JP6911430B2 - 画像読取装置及び半導体装置 - Google Patents

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Description

本発明は、画像読取装置及び半導体装置に関する。
ラインセンサーを用いた画像読取装置(スキャナー等)や、これに印刷機能を加えたコピー機や複合プリンターなどが開発されている。画像読取装置に用いられるラインセンサーとしては、半導体基板に設けられたフォトダイオードを用いる構成がある。
また、画像読取装置(スキャナー等)で読み取る媒体に、蛍光ペンなどで蛍光色が着色されている場合がある。蛍光色は、照射された光の波長を反射することに加え、照射された光と異なる波長の光を蛍光体が自ら発光する。このため、媒体の蛍光色が塗られた領域において、元の色が正しく読み取れない可能性があった。
特許文献1には、蛍光色が着色された画像(媒体)の読み取りに際して専用の画像処理を行うことで、蛍光色の再現性の向上を図る技術が公開されている。
特許第5697647号公報
しかしながら、特許文献1に記載の画像形成装置では、蛍光色の画像を読み取るための専用の処理を必要とするため、制御が複雑となる。さらに、ユーザーによる制御の設定などが必要であり、操作が煩雑となるといった問題がある。
本発明は、以上のような問題に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、ユーザーによる煩雑な操作や、画像読取装置の複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む画像の再現性を向上させた画像読取装置を提供することができる。また、本発明の幾つかの態様によれば、蛍光色を含む画像の再現性を向上させた半導体装置を提供することができる。
本発明は、前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様又は適用例として実現することが可能である。
[適用例1]
本適用例に係る画像読取装置は、蛍光色を含む画像を読み取る画像読取装置であって、第1波長に最大発光強度を有する第1光源と、前記第1波長よりも長波長である第2波長に最大発光強度を有する第2光源と、前記画像を読み取る画像読取チップと、を備え、前記画像読取チップは、前記画像からの光を受けて光電変換する受光素子を含む画素を有し、前記受光素子が光電変換する分光感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大である。
本適用例に係る画像読取装置では、画像読取チップにおいて、画像からの光を受けて光電変換する受光素子の分光感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大となる。すなわち、受光素子は、500nmを超える長波長側において分光感度が低下
する。これにより受光素子は、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することが可能となる。よって、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む画像の再現性を向上させることができる。
また、本適用例に係る画像読取装置では、画像読取チップにおいて、受光素子の分光感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大となる。すなわち、受光素子の最大感度は青の波長域を含む領域で最大となる。光の3原色(赤、緑、青)における最も短波長な青の波長域に、受光素子の最大感度を設けることで、様々な色の蛍光を含む画像の再現性を向上させることができる。
[適用例2]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1波長は、400nm以上500nm以下であって、前記受光素子が光電変換する分光感度は、前記第1波長よりも短波長側において分光感度が最大となってもよい。
本適用例に係る画像読取装置では、画像読取チップにおいて、受光素子の分光感度は、短波長側の第1光源から出力される第1波長よりも短波長側で最大となる。これにより、受光素子は、短波長側の光を出力する第1光源の発光により生じた画像からの反射光に対し、蛍光の影響を低減することが可能となる。すなわち、受光素子は、第1光源及び第2光源のいずれが発光しても、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することが可能となる。よって、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む画像の再現性を、さらに向上させることが可能となる。
[適用例3]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記受光素子は、n型の半導体基板に形成されてもよい。
本適用例に係る画像読取装置では、画像読取チップにおいて、受光素子は、n型の半導体基板上に形成される。これにより、受光素子の深部で光電変換された電荷は、正電位に引き寄せられ、受光素子から出力されない。すなわち、受光素子は、長波長側の分光感度を低下することが可能となる。これにより受光素子は、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響をさらに低減することが可能となる。よって、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む画像の再現性をさらに向上させることが可能となる。
[適用例4]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1光源の点灯時間は、前記第2光源の点灯時間より短くてもよい。
本適用例に係る画像読取装置では、短波長側で光を生じる第1光源は、長波長側で光を生じる第2光源よりも点灯時間が短い。これにより、受光素子の分光感度が高い短波長側と、受光素子の分光感度の低い長波長側とで、受光素子が検出する受光量を同等にすることが可能となり、受光素子が検出する信号の分解能を高くすることができる。これにより、画像の読み取り性能をさらに向上させることが可能となる。
[適用例5]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記第1光源の発光強度は、前記第2光源の発光強度より弱くてもよい。
本適用例に係る画像読取装置では、短波長側で光を生じる第1光源は、長波長側で光を
生じる第2光源よりも発光強度が弱い。これにより、受光素子の分光感度が高い短波長側と、受光素子の分光感度が低い長波長側と、で受光素子が検出する受光量を同等にすることが可能となり、受光素子が検出する信号の分解能を高くすることができる。これにより、画像の読み取り性能をさらに向上させることが可能となる。
[適用例6]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記受光素子が700nmの波長の光を光電変換する分光感度は前記第1波長の光を光電変換する分光感度の0.7倍以下であってもよい。
[適用例7]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記受光素子が700nmの波長の光を光電変換する分光感度は、前記第1波長の光を光電変換する分光感度の0.5倍以下であってもよい。
[適用例8]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記受光素子が600nmの波長の光を光電変換する分光感度は、前記第1波長の光を光電変換する分光感度の0.85倍以下であってもよい。
これらの適用例に係る画像読取装置では、画像読取チップにおいて、受光素子は、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響をさらに低減することが可能となる。よって、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む画像の再現性をさらに向上させることが可能となる。
例えば、波長が700nmにおける受光素子の分光感度は、第1波長における受光素子の分光感度に対し、0.7倍以下とすることで、受光素子は、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することが可能となる。よって、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む画像の再現性を向上できる可能性がある。
