JP6975632B2 - 半導体装置及びその回転異常検出方法 - Google Patents

半導体装置及びその回転異常検出方法 Download PDF

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Description

本発明は半導体装置及びその回転異常検出方法に関し、例えばモータを制御する半導体装置及び半導体体装置におけるモータの回転異常検出方法に関する。
近年、プログラムを実行可能な演算装置(例えば、MCU(Micro Controller Unit))を用いてモータの回転を制御する駆動波形を生成すると共にモータの回転状態を演算装置で取得して、モータの回転を最適に制御することが行われている。ここで、モータは、回転する機器で有り、不具合によりこの回転に振動が加わることがある。モータの振動はその後の大きな不具合に繋がる可能性もあり、モータの異常振動を検出することは安全設計上重要なことである。そこで、モータの異常振動の検出方法の一例が特許文献1に開示されている。
特許文献1には、電動車両の異常検知装置が開示されている。この異常検知装置は、車輪を駆動するモータと、モータと一体に設けられ、モータの回転を減速して車輪に伝達する減速機とを有するモータ・減速機ユニットと、を備える。そして、この異常検知装置は、振動センサで測定された振動情報の特定の周波数領域における値が設定された閾値よりも大きくなったとき、モータ・減速機ユニットに異常が発生したことおよびその異常発生箇所を、モータであるか減速機であるかを区別して検出する異常検出手段が設けられる。
特開2015−119525号公報
しかし、特許文献1に記載の技術では、モータ・減速機ユニットに異常が発生したことを検出するために振動センサを用いる必要があるという問題があった。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
一実施の形態によれば、半導体装置は、モータの回転角を計測するレゾルバから得られるモータの回転角を示す回転角信号を取得し、回転角信号をデジタル値に変換して回転角情報を生成するレゾルバ回転角変換回路と、モータの相毎の回転角をそれぞれ前記モータの角度変化に変換して回転角時間変化情報を生成するモータ回転角変換回路と、回転角時間変化情報における回転角時間変化の揺らぎ異常検出範囲を超えていた場合に、モータに異常が発生したと判断する判断回路と、を有する。
前記一実施の形態によれば、振動センサ等の振動検出のための素子を用いることなくモータの異常振動を検出することができる。
実施の形態1にかかる半導体装置のブロック図である。 実施の形態1にかかる半導体装置のRDコンバータのブロック図である。 実施の形態1にかかる半導体装置のモータ回転角変換回路における処理を説明する図である。 実施の形態1にかかる半導体装置において検出される回転異常が発生した際の回転角時間変化情報の時間変化を説明する図である。 実施の形態2にかかる半導体装置のブロック図である。 実施の形態2にかかる半導体装置の判断回路における異常判定処理を説明するフローチャートである。 実施の形態2にかかる半導体装置に判断回路における定回転時の異常検出範囲と加速時の異常検出範囲を説明する図である。 実施の形態2にかかる半導体装置に判断回路における異常検出方法を説明する図である。 実施の形態3にかかる半導体装置のブロック図である。 実施の形態3にかかる半導体装置に判断回路における異常判定において用いるピーク発生周期を説明する図である。 実施の形態3にかかる半導体装置に判断回路における異常判定処理を説明するフローチャートである。 実施の形態4にかかる半導体装置のブロック図である。
説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、様々な処理を行う機能ブロックとして図面に記載される各要素は、ハードウェア的には、CPU、メモリ、その他の回路で構成することができ、ソフトウェア的には、メモリにロードされたプログラムなどによって実現される。したがって、これらの機能ブロックがハードウェアのみ、ソフトウェアのみ、またはそれらの組合せによっていろいろな形で実現できることは当業者には理解されるところであり、いずれかに限定されるものではない。なお、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。
