JP6924953B2 - Shape measuring device and shape measuring method - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 312
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 111
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 90
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 34
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 57
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 15
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
本発明は、ワークの形状を測定する形状測定装置及び形状測定方法に関する。 The present invention relates to a shape measuring device and a shape measuring method for measuring the shape of a work.
円柱状又は円筒状のワークの真円度及び寸法(半径又は直径等)等の各種形状を測定する形状測定装置が知られている。例えば、特許文献1には、円筒状のワークの外周面又は内周面(被測定面)に接触式又は非接触式の距離計を3つ以上配置し、各距離計に対してワークを相対回転させながら各距離計で各周面までの距離を検出した結果に基づき、ワークの外径又は内径を検出する形状測定装置が開示されている。
A shape measuring device for measuring various shapes such as roundness and dimensions (radius or diameter, etc.) of a cylindrical or cylindrical workpiece is known. For example, in
特許文献2には、円筒状のワークの外周面に対向する位置に光センサを配置し、光センサに対してワークを相対回転させながら、光センサで外周面までの距離を検出した結果に基づき、ワークの外周面の形状を測定する形状測定装置が開示されている。また、特許文献2の形状測定装置は、光センサをワークの長手方向の複数位置にステップ移動させる構成を有しており、ワークを回転させながら複数位置の各々で光センサによる距離検出を実行することで、ワークの複数位置ごとの直径を検出できる。これにより、特許文献2の形状測定装置はワークの円筒度を検出できる。 Patent Document 2 is based on the result of arranging an optical sensor at a position facing the outer peripheral surface of a cylindrical workpiece and detecting the distance to the outer peripheral surface with the optical sensor while rotating the workpiece relative to the optical sensor. , A shape measuring device for measuring the shape of the outer peripheral surface of the work is disclosed. Further, the shape measuring device of Patent Document 2 has a configuration in which an optical sensor is step-moved to a plurality of positions in the longitudinal direction of the work, and distance detection by the optical sensor is executed at each of the plurality of positions while rotating the work. Therefore, the diameter of each of a plurality of positions of the work can be detected. Thereby, the shape measuring device of Patent Document 2 can detect the cylindricity of the work.
特許文献3には、距離検出用の一対の二次元レーザ式第1変位センサと、形状測定用の二次元レーザ式第2変位センサと、を用いて非接触でワークの形状(外径を含む)を測定する形状測定装置が開示されている。
特許文献4には、円板状のワークを回転させながら、このワークの一方の面側に配置されたレーザ光源からワークの円周エッジに向けてレーザ光を照射すると共に、このレーザ光をワークの他方の面側に配置された受光部で受光する形状測定装置が開示されている。この特許文献4の形状測定装置は、受光部で受光したレーザ光の光量分布に基づき、ワークの円周エッジの形状を検出する。
In
しかしながら、上記特許文献1及び特許文献2の形状測定装置では、距離計及び光センサ等の測定部に対してワークを相対回転(相対移動)させる必要がある。このため、回転速度の制限によって測定に時間がかかったり、回転時の振動で測定誤差が生じたり、ワークの位置調整(センタリング)が必要になったり、回転機構を設けることで装置が複雑になったり、回転又は固定し難いワークの形状測定が困難になったりする等の問題が生じる。
However, in the shape measuring devices of
特許文献3の形状測定装置では、ワークの外部に配置された大型の二次元レーザ式変位センサからワークに対してレーザ光を照射するため、例えば円筒状のワークの内径等を測定することができない。また、特許文献3に記載の形状測定装置においても、二次元レーザ式変位センサに対してワークを相対回転させる必要があるので、上記特許文献1及び特許文献2の形状測定装置と同様の問題がある。
In the shape measuring device of
特許文献4の測定装置では、円板状のワークの円周エッジしか測定することができないという問題がある。また、特許文献4の測定装置においても、ワークを回転させる必要があるので、上記特許文献1及び特許文献2の測定装置と同様の問題がある。
The measuring device of
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、ワークの形状を高精度且つ高速測定できる形状測定装置及び形状測定方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a shape measuring device and a shape measuring method capable of measuring the shape of a work with high accuracy and high speed.
本発明の目的を達成するための形状測定装置は、ワークが載置される基準平面と、基準平面に垂直な測定基準軸を中心とする同一円周上に3以上設定された基準位置ごとに、基準位置から基準位置に対向するワークの被測定面内の測定点までの距離を検出する距離検出部と、測定基準軸に対する個々の基準位置の既知の位置情報と、距離検出部が検出した基準位置ごとの距離とに基づき、ワークの形状を求める解析部と、を備える。 The shape measuring device for achieving the object of the present invention is provided for each reference position set at 3 or more on the same circumference centered on the reference plane on which the work is placed and the measurement reference axis perpendicular to the reference plane. , The distance detection unit that detects the distance from the reference position to the measurement point in the measurement plane of the workpiece facing the reference position, the known position information of each reference position with respect to the measurement reference axis, and the distance detection unit detected. It is provided with an analysis unit that obtains the shape of the work based on the distance for each reference position.
この形状測定装置によれば、ワークを回転(移動)させることなく、各基準位置から各々に対向するワークの被測定面内の測定点までの距離を検出して、ワークの形状を測定することができる。 According to this shape measuring device, the shape of the work is measured by detecting the distance from each reference position to the measurement point in the surface to be measured of the work facing each other without rotating (moving) the work. Can be done.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、基準位置は、測定基準軸を中心として同一円周上に等角度間隔で設定されている。これにより、被測定面内の測定点の位置を等間隔で取得することができるので、ワークの位置、姿勢、及び種類(形状)によらず、ワークの形状を高精度に測定できる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, the reference positions are set at equal angular intervals on the same circumference with the measurement reference axis as the center. As a result, the positions of the measurement points in the surface to be measured can be acquired at equal intervals, so that the shape of the work can be measured with high accuracy regardless of the position, posture, and type (shape) of the work.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、距離検出部及び解析部を複数回繰り返し作動させる繰り返し制御部を備え、解析部は、複数回求めたワークの形状を平均化した平均形状を求める。これにより、距離検出の誤差の影響が低減されるので、ワークの形状を高精度で測定できる。 The shape measuring device according to another aspect of the present invention includes a repetitive control unit that repeatedly operates the distance detection unit and the analysis unit a plurality of times, and the analysis unit obtains an average shape obtained by averaging the shapes of the workpieces obtained a plurality of times. .. As a result, the influence of the error of distance detection is reduced, so that the shape of the work can be measured with high accuracy.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、基準位置ごとに、基準位置から基準位置に対向する測定点に対して信号を入射させ、測定点ごとに反射された信号を個別に検出する測定部を備え、距離検出部は、測定部による測定点ごとの信号の検出結果に基づき、基準位置ごとの距離を検出する。これにより、ワークを回転(移動)させることなく、基準位置ごとの距離を非接触で検出することができる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, for each reference position, a signal is incident on a measurement point facing the reference position from the reference position, and the reflected signal is individually detected for each measurement point. The distance detection unit detects the distance for each reference position based on the signal detection result for each measurement point by the measurement unit. As a result, the distance for each reference position can be detected in a non-contact manner without rotating (moving) the work.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、信号は、測定光であり、基準位置から測定点に入射する測定光の光軸の方向は、基準位置及び測定基準軸を含む面内において測定基準軸に対して垂直な方向である。これにより、測定基準軸を基準としてワークの形状を高精度で測定できる。 In the shape measuring apparatus according to another aspect of the present invention, the signal is measurement light, and the direction of the optical axis of the measurement light incident on the measurement point from the reference position is measured in the plane including the reference position and the measurement reference axis. The direction is perpendicular to the reference axis. As a result, the shape of the work can be measured with high accuracy with reference to the measurement reference axis.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、ワークが円筒状又は円柱状であり、且つ被測定面がワークの外周面である場合、基準位置は外周面の外側に設定される。これにより、ワークの外周面の形状を測定することができる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, when the work is cylindrical or cylindrical and the surface to be measured is the outer peripheral surface of the work, the reference position is set to the outside of the outer peripheral surface. Thereby, the shape of the outer peripheral surface of the work can be measured.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、ワークが円筒状であり、且つ被測定面がワークの内周面である場合、基準位置は内周面の内側に設定される。これにより、ワークの内周面の形状を測定することができる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, when the work is cylindrical and the surface to be measured is the inner peripheral surface of the work, the reference position is set inside the inner peripheral surface. Thereby, the shape of the inner peripheral surface of the work can be measured.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、ワークが円筒状であり、且つ被測定面がワークの内周面である場合、基準位置は、内周面の内側において同一円周上に3以上設定されており、測定部は、基準位置ごとに個別に設けられた複数の反射体と、基準平面に対して垂直方向に間隔をあけて配置された複数の光学ユニットであって、同一円周上で且つ個々の反射体に対向する位置に個別に配置された複数の光学ユニットと、を備え、光学ユニットごとに、光学ユニットに対向する反射体への測定光の出射と、光学ユニットに対向する反射体から入射する測定光の検出と、を行い、反射体ごとに、反射体に対向する光学ユニットから入射した測定光を反射して反射体に対向する測定点に入射させ、測定点にて反射された測定光を反射体に対向する光学ユニットに向けて反射し、距離検出部は、基準位置及び光学ユニットの間の既知の間隔の大きさと、光学ユニットごとの測定光の検出結果とに基づき、基準位置ごとの距離を検出する。これにより、ワークの内周面の直径が小径である場合でも、この内周面の形状を測定することができる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, when the work is cylindrical and the surface to be measured is the inner peripheral surface of the work, the reference position is 3 on the same circumference inside the inner peripheral surface. As described above, the measuring unit is a plurality of reflectors individually provided for each reference position and a plurality of optical units arranged at intervals in the direction perpendicular to the reference plane, and has the same circle. It is provided with a plurality of optical units individually arranged on the circumference and at positions facing the individual reflectors, and for each optical unit, the measurement light is emitted to the reflector facing the optical unit and the optical unit is equipped with the measurement light. The measurement light incident from the opposing reflector is detected, and the measurement light incident from the optical unit facing the reflector is reflected for each reflector and incident on the measurement point facing the reflector to make the measurement point incident on the measurement point. The measurement light reflected in the above is reflected toward the optical unit facing the reflector, and the distance detection unit uses the reference position, the size of the known distance between the optical units, and the detection result of the measurement light for each optical unit. Based on the above, the distance for each reference position is detected. Thereby, even when the diameter of the inner peripheral surface of the work is small, the shape of the inner peripheral surface can be measured.