さらに、波長が700nmにおける受光素子の分光感度を、第1波長における受光素子の分光感度に対し、0.5倍以下とすることで、受光素子は、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を、さらに低減することが可能となる。よって、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む画像の再現性をさらに向上できる可能性がある。
また、波長が600nmにおける受光素子の分光感度を、第1波長における受光素子の分光感度に対し、0.85倍以下とすることで、受光素子の分光感度が最大となる波長から、700nmの波長まで、受光素子の検出感度を徐々に低下することが可能となる。よって、受光素子は、幅広い波長域において、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響をさらに低減することが可能となる。よって、蛍光色を含む画像の再現性をさらに向上させることが可能となる。
[適用例9]
上記適用例に係る画像読取装置において、前記蛍光色は、蛍光ペンで塗られた領域であり、前記画像は、前記蛍光ペンで塗られた領域を含んでもよい。
受光素子の分光感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大となる。すなわち、受光素子の最大感度は青の波長域を含む領域で最大となる。光の3原色(赤、緑、青)において、最も短波長である青の波長域に受光素子の最大感度を設けることで
、様々な蛍光色を含む蛍光ペンにおいても、再現性を向上させることが可能となる。
[適用例10]
本適用例に係る半導体装置は、画像からの光を受けて光電変換する受光素子を含む画素を有し、前記受光素子が光電変換する分光感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大である。
本適用例に係る半導体装置において、受光素子の分光感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大となる。すなわち、受光素子の500nmを超える長波長側での分光感度が低下する。これにより受光素子は、検出すべき画像からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することが可能となる。よって、蛍光色を含む画像の再現性を向上させることができる。
また、本適用例に係る半導体装置では、受光素子の分光感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大となる。すなわち、受光素子の最大感度は青の波長域を含む領域で最大となる。光の3原色において、最も短波長である青の波長域に受光素子の最大感度を設けることで、様々な色の蛍光を含む画像の再現性を向上させることができる。
本実施形態に係る複合機を示した外観斜視図である。 スキャナーユニットの内部構造を示した斜視図である。 イメージセンサーモジュールの構成を模式的に示す分解斜視図である。 画像読取チップの配置を模式的に示す平面図である。 スキャナーユニットの機能構成を示すブロック図である。 画像読取チップの回路構成を示すブロック図である。 画素回路及び列処理回路の構成を示す回路構成図である。 信号処理回路の動作のタイミングを示すタイミングチャート図である。 本実施形態における受光素子の分光感度を説明するための図である。 本実施形態における受光素子の分光感度の測定結果の一例を示す図である。 本実施形態における受光素子の構造を説明するための図である。
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。用いる図面は説明の便宜上のものである。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
以下、添付した図面を参照して、本発明の画像読取装置を適用した複合機(複合装置)1について説明する。
1.複合機の概要
図1は、複合機1を示した外観斜視図である。図1に示すように、複合機1は、装置本体であるプリンターユニット(画像記録装置)2と、プリンターユニット2の上部に配設されたアッパーユニットであるスキャナーユニット(画像読取装置)3と、を一体に備えている。なお、以下、図1においての前後方向を主走査方向Xとし、左右方向を副走査方向Yとして説明する。また、主走査方向Xと副走査方向Yとは互いに直交するX,Yとして図面に記載する。
図1に示すように、プリンターユニット2は、枚葉の記録媒体(印刷用紙や単票紙)を送り経路に沿って送る搬送部(不図示)と、送り経路の上方に配設され、記録媒体にインクジェット方式で印刷処理を行う印刷部(不図示)と、前面に配設されたパネル形式の操作部63と、搬送部、印刷部及び操作部63を搭載した装置フレーム(不図示)と、これらを覆う装置ハウジング65と、を備えている。装置ハウジング65には、印刷を終えた記録媒体が排出される排出口66が設けられている。また、図示省略するが、後面下部には、USBポート及び電源ポートが配設されている。すなわち、複合機1は、USBポートを介してコンピューター等に接続可能に構成されている。
スキャナーユニット3は、後端部のヒンジ部4を介してプリンターユニット2に回動自在に支持されており、プリンターユニット2の上部を開閉自在に覆っている。すなわち、スキャナーユニット3を回動方向に引き上げることで、プリンターユニット2の上面開口部を露出させ、当該上面開口部を介して、プリンターユニット2の内部が露出させる。一方、スキャナーユニット3を回動方向に引き降ろし、プリンターユニット2上に載置することで、スキャナーユニット3によって当該上面開口部を閉塞する。このように、スキャナーユニット3を開放することで、インクカートリッジの交換や紙詰まりの解消等が可能な構成となっている。
図2は、スキャナーユニット3の内部構造を示した斜視図である。図1及び図2に示されるように、スキャナーユニット3は、筐体であるアッパーフレーム11と、アッパーフレーム11に収容された画像読取部12と、アッパーフレーム11の上部に回動自在に支持された上蓋13と、を備えている。アッパーフレーム11は、画像読取部12を収容する箱型の下ケース16と、下ケース16の天面を覆う上ケース17と、を備えている。
上ケース17には、ガラス製の原稿載置板が広く配設されており、被読取面を下にした媒体(「画像」の一例)をこれに載置する。一方、下ケース16は、上面を開放した浅い箱状に形成されている。
図2に示されるように、画像読取部12は、ラインセンサー方式のセンサーユニット31と、センサーユニット31を搭載したセンサーキャリッジ32と、副走査方向Yに延在し、センサーキャリッジ32をスライド自在に支持するガイド軸33と、センサーキャリッジ32をガイド軸33に沿って移動する自走式のセンサー移動機構34と、を備えている。センサーユニット31は、主走査方向Xに延在したCMOS(Complementary metal−oxide−semiconductor)ラインセンサーであるイメージセンサーモジュール41を有し、モーター駆動のセンサー移動機構34により、ガイド軸33に沿って副走査方向Yに往復動する。これにより、原稿載置板上の媒体の画像を読み取るようになっている。なお、センサーユニット31は、CCD(Charge
Coupled Device)ラインセンサーであってもよい。
図3は、イメージセンサーモジュール41の構成を模式的に示す分解斜視図である。
図3に示される例では、イメージセンサーモジュール41は、ケース411、光源412、光学部413、モジュール基板414及び媒体を読み取るための画像読取チップ415(半導体装置)を含んで構成されている。光源412、光学部413及び画像読取チップ415は、ケース411とモジュール基板414との間に収容されている。ケース411にはスリットが設けられている。光源412は、例えば、赤,緑,青の各発光ダイオード(LED:Light emitting diode)を有し、赤,緑,青の各発光ダイオード(赤色LED、緑色LED、青色LED)を高速に切り換えながら排他的に発光させる。光源412が発する光は、当該スリットを介して読取対象の媒体に照射され、媒体で反射した光は当該スリットを介して光学部413に入力される。光学部413は、
入力された光を画像読取チップ415へと導く。
図4は、画像読取チップ415の配置を模式的に示す平面図である。図4に示されるように、複数の画像読取チップ415が、モジュール基板414上に1次元方向(図4においては主走査方向X)に並べて配置されている。各画像読取チップ415は、一列に配置された多数の受光素子を有しており、各画像読取チップ415が有する受光素子の密度が高いほど、媒体を読み取る解像度が高いスキャナーユニット3を実現することができる。また、画像読取チップ415の数が多いほど、大きな媒体も読み取り可能なスキャナーユニット3を実現することができる。