また、上述したプログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体(non−transitory computer readable medium)を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体(tangible storage medium)を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体(例えばフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ)、光磁気記録媒体(例えば光磁気ディスク)、CD−ROM(Read Only Memory)CD−R、CD−R/W、半導体メモリ(例えば、マスクROM、PROM(Programmable ROM)、EPROM(Erasable PROM)、フラッシュROM、RAM(Random Access Memory))を含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体(transitory computer readable medium)によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。
実施の形態1
図1に実施の形態1にかかる半導体装置1のブロック図を示す。図1では、半導体装置1に加えて、半導体装置1が制御対象とするモータ102を示した。また、図1では、モータ102を制御するために必要になる半導体装置1の外付け部品としてパワーモジュール回路100、電流センサ101、及びレゾルバ(例えば、レゾルバセンサ回路103)を示した。
実施の形態1にかかる半導体装置1は、モータ102を駆動する駆動信号の信号波形となる駆動波形信号を出力する。この駆動波形信号は、パワーモジュール回路100で増幅されて駆動信号となり、パワーモジュール回路100が出力する駆動信号によりモータ102が回転する。電流センサ101は、モータ102を駆動する駆動信号として与えられる駆動電流の大きさを計測して、電流検出信号IDETを出力する。レゾルバセンサ回路103は、レゾルバセンサ回路103の回転角を計測して、モータの回転角を示す回転角信号SRを出力する。半導体装置1は、電流検出信号IDETと回転角信号SRに基づき駆動波形信号の波形を変化させることでモータ102の回転数を制御する。
実施の形態1では、上記のようなモータ制御を行いながら、回転角信号SRに基づくモータ102の回転異常を検出する。そこで、実施の形態1について以下で詳細に説明する。図1に示すように、実施の形態1にかかる半導体装置1は、モータ駆動制御回路10、レゾルバ回転角変換回路(例えば、RDコンバータ15)、メモリ16、モータ回転角変換回路17、判断回路18を有する。なお、RDコンバータ15はモータ駆動制御回路10におけるモータ制御にも用いられるものである。また、モータ駆動制御回路10は、演算処理回路11、タイマ12、出力インタフェース回路13、アナログデジタル変換器14を有する。
モータ駆動制御回路10は、モータ102を駆動する駆動信号の波形を示す駆動波形信号を生成する。この駆動波形信号は、演算処理回路11、タイマ12、出力インタフェース回路13により生成される。演算処理回路11は、モータ102を制御するためのプログラムを実行する。このプログラムは、メモリ16に格納されていても良いし、図示しない他のメモリに格納されていても良い。演算処理回路11は、メモリからプログラムをロードして実行する。
タイマ12は、演算処理回路11から指示に基づき駆動波形信号となるPWM(Pulse Width Modulation)信号を生成する。出力インタフェース回路13は、タイマ12で生成されたPWM信号を駆動波形信号としてパワーモジュール回路100に出力する。アナログデジタル変換器14は、アナログ信号として与えられる電流検出信号IDETの電圧レベルに応じた大きさのデジタル値を出力する。アナログデジタル変換器14が出力する信号はフィードバック信号SFBとして演算処理回路11に与えられる。
RDコンバータ15は、モータ102の回転角を示す回転角信号SR(アナログ信号)を取得し、回転角信号SRをデジタル値に変換して回転角情報を生成する。図1に示す例では、RDコンバータ15は、回転角情報として制御用回転角情報RCONTと異常検出用回転角情報RDTとを出力する。制御用回転角情報RCONTは、演算処理回路11に与えられてモータの回転制御に用いられる。異常検出用回転角情報RDTは、メモリ16に一旦格納される。なお、図1に示す例では、RDコンバータ15は、半導体装置1内に内蔵されるが、RDコンバータ15は、半導体装置1とは異なる半導体チップ上に形成されていても構わない。
モータ回転角変換回路17は、モータの相毎の回転角をそれぞれモータ102の角度変化に変換して回転角時間変化情報を生成する。実施の形態1にかかるモータ回転角変換回路1では、1つの回転角時間変化情報に少なくともモータ102の1回転分の回転角情報を含むようにモータ回転角変換回路17は回転角時間変化情報を生成する。
