JP6904544B2 - 信号間の変換を推定するための方法及びコンピュータ可読媒体 - Google Patents
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Description
[00040]最小二乗技法
[00041]最小二乗技法は、線形変換の初期推測を前提として最小二乗誤差(すなわち、最尤推定値)を生じる線形変換を推定する。演算は乗算及び加算からなり、ハードウェアに都合がよい。
この段階では、変換された周波数座標は、信号の初期変換及び元の(すなわち変換されていない)周波数座標を使用して計算される。
このステップでは、周波数振幅平面において変換された周波数の小さな近傍のあたりのピーク値を探索することによって、変換された周波数ごとにより適切な位置を求める。このステップの最後において、より適切なピーク位置がこの周波数について見つけられた場合は、各変換された周波数の座標が更新される。このプロセスで計算された最適周波数座標によって、単一線形変換では、もはや同時に求めることができない位置がもたらされる。
このステップでは、更新された線形変換が、最小二乗公式を使用して更新された座標から計算される。この更新された変換が、次の反復のための初期推測として使用される。最小二乗技法は、元の座標と変換された座標の間の二乗誤差を最小限にする変換を提供する。特に、最小二乗技法は、位置誤差の合計を最小二乗誤差の観点で最小限にする変換を提供する。誤差からの新しい変換の計算は、以下のように実装される。
[00052]DLSは、被疑信号と参照信号との間の線形変換を決定するための最小二乗技法の効率的な適用である。本発明の特定の実装形態は、画像に適用され、特に、被疑画像が、透かし入り画像であり、参照信号が、透かし入り画像に埋め込まれていると想定される透かし信号である。この場合、課題は、既知である元の参照信号と、被疑信号に埋め込まれていると想定されるその対応物との間の線形変換を決定することである。
[00062]座標更新プロセスは、対象となる変換された位置(周波数)を囲む小さな近傍のあたりのピーク(又は角部若しくは特徴などの所望の特性)の局所探索を含む。
[00067]本発明の位相推定手法は、位相を計算し抽出するために追加の高速フーリエ変換(FFT)が続く画像の逆変換を行うのではなく、変換された信号のFFTから位相を計算するため、有利である。位相推定は、参照信号が被疑信号内で受けた線形変換を使用する。この線形変換を計算する1つの方法として直接最小二乗を示したが、マッチドフィルタ(例えば、線形変換を近似するためのフーリエメリン相関)を使用するなどして線形変換を計算する他の方法がある。
[00086]図1を再度参照すると、位相推定に続くプロセスが、変換された参照信号の位相のこの推定値を使用して、参照信号と被疑信号との間の平行移動を決定している。この段階で平行移動を計算する代替的手法がある。本発明の手法は、変換された参照信号と被疑信号との位相表現の間の位相相関を行うことである(これは逆FFT演算を必要とする)。次に、位相偏移と呼ばれる代替的手法について説明する。
[00088]位相偏移は、一般に2つの画像又は信号の間の平行移動を推定する代替的手法である。位相変換手法と比較して、位相偏移は、逆FTT動作を必要としない。
[00096]位相偏移が、任意の実数値の平行移動オフセットについて計算されうる。これは、位相相関手法を用いる整数値の平行移動推定ではなく、サブサンプル平行移動推定を行う。
[00099]基本的位相偏移の定式は、周波数におけるパターンを活用するために修正してもよい。1次元(水平又は垂直)の座標値の線形結合がゼロである周波数のセットにより、直交次元での1D位相偏移の定式がもたらされる。概念的には、これにより、2D空間の2D正弦曲線のセットの乗算である直交次元での仮想1D信号がもたらされる。仮想1D信号の周波数は、直交次元の周波数の合計によって与えられる。次いで、平行移動を、2D位相偏移のコストのごく一部のコストで、1D位相偏移の定式を用いて、各次元で独立して推定することができる。加えて、最小位相偏移メトリックの探索は、1Dに沿っており(すなわち、1次元データセット上であり)、計算コスト全体を更に減少させる。
[000133]具体的な実装形態を参照して本技術の原理を説明し例示したが、本技術は、多くの他の異なる形態で実装可能であることが理解されよう。明細書を過度に長くせずに包括的な開示を行うために、出願人は、上記に参照した特許及び特許出願を参照により組み込む。
[発明の項目]
