JP6946655B2 - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
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Description
また、固体電解質層の形成に関して、乾燥オーブンを用いた熱処理を行うことも記載されている。
しかしながら、従来の方法では、設計通りの静電容量が得られないことがあった。
要因(1)は、多孔質層内に存在する空気が多孔質層内への導電性ポリマーの充填を阻害する可能性。
要因(2)は、充填しようとする導電性ポリマーの物性や量が多孔質層を構成する細孔の形状や容積と合わないためにうまく充填されない可能性。
要因(3)は、導電性ポリマーの乾燥に伴い導電性ポリマーが多孔質層の表面で固化してしまい、多孔質層を構成する細孔を塞いでしまう可能性。である。
すなわち、本発明の固体電解コンデンサは、多孔質層を表面に有し、上記多孔質層の壁面に形成された誘電体膜を備える弁作用金属基体と、上記誘電体膜上に設けられた固体電解質層とを備える固体電解コンデンサであって、上記固体電解質層は、上記多孔質層内に入り込んでいる内層と、上記内層の上に形成され、その少なくとも一部が上記多孔質層内に入り込んでいる外層とを有することを特徴とする。
しかしながら、本発明は、以下の構成に限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲において適宜変更して適用することができる。なお、以下において記載する本発明の個々の形態の望ましい構成を2つ以上組み合わせたものもまた本発明である。
はじめに、多孔質層を表面に有し、多孔質層の壁面に形成された誘電体膜を備える弁作用金属基体を準備する。
弁作用金属としては、例えば、アルミニウム、タンタル、ニオブ、チタン、ジルコニウム等の金属単体、又は、これらの金属を含む合金等が挙げられる。これらの中では、アルミニウム又はアルミニウム合金が好ましい。
誘電体膜の厚さは多孔質層の細孔を埋めるような厚さではないので、弁作用金属基体の表面の形状は多孔質層の細孔の形状が反映された形状となっている。
弁作用金属基体のエッチングピット径は、0.01μm以上、1.0μm以下であることが好ましい。
導電性ポリマー配合液は、上記導電性ポリマーを含んでおり、その粘度が5mPa・s以上、25mPa・s以下のものを使用する。ここでいう導電性ポリマーの粘度は、20℃で二重円筒法で測定した粘度である。
内部の雰囲気を減圧にすることが可能な減圧容器内に上記導電性ポリマー配合液を準備しておき、さらに、上記減圧容器内に弁作用金属基体を配置する。そして、減圧容器の中の圧力を下げて減圧雰囲気とする。この時点では弁作用金属基体は導電性ポリマー配合液内には浸漬させない。すると、弁作用金属基体の多孔質層内の空気も吸引されて、多孔質層内に空気がほぼ存在しない状態になる。
このように弁作用金属基体の多孔質層内の空気を除いた状態で導電性ポリマー配合液内に弁作用金属基体を浸漬する。すると、多孔質層内に存在する空気が多孔質層内への導電性ポリマーの充填を阻害することがないので、多孔質層内に導電性ポリマーを充分に充填することができる。
乾燥の方法は特に限定されるものではなく、熱風オーブン、赤外線オーブン等の乾燥装置を使用することができる。
導電性ポリマー配合液を2回以上含浸させる場合、1回目の含浸の後に弁作用金属基体を乾燥させて固体電解質層を形成した後に、2回目の導電性ポリマー配合液の含浸を行い、乾燥することによりさらに固体電解質層を形成してもよい。
上記工程で得られる固体電解コンデンサでは、1回目の含浸及び乾燥で形成される固体電解質層は内層、2回目の含浸及び乾燥で形成される固体電解質層は外層と呼ばれる。
まず、図1(a)に示すような減圧容器100を準備する。減圧容器100には、減圧を行うための真空ポンプ110が管111を介して接続されている。また、減圧容器100には、導電性ポリマー配合液122が満たされた導電性ポリマー配合液容器120が管121を介して接続されている。
管111及び管121にはそれぞれ弁131及び弁132が取り付けられている。
このような減圧容器100内に弁作用金属基体10を配置する。