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、ワークが周面を有しており、被測定面が周面である場合、解析部は、基準位置ごとの位置情報及び距離に基づき、ワークの形状として、周面の半径及び周面の真円度を求める。これにより、ワークの形状として、周面の半径及び周面の真円度を測定することができる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, when the work has a peripheral surface and the surface to be measured is the peripheral surface, the analysis unit determines that the work is based on the position information and the distance for each reference position. As the shape, the radius of the peripheral surface and the roundness of the peripheral surface are obtained. As a result, the radius of the peripheral surface and the roundness of the peripheral surface can be measured as the shape of the work.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、基準位置は、測定基準軸の軸方向位置が異なる複数の同一円周上にそれぞれ3以上設定されており、距離検出部は、基準位置ごとに距離の検出を行う。測定基準軸の互いに異なる軸方向位置ごとにワークの形状を検出することができる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, three or more reference positions are set on the same circumference having different axial positions of the measurement reference axes, and the distance detection unit is set for each reference position. Detect the distance. The shape of the work can be detected at different axial positions of the measurement reference axes.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、ワークが円筒状又は円柱状であり、被測定面がワークの外周面及び内周面の少なくとも一方の周面である場合、解析部は、位置情報と、距離検出部が検出した基準位置ごとの距離とに基づき、軸方向位置ごとに周面の中心位置を求め、軸方向位置ごとの中心位置に基づき、ワークの形状として、測定基準軸に対するワークの傾斜角度を求める。これにより、ワークの形状として、測定基準軸(基準平面)に対するワークの傾斜角度を測定することができる。 In the shape measuring device according to another aspect of the present invention, when the work is cylindrical or cylindrical and the surface to be measured is at least one peripheral surface of the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the work, the analysis unit is positioned. Based on the information and the distance for each reference position detected by the distance detection unit, the center position of the peripheral surface is obtained for each axial position, and based on the center position for each axial position, the shape of the work is relative to the measurement reference axis. Find the tilt angle of the work. As a result, the inclination angle of the work with respect to the measurement reference axis (reference plane) can be measured as the shape of the work.
本発明の他の態様に係る形状測定装置において、ワークが円筒状又は円柱状であり、被測定面がワークの外周面及び内周面の少なくとも一方の周面である場合、解析部は、位置情報と、距離検出部が検出した基準位置ごとの距離とに基づき、軸方向位置ごとに周面の半径を求め、軸方向位置ごとの半径に基づき、ワークの形状として、真直度及び円筒度を求める。これにより、ワークの形状として、真直度及び円筒度を測定することができる。 In the shape measuring apparatus according to another aspect of the present invention, when the work is cylindrical or cylindrical and the surface to be measured is at least one peripheral surface of the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the work, the analysis unit is positioned. Based on the information and the distance for each reference position detected by the distance detection unit, the radius of the peripheral surface is obtained for each axial position, and the straightness and cylindricity are calculated as the shape of the work based on the radius for each axial position. Ask. Thereby, the straightness and the cylindricity can be measured as the shape of the work.
本発明の目的を達成するための形状測定方法は、基準平面に載置されたワークの形状を測定する形状測定方法において、基準平面に垂直な測定基準軸を中心とする同一円周上に3以上設定された基準位置ごとに、基準位置から基準位置に対向するワークの被測定面内の測定点までの距離を検出する距離検出ステップと、測定基準軸に対する個々の基準位置の既知の位置情報と、距離検出ステップで検出した基準位置ごとの距離とに基づき、ワークの形状を求める解析ステップと、を有する。 The shape measuring method for achieving the object of the present invention is a shape measuring method for measuring the shape of a work placed on a reference plane on the same circumference centered on a measurement reference axis perpendicular to the reference plane. For each reference position set above, a distance detection step for detecting the distance from the reference position to the measurement point in the measured surface of the workpiece facing the reference position, and known position information of each reference position with respect to the measurement reference axis. And an analysis step of obtaining the shape of the work based on the distance for each reference position detected in the distance detection step.
本発明の形状測定装置及び形状測定方法は、ワークの形状を高精度且つ高速測定できる。 The shape measuring device and the shape measuring method of the present invention can measure the shape of a work with high accuracy and high speed.
[第1実施形態の形状測定装置]
図1は、第1実施形態の形状測定装置10の概略図である。形状測定装置10は、円筒状のワークWの形状を測定する。なお、ここでいうワークWの形状には、ワークWの周面の径(半径及び直径)などの寸法と、ワークWの真円度と、ワークWの傾斜(第4実施形態)と、ワークWの真直度及び円筒度(第5実施形態)と、を含む各種形状及び寸法が含まれる。
[Shape measuring device of the first embodiment]
FIG. 1 is a schematic view of the
図1に示すように、形状測定装置10は、円板形状(他の形状でも可)のステージ12と、多チャンネル式の非接触変位計13と、コンピュータ14と、を備える。
As shown in FIG. 1, the
ステージ12の上面(水平面)は、ワークWが載置される基準平面12aとなる。また、本実施形態において、基準平面12aの中心(中心以外でも可)を通り且つ基準平面12aに対して垂直な軸は、測定基準軸A1となる。なお、図中では、ワークWの中心軸が測定基準軸A1に一致しているが、測定基準軸A1に対してワークWの中心軸が偏心していてもよい。すなわち、基準平面12a上でワークWのセンタリングを行う必要はない。
The upper surface (horizontal plane) of the
非接触変位計13は、本発明の測定部に相当するものであり、8チャンネル(CH1〜CH8)のセンサヘッド18と、8個のセンサ位置調整部19と、変位計本体20と、を備える。なお、センサヘッド18及びセンサ位置調整部19(後述の基準位置P1)の数は3以上であれば適宜増減してもよい。
The
図2は、基準平面12a上に配置されたセンサヘッド18の上面図(上段)及び側面図(下段)である。図2に示すように、基準平面12a上に載置されたワークWの外周面(本発明の被測定面に相当)の外側であって且つこの外周面に対向する位置には、外周面を囲むように、測定基準軸A1を中心として同一円周上(C1)に等角度間隔(45°)で8つの基準位置P1が予め設定されている。具体的に基準位置P1は、測定基準軸A1を中心として、θi=(i−1)×(360/8)[i=1〜8]で表される同一円周上(C1)の角度位置(0°、45°、90°、135°、180°、225°、270°、315°)にそれぞれ設定されている。
FIG. 2 is a top view (upper row) and a side view (lower row) of the
8チャンネルのセンサヘッド18は、例えばファイバコリメータが用いられる。各センサヘッド18は、それぞれ不図示の信号伝搬ケーブル(光ファイバケーブル)を介して、変位計本体20と接続している。各センサヘッド18は、変位計本体20から入力された測定光L(本発明の信号に相当)をそれぞれワークWに向けて個別に出射する。また、各センサヘッド18は、ワークWにてそれぞれ反射された測定光Lを個別に受光して変位計本体20へ個別に出力する。
For the 8-
各センサ位置調整部19は、基準平面12a上の各基準位置P1にそれぞれ対応する位置に設けられている。各センサ位置調整部19は、それぞれ1つのセンサヘッド18を基準位置P1で支持している。これにより、8チャンネルのセンサヘッド18が、既述の各基準位置P1に配置、すなわち測定基準軸A1を中心として同一円周上(C1)に等角度間隔(等角度位置)で配置される。
Each sensor
また、各センサ位置調整部19は、支持しているセンサヘッド18の3軸方向位置の位置調整と、姿勢調整(パンチルト調整)とを行うことで、センサヘッド18から出射される測定光Lの出射方向を任意に調整することができる。
Further, each sensor
図3は、各センサヘッド18から出射される測定光Lの出射方向を示した説明図である。図3に示すように、各センサ位置調整部19は、支持しているセンサヘッド18の位置姿勢等を調整して、センサヘッド18から出射される測定光Lの光軸OAの方向を、基準位置P1及び測定基準軸A1を含む面F内において測定基準軸A1に対して垂直な方向Dに調整する。これにより、各基準位置P1にあるセンサヘッド18から測定基準軸A1に向けて、方向Dに平行な測定光Lが出射される。その結果、各センサヘッド18(基準位置P1)から個別に出射された測定光Lは、各センサヘッド18(基準位置P1)にそれぞれ対向するワークWの外周面内の測定点P2に個別に入射する(図2参照)。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the emission direction of the measurement light L emitted from each
なお、センサ位置調整部19ごとのセンサヘッド18の位置調整及び姿勢調整は、公知の冶具、方法、及び計測器等を用いて行われるので、ここでは具体的な説明は省略する。
Since the position adjustment and the posture adjustment of the
図1及び図2に戻って、各センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向する測定点P2に入射された測定光Lは、測定点P2ごとに元のセンサヘッド18に向けて反射され、各センサヘッド18にて個別に受光される。各センサヘッド18にて受光された測定光Lは、既述の通り、不図示の信号伝搬ケーブルを介して、変位計本体20に個別に入力される。
Returning to FIGS. 1 and 2, the measurement light L incident on the measurement points P2 facing each other from each sensor head 18 (reference position P1) is reflected toward the
変位計本体20は、コンピュータ14の制御の下、不図示の信号伝搬ケーブルを介して、各センサヘッド18に測定光Lを個別に入力すると共に、各センサヘッド18にて受光された測定光Lを個別に検出(光電変換)する。そして、変位計本体20は、センサヘッド18ごとに検出した測定光Lの検出結果に基づき、各センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向する測定点P2までの距離(以下、単に「センサヘッド18ごとの距離」と略す)を検出する。すなわち、変位計本体20は、本発明の距離検出部として機能する。なお、具体的な距離の検出方法は公知技術であるので、ここでは具体的な説明は省略する。
Under the control of the
図4は、センサヘッド18ごとの距離の検出結果の一例を示したグラフである。なお、図中の横軸は、測定基準軸A1を中心とする8チャンネル(CH1〜CH8)のセンサヘッド18の角度位置である。
FIG. 4 is a graph showing an example of the detection result of the distance for each
ワークWの外周面のXY軸方向の断面形状が真円であり、且つワークWの中心軸が測定基準軸A1に一致している理想状態では、センサヘッド18(基準位置P1)ごとの距離はほぼ同じ値になる。しかし、加工誤差によりワークWの断面形状は完全な真円とはならず、さらに本実施形態では、ワークWの中心軸を測定基準軸A1に一致させるセンタリングを行うことなくワークWの形状を検出できるため、センタリングを行っていない。このため、図4に示すように、ワークWの真円度と、測定基準軸A1に対するワークWの中心軸の偏芯(偏心方向及び偏心量)とに応じて、センサヘッド18(基準位置P1)ごとの距離にばらつきが生じる。 In an ideal state where the cross-sectional shape of the outer peripheral surface of the work W in the XY axis direction is a perfect circle and the central axis of the work W coincides with the measurement reference axis A1, the distance for each sensor head 18 (reference position P1) is It will be almost the same value. However, the cross-sectional shape of the work W does not become a perfect circle due to a machining error, and in the present embodiment, the shape of the work W is detected without centering to match the central axis of the work W with the measurement reference axis A1. Since it can be done, it is not centered. Therefore, as shown in FIG. 4, the sensor head 18 (reference position P1) depends on the roundness of the work W and the eccentricity (eccentric direction and eccentricity) of the central axis of the work W with respect to the measurement reference axis A1. ) Will vary.
変位計本体20は、センサヘッド18ごとの距離の検出結果を示す距離検出信号をコンピュータ14へ出力する。
The displacement meter
コンピュータ14には、変位計本体20と、表示部14aとが接続されている。コンピュータ14は、変位計本体20の動作を制御する。また、コンピュータ14は、変位計本体20から入力されたセンサヘッド18ごとの距離検出信号に基づき、ワークWの形状を測定して、この測定結果を表示部14aに表示させる。なお、コンピュータ14の代わりに各種の演算処理装置を用いてもよい。
The displacement meter
[コンピュータの構成]
図5は、コンピュータ14の構成を示すブロック図である。図5に示すように、コンピュータ14は、制御部25と、記憶部26とを有している。制御部25は、図示は省略するが、例えばCPU(Central Processing Unit)或いはFPGA(field-programmable gate array)を含む各種の演算部と処理部とメモリ等により構成されている。この制御部25は、メモリ或いは記憶部26から読み出した不図示の制御プログラムを実行することで、測定制御部28、解析部29、及び繰り返し制御部30として機能する。
[Computer configuration]
FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the
記憶部26は、後述の解析部29から入力されたワークWの形状の測定結果を記憶する。また、記憶部26には、測定基準軸A1に対する各センサヘッド18(基準位置P1)の位置を示す位置情報32が予め記憶されている。この位置情報32には、例えば、既述の同一円周上(C1)での各センサヘッド18(基準位置P1)の角度位置と、同一円周上(C1)の「円周」の半径と、が含まれている。なお、位置情報32は、測定基準軸A1を基準とした各センサヘッド18(基準位置P1)の位置を判別可能であれば特に限定されず、例えば、基準平面12aの任意の原点を基準とした測定基準軸A1及び各センサヘッド18(基準位置P1)の位置座標であってもよい。
The
測定制御部28は、変位計本体20によるセンサヘッド18ごとの距離検出信号の取得(各センサヘッド18からの測定光Lの出射、各センサヘッド18が受光した測定光Lの検出、及びセンサヘッド18ごとの距離の検出等)を制御する。また、測定制御部28は、変位計本体20から取得したセンサヘッド18ごとの距離検出信号を、解析部29へ出力する。
The
解析部29は、変位計本体20から取得したセンサヘッド18ごとの距離検出信号と、記憶部26から取得した既述の位置情報32とに基づき、ワークWの形状を求める。本実施形態では、ワークWの形状として、ワークWの外周面の半径(直径)と真円度とを求める。
The
図6は、解析部29によるワークWの形状の算出(解析)を説明するための説明図である。解析部29は、センサヘッド18ごとの距離検出信号に基づき、センサヘッド18ごとの距離を判別できる。また、解析部29は、位置情報32に基づき、測定基準軸A1に対するセンサヘッド18(基準位置P1)ごとの角度位置と、同一円周上(C1)の「円周」の半径と、を判別できる。
FIG. 6 is an explanatory diagram for explaining the calculation (analysis) of the shape of the work W by the
このため、図6中の「点線」で示すように、解析部29は、センサヘッド18ごとの距離検出信号と位置情報32とに基づき、基準平面12a上に載置されたワークWの外周面内の各測定点P2の位置(測定基準軸A1を基準とした位置)を検出できる。これにより、解析部29は、ワークWの中心座標(x0,y0)と、ワークWの外周面の半径Rとを求めることができる。
Therefore, as shown by the “dotted line” in FIG. 6, the
例えば、センサヘッド18(基準位置P1)の数を「N」(本実施形態ではN=8)とする。また、下記[数1]式に示すように、センサヘッド18ごとの測定点P2までの距離を「ri」とすると共に、センサヘッド18ごとの角度位置を「θi」とする。これにより、ワークWの外周面内の各測定点P2の位置はそれぞれ極座標値(ri,θi)で表すことができる。そして、解析部29は、各測定点P2の極座標値(ri,θi)を、下記の[数2]式を用いて、XY座標系の座標値(xi,yi)に座標変換する。
For example, the number of sensor heads 18 (reference position P1) is set to "N" (N = 8 in this embodiment). Further, as shown in the following
次いで、解析部29は、XY座標系に変換した各測定点P2の座標値(xi,yi)に基づき、下記の[数3]式で示す方程式を用いて、ワークWの中心座標(x0,y0)と、ワークWの外周面の半径Rとを算出する。
Subsequently, analyzing
上記のように求めたワークWの中心座標(x0,y0)に基づき、測定基準軸A1に対するワークWの中心軸の偏芯(偏心方向及び偏心量)を求めることができる。このため、解析部29は、ワークWの真円度を公知の最小二乗中心法で求める場合と同様にして、測定基準軸A1に対するワークWの中心軸の偏芯補正を行う。具体的に、解析部29は、下記の[数4]式に示すように、ワークWの中心座標(x0,y0)を用いて各測定点P2の座標値(xi,yi)を補正して、各測定点P2の補正座標値(xai,yai)を算出する。これにより、図中の「実線」で示すように、偏心補正後の各測定点P2の測定基準軸A1に対する位置が算出される。
Based on the center coordinates (x 0 , y 0 ) of the work W obtained as described above, the eccentricity (eccentric direction and eccentric amount) of the center axis of the work W with respect to the measurement reference axis A1 can be obtained. Therefore, the
次いで、解析部29は、各測定点P2の補正座標値(xai,yai)に基づき、下記の[数5]式で示すように、測定基準軸A1(原点)から各測定点P2までの距離raiをそれぞれ算出する。そして、解析部29は、各測定点P2までの距離raiの算出結果と、先に算出した半径Rとに基づき、下記の[数6]式を用いて、半径Rに対する測定点P2ごとの距離raiのバラツキδiを算出する。この測定点P2ごとのバラツキδiは、ワークWの外周面の真円度の指標となる値であるので、各バラツキδiに基づきワークWの外周面の真円度(簡易真円度)が求められる。なお、真円度については、例えば既述の最小二乗中心法のような公知の手法を用いて算出してもよい。
Next, the
このように、解析部29は、センサヘッド18ごとの距離検出信号と位置情報32とに基づき、ワークWの形状として、ワークWの外周面の半径R(直径)及び真円度を求めることができる。これにより、1回のワークWの形状測定が完了する。解析部29は、ワークWの形状の測定結果[半径R(直径)及び真円度の測定結果]を、表示部14aと記憶部26とに出力する。
In this way, the
図7は、ワークWの形状(外周面の直径)の測定精度と、センサヘッド18のチャンネル数との関係を示したグラフである。ここでは、センサヘッド18ごとに±0.1μmの測定誤差(検出誤差)があると想定して、500回のシミュレーションを行って個々のチャンネル数ごとの外周面の直径のバラツキと2σ偏差とを求めている。
FIG. 7 is a graph showing the relationship between the measurement accuracy of the shape of the work W (diameter of the outer peripheral surface) and the number of channels of the
図7に示すように、直径のバラツキは、チャンネル数が最小数の「3」である場合に約0.33μmであり、チャンネル数が増加するのに従って次第に低減する。また、直径の2σ偏差についても、チャンネル数が最小数の「3」である場合に約0.30μmであり、チャンネル数が増加するのに従って次第に低減する。このため、センサヘッド18ごとに±0.1μmの測定誤差があったとしても、多チャンネルで測定を行うことでセンサヘッド18ごとの距離の測定結果が平均化され、バラツキ及び2σ偏差を低下させることができる。その結果、ワークWの形状を高精度で測定できる。
As shown in FIG. 7, the variation in diameter is about 0.33 μm when the number of channels is the minimum number “3”, and gradually decreases as the number of channels increases. Further, the 2σ deviation of the diameter is also about 0.30 μm when the number of channels is the minimum number “3”, and gradually decreases as the number of channels increases. Therefore, even if there is a measurement error of ± 0.1 μm for each
図5に戻って、繰り返し制御部30は、測定制御部28(変位計本体20)と、解析部29とを複数回繰り返し作動させる。これにより、変位計本体20及び測定制御部28によるセンサヘッド18ごとの距離検出信号の取得と、解析部29によるワークWの形状の算出と、が複数回繰り返される。なお、繰り返し回数は、ユーザが所望の回数に設定することができる。これにより、複数回分のワークWの形状の検出結果が得られる。
Returning to FIG. 5, the
解析部29は、ワークWの形状の算出を複数回繰り返し実行した後、複数回求めたワークWの形状を平均化した平均形状として、ワークWの外周面の半径R(直径)の平均値と真円度の平均値とを算出する。そして、解析部29は、算出したワークWの平均形状の結果を表示部14aに出力すると共に、記憶部26に記憶させる。
The
図8は、ワークWの平均形状(外周面の直径)の測定精度と、繰り返し回数との関係を示したグラフである。ここでは、センサヘッド18ごとに±0.1μmの測定誤差があると想定して、8チャンネルのセンサヘッド18を用いた条件で500回のシミュレーションを行うことにより、個々の繰り返し回数ごとの外周面の直径のバラツキと2σ偏差とを求めた。なお、1回の測定に要する時間を約1msecとした場合、100回の繰り返しに要する時間は約100msecである。
