JP7051729B2 - 試料検査装置及び試料検査方法 - Google Patents
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Description
光学画像取得装置101は、マスク200が載置されるテーブル111と、テーブル111を移動させるための移動機構112とを備える。移動機構112は、X軸モータ113と、Y軸モータ114と、θ軸モータ115とを備える。X軸モータ113は、テーブル111を、水平面上のX軸方向に移動させる。Y軸モータ114は、テーブル111を、X軸と直行する水平面上のY軸方向に移動させる。θ軸モータ115は、テーブル111を、水平面上でθ軸周りに回転させる。これらモータには、例えばステッピングモータが用いられてもよい。移動機構112によって、テーブル111は、X軸と平行に、及びY軸と平行に移動し、また、θ軸周りに回転する。移動機構112は、さらに図示しないZ軸モータを備えてもよい。Z軸モータによれば、テーブル111を、X軸及びY軸と垂直なZ軸方向に移動させることができる。
制御装置102は、バスライン169を介して互いに接続された中央処理装置(CPU)161と、ランダムアクセスメモリ(RAM)162と、リードオンリーメモリ(ROM)163と、外部ストレージ164と、表示装置165と、入力装置166と、通信装置167とを備えるコンピュータである。
図2は、テーブル111の移動によるマスク200の光学画像の取得手順を示す。上述のとおり、マスク200の光学画像は、テーブル111を移動させながら取得される。図2に示すように、センサ回路135によって一度に撮像できる範囲の幅は、スキャン幅Wである。テーブル111をX軸方向に移動させながらマスク200の一端から他端まで撮影を行うと、X軸方向に伸びたスキャン幅Wの短冊状(ストライプ)の画像が得られる。例えば、図2に示す1番目のストライプ211の画像が得られる。続いて、テーブル111は、スキャン幅Wよりもやや短い距離だけY軸方向に移動する。そして、テーブル111は、X軸方向の逆方向に移動され、マスク200の光学画像が、ストライプ211とは逆の方向に、スキャン幅Wのストライプ212の光学画像として取得される。1番目のストライプ211と2番目のストライプ212とは、わずかな重なりを有している。このようにX方向を往復しながらY軸方向に幅Wのステップでマスク200を移動して、マスク200上のパターンの撮影を繰り返すことで、3番目のストライプ213、4番目のストライプ…の順に、短冊状に、マスク200の全面の光学画像が得られる。このように、検査されるマスク200といった試料は、例えばX軸の方向に沿って短冊状に複数のストライプに仮想的に分割される。このストライプ毎に光学画像が取得される。
検査装置10の動作について説明する。図3は、検査装置10における光学画像取得位置の補正処理の全体像を概略的に示す図である。図3に示すように、検査装置10の制御装置102は、マスクの光学画像の取得ステージS101と、取得された光学画像の検査ステージS102と、光学画像取得位置の補正値の算出ステージS103を含むパイプライン処理によって、N番目のストライプについて取得された光学画像から、画像取得位置の補正値を決定する。取得された光学画像取得位置の補正値は、後続のストライプについての光学画像の取得位置に反映される。ここで、取得ステージS101は、テーブル111を動かすことによりテーブル111上に載置されたマスク200を移動させながら撮像を行うことで、ストライプ毎にマスク200の光学画像を取得する処理である。取得データ検査ステージS102は、取得ステージで得られた光学画像を検査し、ずれ量の算出、CDMAPの作成、比較処理によるマスク200の欠陥の有無の判定などを行う処理である。画像取得位置補正値算出ステージS103は、取得データ分析処理で得られた情報を用いて、テーブル111の移動制御のための画像取得位置補正値を算出する処理である。図3に示すように、例えば、第1のストライプ211のパイプライン処理が開始され、光学画像取得ステージS101においてストライプ211に対応する領域のマスク200の光学画像の取得が終了し、第1のストライプの光学画像が外部ストレージ164に格納されると、次の第2ストライプ212に対応する領域のマスク200の光学画像の取得が開始される。即ち、第2ストライプ212の光学画像の取得は、第1のストライプ211の光学画像から光学画像取得位置の補正値が決定される前に開始される。従って、マスク200の全領域にわたる光学画像の取得が迅速に行われる。また、図3は、ステージS103において、第1のストライプ211について取得されたマスク200の光学画像から光学画像の取得位置の補正値が算出された後、(n+1)番目のストライプのために、マスク200の画像データの取得が開始されることを示す。尚、実際の処理では、各処理ステージS101、S102、S103はいくつかのサブステージを含む。
ステージS101の光学画像取得の具体的な手順を、図4に示すフローチャートを参照して説明する。図4は、N番目のストライプのためのマスク200の光学画像の取得手順を示すフローチャートである。