図1(b)中の矢印は空気が吸引されて除かれることを模式的に示している。
このようにして多孔質層内に含浸された導電性ポリマー配合液を乾燥すると、多孔質層11内に充填された固体電解質層15を形成することができる。
内層が多孔質層のうちの一部を充填するものである場合、内層の上に外層が形成され、外層の少なくとも一部が多孔質層内に入り込んでいる構成とすることが好ましい。
外層の少なくとも一部が多孔質層内に入り込んでいる構成となっている固体電解コンデンサは、本発明の固体電解コンデンサとなる。
内層を形成させるための含浸の後の乾燥により導電性ポリマーが固化するとその体積が減少するため、多孔質層の表面に細孔の一部が露出する。その状態で外層を形成すると、外層の一部が多孔質層に入り込む。細孔の一部が露出した部分の深さが5μm以上、10μm以下であれば、この方法で形成された外層のうち、多孔質層内に入り込んでいる部分の厚さが5μm以上、10μm以下となる。
弁作用金属基体及び導電性ポリマー配合液は、第1の態様と同様のものを準備する。
第2の態様では、粘度が5mPa・s以上、25mPa・s以下の粘度を有する導電性ポリマー配合液の粒子を多孔質層内に吹き付ける。
導電性ポリマーの吹き付けは、インクジェットにより行うことが好ましい。
インクジェットにおける導電性ポリマー配合液の液滴の粒径を小さくすることによって、多孔質層の細孔の中に導電性ポリマー配合液をより充填しやすくなる。
吹き付け量が0.03μL未満であると固体電解質層の絶体量が不足し、設計通りの静電容量が得られない。また、吹き付け量が0.30μLを超えると、吹き付けられた多量の導電性ポリマーが細孔の表面で固まってしまい細孔が目詰まりを起こす。
また、弁作用金属基体の面積6.48mm2あたり、0.03μL以上、0.15μL以下の吹き付け量であることがより好ましい。
なお、導電性ポリマーを複数回に分けて吹き付ける場合には、吹き付け量は複数回の吹き付けの合計量で定める。
また、最初に多孔質層内に吹き付ける導電性ポリマー配合液の液滴の粒径が、2回目以降の吹き付けに使用する導電性ポリマー配合液の液滴の粒径よりも小さいことが好ましい。
乾燥の方法は特に限定されるものではなく、熱風オーブン、赤外線オーブン等の乾燥装置を使用することができる。
図2(a)に示すように、インクジェット吹き付け装置200から、導電性ポリマー配合液222を適切な粒径で多孔質層11内に吹き付ける。インクジェット吹き付け装置200のヘッドは所定位置で停止して所定量吹き付けたのちに移動して順次吹き付けるようにしてもよいし、吹き付け領域内で往復させるようにしてもよい。
このようにして多孔質層内に吹き付けた導電性ポリマー配合液を乾燥すると、多孔質層11内に充填された固体電解質層15を形成することができる。
弁作用金属基体及び導電性ポリマー配合液は、第1の態様と同様のものを準備する。
第3の態様では、導電性ポリマー配合液中に弁作用金属基体を浸漬して、導電性ポリマー配合液を多孔質層内に含浸する。多孔質層内への導電性ポリマー配合液の含浸方法は特に限定されるものではない。
このようにすると、導電性ポリマーが多孔質層の表面で固化されることが防止される。そして、多孔質層を構成する細孔が塞がれないので多孔質層内に導電性ポリマーが充分に充填される。
乾燥装置としては赤外線オーブンを使用することができる。
なお、乾燥時の最高到達温度は弁作用金属基体の表面温度で計測される温度である。
図3(a)の点線矢印は赤外線の照射を、図3(b)の実線矢印は熱風の流れをそれぞれ模式的に示している。
図3(a)と図3(b)では、弁作用金属基体10の色(ハッチング)を分けて示している。乾燥時における弁作用金属基体の温度が高い部分を色が濃い部分として示しており、赤外線による乾燥であると弁作用金属基体の温度が高くなりやすいことを示している。
さらに、図3(a)と図3(b)では、乾燥により形成される固体電解質層15についても色(ハッチング)を分けて示している。温度が高く導電性ポリマーの固化が進んでいる場所を色が濃い部分として示しており、図3(b)では多孔質層11の表面に触れている部分の固体電解質層15の温度が高く、導電性ポリマーの固化が進んでいることを示している。
