JP6948679B1 - 空気比推定システム、空気比推定方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献1には、炉内状況に基づいて、炉内が予め設定された状況となるように加熱装置への燃焼用空気の供給量を制御する装置が記載されている。
そこで、空気比を測定する目的で酸素濃度計やガスクロマトグラフィーを炉内に配置する手法が提案されているが、これらのデバイスは高価な上に耐久性がない。また、これらのデバイスによる測定は、侵入空気を考慮することができない。
請求項2に記載の発明は、前記第1の光量検出部は、光量に応じた電気信号を出力する第1の半導体センサと、前記OH自発光を選択的に透過する第1のバンドパスフィルタとで構成され、前記第2の光量検出部は、光量に応じた電気信号を出力する第2の半導体センサと、前記NH自発光を選択的に透過する第2のバンドパスフィルタとで構成される、請求項1に記載の空気比推定システムである。
請求項3に記載の発明は、前記第1の光量検出部及び第2の光量検出部は、電気的に焦点距離を調整可能なレンズを具備する、ことを特徴とする請求項1に記載の空気比推定システムである。
請求項4に記載の発明は、前記燃料ガスは、アンモニア含有ガス、水素含有ガス、炭化水素系ガス、又は、アンモニア含有ガスと炭化水素系ガスの混合ガスである、請求項1に記載の空気比推定システムである。
請求項5に記載の発明は、燃料ガスと空気が供給される炉内で燃焼する火炎から出力されるOH自発光の光量を検出する処理と、前記火炎から出力されるNH自発光の光量を検出する処理と、前記OH自発光の光量と前記NH自発光の光量とに基づいて、当該OH自発光と当該NH自発光の光量比を算出する処理と、算出された前記光量比を検量線と照合し、前記炉内における現在の空気比を推定する処理とを有し、前記検量線は、前記OH自発光と前記NH自発光の光量比と空気比との線形の関係を与える、空気比推定方法である。
請求項6に記載の発明は、コンピュータに、燃料ガスと空気が供給される炉内で燃焼する火炎から出力されるOH自発光の光量とNH自発光の光量とに基づいて、当該OH自発光と当該NH自発光の光量比を算出する機能と、前記光量比を検量線と照合し、前記炉内における現在の空気比を推定する機能とを実現させるためのプログラムであり、前記検量線は、前記OH自発光と前記NH自発光の光量比と空気比との線形の関係を与える、ことを特徴とするプログラムである。
請求項2記載の発明によれば、炉内の空気比を安価に推定できる。
請求項3記載の発明によれば、焦点距離の調整により複数点を計測できる。
請求項4記載の発明によれば、燃料ガスが異なる工業炉に使用できる。
請求項5記載の発明によれば、炉内の空気比を安価かつ高精度に推定できる。
請求項6記載の発明によれば、炉内の空気比を安価かつ高精度に推定できる。
<実施の形態>
<システムの構成>
図1は、実施の形態で想定する空気比推定システム1の構成例を示す図である。図1に示す空気比推定システム1は、空気を含む混合ガスを燃焼する工業炉が設置されている敷地内に構築される。本実施の形態における混合ガスは、燃料ガスに空気を予混合したガスである。本実施の形態では、燃料ガスとしてアンモニア含有ガスを使用する。
都市ガスは、例えばメタンを主成分とする天然ガスである。LPGは、例えばプロパンやブタンを主成分とする液化石油ガスである。
因みに、OH自発光とNH自発光は、紫外線帯域の波長を有する光である。OH自発光は306.5nmを中心波長とするラジカル自発光であり、NH自発光は336nmを中心波長とするラジカル自発光である。OH自発光は、第1の波長帯の光の一例であり、NH自発光は、第2の波長帯の光の一例である。
炉壁から輻射される可視光は、おおよそ400nm〜600nmの波長を有している。炉壁から輻射される可視光の発光強度は、400nm付近から徐々に増加し、500nm付近ではOH自発光の何十倍もの強度になる。
OH自発光とNH自発光の発光強度は、炉室10内に実在する空気と燃料ガスの比率を反映するので、炉室10の開口や隙間等から侵入する空気の影響も反映する。このため、OH自発光とNH自発光の発光強度比には、炉室10の現実の空気比の情報が反映されている。
本実施の形態で使用する光学センサ20は、OH自発光の測定に用いる第1のセンサ21と、NH自発光の測定に用いる第2のセンサ22と、発光強度比を算出する演算回路23とで構成されている。なお、図1においては、作図上の都合により、光学センサ20の内部構造を拡大して表している。
