JP6973206B2 - 変位計測装置および変位計測方法 - Google Patents
変位計測装置および変位計測方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6973206B2 JP6973206B2 JP2018048088A JP2018048088A JP6973206B2 JP 6973206 B2 JP6973206 B2 JP 6973206B2 JP 2018048088 A JP2018048088 A JP 2018048088A JP 2018048088 A JP2018048088 A JP 2018048088A JP 6973206 B2 JP6973206 B2 JP 6973206B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terahertz wave
- terahertz
- wave
- reflected
- electromagnetic wave
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
まず、本発明の第1の実施形態による変位計測装置について説明する。図1は、第1の実施形態による変位計測装置1の構成を示すブロック図である。図1に示すように、第1の実施形態による変位計測装置1は、テラヘルツ波発信器10、テラヘルツ波検出器20、および解析制御部30を備えて構成される。なお、第1の実施形態において検査の対象となる対象物80は、金属基体としての鋼材81の上層に、非金属層である防食層としての各種の樹脂からなる樹脂層82が設けられて構成される。なお、対象物80としては、例えば塗覆装を有する鋼構造物などの、金属材料からなる基体の所定の面の上層に、非金属層が形成された種々の物体とすることができる。
上述のように構成された変位計測装置1の動作時においては、まず、テラヘルツ波発信器10からテラヘルツ波L1が発信される。具体的には、テラヘルツ波発生素子11において発生したテラヘルツ波が、半球レンズ12、コリメートレンズ13、および対物レンズ14を介して、テラヘルツ波L1として出力される。ここで、発信されるテラヘルツ波L1は、典型的には、連続的に発信されるテラヘルツ連続波であるが、断続的に発信されるテラヘルツパルス波やトーンバースト波であってもよい。
以上の原理に基づいて、樹脂層82の下層の鋼材81における減肉深さを導出する変位計測方法の具体例について説明する。図2は、第1の実施形態による変位計測装置によって対象物の正常部分を計測する場合の第1実施例の計測状態を示す図である。第1実施例においては、次のような方法によって、鋼面81aと樹脂層82の表面82aとの距離を求める。すなわち、テラヘルツ波L1を対象物80に対して所定の入射角θ0で照射させる。テラヘルツ波検出器20によって、樹脂層82の表面82aでの強度が小さい部分反射、および樹脂層82の下層の鋼面81aでの強度が大きい全反射がそれぞれ検出される。解析制御部30は、テラヘルツ波検出器20における部分反射と全反射との観測位置の相違に基づいて、幾何学的に鋼面81aと樹脂層82の表面82aとの距離を求めることができる。
図3は、第1の実施形態による変位計測装置によって鋼材の減肉部に樹脂層が充填されている部分を計測する場合の第2実施例の計測状態を示す図である。第2実施例においては、次のような方法によって、鋼材81の減肉部83の鋼面81aまでの変位を求める。すなわち、第1実施例において計測した鋼面81aと樹脂層82の表面82aとの距離は、正常部分であれば樹脂層82の厚さd0になる。第2実施例において、鋼材81が減肉しているとともに減肉部83の内部に樹脂層82が充填された状態の場合も同様に、樹脂層82の厚さを計測できる。この場合、第1実施例において計測した樹脂層82の厚さd0と、第2実施例によって計測された減肉部83の内部に樹脂層82が充填された部分の厚さとを比較することによって、減肉部83の深さd1を導出できる。
図4は、第1の実施形態による変位計測装置によって鋼材の減肉部が空洞である部分を計測する場合の第3実施例の計測状態を示す図である。第3実施例においては、次のような方法によって、減肉部83の深さd2を求める。すなわち、図4に示すように、樹脂層82の下層が空洞84になっている場合、樹脂層82の裏面82bにおいて、テラヘルツ波L1がさらに反射されてテラヘルツ波L23が得られる。この場合、反射されたテラヘルツ波L2におけるテラヘルツ波検出器20への入射強度において、少なくとも3つのピークが観察される。この入射強度のピークが3つ観測されることよって、樹脂層82の下層に空洞84が存在していると判断できる。さらに、空洞84における減肉部83の深さd2は、テラヘルツ波検出器20において検出された入射強度のピーク間の距離によって評価できる。
図5は、第1の実施形態による変位計測装置によって鋼材の上層の樹脂層に凸部が生じている部分を計測する場合の第4実施例の計測状態を示す図である。第4実施例においては、次のような方法によって、樹脂層82の表面82aにおける凸部85の高さh1を求める。すなわち、第4実施例において、鋼材81の鋼面81aが正常な状態であるとともに、樹脂層82の一部に凸部85が生じている場合、テラヘルツ波発信器10と凸部85の上面85aとの距離は、第1実施例におけるテラヘルツ波発信器10と樹脂層82の表面82aとの距離と異なる。この場合においては、第1実施例および第4実施例において観測された、反射されたテラヘルツ波L22のそれぞれの観測位置P2のずれに基づいて、凸部85の高さh1を導出できる。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。図6は、この第2の実施形態による電磁波送信器を示すブロック図である。図7は、この第2の実施形態による変位計測装置を模式的に示す図である。