図3(b)のように多孔質層11の表面で導電性ポリマーの固化が進むと多孔質層を構成する細孔が塞がれてしまい、細孔の奥まで導電性ポリマーが充分に充填されない。
一方、図3(a)のように弁作用金属基体10の温度が高くなる場合には、弁作用金属基体10の表面(厳密には誘電体膜14の表面であるが同義としてよい)に触れている部分から導電性ポリマーの固化が進むので、多孔質層の表面が塞がれることがなく、多孔質層内に導電性ポリマーが充分に充填される。
この場合、最初の含浸に使用する導電性ポリマー配合液はその粘度が低いものが好ましく、2回目以降の含浸に使用する導電性ポリマー配合液はその粘度が最初に含浸する導電性ポリマー配合液よりも高いものとすることが好ましい。
続いて、本発明の固体電解コンデンサについて説明する。
本発明の固体電解コンデンサは、多孔質層を表面に有し、上記多孔質層の壁面に形成された誘電体膜を備える弁作用金属基体と、上記誘電体膜上に設けられた固体電解質層とを備える固体電解コンデンサであって、上記固体電解質層は、上記多孔質層内に入り込んでいる内層と、上記内層の上に形成され、その少なくとも一部が上記多孔質層内に入り込んでいる外層とを有することを特徴とする。
図4(a)に示す固体電解コンデンサ1は、弁作用金属基体10と、誘電体膜14と、誘電体膜上に設けられた固体電解質層15と、導電体層16とを備えている。
図4(a)では弁作用金属基体の表面に設けられた多孔質層は省略して示しており、図4(b)に多孔質層11を模式的に示している。
誘電体膜14は、図4(b)に示すように多孔質層11の壁面に沿って形成されている。
弁作用金属基体と固体電解質層の密着性が向上することにより、固体電解コンデンサのESR(等価直列抵抗)を低くすることができ、固体電解コンデンサの信頼性を向上させることもできる。
とくに、内層が粘度が低い導電性ポリマー配合液から形成された層であって、外層が粘度が高い導電性ポリマー配合液から形成された層であることが好ましい。
固体電解コンデンサを複数個積層する場合、固体電解コンデンサの陽極部を互いに対向させて積層する。陽極部を互いに接合するとともに、陽極部に陽極端子を接合する。接合方法としては、例えば、溶接や圧着等が挙げられる。また、絶縁層、導電体層に対応する部分同士もそれぞれ接するように積層し、導電体層に陰極端子を接合する。これにより、陰極部は互いに電気的に接続されることになる。
まず、弁作用金属基体として、表面にエッチング層を有するアルミニウム化成箔を準備した。アルミニウム化成箔を覆うように、酸化皮膜からなる誘電体膜を形成した。具体的には、アルミニウム化成箔の表面をアジピン酸アンモニウム水溶液に浸漬して電圧を印加することで、アルミニウム化成箔のエッチング層の表面に誘電体膜を形成した。
導電性ポリマー配合液としては、市販のPEDOT:PSSの分散液を使用した。
続いて、導電性ポリマー配合液を含浸させたアルミニウム化成箔を乾燥し、固体電解質層の内層を形成した。
さらに、カーボンペーストを塗布及び乾燥させた後に、銀ペーストを塗布及び乾燥させることにより、カーボン層及び銀層を形成した。このようにして得られた固体電解コンデンサの弁作用金属基体の露出部分を外部接続端子(陽極端子)と抵抗溶接で接合し、銀層と別の外部接続端子(陰極端子)とを導電性接着剤で接合した。
また、導電性ポリマー配合液(粘度は10mPa・s)の含浸時に減圧を行わずに常圧下での含浸を行った例を試験例1−6として示した。
表1において試験例番号の脇に*印が付されている試験例は、本発明の固体電解コンデンサの製造方法の第1の形態に該当しない例である。
試験例1と同様に絶縁層までを形成したアルミニウム化成箔を準備した。
このアルミニウム箔に、インクジェット塗布装置を用いて導電性ポリマー配合液として粘度が10mPa・sである市販のPEDOT:PSSの分散液を吹き付けた。
続いて、導電性ポリマー配合液を吹き付けたアルミニウム化成箔を乾燥し、固体電解質層の内層を形成した。
さらに、カーボンペーストを塗布及び乾燥させた後に、銀ペーストを塗布及び乾燥させることにより、カーボン層及び銀層を形成した。このようにして得られた固体電解コンデンサの弁作用金属基体の露出部分を外部接続端子(陽極端子)と抵抗溶接で接合し、銀層と別の外部接続端子(陰極端子)とを導電性接着剤で接合した。
