JP7125151B2 - Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system - Google Patents

Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system Download PDF

Info

Publication number
JP7125151B2
JP7125151B2 JP2020072101A JP2020072101A JP7125151B2 JP 7125151 B2 JP7125151 B2 JP 7125151B2 JP 2020072101 A JP2020072101 A JP 2020072101A JP 2020072101 A JP2020072101 A JP 2020072101A JP 7125151 B2 JP7125151 B2 JP 7125151B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
adhesive
control device
adjustment
board assembly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020072101A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020112832A (en
Inventor
正行 齊藤
拓哉 海津
仁志 眞鍋
正明 伊藤
良仁 中澤
Original Assignee
Aiメカテック株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aiメカテック株式会社 filed Critical Aiメカテック株式会社
Priority to JP2020072101A priority Critical patent/JP7125151B2/en
Publication of JP2020112832A publication Critical patent/JP2020112832A/en
Priority to JP2022124440A priority patent/JP7290375B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7125151B2 publication Critical patent/JP7125151B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、基板組立システム、そのシステムに用いる基板組立装置、及び、そのシステムを用いた基板組立方法に関する。 The present invention relates to a board assembly system, a board assembly apparatus used in the system, and a board assembly method using the system.

従来、上基板(ガラス基板)と下基板(ガラス基板)とを真空中で貼り合わせて、液晶パネル等の基板を組み立てる基板組立システムがあった(例えば特許文献1参照)。基板組立システムは、真空チャンバ内で上基板と下基板とを貼り合わせて基板を組み立てる基板組立装置と、基板組立装置の動作を制御する制御装置と、上基板や下基板を基板組立装置の真空チャンバの中に搬入したり、基板組立装置によって組み立てられた基板を真空チャンバの外に搬出したりする搬送装置とを有する構成になっている。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been a substrate assembly system in which an upper substrate (glass substrate) and a lower substrate (glass substrate) are bonded together in a vacuum to assemble a substrate such as a liquid crystal panel (see, for example, Patent Document 1). A substrate assembly system includes a substrate assembly device that assembles substrates by bonding an upper substrate and a lower substrate together in a vacuum chamber, a control device that controls the operation of the substrate assembly device, and a vacuum chamber that separates the upper substrate and the lower substrate from the substrate assembly device. It also has a transport device for loading the substrate into the chamber and for transporting the substrate assembled by the substrate assembly device out of the vacuum chamber.

基板組立装置は、真空チャンバ内に下テーブルと上テーブルとを有している。基板組立装置は、液晶が滴下された下基板を下テーブル上に保持するとともに、上基板を下基板に対向させて上テーブルに保持する。なお、下基板及び上基板のいずれか一方の基板には接着剤が塗布されている。基板組立装置は、真空チャンバ内を真空にし、上テーブルで上基板と下基板とを加圧することによって、いずれか一方の基板に塗布された接着剤で上基板と下基板とを貼り合わせる。これによって、基板組立システムは、液晶パネル等の基板を組み立てる。このような基板組立システムは、上基板と下基板とを貼り合わせるときに生じる誤差を小さくして、貼り合わせの位置精度を高めるために、真空チャンバ内で上基板と下基板とを略平行に配置する必要がある。 A substrate assembly apparatus has a lower table and an upper table in a vacuum chamber. The substrate assembly apparatus holds the lower substrate onto which the liquid crystal has been dropped on the lower table, and holds the upper substrate on the upper table so as to face the lower substrate. An adhesive is applied to one of the lower substrate and the upper substrate. The substrate assembly apparatus evacuates the interior of the vacuum chamber and applies pressure to the upper substrate and the lower substrate with the upper table to bond the upper substrate and the lower substrate together with the adhesive applied to one of the substrates. Thereby, the substrate assembly system assembles substrates such as liquid crystal panels. In such a substrate assembling system, the upper substrate and the lower substrate are arranged substantially parallel to each other in the vacuum chamber in order to reduce the error that occurs when the upper substrate and the lower substrate are attached and to improve the positional accuracy of the attachment. need to be placed.

特許第4379435号公報Japanese Patent No. 4379435

しかしながら、従来の基板組立システムは、下基板に対する上基板の平行調整に手間がかかる、という課題があった。
例えば、従来の基板組立システムにおける平行調整は、調整量が不明なため、状態が良好になったこと(平行度が閾値内に収まったこと)が確認されるまで、人手で上基板の傾きを調整する作業を繰り返し行う。そのため、平行調整は、手間がかかっていた。
However, the conventional board assembly system has a problem that it takes time and effort to adjust the parallelism of the upper board with respect to the lower board.
For example, in the conventional board assembly system, since the adjustment amount is unknown, the inclination of the upper board is manually adjusted until it is confirmed that the state is good (the parallelism is within the threshold). Repeat the adjustment process. Therefore, the parallel adjustment takes time and effort.

本発明は、前記した課題を解決するためになされたものであり、下基板に対する上基板の平行調整の簡易化を図ることができる基板組立システム、そのシステムに用いる基板組立装置、及び、そのシステムを用いた基板組立方法を提供することを主な目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and is a board assembly system capable of simplifying parallel adjustment of an upper board with respect to a lower board, a board assembly apparatus used in the system, and the system. The main object is to provide a board assembly method using

前記目的を達成するため、第1発明は、上基板と下基板とを貼り合わせて基板を組み立てる基板組立システムであって、基板組立装置の動作を制御する制御装置と、前記下基板を保持する下テーブルと、前記上基板を保持する上テーブルと、前記上基板を粘着保持する複数の粘着ピンと、前記粘着ピンと前記上テーブルの上方に配置された上フレームを上下動させることで、前記粘着ピンと前記上テーブルとを上下動させる第1駆動機構と、下面に1つ以上の前記粘着ピンが垂直動作可能に取り付けられている1乃至複数のベース部と、前記上フレームの下面側に配置され、かつ、それぞれの前記ベース部の各部位を独立して上下動させる複数の第2駆動機構と、を備え、前記制御装置は、それぞれの前記第2駆動機構の動作を制御して、それぞれの前記ベース部の各部位の高さを規定する高さ制御部と、前記第1駆動機構の下降量に応じて測定されるそれぞれの前記第2駆動機構の負荷の変動のタイミングに基づいて、それぞれの前記第2駆動機構の動作量の調整用データを算出する調整用データ算出部と、を有し、それぞれの前記第2駆動機構は、負荷に応じた電流量の変動の測定が外部に配置された制御装置で行うことが可能なサーボモータ又はステップモータによって構成されている構成とする。 In order to achieve the above object, a first invention is a substrate assembly system for assembling substrates by bonding an upper substrate and a lower substrate, comprising a control device for controlling the operation of a substrate assembly apparatus, and holding the lower substrate. A lower table, an upper table for holding the upper substrate, a plurality of adhesive pins for adhesively holding the upper substrate, and an upper frame arranged above the adhesive pins and the upper table are moved up and down to move the adhesive pins. a first drive mechanism for moving the upper table up and down; one or more bases having one or more adhesive pins attached to the lower surface so as to be vertically operable ; and a plurality of second driving mechanisms for vertically moving each part of each of the base portions independently, wherein the control device controls the operation of each of the second driving mechanisms to control each of the Based on a height control unit that defines the height of each part of the base portion, and the timing of load fluctuation of each of the second drive mechanisms measured according to the amount of descent of the first drive mechanism, each and an adjustment data calculation unit that calculates adjustment data for the operation amount of the second drive mechanism, and each of the second drive mechanisms has an external device for measuring fluctuations in the amount of current according to the load. It is configured by a servo motor or a step motor that can be controlled by a control device.

この基板組立システムの調整用データ算出部は、第1駆動機構の下降量に応じて測定される各第2駆動機構の負荷の変動のタイミングに基づいて、各第2駆動機構の動作量の調整用データを算出する。基板組立システムの提供者側のエンジニアや利用者側のオペレータは、算出された調整用データを確認することにより、適切な平行調整を容易に行うことができる。そのため、この基板組立システムは、下基板に対する上基板の平行調整の簡易化を図ることができる。 The adjustment data calculator of this circuit board assembly system adjusts the operation amount of each second drive mechanism based on the timing of load fluctuation of each second drive mechanism measured according to the lowering amount of the first drive mechanism. Calculate the data for An engineer on the side of the provider of the board assembly system and an operator on the side of the user can easily perform appropriate parallel adjustment by checking the calculated adjustment data. Therefore, this board assembly system can facilitate parallel adjustment of the upper board with respect to the lower board.

また、第2発明は、上基板と下基板とを真空環境下で貼り合わせて基板を組み立てる基板組立装置であって、前記下基板を保持する下テーブルと、前記上基板を保持する上テーブルと、前記上基板を粘着保持する複数の粘着ピンと、前記粘着ピンと前記上テーブルの上方に配置された上フレームを上下動させることで、前記粘着ピンと前記上テーブルとを上下動させる第1駆動機構と、下面に1つ以上の前記粘着ピンが垂直動作可能に取り付けられている1乃至複数のベース部と、前記上フレームの下面側に配置され、かつ、それぞれの前記ベース部の各部位を独立して上下動させる複数の第2駆動機構と、制御装置と、を備え、前記制御装置は、それぞれの前記第2駆動機構の動作を制御して、前記上基板に対するそれぞれの前記ベース部の各部位の高さを規定する高さ制御部と、前記第1駆動機構の下降量に応じて測定されるそれぞれの前記第2駆動機構の負荷の変動のタイミングに基づいて、それぞれの前記第2駆動機構の動作量の調整用データを算出する調整用データ算出部と、を有する構成とする。 A second aspect of the invention is a substrate assembling apparatus that assembles substrates by bonding an upper substrate and a lower substrate together in a vacuum environment, comprising: a lower table holding the lower substrate; and an upper table holding the upper substrate. a first drive mechanism for vertically moving the adhesive pins and the upper table by vertically moving a plurality of adhesive pins for adhesively holding the upper substrate; and an upper frame disposed above the adhesive pins and the upper table. , one or a plurality of base portions having one or more adhesive pins vertically operably attached to the bottom surface; a plurality of second drive mechanisms for moving up and down by means of a control device; and the control device controls the operation of each of the second drive mechanisms to control each portion of the base portion relative to the upper substrate. and a height control unit that defines the height of each of the second drive mechanisms based on the timing of fluctuations in the load of each of the second drive mechanisms that is measured according to the amount of descent of the first drive mechanism. and an adjustment data calculation unit that calculates adjustment data for the operation amount of the .

また、第3発明は、上基板と下基板とを真空環境下で貼り合わせて基板を組み立てる基板組立方法であって、前記下基板を保持する下テーブルと、前記上基板を保持する上テーブルと、前記上基板を粘着保持する複数の粘着ピンと、前記粘着ピンと前記上テーブルの上方に配置された上フレームを上下動させることで、前記粘着ピンと前記上テーブルとを上下動させる第1駆動機構と、下面に1つ以上の前記粘着ピンが垂直動作可能に取り付けられている1乃至複数のベース部と、前記上フレームの下面側に配置され、かつ、それぞれの前記ベース部の各部位を独立して上下動させる複数の第2駆動機構と、を備えた基板組立装置に対し、前記下テーブルと前記上テーブルとの間に基板を搬入し、前記粘着ピンで前記基板を粘着保持する基板搬入工程と、前記基板の周囲を真空環境下にする真空引き工程と、それぞれの前記第2駆動機構の動作を制御して、それぞれの前記ベース部の各部位の高さを規定した状態で、前記第1駆動機構で前記粘着ピンと前記上テーブルとを下降させることによって、前記基板を前記下テーブル側に加圧するとともに、前記第2駆動機構の負荷を測定する加圧・測定工程と、それぞれの前記第2駆動機構は、負荷に応じた電流量の変動の測定が外部に配置された制御装置で行うことが可能なサーボモータ又はステップモータによって構成されており、前記第1駆動機構の下降量に応じて測定されるそれぞれの前記第2駆動機構の負荷の変動のタイミングに基づいて、それぞれの前記第2駆動機構の動作量の調整用データを算出する調整用データ算出工程と、を含む構成とする。
その他の手段は、後記する。
A third aspect of the invention is a substrate assembly method for assembling substrates by bonding an upper substrate and a lower substrate together in a vacuum environment, comprising a lower table for holding the lower substrate and an upper table for holding the upper substrate. a first drive mechanism for vertically moving the adhesive pins and the upper table by vertically moving a plurality of adhesive pins for adhesively holding the upper substrate; and an upper frame disposed above the adhesive pins and the upper table. , one or a plurality of base portions having one or more adhesive pins vertically operably attached to the bottom surface; and a plurality of second driving mechanisms for vertically moving the substrate by loading the substrate between the lower table and the upper table, and adhesively holding the substrate with the adhesive pins. and a step of vacuuming the periphery of the substrate into a vacuum environment, and controlling the operation of each of the second drive mechanisms to define the height of each part of each of the bases, and a pressing/measuring step of pressing the substrate toward the lower table side by lowering the adhesive pins and the upper table by one driving mechanism and measuring the load of the second driving mechanism; The second drive mechanism is composed of a servo motor or a step motor capable of measuring the fluctuation of the current amount according to the load by a control device arranged outside, and according to the lowering amount of the first drive mechanism and an adjustment data calculation step of calculating adjustment data for the amount of movement of each of the second drive mechanisms based on the timing of variation in the load of each of the second drive mechanisms measured by .
Other means will be described later.

本発明によれば、下基板に対する上基板の平行調整の簡易化を図ることができる。 According to the present invention, parallel adjustment of the upper substrate with respect to the lower substrate can be simplified.

実施形態に係る基板組立システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the board|substrate assembly system which concerns on embodiment. 実施形態で用いる基板組立装置の吊下げ機構の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the suspension mechanism of the board|substrate assembly apparatus used by embodiment. 実施形態で用いる基板組立装置の吸上げ機構の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the suction mechanism of the board|substrate assembly apparatus used by embodiment. 実施形態で用いる基板組立装置の粘着保持機構の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the adhesive holding mechanism of the board|substrate assembly apparatus used by embodiment. 上テーブルの上部基板面の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the upper substrate surface of an upper table. 上テーブルの動作を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically operation|movement of an upper table. 上下動機構の構成を模式的に示す図である。It is a figure which shows the structure of a vertical movement mechanism typically. 実施形態で用いる制御装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the control apparatus used by embodiment. Z軸高さと上下動機構の電動モータの電流値との関係を示すグラフ図である。FIG. 5 is a graph showing the relationship between the Z-axis height and the current value of the electric motor of the vertical motion mechanism; 上下動機構の電動モータの動作状態を示す図である。It is a figure which shows the operating state of the electric motor of a vertical movement mechanism. 基板組立システムのセットアップ中の動作を示すフローチャート(1)である。4 is a flowchart (1) showing the operation during setup of the board assembly system; 基板組立システムのセットアップ中の動作を示すフローチャート(2)である。10 is a flowchart (2) showing the operation during setup of the board assembly system; 基板組立システムのセットアップ中の動作を示すフローチャート(3)である。3 is a flowchart (3) showing the operation during setup of the board assembly system; 基板組立システムのセットアップ中の動作を示すフローチャート(4)である。4 is a flowchart (4) showing the operation during setup of the board assembly system; 基板組立システムの停止中の動作を示すフローチャートである。4 is a flow chart showing the operation of the board assembly system while it is stopped. 基板組立システムの生産中の動作を示すフローチャートである。4 is a flow chart showing the operation of the board assembly system during production; 基板組立システムの加圧・電流測定時の動作を示すフローチャート(1)である。10 is a flowchart (1) showing the operation of the board assembly system during pressurization and current measurement; 基板組立システムの加圧・電流測定時の動作を示すフローチャート(2)である。10 is a flowchart (2) showing the operation of the board assembly system during pressurization and current measurement; 表示画面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a display screen.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態(以下、「本実施形態」と称する)につき詳細に説明する。なお、各図は、本発明を十分に理解できる程度に、概略的に示してあるに過ぎない。よって、本発明は、図示例のみに限定されるものではない。また、各図において、共通する構成要素や同様な構成要素については、同一の符号を付し、それらの重複する説明を省略する。 An embodiment of the present invention (hereinafter referred to as "the present embodiment") will be described in detail below with reference to the drawings. In addition, each figure is only shown roughly to such an extent that the present invention can be fully understood. Accordingly, the present invention is not limited to the illustrated examples only. Moreover, in each figure, the same code|symbol is attached|subjected about a common component and a similar component, and those overlapping description is abbreviate|omitted.

[実施形態]
<基板組立システムの構成>
以下、図1を参照して、本実施形態に係る基板組立システム1000の構成につき説明する。図1は基板組立システム1000の構成を示す図である。
図1に示すように、本実施形態に係る基板組立システム1000は、基板組立装置1と制御装置100と搬送装置200とを有する。
[Embodiment]
<Configuration of board assembly system>
The configuration of a board assembly system 1000 according to this embodiment will be described below with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a board assembly system 1000. As shown in FIG.
As shown in FIG. 1, a board assembly system 1000 according to this embodiment includes a board assembly apparatus 1, a control apparatus 100, and a transport apparatus 200. As shown in FIG.

基板組立装置1は、上基板K1(ガラス基板)と下基板K2(ガラス基板)とを真空中で貼り合わせて、液晶パネル等の基板を組み立てる装置である。
制御装置100は、基板組立装置1の動作を制御する装置である。
搬送装置200は、上基板K1(ガラス基板)や下基板K2(ガラス基板)を基板組立装置1の真空チャンバ5の中に搬入したり、基板組立装置1によって組み立てられた液晶パネル等の基板を真空チャンバ5の外に搬出したりする装置である。
The substrate assembly apparatus 1 is an apparatus that assembles a substrate such as a liquid crystal panel by bonding an upper substrate K1 (glass substrate) and a lower substrate K2 (glass substrate) together in a vacuum.
The control device 100 is a device that controls the operation of the board assembly apparatus 1 .
The transfer device 200 carries the upper substrate K1 (glass substrate) and the lower substrate K2 (glass substrate) into the vacuum chamber 5 of the substrate assembly apparatus 1, and transports substrates such as liquid crystal panels assembled by the substrate assembly apparatus 1. It is a device for carrying out to the outside of the vacuum chamber 5 .

基板組立装置1は、架台1aと上フレーム2とを有する。架台1aは設置面(床面等)に載置される。上フレーム2は架台1aの上方において上下動可能に備わっている。
上フレーム2は、架台1aに取り付けられる第1駆動機構(Z軸駆動機構20)にロードセル20dを介して取り付けられている。本実施形態では、基板組立装置1が4つのZ軸駆動機構20と4つのロードセル20dとを有しているものとして説明する。
A board assembly apparatus 1 has a base 1 a and an upper frame 2 . The pedestal 1a is placed on an installation surface (floor surface, etc.). The upper frame 2 is provided above the pedestal 1a so as to be vertically movable.
The upper frame 2 is attached via a load cell 20d to a first drive mechanism (Z-axis drive mechanism 20) attached to the base 1a. In this embodiment, the board assembly apparatus 1 is described as having four Z-axis drive mechanisms 20 and four load cells 20d.

基板組立装置1には、上テーブル3と下テーブル4とが備わっている。下テーブル4は、XYθ移動ユニット40を介して架台1aに取り付けられている。XYθ移動ユニット40は、架台1aに対して、互いに直交する2軸(X軸,Y軸)方向に独立して可動に構成されている。また、XYθ移動ユニット40は、架台1aに対してZ軸周りに回転可能に構成されている。XYθ移動ユニット40として、Z軸方向には固定されてXY軸方向に自由に移動可能なボールベア等を使用したものが利用できる。 A board assembly apparatus 1 is provided with an upper table 3 and a lower table 4. - 特許庁The lower table 4 is attached to the frame 1a via the XYθ moving unit 40. As shown in FIG. The XY.theta. moving unit 40 is configured to be independently movable with respect to the base 1a in two mutually orthogonal (X-axis, Y-axis) directions. Further, the XYθ moving unit 40 is configured to be rotatable around the Z axis with respect to the gantry 1a. As the XYθ moving unit 40, a unit using a ball bearing or the like that is fixed in the Z-axis direction and freely movable in the XY-axis direction can be used.

なお、本実施形態の基板組立装置1において、架台1aに対する上フレーム2の方向をZ軸方向(上下方向)とする。また、Z軸に対して直交する1軸の方向をX軸方向(横方向)とし、Z軸及びX軸に直交する1軸の方向をY軸方向(縦方向)とする。
また、上テーブル3及び下テーブル4は、Y軸方向及びX軸方向を縦横方向とする矩形となっている。そして、上テーブル3の平面(上部基板面3a)と下テーブル4の平面(下部基板面4a)が対向している。
In the circuit board assembly apparatus 1 of this embodiment, the direction of the upper frame 2 with respect to the base 1a is the Z-axis direction (vertical direction). The direction of one axis orthogonal to the Z axis is defined as the X-axis direction (horizontal direction), and the direction of one axis orthogonal to the Z-axis and the X-axis is defined as the Y-axis direction (vertical direction).
Also, the upper table 3 and the lower table 4 are rectangular with the Y-axis direction and the X-axis direction as the vertical and horizontal directions. The plane of the upper table 3 (upper substrate surface 3a) and the plane of the lower table 4 (lower substrate surface 4a) face each other.

