JP7032845B2 - 測量装置 - Google Patents

Description

本発明は、簡単に設置可能であり、作業性を向上させた測量装置に関するものである。

測量装置を用いて測量を実施する場合、先ず測量装置を基準点上に設置する必要がある。一般に測量装置を基準点上に設置する場合、三脚を用いて設置されるが、測量装置は三脚上で水平に整準され、又、測量装置の機械中心（測量基準位置）が前記基準点を通過する鉛直線上に正確に位置決めされなければならない。更に、基準点から前記機械中心迄の高さ（測量装置の器械高）も測定されなければならない。この為、測量装置の設置作業は、煩雑で時間と熟練が必要とされた。

特開２０１６－１５１４２３号公報 特開２０１６－１５１４２２号公報 特開２０１６－１６１４１１号公報

本発明は、容易に短時間で設置可能であり、設置作業で熟練を必要とせず、視準作業が容易な測量装置を提供するものである。

本発明は、基準点に設置される一脚と、該一脚の下端から既知の距離と該一脚の軸心に対して既知の角度で設けられ、基準光軸を有する測量装置本体と、前記一脚に設けられ、表示部を有する操作パネルとを具備し、前記測量装置本体は、測距光を照射し、反射測距光を受光して測定対象迄の距離を測定する測距部と、前記基準光軸に対して前記測距光を偏向する光軸偏向部と、前記測定対象を含み、前記基準光軸を画像中心又は略画像中心とする観察画像を取得する測定方向撮像部と、前記測量装置本体の水平に対する傾斜を検出する姿勢検出部と、演算制御部とを有し、該演算制御部は、前記観察画像の一部を視準画像として前記表示部に表示し、前記演算制御部は、前記観察画像に於ける該観察画像の中心と前記視準画像の中心との差に基づき前記光軸偏向部により測距光軸を該測距光軸が前記視準画像の中心となる様偏向し、前記演算制御部は、前記姿勢検出部の検出結果と、前記基準光軸に対する前記測距光軸の偏角に基づき前記測距光軸の方向角を演算し、該方向角と前記測距部の測距結果に基づき前記基準点を基準とした前記測定対象を測定する様構成した測量装置に係るものである。

又本発明は、前記演算制御部は、前記偏角が前記姿勢検出部が検出する傾斜角の所定倍率となる様前記光軸偏向部を制御する様構成した測量装置に係るものである。

又本発明は、前記演算制御部は、前記姿勢検出部の検出結果に基づき前記表示部に表示される画像を回転し、画像が鉛直になる様制御する測量装置に係るものである。

又本発明は、前記演算制御部は、前記測距光軸を中心に測距光を局所スキャンさせる様、前記光軸偏向部を制御する様構成した測量装置に係るものである。

更に又本発明は、前記演算制御部は、測定中の変動を複数画像間の移動から検出し、複数画像を重ね合せて平均画像を作成し、測定中の局所スキャンデータを変動検出に応じて変化させて前記平均画像に重ねる様構成した測量装置に係るものである。

本発明によれば、基準点に設置される一脚と、該一脚の下端から既知の距離と該一脚の軸心に対して既知の角度で設けられ、基準光軸を有する測量装置本体と、前記一脚に設けられ、表示部を有する操作パネルとを具備し、前記測量装置本体は、測距光を照射し、反射測距光を受光して測定対象迄の距離を測定する測距部と、前記基準光軸に対して前記測距光を偏向する光軸偏向部と、前記測定対象を含み、前記基準光軸を画像中心又は略画像中心とする観察画像を取得する測定方向撮像部と、前記測量装置本体の水平に対する傾斜を検出する姿勢検出部と、演算制御部とを有し、該演算制御部は、前記観察画像の一部を視準画像として前記表示部に表示し、前記演算制御部は、前記観察画像に於ける該観察画像の中心と前記視準画像の中心との差に基づき前記光軸偏向部により測距光軸を該測距光軸が前記視準画像の中心となる様偏向し、前記演算制御部は、前記姿勢検出部の検出結果と、前記基準光軸に対する前記測距光軸の偏角に基づき前記測距光軸の方向角を演算し、該方向角と前記測距部の測距結果に基づき前記基準点を基準とした前記測定対象を測定する様構成したので、整準作業は必要なく、前記一脚の下端を基準点に設置するのみで測定が可能であり、前記一脚の操作で容易に視準が可能であるという優れた効果を発揮する。

第１の実施例を示す概略図である。 測量装置本体を示す概略ブロック図である。 光軸偏向部の要部説明図である。 （Ａ）～（Ｃ）は、前記光軸偏向部の作用説明図である。 操作パネルの概略ブロック図である。 測定方向撮像部、下方撮像部で取得した画像と測量装置本体によるスキャン軌跡との関係を示す図である。 ２次元スキャンパターンの一例を示す図である。 本実施例に係る測量装置の視準作動の説明図である。 （Ａ）（Ｂ）は、視準作動に於ける観察画像と視準画像との関係を示す図である。 （Ａ）（Ｂ）は、それぞれ局所パターンの一例を示す図である。 平均画像と測定スキャン軌跡との関係を示す図である。 第２の実施例を示す概略図である。 第３の実施例を示す概略図である。

以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。

図１は本発明の第１の実施例の概略を示す図であり、図１中、１はモノポール支持方式の測量装置、２は測定対象を示す。

前記測量装置１は、主に、一脚（モノポール）３、該一脚３の上端に設けられた測量装置本体４、前記一脚３の適宜位置に、例えば測定作業者が立ち姿勢で操作し易い位置に、操作パネル７が設けられる。

該操作パネル７は、前記一脚３に対して固定的に設けられてもよく、或は着脱可能であってもよい。前記操作パネル７が前記一脚３に取付けられた状態で操作可能であると共に前記操作パネル７を前記一脚３から分離し、該操作パネル７単体で操作可能としても良い。該操作パネル７と前記測量装置本体４とは、有線、無線等各種通信手段を介してデータ通信が可能となっている。

又、前記一脚３の前記操作パネル７より下方の位置に１本の補助脚６が折畳み可能に取付けられている。

前記一脚３の下端は尖端となっており、該下端は基準点Ｒ（測定の基準となる点）に設置される。又、前記一脚３の下端から前記測量装置本体４の機械中心（測量装置本体４に於ける測定の基準となる点）迄の距離は既知となっている。

前記測量装置本体４の光学系は、およそ水平方向に延出する基準光軸Ｏを有し、該基準光軸Ｏは前記一脚３の軸心Ｐと直交する線に対して所定角度下方に傾斜する様に設定される。従って、前記一脚３が鉛直に設定されると前記基準光軸Ｏは水平に対して前記所定角度下方に傾斜する。

前記補助脚６は、上端で前記一脚３に折畳み可能に連結され、前記補助脚６は折畳み状態では、前記一脚３と密着し、密着した状態を保持する様なロック機構が設けられる。或は簡易的に前記一脚３と前記補助脚６とを束ねるバンド（図示せず）が設けられてもよい。前記補助脚６が折畳まれた状態で、作業者が一脚３を把持し、測定を実行できる。

前記補助脚６は、上端を中心に所定の角度回転し、前記一脚３から離反させることが可能となっており、離反させた位置で固定可能となっている。前記補助脚６を使用することで、前記測量装置本体４は該補助脚６と前記一脚３との２点支持となり、前記測量装置本体４の支持は安定し、前記測量装置本体４による測定の安定性が向上する。尚、前記補助脚６は、１本の場合を説明したが２本であってもよい。この場合、前記一脚３は自立可能となる。