FIG. 8 is a graph showing the relationship between the measurement accuracy of the average shape (diameter of the outer peripheral surface) of the work W and the number of repetitions. Here, assuming that there is a measurement error of ± 0.1 μm for each
図8に示すように、繰り返し回数が増加するのに従って、ワークWの外周面の直径のバラツキと2σ偏差とが減少する。このため、センサヘッド18ごとに±0.1μmの測定誤差があったとしても、ワークWの形状の測定を複数回繰り返し実行して、ワークWの平均形状を算出することで、非接触変位計13の測定誤差の影響を低減できる。
As shown in FIG. 8, as the number of repetitions increases, the variation in diameter of the outer peripheral surface of the work W and the 2σ deviation decrease. Therefore, even if there is a measurement error of ± 0.1 μm for each
[第1実施形態の形状測定装置の作用]
図9は、上記構成の形状測定装置10によるワークWの形状測定の流れ(本発明の形状測定方法)を示すフローチャートである。なお、各基準位置P1の設定と、各センサヘッド18の位置姿勢の調整と、非接触変位計13の校正とは予め行われている。図9に示すように、最初にユーザは、測定対象のワークWを基準平面12a上に載置する(ステップS1)。この際に、ワークWの中心軸を測定基準軸A1に一致させるセンタリングを行う必要はないので、測定時間を短縮することができる。
[Operation of the shape measuring device of the first embodiment]
FIG. 9 is a flowchart showing a flow of shape measurement of the work W by the
次いで、ユーザがコンピュータ14にて測定開始操作を行うと、制御部25の測定制御部28の制御の下、変位計本体20から各センサヘッド18に測定光Lが入力され、各センサヘッド18から各々に対向するワークWの外周面内の測定点P2に向けて測定光Lが個別に出射される。そして、各センサヘッド18は、各々に対向する測定点P2にてそれぞれ反射された測定光Lを個別に受光する(ステップS2)。これにより、各センサヘッド18にて受光された測定光Lが変位計本体20に個別に入力される。
Next, when the user performs the measurement start operation on the
次いで、変位計本体20において、センサヘッド18ごとの測定光Lの検出と、センサヘッド18ごとの距離の検出とが順次実行された後、変位計本体20から測定制御部28に対してセンサヘッド18ごとの距離検出信号が出力される(ステップS3、本発明の距離検出ステップに相当)。なお、1回の測定に要する時間は、1〜10msecである。これにより、センサヘッド18ごとの距離検出信号が測定制御部28に入力され、さらにこの測定制御部28を介して解析部29に入力される。
Next, in the displacement meter
センサヘッド18ごとの距離検出信号の入力を受けた解析部29は、各距離検出信号と、記憶部26から取得した位置情報32とに基づき、上記[数1]式から[数6]式を用いて、ワークWの形状[外周面の半径R(直径)及び真円度]を算出する(ステップS4、本発明の解析ステップに相当)。これにより、1回目のワークWの形状測定が完了し、この測定結果が解析部29から表示部14aと記憶部26とにそれぞれ出力される。
The
この際に、本実施形態では、8チャンネルのセンサヘッド18を用いてワークWの形状測定を行うため、既述の図7に示したように、センサヘッド18ごとの検出結果が平均化され、バラツキ及び2σ偏差を低下させることができる。その結果、ワークWの形状を高精度に測定できる。
At this time, in the present embodiment, since the shape of the work W is measured using the 8-
次いで、繰り返し制御部30は、形状測定の繰り返し回数がユーザの予め定めた設定回数に到達していない場合、測定制御部28(変位計本体20)と、解析部29とを繰り返し作動させて、既述のステップS2からステップS4までの処理を再度実行させる(ステップS5でNO)。これにより、解析部29にてワークWの形状が再度算出される。
Next, the
以下、繰り返し回数が設定回数に到達するまで、既述のステップS2からステップS5までの処理が実行される(ステップS5でYES)。これにより、複数回分のワークWの形状の測定結果が得られる。次いで、解析部29は、複数回分のワークWの形状を平均化した平均形状を算出し、この算出結果を表示部14aに出力すると共に、記憶部26に記憶させる(ステップS6)。このように形状測定を複数回繰り返し実行してワークWの平均形状を求めることで、センサヘッド18ごとの測定誤差の影響が低減され、既述の図8に示したように、形状検出結果のバラツキ及び2σ偏差を低下させることができる。その結果、ワークWの形状を高精度で測定できる。
Hereinafter, the processes from step S2 to step S5 described above are executed until the number of repetitions reaches the set number of times (YES in step S5). As a result, the measurement result of the shape of the work W for a plurality of times can be obtained. Next, the
[第1実施形態の効果]
以上のように、第1実施形態の形状測定装置10では、非接触変位計13を用いることで、各センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向するワークWの外周面の測定点P2までの距離を非接触で一括して検出できる。これにより、従来のようにセンサヘッド18に対してワークWを相対回転させることなく、ワークWの形状を測定できる。このため、測定時間の短縮化と、回転時の振動に起因する測定誤差の発生防止と、回転機構の省略による装置構成の簡易化と、回転又は固定し難いワークWの形状測定が可能という効果が得られる。その結果、ワークWの形状を高精度且つ高速測定できる。
[Effect of the first embodiment]
As described above, in the
[第2実施形態の形状測定装置]
図10は、第2実施形態の形状測定装置10に設けられているセンサヘッド18の上面図(上段)及び側面図(下段)である。上記第1実施形態では、円筒状のワークWの形状として、ワークWの外周面の半径R(直径)及び真円度を測定しているが、第2実施形態の形状測定装置10では、ワークWの内周面(本発明の被測定面に相当)の半径R(直径)及び真円度を測定する。
[Shape measuring device of the second embodiment]
FIG. 10 is a top view (upper row) and a side view (lower row) of the
なお、第2実施形態の形状測定装置10は、各センサヘッド18の配置が異なる点を除けば上記第1実施形態の形状測定装置10と基本的に同じ構成であるので、上記第1実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。
The
図10に示すように、第2実施形態では、基準平面12a上に載置されたワークWの内周面の内側(内周面に対向する位置)に、測定基準軸A1を中心として同一円周上(C2)に等角度間隔(45°)で8つの基準位置P1が予め設定されている。すなわち、第2実施形態では、ワークWの内周面の内側に、8つの基準位置P1が第1実施形態と相似形の配置パターンで設定されている。これにより、8チャンネルのセンサヘッド18が、測定基準軸A1を中心として同一円周上(C2)に等角度間隔で配置される。
As shown in FIG. 10, in the second embodiment, the same circle is formed inside the inner peripheral surface (position facing the inner peripheral surface) of the work W placed on the
第2実施形態の各センサ位置調整部19は、それぞれ支持しているセンサヘッド18の位置姿勢等を調整して、第1実施形態と同様にセンサヘッド18から出射される測定光Lの光軸OAの方向を方向D(図3参照)に調整する。これにより、測定基準軸A1を中心として、各基準位置P1にあるセンサヘッド18から測定光Lが放射状に出射される。その結果、各センサヘッド18(基準位置P1)から個別に出射された測定光Lは、各センサヘッド18(基準位置P1)にそれぞれ対向するワークWの内周面内の測定点P2に個別に入射する。
Each sensor
また、各センサヘッド18は、各々に対向する測定点P2にてそれぞれ反射された測定光Lを個別に受光する。そして、各センサヘッド18にて受光された測定光Lが変位計本体20に個別に入力される。
Further, each
第2実施形態の変位計本体20は、第1実施形態と同様に、センサヘッド18ごとの測定光Lの検出と、センサヘッド18ごとの距離の検出とを行う。これにより、各センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向するワークWの内周面内の測定点P2までの距離がそれぞれ検出される。そして、変位計本体20は、センサヘッド18ごとの距離検出信号をコンピュータ14へ出力する。
Similar to the first embodiment, the displacement meter
第2実施形態のコンピュータ14は、変位計本体20から入力されたセンサヘッド18ごとの距離検出信号と、記憶部26から取得した位置情報32とに基づき、第1実施形態と同様に上記[数1]式から[数6]式を用いて、ワークWの内周面の半径R(直径)及び真円度を求める。
The
第2実施形態の形状測定装置10の作用については、既述の図9に示した第1実施形態と基本的に同じであるので、ここでは具体的な説明は省略する。そして、第2実施形態の形状測定装置10によれば、各センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向するワークWの内周面内の測定点P2までの距離を非接触で一括して検出できるため、上記第1実施形態と同様の効果が得られる。
Since the operation of the
[第1実施形態と第2実施形態の組み合わせ]
図11は、第1実施形態と第2実施形態との組み合わせを説明するための説明図である。図11に示すように、上記第1実施形態及び第2実施形態を組み合わせて、ワークWの外周面の外側とワークWの内周面の内側とにそれぞれ基準位置P1を設定すると共に、各基準位置P1にセンサヘッド18を配置してもよい。これにより、ワークWの外周面及び内周面の形状を一括して測定できる。
[Combination of 1st Embodiment and 2nd embodiment]
FIG. 11 is an explanatory diagram for explaining a combination of the first embodiment and the second embodiment. As shown in FIG. 11, the reference positions P1 are set on the outside of the outer peripheral surface of the work W and the inside of the inner peripheral surface of the work W by combining the first embodiment and the second embodiment, and each reference is set. The
[第3実施形態の形状測定装置]
次に、本発明の第3実施形態の形状測定装置10について説明を行う。上記第2実施形態では、ワークWの内周面の内側に各センサヘッド18及び各センサ位置調整部19を配置しているが、ワークWの内周面の直径が小径である場合、各センサヘッド18等をワークWの内周面の内側に配置できない。そこで、第3実施形態の形状測定装置10では、ワークWの内周面の内側に各センサヘッド18等を配置することなく、ワークWの内周面の形状を測定する。
[Shape measuring device of the third embodiment]
Next, the
なお、第3実施形態の形状測定装置10は、各センサヘッド18の配置が異なる点と、センサ位置調整部19の代わりに反射体35(図12参照)を備える点とを除けば、上記第2実施形態の形状測定装置10と基本的に同じ構成である。このため、上記各実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。
The
図12は、第3実施形態のステージ12等の断面図である。図13は、第3実施形態の基準平面12aの上面図である。図14は、図12中の各センサヘッド18をZ軸方向下方側から見た正面図(下面図)である。
FIG. 12 is a cross-sectional view of the
図12から図14に示すように、基準平面12a上であって且つワークWの内周面の内側の領域には、略円板状の反射体保持部36が設けられている。この反射体保持部36の上面には、前述の基準位置P1ごとに反射体35が設けられている。これにより、8個の反射体35が測定基準軸A1を中心として同一円周上(C2)に等角度間隔で配置される。
As shown in FIGS. 12 to 14, a substantially disk-shaped
各反射体35は例えばミラーが用いられる。各反射体35は、Z軸方向上方から入射した測定光Lを、方向D(図3参照)に平行な方向であって且つワークWの内周面に向けて反射する。これにより、Z軸方向上方から入射した測定光Lは、各反射体35(基準位置P1)にそれぞれ対向するワークWの内周面内の測定点P2に向けて反射される。また、各反射体35は、各々に対向する測定点P2から入射した測定光LをZ軸方向上方に向けて反射する。
For each
第3実施形態の各センサヘッド18は、本発明の光学ユニットに相当し、基準平面12aに対して垂直方向(Z軸方向上方)に間隔をあけて配置されている。具体的に、基準平面12aの上方であって且つ各反射体35に対向する位置には、基準平面12aに対して平行な円板状のセンサ保持部37が不図示の支持部よって支持されている。このセンサ保持部37の下面には、各基準位置P1(各反射体35)にそれぞれ対向する位置にセンサヘッド18が設けられている。
Each
各センサヘッド18は、Z軸方向下方に向けてそれぞれ測定光Lを出射する。これにより、各センサヘッド18から各々に対向する反射体35(基準位置P1)に向けて測定光Lが出射される。そして、各測定光Lは、各反射体35によって各々に対向する測定点P2に向けて放射状に反射される。
Each
次いで、各測定点P2に個別に入射された測定光Lは、測定点P2ごとに元の反射体35に向けて個別に反射される。各測定点P2から各々に対向する反射体35に入射した測定光Lは、各反射体35によって各々に対向するセンサヘッド18に向けて個別に反射される。これにより、各センサヘッド18は、各々に対向する反射体35にてそれぞれ反射された測定光Lを個別に受光する。以下、上記各実施形態と同様に、各センサヘッド18にて受光された測定光Lは、変位計本体20に個別に入力される。
Next, the measurement light L individually incident on each measurement point P2 is individually reflected toward the
第3実施形態の変位計本体20は、各センサヘッド18にて受光された測定光Lを個別に検出する。次いで、変位計本体20は、センサヘッド18ごとに検出した測定光Lの検出結果と、基準位置P1及びセンサヘッド18間の既知の間隔(距離)の大きさ(符号α)とに基づき、センサヘッド18ごとに、反射体35(基準位置P1)から反射体35に対向する測定点P2までの距離を検出する。
The displacement meter
例えば変位計本体20は、センサヘッド18ごとの測定光Lの検出結果に基づき各測定光Lの光路長を検出し、検出した各光路長からそれぞれ上記の間隔の値を減算することによって、基準位置P1ごとに測定点P2までの距離を検出する。そして、変位計本体20は、センサヘッド18ごとの距離検出信号をコンピュータ14へ出力する。
For example, the displacement meter
これ以降の処理は、上記第2実施形態と基本的に同じであるので、具体的な説明は省略する。 Since the subsequent processing is basically the same as that of the second embodiment, specific description thereof will be omitted.
以上のように第3実施形態の形状測定装置10では、各基準位置P1にそれぞれ配置された各反射体35を用いて測定光Lの光路を屈折することで、ワークWの内周面の内側に各センサヘッド18及び各センサ位置調整部19を配置することなく、ワークWの内周面の形状を測定できる。これにより、ワークWの内周面の直径が小径である場合でも、この内周面の形状を測定できる。また、上記各実施形態と同様の効果が得られる。
As described above, in the
[第4実施形態の形状測定装置]
次に、本発明の第4実施形態の形状測定装置10について説明を行う。上記各実施形態では、ワークWの形状として、ワークWの内外周面の半径R(直径)及び真円度を測定しているが、第4実施形態では、測定基準軸A1に対するワークWの傾斜角度を測定する。ここで、ワークWの傾斜角度とは、測定基準軸A1に対するワークWの中心軸A2(図15参照)の傾斜角度である。
[Shape measuring device of the fourth embodiment]
Next, the
図15は、第4実施形態の形状測定装置10を構成するステージ12及びセンサヘッド18の側面図である。図16は、図15中の16A−16A線に沿う断面図(上段)及び図15中の16B−16B線に沿う断面図(下段)である。なお、第4実施形態の形状測定装置10は、8チャンネルのセンサヘッド18を2組備える点を除けば、上記第1実施形態の形状測定装置10と基本的に同じ構成である。このため、上記第1実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。
FIG. 15 is a side view of the
図15及び図16に示すように、第4実施形態では、測定基準軸A1に対して垂直なワークWの第1測定断面CS1及び第2測定断面CS2の双方の外周の外側に、測定基準軸A1を中心として同一円周上(C1)に等角度間隔で8つの基準位置P1が予め設定されている。第1測定断面CS1及び第2測定断面CS2は、測定基準軸A1の軸方向位置が互いに異なっている。なお、第2測定断面CS2を基準とした第1測定断面CS1の高さhは既知の値である。 As shown in FIGS. 15 and 16, in the fourth embodiment, the measurement reference shaft is outside the outer periphery of both the first measurement cross section CS1 and the second measurement cross section CS2 of the work W perpendicular to the measurement reference axis A1. Eight reference positions P1 are preset on the same circumference (C1) with A1 as the center at equal angular intervals. The first measurement cross section CS1 and the second measurement cross section CS2 have different axial positions of the measurement reference axis A1. The height h of the first measurement cross section CS1 with reference to the second measurement cross section CS2 is a known value.
第4実施形態の各センサヘッド18は、不図示の支持部材により各基準位置P1にそれぞれ配置及び支持されている。これにより、測定基準軸A1の互いに異なる軸方向位置において、それぞれ8チャンネルのセンサヘッド18が測定基準軸A1を中心として同一円周上(C1)に等角度間隔で配置される。以下、第1測定断面CS1の高さ位置にある各センサヘッド18を「第1センサヘッド18」といい、第2測定断面CS2の高さ位置にある各センサヘッド18を「第2センサヘッド18」という。
Each
また、各センサヘッド18は、出射する測定光Lの光軸OAの方向が既述の方向D(図3参照)に平行になるように位置姿勢が調整されている。これにより、各第1センサヘッド18から出射された測定光Lは、各第1センサヘッド18の各々に対向する第1測定断面CS1の外周上の測定点P2に入射して、各測定点P2で元の第1センサヘッド18に向けて反射された後、元の第1センサヘッド18により個別に受光される。一方、各第2センサヘッド18から出射された測定光Lは、各第2センサヘッド18に各々の対向する第2測定断面CS1の外周上の測定点P2に入射して、各測定点P2で元の第2センサヘッド18に向けて反射された後、元の第2センサヘッド18により個別に受光される。
Further, the position and orientation of each
第4実施形態の変位計本体20は、第1センサヘッド18ごとの測定光Lの検出と、第2センサヘッド18ごとの測定光Lの検出と、両センサヘッド18ごとの距離の検出とを行う。これにより、変位計本体20は、第1センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向する第1測定断面CS1の外周上の測定点P2までの距離と、第2センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向する第2測定断面CS2の外周上の測定点P2までの距離と、を検出できる。変位計本体20は、第1センサヘッド18ごとの距離検出信号(以下、第1距離検出信号という)と、第2センサヘッド18ごとの距離検出信号(以下、第2距離検出信号という)と、をそれぞれコンピュータ14へ出力する。
The displacement meter
第4実施形態のコンピュータ14に入力された各距離検出信号は、測定制御部28を経て解析部29に入力される(図5参照)。また、第4実施形態の記憶部26には、各第1センサヘッド18及び各第2センサヘッド18の位置情報32が記憶されている。
Each distance detection signal input to the
第4実施形態の解析部29は、変位計本体20から入力された第1距離検出信号及び第2距離検出信号と、記憶部26から取得した位置情報32とに基づき、ワークWの形状として、測定基準軸A1に対するワークWの中心軸A2の傾きを求める。
The
図17は、ワークWの中心軸A2の傾き算出に用いられる第1測定断面CS1の中心座標V1(x01,y01)及び第2測定断面CS2の中心座標V2(x02,y02)を説明するための説明図である。図18は、ワークWの中心軸A2の傾き算出を説明するための説明図である。 FIG. 17 shows the center coordinates V1 (x 01 , y 01 ) of the first measurement cross section CS1 and the center coordinates V2 (x 02 , y 02 ) of the second measurement cross section CS2 used for calculating the inclination of the central axis A2 of the work W. It is explanatory drawing for demonstrating. FIG. 18 is an explanatory diagram for explaining the calculation of the inclination of the central axis A2 of the work W.
図17に示すように、解析部29は、第1距離検出信号及び位置情報32に基づき、上記[数2]式及び[数3]式を用いて、第1測定断面CS1の中心位置として中心座標V1(x01,y01)を求める。また同様に、解析部29は、第2距離検出信号及び位置情報32に基づき、第2測定断面CS2の中心位置として中心座標V2(x02,y02)を求める。
As shown in FIG. 17, the
次いで、図18に示すように、解析部29は、中心座標V1(x01,y01)及び中心座標V2(x02,y02)と、既知の高さh(図15参照)とに基づき、下記の[数7]式を用いて、測定基準軸A1に対する中心軸A2の傾斜角度φを求める。
Then, as shown in FIG. 18, the
このように第4実施形態の解析部29は、第1距離検出信号及び第2距離検出信号と位置情報32とに基づき、ワークWの形状として、ワークWの傾斜角度φを求めることができる。これにより、1回のワークWの形状測定が完了する。なお、第1実施形態と同様に、繰り返し制御部30によって、測定制御部28(変位計本体20)と、解析部29とを複数回繰り返し作動させることにより、ワークWの平均形状として、複数回分の傾斜角度φの平均値が得られる。
As described above, the
これ以降の処理は、上記第1実施形態と基本的に同じであるので、具体的な説明は省略する。 Since the subsequent processing is basically the same as that of the first embodiment, specific description thereof will be omitted.
以上のように、第4実施形態の形状測定装置10では、各第1センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向する第1測定断面CS1の外周上の測定点P2までの距離と、各第2センサヘッド18(基準位置P1)から各々に対向する第2測定断面CS2の外周上の測定点P2までの距離と、を非接触で一括して検出できる。これにより、各センサヘッド18に対してワークWを相対回転させることなく、ワークWの形状(傾斜角度φ)を測定できる。その結果、上記第1実施形態と同様の効果が得られる。
As described above, in the
なお、上記第4実施形態では、測定基準軸A1の軸方向位置が互いに異なる8つの基準位置P1を2組設定しているが、3組以上設定して個々の基準位置ごとに距離検出を行い、3以上の各測定断面の中心座標から傾斜角度φを求めてもよい。 In the fourth embodiment, two sets of eight reference positions P1 having different axial positions of the measurement reference axis A1 are set, but three or more sets are set to detect the distance for each reference position. The inclination angle φ may be obtained from the center coordinates of each of the three or more measurement cross sections.
[第4実施形態の変形例]
図19は、第4実施形態の変形例を説明するための説明図である。上記第4実施形態では、全ての基準位置P1にそれぞれセンサヘッド18(第1センサヘッド18及び第2センサヘッド)を配置することにより、センサヘッド18ごとの距離を検出している。
[Modified example of the fourth embodiment]
FIG. 19 is an explanatory diagram for explaining a modified example of the fourth embodiment. In the fourth embodiment, the distances for each
これに対して、図19に示すように、第4実施形態の変形例では、測定基準軸A1を中心として基準位置P1と同じ配置パターンで同一円周上(C1)に配置された8チャンネルのセンサヘッド18を、一体に測定基準軸A1の軸方向(Z軸方向)に移動させる移動部40を備えている。この移動部40は、各センサヘッド18をZ軸方向に沿って基準位置P1に対応する複数の軸方向位置(例えば第1測定断面CS1及び第2測定断面CS2にそれぞれ対応する軸方向位置)に順番に移動させる。
On the other hand, as shown in FIG. 19, in the modified example of the fourth embodiment, eight channels arranged on the same circumference (C1) in the same arrangement pattern as the reference position P1 with the measurement reference axis A1 as the center. A moving
一方、測定制御部28は、変位計本体20を制御して、移動部40が各センサヘッド18を新たな軸方向位置に移動させるごとに、各センサヘッド18への測定光Lの入力と、各センサヘッド18にて受光された測定光Lの検出と、センサヘッド18ごとの距離の検出とを繰り返し実行させる。これにより、測定基準軸A1の互いに異なる軸方向位置ごとに、各センサヘッド18から各々に対向するワークWの外周面内(例えば第1測定断面CS1及び第2測定断面CS2の外周上)の測定点P2までの距離を検出できる。
On the other hand, the
従って、本変形例においても、第4実施形態と同様にワークWの傾斜角度φを求めることができるので、第4実施形態と同様の効果が得られる。さらに、この変形例では、センサヘッド18の配置数を減らすことができると共に、距離検出を行う軸方向位置及び数を任意に調整することができる。 Therefore, also in this modification, the inclination angle φ of the work W can be obtained as in the fourth embodiment, so that the same effect as in the fourth embodiment can be obtained. Further, in this modification, the number of sensor heads 18 arranged can be reduced, and the axial position and number of distance detection can be arbitrarily adjusted.
[第5実施形態の形状測定装置]
次に、本発明の第5実施形態の形状測定装置10について説明を行う。上記各実施形態では、ワークWの形状として、ワークWの内外周面の半径R(直径)及び真円度と、傾斜角度φとを測定しているが、第5実施形態ではワークWの真直度及び円筒度を測定する。
[Shape measuring device of the fifth embodiment]
Next, the
図20は、第5実施形態の形状測定装置10を構成するステージ12及びセンサヘッド18の側面図である。図21は、図20中の21A−21A線に沿う断面図(上段)、21B−21B線に沿う断面図(中段)、及び21C−21C線に沿う断面図(下段)である。なお、第5実施形態の形状測定装置10は、8チャンネルのセンサヘッド18を複数組備えており、上記第4実施形態の形状測定装置10と基本的に同じ構成である。このため、上記第4実施形態と機能又は構成上同一のものについては、同一符号を付してその説明は省略する。
FIG. 20 is a side view of the
図20及び図21に示すように、第5実施形態では、測定基準軸A1に垂直なワークWの複数の測定断面(第1測定断面CS1、第2測定断面CS2、…第N測定断面CSN)の外周の外側に、測定基準軸A1を中心として同一円周上(C1)に等角度間隔で8つの基準位置P1が予め設定されている。各測定断面CS1〜CSNは、測定基準軸A1の軸方向位置が互いに異なっている。 As shown in FIGS. 20 and 21, in the fifth embodiment, a plurality of measurement cross sections of the work W perpendicular to the measurement reference axis A1 (first measurement cross section CS1, second measurement cross section CS2, ... Nth measurement cross section CSN). Eight reference positions P1 are preset on the same circumference (C1) around the measurement reference axis A1 at equal angular intervals on the outside of the outer circumference of the above. The measurement reference axes A1 are different from each other in the axial positions of the measurement cross sections CS1 to CSN.
各センサヘッド18は、第4実施形態と同様に、不図示の支持部材によって各基準位置P1にそれぞれ配置及び支持されている。これにより、測定基準軸A1の互いに異なる軸方向位置において、それぞれ8個のセンサヘッド18が測定基準軸A1を中心として同一円周上(C1)に等角度間隔で配置される。以下、第1測定断面CS1の高さ位置にある各センサヘッド18を「第1センサヘッド18」といい、第2測定断面CS2の高さ位置にある各センサヘッド18を「第2センサヘッド18」といい、第N測定断面CSNの高さ位置にある各センサヘッド18を「第Nセンサヘッド18」という。
Similar to the fourth embodiment, each
各センサヘッド18は、第4実施形態と同様に、出射する測定光Lの光軸OAの方向が既述の方向Dに平行になるように位置姿勢が調整されている。これにより、各センサヘッド18から個別に出射された測定光Lは、各センサヘッド18の各々に対向するワークWの外周面内(第1測定断面CS1〜第N測定断面CSNの外周上)の測定点P2に入射して、各測定点P2で元のセンサヘッド18に向けて反射された後、元のセンサヘッド18により個別に受光される。
The position and orientation of each
第5実施形態の変位計本体20は、センサヘッド18ごとの測定光Lの検出と、センサヘッド18ごとの距離検出とを行う。これにより、変位計本体20は、測定基準軸A1の互いに異なる軸方向位置ごとに、各センサヘッド18から各々に対向するワークWの外周面内(第1測定断面CS1〜第N測定断面CSNの外周上)の測定点P2までの距離を検出できる。変位計本体20は、第1センサヘッド18ごとの距離検出信号(以下、第1距離検出信号という)、第2センサヘッド18ごとの距離検出信号(以下、第2距離検出信号という)、…第Nセンサヘッド18ごとの距離検出信号(以下、第N距離検出信号という)をそれぞれコンピュータ14へ出力する。
The displacement meter
第5実施形態のコンピュータ14に入力された各距離検出信号は、測定制御部28を経て解析部29に入力される(図5参照)。また、第5実施形態の記憶部26には、第1センサヘッド18〜第Nセンサヘッド18の位置情報32が記憶されている。
Each distance detection signal input to the
第5実施形態の解析部29は、変位計本体20から入力された各距離検出信号と、記憶部26から取得した位置情報32とに基づき、ワークWの形状として、ワークWの真直度及び円筒度を求める。
The
最初に解析部29は、第1距離検出信号から第N距離検出信号と、位置情報32とに基づき、上記[数2]式及び[数3]式を用いて、第1測定断面CS1の中心座標V1(x01,y01)、第2測定断面CS2の中心座標V2(x02,y02)、…第N測定断面CSNの中心座標VN(x0N,y0N)をそれぞれ求める。
First, the
次いで、解析部29は、求めた測定断面毎の中心座標V1(x01,y01)〜中心座標VN(x0N,y0N)に基づき、下記の[数8]式を用いて、個々の中心座標を中心とした各測定断面の半径R0iを求める。
Next, the
そして、解析部29は、上記[数8]式で求めた各測定断面の半径R0iの最大値と最小値との差分を、ワークWの真直度として求める。また、解析部29は、各測定断面の半径R0iに基づき、各測定断面の直径(D0i,i=1,2,…N)を求め、各測定断面の直径の最大値と最小値との差分(Dmax−Dmin)を、ワークWの円筒度として求める。これにより、ワークWの形状として、ワークWの真直度及び円筒度を測定できる。
Then, the
以上で1回のワークWの形状測定が完了する。なお、第1実施形態と同様に、繰り返し制御部30によって、測定制御部28(変位計本体20)と、解析部29とを複数回繰り返し作動させることにより、ワークWの平均形状として、複数回分の真直度の平均値と円筒度の平均値とが得られる。
This completes one work W shape measurement. As in the first embodiment, the
これ以降の処理は、上記各実施形態と基本的に同じであるので、具体的な説明は省略する。 Since the subsequent processing is basically the same as that of each of the above embodiments, specific description thereof will be omitted.
以上のように、第5実施形態の形状測定装置10では、測定基準軸A1の互いに異なる軸方向位置ごとに、各センサヘッド18から各々に対向するワークWの外周面内の測定点P2までの距離を非接触で一括して検出できる。これにより、センサヘッド18に対してワークWを相対回転させることなく、ワークWの形状(真直度及び円筒度)を測定できる。その結果、上記第1実施形態と同様の効果が得られる。
As described above, in the
なお、既述の図19に示した第4実施形態の変形例と同様に、測定基準軸A1を中心として基準位置P1と同じ配置パターンで同一円周上(C1)に配置された8チャンネルのセンサヘッド18を、移動部40により測定基準軸A1の互いに異なる軸方向位置に順番に移動させながら、軸方向位置ごとに距離検出を行ってもよい。これにより、センサヘッド18の配置数を減らすことができると共に、距離検出を行う軸方向位置及び数を任意に調整することができる。
Similar to the modified example of the fourth embodiment shown in FIG. 19 described above, the eight channels arranged on the same circumference (C1) in the same arrangement pattern as the reference position P1 with the measurement reference axis A1 as the center. The
[その他]
上記各実施形態の構成を適宜組み合わせてもよい。また、上記第4実施形態及び第5実施形態では、ワークWの内周面の各測定点P2までの距離検出を行ったり、ワークWの外周面及び内周面の双方の各測定点P2までの距離検出を行ったりすることにより、ワークWの各種形状を測定してもよい。
[others]
The configurations of the above embodiments may be combined as appropriate. Further, in the fourth and fifth embodiments, the distance to each measurement point P2 on the inner peripheral surface of the work W is detected, and up to each measurement point P2 on both the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the work W. Various shapes of the work W may be measured by detecting the distance of the work W.
上記各実施形態では、各センサヘッド18が個別に受光した測定光Lを変位計本体20で検出(光電変換)しているが、各センサヘッド18において測定光Lの検出を行ってもよい。また、変位計本体20において、センサヘッド18ごとの測定光Lの検出結果に基づきセンサヘッド18ごとの距離を検出する代わりに、コンピュータ14において距離検出を行ったり、或いは各センサヘッド18の代わりに公知の測距計(変位計)をそれぞれ設けたりしてもよい。
In each of the above embodiments, the measurement light L individually received by each
上記各実施形態の非接触変位計13は、測定光Lを用いてセンサヘッド18ごとの距離を検出しているが、測定光L以外の各種信号(音波等)を用いる各種の非接触式の距離検出部によって距離検出を行ってもよい。また、非接触式の距離検出部の代わりに、例えば、公知の接触式の三次元測定機及び真円度測定機等に設けられているプローブで距離検出を行う接触式の距離検出部を用いてもよい。
The
上記各実施形態では、測定基準軸A1を中心として同一円周上にセンサヘッド18(基準位置P1)が等角度間隔で配置されているが、同一円周上であれば各センサヘッド18の配置位置は特に限定はされない。なお、ワークWのワークの位置、姿勢、及び種類(形状)によらずワークWの形状を高精度に測定するためには、周面(被測定面)の測定点の位置(距離及び角度位置)を等間隔で取得することが好ましい。従って、各センサヘッド18は上記各実施形態に示したように、測定基準軸A1を中心として同一円周上に等角度間隔で配置することが好ましい。 In each of the above embodiments, the sensor heads 18 (reference positions P1) are arranged at equal intervals on the same circumference centering on the measurement reference axis A1, but if they are on the same circumference, the sensor heads 18 are arranged. The position is not particularly limited. In order to measure the shape of the work W with high accuracy regardless of the position, posture, and type (shape) of the work of the work W, the position (distance and angle position) of the measurement point on the peripheral surface (measured surface) ) Are preferably obtained at equal intervals. Therefore, as shown in each of the above embodiments, it is preferable that the sensor heads 18 are arranged at equal angular intervals on the same circumference with the measurement reference axis A1 as the center.
上記各実施形態では、円筒状のワークWの形状を測定する場合を例に挙げて説明したが、円柱状のワークW、周面(外周面又は内周面等)を一部に含んだワークWの形状を測定する場合にも本発明を適用できる。また、本発明は、各種形状の被測定面を有する各種形状のワークWの形状を測定する場合にも適用できる。 In each of the above embodiments, the case of measuring the shape of the cylindrical work W has been described as an example, but the cylindrical work W and the work including the peripheral surface (outer peripheral surface or inner peripheral surface, etc.) are partially included. The present invention can also be applied when measuring the shape of W. The present invention can also be applied to the case of measuring the shape of a work W having various shapes having various shapes of surfaces to be measured.
上記各実施形態では、ワークWの形状として、半径R(直径)、真円度、傾斜角度φ、真直度、及び円筒度を例に挙げて説明したが、他の形状(寸法を含む)を測定する場合にも本発明を適用できる。 In each of the above embodiments, the radius R (diameter), roundness, inclination angle φ, straightness, and cylindricity have been described as examples of the shape of the work W, but other shapes (including dimensions) have been described. The present invention can also be applied to the case of measurement.
10…形状測定装置,12a…基準平面,13…非接触変位計,14…コンピュータ,18…センサヘッド,20…変位計本体,25…制御部,29…解析部,30…繰り返し制御部,32…位置情報,35…反射体 10 ... Shape measuring device, 12a ... Reference plane, 13 ... Non-contact displacement meter, 14 ... Computer, 18 ... Sensor head, 20 ... Displacement meter body, 25 ... Control unit, 29 ... Analysis unit, 30 ... Repeat control unit, 32 … Position information, 35… Reflector
Claims (13)
前記基準平面に垂直な測定基準軸を中心とする同一円周上に3以上設定された基準位置ごとに、前記基準位置から前記基準位置に対向する前記ワークの被測定面内の測定点までの距離を検出する距離検出部と、
前記測定基準軸に対する個々の前記基準位置の既知の位置情報と、前記距離検出部が検出した前記基準位置ごとの前記距離とに基づき、前記ワークの形状を求める解析部と、
を備え、
前記距離検出部に対して前記ワークを相対回転させることなく前記距離検出部による前記距離の検出を行った結果に基づき、前記解析部が前記ワークの形状を求める形状測定装置。 The reference plane on which the work is placed and
From the reference position to the measurement point in the measured surface of the work facing the reference position for each reference position set on the same circumference centered on the measurement reference axis perpendicular to the reference plane. A distance detector that detects the distance and
An analysis unit that obtains the shape of the work based on known position information of each reference position with respect to the measurement reference axis and the distance for each reference position detected by the distance detection unit.
Equipped with a,
A shape measuring device in which the analysis unit obtains the shape of the work based on the result of detecting the distance by the distance detection unit without rotating the work relative to the distance detection unit.
前記解析部は、複数回求めた前記ワークの形状を平均化した平均形状を求める請求項1又は2に記載の形状測定装置。 A repeat control unit for repeatedly operating the distance detection unit and the analysis unit a plurality of times is provided.
The shape measuring device according to claim 1 or 2, wherein the analysis unit obtains an average shape obtained by averaging the shapes of the work obtained a plurality of times.
前記距離検出部は、前記測定部による前記測定点ごとの前記信号の検出結果に基づき、前記基準位置ごとの前記距離を検出する請求項1から3のいずれか1項に記載の形状測定装置。 Each reference position is provided with a measurement unit that incidents a signal from the reference position to the measurement point facing the reference position and individually detects the signal reflected at each measurement point.
The shape measuring device according to any one of claims 1 to 3, wherein the distance detecting unit detects the distance for each reference position based on the detection result of the signal for each measuring point by the measuring unit.
前記基準位置から前記測定点に入射する前記測定光の光軸の方向は、前記基準位置及び前記測定基準軸を含む面内において前記測定基準軸に対して垂直な方向である請求項4に記載の形状測定装置。 The signal is measurement light and
The fourth aspect of claim 4 is that the direction of the optical axis of the measurement light incident on the measurement point from the reference position is a direction perpendicular to the measurement reference axis in the plane including the reference position and the measurement reference axis. Shape measuring device.
前記基準位置は、前記内周面の内側において前記同一円周上に3以上設定されており、
前記測定部は、
前記基準位置ごとに個別に設けられた複数の反射体と、
前記基準平面に対して垂直方向に間隔をあけて配置された複数の光学ユニットであって、前記同一円周上で且つ個々の前記反射体に対向する位置に個別に配置された複数の光学ユニットと、を備え、
前記光学ユニットごとに、前記光学ユニットに対向する前記反射体への前記測定光の出射と、前記光学ユニットに対向する前記反射体から入射する前記測定光の検出と、を行い、
前記反射体ごとに、前記反射体に対向する前記光学ユニットから入射した前記測定光を反射して前記反射体に対向する前記測定点に入射させ、前記測定点にて反射された前記測定光を前記反射体に対向する前記光学ユニットに向けて反射し、
前記距離検出部は、前記基準位置及び前記光学ユニットの間の既知の前記間隔の大きさと、前記光学ユニットごとの前記測定光の検出結果とに基づき、前記基準位置ごとの前記距離を検出する請求項5に記載の形状測定装置。 When the work is cylindrical and the surface to be measured is the inner peripheral surface of the work.
The reference position is set to 3 or more on the same circumference inside the inner peripheral surface.
The measuring unit
A plurality of reflectors individually provided for each reference position, and
A plurality of optical units arranged at intervals in the direction perpendicular to the reference plane, and a plurality of optical units individually arranged on the same circumference and at positions facing the individual reflectors. And with
For each of the optical units, the measurement light is emitted to the reflector facing the optical unit, and the measurement light incident from the reflector facing the optical unit is detected.
For each reflector, the measurement light incident from the optical unit facing the reflector is reflected and incident on the measurement point facing the reflector, and the measurement light reflected at the measurement point is reflected. Reflects toward the optical unit facing the reflector,
The distance detection unit detects the distance for each reference position based on the size of the known distance between the reference position and the optical unit and the detection result of the measurement light for each optical unit. Item 5. The shape measuring device according to Item 5.
前記解析部は、前記基準位置ごとの前記位置情報及び前記距離に基づき、前記ワークの形状として、前記周面の半径及び前記周面の真円度を求める請求項1から8のいずれか1項に記載の形状測定装置。 When the work has a peripheral surface and the surface to be measured is the peripheral surface,
The analysis unit obtains the radius of the peripheral surface and the roundness of the peripheral surface as the shape of the work based on the position information and the distance for each reference position. Any one of claims 1 to 8. The shape measuring device according to.
前記距離検出部は、前記基準位置ごとに前記距離の検出を行う請求項1から7のいずれか1項に記載の形状測定装置。 The reference position is set to 3 or more on the same circumference having a plurality of different axial positions of the measurement reference axis.
The shape measuring device according to any one of claims 1 to 7, wherein the distance detecting unit detects the distance for each reference position.
前記解析部は、前記位置情報と、前記距離検出部が検出した前記基準位置ごとの前記距離とに基づき、前記軸方向位置ごとに前記周面の中心位置を求め、前記軸方向位置ごとの前記中心位置に基づき、前記ワークの形状として、前記測定基準軸に対する前記ワークの傾斜角度を求める請求項10に記載の形状測定装置。 When the work is cylindrical or cylindrical and the surface to be measured is at least one of the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the work.
The analysis unit obtains the center position of the peripheral surface for each axial position based on the position information and the distance for each reference position detected by the distance detection unit, and the analysis unit obtains the center position of the peripheral surface for each axial position. The shape measuring device according to claim 10, wherein the shape of the work is an inclination angle of the work with respect to the measurement reference axis based on the center position.
前記解析部は、前記位置情報と、前記距離検出部が検出した前記基準位置ごとの前記距離とに基づき、前記軸方向位置ごとに前記周面の半径を求め、前記軸方向位置ごとの前記半径に基づき、前記ワークの形状として、真直度及び円筒度を求める請求項10に記載の形状測定装置。 When the work is cylindrical or cylindrical and the surface to be measured is at least one of the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the work.
The analysis unit obtains the radius of the peripheral surface for each axial position based on the position information and the distance for each reference position detected by the distance detection unit, and the radius for each axial position. The shape measuring device according to claim 10, wherein straightness and cylindricity are obtained as the shape of the work based on the above.
前記基準平面に垂直な測定基準軸を中心とする同一円周上に3以上設定された基準位置ごとに、前記基準位置から前記基準位置に対向する前記ワークの被測定面内の測定点までの距離を検出する距離検出ステップと、
前記測定基準軸に対する個々の前記基準位置の既知の位置情報と、前記距離検出ステップで検出した前記基準位置ごとの前記距離とに基づき、前記ワークの形状を求める解析ステップと、
を有し、
前記基準位置に対して前記ワークを相対回転させることなく前記距離検出ステップで前記距離の検出を行った結果に基づき、前記解析ステップで前記ワークの形状を求める形状測定方法。 In the shape measurement method for measuring the shape of a work placed on a reference plane,
From the reference position to the measurement point in the measured surface of the work facing the reference position for each reference position set on the same circumference centered on the measurement reference axis perpendicular to the reference plane. Distance detection step to detect distance and
An analysis step for obtaining the shape of the work based on known position information of each reference position with respect to the measurement reference axis and the distance for each reference position detected in the distance detection step.
Have a,
A shape measuring method for obtaining the shape of the work in the analysis step based on the result of detecting the distance in the distance detection step without rotating the work relative to the reference position.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017063444A JP6924953B2 (en) | 2017-03-28 | 2017-03-28 | Shape measuring device and shape measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017063444A JP6924953B2 (en) | 2017-03-28 | 2017-03-28 | Shape measuring device and shape measuring method |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018165688A JP2018165688A (en) | 2018-10-25 |
JP2018165688A5 JP2018165688A5 (en) | 2020-04-30 |
JP6924953B2 true JP6924953B2 (en) | 2021-08-25 |
Family
ID=63922873
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017063444A Active JP6924953B2 (en) | 2017-03-28 | 2017-03-28 | Shape measuring device and shape measuring method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6924953B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7223939B2 (en) * | 2019-03-28 | 2023-02-17 | 株式会社東京精密 | Shape measuring machine and its control method |
WO2021240711A1 (en) * | 2020-05-28 | 2021-12-02 | オリンパス株式会社 | Rotation accuracy measurement method, rotation accuracy measurement device, three-dimensional shape measurement method, three-dimensional shape measurement device, and optical device |
CN114370823B (en) * | 2022-01-12 | 2023-06-27 | 中冶赛迪信息技术(重庆)有限公司 | Method for obtaining radial dimension of straight cylindrical material |
CN118294050B (en) * | 2024-04-25 | 2024-09-17 | 昆山朗德森机电科技有限公司 | High-precision torque sensor |
Family Cites Families (6)
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---|---|---|---|---|
JPH0495807A (en) * | 1990-08-13 | 1992-03-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Measuring apparatus for inner diameter of pipe |
JP2001033233A (en) * | 1999-07-23 | 2001-02-09 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Test method for tubular and bar-like object to be tested |
JP2004045206A (en) * | 2002-07-11 | 2004-02-12 | Kobe Steel Ltd | Measuring instrument for measuring dimension of cylindrical object |
JP2004101344A (en) * | 2002-09-09 | 2004-04-02 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | Measuring device for cylindrical material |
JP2007024646A (en) * | 2005-07-14 | 2007-02-01 | Daido Gakuen | Optical measuring instrument |
JP5939477B1 (en) * | 2015-03-31 | 2016-06-22 | 株式会社東京精密 | Shape measuring device |
-
2017
- 2017-03-28 JP JP2017063444A patent/JP6924953B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018165688A (en) | 2018-10-25 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210121 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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