上フレーム2は、4つのZ軸駆動機構20を介して架台1aに取り付けられている。各Z軸駆動機構20は、Z軸方向(上下方向)に延設されるボールねじ軸20aを上下動させるボールねじ機構20bを有する。ボールねじ軸20aは、電動モータ20cで回転し、ボールねじ機構20bによって上下動する。
電動モータ20cは制御装置100で制御される。また、上フレーム2は制御装置100の演算に基づいて変位(上下動)する。
The upper frame 2 is attached to the base 1a via four Z-axis drive mechanisms 20. As shown in FIG. Each Z-axis drive mechanism 20 has a ball screw mechanism 20b for vertically moving a ball screw shaft 20a extending in the Z-axis direction (vertical direction). The ball screw shaft 20a is rotated by an electric motor 20c and vertically moved by a ball screw mechanism 20b.
The electric motor 20 c is controlled by the control device 100 . Further, the upper frame 2 is displaced (vertically moved) based on the calculation of the control device 100 .

上テーブル3は、複数の上シャフト2aを介して上フレーム2に固定されている。上フレーム2と上テーブル3とは一体に上下動する。上テーブル3の周囲には上チャンバ5aが配置されている。上チャンバ5aは、下方(架台1aの側)が開口した構成になっており、上テーブル3の上方及び側方を覆うように配置されている。 The upper table 3 is fixed to the upper frame 2 via a plurality of upper shafts 2a. The upper frame 2 and the upper table 3 move vertically together. An upper chamber 5 a is arranged around the upper table 3 . The upper chamber 5a has a structure in which the lower side (the side of the pedestal 1a) is opened, and is arranged so as to cover the upper side and the side of the upper table 3. As shown in FIG.

上チャンバ5aは、吊下げ機構6を介して上フレーム2に取り付けられている。
図2は、側面方向から見た吊下げ機構6の構成を示す図である。図2に示すように、吊下げ機構6は、上フレーム2から下方に延設される支持軸6aと、支持軸6aの下端部がフランジ状に広がって形成される係止部6bとを有する。
また、上チャンバ5aにはフック6cが備わる。フック6cは、支持軸6aの周囲において自在に上下動する。また、フック6cは、支持軸6aの下端において係止部6bと係合する。
The upper chamber 5 a is attached to the upper frame 2 via a hanging mechanism 6 .
FIG. 2 is a diagram showing the structure of the suspension mechanism 6 viewed from the side. As shown in FIG. 2, the suspension mechanism 6 has a support shaft 6a extending downward from the upper frame 2, and a locking portion 6b formed by widening the lower end of the support shaft 6a into a flange shape. .
Also, the upper chamber 5a is provided with a hook 6c. The hook 6c freely moves up and down around the support shaft 6a. Also, the hook 6c engages with the locking portion 6b at the lower end of the support shaft 6a.

図1に戻り、上シャフト2aは上チャンバ5aを貫通している。上シャフト2aと上チャンバ5aの間は真空シール(図示せず)で密封されている。
上フレーム2が上方に移動(上動)すると、フック6cが支持軸6aの係止部6bと係合し、それに伴って上チャンバ5aが上フレーム2とともに上動する。また、上フレーム2が下方に移動(下動)すると、フック6cが自重で下動し、それに伴って上チャンバ5aが下動する。
Returning to FIG. 1, the upper shaft 2a passes through the upper chamber 5a. A vacuum seal (not shown) seals between the upper shaft 2a and the upper chamber 5a.
When the upper frame 2 moves upward (moves upward), the hook 6c engages with the engaging portion 6b of the support shaft 6a, and the upper chamber 5a moves upward together with the upper frame 2 accordingly. Further, when the upper frame 2 moves downward (moves downward), the hook 6c moves downward under its own weight, and the upper chamber 5a moves downward accordingly.

下テーブル4の下部基板面4aには、図示せぬ複数の吸引孔が開口している。下テーブル4の各吸引孔は真空ポンプP3とつながっている。真空ポンプP3が駆動すると、下部基板面4aに載置された下基板K2が吸着されて下テーブル4(下部基板面4a)で保持される。真空ポンプP3は制御装置100で制御される。
また、下テーブル4の周囲には下チャンバ5bが配置されている。下チャンバ5bは、架台1aに取り付けられている複数の下シャフト1bで支持されている。下シャフト1bは下チャンバ5b内に突出している。下チャンバ5bと下シャフト1bとの間は真空シール(図示せず)で密封されている。
下チャンバ5bは、上方(上フレーム2の側)が開口した構成になっており、下テーブル4の下方及び側方を覆うように配置されている。
A plurality of suction holes (not shown) are opened in the lower substrate surface 4 a of the lower table 4 . Each suction hole of the lower table 4 is connected to a vacuum pump P3. When the vacuum pump P3 is driven, the lower substrate K2 placed on the lower substrate surface 4a is sucked and held by the lower table 4 (lower substrate surface 4a). Vacuum pump P3 is controlled by control device 100 .
A lower chamber 5 b is arranged around the lower table 4 . The lower chamber 5b is supported by a plurality of lower shafts 1b attached to the base 1a. The lower shaft 1b protrudes into the lower chamber 5b. A vacuum seal (not shown) seals between the lower chamber 5b and the lower shaft 1b.
The lower chamber 5b has a configuration in which the upper side (the side of the upper frame 2) is open, and is arranged so as to cover the lower side and the side of the lower table 4. As shown in FIG.

XYθ移動ユニット40は、下チャンバ5b内に突出している下シャフト1bに取り付けられて下テーブル4を支持する。 The XYθ moving unit 40 is attached to the lower shaft 1b protruding into the lower chamber 5b to support the lower table 4. As shown in FIG.

上チャンバ5aと下チャンバ5bとは、互いの開口した部分が合わさって真空チャンバ5を形成する。つまり、下動した上チャンバ5aが下チャンバ5bに上方から係合して、下チャンバ5bの開口が上チャンバ5aで塞がれるように構成されている。なお、上チャンバ5aと下チャンバ5bとの接続部はシールリング(図示せず)で密封され、真空チャンバ5の気密性が確保されている。 The upper chamber 5a and the lower chamber 5b form a vacuum chamber 5 by combining their open portions. That is, the upper chamber 5a moved downward engages with the lower chamber 5b from above, and the opening of the lower chamber 5b is closed by the upper chamber 5a. A connecting portion between the upper chamber 5a and the lower chamber 5b is sealed with a seal ring (not shown), so that the airtightness of the vacuum chamber 5 is ensured.

また、上フレーム2は、上チャンバ5aが下チャンバ5bに接する状態よりもさらに下動可能となっている。これによって、上チャンバ5aの下動が下チャンバ5bによって規制された状態から上フレーム2が下動し、吊下げ機構6における係止部6bとフック6cの係合が解消する。上チャンバ5aは自重で下チャンバ5bに載置した状態になる。そして、真空チャンバ5の内側に上テーブル3と下テーブル4とが配設される。 Further, the upper frame 2 can move further downward than the state where the upper chamber 5a is in contact with the lower chamber 5b. As a result, the upper frame 2 moves downward from the state in which the downward movement of the upper chamber 5a is restricted by the lower chamber 5b, and the engagement between the locking portion 6b and the hook 6c in the suspension mechanism 6 is released. The upper chamber 5a is placed on the lower chamber 5b by its own weight. An upper table 3 and a lower table 4 are arranged inside the vacuum chamber 5 .

基板組立装置1には真空ポンプ機構P0が備わっている。真空ポンプ機構P0は、真空チャンバ5に接続され、真空チャンバ5内の空気を排気して真空チャンバ5内を真空にする。つまり、真空ポンプ機構P0が駆動すると、真空チャンバ5の内部が真空環境になる。真空ポンプ機構P0は制御装置100で制御される。 The substrate assembly apparatus 1 is equipped with a vacuum pump mechanism P0. The vacuum pump mechanism P0 is connected to the vacuum chamber 5 and evacuates the air in the vacuum chamber 5 to evacuate the inside of the vacuum chamber 5 . That is, when the vacuum pump mechanism P0 is driven, the inside of the vacuum chamber 5 becomes a vacuum environment. The vacuum pump mechanism P0 is controlled by the controller 100. FIG.

上テーブル3は、真空チャンバ5の内側において下動する上フレーム2とともに下動する。このような上テーブル3の下動によって、上テーブル3に保持される上基板K1と下テーブル4に保持される下基板K2とが貼り合わされて、上基板K1と下基板K2とが加圧される。真空チャンバ5内が真空状態であれば、上基板K1と下基板K2とが真空で貼り合わせされる。
また、前記したように、上テーブル3は、複数の上シャフト2aを介して上フレーム2に固定される。このため、上テーブル3によって上基板K1と下基板K2とが加圧されるときの荷重がロードセル20dで検出される。ロードセル20dの検出信号は制御装置100に入力される。制御装置100は、ロードセル20dで検出された検出値に基づいて、上テーブル3から基板に加わる荷重を特定する。本実施形態では、基板組立装置1は4つのロードセル20dを有しているため、4つのロードセル20dで検出された検出値の合計値が装置全体の合計荷重値となる。つまり、4つのロードセル20dで検出された検出値の合計値が上テーブル3から基板に加わっている全ての荷重の値となる。
The upper table 3 moves downward together with the upper frame 2 that moves downward inside the vacuum chamber 5 . By such downward movement of the upper table 3, the upper substrate K1 held by the upper table 3 and the lower substrate K2 held by the lower table 4 are stuck together, and the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are pressed. be. If the vacuum chamber 5 is in a vacuum state, the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are bonded together in vacuum.
Further, as described above, the upper table 3 is fixed to the upper frame 2 via a plurality of upper shafts 2a. Therefore, the load when the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are pressed by the upper table 3 is detected by the load cell 20d. A detection signal from the load cell 20 d is input to the control device 100 . The control device 100 specifies the load applied to the substrate from the upper table 3 based on the detected value detected by the load cell 20d. In this embodiment, since the board assembly apparatus 1 has four load cells 20d, the total value of the detection values detected by the four load cells 20d is the total load value of the entire apparatus. That is, the total value of the detection values detected by the four load cells 20d becomes the value of all the loads applied from the upper table 3 to the substrate.

なお、基板組立システム1000は制御装置100によってZ軸駆動機構20で上下動される上テーブル3のZ軸座標を管理している。ただし、一般的に上基板K1と下基板K2は製品毎に厚さに公差を有する。そのため、上基板K1と下基板K2との密着状態を上テーブル3の下降量で監視することは困難である。そこで、基板組立システム1000は4つのロードセル20dによって検出される荷重の値に基づいて上基板K1と下基板K2との密着状態を管理している。 The board assembly system 1000 manages the Z-axis coordinates of the upper table 3 vertically moved by the Z-axis driving mechanism 20 by the control device 100 . However, the upper substrate K1 and the lower substrate K2 generally have a thickness tolerance for each product. Therefore, it is difficult to monitor the close contact state between the upper substrate K1 and the lower substrate K2 by the amount of descent of the upper table 3 . Therefore, the substrate assembly system 1000 manages the contact state between the upper substrate K1 and the lower substrate K2 based on the load values detected by the four load cells 20d.

(吸上げ機構の構成)
図3は吸上げ機構7の構成を示す図である。吸上げ機構7は、吸上げピン7aを上下動させたり、吸上げピン7aによる上基板K1や後記する図示せぬダミー基板を吸上げたりするための機構である。吸上げ機構7は上フレーム2に取り付けられている。
(Configuration of suction mechanism)
FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the suction mechanism 7. As shown in FIG. The suction mechanism 7 is a mechanism for moving the suction pins 7a up and down and for sucking up the upper substrate K1 or a dummy substrate (not shown) to be described later by the suction pins 7a. A suction mechanism 7 is attached to the upper frame 2 .

図3に示すように、吸上げ機構7は、複数の吸上げピン7a、1乃至複数の吸上げピンパッド7b、及び、上下動機構70を備えている。吸上げピン7aは、上下方向に延設される管状部材であって、上テーブル3とは独立して上下動可能に備わっている。各吸上げピン7aは、1乃至複数の吸上げピンパッド7bに取り付けられている。各吸上げピンパッド7bには1つ以上の複数の吸上げピン7aが取り付けられている。各吸上げピン7aは、吸上げピンパッド7bが上下動することにより、同時に上下動する。吸上げピンパッド7bは、上チャンバ5aと上テーブル3の間に配置される。吸上げピンパッド7bは上下動機構70で上下動する。 As shown in FIG. 3, the suction mechanism 7 includes a plurality of suction pins 7a, one or more suction pin pads 7b, and a vertical movement mechanism 70. As shown in FIG. The suction pin 7a is a tubular member that extends vertically, and is provided so as to be vertically movable independently of the upper table 3. As shown in FIG. Each wicking pin 7a is attached to one or more wicking pin pads 7b. One or more wicking pins 7a are attached to each wicking pin pad 7b. Each suction pin 7a moves up and down at the same time as the suction pin pad 7b moves up and down. A suction pin pad 7 b is arranged between the upper chamber 5 a and the upper table 3 . The suction pin pad 7b is vertically moved by a vertical movement mechanism 70. As shown in FIG.

本実施形態では、上下動機構70がボールねじ機構によって構成されている場合を想定して説明する。上下動機構70は、後記する上下動機構80(図4参照)と同様に、取付部80aに回転自在に支持されてZ軸方向に延設されるボールねじ軸71と、ボールねじ軸71を回転させる電動モータ73と、回転するボールねじ軸71によって上下動するボールねじ機構72と、を有する。取付部80aは、上フレーム2に固定されており、後記する上下動機構80のボールねじ軸81(図4参照)とともに、上下動機構70のボールねじ軸71を支持している。ボールねじ軸71は電動モータ73で回転し、ボールねじ機構72を上下動させる。そして、ボールねじ機構72は吸上げピンパッド7bに取り付けられる。ボールねじ軸71の回転で上下動するボールねじ機構72と一体に吸上げピンパッド7bが上下動する。 In the present embodiment, description will be made on the assumption that the vertical movement mechanism 70 is configured by a ball screw mechanism. Similar to the vertical movement mechanism 80 (see FIG. 4) described later, the vertical movement mechanism 70 includes a ball screw shaft 71 that is rotatably supported by the mounting portion 80a and extends in the Z-axis direction, and the ball screw shaft 71. It has an electric motor 73 for rotation and a ball screw mechanism 72 for vertical movement by a rotating ball screw shaft 71 . The attachment portion 80a is fixed to the upper frame 2, and supports the ball screw shaft 71 of the vertical movement mechanism 70 together with the ball screw shaft 81 (see FIG. 4) of the vertical movement mechanism 80, which will be described later. The ball screw shaft 71 is rotated by an electric motor 73 to vertically move the ball screw mechanism 72 . The ball screw mechanism 72 is attached to the suction pin pad 7b. The suction pin pad 7b moves up and down integrally with the ball screw mechanism 72 which moves up and down as the ball screw shaft 71 rotates.

上下動機構70は制御装置100で制御され、制御装置100の指令に応じて吸上げピンパッド7bと吸上げピン7aが上下動する。 The vertical movement mechanism 70 is controlled by the control device 100, and the suction pin pads 7b and the suction pins 7a are moved up and down according to commands from the control device 100. FIG.

吸上げピン7aは上テーブル3の平面(上部基板面3a)よりも上方に配置され、上テーブル3に対して下動した時に上部基板面3aから下方に突出する。なお、上部基板面3aは下テーブル4(図1参照)に対向する平面となる。 The suction pins 7a are arranged above the plane of the upper table 3 (upper substrate surface 3a), and protrude downward from the upper substrate surface 3a when moved downward with respect to the upper table 3. As shown in FIG. The upper substrate surface 3a is a flat surface facing the lower table 4 (see FIG. 1).

また、吸上げピン7aは中空の管状を呈し、その中空部7a1は吸上げピンパッド7bの中空部7b1と連通する。吸上げピンパッド7bの中空部7b1には真空ポンプP1が接続される。真空ポンプP1が駆動すると中空部7a1,7b1が真空になり、上基板K1が吸上げピン7aに真空吸着される。真空ポンプP1は制御装置100で制御される。つまり、制御装置100の指令に応じて真空ポンプP1が駆動して吸上げピン7aに上基板K1が真空吸着される。 The suction pin 7a has a hollow tubular shape, and its hollow portion 7a1 communicates with the hollow portion 7b1 of the suction pin pad 7b. A vacuum pump P1 is connected to the hollow portion 7b1 of the suction pin pad 7b. When the vacuum pump P1 is driven, the hollow portions 7a1 and 7b1 are evacuated, and the upper substrate K1 is vacuum-sucked by the suction pins 7a. Vacuum pump P1 is controlled by controller 100 . That is, the vacuum pump P1 is driven according to a command from the control device 100, and the upper substrate K1 is vacuum-sucked by the suction pins 7a.

(粘着保持機構の構成)
図4は粘着保持機構8の構成を示す図である。粘着保持機構8は、粘着ピン8aを上下動させたり、粘着ピン8aによる上基板K1や図示せぬダミー基板を粘着吸引したりするための機構である。粘着保持機構8は上フレーム2に取り付けられている。
(Structure of Adhesive Holding Mechanism)
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the adhesive holding mechanism 8. As shown in FIG. The adhesive holding mechanism 8 is a mechanism for moving the adhesive pins 8a up and down, and adhesively sucking the upper substrate K1 and the dummy substrate (not shown) by the adhesive pins 8a. The adhesive holding mechanism 8 is attached to the upper frame 2 .

図4に示すように、粘着保持機構8は、複数の粘着ピン8a、1乃至複数の粘着ピンプレート8b、及び、上下動機構80を備えている。粘着ピン8aは、上下方向に延設される管状部材であって、上テーブル3及び吸上げピン7aとは独立して上下動可能に備わっている。粘着ピン8aの上下動は、上テーブル3の上部基板面3aに対する垂直動作になる。粘着ピン8aは、上テーブル3の上部基板面3aよりも上方に配置され、上テーブル3に対して下動した時に上部基板面3aから下方に突出する。また、粘着ピン8aは上動して上部基板面3aから引き込まれる。本実施形態では、上部基板面3aから粘着ピン8aが突出していない状態、つまり、粘着ピン8aの突出量がゼロ(又はそれ以下)の状態を、粘着ピン8aが上部基板面3aから引き込まれた状態とする。そして、粘着ピン8aは、下動して上部基板面3aから突出する。なお、粘着ピン8aの突出量は、上部基板面3aからの粘着ピン8aの突出量を示す(以下、同じ)。 As shown in FIG. 4, the adhesive holding mechanism 8 includes a plurality of adhesive pins 8a, one or more adhesive pin plates 8b, and a vertical movement mechanism 80. As shown in FIG. The adhesive pin 8a is a tubular member extending in the vertical direction, and is provided so as to be vertically movable independently of the upper table 3 and the suction pin 7a. The vertical movement of the adhesive pin 8a is a vertical movement with respect to the upper substrate surface 3a of the upper table 3. As shown in FIG. The adhesive pins 8a are arranged above the upper substrate surface 3a of the upper table 3, and protrude downward from the upper substrate surface 3a when the upper table 3 is moved downward. Also, the adhesive pin 8a moves upward and is pulled in from the upper substrate surface 3a. In the present embodiment, the state in which the adhesive pin 8a does not protrude from the upper substrate surface 3a, that is, the state in which the amount of protrusion of the adhesive pin 8a is zero (or less) is the state in which the adhesive pin 8a is pulled in from the upper substrate surface 3a. state. Then, the adhesive pin 8a moves downward to protrude from the upper substrate surface 3a. The amount of protrusion of the adhesive pin 8a indicates the amount of protrusion of the adhesive pin 8a from the upper substrate surface 3a (same below).

各粘着ピン8aは、1乃至複数の粘着ピンプレート8b(ベース部)に取り付けられている。各粘着ピンプレート8bには1つ以上の粘着ピン8aが取り付けられる。各粘着ピンプレート8bは独立して上下動(上部基板面3aに対する垂直動作)可能になっている。 Each adhesive pin 8a is attached to one or more adhesive pin plates 8b (base portion). One or more adhesive pins 8a are attached to each adhesive pin plate 8b. Each adhesive pin plate 8b is capable of vertical movement (perpendicular movement with respect to the upper substrate surface 3a) independently.

粘着ピン8aは、先端に、弾性材によって構成され、かつ、粘着性を有する粘着部8cを有する。また、粘着ピン8aは中空の管状を呈し、中心に真空吸着孔8dが開口している。真空吸着孔8dは粘着ピンプレート8bの中空部として形成される負圧室8b1と連通する。粘着ピンプレート8bの負圧室8b1には真空ポンプP2真空ポンプP2が接続される。したがって、粘着ピン8aの真空吸着孔8dには負圧室8b1を介して真空ポンプP2が接続される。 The adhesive pin 8a has, at its tip, an adhesive portion 8c made of an elastic material and having adhesiveness. The adhesive pin 8a has a hollow tubular shape and has a vacuum suction hole 8d at its center. The vacuum suction hole 8d communicates with a negative pressure chamber 8b1 formed as a hollow portion of the adhesive pin plate 8b. A vacuum pump P2 is connected to the negative pressure chamber 8b1 of the adhesive pin plate 8b. Therefore, the vacuum pump P2 is connected to the vacuum suction hole 8d of the adhesive pin 8a through the negative pressure chamber 8b1.