表2において試験例番号の脇に*印が付されている試験例は、本発明の固体電解コンデンサの製造方法の第2の形態に該当しない例である。
試験例1と同様に絶縁層までを形成したアルミニウム化成箔を準備した。
このアルミニウム化成箔を、導電性ポリマー配合液としての粘度が10mPa・sである市販のPEDOT:PSSの分散液に含浸して引き上げた。
その後、導電性ポリマー配合液を含浸させたアルミニウム化成箔を赤外線オーブンを使用して最高温度100℃以上、120℃以下、最高温度での保持時間5秒以上、10秒以下で乾燥し、固体電解質層の内層を形成した。
さらに、カーボンペーストを塗布及び乾燥させた後に、銀ペーストを塗布及び乾燥させることにより、カーボン層及び銀層を形成した。このようにして得られた固体電解コンデンサの弁作用金属基体の露出部分を外部接続端子(陽極端子)と抵抗溶接で接合し、銀層と別の外部接続端子(陰極端子)とを導電性接着剤で接合した。
表3において試験例番号の脇に*印が付されている試験例は、本発明の固体電解コンデンサの製造方法の第3の形態に該当しない例である。
試験例1−6で製造した固体電解コンデンサを従来品の試験例4−1、試験例1−3で製造した固体電解コンデンサを本発明の固体電解コンデンサの試験例4−2とした。
それぞれの固体電解コンデンサについて、LCRメーターを用いて、100kHzにおける等価直列抵抗(ESR)を測定し、この値を初期ESRとした。さらに、これらの固体電解コンデンサ素子に対する信頼性試験として125℃/500時間の高温放置試験を行い、試験後に100kHzにおけるESRを測定して試験後ESRとした。結果を表4に示した。
表4において試験例番号の脇に*印が付されている試験例は、本発明の固体電解コンデンサに該当しない例である。
誘電体膜を形成したアルミニウム化成箔の細孔深さ(平均値)が40μmである弁作用金属基体を準備し、試験例1と同様の絶縁層を形成した。
試験例2において、導電性ポリマー配合液の吹き付け量を調整することによって、導電性ポリマー配合液を多孔質層内に充填する深さを調整していくつかの試験例を実施した。
導電性ポリマー配合液を吹き付けたアルミニウム化成箔を乾燥して固体電解質層の内層を形成した後に断面を電子顕微鏡で観察し、細孔の露出した部分の深さを測定した。
さらに、カーボンペーストを塗布及び乾燥させた後に、銀ペーストを塗布及び乾燥させることにより、カーボン層及び銀層を形成した。このようにして得られた固体電解コンデンサの弁作用金属基体の露出部分を外部接続端子(陽極端子)と抵抗溶接で接合し、銀層と別の外部接続端子(陰極端子)とを導電性接着剤で接合した。
なお、内層を形成したのちに細孔の露出した部分の深さを測定しており、この深さの分だけ外層が多孔質層に入り込んでいるとみなせるので、この深さを「多孔質層内に入り込む外層の厚み」として表5に示した。
表5において試験例番号の脇に*印が付されている試験例は、本発明の固体電解コンデンサにおける、多孔質層内に入り込む好ましい外層の厚みに該当しない例である。
また、表4から、本発明の固体電解コンデンサは信頼性試験後のESR変化率が低いことがわかる。また、表5から、多孔質層内に入り込む外層の厚みを制御することによって、ESR変化率をさらに低くできることがわかる。
10 弁作用金属基体
11 多孔質層
14 誘電体膜
15 固体電解質層
15a 固体電解質層の内層
15b 固体電解質層の外層
16 導電体層
20 絶縁層
21 陽極部
22 陰極部
100 減圧容器
110 真空ポンプ
111、121 管
120 導電性ポリマー配合液容器
122 導電性ポリマー配合液
131、132 弁
Claims (1)
- 多孔質層を表面に有し、前記多孔質層の壁面に形成された誘電体膜を備える弁作用金属基体を準備する工程と、
粘度が5mPa・s以上、25mPa・s以下の粘度を有する導電性ポリマー配合液の粒子を、弁作用金属基体の面積6.48mm2あたり、0.03μL以上、0.30μL以下の吹き付け量で前記多孔質層内に吹き付ける工程と、
前記導電性ポリマー配合液を吹き付けた弁作用金属基体を乾燥する工程と、を備えることを特徴とする固体電解コンデンサの製造方法。
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