JP7058151B2 - 窒化タンタル結晶 - Google Patents
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Description
従って、本発明の課題は、安価で、より光触媒活性の高い窒化タンタルを提供することにある。
〔2〕D50とD10の比(D50/D10)が2.7以下である〔1〕記載の窒化タンタル結晶。
〔3〕D10が0.30μm以上0.45μm以下である〔1〕又は〔2〕記載の窒化タンタル結晶。
〔4〕タンタル化合物をアンモニアガス雰囲気下に加熱し、次いでメカノケミカル処理することを特徴とする〔1〕~〔3〕のいずれかに記載の窒化タンタル結晶の製造法。
〔5〕〔1〕~〔3〕のいずれかに記載の窒化タンタル結晶を含有する光触媒。
〔6〕金属基板に〔1〕~〔3〕のいずれかに記載の窒化タンタル結晶を塗布した光触媒電極である〔5〕記載の光触媒。
D50とD10の比(D50/D10)は、2.7以下が好ましく、1.5以上2.7以下がより好ましく、1.8以上2.5以下がさらに好ましい。
原料である酸化タンタルを、露点を-90℃以下に保っているグローブボックス内にて炉心管に、酸化タンタルを5g入れ、両端をシリコンキャップで密閉した。グローブボックスから取り出した炉心管をアンモニア雰囲気下にて加熱処理し、窒化タンタルを合成した。
2)窒化タンタルのメカノケミカル処理
露点を-90℃以下に保っているグローブボックス内にて、内容積250cm3のSUS製ミル容器に合成した窒化タンタル5gとSUS製のビーズ100gをそれぞれ投入した。グローブボックスからとりだしたミル容器を150rpmで所定時間、回転させた。なお、回転数は、ミル容器内のビーズが回転し、窒化タンタルをメカノケミカル処理するのに必要な回転数を検討し、最適化したものである。
1)XRDによる鉱物相および半値幅測定
Bruker社製XRD(D8advance)を用い鉱物相の同定を行い、得られたXRDパターンから、2θ=24.5°(Cukα、電流:350mA、電圧:50kV)の半値幅を読み取った。
2)平均粒子径の測定
マイクロトラック・ベル社製レーザー回折式粒度分布測定装置(MT3300EXII)により、粒度分布を測定し、D10及びD50の値を算出した。
3)BET比表面積の測定
島津製作所社製一点式BET比表面積計(フローソーブ2305)により、BET比表面積を測定した。
窒化タンタルを0.05g秤量し、スクリュー管にとり、分散媒として2-プロパノールを加えた。窒化タンタルと2-プロパノールの入ったスクリュー管超音波洗浄機の中に設置し、30分間、超音波をかけ、2-プロパノール中に窒化タンタルを分散させた。
スピンコーターにセットしたチタン基板に、窒化タンタルの分散液を厚さ0.3mmのチタン基板に数滴垂らした後、チタン基板を回転させ、基板全体に分散液を塗布した。分散液を塗布したチタン基板は分散媒が揮発するまで乾燥させた。
乾燥後、ローラープレス機を用いて、窒化タンタル粉末を基板に圧着させた。このとき、ローラープレスのギャップは0.15mmであり、基板にかかる圧力は1tであった。基板の裏面に銅線をはんだ付けした。チタン基板が露出している面をエポキシ系接着剤「アラルダイト」(登録商標)で覆い、乾燥させた。
(i)電極面積の計測
電極表面の写真を撮影し、面積測定ソフト「長さ・面積測定ver2.2」を用いて、電極表面の面積を計測した。
(ii)光触媒電極の電流密度の測定
電極の電量密度の評価に用いた装置の構成は以下の表の通りである。
測定によって得られた電流値は、電極面積で割り、電流密度を求めた。また、電極電位(EAg/AgC)は電解液のpHの影響を排除するため、以下の式により、RHE電位(ERHE)に換算した。
ERHE=EAg/AgCl+0.059×pH+0.199
内容積250cm3のSUS製ミル容器に合成した窒化タンタル5gとSUS製でφ1mmのビーズ100gをそれぞれ投入し、150rpmで4時間、回転させた。粉砕した窒化タンタルの半値幅は0.213°であり、D50が1.0μm、であった。この窒化タンタルを用いて光触媒電極を作製し、その電流密度を測定したところ、0.13mA/cm2であった。
粉砕時間を6時間にした以外は、実施例1と同様に行った。
粉砕した窒化タンタルの半値幅は0.209°であり、D50が0.7μmであった。この窒化タンタルを用いて光触媒電極の電流密度は、0.23mA/cm2であった。
SUS製でφ2mmのビーズを用いた以外は、実施例2と同様に行った。
粉砕した窒化タンタルの半値幅は0.207°であり、D50が0.9μm、であった。この窒化タンタルを用いて光触媒電極の電流密度は、0.28mA/cm2であった。
粉砕時間を10時間にした以外は、実施例3と同様に行った。
粉砕した窒化タンタルの半値幅は0.207°であり、D50が0.6μm、であった。この窒化タンタルを用いて光触媒電極の電流密度は、0.27mA/cm2であった。
合成した窒化タンタルは半値幅が0.452°であり、D50が6.4μmであった。これを粉砕せずに用いて、光触媒電極を作製し、電流密度を測定したところ、0.02mA/cm2であった。
粉砕時間を1時間にした以外は、実施例1と同様に行った。
粉砕した窒化タンタルの半値幅は0.249°であり、D50が4.6μmであった。この窒化タンタルを用いて光触媒電極の電流密度は、0.09mA/cm2であった。
粉砕時間を2時間にした以外は、比較例2と同様に行った。
粉砕した窒化タンタルの半値幅は0.263°であり、D50が1.6μm、であった。この窒化タンタルを用いて光触媒電極の電流密度は、0.06mA/cm2であった。
実施例1~4は、比較例1の窒化タンタル(窒化工程の合成で得られた窒化タンタル)を表2のメカノケミカル処理を行った。実施例1~4は、半値幅が、0.207~0.213°、D50が0.6~1.0μmであり、そのときの電流密度は0.13~0.28mA/cm2となった。電流密度は、比較例1よりも高くなり、また比較例2と3よりも高いことから、光触媒活性が向上している。
比較例2と3は、比較例1の窒化タンタル(窒化工程の合成で得られた窒化タンタル)を表2のメカノケミカル処理を行った。比較例2と3は、半値幅が、0.249°と0.263°、D50が4.6μmと1.6μmであり、そのときの電流密度は0.09mA/cm2と0.06mA/cm2となった。電流密度は、比較例1よりは高くなり、光触媒活性が向上しているが、実施例1~4よりは低いため、光触媒活性としては低いと考えられる。
Claims (1)
- タンタル化合物をアンモニアガス雰囲気下に加熱し、次いでメカノケミカル処理することを特徴とする、X線回折分析による2θ=24.5°のピークの半値幅が0.230°以下であり、かつ平均粒子径(D50)が0.3μm以上1μm以下であり、D10が0.30μm以上0.45μm以下であり、D50とD10の比(D50/D10)が2.7以下である窒化タンタル(Ta3N5)粉末の製造法。
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