判断回路18は、回転角時間変化情報における回転角時間変化が異常検出範囲を超えていた場合に、モータ102に異常が発生したと判断する。判断回路18は、モータ102に異常が発生しているか否かの情報を演算処理回路11に与える。演算処理回路11は、判断回路18から与えられる情報がモータ駆動制御回路10の異常を示すものである場合、モータ102の回転数を抑制する、或いは、停止させる等の処置をとる。判断回路18における異常判断の方法の詳細は後述する。
続いて、実施の形態1にかかるRDコンバータ15について詳細に説明する。図2に実施の形態1にかかるRDコンバータ15のブロック図を示す。図2に示すように、実施の形態1にかかるRDコンバータ15は、入力バッファ21、22、アナログデジタル変換器23、第1のトラッキングループ回路24、第2のトラッキングループ回路25を有する。
入力バッファ21は、回転角信号SRのうちSIN成分が差動信号として入力され、このSIN成分の回転角信号SRおシングルエンド信号として出力する。入力バッファ22は、回転角信号SRのうちCOS成分が差動信号として入力され、このCOS成分の回転角信号SRをシングルエンド信号として出力する。
アナログデジタル変換器23は、入力バッファ21、22から出力される信号をデジタル値に変換して後段の第1のトラッキングループ回路24及び第2のトラッキングループ回路25に出力する。第1のトラッキングループ回路24は、回転角信号SRに対する追従性が低い第1のフィルタ係数(例えば、モータ制御用カットオフ周波数ゲインFCG_CONT)を用いてアナログデジタル変換器23が出力したデジタル値から制御用回転角情報RCONTを生成する。この制御用回転角情報RCONTは、モータ駆動制御回路10に出力される。第2のトラッキングループ回路25は、回転角信号SRに対する追従性が高い第2のフィルタ係数(例えば、異常検出用カットオフ周波数ゲインFCG_DT)を用いてアナログデジタル変換器23が出力したデジタル値から異常検出用回転角情報RDTを生成する。この異常検出用回転角情報RDTは、メモリ16を介してモータ回転角変換回路17に出力される。
ここで、制御用回転角情報RCONTと異常検出用回転角情報RDTとについて説明する。制御用回転角情報RCONTは、異常検出用回転角情報RDTよりもゲインの低い第1のフィルタ係数によりフィルタリングされる。そのため、図2に示すように、制御用回転角情報RCONTは、異常検出用回転角情報RDTに比べて波形の揺らぎが少ない。つまり、制御用回転角情報RCONTは、ノイズ成分が少なくモータ102の回転位置の把握により適した回転角の時間遷移を表す。一方、異常検出用回転角情報RDTは、回転角信号SRに対する追従性が高くレゾルバセンサ回路103により検出されるモータ102の回転角の変化をより反映したものになる。
このように、実施の形態1にかかる半導体装置1では、モータ駆動制御回路10に対してはノイズ成分が少なく理想状態に近い回転角の時間変化を示す制御用回転角情報RCONTを与える。これにより、実施の形態1にかかる半導体装置1では、モータの回転制御の精度を向上させる。一方、実施の形態1にかかる半導体装置1では、モータ回転角変換回路17に対して回転角の揺らぎを反映した回転角の時間変化を示す異常検出用回転角情報RDTを与える。これにより、実施の形態1にかかる半導体装置1では、モータ102の振動の検出精度を向上させることができる。
ここで、第1のトラッキングループ回路24及び第2のトラッキングループ回路25について更に詳細に説明する。図2に示すように、第1のトラッキングループ回路24は、信号合成回路31、波形処理回路32、PI制御回路33、加算器34を有する。第2のトラッキングループ回路25は、信号合成回路41、波形処理回路42、PI制御回路43、加算器44を有する。第1のトラッキングループ回路24と第2のトラッキングループ回路25は、適用されるカットオフ周波数ゲインが異なるのみであり、回路構成は同じである。そこで、第1のトラッキングループ回路24を例にトラッキングループ回路の回路構成を説明する。
信号合成回路31は、第1のトラッキングループ回路24の出力となる制御用回転角情報RCONTに含まれる回転角のSIN成分及びCOS成分と、アナログデジタル変換器23から出力される回転角信号SRのSIN成分及びCOS成分と、に乗算及び減算等の処理をして新たなSIN成分とCOS成分を生成する。波形処理回路32は、信号合成回路31で合成されたSIN成分とCOS成分に対して位相制御及び同期検波処理を施す。PI制御回路33は、波形処理回路32で処理されたSIN成分とCOS成分に対して、モータ制御用カットオフ周波数ゲインFCG_CONTに比例した重み付けをする比例(Proportional)処理と、重み付けされた各値を積分する積分(Integral)処理と、を行う。加算器34は、PI制御回路33で処理されたSIN成分とCOS成分とを加算して制御用回転角情報RCONTを生成する。また、加算器34は、加算前のSIN成分とCOS成分をフィードバック信号として信号合成回路31に出力する。