粘着ピン8aは、真空ポンプP2が駆動して真空吸着孔8dが真空状態となったときに上基板K1を真空吸引し、さらに、真空吸引された上基板K1を粘着部8cに貼りつけて保持(粘着保持)する。粘着ピン8aは上部基板面3aから突出した状態のときに上基板K1を保持する。
真空ポンプP2は制御装置100で制御される。上基板K1は、制御装置100の指令に応じて粘着ピン8aに真空吸引されて粘着部8cに貼りつけられる。
The adhesive pin 8a vacuum-sucks the upper substrate K1 when the vacuum suction hole 8d is evacuated by driving the vacuum pump P2, and further adheres and holds the vacuum-sucked upper substrate K1 to the adhesive portion 8c. (Adhesive retention). The adhesive pins 8a hold the upper substrate K1 when protruding from the upper substrate surface 3a.
Vacuum pump P2 is controlled by control device 100 . The upper substrate K1 is vacuum-sucked by the adhesive pins 8a in accordance with a command from the control device 100 and attached to the adhesive portion 8c.

粘着ピンプレート8bの負圧室8b1にはガス供給手段8eが接続される。ガス供給手段8eは制御装置100で制御される。ガス供給手段8eは制御装置100の指令に応じて駆動し負圧室8b1に所定のガス(空気や窒素ガスなど)を供給する。ガス供給手段8eから供給されるガスによって負圧室8b1と真空吸着孔8dが昇圧し、粘着部8cに貼りついている上基板K1が粘着部8cから剥離する。 A gas supply means 8e is connected to the negative pressure chamber 8b1 of the adhesive pin plate 8b. The gas supply means 8e is controlled by the controller 100. FIG. The gas supply means 8e is driven according to a command from the control device 100 to supply a predetermined gas (air, nitrogen gas, etc.) to the negative pressure chamber 8b1. The negative pressure chamber 8b1 and the vacuum suction holes 8d are pressurized by the gas supplied from the gas supply means 8e, and the upper substrate K1 adhered to the adhesive portion 8c is peeled off from the adhesive portion 8c.

各粘着ピンプレート8bには第2駆動機構(上下動機構80)が備わっている。上下動機構80は、取付部80aに回転自在に支持されてZ軸方向に延設されるボールねじ軸81と、ボールねじ軸81を回転させる電動モータ83と、回転するボールねじ軸81によって上下動するボールねじ機構82と、を有する。取付部80aは上フレーム2に固定されている。ボールねじ軸81は、電動モータ83で回転し、ボールねじ機構82を上下動させる。そして、ボールねじ機構82は粘着ピンプレート8bに取り付けられる。ボールねじ軸81の回転で上下動するボールねじ機構82と一体に粘着ピンプレート8bが上下動する。
上下動機構80は制御装置100で制御され、制御装置100の指令に応じて粘着ピンプレート8bと粘着ピン8aが上下動する。
Each adhesive pin plate 8b is provided with a second drive mechanism (vertical movement mechanism 80). The vertical movement mechanism 80 is configured by a ball screw shaft 81 rotatably supported by the mounting portion 80a and extending in the Z-axis direction, an electric motor 83 that rotates the ball screw shaft 81, and the ball screw shaft 81 that rotates. and a moving ball screw mechanism 82 . The mounting portion 80 a is fixed to the upper frame 2 . The ball screw shaft 81 is rotated by an electric motor 83 to vertically move the ball screw mechanism 82 . The ball screw mechanism 82 is attached to the adhesive pin plate 8b. The adhesive pin plate 8b moves up and down integrally with the ball screw mechanism 82 which moves up and down as the ball screw shaft 81 rotates.
The vertical movement mechanism 80 is controlled by the control device 100, and the adhesive pin plate 8b and the adhesive pins 8a are moved up and down according to commands from the control device 100. FIG.

取付部80aは上フレーム2に取り付けられ、上フレーム2と一体に上下動する。また、上テーブル3は上フレーム2と一体に上下動する。上フレーム2はZ軸駆動機構20(図1参照)で上下動し、上フレーム2が下動すると、上テーブル3と取付部80aとは下動する。その結果、上テーブル3と取付部80aとが下テーブル4(図1参照)に向かって進行する。上下動機構80は取付部80aに取り付けられており、取付部80aの上下動に応じて粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)が上下動する。したがって、Z軸駆動機構20(第1駆動機構)は、粘着ピン8aと上テーブル3を下テーブル4に向かって進行させる機能を有する。 The mounting portion 80a is mounted on the upper frame 2 and vertically moves together with the upper frame 2. As shown in FIG. Further, the upper table 3 moves vertically together with the upper frame 2 . The upper frame 2 is vertically moved by the Z-axis drive mechanism 20 (see FIG. 1), and when the upper frame 2 is moved downward, the upper table 3 and the mounting portion 80a are moved downward. As a result, the upper table 3 and the mounting portion 80a advance toward the lower table 4 (see FIG. 1). The vertical movement mechanism 80 is attached to the mounting portion 80a, and the adhesive pin plate 8b (adhesive pin 8a) moves up and down according to the vertical movement of the mounting portion 80a. Therefore, the Z-axis drive mechanism 20 (first drive mechanism) has a function of advancing the adhesive pin 8 a and the upper table 3 toward the lower table 4 .

なお、本実施形態では、上テーブル3は、バックプレート30とクッションシート31とを有する。バックプレート30はクッションシート30を支持する板材であり、剛性材によって構成されている。クッションシート30は弾性材によって構成されたシート材である。バックプレート30は上シャフト2aに取り付けられ、上フレーム2と一体に上下動する。バックプレート30は、下テーブル4の下部基板面4a(図1参照)と平行に配置される板状の部材である。また、クッションシート30は下部基板面4aと対向している。 In addition, in this embodiment, the upper table 3 has a back plate 30 and a cushion seat 31 . The back plate 30 is a plate material that supports the cushion seat 30 and is made of a rigid material. The cushion sheet 30 is a sheet material made of an elastic material. The back plate 30 is attached to the upper shaft 2a and vertically moves together with the upper frame 2. - 特許庁The back plate 30 is a plate-like member arranged parallel to the lower substrate surface 4a (see FIG. 1) of the lower table 4. As shown in FIG. Also, the cushion sheet 30 faces the lower substrate surface 4a.

(上部基板面の構成)
図5は上テーブル3の上部基板面3aの構成を示す図であり、粘着ピン8aの配置の一例を示している。
図5に示すように、本実施形態では、81個の粘着ピン8aが上テーブル3に設けられた構成になっている。9個の粘着ピン8aが矩形を呈する1つの粘着ピンプレート8bの下面側に取り付けられる。そして、9個の粘着ピンプレート8bが1つの上テーブル3の上に配置されている。また、1個の粘着ピンプレート8bに4つの上下動機構80が設けられている。上下動機構80は、例えば、矩形を呈する各粘着ピンプレート8bの4隅に1つずつ合計4つ設けられている。9個の粘着ピンプレート8bは上下動機構80によって、互いに独立して上下動可能になっている。ただし、粘着ピン8aの個数は、運用に応じて適宜変更することができる。また、粘着ピンプレート8bの個数も、運用に応じて適宜変更することができ、例えば1個や4個又は他の個数にすることもできる。
(Structure of upper substrate surface)
FIG. 5 is a diagram showing the configuration of the upper substrate surface 3a of the upper table 3, showing an example of the arrangement of the adhesive pins 8a.
As shown in FIG. 5, in this embodiment, the upper table 3 is provided with 81 adhesive pins 8a. Nine adhesive pins 8a are attached to the lower surface side of one adhesive pin plate 8b having a rectangular shape. Nine adhesive pin plates 8 b are arranged on one upper table 3 . Four vertical movement mechanisms 80 are provided for one adhesive pin plate 8b. For example, a total of four vertical movement mechanisms 80 are provided, one at each of the four corners of each adhesive pin plate 8b having a rectangular shape. The nine adhesive pin plates 8b can be vertically moved independently of each other by a vertically moving mechanism 80. As shown in FIG. However, the number of adhesive pins 8a can be appropriately changed according to the operation. Also, the number of adhesive pin plates 8b can be appropriately changed according to the operation, and can be, for example, one, four, or another number.

このように、本実施形態の上下動機構80(第2駆動機構)は、複数(9個)の粘着ピンプレート8bをそれぞれ独立して上下動(上部基板面3aに対する垂直動作)させることが可能に構成されている。 Thus, the vertical movement mechanism 80 (second drive mechanism) of the present embodiment can independently vertically move the plurality (nine) of the adhesive pin plates 8b (perpendicular movement with respect to the upper substrate surface 3a). is configured to

そして、上下動機構80は、粘着ピンプレート8bごとに設定される突出量で、粘着ピン8aを上部基板面3aから突出させることができる。これによって、粘着ピン8aは、粘着ピンプレート8bごとに設定される突出量で上部基板面3aから突出した状態で上基板K1(図1参照)を保持可能になっている。 The vertical movement mechanism 80 can cause the adhesive pins 8a to protrude from the upper substrate surface 3a by a protrusion amount set for each adhesive pin plate 8b. As a result, the adhesive pins 8a can hold the upper substrate K1 (see FIG. 1) while protruding from the upper substrate surface 3a by a protrusion amount set for each adhesive pin plate 8b.

(上テーブルの動作)
図6は、上テーブル3の動作を模式的に示す図である。図6(a)は、上基板K1と下基板K2とを貼り合わせる直前の状態を示しており、図6(b)は、上基板K1と下基板K2とを貼り合わせるときの状態を示している。
(Operation of upper table)
FIG. 6 is a diagram schematically showing the operation of the upper table 3. As shown in FIG. FIG. 6(a) shows the state immediately before bonding the upper substrate K1 and the lower substrate K2 together, and FIG. 6(b) shows the state when the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are bonded together. there is

図6(a)に示すように、上基板K1と下基板K2とを貼り合わせる直前の状態において、下基板K2は下テーブル4に載置されている。そして、上基板K1は、下基板K2の上方で、上テーブル3を貫通する複数の粘着ピン8aによって保持されている。 As shown in FIG. 6A, the lower substrate K2 is placed on the lower table 4 immediately before the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are bonded together. The upper substrate K1 is held above the lower substrate K2 by a plurality of adhesive pins 8a passing through the upper table 3. As shown in FIG.

図6(b)に示すように、基板組立装置1は、上基板K1と下基板K2とを貼り合わせるときに、Z軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を下動することによって、上テーブル3とともに各粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)を下動させる。これによって基板組立装置1は、上フレーム2及び上テーブル3と下テーブル4とで上基板K1と下基板K2とを加圧して、上基板K1と下基板K2とを貼り合わせる。 As shown in FIG. 6B, the substrate assembly apparatus 1 drives the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 downward when bonding the upper substrate K1 and the lower substrate K2 together. Each adhesive pin plate 8b (adhesive pin 8a) is moved downward together with the upper table 3 . As a result, the board assembly apparatus 1 presses the upper board K1 and the lower board K2 with the upper frame 2, the upper table 3, and the lower table 4 to bond the upper board K1 and the lower board K2 together.

(粘着保持機構の上下動機構の構成)
図7は、粘着保持機構8の上下動機構80の構成を模式的に示す図である。図7(a)は基板組立装置1の全体の上下動機構80の構成を模式的に示しており、図7(b)は任意の1つの粘着ピンプレート8bをプレートPL1とし、プレートPL1における上下動機構80の構成を模式的に示している。
(Structure of Vertical Movement Mechanism of Adhesive Holding Mechanism)
FIG. 7 is a diagram schematically showing the configuration of the vertical movement mechanism 80 of the adhesive holding mechanism 8. As shown in FIG. FIG. 7(a) schematically shows the configuration of the vertical movement mechanism 80 of the entire board assembly apparatus 1, and FIG. The structure of the movement mechanism 80 is shown typically.

図7(a)に示すように、本実施形態では、基板組立装置1は9つの矩形状の粘着ピンプレート8bを有している。各粘着ピンプレート8bの少なくとも四隅には、粘着ピンプレート8bの各部位(四隅)を上下動させる4つの上下動機構80が取り付けられている。 As shown in FIG. 7A, in this embodiment, the substrate assembly apparatus 1 has nine rectangular adhesive pin plates 8b. At least four corners of each adhesive pin plate 8b are attached with four vertical movement mechanisms 80 for vertically moving each part (four corners) of the adhesive pin plate 8b.

ここで、4つの上下動機構80をそれぞれ軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4(図7(b)参照)と称する。軸Ax1と軸Ax4は矩形の隣り合わない2つの頂点を結ぶ対角線上に配置されている。軸Ax2と軸Ax3は別の2つの頂点を結ぶ対角線上に配置されている。 Here, the four vertical motion mechanisms 80 are respectively referred to as axes Ax1, Ax2, Ax3, and Ax4 (see FIG. 7(b)). Axis Ax1 and axis Ax4 are arranged on a diagonal line connecting two non-adjacent vertices of the rectangle. Axis Ax2 and axis Ax3 are arranged on a diagonal line connecting two other vertices.

図7(b)に示すように、各上下動機構80は、ボールねじ軸81とボールねじ機構82と電動モータ83とを有する。ボールねじ機構82は、粘着ピンプレート8bと一体に形成されており、ボールねじ軸81と螺合している。電動モータ83は、ボールねじ軸81を回転駆動させることによって、粘着ピンプレート8bの各部位(四隅)を上下動させる。 As shown in FIG. 7B, each vertical movement mechanism 80 has a ball screw shaft 81, a ball screw mechanism 82, and an electric motor 83. As shown in FIG. The ball screw mechanism 82 is formed integrally with the adhesive pin plate 8b and is screwed with the ball screw shaft 81 . The electric motor 83 rotates the ball screw shaft 81 to move each part (four corners) of the adhesive pin plate 8b up and down.

電動モータ83は、アンプ211及びプログラマブルロジックコントローラ(PLC)212を介して制御装置100に接続されている。本実施形態では、PLC212を介して制御装置100で各電動モータ83の動作量(回転角度)を規定することができるように、電動モータ83としてサーボモータが用いられている。そのため、制御装置100は、電動モータ83の動作量(回転角度)を制御することによって、各軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4における上フレーム2から粘着ピンプレート8bまでの距離を規定することができる。つまり、制御装置100は、粘着ピンプレート8bの各部位(四隅)の高さを規定することができる。 The electric motor 83 is connected to the controller 100 via an amplifier 211 and programmable logic controller (PLC) 212 . In this embodiment, a servomotor is used as the electric motor 83 so that the control device 100 can define the operation amount (rotation angle) of each electric motor 83 via the PLC 212 . Therefore, the control device 100 can regulate the distance from the upper frame 2 to the adhesive pin plate 8b on each axis Ax1, Ax2, Ax3, Ax4 by controlling the operation amount (rotational angle) of the electric motor 83. . That is, the control device 100 can define the height of each portion (four corners) of the adhesive pin plate 8b.

<制御装置の構成>
以下、図8を参照して、制御装置100の構成につき説明する。図8は、制御装置100の構成を示す図である。
<Configuration of control device>
The configuration of the control device 100 will be described below with reference to FIG. FIG. 8 is a diagram showing the configuration of the control device 100. As shown in FIG.

図8に示すように、制御装置100は、制御部110、ROMやRAM、HDD等の記憶部160、スピーカ170、液晶ディスプレイ等の表示部180、及び、タッチパネルやテンキー、キーボード等の入力部190を有している。 As shown in FIG. 8, the control device 100 includes a control unit 110, a storage unit 160 such as a ROM, a RAM, and an HDD, a speaker 170, a display unit 180 such as a liquid crystal display, and an input unit 190 such as a touch panel, numeric keypad, and keyboard. have.

制御部110は、CPUによって構成され、記憶部160に予め格納された制御プログラムPr1を実行することによって、高さ制御部111、移動制御部112、真空プロセス制御部113、測定部121、調整用データ算出部122、調整モード選択部123、変化監視部124、自動調整部131、及び、手動調整部132として機能する。 The control unit 110 is configured by a CPU, and by executing a control program Pr1 stored in advance in the storage unit 160, the height control unit 111, the movement control unit 112, the vacuum process control unit 113, the measurement unit 121, the adjustment It functions as a data calculator 122 , an adjustment mode selector 123 , a change monitor 124 , an automatic adjuster 131 and a manual adjuster 132 .

高さ制御部111は、上下動機構70,80の動作を制御する機能手段である。高さ制御部111は、上下動機構70,80を駆動して、吸上げピンパッド7bの高さ調整や粘着ピンプレート8bの各部位(四隅)の高さ調整を制御する。
移動制御部112は、Z軸駆動機構20及びXYθ移動ユニット40の動作を制御する機能手段である。移動制御部112は、Z軸駆動機構20の電動モータ20cを駆動して、上フレーム2を上下動することによって、上テーブル3とともに各粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)を上下動させる。また移動制御部112は、XYθ移動ユニット40の移動機構41を駆動して、下テーブル4を変位させて、上基板K1と下基板K2との貼り合せ位置を決める。
The height control unit 111 is functional means for controlling the operations of the vertical motion mechanisms 70 and 80 . The height control unit 111 drives the vertical movement mechanisms 70 and 80 to control the height adjustment of the suction pin pad 7b and the height adjustment of each part (four corners) of the adhesive pin plate 8b.
The movement control section 112 is functional means for controlling the operations of the Z-axis drive mechanism 20 and the XYθ movement unit 40 . The movement control unit 112 drives the electric motor 20c of the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 up and down, thereby moving the upper table 3 and each adhesive pin plate 8b (adhesive pin 8a) up and down. The movement control unit 112 also drives the movement mechanism 41 of the XYθ movement unit 40 to displace the lower table 4 and determine the bonding position between the upper substrate K1 and the lower substrate K2.

真空プロセス制御部113は、上チャンバ5a、真空ポンプ機構P0、真空ポンプP1,P2,P3の動作を制御する機能手段である。
測定部121は、各上下動機構80の負荷(本実施形態では、各電動モータ83に流れる保持電流の電流値(保持電流値))を測定する機能手段である。測定部121は、測定データD2として、電動モータ83の保持電流値の変動したタイミングデータと粘着ピンプレート8bの高さデータとを同時に記憶部160に記録する。測定部121は、各上下動機構80の負荷の変動のタイミングに応じて各粘着ピンプレート8bの各部位(四隅)の平行状態を判定するモニタリング機能を有する。
The vacuum process controller 113 is functional means for controlling the operations of the upper chamber 5a, the vacuum pump mechanism P0, and the vacuum pumps P1, P2, and P3.
The measuring unit 121 is functional means for measuring the load of each vertical movement mechanism 80 (in the present embodiment, the current value of the holding current flowing through each electric motor 83 (holding current value)). The measurement unit 121 simultaneously records the timing data when the holding current value of the electric motor 83 fluctuates and the height data of the adhesive pin plate 8b in the storage unit 160 as the measurement data D2. The measuring unit 121 has a monitoring function to determine the parallel state of each part (four corners) of each adhesive pin plate 8b according to the timing of load fluctuation of each vertical movement mechanism 80 .

調整用データ算出部122は、後記する調整用データD3を算出する機能手段である。
調整モード選択部123は、自動調整モードや手動調整モード等の調整モードを選択的に受け付ける機能手段である。
変化監視部124は、経年変化やその他の要因による粘着ピンプレート8bの各部位(四隅)の高さ(平行度)や各電動モータ83の保持電流値等の変化の大きさを監視する機能手段である。
The adjustment data calculator 122 is functional means for calculating adjustment data D3, which will be described later.
The adjustment mode selection unit 123 is functional means for selectively accepting an adjustment mode such as an automatic adjustment mode or a manual adjustment mode.
The change monitoring unit 124 is a functional means for monitoring the magnitude of change in the height (parallelism) of each portion (four corners) of the adhesive pin plate 8b and the holding current value of each electric motor 83 due to aging or other factors. is.

自動調整部131は、自動調整モードを実行する機能手段である。自動調整モードは、調整用データ算出部122によって算出された調整用データD3に基づいて制御装置100が平行調整を自動的に行うモードである。
手動調整部132は、手動調整モードを実行する機能手段である。手動調整モードは、エンジニアやオペレータの手動による調整値の入力を受け付けることによって平行調整を行うモードである。ここで、エンジニアは、基板組立システム1000の提供者側の人物である。また、オペレータは、基板組立システム1000の利用者側の人物である。手動調整モードは、エンジニアやオペレータが各基板の平行調整の状態を個々に確認しながら、製品を生産する場合に適している。
The automatic adjustment unit 131 is functional means that executes an automatic adjustment mode. The automatic adjustment mode is a mode in which the control device 100 automatically performs parallel adjustment based on the adjustment data D3 calculated by the adjustment data calculator 122 .
The manual adjustment unit 132 is functional means for executing the manual adjustment mode. The manual adjustment mode is a mode in which parallel adjustment is performed by accepting manual input of adjustment values by an engineer or operator. Here, the engineer is a person on the provider side of the board assembly system 1000 . Also, the operator is a person on the user side of the board assembly system 1000 . The manual adjustment mode is suitable for production while engineers and operators individually check the parallel adjustment status of each board.