上述した第2の実施形態による変位計測装置2においては、混合波検出器50が、テラヘルツ波検出素子51−1〜51−nと電磁波検出素子52−1〜52−nとを備える。これにより、混合波検出器50の構成が複雑になる可能性がある。そこで、変位計測装置2における電磁波発生素子441を、テラヘルツ波を発信可能なRTDやPCAなどのテラヘルツ波発生素子から構成し、電磁波発信部44から発信されるテラヘルツ波の周波数と、テラヘルツ波発信部41から発信されるテラヘルツ波の周波数とを異なる周波数にする。具体的には、テラヘルツ波発信部41から発信するテラヘルツ波を、樹脂層82を透過しやすい、周波数が低い長波長のテラヘルツ波とする一方、電磁波発信部44から発信するテラヘルツ波を、樹脂層82の表面82aで反射しやすい、周波数が高い短波長のテラヘルツ波とする。これにより、電磁波発信器40から発信される電磁波がともにテラヘルツ波になることから、混合波検出器50を用いずに第1の実施形態によるテラヘルツ波検出器20を用いて、対象物80を反射した2種類の波長のテラヘルツ波を検出できる。そのため、変位計測装置2の構成を簡略化することが可能になる。
10 テラヘルツ波発信器
11,411 テラヘルツ波発生素子
20 テラヘルツ波検出器
21−1,…,21−2,…,21−i,…,21−j,…,21−k,…,51−1,…,51−i,…,51−j,…,51−n テラヘルツ波検出素子
30 解析制御部
34 解析処理部
40 電磁波発信器
41 テラヘルツ波発信部
44 電磁波発信部
50 混合波検出器
52−1,…,52−i,…,52−j,…,52−n 電磁波検出素子
80 対象物
81 鋼材
81a 鋼面
82 樹脂層
82a 表面
82b 裏面
83 減肉部
84 空洞
85 凸部
85a 上面
441 電磁波発生素子
L1,L2,L21,L22,L23,L3,L31 テラヘルツ波
L4,L41 電磁波
Claims (5)
- 金属基体の上層に非金属層が設けられた対象物の所定位置に、テラヘルツ波を0°より大きい所定の入射角をなして照射可能に構成されたテラヘルツ波発信手段と、
前記対象物の所定位置に、電磁波を前記所定の入射角をなして照射可能に構成された電磁波発信手段と、
前記対象物において反射されたテラヘルツ波を検出可能に構成されたテラヘルツ波検出素子が平面状に複数設けられたテラヘルツ波検出手段と、
前記対象物において反射された電磁波を検出可能に構成された電磁波検出素子が平面状に複数設けられた電磁波検出手段と、
前記テラヘルツ波検出手段によって得られた前記反射されたテラヘルツ波の観測位置に基づいて、前記所定位置における前記金属基体の表面の変位を導出し、前記電磁波検出手段によって得られた前記反射された電磁波の観測位置に基づいて、前記所定位置における前記非金属層の表面の変位を導出する解析手段と、を備える
ことを特徴とする変位計測装置。 - 前記電磁波発信手段から発信される電磁波が、前記テラヘルツ波発信手段から発信されるテラヘルツ波の波長よりも短波長のテラヘルツ波である
ことを特徴とする請求項1に記載の変位計測装置。 - 前記金属基体が鋼材であるとともに、前記非金属層が樹脂層である
ことを特徴とする請求項1または2に記載の変位計測装置。 - 金属基体の上層に非金属層が設けられた対象物の所定位置に、テラヘルツ波を0°より大きい所定の入射角をなして照射するテラヘルツ波照射ステップと、
前記対象物の所定位置に、電磁波を前記所定の入射角をなして照射する電磁波照射ステップと、
前記対象物において反射されたテラヘルツ波を、テラヘルツ波検出素子が平面状に複数設けられたテラヘルツ波検出手段によって検出するテラヘルツ波検出ステップと、
前記対象物において反射された電磁波を、電磁波検出素子が平面状に複数設けられた電磁波検出手段によって検出する電磁波検出ステップと、
前記テラヘルツ波検出ステップにおいて得られた前記反射されたテラヘルツ波の観測位置に基づいて、前記所定位置における前記金属基体の表面の変位を導出するテラヘルツ波解析ステップと、
前記電磁波検出ステップにおいて得られた前記反射された電磁波の観測位置に基づいて、前記所定位置における前記非金属層の表面の変位を導出する電磁波解析ステップと、を含む
ことを特徴とする変位計測方法。 - 前記金属基体が鋼材であるとともに、前記非金属層が樹脂層である
ことを特徴とする請求項4に記載の変位計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018048088A JP6973206B2 (ja) | 2018-03-15 | 2018-03-15 | 変位計測装置および変位計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018048088A JP6973206B2 (ja) | 2018-03-15 | 2018-03-15 | 変位計測装置および変位計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019158744A JP2019158744A (ja) | 2019-09-19 |
JP6973206B2 true JP6973206B2 (ja) | 2021-11-24 |
Family
ID=67993382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018048088A Active JP6973206B2 (ja) | 2018-03-15 | 2018-03-15 | 変位計測装置および変位計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6973206B2 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4112112B2 (ja) * | 1999-03-29 | 2008-07-02 | アンリツ株式会社 | 変位測定装置 |
JP2008268000A (ja) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Mitsutoyo Corp | 変位測定方法および装置 |
WO2012108306A1 (ja) * | 2011-02-10 | 2012-08-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 異物検出装置及び異物検出方法 |