続いて、実施の形態1にかかるモータ回転角変換回路17において行われる処理について説明する。まず、レゾルバセンサ回路103は、モータが1回転するよりも短い時間で1回転分の回転角信号SRを出力する。そして、モータ回転角変換回路17は、モータの相毎の回転角をそれぞれモータの1回転分の角度変化に変換して回転角時間変化情報を生成する。より具体的には、モータ回転角変換回路17は、メモリ16に蓄積された異常検出用回転角情報RDTから、モータ102の1回転分に相当する異常検出用回転角情報RDTを読み出し、読み出した異常検出用回転角情報RDTを合成して回転角時間変化情報を生成する。をそこで、図3に実施の形態1にかかる半導体装置のモータ回転角変換回路における処理を説明する図を示す。
図3では、上側にレゾルバセンサ回路103から出力される回転角信号SRから生成される異常検出用回転角情報RDTを示し、下側にモータ回転角変換回路17で処理された後の回転角時間変化情報を示した。異常検出用回転角情報RDTは、横軸を時間、縦軸をレゾルバ回転角度として表される。図3に示す例では、3つの異常検出用回転角情報RDTによりモータ102の1回転分の回転角変化となる。そこで、モータ回転角変換回路17は、3つの異常検出用回転角情報RDTを合成してモータ102の1回転分の回転角時間変化情報を生成する。また、図3に示すように、レゾルバセンサ回路103により計測された回転角信号SRに基づき生成されるモータ102の回転角の波形(例えば、回転波形)は、理想モータ回転波形に対して揺らぎを有する。
続いて、判断回路18におけるモータ102の回転異常の有無の判断について説明する。そこで、図4に実施の形態1にかかる半導体装置において検出される回転異常が発生した際の回転角時間変化情報の時間変化を説明する図を示す。
モータ102に振動等の回転異常が生じていた場合、モータ102の回転速度が不均一になる。そのため、レゾルバセンサ回路103が出力する回転角信号SRから生成される回転角時間変化情報は、回転異常が発生していないときに比べて理想モータ回転波形に対する揺らぎが大きくなる。判断回路18では、理想モータ回転波形と回転角時間変化情報の差分値が予め設定される異常検出範囲以上となった場合にモータ102に回転異常が発生したと判断する。
ここで、理想モータ回転波形と回転角時間変化情報との差分値の算出方法の一例としては、二乗平均を算出し、この二乗平均が異常検出範囲を超えたか否かにより回転異常の有無を判断する方法が考えられる。また、理想モータ回転波形と回転角時間変化情報との差分値の算出方法の別の例としては、理想モータ回転波形に対して所定の範囲を持った異常検出範囲を設定し回転角時間変化情報の値が異常検出範囲を超える変化を示したことを検出する方法が考えられる。
上記説明より、実施の形態1にかかる半導体装置1は、レゾルバセンサ回路103から出力される回転角信号SRからモータ102の1回転分の回転角時間変化情報を生成する。そして、実施の形態1にかかる半導体装置1は、この回転角時間変化情報と理想モータ回転波形との差分値が異常検出範囲を超えたことに応じてモータ102の回転異常を検出する。これにより、実施の形態1にかかる半導体装置1は、振動センサ等を用いることなくモータ102の回転異常を検出することができる。
また、実施の形態1にかかる半導体装置1のモータ回転角変換回路17及び判断回路18の処理は、主に数値演算によるものである。そのため、モータ回転角変換回路17及び判断回路18の処理を演算処理回路11で実行されるプログラムにより行うこともできる。
また、実施の形態1にかかる半導体装置1では、モータ駆動制御回路10におけるモータ制御に用いられる制御用回転角情報RCONTよりもフィルタゲインが高い第2のフィルタ係数を適用して回転角信号SRに対する追従性が高い異常検出用回転角情報RDTを生成し、この異常検出用回転角情報RDTを用いて回転異常の検出を行う。これにより、実施の形態1にかかる半導体装置1は、モータ駆動制御回路10におけるモータ制御を適切に行いながら、高い精度で回転異常を検出することができる。
また、上記説明では、実施の形態1にかかる半導体装置1は、モータ102の1回転分の異常検出用回転角情報RDTに基づきモータ102の回転異常を判定する。このように、モータ102の1回転分以上の異常検出用回転角情報RDTに基づき異常を判定することとで、回転異常の誤検出を防止した精度の高い異常検出を行うことができる。なお、異常検出に用いる異常検出用回転角情報RDTの長さは、モータ102の1回転よりも短い長さであっても構わない。また、より長い期間の異常検出用回転角情報RDTに基づき回転異常を判定することで異常検出精度をより高めることができる。