記憶部160は、例えば、制御プログラムPr1、設定データD1、測定データD2、調整用データD3、蓄積測定データD4等を記憶する。
制御プログラムPr1は、制御装置100の動作を規定するプログラムである。
設定データD1は、基板組立装置1の動作の設定値を表すデータである。
測定データD2は、各上下動機構80の各電動モータ83の保持電流値の測定結果を表すデータである。
調整用データD3は、各上下動機構80の各電動モータ83の動作量(回転角度)の調整値を表すデータである。調整用データD3の詳細については後記する。
蓄積測定データD4は、過去に測定された各上下動機構80の各電動モータ83の保持電流値の測定結果を表すデータである。
The storage unit 160 stores, for example, a control program Pr1, setting data D1, measurement data D2, adjustment data D3, accumulated measurement data D4, and the like.
The control program Pr1 is a program that defines the operation of the control device 100. FIG.
The setting data D<b>1 is data representing setting values for the operation of the board assembly apparatus 1 .
The measurement data D2 is data representing the measurement result of the holding current value of each electric motor 83 of each vertical movement mechanism 80 .
The adjustment data D3 is data representing an adjustment value of the operation amount (rotational angle) of each electric motor 83 of each vertical movement mechanism 80 . Details of the adjustment data D3 will be described later.
The accumulated measurement data D4 is data representing the measurement result of the holding current value of each electric motor 83 of each vertical movement mechanism 80 measured in the past.

<電動モータの電流値の変化例>
以下、図9を参照して、電動モータ83の電流値の変化例につき説明する。なお、本実施形態において「平行調整」とは、粘着保持機構8の上下動機構80の電動モータ83を駆動して、粘着ピンプレート8bの各部位(具体的には、粘着ピンプレート8bの四隅に配置された各軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4(図7(b)参照))の高さを調整することによって、上テーブル3の上部基板面3aから下方に突出する粘着ピン8aの突出量を調整する動作を意味している。
<Example of change in electric motor current value>
An example of change in the current value of the electric motor 83 will be described below with reference to FIG. In this embodiment, "parallel adjustment" means driving the electric motor 83 of the vertical movement mechanism 80 of the adhesive holding mechanism 8 to adjust each part of the adhesive pin plate 8b (specifically, the four corners of the adhesive pin plate 8b). By adjusting the height of each axis Ax1, Ax2, Ax3, Ax4 (see FIG. 7(b)) arranged in the means the action of adjusting the

図9は、Z軸高さと上下動機構80の電動モータ83の電流値との関係を示すグラフ図である。図9(a)は平行調整を行う前の状態を示している。また、図9(b)及び図9(b)は平行調整を行った後の状態を示している。 FIG. 9 is a graph showing the relationship between the Z-axis height and the current value of the electric motor 83 of the vertical movement mechanism 80. As shown in FIG. FIG. 9(a) shows the state before parallel adjustment. 9(b) and 9(b) show the state after the parallel adjustment.

図9において、横軸はZ軸高さを表しており、縦軸は各電動モータ83に流れる保持電流の電流値(保持電流値)を表している。横軸の値は左側から右側に進むにつれて小さくなり、一方、縦軸の値は下側から上側に進むにつれて大きくなっている。 In FIG. 9 , the horizontal axis represents the Z-axis height, and the vertical axis represents the current value of the holding current flowing through each electric motor 83 (holding current value). The values on the horizontal axis decrease from left to right, while the values on the vertical axis increase from bottom to top.

ここで、Z軸高さとは、下テーブル4の下部基板面4aから上テーブル3の上部基板面3aまでの高さ(上フレーム2の上下軸の高さ)を表している。Z軸駆動機構20によって上フレーム2が上動すると、Z軸高さの値が大きくなり、Z軸駆動機構20によって上フレーム2が下動すると、Z軸高さの値が小さくなる。
保持電流値は、例えば制御装置100の測定部121(図8参照)によって測定される。
Here, the Z-axis height represents the height from the lower substrate surface 4a of the lower table 4 to the upper substrate surface 3a of the upper table 3 (height of the vertical axis of the upper frame 2). When the upper frame 2 is moved upward by the Z-axis drive mechanism 20, the Z-axis height value increases, and when the upper frame 2 is moved downward by the Z-axis drive mechanism 20, the Z-axis height value is decreased.
The holding current value is measured by the measuring unit 121 (see FIG. 8) of the control device 100, for example.

Ax1aは軸Ax1の電動モータ83における電流値の減少の開始ポイントを表している。Ax1bは軸Ax1の電動モータ83における電流値の減少中の区間を表している。Ax1cは軸Ax1の電動モータ83における電流値の減少の終了ポイントを表している。Ax2a,Ax3a,Ax4aは、それぞれ、軸Ax2a,Ax3a,Ax4aの電動モータ83における電流値の減少の開始ポイントを表している。 Ax1a represents the point at which the current value of the electric motor 83 of the axis Ax1 begins to decrease. Ax1b represents a section during which the current value of the electric motor 83 of the axis Ax1 is decreasing. Ax1c represents the end point of the current decrease in the electric motor 83 of the axis Ax1. Ax2a, Ax3a, and Ax4a represent the start points of the current reduction in the electric motors 83 of the axes Ax2a, Ax3a, and Ax4a, respectively.

ここで、電流値の減少の開始ポイント(点Ax1a,Ax2a,Ax3a,Ax4a)とは、それぞれ、粘着ピン8aによって保持された基板(例えば、上基板K1や後記する図示せぬダミー基板)が下側の部材(例えば、下基板K2や下テーブル4)に接触したポイントを表している。 Here, the starting points (points Ax1a, Ax2a, Ax3a, and Ax4a) of the decrease in the current value are the substrates held by the adhesive pins 8a (for example, the upper substrate K1 or a dummy substrate (not shown) to be described later). It represents the point of contact with the side members (for example, the lower substrate K2 and the lower table 4).

前記した通り、4つのロードセル20dで検出される検出値の合計値が装置全体の合計荷重値となる。制御装置100は、Z軸高さと4つのロードセル20dの検出値の変化とを監視することによって、上基板K1と下基板K2とが当接しているか否かを監視している。基板組立装置1は、吊下げ機構6によって上テーブル3を上フレーム2から吊り下げた構造になっている。そして、基板組立装置1は、粘着ピン8aの粘着部8cが潰れてしまうと、負荷が粘着保持機構8にかからずに上テーブル3にかかる構造になっている。そのため、基板組立装置1では、粘着部8cがある程度潰れると、そこから先は電動モータ83の保持電流値の変動がなくなり、保持電流値が一定な状態になる。 As described above, the total value of the detection values detected by the four load cells 20d is the total load value of the entire device. The control device 100 monitors whether or not the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are in contact with each other by monitoring the Z-axis height and changes in the detection values of the four load cells 20d. The substrate assembly apparatus 1 has a structure in which an upper table 3 is suspended from an upper frame 2 by a suspension mechanism 6 . The circuit board assembly apparatus 1 is structured such that when the adhesive portion 8c of the adhesive pin 8a is crushed, the load is applied to the upper table 3 rather than to the adhesive holding mechanism 8. As shown in FIG. Therefore, in the board assembly apparatus 1, when the adhesive portion 8c is crushed to some extent, the holding current value of the electric motor 83 stops fluctuating and the holding current value becomes constant.

図10に、その過程における粘着ピン8aの状態を示す。図10は、第2駆動機構である上下動機構80の電動モータ83の動作状態を模式的に示す図である。図9(a)に示す点Ax1aでは、粘着ピン8aは、図10(a)に示す状態になっている。また、図9(a)に示す区間Ax1bでは、粘着ピン8aは、図10(b)に示す状態になっている。また、図9(a)に示す点Ax1cでは、粘着ピン8aは、図10(c)に示す状態になっている。 FIG. 10 shows the state of the adhesive pin 8a in that process. FIG. 10 is a diagram schematically showing the operating state of the electric motor 83 of the vertical movement mechanism 80, which is the second drive mechanism. At the point Ax1a shown in FIG. 9(a), the adhesive pin 8a is in the state shown in FIG. 10(a). Moreover, in the section Ax1b shown in FIG. 9(a), the adhesive pin 8a is in the state shown in FIG. 10(b). At point Ax1c shown in FIG. 9(a), the adhesive pin 8a is in the state shown in FIG. 10(c).

図10(a)に示すように、電流値の減少の開始ポイントである点Ax1aでは、粘着ピン8aによって保持されている基板(例えば上基板K1や後記する図示せぬダミー基板)が下側の部材(例えば下基板K2や下テーブル4)に接触した状態になっている。ここでは、粘着ピン8aによって保持されている基板が上基板K1であり、上基板K1の下側の部材が下基板K2である場合を想定して説明する(以下、同様)。このとき、粘着ピン8aの粘着部8cは潰れていない状態になっており、電動モータ83の保持電流値として、設定値通りの電流値I1aが測定される。 As shown in FIG. 10A, at the point Ax1a, which is the starting point of the decrease in the current value, the substrate held by the adhesive pins 8a (for example, the upper substrate K1 or a dummy substrate (not shown) to be described later) is positioned on the lower side. It is in contact with members (for example, the lower substrate K2 and the lower table 4). Here, it is assumed that the substrate held by the adhesive pins 8a is the upper substrate K1 and the member below the upper substrate K1 is the lower substrate K2 (the same applies hereinafter). At this time, the adhesive portion 8c of the adhesive pin 8a is not crushed, and as the holding current value of the electric motor 83, the current value I1a as set is measured.

図10(b)に示すように、電流値の減少中の区間Ax1bでは、上フレーム2及び上テーブル3と下テーブル4とによって上基板K1が加圧された状態になっている。このとき、粘着ピン8aの粘着部8cは潰れた状態になっており、電動モータ83の保持電流値として、電流値I1aよりも小さな値の電流値I1bが測定される。 As shown in FIG. 10B, the upper substrate K1 is pressed by the upper frame 2, the upper table 3, and the lower table 4 in the section Ax1b where the current value is decreasing. At this time, the adhesive portion 8c of the adhesive pin 8a is in a crushed state, and as the holding current value of the electric motor 83, a current value I1b smaller than the current value I1a is measured.

図10(c)に示すように、電流値の減少の終了ポイントである点Ax1cでは、上フレーム2及び上テーブル3と下テーブル4とによって上基板K1と上テーブル3のクッションシート31とが加圧された状態になっている。このとき、粘着ピン8aの粘着部8cと上テーブル3のクッションシート31とが潰れた状態になっており、電動モータ83の保持電流値として、電流値I1bよりもさらに小さな値の電流値I1cが測定される。 As shown in FIG. 10(c), at the point Ax1c, which is the end point of the decrease in the current value, the upper substrate K1 and the cushion sheet 31 of the upper table 3 are pressed together by the upper frame 2, the upper table 3, and the lower table 4. is under pressure. At this time, the adhesive portion 8c of the adhesive pin 8a and the cushion sheet 31 of the upper table 3 are in a crushed state, and the holding current value of the electric motor 83 is a current value I1c that is even smaller than the current value I1b. measured.

図9(a)に戻り、ΔAx12は点Ax1aから点Ax2aまでの差分を表している。ΔAx13は点Ax1aから点Ax3aまでの差分を表している。ΔAx14は点Ax1aから点Ax4aまでの差分を表している。ここで、差分ΔAx12とは、最初の電流値の減少開始ポイント(点Ax1a)から2番目の電流値の減少開始ポイント(点Ax2a)までの差分を表している(他の、差分ΔAx13,ΔAx14も同様)。 Returning to FIG. 9A, ΔAx12 represents the difference from point Ax1a to point Ax2a. ΔAx13 represents the difference from point Ax1a to point Ax3a. ΔAx14 represents the difference from point Ax1a to point Ax4a. Here, the difference ΔAx12 represents the difference from the first current value decrease start point (point Ax1a) to the second current value decrease start point (point Ax2a) (the other differences ΔAx13 and ΔAx14 are also as well).

本実施形態では、一例として、例えば「N(μm)」を閾値とし、「-Nμm<(ΔAx14-ΔAx12)<+Nμm」のときに、粘着ピンプレート8b(粘着ピン8aによって保持された基板)が下側の部材(例えば、下基板K2や下テーブル4)に対して平行状態であると判定することによって、平行調整が行われるものとする。 In this embodiment, as an example, when "N (μm)" is set as a threshold and "-Nμm<(ΔAx14−ΔAx12)<+Nμm", the adhesive pin plate 8b (substrate held by the adhesive pins 8a) is It is assumed that parallel adjustment is performed by judging that it is parallel to the lower member (for example, the lower substrate K2 and the lower table 4).

図9(a)に示す例では、点Ax1a,Ax2a,Ax3a,Ax4aのZ軸高さの値は、値の大きいものから点Ax1a,Ax2a,Ax3a,Ax4aの順番になっている。このことは、軸Ax1が一番低く、軸Ax2が二番目に低く、軸Ax3が三番目に低く、軸Ax4が四番目に低く(すなわち、一番高く)なるように、粘着ピンプレート8bが傾いていることを表している。基板組立システム1000は、保持電流値の減少開始のタイミングを調整することによって、例えば図9(b)や図9(c)に示すように平行調整を行うことができる。 In the example shown in FIG. 9A, the Z-axis height values of points Ax1a, Ax2a, Ax3a, and Ax4a are arranged in descending order of the points Ax1a, Ax2a, Ax3a, and Ax4a. This means that the adhesive pin plate 8b is positioned so that the axis Ax1 is the lowest, the axis Ax2 is the second lowest, the axis Ax3 is the third lowest, and the axis Ax4 is the fourth lowest (that is, the highest). indicates that it is tilted. The board assembly system 1000 can adjust the timing of starting the reduction of the holding current value, for example, as shown in FIGS. 9(b) and 9(c).

図9(b)は、全ての軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4で保持電流値の減少開始のタイミングが一致するように平行調整を行った場合の例を示している。この場合とは、下側の部材(例えば、下基板K2や下テーブル4)に対して粘着ピンプレート8bの全面が平行になるように平行調整を行った場合を意味している。 FIG. 9(b) shows an example in which parallel adjustment is performed so that the holding current values start decreasing at the same timing for all the axes Ax1, Ax2, Ax3, and Ax4. This case means that parallel adjustment is performed so that the entire surface of the adhesive pin plate 8b is parallel to the lower member (eg, the lower substrate K2 and the lower table 4).

一方、図9(c)は、各軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4で保持電流値の減少開始のタイミングが適度にずれるように平行調整を行った場合の例を示している。この場合とは、下側の部材(例えば、下基板K2や下テーブル4)に対して粘着ピンプレート8bの各部位を意図的に設定したズレ量をもって略平行に配置するように平行調整を行った場合を意味している。 On the other hand, FIG. 9(c) shows an example in which parallel adjustment is performed so that the timings of starting the reduction of the holding current values on the axes Ax1, Ax2, Ax3, and Ax4 are appropriately shifted. In this case, each portion of the adhesive pin plate 8b is adjusted so as to be substantially parallel to the lower member (for example, the lower substrate K2 and the lower table 4) with a deliberately set amount of misalignment. means if

<設定用データの詳細>
以下、調整用データD3(図8参照)の詳細につき説明する。
本実施形態では、調整用データD3は、粘着ピンプレート8bの各部位(例えば各軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4(図7(b)参照)付近)の平行調整量(各上下動機構80の動作の調整量)を表すデータを意味している。調整用データD3は、Z軸高さの差分ΔAX12,ΔAX13,ΔAX14(図9(a)参照)に基づいて算出される。例えば、基板組立システム1000は、上テーブル3の上部基板面3aに対して傾斜した状態になっている粘着ピンプレート8bを上部基板面3aに対して平行な状態に調整することができる。すなわち、基板組立システム1000は、図9(a)に示す状態から図9(b)に示す状態になるように平行調整を行うことができる。この場合の各軸Ax2,Ax3,Ax4の平行調整量は、ΔAX12,ΔAX13,ΔAX14となる。調整用データD3は、その値を表している。
<Details of setting data>
Details of the adjustment data D3 (see FIG. 8) will be described below.
In this embodiment, the adjustment data D3 is the amount of parallel adjustment of each portion of the adhesive pin plate 8b (for example, near each axis Ax1, Ax2, Ax3, Ax4 (see FIG. 7B)) (of each vertical movement mechanism 80). It means data representing the adjustment amount of the operation). The adjustment data D3 is calculated based on the Z-axis height differences ΔAX12, ΔAX13, and ΔAX14 (see FIG. 9A). For example, the substrate assembly system 1000 can adjust the adhesive pin plate 8b, which is inclined with respect to the upper substrate surface 3a of the upper table 3, to be parallel to the upper substrate surface 3a. That is, the substrate assembly system 1000 can perform parallel adjustment from the state shown in FIG. 9A to the state shown in FIG. 9B. In this case, the parallel adjustment amounts of the axes Ax2, Ax3 and Ax4 are ΔAX12, ΔAX13 and ΔAX14. The adjustment data D3 represents that value.

なお、基板組立システム1000は、粘着ピンプレート8bの各部位を意図的に設定した変位量だけ歪ませるように調整することができる。すなわち、基板組立システム1000は、例えば図9(a)に示す状態から図9(c)に示す状態になるように平行調整を行うことができる。この場合の各軸Ax2,Ax3,Ax4の平行調整量は、各部位の意図的に歪ませる変位量に応じて変更することができる。したがって、この場合の調整用データD3の値は、変位量に応じて変動する。 The substrate assembly system 1000 can be adjusted so that each portion of the adhesive pin plate 8b is distorted by an intentionally set amount of displacement. That is, the substrate assembly system 1000 can perform parallel adjustment from the state shown in FIG. 9A to the state shown in FIG. 9C, for example. In this case, the amount of parallel adjustment for each of the axes Ax2, Ax3, and Ax4 can be changed according to the intentionally distorted displacement amount of each portion. Therefore, the value of the adjustment data D3 in this case varies according to the amount of displacement.

<基板組立システムの動作>
基板組立システム1000は、下基板K2に対する上基板K1の平行調整の簡易化を図ることを可能にしている。平行調整は、第2駆動機構である粘着保持機構8の上下動機構80の動作を制御して、粘着保持機構8のベース部である粘着ピンプレート8bの各部位の高さを規定する調整を実行すること(図11AのS140参照)により、行われる。
<Operation of board assembly system>
The substrate assembly system 1000 makes it possible to simplify parallel adjustment of the upper substrate K1 with respect to the lower substrate K2. The parallel adjustment is performed by controlling the operation of the vertical movement mechanism 80 of the adhesive holding mechanism 8, which is the second driving mechanism, and adjusting the height of each part of the adhesive pin plate 8b, which is the base portion of the adhesive holding mechanism 8. It is performed by executing (see S140 in FIG. 11A).

以下、図11A~図11D、図12、図13、図14A~図14B、図15を参照して、基板組立システム1000の動作につき説明する。図11A~図11Dは、それぞれ、基板組立システム1000のセットアップ中の動作を示すフローチャートである。図12は、基板組立システム1000の停止中の動作を示すフローチャートである。図13は、基板組立システム1000の生産中の動作を示すフローチャートである。図14A~図14Bは、基板組立システム1000の加圧・電流測定時の動作を示すフローチャートである。また、図15は、表示部180(図8参照)に表示させる表示画面PI1の一例を示す図である。 11A to 11D, 12, 13, 14A to 14B, and 15, the operation of board assembly system 1000 will be described below. 11A-11D are each flow charts showing operations during setup of the board assembly system 1000. FIG. FIG. 12 is a flow chart showing the operation of board assembly system 1000 while it is stopped. FIG. 13 is a flow chart showing the operation of board assembly system 1000 during production. 14A and 14B are flow charts showing the operation of the substrate assembly system 1000 during pressurization and current measurement. FIG. 15 is a diagram showing an example of the display screen PI1 displayed on the display section 180 (see FIG. 8).

なお、基板組立装置1は図示せぬタイマによって計測された時間に基づいて動作する。また、基板組立装置1の一連の動作は図示せぬ記憶部に読み出し自在に予め格納されたプログラムによって規定されている。また、各情報は、記憶部に読み出し自在に一旦格納されてから、その後の処理を行う所要の構成要素に出力される。以下、これらの点については、情報処理では常套手段であるので、その詳細な説明を省略する。 The board assembly apparatus 1 operates based on the time measured by a timer (not shown). A series of operations of the circuit board assembly apparatus 1 is defined by a program pre-stored in a memory (not shown) in a readable manner. Also, each information is temporarily stored in the storage unit in a readable manner, and then output to a required component for subsequent processing. Since these points are common means in information processing, a detailed description thereof will be omitted.