前記測量装置本体４は、測距部２４（後述）、測定方向撮像部２１（後述）を有し、又前記測量装置本体４には下方撮像部５が設けられている。前記測距部２４の光学系の基準光軸が前記基準光軸Ｏである。前記測定方向撮像部２１の光軸（以下、第１撮像光軸６１）は前記基準光軸Ｏに対して所定角（例えば６°）上方に傾斜しており、又前記測定方向撮像部２１と前記測距部２４との距離及び位置関係は既知となっている。前記測距部２４と前記測定方向撮像部２１は前記測量装置本体４の筐体内部に収納されている。

前記下方撮像部５は、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の撮像素子を有し、デジタル画像を取得可能な撮像装置が用いられる。又、撮像素子中の画素の位置が前記下方撮像部５の光軸（以下、第２撮像光軸８）を基準として検出可能となっている。例えば、前記第２撮像光軸８を原点とする座標系での座標が検出可能となっている。又、前記下方撮像部５として、例えば、市販のデジタルカメラが用いられてもよい。

前記下方撮像部５は前記測量装置本体４の筐体に固定され、前記下方撮像部５（即ち、該下方撮像部５の像形成位置）は前記測量装置本体４の機械中心に対して既知の位置に設けられる。前記第２撮像光軸８は、下方に向けられ、前記基準光軸Ｏに対して所定の既知の角度に設定され、前記第２撮像光軸８と前記基準光軸Ｏとは既知の関係となっている。尚、前記下方撮像部５は前記筐体に収納され、前記測量装置本体４と一体化されてもよい。

前記測定方向撮像部２１の画角はθ１であり、前記下方撮像部５の画角はθ２であり、θ１とθ２とは等しくても良く又異なっていても良い。又、前記測定方向撮像部２１の画角と前記下方撮像部５の画角はオーバラップしていなくとも良いが、所定量オーバラップすることが好ましい。又、前記下方撮像部５の画角、前記第２撮像光軸８の方向は、前記一脚３の下端が画像中に含まれる様設定される。

図２を参照して、前記測量装置本体４の概略構成を説明する。

該測量装置本体４は、測距光射出部１１、受光部１２、測距演算部１３、演算制御部１４、第１記憶部１５、撮像制御部１６、画像処理部１７、第１通信部１８、光軸偏向部１９、姿勢検出部２０、前記測定方向撮像部２１、射出方向検出部２２、モータドライバ２３を具備し、これらは筐体２５に収納され、一体化されている。尚、前記測距光射出部１１、前記受光部１２、前記測距演算部１３、前記光軸偏向部１９等は、測距部２４を構成する。

前記測距光射出部１１は、射出光軸２６を有し、該射出光軸２６上に発光素子２７、例えばレーザダイオード（ＬＤ）が設けられている。又、前記射出光軸２６上に投光レンズ２８が設けられている。更に、前記射出光軸２６上に設けられた偏向光学部材としての第１反射鏡２９と、受光光軸３１（後述）上に設けられた偏向光学部材としての第２反射鏡３２とによって、前記射出光軸２６は、前記受光光軸３１と合致する様に偏向される。前記第１反射鏡２９と前記第２反射鏡３２とで射出光軸偏向部が構成される。

前記測距演算部１３は前記発光素子２７を発光させ、前記発光素子２７はレーザ光線を発する。前記測距光射出部１１は、前記発光素子２７から発せられたレーザ光線を測距光３３として射出する。尚、レーザ光線としては、連続光或はパルス光、或は特許文献３に示される断続変調光のいずれが用いられてもよい。

前記受光部１２について説明する。該受光部１２には、測定対象２からの反射測距光３４が入射する。前記受光部１２は、前記受光光軸３１を有し、該受光光軸３１には、前記第１反射鏡２９、前記第２反射鏡３２によって偏向された前記射出光軸２６が合致する。尚、該射出光軸２６と前記受光光軸３１とが合致した状態を測距光軸３５とする。

前記基準光軸Ｏ上に前記光軸偏向部１９が配設される。該光軸偏向部１９の中心を透過する真直な光軸は、前記基準光軸Ｏとなっている。該基準光軸Ｏは、前記光軸偏向部１９によって偏向されなかった時の前記射出光軸２６又は前記受光光軸３１又は前記測距光軸３５と合致する。

前記反射測距光３４が前記光軸偏向部１９を透過し、入射した前記受光光軸３１上に結像レンズ３８が配設される。又、前記受光光軸３１上に受光素子３９、例えばアバランシフォトダイオード（ＡＰＤ）が設けられている。前記結像レンズ３８は、前記反射測距光３４を前記受光素子３９に結像する。該受光素子３９は、前記反射測距光３４を受光し、受光信号を発生する。受光信号は、前記測距演算部１３に入力され、該測距演算部１３は受光信号に基づき測距光の往復時間を演算し、測定対象２迄の測距を行う。

前記第１通信部１８は、前記測定方向撮像部２１で取得した画像データ、前記画像処理部１７で処理された画像データ、前記測距部２４が取得した測距データを前記操作パネル７に送信し、更に該操作パネル７からの操作コマンドを受信する。

前記第１記憶部１５には、撮像の制御プログラム、画像処理プログラム、測距プログラム、表示プログラム、通信プログラム、操作コマンド作成プログラム、前記姿勢検出部２０からの姿勢検出結果に基づき前記一脚３の傾斜角、傾斜方向を演算し、更に傾斜角の鉛直成分（前記一脚３の測定対象２に対する前後方向の傾斜角）、傾斜角の水平成分（前記一脚３の測定対象２に対する左右方向の傾斜角）を演算する傾斜角演算プログラム、測距を実行する為の測定プログラム、前記光軸偏向部１９の偏向作動を制御する為の偏向制御プログラム、各種演算を実行する演算プログラム等の各種プログラムが格納される。又、測距データ、測角データ、画像データ等の各種データが格納される。

前記演算制御部１４は、前記測量装置本体４の作動状態に応じて、前記各種プログラムを展開、実行して前記測量装置本体４による前記測距光射出部１１の制御、前記受光部１２の制御、前記測距演算部１３の制御、前記測定方向撮像部２１の制御等を行い、測距を実行する。

図３を参照して、前記光軸偏向部１９について説明する。

該光軸偏向部１９は、一対の光学プリズム４１，４２から構成される。該光学プリズム４１，４２は、それぞれ同径の円板形であり、前記測距光軸３５上に該測距光軸３５と直交して同心に配置され、所定間隔で平行に配置されている。前記光学プリズム４１は、光学ガラスにて成形され、平行に配置された３つの三角プリズム４３ａ，４３ｂ，４３ｃを有している。前記光学プリズム４２は、光学ガラスにて成形され、平行に配置された３つの三角プリズム４４ａ，４４ｂ，４４ｃを有している。尚、前記三角プリズム４３ａ，４３ｂ，４３ｃと前記三角プリズム４４ａ，４４ｂ，４４ｃは、全て同一偏角の光学特性を有している。

前記三角プリズム４３ａ，４３ｂ，４３ｃ、前記三角プリズム４４ａ，４４ｂ，４４ｃの幅、形状は全て同じでもよく、或は異なっていてもよい。尚、中心に位置する前記三角プリズム４３ａ，４４ａの幅は、前記測距光３３のビーム径よりも大きくなっており、該測距光３３は前記三角プリズム４３ａ，４４ａのみを透過する様になっている。前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ，４４ｂ，４４ｃについては、多数の小さい三角プリズムで構成してもよい。