実施の形態2
実施の形態2では、実施の形態1にかかる半導体装置1の別の形態となる半導体装置2を説明する。そこで、図5に実施の形態2にかかる半導体装置2のブロック図を示す。図5に示すように、実施の形態2にかかる半導体装置2は、実施の形態1の半導体装置1からメモリ16を除き、モータ回転角変換回路17及び判断回路18に代えてモータ回転角変換回路57及び判断回路58を有する。
モータ回転角変換回路57は、RDコンバータ15から直接異常検出用回転角情報RDTを受け取って、受け取った順に回転角時間変化情報を出力する。判断回路58は、カウンタを有し、モータ回転角変換回路57から受け取った順に回転角時間変化情報に対して異常判定範囲を超えているか否かを判断し、回転角時間変化情報が異常判定範囲を超えていた場合にはカウンタのカウント値をカウントアップする。また、判断回路58は、モータ102が加減速状態にある場合、異常検出範囲をモータの回転速度に合わせて変化させる。この判断回路58の異常判定方法を具体的に以下で説明する。
図6に実施の形態2にかかる半導体装置の判断回路における異常判定処理を説明するフローチャートを示す。なお、図6に示したフローチャートの処理は、モータ回転角変換回路57が角速度時間変化情報を判断回路58に与える毎に行われる。図6に示すように、判断回路58は、異常判定処理を開始すると、まずモータ102が定回転動作中であるか否かを判断する(ステップS1)。このステップS1の判断では、演算処理回路11からモータの制御状態を取得する。そして、ステップS1において、モータ102が定回転動作中であると判断された場合、判断回路58は、異常検知範囲を定回転用異常検出範囲に設定する(ステップS2)。また、ステップS1において、モータ102が加減速動作中であると判断された場合、判断回路58は、異常検知範囲を加減速の速度に応じた異常検知範囲に設定する(ステップS3)。
ここで、判断回路58において切り替えられる異常検知範囲について説明する。図7に実施の形態2にかかる半導体装置に判断回路における定回転時の異常検出範囲と加速時の異常検出範囲を説明する図を示す。図7に示すように、モータ102が定回転状態である場合、モータの回転角度と異常検出用回転角情報RDTの変化の理想状態は線形となるため、異常検出範囲の上限値及び下限値もモータの回転角に対して線形の変化を示すものとなる。一方、モータ102が加速状態である場合、モータの回転角度と異常検出用回転角情報RDTの変化の理想状態は加速度に応じた非線形となるため、異常検出範囲の上限値及び下限値もモータの回転角に対して非線形の変化を示すものとなる。
続いて、判断回路58では、回転角時間変化情報が示す値が異常検知範囲の範囲内であるか否かを判断する異常検知処理を行う(ステップS4)。そして、ステップS4において、回転角時間変化情報が示す値が異常検知範囲の範囲を超える異常状態が検出された場合、判断回路58はカウンタのカウント値を1つカウントアップする(ステップS5)。ここで、判断回路58における異常検出方法について、図8に示す実施の形態2にかかる半導体装置に判断回路における異常検出方法を説明する図を参照して説明する。
図8に示す例は、定回転動作中の異常検出方法を説明するものである。図8に示すように、判断回路58は、ステップS2で設定された異常検出範囲の上限値、又は、下限値を回転角時間変化情報の値が超えた場合に異常を検出し、その検出回数をカウントする。
そして、判断回路58は、カウンタをカウントアップさせた後にカウント数が予め設定される判定閾値を超えたか否かを判断する(ステップS6)。このステップS6において、カウント数が判定閾値未満であった場合、判断回路58は、一旦異常判定処理を終了して次に回転角時間変化情報が入力されるまで処理を待機する。一方、このステップS6において、カウント数が判定閾値以上であった場合、判断回路58は、モータ102に回転異常の兆候があるとして、演算処理回路11に異常の兆候があることを通知する(ステップS7)。
また、ステップS4において、回転異常が検出されなかった場合、判断回路58は、一定時間の間異常が検出されなかった否かを判断する(ステップS8)。このステップS8において、最後に異常が検出されてからの経過時間が一定期間を超えていれば、判断回路58は、カウンタのカウント値をクリアして、一旦異常判定処理を終了して次に回転角時間変化情報が入力されるまで処理を待機する(ステップS9)。一方、このステップS8において、最後に異常が検出されてからの経過時間が一定期間を超えていなければ、判断回路58は、カウンタのカウント値を維持したまま、一旦異常判定処理を終了して次に回転角時間変化情報が入力されるまで処理を待機する。
上記説明より、実施の形態2にかかる半導体装置2では、メモリ16を用いることなくモータ102の回転異常を検出することができる。これにより、実施の形態2にかかる半導体装置2は、回路面積を削減することができる。
