げられる。
ダミー部が除去された未焼成の部品本体から粘着シートを剥離した後、未焼成の部品本体が焼成される。焼成温度は、未焼成の部品本体に含まれるセラミック材料や金属材料にもよるが、例えば900℃以上、1300℃以下の範囲である。
焼成後の部品本体の両端面に導電性ペーストを塗布し、焼き付け、さらに、必要に応じて、めっきが施されることによって、外部電極が形成される。なお、導電性ペーストの塗布は、未焼成の部品本体に対して実施されてもよく、未焼成の部品本体の焼成時に、導電性ペーストの焼付けを同時に行なうようにしてもよい。
このようにして、図1に示す積層セラミックコンデンサ11が製造される。
以上、グリーンチップの積層方向における一方の主面(上面又は下面)にダミー部が形成される場合について主に説明したが、第1実施形態では、グリーンチップの積層方向における両方の主面(上面及び下面)にダミー部が形成されてもよい。
図13は、第1実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの別の一例を端面方向から示す模式図である。
図13に示すダミー部付きグリーンチップ44では、グリーンチップ19の積層方向における両方の主面(上面及び下面)にダミー部41及び43が形成されている。
図14は、第1実施形態に係る未焼成の部品本体の別の一例を端面方向から示す模式図である。
図14には、積層方向における両方の主面にダミー部41及び43が形成されたグリーンチップ19の一方の切断側面20に未焼成のセラミック保護層22を形成し、他方の切断側面21に未焼成のセラミック保護層23を形成した未焼成の部品本体52が示されている。未焼成の部品本体52は、未焼成のセラミック保護層23を上方へ向けた状態で、粘着シート38上に貼り付けられている。
図15(a)、図15(b)、図15(c)、図15(d)及び図15(e)は、第1実施形態においてダミー部を除去する工程の別の一例を説明するための図である。
図15(a)に示すように、未焼成の部品本体52を90度回転させ、ダミー部41を上方へ向けた状態とする。この状態で、図15(b)及び図15(c)に示すように、ダミー部41を除去する。ダミー部41を除去した後、未焼成の部品本体52を180度回転させ、ダミー部43を上方へ向けた状態とする(図示せず)。この状態で、図15(d)及び図15(e)に示すように、ダミー部43を除去する。
ダミー部が除去された未焼成の部品本体から粘着シートを剥離した後、未焼成の部品本体が焼成される。焼成後の部品本体の両端面に外部電極を形成することにより、図1に示す積層セラミックコンデンサ11が製造される。
図16(a)は、従来の製造方法により得られる積層セラミックコンデンサの一例を模式的に示すLT断面図であり、図16(b)は、本発明の第1実施形態に係る製造方法により得られる積層セラミックコンデンサの一例を模式的に示すLT断面図である。
従来の製造方法のようにダミー部を形成しない場合、図16(a)に示すように、部品本体12には、内部電極26及び27が存在する部分と内部電極26又は27が存在しない部分との間で段差が生じてしまう。段差が生じた部品本体12に外部電極28及び29を形成すると、外部電極28と内部電極26との距離(図16(a)中、Eで示される長さ)、及び、外部電極29と内部電極27との距離が短いため、めっき処理時等に水分が部品本体12に侵入しやすくなる。したがって、積層セラミックコンデンサの品質が劣化するおそれがある。
これに対し、本発明の第1実施形態に係る製造方法のようにセラミックグリーンシートを用いてダミー部を形成する場合、ダミー部を除去する際に未焼成の部品本体の表面を平面状に研削することによって、図16(b)に示すように、部品本体12に生じる段差を埋めることができる。その結果、図16(b)中、Tで示される長さとTで示される長さの関係のように、部品本体の最も主面側に積層された内部電極と部品本体の主面との間隔が、容量形成部から端面に近づくにつれて広くなる。この場合、外部電極28と内部電極26との距離(図16(b)中、Eで示される長さ)、及び、外部電極29と内部電極27との距離を長くすることができるため、めっき処理時等に水分が部品本体12に侵入しにくくなる。したがって、積層セラミックコンデンサの品質劣化を防止することができる。
なお、第1実施形態においては、グリーンチップの積層方向における一方の主面にダミー部を形成する場合でも上述の効果は得られるが、グリーンチップの積層方向における両方の主面にダミー部を形成する場合の方が、両面の段差を埋めることができるため、品質劣化を防止する効果は高い。上述の効果を得る観点からは、少なくとも段差を埋める部分を構成するダミー部は、マザーブロックを作製するためのセラミックグリーンシートと同じセラミック原料を主成分として含有することが好ましい。