更に、中心の前記三角プリズム４３ａ，４４ａについては、光学ガラス製とし、前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ，４４ｂ，４４ｃについては、光学プラスチック製としてもよい。これは、前記光軸偏向部１９から測定対象２迄の距離は大きく、前記三角プリズム４３ａ，４４ａの光学特性については精度が要求され、一方前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ，４４ｂ，４４ｃから前記受光素子３９迄の距離は小さく、高精度の光学特性は必要ないという理由による。

前記光軸偏向部１９の中央部（前記三角プリズム４３ａ，４４ａ）は、前記測距光３３が透過し、射出される第１光軸偏向部である測距光偏向部となっている。前記光軸偏向部１９の中央部を除く部分（前記三角プリズム４３ａ，４４ａの両端部及び前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ、前記三角プリズム４４ｂ，４４ｃ）は、前記反射測距光３４が透過し、入射する第２光軸偏向部である反射測距光偏向部となっている。

前記光学プリズム４１，４２は、それぞれ前記受光光軸３１を中心に独立して個別に回転可能に配設されている。前記光学プリズム４１，４２は、回転方向、回転量、回転速度が独立して制御されることで、射出される前記測距光３３の前記射出光軸２６を任意の方向に偏向し、又受光される前記反射測距光３４の前記受光光軸３１を前記射出光軸２６と平行に偏向する。

又、前記測距光３３を連続して照射しつつ、前記光学プリズム４１，４２を連続的に駆動し、連続的に偏向することで、前記測距光３３を所定のパターンでスキャンさせることができる。

前記光学プリズム４１，４２の外形形状は、それぞれ前記測距光軸３５（基準光軸Ｏ）を中心とする円形であり、前記反射測距光３４の広がりを考慮し、充分な光量を取得できる様、前記光学プリズム４１，４２の直径が設定されている。

前記光学プリズム４１の外周にはリングギア４５が嵌設され、前記光学プリズム４２の外周にはリングギア４６が嵌設されている。

前記リングギア４５には駆動ギア４７が噛合し、該駆動ギア４７はモータ４８の出力軸に固着されている。同様に、前記リングギア４６には駆動ギア４９が噛合し、該駆動ギア４９はモータ５０の出力軸に固着されている。前記モータ４８，５０は、前記モータドライバ２３に電気的に接続されている。

前記モータ４８，５０は、回転角を検出できるもの、或は駆動入力値に対応した回転をするもの、例えばパルスモータが用いられる。或は、モータの回転量（回転角）を検出する回転角検出器、例えばエンコーダ等を用いて前記モータ４８，５０の回転量を検出してもよい。該モータ４８，５０の回転量がそれぞれ検出され、前記モータドライバ２３により前記モータ４８，５０が個別に制御される。

又、前記モータ４８，５０の回転量、即ち前記駆動ギア４７，４９の回転量を介して前記光学プリズム４１，４２の回転角が検出される。尚、エンコーダを直接リングギア４５，４６にそれぞれ取付け、エンコーダにより前記リングギア４５，４６の回転角を直接検出する様にしてもよい。

ここで前記光軸偏向部１９の偏向角は、前記光学プリズム４１，４２の回転角に対して小さく（例えば、偏向角±１０°させる為の回転角が±４０°）、高精度に偏向させることができる。

前記駆動ギア４７，４９、前記モータ４８，５０は、前記測距光射出部１１と干渉しない位置、例えば前記リングギア４５，４６の下側に設けられている。

前記投光レンズ２８、前記第１反射鏡２９、前記第２反射鏡３２、前記測距光偏向部等は、投光光学系を構成する。又、前記反射測距光偏向部、前記結像レンズ３８等は、受光光学系を構成する。

前記測距演算部１３は、前記発光素子２７を制御し、前記測距光３３としてレーザ光線をパルス発光又はバースト発光（断続発光）させる。該測距光３３が前記三角プリズム４３ａ，４４ａ（測距光偏向部）により、測定対象２に向う様前記射出光軸２６（即ち、前記測距光軸３５）が偏向される。前記測距光軸３５が、測定対象２を視準した状態で測距が行われる。

前記測定対象２から反射された前記反射測距光３４は、前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ及び前記三角プリズム４４ｂ，４４ｃ（反射測距光偏向部）、前記結像レンズ３８を介して入射し、前記受光素子３９に受光される。該受光素子３９は、受光信号を前記測距演算部１３に送出し、該測距演算部１３は前記受光素子３９からの受光信号に基づき、パルス光毎に測定点（測距光が照射された点）の測距を行い、測距データは前記第１記憶部１５に格納される。

前記射出方向検出部２２は、前記モータ４８，５０に入力する駆動パルスをカウントすることで、前記モータ４８，５０の回転角を検出する。或は、エンコーダからの信号に基づき、前記モータ４８，５０の回転角を検出する。又、前記射出方向検出部２２は、前記モータ４８，５０の回転角に基づき、前記光学プリズム４１，４２の回転位置を演算する。

更に、前記射出方向検出部２２は、前記光学プリズム４１，４２の屈折率と、該光学プリズム４１，４２を一体とした時の回転位置、両光学プリズム４１，４２間の相対回転角とに基づき、各パルス光毎の前記測距光３３の前記基準光軸Ｏに対する偏角、射出方向をリアルタイムで演算する。演算結果（測角結果）は、測距結果に関連付けられて前記演算制御部１４に入力される。尚、前記測距光３３がバースト発光される場合は、断続測距光毎に測距が実行される。

前記演算制御部１４は、前記モータ４８，５０の回転方向、回転速度、前記モータ４８，５０間の回転比を制御することで、前記光学プリズム４１，４２の相対回転、全体回転を制御し、前記光軸偏向部１９による偏向作用を制御する。又、前記演算制御部１４は、前記測距光３３の偏角、射出方向から、前記基準光軸Ｏに対する測定点の水平角、鉛直角を演算する。更に、前記演算制御部１４は、測定点についての水平角、鉛直角を前記測距データに関連付けることで、前記測定点の３次元データを求めることができる。而して、前記測量装置１は、トータルステーションとして機能する。

次に、前記姿勢検出部２０について説明する。該姿勢検出部２０は、前記測量装置本体４の水平、又は鉛直に対する傾斜角を検出し、検出結果は前記演算制御部１４に入力される。尚、前記姿勢検出部２０としては、特許文献１に開示された姿勢検出部を使用することができる。

該姿勢検出部２０について簡単に説明する。該姿勢検出部２０は、フレーム５４を有している。該フレーム５４は、前記筐体２５に固定され、或は構造部材に固定され、前記測量装置本体４と一体となっている。

前記フレーム５４にはジンバルを介してセンサブロック５５が取付けられている。該センサブロック５５は、直交する２軸を中心に２方向にそれぞれ３６０°又は３６０゜以上回転自在となっている。

該センサブロック５５には、第１傾斜センサ５６、第２傾斜センサ５７が取付けられている。前記第１傾斜センサ５６は水平を高精度に検出するものであり、例えば水平液面に検出光を入射させ反射光の反射角度の変化で水平を検出する傾斜検出器、或は封入した気泡の位置変化で傾斜を検出する気泡管である。又、前記第２傾斜センサ５７は傾斜変化を高応答性で検出するものであり、例えば加速度センサである。