[項目1]
離散参照信号と被疑信号との間の変換を計算する方法であって、
前記離散参照信号を表す特徴位置のセットを用意し、初期変換パラメータのシードセットを用意するステップであって、前記特徴位置及び変換パラメータが、電子メモリにおけるデジタル電子信号として表される、当該ステップと、
前記シードセットを使用して、前記離散参照信号の前記特徴位置と前記被疑信号における対応する特徴位置とをアライメントするために線形変換が使用されるときに誤差を最小限にする線形変換候補を見つけ出す最小二乗最小化を計算するステップであって、前記線形変換候補に対応する相関の尺度を計算するサブステップを含む当該ステップと、
シードのそれぞれについて前記線形変換候補を評価して、線形変換候補の絞り込まれた推定値を表す前記候補のサブセットを識別するステップと、
を含む方法。
[項目2]
前記特徴位置が、前記離散参照信号におけるピークに対応する、項目1に記載の方法。
[項目3]
前記特徴位置が、前記離散参照信号の正弦曲線信号成分に対応する、項目1に記載の方法。
[項目4]
前記参照信号が、デジタル透かし信号を含み、前記被疑信号が、前記デジタル透かし信号が埋め込まれるホスト信号を含む、項目1に記載の方法。
[項目5]
前記シードセットが、均等に分布した変換パラメータのまばらなセットを含む、項目1に記載の方法。
[項目6]
有限集合における残りの変換パラメータを一定に維持しながら、変換パラメータの有限集合のサブセットを均等に変化させることによって、前記まばらなセットが選択される、項目5に記載の方法。
[項目7]
前記絞り込まれた推定値を得るために、前記候補の間の類似性に基づいて線形変換候補の少なくとも第1のクラスタを選択する、項目1に記載の方法。
[項目8]
線形変換候補の前記第1のクラスタにおける候補線形変換が組み合わされて、絞り込まれた線形変換候補を用意する、項目7に記載の方法。
[項目9]
前記候補が、前記候補の相関強度に応じて前記候補を重み付けすることによって組み合わされ、相関強度が、位相相関の尺度を含む、項目8に記載の方法。
[項目10]
命令が格納されたコンピュータ可読媒体であって、前記命令が、1つ又は複数のプロセッサによって実行されたとき、離散参照信号と被疑信号との間の変換を計算する方法を実施し、前記方法が、
前記離散参照信号を表す特徴位置のセットを用意し、初期変換パラメータのシードセットを用意するステップであって、前記特徴位置及び変換パラメータが、電子メモリにおけるデジタル電子信号として表される、当該ステップと、
前記シードセットを使用して、前記離散参照信号の前記特徴位置と前記被疑信号における対応する特徴位置とをアライメントするために線形変換が使用されるときに誤差を最小限にする線形変換候補を見つけ出す最小二乗最小化を計算するステップであって、前記線形変換候補に対応する相関の尺度を計算するサブステップを含む当該ステップと、
シードのそれぞれについて前記線形変換候補を評価して、線形変換候補の絞り込まれた推定値を表す前記候補のサブセットを識別するステップと、
を含む、コンピュータ可読媒体。
[項目11]
被疑信号表現を格納するためのメモリと、
線形変換候補のシードセットを受け取り、線形変換候補が適用されるとき、参照信号と前記被疑信号表現との間の相関の尺度として各候補について相関メトリックを決定するための相関モジュールと、
前記線形変換候補を適用することによって決定される位置における前記参照信号の特徴に対応する特徴の前記被疑信号表現内の特徴位置を決定するための座標更新モジュールと、
参照信号特徴位置と前記座標更新モジュールによって決定された前記特徴位置との間の最小二乗適合を提供する前記候補のそれぞれについての絞り込まれた線形変換を決定するための最小二乗計算器と、
を備える回路。
[項目12]
前記回路は、
前記線形変換候補に従って、参照信号特徴位置を前記被疑信号表現の座標空間内へ変換するための線形変換モジュール、
を含む、項目11に記載の回路。
[項目13]
前記相関モジュールが、前記変換モジュールからの変換された参照信号特徴位置を使用して、前記被疑信号における領域を決定して、前記相関メトリックを計算し、
前記相関メトリックが、位相相関メトリックを含む、項目12に記載の回路。
[項目14]
前記座標更新モジュールが、前記変換モジュールからの変換された参照信号特徴位置を使用して、前記被疑信号における領域を決定して、前記特徴位置を決定する、項目12に記載の回路。
[項目15]
変換された信号の位相の推定値を計算する方法であって、