CN103378525A (zh) * | 2012-04-26 | 2013-10-30 | 展晶科技(深圳)有限公司 | 转换灯座结构 |
JP2013228330A (ja) * | 2012-04-26 | 2013-11-07 | Jfe Steel Corp | 膜厚測定装置および膜厚測定方法 |
DE102016101566A1 (de) * | 2016-01-28 | 2017-08-03 | INOEX GmbH Innovationen und Ausrüstungen für die Extrusionstechnik | Messverfahren und Messvorrichtung zum Ermitteln einer Materialdicke oder Schichtdicke eines Prüfobjektes |
-
2018
- 2018-03-15 JP JP2018048088A patent/JP6973206B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019158744A (ja) | 2019-09-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9297647B2 (en) | Apparatus for detecting a 3D structure of an object | |
TWI494557B (zh) | 使用表面聲波計量學之基板分析 | |
US7681453B2 (en) | System and method to calibrate multiple sensors | |
JP4633794B2 (ja) | 少なくとも一部が透明な媒体の厚さを測定するための光学装置 | |
CN105491949A (zh) | 用于非侵入性地确定d-葡萄糖浓度的测量设备和测量方法 | |
US7924431B2 (en) | Method of measuring properties of particles and corresponding apparatus | |
JP6973206B2 (ja) | 変位計測装置および変位計測方法 | |
JP6121873B2 (ja) | レーザ超音波検査装置及び方法 | |
US9182281B1 (en) | Robust terahertz spectrometer configuration against scanner heads misalignment | |
US10712266B2 (en) | Optical test apparatus, semiconductor device, and optical test method | |
JP6969461B2 (ja) | 下地処理検査装置および下地処理検査方法 | |
JP7024524B2 (ja) | 変位計測装置および変位計測方法 | |
KR101604867B1 (ko) | 분광기술을 적용한 검지장치 | |
US6646751B2 (en) | Apparatus and method for measuring trench depth | |
KR20220125160A (ko) | 반사광 변화를 탐측하는 장치, 방법 및 막 두께 측정 장치 | |
US7742171B2 (en) | Reflectivity/emissivity measurement probe insensitive to variations in probe-to-target distance | |
RU2353954C1 (ru) | Способ дистанционного определения характеристик среды открытого водоема | |
CN110476080B (zh) | 用于对扫描角进行扫描并且用于分析处理探测器的激光雷达设备和方法 | |
JP7342223B2 (ja) | 光学検査装置及び方法 | |
JP2013228328A (ja) | 表面検査装置および表面検査方法 | |
JP6973203B2 (ja) | 異常検出装置、異常検出システム、および異常検出方法 | |
US11486834B2 (en) | Substrate inspection method and method of fabricating a semiconductor device using the same | |
JP2019023593A (ja) | レーザ変位計と、それを用いたレーザ超音波検査装置 | |
KR102600032B1 (ko) | 농축산물 검사 자동화 장치 및 검사 자동화 모듈 | |
RU2629909C1 (ru) | Статическое устройство для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны вдоль её трека |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200910 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210728 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210810 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210913 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20211005 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20211018 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6973206 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |