JP7042366B2 - カメラ焦点距離を用いた絶対測定および相対測定のための方法および装置 - Google Patents
カメラ焦点距離を用いた絶対測定および相対測定のための方法および装置 Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 48
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 41
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 14
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 claims description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 14
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 235000012489 doughnuts Nutrition 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 102100025800 E3 SUMO-protein ligase ZBED1 Human genes 0.000 description 1
- 101000786317 Homo sapiens E3 SUMO-protein ligase ZBED1 Proteins 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Images
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/22—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring depth
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/67—Focus control based on electronic image sensor signals
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/50—Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
- G06T7/571—Depth or shape recovery from multiple images from focus
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/67—Focus control based on electronic image sensor signals
- H04N23/673—Focus control based on electronic image sensor signals based on contrast or high frequency components of image signals, e.g. hill climbing method
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20024—Filtering details
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N13/00—Stereoscopic video systems; Multi-view video systems; Details thereof
- H04N2013/0074—Stereoscopic image analysis
- H04N2013/0081—Depth or disparity estimation from stereoscopic image signals
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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- ターゲットからの複数の距離で前記ターゲットの複数の画像を捕捉するように構成されたカメラアセンブリと、
前記複数の画像のそれぞれについて、前記カメラアセンブリと前記ターゲットとの間の相対距離に関連する位置データを捕捉するように構成された位置センサと、
コントローラであって、
前記複数の画像内にある複数の領域のそれぞれについて、
前記複数の画像内の対応する勾配値に対応する輝度値に基づく画像鮮鋭度の値を特定すること、
前記画像鮮鋭度の値対前記位置データに曲線をフィッティングさせること、及び
前記曲線内の最大の画像鮮鋭度の値に対応する位置データに基づいて、前記複数の領域のうちの領域の深度測定値を特定することであって、前記複数の領域の各領域は深度が異なる、深度測定値を特定すること、を実行するように構成されたコントローラと、を備える、深度測定装置。 - ターゲットからの複数の距離で前記ターゲットの複数の画像を捕捉するように構成されたカメラアセンブリと、
前記複数の画像のそれぞれについて、前記カメラアセンブリと前記ターゲットとの間の相対距離に関連する位置データを捕捉するように構成された位置センサと、
コントローラであって、
前記複数の画像の各画像内にある、深度がそれぞれ異なる複数の領域のそれぞれについて、対応する勾配値に対応する輝度値に基づく画像鮮鋭度の値を特定すること、
前記複数の領域のそれぞれに対して前記画像鮮鋭度の値対前記位置データに曲線をフィッティングさせること、及び
前記複数の領域のそれぞれについての前記曲線内の最大の画像鮮鋭度の値に対応する位置データに基づいて、前記複数の領域のそれぞれについての深度測定値を特定すること、を実行するように構成されたコントローラと、を備える、深度測定装置。 - 前記ターゲットの前記複数の画像は、前記カメラアセンブリ又は前記ターゲットのうちの少なくとも一方を移動させることによって、前記ターゲットからの前記複数の距離で前記カメラアセンブリによって捕捉される、請求項2に記載の深度測定装置。
- 前記コントローラは、より多い量の鮮鋭細部が縁部で見える場合により高い輝度勾配値を有する処理画像を作成し、より少ない量の鮮鋭細部が縁部で見える場合により低い輝度勾配値を有する処理画像を作成するために、前記複数の画像内の前記複数の領域のそれぞれに画像勾配フィルタを適用することによって、前記対応する勾配値を特定し、前記複数の領域は複数の所定の領域である、請求項2に記載の深度測定装置。
- 前記画像勾配フィルタは、縁部検出フィルタ、ソーベルフィルタ、プルウィットフィルタ、又はラプラスフィルタのうちの1以上を含む、請求項4に記載の深度測定装置。
- 前記コントローラは、基準深度に基づいて前記深度測定値を更に特定し、前記複数の領域は、前記基準深度に対して測定される、請求項2に記載の深度測定装置。
- 前記カメラアセンブリと前記ターゲットとは、
垂直に整列し、又は
水平に整列し、又は
ある角度に沿って整列する、請求項2に記載の深度測定装置。 - 前記コントローラは、前記深度測定値を含む複数の深度測定値を特定し、前記複数の深度測定値は、複数の隣接する深度レベル及び複数の隣接しない深度レベルに関連する、請求項2に記載の深度測定装置。
- ターゲットからの複数の距離で前記ターゲットの複数の画像を捕捉するように構成されたカメラアセンブリと、
前記複数の画像のそれぞれについて、前記カメラアセンブリと前記ターゲットとの間の相対距離に関連する位置データを捕捉するように構成された位置センサと、
コントローラであって、
画像勾配フィルタを用いて前記複数の画像のそれぞれについての画像鮮鋭度の値と前記複数の画像のそれぞれについての前記位置データとを処理し、
前記複数の画像内にある、複数の領域のそれぞれに対して、前記画像鮮鋭度の値対前記位置データに曲線をフィッティングさせ、
前記複数の領域のそれぞれについての前記曲線内の最大の画像鮮鋭度の値に対応する位置データに基づいて、深度がそれぞれ異なる前記複数の領域のそれぞれについての深度測定値を特定する