以上より、下記の特徴を有する積層セラミック電子部品もまた、本発明の1つである。
積層方向に配置された複数のセラミック層と複数の内部電極とを含み、積層方向に相対する1対の主面と、積層方向に直交する幅方向に相対する1対の側面と、積層方向及び幅方向に直交する長さ方向に相対する1対の端面とを有する部品本体と、上記部品本体の少なくとも1対の端面にそれぞれ設けられた外部電極と、を備えた積層セラミック電子部品であって、上記部品本体の最も主面側に積層された上記内部電極と上記部品本体の主面との間隔が、容量形成部から端面に近づくにつれて広くなることを特徴とする積層セラミック電子部品。
(第2実施形態)
第2実施形態では、上記第1実施形態とは異なり、樹脂を用いてダミー部を形成する場合について説明する。
まず、第1実施形態で説明した方法により、積層された複数のセラミックグリーンシートと、セラミックグリーンシート間の複数の界面に沿ってそれぞれ配置された内部電極パターンとを含む、マザーブロックが得られる。得られたマザーブロックは、静水圧プレス等の手段により積層方向にプレスされる。
続いて、マザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面にダミー部が形成される。なお、マザーブロックを作製した後にダミー部を形成してもよいし、マザーブロックを作製する前にダミー部を形成してもよい。第2実施形態では、樹脂を用いてダミー部が形成される。必要に応じて、ダミー部が形成されたマザーブロックは、静水圧プレス等の手段により積層方向にプレスされる。
第2実施形態において、マザーブロックの積層方向における一方の主面にダミー部を形成する場合、マザーブロックの積層方向における上面にダミー部を形成してもよいし、マザーブロックの積層方向における下面にダミー部を形成してもよい。
第2実施形態において、樹脂を用いてダミー部を形成する方法は特に限定されず、マザーブロックの積層方向における上面にダミー部を形成する場合には、例えば、プレスされたマザーブロックの上面にダミー部となる樹脂シートを置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよいし、プレスされる前のマザーブロックの上面にダミー部となる樹脂シートを置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよい。一方、マザーブロックの積層方向における下面にダミー部を形成する場合には、例えば、プレスされたマザーブロックをダミー部となる樹脂シートの上に置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよいし、ダミー部となる樹脂シートの上にマザーブロックとなるセラミックグリーンシート及び内部電極パターンを積層した後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよい。なお、ダミー部となる樹脂シートは、1枚であってもよいし、複数枚が積層されてもよい。また、ダミー部を形成する樹脂の形態は、樹脂シートに限定されるものではない。
第2実施形態において、ダミー部を形成するための樹脂の種類は特に限定されないが、例えば、アクリル樹脂等が挙げられる。
第2実施形態において、ダミー部の厚みは特に限定されないが、第1実施形態と同じ厚みであることが好ましい。
その後、第1実施形態と同様に、ダミー部が形成されたマザーブロックを互いに直交する第1方向の切断線及び第2方向の切断線に沿って切断することによって、複数のダミー部付きグリーンチップが得られる。この際、複数のダミー部付きグリーンチップが行及び列方向に配列されるように、ダミー部が形成されたマザーブロックが拡張性のある粘着シート上に貼り付けられた状態で切断されることが好ましい。
第2実施形態において、ダミー部を含むダミー部付きグリーンチップの厚みをT、幅をWとしたとき、T=Wであってもよいし、T<Wであってもよいし、T>Wであってもよい。T/Wの好ましい値は、第1実施形態と同じである。
続いて、第1実施形態と同様に、複数のダミー部付きグリーンチップを転動させることによって、複数のダミー部付きグリーンチップの各々の切断側面を揃って開放面とする転動工程が行われ、開放面とされた切断側面に未焼成のセラミック保護層が形成される。その後、未焼成のセラミック保護層が形成された複数のダミー部付きグリーンチップを再び転動させる転動工程が行われ、開放面とされた反対側の切断側面にも未焼成のセラミック保護層が形成される。
第2実施形態では、未焼成のセラミック保護層が形成された未焼成の部品本体からダミー部が除去されることが好ましい。ダミー部を除去する方法は、第1実施形態と同様である。
