JP7083528B1 - 位置測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(数4)U2=Xa+XM2-D
(数5)U3=Xa+XM3-2D
(数6)U4=Xa+XM4-3D
Claims (7)
- 延伸方向を揃えて測定軸方向に並べられた複数の電磁誘導線と、
複数の前記電磁誘導線のうちいずれかを順次選択し、選択した前記電磁誘導線に電流を流す選択部とを含むスライダと、
前記測定軸方向に交わる方向に往路および復路を形成するマーカ導体と、
前記マーカ導体が配置されたスケールと、
前記マーカ導体に誘導起電力が発生したときに、前記選択部によって選択されていた前記電磁誘導線の前記スライダにおける検出位置に基づいて、前記スライダと前記スケールとの位置関係を測定する制御部と、
前記スケールに配置されたコード導体であって、前記測定軸方向に交わる方向に蛇行しながら前記測定軸方向に進み、前記マーカ導体に対応するアブソリュート位置を、電磁誘導によって示すコード導体と、を備え、
前記制御部は、
前記コード導体に発生した誘導起電力が示すコードに基づいて前記アブソリュート位置を求め、
前記検出位置と前記アブソリュート位置とに基づいて、前記スライダと前記スケールとの位置関係を測定することを特徴とする位置測定装置。 - 延伸方向を揃えて測定軸方向に並べられた複数の電磁誘導線と、
複数の前記電磁誘導線のうちいずれかを順次選択し、選択した前記電磁誘導線に電流を流す選択部とを含むスライダと、
前記測定軸方向に交わる方向に往路および復路を形成するマーカ導体と、
前記マーカ導体が配置されたスケールと、
前記マーカ導体に誘導起電力が発生したときに、前記選択部によって選択されていた前記電磁誘導線の前記スライダにおける検出位置に基づいて、前記スライダと前記スケールとの位置関係を測定する制御部と、を備え、
前記マーカ導体が形成する往路と復路との間の間隔は、複数の前記電磁誘導線の配置間隔よりも大きく、
前記制御部は、
前記マーカ導体に発生した誘導起電力の時間波形のゼロクロスポイントに基づいて、前記検出位置を求めることを特徴とする位置測定装置。 - 請求項2に記載の位置測定装置において、
前記制御部は、
複数の前記電磁誘導線のうちいずれかに順次交流電流が流れることによって、前記マーカ導体に離散的に発生した誘導起電力の大きさを時間軸上で内挿することで、前記時間波形を求めることを特徴とする位置測定装置。 - 測定軸方向に交わる方向に往路および復路を形成するマーカ導体と、
前記マーカ導体が配置されたスケールと、
前記マーカ導体にマーカ交流電流を流すマーカ用電力源と、
スライダであって、延伸方向を揃えて前記測定軸方向に並べられた複数の電磁誘導線と、複数の前記電磁誘導線のうち、前記マーカ交流電流によって誘導起電力が発生した電磁誘導線を検出する検出部と、を備えるスライダと、
前記マーカ交流電流によって誘導起電力が発生した前記電磁誘導線の前記スライダにおける検出位置に基づいて、前記スライダと前記スケールとの位置関係を測定する制御部と、
前記スケールに配置されたコード導体であって、前記測定軸方向に交わる方向に蛇行しながら前記測定軸方向に進み、前記マーカ導体に対応するアブソリュート位置を、電磁誘導によって示すコード導体と、
前記コード導体にコード交流電流を流すコード用電力源と、を有し、
前記制御部は、
前記コード交流電流によって複数の前記電磁誘導線のそれぞれに発生した誘導起電力が示すコードに基づいて前記アブソリュート位置を求め、
前記検出位置と前記アブソリュート位置とに基づいて、前記スライダと前記スケールとの位置関係を測定することを特徴とする位置測定装置。 - 測定軸方向に交わる方向に往路および復路を形成するマーカ導体と、
前記マーカ導体が配置されたスケールと、
前記マーカ導体にマーカ交流電流を流すマーカ用電力源と、
スライダであって、延伸方向を揃えて前記測定軸方向に並べられた複数の電磁誘導線と、複数の前記電磁誘導線のうち、前記マーカ交流電流によって誘導起電力が発生した電磁誘導線を検出する検出部と、を備えるスライダと、
前記マーカ交流電流によって誘導起電力が発生した前記電磁誘導線の前記スライダにおける検出位置に基づいて、前記スライダと前記スケールとの位置関係を測定する制御部と、を備え、
前記マーカ導体が形成する往路と復路との間の間隔は、複数の前記電磁誘導線の配置間隔よりも大きく、
前記制御部は、
前記マーカ交流電流によって複数の前記電磁誘導線に発生した誘導起電力に基づく空間波形のゼロクロスポイントに基づいて、前記検出位置を求めることを特徴とする位置測定装置。 - 請求項5に記載の位置測定装置において、
前記制御部は、
前記マーカ導体が形成する往路と復路との間にある複数の前記電磁誘導線に発生した誘導起電力の大きさを前記測定軸上で内挿することで、前記空間波形を求めることを特徴とする位置測定装置。 - 請求項1または請求項4に記載の位置測定装置において、
前記測定軸方向に所定の間隔で配置された複数の前記マーカ導体を備え、
前記コード導体は、
複数の前記マーカ導体のうち少なくとも1つに対して設けられており、
前記制御部は、
前記検出位置の変化に基づいて、複数の前記マーカ導体のうち現時点で前記検出位置が求められている現時点マーカ導体が、複数の前記マーカ導体のうち前記アブソリュート位置が求められた基準マーカ導体から離れて何番目の前記マーカ導体に対応するかを判定し、その判定結果と、前記アブソリュート位置および前記検出位置に基づいて、前記スライダと前記スケールとの位置関係を測定することを特徴とする位置測定装置。
Priority Applications (1)
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JP2021000810A JP7083528B1 (ja) | 2021-01-06 | 2021-01-06 | 位置測定装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2021000810A JP7083528B1 (ja) | 2021-01-06 | 2021-01-06 | 位置測定装置 |
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JP2022106087A JP2022106087A (ja) | 2022-07-19 |
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JP2021000810A Active JP7083528B1 (ja) | 2021-01-06 | 2021-01-06 | 位置測定装置 |
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50124352U (ja) * | 1974-03-25 | 1975-10-11 | ||
JPS63309868A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-16 | Omron Tateisi Electronics Co | 位相弁別回路 |
JP2000258107A (ja) * | 1999-03-12 | 2000-09-22 | Nec Corp | 位置検出装置 |
JP2008203044A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 位置検出装置、これを用いた給紙装置および画像形成装置 |
JP2011237370A (ja) * | 2010-05-13 | 2011-11-24 | Olympus Corp | 超音波探傷システムおよび超音波探傷方法 |
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2021
- 2021-01-06 JP JP2021000810A patent/JP7083528B1/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50124352U (ja) * | 1974-03-25 | 1975-10-11 | ||
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JP2022106087A (ja) | 2022-07-19 |
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