JP7037600B2 - 磁気ディスク用基板及び当該磁気ディスク用基板を用いた磁気ディスク - Google Patents
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Description
本発明の他の態様では、請求項2において、SiO2:55~75mass%を主成分とし、Al2O3:0.3~25mass%及びCaO:0~20massを添加したガラス材料からなり、共振周波数をf(Hz)とし、密度をρ(g/cm3)とし、板厚をt(mm)として、(f×ρ/t)が3800以上であり、前記ガラス材料が、Na 2 O:0.7~12mass%、K 2 O:0~8mass%及びMgO:0~7mass%の1種又は2種以上を更に含有することを特徴とする磁気ディスク用基板とした。
更に本発明は請求項3では請求項2において、前記ガラス材料が、B2O3 、BaO、SnO2 及びFe2O 3 の1種又は2種以上をそれぞれ15%以下更に含有するものとした。
本発明に係る磁気ディスク用基板では、共振周波数をf(Hz)とし、密度をρ(g/cm3)とし、板厚をt(mm)として、(f×ρ/t)を3800以上に規定することによって優れた耐衝撃性が得られる。更に、磁気ディスク1枚当たりにおける磁気ディスク用基板の重量を6.0~11.0gに規定することにより、耐衝撃性を更に向上させるとともに省エネ性の向上も図ることができる。なお、(f×ρ/t)の単位は[(Hz)・(g/cm3)・(mm-1)]である。
本発明者らの検討によれば、基板のf×ρ/tを大きくすることによって基板の耐衝撃性を向上させる効果が発揮される。磁気ディスク装置の落下時等において基板が振動するが、その際の周波数は落下時の加速度等によって変化し500~1500Hz程度である。基板のfが大きいことで共振し難くなり、これによって基板の変形が抑制されて耐衝撃性の低下を抑制することができる。fが小さい基板は、磁気ディスク装置の落下時等に加わる力が小さい場合でも基板が共振し易いためこれによって基板の変形が大きくなり、他の部材との衝突等における耐衝撃性が低下する。なお、fの値はtによって変化するので、規格化のためfをtで除したものを用いる。
本発明においては上記耐衝撃性を向上させるには、磁気ディスク1枚当たりにおける磁気ディスク用基板の重量も重要であり、6.0~11.0gとするのが好ましい。これによって、上記耐衝撃性を更に向上させることができる。基板の耐衝撃性は、磁気ディスクの落下時等に基板に力が加わって振動が生じたときに、基板の他部材との衝突が避けられることで向上する。基板の重量が重いほど基板の振動の収束に要する時間が短時間となるので、他の部材との接触の機会が低減され接触による傷付きなどの耐衝撃性が抑制される。しかしながら、基板の重量が重過ぎると、磁気ディスクに用いる際の消費電力が大き過ぎて省エネ性に欠けることになる。具体的には、磁気ディスクを回転させるためのスピンドルモータの消費電力が大きくなることで省エネ性に欠けることになる。消費電力は動力と関係があり、回転数(rpm)とトルク(N・m)と係数の積で表すことができる。基板重量が重くなるとトルクが大きくなるため動力が大きくなり、消費電力も大きくなる。
本発明に係る磁気ディスク用基板の材質としては、アルミニウム合金などの金属材料とすることができる。また、材質としてガラス材料を用いることもできる。以下において、アルミニウム合金で構成した磁気ディスク用基板(以下、「磁気ディスク用アルミニウム合金基板」と記す)、ならびに、ガラス材料で構成した磁気ディスク用基板(以下、「磁気ディスク用ガラス基板」と記す)について説明する。
本発明に係る磁気ディスク用基板は、アルミニウム合金で構成することができる。以下、本発明に係る磁気ディスク用アルミニウム合金基板の合金組成及びその製造方法について、それぞれの詳細を説明する。
本発明に係る磁気ディスク用アルミニウム合金基板に用いるアルミニウム合金は、共振周波数や密度を向上させることができるFe、Mn、Ni、Mg等の元素を含有することが好ましい。
Feは、主として第二相粒子(Al-Fe系金属間化合物等)として、一部はマトリックスに固溶して存在し、アルミニウム合金基板のfとρを増加させる効果を発揮する。固溶Fe量が増加することで、固溶FeとAlとの相互作用により良好なfが得られる。また、FeはAlよりもρが大きいため、Fe含有量が増加するとρが大きくなる。アルミニウム合金中のFe含有量が8.5%以下であることによって、アルミニウム合金基板のfとρを増加させる効果を一層高めることができる。また、基板重量の大幅な増加を抑制することができる。その結果、耐衝撃性と省エネ性に優れた基板を得ることができる。そのため、アルミニウム合金中のFe含有量は、8.5%以下の範囲が好ましい。更に好ましくは1.8%以下である。下限は0.1%とするのが好ましく、0.2%とするのがより好ましい。