また、実施の形態2にかかる半導体装置2では、メモリ16の容量に関係なく長い期間の異常検出用回転角情報RDTに基づき回転異常を検出できるため、回転異常の誤検出を防止してより高い精度の異常検出を、小さな回路規模で実現することが出来る。
実施の形態3
実施の形態3では、実施の形態1にかかる半導体装置1の別の形態となる半導体装置3について説明する。図9に実施の形態3にかかる半導体装置3のブロック図を示す。図9に示すように、実施の形態3にかかる半導体装置3は、実施の形態1にかかる半導体装置1の判断回路18を判断回路68に置き換えたものである。
判断回路68は、回転角時間変化情報における回転角値のピークの出現周期からモータ102の振動周波数を解析し、振動周波数が前記モータの固有振動の周波数以外であった場合に前記モータに異常が発生したと判断する。ここで、判断回路68において解析されるモータの振動周波数について、図10を参照して説明する。図10は、実施の形態3にかかる半導体装置に判断回路における異常判定において用いるピーク発生周期を説明する図である。
図10に示すように、モータ102に振動が発生した場合、角速度時間変化情報に揺らぎが生じる。そこで、判断回路68では、角速度時間変化情報に揺らぎのピーク間の周期T1〜T4を算出し、この周期T1〜T4に基づき揺らぎの周波数を解析する。
続いて、判断回路68における異常判定処理の処理フローについて説明する。そこで、図11に実施の形態3にかかる半導体装置に判断回路における異常判定処理を説明するフローチャートを示す。なお、図11に示したフローチャートの処理は、モータ回転角変換回路17が角速度時間変化情報を判断回路68に与える毎に行われる。
図11に示すように判断回路68は、モータ回転角変換回路17がメモリ16から読み出した異常検出用回転角情報RDTに基づき生成した回転角時間変化情報を受け取る(ステップS11)。そして、判断回路68は、受け取った回転角時間変化情報に対して周波数解析を行う(ステップS12)。判断回路68は、ステップS12の周波数解析の結果、角速度時間変化情報に生じている揺らぎがモータの固有振動の周波数以外の周波数であった場合、異常発生の兆候ありとして、異常を演算処理回路11に通知する(ステップS13、S14)。一方、判断回路68は、ステップS12の周波数解析の結果、角速度時間変化情報に生じている揺らぎがモータの固有振動の周波数と同じ周波数であると判定した場合、一旦異常判定処理を終了して、次の回転角時間変化情報の入力を待つ。
上記説明より、実施の形態3にかかる半導体装置3では、異常検出用回転角情報RDTから得られるモータ102の振動に関する情報のうちモータ102の固有振動については正常なものとして判定する。これにより、実施の形態3にかかる半導体装置3では、モータ102の固有振動に関する誤判定を低減することができる。
実施の形態4
実施の形態4では、実施の形態1にかかる半導体装置1の別の形態となる半導体装置4について説明する。そこで、図12に実施の形態4にかかる半導体装置4のブロック図を示す。図12に示すように、実施の形態4にかかる半導体装置4は、判断回路18を判断回路78に置き換えたものである。
判断回路78は、モータの回転及び振動の正常状態及び異常状態について予め学習された人工知能であって、回転角時間変化情報を人工知能に入力した結果に応じてモータの状態をモータ駆動制御回路10に通知する。
この人工知能の学習方法としては、入力データに対してデータ予測を行う教師無し学習(推論アルゴリズム)によるものや、特徴分類により入力データが正常な挙動から得られたデータなのか異常な挙動から得られたデータなのか等の特徴を判断する教師有り学習によるもの等が考えられる。
この判断回路78を用いることで、実施の形態4にかかる半導体装置4は、閾値、或いは、異常判定範囲によらずにモータ102の回転異常を検出することができる。また、次子の形態4にかかる半導体装置4では、推論アルゴリズムを用いることで、現在得られたデータに基づく異常発生の兆候を検出することができる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は既に述べた実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることはいうまでもない。
(付記1)
モータを駆動する駆動信号の波形を示す駆動波形信号を生成するモータ駆動制御回路と、
前記モータの回転角を計測するレゾルバから前記モータの回転角を示す回転角信号を取得し、前記回転角信号をデジタル値に変換して回転角情報を生成するレゾルバ回転角変換回路と、
前記モータの相毎の前記回転角情報をそれぞれ前記モータの角度変化に変換して回転角時間変化情報を生成するモータ回転角変換回路と、