ダミー部が除去された未焼成の部品本体から粘着シートを剥離した後、未焼成の部品本体が焼成される。焼成後の部品本体の両端面に外部電極を形成することにより、図1に示す積層セラミックコンデンサ11が製造される。
第2実施形態では、グリーンチップの積層方向における両方の主面(上面及び下面)にダミー部が形成されてもよい。
本発明の第2実施形態に係る製造方法のように樹脂を用いてダミー部を形成する場合、セラミックグリーンシートを用いてダミー部を形成する場合と比べて、安価に積層セラミック電子部品を製造することができる。
(第3実施形態)
第3実施形態では、上記第1実施形態及び第2実施形態とは異なり、ジルコニアシートを用いてダミー部を形成する場合について説明する。
まず、第1実施形態で説明した方法により、積層された複数のセラミックグリーンシートと、セラミックグリーンシート間の複数の界面に沿ってそれぞれ配置された内部電極パターンとを含む、マザーブロックが得られる。得られたマザーブロックは、静水圧プレス等の手段により積層方向にプレスされる。
続いて、マザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面にダミー部が形成される。なお、マザーブロックを作製した後にダミー部を形成してもよいし、マザーブロックを作製する前にダミー部を形成してもよい。第3実施形態では、ジルコニアシートを用いてダミー部が形成される。必要に応じて、ダミー部が形成されたマザーブロックは、静水圧プレス等の手段により積層方向にプレスされる。
第3実施形態において、マザーブロックの積層方向における一方の主面にダミー部を形成する場合、マザーブロックの積層方向における上面にダミー部を形成してもよいし、マザーブロックの積層方向における下面にダミー部を形成してもよい。
第3実施形態において、ジルコニアシートを用いてダミー部を形成する方法は特に限定されず、マザーブロックの積層方向における上面にダミー部を形成する場合には、例えば、プレスされたマザーブロックの上面にダミー部となるジルコニアシートを置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよいし、プレスされる前のマザーブロックの上面にダミー部となるジルコニアシートを置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよい。一方、マザーブロックの積層方向における下面にダミー部を形成する場合には、例えば、プレスされたマザーブロックをダミー部となるジルコニアシートの上に置いた後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよいし、ダミー部となるジルコニアシートの上にマザーブロックとなるセラミックグリーンシート及び内部電極パターンを積層した後、ダミー部が形成されたマザーブロックをプレスしてもよい。なお、ダミー部となるジルコニアシートは、1枚であってもよいし、複数枚が積層されてもよい。
第3実施形態において、ダミー部を形成するためのジルコニアシートには、ジルコニアの他、バインダ及び溶剤等が含まれる。ジルコニアシートは、例えば、キャリアフィルム上で、ダイコータ、グラビアコータ、マイクログラビアコータ等を用いて成形される。
第3実施形態において、ダミー部の厚みは特に限定されないが、第1実施形態と同じ厚みであることが好ましい。
その後、第1実施形態と同様に、ダミー部が形成されたマザーブロックを互いに直交する第1方向の切断線及び第2方向の切断線に沿って切断することによって、複数のダミー部付きグリーンチップが得られる。この際、複数のダミー部付きグリーンチップが行及び列方向に配列されるように、ダミー部が形成されたマザーブロックが拡張性のある粘着シート上に貼り付けられた状態で切断されることが好ましい。
図17は、第3実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの一例を端面方向から示す模式図である。
図17に示すダミー部付きグリーンチップ46では、グリーンチップ19の積層方向における一方の主面(上面)にダミー部45が形成されている。
第3実施形態において、ダミー部を含むダミー部付きグリーンチップの厚みをT、幅をWとしたとき、T=Wであってもよいし、T<Wであってもよいし、T>Wであってもよい。T/Wの好ましい値は、第1実施形態と同じである。
続いて、第1実施形態と同様に、複数のダミー部付きグリーンチップを転動させることによって、複数のダミー部付きグリーンチップの各々の切断側面を揃って開放面とする転動工程が行われ、開放面とされた切断側面に未焼成のセラミック保護層が形成される。その後、未焼成のセラミック保護層が形成された複数のダミー部付きグリーンチップを再び転動させる転動工程が行われ、開放面とされた反対側の切断側面にも未焼成のセラミック保護層が形成される。