2.画像読取装置の機能構成
図5は、スキャナーユニット3の機能構成図である。図5に示される例では、スキャナーユニット3は、読取制御回路200、アナログフロンエンド(AFE)202、光源412、複数の画像読取チップ415(415‐1〜415‐n)、電圧生成回路421、を含んで構成されている。前述したように、光源412は赤色LED412R(「第2光源」の一例)、緑色LED412G、及び青色LED412B(「第1光源」の一例)を備えており、複数の画像読取チップ415は、モジュール基板414上に並べて配置されている。また、読取制御回路200、アナログフロンエンド202、電圧生成回路421は、モジュール基板414あるいはモジュール基板414とは異なる不図示の基板に備えられてもよく、また、読取制御回路200、アナログフロンエンド202及び電圧生成回路421のそれぞれが、集積回路(IC:Integrated Circuit)で構成されてもよい。
読取制御回路200は、媒体の読取周期Tにおいて、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのいずれか1つを発光させる。例えば、ある読取周期Tにおいて、読取制御回路200は、一定の露光時間ΔtRだけ駆動信号DrvRを供給し、赤色LED412Rを発光させる。また、異なる読取周期Tにおいて、読取制御回路200は、一定の露光時間ΔtGだけ駆動信号DrvGを供給して緑色LED412Gを発光さる。また、異なる読取周期Tにおいて、読取制御回路200は、一定の露光時間ΔtBだけ駆動信号DrvBを供給して青色LED412Bを発光させる。
また、読取制御回路200は、複数の画像読取チップ415に対して、クロック信号CLK及び解像度設定信号RESを共通に供給する。クロック信号CLKは画像読取チップ415の動作クロック信号であり、解像度設定信号RESは、スキャナーユニット3による媒体の読取解像度を設定するための信号である。解像度設定信号RESは、例えば、2ビットの信号であり、”00”のときは1200dpi、”01”のときは600dpi、”10”のときは300dpiの各解像度に設定する方式であってもよい。
画像読取チップ415(415‐1〜415‐n)は、モジュール基板414上にn個並べて配置されている。画像読取チップ415は、チップイネーブル信号CEi(i=1〜n)がアクティブ(本実施形態ではハイパルス)になると、クロック信号CLKに同期して動作する。画像読取チップ415(415‐1〜415‐n)は、光源412が照射し被読取媒体で反射した光を、受光素子111(図参照)で検出し、電気信号に変換する。そして、画像読取チップ415(415‐1〜415‐n)は、解像度設定信号RESによって設定された解像度に基づき、画像情報を有する画像信号OSi(i=1〜n)を生成し出力する。
電圧生成回路421は、画像読取チップ415(415‐1〜415‐n)を動作させるための様々な電源を供給する。
アナログフロンエンド202は、複数の画像読取チップ415(415‐1〜415‐n)が出力する画像信号OSi(i=1〜n)を受信し、受信した画像信号OSi(i=1〜n)に対して、増幅処理やA/D変換処理を行って、受光素子111の受光量に応じたデジタル値を含むデジタル信号に変換する。そして、アナログフロンエンド202は、各デジタル信号を順番に読取制御回路200に送信する。
読取制御回路200は、アナログフロンエンド202から順次送信される各デジタル信号を受け取り、イメージセンサーモジュール41の読取画像情報を生成する。
3.画像読取チップの構成及び動作
本実施形態おける画像読取チップ415の構成及び動作を図6、図7、図8を用いて行う。なお、イメージセンサーモジュール41に構成される複数の画像読取チップ415(415‐1〜415‐n)は全て同じ構成であるため、画像読取チップ415として説明を行う。また、画像読取チップ415‐i(i=1〜n)に入力されるチップイネーブル信号CEi(i=1〜n)をチップイネーブル信号CE_inとして説明を行い、画像読取チップ415‐i(i=1〜n)から出力されるチップイネーブル信号CEi+1(i=1〜n)をチップイネーブル信号CE_outとして説明を行う。また、画像読取チップ415‐i(i=1〜n)から出力される画像信号OSi(i=1〜n)を画像信号OSとして説明を行う。また、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bは、いずれの光源であるか区別する必要がないときは、光源412として説明を行う。なお、このときの光源の点灯時間を露光時間Δt、点灯時間を制御する信号を駆動信号Drvとして説明を行う。
図6は、画像読取チップ415の回路構成を示す図である。図6に示される画像読取チップ415は、駆動制御回路310、2つの信号処理回路103−1,103―2、演算増幅器104及び出力走査回路180を備える。
駆動制御回路310は、タイミング制御回路100、駆動回路101を含み構成される。
タイミング制御回路100は、クロック信号CLKのパルスをカウントする不図示のカウンターを有し、当該カウンターの出力値(カウント値)に基づいて、駆動回路101の動作を制御する制御信号、出力走査回路180を制御する制御信号及び後述する走査回路170の動作を制御する走査信号SCAを生成する。
また、タイミング制御回路100は、チップイネーブル信号CE_inが入力されたとき、画像読取チップ415の動作をアクティブとする。そして、タイミング制御回路100は、画像読取チップ415の処理が完了し、次段の画像読取チップ415又は読取制御回路200(図5参照)に対しチップイネーブル信号CE_outを出力した後、画像読取チップ415の動作を非アクティブとする。
駆動回路101は、タイミング制御回路100からの制御信号に基づいて、所定のタイミングで一定時間アクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる、クロック信号CLKに同期したバイアス電流オン信号Ib_ONを発生させる。このバイアス電流オン信号Ib_ONは、2つの信号処理回路103−1,103−2の各々が有するm個の画素回路110(110−1〜110−m)に共通に供給される。
また、駆動回路101は、タイミング制御回路100からの制御信号に基づいて、所定のタイミングで一定時間アクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる、クロック信号CLKに同期した画素リセット信号RST_PIX及び列リセット信号RST_COLを
発生させる。この画素リセット信号RST_PIXは、2つの信号処理回路103−1,103−2の各々が有するm個の画素回路110(110−1〜110−m)に共通に供給される。また、列リセット信号RST_COLは、2つの信号処理回路103−1,103−2の各々が有するm個の列処理回路120(120−1〜120−m)に共通に供給される。
また、駆動回路101は、タイミング制御回路100からの制御信号に基づいて、所定のタイミングで一定時間アクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる、クロック信号CLKに同期した転送信号TX及び読み出し信号READを発生させる。転送信号TXは、2つの信号処理回路103−1,103−2の各々が有するm個の画素回路110(110−1〜110−m)に共通に供給される。また、読み出し信号READは、2つの信号処理回路103−1,103−2の各々が有するm個の列処理回路120(120−1〜120−m)に共通に供給される。
2つの信号処理回路103−1,103−2は、同じ構成であり、それぞれ、m個の画素回路110(110−1〜110−m)と、m個の列処理回路120(120−1〜120−m)と、増幅回路130と、スイッチ140と、を含んで構成されている。
m個の画素回路110(110−1〜110−m)(「画素」の一例)は、それぞれ、光源412の発光によって露光時間Δtの間に媒体から受けた光に応じた電圧の画素信号PIXO1〜PIXOmを出力する。
m個の列処理回路120(120−1〜120−m)は、増幅回路150と、保持回路160と、走査回路170と、を含み構成される。
m個の列処理回路120(120−1〜120−m)は、m個の画素回路110(110−1〜110−m)のそれぞれから出力される画素信号PIXO1〜PIXOmを、増幅回路150で増幅し、増幅した電圧を、読み出し信号READに従い保持回路160に記憶する。そして、走査回路170に入力される走査信号SCAに基づき保持回路160に記憶された電圧に応じた画像信号VDO1〜VDOmを増幅回路130に順次出力する。