図5は、N番目のストライプ21Nについて取得された光学画像検査ステージS102の具体的な処理手順を示す。
ステージS103の光学画像取得位置の補正値算出処理を、図8に示すフローチャートを参照して説明する。補正値とは、あるストライプ(例えば、1番目のストライプ211)について取得されたマスク200の光学画像全体のずれ量として指定される値を言う。補正値は、図4のステップS202-S204について上述したように、N番目のストライプ21Nについてマスク200の光学画像を取得する開始座標(XN0,YN0)を補正するためのオフセット値OFFSETN(αN,βN)を算出するために使用される。補正値は、例えば、X軸方向の補正値とY軸方向の補正値とを含む。図8は、N番目のストライプ21Nについて取得されたマスク200の光学画像から補正値を算出する処理を示す。
図4では、N番目のストライプ21Nについての光学画像を取得する際の位置座標(XN0、YN0)へのオフセット値OFFSET(α,β)の適用を、ステップS203、S204に簡略化して示した。
Claims (7)
- 試料を所定の方向に沿って短冊状に複数のストライプに仮想分割し、前記ストライプ毎に光学画像を取得する光学画像取得部と、
取得された光学画像に対応する参照画像を生成する参照画像生成部と、
取得された光学画像とそれに対応する参照画像との比較を行う比較部と、
取得された光学画像とそれに対応する参照画像とのずれ量をそれらのマッチングにより決定するとともに、決定された前記ずれ量の信頼性を示す評価値を生成するずれ量決定部と、
前記評価値に基づいて前記ずれ量を用いるか否かを判定し、用いると判定された場合、前記ずれ量に基づいてストライプの光学画像の取得位置を調整するためのオフセット値を算出するオフセット値算出部と、
を備え、
前記光学画像取得部は、前記オフセット値が算出されていない場合、前記取得位置の調整をせずに未取得の光学画像を取得し、前記オフセット値が算出された場合、当該オフセット値に基づいて未取得の光学画像を取得するよう構成された、
検査装置。 - 前記ずれ量決定部は、前記光学画像に基づいて特定される前記試料のパターンの特徴、または、前記マッチングの過程に基づいて前記評価値を生成する、請求項1に記載の検査装置。
- 前記ずれ量決定部は、
前記ストライプの各々をさらに複数のフレームに分割した各フレームについて、前記試料の光学画像と前記参照画像とのマッチングにより、当該フレームの光学画像のずれ量と、このずれ量に対する前記評価値とを生成するように構成され、
前記オフセット値算出部は、
前記複数のフレームの各々について、前記評価値に基づいて、各々のフレームの光学画像のずれ量を、前記ストライプ全体の前記光学画像のずれ量の決定において使用するか否かを決定し、
使用すると決定された前記フレームのずれ量を平均することによって、前記ストライプ全体の光学画像のずれ量として決定し、
前記ストライプ全体のずれ量に基づいて前記オフセット値を算出する
ように構成される
請求項1または請求項2に記載の検査装置。 - 前記オフセット値算出部は、さらに、前記ストライプ全体の光学画像のずれ量を算出するために用いることができる前記フレームの数または割合が所定値より小さい場合、前記ストライプ全体のずれ量を決定しないように構成される、請求項3に記載の検査装置。
- 前記オフセット値算出部は、前記ストライプに対して決定されたそのストライプ全体の光学画像のずれ量から当該ストライプの光学画像を取得する際に用いたオフセット値を減算した値のいくつかを平均することによってオフセット値を生成するように構成される、請求項3または請求項4に記載の検査装置。
- 前記光学画像取得部は、前記複数のストライプの各々について、順方向と逆方向に前記試料の光学画像を取得するように構成され、
前記オフセット値算出部は、
前記順方向に取得される前記ストライプの前記光学画像のための前記オフセット値を、前記順方向で前記光学画像が取得された前記ストライプについて決定された光学画像のずれ量に基づいて決定し、
前記逆方向に取得される前記ストライプの前記光学画像のための前記オフセット値を、前記逆方向で前記光学画像が取得された前記ストライプについて決定された光学画像のずれ量に基づいて決定する
ように構成される、
請求項1ないし請求項5のいずれか一項に記載の検査装置。 - 試料を所定の方向に沿って短冊状に複数のストライプに仮想分割し、前記ストライプ毎に光学画像を取得することと、
取得された光学画像に対応する参照画像を生成することと、
取得された光学画像とそれに対応する参照画像との比較を行うことと、
取得された光学画像とそれに対応する参照画像とのずれ量をそれらのマッチングにより決定するとともに、決定された前記ずれ量の信頼性を示す評価値を生成することと、
前記評価値に基づいて前記ずれ量を用いるか否かを判定し、用いると判定された場合、前記ずれ量に基づいてストライプの光学画像の取得位置を調整するためのオフセット値を算出することと、
を含み、
前記光学画像を取得することは、前記オフセット値が算出された場合、当該オフセット値に基づいて未取得の光学画像を取得するよう構成されている、
検査方法。
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