図18は、第3実施形態に係る未焼成の部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。
図18には、積層方向における一方の主面にダミー部45が形成されたグリーンチップ19の一方の切断側面20に未焼成のセラミック保護層22を形成し、他方の切断側面21に未焼成のセラミック保護層23を形成した未焼成の部品本体53が示されている。未焼成の部品本体53は、未焼成のセラミック保護層23を上方へ向けた状態で、粘着シート38上に貼り付けられている。
第3実施形態では、ダミー部が形成された未焼成の部品本体から粘着シートを剥離した後、ダミー部が形成された状態で未焼成の部品本体が焼成されることが好ましい。焼成温度は、未焼成の部品本体に含まれるセラミック材料や金属材料にもよるが、例えば900℃以上、1300℃以下の範囲である。
ジルコニアシートに含まれていたバインダ及び溶剤等の成分は焼失するため、焼成後の部品本体には、ジルコニアの粉末が残る。そのため、超音波洗浄等を行うことによって、ダミー部を除去することができる。このように、第3実施形態では、セラミック保護層が形成された部品本体からダミー部が形成されることが好ましい。
図19(a)及び図19(b)は、焼成後に得られる部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。
図19(a)には、ダミー部が除去された後の部品本体53´を示している。焼成後、必要に応じて、不要なセラミック保護層22及び23を除去することによって、図19(b)に示すように、部品本体12が得られる。不要なセラミック保護層を除去する方法としては、例えば、バレル研磨等の方法が挙げられる。
図19(a)では、ダミー部が形成されていた全ての箇所にセラミック保護層22及び23が形成されているが、ダミー部が形成されていた一部の箇所にセラミック保護層22及び23が形成されていてもよい。また、ダミー部が形成されていた箇所にセラミック保護層22及び23が形成されていなくてもよい。
焼成後の部品本体の両端面に外部電極を形成することにより、図1に示す積層セラミックコンデンサ11が製造される。
第3実施形態では、グリーンチップの積層方向における両方の主面(上面及び下面)にダミー部が形成されてもよい。
本発明の第3実施形態に係る製造方法のようにジルコニアシートを用いてダミー部を形成する場合、ジルコニアは焼成治具に用いられている材料であるため、ダミー部が形成された状態で未焼成の部品本体を焼成しても製品への影響は小さいと考えられる。ダミー部が形成された状態で未焼成の部品本体を焼成する場合には、焼成前にダミー部を研削する必要がないため、ダミー部を容易に除去することができる。
また、ジルコニアシートを用いてダミー部を形成する場合、ダミー部を介して複数のグリーンチップを積み重ねてもよい。
図20は、第3実施形態に係るダミー部付きグリーンチップの別の一例を端面方向から示す模式図である。
図20に示すダミー部付きグリーンチップ47では、グリーンチップ19aとグリーンチップ19bとが積層方向に積み重ねられており、グリーンチップ19a及び19bの間にダミー部45が形成されている。積み重ねられるグリーンチップの個数は2個に限定されず、3個以上であってもよい。
続いて、第1実施形態と同様に、複数のダミー部付きグリーンチップを転動させることによって、複数のダミー部付きグリーンチップの各々の切断側面を揃って開放面とする転動工程が行われ、開放面とされた切断側面に未焼成のセラミック保護層が形成される。その後、未焼成のセラミック保護層が形成された複数のダミー部付きグリーンチップを再び転動させる転動工程が行われ、開放面とされた反対側の切断側面にも未焼成のセラミック保護層が形成される。
図21は、第3実施形態に係る未焼成の部品本体の別の一例を端面方向から示す模式図である。
図21には、ダミー部45が間に形成されたグリーンチップ19a及び19bの一方の切断側面20に未焼成のセラミック保護層22を形成し、他方の切断側面21に未焼成のセラミック保護層23を形成した未焼成の部品本体54が示されている。未焼成の部品本体54は、未焼成のセラミック保護層23を上方へ向けた状態で、粘着シート38上に貼り付けられている。
図22(a)及び図22(b)は、焼成後に得られる部品本体の一例を端面方向から示す模式図である。
図22(a)には、ダミー部が除去された後の部品本体54´を示している。焼成後、必要に応じて、部品本体12を2つに分離し、不要なセラミック保護層22及び23を除去することによって、図22(b)に示すように、2つの部品本体12が得られる。本実施形態では、弱い力でも部品本体を容易に分離することができる。不要なセラミック保護層を除去する方法としては、例えば、バレル研磨等の方法が挙げられる。