ここで、本実施形態では、m個の列処理回路120(120−1〜120−m)のそれぞれに含まれる走査回路170は、タイミング制御回路100から入力される走査信号SCAにより順次動作する。具体的には、走査回路170は例えばシフトレジスターを含み構成される。そして、例えば、列処理回路120‐j(j=1〜m−1)に含まれる走査回路170に、走査信号SCAが入力されたとき、画像信号VDOj(j=1〜m−1)を増幅回路130に出力し、走査信号SCAを、列処理回路120‐j+1(j=1〜m−1)に対して出力する。そして、走査信号SCAは、列処理回路120‐j+1(j=1〜m−1)に含まれる走査回路170に入力され、列処理回路120‐j+1(j=1〜m−1)は、画像信号VDOj+1(i=1〜m−1)を増幅回路130に出力する。
増幅回路130は、演算増幅器131、コンデンサー132、スイッチ133、スイッチ134及びスイッチ135を含んで構成されている。
演算増幅器131は、例えば、複数のMOSトランジスターから構成されるソース接地型の増幅器である。コンデンサー132は、演算増幅器131の帰還用コンデンサーである。スイッチ133は、演算増幅器131の帰還用スイッチである。スイッチ134は、演算増幅器131の帰還信号制御スイッチである。スイッチ135は、演算増幅器131の外部入力信号制御スイッチである。
演算増幅器131の入力端子には、スイッチ133の一端及びコンデンサー132の一端が接続されている。コンデンサー132の他端は、スイッチ134の一端と、スイッチ135の一端とに接続されている。
スイッチ133の他端及びスイッチ134の他端は、演算増幅器131の出力端子に接続されている。スイッチ135の他端には、基準電圧VREFが印加されている。基準電圧VREFは、例えば、図6では不図示の電圧発生部において生成されてもよく、また、画像読取チップ415の外部端子から供給されてもよい。
スイッチ133の制御端子及びスイッチ135の制御端子には、出力走査回路180からスイッチ制御信号SW1が共通に入力され、スイッチ133及びスイッチ135は、スイッチ制御信号SW1がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに導通する。また、スイッチ134の制御端子には、出力走査回路180からスイッチ制御信号SW2が共通に入力され、スイッチ134は、スイッチ制御信号SW2がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに導通する。スイッチ制御信号SW1とスイッチ制御信号SW2は、排他的にアクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる。
2つの信号処理回路103−1,103−2の各々が有するスイッチ140の制御端子には、それぞれ、出力走査回路180から出力イネーブル信号OE1,OE2が入力される。そして、2つの信号処理回路103−1,103−2の各々が有するスイッチ140は、それぞれ、出力イネーブル信号OE1,OE2がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに導通する。
出力イネーブル信号OE1,OE2は、いずれか1つのみが順番にアクティブ(ハイレベル)となる信号であり、2つの信号処理回路103−1,103−2は、増幅回路130からスイッチ140を介して画像信号SO1,SO2を順番に出力する。
演算増幅器104は、非反転入力端子に2つの信号処理回路103−1,103−2の各出力端子(各スイッチ140の他端)が共通に接続され、反転入力端子と出力端子が接続されている。この演算増幅器104は、ボルテージフォロワーであり、出力電圧は非反転入力端子の電圧と一致する。従って、演算増幅器104の出力は、画像信号SO1,SO2を順番に含む信号であり、画像信号OSとして画像読取チップ415から出力される。
また、図6に示したm個の画素回路110(110−1〜110−m)はすべて同じ構成である。同様に、m個の列処理回路120(120−1〜120−n)はすべて同じ構成である。そのため、m個の画素回路110(110−1〜110−m)を画素回路110として、m個の列処理回路120(120−1〜120−n)を列処理回路120として、図7を用いて、その詳細の説明を行う。
図7は、画素回路110及び列処理回路120の回路構成を示す図である。
図7に示すように、画素回路110は、受光素子111(「受光素子」の一例)、トランスファーゲート112、NMOSトランジスター113、NMOSトランジスター114、スイッチ115及び定電流源116を備えている。
受光素子111は、光を受けて電気信号に変換(光電変換)する。本実施形態では、受光素子111は、フォトダイオードで構成されており、アノードにはグラウンド電位VSSが供給され、カソードはトランスファーゲート112の一端と接続されている。
トランスファーゲート112の制御端子には転送信号TXが入力され、トランスファーゲート112の他端はNMOSトランジスター114のゲート端子と接続されている。
NMOSトランジスター113は、ドレイン端子に電源電位VDDが供給され、ゲート端子に画素リセット信号RST_PIXが入力され、ソース端子はNMOSトランジスター114のゲート端子と接続されている。
NMOSトランジスター114のドレイン端子には電源電位VDDが供給され、NMOSトランジスター114のソース端子はスイッチ115の一端と接続されている。
スイッチ115の他端は定電流源116の一端と接続され、定電流源116の他端にはグラウンド電位VSSが供給される。また、スイッチ115の制御端子には、バイアス電流オン信号Ib_ONが入力される。このスイッチ115は、NMOSトランジスター114を駆動するための負荷電流を制御する役割を果たすスイッチであり、バイアス電流オン信号Ib_ONがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに導通し、NMOSトランジスター114のソース端子が定電流源116の一端と電気的に接続される。NMOSトランジスター114のソース端子から出力される信号は、画素信号PIXO(図6のPIXO1〜PIXOnのいずれか)として列処理回路120に入力される。
列処理回路120は、増幅回路150と、保持回路160と、走査回路170とを含み構成される。
増幅回路150は、反転増幅器121、コンデンサー122、スイッチ123、コンデンサー124を含み構成される。
コンデンサー124は、一端が画素回路110のNMOSトランジスター114のソース端子(画素回路110の出力端子)と接続され、他端が反転増幅器121の入力端子と接続されている。
反転増幅器121は、例えば、複数のMOSトランジスターから構成されるソース接地型の増幅器である。コンデンサー122は、反転増幅器121の帰還用コンデンサーである。スイッチ123は、反転増幅器121の帰還用スイッチである。コンデンサー122の一端及びスイッチ123の一端は反転増幅器121の入力端子と接続され、コンデンサー122の他端及びスイッチ123の他端は、反転増幅器121の出力端子と接続されている。
スイッチ123の制御端子には列リセット信号RST_COLが入力され、スイッチ123は、列リセット信号RST_COLがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに導通する。
すなわち、増幅回路150には、反転増幅器121、コンデンサー122、スイッチ123及びコンデンサー124により、CDS(Correlated Double Sampling)回路が構成されている。増幅回路150は、画素回路110からの出力電圧Vpix(図8参照)をコンデンサー124によってノイズキャンセルし、さらに増幅する機能を果たしている。反転増幅器121の出力端子の電圧は、増幅回路150の出力信号CDSOとなる。
保持回路160は、スイッチ125及びコンデンサー126を含み構成されている。
スイッチ125の一端は、増幅回路150に含まれる反転増幅器121の出力端子(増幅回路150の出力端子)と接続されている。スイッチ125の他端は、コンデンサー126の一端と接続されている。コンデンサー126の他端にはグラウンド電位VSSが供給される。スイッチ125の制御端子には読み出し信号READが入力され、スイッチ125は、読み出し信号READがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに導通し、反転増幅器121の出力端子がコンデンサー126の一端と電気的に接続される。これにより、増幅回路150の出力信号CDSOとグラウンド電位VSSとの電位差に応じた電荷がコンデンサー126に蓄積(保持)される。
走査回路170は、スイッチ127、シフトレジスター(SFR)171を含み構成される。
スイッチ127の一端は、保持回路160に含まれるコンデンサー126の一端に接続され、スイッチ127の他端は増幅回路130に含まれる演算増幅器131(増幅回路130の入力端子)と接続されている(図6参照)。また、スイッチ127の制御端子には、選択信号SELが入力される。スイッチ127は、列選択スイッチであり、選択信号SELがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに導通し、コンデンサー126の一端が演算増幅器131の入力端子(増幅回路130の入力端子)と電気的に接続される。コンデンサー126の一端の信号(コンデンサー126に蓄積された電荷に応じた電圧の信号)は、画像信号VDO(図6のVDO1〜VDOmのいずれか)として増幅回路130に入力される。
シフトレジスター171は、入力された走査信号SCAに基づきスイッチ127を制御する選択信号SELを出力する。そして、列処理回路120‐i+1(i=1〜m−1)に含まれる走査回路170に走査信号SCAを転送する。
すなわち、走査回路170は、走査信号SCAに基づき、列処理回路120−1〜120−nのそれぞれの保持回路160に保持された信号(コンデンサー126に蓄積された電荷に応じた電圧の信号)を順次、増幅回路130に出力する。
図8は、図6に示した信号処理回路103−1の動作のタイミングを示すタイミングチャート図である。なお、m個の画素回路110(110−1〜110−n)の各々が有する受光素子111には受光量に応じた電荷(負の電荷)が蓄積されているものとする。
図8に示されるように、まず、バイアス電流オン信号Ib_ONがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)になり、m個の画素回路110において、スイッチ115が導通する。この状態で、画素リセット信号RST_PIXがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)になると、m個の画素回路110において、NMOSトランジスター113のソース端子とドレイン端子とが導通し、NMOSトランジスター114のゲート端子に電源電位VDDが供給される。これにより、NMOSトランジスター114のゲート電位がリセットされ、m個の画素回路110からそれぞれ出力される画素信号PIXO1〜PIXOnが画素リセット時の電圧となる。このとき、列リセット信号RST_COLがアクティブ(ハイレベル)であるため、m個の列処理回路120において、スイッチ123は導通しており、コンデンサー122に蓄積されていた電荷がリセットされ、m個の増幅回路150の各出力信号CDSO1〜CDSOnが所定の電圧まで低下する。
次に、画素リセット信号RST_PIX及び列リセット信号RST_COLが非アクティブ(ローレベル)になった後、転送信号TXがアクティブ(ハイレベル)になると、m個の画素回路110において、NMOSトランジスター114のゲート端子は、受光素子111に蓄積されている電荷に応じた電圧となる。受光素子111の受光量が多いほど、
受光素子111に蓄積されている電荷(負の電荷)が多いため、NMOSトランジスター114のゲート端子の電圧は低下し、これに応じて画素信号PIXO1〜PIXOmの電圧がそれぞれΔVpix1〜ΔVpixnだけ低下する。このとき、スイッチ123は非導通であるため、m個の増幅回路150が動作し、各出力信号CDSO1〜CDSOnは、それぞれΔVpix1〜ΔVpixnに比例して上昇する。
次に、m個の増幅回路150の出力信号CDSO1〜CDSOmの電圧が安定した後、読み出し信号READがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)になると、スイッチ125が導通し、m個のコンデンサー126に蓄積される電荷は、それぞれΔVpix1〜ΔVpixnに応じて変化する。
次に、バイアス電流オン信号Ib_ON、転送信号TX及び読み出し信号READが非アクティブ(本実施形態ではローレベル)になった後、出力イネーブル信号OE(図8のOE1〜OE2のいずれか)が一定時間アクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる。また、出力イネーブル信号OEがアクティブ(本実施形態ではハイレベル)のときに、スイッチ制御信号SW1がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)かつスイッチ制御信号SW2が非アクティブ(本実施形態ではローレベル)の状態とスイッチ制御信号SW1が非アクティブ(ローレベル)かつスイッチ制御信号SW2がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)の状態が交互に繰り返される。また、スイッチ制御信号SW1が非アクティブ(本実施形態ではローレベル)かつスイッチ制御信号SW2がアクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる毎に、m個の列処理回路120(120‐1〜120‐m)のそれぞれに設けられた走査回路170で制御されるm個の選択信号SEL(SEL1〜SELm)が順番にアクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる。
そして、m個の選択信号SEL(SEL1〜SELm)が順番にアクティブ(本実施形態ではハイレベル)となる毎に、m個の列処理回路120(120−1〜120−m)から、コンデンサー126に蓄積されている電荷に応じた電圧の画像信号VDO1〜VDOmが順番に出力される。この画像信号VDO1〜VDOmは、増幅回路130によって順番に増幅され、これにより画像信号SO1が生成される。
図6に示した信号処理回路103−2の動作のタイミングを示すタイミングチャート図も、図8と同様であるため、その図示及び説明を省略する。
信号処理回路103−1(又は103−2)で生成された画像信号SO1(又はSO2)が、演算増幅器104の出力である画像信号OSとして画像読取チップ415から出力される。
図6、図7、図8の説明では、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bは、光源412として説明を行った。本実施形態では、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのそれぞれが点灯したときに、画像読取チップ415は、図8に示すタイミングチャートの動作を行う。
例えば、赤色LED412Rが、駆動信号VrvRに従い、露光時間ΔtRだけ点灯する。そして、画像読取チップ415に含まれる受光素子111は、赤色LED412Rの点灯により、媒体で反射された光を受光し、受光量に応じた電荷(負の電荷)を生成する。画像読取チップ415は、受光素子111が生成した電荷に基づき、画像信号OSを生成し画像読取チップ415から出力する。
また、例えば、緑色LED412Gが、駆動信号VrvGに従い、露光時間ΔtGだけ点灯する。そして、画像読取チップ415に含まれる受光素子111は、緑色LED41
2Gの点灯により、媒体で反射された光を受光し、受光量に応じた電荷(負の電荷)を生成する。画像読取チップ415は、受光素子111が生成した電荷に基づき、画像信号OSを生成し画像読取チップ415から出力する。
また、例えば、青色LED412Bが、駆動信号VrvBに従い、露光時間ΔtBだけ点灯する。そして、画像読取チップ415に含まれる受光素子111は、青色LED412Bの点灯により、媒体で反射された光を受光し、受光量に応じた電荷(負の電荷)を生成する。画像読取チップ415は、受光素子111が生成した電荷に基づき、画像信号OSを生成し画像読取チップ415から出力する。
前述のとおり、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bは、排他的に動作する。そして、画像読取チップ415は、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのそれぞれに対し、画像信号OSを読取制御回路200に出力する。すなわち、赤色LED412Rが媒体に照射されたときに、受光素子111が検出した受光量に基づく電荷が、「赤」に対応する画像信号OSとなる。同様に、緑色LED412Gが媒体に照射されたときに、受光素子111が検出した受光量に基づく電荷が、「緑」に対応する画像信号OSとなる。同様に、青色LED412Bが媒体に照射されたときに、受光素子111が検出した受光量に基づく電荷が、「青」に対応する画像信号OSとなる。
読取制御回路200は、画像読取チップ415から出力された「赤」、「青」、「緑」のそれぞれに対応する画像信号OSに基づき、画像処理を実行し、被読取媒体の色を再現する。
4.本実施形態における受光素子の構成
4.1 受光素子の分光感度特性
図9は、波長が400nmから700nmの可視域における、本実施形態の受光素子111の相対感度(「分光感度」の一例)を模式的に示した図である。図9の横軸には波長を、また縦軸には、受光素子111の相対感度を示す。
また、赤色LED412Rが最大発光強度の光を出力する波長を赤波長WR(「第2波長」の一例)、緑色LED412Gが最大発光強度の光を出力する波長を緑波長WG、青色LED412Bが最大発光強度の光を出力する波長を青波長WB(「第1波長」の一例)として説明を行う。
一般に画像読取装置に備えられる受光素子は、図9のAに示す破線ように、可視域(400nm〜700nm)において相対感度が、一様であることが好ましいとされる。
詳細には、受光素子は、媒体に赤色のLEDが照射されたときと、緑色のLEDが照射されたときと、青色のLEDが照射されたときと、でそれぞれの光源の発光強度が同等であれば、同等の電荷を出力することが好ましい。これにより受光素子は、照射される光源の種類によらず、可視域において高い感度で検出することが可能となる。よって、受光素子は、高い分解能で反射光を検出することが可能となる。
しかしながら、図9のAに示すような、可視域における相対感度が一様な受光素子では、例えば、媒体が蛍光ペンで塗られた蛍光色の領域を含むとき、色の再現性が乏しくなる可能性がある。
蛍光色を含む媒体に光を照射したとき、媒体から反射光と蛍光とが生じる。そのため、受光素子は、反射光と、蛍光とを検出する。例えば、媒体に赤色のLEDが照射されたと
き、受光素子は、赤色のLEDに基づく反射光と、蛍光とを検出し、電気信号を生成する。そのため、「赤」に対応する画像信号には、反射光に基づく信号と、蛍光に基づく信号と、とが含まれる。また、媒体に緑色のLEDが照射されたとき、受光素子は、緑色のLEDに基づく反射光と、蛍光とを検出し、電気信号を生成する。そのため、「緑」に対応する画像信号には、反射光に基づく信号と、蛍光に基づく信号と、とが含まれる。また、媒体に青色のLEDが照射されたとき、受光素子は、青色のLEDに基づく反射光と、蛍光とを検出し、電気信号を生成する。そのため、「青」に対応する画像信号には、反射光に基づく信号と、蛍光に基づく信号と、とが含まれる。
よって、図9のAに示すような、可視域における相対感度が一様な受光素子では、検出すべき反射光と、検出すべきでない蛍光をと一様に検出する。そのため、受光素子の受光量は、反射光に対しする蛍光の影響が大きくなり、媒体上の画像の再現性が乏しくなる。
蛍光色の領域を含む媒体上の画像の再現性を向上させる為には、受光素子において、反射光が生じる波長の相対感度に対し、蛍光の相対感度が低いことが好ましい。
蛍光は、励起光(光源)の波長に対し、長波長側に生じる性質を有する。そのため、本実施形態における受光素子111は、図9のBに示すような相対感度を有する。具体的には、受光素子111の相対感度は、可視域において、波長が400nmから500nmの光で最大となり、長波長側において、徐々に感度が低下するように構成されている。
受光素子111の相対感度を、長波長側の領域で低下するように構成することで、受光素子111は、検出すべき反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することができる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性が向上する。
ここで、受光素子111の相対感度を、光の3原色である「赤、緑、青」における最も短波長な青色波長域を含み、緑波長域以下である、400nm以上500nm以下で最大とすることで、長波長における受光素子111の感度が低下しすぎることを低減でき、受光素子111の可視域における分解能を高めることが可能となる。
さらに、受光素子111の相対感度は、青波長WBよりも短波長で最大値となることが好ましい。これにより、受光素子111は、青色LED412Bの発光により生じた蛍光の影響も低減することが可能となる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を向上させることが可能となる。
以上より、本実施形態における受光素子111は、相対感度が最大となる波長を、400nmから500nmとすることで、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を向上させることが可能となる。さらに、受光素子111の相対感度の最大を、青波長WBよりも短波長とすることで、青波長WBの近くに設けられることがさらに好ましい。
このとき、青色LED412Bの露光時間ΔtBは、緑色LED412Gの露光時間ΔtGよりも短く、また、緑色LED412Gの露光時間ΔtGは、赤色LED412Rの露光時間ΔtRよりも短くてもよい。
本実施形態では、受光素子111の相対感度は、長波長側で感度が低下させている。そのため、受光素子111は、赤色LED412Rと、緑色LED412Gと、青色LED412Bと、のそれぞれにより生じた反射光の光量が同じであっても、受光素子111が検出する受光量は、長波長側で低下する。そのため、光源412の露光時間を、露光時間ΔtB≦露光時間ΔtG≦露光時間ΔtRとすることで、長波長側の光における受光素子
111の相対感度の低下を補正することが可能となる。よって、受光素子111の検出感度を高めることが可能となる。
また、青色LED412Bの発光強度は、緑色LED412Gの発光強度よりも弱く、また、緑色LED412Gの発光強度は、赤色LED412Rの発光強度よりも弱くてもよい。
本実施形態では、受光素子111の相対感度は、長波長側で感度が低下する。そのため、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのそれぞれにより生じる発光強度を、青色LED412B≦緑色LED412G≦赤色LED412Rとすることで、受光素子111の検出感度を高めることが可能となる。
本実施形態では、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのそれぞれの露光時間及び発光強度を調整することで、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのそれぞれの発光に基づく、受光素子111の生成電荷量を、略一定とすることが可能となる。すなわち、長波長側における受光素子111の相対感度の低下を発光強度により補正することが可能となる。これにより、受光素子111は、高い分解能で検出することが可能となり、媒体の読み取り性能が向上する。
なお、赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのそれぞれの露光時間及び発光強度は、受光素子111の長波長側における相対感度の低下を補正することが目的である。そのため、露光時間及び発光強度のいずれか一方で補正しても良く、また双方を用いて補正しても良い。さらに、排他的に点灯する赤色LED412R、緑色LED412G及び青色LED412Bのそれぞれが点灯される頻度に差をつけることで、相対感度の低下を補正してもよい。
図10は、本実施形態における受光素子111の可視域(400nm〜700nm)における分光感度特性を示す図である。
図10において、グラフの横軸が波長、縦軸が相対感度を示す。
図10は、相対感度の最大が400nm以上500nm以下の範囲に含まれるように製造された受光素子111であって、蛍光色の領域を含む媒体上の画像の再現性が改善された受光素子111の、分光感度特性を示す図である。なお、図10には、測定した相対感度Sに加え、当該測定に用いたスキャナーユニット3の光源412の波長を、赤波長WR(620nm)、緑波長WG(540nm)、青波長WB(480nm)として、重ねて
図示する。
図10に示すように、受光素子111の相対感度Sは、400nm以上500nm以下の波長であり、詳細には、490nm付近で最大となる。また、受光素子111の相対感度Sは、500nmより長波長において図10に破線で示す直線αに沿うように徐々に低下する。すなわち、本実施形態では、受光素子111の相対感度Sは、長波長側に向かい略直線的に低下する。これにより、受光素子111は、光源412により生じた検出すべき反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響が低減され、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性が向上する。
ここで、受光素子111における蛍光の影響は、光源412の光の波長における受光素子111の相対感度と、蛍光の波長における受光素子111の相対感度と、の比により定まる。すなわち、光源412の光の波長における受光素子111の相対感度に対し、蛍光の波長における受光素子111の相対感度が大きいとき、蛍光が受光素子111の受光量に与える影響が大きくなる。よって、スキャナーユニット3における蛍光色を含む媒体上の画像の再現性が低下する。一方、光源412の光の波長における受光素子111の相対感度に対し、蛍光の波長における受光素子111の相対感度が小さいとき、蛍光が受光素子111の受光量に与える影響は小さくなる。よって、スキャナーユニット3における蛍光色を含む媒体上の画像の再現性が向上する。
これより、本実施形態では、最も短波長側である青波長WBにおける受光素子111の相対感度に対する、所定の波長における受光素子111の相対感度を、感度比として説明する。なお、図10においては、青波長WBにおける相対感度は、略最大の0.99であるため、相対感度と感度比とは同じ値を用いて説明を行う。
本実施形態において、直線αと、赤波長WR(620nm)と、は感度比が0.7で交差している。すなわち、受光素子111の感度比が、0.7以下であれば受光素子111は、光源412により生じた検出すべき反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響が低減され、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性が向上すると考えられる。よって、受光素子111の700nmの波長の光を光電変換する感度比が0.7以下であることが好ましい。
これにより、受光素子111は、検出すべき媒体からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響が低減される。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性が向上する。
また、受光素子111が700nmの波長の光を光電変換する感度比は、0.5以下であることが、さらに好ましい。これにより、受光素子111は、検出すべき媒体からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響をさらに低減することができる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性は、さらに向上する。
受光素子111の感度比を、0.7以下とすることで、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を向上することが可能となる。また、受光素子111の感度比を、0.5以下とすることで、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を、さらに向上させることが可能となる。
さらに、受光素子111の相対感度は、長波長側において、徐々に低下していくことが好ましい。受光素子111の相対感度が、波長が長くなるに従い徐々に低下するように構成することで、受光素子111は、検出する反射光に対し蛍光の影響を低減することができる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を向上させることが可能となる。具体的には、受光素子111が600nmの波長の光を光電変換する相対感度は、青波長WBの光を光電変換する分光感度の0.85倍以下であることが好ましい。
4.2 受光素子の構造
ここで、本実施形態に示す400nmから500nmの波長において、検出感度が最大となる受光素子111の構造の一例について説明する。
図11は、受光素子111の断面構造を示す模式図である。本実施形態では、図11に示すように、受光素子111は、N型半導体基板360と、P型半導体350と、N型半導体340と、を含み構成されている。具体的には、受光素子111は、N型半導体基板360(「n型の半導体基板」の一例)上に、P型半導体350と、N型半導体340と、が形成され、PN接合することでフォトダイオードが形成されている。そして、受光素子111は、N型半導体340側から照射された光を光電変換し、電荷を生成し、不図示の電極から電気信号として出力する。
受光素子111における光電変換は、N型半導体基板360と、P型半導体350と、N型半導体340と、の全ての領域で生じている。しかし、光電変換で生じた電荷のうち
、中性領域で生じた電荷の大半は、周囲の電荷と再結合するため、受光素子111から信号として取り出されない。換言すれば、受光素子111から出力される電荷の大半は、P型半導体350と、N型半導体340と、の間に形成された空乏層で生じた電荷となる。
また、受光素子111に照射された光は、受光素子111の深くに侵入することで徐々に吸収され減衰する。この、受光素子111での光の吸収は、照射された光の波長に依存する。具体的には、長波長の光は、受光素子111のより深くまで侵入し、短波長の光は、受光素子111のより浅くで、吸収される。そして、吸収された光は、熱又は電荷として出力される。
以上より、本実施形態に示す受光素子111の相対感度は、受光素子111の空乏層が設けられる深さ、及び空乏層の厚さを最適とすることで実現することが可能となる。
具体的には、空乏層が受光素子111の光が照射される側(浅い側)に設けられているとき、受光素子111は、短波長の相対感度が向上し、空乏層が受光素子111の深い側に設けられているとき、受光素子111は、長波長の相対感度が向上する。また、空乏層の幅が大きくなることで、より広い波長域での相対感度が向上し、空乏層の幅が小さくなることで、より狭い波長域の相対感度が向上する。すなわち、波長に対する相対感度の傾きを調整することが可能となる。
また、本実施形態における受光素子111は、電源電位VDDに接続されたN型半導体基板上に形成されていることが好ましい。
前述のとおり、受光素子111に照射された光は、N型半導体基板360においても光電変換される。そして、照射された光が長波長であるほど受光素子111のより深くで、光電変換される。すなわち、N型半導体基板360では、より長波長の光が光電変換されている。本実施形態に示すように、N型半導体基板360には電源電位VDDが接続される。そのため、N型半導体基板360において光電変換で生じた電荷は、電源電位VDDに引き寄せられる。すなわち、N型半導体基板360で光電変換された電荷は、受光素子111に設けられた電極から電気信号として出力され難い。これにより、受光素子111は、短波長側の相対感度に対し、長波長側の相対感度を低下させることが可能となる。換言すれば、受光素子111の相対感度の最大を短波長側とすることが可能となる。
以上より、本実施形態では、受光素子111は、相対感度特性の最大値を短波長側とするために、N型半導体基板360上に形成されていることが好ましい。なお、N型半導体基板360は、例えば、シリコン基板上にNウェルを形成したものであってもよく、また、例えば、シリコン基板に不純物をドープしたものであってもよい。
5.作用効果
以上に説明したように、本実施形態に係るスキャナーユニット(画像読取装置)3では、画像読取チップ415において、媒体からの光を受けて光電変換する受光素子111の相対感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大となる。すなわち、受光素子111は、波長が500nmを超える長波長側において相対感度が低下する。これにより受光素子111は、検出すべき媒体からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することが可能となる。よって、煩雑な操作や複雑な制御を必要とせず、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を向上させることができる。
また、本実施形態に係るスキャナーユニット(画像読取装置)3では、画像読取チップ415において、受光素子111の相対感度は、波長が400nm以上500nm以下の光に対して最大となる。すなわち、受光素子111の相対感度は青の波長域を含む領域で最大となる。光の3原色(赤、緑、青)における最も短波長な青の波長域に、受光素子111の最大感度を設けることで、様々な色の蛍光を含む媒体上の画像の再現性を向上させることができる。
また、本実施形態に係るスキャナーユニット(画像読取装置)3では、画像読取チップ415において、受光素子111の相対感度は、青波長WBよりも短波長側で最大となる。これにより、受光素子111は、短波長側の光を出力する青色LED412Bの発光により生じた媒体からの反射光に対し、蛍光の影響を低減することが可能となる。すなわち、受光素子111は、青色LED412B、緑色LED412G及び赤色LED412Rのいずれが発光しても、検出すべき媒体からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することが可能となる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を、さらに向上させることが可能となる。
また、本実施形態に係るスキャナーユニット(画像読取装置)3では、画像読取チップ415において、受光素子111は、N型半導体基板360に形成される。これにより、受光素子111の深部で光電変換された電荷は、正電位(電源電位VDD)に引き寄せられ、受光素子111から出力されない。すなわち、受光素子111は、長波長側の相対感度を低下することが可能となる。これにより受光素子111は、検出すべき媒体からの反
射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響をさらに低減することが可能となる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性をさらに向上させることが可能となる。
また、本実施形態に係るスキャナーユニット(画像読取装置)3では、短波長側で光を生じる青色LED412Bは、長波長側で光を生じる緑色LED412G及び赤色LED412Rよりも点灯時間が短くてもよい。また、短波長側で光を生じる青色LED412Bは、長波長側で光を生じる緑色LED412G及び赤色LED412Rよりも発光強度が弱くてもよい。これにより、受光素子111の相対感度が高い短波長側と、受光素子111の相対感度の低い長波長側とで、受光素子111が検出する受光量を同等にすることが可能となり、受光素子111が検出する信号の分解能を高くすることができる。これにより、媒体の読み取り性能をさらに向上させることが可能となる。
また、本実施形態に係るスキャナーユニット(画像読取装置)3では、画像読取チップ415において、受光素子111の相対感度は、例えば、波長が700nmにおいて、青波長WBにおける受光素子111の相対感度に対し、0.7倍以下とすることで、検出すべき媒体からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響を低減することが可能となり、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性を向上できる可能性がある。
さらに、受光素子111の相対感度は、例えば、波長が700nmにおいて、青波長WBにおける受光素子111の相対感度に対し、0.5倍以下とすることで、検出すべき媒体からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響をさらに低減することが可能となる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性をさらに向上させることが可能となる。
また、受光素子111の相対感度は、例えば、波長が600nmにおいて、青波長WBにおける受光素子111の相対感度に対し、0.85倍以下とすることで、受光素子111の検出感度が最大となる波長から、波長が700nmの波長に対し、受光素子111の検出感度を徐々に低下することが可能となる。よって、幅広い波長域において、検出すべき媒体からの反射光に対し、検出すべきでない蛍光の影響をさらに低減することが可能となる。よって、蛍光色を含む媒体上の画像の再現性をさらに向上させることが可能となる。
6.変形例
図1、図2に示されるように、本実施形態におけるスキャナーユニット3は、原稿台に
載置された媒体を読み込む構成であったが、ADF(オートドキュメントフィーダー)等を備えた搬送型のスキャナーユニットであってもよい。さらに、媒体の表面と裏面の双方にイメージセンサーモジュール41を備えた構成であって、媒体の表面と裏面の双方を同時に読み込む両面読取のスキャナーユニット3であっても良い。このような変形例においても、上記実施形態と同様の効果を奏することができる。
以上、本実施形態あるいは変形例について説明したが、本発明はこれら本実施形態あるいは変形例に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様で実施することが可能である。例えば、上記の実施形態及び各変形例を適宜組み合わせることも可能である。
本発明は、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
1…複合機、2…プリンターユニット、3…スキャナーユニット、4…ヒンジ部、11…アッパーフレーム、12…画像読取部、13…上蓋、16…下ケース、17…上ケース、31…センサーユニット、32…センサーキャリッジ、33…ガイド軸、34…センサー移動機構、41…イメージセンサーモジュール、63…操作部、65…装置ハウジング、66…排出口、100…タイミング制御回路、101…駆動回路、103…信号処理回路、104,131…演算増幅器、110…画素回路、111…受光素子、112…トランスファーゲート、113,114…NMOSトランジスター、115,123,125,127,133,134,135,140…スイッチ、116…定電流源、120…列処理回路、121…反転増幅器、122,124,126,132…コンデンサー、130,150…増幅回路、160…保持回路、170…走査回路、171…シフトレジスター、180…出力走査回路、200…読取制御回路、202…アナログフロンエンド、310…駆動制御回路、340…N型半導体、350…P型半導体、360…N型半導体基板、411…ケース、412…光源、412R…赤色LED、412G…緑色LED、412B…青色LED、413…光学部、414…モジュール基板、415…画像読取チップ、421…電圧生成回路、WR…赤波長、WG…緑波長、WB…青波長

Claims (10)

  1. 蛍光色を含む画像を読み取る画像読取装置であって、
    第1波長に最大発光強度を有し青の波長域の光を出力する第1光源と、
    前記第1波長よりも長波長である第2波長に最大発光強度を有する第2光源と、
    前記画像を読み取る画像読取チップと、
    を備え、
    前記画像読取チップは、
    前記画像からの光を受けて光電変換する受光素子を含む画素を有し、
    可視域における前記受光素子分光感度の最大値は、400nm以上500nm以下の波長域に位置する、
    ことを特徴とする画像読取装置。
  2. 前記第1波長は、400nm以上500nm以下であって、
    可視域における前記受光素子分光感度は、
    前記第1波長よりも短波長側において最大となる、
    ことを特徴とする、請求項1に記載の画像読取装置。
  3. 前記受光素子は、n型の半導体基板に形成されている、
    ことを特徴とする、請求項1又は2に記載の画像読取装置。
  4. 前記第1光源の点灯時間は、前記第2光源の点灯時間より短い、
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  5. 前記第1光源の発光強度は、前記第2光源の発光強度より弱い、
    ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  6. 00nmの波長の光における前記受光素子の分光感度は
    前記第1波長の光における前記受光素子の分光感度の0.7倍以下である、
    ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  7. 00nmの波長の光における前記受光素子の分光感度は、
    前記第1波長の光における前記受光素子の分光感度の0.5倍以下である、
    ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  8. 00nmの波長の光における前記受光素子の分光感度は、
    前記第1波長の光における前記受光素子の分光感度の0.85倍以下である、
    ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  9. 前記蛍光色は、蛍光ペンで塗られた領域であり、
    前記画像は、前記蛍光ペンで塗られた領域を含む、
    ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の画像読取装置。
  10. 画像からの光を受けて光電変換する受光素子を含む画素を有し、
    可視域における前記受光素子分光感度の最大値は、400nm以上500nm以下の波長域に位置する、
    ことを特徴とする半導体装置。
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