(セットアップ中の動作)
まず、図11A~図11Dを参照して、基板組立システム1000のセットアップ中の動作につき説明する。セットアップ中の動作は、基板組立システム1000の提供者側のエンジニアの操作に基づいて行われる。エンジニアは、制御装置100を操作して、各種の設定値を基板組立システム1000に登録するための登録画面(図示せず)を表示部180に表示させる。これにより、基板組立システム1000はセットアップ中の動作を開始する。
(Operation during setup)
First, with reference to FIGS. 11A to 11D, operations during setup of board assembly system 1000 will be described. Operations during setup are performed based on the operations of the engineer of the board assembly system 1000 provider side. The engineer operates the control device 100 to display a registration screen (not shown) for registering various set values in the board assembly system 1000 on the display section 180 . Thereby, the board assembly system 1000 starts the operation during setup.

図11Aに示すように、エンジニアが図示せぬ登録画面から各種の設定値を入力すると、制御装置100が入力された設定値の登録の受付を行う(S105)。
そして、エンジニアがセットアップの開始を指示する操作を行うと、制御装置100は、基板組立装置1に図示せぬダミー基板の真空チャンバ5内への搬入を行わせる(S110)。具体的には、制御装置100は、基板組立装置1のZ軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を上動することによって、上テーブル3を上動させるとともに、上チャンバ5aを上動させる。これによって真空チャンバ5が開く。次に制御装置100は、搬送装置200を駆動して、図示せぬダミー基板を真空チャンバ5内の上テーブル3と下テーブル4の間に搬入する。ダミー基板は、粘着ピンプレート8bの各部位(例えば各軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4(図7(b)参照)付近)の平行調整量(各上下動機構80の動作の調整量)の確認用の基板である。ダミー基板は、全面で均一な厚さに形成されている。
As shown in FIG. 11A, when the engineer inputs various setting values from a registration screen (not shown), the control device 100 accepts registration of the input setting values (S105).
Then, when the engineer performs an operation to instruct the start of setup, the control device 100 causes the substrate assembly apparatus 1 to carry a dummy substrate (not shown) into the vacuum chamber 5 (S110). Specifically, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 of the substrate assembly apparatus 1 to move the upper frame 2 upward, thereby moving the upper table 3 upward and the upper chamber 5a upward. Let This opens the vacuum chamber 5 . Next, the control device 100 drives the transfer device 200 to carry a dummy substrate (not shown) between the upper table 3 and the lower table 4 in the vacuum chamber 5 . The dummy board is used to confirm the amount of parallel adjustment (adjustment amount of operation of each vertical movement mechanism 80) of each part of the adhesive pin plate 8b (for example, near each axis Ax1, Ax2, Ax3, Ax4 (see FIG. 7B)). It is a substrate for The dummy substrate is formed with a uniform thickness over the entire surface.

ダミー基板が上テーブル3と下テーブル4の間に搬入されると、制御装置100は、上下動機構70に指令を与えて、ダミー基板に当たるまで吸上げピン7aを下動させるとともに、真空ポンプP1を駆動する。これによってダミー基板が吸上げピン7aに真空吸引される。
この後、制御装置100は、搬送装置200を真空チャンバ5の外部に退出させ、吸上げピン7aを上動させてダミー基板を上テーブル3の上部基板面3aに密着させる。上部基板面3aは平面であるので、ダミー基板における撓み等の変形が補正される(撓み等の変形が除去される)。
When the dummy substrate is carried between the upper table 3 and the lower table 4, the control device 100 gives a command to the vertical movement mechanism 70 to move the suction pins 7a downward until they hit the dummy substrate, and the vacuum pump P1. to drive. As a result, the dummy substrate is vacuum-sucked by the suction pins 7a.
Thereafter, the control device 100 moves the transfer device 200 out of the vacuum chamber 5 and moves the suction pins 7 a upward to bring the dummy substrate into close contact with the upper substrate surface 3 a of the upper table 3 . Since the upper substrate surface 3a is a flat surface, deformation such as flexure in the dummy substrate is corrected (deformation such as flexure is removed).

そして制御装置100は、上下動機構80に指令を与えて、粘着ピンプレート8bを下動させるとともに、真空ポンプP2を駆動する。ダミー基板は、粘着ピンプレート8bとともに下動する粘着ピン8aに真空吸引される。このとき、粘着ピン8aの先端の粘着部8cがダミー基板に貼りつく。その後、制御装置100は、粘着ピン8aの粘着部8cにダミー基板が貼りついた状態の粘着ピンプレート8bを下動し、ダミー基板を上部基板面3aから離反させる。 The control device 100 then gives a command to the vertical movement mechanism 80 to move the adhesive pin plate 8b downward and drive the vacuum pump P2. The dummy substrate is vacuum-sucked by the adhesive pins 8a that move downward together with the adhesive pin plate 8b. At this time, the adhesive portion 8c at the tip of the adhesive pin 8a sticks to the dummy substrate. After that, the control device 100 moves downward the adhesive pin plate 8b in which the dummy substrate is attached to the adhesive portion 8c of the adhesive pin 8a to separate the dummy substrate from the upper substrate surface 3a.

このとき、制御装置100は、各粘着ピン8aの突出量が粘着ピンプレート8bの各部位ごとに設定されている突出量となるように、各上下動機構80の動作(具体的には、各上下動機構80の各電動モータ83の動作)を制御して、各粘着ピンプレート8bを下動する。これにより、制御装置100は各粘着ピンプレート8bの各部位の高さを規定する。本実施形態では、電動モータ83は、サーボモータで構成されており、PLC212によって制御されている。PLC212(図7(b)参照)は、一定値の電流を電動モータ83に流し続けることによって、電動モータ83の動作量(回転角度)を制御装置100の指令で規定された動作量に維持し続ける。 At this time, the control device 100 operates each vertical movement mechanism 80 (specifically, each By controlling the operation of each electric motor 83 of the vertical movement mechanism 80, each adhesive pin plate 8b is moved downward. Thereby, the control device 100 defines the height of each portion of each adhesive pin plate 8b. In this embodiment, the electric motor 83 is configured by a servomotor and controlled by the PLC 212 . The PLC 212 (see FIG. 7B) maintains the operation amount (rotational angle) of the electric motor 83 at the operation amount specified by the command from the control device 100 by continuously supplying a constant current to the electric motor 83. continue.

その後、制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を下動することによって、上テーブル3を下動させるとともに、上チャンバ5aを下動させる。これによって、上チャンバ5aと下チャンバ5bとが係合して、真空チャンバ5が閉じる。このとき、真空チャンバ5の内側には、上テーブル3と下テーブル4と吸上げピン7aと粘着ピン8aとが配置されている。
S110の処理は、以上のようにして行われる。
Thereafter, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 downward, thereby moving the upper table 3 downward and the upper chamber 5a downward. This causes the upper chamber 5a and the lower chamber 5b to engage and the vacuum chamber 5 to close. At this time, inside the vacuum chamber 5, the upper table 3, the lower table 4, the suction pins 7a, and the adhesive pins 8a are arranged.
The processing of S110 is performed as described above.

S110の後、制御装置100は基板組立装置1に真空引きを行わせる(S115)。具体的には、真空チャンバ5が閉じると、制御装置100は、真空ポンプP0を駆動して真空チャンバ5内を真空にする。その結果、真空チャンバ5は、真空環境下で上テーブル3と下テーブル4と吸上げピン7aと粘着ピン8aとを収納した状態になる。 After S110, the controller 100 causes the substrate assembly apparatus 1 to vacuum (S115). Specifically, when the vacuum chamber 5 is closed, the controller 100 drives the vacuum pump P0 to evacuate the inside of the vacuum chamber 5 . As a result, the vacuum chamber 5 accommodates the upper table 3, the lower table 4, the suction pins 7a, and the adhesive pins 8a in a vacuum environment.

S115の後、制御装置100は基板組立装置1に加圧・電流測定を行わせる(S125)。S125の処理は、以下のようにして行われる。
まず、制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を下動することによって、上テーブル3とともに各粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)を下動させる。これによって基板組立装置1は上フレーム2及び上テーブル3と下テーブル4とでダミー基板を加圧する。同時に制御装置100は各上下動機構80の各電動モータ83の保持電流値の測定を開始する。
After S115, the control device 100 causes the board assembly apparatus 1 to perform pressure and current measurement (S125). The processing of S125 is performed as follows.
First, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 downward, thereby lowering the adhesive pin plates 8b (adhesive pins 8a) together with the upper table 3 . As a result, the substrate assembly apparatus 1 presses the dummy substrate with the upper frame 2 and the upper table 3 and the lower table 4 . At the same time, the control device 100 starts measuring the holding current value of each electric motor 83 of each vertical movement mechanism 80 .

制御装置100は、各電動モータ83の電流値の測定を開始してから終了するまでの間に測定される各電動モータ83の保持電流値の測定結果を、Z軸高さと対応付けて、測定データD2として記憶部160に記憶する。具体的には、制御装置100の測定部121は、例えば、Z軸高さを表す粘着ピンプレート8bの高さデータと各電動モータ83の保持電流値の測定結果を表す電動モータ83の保持電流値の変動したタイミングデータとを、測定データD2として、記憶部160に記録する。 The control device 100 associates the measurement result of the holding current value of each electric motor 83 measured between the start and the end of the measurement of the current value of each electric motor 83 with the Z-axis height, and performs the measurement. Stored in the storage unit 160 as data D2. Specifically, the measurement unit 121 of the control device 100 measures, for example, the height data of the adhesive pin plate 8b representing the Z-axis height and the holding current of the electric motor 83 representing the measurement result of the holding current value of each electric motor 83. The timing data whose value has changed is recorded in the storage section 160 as the measurement data D2.

粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)が下動すると、粘着ピン8aで保持されているダミー基板の下面が下テーブル4の下部基板面4aに密着した状態になる。制御装置100は、ロードセル20dから入力される検出信号によって、ダミー基板の下面が下テーブル4の下部基板面4aに密着したことを検知する。すると、制御装置100は、その時点で各上下動機構80を駆動して、各粘着ピン8aを上部基板面3aから引き込む。このとき、制御装置100は、真空ポンプP2を停止するとともに、ガス供給手段8eを駆動して真空吸着孔8dにガスを供給し、ダミー基板を粘着部8cから剥離させる。 When the adhesive pin plate 8 b (adhesive pin 8 a ) moves downward, the lower surface of the dummy substrate held by the adhesive pin 8 a comes into close contact with the lower substrate surface 4 a of the lower table 4 . The control device 100 detects that the lower surface of the dummy substrate is in close contact with the lower substrate surface 4a of the lower table 4 from the detection signal input from the load cell 20d. At that time, the controller 100 drives each vertical movement mechanism 80 to draw each adhesive pin 8a from the upper substrate surface 3a. At this time, the control device 100 stops the vacuum pump P2, drives the gas supply means 8e to supply gas to the vacuum suction holes 8d, and separates the dummy substrate from the adhesive portion 8c.

粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)がさらに下動すると、粘着ピン8aの粘着部8cが潰れた状態になる。その後、ダミー基板の上面が上テーブル3の上部基板面3aに密着した状態になり、上フレーム2及び上テーブル3でダミー基板をさらに加圧した状態になる。制御装置100は、ロードセル20dから入力される検出信号によって、上テーブル3と下テーブル4の間に所定の設定荷重が生じたと判定したときに上フレーム2の下動を停止する。また、制御装置100は各電動モータ83の電流値の測定を終了する。このとき、ダミー基板は真空チャンバ5内の真空環境下において所定の設定荷重がかかった状態になっている。
S125の処理は、以上のようにして行われる。なお、S125の「加圧・電流測定」処理の詳細については、図14A及び図14Bを参照して、後述する。
When the adhesive pin plate 8b (adhesive pin 8a) moves further downward, the adhesive portion 8c of the adhesive pin 8a is crushed. After that, the upper surface of the dummy substrate is brought into close contact with the upper substrate surface 3 a of the upper table 3 , and the dummy substrate is further pressed by the upper frame 2 and the upper table 3 . The control device 100 stops the downward movement of the upper frame 2 when it determines that a predetermined set load has occurred between the upper table 3 and the lower table 4 based on the detection signal input from the load cell 20d. Also, the control device 100 ends the measurement of the current value of each electric motor 83 . At this time, the dummy substrate is in a state where a predetermined set load is applied under the vacuum environment in the vacuum chamber 5 .
The processing of S125 is performed as described above. Details of the "pressurization/current measurement" process of S125 will be described later with reference to FIGS. 14A and 14B.

S125の後、制御装置100は、S125で記憶部160に記憶された各電動モータ83の電流値の測定データD2を参照して、測定結果を表す表示画面(例えば、図15に示す表示画面PI1)を作成し、その表示画面を表示部180(図8参照)に表示する(S130)。 After S125, the control device 100 refers to the measurement data D2 of the current value of each electric motor 83 stored in the storage unit 160 in S125, and displays a display screen showing the measurement result (for example, the display screen PI1 shown in FIG. 15). ) is created and its display screen is displayed on the display unit 180 (see FIG. 8) (S130).

図15は、表示画面PI1の一例を示す図である。図15に示す例では、表示画面PI1は、旧測定結果と最新測定結果とを対比して示す構成になっている。表示画面PI1は、測定された各電動モータ83の電流値の変動状態を表すグラフ図や、各種の参照情報、自動調整ボタンB1a,B2a、手動調整ボタンB1b,B2b、調整不要ボタンB3を含む構成になっている。自動調整ボタンB1a,B2aは、平行調整(すなわち、粘着ピンプレート8bの各部位の高さを規定する調整)を自動的に実行すること(自動調整モードの実行)を制御装置100に指示するボタンである。手動調整ボタンB1b,B2bは、平行調整を手動で実行すること(手動調整モードの実行)を制御装置100に指示するボタンである。調整不要ボタンB3は、平行調整を実行しないことを制御装置100に指示するボタンである。 FIG. 15 is a diagram showing an example of the display screen PI1. In the example shown in FIG. 15, the display screen PI1 is configured to show the old measurement result and the latest measurement result in comparison. The display screen PI1 includes graphs representing the measured fluctuations of the current values of the electric motors 83, various reference information, automatic adjustment buttons B1a and B2a, manual adjustment buttons B1b and B2b, and a no-adjustment button B3. It has become. The automatic adjustment buttons B1a and B2a are buttons for instructing the controller 100 to automatically execute parallel adjustment (that is, adjustment that defines the height of each portion of the adhesive pin plate 8b) (execution of the automatic adjustment mode). is. Manual adjustment buttons B1b and B2b are buttons for instructing control device 100 to manually execute parallel adjustment (execute manual adjustment mode). Adjustment unnecessary button B3 is a button for instructing control device 100 not to execute parallel adjustment.

図11Aに戻り、S130の後、平行調整が必要であるか否かがエンジニアによって判定される(S135)。平行調整が必要である場合(“Yes”の場合)に、例えばエンジニアによって自動調整ボタンB1a(図15参照)又は手動調整ボタンB1b(図15参照)が押下される。制御装置100は、自動調整ボタンB1a(図15参照)又は手動調整ボタンB1bの押下を検出すると、平行調整を実行する(S140)。一方、平行調整が不要である場合(“No”の場合)に、例えばエンジニアによって調整不要ボタンB3(図15参照)が押下される。制御装置100は、調整不要ボタンB3の押下を検出すると、一連のルーチンの処理を終了する。 Returning to FIG. 11A, after S130, the engineer determines whether a parallel adjustment is required (S135). If parallel adjustment is required ("Yes"), for example, an engineer presses the automatic adjustment button B1a (see FIG. 15) or the manual adjustment button B1b (see FIG. 15). When the control device 100 detects that the automatic adjustment button B1a (see FIG. 15) or the manual adjustment button B1b has been pressed, it performs parallel adjustment (S140). On the other hand, when the parallel adjustment is unnecessary ("No"), for example, the engineer presses the adjustment unnecessary button B3 (see FIG. 15). When the control device 100 detects that the no-adjustment button B3 has been pressed, it terminates the series of routine processes.

(「調整実行」処理の詳細)
以下、図11Bを参照して、S140の「調整実行」処理(図11A参照)の詳細につき説明する。
図11Bに示すように、S140の「調整実行」処理では、まず制御装置100は調整モードの受付を行う(S140a)。調整モードの受付は、例えば表示画面PI1(図15参照)に表示された自動調整ボタンB1a,B2aや、手動調整ボタンB1b,B2bの押下を検出することによって行われる。次に制御装置100は受け付けられた調整モードが自動調整モードであるか否かを判定する(S140b)。
(Details of "adjustment execution" processing)
Details of the "adjustment execution" process (see FIG. 11A) of S140 will be described below with reference to FIG. 11B.
As shown in FIG. 11B, in the "adjustment execution" process of S140, the control device 100 first accepts the adjustment mode (S140a). Acceptance of the adjustment mode is performed, for example, by detecting pressing of automatic adjustment buttons B1a, B2a or manual adjustment buttons B1b, B2b displayed on the display screen PI1 (see FIG. 15). Next, the control device 100 determines whether or not the accepted adjustment mode is the automatic adjustment mode (S140b).

S140bの判定で、受け付けられた調整モードが自動調整モードであると判定された場合(“Yes”の場合)に、制御装置100は調整用データD3(図8参照)を算出し(S140c)、平行調整の自動調整を実行する(S140d)。これによって制御装置100はS140の「調整実行」処理を終了する。なお、S140dの「自動調整実行」処理の詳細については、図11Cを参照して、後述する。 If it is determined in S140b that the accepted adjustment mode is the automatic adjustment mode ("Yes"), the control device 100 calculates adjustment data D3 (see FIG. 8) (S140c), Automatic parallel adjustment is executed (S140d). Thus, the control device 100 ends the "adjustment execution" process of S140. The details of the "automatic adjustment execution" process of S140d will be described later with reference to FIG. 11C.

一方、S140bの判定で、受け付けられた調整モードが自動調整モードでないと判定された場合(“No”の場合)に、制御装置100の調整用データ算出部122(図8参照)は調整用データD3(図8参照)を算出し(S140e)、調整用データを表示部180(図8参照)に表示し(S140f)、平行調整の手動調整を実行する(S140g)。これによって制御装置100はS140の「調整実行」処理を終了する。なお、S140gの「手動調整実行」処理の詳細については、図11Dを参照して、後述する。 On the other hand, when it is determined in S140b that the accepted adjustment mode is not the automatic adjustment mode (“No”), the adjustment data calculator 122 (see FIG. 8) of the control device 100 calculates the adjustment data D3 (see FIG. 8) is calculated (S140e), adjustment data is displayed on the display unit 180 (see FIG. 8) (S140f), and parallel adjustment is performed manually (S140g). Thus, the control device 100 ends the "adjustment execution" process of S140. Details of the "manual adjustment execution" process of S140g will be described later with reference to FIG. 11D.

(「自動調整実行」処理の詳細)
以下、図11Cを参照して、S140dの「自動調整実行」処理(図11B参照)の詳細につき説明する。
図11Cに示すように、S140dの処理では、まず制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を上動することによって、上テーブル3とともに各粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)を上動させて、ダミー基板への加圧を解除する(S141a)。
次に制御装置100はS140c(図11B参照)で算出された調整用データに基づいて平行調整用の各上下動機構80(各電動モータ83)の動作量の設定値を自動更新する(S141b)。
(Details of "automatic adjustment execution" processing)
Details of the "automatic adjustment execution" process (see FIG. 11B) of S140d will be described below with reference to FIG. 11C.
As shown in FIG. 11C, in the process of S140d, first, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 upward, thereby moving the upper table 3 and each adhesive pin plate 8b (adhesive pin plate 8b). 8a) is moved upward to release the pressure on the dummy substrate (S141a).
Next, based on the adjustment data calculated in S140c (see FIG. 11B), the control device 100 automatically updates the set value of the operation amount of each vertical movement mechanism 80 (each electric motor 83) for parallel adjustment (S141b). .

S141bの後、制御装置100は、S125(図11A参照)の処理と同様に、基板組立装置1に加圧・電流測定を行わせる(S141c)。そして、制御装置100はS141cの測定結果に基づいて各上下動機構80の各電動モータ83の保持電流値の変動のタイミングの差分が予め設定された閾値内であるか否かを判定する(S141d)。S141dの判定で、差分が予め設定された閾値内であると判定された場合(“Yes”の場合)に、制御装置100はS140dの「自動調整実行」処理を終了する。一方、S141dの判定で、差分が予め設定された閾値内でないと判定された場合(“No”の場合)に、制御装置100はS141cの測定結果に基づいて調整用データを算出する(S141e)。この後、処理はS141aに戻る。 After S141b, the control device 100 causes the board assembly apparatus 1 to perform pressurization and current measurement (S141c) in the same manner as in the processing of S125 (see FIG. 11A). Then, based on the measurement result of S141c, the control device 100 determines whether or not the difference in timing of fluctuation of the holding current value of each electric motor 83 of each vertical movement mechanism 80 is within a preset threshold value (S141d). ). If it is determined in S141d that the difference is within the preset threshold value (“Yes”), the control device 100 ends the “automatic adjustment execution” process in S140d. On the other hand, if it is determined in S141d that the difference is not within the preset threshold value ("No"), the control device 100 calculates adjustment data based on the measurement result in S141c (S141e). . After that, the process returns to S141a.

