JP6937078B2 - マルチチャネル制御装置 - Google Patents
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Description
所望の出力(104)の特性は検出器(110)を使用して測定される。
Sk+DkとSk−Dk ここで、k=1からNであり、Skは現在のセットポイントであり、Dkはディザ振幅である。
ΔVDk ここで、k=1からNである。
PΔVDk ここでk=1からNである。
I(ΣΔVD)k ここで、k=1からNであり、和は特定の入力kについての合計の事前調整されたディザ振幅である。
PΔVDk+I(ΣΔVD)k
Sk+PΔVDk+I(ΣΔVD)k ここで、k=1からNであり、Skは現在のセットポイントである。
ΔVDk ここで、k=1からNである。
M(ΣΔVD)k ここで、k=1からNであり、その和は合計の事前調整されたディザ振幅である。
Claims (17)
- 出力制御の方法であって、当該方法が、
複数のセットポイントに属するセットポイント、および複数のディザ振幅に属するディザ振幅を使用して複数の入力の各々の調整可能な特性を変更する工程であって、各入力が、複数のセットポイントに属する異なるセットポイント、および複数のディザ振幅に属する異なるディザ振幅を使用して変更され、変更する工程が、複数の変更される入力を結果的にもたらす、変更する工程;
セットポイントに加算されたディザ振幅に関連する出力特性の第一の測定値を得る工程であって、出力が、複数の変更された入力を使用する組み合わせから結果として生じる、第一の測定値を得る工程;
セットポイントから減算されたディザ振幅に関連する特性の第二の測定値を得る工程;
現在の調整値を計算するために第一および第二の測定値を使用する工程;
複数の現在調整されたディザ振幅を作成するために、現在の調整値を使用して複数のディザ振幅における各ディザ振幅を変更する工程;
制御装置において、複数のセットポイント調整値を作成するために、複数の現在調整されたディザ振幅に属する現在調整されたディザ振幅の各々を、複数の積分された事前調整されたディザ振幅に属する、対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせる工程;
複数のセットポイント調整値に属する各セットポイント調整値を、複数のセットポイントに属する対応するセットポイントと組み合わせることにより、複数のセットポイントを更新する工程;および、
複数の現在調整されたディザ振幅に属する現在調整されたディザ振幅の各々を、複数の積分された事前調整されたディザ振幅に属する、対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせることにより、複数の積分された事前調整されたディザ振幅を更新する工程、
を含むことを特徴とする、方法。 - 現在の調整値を計算するために第一の測定値および第二の測定値を使用する工程が、第一の測定値と第二の測定値の差、ならびに第一の測定値および第二の測定値の合計を使用することを含む、請求項1に記載の方法。
- 各ディザ振幅を変更する工程が、各ディザ振幅に現在の調整値を掛けることを含む、請求項1に記載の方法。
- 現在調整されたディザ振幅の各々を組み合わせる工程が、現在調整されたディザ振幅の各々に第一の値を掛ける、および各積分された事前調整されたディザ振幅に第二の値を掛けることを含む、請求項1に記載の方法。
- 装置であって、当該装置が、
複数の入力を受信し、複数の変更された入力を生成する複数の入力変更子;
複数の変更された入力を使用して出力を生成するコンバイナー;
出力特性を測定する出力検出器;
複数の入力変更子および出力検出器と通信する制御装置のプロセッサシステム;および、
コンピュータプログラムの命令を保存するメモリであって、制御装置のプロセッサシステム上で実行された時に、コンピュータプログラムの命令が、プロセッサシステムに動作を実行させ、当該動作が、
複数のセットポイントに属するセットポイント、および複数のディザ振幅に属するディザ振幅を使用して複数の入力の各々の調整可能な特性を変更する工程であって、各入力が、複数のセットポイントに属する異なるセットポイント、および複数のディザ振幅に属する異なるディザ振幅を使用して変更される工程;
セットポイントに加算されたディザ振幅に関連する出力特性の第一の測定値を得る工程;
セットポイントから減算されたディザ振幅に関連する出力特性の第二の測定値を得る工程;
現在の調整値を計算するために第一および第二の測定値を使用する工程;
複数の現在調整されたディザ振幅を作成するために、現在の調整値を使用して複数のディザ振幅における各ディザ振幅を変更する工程;
複数のセットポイント調整値を作成するために、複数の現在調整されたディザ振幅に属する現在調整されたディザ振幅の各々を、複数の積分された事前調整されたディザ振幅に属する、対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせる工程;
複数のセットポイント調整値に属する各セットポイント調整値を、複数のセットポイントに属する対応するセットポイントと組み合わせることにより、複数のセットポイントを更新する工程;および、
複数の現在調整されたディザ振幅に属する現在調整されたディザ振幅の各々を、複数の積分された事前調整されたディザ振幅に属する、対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせることにより、複数の積分された事前調整されたディザ振幅を更新する工程、
を含む、メモリ、
を含むことを特徴とする、装置。 - プロセッサシステムが単一のプロセッサを含む、請求項5に記載の装置。
- プロセッサシステムが複数のプロセッサを含む、請求項5に記載の装置。
- プロセッサシステムが、少なくとも1つのプロセッサおよび少なくとも1つの動作特定のハードウェアコンポーネントを含む、請求項5に記載の装置。
- 第一の測定値と第二の測定値の差、および第一の測定値と第二の測定値の合計が現在の調整値を計算するために使用される、請求項5に記載の装置。
- 各ディザ振幅が、各ディザ振幅に現在の調整値を掛けることにより変更される、請求項5に記載の装置。
- 現在調整されたディザ振幅の各々を対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせる工程の一部として、現在調整されたディザ振幅の各々に第一の値を掛け、各積分された事前調整されたディザ振幅に第二の値を掛ける、請求項5に記載の装置。
- 装置であって、当該装置が、
複数の光入力を受信し、複数の位相シフトされた光入力を生成する複数の位相シフター;
複数の位相シフトされた光入力を使用して、組み合わされた光出力を生成するコンバイナー;
組み合わされた光出力の出力パワーを測定する光パワー検出器;
複数の位相シフターおよび光パワー検出器と通信するプロセッサシステム;および、
コンピュータプログラムの命令を保存する制御装置のメモリであって、プロセッサシステム上で実行された時に、コンピュータプログラムの命令が、プロセッサシステムに動作を実行させ、当該動作が、
複数のセットポイントに属するセットポイント、および複数のディザ振幅に属するディザ振幅を使用して複数の光入力の各々の位相を変更する工程であって、各光入力が、複数のセットポイントに属する異なるセットポイント、および複数のディザ振幅に属する異なるディザ振幅を使用して位相シフトされる工程;
セットポイントに加算されたディザ振幅に関連する第一の出力パワー測定値を得る工程;
セットポイントから減算されたディザ振幅に関連する第二の出力パワー測定値を得る工程;
現在の調整値を計算するために第一および第二の出力パワー測定値を使用する工程;
複数の現在調整されたディザ振幅を作成するために、現在の調整値を使用して複数のディザ振幅における各ディザ振幅を変更する工程;
複数のセットポイント調整値を作成するために、複数の現在調整されたディザ振幅に属する現在調整されたディザ振幅の各々を、複数の積分された事前調整されたディザ振幅に属する、対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせる工程;
複数のセットポイント調整値に属する各セットポイント調整値を、複数のセットポイントに属する対応するセットポイントと組み合わせることにより、複数のセットポイントを更新する工程;および、
複数の現在調整されたディザ振幅に属する現在調整されたディザ振幅の各々を、複数の積分された事前調整されたディザ振幅に属する、対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせることにより、複数の積分された事前調整されたディザ振幅を更新する工程、
を含む、メモリ、
を含むことを特徴とする、装置。 - プロセッサシステムが単一のプロセッサを含む、請求項12に記載の装置。
- プロセッサシステムが複数のプロセッサを含む、請求項12に記載の装置。
- プロセッサシステムが、少なくとも1つのプロセッサおよび少なくとも1つの動作特定のハードウェアコンポーネントを含む、請求項12に記載の装置。
- 第一の測定値と第二の測定値の差、および第一の測定値と第二の測定値の合計が現在の調整値を計算するために使用される、請求項12に記載の装置。
- 現在調整されたディザ振幅の各々を対応する積分された事前調整されたディザ振幅と組み合わせる工程の一部として、現在調整されたディザ振幅の各々に第一の値を掛け、各積分された事前調整されたディザ振幅に第二の値を掛ける、請求項12に記載の装置。
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