焼成後の部品本体の両端面に外部電極を形成することにより、図1に示す積層セラミックコンデンサ11が製造される。
(その他の実施形態)
本発明の積層セラミック電子部品の製造方法において、ダミー部を形成する方法は上述した実施形態で説明した方法に限定されるものではなく、他の方法によってダミー部を形成してもよい。また、グリーンチップの積層方向における両方の主面にダミー部を形成する場合、例えば、セラミックグリーンシートを用いて一方の主面にダミー部を形成し、樹脂を用いて他方の主面にダミー部を形成してもよい。
上述した実施形態では、ダミー部が形成されたマザーブロックを第1方向の切断線及び第2方向の切断線に切断して複数のダミー部付きグリーンチップを得てから、切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成していたが、以下のように変更することも可能である。
すなわち、ダミー部が形成されたマザーブロックを第1方向の切断線のみに沿って切断することによって、第1方向の切断線に沿う切断によって現れた切断側面に内部電極が露出した、複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体を得てから、切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成した後、第2方向の切断線に切断して複数の未焼成の部品本体を得て、その後、未焼成の部品本体を焼成してもよい。焼成後は、前述の実施形態と同様の工程を行うことによって、積層セラミック電子部品を製造することができる。
11 積層セラミックコンデンサ(積層セラミック電子部品)
12,53´,54´ 部品本体
13,14 主面
15,16 側面
17,18 端面
19,19a,19b グリーンチップ
20,21 切断側面
22,23 セラミック保護層
24 積層部
25 セラミック層
26,27 内部電極
28,29 外部電極
31 セラミックグリーンシート
32 内部電極パターン
33 第1方向の切断線
34 第2方向の切断線
35 マザーブロック
36,37 切断端面
38 粘着シート
40,41,43,45 ダミー部
42,44,46,47 ダミー部付きグリーンチップ
51,52,53,54 未焼成の部品本体
60 支持台
61 転動作用板

Claims (3)

  1. 積層された複数のセラミックグリーンシートと、前記セラミックグリーンシート間の複数の界面に沿ってそれぞれ配置された内部電極パターンとを含むマザーブロックの積層方向における少なくとも一方の主面に、前記セラミックグリーンシートを用いてダミー部を形成することによって、ダミー部付きマザーブロックを得る工程と、
    前記ダミー部付きマザーブロックを第1方向の切断線に沿って切断することによって、未焼成の状態にある複数のセラミック層と複数の内部電極とをもって構成された積層構造を有し、かつ前記第1方向の切断線に沿う切断によって現れた切断側面に前記内部電極が露出し、前記ダミー部とグリーンブロック体とが一体化した、複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体を得る工程と、
    所定方向に配列された前記複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体の互いの間隔を広げた状態で、前記複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体を転動させることによって、前記複数の棒状のダミー部付きグリーンブロック体の各々の前記切断側面を揃って開放面とする工程と、
    前記開放面とされた前記切断側面に未焼成のセラミック保護層を形成する工程と、
    前記未焼成のセラミック保護層が形成された前記棒状のダミー部付きグリーンブロック体を、前記第1方向に直交する第2方向の切断線に沿って切断することによって、複数の未焼成の部品本体を得る工程と、
    前記ダミー部を除去する工程と、を備えることを特徴とする積層セラミック電子部品の製造方法。
  2. 前記未焼成のセラミック保護層が形成された前記棒状のダミー部付きグリーンブロック体から前記ダミー部を除去する請求項1に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
  3. 前記ダミー部を含む前記棒状のダミー部付きグリーンブロック体の厚みをT、幅をWとしたとき、T/Wの値は、0.6以上、1.7以下である請求項1又は2に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
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