離散参照信号を表す特徴位置のセットを用意するステップと、
被疑信号を受け取るステップと、
前記参照信号に変換を適用して、変換された位置のセットを用意するステップと、
点広がり関数を使用して、前記変換された位置のあたりの近傍の離散サンプル位置において前記被疑信号から位相をサンプリングし、前記変換された位置に対応する位置における前記被疑信号の位相の推定値を用意するステップと、
を含む方法。
[項目16]
前記被疑信号が画像信号を含む、項目15に記載の方法。
[項目17]
前記被疑信号が、画像センサからサンプリングされた画像信号を含む、項目16に記載の方法。
[項目18]
前記参照信号が信号成分のセットを含み、前記特徴位置が前記信号成分の位置である、項目15に記載の方法。
[項目19]
前記信号成分が周波数成分であり、前記特徴位置が前記周波数成分の周波数位置である、項目18に記載の方法。
[項目20]
前記被疑信号が、前記参照信号のバージョンを含み、前記点広がり関数が、前記被疑信号内の前記参照信号の前記バージョンの位相を決定するために使用される、項目15に記載の方法。
[項目21]
前記位相が、前記被疑信号内の前記参照信号の前記バージョンと前記参照信号との間の変換を決定するために使用される、項目20に記載の方法。
[項目22]
前記参照信号が、前記被疑信号に埋め込まれたデジタル透かし信号に対応し、前記位相が、前記被疑信号内の前記デジタル透かし信号を検出するために使用される、項目20に記載の方法。
[項目23]
命令が格納されたコンピュータ可読媒体であって、前記命令が、1つ又は複数のプロセッサによって実行されたとき、変換された信号の位相の推定値を計算する方法を実施し、前記方法が、
離散参照信号を表す特徴位置のセットを用意するステップと、
被疑信号を受け取るステップと、
前記参照信号に変換を適用して、変換された位置のセットを用意するステップと、
点広がり関数を使用して、前記変換された位置のあたりの近傍の離散サンプル位置において前記被疑信号から位相をサンプリングし、前記変換された位置に対応する位置における前記被疑信号の位相の推定値を用意するステップと、
を含む方法。
[項目24]
被疑信号の位相を格納するためのメモリと、
参照信号の座標を、変換された座標位置に変換するための変換モジュールと、
変換された座標位置のあたりの位置において前記メモリから前記被疑信号の選択された位相を読み取り、点広がり関数を前記選択された位相に適用して推定位相を提供するための点広がり関数モジュールと、
を備える回路。
[項目25]
前記被疑信号が画像信号を含む、項目24に記載の回路。
[項目26]
前記被疑信号が、画像センサからサンプリングされた画像信号を含む、項目25に記載の回路。
[項目27]
前記参照信号が信号成分のセットを含み、前記座標が前記信号成分の位置である、項目24に記載の回路。
[項目28]
前記信号成分が周波数成分であり、前記座標が前記周波数成分の周波数位置を含む、項目27に記載の回路。
[項目29]
前記被疑信号が、前記参照信号のバージョンを含み、前記点広がり関数が、前記被疑信号内の前記参照信号の前記バージョンの位相を決定するために使用される、項目24に記載の回路。
[項目30]
前記位相が、前記被疑信号内の前記参照信号の前記バージョンと前記参照信号との間の変換を決定するために使用される、項目29に記載の回路。
[項目31]
前記参照信号が、前記被疑信号に埋め込まれたデジタル透かし信号に対応し、前記位相が、前記被疑信号内の前記デジタル透かし信号を検出するために使用される、項目29に記載の回路。
[項目32]
前記点広がり関数モジュールは、点広がり関数テーブルと、前記点広がり関数を前記選択された位相に適用するための積演算子及び和演算子と、を備える、項目24に記載の回路。
[項目33]
参照信号と被疑信号との間の平行移動オフセットの推定値を計算する方法であって、
被疑信号の位相推定値のセットを用意するステップと、
平行移動オフセットのアレイにおける各要素について、前記平行移動オフセットにおける前記参照信号の期待される位相のセットを用意し、前記平行移動オフセットにおける期待される位相及び対応する位相推定値のセットのそれぞれについて位相偏移メトリックを計算し、前記移動オフセットにおける前記位相偏移メトリックの合計を計算するステップと、
平行移動オフセットの前記アレイに対する前記位相偏移メトリックにおけるピークを決定するステップであって、前記ピークの位置が、前記平行移動オフセットの前記推定値を用意する当該ステップと、
を含む方法。
[項目34]