前記センサブロック５５の、前記フレーム５４に対する２軸についての各相対回転角は、エンコーダ５８，５９によってそれぞれ検出される様になっている。

又、前記センサブロック５５を回転させ、水平に維持するモータ（図示せず）が前記２軸に関してそれぞれ設けられている。該モータは、前記第１傾斜センサ５６、前記第２傾斜センサ５７からの検出結果に基づき、前記センサブロック５５を水平に維持する様に前記演算制御部１４によって制御される。

前記センサブロック５５が傾斜していた場合（前記測量装置本体４が傾斜していた場合）、前記センサブロック５５（水平）に対する前記フレーム５４の各軸方向の相対回転角が前記エンコーダ５８，５９によってそれぞれ検出される。該エンコーダ５８，５９の検出結果に基づき、前記測量装置本体４の２軸についての傾斜角、２軸の傾斜の合成によって傾斜方向が検出される。

前記センサブロック５５は、２軸について３６０°又は３６０゜以上回転自在であるので、前記姿勢検出部２０がどの様な姿勢となろうとも、例えば該姿勢検出部２０の天地が逆になった場合でも、全方向での姿勢検出（水平に対する傾斜角、傾斜方向）が可能である。

姿勢検出に於いて、高応答性を要求する場合は、前記第２傾斜センサ５７の検出結果に基づき姿勢検出と姿勢制御が行われるが、該第２傾斜センサ５７は前記第１傾斜センサ５６に比べ検出精度が悪いのが一般的である。

前記姿勢検出部２０では、高精度の前記第１傾斜センサ５６と高応答性の前記第２傾斜センサ５７を具備することで、該第２傾斜センサ５７の検出結果に基づき姿勢制御を行い、更に前記第１傾斜センサ５６により高精度の姿勢検出を可能とする。

該第１傾斜センサ５６の検出結果で、前記第２傾斜センサ５７の検出結果を較正することができる。即ち、前記第１傾斜センサ５６が水平を検出した時の前記エンコーダ５８，５９の値、即ち実際の傾斜角と前記第２傾斜センサ５７が検出した傾斜角との間で偏差を生じれば、該偏差に基づき前記第２傾斜センサ５７の傾斜角を較正することができる。

従って、予め、該第２傾斜センサ５７の検出傾斜角と、前記第１傾斜センサ５６による水平検出と前記エンコーダ５８，５９の検出結果に基づき求めた傾斜角との関係を取得しておけば、前記第２傾斜センサ５７に検出された傾斜角の較正（キャリブレーション）をすることができ、該第２傾斜センサ５７による高応答性での姿勢検出の精度を向上させることができる。環境変化（温度等）の少ない状態では、傾斜検出は前記第２傾斜センサ５７の検出結果と補正値で求めてもよい。

前記演算制御部１４は、傾斜の変動が大きい時、傾斜の変化が速い時は、前記第２傾斜センサ５７からの信号に基づき、前記モータを制御する。又、前記演算制御部１４は、傾斜の変動が小さい時、傾斜の変化が緩やかな時、即ち前記第１傾斜センサ５６が追従可能な状態では、該第１傾斜センサ５６からの信号に基づき、前記モータを制御する。尚、常時、前記第２傾斜センサ５７に検出された傾斜角を較正することで、該第２傾斜センサ５７からの検出結果に基づき前記姿勢検出部２０による姿勢検出を行ってもよい。

尚、前記第１記憶部１５には、前記第１傾斜センサ５６の検出結果と前記第２傾斜センサ５７の検出結果との比較結果を示す対比データが格納されている。前記第１傾斜センサ５６からの信号に基づき、該第２傾斜センサ５７による検出結果を較正する。この較正により、該第２傾斜センサ５７による検出結果を前記第１傾斜センサ５６の検出精度迄高めることができる。よって、前記姿勢検出部２０による姿勢検出に於いて、高精度を維持しつつ高応答性を実現することができる。

前記演算制御部１４は、前記姿勢検出部２０からの検出結果から前記一脚３の前後方向の倒れ角（測定対象２に対して近接離反する方向の倒れ角）及び前記一脚３の左右方向の倒れ角を演算する。前後方向の倒れ角は、前記基準光軸Ｏの水平に対する傾斜角として現れ、左右方向の倒れ角は、前記測定方向撮像部２１で取得する画像の傾き（回転）として現れる。

前記演算制御部１４は、前記倒れ角と前記光軸偏向部１９による偏角により、前記測距光軸３５の水平に対する傾斜角を演算する。又、前記画像の傾きに基づき、表示部６８（後述）に表示される画像の傾きを修正し、鉛直画像として表示する。

前記測定方向撮像部２１は、前記測量装置本体４の前記基準光軸Ｏと平行な前記第１撮像光軸６１と、該第１撮像光軸６１に配置された撮像レンズ６２とを有している。前記測定方向撮像部２１は、前記光学プリズム４１，４２による最大偏角θ／２（例えば±３０°）と略等しい、例えば５０°～６０°の画角を有するカメラである。前記第１撮像光軸６１と前記射出光軸２６及び前記基準光軸Ｏとの関係は既知であり、前記第１撮像光軸６１と前記射出光軸２６及び前記基準光軸Ｏとは平行であり、又各光軸間の距離は既知の値となっている。

又、前記測定方向撮像部２１は、静止画像又は連続画像或は動画像が取得可能である。前記測定方向撮像部２１で取得された画像は、前記操作パネル７に送信され、該操作パネル７の表示部６８（後述）に観察画像８１として表示され、作業者は該表示部６８に表示された画像を観察して測定作業を実行できる。前記観察画像８１の中心は、前記第１撮像光軸６１と合致し、更に、前記第１撮像光軸６１と前記基準光軸Ｏの既知の関係に基づき前記観察画像８１の中心は前記基準光軸Ｏと合致する様、或は前記基準光軸Ｏと略合致する様に（所定の画角でずれる様に）制御される。

前記撮像制御部１６は、前記測定方向撮像部２１の撮像を制御する。前記撮像制御部１６は、前記測定方向撮像部２１が前記動画像、又は連続画像を撮像する場合に、該動画像、又は連続画像を構成するフレーム画像を取得するタイミングと前記測量装置本体４でスキャンし測距するタイミングとの同期を取っている。前記演算制御部１４は画像と測定データ（測距データ、測角データ）との関連付けも実行する。又、前記撮像制御部１６は、前記第１通信部１８、第２通信部６７（図５参照）を介して前記測定方向撮像部２１と前記下方撮像部５との撮像タイミングの同期制御を行っている。

前記測定方向撮像部２１の撮像素子６３は、画素の集合体であるＣＣＤ、或はＣＭＯＳセンサであり、各画素は画像素子上での位置が特定できる様になっている。例えば、各画素は、前記第１撮像光軸６１を原点とした座標系での画素座標を有し、該画素座標によって画像素子上での位置が特定される。又、前記第１撮像光軸６１と前記基準光軸Ｏとの関係が既知であるので、前記測距部２４による測定位置と前記撮像素子６３上での位置との相互関連付けが可能である。前記撮像素子６３から出力される画像信号は、前記撮像制御部１６を介して前記画像処理部１７に入力される。