図1の場合、第1のセンサ21は、耐熱性を有する光学素子21Aと、OH自発光に対応する波長の光を選択的に透過させるバンドパスフィルタ21Bと、バンドパスフィルタ21Bを透過した光の強度に応じた電気信号を出力する半導体センサ21Cで構成される。
光学素子21Aには、例えば液晶レンズを使用する。もっとも、電気的に焦点距離を調整可能なレンズであれば、液晶レンズに限らない。ここで、電気的に焦点距離を調整可能なレンズを使用するのは、光学素子21Aに印加する電圧の調整により焦点距離を変更することで、複数点の計測が可能になるためである。第2のセンサ22を構成する光学素子22Aについても同様である。
本実施の形態の場合、半導体センサ21Cには、例えば浜松フォトニクスのS12698シリーズを使用する。半導体センサ21Cは、第1の半導体センサの一例である。
本実施の形態の場合、バンドパスフィルタ22Bは、336nmを中心波長とし、中心波長に対して±10nmの帯域幅を有している。ここでの326nm〜346nmで規定される波長帯は、第2の波長帯の一例である。なお、バンドパスフィルタ22Bは、第2のバンドパスフィルタの一例である。
半導体センサ22Cにも、例えば浜松フォトニクスのS12698シリーズを使用する。半導体センサ22Cは、第2の半導体センサの一例である。
演算回路23は、算出した発光強度比を空気比推定装置40に出力する。もっとも、演算回路23による発光強度比(すなわち光量比)の算出は、空気比推定装置40において実行してもよい。演算回路23は、光量比を算出する算出部の一例である。
図1の場合、検量線DB30は空気比推定装置40に外付けされているが、空気比推定装置40のハードディスク装置43(図3参照)に記憶されていてもよい。
図2は、検量線DB30に記憶される検量線の一例を説明する図である。図2の場合、縦軸は発光強度比であり、横軸は空気比αである。
本実施の形態の場合、縦軸の発光強度比は、NH自発光の最大強度値に対するOH自発光の最大強度値の比で与えられる。
検量線DB30には、このように描かれた検量線に従って、発光強度比に対応する空気比αの値が記憶されている。もっとも、検量線DB30には、発光強度比の値から空気比αを計算するための計算式が記憶されてもよい。
図3は、空気比推定装置40のハードウェア構成の一例を説明する図である。空気比推定装置40は、例えばコンピュータにより構成される。図3に示す空気比推定装置40は、プログラムを実行するCPU41と、半導体メモリ42と、ハードディスク装置43と、通信モジュール44とで構成されている。なお、空気比推定装置40には、推定された空気比αや空気比の変化をグラフとして表示するモニターや作業者の指示の入力に使用されるキーボードやマウスが接続されていてもよい。
ハードディスク装置43は、例えば基本ソフトウェアやアプリケーションプログラムを記憶する不揮発性の記憶装置である。図3では、ハードディスク装置43を用いるが、半導体メモリを用いてもよい。ハードディスク装置43は、補助記憶装置の一例である。
強度比取得部41Aは、火炎11中のOH自発光とNH自発光の発光強度比を光学センサ20から取得するモジュールである。
照合部41Bは、取得した発光強度比を検量線DB30の検量線と照合するモジュールである。
空気比推定部41Cは、リアルタイムに取得される発光強度比に対応する空気比をそのまま各時刻の空気比として出力する。もっとも、空気比推定部41Cは、予め定めた時間毎にその時刻の空気比を出力してもよいし、予め定めた時間内に得られた複数の空気比の時間平均値を出力してもよい。
なお、炉室10に複数の光学センサ20が設けられている場合、空気比推定部41Cは、各時刻に同時に取得される複数の発光強度比の平均値を用いて、空気比を推定してもよい。
また、外部の装置がコンピュータの場合、空気比の推定値と設定値との差を計算してモニターに表示してもよい。また、空気比の推定値と設定値との差が予め定めた閾値を超える場合、外部の装置がアラームを出力してもよい。
なお、空気比の調整は、炉内温度の制御と組み合わせて実行してもよい。
図5は、実施の形態で想定する空気比推定システム1(図1参照)で実行される処理動作の一例を説明する図である。図5に示す処理動作は、空気比推定方法の一例である。なお、図中に示す記号のSはステップを意味する。