(「手動調整実行」処理の詳細)
以下、図11Dを参照して、S140gの「手動調整実行」処理(図11B参照)の詳細につき説明する。
図11Dに示すように、S140gの「手動調整実行」処理では、まず制御装置100はS141aの処理(図11C参照)と同様にダミー基板への加圧を解除する(S142a)。
次に制御装置100は、平行調整用の各上下動機構80(各電動モータ83)の動作量の設定値のエンジニアによる手動入力を受け付け、動作量の設定値を受け付けた値に更新する(S142b)。
(Details of "manual adjustment execution" processing)
Details of the "manual adjustment execution" process (see FIG. 11B) of S140g will be described below with reference to FIG. 11D.
As shown in FIG. 11D, in the “manual adjustment execution” process of S140g, first, the control device 100 releases the pressure on the dummy substrate (S142a) as in the process of S141a (see FIG. 11C).
Next, the control device 100 receives a manual input by the engineer of the set value of the operation amount of each vertical movement mechanism 80 (each electric motor 83) for parallel adjustment, and updates the set value of the operation amount to the received value (S142b). ).

S142bの後、制御装置100は、S125の処理(図11A参照)と同様に、基板組立装置1に加圧・電流測定を行わせる(S142c)。次に、制御装置100は、S130の処理(図11A参照)と同様に、測定結果を表す表示画面(例えば、図15に示す表示画面PI1)を作成し、その表示画面を表示部180(図8参照)に表示する(S142d)。 After S142b, the control device 100 causes the board assembly apparatus 1 to perform pressurization and current measurement (S142c) in the same manner as in the process of S125 (see FIG. 11A). Next, similarly to the process of S130 (see FIG. 11A), the control device 100 creates a display screen showing the measurement result (for example, the display screen PI1 shown in FIG. 15), and displays the display screen on the display section 180 (see FIG. 8) is displayed (S142d).

S142dの後、再調整(平行調整)が必要であるか否かがエンジニアによって判定される(S142e)。再調整(平行調整)が必要である場合(“Yes”の場合)に、例えばエンジニアによって手動調整ボタンB1b(図15参照)が押下される。制御装置100は、手動調整ボタンB1bの押下を検出すると、S142cの測定結果に基づいて調整用データを算出する(S142f)。この後、処理はS142aに戻る。一方、再調整(平行調整)が不要である場合(“No”の場合)に、例えばエンジニアによって調整不要ボタンB3(図15参照)が押下される。制御装置100は、調整不要ボタンB3の押下を検出すると、S140gの「手動調整実行」処理を終了する。 After S142d, the engineer determines whether readjustment (parallel adjustment) is required (S142e). If readjustment (parallel adjustment) is necessary ("Yes"), for example, an engineer presses the manual adjustment button B1b (see FIG. 15). When the control device 100 detects that the manual adjustment button B1b has been pressed, it calculates adjustment data based on the measurement results of S142c (S142f). After that, the process returns to S142a. On the other hand, if readjustment (parallel adjustment) is unnecessary ("No"), for example, an engineer presses the adjustment unnecessary button B3 (see FIG. 15). When the control device 100 detects that the adjustment unnecessary button B3 has been pressed, the control device 100 ends the "manual adjustment execution" process of S140g.

(基板の生産停止中の動作)
次、図12を参照して、基板組立システム1000の基板の生産停止中の動作につき説明する。基板の生産停止中の動作は、基板組立システム1000の利用者側のオペレータの操作に基づいて行われる。
(Operation during substrate production stop)
Next, with reference to FIG. 12, the operation of the board assembly system 1000 while board production is stopped will be described. The operation during board production stop is performed based on the operation of the operator on the user side of the board assembly system 1000 .

図11Aに示すように、オペレータは、制御装置100を操作して、蓄積測定データD4(図8参照)を確認するための確認画面(図示せず)を表示部180に表示させる(S205)。図示せぬ確認画面が表示されると、平行調整が必要であるか否かがオペレータによって判定される(S210)。 As shown in FIG. 11A, the operator operates the control device 100 to display a confirmation screen (not shown) for confirming the accumulated measurement data D4 (see FIG. 8) on the display unit 180 (S205). When a confirmation screen (not shown) is displayed, the operator determines whether parallel adjustment is necessary (S210).

平行調整が必要である場合(“Yes”の場合)に、例えばオペレータによって図示せぬ確認画面に含まれている図示せぬ自動調整ボタン又は手動調整ボタンが押下される。制御装置100は、図示せぬ自動調整ボタン又は手動調整ボタンの押下を検出すると、平行調整を実行する(S140)。一方、平行調整が不要である場合(“No”の場合)に、例えばオペレータによって図示せぬ確認画面に含まれている図示せぬ調整不要ボタンが押下される。制御装置100は、図示せぬ調整不要ボタンの押下を検出すると、一連のルーチンの処理を終了する。 If parallel adjustment is necessary ("Yes"), for example, the operator presses an automatic adjustment button or manual adjustment button (not shown) included in a confirmation screen (not shown). When the control device 100 detects that an automatic adjustment button or a manual adjustment button (not shown) has been pressed, it performs parallel adjustment (S140). On the other hand, if the parallel adjustment is unnecessary ("No"), for example, the operator presses an adjustment unnecessary button (not shown) included in a confirmation screen (not shown). When the controller 100 detects that an adjustment unnecessary button (not shown) has been pressed, it terminates the series of routine processes.

(基板の生産中の動作)
次に、図13を参照して、基板組立システム1000の基板の生産中の動作につき説明する。基板の生産中の動作は、基板組立システム1000の利用者側のオペレータの操作に基づいて行われる。オペレータは、制御装置100を操作して、基板の生産を指示するための生産指示画面(図示せず)を表示部180に表示させる。これにより、基板組立システム1000は基板の生産中の動作を開始する。
(Operation during board production)
Next, referring to FIG. 13, the operation of the board assembly system 1000 during board production will be described. Operations during board production are performed based on the operations of the operator on the side of the user of the board assembly system 1000 . The operator operates the control device 100 to display a production instruction screen (not shown) for instructing the production of substrates on the display unit 180 . This causes the board assembly system 1000 to start operating during board production.

図13に示すように、オペレータが図示せぬ生産指示画面から生産枚数等の各種の設定値を入力して生産開始を指示する操作を行うと、制御装置100は、基板組立装置1に上基板K1及び下基板K2の真空チャンバ5内への搬入を行わせる(S305)。S305の処理は、以下のようにして行われる。 As shown in FIG. 13, when the operator inputs various set values such as the number of sheets to be produced from a production instruction screen (not shown) and instructs the start of production, the control device 100 instructs the board assembly apparatus 1 to start the upper board. K1 and the lower substrate K2 are carried into the vacuum chamber 5 (S305). The processing of S305 is performed as follows.

まず、制御装置100は、基板組立装置1のZ軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を上動することによって、上テーブル3を上動させるとともに、上チャンバ5aを上動させる。これによって真空チャンバ5が開く。次に制御装置100は、搬送装置200を駆動して、上基板K1を真空チャンバ5内の上テーブル3と下テーブル4の間に搬入する。 First, the control device 100 drives the Z-axis driving mechanism 20 of the substrate assembly apparatus 1 to move the upper frame 2 upward, thereby moving the upper table 3 and the upper chamber 5a upward. This opens the vacuum chamber 5 . Next, the control device 100 drives the transfer device 200 to carry the upper substrate K1 between the upper table 3 and the lower table 4 inside the vacuum chamber 5 .

上基板K1が上テーブル3と下テーブル4の間に搬送されると、制御装置100は、上下動機構70に指令を与えて、上基板K1に当たるまで吸上げピン7aを下動させるとともに、真空ポンプP1を駆動する。これによって上基板K1が吸上げピン7aに真空吸引される。 When the upper substrate K1 is transported between the upper table 3 and the lower table 4, the control device 100 gives a command to the vertical movement mechanism 70 to move the suction pins 7a downward until they hit the upper substrate K1, and the vacuum is removed. Drive pump P1. As a result, the upper substrate K1 is vacuum-sucked by the suction pins 7a.

この後、制御装置100は、搬送装置200を真空チャンバ5の外部に退出させ、吸上げピン7aを上動させて上基板K1を上テーブル3の上部基板面3aに密着させる。上部基板面3aは平面であるので、上基板K1における撓み等の変形が補正される(撓み等の変形が除去される)。 Thereafter, the control device 100 moves the transfer device 200 out of the vacuum chamber 5 and moves the suction pins 7 a upward to bring the upper substrate K 1 into close contact with the upper substrate surface 3 a of the upper table 3 . Since the upper substrate surface 3a is a flat surface, deformation such as bending in the upper substrate K1 is corrected (deformation such as bending is removed).

そして制御装置100は、上下動機構80に指令を与えて、粘着ピンプレート8bを下動させるとともに、真空ポンプP2を駆動する。上基板K1は、粘着ピンプレート8bとともに下動する粘着ピン8aに真空吸引される。このとき、粘着ピン8aの先端の粘着部8cが上基板K1に貼りつく。その後、制御装置100は、粘着ピン8aに上基板K1が貼りついた状態の粘着ピンプレート8bを下動し、上基板K1を上部基板面3aから離反させる。 The control device 100 then gives a command to the vertical movement mechanism 80 to move the adhesive pin plate 8b downward and drive the vacuum pump P2. The upper substrate K1 is vacuum-sucked by the adhesive pins 8a that move downward together with the adhesive pin plate 8b. At this time, the adhesive portion 8c at the tip of the adhesive pin 8a sticks to the upper substrate K1. Thereafter, the controller 100 moves downward the adhesive pin plate 8b with the upper substrate K1 stuck to the adhesive pins 8a to separate the upper substrate K1 from the upper substrate surface 3a.

このとき、制御装置100は、各粘着ピン8aの突出量が粘着ピンプレート8bの各部位ごとに設定されている突出量となるように、上下動機構80の動作(具体的には、各上下動機構80の各電動モータ83の動作)を制御して、各粘着ピンプレート8bを下動する。これにより、制御装置100は各粘着ピンプレート8bの各部位の高さを規定する。 At this time, the control device 100 operates the vertical movement mechanism 80 (specifically, each vertical movement) so that the amount of protrusion of each adhesive pin 8a becomes the amount of protrusion set for each part of the adhesive pin plate 8b. The operation of each electric motor 83 of the driving mechanism 80 is controlled to move each adhesive pin plate 8b downward. Thereby, the control device 100 defines the height of each portion of each adhesive pin plate 8b.

次に制御装置100は、搬送装置200を駆動して、下基板K2を真空チャンバ5内の上基板K1と下テーブル4の間に搬入し、下基板K2を下テーブル4の下部基板面4aに載置する。この後、制御装置100は、搬送装置200を真空チャンバ5の外部に退出させる。また、制御装置100は真空ポンプP3を駆動して下基板K2を下テーブル4の下部基板面4aに吸着させて保持する。 Next, the control device 100 drives the transfer device 200 to carry the lower substrate K2 between the upper substrate K1 and the lower table 4 in the vacuum chamber 5 and place the lower substrate K2 on the lower substrate surface 4a of the lower table 4. Place. After that, the control device 100 causes the transfer device 200 to leave the vacuum chamber 5 . Further, the control device 100 drives the vacuum pump P3 to cause the lower substrate K2 to be attracted to the lower substrate surface 4a of the lower table 4 and to be held.

その後、制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を下動することによって、上テーブル3を下動させるとともに、上チャンバ5aを下動させる。これによって、上チャンバ5aと下チャンバ5bとが係合して、真空チャンバ5が閉じる。このとき、真空チャンバ5の内側には、上テーブル3と下テーブル4と吸上げピン7aと粘着ピン8aとが配置されている。
S305の処理は、以上のようにして行われる。
Thereafter, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 downward, thereby moving the upper table 3 downward and the upper chamber 5a downward. This causes the upper chamber 5a and the lower chamber 5b to engage and the vacuum chamber 5 to close. At this time, inside the vacuum chamber 5, the upper table 3, the lower table 4, the suction pins 7a, and the adhesive pins 8a are arranged.
The processing of S305 is performed as described above.

S305の後、制御装置100は、S115の処理(図11A参照)と同様に、基板組立装置1に真空引きを行わせる(S310)。これによって真空チャンバ5は、真空環境下で上テーブル3と下テーブル4と吸上げピン7aと粘着ピン8aとを収納した状態になる。なお、下基板K2は、基板組立装置1(上テーブル3と下テーブル4の間)に搬入される前に、別の工程でシール剤、液晶、スペーサ、ペースト材などの必要な物質が塗布されている。 After S305, the control device 100 causes the substrate assembly apparatus 1 to vacuum (S310), as in the process of S115 (see FIG. 11A). As a result, the vacuum chamber 5 accommodates the upper table 3, the lower table 4, the suction pins 7a, and the adhesive pins 8a in a vacuum environment. Before the lower substrate K2 is carried into the substrate assembly apparatus 1 (between the upper table 3 and the lower table 4), necessary substances such as sealant, liquid crystal, spacers, and paste are applied in a separate process. ing.

S310の後、制御装置100は、XYθ移動ユニット40の移動機構41を駆動して下テーブル4を変位させて、上基板K1と下基板K2との貼り合せ位置を決める(S315)。 After S310, the control device 100 drives the moving mechanism 41 of the XYθ moving unit 40 to displace the lower table 4, thereby determining the bonding position of the upper substrate K1 and the lower substrate K2 (S315).

S315の後、制御装置100は、基板組立装置1に加圧・電流測定処理を行わせる(S320)。S320の処理は、以下のようにして行われる。
まず、制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2を下動することによって、上テーブル3とともに各粘着ピンプレート8b(粘着ピン8a)を下動させて、上フレーム2及び上テーブル3と下テーブル4とで上基板K1と下基板K2とを加圧する。これによって、粘着ピン8aで保持されている上基板K1と下テーブル4で保持されている下基板K2とが貼り合わされる。同時に制御装置100は各上下動機構80の各電動モータ83の保持電流値の測定を開始する。制御装置100は、各電動モータ83の電流値の測定を開始してから終了するまでの間に測定される各電動モータ83の電流値の測定結果を、Z軸高さと対応付けて、測定データD2として記憶部160に記憶する。
After S315, the control device 100 causes the substrate assembly apparatus 1 to perform pressure and current measurement processing (S320). The processing of S320 is performed as follows.
First, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 downward, thereby lowering the upper table 3 and the respective adhesive pin plates 8b (adhesive pins 8a). Then, the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are pressed by the upper table 3 and the lower table 4, respectively. As a result, the upper substrate K1 held by the adhesive pins 8a and the lower substrate K2 held by the lower table 4 are bonded together. At the same time, the control device 100 starts measuring the holding current value of each electric motor 83 of each vertical movement mechanism 80 . The control device 100 associates the measurement results of the current values of the electric motors 83 measured from the start to the end of the measurement of the current values of the electric motors 83 with the Z-axis height, and prepares measurement data. D2 is stored in the storage unit 160 .

制御装置100は、ロードセル20dから入力される検出信号によって、上基板K1と下基板K2とが貼り合わさったことを検知する。すると、制御装置100は、その時点で各上下動機構80を駆動して、粘着ピン8aを上部基板面3aから引き込む。このとき、制御装置100は、真空ポンプP2を停止するとともに、ガス供給手段8eを駆動して真空吸着孔8dにガスを供給し、上基板K1を粘着部8cから剥離させる。 The control device 100 detects that the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are stuck together by a detection signal input from the load cell 20d. At that time, the controller 100 drives the vertical movement mechanisms 80 to draw the adhesive pins 8a from the upper substrate surface 3a. At this time, the control device 100 stops the vacuum pump P2, drives the gas supply means 8e to supply gas to the vacuum suction holes 8d, and separates the upper substrate K1 from the adhesive portion 8c.

そして、制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上フレーム2をさらに下動することによって、上フレーム2及び上テーブル3と下テーブル4とで上基板K1と下基板K2とをさらに加圧する。制御装置100は、ロードセル20dから入力される検出信号によって、上テーブル3と下テーブル4との間に所定の設定荷重が生じたと判定したときに上フレーム2の下動を停止する。また、制御装置100は各電動モータ83の電流値の測定を終了する。このとき、上基板K1と下基板K2とは真空チャンバ5内の真空環境下において所定の設定荷重で貼り合わされる。また、このときの加圧によって、下基板K2にあらかじめ塗布されているシール剤が適宜押圧され、シール剤で囲まれた枠内に塗布される液晶部分の真空が保持される。
その後、上基板K1と下基板K2の位置がずれないように、図示せぬUV(紫外線)照射装置から照射される紫外線でシール剤が仮硬化される。
S320の処理は、以上のようにして行われる。
Then, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to move the upper frame 2 further downward, thereby moving the upper substrate K1 and the lower substrate K2 with the upper frame 2, the upper table 3, and the lower table 4. Apply more pressure. The control device 100 stops the downward movement of the upper frame 2 when it determines that a predetermined set load has occurred between the upper table 3 and the lower table 4 based on the detection signal input from the load cell 20d. Also, the control device 100 ends the measurement of the current value of each electric motor 83 . At this time, the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are bonded together under a vacuum environment in the vacuum chamber 5 with a predetermined set load. Moreover, the pressure applied at this time appropriately presses the sealing agent applied in advance to the lower substrate K2, and the vacuum of the liquid crystal portion applied within the frame surrounded by the sealing agent is maintained.
After that, the sealant is temporarily cured with ultraviolet rays emitted from a UV (ultraviolet) irradiation device (not shown) so that the positions of the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are not shifted.
The processing of S320 is performed as described above.

S320の後、制御装置100はS320の測定結果に基づいて各上下動機構80の各電動モータ83の保持電流値の変動のタイミングの差分が予め設定された閾値内であるか否かを判定する(S325)。
S325の判定で、差分が予め設定された閾値内であると判定された場合(“Yes”の場合)に、制御装置100は基板組立装置1に大気開放を行わせる(S330)。具体的には、制御装置100は、真空状態にある真空チャンバ5の内部に窒素ガスなどの気体を注入して真空チャンバ5内を大気圧まで昇圧する。真空チャンバ5の内部が大気圧まで昇圧することによって、予め基板(下基板K2)に塗布されているスペーサや液晶の量によって決定されるギャップ(セルギャップ)になるまで、上基板K1と下基板K2とが均一に押圧(加圧プレス)される。制御装置100は、ガス供給手段8eを駆動して、真空吸着孔8dにガスを供給する。この時点で粘着ピン8aは上基板K1を保持していないので、真空吸着孔8dに供給されたガスは真空チャンバ5内に供給される。制御装置100は、図示しない気圧センサで真空チャンバ5内の気圧を計測し、真空チャンバ5内の気圧が大気圧まで昇圧した時点でガス供給手段8eを停止する。そして、制御装置100は上フレーム2を上動する。これによって真空チャンバ5が開放される。
After S320, the control device 100 determines whether or not the difference in the variation timing of the holding current value of each electric motor 83 of each vertical movement mechanism 80 is within a preset threshold based on the measurement result of S320. (S325).
If it is determined in S325 that the difference is within the preset threshold value ("Yes"), the control device 100 causes the substrate assembly apparatus 1 to open to the atmosphere (S330). Specifically, the control device 100 injects a gas such as nitrogen gas into the vacuum chamber 5 in a vacuum state to raise the pressure inside the vacuum chamber 5 to atmospheric pressure. By increasing the pressure inside the vacuum chamber 5 to the atmospheric pressure, the upper substrate K1 and the lower substrate are separated from each other until the gap (cell gap) determined by the amount of spacers and liquid crystal applied to the substrate (lower substrate K2) in advance is reached. K2 is uniformly pressed (pressurized). The control device 100 drives the gas supply means 8e to supply gas to the vacuum suction holes 8d. Since the adhesive pins 8a do not hold the upper substrate K1 at this point, the gas supplied to the vacuum suction holes 8d is supplied into the vacuum chamber 5. As shown in FIG. The controller 100 measures the pressure inside the vacuum chamber 5 with an air pressure sensor (not shown), and stops the gas supply means 8e when the pressure inside the vacuum chamber 5 reaches the atmospheric pressure. Then, the control device 100 moves the upper frame 2 upward. The vacuum chamber 5 is thereby opened.

S325の後、制御装置100は、搬送装置200を駆動して、上基板K1と下基板K2とが貼り合わされた基板を真空チャンバ5の外部に搬出する(S335)。
S335の後、制御装置100は、設定枚数分の生産が終了したか否かを判定する(S340)。S340の判定で、設定枚数分の生産が終了していないと判定された場合(“No”の場合)に、処理はS305に戻る。一方、S340の判定で、設定枚数分の生産が終了したと判定された場合(“Yes”の場合)に、一連のルーチンの処理は終了する。
After S325, the control device 100 drives the transfer device 200 to carry out the substrate in which the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are bonded to the outside of the vacuum chamber 5 (S335).
After S335, the control device 100 determines whether or not the production of the set number of sheets has been completed (S340). If it is determined in S340 that production of the set number of sheets has not been completed ("No"), the process returns to S305. On the other hand, when it is determined in S340 that the production of the set number of sheets has been completed ("Yes"), the series of routine processing ends.