ように構成されたコントローラと、を備える、深度測定装置。 - 前記ターゲットの前記複数の画像は、前記カメラアセンブリ又は前記ターゲットのうちの少なくとも一方を移動させることによって、前記ターゲットからの前記複数の距離で前記カメラアセンブリによって捕捉され、前記コントローラは、前記複数の画像を処理するために、前記複数の画像のそれぞれの画像内における、深度がそれぞれ異なる前記複数の領域の各領域の画像鮮鋭度のデータを処理する、請求項9に記載の深度測定装置。
- 前記画像勾配フィルタは、縁部検出フィルタ、ソーベルフィルタ、プルウィットフィルタ、又はラプラスフィルタのうちの1以上を含む、請求項10に記載の深度測定装置。
- 前記コントローラは、基準深度に基づいて前記深度測定値を更に特定し、前記複数の領域は、前記基準深度に対して測定される、請求項9に記載の深度測定装置。
- 前記カメラアセンブリと前記ターゲットとは、
垂直に整列し、又は
水平に整列し、又は
ある角度に沿って整列する、請求項9に記載の深度測定装置。 - 前記コントローラは、前記深度測定値を含む複数の深度測定値を特定し、前記複数の深度測定値は、複数の隣接する深度レベル及び複数の隣接しない深度レベルに関連する、請求項9に記載の深度測定装置。
- ターゲットからの複数の距離でカメラアセンブリによって捕捉されるターゲットの複数の画像を受け取ること、
前記複数の画像のそれぞれについて、前記カメラアセンブリと前記ターゲットとの間の相対距離に関連する位置データを受け取ること、
前記複数の画像内の深度がそれぞれ異なる複数の領域のそれぞれについての対応する勾配値に対応する輝度値に基づく画像鮮鋭度の値を特定すること、
前記複数の領域のそれぞれに対して、前記画像鮮鋭度の値対前記位置データに曲線をフィッティングさせること、及び
前記複数の領域のそれぞれについての前記曲線内の最大の画像鮮鋭度の値に対応する位置データに基づいて、前記複数の領域のそれぞれについての深度測定値を特定することを含む、方法。 - 前記ターゲットの前記複数の画像は、前記カメラアセンブリ又は前記ターゲットのうちの少なくとも一方を移動させることによって、前記ターゲットからの前記複数の距離で前記カメラアセンブリによって捕捉される、請求項15に記載の方法。
- 前記複数の画像に画像勾配フィルタを適用することにより前記対応する勾配値を特定する、請求項15に記載の方法。
- 前記深度測定値を特定することは、基準深度に更に基づき、前記複数の領域は、基準深度に対して測定される、請求項15に記載の方法。
- 前記深度測定値を含む複数の深度測定値を特定することを更に含み、前記複数の深度測定値は、複数の隣接する深度レベル及び複数の隣接しない深度レベルに関連する、請求項15に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/000,884 US10498948B1 (en) | 2018-06-05 | 2018-06-05 | Methods and apparatus for absolute and relative depth measurements using camera focus distance |
US16/000,884 | 2018-06-05 | ||
PCT/US2019/035446 WO2019236619A1 (en) | 2018-06-05 | 2019-06-04 | Methods and apparatus for absolute and relative depth measurements using camera focus distance |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021521742A JP2021521742A (ja) | 2021-08-26 |
JP7042366B2 true JP7042366B2 (ja) | 2022-03-25 |
Family
ID=68693469
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020567761A Active JP7042366B2 (ja) | 2018-06-05 | 2019-06-04 | カメラ焦点距離を用いた絶対測定および相対測定のための方法および装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US10498948B1 (ja) |
JP (1) | JP7042366B2 (ja) |
KR (1) | KR102323421B1 (ja) |
CN (1) | CN112243484B (ja) |
TW (1) | TWI804631B (ja) |
WO (1) | WO2019236619A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2018
- 2018-06-05 US US16/000,884 patent/US10498948B1/en active Active
-
2019
- 2019-06-04 WO PCT/US2019/035446 patent/WO2019236619A1/en active Application Filing
- 2019-06-04 JP JP2020567761A patent/JP7042366B2/ja active Active
- 2019-06-04 KR KR1020207038032A patent/KR102323421B1/ko active IP Right Grant
- 2019-06-04 CN CN201980038104.2A patent/CN112243484B/zh active Active
- 2019-06-05 TW TW108119425A patent/TWI804631B/zh active
- 2019-10-30 US US16/669,197 patent/US11032464B2/en active Active
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- 2021-06-07 US US17/341,243 patent/US11582378B2/en active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008014646A (ja) | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Olympus Corp | 基板検査方法 |
JP2014115149A (ja) | 2012-12-07 | 2014-06-26 | Olympus Corp | 基板検査装置 |
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Publication number | Publication date |
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CN112243484B (zh) | 2022-08-19 |
JP2021521742A (ja) | 2021-08-26 |
US20210295547A1 (en) | 2021-09-23 |
WO2019236619A1 (en) | 2019-12-12 |
US11582378B2 (en) | 2023-02-14 |
TW202012878A (zh) | 2020-04-01 |
US20190373162A1 (en) | 2019-12-05 |
US10498948B1 (en) | 2019-12-03 |
KR102323421B1 (ko) | 2021-11-09 |
US20200068119A1 (en) | 2020-02-27 |
US11032464B2 (en) | 2021-06-08 |
TWI804631B (zh) | 2023-06-11 |
KR20210003310A (ko) | 2021-01-11 |
CN112243484A (zh) | 2021-01-19 |
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