JP6958778B2 - 有機または無機試料の体積分析のための装置 - Google Patents
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Description
さらに、特に不都合なことに、この装置の圧電アクチュエータは、測定レバーから切り離されていない。
本発明の別の目的は、既知の装置に比べて性能が改善された、試料の体積特性評価のための新しい音響分析装置を提案することである。
試料が固定された支持体と、
試料の上面と相互作用し、上面を走査するように意図された点を備えた自由端を有する原子間力顕微鏡測定レバーと、
機械的支持体上に取り付けられ、多モード干渉結合を発生する超音波を供給する少なくとも2つの独立した圧電アクチュエータと、
レバーに向かって光線を放射するレーザダイオードと、レバー上で反射した後に前記光線を受け取る光検出器とを含み、試料の体積特性に関する結果をもたらす、測定レバーに関連付けられた音響測定および分析部材と、を備え、
支持体は、全反射プリズムを備え、全反射プリズムは、試料が配置される1つの面と、試料が配置される面とは異なり、超音波の設定励起角を画定するように全反射プリズム上の特定の位置で圧電アクチュエータが適用される少なくとも1つの対向する面とを備えることを特徴とする。
本発明による別の例示的な実施形態によれば、AFMシステムでは、移動されるのは試料3であるが、試料3と、試料3を支持し、圧電アクチュエータを備えるプリズムとを備えるアセンブリは、移動可能であると考えることができる。
Claims (13)
- 有機または無機試料(3)の体積分析のための原子間力顕微鏡に基づく音響分析装置であって、
試料(3)を固定した支持体(4)と、
前記試料(3)の上面(3a)と相互作用し、前記上面(3a)を走査するための点(2)を備えた自由端を有する、原子間力顕微鏡の測定レバー(1、1a)と、
互いに独立してかつ前記測定レバー(1、1a)とは独立して機械的支持体上に取り付けられ、多モード干渉結合を発生する超音波を供給する少なくとも2つの圧電アクチュエータ(11)と、
前記測定レバー(1、1a)に向かって光線を放射するレーザダイオード(5)と、前記測定レバー(1、1a)で反射した後に前記光線を受光する光検出器(6)とを含み、前記測定レバー(1、1a)の空間位置の変化を検出する、前記測定レバー(1、1a)に関連する音響測定および分析部材と、を備え、
前記支持体(4)は全反射プリズム(21)を備え、前記全反射プリズム(21)は、前記試料(3)が配置される1つの面(22)と、前記試料(3)が配置される前記面(22)とは異なり、超音波の励起の設定角度を規定するように前記全反射プリズム(21)上の予め設定された位置で圧電アクチュエータ(11)が適用される少なくとも1つの反対側の面(23)とを備えることを特徴とする音響分析装置。 - 前記圧電アクチュエータは、対称に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記試料(3)が配置される前記面(22)が、前記全反射プリズム(21)の平坦かつ水平な面であることを特徴とする、請求項1または2に記載の装置。
- 前記試料(3)が配置される前記面(22)が前記全反射プリズム(21)の上面であることを特徴とする、請求項1〜請求項3のいずれか一項に記載の装置。
- 前記全反射プリズム(21)は、前記試料(3)が配置される平坦面(22)と、2つの対向面(13a、13b)とを備える直線プリズム(13)であり、前記圧電アクチュエータ(11)は、固定された機械的支持体(12b)上に取り付けられ、それぞれ、ゲルまたは接着剤の層(14)によって、前記直線プリズム(13)の前記2つの対向面(13a、13b)のうちの1つに対して適用され、固定されることを特徴とする、請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の装置。
- 前記全反射プリズム(21)は、前記試料(3)が配置される平坦面(22)と、前記圧電アクチュエータ(11)が適用される円筒面(C)とを備える半円筒形プリズム(15)であり、前記機械的支持体は、前記圧電アクチュエータ(11)が前記円筒面(C)上を移動し、したがって前記超音波の励起角度を変更することを可能にする可動支持体(12a)であることを特徴とする、請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の装置。
- 前記全反射プリズム(21)は、前記試料(3)が配置される平坦面(22)と、前記圧電アクチュエータ(11)が適用される球面(S)とを備える半球形プリズム(16)であり、前記機械的支持体は、前記圧電アクチュエータ(11)が前記球面(S)上を移動し、それによって前記超音波の励起角度および/または伝播方向を変更することを可能にする可動支持体(12a)であることを特徴とする、請求項1〜請求項4のいずれか一項に記載の装置。
- 光源(17)と、前記全反射プリズム(21)を通して試料(3)の下面に光ビームを導き、次いで試料(3)内で全内部反射を導くことで、光学フィルタ(18a)の前のスペクトルアナライザ(18)に向かって反射光ビームを向けるための関連光学部材とを含むことを特徴とする、請求項1〜請求項7のいずれか一項に記載の装置。
- 光源(17)と、前記全反射プリズム(21)を通して試料(3)の下面に光ビームを導き、次いで試料(3)内で全内部反射を導くことで、光学フィルタ(18a)の前のスペクトルアナライザ(18)に向かって反射光ビームを向けるための関連光学部材とを含み、前記圧電アクチュエータ(11)および固定された前記機械的支持体(12b)が、入射光ビームおよび反射光ビームの光路を規定するように前記直線プリズム(13)上に配置された、それぞれ整列された貫通開口(11cおよび12c)を有することを特徴とする、請求項5に記載の装置。
- 光ビームを試料(3)の上面(3a)に向けて熱励起を発生させるための、追加の光源(19)および関連する光学部材を備えることを特徴とする、請求項1〜請求項9のいずれか一項に記載の装置。
- 4つの前記圧電アクチュエータ(11)を備えることを特徴とする請求項1〜請求項10のいずれか一項に記載の装置。
- 前記全反射プリズム(21)の構成材料が固体の有機材料であることを特徴とする、請求項1〜請求項11のいずれか一項に記載の装置。
- 前記測定レバー(1)は、光学フィルタ(20a)に結合した光学レバー(1a)であり、その後に追加のスペクトルアナライザ(20)が続くことを特徴とする、請求項1〜請求項12のいずれか一項に記載の装置。
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