前記被疑信号は画像信号を含む、項目33に記載の方法。
[項目35]
前記被疑信号が、画像センサからサンプリングされた画像信号を含む、項目34に記載の方法。
[項目36]
前記参照信号が信号成分のセットを含み、期待される位相の前記セットが前記信号成分の位相に対応する、項目33に記載の方法。
[項目37]
前記信号成分が周波数成分であり、前記期待される位相が前記周波数成分の周波数位置に対応する、項目36に記載の方法。
[項目38]
前記被疑信号が、前記参照信号のバージョンを含み、前記位相偏移メトリックが、前記被疑信号内の前記参照信号の前記バージョンの平行移動オフセットを決定するために使用される、項目33に記載の方法。
[項目39]
前記平行移動オフセットが、前記被疑信号内の前記参照信号の前記バージョンと前記参照信号との間の変換を決定するために使用される、項目38に記載の方法。
[項目40]
前記参照信号が、前記被疑信号に埋め込まれたデジタル透かし信号に対応し、前記平行移動オフセットが、前記被疑信号内の前記デジタル透かし信号を検出するために使用される、項目38に記載の方法。
[項目41]
命令が格納されたコンピュータ可読媒体であって、前記命令が、1つ又は複数のプロセッサによって実行されたとき、参照信号と被疑信号との間の平行移動オフセットの推定値を計算する方法を実施し、前記方法が、
被疑信号の位相推定値のセットを用意するステップと、
平行移動オフセットのアレイにおける各要素について、前記平行移動オフセットにおける前記参照信号の期待される位相のセットを用意し、前記平行移動オフセットにおける期待される位相及び対応する位相推定値のセットのそれぞれについて位相偏移メトリックを計算し、前記移動オフセットにおける前記位相偏移メトリックの合計を計算するステップと、
平行移動オフセットの前記アレイに対する前記位相偏移メトリックにおけるピークを決定するステップであって、前記ピークの位置が、前記平行移動オフセットの前記推定値を用意する当該ステップと、
を含む、コンピュータ可読媒体。
[項目42]
被疑信号の位相推定値及び参照信号の既知の位相のセットを格納するためのメモリと、
平行移動オフセットのアレイに対する前記参照信号から、前記参照信号の既知の位相と対応する位相推定値との前記セットのそれぞれについて位相偏移メトリックを計算し、前記平行移動オフセットにおける前記位相偏移メトリックの合計を計算するための偏移位相モジュールと、
平行移動オフセットの前記アレイに対する前記位相偏移メトリックにおけるピークを決定するためのピーク決定モジュールであって、前記ピークの位置が、前記参照信号と前記被疑信号との間の前記平行移動オフセットの推定値を提供する、当該ピーク決定モジュールと、
を備える位相偏移回路。
[項目43]
前記平行移動オフセットのあたりのサブサンプル平行移動オフセットにおける位相偏移メトリックを使用して絞り込まれた平行移動オフセットを計算することによって、前記平行移動オフセットを絞り込み、前記サブサンプル平行移動オフセットにおける前記位相偏移メトリックにおいて絞り込まれたピーク位置を見つけ出すための絞り込みモジュール、
を備える、項目42に記載の回路。
[項目44]
平行移動オフセットの前記アレイが、平行移動オフセットの2Dアレイを備える、項目42に記載の回路。
[項目45]
平行移動オフセットの前記アレイが2D空間に対応し、1D平行移動オフセットの2つのアレイに細分化され、各1Dアレイが、1D探索を使用してピーク位置を決定するために評価される、項目42に記載の回路。
Claims (15)
- 参照信号と取り込み点からカメラによって取り込まれた物体の画像における前記参照信号の描写との間の幾何学変換を推定するための信号処理の方法であって、前記参照信号は複数の信号成分を含み、前記信号成分の各々はフーリエ面及び位相において座標位置を有し、前記幾何学変換はスケール、回転及び平行移動を含み、
前記フーリエ面の複数の座標位置において画像データを産出するため、前記カメラによって取り込まれた前記物体の前記画像の領域変換を行うステップと、
前記幾何学変換のスケール及び回転を推定するパラメータをそれぞれ含む第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定を生成するステップと、
前記参照信号に前記第一の線形変換推定を適用し、第一の変換された座標位置において第一の変換された成分を含む第一の変換された参照信号を生成するステップと、
前記画像データを処理して、前記第一の変換された座標位置における前記参照信号の前記描写の推定された位相を生成するステップと、