前記光軸偏向部１９の偏向作用、スキャン作用について、図４（Ａ）～図４（Ｃ）を参照して説明する。

尚、図４（Ａ）では、説明を簡略化する為、前記光学プリズム４１，４２について、前記三角プリズム４３ａ，４４ａと、前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ，４４ｂ，４４ｃとを分離して示している。又、図４（Ａ）は、前記三角プリズム４３ａ，４４ａ、前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ，４４ｂ，４４ｃが同方向に位置した状態を示しており、この状態では最大の偏角（例えば、３０°）が得られる。又、最少の偏角は、前記光学プリズム４１，４２のいずれか一方が他方に対して１８０°回転した位置であり、該光学プリズム４１，４２の相互の光学作用が相殺され、偏角は０°となる。従って、前記光学プリズム４１，４２を経て射出、受光されるレーザ光線の光軸（前記測距光軸３５）は、前記基準光軸Ｏと合致する。

前記発光素子２７から前記測距光３３が発せられ、該測距光３３は前記投光レンズ２８で平行光束とされ、前記測距光偏向部（前記三角プリズム４３ａ，４４ａ）を透過して測定対象２に向けて射出される。ここで、前記測距光偏向部を透過することで、前記測距光３３は前記三角プリズム４３ａ，４４ａによって所要の方向に偏向されて射出される（図４（Ａ））。

ここで、前記測距光３３は全て前記三角プリズム４３ａ，４４ａを透過し、該三角プリズム４３ａ，４４ａの光学作用を受けるが、単一の光学部材からの光学作用であるので、光束の乱れがなく偏向精度は高い。更に、前記三角プリズム４３ａ，４４ａとして光学ガラスが用いられることで、更に偏向精度が高められる。

前記測定対象２で反射された前記反射測距光３４は、前記反射測距光偏向部を透過して入射され、前記結像レンズ３８により前記受光素子３９に集光される。

前記反射測距光３４が前記反射測距光偏向部を透過することで、前記反射測距光３４の光軸は、前記受光光軸３１と合致する様に前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ及び前記三角プリズム４４ｂ，４４ｃによって偏向される（図４（Ａ））。

ここで、前記反射測距光偏向部に用いられる前記三角プリズム４３ｂ，４３ｃ及び前記三角プリズム４４ｂ，４４ｃには、光学プラスチックが用いられてもよく、或は微小な三角プリズムの集合であるフレネルプリズムが用いられてもよい。前記光軸偏向部１９と前記受光素子３９間の距離が短いので、前記反射測距光偏向部には高精度が要求されない。

前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２との回転位置の組合わせにより、射出する前記測距光３３の偏向方向、偏角を任意に変更することができる。

又、前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２との位置関係を固定した状態で（前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２とで得られる偏角を固定した状態で）、前記モータ４８，５０により、前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２とを一体に回転すると、前記測距光偏向部を透過した前記測距光３３が描く軌跡は前記基準光軸Ｏ（図２参照）を中心とした円となる。

従って、前記発光素子２７よりレーザ光線を発光させつつ、前記光軸偏向部１９を回転させれば、前記測距光３３を円の軌跡でスキャンさせることができる。尚、前記反射測距光偏向部は、前記測距光偏向部と一体に回転していることは言う迄もない。

図４（Ｂ）は、前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２とを相対回転させた場合を示している。前記光学プリズム４１により偏向された光軸の偏向方向を偏向Ａとし、前記光学プリズム４２により偏向された光軸の偏向方向を偏向Ｂとすると、前記光学プリズム４１，４２による光軸の偏向は、該光学プリズム４１，４２間の角度差θとして、合成偏向Ｃとなる。

従って、前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２を逆向きに同期して等速度で往復回転させた場合、前記光学プリズム４１，４２を透過した前記測距光３３は、直線状にスキャンされる。従って、前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２とを逆向きに等速度で往復回転させることで、図４（Ｂ）に示される様に、前記測距光３３を合成偏向Ｃ方向に直線の軌跡６４で往復スキャンさせることができる。

更に、図４（Ｃ）に示される様に、前記光学プリズム４１の回転速度に対して遅い回転速度で前記光学プリズム４２を回転させれば、角度差θは漸次増大しつつ前記測距光３３が回転される。従って、該測距光３３のスキャン軌跡はスパイラル状となる。

又、前記光学プリズム４１、前記光学プリズム４２の回転方向、回転速度を個々に制御することで、前記測距光３３のスキャン軌跡を前記基準光軸Ｏを中心とした種々の２次元のスキャンパターンが得られる。

例えば、前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２の、一方の光学プリズム４１を２５回転、他方の光学プリズム４２を逆方向に５回転することで、図６に示される様な、花びら状の２次元の閉ループスキャンパターン（花びらパターン７４（内トロコイド曲線））、或は、前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２の回転比率を１：２とすることで、図７に示される様な８の字状の２次元の８の字パターン７９が得られる。

前記下方撮像部５について説明する。

該下方撮像部５は、前記測量装置本体４と電気的に接続されており、前記下方撮像部５で取得された画像データは前記測量装置本体４に入力される。

前記下方撮像部５の撮像は、前記撮像制御部１６によって前記測定方向撮像部２１の撮像、前記測距部２４の測距と同期制御される。前記下方撮像部５は、前記測量装置本体４の機械中心に対して既知の位置に設けられており、前記下方撮像部５と前記一脚３下端との距離も既知となっている。

更に、前記下方撮像部５の前記第２撮像光軸８は、前記基準光軸Ｏとの成す角、基準光軸Ｏと前記第２撮像光軸８との交点の位置が既知である等、既知の関係にあり、前記下方撮像部５で取得した画像データは、前記演算制御部１４によって前記測定方向撮像部２１で取得した画像及び前記測距部２４で測定した測距データと関連付けられて前記第１記憶部１５に格納される。

前記操作パネル７について図５を参照して略述する。

該操作パネル７は、上記した様に、前記一脚３に対して固定的に設けられてもよく、或は着脱可能であってもよい。又、着脱可能な場合は、前記操作パネル７を前記一脚３から取外し、前記操作パネル７単体の状態で、作業者が保持し、操作可能としてもよい。

前記操作パネル７は、主に演算部６５、第２記憶部６６、前記第２通信部６７、前記表示部６８、操作部６９を具備している。尚、前記表示部６８をタッチパネルとし、前記表示部６８に前記操作部６９を兼用させてもよい。又、前記表示部６８をタッチパネルとした場合は、前記操作部６９は省略してもよい。

前記第２記憶部６６には、前記測量装置本体４との間で通信を行う為の通信プログラム、前記下方撮像部５で取得した画像、前記測定方向撮像部２１で取得した画像の合成等の処理を行う画像処理プログラム、前記下方撮像部５で取得した画像、前記測定方向撮像部２１で取得した画像、前記測距部２４で測定した測定情報を前記表示部６８に表示させる為の表示プログラム、前記操作部６９で操作された情報から前記測量装置本体４へのコマンドを作成する為のコマンド作成プログラム等の各種プログラムが格納されている。

前記第２通信部６７は前記画像処理部１７との間で、測定データ、画像データ、コマンド等のデータを前記演算制御部１４、前記第１通信部１８を経由して、通信する。

前記表示部６８は、前記測量装置本体４の測定状態、測定結果等を表示し、又前記下方撮像部５、前記測定方向撮像部２１が取得した画像、或は前記画像処理部１７で画像処理された画像を表示する。又、前記表示部６８は、前記測定方向撮像部２１が取得した全画角画像を観察画像８１として表示する。更に、観察画像８１上で測定点（視準点）を指定すると、前記画像処理部１７が前記視準点を中心として観察画像８１から所要範囲を切出し、切出した画像を拡大して視準画像８２として表示する（図９（Ａ）、図９（Ｂ）参照）。