前記回転角時間変化情報における回転角時間変化が異常検出範囲を超えていた場合に、前記モータに異常が発生したと判断する判断回路と、
を有する半導体装置。
(付記2)
前記レゾルバ回転角変換回路は、
取得した前記回転角信号に対する追従性が低い第1のフィルタ係数を用いて制御用回転角情報を生成し、前記モータ駆動制御回路に前記制御用回転角情報を出力する第1のトラッキングループ回路と、
取得した前記回転角情報に対する追従性が高い第2のフィルタ係数を用いて異常検出用回転角情報を生成し、前記モータ回転角変換回路に前記異常検出用回転角情報を出力する第2のトラッキングループ回路と、
を有する付記1に記載の半導体装置。
(付記3)
前記モータ回転角変換回路は、前記モータの相毎の回転角をそれぞれ前記モータの1回転分の角度変化に変換して回転角時間変化情報を生成する付記1に記載の半導体装置。
(付記4)
前記レゾルバ回転角変換回路と、前記モータ回転角変換回路との間に設けられるメモリを更に有し、前記レゾルバ回転角変換回路は、前記回転角情報を前記メモリに蓄積し、前記モータ回転角変換回路は、前記メモリから前記回転角情報を読み出す付記1に記載の半導体装置。
(付記5)
前記判断回路は、前記モータが加減速状態にある場合、前記異常検出範囲を前記モータの回転速度に合わせて変化させる付記1に記載の半導体装置。
(付記6)
前記判断回路は、前記回転角時間変化情報の値が前記異常検出範囲を超えた回数が、一定時時間内に所定の回数を超えた場合に前記モータに異常が発生したと判断する付記1に記載の半導体装置。
(付記7)
前記判断回路は、前記回転角時間変化情報における回転角値のピークの出現周期から前記モータの振動周波数を解析し、前記振動周波数が前記モータの固有振動の周波数以外であった場合に前記モータに異常が発生したと判断する付記1に記載の半導体装置。
(付記8)
前記判断回路は、前記モータの回転及び振動の正常状態及び異常状態について予め学習された人工知能であって、前記回転角時間変化情報を前記人工知能に入力した結果に応じて前記モータの状態を前記モータ駆動制御回路に通知する付記1に記載の半導体装置。
(付記9)
前記レゾルバ回転角変換回路は、前記モータ駆動制御回路とは異なる半導体チップ上に形成される付記1に記載の半導体装置。
1〜4 半導体装置
10 モータ駆動制御回路
11 演算処理回路
12 タイマ
13 出力インタフェース回路
14 アナログデジタル変換器
15 RDコンバータ
16 メモリ
17、57 モータ回転角変換回路
18、58、68、78 判断回路
21、22 入力バッファ
23 アナログデジタル変換器
24 第1のトラッキングループ回路
25 第2のトラッキングループ回路
31、41 信号合成回路
32、42 波形処理回路
33、43 PI制御回路
34、44 加算器
100 パワーモジュール回路
101 電流センサ
102 モータ
103 レゾルバセンサ回路
SR 回転角信号
IDET 電流検出信号
SFB フィードバック信号
RCONT 制御用回転角情報
RDT 異常検出用回転角情報

Claims (6)

  1. モータを駆動する駆動信号の波形を示す駆動波形信号を生成するモータ駆動制御回路と、
    前記モータに接続されたレゾルバからの出力信号をデジタル値に変換し、レゾルバ回転角度の時間変化を示す回転角情報を生成するレゾルバ回転角変換回路と、
    前記回転角情報を前記モータの1回転分の角度変化に変換して回転角時間変化情報を生成するモータ回転角変換回路と、
    前記回転角時間変化情報における回転角時間変化が異常検出範囲を超えていた場合に、前記モータに異常が発生したと判断する判断回路と、を有し、
    前記レゾルバ回転角変換回路は、
    取得した前記回転角情報に対する追従性が低い第1のフィルタ係数を用いて制御用回転角情報を生成し、前記モータ駆動制御回路に前記制御用回転角情報を出力する第1のトラッキングループ回路と、
    取得した前記回転角情報に対する追従性が高い第2のフィルタ係数を用いて異常検出用回転角情報を生成し、前記モータ回転角変換回路に前記異常検出用回転角情報を出力する第2のトラッキングループ回路と、を有する半導体装置。
  2. 前記レゾルバ回転角変換回路と、前記モータ回転角変換回路との間に設けられるメモリを更に有し、前記レゾルバ回転角変換回路は、前記回転角情報を前記メモリに蓄積し、前記モータ回転角変換回路は、前記メモリから前記回転角情報を読み出す請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記判断回路は、前記モータが加減速状態にある場合、前記異常検出範囲を前記モータの回転速度に合わせて変化させる請求項1に記載の半導体装置。