前記第一の変換された座標位置における前記参照信号の成分の期待される位相にそれぞれ対応する複数の平行移動オフセットの各々について、(i)前記第一の変換された座標位置における前記第一の変換された参照信号の成分の前記期待される位相と、(ii)前記第一の変換された座標位置における前記画像データの前記推定された位相との間の前記第一の変換された座標位置のそれぞれにおける位相誤差を合計することによって第一位相偏移メトリックを生成し、最小第一位相偏移メトリックを生成する平行移動オフセットを識別し、
前記参照信号に第二の線形変換推定を適用し、第二の変換された座標位置において第二の変換された成分を含む第二の変換された参照信号を生成するステップと、
前記画像データを処理して、前記第二の変換された座標位置において前記参照信号の前記描写の推定された位相を生成するステップと、
前記第二の変換された座標位置における前記参照信号の成分の期待される位相にそれぞれ対応する複数の平行移動オフセットの各々について、(i)前記第二の変換された座標位置における前記第二の変換された参照信号の成分の前記期待される位相と、(ii)前記第二の変換された座標位置における前記画像データの前記推定された位相との間の前記第二の変換された座標位置のそれぞれにおける位相誤差を合計することによって第二位相偏移メトリックを生成し、最小第二位相偏移メトリックを生成する平行移動オフセットを識別し、
前記最小第一位相偏移メトリックの値と前記最小第二位相偏移メトリックの値とに基づいて、前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定の一方を前記幾何学変換のより良い推定として選択するステップと、
を含む方法。 - 前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定のうちの選択された一方の前記選択された平行移動オフセットに対応するパラメータを含むよう前記選択された一方の線形変換推定を絞り込むことを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記領域変換が、前記フーリエ面における複数の整数位置のそれぞれにおいて画像位相データを生成し、前記第一の変換された参照信号の成分のうちの1つが、前記フーリエ面における4つの前記整数位置の間に第一の変換された座標位置を有し、前記方法は、前記4つの整数位置からの前記画像位相データに点広がり関数を適用して、前記第一の変換された座標位置において前記参照信号の前記描写の前記推定された位相を生成することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記平行移動オフセットが、整数平行移動オフセットである、請求項1に記載の方法。
- 前記平行移動オフセットが、整数平行移動オフセットよりも小さい、請求項1に記載の方法。
- 対数極座標空間において、前記参照信号を前記画像における前記参照信号の描写に関連付けることにより、前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定を生成することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記カメラにより取り込まれた前記画像に対応する画像データと前記参照信号との間のマッチドフィルタ相関演算により前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定を生成することを含む、請求項1に記載の方法。
- 最小二乗法により前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定を生成することを含む、請求項1に記載の方法。
- 以前の第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定を絞り込むことにより、前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定を生成することを含む、請求項1に記載の方法。
- 回転及びスケール値によりそれぞれ特徴づけられたN個の線形変換推定を生成することを含む方法であって、前記N個の推定は回転及びスケール値のまばらな部分空間にわたり、前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定は前記N個の線形変換推定に含まれる、請求項1に記載の方法。
- 回転及びスケール値のまばらな部分空間にわたり、回転及びスケール値によりそれぞれ特徴づけられたN個の線形変換推定を生成するステップと、
反復的に前記N個の線形変換推定を絞り込むステップと、
を含み、
収束を示す線形変換推定ではより多くの反復が行われ、
前記第一の線形変換推定及び第二の線形変換推定は反復的に絞り込む前記ステップにより得られる、請求項1に記載の方法。 - 参照信号と取り込み点からカメラによって取り込まれた物体の画像における前記参照信号の描写との間の幾何学変換の推定を計算する方法であって、前記参照信号は複数の信号成分を含み、前記信号成分の各々はフーリエ面及び位相において座標位置を有し、前記幾何学変換はスケール、回転及び平行移動を含み、
前記フーリエ面の複数の座標位置において画像データを産出するため、前記カメラによって取り込まれた前記物体の前記画像の領域変換を行うステップと、
前記幾何学変換のスケール及び回転のパラメータをそれぞれ含む複数の線形変換推定を生成するステップと、
前記複数の線形変換推定の各々について、
(a)前記参照信号に前記線形変換推定を適用し、変換された座標位置において変換された成分を含む変換された参照信号を生成するステップと、
(b)前記画像データを処理して、前記変換された座標位置における前記参照信号の前記描写の推定された位相を生成するステップと、
(c)前記変換された座標位置における前記参照信号の成分の期待される位相にそれぞれ対応する複数の平行移動オフセットの各々について、(i)前記変換された座標位置における前記変換された参照信号の成分の前記期待される位相と、(ii)前記変換された座標位置における前記画像データの前記推定された位相との間の前記変換された座標位置のそれぞれにおける位相誤差を合計することによって位相偏移メトリックを生成し、最小位相偏移メトリックを生成する平行移動オフセットを識別し、
前記最小位相偏移メトリックの値に基づいて、前記幾何学変換の推定を出力するステップと、
を含む方法。 - 命令が格納されたコンピュータ可読媒体であって、前記命令が、1つ又は複数のプロセッサによって実行されたとき、参照信号と取り込み点からカメラによって取り込まれた物体の画像における前記参照信号の描写との間の幾何学変換の推定を計算する方法を実施し、前記参照信号は複数の信号成分を含み、前記信号成分の各々はフーリエ面及び位相において座標位置を有し、前記幾何学変換はスケール、回転及び平行移動を含み、前記方法が、
前記フーリエ面の複数の座標位置において画像データを産出するため、前記カメラによって取り込まれた前記物体の前記画像の領域変換を行うステップと、
前記幾何学変換のスケール及び回転のパラメータをそれぞれ含む複数の線形変換推定を生成するステップと、
前記複数の線形変換推定の各々について、
(a)前記参照信号に前記線形変換推定を適用し、変換された座標位置において変換された成分を含む変換された参照信号を生成するステップと、
(b)前記画像データを処理して、前記変換された座標位置における前記参照信号の前記描写の推定された位相を生成するステップと、
(c)前記変換された座標位置における前記参照信号の成分の期待される位相にそれぞれ対応する複数の平行移動オフセットの各々について、(i)前記変換された座標位置における前記変換された参照信号の成分の前記期待される位相と、(ii)前記変換された座標位置における前記画像データの前記推定された位相との間の前記変換された座標位置のそれぞれにおける位相誤差を合計することによって位相偏移メトリックを生成し、最小位相偏移メトリックを生成する平行移動オフセットを識別し、
前記最小位相偏移メトリックの値に基づいて、前記幾何学変換の推定を出力するステップと、
を含む、コンピュータ可読媒体。 - 前記方法が、前記複数の線形変換推定を絞り込むステップと、類似性に基づいてクラスタ化される複数の絞り込まれた線形変換推定を識別するステップと、前記クラスタ化された推定に基づいて前記幾何学変換の前記出力された推定を生成するステップと、を含む、請求項13に記載のコンピュータ可読媒体。
- 前記幾何学変換の前記出力された推定が、前記線形変換推定のいくつかを関連する相関値の関数によって重み付けすることによって計算された加重平均を含み、前記相関値は前記取り込まれた画像と前記幾何学変換の前記線形変換推定によって変換された前記参照信号との相関を示す、請求項13に記載のコンピュータ可読媒体。
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