ここで、前記視準画像８２とは前記光軸偏向部１９によって偏向された前記測距光軸３５（偏向されていない場合は、該測距光軸３５と前記基準光軸Ｏとは合致する）を中心とする画像であり、前記表示部６８に所定の倍率（例えば、３倍～１０倍）で拡大されて表示される。前記操作部６９から前記測量装置本体４に測定作業に関する指令等、各種指令を入力できる様になっている。又、観察画像８１の表示、視準画像８２の表示は前記操作部６９から切替え可能となっている。

前記操作パネル７として、例えばスマートフォン、タブレットが用いられてもよい。又、前記操作パネル７がデータコレクタとして使用されてもよい。

図１～図６を参照して、前記測量装置１の測定作用について説明する。以下の測定作用は、前記第１記憶部１５に格納されたプログラムを前記演算制御部１４が実行することでなされる。

測定を開始する準備として、前記一脚３の下端を基準点Ｒに位置決めし、前記一脚３を略垂直として作業者が保持する。尚、前記操作パネル７は前記一脚３に取付けられた状態とする。又、前記下方撮像部５、前記測定方向撮像部２１は作動状態で前記測量装置１の設置は行われる。

前記基準光軸Ｏを測定対象２に向ける場合、前記一脚３を前記一脚３の下端を中心に回転し、或は前記一脚３を前後、左右に傾斜し、或はみそすり回転する。前記基準光軸Ｏを中心とする観察画像８１が前記表示部６８に表示され、観察画像８１から前記基準光軸Ｏの方向、位置を確認することができる。

前記基準光軸Ｏの方向が確定したら、前記観察画像８１は、前記基準光軸Ｏを保持した状態で、測定可能な範囲を示しており、前記観察画像８１中の任意の点を測定点（測定対象２）として指定し、測定対象２の測定が可能である。前記測定対象２の指定で前記演算制御部１４は前記光軸偏向部１９を用いて前記測距光軸３５を前記測定対象２に向ける。

前記測距光軸３５が前記測定対象２に向けられ、前記測距光３３が照射され、前記測定対象２の測定（測距、測角）が実行される。前記表示部６８には視準画像８２が表示されると共に、該視準画像８２上に前記測距光３３の方向、測距結果等が表示される。尚、観察画像８１に対する前記視準画像８２の位置を確認したい場合は、該視準画像８２から前記観察画像８１への切替えを行う。該観察画像８１には前記視準画像８２の位置を示す、枠８３等が表示されることが好ましい。

測定対象２を変更又は他の箇所の測定対象２への移動を行う場合、前記表示部６８の表示を前記観察画像８１に戻し、観察画像８１から再度測定点を指定することも可能であるが、視準画像８２を表示したまま、前記一脚３の傾動、回転により測定点を移動させることも可能である。

前記視準画像８２の中心が前記測距光軸３５の位置（方向）であるので、視準画像８２の中心が測定点に合致する様に前記一脚３を操作することで、前記測距光軸３５を測定点に一致させることができる。この時、前記測距光軸３５と前記基準光軸Ｏとは一致しているとは限らないが、前記撮像素子６３上での視準画像８２の中心と観察画像８１の中心との位置偏差は、前記測距光軸３５と前記基準光軸Ｏとの方向角の角度差に換算できる。又、基準光軸Ｏの水平に対する傾斜は、前記姿勢検出部２０により検出されるので、該姿勢検出部２０の検出結果と前記位置偏差に基づき、前記測距光軸３５の傾斜角が検出される。又、測距光３３が照射されて測定が行われる。

更に、前記一脚３を操作し（傾動し）、視準画像８２を用いて前記測距光軸３５を測定点に視準させる場合に、作業性を向上させる為、前記一脚３の倒れ角、或は倒れ角の変化に対して、視準画像８２を所定の移動倍角（例えば、前記一脚３の傾斜角に対して０．５倍、１倍、２倍、３倍の角度、等）で移動させてもよい。尚、移動倍角は固定であっても、切替え可能であってもよい。尚、上記した様に、前記一脚３の倒れ角及び倒れ角の変化は、前記姿勢検出部２０によって検出される。

例えば、図８、図９（Ａ）、図９（Ｂ）に示される様に、移動倍角を固定倍率の２倍とすると、前記一脚３の傾斜角ａに対し、前記視準画像８２を前記一脚３の傾斜方向に傾斜角ａ分だけ移動させることで前記視準画像８２を２倍角で移動させることができる。つまり前記一脚３の倒れ量ａと前記視準画像８２の移動量ａの合計で２ａが得られる。従って、前記測距光軸３５の傾斜角を４０゜とする場合、前記一脚３の傾斜量は２０゜ですみ、前記一脚３を大きく傾ける必要がなくなり、作業性が向上する。

尚、前記視準画像８２の移動については、前記観察画像８１から視準画像８２を切取る場合に、前記一脚３を傾斜角ａの移動、傾斜方向に対し、前記観察画像８１上で前記一脚３の傾斜方向に対応する方向で、傾斜角ａに相当する位置を中心に前記視準画像８２を切取ればよい。

更に、前記一脚３の傾斜角ａの移動に対して視準画像８２の移動を前記表示部６８にリアルタイムで表示すれば、作業の状態、視準位置の変化を視覚で確認できるので、作業性が更に向上する。

更に、移動倍角を切替え可能とした場合、視準画像８２の中心（即ち、測距光軸３５）が測定点近傍となった場合、移動倍率を１倍、或は０．５倍とすることで前記一脚３の傾斜量（操作量）に対して前記視準画像８２の移動量が小さくなり、測距光軸３５を測定点に一致させることが容易となる。

前記測距光軸３５の視準状態、即ち、前記測距光軸３５を前記測定対象２に合わせた状態を維持する場合、測定作業者が前記一脚３を保持してもよいし、或は前記補助脚６を引出し、前記一脚３を前記補助脚６で支持してもよい。

該補助脚６で前記一脚３を支持することで、前記一脚３の前後方向の倒れ、前記一脚３の下端を中心とする回転が規制され、前記測量装置１の支持状態が安定する。

尚、前記測量装置１の水平に対する傾斜は、前記姿勢検出部２０によってリアルタイムで検出されるので、前記測量装置１の水平に対する傾斜角、傾斜方向がリアルタイムで検出され、検出結果に基づき測定結果をリアルタイムで補正することができる。従って、前記測量装置１を水平に調整する為の整準作業は必要なく、又前記一脚３を作業者が保持することで生じる微小な揺れ等による傾斜角の変動についても、リアルタイムで補正することができる。

次に、図６を参照して前記一脚３の下端を中心とする水平方の回転角の検出について説明する。

図６中、７１は前記測定方向撮像部２１の第１画像取得範囲、７２は前記下方撮像部５の第２画像取得範囲、７３は前記光軸偏向部１９による前記測距光軸３５の偏向範囲、７４は測距光を複数回照射しつつ前記光軸偏向部１９により花びらパターンでスキャンした場合の軌跡を示している。前記花びらパターン７４に示されるドットは複数回の測距光の照射点を示す。又、７５は前記第１画像取得範囲７１の画像中心（該画像中心７５は前記第１撮像光軸６１と合致する）、７６は前記第２画像取得範囲７２の画像中心（該画像中心７６は、前記第２撮像光軸８と合致する）を示している。