Mnは、主として第二相粒子(Al-Mn系金属間化合物等)として、一部はマトリックスに固溶して存在し、アルミニウム合金基板のfとρを増加させる効果を発揮する。固溶Mn量が増加することで、固溶MnとAlとの相互作用により良好なfが得られる。また、MnはAlよりもρが大きいため、Mn含有量が増加するとρが大きくなる。アルミニウム合金中のMn含有量が2.5%以下であることによって、アルミニウム合金基板のfとρを増加させる効果を一層高めることができる。また、基板重量の大幅な増加を抑制することができる。その結果、耐衝撃性と省エネ性に優れた基板を得ることができる。そのため、アルミニウム合金中のMn含有量は、2.5%以下の範囲が好ましい。更に好ましくは1.8%以下である。下限は0.1%とするのが好ましく、0.2%とするのがより好ましい。
Niは、主として第二相粒子(Al-Ni系金属間化合物等)として、一部はマトリックスに固溶して存在し、アルミニウム合金基板のfとρを増加させる効果を発揮する。固溶Ni量が増加することで、固溶NiとAlとの相互作用により良好なfが得られる。また、NiはAlよりもρが大きいため、Ni含有量が増加するとρが大きくなる。アルミニウム合金中のNi含有量が6.5%以下であることによって、アルミニウム合金基板のfとρを増加させる効果を一層高めることができる。また、基板重量の大幅な増加を抑制することができる。その結果、耐衝撃性と省エネ性に優れた基板を得ることができる。そのため、アルミニウム合金中のNi含有量は、6.5%以下の範囲が好ましい。更に好ましくは5.5%以下である。下限は0.1%とするのが好ましく、0.2%とするのがより好ましい。
Mgは、主としてマトリックスに固溶して存在し、一部は第二相粒子(Mg-Si系金属間化合物等)として存在する。MgはAlよりもρが小さいため、Mg含有量が増加すると基板の重量は減少するが、省エネ性の観点ではその効果を発揮する。一方、Mg含有量が4.5%を超えると、固溶MgとAlの相互作用によりfが低下する。そのため、アルミニウム合金中のMg含有量は、4.5%以下が好ましく。より好ましくは、2.5%以下で、更に好ましくは、1.0%以下である。下限は0.1%とするのが好ましく、0.2%とするのがより好ましい。
これらの各元素についても、それぞれ上記の含有範囲添加することで、金属間化合物等として、或いは、マトリックスに固溶して存在し、アルミニウム合金基板のfとρを増加させる効果を発揮する。また、固溶量が増加することで、固溶したものとAlとの相互作用により良好なfが得られる。
アルミニウム合金には、上述した必須成分及び選択成分以外の不可避的不純物となる元素が含まれていてもよい。これらの元素としては、Si、Ti、V、Gaなどが挙げられ、その含有量は、各元素について0.10%以下、合計で0.30%以下であれば本発明の作用効果を損なわない。
以下に、本実施形態に係る磁気ディスク用アルミニウム合金基板の製造工程の各工程及びプロセス条件を詳細に説明する。図1は、本実施形態に係る磁気ディスク用アルミニウム合金基板、ならびに、これを用いた磁気ディスクの製造方法を説明するフロー図である。図1において、アルミニウム合金成分の調整工程(ステップS101)~冷間圧延・打ち抜き加工(ステップS105)は、溶解鋳造でアルミニウム合金素材を製造し、これをアルミニウム合金板とし更に円環状に加工するまでの工程である。次いで、加圧平坦化工程(ステップS106)によって、アルミニウム合金のディスクブランクが製造される。更に、製造したディスクブランクに対して切削加工・研削加工(ステップS107)及び加熱処理(ステップS108)を含む前処理を行い、次いで、ジンケート処理(ステップS109)、Ni-Pめっき処理(ステップS110)及び表面研磨(ステップS111)を行って、磁気ディスク用アルミニウム合金基板が製造される。表面研磨(ステップS111)後の磁気ディスク用アルミニウム合金基板に、磁性体の付着工程(ステップS112)を施すことによって磁気ディスクが製造される。以下、図1のフローに従って各工程の内容を詳細に説明する。なお、切削加工・研削加工(ステップS107)後の基板を磁気ディスク用アルミニウム合金基板としても良い。Ni-Pめっき処理を実施しないことで、めっきの拘束がなくなりfを向上させることができる。
本発明に係る磁気ディスク用基板は、ガラス材料で構成することもできる。以下、本発明に係る磁気ディスク用のガラス基板について、適用されるガラス材料と基板の製造方法について、それぞれの詳細を説明する。
磁気ディスク用基板に用いられるガラスとしては、SiO2:55~75%を主成分とし、Al2O3:0.3~25%及びCaO:0~20%を添加したガラスが好ましい。更に、Li2O:0.01~6%、Na2O:0.7~12%、K2O:0~8%、MgO:0~7%、ZrO2:0~10%及びTiO2:0~1%の1種又は2種以上を添加したガラスが好ましい。