  4. 前記判断回路は、前記回転角時間変化情報の値が前記異常検出範囲を超えた回数が、一定時時間内に所定の回数を超えた場合に前記モータに異常が発生したと判断する請求項1に記載の半導体装置。
  5. 前記レゾルバ回転角変換回路は、前記モータ駆動制御回路と同じ半導体チップ上に形成される請求項1に記載の半導体装置。
  6. モータに接続されたレゾルバから得られる情報に対して演算装置にて演算処理を施すことで前記モータの異常回転を検出する方法であって、
    前記レゾルバからの出力信号をデジタル値に変換してレゾルバ回転角度の時間変化を示す回転角情報を生成し、
    前記回転角情報を前記モータの1回転分の角度変化に変換して回転角時間変化情報を生成するモータ回転角変換処理を行い、
    前記回転角時間変化情報における回転角時間変化が異常検出範囲を超えていた場合に、前記モータに異常が発生したと判断し、
    前記モータ回転角変換処理において、
    取得した前記回転角情報に対する追従性が低い第1のフィルタ係数を用いて制御用回転角情報を生成する第1のトラッキングループ処理と、
    取得した前記回転角情報に対する追従性が高い第2のフィルタ係数を用いて異常検出用回転角情報を生成する第2のトラッキングループ処理と、を行う回転異常検出方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7351656B2 (ja) * 2019-06-28 2023-09-27 川崎重工業株式会社 減速機の故障診断装置及び故障診断方法
JP2022115007A (ja) * 2021-01-27 2022-08-08 ミネベアミツミ株式会社 モータ制御装置、モータ制御システムおよびモータ制御方法
US11881806B2 (en) 2021-03-22 2024-01-23 Renesas Electronics Corporation Resolver converter and motor control device

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3331753B2 (ja) * 1994-07-12 2002-10-07 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 ロータ位置検出手段の異常検出装置及び異常検出方法並びにモータ制御装置
AU2006245411A1 (en) * 2005-05-11 2006-11-16 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Rotary electric device drive unit including the same
JP2007010329A (ja) 2005-06-28 2007-01-18 Honda Motor Co Ltd 回転角検出装置及びこれを用いた電動パワーステアリング装置
JP5011824B2 (ja) * 2006-05-31 2012-08-29 株式会社ジェイテクト 異常判定装置
JP2009081930A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Jtekt Corp モータ制御装置および電動パワーステアリング装置
JP2009100534A (ja) * 2007-10-16 2009-05-07 Jtekt Corp モータ制御装置及び車両用操舵装置
WO2010109964A1 (ja) * 2009-03-27 2010-09-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置
JP5131318B2 (ja) * 2009-10-29 2013-01-30 トヨタ自動車株式会社 モータ制御装置
US10038396B2 (en) * 2012-10-26 2018-07-31 Renesas Electronics Corporation Motor control device and motor drive device
JP6345386B2 (ja) * 2012-12-13 2018-06-20 ミネベアミツミ株式会社 回転角検出装置
JP2015119525A (ja) 2013-12-17 2015-06-25 Ntn株式会社 電動車両の異常検知装置
JP5822008B1 (ja) * 2014-08-08 2015-11-24 日本精工株式会社 角度検出装置、この角度検出装置を備えるモータ、トルクセンサ、電動パワーステアリング装置及び自動車
JP2016163454A (ja) * 2015-03-03 2016-09-05 トヨタ自動車株式会社 モータ制御装置

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