又、図１に於いて、θ１は前記測定方向撮像部２１の画角、θ２は前記下方撮像部５の画角、θ３は前記測量装置本体４のスキャン範囲をそれぞれ示している。

更に、図６は、前記第１撮像光軸６１と前記第２撮像光軸８間の角度が例えば６０°に設定され、前記基準光軸Ｏが前記第１撮像光軸６１に対して例えば６°下方に傾斜している、つまり、θ４は５４°となる。又前記一脚３が後方（前記測定対象２から離反する方向）に５゜傾いて保持された状態を示している。

前記第２撮像光軸８は、下方に向けられ、前記一脚３の下端を含む様に、画像取得範囲が設定されている。従って、前記下方撮像部５が取得する画像には、前記基準点Ｒを含み、更に測定者側の範囲（図示では略８０゜の範囲）の画像が含まれている。

この前記基準点Ｒを中心とした所定半径の回転検出画像７７として設定し、リアルタイムで取得する。

測定開始時の前記回転検出画像７７を取得し、該回転検出画像７７を回転基準画像７７ａとして設定する。

測定開始以降の回転角を検出する場合は、前記回転基準画像７７ａに対する前記回転検出画像７７の前記基準点Ｒを中心とした回転変化を検出し、回転変化に基づき前記回転角を演算する。前記回転角は前記姿勢検出部２０の検出結果に基づき水平角に変換される。尚、前記水平角の検出は、前記回転検出画像７７を前記姿勢検出部２０の検出結果に基づき射影変換を施して、水平画像に変換してから水平回転変化検出して水平角を求めてもよい。

次に、図１に示される様に、前記測量装置本体４により前記測定対象２を測定すると、前記測定対象２迄の斜距離が測定され、更に前記第１撮像光軸６１に対する前記基準光軸Ｏの偏角（図６では６゜）と前記基準光軸Ｏに対する前記測距光軸３５の偏角が前記射出方向検出部２２によって検出され、又前記測量装置本体４の水平に対する傾斜角が前記姿勢検出部２０によって検出され、前記測距光軸３５の水平に対する傾斜角が演算され、前記一脚３の水平回転変化が前記回転検出画像７７から検出される。

前記測距光軸３５の水平に対する傾斜角に基づき、前記斜距離が水平角に補正され、前記測距光軸３５の水平に対する傾斜角、検出された前記水平角に基づき方向角が演算される。又、前記一脚３の長さと前記第１撮像光軸６１に対する前記一脚３の倒れが既知であることから、前記一脚３の下端（即ち、前記基準点Ｒ）を基準とした前記測定対象２の３次元座標が求められる。

尚、前記水平角の演算、前記測距光軸３５の傾斜角の演算、水平距離の演算等の演算については、前記演算制御部１４が実行してもよく、或は前記演算部６５が実行してもよい。

上記説明では、前記測距光軸３５を測定点に固定した状態で、トータルステーションと同様な作用で測定したが、測量装置１をレーザスキャナとしても測定することができる。

図６に示される様に、前記光軸偏向部１９は前記偏向範囲７３の範囲で、前記測距光軸３５を自在に偏向できる。前記光学プリズム４１と前記光学プリズム４２の回転を制御することで、前記花びらパターン７４の軌跡でスキャンさせることができる。スキャン過程でパルス測距光を照射することで、前記花びらパターン７４の軌跡に沿った測距データを取得することができる。又、測距データ密度（スキャン密度）を上げる場合は、前記花びらパターン７４が１パターンスキャンされる度に前記花びらパターン７４を周方向に所定角度回転させればよい。又、スキャンと同期して第１画像、第２画像が取得される。ここで、偏向範囲７３（即ち、光軸偏向部１９の最大偏向範囲）をスキャンする場合を全域スキャンと称す。

又、全域スキャンを実行している状態で、スキャン中心を移動する場合（スキャン範囲を移動する場合）は、前記一脚３を軸心を中心に回転させるか、或は下端を中心にみそすり回転させるか、或は前記一脚３の倒れ角を変更する。スキャン中心を移動した後の基準光軸Ｏの方向角は、前記姿勢検出部２０によってリアルタイムで検出される。而して、所望の方向の、所望の範囲の測距データを容易に取得することができる。

又、前記測定方向撮像部２１で取得した第１画像と、前記下方撮像部５で取得した第２画像とを合成する場合は、両画像のオーバラップ部分を用いて行うことができる。或は、図６に示される様に、前記花びらパターン７４の一部が前記第２画像取得範囲７２に含まれる様にスキャンを実行し、前記第１画像中の軌跡に沿った測距データ、前記第２画像中の軌跡に沿った測距データを用いて直ちに前記第１画像と前記第２画像との合成が可能である。

尚、合成に用いられる軌跡に沿ったデータは、前記第１画像、前記第２画像に共通に含まれる軌跡に沿ったデータを用いてもよく、或は前記第１画像、前記第２画像の個別に含まれる軌跡に沿ったデータの座標値を用いて前記第１画像と前記第２画像とを合成してもよい。

前記第１画像と前記第２画像を合成することで、前記基準点Ｒから測定対象２迄を含む広範囲の観察画像が取得でき、測定範囲、測定位置の確認が容易になり、作業性が向上する。又、第１画像、或は合成画像と２次元スキャンで得られた軌跡に沿ったデータとを関連付けることで画素毎に３次元データを有する画像が取得できる。

前記光学プリズム４１，４２の回転を制御することで、前記測距光３３を種々のパターンでスキャンさせることができるが、前記偏向範囲７３の一部の範囲に限って前記測距光３３をスキャンさせることも可能である。ここで、前記偏向範囲７３の一部の範囲をスキャンすることを局所スキャンと称す。

局所スキャンは、例えば前記視準画像８２の範囲で実行され、前記視準画像８２の範囲で点群データが取得される。

局所スキャンを実行するパターンとしての例を図１０（Ａ）、図１０（Ｂ）に示す。その他、円、８の字パターン等がある。

図１０（Ａ）に示すスキャンパターン８５は、図４（Ｂ）で示される直線スキャンを一スキャン毎に前記光学プリズム４１，４２を一体に所定角度ステップＰ１だけ回転させることで得られる。尚、図１０（Ａ）中、Ｓ１はスキャン方向を示す。

図１０（Ｂ）に示すスキャンパターン８６は、前記光学プリズム４１，４２により前記測距光軸３５の偏角を設定した後、前記光学プリズム４１，４２を一体に所定角度回転させ、周方向に円弧スキャンさせ、１円弧スキャン毎に偏角を半径方向に所定送りステップＰ２で変更させることで得られる。尚、図１０（Ｂ）中、Ｓ２はスキャン方向を示す。

又、局所スキャンを実行する際、前記基準光軸Ｏを中心とする範囲では、前記光軸偏向部１９の構造上、効果的な局所スキャンは得られないので、局所スキャンを実行する場合は、前記基準光軸Ｏから所要角度離れた位置に設定される。

例えば、局所スキャンの中心が前記基準光軸Ｏから５゜以内とならない様に、局所スキャンがプログラミングされる。局所スキャンが前記視準画像８２の範囲で実行される場合は、該視準画像８２の初期設定位置が、該視準画像８２の中心が前記基準光軸Ｏから５゜以上離れた位置に設定される。