本実施の形態における空気比推定システム1は、炉室10(図1参照)内に設けた第1のセンサ21及び第2のセンサ22によりOH自発光の発光強度値とNH自発光の発光強度値をリアルタイムで測定する(ステップ1)。
続いて、空気比推定システム1は、算出された発光強度比を検量線と照合する(ステップ3)。この照合は、本実施の形態の場合、空気比推定装置40(図1参照)の照合部41B(図4参照)が実行する。
その後、空気比推定システム1は、炉室10内の空気比を推定して出力する(ステップ4)。この推定は、本実施の形態の場合、空気比推定装置40の空気比推定部41C(図4参照)が実行する。
本実施の形態の場合、可視光との分別が可能な紫外線帯域のOH自発光とNH自発光の発光強度値を検出の対象とするので、測定ノイズとなる炉壁の赤熱光の影響を受けずに、炉室10内における燃焼の状況を測定することが可能になる。
しかも、OH自発光とNH自発光の発光強度値は、炉室10内における実際の空気比の状況を反映する。
なお、炉室10の空気比を高精度かつリアルタイムに推定できるので、空気不足による未燃損失や空気過剰による廃棄損の抑制が可能になり、炉室10を安全かつ高効率に運転することが可能になる。
(1)以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明の技術的範囲は、前述の実施の形態に記載の範囲に限定されない。前述した実施の形態に、種々の変更又は改良を加えたものも、本発明の技術的範囲に含まれることは、特許請求の範囲の記載から明らかである。
なお、空気比の推定に使用する発光強度比は、OH自発光と、NH自発光と、NH2自発光と、H自発光のうちの任意の2つの組み合わせで与えられてもよい。
いずれの組み合わせを使用する場合にも、炉室10内の空気比は、各組み合わせについて用意した検量線を用いて推定すればよい。
Claims (6)
- 燃料ガスと空気が供給される炉内に設置され、燃料ガスと空気とが燃焼する火炎から出力されるOH自発光の光量を検出する第1の光量検出部と、
前記炉内に設置され、前記火炎から出力されるNH自発光の光量を検出する第2の光量検出部と、
前記第1の光量検出部で検出された光量と前記第2の光量検出部で検出された光量とに基づいて、前記OH自発光と前記NH自発光の光量比を算出する算出部と、
算出された前記光量比を検量線と照合し、前記炉内における現在の空気比を推定する空気比推定部と
を有し、
前記検量線は、前記OH自発光と前記NH自発光の光量比と空気比との線形の関係を与える、空気比推定システム。 - 前記第1の光量検出部は、光量に応じた電気信号を出力する第1の半導体センサと、前記OH自発光を選択的に透過する第1のバンドパスフィルタとで構成され、
前記第2の光量検出部は、光量に応じた電気信号を出力する第2の半導体センサと、前記NH自発光を選択的に透過する第2のバンドパスフィルタとで構成される、
請求項1に記載の空気比推定システム。 - 前記第1の光量検出部及び第2の光量検出部は、電気的に焦点距離を調整可能なレンズを具備する、
ことを特徴とする請求項1に記載の空気比推定システム。 - 前記燃料ガスは、アンモニア含有ガス、水素含有ガス、炭化水素系ガス、又は、アンモニア含有ガスと炭化水素系ガスの混合ガスである、
請求項1に記載の空気比推定システム。 - 燃料ガスと空気が供給される炉内で燃焼する火炎から出力されるOH自発光の光量を検出する処理と、
前記火炎から出力されるNH自発光の光量を検出する処理と、
前記OH自発光の光量と前記NH自発光の光量とに基づいて、当該OH自発光と当該NH自発光の光量比を算出する処理と、
算出された前記光量比を検量線と照合し、前記炉内における現在の空気比を推定する処理と
を有し、
前記検量線は、前記OH自発光と前記NH自発光の光量比と空気比との線形の関係を与える、空気比推定方法。 - コンピュータに、
燃料ガスと空気が供給される炉内で燃焼する火炎から出力されるOH自発光の光量とNH自発光の光量とに基づいて、当該OH自発光と当該NH自発光の光量比を算出する機能と、
前記光量比を検量線と照合し、前記炉内における現在の空気比を推定する機能と
を実現させるためのプログラムであり、
前記検量線は、前記OH自発光と前記NH自発光の光量比と空気比との線形の関係を与える、ことを特徴とするプログラム。
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