JP7110831B2 - マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 - Google Patents
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Description
20,30 ブランキングプレート
40 実装基板
50 チップマウンタ
100 描画装置
102 電子鏡筒
103 描画室
111 電子銃
112 照明レンズ
115 縮小レンズ
116 制限アパーチャ部材
117 対物レンズ
118 偏向器
Claims (2)
- 荷電粒子ビームを放出する放出部と、
複数の第1開口が形成され、前記複数の第1開口が含まれる領域に、前記放出部から放出された荷電粒子ビームの照射を受け、前記複数の第1開口を前記荷電粒子ビームの一部がそれぞれ通過することによりマルチビームを形成する成形アパーチャアレイと、
前記マルチビームのうち、それぞれ対応するビームが通過する複数の第2開口が形成され、各第2開口にビームのブランキング偏向を行う対となる2つの電極の組からなるブランカが設けられた第1ブランキングプレート、及び前記マルチビームのうち、それぞれ対応するビームが通過する複数の第3開口が形成され、各第3開口にビームのブランキング偏向を行う対となる2つの電極の組からなるブランカが設けられた第2ブランキングプレートを有するブランキングアパーチャアレイと、
前記複数の第2開口を通過したビーム及び前記複数の第3開口を通過したビームをまとめて偏向し、描画対象の基板上でのビーム照射位置を調整する偏向器と、
を備えるマルチ荷電粒子ビーム描画装置。 - 荷電粒子ビームを放出する工程と、
複数の第1開口が形成された成形アパーチャアレイに前記荷電粒子ビームを照射し、前記複数の第1開口を前記荷電粒子ビームの一部がそれぞれ通過することによりマルチビームを形成する工程と、
前記マルチビームのうち、それぞれ対応するビームが通過する複数の第2開口が形成され、各第2開口にビームのブランキング偏向を行う対となる2つの電極の組からなるブランカが設けられた第1ブランキングプレート、及び前記マルチビームのうち、それぞれ対応するビームが通過する複数の第3開口が形成され、各第3開口にビームのブランキング偏向を行う対となる2つの電極の組からなるブランカが設けられた第2ブランキングプレートを有するブランキングアパーチャアレイを用いて、各ビームのオンオフ制御を行う工程と、
偏向器を用いて、前記複数の第2開口を通過したビーム及び前記複数の第3開口を通過したビームをまとめて偏向し、描画対象基板上にビームを照射する工程と、
を備え、
前記複数の第2開口を通過したビームを用いて、前記描画対象基板の描画領域の全域を照射すると共に、前記複数の第3開口を通過したビームを用いて、前記描画領域の全域を照射して多重描画を行うことを特徴とするマルチ荷電粒子ビーム描画方法。
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JP2012104610A (ja) | 2010-11-09 | 2012-05-31 | Canon Inc | 偏向器アレイ、荷電粒子描画装置、デバイス製造方法、偏向器アレイの製造方法 |
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