モノポール支持方式では、安定性に限度があり、前記一脚３は測定中変動している。この為、前記測距光軸３５も測定中常に変動している。本実施例では、この変動を利用して所定枚数、例えば８枚の画像を取得し、更に平均画像を作成する（図１１参照）。前記測距光軸３５の変動は、取得画像間の移動として現れる。

各画像中に含まれる測定点は、同一位置（同一座標）であり、画像の傾きについては前記姿勢検出部２０からの検出結果により鉛直画像（或は水平画像）に修正することができる。従って、各画像間の測定点の位置を多数比較することで、画像間の移動量を画像の画素以下（サブピクセル）で検出することができる。検出結果に基づき画像を重ね合せ平均することで高精細化を行うことができる。実際には、画素を４×４で表して重ね平均する。これにより、前記発光素子２７の総画素数の４倍の画素数と同等の精度で画像を取得することができる。

尚、前記観察画像８１から前記視準画像８２を切出す場合、前記一脚３の左右方向の倒れによって前記表示部６８には傾斜した観察画像８１′が表示されるが、前記表示部６８の表示画面上で切出す方向を常に鉛直方向とすれば、容易に鉛直の視準画像８２を得ることができる（図１１参照）。更に、得られた視準画像を重ね合せることで、平均画像８２′が取得できる。

又、得られた局所スキャン（例えば、微小円）のデータを、上記移動量に応じて移動させ、前記平均画像８２′に重ね合せ、測定スキャン軌跡を表示する。変動に応じた測定スキャン軌跡８７（図１１参照）となり、結果的に面スキャンを得ることができる。

図１２は第２の実施例を示している。図１２中、図１中で示したものと同等のものには同符号を付しその説明を省略する。

第２の実施例では、一脚３が伸縮可能であり、該一脚３は既知の所定間隔（例えば、１０ｃｍ間隔）毎に伸縮し、且つ伸縮した長さが固定できる構造を有している。

又、第２の実施例では、下方撮像部５が測量装置本体４に対して分離可能となっており、該測量装置本体４が前記一脚３の伸縮部に取付けられ、前記下方撮像部５が前記一脚３の固定部に取付けられ、前記一脚３を伸縮した場合、前記測量装置本体４の高さのみが変更される構成である。

第２の実施例では、測定対象２の高さに対応して前記測量装置本体４の高さが変更でき、測距データの補正等が容易となる。

図１３は、第３の実施例を示している。図１３中、図１中で示したものと同等のものには同符号を付しその説明を省略する。

第３の実施例では、補助脚６の回転範囲を拡大し、該補助脚６を略水平、或は水平以上に回転可能としている。更に、前記補助脚６を伸縮可能な構造としている。

第３の実施例の測定作業の１態様としては、前記補助脚６を短縮させ、該補助脚６を作業者の脇に挟み、一脚３を固定する。第３の実施例では、作業者の両手が明き、両手作業が可能となる。更に、前記補助脚６を前記一脚３の軸心を中心として回転させる場合、或は下端を中心として傾動、或はみそすり回転させる場合のハンドルとして使用でき、作業性が向上する。

尚、上記実施例では、測量装置本体として光軸偏向部１９を有し、２次元スキャン可能な測量装置本体４を用いたが、測距機能のみを有する測量装置本体を設けてもよい。この場合、走査データは取得できないが、測量装置１を整準作業等の設置作業が不要で簡単に設置でき、所望の測定点の３次元座標の測定が可能である。

更に、この場合、市販のレーザ距離計を測量装置本体４として使用することができ、測量装置１を安価に構成することができる。

１ 測量装置
２ 測定対象
３ 一脚
４ 測量装置本体
５ 下方撮像部
６ 補助脚
７ 操作パネル
８ 第２撮像光軸
１１ 測距光射出部
１２ 受光部
１３ 測距演算部
１４ 演算制御部
１５ 第１記憶部
１８ 第１通信部
１９ 光軸偏向部
２０ 姿勢検出部
２１ 測定方向撮像部
２２ 射出方向検出部
２４ 測距部
２７ 発光素子
３３ 測距光
３４ 反射測距光
３５ 測距光軸
４１，４２ 光学プリズム
６５ 演算部
６７ 第２通信部
６８ 表示部
６９ 操作部
７１ 第１画像取得範囲
７２ 第２画像取得範囲
７３ 偏向範囲
７９ ８の字パターン
８１ 観察画像
８２ 視準画像
８２′ 平均画像

Claims (4)

1. 基準点に設置される一脚と、該一脚の下端から既知の距離と該一脚の軸心に対して既知の角度で設けられ、基準光軸を有する測量装置本体と、前記一脚に設けられ、表示部を有する操作パネルとを具備し、前記測量装置本体は、測距光を照射し、反射測距光を受光して測定対象迄の距離を測定する測距部と、前記基準光軸に対して前記測距光を偏向する光軸偏向部と、前記測定対象を含み、前記基準光軸を画像中心又は略画像中心とする観察画像を取得する測定方向撮像部と、前記測量装置本体の水平に対する傾斜を検出する姿勢検出部と、演算制御部とを有し、該演算制御部は、前記観察画像の一部を視準画像として前記表示部に表示し、前記演算制御部は、前記観察画像に於ける該観察画像の中心と前記視準画像の中心との差に基づき前記光軸偏向部により測距光軸を該測距光軸が前記視準画像の中心となる様偏向し、前記演算制御部は、前記姿勢検出部の検出結果と、前記基準光軸に対する前記測距光軸の偏角に基づき前記測距光軸の方向角を演算し、該方向角と前記測距部の測距結果に基づき前記基準点を基準とした前記測定対象を測定し、
   前記演算制御部は、前記偏角が前記姿勢検出部が検出する傾斜角の所定倍率となる様前記光軸偏向部を制御する様構成した測量装置。
2. 前記演算制御部は、前記姿勢検出部の検出結果に基づき前記表示部に表示される画像を回転し、画像が鉛直になる様制御する請求項１に記載の測量装置。
3. 前記演算制御部は、前記測距光軸を中心に測距光を局所スキャンさせる様、前記光軸偏向部を制御する様構成した請求項１に記載の測量装置。
4. 基準点に設置される一脚と、該一脚の下端から既知の距離と該一脚の軸心に対して既知の角度で設けられ、基準光軸を有する測量装置本体と、前記一脚に設けられ、表示部を有する操作パネルとを具備し、前記測量装置本体は、測距光を照射し、反射測距光を受光して測定対象迄の距離を測定する測距部と、前記基準光軸に対して前記測距光を偏向する光軸偏向部と、前記測定対象を含み、前記基準光軸を画像中心又は略画像中心とする観察画像を取得する測定方向撮像部と、前記測量装置本体の水平に対する傾斜を検出する姿勢検出部と、演算制御部とを有し、該演算制御部は、前記観察画像の一部を視準画像として前記表示部に表示し、前記演算制御部は、前記観察画像に於ける該観察画像の中心と前記視準画像の中心との差に基づき前記光軸偏向部により測距光軸を該測距光軸が前記視準画像の中心となる様偏向し、前記演算制御部は、前記姿勢検出部の検出結果と、前記基準光軸に対する前記測距光軸の偏角に基づき前記測距光軸の方向角を演算し、該方向角と前記測距部の測距結果に基づき前記基準点を基準とした前記測定対象を測定し、
   前記演算制御部は、測定中の変動を複数画像間の移動から検出し、複数画像を重ね合せて平均画像を作成し、測定中の局所スキャンデータを変動検出に応じて変化させて前記平均画像に重ねる様構成した測量装置。

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