次に、本実施形態に係る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の一例について説明する。図2は、本実施形態に係る磁気ディスク用ガラス基板、ならびに、これを用いた磁気ディスクの製造方法の一例を示すフロー図である。
2-1.アルミニウム合金製
上記磁気ディスク用アルミニウム合金基板に対して、スパッタリングによって磁性体を付着させる(ステップS112)。これにより、アルミニウム合金製の磁気ディスクが製造される。
上記磁気ディスク用ガラス基板の研磨面に対して、スパッタリングによって磁性体を付着させる(ステップS206)。これにより、ガラス製の磁気ディスクが製造される。
上述のようにして作製したアルミニウム合金製の磁気ディスクの10枚以上を筐体内に搭載して、アルミニウム合金製磁気ディスクを搭載した磁気ディスク装置が製造される。また、上述のようにして作製したガラス製の磁気ディスクの10枚以上を筐体内に搭載して、ガラス製磁気ディスクを搭載した磁気ディスク装置が製造される。
まず、表1のNo.1~8に示す各合金素材を常法に従って溶解し、アルミニウム合金成分を調整してアルミニウム合金溶湯を溶製した(ステップS101)。
ガラス板の材料には、表3のNo.9~12に示す各成分組成のものを用いて、表4に示す方法で、ガラス板を作製した。なお、No.10は、板厚が5mmで、No.9、11、12の板厚は1mm以下とした。No.10では、表面を4.2mm(片面2.1mmずつ)削り厚さを1mm以下とした(ステップS201)。
上記のステップS106後のディスクブランクやステップS110後のアルミニウム合金基板、ステップS201後のガラス板について、以下の方法により、重量とf×ρ/tの評価を行った。なお、ステップS112後のアルミニウム合金製磁気ディスク及びステップS206後のガラス製磁気ディスクを用い、重量及びf×ρ/tを評価することも可能である。
請求項1、2、4、5で規定するf×ρ/tに関するものである。60mm×8mmのサンプルを採取し、共振法により共振周波数を測定した。また、別個のサンプルのサイズ(縦、横、厚さ)と重量を測定し密度を算出した。そして、基板の厚さを基にf×ρ/tを算出した。なお、共振周波数の測定は、日本テクノプラス株式会社製のJE-RT型の測定装置を用いて室温で行った。なお、透明なガラスを測定する場合は、導通がとれるようになるまでカーボンスプレーを吹きかけてから測定を行う。カーボン膜の厚みは1μm程度であれば問題ない。
請求項6~8で規定する重量に関するものである。上記の板厚0.5mm(外径97mm、円孔の内径25mm)の磁気ディスク用基板について電子天秤により重量を測定する。なお、各材料の密度やめっき密度から重量を算出することも可能である。
Claims (9)
- Fe:8.5mass%以下、Mn:2.5mass%以下、Ni:6.5mass%以下及びMg:4.5mass%以下の1種又は2種以上を含有し、残部Al及び不可避不純物からなるアルミニウム合金からなり、共振周波数をf(Hz)とし、密度をρ(g/cm3)とし、板厚をt(mm)として、(f×ρ/t)が3800以上であり、前記アルミニウム合金が、Zn:0.7mass%以下、Cu:1.0mass%以下、Cr:0.30mass%以下、Zr:0.20mass%以下及びBe:0.0015mass%以下の1種又は2種以上を更に含有することを特徴とする磁気ディスク用基板。
- SiO2:55~75mass%を主成分とし、Al2O3:0.3~25mass%及びCaO:0~20massを添加したガラス材料からなり、共振周波数をf(Hz)とし、密度をρ(g/cm3)とし、板厚をt(mm)として、(f×ρ/t)が3800以上であり、前記ガラス材料が、Na 2 O:0.7~12mass%、K 2 O:0~8mass%及びMgO:0~7mass%の1種又は2種以上を更に含有することを特徴とする磁気ディスク用基板。
- 前記ガラス材料が、B2O3 、BaO、SnO2 及びFe2O 3 の1種又は2種以上をそれぞれ15%以下更に含有する、請求項2に記載の磁気ディスク用基板。
- 前記(f×ρ/t)が4000以上である、請求項1~3のいずれか一項に記載の磁気ディスク用基板。
- 前記(f×ρ/t)が4200以上である、請求項1~3のいずれか一項に記載の磁気ディスク用基板。
- 磁気ディスク1枚当たりにおける重量が6.0~11.0gである、請求項1~5のいずれか一項に記載の磁気ディスク用基板。
- 磁気ディスク1枚当たりにおける重量が6.0~10.5gである、請求項1~5のいずれか一項に記載の磁気ディスク用基板。
- 磁気ディスク1枚当たりにおける重量が6.0~8.7gである、請求項1~5のいずれか一項に記載の磁気ディスク用基板。
- 請求項1~8のいずれか一項に記載の磁気ディスク用基板の表面に磁性体層を有することを特徴とする磁気ディスク。
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