JP7074277B2 - 光モジュールの試験方法 - Google Patents
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Description
(光モジュールの構成)
(光モジュールの試験方法)
RL:TIA回路45a,45b,45c,45d毎の負荷抵抗[Ω]、
Vref:TIA回路45a,45b,45c,45d毎の出力電圧のゲイン[dBm]、
Iref:TIA回路45a,45b,45c,45d毎の入力電流[mA]
なお、入力電流Irefは、PD34a,34b,34c,34dの出力電流として測定でき、負荷抵抗RLは、TIA回路の出力電圧及び入力電流Irefから決定できる。例えば、入力電流Irefが100μAのときの出力電圧Vrefを測定し、負荷抵抗RLを計算しておくことができる。
Zt=RL×10(Vout-Vref)/20×Iref/IR
ここで、IRは、PD34a,34b,34c,34dの出力電流によって決まるTIA回路45a,45b,45c,45d毎の入力電流[mA]であり、Voutは、TIA回路45a,45b,45c,45d毎の出力電圧のゲイン[dBm]である。この式により、変換特性値ZtとしてTIA回路における入力電流から出力電圧への変換利得であるトランスインピーダンス利得が取得される。最後に、取得したPD34a,34b,34c,34d毎の変換特性値Ztのデータを計算機に格納する(ステップS05)。
Claims (2)
- 複数の出力端から異なる透過波長帯域の出力をなす光分波器と、前記複数の出力端に対応して光結合する複数の受光素子とを備える光モジュールの試験方法において、
前記透過波長帯域の何れとも異なる波長の単一の試験光を前記光モジュールに入力し、前記複数の受光素子から出力されたそれぞれの電気信号を取得し、
前記それぞれの電気信号を基に、前記複数の受光素子ごとの変換特性値を取得する、
光モジュールの試験方法。 - 前記異なる透過波長帯域は、1300nm帯の複数の波長帯域であり、前記試験光は1550nm帯である、
請求項1記載の光モジュールの試験方法。
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