また、S325の判定で、差分が予め設定された閾値内でないと判定された場合(“No”の場合)に、制御装置100は、オペレータに測定結果を確認させるために、スピーカ170で警報を発報するとともに(S350)、S320で記憶部160に記憶された各電動モータ83の電流値の測定データD2を参照して、測定結果を表す表示画面(例えば、図15に示す表示画面PI1)を作成し、その表示画面を表示部180(図8参照)に表示する(S355)。 Further, when it is determined in S325 that the difference is not within the preset threshold value (“No”), the control device 100 issues an alarm through the speaker 170 so that the operator can confirm the measurement result. While issuing the alarm (S350), referring to the measurement data D2 of the current value of each electric motor 83 stored in the storage unit 160 in S320, a display screen showing the measurement result (for example, the display screen PI1 shown in FIG. 15) is displayed. is created, and its display screen is displayed on the display unit 180 (see FIG. 8) (S355).

S355の後、平行調整が必要であるか否かがオペレータによって判定される(S360)。平行調整が必要である場合(“Yes”の場合)に、例えばオペレータによって自動調整ボタンB1a(図15参照)又は手動調整ボタンB1b(図15参照)が押下される。制御装置100は、自動調整ボタンB1a(図15参照)又は手動調整ボタンB1bの押下を検出すると、搬送装置200を駆動して、生産中の基板を真空チャンバ5の外部に搬出する(S365)。そして、制御装置100は、平行調整を実行する(S140)。この後、処理は符号SA1を介してS305に戻る。一方、S360で、平行調整が不要である場合(“No”の場合)に、例えばオペレータによって調整不要ボタンB3(図15参照)が押下される。この場合に、処理は符号SA2を介してS330に進む。 After S355, it is determined by the operator whether a parallel adjustment is required (S360). If the parallel adjustment is required ("Yes"), for example, the operator presses the automatic adjustment button B1a (see FIG. 15) or the manual adjustment button B1b (see FIG. 15). When the control device 100 detects that the automatic adjustment button B1a (see FIG. 15) or the manual adjustment button B1b has been pressed, it drives the transfer device 200 to carry out the substrate being produced to the outside of the vacuum chamber 5 (S365). Then, the control device 100 executes parallel adjustment (S140). After that, the process returns to S305 via symbol SA1. On the other hand, in S360, if parallel adjustment is unnecessary ("No"), for example, the operator presses the adjustment unnecessary button B3 (see FIG. 15). In this case, the process proceeds to S330 via code SA2.

なお、本実施形態では、S330の処理において、基板組立装置1に大気開放を行わせている。これは以下の動作を実現するためである。
すなわち、上基板K1と下基板K2との間にガスが侵入する隙間があると、好ましくない。そのため、基板組立装置1は、粘着ピン8aの粘着部8cが潰れる程度に上基板K1を下基板K2に押し付けて、上基板K1と下基板K2とを部分的に貼り合わせる。そして、基板組立装置1は、大気に開放することにより、大気圧で上基板K1を加圧して、上基板K1と下基板K2とを密着させて全体的に貼り合わせる。
In this embodiment, the substrate assembly apparatus 1 is exposed to the atmosphere in the process of S330. This is for realizing the following operations.
That is, it is not preferable to have a gap through which gas enters between the upper substrate K1 and the lower substrate K2. Therefore, the substrate assembly apparatus 1 presses the upper substrate K1 against the lower substrate K2 to such an extent that the adhesive portions 8c of the adhesive pins 8a are crushed, thereby partially bonding the upper substrate K1 and the lower substrate K2 together. By opening the substrate assembly apparatus 1 to the atmosphere, the upper substrate K1 is pressurized by the atmospheric pressure to bring the upper substrate K1 and the lower substrate K2 into close contact with each other and bond them together as a whole.

(「加圧・電流測定」処理の詳細)
以下、図14A及び図14Bを参照して、S140g,S141c,S142c,S320の「加圧・電流測定」処理(図11A、図11B、図11D、図13参照)の詳細につき説明する。ここでは、上テーブル3の下降量が第1下降量~第4下降量の4段階で設定されている場合を想定して説明する。ただし、上テーブル3の下降量は4段階以外の多段階で設定することもできる。また、上テーブル3の下降量を設定するか否かの条件として用いる目標荷重が第1目標荷重~第3目標荷重の3段階で設定されている場合を想定して説明する。ただし、目標荷重は3段階以外の多段階で設定することもできる。
(Details of "pressurization/current measurement" processing)
Details of the "pressurization/current measurement" process (see FIGS. 11A, 11B, 11D, and 13) in S140g, S141c, S142c, and S320 will be described below with reference to FIGS. 14A and 14B. Here, it is assumed that the amount of descent of the upper table 3 is set in four stages from the first descent amount to the fourth descent amount. However, the lowering amount of the upper table 3 can also be set in multiple steps other than four steps. Also, the description will be made assuming that the target load used as a condition for determining whether or not to set the amount of descent of the upper table 3 is set in three stages from the first target load to the third target load. However, the target load can also be set in multiple stages other than three stages.

図14Aに示すように、S140g,S141c,S142c,S320の「加圧・電流測定」処理では、まず制御装置100は各粘着ピンプレート8bを加圧開始用高さにセットする(S405)。加圧開始用高さは、加圧開始用に予め設定された高さであり、真空チャンバ5内に配置されている基板の厚さ(具体的には、ダミー基板の厚さ、又は、上基板K1と下基板K2との合計の厚さ)よりも大きな値に設定されている。次に制御装置100は電流測定を開始する(S410)。そして制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上テーブル3を加圧開始高さに下降させる(S415)。 As shown in FIG. 14A, in the "pressurization/current measurement" process of S140g, S141c, S142c, and S320, first, the control device 100 sets each adhesive pin plate 8b to the pressure start height (S405). The pressurization start height is a height set in advance for pressurization start, and corresponds to the thickness of the substrate (specifically, the thickness of the dummy substrate or the height of the dummy substrate). It is set to a value larger than the total thickness of the substrate K1 and the lower substrate K2). Next, the control device 100 starts current measurement (S410). Then, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to lower the upper table 3 to the pressurization start height (S415).

S415の後、制御装置100は上テーブル3の下降量を第1下降量に設定する(S420)。第1下降量は、上部基板面3aからの粘着ピン8aの粘着部8cの突出量として予め設定された設定値(以下、「設定突出量」と称する)と同程度の値又は設定突出量よりも小さな値に設定されている。次に制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上テーブル3を第1下降量分だけ下降させる(S425)。 After S415, the controller 100 sets the lowering amount of the upper table 3 to the first lowering amount (S420). The first descent amount is about the same as a set value (hereinafter referred to as "set protrusion amount") preset as the amount of protrusion of the adhesive portion 8c of the adhesive pin 8a from the upper substrate surface 3a, or is less than the set protrusion amount. is also set to a small value. Next, the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to lower the upper table 3 by the first lowering amount (S425).

S425の後、制御装置100は、4つのロードセル20dによって測定された荷重(以下、「測定荷重」と称する)が最終荷重に到達したか否かを判定する(S430)。最終荷重は、上基板K1と下基板K2とを実際に貼り合わせるときの設定荷重である。 After S425, the control device 100 determines whether or not the loads measured by the four load cells 20d (hereinafter referred to as "measured loads") have reached the final loads (S430). The final load is the set load when actually bonding the upper substrate K1 and the lower substrate K2 together.

S430の判定で、測定荷重が最終荷重に到達したと判定された場合(“Yes”の場合)に、上基板K1と下基板K2とが貼り合わされた状態になっている。この場合に、制御装置100は、設定時間分だけ待機し(S435)、その後に、電流測定を終了し(S440)、測定結果を測定データD2として記憶部160に記憶する(S445)。そして制御装置100は、「加圧・電流測定」の処理を終了する。 When it is determined in S430 that the measured load has reached the final load ("Yes"), the upper substrate K1 and the lower substrate K2 are in a bonded state. In this case, the control device 100 waits for the set time (S435), then ends the current measurement (S440), and stores the measurement result in the storage section 160 as measurement data D2 (S445). Then, the control device 100 ends the processing of "pressurization/current measurement".

一方、S430の判定で、測定荷重が最終荷重に到達していないと判定された場合(“No”の場合)に、処理は符号SB1を介して図14Bに示すS505に進む。 On the other hand, if it is determined in S430 that the measured load has not reached the final load ("No"), the process proceeds to S505 shown in FIG. 14B via symbol SB1.

S430の判定で、測定荷重が最終荷重に到達していないと判定された場合(“No”の場合)に、図14Bに示すように、制御装置100は、測定荷重が第1目標荷重に到達したか否かを判定する(S505)。第1目標荷重は、上テーブル3の下降量として第2下降量を設定するか否かの条件として用いる目標荷重であり、最終荷重よりも小さな値に設定されている。 When it is determined in S430 that the measured load has not reached the final load (“No”), as shown in FIG. It is determined whether or not (S505). The first target load is a target load used as a condition for determining whether or not to set the second descent amount as the descent amount of the upper table 3, and is set to a value smaller than the final load.

S505の判定で、測定荷重が第1目標荷重に到達していると判定された場合(“Yes”の場合)に、制御装置100は、上テーブル3の下降量を第2下降量に設定する(S510)。第2下降量は第1下降量よりも小さな値に設定されている。 When it is determined in S505 that the measured load has reached the first target load ("Yes"), the control device 100 sets the lowering amount of the upper table 3 to the second lowering amount. (S510). The second descent amount is set to a value smaller than the first descent amount.

次に制御装置100は電流測定を一時停止する(S515)。そして制御装置100は、XYθ移動ユニット40の移動機構41を駆動して下テーブル4を変位させて、上基板K1と下基板K2との貼り合せ位置を決める(S520)。この後、制御装置100は電流測定を再開する(S525)。 Next, the control device 100 suspends current measurement (S515). Then, the controller 100 drives the moving mechanism 41 of the XY.theta. moving unit 40 to displace the lower table 4, thereby determining the bonding position between the upper substrate K1 and the lower substrate K2 (S520). Thereafter, the control device 100 restarts current measurement (S525).

一方、S505の判定で、測定荷重が第1目標荷重に到達していないと判定された場合(“No”の場合)に、制御装置100は、測定荷重が第2目標荷重に到達したか否かを判定する(S530)。第2目標荷重は第1目標荷重よりも小さな値に設定されている。S530の判定で、測定荷重が第2目標荷重に到達していると判定された場合(“Yes”の場合)に、制御装置100は、上テーブル3の下降量を第3下降量に設定する(S535)。第3下降量は第2下降量よりも小さな値に設定されている。 On the other hand, when it is determined in S505 that the measured load has not reached the first target load ("No"), the control device 100 determines whether the measured load has reached the second target load. (S530). The second target load is set to a value smaller than the first target load. When it is determined in S530 that the measured load has reached the second target load ("Yes"), the control device 100 sets the lowering amount of the upper table 3 to the third lowering amount. (S535). The third descent amount is set to a smaller value than the second descent amount.

一方、S530の判定で、測定荷重が第2目標荷重に到達していないと判定された場合(“No”の場合)に、制御装置100は、測定荷重が第3目標荷重に到達したか否かを判定する(S540)。第3目標荷重は第2目標荷重よりも小さな値に設定されている。S540の判定で、測定荷重が第3目標荷重に到達していると判定された場合(“Yes”の場合)に、制御装置100は、上テーブル3の下降量を第4下降量に設定する(S545)。第4下降量は第3下降量よりも小さな値に設定されている。一方、S540の判定で、測定荷重が第3目標荷重に到達していないと判定された場合(“No”の場合)に、処理はS550に進む。 On the other hand, if it is determined in S530 that the measured load has not reached the second target load ("No"), the control device 100 determines whether the measured load has reached the third target load. (S540). The third target load is set to a value smaller than the second target load. If it is determined in S540 that the measured load has reached the third target load ("Yes"), the controller 100 sets the amount of descent of the upper table 3 to the fourth amount of descent. (S545). The fourth descent amount is set to a smaller value than the third descent amount. On the other hand, if it is determined in S540 that the measured load has not reached the third target load ("No"), the process proceeds to S550.

S525とS535とS545とのいずれかの処理の後、又は、S540の判定で、測定荷重が第3目標荷重に到達していないと判定された場合(“No”の場合)の後に、制御装置100は、Z軸駆動機構20を駆動して、上テーブル3を設定された下降量分だけ下降させる(S550)。その結果、処理がS525の後の場合に、上テーブル3が第2下降量分だけ下降する。また、処理がS535の後の場合に、上テーブル3が第3下降量分だけ下降する。また、処理がS545の後の場合に、上テーブル3が第4下降量分だけ下降する。また、処理がS540の判定で、測定荷重が第3目標荷重に到達していないと判定された場合(“No”の場合)の後に、上テーブル3が第3下降量分だけ下降する。
S550の後、処理は符号SB2を介して図14Aに示すS430に戻る。
After any of the processing of S525, S535 and S545, or when it is determined in S540 that the measured load has not reached the third target load ("No"), the control device 100 drives the Z-axis drive mechanism 20 to lower the upper table 3 by the set lowering amount (S550). As a result, when the process is after S525, the upper table 3 is lowered by the second lowering amount. Also, when the process is after S535, the upper table 3 is lowered by the third lowering amount. Also, when the process is after S545, the upper table 3 is lowered by the fourth lowering amount. Further, when it is determined in the determination at S540 that the measured load has not reached the third target load ("No"), the upper table 3 descends by the third descending amount.
After S550, the process returns to S430 shown in FIG. 14A via SB2.

<基板組立システムの主な特徴>
(1)基板組立システム1000は調整用データ算出部122(図8参照)を有している。調整用データ算出部122は、Z軸駆動機構20の下降量に応じて測定される各上下動機構80の負荷(本実施形態では、電動モータ83の保持電流値)の変動のタイミングに基づいて、各上下動機構80の動作量(電動モータ83の回転角度)の調整用データD3を算出する。基板組立システム1000の提供者側のエンジニアや利用者側のオペレータは、算出された調整用データD3を確認することにより、適切な平行調整を容易に行うことができる。そのため、基板組立システム1000は、下基板K2に対する上基板K1の平行調整の簡易化を図ることができる。
<Main features of the board assembly system>
(1) The board assembly system 1000 has an adjustment data calculator 122 (see FIG. 8). The adjustment data calculation unit 122 calculates the amount based on the variation timing of the load of each vertical movement mechanism 80 (in this embodiment, the holding current value of the electric motor 83) measured according to the amount of descent of the Z-axis drive mechanism 20. , adjustment data D3 for the amount of movement of each vertical movement mechanism 80 (the rotation angle of the electric motor 83) is calculated. An engineer on the side of the provider of the board assembly system 1000 or an operator on the side of the user can easily perform appropriate parallel adjustment by checking the calculated adjustment data D3. Therefore, the substrate assembly system 1000 can simplify parallel adjustment of the upper substrate K1 with respect to the lower substrate K2.

特に、近年では、1枚の基板から多数の製品を切り出して取得することが要望されている。この要望を満たそうとする場合に、基板の各部位に合わせて平行調整量の細かな設定を行うことが望ましい。基板組立システム1000は、基板の各部位に合わせて平行調整量の細かな設定を行うことができるため、このような要望を満たすことができる。 In particular, in recent years, there has been a demand to cut out and obtain a large number of products from a single substrate. In order to satisfy this demand, it is desirable to finely set the amount of parallel adjustment according to each portion of the substrate. Since the substrate assembly system 1000 can finely set the amount of parallel adjustment in accordance with each portion of the substrate, such a demand can be satisfied.

(2)基板組立システム1000は測定部121(図8参照)を有している。測定部121は各上下動機構80の負荷(電動モータ83の保持電流値)を測定して、負荷の変動のタイミングに応じて粘着ピンプレート8bの各部位(四隅)の平行状態を判定するモニタリング機能を有する。そのため、基板組立システム1000は、例えば粘着ピンプレート8bの各部位の高さが予め設定された閾値を超えた位置にある場合に、警報を発報して平行調整の異常をエンジニアやオペレータに通知することができる。 (2) The board assembly system 1000 has a measuring section 121 (see FIG. 8). The measuring unit 121 measures the load of each vertical movement mechanism 80 (holding current value of the electric motor 83), and monitors the parallel state of each part (four corners) of the adhesive pin plate 8b according to the timing of load fluctuation. have a function. Therefore, for example, when the height of each part of the adhesive pin plate 8b exceeds a preset threshold value, the board assembly system 1000 issues an alarm to notify the engineer or operator of an abnormality in parallel adjustment. can do.

(3)制御装置100は手動調整モードと自動調整モードとを選択可能に表示する表示画面PI1(図15参照)を表示部180(図8参照)に表示する。これによってエンジニアやオペレータは運用に応じて好ましいモードを選択することができる。例えば、エンジニアやオペレータは手動調整モードを選択することにより、図9(c)に示すような、意図的に設定したズレ量を含む平行調整を行うことができる。また、エンジニアやオペレータは自動調整モードを選択することにより、図9(b)に示すような、粘着ピンプレート8bの全面を下側の部材(例えば、下基板K2や下テーブル4)と平行にさせる平行調整を行うことができる。ただし、自動調整モードであっても、ズレ量を含む設定データD1(図8参照)を予め設定しておくことにより、図9(c)に示すような、意図的に設定したズレ量を含む平行調整を行うこともできる。 (3) The control device 100 displays on the display section 180 (see FIG. 8) a display screen PI1 (see FIG. 15) that allows selection between the manual adjustment mode and the automatic adjustment mode. This allows engineers and operators to select the preferred mode depending on the operation. For example, by selecting the manual adjustment mode, an engineer or operator can perform parallel adjustment including an intentionally set amount of deviation, as shown in FIG. 9(c). Further, the engineer or operator selects the automatic adjustment mode so that the entire surface of the adhesive pin plate 8b is parallel to the lower member (for example, the lower substrate K2 or the lower table 4) as shown in FIG. 9(b). Parallel adjustment can be performed to However, even in the automatic adjustment mode, by presetting the setting data D1 (see FIG. 8) including the amount of misalignment, an intentionally set amount of misalignment can be included as shown in FIG. 9(c). Parallel adjustments can also be made.

(4)基板組立システム1000は監視部124(図8参照)を有している。監視部124は、測定部121によって測定された上下動機構80の負荷(電動モータ83の保持電流値)を表す測定データD2に対し、過去に測定された測定負荷又はサンプル値として任意に予め設定された設定負荷からの変化の大きさを監視する。このような基板組立システム1000は、基板を製造する度に平行調整の状態をフィードバックして監視し、以前と平行調整の状態が変わったときに、警報を発報したり、自動調整したりすることができる。具体的には、制御装置100は、過去に測定された測定負荷を表すデータとして、過去数カ月分の測定データを蓄積測定データD4として記録部160に記録する。監視部124は、測定データD2と蓄積測定データD4とを比較して、測定データD2が蓄積測定データD4から予め設定された閾値を超えて変化しているか否かを監視する。そして測定データD2が蓄積測定データD4から予め設定された閾値を超えて変化している場合に、基板組立システム1000は、警報を発報して平行調整の異常をエンジニアやオペレータに通知したり、又は、平行調整を自動的に行うようにしたりすることができる。 (4) The board assembly system 1000 has a monitoring section 124 (see FIG. 8). The monitoring unit 124 arbitrarily presets the measurement data D2 representing the load of the vertical movement mechanism 80 (holding current value of the electric motor 83) measured by the measurement unit 121 as a past measured load or a sample value. monitor the magnitude of the change from the set load. Such a board assembly system 1000 feeds back and monitors the state of parallel adjustment each time a board is manufactured, and issues an alarm or performs automatic adjustment when the state of parallel adjustment changes from before. be able to. Specifically, the control device 100 records measurement data for the past several months in the recording unit 160 as accumulated measurement data D4 as data representing the measurement load measured in the past. The monitoring unit 124 compares the measurement data D2 and the accumulated measurement data D4 to monitor whether or not the measurement data D2 has changed from the accumulated measurement data D4 by exceeding a preset threshold. When the measurement data D2 changes from the accumulated measurement data D4 by exceeding a preset threshold value, the board assembly system 1000 issues an alarm to notify an engineer or operator of an abnormality in parallel adjustment, or Alternatively, parallel adjustment can be automatically performed.

(5)制御装置100は測定部121によって測定された上下動機構80の負荷(電動モータ83の保持電流値)の変動の過程を表すグラフ図を含む表示画面PI1(図15参照)を表示部180(図8参照)に表示する。これによって基板組立システム1000は各軸Ax1,Ax2,Ax3,Ax4における負荷(電動モータ83の保持電流値)の変動のタイミングのズレ量をエンジニアやオペレータに一目で直感的に識別させることができる。 (5) The control device 100 displays a display screen PI1 (see FIG. 15) including a graph showing the process of variation of the load of the vertical movement mechanism 80 (holding current value of the electric motor 83) measured by the measurement unit 121. 180 (see FIG. 8). As a result, the circuit board assembly system 1000 allows an engineer or operator to intuitively identify at a glance the amount of deviation in the timing of fluctuations in the load (holding current value of the electric motor 83) on each of the axes Ax1, Ax2, Ax3, and Ax4.

(6)上下動機構80の電動モータ83は、負荷に応じた保持電流値の変動の測定が制御装置100で行うことが可能なサーボモータによって構成されている。ただし、電動モータ83は、ステップモータで構成することもできる。 (6) The electric motor 83 of the vertical motion mechanism 80 is a servomotor that allows the control device 100 to measure the variation of the holding current value according to the load. However, the electric motor 83 can also be configured by a step motor.

以上の通り、本実施形態に係る基板組立装置1によれば、下基板K2に対する上基板K1の平行調整の簡易化を図ることができる。 As described above, according to the board assembly apparatus 1 of the present embodiment, it is possible to simplify parallel adjustment of the upper board K1 with respect to the lower board K2.

本発明は、前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、前記した実施形態は、本発明を分かり易く説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and includes various modifications. For example, the above-described embodiments have been described in detail for easy understanding of the present invention, and are not necessarily limited to those having all the described configurations. Also, part of the configuration of one embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and the configuration of another embodiment can be added to the configuration of one embodiment. Moreover, it is possible to add, delete, or replace part of the configuration of each embodiment with another configuration.

例えば、前記した実施形態では、基板組立装置1は81個の粘着ピン8aと9個の粘着ピンプレート8bと有している。しかしながら、粘着ピン8aの個数は、運用に応じて適宜変更することができる。また、粘着ピンプレート8bの個数も、運用に応じて適宜変更することができる。
また、例えば、前記した実施形態では、基板組立装置1は4つの上下動機構80で1個の粘着ピンプレート8bを上下動させる構成になっている。しかしながら、基板組立装置1は4つ以上の個数の上下動機構80で1個の粘着ピンプレート8bを上下動させる構成にしてもよい。
For example, in the embodiment described above, the substrate assembly apparatus 1 has 81 adhesive pins 8a and 9 adhesive pin plates 8b. However, the number of adhesive pins 8a can be appropriately changed according to the operation. Also, the number of adhesive pin plates 8b can be appropriately changed according to the operation.
Further, for example, in the above-described embodiment, the board assembly apparatus 1 is configured to vertically move one adhesive pin plate 8b by four vertically moving mechanisms 80. As shown in FIG. However, the substrate assembly apparatus 1 may be configured to vertically move one adhesive pin plate 8b by four or more vertical movement mechanisms 80. FIG.

また、例えば、測定部121及び調整用データ算出部122は以下のように動作させるようにしてもよい。すなわち、測定部121は、電動モータ83の保持電流値の測定に際して、上テーブル2の下降を開始すると、測定結果を測定データD2としてN秒間記憶部160に記録し続ける。そして、測定部121(又は調整用データ算出部122)は、電動モータ83の保持電流値が変動している区間を検出して、測定データD2からその区間のデータを切り出し、切り出されたデータを算出用データとして記憶部160に格納する。調整用データ算出部122は、算出用データに基づいて調整用データD3を算出する。 Further, for example, the measurement unit 121 and the adjustment data calculation unit 122 may be operated as follows. That is, when measuring the holding current value of the electric motor 83, the measurement unit 121 continues to record the measurement result as the measurement data D2 in the storage unit 160 for N seconds after the upper table 2 starts to descend. Then, the measurement unit 121 (or the adjustment data calculation unit 122) detects a section in which the holding current value of the electric motor 83 fluctuates, cuts out the data in that section from the measurement data D2, and converts the cut out data into Stored in the storage unit 160 as calculation data. The adjustment data calculator 122 calculates adjustment data D3 based on the calculation data.

また、例えば、基板組立システム1000は、各基板の平行調整の状態を、ネットワークを介して遠隔値で判断できるように構成してもよい。 Further, for example, the substrate assembly system 1000 may be configured so that the parallel adjustment state of each substrate can be determined remotely via a network.

また、例えば、基板組立システム1000は、平行調整を1度行って、そのときの調整値を記憶部160に記憶し、その調整値を用いて多数の基板を連続して生産するようにしてもよい。このような平行調整は、調整の精度が比較的緩い製品(例えば1枚の基板から1枚の製品を取得する1面取りの製品)の生産に適している。
また、例えば、基板組立システム1000は、毎回毎回平行調整を行いながら基板を1枚ずつ生産するようにしてもよい。このような平行調整は、調整の精度が比較的厳しい製品(例えば1枚の基板から多数の製品を取得する多面取りの製品)の生産に適している。
Further, for example, the board assembly system 1000 may perform parallel adjustment once, store the adjustment value at that time in the storage unit 160, and continuously produce a large number of boards using the adjustment value. good. Such parallel adjustment is suitable for the production of products with relatively loose adjustment accuracy (for example, one-panel products in which one product is obtained from one substrate).
Further, for example, the substrate assembly system 1000 may produce substrates one by one while performing parallel adjustment each time. Such parallel adjustment is suitable for production of products requiring relatively strict adjustment accuracy (for example, multi-panel products in which a large number of products are obtained from one substrate).

1 基板組立装置
1a 架台
1b 下シャフト
2 上フレーム
2a 上シャフト
3 上テーブル
3a 上部基板面
4 下テーブル
4a 下部基板面
5 真空チャンバ
5a 上チャンバ
5b 下チャンバ
6 吊下げ機構
6a 支持軸
6b 係止部
6c フック
7 吸上げ機構
7a 吸上げピン
7b 吸上げピンパッド
7a1,7b1 中空部
8 粘着保持機構
8a 粘着ピン
8b 粘着ピンプレート(ベース部)
8b1 負圧室
8c 粘着部
8d 真空吸着孔
8e ガス供給手段
20 Z軸駆動機構(第1駆動機構)
20a ボールねじ軸
20b ボールねじ機構
20c 電動モータ
20d ロードセル
30 バックプレート
31 クッションシート
40 XYθ移動ユニット
70 上下動機構
71,81 ボールねじ軸
72,82 ボールねじ機構
73,83 電動モータ
80 上下動機構(第2駆動機構)
80a 取付部
110 制御部
111 高さ制御部
112 移動制御部
113 真空プロセス制御部
121 測定部
122 調整用データ算出部
123 調整モード選択部
124 変化監視部
131 自動調整部
132 手動調整部
160 記憶部
170 スピーカ
180 表示部
190 入力部
211 アンプ
212 プログラマブルロジックコントローラ(PLC)
200 搬送装置
1000 基板組立システム
Ax1、Ax2,Ax3,Ax4 軸
D1 設定データ
D2 測定データ
D3 調整用データ
D4 蓄積測定データ
K1 上基板
K2 下基板
P0 真空ポンプ機構
P1,P2,P3 真空ポンプ
Pr1 制御プログラム
REFERENCE SIGNS LIST 1 substrate assembly device 1a base 1b lower shaft 2 upper frame 2a upper shaft 3 upper table 3a upper substrate surface 4 lower table 4a lower substrate surface 5 vacuum chamber 5a upper chamber 5b lower chamber 6 suspending mechanism 6a support shaft 6b locking portion 6c Hook 7 Suction mechanism 7a Suction pin 7b Suction pin pad 7a1, 7b1 Hollow part 8 Adhesive holding mechanism 8a Adhesive pin 8b Adhesive pin plate (base part)
8b1 negative pressure chamber 8c adhesive portion 8d vacuum suction hole 8e gas supply means 20 Z-axis drive mechanism (first drive mechanism)
20a ball screw shaft 20b ball screw mechanism 20c electric motor 20d load cell 30 back plate 31 cushion seat 40 XYθ movement unit 70 vertical movement mechanism 71, 81 ball screw shaft 72, 82 ball screw mechanism 73, 83 electric motor 80 vertical movement mechanism (No. 2 drive mechanism)
80a mounting section 110 control section 111 height control section 112 movement control section 113 vacuum process control section 121 measurement section 122 adjustment data calculation section 123 adjustment mode selection section 124 change monitoring section 131 automatic adjustment section 132 manual adjustment section 160 storage section 170 Speaker 180 Display 190 Input 211 Amplifier 212 Programmable Logic Controller (PLC)
200 transfer device 1000 substrate assembly system Ax1, Ax2, Ax3, Ax4 axis D1 setting data D2 measurement data D3 adjustment data D4 accumulated measurement data K1 upper substrate K2 lower substrate P0 vacuum pump mechanism P1, P2, P3 vacuum pump Pr1 control program

Claims (5)

上基板と下基板とを貼り合わせて基板を組み立てる基板組立システムにおいて、
基板組立装置の動作を制御する制御装置と、
前記下基板を保持する下テーブルと、
前記上基板を保持する上テーブルと、
前記上基板を粘着保持する複数の粘着ピンと、
前記粘着ピンと前記上テーブルの上方に配置された上フレームを上下動させることで、前記粘着ピンと前記上テーブルとを上下動させる第1駆動機構と、
下面に1つ以上の前記粘着ピンが垂直動作可能に取り付けられている1乃至複数のベース部と、
前記上フレームの下面側に配置され、かつ、それぞれの前記ベース部の各部位を独立して上下動させる複数の第2駆動機構と、を備え、
前記制御装置は、
それぞれの前記第2駆動機構の動作を制御して、それぞれの前記ベース部の各部位の高さを規定する高さ制御部と、
前記第1駆動機構の下降量に応じて測定されるそれぞれの前記第2駆動機構の負荷の変動のタイミングに基づいて、それぞれの前記第2駆動機構の動作量の調整用データを算出する調整用データ算出部と、を有し、
それぞれの前記第2駆動機構は、負荷に応じた電流量の変動の測定が外部に配置された制御装置で行うことが可能なサーボモータ又はステップモータによって構成されている
ことを特徴とする基板組立システム。
In a substrate assembly system that assembles substrates by bonding an upper substrate and a lower substrate together,
a controller for controlling the operation of the board assembly apparatus;
a lower table that holds the lower substrate;
an upper table that holds the upper substrate;
a plurality of adhesive pins for adhesively holding the upper substrate;
a first driving mechanism for vertically moving the adhesive pin and the upper table by vertically moving the adhesive pin and an upper frame disposed above the upper table;
one or more base portions having one or more adhesive pins vertically operably attached to the lower surface;
a plurality of second drive mechanisms arranged on the lower surface side of the upper frame and vertically moving each part of each of the base portions independently;
The control device is
a height control unit that controls the operation of each of the second drive mechanisms to define the height of each part of each of the bases;
Adjustment data for calculating the operation amount adjustment data of each of the second drive mechanisms based on the timing of load fluctuation of each of the second drive mechanisms measured according to the amount of descent of the first drive mechanism. a data calculation unit;
A circuit board assembly characterized in that each of said second drive mechanisms comprises a servo motor or a step motor capable of measuring fluctuations in the amount of current according to the load by means of an external control device. system.
上基板と下基板とを真空環境下で貼り合わせて基板を組み立てる基板組立装置において、
前記下基板を保持する下テーブルと、
前記上基板を保持する上テーブルと、
前記上基板を粘着保持する複数の粘着ピンと、
前記粘着ピンと前記上テーブルの上方に配置された上フレームを上下動させることで、前記粘着ピンと前記上テーブルとを上下動させる第1駆動機構と、
下面に1つ以上の前記粘着ピンが垂直動作可能に取り付けられている1乃至複数のベース部と、
前記上フレームの下面側に配置され、かつ、それぞれの前記ベース部の各部位を独立して上下動させる複数の第2駆動機構と
制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
それぞれの前記第2駆動機構の動作を制御して、前記上基板に対するそれぞれの前記ベース部の各部位の高さを規定する高さ制御部と、
前記第1駆動機構の下降量に応じて測定されるそれぞれの前記第2駆動機構の負荷の変動のタイミングに基づいて、それぞれの前記第2駆動機構の動作量の調整用データを算出する調整用データ算出部と、を有する
ことを特徴とする基板組立装置。
In a substrate assembly apparatus that assembles substrates by bonding an upper substrate and a lower substrate together in a vacuum environment,
a lower table that holds the lower substrate;
an upper table that holds the upper substrate;
a plurality of adhesive pins for adhesively holding the upper substrate;
a first driving mechanism for vertically moving the adhesive pin and the upper table by vertically moving the adhesive pin and an upper frame disposed above the upper table;
one or more base portions having one or more adhesive pins vertically operably attached to the lower surface;
a plurality of second driving mechanisms arranged on the lower surface side of the upper frame and vertically moving each part of each of the base portions independently ;
a controller;
The control device is
a height control unit that controls the operation of each of the second drive mechanisms to define the height of each part of each of the bases relative to the upper substrate;
Adjustment data for calculating the operation amount adjustment data of each of the second drive mechanisms based on the timing of load fluctuation of each of the second drive mechanisms measured according to the amount of descent of the first drive mechanism. and a data calculation unit
A board assembly apparatus characterized by:
前記第2駆動機構の負荷を測定して、負荷の変動のタイミングに応じて前記ベース部の各部位の平行状態を判定するモニタリング機能を有する測定部を備えた
ことを特徴とする請求項に記載の基板組立装置。
3. The apparatus according to claim 2 , further comprising a measuring unit having a monitoring function for measuring the load of the second drive mechanism and determining the parallel state of each part of the base unit according to the timing of load fluctuation. A board assembly apparatus as described.
手動による調整値の入力を受け付けることによって前記ベース部の各部位の動作量の調整を行う手動調整部を有する
ことを特徴とする請求項に記載の基板組立装置。
3. The circuit board assembly apparatus according to claim 2 , further comprising a manual adjustment section that adjusts the amount of movement of each portion of the base section by receiving a manual adjustment value input.
上基板と下基板とを真空環境下で貼り合わせて基板を組み立てる基板組立方法において、
前記下基板を保持する下テーブルと、前記上基板を保持する上テーブルと、前記上基板を粘着保持する複数の粘着ピンと、前記粘着ピンと前記上テーブルの上方に配置された上フレームを上下動させることで、前記粘着ピンと前記上テーブルとを上下動させる第1駆動機構と、下面に1つ以上の前記粘着ピンが垂直動作可能に取り付けられている1乃至複数のベース部と、前記上フレームの下面側に配置され、かつ、それぞれの前記ベース部の各部位を独立して上下動させる複数の第2駆動機構と、を備えた基板組立装置に対し、前記下テーブルと前記上テーブルとの間に基板を搬入し、前記粘着ピンで前記基板を粘着保持する基板搬入工程と、
前記基板の周囲を真空環境下にする真空引き工程と、
それぞれの前記第2駆動機構の動作を制御して、それぞれの前記ベース部の各部位の高さを規定した状態で、前記第1駆動機構で前記粘着ピンと前記上テーブルとを下降させることによって、前記基板を前記下テーブル側に加圧するとともに、前記第2駆動機構の負荷を測定する加圧・測定工程と、
それぞれの前記第2駆動機構は、負荷に応じた電流量の変動の測定が外部に配置された制御装置で行うことが可能なサーボモータ又はステップモータによって構成されており、前記第1駆動機構の下降量に応じて測定されるそれぞれの前記第2駆動機構の負荷の変動のタイミングに基づいて、それぞれの前記第2駆動機構の動作量の調整用データを算出する調整用データ算出工程と、を含む
ことを特徴とする基板組立方法。
In a substrate assembly method for assembling substrates by bonding an upper substrate and a lower substrate together in a vacuum environment,
A lower table for holding the lower substrate, an upper table for holding the upper substrate, a plurality of adhesive pins for adhesively holding the upper substrate, and an upper frame arranged above the adhesive pins and the upper table are vertically moved. Thus, a first driving mechanism for vertically moving the adhesive pins and the upper table, one or more base portions having one or more adhesive pins attached to the lower surface so as to be vertically operable, and the upper frame. Between the lower table and the upper table, the substrate assembly apparatus is provided with a plurality of second driving mechanisms arranged on the lower surface side and independently moving each part of the base part vertically. a substrate carrying-in step of carrying the substrate into and holding the substrate with the adhesive pins;
A vacuuming step of creating a vacuum environment around the substrate;
By controlling the operation of each of the second drive mechanisms and lowering the adhesive pins and the upper table with the first drive mechanism in a state where the height of each part of each of the base portions is defined, a pressurization/measurement step of pressurizing the substrate toward the lower table and measuring the load of the second drive mechanism;
Each of the second drive mechanisms is composed of a servo motor or a step motor capable of measuring fluctuations in the amount of current according to the load by means of an external control device, and the first drive mechanism is an adjustment data calculation step of calculating adjustment data for the amount of movement of each of the second drive mechanisms based on the timing of variation in the load of each of the second drive mechanisms measured according to the amount of descent; A substrate assembly method, comprising:
JP2020072101A 2020-04-14 2020-04-14 Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system Active JP7125151B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020072101A JP7125151B2 (en) 2020-04-14 2020-04-14 Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system
JP2022124440A JP7290375B2 (en) 2020-04-14 2022-08-04 Substrate assembly equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020072101A JP7125151B2 (en) 2020-04-14 2020-04-14 Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015194197A Division JP6737575B2 (en) 2015-09-30 2015-09-30 Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022124440A Division JP7290375B2 (en) 2020-04-14 2022-08-04 Substrate assembly equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020112832A JP2020112832A (en) 2020-07-27
JP7125151B2 true JP7125151B2 (en) 2022-08-24

Family

ID=71665935

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020072101A Active JP7125151B2 (en) 2020-04-14 2020-04-14 Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7125151B2 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003270646A (en) 2002-03-08 2003-09-25 Lg Phillips Lcd Co Ltd Bonding apparatus for liquid crystal display device
JP2004268113A (en) 2003-03-11 2004-09-30 Fujitsu Ltd Device and method for laminating substrates
JP2005165159A (en) 2003-12-05 2005-06-23 Hitachi Industries Co Ltd Method for assembling substrate and the apparatus therefor
JP2006091127A (en) 2004-09-21 2006-04-06 Shibaura Mechatronics Corp Vacuum apparatus, and apparatus and method for sticking substrate
JP2007310041A (en) 2006-05-17 2007-11-29 Hitachi Plant Technologies Ltd Substrate assembling device and substrate assembling method using the device
US20090065152A1 (en) 2007-09-12 2009-03-12 Jae Seok Hwang Adhesive chuck and substrate bonding apparatus
JP2010227787A (en) 2009-03-26 2010-10-14 Toray Eng Co Ltd Coating apparatus

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101292802B1 (en) * 2006-12-08 2013-08-02 엘아이지에이디피 주식회사 apparatus for attaching substrates of flat plate display element
KR101651544B1 (en) * 2013-10-11 2016-08-29 에이피시스템 주식회사 Substrate holder unit and apparatus for treatmenting substrate having the same

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003270646A (en) 2002-03-08 2003-09-25 Lg Phillips Lcd Co Ltd Bonding apparatus for liquid crystal display device
JP2004268113A (en) 2003-03-11 2004-09-30 Fujitsu Ltd Device and method for laminating substrates
JP2005165159A (en) 2003-12-05 2005-06-23 Hitachi Industries Co Ltd Method for assembling substrate and the apparatus therefor
JP2006091127A (en) 2004-09-21 2006-04-06 Shibaura Mechatronics Corp Vacuum apparatus, and apparatus and method for sticking substrate
JP2007310041A (en) 2006-05-17 2007-11-29 Hitachi Plant Technologies Ltd Substrate assembling device and substrate assembling method using the device
US20090065152A1 (en) 2007-09-12 2009-03-12 Jae Seok Hwang Adhesive chuck and substrate bonding apparatus
JP2010227787A (en) 2009-03-26 2010-10-14 Toray Eng Co Ltd Coating apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020112832A (en) 2020-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102597458B1 (en) Substrate assembly system, substrate assembly device using that system and substrate assembly method using that system
KR101312164B1 (en) Bonding apparatus and bonding method
JP3987442B2 (en) Bonding device for liquid crystal display elements
CN106019646B (en) Base panel assembly apparatus and the substrate assembly method for using the device
JP6587909B2 (en) Substrate assembly system, substrate assembly apparatus used in the system, and substrate assembly method using the system
JP7125151B2 (en) Board assembly system, board assembly apparatus used in the system, and board assembly method using the system
JP7290375B2 (en) Substrate assembly equipment
JP2023099750A (en) Board assembly device
JP3894192B2 (en) Substrate assembly method and apparatus
KR101360117B1 (en) apparatus for attaching substrates and method for attaching substrates by using same
JP6788322B2 (en) Board assembly equipment and its table structure
US11026360B2 (en) Method for manufacturing a mounting board
US6220913B1 (en) Mechanism and method for automatically transferring support pillars
CN112698519A (en) Display laminating apparatus and supporting chuck balancing method using the same
JP7044228B2 (en) Board assembly equipment
JP7468945B2 (en) Circuit Board Assembly Equipment
CN215943730U (en) Double faced adhesive tape laminating frock
KR102356123B1 (en) Auto leveling System of Laminating Devices
JP2003255311A (en) Method and device for sticking substrate
JP2022075731A (en) Substrate assembling device
KR102000792B1 (en) Substrate bonding apparatus and substrate bonding method
JP2003069178A (en) Apparatus and method for connection
JP2000124266A (en) Method and apparatus for bonding semiconductor reinforcing plate

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200512

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200512

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210406

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210525

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210726

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220104

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220307

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220705

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220804

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7125151

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150